JP7232882B2 - OLED display device manufacturing method, mask and mask design method - Google Patents

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Description

本開示は、OLED表示装置の製造方法、マスク及びマスクの設計方法に関する。 The present disclosure relates to methods of manufacturing OLED displays, masks, and methods of designing masks.

OLED(Organic Light-Emitting Diode)素子は電流駆動型の自発光素子であるため、バックライトが不要となる上に、低消費電力、高視野角、高コントラスト比が得られるなどのメリットがあり、フラットパネルディスプレイの開発において期待されている。 An OLED (Organic Light-Emitting Diode) element is a current-driven self-luminous element, so it does not require a backlight, and has advantages such as low power consumption, a wide viewing angle, and a high contrast ratio. Expected in the development of flat panel displays.

OLED表示装置の二つの方式が存在する。一つは、白色のOLED素子を基準に、R(Red)、G(Green)、B(Blue)の3色をカラーフィルタにより作り出すカラーフィルタ方式である。他の一つは、RGB3色の有機発光材料を個別に塗り分ける塗り分け方式である。カラーフィルタ方式は、カラーフィルタが光を吸収するために光利用率が落ち、消費電力が上がる欠点がある。一方、塗り分け方式では、高い色純度により広色域化が簡単で、カラーフィルタが無いために光利用率が高くなることから、塗り分け方式は、広く利用されている。 There are two types of OLED displays. One is a color filter method in which three colors of R (Red), G (Green), and B (Blue) are produced by color filters based on a white OLED element. Another method is a separate coloring method in which three colors of RGB organic light-emitting materials are separately painted. The color filter method has the drawback that the color filter absorbs light, which reduces the light utilization rate and increases the power consumption. On the other hand, the separate coloring method is widely used because it is easy to widen the color gamut due to its high color purity and the light utilization rate is high because there is no color filter.

塗り分け方式は、各色の有機発光材料を個別に塗り分けるために、薄板状のメタルマスク(FMM:Fine Metal Maskと呼ばれる。)が用いられる。有機発光材料が、メタルマスクに形成された開口を通して成膜(蒸着)される。メタルマスクは構造上変形しやすく、特に、OLED表示装置の高精細化及び大画面化に伴って薄くかつ大きくなることによって更に変形しやすくなってきており、高精度に有機発光材料を塗り分けることが困難であるという問題が生じている。 In the separate painting method, a thin plate-shaped metal mask (FMM: called Fine Metal Mask) is used in order to separately paint each color of the organic light-emitting material. An organic light-emitting material is deposited (deposited) through openings formed in the metal mask. Metal masks are easily deformed due to their structure, and are becoming more susceptible to deformation as they become thinner and larger as OLED display devices become more precise and have larger screens. is difficult.

特許文献1は、輝度不良及び混色発生などの問題を解決するため、有機電子発光素子用メタルマスクの実際不均一度を含む適切なマスク設計の方法を開示する。 US Pat. No. 6,200,000 discloses a suitable mask design method including the actual non-uniformity of a metal mask for an organic electroluminescent device in order to solve problems such as poor brightness and color mixture.

特開2004-30975号公報JP-A-2004-30975

特許文献1のOLED表示装置の製造は、固定された蒸着源から有機発光材料を基板に蒸着させる。OLED表示装置の製造における蒸着方法として、固定された蒸着源ではなく、一方向に複数のノズルが配列されたリニア蒸着源(単にリニアソースとも記す)を使用する方法が知られている。 The manufacture of the OLED display device of US Pat. No. 5,900,001 deposits an organic light-emitting material onto a substrate from a fixed deposition source. As a vapor deposition method for manufacturing an OLED display device, a method using a linear vapor deposition source (simply referred to as a linear source) in which a plurality of nozzles are arranged in one direction is known instead of a fixed vapor deposition source.

OLED表示装置の製造システムは、リニアソースを一軸方向において往復しながら、有機発光材料を基板に蒸着させる。リニアソースを使用した蒸着は、固定蒸着源を使用した蒸着と全く異なることから、リニアソースによる蒸着に適切なマスク設計及び当該マスクを使用した蒸着技術が望まれる。 An OLED display manufacturing system uniaxially reciprocates a linear source to deposit organic light-emitting material on a substrate. Since vapor deposition using a linear source is completely different from vapor deposition using a fixed vapor deposition source, a mask design suitable for vapor deposition using a linear source and a vapor deposition technique using the mask are desired.

本実施の形態の一態様は、OLED表示装置の製造方法であって、複数のノズルを含むリニアソースを第1方向に移動しながら、基板上の電極面に、マスクを介して、有機発光材料を蒸着することを含む。前記マスクは、前記リニアソースへの対向面に形成された複数の穴を含む。前記複数の穴の各穴は、第1開口と、前記第1開口と前記リニアソースとの間に位置し前記第1開口より大きい第2開口と、前記第1開口と前記基板との間に位置し前記第1開口より大きい第3開口とを含む。前記基板は、絶縁性の画素定義層と、隣接する前記第3開口の間の基板側面に対向する前記画素定義層の上に形成された絶縁性の柱状スペーサを含む。前記基板側面と前記柱状スペーサの頂面とは互いに接するように配置される。前記第1開口から前記第3開口までの距離SH、前記電極面から前記柱状スペーサの頂面までの距離AD、前記第1方向における前記有機発光材料の最大入射角θM、前記第1開口のエッジから前記第1方向における隣接副画素電極までの距離SX、前記第1開口のエッジと前記第2開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるテーパアングルθTとする。θT<90-θM、SX>(SH+AD)tan(θM)が満たされている。前記第1開口のエッジと前記第3開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるステップアングルθSは、θS<90-θM、を満たす。 One aspect of the present embodiment is a method for manufacturing an OLED display device, in which an organic light-emitting material is applied to an electrode surface on a substrate through a mask while moving a linear source including a plurality of nozzles in a first direction. including depositing the The mask includes a plurality of holes formed in a surface facing the linear source. Each hole of the plurality of holes has a first opening, a second opening positioned between the first opening and the linear source and larger than the first opening, and between the first opening and the substrate. a third opening positioned and larger than the first opening. The substrate includes an insulating pixel definition layer and an insulating pillar spacer formed on the pixel definition layer facing the substrate side between the adjacent third openings. The side surface of the substrate and the top surface of the columnar spacer are arranged so as to be in contact with each other. distance SH from the first opening to the third opening, distance AD from the electrode surface to the top surface of the columnar spacer, maximum incident angle θM of the organic light-emitting material in the first direction, edge of the first opening to the adjacent sub-pixel electrode in the first direction, and the taper angle θT determined between the straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the second opening and the first direction. θT<90−θM, SX>(SH+AD) tan(θM) is satisfied. A step angle θS determined between the straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the third opening and the first direction satisfies θS<90−θM.

本実施の形態の一態様によれば、リニアソースを使用したOLED表示装置の製造において使用される適切なマスクを提供できる。 According to one aspect of the present invention, a mask suitable for use in the manufacture of OLED displays using linear sources can be provided.

OLED表示装置10の構成例を模式的に示す。A configuration example of an OLED display device 10 is schematically shown. OLED表示装置10の断面構造の一部を模式的に示す。A part of the cross-sectional structure of the OLED display device 10 is schematically shown. 有機発光層の蒸着に使用されるメタルマスクモジュール及びリニアソースの構成例を模式的に示す。1 schematically shows a configuration example of a metal mask module and a linear source used for vapor deposition of an organic light-emitting layer. リニアソースの構成例を模式的に示す。4 schematically shows a configuration example of a linear source; メタルマスクの構成例を模式的に示す。4 schematically shows a configuration example of a metal mask. マスクパターン部の一部の断面図を示す。FIG. 4 shows a cross-sectional view of part of a mask pattern portion; マスクパターン部の法線方向において見た、三つの開口の関係を示す。3 shows the relationship of the three openings viewed in the normal direction of the mask pattern. 異なる位置における同一のリニアソースを示し、さらに、異なる位置のリニアソースにおいて、二つのノズルをそれぞれ示す。The same linear source at different positions is shown, and two nozzles are shown at different positions of the linear source, respectively. 異なる位置における同一のリニアソースを示し、さらに、異なる位置のリニアソースにおいて、二つのノズルをそれぞれ示す。The same linear source at different positions is shown, and two nozzles are shown at different positions of the linear source, respectively. リニアソース、マスクパターン部、及びマザー基板の関係を模式的に示す。4 schematically shows the relationship between a linear source, a mask pattern portion, and a mother substrate; リニアソース、マスクパターン部、及びマザー基板の関係を模式的に示す。4 schematically shows the relationship between a linear source, a mask pattern portion, and a mother substrate; 開口ピッチの規定偏差ΔTpを説明するための図を示す。FIG. 4 shows a diagram for explaining a prescribed deviation ΔTp of opening pitches; 開口サイズの規定偏差ΔCdを説明するための図を示す。FIG. 4 shows a diagram for explaining a prescribed deviation ΔCd of aperture size; アライメントの規定偏差ΔAeを説明するための図を示す。FIG. 4 shows a diagram for explaining a prescribed deviation ΔAe of alignment.

以下、添付図面を参照して本発明の実施形態を説明する。本実施形態は本発明を実現するための一例に過ぎず、本発明の技術的範囲を限定するものではないことに注意すべきである。各図において共通の構成については同一の参照符号が付されている。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. It should be noted that this embodiment is merely an example for realizing the present invention and does not limit the technical scope of the present invention. The same reference numerals are given to the common components in each figure.

[表示装置の構成]
図1及び図2を参照して、本実施形態に係る、表示装置10の全体構成を説明する。なお、説明をわかりやすくするため、図示した物の寸法、形状については、誇張して記載している場合もある。
[Configuration of display device]
The overall configuration of a display device 10 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. In order to make the description easier to understand, the dimensions and shapes of the illustrated objects may be exaggerated.

図1は、本実施形態に係る、OLED(Organic Light-Emitting Diode)表示装置10の構成例を模式的に示す。OLED表示装置10は、発光素子が形成されるTFT(Thin Film Transistor)基板100と、OLED素子を封止する封止基板200と、TFT基板100と封止基板200とを接合する接合部(ガラスフリットシール部)300を含んで構成されている。TFT基板100と封止基板200との間には、例えば、乾燥空気が封入されており、接合部300により封止されている。 FIG. 1 schematically shows a configuration example of an OLED (Organic Light-Emitting Diode) display device 10 according to this embodiment. The OLED display device 10 includes a TFT (Thin Film Transistor) substrate 100 on which light emitting elements are formed, a sealing substrate 200 that seals the OLED elements, and a bonding portion (glass substrate) that bonds the TFT substrate 100 and the sealing substrate 200 together. frit seal portion) 300. Dry air, for example, is enclosed between the TFT substrate 100 and the sealing substrate 200 and sealed by the joint portion 300 .

TFT基板100の表示領域125の外側のカソード電極形成領域114の周囲に、走査ドライバ131、エミッションドライバ132、ドライバIC134が配置されている。これらは、FPC(Flexible Printed Circuit)135を介して外部の機器と接続される。 A scanning driver 131 , an emission driver 132 , and a driver IC 134 are arranged around the cathode electrode formation area 114 outside the display area 125 of the TFT substrate 100 . These are connected to external equipment via an FPC (Flexible Printed Circuit) 135 .

走査ドライバ131はTFT基板100の走査線を駆動する。エミッションドライバ132は、エミッション制御線を駆動して、各副画素の発光期間を制御する。ドライバIC134は、例えば、異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)を用いて実装される。 A scanning driver 131 drives the scanning lines of the TFT substrate 100 . Emission driver 132 drives the emission control line to control the light emission period of each sub-pixel. The driver IC 134 is mounted using, for example, an anisotropic conductive film (ACF).

ドライバIC134は、走査ドライバ131及びエミッションドライバ132に電源及びタイミング信号(制御信号)を与え、さらに、データ線に映像データに対応するデータ電圧を与える。すなわち、ドライバIC134は、表示制御機能を有する。 The driver IC 134 supplies a power source and timing signals (control signals) to the scanning driver 131 and the emission driver 132, and also supplies a data voltage corresponding to video data to the data lines. That is, the driver IC 134 has a display control function.

次に、OLED表示装置10の詳細構造について説明する。図2は、OLED表示装置10の断面構造の一部を模式的に示す。OLED表示装置10は、TFT基板100と、TFT基板100に対向する封止基板(透明基板)200とを含む。図2は、TFT基板100における一部の構成のみを模式的に示す。また、以下の説明において、上下は、図面における上下を示す。 Next, the detailed structure of the OLED display device 10 will be described. FIG. 2 schematically shows part of the cross-sectional structure of the OLED display device 10. As shown in FIG. The OLED display device 10 includes a TFT substrate 100 and a sealing substrate (transparent substrate) 200 facing the TFT substrate 100 . FIG. 2 schematically shows only a partial configuration of the TFT substrate 100. As shown in FIG. Moreover, in the following description, up and down indicate up and down in the drawings.

図2に示すように、OLED表示装置10は、絶縁基板151と、絶縁基板151と対向する封止構造部とを含む。ここで、封止構造部の一例は、可撓性又は不撓性の封止基板200である。封止構造部は、例えば、薄膜封止(TFE:Thin Film Encapsulation)構造であってもよい。絶縁基板151は、図1の絶縁基板とみなすことができる。 As shown in FIG. 2, the OLED display device 10 includes an insulating substrate 151 and a sealing structure facing the insulating substrate 151 . Here, one example of a sealing structure is a flexible or inflexible sealing substrate 200 . The encapsulation structure may be, for example, a thin film encapsulation (TFE) structure. The insulating substrate 151 can be regarded as the insulating substrate of FIG.

OLED表示装置10は、絶縁基板151と封止構造部との間に配置された、複数の下部電極(例えば、アノード電極162)と、1つの上部電極(例えば、カソード電極166)と、複数の有機発光層165とを含む。なお、カソード電極166は、有機発光層165からの光を封止構造部に向けて透過させる透明電極である。 The OLED display device 10 includes a plurality of lower electrodes (eg, anode electrode 162), one upper electrode (eg, cathode electrode 166), and multiple and an organic light-emitting layer 165 . The cathode electrode 166 is a transparent electrode that transmits light from the organic light-emitting layer 165 toward the sealing structure.

1つのカソード電極166と1つのアノード電極162との間に、1つの有機発光層165(有機発光膜165とも記す)が配置されている。複数のアノード電極162は、同一面上(例えば、平坦化膜161の上)に配置され、1つのアノード電極162の上に1つの有機発光層165が配置されている。 Between one cathode electrode 166 and one anode electrode 162, one organic light-emitting layer 165 (also referred to as organic light-emitting film 165) is arranged. A plurality of anode electrodes 162 are arranged on the same plane (for example, on the planarization film 161), and one organic light-emitting layer 165 is arranged on one anode electrode 162. As shown in FIG.

OLED表示装置10は、封止構造部に向かって立ち上がる複数のスペーサ(Post Spacer:PS)164と、それぞれが複数のスイッチを含む複数の回路とを有する。複数の回路の各々は、絶縁基板151とアノード電極162との間に形成され、複数のアノード電極162の各々に供給する電流を制御する。 The OLED display 10 has a plurality of Post Spacers (PS) 164 upstanding toward the encapsulation structure and a plurality of circuits each including a plurality of switches. Each of the multiple circuits is formed between the insulating substrate 151 and the anode electrode 162 and controls the current supplied to each of the multiple anode electrodes 162 .

図2は、トップエミッション型の画素構造の例を示す。トップエミッション型の画素構造は、光が出射する側(図面上側)に、複数の画素に共通のカソード電極166が配置される。カソード電極166は、表示領域125の全面を完全に覆う形状を有する。本実施形態のOLED表示装置の製造方法は、ボトムエミッション型の画素構造を有するOLED表示装置にも適用できる。ボトムエミッション型の画素構造は、透明アノード電極と反射カソード電極を有し、TFT基板100を介して外部に光を出射する。 FIG. 2 shows an example of a top-emission pixel structure. In the top emission type pixel structure, a cathode electrode 166 common to a plurality of pixels is arranged on the light emitting side (upper side in the drawing). The cathode electrode 166 has a shape that completely covers the entire surface of the display area 125 . The method for manufacturing an OLED display device of this embodiment can also be applied to an OLED display device having a bottom emission pixel structure. The bottom emission type pixel structure has a transparent anode electrode and a reflective cathode electrode, and emits light to the outside through the TFT substrate 100 .

以下、OLED表示装置10についてより詳しく説明する。TFT基板100は、表示領域内に配列された副画素(画素)、及び、表示領域の周囲の配線領域に形成された配線を含む。配線は、画素回路と、配線領域に配置された制御回路(131、132、134)とを接続する。 The OLED display device 10 will be described in more detail below. The TFT substrate 100 includes sub-pixels (pixels) arranged in a display area and wiring formed in a wiring area around the display area. The wiring connects the pixel circuit and the control circuits (131, 132, 134) arranged in the wiring region.

副画素は、赤、緑、又は青のいずれかの色を表示する。赤、緑、及び青の副画素により一つの画素(主画素)が構成される。副画素は、OLED素子及び複数のトランジスタを含む画素回路を、含んで構成されている。OLED素子は、下部電極であるアノード電極、有機発光層、及び上部電極であるカソード電極を含んで構成される。すなわち、複数のOLED素子は、1つのカソード電極166と、複数のアノード電極162と、複数の有機発光層165により形成されている。 A sub-pixel displays a color of either red, green, or blue. One pixel (main pixel) is composed of red, green, and blue sub-pixels. A sub-pixel includes a pixel circuit including an OLED element and a plurality of transistors. An OLED device includes an anode electrode as a lower electrode, an organic light-emitting layer, and a cathode electrode as an upper electrode. That is, multiple OLED elements are formed by one cathode electrode 166 , multiple anode electrodes 162 , and multiple organic light-emitting layers 165 .

絶縁基板151は、例えばガラス又は樹脂で形成されており、不撓性又は可撓性基板である。なお、以下の説明において、絶縁基板151に近い側を下側、遠い側を上側と記す。ゲート絶縁膜156を介して、ゲート電極157が形成されている。ゲート電極157の層上に層間絶縁膜158が形成されている。 The insulating substrate 151 is made of glass or resin, for example, and is an inflexible or flexible substrate. In the following description, the side closer to the insulating substrate 151 is referred to as the lower side, and the side farther from the insulating substrate 151 is referred to as the upper side. A gate electrode 157 is formed with a gate insulating film 156 interposed therebetween. An interlayer insulating film 158 is formed on the layer of gate electrode 157 .

表示領域125内において、層間絶縁膜158上にソース電極159、ドレイン電極160が形成されている。ソース電極159、ドレイン電極160は、例えば、高融点金属又はその合金で形成される。ソース電極159、ドレイン電極160は、層間絶縁膜158のコンタクトホールに形成されたコンタクト部168、169によって、チャネル部155に接続されている。 A source electrode 159 and a drain electrode 160 are formed on the interlayer insulating film 158 in the display region 125 . The source electrode 159 and drain electrode 160 are made of, for example, a refractory metal or its alloy. The source electrode 159 and drain electrode 160 are connected to the channel portion 155 by contact portions 168 and 169 formed in contact holes in the interlayer insulating film 158 .

ソース電極159、ドレイン電極160の上に、絶縁性の平坦化膜161が形成される。絶縁性の平坦化膜161の上に、アノード電極162が形成されている。アノード電極162は、平坦化膜161のコンタクトホールに形成されたコンタクト部によってドレイン電極160に接続されている。画素回路(TFT)は、アノード電極162の下側に形成されている。 An insulating planarization film 161 is formed on the source electrode 159 and the drain electrode 160 . An anode electrode 162 is formed on an insulating planarization film 161 . The anode electrode 162 is connected to the drain electrode 160 through a contact portion formed in a contact hole in the planarizing film 161 . A pixel circuit (TFT) is formed below the anode electrode 162 .

アノード電極162の上に、OLED素子を分離する絶縁性の画素定義層(Pixel Defining Layer:PDL)163が形成されている。OLED素子は、積層された、アノード電極162、有機発光層165、及びカソード電極166(の部分)で構成される。OLED素子は、画素定義層163の開口167に形成されている。 An insulating pixel defining layer (PDL) 163 separating the OLED elements is formed on the anode electrode 162 . The OLED device is composed of (parts of) an anode electrode 162, an organic light-emitting layer 165, and a cathode electrode 166, which are stacked. OLED elements are formed in openings 167 in pixel defining layer 163 .

絶縁性のスペーサ164は、2つのアノード電極162の間における、画素定義層163の面上に形成されている。スペーサ164の頂面は画素定義層163の上面よりも高い(封止基板200に近い)位置にあり、封止基板200が変形した場合に、封止基板200を支持して、OLED素子と封止基板200との間隔を維持する。 An insulating spacer 164 is formed on the surface of the pixel defining layer 163 between the two anode electrodes 162 . The top surface of the spacer 164 is positioned higher (closer to the encapsulation substrate 200) than the top surface of the pixel defining layer 163, and supports the encapsulation substrate 200 to seal the OLED element when the encapsulation substrate 200 is deformed. The distance from the stop substrate 200 is maintained.

アノード電極162の上に、有機発光層165が形成されている。有機発光層165は、画素定義層163の開口167及びその周囲において、画素定義層163に付着している。有機発光層165の上にカソード電極166が形成されている。カソード電極166は、透明電極である。カソード電極166は、有機発光層165からの可視光の全て又は一部を透過させる。 An organic light emitting layer 165 is formed on the anode electrode 162 . The organic light emitting layer 165 adheres to the pixel defining layer 163 in and around the opening 167 of the pixel defining layer 163 . A cathode electrode 166 is formed on the organic light emitting layer 165 . Cathode electrode 166 is a transparent electrode. The cathode electrode 166 transmits all or part of visible light from the organic light-emitting layer 165 .

画素定義層163の開口167に形成された、アノード電極162、有機発光層165及びカソード電極166の積層膜が、OLED素子を構成する。カソード電極166は、分離して形成されているアノード電極162及び有機発光層165(OLED素子)に共通である。なお、カソード電極166の上には、不図示のキャップ層が形成されてもよい。 A stack of anode electrode 162, organic light emitting layer 165 and cathode electrode 166 formed in opening 167 of pixel defining layer 163 constitutes an OLED element. The cathode electrode 166 is common to the separately formed anode electrode 162 and the organic light emitting layer 165 (OLED element). A cap layer (not shown) may be formed on the cathode electrode 166 .

封止基板200は、透明な絶縁基板であって、例えばガラス基板である。封止基板200の光出射面(前面)に、λ/4位相差板201と偏光板202とが配置され、外部から入射した光の反射を抑制する。 The sealing substrate 200 is a transparent insulating substrate such as a glass substrate. A λ/4 retardation plate 201 and a polarizing plate 202 are arranged on the light exit surface (front surface) of the sealing substrate 200 to suppress reflection of light incident from the outside.

[製造方法]
OLED表示装置10の製造方法の一例を説明する。後述するように、本開示は、有機発光層165の蒸着に特徴を有する。本実施形態の有機発光層165の蒸着が適用できれば、他のステップは任意である。以下の説明において、同一工程で(同時に)形成される要素は、同一層の要素である。
[Production method]
An example of a method for manufacturing the OLED display device 10 will be described. As will be described later, the present disclosure features deposition of the organic light-emitting layer 165 . Other steps are optional if the deposition of the organic light-emitting layer 165 of the present embodiment is applicable. In the following description, elements formed in the same process (simultaneously) are elements in the same layer.

OLED表示装置10の製造は、まず、絶縁基板151上に、CVD(Chemical Vapor Deposition)等によって例えばシリコン窒化物を堆積して、第1絶縁膜152を形成する。次に、公知の低温ポリシリコンTFT製造技術を用いて、チャネル部155を含む層(ポリシリコン層)を形成する。例えば、CVD法によってアモルファスシリコンを堆積し、ELA(Excimer Laser Annealing)により結晶化してポリシリコン層を形成できる。ポリシリコン層は、表示領域125内において要素間の接続にも利用される。 In manufacturing the OLED display device 10 , first, silicon nitride, for example, is deposited on an insulating substrate 151 by CVD (Chemical Vapor Deposition) or the like to form a first insulating film 152 . Next, a layer (polysilicon layer) including the channel portion 155 is formed using a known low-temperature polysilicon TFT manufacturing technique. For example, amorphous silicon can be deposited by CVD and crystallized by ELA (Excimer Laser Annealing) to form a polysilicon layer. The polysilicon layer is also used for connections between elements within the display area 125 .

次に、チャネル部155を含むポリシリコン層上に、CVD法等によって、例えばシリコン酸化膜を付着してゲート絶縁膜156を形成する。更に、スパッタ法等により金属材料を堆積し、パターニングを行って、ゲート電極157を含む金属層を形成する。 Next, a gate insulating film 156 is formed by depositing, for example, a silicon oxide film on the polysilicon layer including the channel portion 155 by the CVD method or the like. Further, a metal material is deposited by a sputtering method or the like and patterned to form a metal layer including the gate electrode 157 .

金属層は、ゲート電極157の他、例えば、保持容量電極、走査線、エミッション制御線、電力供給線を含む。金属層として、例えばMo、W、Nb、MoW、MoNb、Al、Nd、Ti、Cu、Cu合金、Al合金、Ag、Ag合金からなる群より選択される一つの物質で単一層を形成する、又は、配線抵抗を減少させるために低抵抗物質であるMo、Cu、AlまたはAgの2層構造またはそれ以上の多重膜構造からなる群より選択される一つの積層を形成してもよい。 In addition to the gate electrode 157, the metal layer includes, for example, storage capacitor electrodes, scanning lines, emission control lines, and power supply lines. As the metal layer, for example, one material selected from the group consisting of Mo, W, Nb, MoW, MoNb, Al, Nd, Ti, Cu, Cu alloys, Al alloys, Ag, Ag alloys to form a single layer, Alternatively, one layer selected from the group consisting of a two-layer structure or a multi-layer structure of more than two layers of low-resistance materials such as Mo, Cu, Al, or Ag may be formed to reduce wiring resistance.

次に、ゲート電極157の形成前に高濃度不純物をドーピングしておいたチャネル部155に、ゲート電極157をマスクとして追加不純物ドーピングを施して低濃度不純物層を形成することにより、TFTにLDD(Lightly Doped Drain)構造を形成する。次に、CVD法等によって、例えばシリコン酸化膜等を堆積して層間絶縁膜158を形成する。 Next, by using the gate electrode 157 as a mask, the channel portion 155 doped with high-concentration impurities before the formation of the gate electrode 157 is additionally doped with impurities to form a low-concentration impurity layer. lightly doped drain) structure. Next, an interlayer insulating film 158 is formed by depositing, for example, a silicon oxide film or the like by the CVD method or the like.

層間絶縁膜158及びゲート絶縁膜156、に異方性エッチングを行い、コンタクトホールを開口する。ソース電極159、ドレイン電極160とチャネル部155とを接続するコンタクト部168、169のためのコンタクトホールが、層間絶縁膜158及びゲート絶縁膜156に形成される。 Anisotropic etching is performed on the interlayer insulating film 158 and the gate insulating film 156 to open a contact hole. Contact holes for contact portions 168 and 169 connecting the source electrode 159 and the drain electrode 160 to the channel portion 155 are formed in the interlayer insulating film 158 and the gate insulating film 156 .

次に、スパッタ法等によって、例えば、Ti/Al/Ti等のアルミ合金を堆積し、パターニングを行って、金属層を形成する。金属層は、ソース電極159、ドレイン電極160及びコンタクト部168、169を含む。この他、データ線や電力供給線等も形成される。 Next, an aluminum alloy such as Ti/Al/Ti is deposited by sputtering or the like and patterned to form a metal layer. The metal layer includes a source electrode 159, a drain electrode 160 and contact portions 168,169. In addition, data lines, power supply lines, and the like are also formed.

次に、感光性の有機材料を堆積し、平坦化膜161を形成する。TFTのソース電極159、ドレイン電極160に接続するためのコンタクトホールを開口する。コンタクトホールを形成した平坦化膜161上に、アノード電極162を形成する。アノード電極162は、ITO、IZO、ZnO、In等の透明膜、Ag、Mg、Al、Pt、Pd、Au、Ni、Nd、Ir、Cr又はこれらの化合物金属の反射膜、前記した透明膜の3層を含む。なお、アノード電極162の3層構成は、一例であり2層でもよい。アノード電極162は、コンタクト部を介して、ドレイン電極160と接続される。 Next, a photosensitive organic material is deposited to form a planarization film 161 . Contact holes for connecting to the source electrode 159 and the drain electrode 160 of the TFT are opened. An anode electrode 162 is formed on the planarization film 161 with the contact hole. The anode electrode 162 is a transparent film such as ITO, IZO, ZnO, In 2 O 3 , a reflective film of Ag, Mg, Al, Pt, Pd, Au, Ni, Nd, Ir, Cr, or a compound metal thereof. It contains three layers of transparent membranes. The three-layer structure of the anode electrode 162 is an example, and two layers may be used. Anode electrode 162 is connected to drain electrode 160 via a contact portion.

次に、スピンコート法等によって、例えば感光性の有機樹脂膜を堆積し、パターニングを行って画素定義層163を形成する。パターニングにより画素定義層163には孔が形成され、各副画素のアノード電極162が形成された孔の底で露出する。画素定義層163の孔の側面は順テーパである。画素定義層163により、各副画素の発光領域が分離される。さらに、スピンコート法等によって、例えば感光性の有機樹脂膜を堆積し、パターニングを行って、画素定義層163上にスペーサ164を形成する。 Next, for example, a photosensitive organic resin film is deposited by spin coating or the like, and patterning is performed to form the pixel definition layer 163 . Holes are formed in the pixel defining layer 163 by patterning, and the anode electrodes 162 of each sub-pixel are exposed at the bottom of the formed holes. The sides of the holes in the pixel defining layer 163 are forward tapered. A pixel defining layer 163 separates the light emitting area of each sub-pixel. Further, a photosensitive organic resin film, for example, is deposited by spin coating or the like and patterned to form spacers 164 on the pixel definition layer 163 .

次に、画素定義層163を形成した絶縁基板151に対して有機発光材料を付着して有機発光層165を成膜する。RGBの色毎に、有機発光材料を成膜して、アノード電極162上に、有機発光層165を形成する。有機発光層165の成膜は、メタルマスク(MM)を使用する。 Next, an organic light-emitting material is attached to the insulating substrate 151 on which the pixel definition layer 163 is formed to form an organic light-emitting layer 165 . An organic light-emitting material is deposited for each color of RGB to form an organic light-emitting layer 165 on the anode electrode 162 . A metal mask (MM) is used for film formation of the organic light emitting layer 165 .

異なる色の副画素パターンそれぞれにメタルマスクが用意される。TFT基板100の表面にメタルマスクを位置合わせして配置し、メタルマスクをTFT基板100に固定する。メタルマスクの開口を介して、TFT基板100の副画素に対応する位置に有機発光材料を蒸着させる。メタルマスク及びメタルマスクを使用した蒸着の詳細は後述する。 A metal mask is prepared for each of the sub-pixel patterns of different colors. A metal mask is aligned and arranged on the surface of the TFT substrate 100 and fixed to the TFT substrate 100 . An organic light-emitting material is vapor-deposited on the TFT substrate 100 at positions corresponding to the sub-pixels through the openings of the metal mask. The details of the metal mask and vapor deposition using the metal mask will be described later.

有機発光層165は、下層側から、例えば、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層によって構成される。有機発光層165は、電子輸送層/発光層/正孔輸送層、電子輸送層/発光層/正孔輸送層/正孔注入層、電子注入層/電子輸送層/発光層/正孔輸送層、又は発光層単独の、いずれの構造を有してもよい。電子ブロッキング層のような他の層を追加されてもよい。発光層の材料は副画素の色毎に異なり、必要に応じて正孔注入層や正孔輸送層等の膜厚も色毎に制御する。 The organic light-emitting layer 165 is composed of, for example, a hole injection layer, a hole transport layer, a light-emitting layer, an electron transport layer, and an electron injection layer from the lower layer side. The organic light emitting layer 165 consists of electron transport layer/light emitting layer/hole transport layer, electron transport layer/light emitting layer/hole transport layer/hole injection layer, and electron injection layer/electron transport layer/light emitting layer/hole transport layer. , or a light-emitting layer alone. Other layers may be added, such as electron blocking layers. The material of the light-emitting layer differs depending on the color of the sub-pixel, and the film thickness of the hole injection layer, the hole transport layer, etc. is also controlled for each color if necessary.

次に、画素定義層163、スペーサ164及び有機発光層165(画素定義層163の開口における)が露出した、TFT基板100に対して、カソード電極166のための金属材料を付着する。金属材料は、画素定義層163、スペーサ164及び有機発光層165上に付着する。一つの副画素の有機発光層165上に付着した金属材料部は、当該副画素のカソード電極166として機能する。 Next, a metal material for the cathode electrode 166 is deposited on the TFT substrate 100 with the pixel defining layer 163, the spacers 164 and the organic light emitting layer 165 (at the opening of the pixel defining layer 163) exposed. A metal material is deposited on the pixel defining layer 163 , the spacers 164 and the organic light emitting layer 165 . The metal material deposited on the organic light-emitting layer 165 of one sub-pixel functions as the cathode electrode 166 of that sub-pixel.

透明カソード電極166の層は、例えば、Li、Ca、LiF/Ca、LiF/Al、Al、Mg又はこれらの合金を蒸着して、形成する。カソード電極166の膜厚は、光取り出し効率を向上させ良好な視野角依存性を確保するため最適化される。カソード電極166の抵抗が高く発光輝度の均一性が損なわれる場合には、さらに、ITO、IZO、ZnOまたはIn2O3などの透明電極形成用の材料で補助電極層を追加する。カソード電極166の形成後、光取り出し効率向上のため、ガラスより屈折率の高い絶縁膜を堆積させキャップ層を形成してもよい。 The layer of the transparent cathode electrode 166 is formed, for example, by vapor deposition of Li, Ca, LiF/Ca, LiF/Al, Al, Mg, or alloys thereof. The film thickness of the cathode electrode 166 is optimized to improve the light extraction efficiency and ensure good viewing angle dependence. If the resistance of the cathode electrode 166 is high and the uniformity of light emission luminance is impaired, an auxiliary electrode layer is added with a material for forming a transparent electrode such as ITO, IZO, ZnO or In2O3. After forming the cathode electrode 166, an insulating film having a higher refractive index than glass may be deposited to form a cap layer in order to improve light extraction efficiency.

以上により、RGBの各副画素に対応するOLED素子が形成され、アノード電極162と有機発光層165とが接触した部分(画素定義層163の開口内)が各々、R発光領域、G発光領域、B発光領域となる。 As described above, an OLED element corresponding to each of the RGB sub-pixels is formed, and the portions where the anode electrode 162 and the organic light-emitting layer 165 are in contact (within the opening of the pixel defining layer 163) are respectively formed into an R light-emitting region, a G light-emitting region, and a G light-emitting region. It becomes the B light emitting region.

次に、TFT基板100の外周にガラスフリットを塗設し、その上に封止基板200を載置し、ガラスフリット部をレーザ光により加熱し、溶融させTFT基板100と封止基板200を密封する。その後、封止基板200の光出射側にλ/4位相差板201、偏光板202を形成し、OLED表示装置10が完成する。 Next, a glass frit is applied to the periphery of the TFT substrate 100, the sealing substrate 200 is placed thereon, and the glass frit portion is heated with a laser beam and melted to seal the TFT substrate 100 and the sealing substrate 200 together. do. After that, a λ/4 retardation plate 201 and a polarizing plate 202 are formed on the light emitting side of the sealing substrate 200 to complete the OLED display device 10 .

以下において、有機発光層の蒸着の詳細を説明する。OLED表示装置10の製造システムは、メタルマスクを用いて有機発光材料を選択的に蒸着させる。製造システムは、発光領域よりやや大きめの開口部を有するメタルマスクを、順次、TFT基板100にアライメントしてセットし、選択的に各色の有機発光材料を蒸着させる。実際に電流が流れるのは画素定義層163の開口部のみであり、この部分が発光領域となる。 In the following, the details of the deposition of the organic light-emitting layer are described. The manufacturing system for the OLED display device 10 selectively deposits the organic light-emitting material using a metal mask. The manufacturing system sequentially aligns and sets metal masks having openings slightly larger than the light-emitting region on the TFT substrate 100, and selectively vapor-deposits organic light-emitting materials of each color. Current actually flows only through the opening of the pixel definition layer 163, and this portion becomes the light emitting region.

図3Aは、有機発光層の蒸着に使用されるメタルマスクモジュール500及びリニアソース400の構成例を模式的に示す。メタルマスクモジュール500は、複数のOLED表示装置のパネル部を含むマザー基板に対する、有機発光材料の蒸着に使用される。各OLED表示装置のパネルは、マザー基板から切り出される。 FIG. 3A schematically shows a configuration example of a metal mask module 500 and a linear source 400 used for vapor deposition of an organic light-emitting layer. The metal mask module 500 is used for vapor deposition of organic light-emitting materials on a mother substrate including panel portions of multiple OLED displays. Each OLED display panel is cut from the motherboard.

メタルマスクモジュール500は、フレーム501及び複数の短冊状のメタルマスク503を含む。例えば、フレーム501は矩形であって、中央開口を囲む四辺の部分で構成される。フレーム501は、メタルマスク503を引張された状態で、高精度に支持できるように、十分な剛性と小さい熱変形を有するように構成される。熱による変形を低減するため、フレーム501は、例えば、インバー合金で形成される。フレーム501の形状及び材料は、設計により変化し得る。 The metal mask module 500 includes a frame 501 and a plurality of strip-shaped metal masks 503 . For example, the frame 501 is rectangular and consists of four sides surrounding a central opening. The frame 501 is configured to have sufficient rigidity and small thermal deformation so as to support the metal mask 503 under tension with high accuracy. To reduce thermal deformation, the frame 501 is made of, for example, an Invar alloy. The shape and material of frame 501 may vary by design.

図3Aにおいて、複数のメタルマスク503それぞれは、長手方向(X軸方向)に引張された状態においてフレーム501に固定されている。各メタルマスク503は、四隅の固定点505において、フレーム501に固定されている。各メタルマスク503は、フレーム501に固定される時、長手方向(X軸方向)に引張されながら、固定される。引張により、メタルマスク503の変形を抑制する。メタルマスク503は、例えば、ニッケル、ニッケル合金、ニッケル-コバルト合金で形成される。メタルマスク503の材料は設計により変化し得る。 In FIG. 3A, each of the plurality of metal masks 503 is fixed to the frame 501 while being stretched in the longitudinal direction (X-axis direction). Each metal mask 503 is fixed to the frame 501 at fixing points 505 at four corners. Each metal mask 503 is fixed while being pulled in the longitudinal direction (X-axis direction) when fixed to the frame 501 . The tension suppresses deformation of the metal mask 503 . The metal mask 503 is made of nickel, nickel alloy, nickel-cobalt alloy, for example. The material of the metal mask 503 may vary according to design.

複数のメタルマスク503、図3Aにおいて四つのメタルマスク503が、引張方向(X軸方向)と垂直な方向(Y軸方向)に、配列されている。なお、メタルマスク503の数は1以上の任意である。 A plurality of metal masks 503, four metal masks 503 in FIG. 3A, are arranged in a direction (Y-axis direction) perpendicular to the pulling direction (X-axis direction). Note that the number of metal masks 503 is arbitrary, one or more.

各メタルマスク503は、複数のマスクパターン部532を有する。図3Aの例において、各メタルマスク503は、長手方向(X軸方向)に配列された三つのマスクパターン部532を有する。一つのマスクパターン部532は、一つのOLED表示装置10のアクティブエリアにおける、一つの種類の副画素パターンに対応する。なお、一つのメタルマスク503におけるマスクパターン部532の数は、1以上の任意である。 Each metal mask 503 has a plurality of mask pattern portions 532 . In the example of FIG. 3A, each metal mask 503 has three mask pattern portions 532 arranged in the longitudinal direction (X-axis direction). One mask pattern portion 532 corresponds to one kind of sub-pixel pattern in one active area of one OLED display device 10 . Note that the number of mask pattern portions 532 in one metal mask 503 is 1 or more.

リニアソース400は、長手方向(X軸方向)に一列に配列された複数のノズル401を有する。リニアソース400は、ノズル401の配列方向と垂直な方向(Y軸方向)においてメタルマスクモジュール500上を往復し、有機発光材料をマザー基板上に蒸着させる。 A linear source 400 has a plurality of nozzles 401 arranged in a row in the longitudinal direction (X-axis direction). The linear source 400 reciprocates over the metal mask module 500 in a direction (Y-axis direction) perpendicular to the direction in which the nozzles 401 are arranged to deposit an organic light-emitting material on the mother substrate.

リニアソース400の移動方向(Y軸方向)は、メタルマスク503の引張方向(X軸方向)と垂直である。メタルマスク503のアライメントは、引張方向(X軸方向)において誤差が大きく、それに垂直な方向(Y軸方向)においてより高精度である。したがって、リニアソースは引張方向に垂直な方向(Y軸方向)において移動する。各メタルマスク503の全マスクパターン部532は、X軸方向において、両端のノズル401の間に位置する。リニアソース400のY軸方向における移動により、全てのマスクパターン部532を介して、マザー基板に有機発光材料が蒸着される。 The moving direction (Y-axis direction) of the linear source 400 is perpendicular to the pulling direction (X-axis direction) of the metal mask 503 . Alignment of the metal mask 503 has a large error in the tensile direction (X-axis direction) and is more accurate in the direction perpendicular thereto (Y-axis direction). Therefore, the linear source moves in the direction (Y-axis direction) perpendicular to the pulling direction. All mask pattern portions 532 of each metal mask 503 are positioned between the nozzles 401 at both ends in the X-axis direction. By moving the linear source 400 in the Y-axis direction, the organic light-emitting material is vapor-deposited on the mother substrate through all the mask pattern portions 532 .

図3Bは、リニアソース400の構成例を模式的に示す。図3BにおけるX軸方向及びY軸方向は、図3Aと同様である。リニアソース400は、複数のノズル401、本体部403、及び二つの壁405を含んで構成されている。図3Bにおいては、一つのノズルのみが符号401で指示され、一つの壁のみが符号405で指示されている。 FIG. 3B schematically shows a configuration example of the linear source 400. As shown in FIG. The X-axis direction and the Y-axis direction in FIG. 3B are the same as in FIG. 3A. The linear source 400 comprises a plurality of nozzles 401 , a body portion 403 and two walls 405 . In FIG. 3B only one nozzle is indicated at 401 and only one wall is indicated at 405 .

本体部403は、内部に有機発光材料を収容する空間を有する。リニアソース400は加熱され、本体部403に収容されている有機発光材料が気化し、複数のノズル401の噴出口から、メタルマスクモジュール500に向かって噴出する。 The main body part 403 has a space inside to accommodate an organic light-emitting material. The linear source 400 is heated, and the organic light-emitting material contained in the main body 403 is vaporized and ejected from the nozzles 401 toward the metal mask module 500 .

複数のノズル401が、本体部403の面上、長手方向(X軸方向)において一列に配列されている。複数のノズル401は、所定の間隔で配列されている。ノズル401の配列ピッチは一定又は変化してもよい。 A plurality of nozzles 401 are arranged in a row on the surface of the main body 403 in the longitudinal direction (X-axis direction). A plurality of nozzles 401 are arranged at predetermined intervals. The arrangement pitch of the nozzles 401 may be constant or variable.

リニアソース400が移動しながらの蒸着時、複数のノズル401(の噴出口)及びそれらが配列されている面は、メタルマスクモジュール500に対向する。複数のノズル401は、メタルマスクモジュール500に向かって突出している。各ノズル401(の噴出口)は、メタルマスク503の法線方向に対して、リニアソース400の移動方向(Y軸方向)において、所定の角度を向いている。 During vapor deposition while the linear source 400 is moving, the plurality of nozzles 401 (the nozzles thereof) and the surface on which they are arranged face the metal mask module 500 . A plurality of nozzles 401 protrude toward the metal mask module 500 . Each nozzle 401 (the ejection port thereof) is oriented at a predetermined angle with respect to the normal direction of the metal mask 503 in the movement direction (Y-axis direction) of the linear source 400 .

少なくとも一部のノズル401は、リニアソース400の移動方向(Y軸方向)において、互いに異なる角度を有する。一部のノズル401は、一方のY軸方向に傾き、一部のノズル401は他方のY軸方向に傾いていてもよい。図3Aの例において、一部のノズル401は、紙面上側に傾き、一部のノズル401は紙面下側に傾いていてもよい。 At least some of the nozzles 401 have angles different from each other in the movement direction (Y-axis direction) of the linear source 400 . Some nozzles 401 may be tilted in one Y-axis direction and some nozzles 401 may be tilted in the other Y-axis direction. In the example of FIG. 3A, some nozzles 401 may be slanted upward on the paper surface and some nozzles 401 may be slanted downward on the paper surface.

一部のノズル401の向きは、メタルマスク503の法線方向と一致してもよい。二つのY軸方向の一方に傾くノズル401が存在しなくてもよい。全ノズル401の向きは、X軸方向において、メタルマスク503の法線方向と一致してもよいし、複数のノズル401が、X軸方向において、異なる向きを有してもよい。 The direction of some nozzles 401 may match the normal direction of the metal mask 503 . There may be no nozzles 401 tilted in one of the two Y-axis directions. The direction of all the nozzles 401 may match the normal direction of the metal mask 503 in the X-axis direction, or a plurality of nozzles 401 may have different directions in the X-axis direction.

二つの壁405は、配列された複数のノズル401をリニアソース400の移動方向(Y軸方向)において挟むように、配置されている。各壁405は、本体部403からメタルマスクモジュール500に向かって立ち上がり、X軸方向において延在している。図3Bの例において、二つの壁405は平行であり、それらの高さは一致している。二つの壁405の形状及びサイズは、設計に依存して変化し得る。ノズル401の向き及び壁405の高さは、有機発光材料が均等圧力において、面内において均等に蒸着されるように設計される。 The two walls 405 are arranged so as to sandwich the arranged nozzles 401 in the movement direction (Y-axis direction) of the linear source 400 . Each wall 405 rises from the main body 403 toward the metal mask module 500 and extends in the X-axis direction. In the example of Figure 3B, the two walls 405 are parallel and their heights match. The shape and size of the two walls 405 can vary depending on the design. The orientation of the nozzle 401 and the height of the wall 405 are designed so that the organic light-emitting material is evenly deposited in the plane under uniform pressure.

各ノズル401の向き及び壁405の高さにより、各ノズル401から噴出した有機発光材料のメタルマスク503及びマザー基板への入射角度が規定される。各壁405は、Y軸方向における、有機発光材料の噴出角度の上限値、つまり、メタルマスク503及びマザー基板への入射角度の上限値を規定する。有機発光材料の入射角度の詳細は後述する。 The direction of each nozzle 401 and the height of the wall 405 define the incident angle of the organic light-emitting material ejected from each nozzle 401 onto the metal mask 503 and the mother substrate. Each wall 405 defines the upper limit of the ejection angle of the organic light-emitting material in the Y-axis direction, that is, the upper limit of the angle of incidence on the metal mask 503 and the mother substrate. The details of the incident angle of the organic light-emitting material will be described later.

図3Cは、メタルマスク503の構成例を模式的に示す。図3CにおけるX軸方向及びY軸方向は、図3Aと同様である。メタルマスク503は、略長方形の外形を有し、長手方向(X軸方向)に引張されてフレーム501に固定される。メタルマスク503は、基材本体部531と、長手方向(X軸方向)に配列された複数のマスクパターン部532を含む。図3Cの例において、三つのマスクパターン部532が形成されている。 FIG. 3C schematically shows a configuration example of the metal mask 503. As shown in FIG. The X-axis direction and the Y-axis direction in FIG. 3C are the same as in FIG. 3A. The metal mask 503 has a substantially rectangular outer shape and is fixed to the frame 501 by being pulled in the longitudinal direction (X-axis direction). The metal mask 503 includes a substrate body portion 531 and a plurality of mask pattern portions 532 arranged in the longitudinal direction (X-axis direction). In the example of FIG. 3C, three mask pattern portions 532 are formed.

マスクパターン部532は、開口パターンであって、一つのOLED表示装置10のアクティブエリアに対応する。マスクパターン部532は、このアクティブエリアにおけるR、G又はBの副画素パターンに対応する。マスクパターン部532は、画素配列に対応して配列された開口と、開口の間の遮蔽部とで構成されている。各開口が各副画素に対応し、開口を通過した有機発光材料が、対応する副画素のアノード電極162上に付着される。 The mask pattern portion 532 is an opening pattern and corresponds to one active area of the OLED display device 10 . The mask pattern portion 532 corresponds to the R, G or B sub-pixel pattern in this active area. The mask pattern portion 532 is composed of openings arranged corresponding to the pixel array and shielding portions between the openings. Each opening corresponds to each sub-pixel, and the organic light-emitting material passing through the openings is deposited on the anode electrode 162 of the corresponding sub-pixel.

メタルマスク503は、さらに、複数のダミーパターン部533及び複数のハーフエッチ部534を含む。図3Cにおいては、六つのダミーパターン部の内の二つのみが、例として、符号533で指示されている。ダミーパターン部533の三つペアが、それぞれ、Y軸方向においてマスクパターン部532を挟むように形成されている。 The metal mask 503 further includes a plurality of dummy pattern portions 533 and a plurality of half-etched portions 534 . In FIG. 3C, only two of the six dummy pattern portions are indicated at 533 by way of example. Three pairs of dummy pattern portions 533 are formed so as to sandwich the mask pattern portion 532 in the Y-axis direction.

図3Cにおいて、四つのハーフエッチ部うちの二つのみが、例として、符号534で指示されている。ハーフエッチ部534は、X軸方向においてマスクパターン部532を挟むように形成されている。二つのハーフエッチ部534が一方側、他の二つのハーフエッチ部534が他方側に形成されている。ダミーパターン部533及びハーフエッチ部534は、メタルマスク503が引張に対して均一に伸長するように形成される。ダミーパターン部533及びハーフエッチ部534の有無、数、位置及び形状は設計に依存して任意である。 In FIG. 3C, only two of the four half-etches are indicated at 534 by way of example. The half-etched portions 534 are formed so as to sandwich the mask pattern portion 532 in the X-axis direction. Two half-etched portions 534 are formed on one side and two other half-etched portions 534 are formed on the other side. The dummy pattern portion 533 and the half-etched portion 534 are formed so that the metal mask 503 is uniformly stretched against tension. The presence/absence, number, position and shape of the dummy pattern portion 533 and the half-etched portion 534 are arbitrary depending on the design.

領域537は、マスクパターン部532の一部の拡大図を示す。副画素配列に対応して、第1開口541(以下、開口541とも記す)が規則的配置で形成されている。開口541から、副画素のアノード電極162が露出している。有機発光材料は、開口541を通過して、アノード電極162に付着する。以下に説明するように、本実施例においては、リニアソース400の移動方向(Y軸方向)における開口541のサイズ及びピッチが重要である。 Area 537 shows an enlarged view of a portion of mask pattern portion 532 . First openings 541 (hereinafter also referred to as openings 541) are formed in a regular arrangement corresponding to the sub-pixel array. The anode electrode 162 of the sub-pixel is exposed through the opening 541 . The organic light emitting material passes through opening 541 and adheres to anode electrode 162 . As described below, in this embodiment, the size and pitch of the openings 541 in the moving direction (Y-axis direction) of the linear source 400 are important.

本例において、リニアソース移動方向(Y軸方向)における、開口541の長さを開口幅HWと記す。リニアソース移動方向(Y軸方向)において隣接する開口541間の遮蔽部をブリッジと記す。リニアソース移動方向(Y軸方向)における、ブリッジの長さをブリッジ幅BWと記す。ブリッジ幅BWは、リニアソース移動方向(Y軸方向)において隣接する開口541の、最近エッジ端の距離である。本例の一つのマスクパターン部532において、開口541の開口幅HWは同一であり、ブリッジのブリッジ幅BWは共通である。 In this example, the length of the opening 541 in the linear source moving direction (Y-axis direction) is referred to as opening width HW. A shielding portion between openings 541 adjacent in the linear source movement direction (Y-axis direction) is referred to as a bridge. The length of the bridge in the direction of linear source movement (Y-axis direction) is referred to as bridge width BW. The bridge width BW is the distance between the closest edges of the openings 541 adjacent in the linear source movement direction (Y-axis direction). In one mask pattern portion 532 of this example, the opening width HW of the opening 541 is the same, and the bridge width BW of the bridge is common.

なお、本開示のメタルマスク503は、ストライプ配列、モザイク配列、ペンタル配列等、様々な画素配列に適用することができる。開口541の形状は、設計により決定され、矩形でもよく、矩形以外の形状でもよい。 Note that the metal mask 503 of the present disclosure can be applied to various pixel arrangements such as stripe arrangement, mosaic arrangement, and pental arrangement. The shape of the opening 541 is determined by design, and may be rectangular or non-rectangular.

図4Aは、マスクパターン部532の一部の断面図を示す。図4Aにおいて、マスクパターン部532の上側にマザー基板(図示しない)が配置され、マスクパターン部532の下側をリニアソース400が通過する。図3Cを参照して説明したように、マスクパターン部532は、副画素配列に応じて配置された複数の開口541を有する。以下において、開口541を基準開口とも記す。後述するように、本実施例において、基準開口541は、副画素の有機発光材料の蒸着領域を画定する。 FIG. 4A shows a cross-sectional view of a portion of mask pattern portion 532 . In FIG. 4A , a mother substrate (not shown) is placed above the mask pattern portion 532 and the linear source 400 passes below the mask pattern portion 532 . As described with reference to FIG. 3C, the mask pattern portion 532 has a plurality of openings 541 arranged according to the sub-pixel arrangement. Below, the aperture 541 is also referred to as a reference aperture. As will be described below, in this embodiment the reference aperture 541 defines the deposition area of the organic light emitting material of the sub-pixel.

各基準開口541は、リニアソース側穴(空間)545及びマザー基板側穴(空間)546(第2穴546とも記す)の境界である。リニアソース側穴545は、マスクパターン部532のリニアソース側面538から、例えば、ウェットエッチングにより形成される。リニアソース側穴545は、リニアソース側、つまり、基準開口541の反対側に第2開口543を有する。以下において、第2開口543をリニアソース側開口543とも記す。リニアソース側開口543は、リニアソース側面538と一致する。リニアソース側面538は、リニアソース400と対向する面である。 Each reference opening 541 is a boundary between a linear source side hole (space) 545 and a motherboard side hole (space) 546 (also referred to as a second hole 546). The linear source side hole 545 is formed from the linear source side surface 538 of the mask pattern portion 532 by wet etching, for example. The linear source side hole 545 has a second opening 543 on the linear source side, that is, on the opposite side of the reference opening 541 . The second opening 543 is also referred to as a linear source side opening 543 below. Linear source side opening 543 coincides with linear source side 538 . The linear source side surface 538 is the surface facing the linear source 400 .

マザー基板側穴546は、マスクパターン部532のマザー基板側面539から、例えば、ウェットエッチングにより形成される。マザー基板側面539は、蒸着対象であるマザー基板と対向する面である。マザー基板側穴546は、マザー基板側、つまり、基準開口541の反対側に第3開口547を有する。以下において、第3開口547をマザー基板側開口547とも記す。マザー基板側開口547は、マザー基板側面539と一致する。 The mother-board-side hole 546 is formed from the mother-board side surface 539 of the mask pattern portion 532 by wet etching, for example. The mother substrate side surface 539 is a surface facing the mother substrate to be vapor-deposited. The motherboard-side hole 546 has a third opening 547 on the motherboard side, that is, on the side opposite to the reference opening 541 . In the following, the third opening 547 is also referred to as the motherboard side opening 547 . The motherboard-side opening 547 coincides with the motherboard side surface 539 .

リニアソース側穴545及びマザー基板側穴546それぞれの壁面は、凹傾斜面である。リニアソース側穴545の、リニアソース移動方向(Y軸方向)における幅は、リニアソース側開口543から基準開口541に向かって減少する。マザー基板側穴546の、リニアソース移動方向(Y軸方向)における幅は、マザー基板側開口547から基準開口541に向かって減少する。 Wall surfaces of the linear source side hole 545 and the mother board side hole 546 are concave inclined surfaces. The width of the linear source side hole 545 in the linear source movement direction (Y-axis direction) decreases from the linear source side opening 543 toward the reference opening 541 . The width of the mother-board-side hole 546 in the linear source movement direction (Y-axis direction) decreases from the mother-board-side opening 547 toward the reference opening 541 .

リニアソース側穴545及びマザー基板側穴546を、マスクパターン部532の両面からそれぞれ形成することによって、所望サイズの基準開口541を高精度に作成することができる。 By forming the linear source side hole 545 and the mother board side hole 546 from both sides of the mask pattern portion 532, the reference opening 541 of a desired size can be created with high accuracy.

図3Cを参照して説明したように、リニアソース移動方向(Y軸方向)において、基準開口541の開口幅HWが定義される。また、基準開口541の隣接エッジ間において、ブリッジ幅BWが定義される。 As described with reference to FIG. 3C, the aperture width HW of the reference aperture 541 is defined in the linear source movement direction (Y-axis direction). Also, a bridge width BW is defined between adjacent edges of the reference opening 541 .

図4Bは、マスクパターン部532の法線方向において見た、三つの開口541、543及び547の関係を示す。基準開口541は、リニアソース側開口543及びマザー基板側開口547よりも小さく、それらに含まれている。本例においては、リニアソース側開口543が最も大きいが、マザー基板側開口547が最も大きくてもよい。マザー基板側開口547は省略され、基準開口541がマザー基板側面539と同一面上(マザー基板側開口547の位置)に形成されていてもよい。 FIG. 4B shows the relationship of the three openings 541, 543 and 547 viewed in the normal direction of the mask pattern portion 532. FIG. The reference opening 541 is smaller than and contained in the linear source side opening 543 and the motherboard side opening 547 . In this example, the linear source side opening 543 is the largest, but the motherboard side opening 547 may be the largest. The mother-board-side opening 547 may be omitted, and the reference opening 541 may be formed on the same plane as the mother-board side surface 539 (at the position of the mother-board-side opening 547).

図5、図6は、移動するリニアソース400、マスクパターン部532、及びマザー基板の関係を模式的に示す第1、第2の図である。図5、図6は、リニアソース400の長手方向(X軸方向)に垂直な、Y軸方向を含む断面を示す。図5と後記する図7とにおいて、アノード電極162、アノード電極162に隣接するアノード電極162R1、162L1は、同一色の副画素に含まれるアノード電極であると想定する。 5 and 6 are first and second diagrams schematically showing the relationship between the moving linear source 400, the mask pattern portion 532, and the mother substrate. 5 and 6 show cross sections including the Y-axis direction perpendicular to the longitudinal direction (X-axis direction) of the linear source 400. FIG. 5 and FIG. 7 described later, it is assumed that the anode electrode 162 and the anode electrodes 162R1 and 162L1 adjacent to the anode electrode 162 are anode electrodes included in sub-pixels of the same color.

図6と後記する図8とにおいて、アノード電極162と、アノード電極162に隣接するアノード電極162R2、162L2とは、異なる色の副画素のアノード電極であると想定する。図6、図8の場合、例えば、アノード電極162が青色の副画素に含まれるアノード電極の場合、アノード電極162R2、162L2は赤色の副画素に含まれるアノード電極である。 In FIG. 6 and FIG. 8 described later, it is assumed that the anode electrode 162 and the anode electrodes 162R2 and 162L2 adjacent to the anode electrode 162 are anode electrodes of sub-pixels of different colors. 6 and 8, for example, when the anode electrode 162 is the anode electrode included in the blue sub-pixel, the anode electrodes 162R2 and 162L2 are the anode electrodes included in the red sub-pixel.

他にも、例えば、アノード電極162が青色の副画素に含まれるアノード電極の場合、アノード電極162R2、162L2はそれぞれ赤色、緑色の副画素に含まれるアノード電極である。以下、図5、図6を主に参照しながら、本実施の形態のマスクについて詳細に説明する。 In addition, for example, when the anode electrode 162 is the anode electrode included in the blue sub-pixel, the anode electrodes 162R2 and 162L2 are the anode electrodes included in the red and green sub-pixels, respectively. Hereinafter, the mask of this embodiment will be described in detail mainly with reference to FIGS. 5 and 6. FIG.

マスクパターン部532(マスク503)は、マザー基板に接触している。なお、マザー基板は、アノード電極、アノード電極を絶縁する画素定義層を含む。より具体的には、マザー基板側面539は、スペーサ164の頂面に接触している。画素定義層163の開口から、アノード電極162の表面が露出している。アノード電極162の表面及びアノード電極162の周囲の画素定義層163が、基準開口541から露出している。アノード電極162の表面及びアノード電極162の周囲の画素定義層163に、第1色の有機発光材料、すなわちアノード電極162を含む副画素の有機発光材料は付着する。 The mask pattern portion 532 (mask 503) is in contact with the mother substrate. Note that the mother substrate includes an anode electrode and a pixel definition layer that insulates the anode electrode. More specifically, the motherboard side surface 539 contacts the top surface of the spacer 164 . The surface of the anode electrode 162 is exposed through the opening of the pixel definition layer 163 . The surface of the anode electrode 162 and the pixel defining layer 163 around the anode electrode 162 are exposed through the reference opening 541 . On the surface of the anode electrode 162 and on the pixel defining layer 163 around the anode electrode 162 is deposited the organic light emitting material of the first color, ie the organic light emitting material of the sub-pixel containing the anode electrode 162 .

図6において、アノード電極162R2、162L2を含む副画素の色は、アノード電極162を含む副画素の色と異なるので、アノード電極162R2、162L2の表面が露出せず、アノード電極162を含む副画素の有機発光材料が付着しないようにする。 In FIG. 6, since the color of the sub-pixel including the anode electrodes 162R2 and 162L2 is different from the color of the sub-pixel including the anode electrode 162, the surfaces of the anode electrodes 162R2 and 162L2 are not exposed and the sub-pixel including the anode electrode 162 is not exposed. Avoid adhesion of organic light-emitting materials.

図5、図6は、異なる位置における同一のリニアソース400を示し、さらに、異なる位置のリニアソース400において、ノズル401A及び401Bをそれぞれ示す。図5、図6において、左を向くY軸方向をYA方向、右を向くY軸方向をYB方向と記す。リニアソース400の各ノズル401は、リニアソース移動方向(Y軸方向)における、所定の傾斜角度を有する。 5 and 6 show the same linear source 400 in different positions, and also show nozzles 401A and 401B, respectively, in linear source 400 in different positions. In FIGS. 5 and 6, the leftward Y-axis direction is referred to as the YA direction, and the rightward Y-axis direction is referred to as the YB direction. Each nozzle 401 of the linear source 400 has a predetermined tilt angle in the linear source moving direction (Y-axis direction).

ノズル401Aは、リニアソース400において、YA方向に最も大きな傾斜角度を有する。ノズル401Aから噴出した有機発光材料は、所定の発散角度においてマスクパターン部532及びマザー基板に向かって飛行していく。ノズル401Aから噴出した有機発光材料のマザー基板への入射角度は、YA方向においてθ1Mであり、YB方向においてθ2である。マザー基板への入射角度は、マザー基板の蒸着面(主面)の法線と、有機発光材料の入射方向との角度である。本例において、マスクパターン部532への入射角度は、マザー基板への入射角度と一致する。 The nozzle 401A has the largest tilt angle in the YA direction in the linear source 400 . The organic light-emitting material ejected from the nozzle 401A flies toward the mask pattern portion 532 and the mother substrate at a predetermined divergence angle. The incident angle of the organic light-emitting material ejected from the nozzle 401A onto the mother substrate is θ1M in the YA direction and θ2 in the YB direction. The incident angle to the mother substrate is the angle between the normal line of the vapor deposition surface (principal surface) of the mother substrate and the incident direction of the organic light-emitting material. In this example, the angle of incidence on the mask pattern portion 532 matches the angle of incidence on the mother substrate.

入射角θ1Mは、リニアソース400の、YA方向における最大入射角度である。本例において、入射角θ1Mは、壁405により規定されている。壁405が存在しない構成において、入射角θ1Mは、ノズル401Aの傾斜角により規定される。リニアソース400は、入射角θ1Mで有機発光材料を噴出する複数のノズルを含み得る。 The incident angle θ1M is the maximum incident angle of the linear source 400 in the YA direction. In this example, the incident angle θ1M is defined by wall 405 . In a configuration without wall 405, incident angle θ1M is defined by the tilt angle of nozzle 401A. Linear source 400 may include a plurality of nozzles that eject organic light emitting material at an incident angle θ1M.

ノズル401Bは、リニアソース400において、YB方向に最も大きな傾斜角度を有する。ノズル401Bから噴出した有機発光材料は、所定の発散角度においてマスクパターン部532及びマザー基板に向かって飛行していく。ノズル401Bから噴出した有機発光材料のマザー基板への入射角度は、YA方向においてθ1であり、YB方向においてθ2Mである。 Nozzle 401B has the largest tilt angle in the YB direction in linear source 400 . The organic light-emitting material ejected from the nozzle 401B flies toward the mask pattern portion 532 and the mother substrate at a predetermined divergence angle. The incident angle of the organic light-emitting material ejected from the nozzle 401B onto the mother substrate is θ1 in the YA direction and θ2M in the YB direction.

入射角θ2Mは、リニアソース400の、YB方向における最大入射角度である。本例において、入射角θ2Mは、壁405により規定されている。壁405が存在しない構成において、入射角θ2Mは、ノズル401Bの傾斜角により規定される。リニアソース400は、入射角θ2Mで有機発光材料を噴出する複数のノズルを含み得る。 The incident angle θ2M is the maximum incident angle of the linear source 400 in the YB direction. In this example, the incident angle θ 2 M is defined by wall 405 . In a configuration without wall 405, incident angle θ2M is defined by the tilt angle of nozzle 401B. Linear source 400 may include multiple nozzles that eject organic light emitting material at an incident angle of θ2M.

マスクパターン部532において、ステップハイトSHが定義される。ステップハイトSHは、基準開口541とマザー基板側開口547との間の法線方向における距離であり、マザー基板側穴546の深さに相当する。 A step height SH is defined in the mask pattern portion 532 . The step height SH is the distance in the normal direction between the reference opening 541 and the motherboard side opening 547 and corresponds to the depth of the motherboard side hole 546 .

マスクパターン部532において、テーパアングルθT及びステップアングルθSが定義される。図5、図6は、符号により指示されているリニアソース側穴545及びマザー基板側穴546と異なる位置において、テーパアングルθT及びステップアングルθSを示す。同様の角度が、図5が示すリニアソース側穴545及びマザー基板側穴546において定義される。 A taper angle θT and a step angle θS are defined in the mask pattern portion 532 . 5 and 6 show the taper angle θT and the step angle θS at positions different from the linear source side hole 545 and the mother board side hole 546 indicated by the reference numerals. Similar angles are defined at linear source side holes 545 and motherboard side holes 546 shown in FIG.

テーパアングルθTは、リニアソース側穴545のテーパアングルを示す。テーパアングルθTは、リニアソース側開口543のエッジと基準開口541のエッジとを結ぶ線と、Y軸方向との間の角度(鋭角)である。 A taper angle θT indicates the taper angle of the linear source side hole 545 . The taper angle θT is the angle (acute angle) between the line connecting the edge of the linear source side opening 543 and the edge of the reference opening 541 and the Y-axis direction.

ステップアングルθSは、マザー基板側穴546のテーパアングルを示す。ステップアングルθSは、マザー基板側開口547のエッジと基準開口541のエッジとを結ぶ線と、Y軸方向との間の角度(鋭角)である。 A step angle θS indicates a taper angle of the motherboard side hole 546 . The step angle θS is an angle (acute angle) between a line connecting the edge of the mother board side opening 547 and the edge of the reference opening 541 and the Y-axis direction.

マスクパターン部532とアノード電極162との間において、アノードデプスADが定義されている。アノードデプスADは、アノード電極162の表面(蒸着面)と、マスクパターン部532のマザー基板側面539と、の間の法線方向における距離である。アノード電極162の表面と基準開口541との間の法線方向における距離(D1)は、アノードデプスADとステップハイトSHとの和である。 An anode depth AD is defined between the mask pattern portion 532 and the anode electrode 162 . The anode depth AD is the distance in the normal direction between the surface (vapor deposition surface) of the anode electrode 162 and the mother substrate side surface 539 of the mask pattern portion 532 . The distance (D1) in the normal direction between the surface of the anode electrode 162 and the reference opening 541 is the sum of the anode depth AD and the step height SH.

図5の例において、リニアソース側穴545及びマザー基板側穴546は左右対称である。したがって、リニアソース側穴545の左右のテーパアングルθTの値は同一である。また、マザー基板側穴546の左右のステップアングルθSの値は同一である。また、アノード電極162、マザー基板側開口547、基準開口541及びリニアソース側開口543の中心位置は、一つのマザー基板法線上に位置する。基準開口541に露出するアノード電極162及び画素定義層163の形状は、左右対称である。 In the example of FIG. 5, the linear source side hole 545 and the motherboard side hole 546 are symmetrical. Therefore, the values of the left and right taper angles θT of the linear source side hole 545 are the same. Also, the values of the step angles θS on the left and right sides of the motherboard side hole 546 are the same. Further, the central positions of the anode electrode 162, the mother substrate side opening 547, the reference opening 541, and the linear source side opening 543 are located on one mother substrate normal line. The shapes of the anode electrode 162 and the pixel defining layer 163 exposed in the reference opening 541 are symmetrical.

有機発光材料の入射角と、マスクパターン部532の形状とから、マザー基板において有機発光材料が付着する領域についての距離S1L、S1R及び距離S2L、S2Rが決定される。距離S1L、S2Lは、図5における、基準開口541の左側の距離である。距離S1R、S2Rは、図5における、基準開口541の右側の距離である。 The distances S1L, S1R and the distances S2L, S2R for the regions of the mother substrate where the organic light emitting material adheres are determined from the incident angle of the organic light emitting material and the shape of the mask pattern portion 532 . Distances S1L and S2L are distances to the left of the reference opening 541 in FIG. Distances S1R and S2R are distances on the right side of the reference opening 541 in FIG.

距離S1L、S1Rは、基準開口541のエッジと、アノード電極162上で均一に有機材料が付着される領域のエッジとの間のY軸方向における距離である。距離S2L、S2Rは、基準開口541のエッジと、基準開口541を通過した有機発光材料が付着し得る領域のエッジとの間のY軸方向における距離である。有機発光材料が付着し得る領域は、アノード電極162の蒸着面を基準として決定される。 The distances S1L and S1R are the distances in the Y-axis direction between the edge of the reference opening 541 and the edge of the area on the anode electrode 162 where the organic material is uniformly deposited. The distances S2L and S2R are the distances in the Y-axis direction between the edge of the reference opening 541 and the edge of the region where the organic light-emitting material passing through the reference opening 541 may adhere. The area where the organic light emitting material can adhere is determined based on the deposition surface of the anode electrode 162 .

左側の距離S1Lは、右側に傾いているノズル401Bから噴出した有機発光材料により決まる。距離S1Lが示す位置よりも右側において、移動しているノズル401Bから噴出した全ての角度の有機発光材料が、アノード電極162に付着する。後述するように、本例において、有機発光材料の付着領域は、基準開口541により決定される。ノズル401Bから入射する有機発光材料が基準開口541の左側エッジで全て遮蔽される直前の有機発光材料付着位置が、距離S1Lを規定する。 The distance S1L on the left side is determined by the organic luminescent material ejected from the nozzle 401B tilted to the right. On the right side of the position indicated by the distance S1L, the organic light emitting material ejected from the moving nozzle 401B adheres to the anode electrode 162 at all angles. As will be described later, in this example, the deposition area of the organic light emitting material is determined by the reference opening 541 . The organic light-emitting material deposition position immediately before the organic light-emitting material incident from the nozzle 401B is completely blocked by the left edge of the reference opening 541 defines the distance S1L.

具体的には、距離S1Lは次の数式(1)で表わされる。
S1L=(SH+AD)×tan(θ2M) (1)
Specifically, the distance S1L is represented by the following formula (1).
S1L=(SH+AD)×tan(θ2M) (1)

右側の距離S1Rは、左側に傾いているノズル401Aから噴出した有機発光材料により決まる。距離S1Rが示す位置よりも左側において、移動しているノズル401Aから入射する全ての角度の有機発光材料が、アノード電極162に付着する。ノズル401Aから噴出した有機発光材料が基準開口541の右側エッジで全て遮蔽される直前の有機発光材料付着位置が、距離S1Rを規定する。 The right distance S1R is determined by the organic luminescent material ejected from the nozzle 401A tilted to the left. On the left side of the position indicated by the distance S1R, the organic light-emitting material at all angles incident from the moving nozzle 401A adheres to the anode electrode 162. FIG. The organic light emitting material adhesion position immediately before the organic light emitting material ejected from the nozzle 401A is completely blocked by the right edge of the reference opening 541 defines the distance S1R.

具体的には、距離S1Rは次の数式(2)で表わされる。
S1R=(SH+AD)×tan(θ1M) (2)
Specifically, the distance S1R is represented by the following formula (2).
S1R=(SH+AD)×tan(θ1M) (2)

左側の距離S2Lは、左側に傾いているノズル401Aから噴出した有機発光材料により決まる。距離S2Lが示す位置が、ノズル401Aから基準開口541を通過した有機発光材料が付着する領域のエッジである。ノズル401Aから角度θ1Mにおいて入射した有機発光材料が、基準開口541の左側エッジで遮蔽される直前の有機発光材料付着位置が、距離S2Lを規定する。 The left distance S2L is determined by the organic luminescent material ejected from the nozzle 401A tilted to the left. The position indicated by the distance S2L is the edge of the region where the organic light-emitting material that has passed through the reference opening 541 from the nozzle 401A adheres. The organic light-emitting material deposition position just before the organic light-emitting material incident at the angle θ1M from the nozzle 401A is blocked by the left edge of the reference opening 541 defines the distance S2L.

具体的には、距離S2Lは次の数式(3)で表わされる。
S2L=(SH+AD)×tan(θ1M) (3)
Specifically, the distance S2L is represented by the following formula (3).
S2L=(SH+AD)×tan(θ1M) (3)

右側の距離S2Rは、右側に傾いているノズル401Bから噴出した有機発光材料により決まる。距離S2Rが示す位置が、ノズル401Bから基準開口541を通過した有機発光材料が付着する領域のエッジである。ノズル401Bから角度θ2Mにおいて入射した有機発光材料が、基準開口541の右側エッジで遮蔽される直前の有機発光材料付着位置が、距離S2Rを規定する。 The right distance S2R is determined by the organic luminescent material ejected from the nozzle 401B tilted to the right. The position indicated by the distance S2R is the edge of the region where the organic light-emitting material that has passed through the reference opening 541 from the nozzle 401B adheres. The organic light-emitting material deposition position immediately before the organic light-emitting material incident at the angle θ2M from the nozzle 401B is blocked by the right edge of the reference opening 541 defines the distance S2R.

具体的には、距離S2Lは次の数式(4)で表わされる。
S2R=(SH+AD)×tan(θ2M) (4)
Specifically, the distance S2L is represented by the following formula (4).
S2R=(SH+AD)×tan(θ2M) (4)

上記数式(1)から(4)が示すように、S1L=S2R、及び、S2L=S1Rが成立する。YA方向の最大入射角度θ1MとYB方向の最大入射角度θ2Mとが同一である場合、S1L=S1R=S2R=S2Rが成立する。 As shown by the above formulas (1) to (4), S1L=S2R and S2L=S1R are established. When the maximum incident angle θ1M in the YA direction and the maximum incident angle θ2M in the YB direction are the same, S1L=S1R=S2R=S2R.

以下において、メタルマスク503(マスクパターン部532)の上記数値が満たすべき条件を説明する。有機発光材料の蒸着は、高精度な蒸着位置制御が要求される。そのため、マザー基板への有機発光材料の蒸着領域は、マスクパターン部532のリニアソース側開口543及びマザー基板側開口547に影響されず、基準開口541によって制御されることが重要である。基準開口541を高精度に作成することで、有機発光材料の蒸着領域を高精度に制御することができる。 The conditions that the above numerical values of the metal mask 503 (mask pattern portion 532) should satisfy will be described below. Vapor deposition of organic light-emitting materials requires highly accurate deposition position control. Therefore, it is important that the deposition area of the organic light emitting material on the mother substrate is controlled by the reference opening 541 without being affected by the linear source side opening 543 and the mother substrate side opening 547 of the mask pattern portion 532 . By creating the reference opening 541 with high precision, the deposition area of the organic light-emitting material can be controlled with high precision.

有機発光材料の蒸着領域を基準開口541によってのみ制御するため、テーパアングルθT及びステップアングルθSは、有機発光材料の最大入射角θ1M及びθ2Mと所定の関係を満たすことが必要である。 Since the deposition area of the organic light emitting material is controlled only by the reference opening 541, the taper angle θT and the step angle θS must satisfy a predetermined relationship with the maximum incident angles θ1M and θ2M of the organic light emitting material.

具体的には、テーパアングルθTは以下の数式(5)、(6)を満たすことが必要である。
θT<90-θ1M (5)
θT<90-θ2M (6)
Specifically, the taper angle θT must satisfy the following formulas (5) and (6).
θT<90−θ1M (5)
θT<90−θ2M (6)

数式(5)、(6)が満たされることにより、距離S1L、S2L、S1R、及びS2Rを、テーパアングルθTから独立の値とすることができる。ここで、数式(5)、(6)は、数式(7)と同義である。
θT<90-max(θ1M、θ2M) (7)
max(θ1M、θ2M)は、θ1M、θ2Mのうちの大きい値である。
By satisfying equations (5) and (6), the distances S1L, S2L, S1R, and S2R can be independent values from the taper angle θT. Here, formulas (5) and (6) are synonymous with formula (7).
θT<90-max(θ1M, θ2M) (7)
max(θ1M, θ2M) is the larger value of θ1M and θ2M.

数式(7)が満たされる場合、移動するリニアソース400からの有機発光材料は、まず、リニアソース側開口543を通過した後、基準開口541を通過することなく、遮蔽部(ブリッジ)により遮蔽される。その後、リニアソース400がさらに移動すると、有機発光材料は、基準開口541を通過するようになる。この現象は、YA方向の移動及びYB方向の移動において同様である。 When the formula (7) is satisfied, the organic light-emitting material from the moving linear source 400 first passes through the linear source side opening 543 and then is blocked by the blocking portion (bridge) without passing through the reference opening 541. be. Thereafter, as the linear source 400 moves further, the organic light emitting material will pass through the reference opening 541 . This phenomenon is the same for movement in the YA direction and movement in the YB direction.

数式(7)が満たされない場合、特に、距離S1L又は距離S1Rが、リニアソース側開口543により規定される。数式(7)が満たされることで、アノード電極162上の均一蒸着領域を基準開口541により高精度に規定できる。 In particular, the distance S1L or the distance S1R is defined by the linear source side aperture 543 if equation (7) is not satisfied. By satisfying the formula (7), the uniform deposition area on the anode electrode 162 can be defined with high accuracy by the reference opening 541 .

ステップアングルθSは以下の数式(8)、(9)を満たすことが必要である。
θS<90-θ1M (8)
θS<90-θ2M (9)
The step angle θS must satisfy the following formulas (8) and (9).
θS<90−θ1M (8)
θS<90−θ2M (9)

数式(8)、(9)が満たされることにより、距離S1L、S2L、S1R、及びS2Rを、ステップアングルθSから独立の値とすることができる。ここで、数式(8)、(9)は、数式(10)と同義である。
θS<90-max(θ1M、θ2M) (10)
By satisfying equations (8) and (9), the distances S1L, S2L, S1R, and S2R can be independent values from the step angle θS. Here, formulas (8) and (9) are synonymous with formula (10).
θS<90-max (θ1M, θ2M) (10)

数式(10)が満たされる場合、基準開口541を通過した全ての有機発光材料は、マザー基板側開口547を通過する。有機発光材料が、マザー基板側開口547のエッジによって遮蔽されることはない。 When the formula (10) is satisfied, all the organic light-emitting materials that have passed through the reference opening 541 pass through the motherboard-side opening 547 . The organic light-emitting material is not blocked by the edge of the motherboard-side opening 547 .

数式(10)が満たされない場合、特に、距離S2L又は距離S2Rが、マザー基板側開口547により規定される。数式(10)が満たされることで、蒸着領域エッジを基準開口541により高精度に規定できる。 In particular, the distance S2L or the distance S2R is defined by the motherboard-side opening 547 when the formula (10) is not satisfied. By satisfying Expression (10), the deposition region edge can be defined with high precision by the reference opening 541 .

OLED表示装置の設計は、製造されたOLED表示装置において、距離S1L、S2L、S1R、及びS2Rが、規定範囲内に含まれることを要求する。具体的には、距離S1L、S2L、S1R、及びS2Rそれぞれの許容最大値S1LM、S2LM、S1RM、及び、S2RMが定義される。 OLED display design requires that the distances S1L, S2L, S1R, and S2R fall within specified ranges in a manufactured OLED display. Specifically, allowable maximum values S1LM, S2LM, S1RM, and S2RM are defined for the distances S1L, S2L, S1R, and S2R, respectively.

例えば、S1LM、S1RMは、基準開口541のエッジからアノード電極162の露出面のエッジまでの、Y軸方向における距離である。S2LM、S2RMは、基準開口541のエッジから、アノード電極162に隣接する隣接副画素電極(例えば、アノード電極162L2、162R2)の露出面のエッジまでの、Y軸方向における距離である。 For example, S1LM and S1RM are distances in the Y-axis direction from the edge of the reference opening 541 to the edge of the exposed surface of the anode electrode 162 . S2LM and S2RM are the distances in the Y-axis direction from the edge of the reference aperture 541 to the edge of the exposed surface of the adjacent subpixel electrodes adjacent to the anode electrode 162 (eg, the anode electrodes 162L2 and 162R2).

許容最大値S1Mにより、各副画素の必要な発光特性を実現する。許容最大値S2Mにより、特定の副画素の有機発光材料が、隣接する副画素に侵入し、カラーミックスが発生することを防ぐ。 The allowable maximum value S1M achieves the required emission characteristics of each sub-pixel. The maximum allowable value S2M prevents the organic light-emitting material of a particular sub-pixel from encroaching on adjacent sub-pixels and causing color mixing.

以上の観点から、以下の数式(11)から(14)が成立することが要求される。
S1LM>S1L=(SH+AD)×tan(θ2M) (11)
S1RM>S1R=(SH+AD)×tan(θ1M) (12)
S2LM>S2L=(SH+AD)×tan(θ1M) (13)
S2RM>S2R=(SH+AD)×tan(θ2M) (14)
From the above point of view, it is required that the following formulas (11) to (14) hold.
S1LM>S1L=(SH+AD)×tan(θ2M) (11)
S1RM>S1R=(SH+AD)×tan(θ1M) (12)
S2LM>S2L=(SH+AD)×tan(θ1M) (13)
S2RM>S2R=(SH+AD)×tan(θ2M) (14)

max(S1LM、S1RM)をS1Mとし、max(S2LM、S2RM)をS2Mとし、さらに、max(θ1M、θ2M)をθMとする。数式(11)及び数式(12)は、下記数式(15)で表わされ、数式(13)及び数式(14)は、下記数式(16)で表わされる。
S1M(SY)>(SH+AD)×tan(θM) (15)
S2M(SX)>(SH+AD)×tan(θM) (16)
Let max(S1LM, S1RM) be S1M, max(S2LM, S2RM) be S2M, and max(θ1M, θ2M) be θM. Equations (11) and (12) are represented by Equation (15) below, and Equations (13) and (14) are represented by Equation (16) below.
S1M(SY)>(SH+AD)×tan(θM) (15)
S2M(SX)>(SH+AD)×tan(θM) (16)

式(16)を満たすことにより、例えば図6において、アノード電極162を含む第1の副画素の第1色の有機発光材料が、第1の副画素に隣接する第2の副画素に含まれる隣接アノード電極(例えば、アノード電極162L2)に蒸着することを防ぐことができる。その結果、カラーミックスの発生を抑制できる。なお、第2の副画素は、第2色の副画素であり、この隣接アノード電極には、第1色の有機発光材料が蒸着されずに、第2色の有機発光材料が蒸着されることが好ましい。 By satisfying equation (16), for example in FIG. 6, the organic light-emitting material of the first color of the first sub-pixel including the anode electrode 162 is included in the second sub-pixel adjacent to the first sub-pixel. Deposition on the adjacent anode electrode (eg, anode electrode 162L2) can be prevented. As a result, the occurrence of color mix can be suppressed. Note that the second sub-pixel is a sub-pixel of the second color, and the organic light-emitting material of the second color is deposited on the adjacent anode electrode without depositing the organic light-emitting material of the first color. is preferred.

OLED表示装置10の製造工程の一つである有機発光材料の蒸着ステップは、数式(5)及び(6)を満たす条件において実行される。さらに、蒸着ステップは、数式(11)から(14)、又は数式(15)及び(16)を満たす条件において実行される。アノード電極162上の有機発光膜の均一性への要求が低い場合に、設計によっては、数式(11)及び(12)(数式15)は、製造条件に含まれていなくてもよい。 The vapor deposition step of the organic light-emitting material, which is one of the manufacturing processes of the OLED display device 10, is performed under conditions that satisfy Equations (5) and (6). Furthermore, the deposition step is performed under conditions that satisfy equations (11) to (14), or equations (15) and (16). In some designs, equations (11) and (12) (equation 15) may not be included in the manufacturing conditions when the uniformity of the organic light-emitting film on the anode electrode 162 is less demanding.

同様に、メタルマスク503は、数式(5)及び(6)を満たす構造を有する(ように製造される)。さらに、メタルマスク503は、数式(11)から(14)、又は数式(15)及び(16)を満たす構造を有する(ように製造される)。メタルマスク503に対して、S1LM、S1RM、S2LM、S2RM、AD、θ1M、及びθ2Mは所与の値である。 Similarly, metal mask 503 has (is manufactured to) a structure that satisfies equations (5) and (6). Further, the metal mask 503 has (is manufactured to) a structure that satisfies equations (11) to (14), or equations (15) and (16). For metal mask 503, S1LM, S1RM, S2LM, S2RM, AD, θ1M, and θ2M are given values.

メタルマスク503のステップアングルθSは、数式(5)及び(6)を満たし、ステップハイトSHは、数式(15)及び(16)を満たす。また、メタルマスク503がこれらの条件を満たすように、メタルマスク503は製造される。上述のように、設計によっては、数式(15)の条件が省略されてもよい。 The step angle θS of the metal mask 503 satisfies equations (5) and (6), and the step height SH satisfies equations (15) and (16). Moreover, the metal mask 503 is manufactured so that the metal mask 503 satisfies these conditions. As described above, the condition of Equation (15) may be omitted depending on the design.

図7、図8は、リニアソース400、マスクパターン部532、及びマザー基板の関係を模式的に示す。図7、図8は、リニアソース400の移動方向(Y軸方向)に垂直な、X軸方向を含む、断面を示し、それぞれ図5、図6に対応している。 7 and 8 schematically show the relationship between the linear source 400, the mask pattern section 532, and the mother substrate. 7 and 8 show cross sections including the X-axis direction perpendicular to the movement direction (Y-axis direction) of the linear source 400, and correspond to FIGS. 5 and 6, respectively.

テーパアングルθT及びステップアングルθSは、図5に示すY軸方向における値とは異なっていても同一でもよい。距離S1L、S1R、S2L、S2Rについても同様である。X軸方向については、テーパアングルθTが小さければ小さい程遮断される有機発光材料が少なくなる。ただし、ノズル401からの噴出する方向は、垂直方向を中心とする所定の分布角度を有するため、必要以上にテーパアングルθTを小さくする必要はない。 The taper angle θT and the step angle θS may be different from or the same as the values in the Y-axis direction shown in FIG. The same applies to the distances S1L, S1R, S2L, and S2R. Regarding the X-axis direction, the smaller the taper angle θT, the less the organic light-emitting material that is blocked. However, since the direction of ejection from the nozzle 401 has a predetermined distribution angle centered on the vertical direction, it is not necessary to make the taper angle θT smaller than necessary.

図7、図8に示すように、複数のノズル401がX軸方向に配列されている。一つの副画素に対する有機発光材の蒸着の観点から、ノズル401の配置領域は、テーパアングルによって、複数のセクションに分割される。 As shown in FIGS. 7 and 8, a plurality of nozzles 401 are arranged in the X-axis direction. From the viewpoint of vapor deposition of the organic light emitting material for one sub-pixel, the arrangement area of the nozzle 401 is divided into a plurality of sections by the taper angle.

具体的には、ノズル配置領域は、一つの均一蒸着範囲601、二つの一部蒸着範囲603、及び二つの蒸着不可範囲605に分割される。均一蒸着範囲601は、二つの一部蒸着範囲603に挟まれ、二つの一部蒸着範囲603は、二つの蒸着不可範囲605に挟まれている。 Specifically, the nozzle arrangement area is divided into one uniform deposition range 601 , two partial deposition ranges 603 , and two non-deposition ranges 605 . The uniform vapor deposition range 601 is sandwiched between two partial vapor deposition ranges 603 , and the two partial vapor deposition ranges 603 are sandwiched between two non-depositable ranges 605 .

均一蒸着範囲601のノズル401から噴出する全ての有機発光材料は、基板上で均一蒸着が要求される領域に付着する。一部蒸着範囲603のノズル401から噴出する一部のみの有機発光材料が、基板上で均一蒸着が要求される領域に付着する。蒸着不可範囲605のノズル401から噴出する有機発光材料は、基板上で均一蒸着が要求される領域に付着しない。 All of the organic light-emitting material ejected from the nozzle 401 in the uniform deposition area 601 adheres to the areas where uniform deposition is desired on the substrate. Only a portion of the organic light-emitting material ejected from the nozzle 401 in the partial deposition area 603 adheres to the area where uniform deposition is required on the substrate. The organic light emitting material ejected from the nozzle 401 in the non-evaporation area 605 does not adhere to the area where uniform evaporation is required on the substrate.

以下において、製造における誤差を考慮した設計及び製造方法について説明する。例えば、メタルマスク503の製造、メタルマスクモジュール500の組み立て、及び、メタルマスクモジュール500とマザー基板との位置合わせを、それぞれ、常に誤差なく行うことは困難である。 A design and manufacturing method that considers manufacturing errors will be described below. For example, it is difficult to always manufacture the metal mask 503, assemble the metal mask module 500, and align the metal mask module 500 and the mother substrate without error.

そのため、メタルマスク503の設計及びそのメタルマスク503を使用した蒸着工程において、OLED表示装置10の製造のための工程マージンが予め定義される。工程マージンを考慮して設計及び製造することによって、より確実に、マザー基板上の所望の領域にメタルマスク503を介して有機発光材料を蒸着することができる。 Therefore, in the design of the metal mask 503 and the vapor deposition process using the metal mask 503, a process margin for manufacturing the OLED display device 10 is defined in advance. By designing and manufacturing in consideration of process margins, the organic light-emitting material can be vapor-deposited through the metal mask 503 on a desired region on the mother substrate more reliably.

メタルマスク503において、考慮すべきばらつきは、開口ピッチばらつき、開口サイズばらつき、及びアライメントばらつきである。これら全てを含むトータルばらつきを考慮してメタルマスク503及びOLED表示装置10の製造システムを設計することで、より確実に、マザー基板上の所望の領域にメタルマスク503を介して有機発光材料を蒸着することができる。 Variations to be considered in the metal mask 503 are aperture pitch variation, aperture size variation, and alignment variation. By designing the manufacturing system of the metal mask 503 and the OLED display device 10 in consideration of the total variation including all of these, the organic light-emitting material can be vapor-deposited through the metal mask 503 on the desired area on the mother substrate more reliably. can do.

メタルマスク503の設計において、開口ピッチの規定偏差ΔTp、開口サイズの規定偏差ΔCd及びアライメントの規定偏差ΔAeが予め決められている。メタルマスク設計は、これらの偏差のトータル偏差を含む所定条件を満たすように、メタルマスク503を設計する。 In designing the metal mask 503, a prescribed deviation ΔTp of the aperture pitch, a prescribed deviation ΔCd of the aperture size, and a prescribed deviation ΔAe of the alignment are determined in advance. In the metal mask design, the metal mask 503 is designed so as to satisfy predetermined conditions including the total deviation of these deviations.

図9Aは、開口ピッチの規定偏差ΔTpを説明するための図を示す。開口ピッチの規定偏差ΔTpは、メタルマスクモジュール500における開口ピッチの設計値に対する、実際の値の偏差(の設計値)を示す。X軸方向における開口ピッチの規定偏差ΔTpxとY軸方向における開口ピッチの規定偏差ΔTpyが存在する。本実施形態は、特に、Y軸方向における開口ピッチの規定偏差ΔTpyを考慮して、マスク設計を行う。 FIG. 9A shows a diagram for explaining the specified deviation ΔTp of the opening pitch. The prescribed deviation ΔTp of the opening pitch indicates the deviation (design value) of the actual value with respect to the design value of the opening pitch in the metal mask module 500 . There are a specified deviation ΔTpx of the aperture pitch in the X-axis direction and a specified deviation ΔTpy of the aperture pitch in the Y-axis direction. In this embodiment, the mask is designed in consideration of the specified deviation ΔTpy of the opening pitch in the Y-axis direction.

図9Bは、開口サイズの規定偏差ΔCdを説明するための図を示す。開口サイズの規定偏差ΔTpは、メタルマスクモジュール500における開口サイズの設計値に対する、実際の値の偏差(の設計値)を示す。X軸方向における開口サイズの規定偏差ΔCdxとY軸方向における開口サイズの規定偏差ΔCdyが存在する。本実施形態は、特に、Y軸方向における開口サイズの規定偏差ΔCdyを考慮して、マスク設計を行う。 FIG. 9B shows a diagram for explaining the specified deviation ΔCd of the aperture size. The prescribed deviation ΔTp of the aperture size indicates the deviation (design value) of the actual value from the design value of the aperture size in the metal mask module 500 . There are a specified deviation ΔCdx of the aperture size in the X-axis direction and a specified deviation ΔCdy of the aperture size in the Y-axis direction. In this embodiment, the mask is designed in consideration of the specified deviation ΔCdy of the aperture size in the Y-axis direction.

図9Cは、アライメントの規定偏差ΔAeを説明するための図を示す。アライメントの規定偏差ΔAeは、マスクパターン部532のマザー基板に対する位置決めにおける、設計値に対する、実際の値の偏差(の設計値)を示す。X軸方向におけるアライメントの規定偏差ΔAexとY軸方向におけるアライメントの規定偏差ΔAeyが存在する。本実施形態は、特に、Y軸方向におけるアライメントの規定偏差ΔAeyを考慮して、マスク設計を行う。 FIG. 9C shows a diagram for explaining the prescribed alignment deviation ΔAe. The specified deviation ΔAe of alignment indicates the deviation (design value) of the actual value from the design value in the positioning of the mask pattern portion 532 with respect to the mother substrate. There is an alignment deviation ΔAex in the X-axis direction and an alignment deviation ΔAey in the Y-axis direction. In this embodiment, the mask is designed in consideration of the alignment deviation ΔAey in the Y-axis direction.

メタルマスク設計は、数式(7)及び(10)に加え、以下の数式17から20、又は、数式21及び22を満たすように、メタルマスク503を設計する。 In the metal mask design, the metal mask 503 is designed so as to satisfy the following Equations 17 to 20 or Equations 21 and 22 in addition to Equations (7) and (10).

S1LM>S1L=(SH+AD)×tan(θ2M)
+(ΔTp+ΔCd+ΔAe1/2 (17)
S1RM>S1R=(SH+AD)×tan(θ1M)
+(ΔTp+ΔCd+ΔAe1/2 (18)
S2LM>S2L=(SH+AD)×tan(θ1M)
+(ΔTp+ΔCd+ΔAe1/2 (19)
S2RM>S2R=(SH+AD)×tan(θ2M)
+(ΔTp+ΔCd+ΔAe1/2 (20)
S1LM>S1L=(SH+AD)×tan(θ2M)
+(ΔTp 2 +ΔCd 2 +ΔAe 2 ) 1/2 (17)
S1RM>S1R=(SH+AD)×tan(θ1M)
+(ΔTp 2 +ΔCd 2 +ΔAe 2 ) 1/2 (18)
S2LM>S2L=(SH+AD)×tan(θ1M)
+(ΔTp 2 +ΔCd 2 +ΔAe 2 ) 1/2 (19)
S2RM>S2R=(SH+AD)×tan(θ2M)
+(ΔTp 2 +ΔCd 2 +ΔAe 2 ) 1/2 (20)

S1M>(SH+AD)×tan(θM)
+(ΔTp+ΔCd+ΔAe1/2 (21)
S2M>(SH+AD)×tan(θM)
+(ΔTp+ΔCd+ΔAe1/2 (22)
S1M>(SH+AD)×tan(θM)
+(ΔTp 2 +ΔCd 2 +ΔAe 2 ) 1/2 (21)
S2M>(SH+AD)×tan(θM)
+(ΔTp 2 +ΔCd 2 +ΔAe 2 ) 1/2 (22)

ここで、ステップハイトSH以外の数値は、メタルマスク設計において所与の値である。OLED表示装置10の製造は、上記条件に従って設計されたメタルマスク503を使用して、有機発光材料をマザー基板に蒸着させる。 Here, numerical values other than the step height SH are given values in the metal mask design. In manufacturing the OLED display device 10, the metal mask 503 designed according to the above conditions is used to vapor-deposit the organic light-emitting material on the mother substrate.

以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明が上記の実施形態に限定されるものではない。当業者であれば、上記の実施形態の各要素を、本発明の範囲において容易に変更、追加、変換することが可能である。ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。 Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiments. A person skilled in the art can easily change, add, and convert each element of the above embodiments within the scope of the present invention. A part of the configuration of one embodiment can be replaced with the configuration of another embodiment, and it is also possible to add the configuration of another embodiment to the configuration of one embodiment.

特許請求範囲に記載されている構成に加え、本開示の特徴の概要を以下に記載する。
(1)
OLED表示装置の製造方法であって、
複数のノズルを含むリニアソースを第1方向に移動しながら、基板上の電極面に、マスクを介して、有機発光材料を蒸着することを含み、
前記マスクは、前記リニアソースへの対向面に形成された複数の穴を含み、
前記複数の穴の各穴は、第1開口と、前記第1開口と前記リニアソースとの間に位置し、前記第1開口より大きい第2開口とを含み、
前記第1開口から前記電極面までの距離D1
前記第1方向における前記有機発光材料の最大入射角θM
前記第1開口のエッジから前記第1方向における隣接副画素電極までの距離SX
前記第1開口のエッジと前記第2開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるテーパアングルθT
として、
θT<90-θM
SX>D1tan(θM)
が満たされている、製造方法。
(2)
(1)に記載の製造方法であって、
前記マスクは、前記リニアソースへの前記対向面の反対面に、前記複数の穴それぞれと重なる複数の第2穴を含み、
前記複数の第2穴のそれぞれは、前記第1開口と前記基板との間に位置し、前記第1開口より大きい第3開口を含み、
前記第1開口のエッジと前記第3開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるステップアングルθSは、
θS<90-θM
を満たす、製造方法。
(3)
(1)又は(2)に記載の製造方法であって、
前記第1開口のエッジから前記第1開口から露出する電極面までの距離SYは、
SY>D1tan(θM)
を満たす、製造方法。
(4)
(1)、(2)又は(3)に記載の製造方法であって、
開口ピッチの規定偏差ΔTp
開口サイズの規定偏差ΔCd
アライメントの規定偏差ΔAe
が定義されており、
SX>D1tan(θM)+(ΔTp+ΔCd+ΔAe1/2
を満たす、製造方法。
(5)
(4)に記載の製造方法であって、
SY>D1tan(θM)+(ΔTp+ΔCd+ΔAe1/2
を満たす、製造方法。
(6)
(1)に記載の製造方法であって、
前記有機発光材料は、第1色の有機発光材料であって、
前記隣接副画素電極には、第2色の有機発光材料が蒸着される、製造方法。
(7)
複数のノズルを含み第1方向に移動するリニアソースと基板上の電極面との間に配置さ
れ、前記電極面に対する有機発光材料の蒸着において使用されるマスクであって、
前記リニアソースへの対向面に形成された複数の穴を含み、
前記複数の穴の各穴は、第1開口と、前記第1開口と前記リニアソースとの間に位置し、前記第1開口より大きい第2開口とを含み、
前記第1開口から前記電極面までの距離D1
前記第1方向における前記有機発光材料の最大入射角θM
前記第1開口のエッジから前記第1方向における隣接副画素電極までの距離SX
前記第1開口のエッジと前記第2開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるテーパアングルθT
として、
θT<90-θM
SX>D1tan(θM)
を満たす、マスク。
(8)
(7)に記載のマスクであって、
前記リニアソースへの前記対向面の反対面に、前記複数の穴それぞれと重なる複数の第2穴を含み、
前記複数の第2穴のそれぞれは、前記第1開口と前記基板との間に位置し、前記第1開口より大きい第3開口を含み、
前記第1開口のエッジと前記第3開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるステップアングルθSは、
θS<90-θM
を満たす、マスク。
(9)
(7)又は(8)に記載のマスクであって、
前記第1開口のエッジから前記第1開口から露出する面までの距離SYは、
SY>D1tan(θM)
を満たす、マスク。
(10)
(7)、(8)又は(9)に記載のマスクであって、
前記第1開口のピッチの規定偏差ΔTp
前記第1開口のサイズの規定偏差ΔCd
アライメントの規定偏差ΔAe
が定義されており、
SX>D1tan(θM)+(ΔTp+ΔCd+ΔAe1/2
を満たす、マスク。
(11)
(10)に記載のマスクであって、
SY>D1tan(θM)+(ΔTp+ΔCd+ΔAe1/2
を満たす、マスク。
(12)
複数のノズルを含み第1方向に移動するリニアソースと基板上の電極面との間に配置され、前記電極面に対する有機発光材料の蒸着において使用されるマスクの設計方法であって、
前記マスクは、前記リニアソースへの対向面に形成された複数の穴を含み、
前記複数の穴の各穴は、第1開口と、前記第1開口と前記リニアソースとの間に位置し、前記第1開口より大きい第2開口とを含み、
前記設計方法は、
前記第1方向における前記有機発光材料の最大入射角θM
前記第1開口のエッジから隣接副画素への、前記第1方向における距離SX
の値を予め定義し、
前記第1開口から前記電極面までの距離D1と、
前記第1開口のエッジと前記第2開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるテーパアングルθTとを、
θT<90-θM
SX>D1tan(θM)
が満たされるように決定する、設計方法。
(13)
(12)に記載の設計方法であって、
前記第1開口のエッジから前記第1開口から露出する電極面までの規定距離SYの値を予め定義し、
前記第1開口から前記電極面までの距離D1を、
SY>D1tanθM
が満たされるように決定する、設計方法。
In addition to the features recited in the claims, a summary of features of the disclosure is provided below.
(1)
A method for manufacturing an OLED display device, comprising:
Depositing an organic light emitting material on an electrode surface on a substrate through a mask while moving a linear source including a plurality of nozzles in a first direction;
the mask includes a plurality of holes formed in a surface facing the linear source;
each hole of the plurality of holes includes a first opening and a second opening positioned between the first opening and the linear source and larger than the first opening;
Distance D1 from the first opening to the electrode surface
maximum incident angle θM of the organic light-emitting material in the first direction
Distance SX from the edge of the first opening to the adjacent sub-pixel electrode in the first direction
a taper angle θT determined between a straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the second opening and the first direction;
As
θT<90−θM
SX>D1tan(θM)
is fulfilled, the manufacturing method.
(2)
(1) The production method according to
the mask includes a plurality of second holes on a surface opposite to the surface facing the linear source, the plurality of second holes overlapping each of the plurality of holes;
each of the plurality of second holes includes a third opening located between the first opening and the substrate and larger than the first opening;
A step angle θS determined between a straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the third opening and the first direction is
θS<90−θM
A manufacturing method that satisfies
(3)
(1) or (2), the production method according to
The distance SY from the edge of the first opening to the electrode surface exposed from the first opening is
SY>D1tan(θM)
A manufacturing method that satisfies
(4)
(1), (2) or (3), the production method according to
Stipulated deviation ΔTp of opening pitch
Aperture size regulation deviation ΔCd
Alignment deviation ΔAe
is defined and
SX>D1tan(θM)+(ΔTp 2 +ΔCd 2 +ΔAe 2 ) 1/2
A manufacturing method that satisfies
(5)
(4) The manufacturing method according to
SY>D1tan(θM)+(ΔTp 2 +ΔCd 2 +ΔAe 2 ) 1/2
A manufacturing method that satisfies
(6)
(1) The production method according to
The organic light emitting material is a first color organic light emitting material,
The manufacturing method, wherein the adjacent sub-pixel electrodes are vapor-deposited with a second color organic light-emitting material.
(7)
A mask disposed between a linear source including a plurality of nozzles and moving in a first direction and an electrode surface on a substrate and used in vapor deposition of an organic light-emitting material on the electrode surface,
including a plurality of holes formed in a surface facing the linear source;
each hole of the plurality of holes includes a first opening and a second opening positioned between the first opening and the linear source and larger than the first opening;
Distance D1 from the first opening to the electrode surface
maximum incident angle θM of the organic light-emitting material in the first direction
Distance SX from the edge of the first opening to the adjacent sub-pixel electrode in the first direction
a taper angle θT determined between a straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the second opening and the first direction;
As
θT<90−θM
SX>D1tan(θM)
Meet the mask.
(8)
(7) The mask according to
including a plurality of second holes overlapping each of the plurality of holes on the surface opposite to the surface facing the linear source;
each of the plurality of second holes includes a third opening located between the first opening and the substrate and larger than the first opening;
A step angle θS determined between a straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the third opening and the first direction is
θS<90−θM
Meet the mask.
(9)
The mask according to (7) or (8),
The distance SY from the edge of the first opening to the surface exposed from the first opening is
SY>D1tan(θM)
Meet the mask.
(10)
The mask according to (7), (8) or (9),
A specified deviation ΔTp of the pitch of the first openings
A specified deviation ΔCd of the size of the first opening
Alignment deviation ΔAe
is defined and
SX>D1tan(θM)+(ΔTp 2 +ΔCd 2 +ΔAe 2 ) 1/2
Meet the mask.
(11)
(10) The mask according to
SY>D1tan(θM)+(ΔTp 2 +ΔCd 2 +ΔAe 2 ) 1/2
Meet the mask.
(12)
A method for designing a mask disposed between a linear source including a plurality of nozzles and moving in a first direction and an electrode surface on a substrate and used in vapor deposition of an organic light-emitting material on the electrode surface, comprising:
the mask includes a plurality of holes formed in a surface facing the linear source;
each hole of the plurality of holes includes a first opening and a second opening positioned between the first opening and the linear source and larger than the first opening;
The design method is
maximum incident angle θM of the organic light-emitting material in the first direction
a distance SX in the first direction from the edge of the first aperture to an adjacent sub-pixel
Predefine the value of
a distance D1 from the first opening to the electrode surface;
A taper angle θT determined between a straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the second opening and the first direction,
θT<90−θM
SX>D1tan(θM)
A design method that determines that is satisfied.
(13)
(12) The design method according to
predefining a value of a specified distance SY from the edge of the first opening to the electrode surface exposed from the first opening;
The distance D1 from the first opening to the electrode surface is
SY>D1 tan θM
A design method that determines that is satisfied.

OLED10 表示装置、100 TFT基板、111 絶縁基板、114 カソード電極形成領域、125 表示領域、131 走査ドライバ、132 エミッションドライバ、151 絶縁基板、152 第1絶縁膜、155 チャネル部、156 ゲート絶縁膜、157 ゲート電極、158 層間絶縁膜、159 ソース電極、160 ドレイン電極、161 平坦化膜、162 アノード電極、163 画素定義層、164 スペーサ、165 有機発光層、166 カソード電極、168 コンタクト部、200 封止基板、201 位相差板、202 偏光板、400 リニアソース、401 ノズル、403 本体部、405 壁、503 メタルマスク、532 マスクパターン部、538 リニアソース側面、539 マザー基板側面、541 基準開口、543 リニアソース側開口、546 マザー基板側穴、545 リニアソース側穴、547 マザー基板側開口、HW 基準開口の開口幅、θT テーパアングル、θS ステップアングル OLED 10 display device 100 TFT substrate 111 insulating substrate 114 cathode electrode forming region 125 display region 131 scanning driver 132 emission driver 151 insulating substrate 152 first insulating film 155 channel section 156 gate insulating film 157 Gate electrode 158 Interlayer insulating film 159 Source electrode 160 Drain electrode 161 Planarization film 162 Anode electrode 163 Pixel defining layer 164 Spacer 165 Organic light emitting layer 166 Cathode electrode 168 Contact portion 200 Sealing substrate , 201 retardation plate, 202 polarizing plate, 400 linear source, 401 nozzle, 403 body portion, 405 wall, 503 metal mask, 532 mask pattern portion, 538 linear source side surface, 539 mother substrate side surface, 541 reference opening, 543 linear source side opening, 546 mother board side hole, 545 linear source side hole, 547 mother board side opening, HW opening width of reference opening, θT taper angle, θS step angle

Claims (11)

OLED表示装置の製造方法であって、
複数のノズルを含むリニアソースを第1方向に移動しながら、基板上の電極面に、マスクを介して、有機発光材料を蒸着することを含み、
前記マスクは、前記リニアソースへの対向面に形成された複数の穴を含み、
前記複数の穴の各穴は、
第1開口と、
前記第1開口と前記リニアソースとの間に位置し、前記第1開口より大きい第2開口と、
前記第1開口と前記基板との間に位置し、前記第1開口より大きい第3開口とを含み、
前記基板は、絶縁性の画素定義層と、隣接する前記第3開口の間の前記マスクの前記基板側面に対向する前記画素定義層の上に形成された絶縁性の柱状スペーサを含み、
前記マスクの前記基板側面と前記柱状スペーサの頂面とは互いに接するように配置され、
前記第1開口から前記第3開口までの距離SH
前記電極面から前記柱状スペーサの頂面までの距離AD
前記第1方向における前記有機発光材料の最大入射角θM
前記第1開口のエッジから前記第1方向における隣接副画素電極までの距離SX
前記第1開口のエッジと前記第2開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるテーパアングルθT
として、
θT<90-θM
SX>(SH+AD)tan(θM)
が満たされており、
前記第1開口のエッジと前記第3開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるステップアングルθSは、
θS<90-θM
を満たす、製造方法。
A method for manufacturing an OLED display device, comprising:
Depositing an organic light emitting material on an electrode surface on a substrate through a mask while moving a linear source including a plurality of nozzles in a first direction;
the mask includes a plurality of holes formed in a surface facing the linear source;
each hole of the plurality of holes,
a first opening;
a second opening positioned between the first opening and the linear source and larger than the first opening;
a third opening positioned between the first opening and the substrate and larger than the first opening;
the substrate includes an insulating pixel definition layer and an insulating columnar spacer formed on the pixel definition layer facing the substrate- side surface of the mask between the adjacent third openings;
the substrate- side surface of the mask and the top surface of the columnar spacer are arranged so as to be in contact with each other;
Distance SH from the first opening to the third opening
Distance AD from the electrode surface to the top surface of the columnar spacer
maximum incident angle θM of the organic light-emitting material in the first direction
Distance SX from the edge of the first opening to the adjacent sub-pixel electrode in the first direction
a taper angle θT determined between a straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the second opening and the first direction;
As
θT<90−θM
SX > (SH + AD) tan (θM)
is filled and
A step angle θS determined between a straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the third opening and the first direction is
θS<90−θM
A manufacturing method that satisfies
請求項1に記載の製造方法であって、
前記第1開口のエッジから前記第1開口から露出する電極面までの距離SYは、
SY>(SH+AD)tan(θM)
を満たす、製造方法。
The manufacturing method according to claim 1,
The distance SY from the edge of the first opening to the electrode surface exposed from the first opening is
SY > (SH + AD) tan (θM)
A manufacturing method that satisfies
請求項1又は2に記載の製造方法であって、
開口ピッチの規定偏差ΔTp
開口サイズの規定偏差ΔCd
アライメントの規定偏差ΔAe
が定義されており、
SX>(SH+AD)tan(θM)+(ΔTp2+ΔCd2+ΔAe2)1/2
を満たす、製造方法。
The manufacturing method according to claim 1 or 2,
Stipulated deviation ΔTp of opening pitch
Aperture size regulation deviation ΔCd
Alignment deviation ΔAe
is defined and
SX > (SH + AD) tan (θM) + (ΔTp2 + ΔCd2 + ΔAe2) 1/2
A manufacturing method that satisfies
請求項3に記載の製造方法であって、
SY>(SH+AD)tan(θM)+(ΔTp2+ΔCd2+ΔAe2)1/2
を満たす、製造方法。
The manufacturing method according to claim 3,
SY > (SH + AD) tan (θM) + (ΔTp2 + ΔCd2 + ΔAe2) 1/2
A manufacturing method that satisfies
請求項1に記載の製造方法であって、
前記有機発光材料は、第1色の有機発光材料であって、
前記隣接副画素電極には、第2色の有機発光材料が蒸着される、製造方法。
The manufacturing method according to claim 1,
The organic light emitting material is a first color organic light emitting material,
The manufacturing method, wherein the adjacent sub-pixel electrodes are vapor-deposited with a second color organic light-emitting material.
複数のノズルを含み第1方向に移動するリニアソースと基板上の電極面との間に配置され、前記電極面に対する有機発光材料の蒸着において使用されるマスクであって、
前記リニアソースへの対向面に形成された複数の穴を含み、
前記複数の穴の各穴は、
第1開口と、
前記第1開口と前記リニアソースとの間に位置し、前記第1開口より大きい第2開口と、
前記第1開口と前記基板との間に位置し、前記第1開口より大きい第3開口と、
を含み、
前記基板は、絶縁性の画素定義層と、隣接する前記第3開口の間の前記マスクの前記基板側面に対向する前記画素定義層の上に形成された絶縁性の柱状スペーサを含み、
前記蒸着において、前記マスクの前記基板側面と前記柱状スペーサの頂面とは互いに接するように配置され、
前記第1開口から前記第3開口までの距離SH
前記電極面から前記柱状スペーサの頂面までの距離AD
前記第1方向における前記有機発光材料の最大入射角θM
前記第1開口のエッジから前記第1方向における隣接副画素電極までの距離SX
前記第1開口のエッジと前記第2開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるテーパアングルθT
として、
θT<90-θM
SX>(SH+AD)tan(θM)
が満たされており、
前記第1開口のエッジと前記第3開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるステップアングルθSは、
θS<90-θM
を満たす、マスク。
A mask disposed between a linear source including a plurality of nozzles and moving in a first direction and an electrode surface on a substrate and used in vapor deposition of an organic light-emitting material on the electrode surface,
including a plurality of holes formed in a surface facing the linear source;
each hole of the plurality of holes,
a first opening;
a second opening positioned between the first opening and the linear source and larger than the first opening;
a third opening positioned between the first opening and the substrate and larger than the first opening;
including
the substrate includes an insulating pixel definition layer and an insulating columnar spacer formed on the pixel definition layer facing the substrate- side surface of the mask between the adjacent third openings;
In the vapor deposition, the surface of the mask on the substrate side and the top surface of the columnar spacer are arranged so as to be in contact with each other,
Distance SH from the first opening to the third opening
Distance AD from the electrode surface to the top surface of the columnar spacer
maximum incident angle θM of the organic light-emitting material in the first direction
Distance SX from the edge of the first opening to the adjacent sub-pixel electrode in the first direction
a taper angle θT determined between a straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the second opening and the first direction;
As
θT<90−θM
SX > (SH + AD) tan (θM)
is filled and
A step angle θS determined between a straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the third opening and the first direction is
θS<90−θM
Meet the mask.
請求項6に記載のマスクであって、
前記第1開口のエッジから前記第1開口から露出する面までの距離SYは、
SY>(SH+AD)tan(θM)
を満たす、マスク。
A mask according to claim 6,
The distance SY from the edge of the first opening to the surface exposed from the first opening is
SY > (SH + AD) tan (θM)
Meet the mask.
請求項6又は7に記載のマスクであって、
前記第1開口のピッチの規定偏差ΔTp
前記第1開口のサイズの規定偏差ΔCd
アライメントの規定偏差ΔAe
が定義されており、
SX>(SH+AD)tan(θM)+(ΔTp2+ΔCd2+ΔAe2)1/2
を満たす、マスク。
The mask according to claim 6 or 7,
A specified deviation ΔTp of the pitch of the first openings
A specified deviation ΔCd of the size of the first opening
Alignment deviation ΔAe
is defined and
SX > (SH + AD) tan (θM) + (ΔTp2 + ΔCd2 + ΔAe2) 1/2
Meet the mask.
請求項8に記載のマスクであって、
SY>(SH+AD)tan(θM)+(ΔTp2+ΔCd2+ΔAe2)1/2
を満たす、マスク。
A mask according to claim 8,
SY > (SH + AD) tan (θM) + (ΔTp2 + ΔCd2 + ΔAe2) 1/2
Meet the mask.
複数のノズルを含み第1方向に移動するリニアソースと基板上の電極面との間に配置され、前記電極面に対する有機発光材料の蒸着において使用されるマスクの設計方法であって、
前記マスクは、前記リニアソースへの対向面に形成された複数の穴を含み、
前記複数の穴の各穴は、
第1開口と、
前記第1開口と前記リニアソースとの間に位置し、前記第1開口より大きい第2開口と、
前記第1開口と前記基板との間に位置し、前記第1開口より大きい第3開口と、
を含み、
前記基板は、絶縁性の画素定義層と、隣接する前記第3開口の間の前記マスクの前記基板側面に対向する前記画素定義層の上に形成された絶縁性の柱状スペーサを含み、
前記マスクは、前記マスクの前記基板側面と前記柱状スペーサの頂面とは互いに接するように配置され、
前記設計方法は、
前記第1方向における前記有機発光材料の最大入射角θM
前記第1開口のエッジから隣接副画素への、前記第1方向における距離SX
の値を予め定義し、
前記第1開口から前記第3開口までの距離SHと、
前記電極面から前記柱状スペーサの頂面までの距離ADと、
前記第1開口のエッジと前記第2開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるテーパアングルθTと、
前記第1開口のエッジと前記第3開口のエッジとを結ぶ直線と前記第1方向との間で決まるステップアングルθSとを、
θT<90-θM
SX>(SH+AD)tan(θM)
θS<90-θM
が満たされるように決定する、設計方法。
A method for designing a mask disposed between a linear source including a plurality of nozzles and moving in a first direction and an electrode surface on a substrate and used in vapor deposition of an organic light-emitting material on the electrode surface, comprising:
the mask includes a plurality of holes formed in a surface facing the linear source;
each hole of the plurality of holes,
a first opening;
a second opening positioned between the first opening and the linear source and larger than the first opening;
a third opening positioned between the first opening and the substrate and larger than the first opening;
including
the substrate includes an insulating pixel definition layer and an insulating columnar spacer formed on the pixel definition layer facing the substrate- side surface of the mask between the adjacent third openings;
the mask is arranged such that the substrate- side surface of the mask and the top surface of the columnar spacer are in contact with each other;
The design method is
maximum incident angle θM of the organic light-emitting material in the first direction
a distance SX in the first direction from the edge of the first aperture to an adjacent sub-pixel
Predefine the value of
a distance SH from the first opening to the third opening;
a distance AD from the electrode surface to the top surface of the columnar spacer;
a taper angle θT determined between a straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the second opening and the first direction;
A step angle θS determined between a straight line connecting the edge of the first opening and the edge of the third opening and the first direction,
θT<90−θM
SX > (SH + AD) tan (θM)
θS<90−θM
A design method that determines that is satisfied.
請求項10に記載の設計方法であって、
前記第1開口のエッジから前記第1開口から露出する電極面までの規定距離SYの値を予め定義し、
前記第1開口から前記第3開口までの距離SHと、前記電極面から前記柱状スペーサの頂面までの距離ADとを、
SY>(SH+AD)tan(θM)
が満たされるように決定する、設計方法。
The design method according to claim 10,
predefining a value of a specified distance SY from the edge of the first opening to the electrode surface exposed from the first opening;
a distance SH from the first opening to the third opening and a distance AD from the electrode surface to the top surface of the columnar spacer,
SY > (SH + AD) tan (θM)
A design method that determines that is satisfied.
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