JP7292831B2 - Target device and survey system - Google Patents

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Description

本発明はターゲットの向きを気にすることなくオフセット観測が可能なターゲット装置及び測量システムに関するものである。 The present invention relates to a target device and a surveying system that enable offset observation without worrying about the orientation of the target.

測定対象の形状測定を行う測定装置としてレーザスキャナがある。通常、レーザスキャナは測距光であるレーザ光線を鉛直方向に回転照射しつつ、更に水平回転することで全周囲の点群データを取得する。 A laser scanner is known as a measuring device for measuring the shape of an object to be measured. Normally, a laser scanner irradiates a laser beam, which is distance measuring light, in a vertical direction and rotates horizontally to obtain point cloud data of the entire periphery.

又、ターゲットを測定点に設置しターゲットを測定し、測定点のオフセット観測が行われるが、オフセット観測の場合、通常はターゲットを視準し、測定を行うトータルステーションが用いられている。又、トータルステーションでは厳密な視準が要求されていた。 Also, a target is placed at a measurement point, the target is measured, and offset observation of the measurement point is performed. In the case of offset observation, a total station is usually used to collimate the target and perform measurement. In addition, strict collimation was required for the total station.

従って、形状測定を行う場合と、オフセット観測を行う場合、或は複数の測定点について測定が要求される場合は、レーザスキャナとトータルステーションの2つの測量機を準備する必要があった。 Therefore, two surveying instruments, a laser scanner and a total station, have to be prepared for shape measurement, offset observation, or measurement at a plurality of measurement points.

特開2016-151422号公報JP 2016-151422 A 特開2016-151423号公報JP 2016-151423 A 特開2016-161411号公報JP 2016-161411 A 特開2017-106813号公報JP 2017-106813 A 特開2017-96629号公報JP 2017-96629 A 特開2015-230229号公報JP 2015-230229 A

本発明は、レーザスキャナによりオフセット観測を可能としたターゲット装置及び測量システムを提供するものである。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a target device and a survey system that enable offset observation by a laser scanner.

本発明は、ポールと該ポールに設けられ、測距光を反射するターゲットとを有し、該ターゲットは前記ポールの軸心を中心とした回転体の形状を有すると共に既知の曲面を有し、該曲面は前記軸心上の一点を基準点として有し、該基準点とポール下端との距離が既知となっているターゲット装置に係るものである。 The present invention comprises a pole and a target provided on the pole to reflect the distance measuring light, the target having the shape of a body of revolution about the axis of the pole and having a known curved surface, The curved surface has one point on the axis as a reference point, and relates to a target device in which the distance between the reference point and the lower end of the pole is known.

又本発明は、前記ターゲットは、底面で合体する上下2つの円錐台で構成されるターゲット装置に係るものである。 The present invention also relates to a target device in which the target is composed of two upper and lower truncated cones united at the bottom surface.

又本発明は、前記ターゲットは、上面で合体する上下2つの円錐台で構成されるターゲット装置に係るものである。 The present invention also relates to a target device in which the target is composed of two upper and lower truncated cones united at the upper surface.

又本発明は、前記ターゲットは、円錐台で構成されるターゲット装置に係るものである。 The present invention also relates to a target device, wherein the target is a truncated cone.

又本発明は、前記ターゲットは、球体で構成されるターゲット装置に係るものである。 The present invention also relates to a target device, wherein the target is a sphere.

更に又本発明は、測距光をスキャンし点群データを取得するレーザスキャナと、測距光を反射するターゲットを有するターゲット装置とを具備し、前記ターゲットは、上記いずれかのターゲットであり、前記レーザスキャナは、測距光を射出し、反射光を受光して測距を行う測距部と、測距光を2次元に偏向可能な測距光偏向部と、該測距光偏向部を制御する演算制御部とを具備し、該演算制御部は、前記測距光偏向部により前記ターゲットの表面を通過する様測距光をスキャンし、該スキャンで得られる点群データに基づき前記ターゲット表面の曲面を演算し、該曲面に基づき基準点を求め、該基準点を測距する様構成された測量システムに係るものである。 Furthermore, the present invention comprises a laser scanner that scans rangefinding light to obtain point cloud data, and a target device that has a target that reflects the rangefinding light, wherein the target is any one of the targets described above, The laser scanner includes a distance measuring unit that emits distance measuring light and receives reflected light to perform distance measurement, a distance measuring light deflection unit that can deflect the distance measuring light two-dimensionally, and the distance measuring light deflection unit. The arithmetic control unit scans the distance measuring light so as to pass through the surface of the target by the distance measuring light deflection unit, and based on the point cloud data obtained by the scanning The present invention relates to a surveying system configured to calculate a curved surface of a target surface, obtain a reference point based on the curved surface, and measure the distance from the reference point.

本発明によれば、ポールと該ポールに設けられ、測距光を反射するターゲットとを有し、該ターゲットは前記ポールの軸心を中心とした回転体の形状を有すると共に既知の曲面を有し、該曲面は前記軸心上の一点を基準点として有し、該基準点とポール下端との距離が既知となっているので、前記ターゲットの反射測距光を受光する為に方向の制限がなく任意の方向からターゲット装置の観測を行うことができる。 According to the present invention, the pole and the target provided on the pole to reflect the distance measuring light are provided, and the target has the shape of a body of revolution about the axis of the pole and has a known curved surface. Since the curved surface has one point on the axis as a reference point, and the distance between the reference point and the lower end of the pole is known, the direction is limited in order to receive the reflected range-finding light from the target. Observation of the target device can be performed from any direction.

又本発明によれば、測距光をスキャンし点群データを取得するレーザスキャナと、測距光を反射するターゲットを有するターゲット装置とを具備し、前記ターゲットは、上記いずれかのターゲットであり、前記レーザスキャナは、測距光を射出し、反射光を受光して測距を行う測距部と、測距光を2次元に偏向可能な測距光偏向部と、該測距光偏向部を制御する演算制御部とを具備し、該演算制御部は、前記測距光偏向部により前記ターゲットの表面を通過する様測距光をスキャンし、該スキャンで得られる点群データに基づき前記ターゲット表面の曲面を演算し、該曲面に基づき基準点を求め、該基準点を測距する様構成されたので、レーザスキャナによるオフセット観測が可能となり、又スキャン軌跡が前記ターゲットを通過すれば、前記ターゲットからの反射光を受光でき、更にスキャン軌跡が前記ターゲットを通過すればよいので、厳密な視準を必要とせず測定作業が容易となるという優れた効果を発揮する。 Further, according to the present invention, a laser scanner for scanning distance measuring light to acquire point cloud data and a target device having a target for reflecting the distance measuring light, wherein the target is any one of the targets described above. , the laser scanner includes a distance measuring unit that emits distance measuring light and receives reflected light to perform distance measurement, a distance measuring light deflection unit that can deflect the distance measuring light two-dimensionally, and the distance measuring light deflector. The arithmetic control unit scans the distance measuring light passing through the surface of the target by the distance measuring light deflection unit, and based on the point cloud data obtained by the scanning Since the curved surface of the target surface is calculated, the reference point is obtained based on the curved surface, and the distance to the reference point is measured, offset observation by the laser scanner becomes possible. , the reflected light from the target can be received, and the scanning trajectory only needs to pass through the target, thereby exhibiting an excellent effect of facilitating the measurement work without requiring strict collimation.

本発明の第1の実施例に係るシステム概略図である。1 is a schematic diagram of a system according to a first embodiment of the present invention; FIG. (A)(B)は、第1の実施例に於けるターゲットとスキャンパターンとの関係を示す説明図である。(A) and (B) are explanatory diagrams showing the relationship between the target and the scan pattern in the first embodiment. (A)(B)は、第1の実施例のターゲットの変形例を示す図である。(A) and (B) are diagrams showing modifications of the target of the first embodiment. 第2の実施例に係るターゲットとスキャンパターンとの関係を示す説明図である。FIG. 11 is an explanatory diagram showing the relationship between targets and scan patterns according to the second embodiment; (A)(B)は、第3の実施例に係るターゲットとスキャンパターンとの関係を示す説明図である。(A) and (B) are explanatory diagrams showing the relationship between the target and the scan pattern according to the third embodiment. (A)(B)は、第4の実施例に係るターゲットとスキャンパターンとの関係を示す説明図である。(A) and (B) are explanatory diagrams showing the relationship between the target and the scan pattern according to the fourth embodiment. スキャンパターンの一例である8の字スキャンパターンを示す図である。It is a figure which shows the figure-of-eight scan pattern which is an example of a scan pattern. 該8の字スキャンパターンを用いたオフセット観測の概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing of offset observation using the figure-of-eight scan pattern. (A)は該8の字スキャンパターンを用いた詳細説明図であり、(B)は点群データと直接フィッティングの関係を示す図である。(A) is a detailed explanatory diagram using the figure-of-eight scan pattern, and (B) is a diagram showing the relationship between point cloud data and direct fitting. 点群データと断面形状のパターンフィッティングの関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between point cloud data and pattern fitting of a cross-sectional shape.

以下、図面を参照しつつ本発明の実施例を説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明に係る第1の実施例を示す概略図である。 FIG. 1 is a schematic diagram showing a first embodiment according to the invention.

図1中、1は本実施例に係る測量システムを示し、2は該測量システムに用いられるターゲット装置、3はレーザスキャナを示している。 In FIG. 1, 1 indicates a surveying system according to this embodiment, 2 indicates a target device used in the surveying system, and 3 indicates a laser scanner.

先ず、前記ターゲット装置2について説明する。 First, the target device 2 will be described.

該ターゲット装置2は、下端が測定点Pを指示する様に尖端となったポール5と、該ポール5の所定位置に設けられたターゲット6とを有している。 The target device 2 has a pole 5 whose lower end is sharpened to indicate a measuring point P, and a target 6 provided at a predetermined position on the pole 5 .

前記ターゲット6は、3角形を前記ポール5の軸心8を中心に回転させて得られる回転体であり、前記ターゲット6を上下にポール5が貫通している。従って、前記ターゲット6は、2つの円錐台を底面を境界に上下に合体させた形状を有している。又、前記ターゲット6は上下の中心位置に最大径となる稜線7を有し、該稜線7の直径Dは既知となっている。前記2つの円錐台は、既知の形状を有し、円錐台を構成する上円錐曲面16a(図2参照)、下円錐曲面16b(図2参照)は既知の曲面となっている。又、前記軸心8は前記上円錐曲面16aの底面(又は下円錐曲面16bの底面)の中心を垂直に通過する。この底面の中心は、前記ターゲット6の中心となると共に前記ターゲット6の基準点となる。 The target 6 is a rotating body obtained by rotating a triangle around the axis 8 of the pole 5, and the pole 5 penetrates the target 6 vertically. Therefore, the target 6 has a shape in which two truncated cones are united vertically with the bottom surface as a boundary. Further, the target 6 has a ridgeline 7 having a maximum diameter at the center position of the upper and lower sides, and the diameter D of the ridgeline 7 is known. The two truncated cones have known shapes, and the upper conical curved surface 16a (see FIG. 2) and the lower conical curved surface 16b (see FIG. 2) that constitute the truncated cones are known curved surfaces. The axis 8 vertically passes through the center of the bottom surface of the upper conical curved surface 16a (or the bottom surface of the lower conical curved surface 16b). The center of the bottom surface becomes the center of the target 6 and also the reference point of the target 6 .

尚、前記上円錐曲面16aと前記下円錐曲面16bの円錐角を異なる角度とすれば、前記上円錐曲面16a、前記下円錐曲面16bの曲面の相違を判別することで、前記ターゲット6の上下の判別が可能となる。尚、以下の説明では前記上円錐曲面16a、前記下円錐曲面16bを同一曲面としている。 If the conical angles of the upper conical curved surface 16a and the lower conical curved surface 16b are set to different angles, the upper and lower conical surfaces of the target 6 can be determined by determining the difference between the curved surfaces of the upper conical curved surface 16a and the lower conical curved surface 16b. discrimination becomes possible. In the following description, the upper conical curved surface 16a and the lower conical curved surface 16b are assumed to be the same curved surface.

又、前記ターゲット6の中心(基準点)は、前記軸心8上にあり、ポール5の下端から前記ターゲット6の基準点迄の距離Lは、既知となっている。 The center (reference point) of the target 6 is on the axis 8, and the distance L from the lower end of the pole 5 to the reference point of the target 6 is known.

前記ターゲット6の表面は、前記レーザスキャナ3からの測距光を反射する様、反射率の高い白色とするか、或は更に、反射率の高い反射シートで覆われていることが好ましい。 The surface of the target 6 is preferably white with high reflectance or covered with a reflective sheet with high reflectance so as to reflect the distance measuring light from the laser scanner 3 .

又、前記ポール5の前記ターゲット6から上下に延びる所要範囲が、前記ターゲット6と同様白色であるか、或は反射シートで覆われている。尚、前記ポール5の全長を白色、或は反射シートとしてもよい。 Also, the required range of the pole 5 extending vertically from the target 6 is white like the target 6 or is covered with a reflective sheet. The entire length of the pole 5 may be white or may be a reflective sheet.

前記レーザスキャナ3は、2次元の局所スキャン(2次元局所スキャン)を行う機能を有し、更に円スキャンも実行できる機能を有するレーザスキャナが用いられる。 As the laser scanner 3, a laser scanner having a function of performing a two-dimensional local scan (two-dimensional local scan) and a function of performing a circular scan is used.

尚、レーザスキャナ3としては、特許文献4或は特許文献5に示されるレーザスキャナを用いることができる。 As the laser scanner 3, a laser scanner disclosed in Patent Document 4 or Patent Document 5 can be used.

該レーザスキャナ3について略述すると、該レーザスキャナ3は主に、演算制御部11、測距部12、測距光偏向部13を有している。 Briefly describing the laser scanner 3 , the laser scanner 3 mainly has an arithmetic control section 11 , a distance measurement section 12 and a distance measurement light deflection section 13 .

前記測距部12は、パルス光、或は特許文献3に示される断続変調光(即ち、バースト光)を測距光15として射出し、前記ターゲット6で反射された反射測距光を受光し、測距光の発光タイミングと受光タイミングの時間差と、光速に基づき測定対象迄の距離を測定する。前記測距部12は、光波距離計(EDM)として機能する。前記測距光15は、可視光又は不可視光のいずれでもよい。 The distance measuring unit 12 emits pulsed light or intermittent modulated light (that is, burst light) disclosed in Patent Document 3 as the distance measuring light 15, and receives the reflected distance measuring light reflected by the target 6. , the distance to the object to be measured is measured based on the time difference between the light emission timing and light reception timing of the distance measuring light and the speed of light. The rangefinder 12 functions as an optical rangefinder (EDM). The distance measuring light 15 may be either visible light or invisible light.

前記測距光偏向部13に於いて、2次元スキャンしている状態でのスキャン中心をスキャン中心光軸とする。前記測距光偏向部13は、前記スキャン中心光軸に対して測距光を2軸(水平/鉛直)に偏向し、所要のパターンで測距光をスキャンする機能を有する。尚、前記測距光偏向部13による偏向作用がない状態での光軸を基準光軸Rとする。 In the distance measuring light deflector 13, the scan center during two-dimensional scanning is defined as the scan center optical axis. The distance measuring light deflection unit 13 has a function of deflecting the distance measuring light along two axes (horizontal/vertical) with respect to the scan center optical axis and scanning the distance measuring light in a desired pattern. The optical axis in the state where there is no deflection action by the distance measuring light deflector 13 is defined as a reference optical axis R. FIG.

尚、前記測距光偏向部13として、特許文献1に示される測量装置が有する一対の円板の光学プリズムで構成される光軸偏向ユニットを用いることができる。或は、前記測距光偏向部13として、2軸ガルバノミラーを用いた偏向手段を用いることもできる。 As the distance measuring light deflecting section 13, an optical axis deflecting unit composed of a pair of disc optical prisms included in the surveying instrument disclosed in Patent Document 1 can be used. Alternatively, a deflecting means using a biaxial galvanomirror can be used as the distance measuring light deflecting section 13 .

尚、2軸ガルバノミラーを用いた偏向手段については、例えば、特許文献6に示されている。 A deflection means using a biaxial galvanomirror is disclosed in Patent Document 6, for example.

前記演算制御部11は、主にCPU、記憶部、入出力制御部等を有し、前記測距部12を制御して測距を行うと共に、前記測距光偏向部13を制御して、測距光を水平、鉛直の2軸に偏向し、所要のパターンで測距光を2次元にスキャンさせる。 The arithmetic control unit 11 mainly includes a CPU, a storage unit, an input/output control unit, etc., controls the distance measurement unit 12 to perform distance measurement, and controls the distance measurement light deflection unit 13 to perform distance measurement. The distance measuring light is deflected horizontally and vertically, and the distance measuring light is scanned two-dimensionally in a desired pattern.

尚、スキャンの2次元パターンとしては、例えば円パターンがある。円パターンを実行する場合、前記演算制御部11は、基準光軸Rに対して任意の偏角で、前記基準光軸Rを中心に測距光を回転することで、円スキャンが実行される。又、その他、2次元スキャンとしては、例えば、図7に示される8の字スキャンパターン9が実行される。尚、スキャンパターンについては、円パターン、楕円パターン、螺旋パターン等、任意のパターンが選択可能である。 For example, there is a circular pattern as a two-dimensional pattern for scanning. When executing a circular pattern, the arithmetic control unit 11 rotates the distance measuring light around the reference optical axis R at an arbitrary deflection angle with respect to the reference optical axis R, thereby executing a circular scan. . In addition, as a two-dimensional scan, for example, a figure-of-eight scan pattern 9 shown in FIG. 7 is executed. Any pattern such as a circular pattern, an elliptical pattern, a spiral pattern, or the like can be selected as the scan pattern.

更に、スキャン実行中、パルス毎に測距が行われ、パターン軌跡に沿って点群データが取得される。尚、図1中、前記ターゲット6上の破線の点は、測定点を示している。 Furthermore, during scanning, ranging is performed for each pulse, and point cloud data is acquired along the pattern trajectory. In FIG. 1, the dotted line points on the target 6 indicate measurement points.

以下、図1に於ける前記ターゲット装置2により、オフセット観測をする場合について説明する。 Hereinafter, the case of performing offset observation by the target device 2 shown in FIG. 1 will be described.

先ず、前記ターゲット装置2が鉛直、又は略鉛直の状態で支持されている場合を説明する。 First, the case where the target device 2 is supported vertically or substantially vertically will be described.

前記レーザスキャナ3を前記ターゲット装置2に向け、所要の範囲で局所スキャンを実行し、スキャン軌跡が前記ターゲット6を上下に横切る状態を実現させる。即ち、スキャン軌跡aが前記ターゲット6の前記上円錐曲面16aと前記下円錐曲面16bとを横切る状態を実現させる。 The laser scanner 3 is aimed at the target device 2 and a local scan is performed in a required range so that the scanning locus crosses the target 6 vertically. That is, the scanning locus a crosses the upper conical curved surface 16 a and the lower conical curved surface 16 b of the target 6 .

図2(A)、図2(B)は、前記ターゲット6とスキャン軌跡17との関係を示している。図2(A)、図2(B)中、前記スキャン軌跡17上の…は、パルス光の照射点、即ち測定点を示している。前記スキャン軌跡17に沿って点群データ17aが取得される。又、図2(A)で示されるスキャンパターンは、前記ターゲット6上(前記上円錐曲面16a、前記下円錐曲面16b上)で交点が形成されるパターンとなっている。 2A and 2B show the relationship between the target 6 and the scan trajectory 17. FIG. 2(A) and 2(B), . Point group data 17 a is obtained along the scanning locus 17 . Further, the scan pattern shown in FIG. 2A is a pattern in which intersection points are formed on the target 6 (on the upper conical curved surface 16a and the lower conical curved surface 16b).

以下、図1、図2(A)、図2(B)を参照して作用を説明する。又、以下の説明では測距光15を可視光として説明する。 The operation will be described below with reference to FIGS. 1, 2(A) and 2(B). Also, in the following description, the distance measuring light 15 is assumed to be visible light.

前記ターゲット装置2を測定点Pに立設する。 The target device 2 is erected at the measurement point P. As shown in FIG.

前記レーザスキャナ3を前記ターゲット装置2に向ける。所定の2次元スキャンパターンを選択して、スキャンを開始する。スキャン最初は、2次元スキャンパターンの中心が前記基準光軸Rとし、前記測距光偏向部13が持つ最大偏角の範囲で測距光15をスキャンさせる。又、スキャン最初は、高速でスキャン可能な2次元スキャンが好ましく、例えば円スキャンa(図1参照)が選択される。 The laser scanner 3 is aimed at the target device 2 . A predetermined two-dimensional scan pattern is selected to start scanning. At the beginning of scanning, the center of the two-dimensional scan pattern is the reference optical axis R, and the distance measuring light 15 is scanned within the range of the maximum angle of deflection of the distance measuring light deflector 13 . Also, at the beginning of scanning, two-dimensional scanning capable of scanning at high speed is preferable, and circular scanning a (see FIG. 1), for example, is selected.

スキャンパターンを同一形状に維持しつつ、偏角の範囲を縮小していく。前記ターゲット装置2からの反射光が得られると、反射光に基づき測定点(測距光が照射された点)の測距値、測角値が取得される。この測距値、測角値がスキャンパターンの中心となる様に、スキャン中心光軸を前記基準光軸Rに対して偏向する。又、測距値、測角値が複数得られる場合は、その平均値にスキャン中心光軸を偏向する。 While maintaining the scan pattern in the same shape, the range of declination is reduced. When the reflected light from the target device 2 is obtained, the distance measurement value and angle measurement value of the measurement point (the point irradiated with the distance measurement light) are acquired based on the reflected light. The scan center optical axis is deflected with respect to the reference optical axis R so that the distance measurement value and angle measurement value are at the center of the scan pattern. Also, when a plurality of distance measurement values and angle measurement values are obtained, the scanning center optical axis is deflected to the average value.

更に、スキャンパターンの範囲(大きさ)を、前記ターゲット6が含まれる程度に縮小する。 Furthermore, the range (size) of the scan pattern is reduced to such an extent that the target 6 is included.

スキャンパターンを上下に移動し、測距値が急激に変化する部分を探索する。 Move the scan pattern up and down to search for areas where the measured distance value changes abruptly.

測距値が急激に変化する部分が探索されると、その部分が前記ターゲット6であると判断される。本実施例に於いては、前記ターゲット6を探索できたときが、前記ターゲット6を視準した状態として差支えない。従って、前記ターゲット6を視準する場合に、前記スキャン中心光軸が前記ターゲット6の中心に合致していなくてもよい。 When a portion where the measured distance value changes abruptly is found, that portion is determined to be the target 6 . In this embodiment, when the target 6 can be searched for, the target 6 can be regarded as being collimated. Therefore, when collimating the target 6 , the scanning center optical axis does not have to match the center of the target 6 .

前記スキャン中心光軸を固定し、前記ターゲット6を通過する軌跡上の点群データを取得する。 The scanning center optical axis is fixed, and point cloud data on a trajectory passing through the target 6 is acquired.

前記演算制御部11は、前記点群データの測距値に、既知の曲面である前記上円錐曲面16a、前記下円錐曲面16bをフィッティングし、それぞれの母線(図2(B)に見られる上下の傾斜線)及び前記稜線7を求める。更に、前記演算制御部11は、該稜線7から前記上円錐曲面16a(又は下円錐曲面16b)の底面を求め、底面中心(基準点)を演算し、更に底面の傾斜角、傾斜方向を演算する。更に、前記演算制御部11は、底面の傾斜角、傾斜方向から前記軸心8の傾斜角、傾斜方向を演算する。 The arithmetic control unit 11 fits the upper conical curved surface 16a and the lower conical curved surface 16b, which are known curved surfaces, to the distance measurement values of the point cloud data, and the generatrix of each (upper and lower surfaces seen in FIG. 2B) ) and the ridge line 7 are obtained. Further, the arithmetic control unit 11 obtains the bottom surface of the upper conical curved surface 16a (or the lower conical curved surface 16b) from the ridge line 7, calculates the center of the bottom surface (reference point), and further calculates the inclination angle and the inclination direction of the bottom surface. do. Further, the arithmetic control unit 11 calculates the inclination angle and inclination direction of the axis 8 from the inclination angle and inclination direction of the bottom surface.

前記演算制御部11は、前記レーザスキャナ3から前記ターゲット6の基準点迄の距離を前記測距値、前記ターゲット6の稜線7の直径に基づき演算する。更に、前記レーザスキャナ3から前記ターゲット6中心迄の距離と、前記ポール5の下端から前記ターゲット6の基準点迄の距離と、前記軸心8の傾斜、傾斜方向に基づき測定点Pの位置を演算する。 The calculation control unit 11 calculates the distance from the laser scanner 3 to the reference point of the target 6 based on the distance measurement value and the diameter of the ridgeline 7 of the target 6 . Furthermore, the position of the measurement point P is determined based on the distance from the laser scanner 3 to the center of the target 6, the distance from the lower end of the pole 5 to the reference point of the target 6, the inclination of the axis 8, and the inclination direction. Calculate.

前記ターゲット6は、前記軸心8を中心とする回転体の形状であるので、前記軸心8を中心とする360゜の方向から、即ち任意の方向から前記ターゲット6の測定(オフセット観測)を行うことができる。 Since the target 6 has a shape of a body of revolution centered on the axis 8, the target 6 can be measured (offset observation) from 360° directions centered on the axis 8, that is, from any direction. It can be carried out.

尚、前記ターゲット6の上下の判断は、前記上円錐曲面16aと前記下円錐曲面16bの形状を異ならせることで可能である。 It is possible to determine whether the target 6 is up or down by making the shapes of the upper conical curved surface 16a and the lower conical curved surface 16b different.

更に前記ポール5の上部5a(図8参照)と下部5b(図8参照)の直径を異ならせ、スキャン軌跡17が前記上部5aと前記下部5bを通過した時の測距値で判断してもよい。又、前記上部5aの直径と前記下部5bの直径とを既知としておけば、スキャン軌跡17が前記上部5aの直径と前記下部5bのいずれか一方を通過すれば、前記ターゲット装置2の上下判断が可能である。 Furthermore, even if the diameters of the upper portion 5a (see FIG. 8) and the lower portion 5b (see FIG. 8) of the pole 5 are made different and the distance measurement value when the scanning locus 17 passes through the upper portion 5a and the lower portion 5b is used for determination, good. Further, if the diameter of the upper portion 5a and the diameter of the lower portion 5b are known, if the scan locus 17 passes through either the diameter of the upper portion 5a or the lower portion 5b, the up/down determination of the target device 2 is possible. It is possible.

尚、前記ポール5の軸心8の傾斜、傾斜方向の測定については、前記円スキャンaより大径の円スキャンbを実行することで求めてもよい。該円スキャンbは、前記ターゲット6に掛らない大径とし、前記円スキャンbは前記ターゲット6の上方、下方で前記ポール5を横切る様に設定される。 The inclination of the axis 8 of the pole 5 and the measurement of the inclination direction may be obtained by executing a circular scan b having a diameter larger than that of the circular scan a. The circular scan b has a large diameter that does not overlap the target 6 , and the circular scan b is set so as to cross the pole 5 above and below the target 6 .

前記円スキャンbが前記ポール5を横切る際の点群データから、前記軸心8の上下2点の3次元座標を求め、該2点の3次元座標で前記軸心8の傾斜、傾斜方向を測定する。 From the point cloud data when the circular scan b crosses the pole 5, the three-dimensional coordinates of two points above and below the axis 8 are obtained, and the inclination and the inclination direction of the axis 8 are determined by the three-dimensional coordinates of the two points. Measure.

図3(A)、図3(B)は、図2(A)、図2(B)で示したターゲット装置2の変形例を示している。尚、図3(A)、図3(B)中、図2(A)、図2(B)中で示したものと同等のものには同符号を付してある。 FIGS. 3A and 3B show modifications of the target device 2 shown in FIGS. 2A and 2B. 3(A) and 3(B), the same reference numerals are given to the same parts as those shown in FIGS. 2(A) and 2(B).

図3の変形例のターゲット6′は、図2で示されるターゲット6の稜線7の保護の為、稜線部7aを切除している。 In the target 6' of the modified example of FIG. 3, the ridgeline portion 7a is cut off in order to protect the ridgeline 7 of the target 6 shown in FIG.

前記ターゲット6′では、上円錐曲面16a、下円錐曲面16bの延長によって仮想の稜線7が設定され、該稜線7の直径も既知とされる。 In the target 6', a virtual ridgeline 7 is set by extension of the upper conical curved surface 16a and the lower conical curved surface 16b, and the diameter of the ridgeline 7 is also known.

前記ターゲット6′についての測定については、前記ターゲット6と同様であるので説明を省略する。 Since the measurement of the target 6' is the same as that of the target 6, the description thereof is omitted.

図4は、ターゲットの第2の実施例を示している。 FIG. 4 shows a second example of a target.

第2の実施例に於けるターゲット18について説明する。 A target 18 in the second embodiment will be described.

尚、図4中、図2(A)、図2(B)中で示したものと同等のものには同符号を付してある。 In FIG. 4, the same symbols are attached to the same parts as those shown in FIGS. 2(A) and 2(B).

該ターゲット18は、2つの円錐台を上面を境界に上下に合体させた形状を有している。又、前記ターゲット18は上下の中心位置(中間位置)に最小径となる凹稜線7′を有し、該凹稜線7′の直径Dは既知となっている。前記ターゲット18の場合、前記円錐台の上面の中心が前記ターゲット18の基準点となる。 The target 18 has a shape in which two truncated cones are united vertically with the upper surface as a boundary. Further, the target 18 has a concave ridge line 7' having a minimum diameter at the center position (middle position) of the upper and lower sides, and the diameter D of the concave ridge line 7' is known. In the case of the target 18 , the center of the top surface of the truncated cone is the reference point of the target 18 .

前記2つの円錐台は、既知の形状を有し、円錐台を構成する上円錐曲面18a、下円錐曲面18bは既知の曲面となっている。又、ポール5の軸心8は前記上円錐曲面18aの上面(又は下円錐曲面18bの上面)の中心、即ち前記ターゲット18の中心を垂直に通過する。 The two truncated cones have known shapes, and the upper conical curved surface 18a and the lower conical curved surface 18b that constitute the truncated cones are known curved surfaces. The axis 8 of the pole 5 passes vertically through the center of the upper surface of the upper conical surface 18a (or the upper surface of the lower conical surface 18b), that is, the center of the target 18. As shown in FIG.

尚、前記上円錐曲面18aと前記下円錐曲面18bの円錐角を異なる角度とすれば、前記上円錐曲面18a、前記下円錐曲面18bの曲面の相違を判別することで、前記ターゲット18の上下の判別が可能となる。尚、以下の説明では前記上円錐曲面18a、前記下円錐曲面18bは同一曲面としている。 If the cone angles of the upper conical curved surface 18a and the lower conical curved surface 18b are set to different angles, the difference between the curved surfaces of the upper conical curved surface 18a and the lower conical curved surface 18b can be determined. discrimination becomes possible. In the following description, the upper conical curved surface 18a and the lower conical curved surface 18b are assumed to be the same curved surface.

又、前記ターゲット18の中心(基準点)は、前記軸心8上にあり、ポール5の下端から前記ターゲット6の基準点迄の距離は、既知となっている。 The center (reference point) of the target 18 is on the axis 8, and the distance from the lower end of the pole 5 to the reference point of the target 6 is known.

前記ターゲット18の表面は、前記レーザスキャナ3からの測距光を反射する様、反射率の高い白色とするか、或は更に、反射率の高い反射シートで覆われていることが好ましい。 The surface of the target 18 is preferably white with high reflectance or covered with a reflective sheet with high reflectance so as to reflect the distance measuring light from the laser scanner 3 .

第2の実施例に於いても、前記上円錐曲面18a、前記下円錐曲面18bを通過するスキャン軌跡17上の点群データ17aから前記上円錐曲面18a、前記下円錐曲面18bが演算され、更に前記凹稜線7′、該凹稜線7′が形成する円(上面)が求められ、円の中心から前記ターゲット18の基準点の位置、更に前記円の傾斜から前記ポール5の軸心8の傾斜角、傾斜方向が求められる。 Also in the second embodiment, the upper conical curved surface 18a and the lower conical curved surface 18b are calculated from the point cloud data 17a on the scan trajectory 17 passing through the upper conical curved surface 18a and the lower conical curved surface 18b. The concave ridge line 7' and the circle (upper surface) formed by the concave ridge line 7' are obtained. Angles and tilt directions are required.

而して、前記レーザスキャナ3から前記ターゲット18中心迄の距離(図1参照)と、前記ポール5の下端から前記ターゲット18の基準点迄の距離と、前記軸心8の傾斜、傾斜方向に基づき測定点Pの位置が演算される。 The distance from the laser scanner 3 to the center of the target 18 (see FIG. 1), the distance from the lower end of the pole 5 to the reference point of the target 18, the inclination of the axis 8, and the inclination direction Based on this, the position of the measuring point P is calculated.

図5(A)、図5(B)はターゲットの第3の実施例を示している。 5A and 5B show a third embodiment of the target.

第3の実施例に示されるターゲット19は、球体となっている。該球体の中心はポール5の軸心8上に有り、中心とポール5下端との距離は既知となっている。球体の場合、基準点は球体の中心となる。 The target 19 shown in the third embodiment is spherical. The center of the sphere is on the axis 8 of the pole 5, and the distance between the center and the lower end of the pole 5 is known. For a sphere, the reference point is the center of the sphere.

該ターゲット19を通過するスキャン軌跡17上の点群データ17aに基づき前記ターゲット19の球面が演算され、球面から球面の中心、即ち前記ターゲット19の中心の位置が演算される。中心の位置に基づき測定点Pのオフセット観測が実行される。 The spherical surface of the target 19 is calculated based on the point group data 17a on the scanning locus 17 passing through the target 19, and the center of the spherical surface, that is, the position of the center of the target 19 is calculated from the spherical surface. An offset observation of the measurement point P is performed based on the position of the center.

図6(A)、図6(B)はターゲットの第4の実施例を示している。 6A and 6B show a fourth embodiment of the target.

ターゲット20は、円錐形状となっている。尚、図6では倒立円錐形が示されているが、正立円錐形でも同様である。該ターゲット20自身は、中心点をもっていないが、形状によって観測点を示すことができる。 The target 20 has a conical shape. Although FIG. 6 shows an inverted conical shape, the same applies to an upright conical shape. The target 20 itself does not have a center point, but its shape can indicate an observation point.

円錐形(ターゲット20)の軸心とポール5の軸心とは合致している。又、円錐形の底面とポール5の軸心8とは直交し、底面(円)の直径と円錐の頂角は既知となっている。従って、円錐曲面20aも既知の曲面となっている。 The axis of the cone (target 20) and the axis of the pole 5 match. Further, the bottom surface of the cone and the axis 8 of the pole 5 are perpendicular to each other, and the diameter of the bottom surface (circle) and the apex angle of the cone are known. Therefore, the conical curved surface 20a is also a known curved surface.

円錐形の軸心と前記ポール5の軸心8とは合致していることから、円錐形の頂点は前記軸心8上に位置する。前記ターゲット20を有するターゲット装置2では、円錐形の頂点Qの位置をターゲット装置2の観測点とし、前記頂点Qと前記ポール5の下端との距離を既知の値とする。前記ターゲット20の場合、前記頂点Qが基準点となり、該頂点Qは前記円錐曲面20aによって特定される。 Since the axis of the cone coincides with the axis 8 of the pole 5 , the apex of the cone is located on the axis 8 . In the target device 2 having the target 20, the position of the apex Q of the cone is set as the observation point of the target device 2, and the distance between the apex Q and the lower end of the pole 5 is a known value. In the case of the target 20, the vertex Q becomes a reference point, and the vertex Q is specified by the conical curved surface 20a.

第4の実施例に於いて、前記円錐曲面20a上を通過するスキャン軌跡17で得られる点群データ17aより、前記円錐曲面20aが演算され、更に該円錐曲面20aの頂点Qの位置が演算される。 In the fourth embodiment, the conical surface 20a is calculated from the point group data 17a obtained by the scanning trajectory 17 passing over the conical surface 20a, and the position of the vertex Q of the conical surface 20a is calculated. be.

又、該円錐曲面20aが演算されることで円錐の軸心が求められ、その際軸心(即ち、前記ポール5の軸心8)の傾斜角、傾斜方向も演算される。 Further, by calculating the conical curved surface 20a, the axis of the cone is obtained, and at that time, the inclination angle and the inclination direction of the axis (that is, the axis 8 of the pole 5) are also calculated.

第4の実施例に於いても、前記円錐曲面20a上での点群データ17aが取得できればよいので、スキャン中心光軸を厳密に前記ターゲット20に合致させる必要はない。即ち、厳密に視準しなくてもよい。 In the fourth embodiment as well, the point group data 17a on the conical curved surface 20a need only be acquired, so it is not necessary to strictly match the scanning center optical axis with the target 20. FIG. That is, it is not necessary to collimate strictly.

従って、前記ターゲット20をレーザスキャナ3による視準状態とし、前記ターゲット20をスキャンし、点群データ17aを取得する。点群データ17aによって前記円錐曲面20aが演算され、該円錐曲面20aによって頂点Qが特定される。前記頂点Qを求め、更に軸心8の傾斜角、傾斜方向を求めることで、測定点Pのオフセット観測が行える。 Therefore, the target 20 is collimated by the laser scanner 3, the target 20 is scanned, and the point group data 17a is obtained. The conical curved surface 20a is calculated from the point group data 17a, and the vertex Q is specified by the conical curved surface 20a. By obtaining the vertex Q and further obtaining the inclination angle and the inclination direction of the axis 8, the offset observation of the measurement point P can be performed.

尚、前記測距光偏向部13が、前記ポール5の任意の2点を通過する様、測距光をスキャンさせ、前記2点の測距値を得ることで、より簡単に且つ高精度に前記軸心8の傾斜角、傾斜方向を演算することができる。 The distance measuring light deflector 13 scans the distance measuring light so as to pass through any two points of the pole 5, and obtains the distance measurement values of the two points. The tilt angle and tilt direction of the axis 8 can be calculated.

図8は、図7で示した8の字スキャンパターン9を選択して、ターゲット6についてオフセット観測をした場合を示している。 FIG. 8 shows a case where the figure-of-eight scan pattern 9 shown in FIG. 7 is selected and the target 6 is subjected to offset observation.

前記8の字スキャンパターン9の交点9aが前記ターゲット6上に位置する様に視準する。 Collimation is performed so that the intersection 9 a of the figure-of-eight scan pattern 9 is positioned on the target 6 .

前記8の字スキャンパターン9を実行することで、前記ターゲット6についての点群データが取得できると共に前記ポール5の2点(上部5a及び下部5b)の測距データが得られ、頂点Qと前記ポール5の傾斜角、傾斜方向が得られ、測定点Pのオフセット観測が行える。 By executing the figure-of-eight scan pattern 9, point cloud data about the target 6 can be obtained, and distance measurement data of two points (upper portion 5a and lower portion 5b) of the pole 5 can be obtained. The tilt angle and tilt direction of the pole 5 can be obtained, and the offset observation of the measurement point P can be performed.

前記8の字スキャンパターン9による測定点Pのオフセット観測について、図9、図10に於いて、更に説明する。 The offset observation of the measurement point P by the figure-of-eight scan pattern 9 will be further described with reference to FIGS. 9 and 10. FIG.

前記8の字スキャンパターン9が前記ポール5の上下2箇所を横切ることで、上下2箇所の前記ポール5についての点群データが取得でき、この点群データから前記軸心8の上下2点8a,8bの3次元データが取得できる。更に、この2点8a,8bの3次元座標から前記軸心8の傾斜、傾斜方向が測定できる。 The figure-of-eight scan pattern 9 traverses the two upper and lower positions of the pole 5, so that the point cloud data of the two upper and lower poles 5 can be obtained. , 8b can be obtained. Further, the inclination and the inclination direction of the axis 8 can be measured from the three-dimensional coordinates of the two points 8a and 8b.

従って、前記ターゲット6を通過する前記8の字スキャンパターン9で取得される点群データ22を前記軸心8からの距離に換算できる。この点群データ22に直線フィッティングすることで稜線7が得られる(図9(B)参照)。この稜線7の半径(D/2)は、前記ターゲット6の半径(D/2)であり、既知の値となる。 Therefore, the point cloud data 22 acquired by the figure-of-eight scan pattern 9 passing the target 6 can be converted into the distance from the axis 8 . A ridge line 7 is obtained by linear fitting to the point cloud data 22 (see FIG. 9B). The radius (D/2) of this ridge line 7 is the radius (D/2) of the target 6 and is a known value.

該稜線7を含み前記軸心8に直交する平面と前記軸心8との交点が、ターゲット装置2の基準位置となる。従って、点群データ22の測距値から基準位置の3次元座標が求まる。更に、この基準位置とポール5下端との距離Lは既知であり、基準位置の3次元座標、前記軸心8の傾斜、傾斜方向から測定点Pのオフセット観測が行える。 The point of intersection between the axis 8 and a plane that includes the ridge line 7 and is orthogonal to the axis 8 is the reference position of the target device 2 . Therefore, the three-dimensional coordinates of the reference position are obtained from the distance measurement values of the point cloud data 22 . Furthermore, the distance L between this reference position and the lower end of the pole 5 is known, and the offset observation of the measurement point P can be performed from the three-dimensional coordinates of the reference position, the inclination of the axis 8, and the inclination direction.

図10は、点群データ22に対する直線フィッティングに代え、前記ターゲット6の断面形状と点群データ22とのマッチングを行い基準位置を求める様にしたものである。 In FIG. 10, instead of linear fitting to the point group data 22, the cross-sectional shape of the target 6 and the point group data 22 are matched to determine the reference position.

前記ターゲット6の半断面形状をマッチングパターン23として用意し、点群データ22を取得した後、前記マッチングパターン23を前記軸心8に沿って上下させることでマッチング位置を検出する。マッチング後、前記マッチングパターン23の頂点を通過する垂線と前記軸心8との交点が基準点となる。 After preparing the half-sectional shape of the target 6 as a matching pattern 23 and obtaining the point group data 22, the matching position is detected by moving the matching pattern 23 up and down along the axis 8. FIG. After matching, the intersection of the vertical line passing through the vertices of the matching pattern 23 and the axis 8 becomes the reference point.

前記マッチングパターン23を全ての点群データ22に同時にマッチングさせるので、点群データ22のバラツキの影響が少なく、容易に且つ精度よくマッチングが可能となる。 Since the matching pattern 23 is matched with all the point group data 22 at the same time, the effect of variations in the point group data 22 is small, and matching can be easily and accurately performed.

尚、前記ターゲットの形状については、上記した形状に限定されることはなく、軸心方向に沿って径が変化する回転体の既知の形状であればよい。 The shape of the target is not limited to the shape described above, and may be any known shape of a rotating body whose diameter changes along the axial direction.

1 測量システム
2 ターゲット装置
3 レーザスキャナ
5 ポール
6 ターゲット
7 稜線
8 軸心
11 演算制御部
12 測距部
13 測距光偏向部
17 スキャン軌跡
18 ターゲット
19 ターゲット
20 ターゲット
1 Surveying System 2 Target Device 3 Laser Scanner 5 Pole 6 Target 7 Ridgeline 8 Axis 11 Calculation Control Unit 12 Ranging Unit 13 Ranging Optical Deflecting Unit 17 Scan Trajectory 18 Target 19 Target 20 Target

Claims (5)

ポールと該ポールに設けられ、測距光を反射するターゲットとを有し、該ターゲットは前記ポールの軸心を中心とした回転体の形状を有すると共に既知の円錐曲面を有し、該円錐曲面は前記軸心上の一点を基準点として有し、該基準点とポール下端との距離が既知であり、
前記ターゲットは、底面で合体する上下2つの円錐台で構成されるターゲット装置。
a pole and a target provided on the pole for reflecting the distance measuring light, the target having a shape of a body of revolution centered on the axis of the pole and having a known conical curved surface, has a point on the axis as a reference point, and the distance between the reference point and the lower end of the pole is known,
The target is a target device composed of two upper and lower truncated cones united at the bottom.
ポールと該ポールに設けられ、測距光を反射するターゲットとを有し、該ターゲットは前記ポールの軸心を中心とした回転体の形状を有すると共に既知の円錐曲面を有し、該円錐曲面は前記軸心上の一点を基準点として有し、該基準点とポール下端との距離が既知であり、
前記ターゲットは、上面で合体する上下2つの円錐台で構成されるターゲット装置。
a pole and a target provided on the pole for reflecting the distance measuring light, the target having a shape of a body of revolution centered on the axis of the pole and having a known conical curved surface, has a point on the axis as a reference point, and the distance between the reference point and the lower end of the pole is known,
The target is a target device composed of two upper and lower truncated cones united at the upper surface.
上円錐台の円錐角と下円錐台の円錐角を異ならせた請求項1又は請求項2に記載のターゲット装置。 3. The target device according to claim 1, wherein the cone angle of the upper truncated cone and the cone angle of the lower truncated cone are different. 測距光をスキャンし点群データを取得するレーザスキャナと、測距光を反射するターゲットを有する請求項1~請求項3のいずれかのターゲット装置とを具備し前記レーザスキャナは、測距光を射出し、反射光を受光して測距を行う測距部と、測距光を2次元に偏向可能な測距光偏向部と、該測距光偏向部を制御する演算制御部とを具備し、該演算制御部は、前記測距光偏向部により前記ターゲットの表面を通過する様測距光をスキャンし、該スキャンで得られる点群データに基づき前記ターゲット表面の円錐曲面を演算し、該円錐曲面に基づき基準点を求め、該基準点を測距する様構成された測量システム。 A laser scanner that scans distance measuring light to obtain point cloud data, and the target device according to any one of claims 1 to 3 , which has a target that reflects the distance measuring light , wherein the laser scanner measures distance. a distance measuring unit that emits light and receives reflected light to perform distance measurement, a distance measuring light deflector that can deflect the distance measuring light two-dimensionally, and an arithmetic control unit that controls the distance measuring light deflector and the arithmetic control unit scans the range-finding light passing through the surface of the target by the range-finding light deflection unit, and calculates the conical surface of the target surface based on the point cloud data obtained by the scanning. a surveying system configured to determine a reference point based on the conical curved surface and measure the distance from the reference point. 前記演算制御部は円錐曲面の演算に基づき、円錐の軸心を求め、該軸心の傾斜角、傾斜方向を演算する様構成された請求項4に記載の測量システム。 5. The surveying system according to claim 4, wherein the arithmetic control unit is configured to obtain the axis of the cone based on the calculation of the conical curved surface, and to calculate the inclination angle and the inclination direction of the axis.
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