JP7293178B2 - Deposition equipment - Google Patents
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Description
本発明の実施形態は、成膜装置に関する。 An embodiment of the present invention relates to a film forming apparatus.
半導体装置や液晶装置を製造するための成膜装置では、反応性ガスを用いて基板上に膜の形成を行う。一般に、膜の形成は、基板の温度を上げて反応室に原料ガスなどの反応性ガスを流し、反応性ガスの流量や圧力を調整して行っている。反応室で消費されなかった反応性ガスや反応により生じた反応副生成物のガスを含む排出ガスは、反応室から排気管、排気ポンプを通して成膜装置から排気され、除害装置を通して無害化され排出される。 2. Description of the Related Art A film forming apparatus for manufacturing a semiconductor device or a liquid crystal device forms a film on a substrate using a reactive gas. In general, a film is formed by increasing the temperature of a substrate, flowing a reactive gas such as a raw material gas into a reaction chamber, and adjusting the flow rate and pressure of the reactive gas. Exhaust gas containing reactive gas not consumed in the reaction chamber and reaction by-product gas produced by the reaction is exhausted from the reaction chamber through an exhaust pipe and an exhaust pump from the film forming apparatus, and detoxified through a detoxification device. Ejected.
排出ガス中の反応副生成物の中には、反応室から排気管を通過する際に凝縮して液体になるものがある。この液体となった反応副生成物が排気管の内壁に付着して、排気管の閉塞等が発生し、メンテナンスが求められる。反応副生成物によってはメンテナンス時発火危険性を伴う場合もある。そのため、かかる液体となった反応副生成物を効率良く捕集できることが好ましい。 Some of the reaction by-products in the exhaust gas condense into liquids as they pass from the reaction chamber through the exhaust pipe. This liquid reaction by-product adheres to the inner wall of the exhaust pipe, causing clogging of the exhaust pipe, etc., requiring maintenance. Depending on the reaction by-product, there is a risk of ignition during maintenance. Therefore, it is preferable to be able to efficiently collect such liquid reaction by-products.
本発明が解決しようとする課題は、反応副生成物を効率良く捕集できる成膜装置を提供することにある。 A problem to be solved by the present invention is to provide a film forming apparatus capable of efficiently collecting reaction by-products.
実施形態の成膜装置は、反応室と、第1端部と、第2端部と、を有し、第1端部は反応室に接続され、第1所定方向に延伸している第1配管と、それぞれの円弧部が第1配管の内壁に接して設けられた複数の半円状部と、反応室と複数の半円状部の間の第1配管の内壁に設けられた狭窄部と、第2端部に接続された貯留部と、を備える。 A film forming apparatus according to an embodiment has a reaction chamber, a first end, and a second end, the first end being connected to the reaction chamber and a first film extending in a first predetermined direction. A pipe, a plurality of semi-circular portions each having an arc portion in contact with the inner wall of the first pipe, and a constricted portion provided on the inner wall of the first pipe between the reaction chamber and the plurality of semi-circular portions. and a reservoir connected to the second end.
以下、図面を参照しつつ本発明の実施形態を説明する。なお、以下の説明では、同一又は類似の部材には同一の符号を付す場合がある。また、一度説明した部材等については適宜その説明を省略する場合がある。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In addition, in the following description, the same reference numerals may be given to the same or similar members. In addition, the description of members and the like that have already been described may be omitted as appropriate.
(第1実施形態)
本実施形態の成膜装置は、反応室と、第1端部と、第2端部と、を有し、第1端部は反応室に接続され、第1所定方向に延伸している第1配管と、それぞれの円弧部が第1配管の内壁に接して設けられた複数の半円状部と、反応室と複数の半円状部の間の第1配管の内壁に設けられた狭窄部と、第2端部に接続された貯留部と、を備える。
(First embodiment)
The film forming apparatus of this embodiment has a reaction chamber, a first end, and a second end. The first end is connected to the reaction chamber and extends in a first predetermined direction. A pipe, a plurality of semi-circular portions each of which is in contact with the inner wall of the first pipe, and a constriction provided on the inner wall of the first pipe between the reaction chamber and the plurality of semi-circular portions. and a reservoir connected to the second end.
図1は、本実施形態の成膜装置100の概略図である。図2は、本実施形態の狭窄部54及び半円状部52の模式上面図である。図2(a)は、本実施形態の狭窄部54の模式上面図である。図2(b)、図2(c)、図2(d)、図2(e)及び図2(f)は、本実施形態の半円状部52の模式上面図である。図3は、本実施形態の第1配管20内における半円状部52の配置の一例である。
FIG. 1 is a schematic diagram of a
図1、図2及び図3を用いて、本実施形態の成膜装置100の説明を行う。
A
成膜装置100は、例えば、半導体装置の製造に用いられる、枚葉式のエピタキシャル成膜装置である。
The
成膜装置100は、反応室10と、プロセスガス供給口12と、ステージ14と、ヒータ16と、第1配管20と、狭窄部54と、半円状部52と、貯留部68と、第2配管30と、第3配管40と、圧力調整バルブ72と、排気ポンプ74と、を備える。また、成膜装置100には、除害装置76が接続されている。なお、成膜装置100は除害装置76を含むと理解することも可能である。
The
ステージ14は、反応室10の内部に設けられている。基板Wは、ステージ14の上に載置される。基板Wは、ヒータ16により加熱される。
The
プロセスガス供給口12は、例えば、反応室10の上部に設けられている。成膜に用いられるプロセスガスは、プロセスガス供給口12から供給される。そして、基板Wの上に、所望の膜が成膜される。
The process
第1配管20は、第1端部22と、第2端部24と、を有する。第1端部22は、反応室10の、例えば下部に接続されている。反応室10で消費されなかったプロセスガス及び反応により生じた反応副生成物を含む排出物は、第1配管20を経由して排出される。第1配管20は、例えば、第1端部22から第2端部24に向かって、第1所定方向D1に延伸している。本実施形態の第1所定方向D1は、鉛直方向であることが好ましいが、鉛直方向に限定されるものではない。なお、第1配管20の全体が第1所定方向D1に延伸していなくてもかまわない。言い換えると、第1配管20の一部が第1所定方向D1に延伸していてもかまわない。
なお、第1端部22は、反応室10と直接接続されていてもかまわない。また、第1端部22は、例えば他の配管等を介して、いわば間接的に、反応室10と接続されていてもかまわない。
In addition, the
なお、ここで、z方向を定義する。z方向は、鉛直上向きの方向である。 Note that the z direction is defined here. The z-direction is the vertically upward direction.
冷却部70は、第1配管20の周囲に設けられている。冷却部70は、第1配管20の内部を流れる排出ガスを冷却し、凝縮しやすくする機能を有する。冷却部70は、例えば、水冷管である。上記の排出物は、第1配管20を通過する際に、冷却部70により冷却される。
The
狭窄部54は、反応室10と複数の半円状部52の間の第1配管の内壁28に設けられている。狭窄部54は、より好ましくは、冷却部70が設けられている第1配管20の部分と、複数の半円状部52が設けられた第1配管20の部分の間に設けられている。成膜装置100において、狭窄部54は、冷却部70が設けられている第1配管20の下に設けられている。狭窄部54は、その開口面積を、第1配管の開口面積よりも小さくすることにより、排出物の排出速度を加速させるために設けられている。狭窄部54は、例えば、第1配管20内に設けられたオリフィスである。図2(a)に示したように、狭窄部の最小内径部56と第1配管の中心線26の距離はd1である。しかし、狭窄部54の態様はこれに限定されるものではない。例えば第1配管20の一部の外径及び内径が小さくくびれた部分が形成されることにより、狭窄部54が設けられていてもかまわない。
A
複数の半円状部52は、第1配管20の内部に設けられている。成膜装置100においては、複数の半円状部52は、狭窄部54の下に設けられている。図1には、複数の半円状部52としての、半円状部52a、52b、52c及び52dが図示されている。なお、図1に示された半円状部52の個数は4個であるが、半円状部52の個数はこれに限定されるものではない。
A plurality of semicircular portions 52 are provided inside the
図2(b)、図2(c)、図2(d)、図2(e)及び図2(f)に示したように、半円状部52aは、弦部51a及び円弧部53aを有する。そして、円弧部53aは、第1配管の内壁28と接している。なお、同様に、半円状部52bは、弦部51b及び円弧部53bを有する。半円状部52cは、弦部51c及び円弧部53cを有する。半円状部52dは、弦部51d及び円弧部53dを有する。そして、円弧部53b、53c及び53dは、それぞれ第1配管の内壁28と接している。
As shown in FIGS. 2(b), 2(c), 2(d), 2(e) and 2(f), the
例えば、図1及び図2(b)に示すように、第1配管20の断面は、円形を有する。そして、半円状部52aの形状は、第1配管20の円形の、半円に相当する形状を有する、半円状の板である。ただし、半円状部52aの形状は、これに限定されるものではない。図1及び図2(c)に示すように、半円状部52aの形状は、第1配管の中心線26と半円状部52aの距離がd2となるように、半円の形状の一部が除去された板であってもかまわない。また、図2(d)に示すように、弦部51aが波状の形状を有していてもかまわない。また、図2(e)に示すように、半円状部52aは半円より大きい形状であってもかまわない。また、図2(f)に示すように、半円状部52aの形状は、円形から扇形が欠落した形状であってもかまわない。一方で、半円状部52aの形状は、第1配管20内における排出物の流れを完全に塞がないようなものであることが好ましい、また、図1、図2(b)、図2(c)、図2(d)及び図2(e)に示した半円状部52aの形状は一例であり、半円状部52aの形状はこれに限定されるものではない。また、例えば、半円状部52a、52b、52c及び52dの形状は、互いに異なっていてもかまわないし、互いに同じであってもかまわない。
For example, as shown in FIGS. 1 and 2(b), the
第1配管の中心線26と狭窄部の最小内径部56の距離d1(図2(a))は、第1配管の中心線26と半円状部52の距離d2(図2(b)、図2(c)、図2(d)、図2(e)及び図2(f))より長いことが好ましい。なお、図2(b)及び図2(e)は、距離d2がゼロである場合の一例であるため、距離d2については図示していない。
The distance d 1 (Fig. 2(a)) between the
図1においては、半円状部の上面52a1又は下面52a2は、鉛直方向に垂直に配置されている。しかし、半円状部の上面52a1又は下面52a2の配置は、これに限定されるものではない。また、例えば、半円状部の上面52a1又は下面52a2に、凹凸等が形成されていてもかまわない。半円状部52b、52c及び52dについても同様である。
In FIG. 1, the upper surface 52a1 or the lower surface 52a2 of the semicircular portion is arranged perpendicular to the vertical direction. However, the arrangement of the
隣接する複数の半円状部52は、第1所定方向D1において、少なくとも一部が重ならないように配置されていることが好ましい。図3には、紙面に垂直に第1所定方向D1を取った場合の、第1配管20内における半円状部52の配置の一例を示している。なお、図3では、半円状部52の形状は、図1及び図2(b)に示すような、半円の形状を有する板であるものとしている。
The plurality of adjacent semicircular portions 52 are preferably arranged so that at least a portion thereof does not overlap in the first predetermined direction D1. FIG. 3 shows an example of the layout of the semicircular portion 52 in the
図3(a)に示した一例においては、半円状部52aは、第1配管20内の、紙面において左半分を占めるように配置されている。半円状部52bは、第1配管20内の、紙面において右半分を占めるように配置されている。半円状部52cは、第1配管20内の、紙面において左半分を占めるように配置されている。半円状部52dは、第1配管20内の、紙面において右半分を占めるように配置されている。図3(a)に示した一例は、複数の半円状部52が、第1所定方向D1において、全部が重ならないように配置されている一例である。
In the example shown in FIG. 3(a), the
図3(b)に示した一例においては、半円状部52aは、第1配管20内の、紙面において左半分を占めるように配置されている。半円状部52bは、第1配管20内の、紙面において下半分を占めるように配置されている。これにより、半円状部52aと半円状部52bは、第1所定方向D1において、それぞれの左下部分が重なっている。しかし、第1所定方向D1において、少なくとも半円状部52aの左上部分と半円状部52bの右下部分は重なっていない。半円状部52cは、第1配管20内の、紙面において右半分を占めるように配置されている。これにより、半円状部52bと半円状部52cは、第1所定方向D1において、それぞれの右下部分が重なっている。しかし、第1所定方向D1において、少なくとも半円状部52bの左下部分と半円状部52cの右上部分は重なっていない。半円状部52dは、第1配管20内の、紙面において上半分を占めるように配置されている。これにより、半円状部52cと半円状部52dは、第1所定方向D1において、それぞれの右上部分が重なっている。しかし、第1所定方向D1において、少なくとも半円状部52c右下部分と半円状部52dの左上部分は重なっていない。図3(b)に示した一例は、隣接する複数の半円状部52が、第1所定方向D1において、少なくとも一部が重ならないように配置されている一例である。
In the example shown in FIG. 3(b), the
図3(c)に示した一例においては、半円状部52a、52b、52c及び52dは、第1配管内の、紙面において左半分を占めるように配置されている。図3(c)に示した一例は、第1所定方向D1において、複数の半円状部52の全部が重なるように配置されている一例である。
In the example shown in FIG. 3(c), the
本実施形態の成膜装置100においては、図3(a)に示した一例及び図3(b)に示した一例の配置は、いずれも好ましく用いることができる。ただし、図3(a)に示した配置の方が、より好ましい。その理由は、例えば、第1配管20の右半分の部分を通過する排出物は、図3(b)の場合は半円状部52bの右下部分に衝突する。一方、第1配管20の右上部分を通過する排出物は、半円状部52a及び半円状部52bに衝突しないで通過する。しかし、図3(a)の場合は、第1配管20の右半分の部分を通過する排出物は、半円状部52bの全面に衝突する。そのため、排出物が半円状部52に衝突する回数を増加できる可能性があるためである。
In the
貯留部68は、第2端部24に接続されている。貯留部68は、排出物に含まれる液体を貯留する。貯留部68は、第1配管の中心線26の方向に設けられていることが好ましい。貯留部68に貯留されている液体は、例えば、オイリーシランOであるが、これに限定されるものではない。
A
第2配管30は、第3端部32と、第4端部34と、を有する。第3端部32は、例えば、図1に示すように、貯留部68を介して第2端部24に接続されている。
The
第2配管30は、第3端部32から第4端部34に向かって鉛直上向きに延伸していることが好ましい。図1に示した第2所定方向D2は、鉛直上向きの方向である。
The
なお、第2配管は、設けられていなくてもかまわない。 In addition, the second pipe may not be provided.
第3配管40は、第5端部42を有する。第5端部42は、第4端部34に接続されている。
The
圧力調整バルブ72は、第3配管40に設けられている。圧力調整バルブ72は、反応室10の内部の圧力を、所望の圧力に調整する。
A
排気ポンプ74は、第3配管40に設けられている。排気ポンプ74は、圧力調整バルブ72が、第5端部42と排気ポンプ74の間に配置されるように設けられている。言い換えると、圧力調整バルブ72は、排気ポンプ74の吸気側に設けられている。排気ポンプ74は、圧力調整バルブ72及び第5端部42を介して、第4端部34に接続されている。排気ポンプ74は、反応室10の内部を減圧する。排気ポンプ74は、例えば、真空ポンプである。
The
除害装置76は、第3配管40に設けられている。除害装置76は、排気ポンプ74が、圧力調整バルブ72と除害装置76の間に配置されるように設けられている。言い換えると、除害装置76は、排気ポンプ74の排気側に設けられている。また、除害装置76は、成膜装置100の後段に接続されている。成膜装置100から排気された排出物は、後段の除害装置76を通して無害化することにより外部に排出される。
The
なお、第2配管30は設けられていなくてもかまわない。例えば、第5端部42と第2端部24が直接接続されていてもかまわない。
Note that the
本実施形態の成膜装置100においては、反応室10から排出された排出物は、排気ポンプ74により、第1配管20、第2配管30及び第3配管40を経由して、成膜装置100の外部に排出される。ここで、反応室10から第1配管20に排出された排出物は、冷却部70により冷却される。冷却部70により冷却された排出物は、狭窄部54を通過する。狭窄部54を通過した排出物は、複数の半円状部52が設けられた第1配管20の部分を、半円状部52に衝突しながら通過する。次に、液化した排出物の一部は、貯留部68によって貯留される。他の排出物の一部は、第2配管30を経由して、第3配管40に設けられた圧力調整バルブ72及び排気ポンプ74を通過する。その後、排出物は、成膜装置100から排気され、後段の除害装置76を通して無害化することにより外部に排出される。
In the
次に、本実施形態の成膜装置100の作用効果を記載する。
Next, the effect of the film-forming
例えば、反応室10の内部において、基板Wであるシリコンウェハ上にシリコンをエピタキシャル成長させる場合には、プロセスガスとして、ジクロロシラン(SiH2Cl2)ガス又はトリクロロシラン(SiHCl3)ガスが、好ましく用いられる。しかしこの場合、反応副生成物として、Si-H-Clの重合体が形成される。このSi-H-Clの重合体は、液化したオイリーシラン(反応性ポリシロキサン)として成膜装置100の内部に堆積されるおそれがある。
For example, when silicon is epitaxially grown on a silicon wafer, which is the substrate W, in the
気体状のオイリーシランは、他の気体状の排出物と共に、成膜装置100から排気され、後段の除害装置76を通して無害化することにより外部に排出される。そのため、オイリーシランは、気体状のまま除害装置76に到達すれば、成膜装置100のメンテナンスの妨げとはならない。しかし、気体状のオイリーシランの一部は、排気配管の内壁や排気ポンプの内部に液化して堆積される。オイリーシランは発火性を有するため、成膜装置100のメンテナンスのため排気配管や排気ポンプを大気開放する際に、液化して堆積されたオイリーシランが発火するおそれがあった。
The gaseous oily silane is exhausted from the
上記の、気体状のオイリーシランの一部が、排気配管の内壁や排気ポンプの内部に液化して堆積されるプロセスについては、例えば、以下のように考えられる。すなわち、気体状のオイリーシランの分子が排気配管の内壁等に衝突する際に、オイリーシランの凝縮核が形成される。そして、かかる凝縮核を元にして、オイリーシランの凝縮が進行し、液化したオイリーシランが排気配管の内壁等に堆積される、というプロセスである。このように考えると、排気配管内において、できるだけ凝縮核が発生しやすくなるような構造を設けると、より容易に液化したオイリーシランを捕集できると考えられる。また、かかる構造を通過した後の排出物には、容易に液化されない気体状のオイリーシランが主に含まれると考えられ、気体状のまま除害装置76に到達しやすくなるために、成膜装置100のメンテナンスの妨げになりにくいと考えられる。
The process in which part of the gaseous oily silane is liquefied and deposited on the inner wall of the exhaust pipe or the interior of the exhaust pump can be considered, for example, as follows. That is, when gaseous oily silane molecules collide with the inner wall of the exhaust pipe or the like, condensation nuclei of the oily silane are formed. Then, based on such condensation nuclei, condensation of oily silane proceeds, and the liquefied oily silane is deposited on the inner wall of the exhaust pipe or the like. Considering this, it is considered that liquefied oily silane can be collected more easily by providing a structure in the exhaust pipe that facilitates the generation of condensation nuclei as much as possible. In addition, it is thought that the effluent after passing through such a structure mainly contains oily silane in a gaseous state that is not easily liquefied. It is considered that the maintenance of the
図4は、本実施形態の比較形態となる成膜装置800の概略図である。半円状部52は設けられていない。狭窄部54を通過することにより加速された排出物は、捕捉部80の面82に衝突する。この衝突の際にオイリーシランの凝縮核が形成されるため、面82においてオイリーシランの凝縮が促進されると考えられる。しかし、面82によるオイリーシランの凝縮は十分でないため、気体状のオイリーシランが第2配管30及び第3配管の内壁や排気ポンプの内部に液化して付着してしまうという問題があった。
FIG. 4 is a schematic diagram of a
本実施形態の成膜装置100は、それぞれの円弧部が第1配管の内壁28に接して設けられた複数の半円状部52を備える。そして、隣接する複数の半円状部52は、第1配管20が延伸する第1所定方向において、少なくとも一部が重ならないように配置されている。かかる場合、狭窄部54を通過して加速された排気ガスは、複数の半円状部52への衝突を繰り返しながら、第1配管20を通過していく。衝突が繰り返されることにより、凝縮核が形成されやすくなるため、オイリーシランの液化が促進される。言い換えると、比較形態の成膜装置800においては、気体状のオイリーシランは面82に1回衝突するだけであるが、実施形態の成膜装置100においては、気体状のオイリーシランは複数の半円状部52へ、複数回衝突する。これにより、オイリーシランの、排気配管の内壁や排気ポンプの内部への付着を抑制できる。これにより、反応副生成物であるオイリーシランを効率良く捕集できる成膜装置100の提供が可能となる。なお、本実施形態の成膜装置100で捕集される反応副生成物は、勿論オイリーシランに限定されるものではない。
The
第1配管の中心線26と狭窄部の最小内径部56の距離は、第1配管の中心線26と半円状部52の距離より長いことが好ましい。狭窄部54を通過した排気ガスを、より確実に半円状部52に衝突させて、反応副生成物の液化を促進するためである。
Preferably, the distance between the
第2配管30は、第3端部32から第4端部34に向かって鉛直上向きに延伸していることが好ましい。気体状の反応副生成物が、圧力調整バルブ72や排気ポンプ74の内部にまで移動することが抑制されるためである。
The
貯留部68は、第1配管の中心線26の方向に設けられていることが好ましい。これにより、複数の半円状部52に衝突して液化した反応副生成物が、他の部位に衝突等せずに、より直接的に貯留部68に貯留されるためである。
The
本実施形態の成膜装置によれば、反応副生成物を効率良く捕集できる成膜装置の提供が可能になる。 According to the film forming apparatus of this embodiment, it is possible to provide a film forming apparatus capable of efficiently collecting reaction by-products.
(第2実施形態)
本実施形態の成膜装置110は、第1所定方向が鉛直下向きの方向でない点で、第1実施形態の成膜装置100と異なっている。ここで、第1実施形態と重複する内容の記載は省略する。
(Second embodiment)
The
図5は、本実施形態の成膜装置110の概略図である。第1所定方向D1が鉛直下向きの方向でなくとも、反応副生成物を効率良く捕集することが可能である。ただし、第1所定方向D1が鉛直下向きの方が、製造工場内において成膜装置110が占める床面積が小さくなるため、好ましい。
FIG. 5 is a schematic diagram of the
(第3実施形態)
本実施形態の成膜装置120は、複数の半円状部52と貯留部68の間に設けられ、反応室10から排出され第1配管20を通過する排出物の移動方向に対抗する面82を有する捕捉部80をさらに備える点が、第1実施形態の成膜装置100及び第2実施形態の成膜装置120と異なっている。ここで、第1実施形態及び第2実施形態と重複する内容の記載は省略する。
(Third embodiment)
The
図6は、本実施形態の成膜装置120の概略図である。排出物の移動方向は、例えば、第1配管の中心線26に平行であり、例えば、鉛直方向である。面82に衝突した排出物は、貯留部68に貯留される。
FIG. 6 is a schematic diagram of the
複数の半円状部52と捕捉部80を組み合わせることにより、反応副生成物の液化はより促進されるため、反応副生成物を効率良く捕集できる成膜装置の提供が可能になる。
By combining a plurality of semi-circular portions 52 and trapping
本発明のいくつかの実施形態及び実施例を説明したが、これらの実施形態及び実施例は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことが出来る。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。 While several embodiments and examples of the invention have been described, these embodiments and examples are provided by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and modifications can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the scope of the invention described in the claims and equivalents thereof.
10 反応室
12 プロセスガス供給口
14 ステージ
16 ヒータ
20 第1配管
22 第1端部
24 第2端部
26 第1配管の中心線
28 第1配管の内壁
30 第2配管
32 第3端部
34 第4端部
40 第3配管
42 第5端部
51 弦部
52 半円状部
53 円弧部
54 狭窄部
56 狭窄部の最小内径部
68 貯留部
70 冷却部
72 圧力調整バルブ
74 排気ポンプ
76 除害装置
80 捕捉部
82 面
84 延長線
100 成膜装置
110 成膜装置
120 成膜装置
D1 第1所定方向
D2 第2所定方向
O オイリーシラン
W 基板
10
Claims (8)
第1端部と、第2端部と、を有し、前記第1端部は前記反応室に接続され、第1所定方向に延伸している第1配管と、
それぞれの円弧部が前記第1配管の内壁に接して設けられた複数の半円状部と、
前記反応室と前記複数の半円状部の間の前記第1配管の内壁に設けられた狭窄部と、
前記第2端部に接続された貯留部と、
を備える成膜装置。 a reaction chamber;
a first pipe having a first end and a second end, the first end being connected to the reaction chamber and extending in a first predetermined direction;
a plurality of semi-circular portions each of which is provided in contact with the inner wall of the first pipe;
a narrowed portion provided on the inner wall of the first pipe between the reaction chamber and the plurality of semicircular portions;
a reservoir connected to the second end;
A film forming apparatus.
前記第4端部に接続された排気ポンプと、
前記排気ポンプに接続された除害装置と、
をさらに備える請求項1乃至請求項3いずれか一項記載の成膜装置。 a second pipe having a third end connected to the second end and a fourth end;
an exhaust pump connected to the fourth end;
an abatement device connected to the exhaust pump;
4. The film forming apparatus according to any one of claims 1 to 3, further comprising:
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