JP7281994B2 - 非破壊解析装置 - Google Patents
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Description
リチウムイオン電池は、異物の混入、衝撃などによって発火・発煙・爆発という危険な現象を生じることがある。これを解明するために、例えば、特許文献1に示すように、電池に対して釘刺しのようなピンポイントで圧力・衝撃を加え、釘刺しの度合いと電池内部の膨張、発熱、発煙、発火などの関係を解析することが行われている。
(1)被検査物に対してX線を放射するX線発生器。
(2)前記X線の進路に設置され前記被検査物を載置する試料テーブル。
(3)前記被検査物を透過したX線を検出して可視光データとして出力するX線検出器。
(4)前記被検査物に対して物理的エネルギーを加える釘刺し装置。
(5)前記釘刺し装置に設けられ、先端部が線減弱係数の高い材料を含む釘。
(6)前記釘刺し装置からの物理的エネルギーによって変化した被検査物の状態を測定する計測装置。
(7)前記線減弱係数の高い材料は、線減弱係数がX線のエネルギー100keVにおいて10cm -1 以上である。
(8)前記釘が絶縁された複数の導電部を備え、前記釘の先端部において各導電部の先端が釘の軸方向の異なる位置に露出しており、前記釘が前記被検査物に挿入されると前記各導電層が当該被検査物の異なる深さに達することになる。
(1)釘さし方向と垂直な軸を回転中心としてX線発生器1及びX線検出器3を回転させる回転装置と、前記X線と交差する回転軸に対し前記試料テーブルと前記X線とを相対的に回転させる回転装置と、前記回転の多数の方向で検出された透過像から前記被検査物の断層像を再構成する画像構成装置を設ける。
(2)前記の釘材料は、電池の内部短絡などによる高温化に耐える必要があり、たとえば融点が1000℃以上である。
(3)前記の釘材料は、たとえば体積抵抗率が、100℃において10×10-6以下とする。
[1-1.実施形態の構成]
第1実施形態の非破壊解析装置では、図1のブロック図に示すように、放射線源であるX線発生器1と、被検査物Wを載せる試料テーブル2と、X線発生器1から放射されたX線ビームを受光するX線検出器3が、X線の光軸に沿って所定の間隔を保って配置される。
(1)X線透視画像の撮影
本実施形態においては、試料テーブル2の上に被検査物である電池を置いた状態で釘刺し装置8を駆動し、釘81を電池に突き刺す。この場合、釘81の進行方向は、電池内の層状に並んだ電極に垂直な方向とする。釘81の突き刺す速度や方向、突き刺す深さについては、入力装置61を用いて制御装置6に予め設定しておく。一例として、釘81の起動から釘81の先端が電池の所定の深さに達するまでの時間は十秒程度である。
積層構造を成している電池の電極を一層ずつ分離したX線透視画像を得るためにはそれぞれの電極に平行又は平行に近い角度でX線が透過することを要する。例えば、釘81の先端が電池の外装の表面に接触した状態で、第1層目の電極がそれに隣り合う第2層目の電極と分離して識別できるように設定されている場合を考える。
釘刺しに伴って電池が変形した場合、計測装置9の計測値に応じてX線発生器1の位置を制御する代わりに、試料テーブル2を移動させることも可能である。試料テーブル2には回転駆動機構21及びXYZ駆動機構22が設けられているので、計測装置9からの計測値に基づいて制御装置6がこれらの駆動機構21,22を制御することで、試料テーブル2を回転あるいはXYZ方向に移動させる。これにより、X線発生器1は固定のままで、電池を異なる方向や異なる視野で撮影することができる。
釘刺し装置8には、計測装置9として圧力計97や加速度センサー98が設けられているため、釘刺しの進行に伴う電池からの反力や釘刺し時の衝撃を計測することができる。そこで、この計測値が予め決めた閾値を超えた場合には、釘刺しの停止や進入速度の減速を行うように、制御装置6によって釘刺し装置8の駆動機構83を制御する。また、制御装置6に駆動機構83の速度と力を入力し、被検査物Wに釘81を刺したときの圧力を測定し、測定値に応じて太さYや先端部81bの角度αが異なる釘81を選択することにより、被検査物Wの硬度や材質に適した釘81を用いて測定を行うことが可能となる。
制御装置6は、計測装置9からの計測値に従って、X線検出器3がX線像を収集するタイミングを制御する。すなわち、電池に対する釘刺しが一定の深さに達したり、電池の発熱が予め設定した閾値を超えたりした状態からX線像の収集を開始或いは停止させる。また、制御装置6によるX線発生器1の撮影方向と連動するように、X線検出器3の受光角度を変化させる。
本実施形態は、次のような効果を有する。
(1)釘81の先端部81bを線減弱係数の高い材質としたことにより、先端部81bとそれによって変形された銅あるいはアルミニウムなどの電極、樹脂製のセパレータW3などの電池材料とのX線透過画像におけるコントラストを強調することが可能となる。その結果、電池材料の変形度合いを明瞭に観察することが可能となる。
図6に示す第2実施形態は、X線CT装置に本発明を適用したものである。第2実施形態の構成は、被検査物Wに対してX線発生器1及びX線検出器3が相対的に回転する部分において第1実施形態とは異なるもので、他の構成は第1実施形態と同様である。第1実施形態と同様な構成については、同一の符号を付し、説明を省略する。
(1)CT撮像によって被検査物が釘刺し装置による変化中の任意の時点での3D画像を求めることができる。すなわち、釘刺し装置8における釘刺し中の任意の時点での3D画像の取得が可能となる。
本発明は、前記実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。具体的には、次のような他の実施形態も包含する。
W1…正極
W2…負極
W3…セパレータ
W4…薄膜
1…X線発生器
11…X線発生器駆動機構
2…試料テーブル
21…回転駆動機構
22…XYZ駆動機構
3…X線検出器
5…画像構成装置
6…制御装置
61…入力装置
62…記憶装置
7…X線検出器駆動機構
8…釘刺し装置
81…釘
81a…軸部
81b…先端部
a~e…導電部
P…絶縁部材
82…操作装置
83…駆動機構
9…計測装置
91…電圧計
92…電流計
93…温度センサー
94…ガス検出器
95…歪み計
96…光電管
97…圧力計
98…加速度センサー
Claims (5)
- 被検査物に対してX線を放射するX線発生器と、
前記X線の進路に設置され前記被検査物を載置する試料テーブルと、
前記被検査物を透過したX線を検出して可視光データとして出力するX線検出器と、
前記被検査物に対して物理的エネルギーを加える釘刺し装置と、
前記釘刺し装置に設けられ、先端部が線減弱係数の高い材料を含む釘と、前記釘刺し装置からの物理的エネルギーによって変化した前記被検査物の状態を測定する計測装置と、
を備え、
前記線減弱係数の高い材料は、線減弱係数がX線のエネルギー100keVにおいて10cm -1 以上であり、
前記釘が絶縁された複数の導電部を備え、前記釘の先端部において各導電部の先端が釘の軸方向の異なる位置に露出しており、前記釘が前記被検査物に挿入されると前記各導電層が当該被検査物の異なる深さに達することになる非破壊解析装置。 - 釘さし方向と垂直な軸を回転中心としてX線発生器1及びX線検出器3を回転させる回転機構と、
前記回転の多数の方向で検出された透過像から前記被検査物の断層像を再構成する画像構成装置と、
を備える請求項1に記載の非破壊解析装置。 - 前記線減弱係数の高い材料は、材料融点が1000℃以上である請求項1又は請求項2に記載の非破壊解析装置。
- 前記線減弱係数の高い材料は、100℃において体積抵抗率10×10-6Ωcm以下の請求項1から請求項3のいずれかに記載の非破壊解析装置。
- 前記被検査物が、線減弱係数の低い材質の部位を有し、前記線減弱係数の低い材質の表面に線減弱係数の高い材質の薄膜が設けられた請求項1から請求項4のいずれかに記載の非破壊解析装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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---|---|---|---|---|
JP2013165265A (ja) | 2012-01-13 | 2013-08-22 | Zycube:Kk | 貫通/埋込電極構造及びその製造方法 |
JP2017144482A (ja) | 2016-02-16 | 2017-08-24 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 積層造形ワークピースの放射線及びct検査方法 |
JP2019090802A (ja) | 2017-11-10 | 2019-06-13 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | 非破壊解析装置 |
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Non-Patent Citations (1)
Title |
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深野 重男,タングステンによる192Irの遮蔽計算,Isotope News,日本,日本アイソトープ協会,2014年04月01日,第720号,第58頁~第61頁,https://www.jrias.or.jp/books/pdf/201404_ZIKKENSHITSUMEMO_FUKANO.pdf |
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