JP7246785B1 - Near-field air probe and inspection equipment - Google Patents

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Abstract

【課題】 遠方界はもちろん、近傍界において、DUTとしての通信モジュールの通信特性を測定可能な近傍界エアープローブ及び検査装置を提供する。【解決手段】 近傍界エアープローブは、レドームベースと、コネクタ部と、プローブ部と、レドームとを有する。コネクタ部は、レドームベースに設けられ、ネットワークアナライザから信号が入力される。プローブ部は、板状の基材と導体とを有する。基材は、第1の面と第1の面とは反対側の第2の面とを有し、レドームベースに対して固定される。導体は、基材に設けられ、コネクタ部に入力される信号を進行波型の電波として放出する。レドームは、レドームベースとともにプローブ部を覆う。レドームは、電波の放出方向に沿って電波透過性を有する透過面と、基材のうち第1の面及び第2の面に対向する面がそれぞれ第1の面及び第2の面に対して傾斜する電磁波吸収材で形成された傾斜面とを有する。【選択図】 図7A near-field air probe and a testing device capable of measuring communication characteristics of a communication module as a DUT in the near field as well as in the far field are provided. A near-field air probe has a radome base, a connector section, a probe section, and a radome. The connector section is provided on the radome base and receives a signal from the network analyzer. The probe section has a plate-like base material and a conductor. A substrate has a first surface and a second surface opposite the first surface and is fixed to the radome base. The conductor is provided on the base material and emits a signal input to the connector portion as a traveling wave type radio wave. The radome covers the probe portion together with the radome base. The radome has a transmission surface having radio wave permeability along the radio wave emission direction, and a surface of the base material facing the first surface and the second surface, which is opposed to the first surface and the second surface, respectively. and an inclined surface formed of an inclined electromagnetic wave absorbing material. [Selection drawing] Fig. 7

Description

この発明は、近傍界エアープローブ及び検査装置に関する。 The present invention relates to a near-field air probe and an inspection device.

近年、移動通信システムのアンテナは、半導体チップに一体化されてきている。このようなDUT(Device Under Test)としての通信モジュール(アンテナモジュール)は、通信特性等の検査を行ってから出荷することが求められる。例えば大量生産される通信モジュールは、各種機器に取り付けられる前にそれぞれの通信性能が検査されることが好ましい。 In recent years, antennas for mobile communication systems have been integrated into semiconductor chips. Such a communication module (antenna module) as a DUT (Device Under Test) is required to be shipped after inspection of communication characteristics and the like. For example, mass-produced communication modules are preferably tested for their communication performance before being attached to various devices.

特開2019-097147号公報JP 2019-097147 A

電波の放射元の電波の電界強度、磁界強度等を測定する場合、DUTとしての通信モジュールと、プローブ(カプラ)との電磁結合による影響が生じることを避けることが必要となる。このため、DUTとしての通信モジュールと、プローブ(カプラ)との距離を、遠方界となる距離を取って測定することが行われている。すなわち、通信モジュールは、通常、遠方界で通信特性が測定されることが行われている。しかし、測定機器に対してより近い近傍界で通信特性を測定することができれば、より多くの通信モジュールを省スペースで検査することができることになる。そして、近傍界では、DUT及びプローブの電界と磁界とが混在する電磁界となるため、遠方界に比べて通信特性を測定することが難しい、といった問題がある。 When measuring the electric field intensity, magnetic field intensity, etc. of the radio wave radiating source, it is necessary to avoid the influence of the electromagnetic coupling between the communication module as the DUT and the probe (coupler). For this reason, the distance between the communication module as the DUT and the probe (coupler) is measured by taking the distance that becomes the far field. That is, communication characteristics of communication modules are usually measured in the far field. However, if communication characteristics can be measured in a near field closer to the measuring equipment, more communication modules can be tested in a smaller space. In the near field, the electric field and the magnetic field of the DUT and the probe are mixed, so that it is difficult to measure communication characteristics compared to the far field.

本発明は、遠方界はもちろん、近傍界において、DUTとしての通信モジュールの通信特性を測定可能な近傍界エアープローブ及び検査装置を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a near-field air probe and a testing apparatus capable of measuring the communication characteristics of a communication module as a DUT not only in the far field but also in the near field.

本発明の一態様に係る近傍界エアープローブは、電磁波吸収材で形成されるレドームベースと、コネクタ部と、プローブ部と、レドームとを有する。コネクタ部は、レドームベースに設けられ、ネットワークアナライザから信号が入力される。プローブ部は、板状の基材と導体とを有する。基材は、第1の面と第1の面とは反対側の第2の面とを有し、レドームベースに対して固定される。導体は、基材に設けられ、コネクタ部に入力される信号を進行波型の電波として放出する。レドームは、レドームベースとともにプローブ部を覆う。レドームは、電波の放出方向に沿って電波透過性を有する透過面と、基材のうち第1の面及び第2の面に対向する面がそれぞれ第1の面及び第2の面に対して傾斜する電磁波吸収材で形成された傾斜面とを有する。レドームの透過面に対向する基材の端面の板厚に沿う方向の大きさは、電波のうち測定する最低周波数の波長λの半分であるλ/2より大きい。 A near-field air probe according to an aspect of the present invention includes a radome base made of an electromagnetic wave absorbing material, a connector section, a probe section, and a radome. The connector section is provided on the radome base and receives a signal from the network analyzer. The probe section has a plate-like base material and a conductor. A substrate has a first surface and a second surface opposite the first surface and is fixed to the radome base. The conductor is provided on the base material and emits a signal input to the connector portion as a traveling wave type radio wave. The radome covers the probe portion together with the radome base. The radome has a transmission surface having radio wave permeability along the radio wave emission direction, and a surface of the base material facing the first surface and the second surface, which is opposed to the first surface and the second surface, respectively. and an inclined surface formed of an inclined electromagnetic wave absorbing material. The dimension along the plate thickness of the end surface of the substrate facing the transmission surface of the radome is larger than λ/2, which is half the wavelength λ of the lowest frequency to be measured among radio waves.

本発明によれば、遠方界はもちろん、近傍界において、DUTとしての通信モジュールの通信特性を測定可能な近傍界エアープローブ及び検査装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a near-field air probe and a testing apparatus capable of measuring the communication characteristics of a communication module as a DUT not only in the far field but also in the near field.

実施形態に係る検査装置を示す概略的なブロック図。1 is a schematic block diagram showing an inspection device according to an embodiment; FIG. 実施形態に係る検査装置の近傍界エアープローブを示す概略図。Schematic which shows the near-field air probe of the test|inspection apparatus which concerns on embodiment. 図2に示す矢印IIIで示す方向から近傍界エアープローブを見た概略図。FIG. 3 is a schematic view of the near-field air probe viewed from the direction indicated by arrow III in FIG. 2; 図2に示す矢印IVで示す方向から近傍界エアープローブを見た概略図。FIG. 3 is a schematic view of the near-field air probe viewed from the direction indicated by arrow IV in FIG. 2; 図2から図4に示す近傍界エアープローブのアンテナ部の一例を示す概略図。FIG. 5 is a schematic diagram showing an example of the antenna section of the near-field air probe shown in FIGS. 2 to 4; FIG. DUT及び近傍界エアープローブの電磁界を示す概略図。Schematic diagram showing the electromagnetic field of a DUT and a near-field air probe. レドームでの電波の反射の状態を示す説明図。FIG. 4 is an explanatory diagram showing a state of reflection of radio waves in a radome; DUTと近傍界エアープローブとの距離関係に応じた周波数と伝送特性との関係を示すグラフ。5 is a graph showing the relationship between frequency and transmission characteristics according to the distance relationship between the DUT and the near-field air probe; DUTと近傍界エアープローブとの距離関係と伝送特性との関係を示すグラフ。5 is a graph showing the relationship between the distance relationship between the DUT and the near-field air probe and the transmission characteristics; 実施形態に係る検査装置の一部を示す概略図。Schematic which shows a part of inspection apparatus which concerns on embodiment.

図1から図9を用いて一実施形態に係る検査装置10について説明する。 An inspection apparatus 10 according to an embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 9. FIG.

図1に示すように、本実施形態に係る検査装置10は、近傍界エアープローブ12と、ネットワークアナライザ14とを有する。 As shown in FIG. 1, an inspection apparatus 10 according to this embodiment has a near-field air probe 12 and a network analyzer 14 .

本実施形態に係る近傍界エアープローブ12は、近傍界エアープローブ12の後述するRFコネクタ部24に所定の信号を入力するネットワークアナライザ14とともに、被測定物であるDUT(Device Under Test)18を検査するときに用いる。本実施形態では、DUT18は、半導体チップにアンテナが一体化された通信モジュール(アンテナモジュール)、すなわち、アンテナ内蔵型通信デバイスであるとして説明する。 The near-field air probe 12 according to the present embodiment inspects a DUT (Device Under Test) 18, which is an object to be measured, together with a network analyzer 14 that inputs a predetermined signal to an RF connector section 24, which will be described later, of the near-field air probe 12. Used when In this embodiment, the DUT 18 will be described as a communication module (antenna module) in which an antenna is integrated with a semiconductor chip, that is, a communication device with a built-in antenna.

図2は、本実施形態に係る近傍界エアープローブ12をある側方から見た概略図を示す。図3は、図2中の矢印IIIで示す方向から近傍界エアープローブ12を見た概略図を示す。図4は、図2中の矢印IVで示す方向から近傍界エアープローブ12を見た概略図を示す。 FIG. 2 shows a schematic side view of the near-field air probe 12 according to the present embodiment. FIG. 3 shows a schematic view of the near-field air probe 12 from the direction indicated by arrow III in FIG. FIG. 4 shows a schematic view of the near-field air probe 12 from the direction indicated by arrow IV in FIG.

図2から図4に示すように、本実施形態に係る近傍界エアープローブ12は、レドームベース22と、RFコネクタ部(給電部)24と、アンテナ部(プローブ部)26と、レドーム28とを有する。 As shown in FIGS. 2 to 4, the near-field air probe 12 according to this embodiment includes a radome base 22, an RF connector section (feeding section) 24, an antenna section (probe section) 26, and a radome 28. have.

レドームベース22は、例えば略矩形状の板材として形成される。レドームベース22の一方の面22a側(近傍界エアープローブ12の外側の面側)には、RFコネクタ部24が設けられ、他方の面22b側(近傍界エアープローブ12の内側の面側)には、アンテナ部26が設けられる。レドームベース22はレドーム28と同じ後述する素材で形成されることが好適である。 The radome base 22 is formed, for example, as a substantially rectangular plate. An RF connector section 24 is provided on one surface 22a side of the radome base 22 (the outer surface side of the near-field air probe 12), and on the other surface 22b side (the inner surface side of the near-field air probe 12). is provided with an antenna section 26 . The radome base 22 is preferably made of the same material as the radome 28, which will be described later.

RFコネクタ部24は、例えば上限周波数が40GHzの2.92mmコネクタ、上限周波数が65GHzの1.85mmコネクタ等が用いられる。なお、上限周波数が40GHzの2.92mmコネクタは、Kコネクタなどと称されるもの、またはその同等品を用いることができる。上限周波数が65GHzの1.85mmコネクタは、Vコネクタなどと称されるもの、またはその同等品を用いることができる。また、目的の上限周波数がさらに高い場合、上限周波数が例えば120GHzの適宜のコネクタが使用され得る。 For the RF connector section 24, for example, a 2.92 mm connector with an upper limit frequency of 40 GHz, a 1.85 mm connector with an upper limit frequency of 65 GHz, or the like is used. As the 2.92 mm connector with an upper limit frequency of 40 GHz, a connector called a K connector or its equivalent can be used. A 1.85 mm connector with an upper frequency limit of 65 GHz can use what is called a V-connector or its equivalent. Also, if the upper frequency limit of interest is even higher, a suitable connector with an upper frequency limit of, for example, 120 GHz may be used.

なお、RFコネクタ部24に接続される、ケーブルを含むコネクタ(ケーブルコネクタ)は、ネットワークアナライザ14に接続される。 A connector including a cable (cable connector) connected to the RF connector section 24 is connected to the network analyzer 14 .

アンテナ部26は、薄板状の基材32と、この基材32上に形成された導体34a,34bとを有し、扁平状に形成される。導体34a,34bは、コネクタ部24に入力される信号を進行波型の電波として放出する。 The antenna section 26 has a thin plate-like base material 32 and conductors 34a and 34b formed on the base material 32, and is formed in a flat shape. The conductors 34a and 34b emit the signal input to the connector portion 24 as traveling-wave radio waves.

図5は、アンテナ部26の基材32の一方の面(第1の面)32a側を見た状態を示す概略図である。図5中の実線は、基材32の一方の面32a側に存在する導体34aの縁を示す。破線は、基材32の他方の面(第2の面)32b側に存在する導体34bの縁を示す。図5に示すように、アンテナ部26は、進行波型(非共振型)の平面アンテナとして形成される。本実施形態の例では、テーパードスロットアンテナ(TSA)の一種で、対蹠(アンチポーダル)型であるビバルディアンテナを例にして説明する。 FIG. 5 is a schematic diagram showing a state in which one surface (first surface) 32a of the base material 32 of the antenna section 26 is viewed. A solid line in FIG. 5 indicates the edge of the conductor 34a present on the one surface 32a side of the substrate 32. As shown in FIG. A dashed line indicates the edge of the conductor 34b present on the other surface (second surface) 32b side of the substrate 32. As shown in FIG. As shown in FIG. 5, the antenna section 26 is formed as a traveling wave type (non-resonant type) planar antenna. In the example of the present embodiment, an antipodal type Vivaldi antenna, which is a type of tapered slot antenna (TSA), will be described as an example.

基材32は、例えば略長方形状の誘電体基板が用いられる。基材32は、板厚が数ミリメートル以内の薄板として形成される。基材32は、端面33a,33b,33c,33dの面積に比べて、少なくとも一方側に導体34a,34bが形成される1対の面32a,32bの面積が大きい。そして、基材32は、レドームベース22の他方の面22bに直交して配置される。 A substantially rectangular dielectric substrate, for example, is used as the base material 32 . The base material 32 is formed as a thin plate with a thickness of several millimeters or less. The substrate 32 has a pair of surfaces 32a, 32b on which conductors 34a, 34b are formed on at least one side, which is larger than the areas of the end surfaces 33a, 33b, 33c, 33d. The base material 32 is arranged perpendicular to the other surface 22 b of the radome base 22 .

基材32の一方の面32aの導体34aと、他方の面32bの導体34bとは、電波を放射する位置が、例えば図5中の上下で対称又は略対称に形成される。導体34a,34bは、例えば数μm程度の薄膜状の金属材等の導電性を有する物質で形成されていても、例えばスパッタリング等により数μm厚に形成されていてもよい。導体34a,34bは、薄膜状に形成されることにより、DUT18側からの放射電磁界に垂直で、後述する伝送特性S21に影響を及ぼし得る面積を狭くすることができる。 The conductors 34a on one surface 32a of the base material 32 and the conductors 34b on the other surface 32b are formed such that the radio wave radiating positions are symmetrical or substantially symmetrical vertically in FIG. The conductors 34a and 34b may be made of a conductive substance such as a metal material having a thickness of about several μm, or may be formed to a thickness of several μm by sputtering or the like. By forming the conductors 34a and 34b into thin films, it is possible to reduce the area that is perpendicular to the electromagnetic field radiated from the DUT 18 and that may affect the transmission characteristics S21, which will be described later.

導体34a,34bを基材32の一方の面側から見たとき、スロット35の幅Wは、レドームベース22の他方の面22b(基材32の基端側端面33d)から先端側端面33aに向かうにつれて徐々に広がる。そして、アンテナ部26は、スロット35間から広い周波数帯域の波を単一方向に放射する。 When the conductors 34a and 34b are viewed from one side of the substrate 32, the width W of the slot 35 extends from the other side 22b of the radome base 22 (the proximal end surface 33d of the substrate 32) to the distal end surface 33a. Gradually widens as you go. The antenna section 26 radiates waves in a wide frequency band from between the slots 35 in a single direction.

本実施形態では、アンテナ部26は、例えば5Gと称される第5世代移動通信システムで用いられる、いわゆるミリ波帯(28GHz及びその周囲)の周波数の電波含む周波数帯域を検査可能に形成される。 In this embodiment, the antenna unit 26 is formed to be able to inspect a frequency band including radio waves in the so-called millimeter wave band (28 GHz and its surroundings), which is used in, for example, a fifth-generation mobile communication system called 5G. .

なお、例えば第5世代移動通信システムでは、ミリ波帯として例えば90GHz程度までの拡張が検討されているという情報がある。本実施形態に係る近傍界エアープローブ12は、アンテナ部26及びRFコネクタ部24等の形状、大きさ、素材等を適宜に設定することで、90GHz程度を含む周波数帯域の電波を検査可能、すなわち、28GHzから90GHz程度までの周波数の電波を検査可能に形成される。 It should be noted that, for example, in the fifth generation mobile communication system, there is information that extension to, for example, about 90 GHz is being considered as the millimeter wave band. The near-field air probe 12 according to the present embodiment can inspect radio waves in a frequency band including about 90 GHz by appropriately setting the shape, size, material, etc. of the antenna portion 26 and the RF connector portion 24, that is, , is formed so as to be able to inspect radio waves of frequencies from about 28 GHz to about 90 GHz.

また、アンテナ部26は、波長が0.1~1mm程度のサブミリ波帯(300GHz~3000GHz)の範囲の周波数帯域を検査可能としてもよい。 Further, the antenna unit 26 may be capable of inspecting a frequency band in a submillimeter wave band (300 GHz to 3000 GHz) with a wavelength of about 0.1 to 1 mm.

本実施形態では、対蹠(アンチポーダル)型テーパードスロットアンテナとして、ビバルディアンテナを用いる例について説明するが、基材32の一方の面32aにレドームベース22から離れるにつれて徐々に広がるスロット35が形成された導体34a,34bが形成されていてもよい。 In this embodiment, an example of using a Vivaldi antenna as an antipodal tapered slot antenna will be described. A slot 35 that gradually widens as it separates from the radome base 22 is formed on one surface 32a of the base material 32. Conductors 34a and 34b may be formed.

なお、アンテナ部26は、RFコネクタ部24と導体34a,34bとの接続部に、定在波が発生してDUT18の測定に影響を及ぼし得ることを避けるグランド(GND)板(図示せず)を有する。グランド板は、基材32に、DUT18側に対して導体34a,34bと平行に薄膜として設置することで、DUT18側及びRFコネクタ部24側の電磁結合を抑制する構造であればよい。
また、アンテナ部26の基材32には、例えば電磁波吸収材が配置されていてもよい。
In addition, the antenna section 26 includes a ground (GND) plate (not shown) at the connection section between the RF connector section 24 and the conductors 34a and 34b to prevent standing waves from being generated and affecting the measurement of the DUT 18. have The ground plate may be provided as a thin film on the substrate 32 in parallel with the conductors 34a and 34b on the DUT 18 side so as to suppress electromagnetic coupling between the DUT 18 side and the RF connector section 24 side.
Further, an electromagnetic wave absorbing material, for example, may be arranged on the base material 32 of the antenna section 26 .

レドーム28は、アンテナ部26を覆うように形成される。レドーム28は、有底筒状に形成される。レドーム28は、電磁波吸収材で形成される筒状部42と、電波透過性素材で形成される先端部(透過面)44とを有する。 Radome 28 is formed to cover antenna section 26 . The radome 28 is formed in a cylindrical shape with a bottom. The radome 28 has a tubular portion 42 made of an electromagnetic wave absorbing material and a tip portion (transmissive surface) 44 made of a radio wave transparent material.

筒状部42は、電磁波吸収材として、例えばフェライト又は、フェライトと同等の働きを有する素材(磁性材料)で形成される。なお、本実施形態では、筒状部42は、電磁波をミリ波帯のうち、必要な周波数帯(例えば28-60GHz)で損失及び変性を与えない材質で形成される。筒状部42は、電磁波をミリ波帯のうち、必要な周波数帯(例えば28-60GHz)で損失及び変性を与えない大きさに形成される。
なお、電磁波吸収材としては、磁性材料のほか、例えば、導電性材料、誘電体吸収材料等であってもよい。
The cylindrical portion 42 is made of, for example, ferrite or a material (magnetic material) having a function equivalent to ferrite as an electromagnetic wave absorbing material. In the present embodiment, the cylindrical portion 42 is made of a material that does not cause loss or modification of electromagnetic waves in a required frequency band (for example, 28 to 60 GHz) in the millimeter wave band. The cylindrical portion 42 is formed in a size that does not cause loss and modification of electromagnetic waves in a necessary frequency band (for example, 28 to 60 GHz) in the millimeter wave band.
In addition to the magnetic material, the electromagnetic wave absorbing material may be, for example, a conductive material, a dielectric absorbing material, or the like.

筒状部42は、基材32の一方の面32aに対向する第1の傾斜部43aと、基材32の他方の面32bに対向する第2の傾斜部43bとを有する。 The tubular portion 42 has a first inclined portion 43 a facing one surface 32 a of the base material 32 and a second inclined portion 43 b facing the other surface 32 b of the base material 32 .

第1の傾斜部43aは、基材32の一方の面32aに対して対向するが、平行でなく、傾斜する内側面(傾斜面)を有する。本実施形態では、説明の簡略化のため、第1の傾斜部43aの内側面と、内側面とは反対側の外側面とは平行であるように図示するが、平行であっても、平行でなくてもよい。例えば、第1の傾斜部43aは、基材32の基端側端面33dから先端側端面33aに近づくにつれて基材32の一方の面32aに対する距離が近づく。同様に、第2の傾斜部43bは、基材32の他方の面32bに対して対向するが、平行でなく、傾斜する内側面(傾斜面)を有する。本実施形態では、説明の簡略化のため、第2の傾斜部43bの内側面と、内側面とは反対側の外側面とは平行であるように図示するが、平行であっても、平行でなくてもよい。例えば、第2の傾斜部43bは、基材32の基端側端面33dから先端側端面33aに近づくにつれて基材32の他方の面32bに対する距離が近づく。第1の傾斜部43a及び第2の傾斜部43bは、平面であってもよく、凹面又は凸面など、曲面であってもよい。 The first inclined portion 43a faces the one surface 32a of the base material 32, but has an inner side surface (inclined surface) that is not parallel but inclined. In the present embodiment, the inner side surface of the first inclined portion 43a and the outer side surface opposite to the inner side surface are shown to be parallel to simplify the explanation. It doesn't have to be. For example, the first inclined portion 43a becomes closer to the one surface 32a of the substrate 32 as it approaches the distal end surface 33a from the proximal end surface 33d of the substrate 32 . Similarly, the second inclined portion 43b has an inner side surface (inclined surface) that faces the other surface 32b of the base material 32 but is not parallel but inclined. In the present embodiment, the inner surface of the second inclined portion 43b and the outer surface opposite to the inner surface are shown to be parallel for the sake of simplicity of explanation. It doesn't have to be. For example, the second inclined portion 43b becomes closer to the other surface 32b of the substrate 32 as it approaches the distal end surface 33a from the proximal end surface 33d of the substrate 32 . The first inclined portion 43a and the second inclined portion 43b may be flat surfaces or curved surfaces such as concave surfaces or convex surfaces.

第1の傾斜部43aと第2の傾斜部43bとの周方向には、第3の傾斜部43c及び第4の傾斜部43dが形成される。第3の傾斜部43cは、基材32の先端側端面33aに隣接する端面33bに対して平行でなく、傾斜する。例えば、第3の傾斜部43cは、基材32の基端側端面33dから先端側端面33aに近づくにつれて基材32の端面33bに対する距離が近づく。第4の傾斜部43dは、基材32の先端側端面33aに隣接し、端面33bとは反対側の端面33cに対して平行でなく、傾斜する。例えば、第4の傾斜部43dは、基材32の基端側端面33dから先端側端面33aに近づくにつれて基材32の端面33cに対する距離が近づく。 A third inclined portion 43c and a fourth inclined portion 43d are formed in the circumferential direction between the first inclined portion 43a and the second inclined portion 43b. The third inclined portion 43c is not parallel to the end surface 33b adjacent to the tip end surface 33a of the base material 32, but is inclined. For example, the distance of the third inclined portion 43c to the end face 33b of the base material 32 decreases as the base end face 33d of the base material 32 approaches the tip end face 33a. The fourth inclined portion 43d is adjacent to the tip end face 33a of the base material 32 and is not parallel to the end face 33c opposite to the end face 33b but inclined. For example, the distance of the fourth inclined portion 43d to the end face 33c of the base material 32 decreases as the base end face 33d of the base material 32 approaches the tip end face 33a.

先端部44は、筒状部42の一端を閉塞する状態に設けられる。先端部44は、例えば電波透過性素材で平板状に形成される。先端部44は、例えば、樹脂、紙等の繊維が用いられることが好適である。先端部44の樹脂材としては、減衰を抑制し、高周波特性に優れたPTFEや、ポリプロピレンが用いられることが好適である。先端部44の外表面と、先端部44のうちアンテナ部26の先端側端面33aが対向する内側面とは平行である。先端部44は、電波の放出方向に沿って電波透過性を有していればよい。 The tip portion 44 is provided in a state of closing one end of the tubular portion 42 . The tip portion 44 is made of, for example, a radio wave transparent material and formed into a flat plate shape. For the tip portion 44, for example, fibers such as resin and paper are preferably used. As the resin material of the tip portion 44, it is preferable to use PTFE or polypropylene, which suppresses attenuation and has excellent high-frequency characteristics. The outer surface of the distal end portion 44 and the inner surface of the distal end portion 44 facing the distal end surface 33a of the antenna portion 26 are parallel to each other. The tip portion 44 may have radio wave permeability along the radio wave emitting direction.

なお、図2及び図3中、基材32の先端側端面33aの板厚に対して、レドーム28の先端部44における基材32の先端側端面33aの板厚に沿う方向の大きさを大きくした。レドーム28の先端部44における基材32の先端側端面33aの板厚に沿う方向の大きさは、電波のうち測定する最低周波数の波長λの半分、すなわち、λ/2より多少広くなっていればよい。なお、レドーム28の先端部44における基材32の先端側端面33aの板厚に沿う方向の大きさがλ/2以下である場合、近傍界エアープローブ12の広帯域性を損ない得ることが実験結果から得られている。 2 and 3, the size of the tip portion 44 of the radome 28 in the direction along the plate thickness of the tip end surface 33a of the base material 32 is made larger than the plate thickness of the tip end surface 33a of the base material 32. bottom. The size of the distal end portion 44 of the radome 28 in the direction along the plate thickness of the distal end face 33a of the substrate 32 should be slightly wider than half the wavelength λ of the lowest frequency to be measured in the radio waves, that is, λ/2. Just do it. Experimental results show that the broadband performance of the near-field air probe 12 can be impaired when the size of the tip end 44 of the radome 28 in the direction along the plate thickness of the tip end face 33a of the base material 32 is λ/2 or less. is obtained from

筒状部42の他端は開口42aを有する。筒状部42の他端には、レドームベース22が嵌合される。すなわち、筒状部42の他端には、レドームベース22が嵌合される。レドーム28とレドームベース22との嵌合関係は、レドーム28の筒状部42の外側の電磁界の影響を抑制できればよい。 The other end of the tubular portion 42 has an opening 42a. The radome base 22 is fitted to the other end of the tubular portion 42 . That is, the radome base 22 is fitted to the other end of the tubular portion 42 . The fitting relationship between the radome 28 and the radome base 22 is sufficient as long as the influence of the electromagnetic field outside the cylindrical portion 42 of the radome 28 can be suppressed.

なお、筒状部42の開口42aは、測定周波数の波長との共振を誘導しない大きさである。 The opening 42a of the cylindrical portion 42 has a size that does not induce resonance with the wavelength of the measurement frequency.

図1に示すように、ネットワークアナライザ14は、信号源62、切替器64、受信機66a,66b,66c、方向性結合器68a,68bを有する。信号源62から切替器64の双方の分岐に対して方向性結合器68a,68bを経由し基準信号受信器66aが接続される。また、信号源62に接続される切替器64の一方の分岐には、ネットワークアナライザ14の第1ポート14aを介して近傍界エアープローブ12が接続される。近傍界エアープローブ12の接続先には、方向性結合器68aを経由して反射信号用の受信機66bが接続される。切替器64の他方の分岐にはネットワークアナライザ14の第2ポート14bを介してDUT18が接続される。DUT18の接続先には方向性結合器68bを経由して伝送信号用の受信機66cが接続される。 As shown in FIG. 1, the network analyzer 14 has a signal source 62, a switch 64, receivers 66a, 66b, 66c, and directional couplers 68a, 68b. A reference signal receiver 66a is connected to both branches of the switch 64 from the signal source 62 via directional couplers 68a and 68b. One branch of the switch 64 connected to the signal source 62 is connected to the near-field air probe 12 through the first port 14 a of the network analyzer 14 . A connection destination of the near-field air probe 12 is connected to a reflected signal receiver 66b via a directional coupler 68a. DUT 18 is connected to the other branch of switch 64 via second port 14b of network analyzer 14 . A receiver 66c for transmission signals is connected to the connection destination of the DUT 18 via a directional coupler 68b.

図6は、DUT18に対して近傍界エアープローブ12の先端部44を適宜の距離に近づけた状態で、ネットワークアナライザ14の信号源62から適宜の信号を出力したときに、近傍界エアープローブ12の外周に形成される電磁界を示す概略図である。 FIG. 6 shows the near-field air probe 12 when an appropriate signal is output from the signal source 62 of the network analyzer 14 with the tip 44 of the near-field air probe 12 brought close to the DUT 18 at an appropriate distance. It is a schematic diagram showing an electromagnetic field formed on the outer circumference.

近傍界エアープローブ12は、DUT18に対して、所定の向きに対向又は当接させて用いられる。近傍界エアープローブ12のアンテナ部26による電波放射方向と、DUT18による電波放射方向とは平行である。また、近傍界エアープローブ12のアンテナ部26の電波の放射方向に沿う軸は、DUT18の電波のエピセンターに一致することが好適である。 The near-field air probe 12 is used facing or in contact with the DUT 18 in a predetermined direction. The radio wave radiation direction by the antenna section 26 of the near-field air probe 12 and the radio wave radiation direction by the DUT 18 are parallel. Moreover, it is preferable that the axis along the radio wave radiation direction of the antenna section 26 of the near-field air probe 12 coincides with the epicenter of the radio wave of the DUT 18 .

上述したように、レドーム28の筒状部42は、電磁波吸収材で形成されるため、近傍界エアープローブ12の電波を吸収し、熱損失させる。また、レドーム28の筒状部42は、近傍界エアープローブ12だけでなく、DUT18の電波を吸収し、熱損失させる。そして、レドーム28の筒状部42は、DUT18から近傍界エアープローブ12のアンテナ部26への不要な電磁結合を防止するとともに、近傍界エアープローブ12のアンテナ部26からDUT18への不要な電磁結合を防止する。このように、近傍界エアープローブ12は、レドーム28の筒状部42により、アンテナ部26の側面(基材32の一方の面32a及び他方の面32b側)への電磁結合を避けることができる。 As described above, the tubular portion 42 of the radome 28 is made of an electromagnetic wave absorbing material, so it absorbs the radio waves from the near-field air probe 12 and causes heat loss. Further, the cylindrical portion 42 of the radome 28 absorbs radio waves not only from the near-field air probe 12 but also from the DUT 18, causing heat loss. The cylindrical portion 42 of the radome 28 prevents unnecessary electromagnetic coupling from the DUT 18 to the antenna portion 26 of the near-field air probe 12 and prevents unnecessary electromagnetic coupling from the antenna portion 26 of the near-field air probe 12 to the DUT 18. to prevent In this way, the near-field air probe 12 can avoid electromagnetic coupling with the side surfaces of the antenna section 26 (one side 32a and the other side 32b of the substrate 32) by the tubular portion 42 of the radome 28. .

図7は、アンテナ部26から放射される電波の反射の例、及び、DUT18から放射される電波の反射の例を示す概略図である。 FIG. 7 is a schematic diagram showing an example of reflection of radio waves radiated from the antenna section 26 and an example of reflection of radio waves radiated from the DUT 18 .

例えば、レドーム28の第1の傾斜部43aの内側面にアンテナ部26からの電波が当たると、その電波の一部は、入射角θ1と同じ反射角θ1で反射する。このため、反射した電波は、同方向に反射せず、レドーム28内で電波が反射して共鳴することを防止することができる。なお、レドーム28の第2の傾斜部43bの外側に電波(DUT18からの不要な電磁波)が当たると、その電波の一部は、入射角度θ2と同じ反射角度θ2で反射する。このため、レドーム28の内側をアンテナ部26の一方の面32a及び他方の面32bに対して傾斜面として形成することで、共鳴を防止することができる。したがって、S12の測定時に不要な信号が入力されることを防止することができる。 For example, when radio waves from the antenna section 26 hit the inner surface of the first inclined portion 43a of the radome 28, part of the radio waves are reflected at a reflection angle θ1 that is the same as the incident angle θ1. Therefore, the reflected radio waves are not reflected in the same direction, and it is possible to prevent the radio waves from reflecting and resonating within the radome 28 . When radio waves (unnecessary electromagnetic waves from the DUT 18) hit the outside of the second inclined portion 43b of the radome 28, part of the radio waves is reflected at a reflection angle .theta.2 that is the same as the incident angle .theta.2. Therefore, by forming the inner side of the radome 28 as an inclined surface with respect to the one surface 32a and the other surface 32b of the antenna section 26, resonance can be prevented. Therefore, it is possible to prevent unnecessary signals from being input during the measurement of S12.

なお、アンテナ部26からの電波の一部は、レドーム28の筒状部42で吸収されず、輻射電波がレドーム28の第1の傾斜部43aの外側面に対して角度θ1で放出され得る。また、DUT18からの電波の一部は、レドーム28の筒状部42で吸収されず、輻射電波がレドーム28の第1の傾斜部43aの内面に対して角度θ2でアンテナ部26に向かい得る。しかし、DUT18からの電波の一部は、電磁波吸収材である筒状部42を通っているため、先端部44から入る電波に比べて無視できるほどに小さくなり得、また、上述したように共鳴が防止される。 Part of the radio wave from the antenna section 26 is not absorbed by the tubular portion 42 of the radome 28, and the radiated radio wave can be emitted at an angle θ1 with respect to the outer surface of the first inclined portion 43a of the radome 28. Also, part of the radio wave from the DUT 18 is not absorbed by the cylindrical portion 42 of the radome 28, and the radiated radio wave can travel toward the antenna portion 26 at an angle θ2 with respect to the inner surface of the first inclined portion 43a of the radome 28. However, since part of the radio wave from the DUT 18 passes through the tubular portion 42, which is an electromagnetic wave absorbing material, it may be negligibly small compared to the radio wave entering from the tip portion 44, and may cause resonance as described above. is prevented.

ここで、DUT18の反射特性(反射係数)であるSパラメータをS11とし、伝送特性(伝送係数)であるSパラメータをS21とする。ネットワークアナライザ14は、反射特性S11として、入射信号に対する反射信号の各周波数における振幅データ、入射信号に対する反射信号の各周波数における位相の変化量を検出する。また、ネットワークアナライザ14は、図8に示すように、伝送特性S21として、入射信号に対する伝送信号の各周波数における振幅データ、入射信号に対する伝送信号の各周波数における位相の変化量を検出する。 Here, the S parameter that is the reflection characteristic (reflection coefficient) of the DUT 18 is assumed to be S11, and the S parameter that is the transmission characteristic (transmission coefficient) is assumed to be S21. The network analyzer 14 detects, as the reflection characteristics S11, the amplitude data of the reflected signal with respect to the incident signal at each frequency and the amount of phase change at each frequency of the reflected signal with respect to the incident signal. Further, as shown in FIG. 8, the network analyzer 14 detects, as the transmission characteristics S21, the amplitude data of the transmission signal with respect to the incident signal at each frequency and the amount of phase change at each frequency of the transmission signal with respect to the incident signal.

DUT18と近傍界エアープローブ12のレドーム28の先端部44との距離dが0、すなわち接触する状態を距離d0(図示せず)とする。図6に示すように、距離dが距離d0、ある距離d1、ある距離d2=2・d1、ある距離d3=3・d1の位置での伝送特性S21をネットワークアナライザ14を用いて検出した。すなわち、ネットワークアナライザ14の信号源62から適宜の信号を出力し、受信機66a,66b,66cで信号を受信し、伝送特性S21を検出した。 The distance d between the DUT 18 and the tip 44 of the radome 28 of the near-field air probe 12 is 0, that is, the contact state is defined as the distance d0 (not shown). As shown in FIG. 6, the network analyzer 14 was used to detect the transmission characteristics S21 at the positions where the distance d is d0, a certain distance d1, a certain distance d2=2·d1, and a certain distance d3=3·d1. That is, an appropriate signal was output from the signal source 62 of the network analyzer 14, the signals were received by the receivers 66a, 66b, 66c, and the transmission characteristic S21 was detected.

ここで、近傍界エアープローブ12は、DUT18の直近ではDUT18の電磁界成分の領域の影響を受けるが、DUT18との距離dが大きくなり、DUT18と近傍界エアープローブ12とが離れることによってDUT18の電磁波の指向性が定まる遠方界に移行する。この遠方界となるDUT18からの距離dは、アンテナの開口径をDとすると、一般に、
2D/λ<d
として表される。周波数が28GHz(波長λが例えば略10.7mm)で開口径D=15mmであれば、大きめにとって例えばd>60mmでなければ遠方界に移行しない。
Here, the near-field air probe 12 is affected by the area of the electromagnetic field component of the DUT 18 in the vicinity of the DUT 18, but as the distance d from the DUT 18 increases and the near-field air probe 12 separates from the DUT 18, the DUT 18 It shifts to the far field where the directivity of electromagnetic waves is determined. If the aperture diameter of the antenna is D, the distance d from the DUT 18, which is the far field, is generally given by
2D 2 /λ<d
is represented as If the frequency is 28 GHz (wavelength λ is approximately 10.7 mm, for example) and the aperture diameter D is 15 mm, the far field will not shift unless d>60 mm, for example.

このとき、例えば28GHzの周波数であれば、波長は10mm程度となる。このため、レドーム28の先端部44と基材32の先端側端面33aとの距離が1~2mmなど、適宜の距離離れていても、例えば、d1=1mm、d2=2mm、d3=3mmとする場合、近傍界エアープローブ12は、何れもDUT18の近傍界の影響を受ける。 At this time, for example, if the frequency is 28 GHz, the wavelength is about 10 mm. Therefore, even if the distance between the tip portion 44 of the radome 28 and the tip end surface 33a of the substrate 32 is an appropriate distance such as 1 to 2 mm, for example, d1 = 1 mm, d2 = 2 mm, and d3 = 3 mm. In this case, any near-field air probe 12 is affected by the near-field of the DUT 18 .

図8に示すように、距離d0のグラフにおいて、本実施形態のDUT18を用いると、周波数が高くなるにつれて振幅[dB]が上がる傾向となった。これは、距離dがd0からd3に向かって大きくなっても同じ傾向となった。例えば、距離d1のグラフに所定係数を乗算すると、他の距離d2,d3のグラフに一致又は略一致する傾向が見られた。すなわち、本実施形態に係る近傍界エアープローブ12を用いると、図9に示す線Laのように、距離dを大きくすると、近傍界、遠方界かかわらず、S21が略線型的に小さくなる傾向が得られた。なお、図9に示す線Lbのように、一般には、遠方界(例えば距離d≧dnとなる領域)に近づくにつれて、伝送特性S21が略線型的に小さくなる傾向が得られるが、近傍界(例えば距離d<dnとなる領域)では、略線型的ではなく、バラツキが生じることが分かる。 As shown in FIG. 8, in the graph of the distance d0, when the DUT 18 of this embodiment was used, the amplitude [dB] tended to increase as the frequency increased. The same tendency was observed even when the distance d increased from d0 to d3. For example, when the graph of the distance d1 is multiplied by a predetermined coefficient, there is a tendency that the graphs of the other distances d2 and d3 match or substantially match. That is, when the near-field air probe 12 according to the present embodiment is used, as shown by the line La shown in FIG. Got. As shown by line Lb in FIG. 9, generally, the transmission characteristic S21 tends to decrease substantially linearly as it approaches the far field (for example, a region where distance d≧dn), but the near field ( For example, in the region where the distance d<dn), it is found that there is variation rather than being substantially linear.

この傾向(符号Laで示す傾向)により、本実施形態に係る近傍界エアープローブ12を用いることにより、近傍界においても、DUT18の特性を測定することができる。このため、本実施形態に係る近傍界エアープローブ12を用いることにより、アンテナ部26からレドーム28の先端部44を通してDUT18に向けて適宜の電波を放射しながら、レドーム28の筒状部42によりDUT18の近傍界での影響を防止することができる。 Due to this tendency (the tendency indicated by symbol La), the characteristics of the DUT 18 can be measured even in the near field by using the near field air probe 12 according to this embodiment. Therefore, by using the near-field air probe 12 according to the present embodiment, the DUT 18 can be It is possible to prevent the influence in the near field of

なお、本実施形態では、DUT18と近傍界エアープローブ12の外観であるレドーム28の先端部44との間の距離dを用いる例について説明した。近傍界エアープローブ12のアンテナ部26の先端側端面33aと、レドーム28の先端部44の先端面との間の距離を小さくすることにより、DUT18と近傍界エアープローブ12のレドーム28の先端部44の先端面との間の距離dを、DUT18と近傍界エアープローブ12のアンテナ部26の先端側端面33aとの間の距離と同視できる。 In this embodiment, an example using the distance d between the DUT 18 and the tip 44 of the radome 28, which is the appearance of the near-field air probe 12, has been described. By reducing the distance between the tip side end face 33a of the antenna part 26 of the near-field air probe 12 and the tip face of the tip part 44 of the radome 28, the DUT 18 and the tip part 44 of the radome 28 of the near-field air probe 12 can be regarded as the distance between the DUT 18 and the tip side end face 33a of the antenna section 26 of the near-field air probe 12. As shown in FIG.

また、近傍界エアープローブ12の先端部44とDUT18との間の距離が、遠方界の距離である場合、DUT18と近傍界エアープローブ12のアンテナ部26の先端側端面33aとの距離は遠方界の距離となる。距離dが遠方界の距離dn(図8参照)である場合、近傍界における距離d0,d1,d2,d3と略同じ形のグラフが得られた。すなわち、本実施形態に係る近傍界エアープローブ12を用いると、図6、図8及び図9に示すように、距離dを大きくすると、遠方界においても、S21が略線型的に小さくなる傾向が得られた。 Further, when the distance between the tip portion 44 of the near-field air probe 12 and the DUT 18 is the distance in the far field, the distance between the DUT 18 and the tip end face 33a of the antenna section 26 of the near-field air probe 12 is the distance in the far field. distance. When the distance d is the distance dn in the far field (see FIG. 8), a graph of approximately the same shape as the distances d0, d1, d2 and d3 in the near field was obtained. That is, when the near-field air probe 12 according to the present embodiment is used, as shown in FIGS. 6, 8 and 9, when the distance d is increased, even in the far field, S21 tends to decrease substantially linearly. Got.

この傾向により、本実施形態に係る近傍界エアープローブ12を用いることにより、近傍界だけでなく、遠方界においても、DUT18の特性を測定することができる。 Due to this tendency, the characteristics of the DUT 18 can be measured not only in the near field but also in the far field by using the near-field air probe 12 according to this embodiment.

なお、本実施形態では周波数が高くなるにつれて振幅[dB]が上がる傾向となる例について説明したが、DUT18によっては、周波数が高くなるにつれて振幅[dB]が下がる傾向となることもある。 In this embodiment, an example in which the amplitude [dB] tends to increase as the frequency increases has been described, but depending on the DUT 18, the amplitude [dB] tends to decrease as the frequency increases.

したがって、本実施形態によれば、遠方界はもちろん、近傍界において、DUT18としての通信モジュール(DUT18)の通信特性を測定可能な近傍界エアープローブ12及び検査装置10を提供することができる。 Therefore, according to this embodiment, it is possible to provide the near-field air probe 12 and the inspection device 10 that can measure the communication characteristics of the communication module (DUT 18) as the DUT 18 in the near field as well as the far field.

本実施形態で用いたアンテナ部26の基材32及び導体34a,34bは、図示した形状に限らず、適宜の形状が用いられ得る。また、アンテナ部26は、基材(誘電体基板)32で導体34a,34bがサンドイッチされた構造など、種々の構造が許容される。この場合、導体34a,34bは、一方の基材32の例えば一方の面32aに設けられることとなる。すなわち、アンテナ部26は、所望する測定周波数や、DUT18に応じて適宜に形成される。 The base material 32 and the conductors 34a and 34b of the antenna section 26 used in the present embodiment are not limited to the illustrated shapes, and any appropriate shape may be used. Also, the antenna section 26 may have various structures such as a structure in which the conductors 34 a and 34 b are sandwiched between the base material (dielectric substrate) 32 . In this case, the conductors 34a and 34b are provided on one surface 32a of one substrate 32, for example. That is, the antenna section 26 is appropriately formed according to the desired measurement frequency and the DUT 18 .

以下、複数の近傍界エアープローブ12を組み込んだ検査装置10について、図10を用いて説明する。なお、図10中は、ネットワークアナライザ14の信号源62及び切替器64の図示を省略する。 An inspection apparatus 10 incorporating a plurality of near-field air probes 12 will be described below with reference to FIG. 10, illustration of the signal source 62 and the switch 64 of the network analyzer 14 is omitted.

検査装置10は、電波遮蔽性を有するボックス80を有する。ボックス80は、互いに電波干渉しないように区画された複数のブース(被測定物配置部)82を有する。 The inspection apparatus 10 has a box 80 having radio wave shielding properties. The box 80 has a plurality of booths (object-to-be-measured placement sections) 82 partitioned so as not to interfere with each other.

各ブース82には、ネットワークアナライザ14に接続される複数の近傍界エアープローブ12が配置される。 A plurality of near-field air probes 12 connected to network analyzers 14 are arranged in each booth 82 .

また、各ブース82には、検査のためにDUT18が各ブース82に対して出し入れ可能に配置される。ボックス80のブース82は、DUT18の出し入れを容易としながら、検査時には、近傍界エアープローブ12及びDUT18の電波を遮蔽するように形成される。一例として、DUT18に接続されるケーブルのRFコネクタ86がDUT18を出し入れする扉84に固定される。そして、DUT18が検査される場合、扉84のRFコネクタ86に接続されると、近傍界エアープローブ12とDUT18とが所定距離d(近傍界の影響を受ける距離)となるように調整される。 Also, in each booth 82, a DUT 18 is arranged so that it can be taken in and out of each booth 82 for inspection. The booth 82 of the box 80 is formed so as to facilitate the insertion and removal of the DUT 18 while shielding radio waves from the near-field air probe 12 and the DUT 18 during inspection. As an example, the RF connector 86 of the cable connected to the DUT 18 is fixed to the door 84 through which the DUT 18 is put in and out. When the DUT 18 is to be tested, when it is connected to the RF connector 86 of the door 84, the near-field air probe 12 and the DUT 18 are adjusted to have a predetermined distance d (the distance affected by the near-field).

このようにして、DUT18を近傍界エアープローブ12に対して近傍界の所定距離(d0でもよい)に配置して、DUT18の通信特性を検査することができる。このため、本実施形態に係る近傍界エアープローブ12は、例えば大量生産されるDUT(同種又は異種の通信モジュール)18を省スペースで検査するときに用いることができる。したがって、本実施形態に係る検査装置10は、省スペースで多数のDUT18に対し同時又は同時期に通信特性を検査することができる。 In this manner, the DUT 18 can be placed at a predetermined distance (or d0) in the near-field from the near-field air probe 12, and the communication characteristics of the DUT 18 can be tested. For this reason, the near-field air probe 12 according to this embodiment can be used, for example, when testing mass-produced DUTs (homogeneous or heterogeneous communication modules) 18 in a small space. Therefore, the inspection apparatus 10 according to this embodiment can inspect the communication characteristics of a large number of DUTs 18 at the same time or at the same time while saving space.

本実施形態によれば、近傍界において、DUT18としての通信モジュール(DUT18)の通信特性を測定可能な検査装置10を提供することができる。 According to this embodiment, it is possible to provide the inspection device 10 capable of measuring the communication characteristics of the communication module (DUT 18) as the DUT 18 in the near field.

なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。また、各実施形態は適宜組み合わせて実施してもよく、その場合組み合わせた効果が得られる。更に、上記実施形態には種々の発明が含まれており、開示される複数の構成要件から選択された組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、課題が解決でき、効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。 It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made in the implementation stage without departing from the scope of the invention. Further, each embodiment may be implemented in combination as appropriate, in which case the combined effect can be obtained. Furthermore, various inventions are included in the above embodiments, and various inventions can be extracted by combinations selected from a plurality of disclosed constituent elements. For example, even if some constituent elements are deleted from all the constituent elements shown in the embodiments, if the problem can be solved and effects can be obtained, the configuration with the constituent elements deleted can be extracted as an invention.

10…検査装置、12…近傍界エアープローブ、14…ネットワークアナライザ、22…レドームベース、24…RFコネクタ部、26…アンテナ部、28…レドーム、32…基材、33a…先端側端面、33d…基端側端面、34a,34b…導体、35…スロット、42…筒状部、42a…開口、43a-43d…傾斜部、44…先端部(透過面)、62…信号源、64…切替器、66a,66b,66c…受信機、68a,68b…方向性結合器。

DESCRIPTION OF SYMBOLS 10... Inspection apparatus 12... Near-field air probe 14... Network analyzer 22... Radome base 24... RF connector part 26... Antenna part 28... Radome 32... Base material 33a... Tip end face 33d... Base end face 34a, 34b Conductor 35 Slot 42 Cylindrical part 42a Opening 43a-43d Inclined part 44 Distal end (transmitting surface) 62 Signal source 64 Switch , 66a, 66b, 66c... receivers, 68a, 68b... directional couplers.

Claims (4)

電磁波吸収材で形成されるレドームベースと、
前記レドームベースに設けられ、ネットワークアナライザから信号が入力されるコネクタ部と、
第1の面と前記第1の面とは反対側の第2の面とを有し前記レドームベースに対して固定される板状の基材、及び
前記基材の前記第1の面及び前記第2の面の少なくとも一方に設けられ、前記コネクタ部に入力される信号を進行波型の電波として放出する導体
を有するプローブ部と、
前記電波の放出方向に沿って電波透過性を有する透過面、及び
前記基材のうち前記第1の面及び前記第2の面に対向する面がそれぞれ前記第1の面及び前記第2の面に対して傾斜する電磁波吸収材で形成された傾斜面
を有し、前記レドームベースとともに前記プローブ部を覆う、レドームと
を有し、
前記レドームの前記透過面に対向する前記基材の端面の板厚に沿う方向の大きさは、前記電波のうち測定する最低周波数の波長λの半分であるλ/2より大きい、近傍界エアープローブ。
a radome base formed of an electromagnetic wave absorbing material;
a connector section provided on the radome base and receiving a signal from a network analyzer;
A plate-like substrate having a first surface and a second surface opposite to the first surface and fixed to the radome base; and the first surface of the substrate and the a probe section provided on at least one of the second surfaces and having a conductor that emits a signal input to the connector section as a traveling wave type radio wave;
a transmission surface having radio wave permeability along the radio wave emission direction; a radome having an inclined surface formed of an electromagnetic wave absorbing material that is inclined with respect to
The near-field air probe, wherein the size in the direction along the plate thickness of the end surface of the base material facing the transmission surface of the radome is larger than λ/2, which is half the wavelength λ of the lowest frequency to be measured in the radio wave. .
前記プローブ部は、テーパードスロットアンテナとして形成される、請求項1に記載の近傍界エアープローブ。 2. A near-field air probe as recited in claim 1 , wherein said probe portion is formed as a tapered slot antenna. 請求項1又は請求項2に記載の近傍界エアープローブと、
前記近傍界エアープローブの前記透過面に対向し、被測定物であるDUTが前記電波の近傍界の位置に配置される被測定物配置部と
を有する、検査装置。
A near-field air probe according to claim 1 or claim 2,
and an object-to-be-measured placement unit that faces the transmission surface of the near-field air probe and in which a DUT, which is the object to be measured, is placed at a position in the near-field of the radio wave.
前記近傍界エアープローブの前記コネクタ部に所定の信号を入力するネットワークアナライザを有する、請求項3に記載の検査装置。 4. The inspection apparatus according to claim 3 , further comprising a network analyzer for inputting a predetermined signal to said connector portion of said near-field air probe.
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