JP7232053B2 - Method for manufacturing glossy plating film - Google Patents

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Description

本発明は、光沢を有するめっき膜、及びそれを備えた電子部品に関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a glossy plating film and an electronic component having the same.

電気・電子機器に用いられる低電流(信号系)スイッチやコネクタなどの接続部品のうち低い接触荷重で繰り返し使用される接続部品は、高い接続信頼性が要求されるため、このような接続部品として導電性金属部材の表面を貴金属でめっきしたものが使用されている。 Among connecting parts such as low-current (signal system) switches and connectors used in electrical and electronic equipment, those that are repeatedly used with a low contact load require high connection reliability. A conductive metal member whose surface is plated with a noble metal is used.

そして、めっき膜は適度な光沢と優れた延性を持ち、無孔性、耐食性、低摩擦性、及び低接触抵抗を有することが求められる。 In addition, the plating film is required to have moderate gloss and excellent ductility, as well as to have nonporosity, corrosion resistance, low friction, and low contact resistance.

特許文献1には、めっき膜を圧延して表面を平滑化することが記載されている。しかし、製造方法が煩雑であることが問題であった。 Patent Literature 1 describes rolling a plated film to smooth the surface. However, the problem was that the manufacturing method was complicated.

また、めっき浴にレベリング剤を添加することにより、得られるめっき膜の表面を平滑化する方法も知られている。例えば、特許文献2には、レベリング剤としてアミノスルホン酸系ポリマーを使用することにより、金属の結晶からなる小塊が低減され、高い光沢度を有するめっき膜が得られることが記載されている。 Also known is a method of adding a leveling agent to the plating bath to smooth the surface of the resulting plating film. For example, Patent Document 2 describes that by using an aminosulfonic acid-based polymer as a leveling agent, small lumps of metal crystals are reduced and a plated film with high glossiness is obtained.

しかし、めっき膜の光沢度は未だ十分でなく、より一層高くすることが求められていた。 However, the glossiness of the plated film is still insufficient, and it has been desired to further increase it.

特開2015-117424号公報JP 2015-117424 A 特開2016-148023号公報JP 2016-148023 A

従って、本発明の目的は、高い光沢度を有するめっき膜及びその製造方法を提供することにある。
本発明の他の目的は、高い光沢度を有するめっき膜を備えた電子部品を提供することにある。
本発明の他の目的は、めっき膜に高い光沢を付与する新規の光沢剤を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a plating film having high glossiness and a method for producing the same.
Another object of the present invention is to provide an electronic component having a plated film with high glossiness.
Another object of the present invention is to provide a novel brightening agent that imparts high gloss to a plated film.

本発明者等は上記課題を解決するため鋭意検討した結果、ナノダイヤモンド粒子を含むめっき浴を使用すれば、貴金属の結晶の成長がナノダイヤモンド粒子によって阻害されて微細化することにより表面が平滑化され、高い光沢度を有するめっき膜が得られることを見いだした。本発明はこれらの知見に基づいて完成させたものである。 As a result of intensive studies by the present inventors in order to solve the above problems, when a plating bath containing nanodiamond particles is used, the growth of precious metal crystals is inhibited by the nanodiamond particles and the surface is smoothed by miniaturization. It was found that a plating film having a high glossiness was obtained. The present invention has been completed based on these findings.

すなわち、本発明は、貴金属マトリックスと、前記貴金属マトリックス中に分散するナノダイヤモンド粒子を含むめっき膜であって、入射角60°における光沢度が250GU以上であるめっき膜を提供する。 That is, the present invention provides a plating film containing a noble metal matrix and nanodiamond particles dispersed in the noble metal matrix, the plating film having a glossiness of 250 GU or more at an incident angle of 60°.

本発明は、また、貴金属イオンとナノダイヤモンド粒子を含むめっき浴を使用して得られためっき膜である前記のめっき膜を提供する。 The present invention also provides the aforementioned plated film, which is a plated film obtained using a plating bath containing noble metal ions and nanodiamond particles.

本発明は、また、ナノダイヤモンド粒子を含まない以外は同じ組成のめっき浴を使用して得られためっき膜と比較して、入射角60°における光沢度が20GU以上高い前記のめっき膜を提供する。 The present invention also provides the plating film having a glossiness at an incident angle of 60° that is 20 GU or more higher than a plating film obtained using a plating bath having the same composition except that it does not contain nanodiamond particles. do.

本発明は、また、表面粗さ(Ra)が0.5μm以下である前記のめっき膜を提供する。 The present invention also provides the plating film having a surface roughness (Ra) of 0.5 μm or less.

本発明は、また、前記貴金属マトリックス中に分散するナノダイヤモンド粒子のSEM法による粒子径(D50)が4~100nmの範囲である前記のめっき膜を提供する。 The present invention also provides the above plating film, wherein the particle size (D50) of the nanodiamond particles dispersed in the noble metal matrix is in the range of 4 to 100 nm as determined by the SEM method.

本発明は、また、ナノダイヤモンド粒子が、立体反発性基を含む表面修飾基を備えたナノダイヤモンド粒子である前記のめっき膜を提供する。 The present invention also provides the above plating film, wherein the nanodiamond particles are nanodiamond particles provided with a surface modification group containing a steric repulsion group.

本発明は、また、ナノダイヤモンド粒子が、ポリグリセリン鎖を含む表面修飾基を備えたナノダイヤモンド粒子である前記のめっき膜を提供する。 The present invention also provides the above plating film, wherein the nanodiamond particles are nanodiamond particles having surface modification groups containing polyglycerol chains.

本発明は、また、ナノダイヤモンド粒子含有量がめっき膜の0.5~25面積%である前記のめっき膜を提供する。 The present invention also provides the above plating film, wherein the content of nanodiamond particles is 0.5 to 25% by area of the plating film.

本発明は、また、貴金属イオンとナノダイヤモンド粒子を含むめっき浴であって、ナノダイヤモンド粒子の含有量が0.001~1.0g/Lであり、波長600nmの光の光線透過率が95%以上であるめっき浴を使用して、電解めっき法により前記のめっき膜を製造するめっき膜の製造方法を提供する。 The present invention also provides a plating bath containing noble metal ions and nanodiamond particles, the content of the nanodiamond particles is 0.001 to 1.0 g/L, and the light transmittance of light with a wavelength of 600 nm is 95%. Provided is a method for producing a plated film by electrolytic plating using the above plating bath.

本発明は、また、前記のめっき膜を備えた電子部品を提供する。 The present invention also provides an electronic component comprising the plating film described above.

本発明は、また、ポリグリセリン鎖を含む表面修飾基を備えたナノダイヤモンド粒子を含む、めっき膜の光沢剤を提供する。 The present invention also provides a plating film brightener comprising nanodiamond particles having surface modification groups comprising polyglycerol chains.

本発明のめっき膜は、ナノダイヤモンド粒子が貴金属マトリックス中に高分散した構成を有し、前記ナノダイヤモンド粒子によって貴金属の結晶の成長が阻害されて結晶粒が微細化するため表面が極めて優れた平滑性を有する。そのため、本発明のめっき膜は高い光沢度を有する。また、前記の通りナノダイヤモンド粒子を含有するため耐酸化性にも優れる。そのため、本発明のめっき膜は電子機器用接続部品や装飾品等に好適に用いられる。
その他、本発明のめっき膜は表面が平滑であるため摩擦係数が低い。そのため、接触抵抗値が低く、導電性に優れ、電気・電子機器に用いられる低電流(信号系)スイッチやコネクタなどの接続部品(若しくは、電気接点)のうち低い接触荷重で繰り返し使用される接続部品に好適に用いられる。
The plated film of the present invention has a structure in which nanodiamond particles are highly dispersed in a noble metal matrix, and the nanodiamond particles inhibit the growth of crystals of the noble metal and refine the crystal grains, so that the surface is extremely smooth. have sex. Therefore, the plating film of the present invention has high glossiness. In addition, as described above, since it contains nanodiamond particles, it is also excellent in oxidation resistance. Therefore, the plating film of the present invention is suitably used for connecting parts for electronic devices, ornaments, and the like.
In addition, since the plated film of the present invention has a smooth surface, it has a low coefficient of friction. Therefore, it has low contact resistance, excellent conductivity, and low current (signal system) connection parts (or electrical contacts) such as low current (signal system) switches and connectors used in electrical and electronic equipment that are repeatedly used with a low contact load. Suitable for parts.

本発明における表面修飾基を備えたND粒子[1]の一例を示す拡大模式図であり、ND粒子(部分)[2]の表面に、表面修飾基[3]を有する。FIG. 2 is an enlarged schematic diagram showing an example of ND particles [1] having surface modification groups according to the present invention, in which surface modification groups [3] are provided on the surface of ND particles (parts) [2]. 実施例1で得られためっき膜の断面のSEM観察結果を示す図である。3 is a diagram showing the results of SEM observation of the cross section of the plated film obtained in Example 1. FIG. 比較例1で得られためっき膜の断面のSEM観察結果を示す図である。3 is a diagram showing the results of SEM observation of the cross section of the plated film obtained in Comparative Example 1. FIG. 比較例2で得られためっき膜の断面のSEM観察結果を示す図である。FIG. 10 is a view showing the results of SEM observation of the cross section of the plated film obtained in Comparative Example 2;

[めっき膜]
本発明のめっき膜は、貴金属マトリックスと、前記貴金属マトリックス中に分散するナノダイヤモンド粒子(以後、「ND粒子」と称する場合がある)を含むめっき膜である。本発明のめっき膜において、めっき処理のみを施して得られためっき膜であって、表面平坦化処理等は施していないめっき膜の、入射角60°における光沢度が250GU以上であることを特徴とする。
[Plating film]
The plated film of the present invention is a plated film containing a noble metal matrix and nanodiamond particles (hereinafter sometimes referred to as "ND particles") dispersed in the noble metal matrix. In the plated film of the present invention, the plated film obtained only by plating and not subjected to surface flattening treatment or the like has a glossiness of 250 GU or more at an incident angle of 60°. and

本発明のめっき膜の入射角60°における光沢度は250GU以上であり、好ましくは300GU以上、より好ましくは400GU以上、更に好ましくは500GU以上、更に好ましくは550GU以上、特に好ましくは600GU以上、最も好ましくは700GU以上である。尚、光沢度の上限は1000GUである。 The glossiness of the plating film of the present invention at an incident angle of 60° is 250 GU or more, preferably 300 GU or more, more preferably 400 GU or more, still more preferably 500 GU or more, still more preferably 550 GU or more, particularly preferably 600 GU or more, most preferably 600 GU or more. is greater than or equal to 700 GU. Incidentally, the upper limit of the glossiness is 1000 GU.

また、ND粒子を含まない以外は本発明のめっき膜と同じめっき膜、すなわち、ND粒子を含まない以外は同じ組成のめっき浴を使用し、めっき浴が前記の通り異なる以外は同じめっき処理条件で得られためっき膜と比較して、本発明のめっき膜は、入射角60°における光沢度が例えば20GU以上(例えば20~500GU)高く、好ましくは50GU以上、より好ましくは100GU以上、特に好ましくは150GU以上、最も好ましくは300GU以上、とりわけ好ましくは400GU以上高い。 In addition, the same plating film as the plating film of the present invention except that it does not contain ND particles, that is, a plating bath having the same composition except that it does not contain ND particles, is used, and the plating treatment conditions are the same except that the plating bath is different as described above. Compared to the plated film obtained in , the plated film of the present invention has a glossiness at an incident angle of 60 °, for example, 20 GU or more (for example, 20 to 500 GU) higher, preferably 50 GU or more, more preferably 100 GU or more, and particularly preferably is higher than 150 GU, most preferably higher than 300 GU, most preferably higher than 400 GU.

更に、本発明のめっき膜はND粒子(特に、後述の親水性ND粒子)を含有するため耐酸化性に優れ、製造直後のめっき膜に対し、直鎖日光の当たらない室内(温度25℃、湿度50%)で7日間保存後のめっき膜中の貴金属酸化物の増加量は、例えば1重量%未満、好ましくは0.5重量%未満、特に好ましくは0.3重量%未満、最も好ましくは0.1重量%未満である。 Furthermore, since the plating film of the present invention contains ND particles (particularly, hydrophilic ND particles described later), it has excellent oxidation resistance, and the plating film immediately after production is not exposed to direct sunlight (at a temperature of 25 ° C., The increase in the amount of noble metal oxide in the plated film after storage for 7 days at 50% humidity is, for example, less than 1% by weight, preferably less than 0.5% by weight, particularly preferably less than 0.3% by weight, most preferably Less than 0.1% by weight.

本発明のめっき膜において、めっき処理のみを施して得られためっき膜であって、表面平坦化処理等は施していないめっき膜の表面粗さ(Ra)は、例えば0.5μm以下、好ましくは0.4μm以下、更に好ましくは0.3μm以下、更に好ましくは0.29μm以下、更に好ましくは0.2μm以下、特に好ましくは0.15μm以下、最も好ましくは0.1μm以下である。 In the plating film of the present invention, the surface roughness (Ra) of the plating film obtained by performing only plating treatment and not subjected to surface flattening treatment or the like is, for example, 0.5 μm or less, preferably It is 0.4 μm or less, more preferably 0.3 μm or less, still more preferably 0.29 μm or less, still more preferably 0.2 μm or less, particularly preferably 0.15 μm or less, and most preferably 0.1 μm or less.

本発明のめっき膜において、めっき処理のみを施して得られためっき膜であって、表面平坦化処理等は施していないめっき膜の表面粗さ(Ra)(例えば膜厚が1μm以上の場合の表面粗さ、好ましくは膜厚が1.5μm以上の場合の表面粗さ)は、例えば0.5μm以下、好ましくは0.4μm以下、更に好ましくは0.3μm以下、更に好ましくは0.29μm以下、更に好ましくは0.2μm以下、特に好ましくは0.15μm以下、最も好ましくは0.1μm以下である。 In the plating film of the present invention, the surface roughness (Ra) of the plating film obtained by performing only plating treatment and not subjected to surface flattening treatment etc. (for example, when the film thickness is 1 μm or more) The surface roughness, preferably the surface roughness when the film thickness is 1.5 μm or more) is, for example, 0.5 μm or less, preferably 0.4 μm or less, more preferably 0.3 μm or less, further preferably 0.29 μm or less. , more preferably 0.2 μm or less, particularly preferably 0.15 μm or less, and most preferably 0.1 μm or less.

本発明のめっき膜において、貴金属マトリックス中に分散するND粒子のSEM法による粒子径(D50)は、例えば4~100nmの範囲であり、好ましくは10~80nm、特に好ましくは20~60nm、最も好ましくは30~50nmである。 In the plated film of the present invention, the particle diameter (D50) of the ND particles dispersed in the noble metal matrix by the SEM method is, for example, in the range of 4 to 100 nm, preferably 10 to 80 nm, particularly preferably 20 to 60 nm, and most preferably. is 30-50 nm.

また、本発明のめっき膜において、ND粒子含有量はめっき膜の面積の、例えば0.5~25面積%、好ましくは2~20面積%、特に好ましくは5~15面積%である。本発明のめっき膜は、ND粒子を上記範囲で含有するため光沢度に優れる。ND粒子含有量が上記範囲を下回ると、光沢度が低下する傾向がある。一方、ND粒子含有量が上記範囲を上回っても、光沢度が更に向上する効果は得られず、かえってめっき膜と下地との密着性が悪化して、剥離し易くなる傾向がある。 In addition, in the plating film of the present invention, the content of ND particles is, for example, 0.5 to 25 area %, preferably 2 to 20 area %, particularly preferably 5 to 15 area % of the area of the plating film. The plated film of the present invention contains ND particles in the above range, and therefore has excellent glossiness. If the ND particle content is less than the above range, glossiness tends to decrease. On the other hand, even if the content of ND particles exceeds the above range, the effect of further improving the glossiness is not obtained, and rather the adhesion between the plating film and the substrate deteriorates, and there is a tendency for the plating film to peel off easily.

前記ND粒子は、一次粒子の粒径が10nm以下の微粒子である。ND粒子は、表面原子の割合が大きいので、隣接粒子の表面原子間で作用し得るファンデルワールス力の総和が大きく凝集(aggregation)を生じやすい。これに加えて、隣接結晶子の結晶面間クーロン相互作用が寄与して非常に強固に集成する凝着(agglutination)という現象が生じ得る。ND粒子は、このように結晶子ないし一次粒子の間に重畳的な相互作用が生じ得る特異な性質を有する。 The ND particles are fine particles having a primary particle size of 10 nm or less. Since ND particles have a large proportion of surface atoms, the sum of van der Waals forces that can act between surface atoms of adjacent particles is large, and aggregation is likely to occur. In addition to this, a phenomenon called agglutination can occur in which coulomb interactions between crystal planes of adjacent crystallites contribute to bring them together very strongly. ND particles have such a unique property that superimposed interactions can occur between crystallites or primary particles.

従って、本発明におけるND粒子としては、表面が親水化されたND粒子(=親水性ND粒子)が、めっき浴中において分散し易い点で好ましい。 Accordingly, ND particles having a hydrophilic surface (=hydrophilic ND particles) are preferable as the ND particles in the present invention because they are easily dispersed in the plating bath.

親水性ND粒子には、(1)親水性高分子でコーティングされたND粒子、及び(2)親水性高分子で修飾されたND粒子が含まれる。本発明においては、なかでも、(2)親水性高分子で修飾されたND粒子が、表面を修飾する親水性高分子の立体反発性(=立体障害により物理的に凝集を防止する効果)により、特に優れた分散性が得られる点で好ましい。 Hydrophilic ND particles include (1) ND particles coated with a hydrophilic polymer and (2) ND particles modified with a hydrophilic polymer. In the present invention, among others, (2) ND particles modified with a hydrophilic polymer have steric repulsion (= effect of physically preventing aggregation due to steric hindrance) of the surface-modifying hydrophilic polymer. , is particularly preferable in that excellent dispersibility can be obtained.

前記親水性高分子としては、例えば、ポリグリセリン、ポリビニルピロリドン、ポリエチレングリコール、ポリビニルアルコール、ポリ(メタ)アクリル酸、ポリアクリルアミド、ポリエチレンイミン、ビニルエーテル系重合体、水溶性ポリエステル(例えば、ポリジメチロールプロピオン酸エステル等)、セルロースやデキストリン、デンプン等の天然高分子多糖類及びその誘導体(例えば、メチルセルロース、ヒドロキシエチルセルロース、カルボキシメチルセルロース等)などが挙げられる。本発明においては、なかでも、ポリグリセリン、ポリビニルピロリドン、ポリエチレングリコール、ポリビニルアルコール、及びポリ(メタ)アクリル酸から選択される少なくとも1種が好ましく、特にポリグリセリンが好ましい。 Examples of the hydrophilic polymer include polyglycerin, polyvinylpyrrolidone, polyethylene glycol, polyvinyl alcohol, poly(meth)acrylic acid, polyacrylamide, polyethyleneimine, vinyl ether polymers, water-soluble polyesters (e.g., polydimethylolpropionic acid esters, etc.), natural polymer polysaccharides such as cellulose, dextrin, and starch, and derivatives thereof (eg, methylcellulose, hydroxyethylcellulose, carboxymethylcellulose, etc.). In the present invention, among others, at least one selected from polyglycerin, polyvinylpyrrolidone, polyethylene glycol, polyvinyl alcohol, and poly(meth)acrylic acid is preferred, and polyglycerin is particularly preferred.

従って、本発明におけるND粒子としては、親水性高分子由来の立体反発性基を含む表面修飾基を備えたND粒子が好ましく、特に、ポリグリセリン由来の立体反発性基を含む表面修飾基を備えたND粒子(=ポリグリセリン鎖を含む表面修飾基を備えたND粒子)を使用することが好ましい。 Therefore, the ND particles in the present invention are preferably ND particles provided with a surface modifying group containing a hydrophilic polymer-derived steric repulsive group. It is preferred to use ND particles (=ND particles with surface modification groups containing polyglycerol chains).

親水性高分子由来の立体反発性基を含む表面修飾基を備えたND粒子、若しくはポリグリセリン鎖を含む表面修飾基によって修飾されたND粒子は、親水性の表面修飾基を有しないND粒子よりも、めっき浴中において前記表面修飾基が立体障害となることによりND粒子同士の凝集が抑制され、優れた分散性を発揮することができる。 ND particles equipped with a surface modification group containing a hydrophilic polymer-derived steric repulsive group or ND particles modified with a surface modification group containing a polyglycerol chain are more favorable than ND particles without a hydrophilic surface modification group. In the plating bath, the surface-modifying groups act as steric hindrance, thereby suppressing the aggregation of the ND particles and exhibiting excellent dispersibility.

ポリグリセリン鎖を含む表面修飾基によって修飾されたND粒子は、例えば、下記式(1)で表されるポリグリセリン鎖がND粒子の表面官能基に結合した構成を有する。下記式中、nはポリグリセリン鎖を構成するグリセリン単位の数を示し、1以上の整数である。
HO-(C362n-H (1)
An ND particle modified with a surface modifying group containing a polyglycerol chain has, for example, a structure in which a polyglycerol chain represented by the following formula (1) is bonded to the surface functional group of the ND particle. In the formula below, n represents the number of glycerin units constituting the polyglycerin chain and is an integer of 1 or more.
HO—(C 3 H 6 O 2 ) n —H (1)

式(1)の括弧内のC362は、下記式(2)及び/又は(3)で示される構造を有する。
-CH2-CHOH-CH2O- (2)
-CH(CH2OH)CH2O- (3)
C 3 H 6 O 2 in parentheses in formula (1) has a structure represented by formula (2) and/or (3) below.
-CH 2 -CHOH-CH 2 O- (2)
-CH( CH2OH ) CH2O- (3)

前記ポリグリセリン鎖には直鎖状構造、分岐鎖状構造、及び環状構造のポリグリセリン鎖が含まれる。 The polyglycerin chains include linear, branched, and cyclic polyglycerin chains.

前記表面修飾基の導入量は、ND粒子部分1質量部当たり、例えば0.4~1.0質量部程度であり、好ましくは0.5~0.9質量部、特に好ましくは0.6~0.8質量部である。表面修飾基の導入量が上記範囲を下回ると、ND粒子の凝集を防ぐことが困難となる傾向がある。一方、表面修飾基の導入量が上記範囲を上回ると、表面修飾基が絡み合いを起こすことによりかえってND粒子が凝集し易くなる傾向がある。表面修飾基部分とND粒子部分の質量比は示差熱天秤分析装置(TG-DTA)を用いて熱処理時の質量変化、又は元素分析による組成比を測定することにより求めることができる。 The amount of the surface modification group introduced is, for example, about 0.4 to 1.0 parts by mass, preferably 0.5 to 0.9 parts by mass, and particularly preferably 0.6 to 0.6 parts by mass, per 1 part by mass of the ND particle portion. It is 0.8 parts by mass. If the amount of surface-modifying group introduced is less than the above range, it tends to be difficult to prevent aggregation of the ND particles. On the other hand, if the amount of the surface modifying group introduced exceeds the above range, the ND particles tend to aggregate due to the entanglement of the surface modifying groups. The mass ratio of the surface modification group portion and the ND particle portion can be obtained by measuring the mass change during heat treatment or the composition ratio by elemental analysis using a differential thermal balance analyzer (TG-DTA).

[めっき膜の製造方法]
本発明のめっき膜は、周知慣用の電解めっき法(好ましくは、電解複合めっき法)により製造することができる。より詳細には、貴金属イオンとND粒子を含むめっき浴に、めっき膜形成対象部材(例えば、銅基板等の導電性基板)を浸漬して電解を行なうことにより貴金属イオンをND粒子と共に前記部材表面に析出させ、貴金属の皮膜中にND粒子を取り込ませることができ、これを所望の厚みとなるまで継続することによって、貴金属マトリックス中にND粒子が分散する構成を有するめっき膜(若しくは、貴金属-ND粒子複合材料からなるめっき膜)を製造することができる。
[Manufacturing method of plating film]
The plated film of the present invention can be produced by a well-known and commonly used electrolytic plating method (preferably electrolytic composite plating method). More specifically, a member to be plated (for example, a conductive substrate such as a copper substrate) is immersed in a plating bath containing noble metal ions and ND particles, and electrolysis is performed to remove the noble metal ions and ND particles from the surface of the member. ND particles can be incorporated into the coating of the noble metal, and by continuing this process until a desired thickness is achieved, the plating film (or noble metal- A plated film made of an ND particle composite material) can be produced.

めっき膜の厚みは用途に応じて適宜設定することができる。スイッチやコネクタなどの接続部品や装飾品等における導電性金属部材の表面を被覆する用途の場合、めっき膜の厚みは、例えば0.1~50μm程度、好ましくは0.5~30μm、特に好ましくは1~20μm、最も好ましくは1.5~10μmである。 The thickness of the plated film can be appropriately set according to the application. When used for coating the surface of a conductive metal member in connection parts such as switches and connectors or ornaments, the thickness of the plating film is, for example, about 0.1 to 50 μm, preferably 0.5 to 30 μm, particularly preferably 0.5 to 30 μm. 1-20 μm, most preferably 1.5-10 μm.

(めっき浴)
本発明におけるめっき浴はめっき液とND粒子とを含む。前記めっき浴中におけるND粒子の含有量は、例えば0.001~1.0g/L(下限は、好ましくは0.003g/L、より好ましくは0.006g/L、更に好ましくは0.01g/L、特に好ましくは0.03g/L、最も好ましくは0.06g/Lである。上限は、好ましくは0.5g/L、特に好ましくは0.3g/Lである)の範囲である。ND粒子含有量が上記範囲を下回ると、得られるめっき膜の光沢度が低下する傾向がある。一方、ND粒子含有量が上記範囲を上回っても、得られるめっき膜の光沢度が更に向上する効果は得られず、かえってめっき膜と下地との密着性が悪化して、剥離し易くなる傾向がある。
(plating bath)
The plating bath in the present invention contains a plating solution and ND particles. The content of ND particles in the plating bath is, for example, 0.001 to 1.0 g/L (the lower limit is preferably 0.003 g/L, more preferably 0.006 g/L, and still more preferably 0.01 g/L). L, particularly preferably 0.03 g/L, most preferably 0.06 g/L.The upper limit is preferably 0.5 g/L, particularly preferably 0.3 g/L. If the ND particle content is less than the above range, the glossiness of the obtained plating film tends to decrease. On the other hand, even if the content of ND particles exceeds the above range, the effect of further improving the glossiness of the obtained plating film cannot be obtained, and rather the adhesion between the plating film and the substrate deteriorates, and there is a tendency that peeling tends to occur. There is

前記めっき浴は、ND粒子を高分散(若しくは、コロイド分散)した状態で含有するため透明性に優れ、光路長1cmの石英ガラスセルに入れて測定した際の、波長600nmの光の光線透過率は、例えば95%以上である。また、ヘーズ値(曇り度)は、例えば0~5、好ましくは0~2、特に好ましくは0~1、最も好ましくは0~0.5、とりわけ好ましくは0~0.4である。完全な透明体はヘーズ値が0であり、曇り度が上昇するに従ってヘーズ値は高くなる。尚、ヘーズ値は、JIS K7136に準拠した方法で測定することができる。 The plating bath contains ND particles in a highly dispersed (or colloidally dispersed) state, and thus has excellent transparency. is, for example, 95% or more. Also, the haze value (cloudiness) is, for example, 0 to 5, preferably 0 to 2, particularly preferably 0 to 1, most preferably 0 to 0.5, particularly preferably 0 to 0.4. A perfect transparency has a haze value of 0, and the haze value increases as the haze increases. The haze value can be measured by a method conforming to JIS K7136.

前記めっき浴中のND粒子の粒径(D10)は、例えば100nm以下、好ましくは60nm以下、特に好ましくは50nm以下、最も好ましくは40nm以下である。ND粒子の粒径(D10)の下限は、例えば10nmである。 The particle size (D10) of the ND particles in the plating bath is, for example, 100 nm or less, preferably 60 nm or less, particularly preferably 50 nm or less, and most preferably 40 nm or less. The lower limit of the particle size (D10) of ND particles is, for example, 10 nm.

前記めっき浴中のND粒子の粒径(D50)は、例えば100nm以下、好ましくは70nm以下、特に好ましくは60nm以下、最も好ましくは50nm以下である。ND粒子の粒径(D50)の下限は、例えば10nmである。 The particle size (D50) of the ND particles in the plating bath is, for example, 100 nm or less, preferably 70 nm or less, particularly preferably 60 nm or less, and most preferably 50 nm or less. The lower limit of the particle size (D50) of ND particles is, for example, 10 nm.

前記めっき浴中のND粒子の粒径(D90)は、例えば100nm以下、好ましくは90nm以下、特に好ましくは80nm以下である。ND粒子の粒径(D90)の下限は、例えば10nmである。 The particle size (D90) of the ND particles in the plating bath is, for example, 100 nm or less, preferably 90 nm or less, and particularly preferably 80 nm or less. The lower limit of the particle size (D90) of ND particles is, for example, 10 nm.

尚、めっき浴中におけるND粒子の粒径は、動的光散乱法によって測定することができる。 Incidentally, the particle size of the ND particles in the plating bath can be measured by a dynamic light scattering method.

前記めっき浴のpHは、例えば、貴金属イオンとして金イオンを含むめっき浴の場合、例えば2程度であり、貴金属イオンとしてロジウムイオンを含むめっき浴の場合、例えば1程度であることが、高い光沢度を有するめっき膜が得られる点で好ましい。尚、pHの調整は、pH調整剤等を使用して行うことができる。 The pH of the plating bath is, for example, about 2 in the case of a plating bath containing gold ions as noble metal ions, and is, for example, about 1 in the case of a plating bath containing rhodium ions as noble metal ions. It is preferable in that a plating film having Incidentally, the pH can be adjusted using a pH adjuster or the like.

前記めっき浴は、上記の通り優れた分散性を有する親水性ND粒子を含有するため、界面活性剤を含有する必要がない。めっき浴中の界面活性剤(例えば、分子量3万~20万の、非イオン系界面活性剤等)の含有量は、例えば0.5g/L未満、好ましくは0.1g/L以下、特に好ましくは0.05g/L以下、最も好ましくは0.01g/L以下であり、前記界面活性剤を実質的に含有しないことがとりわけ好ましい。 Since the plating bath contains hydrophilic ND particles having excellent dispersibility as described above, it is not necessary to contain a surfactant. The content of the surfactant in the plating bath (for example, a nonionic surfactant having a molecular weight of 30,000 to 200,000) is, for example, less than 0.5 g/L, preferably 0.1 g/L or less, and particularly preferably is 0.05 g/L or less, most preferably 0.01 g/L or less, and is particularly preferably substantially free of the surfactant.

前記めっき浴は、例えば、後述のめっき液にND粒子分散液を添加することにより調製することができる。 The plating bath can be prepared, for example, by adding an ND particle dispersion to a plating solution described below.

(めっき液)
本発明におけるめっき液はめっき膜の調製に必須の成分を含み、且つ上述のND粒子は含まないものである。前記めっき液は、貴金属イオン(例えば、金イオン、銀イオン、白金イオン、パラジウムイオン、ロジウムイオン、イリジウムイオン、ルテニウムイオン、及びオスミウムイオンから選択される少なくとも1種)を少なくとも含む。
(Plating solution)
The plating solution in the present invention contains essential components for preparing a plating film and does not contain the ND particles described above. The plating solution contains at least noble metal ions (for example, at least one selected from gold ions, silver ions, platinum ions, palladium ions, rhodium ions, iridium ions, ruthenium ions, and osmium ions).

めっき液は、例えば、貴金属塩、電導度塩、錯化剤、皮膜の外観と物性を調整する添加剤等を配合することにより調製できる。前記貴金属塩は、めっき浴中においては貴金属イオンとして存在する。その他、貴金属の酸素酸イオンや、錯化剤と結合した貴金属錯イオンとして存在する場合もある。 The plating solution can be prepared by blending, for example, a noble metal salt, a conductivity salt, a complexing agent, an additive for adjusting the appearance and physical properties of the film, and the like. The noble metal salt exists as noble metal ions in the plating bath. In addition, it may exist as a noble metal oxyacid ion or a noble metal complex ion combined with a complexing agent.

めっき液に含まれる貴金属塩濃度は、例えば0.01~0.5モル/L、好ましくは0.05~0.2モル/Lである。 The noble metal salt concentration contained in the plating solution is, for example, 0.01 to 0.5 mol/L, preferably 0.05 to 0.2 mol/L.

前記錯化剤としては、例えば、クエン酸、乳酸、リンゴ酸、グリコール酸、及びこれらの塩が挙げられる。めっき液に含まれる錯化剤濃度は、例えば0.02~1.0モル/L、好ましくは0.1~0.5モル/Lである。 Examples of the complexing agent include citric acid, lactic acid, malic acid, glycolic acid, and salts thereof. The concentration of the complexing agent contained in the plating solution is, for example, 0.02 to 1.0 mol/L, preferably 0.1 to 0.5 mol/L.

金めっき用のめっき液としては、例えば、金塩としての塩化第二金カリウム等;電導度塩としての硫酸等の混合物が挙げられる。本発明においては、例えば、商品名「オーロボンドXPH20」(日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース(株)製)等の市販品を使用することができる。 Plating solutions for gold plating include, for example, mixtures of gold salt such as gold potassium chloride; and conductivity salt such as sulfuric acid. In the present invention, for example, commercially available products such as the product name "Aurobond XPH20" (manufactured by Nippon Electroplating Engineers Co., Ltd.) can be used.

ロジウムめっき用のめっき液としては、例えば、ロジウム塩としての硫酸ロジウム、リン酸ロジウム等;電導度塩としての硫酸、リン酸;応力減少剤としてのスルファミン酸、有機系カルボン酸等の混合物が挙げられる。本発明においては、例えば、商品名「ローデックス」(日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース(株)製)等の市販品を使用することができる。 Plating solutions for rhodium plating include, for example, rhodium salts such as rhodium sulfate and rhodium phosphate; sulfuric acid and phosphoric acid as conductivity salts; and mixtures such as sulfamic acid and organic carboxylic acids as stress reducers. be done. In the present invention, for example, commercially available products such as the trade name "Rhodex" (manufactured by Nippon Electroplating Engineers Co., Ltd.) can be used.

(ND粒子分散液)
前記ND粒子分散液は、ND粒子が分散媒(好ましくは、水)中に分散されてなる。ND粒子分散液中のND粒子濃度は、例えば1~100g/L程度である。
(ND particle dispersion)
The ND particle dispersion liquid is obtained by dispersing ND particles in a dispersion medium (preferably water). The ND particle concentration in the ND particle dispersion liquid is, for example, about 1 to 100 g/L.

前記ND粒子としては、分散性に優れる点において親水性ND粒子が好ましく、特に好ましくは親水性高分子で修飾されたND粒子、最も好ましくは親水性高分子由来の立体反発性基を含む表面修飾基を備えたND粒子、とりわけ好ましくはポリグリセリン鎖を含む表面修飾基を備えたND粒子である。 As the ND particles, hydrophilic ND particles are preferable in terms of excellent dispersibility, ND particles modified with a hydrophilic polymer are particularly preferable, and surface modification containing a steric repulsive group derived from a hydrophilic polymer is most preferable. ND particles with groups, particularly preferably ND particles with surface modification groups containing polyglycerol chains.

ND粒子分散液中のND粒子の粒径(D50)は、例えば100nm以下、好ましくは70nm以下、特に好ましくは60nm以下、最も好ましくは50nm以下である。ND粒子の粒径(D50)の下限は、例えば10nmである。尚、ND粒子分散液中におけるND粒子の粒径は、動的光散乱法によって測定することができる。 The particle size (D50) of the ND particles in the ND particle dispersion is, for example, 100 nm or less, preferably 70 nm or less, particularly preferably 60 nm or less, and most preferably 50 nm or less. The lower limit of the particle size (D50) of ND particles is, for example, 10 nm. The particle size of the ND particles in the ND particle dispersion can be measured by a dynamic light scattering method.

従来、凝集し易いND粒子を分散させるために、界面活性剤が使用されていた。例えば、ポリエチレングリコール鎖が導入されたND粒子を分散させる目的で、分子量3万~20万の、非イオン系界面活性剤(特に、ポリエチレングリコール-4-オクチルフェニルエーテル等のアルキルフェノール系界面活性剤等)が用いられていた。しかし、界面活性剤がめっき膜中に不純物として混入することにより、光沢度の低下や接触抵抗値の増大等の品質低下を引き起こすことが問題であった。 Conventionally, surfactants have been used to disperse ND particles that tend to agglomerate. For example, for the purpose of dispersing ND particles into which polyethylene glycol chains have been introduced, nonionic surfactants (especially alkylphenol surfactants such as polyethylene glycol-4-octylphenyl ether, etc.) having a molecular weight of 30,000 to 200,000 can be used. ) was used. However, there has been a problem in that quality deterioration such as reduction in glossiness and increase in contact resistance value is caused when the surfactant is mixed in the plating film as an impurity.

しかし、前記親水性ND粒子は上記の通り優れた分散性を有するため、前記界面活性剤をND粒子分散液中に添加する必要がない。従って、本発明におけるND粒子分散液中の前記界面活性剤(特に、分子量3万~20万の、非イオン系界面活性剤等)の含有量は、例えば0.5g/L未満、好ましくは0.1g/L以下、特に好ましくは0.05g/L以下、最も好ましくは0.01g/L以下であり、前記界面活性剤を実質的に含有しないことがとりわけ好ましい。 However, since the hydrophilic ND particles have excellent dispersibility as described above, it is not necessary to add the surfactant to the ND particle dispersion. Therefore, the content of the surfactant (in particular, a nonionic surfactant having a molecular weight of 30,000 to 200,000) in the ND particle dispersion of the present invention is, for example, less than 0.5 g/L, preferably 0 0.1 g/L or less, particularly preferably 0.05 g/L or less, most preferably 0.01 g/L or less, and it is particularly preferred that the surfactant is substantially free.

前記ND粒子分散液は、めっき浴に添加することにより、得られるめっき膜に光沢を付与することができる。その他、めっき膜を形成する貴金属の酸化を抑制する効果(耐酸化性)も付与することができる。そのため、例えば、めっき膜の光沢剤として使用することができる。 By adding the ND particle dispersion to the plating bath, it is possible to impart gloss to the obtained plating film. In addition, the effect of suppressing oxidation of the noble metal forming the plating film (oxidation resistance) can be imparted. Therefore, it can be used, for example, as a brightening agent for plating films.

(ND粒子分散液の調製方法)
親水性ND粒子は、例えば、OH基、COOH基、NH2基等の表面官能基を備えたND粒子を使用し、このND粒子の表面官能基に親水性高分子を直接、或いはリンカー(例えば、エステル結合、アミド結合、イミド結合、エーテル結合、ウレタン結合、ウレア結合など)を介して結合させることによって製造することができる。尚、前記リンカーは、ND粒子の表面官能基に縮合剤を反応させる等の方法により形成できる。
(Method for preparing ND particle dispersion)
For the hydrophilic ND particles, for example, ND particles having surface functional groups such as OH, COOH, and NH2 groups are used, and a hydrophilic polymer is directly attached to the surface functional groups of the ND particles, or a linker (such as , ester bond, amide bond, imide bond, ether bond, urethane bond, urea bond, etc.). The linker can be formed by a method such as reacting the surface functional groups of the ND particles with a condensing agent.

そして、爆轟法によれば、OH基、COOH基、NH2基等の表面官能基を備えたND粒子が得られる。また、衝撃圧縮法に比べて、平均粒子径が小さいND粒子が得られる。そのため、本発明においては、ND粒子の製造方法として爆轟法が好ましい。 Then, according to the detonation method, ND particles having surface functional groups such as OH groups, COOH groups, and NH 2 groups are obtained. In addition, ND particles having a smaller average particle size can be obtained as compared with the impact compression method. Therefore, in the present invention, the detonation method is preferred as the method for producing ND particles.

以下に、ポリグリセリン鎖を含む表面修飾基を備えたND粒子の分散液の製造方法の一例を説明するが、本発明で使用するND粒子分散液は以下の製造方法によって得られるものに限定されない。 An example of a method for producing a dispersion of ND particles having surface modification groups containing polyglycerol chains is described below, but the ND particle dispersion used in the present invention is not limited to that obtained by the following production method. .

(生成工程)
まず、爆薬に電気雷管が装着されたものを爆轟用の耐圧性容器の内部に設置し、容器内において大気組成の常圧の気体と使用爆薬とが共存する状態で、容器を密閉する。容器は例えば鉄製で、容器の容積は例えば0.5~40m3である。爆薬としては、トリニトロトルエン(TNT)とシクロトリメチレントリニトロアミンすなわちヘキソーゲン(RDX)との混合物を使用することができる。TNTとRDXの質量比(TNT/RDX)は、例えば40/60~60/40の範囲である。
(Generation process)
First, an explosive with an electric detonator attached is placed inside a pressure-resistant container for detonation, and the container is sealed in a state in which a normal-pressure gas of atmospheric composition and the explosive used coexist in the container. The container is, for example, made of iron and has a volume of, for example, 0.5 to 40 m 3 . As an explosive, a mixture of trinitrotoluene (TNT) and cyclotrimethylenetrinitroamine or hexogen (RDX) can be used. The mass ratio of TNT and RDX (TNT/RDX) is, for example, in the range of 40/60 to 60/40.

生成工程では、次に、電気雷管を起爆させ、容器内で爆薬を爆轟させる。爆轟の際、使用爆薬が部分的に不完全燃焼を起こして遊離した炭素を原料として、爆発で生じた衝撃波の圧力とエネルギーの作用によってND粒子が生成する。生成したND粒子は、隣接する一次粒子ないし結晶子の間がファンデルワールス力の作用に加えて結晶面間クーロン相互作用が寄与して非常に強固に集成し、凝着体を成す。 In the production process, an electric detonator is then detonated to detonate the explosive within the container. At the time of detonation, ND particles are generated by the action of the pressure and energy of the shock wave generated by the explosion, using the carbon liberated by partial incomplete combustion of the explosive used as a raw material. Adjacent primary particles or crystallites of the produced ND particles are very strongly aggregated to form an aggregate due to the effect of the van der Waals force and the contribution of the Coulomb interaction between the crystal planes.

生成工程では、次に、室温において24時間程度放置することにより放冷し、容器およびその内部を降温させる。この放冷の後、容器の内壁に付着しているND粒子粗生成物(上述のようにして生成したND粒子の凝着体および煤を含む)をヘラで掻き取る作業を行うことによってND粒子粗生成物が得られる。 In the production step, the mixture is then left at room temperature for about 24 hours to allow the temperature of the container and its interior to drop. After this standing to cool, the ND particles are removed by scraping with a spatula the coarse ND particles adhering to the inner wall of the container (including the agglomerate of ND particles and soot produced as described above). A crude product is obtained.

(酸処理工程)
酸処理工程は、原料であるND粒子粗生成物に例えば水溶媒中で強酸を作用させて金属酸化物を除去する工程である。爆轟法で得られるND粒子粗生成物には金属酸化物が含まれやすく、この金属酸化物は爆轟法に使用される容器等に由来するFe、Co、Ni等の酸化物である。例えば水溶媒中で所定の強酸を作用させることにより、ND粒子粗生成物から金属酸化物を溶解・除去することができる。この酸処理に用いる強酸としては鉱酸が好ましく、例えば、塩酸、フッ化水素酸、硫酸、硝酸、及びこれらの混合物等が挙げられる。酸処理で使用する強酸の濃度は例えば1~50質量%である。酸処理温度は例えば70~150℃である。酸処理時間は例えば0.1~24時間である。また、酸処理は、減圧下、常圧下、または加圧下で行うことが可能である。このような酸処理の後は、例えばデカンテーションにより、沈殿液のpHが例えば2~3に至るまで、固形分(ND凝着体を含む)の水洗を行うことが好ましい。爆轟法で得られるND粒子粗生成物における金属酸化物の含有量が少ない場合には、以上のような酸処理は省略してもよい。
(Acid treatment step)
The acid treatment step is a step of applying a strong acid to the crude ND particles, which is a raw material, in a water solvent, for example, to remove metal oxides. The ND particle coarse product obtained by the detonation method tends to contain metal oxides, and the metal oxides are oxides of Fe, Co, Ni, etc. derived from the container or the like used in the detonation method. For example, metal oxides can be dissolved and removed from the crude ND grains by applying a predetermined strong acid in an aqueous solvent. The strong acid used in this acid treatment is preferably a mineral acid such as hydrochloric acid, hydrofluoric acid, sulfuric acid, nitric acid, and mixtures thereof. The concentration of strong acid used in acid treatment is, for example, 1 to 50% by mass. The acid treatment temperature is, for example, 70-150.degree. The acid treatment time is, for example, 0.1 to 24 hours. Moreover, the acid treatment can be performed under reduced pressure, normal pressure, or increased pressure. After such an acid treatment, it is preferable to wash the solid content (including ND aggregates) with water, for example, by decantation until the pH of the precipitate reaches, for example, 2 to 3. When the content of metal oxides in the ND grain coarse product obtained by the detonation method is small, the above acid treatment may be omitted.

(酸化処理工程)
酸化処理工程は、酸化剤を用いてND粒子粗生成物からグラファイトを除去する工程である。爆轟法で得られるND粒子粗生成物にはグラファイト(黒鉛)が含まれるが、このグラファイトは、使用爆薬が部分的に不完全燃焼を起こして遊離した炭素のうちND結晶を形成しなかった炭素に由来する。例えば上記の酸処理を経た後に、水溶媒中で所定の酸化剤を作用させることにより、ND粒子粗生成物からグラファイトを除去することができる。また、酸化剤を作用させることにより、ND表面にカルボキシル基や水酸基などの酸素含有基を導入することができる。
(Oxidation treatment step)
The oxidation treatment step is a step of removing graphite from the ND grain coarse product using an oxidizing agent. Graphite (black lead) is included in the ND particle crude product obtained by the detonation method, but this graphite did not form ND crystals out of the carbon liberated due to partial incomplete combustion of the explosive used. Derived from carbon. For example, graphite can be removed from the ND grain crude product by reacting a predetermined oxidizing agent in a water solvent after the acid treatment. Also, oxygen-containing groups such as carboxyl groups and hydroxyl groups can be introduced to the ND surface by applying an oxidizing agent.

この酸化処理に用いられる酸化剤としては、例えば、クロム酸、無水クロム酸、二クロム酸、過マンガン酸、過塩素酸、硝酸、及びこれらの混合物や、これらから選択される少なくとも1種の酸と他の酸(例えば硫酸等)との混酸、及びこれらの塩が挙げられる。本発明においては、なかでも、混酸(特に、硫酸と硝酸との混酸)を使用することが、環境に優しく、且つグラファイトを酸化・除去する作用に優れる点で好ましい。 Examples of oxidizing agents used in this oxidation treatment include chromic acid, chromic anhydride, dichromic acid, permanganic acid, perchloric acid, nitric acid, mixtures thereof, and at least one acid selected from these. and other acids (for example, sulfuric acid, etc.), and salts thereof. In the present invention, among others, it is preferable to use a mixed acid (especially a mixed acid of sulfuric acid and nitric acid) because it is environmentally friendly and has an excellent effect of oxidizing and removing graphite.

前記混酸における硫酸と硝酸との混合割合(前者/後者;質量比)は、例えば60/40~95/5であることが、常圧付近の圧力(例えば、0.5~2atm)の下でも、例えば130℃以上(特に好ましくは150℃以上。尚、上限は、例えば200℃)の温度で、効率よくグラファイトを酸化して除去することができる点で好ましい。下限は、好ましくは65/35、特に好ましくは70/30である。また、上限は、好ましくは90/10、特に好ましくは85/15、最も好ましくは80/20である。 The mixing ratio of sulfuric acid and nitric acid in the mixed acid (former/latter; mass ratio) is, for example, 60/40 to 95/5, even under pressure near normal pressure (for example, 0.5 to 2 atm). , for example, at a temperature of 130° C. or higher (particularly preferably 150° C. or higher; the upper limit is, for example, 200° C.), because graphite can be efficiently oxidized and removed. The lower limit is preferably 65/35, particularly preferably 70/30. Also, the upper limit is preferably 90/10, particularly preferably 85/15, most preferably 80/20.

混酸における硝酸の割合が上記範囲を上回ると、高沸点を有する硫酸の含有量が少なくなるため、常圧付近の圧力下では、反応温度が例えば120℃以下となり、グラファイトの除去効率が低下する傾向がある。一方、混酸における硝酸の割合が上記範囲を下回ると、グラファイトの酸化に大きく貢献する硝酸の含有量が少なくなるため、グラファイトの除去効率が低下する傾向がある。 When the ratio of nitric acid in the mixed acid exceeds the above range, the content of sulfuric acid having a high boiling point is reduced, so that the reaction temperature becomes, for example, 120° C. or lower under pressure near normal pressure, and the graphite removal efficiency tends to decrease. There is On the other hand, when the ratio of nitric acid in the mixed acid is below the above range, the content of nitric acid, which greatly contributes to the oxidation of graphite, is reduced, so the efficiency of removing graphite tends to decrease.

酸化剤(特に、前記混酸)の使用量は、ND粒子粗生成物1質量部に対して例えば10~50質量部、好ましくは15~40質量部、特に好ましくは20~40質量部である。また、前記混酸中の硫酸の使用量は、ND粒子粗生成物1質量部に対して例えば5~48質量部、好ましくは10~35質量部、特に好ましくは15~30質量部であり、前記混酸中の硝酸の使用量は、ND粒子粗生成物1質量部に対して例えば2~20質量部、好ましくは4~10質量部、特に好ましくは5~8質量部である。 The amount of the oxidizing agent (especially the mixed acid) used is, for example, 10 to 50 parts by weight, preferably 15 to 40 parts by weight, and particularly preferably 20 to 40 parts by weight, per 1 part by weight of the crude ND grains. The amount of sulfuric acid used in the mixed acid is, for example, 5 to 48 parts by mass, preferably 10 to 35 parts by mass, and particularly preferably 15 to 30 parts by mass, based on 1 part by mass of the crude ND particles. The amount of nitric acid used in the mixed acid is, for example, 2 to 20 parts by weight, preferably 4 to 10 parts by weight, particularly preferably 5 to 8 parts by weight, per 1 part by weight of the crude ND grains.

また、酸化剤として前記混酸を使用する場合、混酸と共に触媒を使用しても良い。触媒を使用することにより、グラファイトの除去効率を一層向上することができる。前記触媒としては、例えば、炭酸銅(II)等が挙げられる。触媒の使用量は、ND粒子粗生成物100質量部に対して例えば0.01~10質量部程度である。 Moreover, when using the said mixed acid as an oxidizing agent, you may use a catalyst with a mixed acid. By using a catalyst, the graphite removal efficiency can be further improved. Examples of the catalyst include copper (II) carbonate and the like. The amount of the catalyst used is, for example, about 0.01 to 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the crude ND particles.

酸化処理温度は例えば100~200℃である。酸化処理時間は例えば1~24時間である。酸化処理は、減圧下、常圧下、または加圧下で行うことが可能である。 The oxidation treatment temperature is, for example, 100-200.degree. The oxidation treatment time is, for example, 1 to 24 hours. The oxidation treatment can be performed under reduced pressure, normal pressure, or increased pressure.

(乾燥工程)
本方法では、次に、乾燥工程を設けることが好ましく、例えば、上記工程を経て得られたND粒子含有溶液から噴霧乾燥装置やエバポレーター等を使用して液分を蒸発させた後、これによって生じる残留固形分を乾燥用オーブン内での加熱乾燥によって乾燥させる。加熱乾燥温度は、例えば40~150℃である。このような乾燥工程を経ることにより、ND粉体が得られる。
(Drying process)
In this method, it is preferable to provide a drying step next. Residual solids are dried by heat drying in a drying oven. The heat drying temperature is, for example, 40 to 150.degree. ND powder is obtained through such a drying process.

(酸素酸化工程)
酸素酸化工程では、ガス雰囲気炉を使用してND粉体を酸素を含有する所定組成のガス雰囲気下にて加熱する。具体的には、ガス雰囲気炉内にND粉体が配され、当該炉に対して酸素含有ガスが供給ないし通流され、加熱温度として設定された温度条件まで当該炉内が昇温されて酸素酸化処理が実施される。
(Oxygen oxidation process)
In the oxygen oxidation step, a gas atmosphere furnace is used to heat the ND powder in a gas atmosphere containing oxygen and having a predetermined composition. Specifically, ND powder is placed in a gas atmosphere furnace, an oxygen-containing gas is supplied or flowed to the furnace, and the inside of the furnace is heated to a temperature condition set as a heating temperature, and oxygen An oxidation treatment is performed.

酸素酸化処理の温度条件は、例えば250~500℃である。ネガティブのゼータ電位を有するND粒子を得るためには、この酸素酸化処理の温度条件は、比較的に高温であることが好ましく、例えば400~450℃である。また、前記酸素含有ガスは、酸素に加えて不活性ガスを含有する混合ガスである。不活性ガスとしては、例えば、窒素、アルゴン、二酸化炭素、およびヘリウムが挙げられる。当該混合ガスの酸素濃度は、例えば1~35体積%である。 The temperature conditions for the oxygen oxidation treatment are, for example, 250 to 500.degree. In order to obtain ND particles having a negative zeta potential, the temperature condition for this oxygen oxidation treatment is preferably relatively high, eg, 400-450.degree. Also, the oxygen-containing gas is a mixed gas containing an inert gas in addition to oxygen. Inert gases include, for example, nitrogen, argon, carbon dioxide, and helium. The oxygen concentration of the mixed gas is, for example, 1 to 35% by volume.

(水素化工程)
また、ポジティブのゼータ電位を有するND粒子を所望する場合には、上述の酸素酸化工程の後に水素化工程を行う。水素化工程では、酸素酸化工程を経たND粉体について、ガス雰囲気炉を使用して、水素を含有する所定組成のガス雰囲気下にて加熱する。具体的には、ND粉体が内部に配されているガス雰囲気炉に対して水素含有ガスが供給ないし通流され、加熱温度として設定された温度条件まで当該炉内が昇温されて水素化処理が実施される。この水素化処理の温度条件は、例えば400~800℃である。また、前記水素含有ガスとしては、水素に加えて不活性ガスを含有する混合ガスが好ましい。不活性ガスとしては、例えば、窒素、アルゴン、二酸化炭素、およびヘリウムが挙げられる。当該混合ガスの水素濃度は、例えば1~50体積%である。
(Hydrogenation process)
Also, if ND particles with a positive zeta potential are desired, a hydrogenation step is performed after the oxygen oxidation step described above. In the hydrogenation step, the ND powder that has undergone the oxygen oxidation step is heated in a gas atmosphere of a predetermined composition containing hydrogen using a gas atmosphere furnace. Specifically, a hydrogen-containing gas is supplied or flowed to a gas atmosphere furnace in which the ND powder is arranged, and the temperature inside the furnace is raised to the temperature condition set as the heating temperature to hydrogenate. Processing is performed. The temperature condition for this hydrogenation treatment is, for example, 400 to 800.degree. Moreover, the hydrogen-containing gas is preferably a mixed gas containing an inert gas in addition to hydrogen. Inert gases include, for example, nitrogen, argon, carbon dioxide, and helium. The hydrogen concentration of the mixed gas is, for example, 1 to 50% by volume.

(解砕工程)
以上のような一連の過程を経て精製された後であっても、ND粒子は、一次粒子間が非常に強く相互作用して集成している凝着体(二次粒子)の形態をとる場合が多い。そのため、解砕工程を行い凝着体から一次粒子を分離させることが好ましい。具体的には、まず、酸素酸化工程またはその後の水素化工程を経たND粉体を純水に懸濁し、ND粒子を含有するスラリーを調製する。スラリーの調製にあたっては、比較的に大きな集成体をND粒子懸濁液から除去するために遠心分離処理を行ってもよいし、ND粒子懸濁液に超音波処理を施してもよい。そして、当該スラリーを湿式の解砕処理に付す。解砕処理は、例えば、高剪断ミキサー、ハイシアーミキサー、ホモミキサー、ボールミル、ビーズミル、高圧ホモジナイザー、超音波ホモジナイザー、またはコロイドミルを使用して行うことができる。これらを組み合わせて解砕処理を実施してもよい。効率性の観点からはビーズミルを使用するのが好ましい。
(Crushing process)
Even after being purified through the series of processes described above, ND particles may take the form of agglomerates (secondary particles) in which primary particles interact very strongly and aggregate. There are many. Therefore, it is preferable to perform a crushing step to separate the primary particles from the aggregate. Specifically, first, ND powder that has undergone an oxygen oxidation step or a subsequent hydrogenation step is suspended in pure water to prepare a slurry containing ND particles. In preparing the slurry, centrifugation may be performed to remove larger aggregates from the ND particle suspension, and the ND particle suspension may be subjected to ultrasonic treatment. Then, the slurry is subjected to a wet crushing treatment. Disintegration can be performed using, for example, a high shear mixer, high shear mixer, homomixer, ball mill, bead mill, high pressure homogenizer, ultrasonic homogenizer, or colloid mill. The crushing treatment may be carried out by combining these methods. From the viewpoint of efficiency, it is preferable to use a bead mill.

このような解砕工程を経ることによって、ND一次粒子を含有するND粒子水分散液を得ることができる。解砕工程を経て得られる分散液については、粗大粒子を除去するために分級操作を行ってもよい。 An aqueous dispersion of ND particles containing primary ND particles can be obtained through such a pulverization step. The dispersion liquid obtained through the pulverization step may be subjected to a classification operation to remove coarse particles.

(乾燥工程)
本方法では、次に、乾燥工程を設けることが好ましく、例えば、上記工程を経て得られたND粒子水分散液から噴霧乾燥装置やエバポレーター等を使用して液分を蒸発させた後、これによって生じる残留固形分を乾燥用オーブン内での加熱乾燥によって乾燥させる。加熱乾燥温度は、例えば40~150℃である。このような乾燥工程を経ることにより、ND粒子が粉体として得られる。
(Drying process)
In this method, it is preferable to then provide a drying step. For example, after evaporating the liquid component from the ND particle aqueous dispersion obtained through the above steps using a spray dryer, an evaporator, or the like, The resulting residual solids are dried by heat drying in a drying oven. The heat drying temperature is, for example, 40 to 150.degree. Through such a drying process, ND particles are obtained as powder.

(修飾工程)
ポリグリセリン鎖を含む表面修飾基を備えたND粒子は、例えば、上記工程を経て得られたND粒子に直接グリシドールを開環重合させることにより得ることができる。ND粒子はその表面に製造過程で生じるカルボキシル基や水酸基を有しており、これらの官能基とグリシドールを反応させることにより、NDの表面をポリグリセリン鎖によって修飾できる。
(Modification process)
ND particles having surface modification groups containing polyglycerol chains can be obtained, for example, by directly subjecting the ND particles obtained through the above steps to ring-opening polymerization of glycidol. ND particles have carboxyl groups and hydroxyl groups on their surfaces generated during the manufacturing process, and by reacting these functional groups with glycidol, the surface of NDs can be modified with polyglycerin chains.

ND粒子とグリシドールとの反応(開環重合)は、例えば、不活性ガス雰囲気下でND粒子にグリシドール及び触媒を添加し、50~100℃に加熱することによって行うことができる。前記触媒としては、酸性触媒や塩基性触媒を用いることができる。前記酸性触媒としては、例えば、トリフルオロホウ素エーテラート、酢酸、リン酸等が挙げられ、塩基性触媒としては、例えば、トリエチルアミン、ピリジン、ジメチルアミノピリジン、トリフェニルホスフィン等が挙げられる。 The reaction (ring-opening polymerization) between ND particles and glycidol can be carried out, for example, by adding glycidol and a catalyst to ND particles under an inert gas atmosphere and heating to 50 to 100°C. As the catalyst, an acidic catalyst or a basic catalyst can be used. Examples of the acidic catalyst include trifluoroboron etherate, acetic acid, and phosphoric acid, and examples of the basic catalyst include triethylamine, pyridine, dimethylaminopyridine, triphenylphosphine, and the like.

開環重合に付すグリシドールの使用量は、ND粒子1質量部に対して、例えば20質量部以上であり、好ましくは20~150質量部である。グリシドールの使用量が上記範囲を下回ると十分な分散性が得られにくくなる傾向がある。 The amount of glycidol used in the ring-opening polymerization is, for example, 20 parts by mass or more, preferably 20 to 150 parts by mass, per 1 part by mass of the ND particles. If the amount of glycidol used is less than the above range, it tends to be difficult to obtain sufficient dispersibility.

従って、本発明におけるND粒子としては、ND粒子の表面に、ND粒子1質量部に対して、20質量部以上(好ましくは、20~150質量部)のグリシドールの開環重合物を備える、ポリグリセリン鎖を含む表面修飾基を備えたND粒子が好ましい。 Therefore, as the ND particles in the present invention, the surface of the ND particles is provided with 20 parts by mass or more (preferably 20 to 150 parts by mass) of a ring-opening polymer of glycidol with respect to 1 part by mass of the ND particles. ND particles with surface modification groups comprising glycerol chains are preferred.

反応終了後、得られた反応生成物は、例えば、濾過、遠心分離、抽出、水洗、中和等や、これらを組み合わせた手段により精製処理を施すことが好ましい。これにより、本発明におけるND粒子分散液(好ましくは、ND粒子水分散液)が得られる。 After completion of the reaction, the resulting reaction product is preferably subjected to purification treatment by, for example, filtration, centrifugation, extraction, washing with water, neutralization, or a combination thereof. As a result, an ND particle dispersion (preferably an aqueous ND particle dispersion) in the present invention is obtained.

[電子部品]
本発明の電子部品は、上記めっき膜を備えることを特徴とする。本発明の電子部品は、上記めっき膜以外にも他のめっき膜を有していてもよく、例えば、下地めっき膜としてNi/Auめっき膜等を1層又は2層以上有していてもよい。本発明の電子部品には例えば、携帯情報端末(PDA)や携帯電話等の電子機器用接続部品(例えば、コネクタ等)が含まれる。
[Electronic parts]
An electronic component according to the present invention includes the plating film described above. The electronic component of the present invention may have a plating film other than the plating film described above, and may have, for example, one or more layers of Ni/Au plating film or the like as a base plating film. . The electronic parts of the present invention include, for example, connection parts (for example, connectors, etc.) for electronic devices such as personal digital assistants (PDAs) and mobile phones.

[光沢剤]
本発明のめっき膜の光沢剤は、上記ポリグリセリン鎖を含む表面修飾基を備えたナノダイヤモンド粒子を含むことを特徴とする。
[Brightener]
The plating film brightener of the present invention is characterized by containing nanodiamond particles having a surface modification group containing the polyglycerol chain.

前記光沢剤は、上記ポリグリセリン鎖を含む表面修飾基を備えたナノダイヤモンド粒子以外にも他の成分を含有していても良いが、光沢剤全量における前記ナノダイヤモンド粒子の占める割合は、例えば50質量%以上、好ましくは60質量%以上、特に好ましくは70質量%以上、最も好ましくは80質量%以上、とりわけ好ましくは90質量%以上である。 The brightener may contain other components in addition to the nanodiamond particles having surface modification groups containing polyglycerol chains, but the ratio of the nanodiamond particles to the total amount of the brightener is, for example, 50%. % by mass or more, preferably 60% by mass or more, particularly preferably 70% by mass or more, most preferably 80% by mass or more, and particularly preferably 90% by mass or more.

前記光沢剤には、上述の従来ND粒子を分散させるために使用されてきた界面活性剤を添加する必要がない。従って、本発明におけるレベリング剤中の界面活性剤(例えば、分子量3万~20万の、非イオン系界面活性剤等)の含有量は、例えば0.5g/L未満、好ましくは0.1g/L以下、特に好ましくは0.05g/L以下、最も好ましくは0.01g/L以下であり、前記界面活性剤を実質的に含有しないことがとりわけ好ましい。 The brightener does not require the addition of surfactants conventionally used to disperse ND particles as described above. Therefore, the content of the surfactant (for example, a nonionic surfactant having a molecular weight of 30,000 to 200,000) in the leveling agent in the present invention is, for example, less than 0.5 g/L, preferably 0.1 g/L. L or less, particularly preferably 0.05 g/L or less, most preferably 0.01 g/L or less, and it is particularly preferred that the surfactant is substantially free.

以下、実施例により本発明をより具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例により限定されるものではない。尚、ND粒子濃度、粒径、及びゼータ電位は以下の方法で測定した。 EXAMPLES The present invention will be described in more detail with reference to examples below, but the present invention is not limited to these examples. The ND particle concentration, particle size, and zeta potential were measured by the following methods.

〈ND粒子濃度〉
ND粒子水分散液のND粒子濃度は、秤量した分散液3~5gの当該秤量値と、当該秤量分散液から加熱によって水分を蒸発させた後に残留する乾燥物(粉体)について精密天秤によって秤量した値とに基づき、算出した。
<ND particle concentration>
The ND particle concentration of the ND particle aqueous dispersion is obtained by weighing the weighed value of 3 to 5 g of the weighed dispersion and the dry matter (powder) remaining after evaporating water from the weighed dispersion by heating with a precision balance. calculated based on

〈粒径〉
ND粒子水分散液やめっき浴中に含まれるND粒子の粒径(メディアン径、D10、D50、及びD90)は、Malvern社製の装置(商品名「ゼータサイザー ナノZS」)を使用して、動的光散乱法(非接触後方散乱法)によって測定した。
<Particle size>
The particle size (median diameter, D10, D50, and D90) of the ND particles contained in the ND particle aqueous dispersion and the plating bath is measured using an apparatus manufactured by Malvern (trade name "Zetasizer Nano ZS"). It was measured by a dynamic light scattering method (non-contact backscattering method).

〈ゼータ電位〉
ND粒子水分散液に含まれるND粒子のゼータ電位は、Malvern社製の装置(商品名「ゼータサイザー ナノZS」)を使用して、レーザードップラー式電気泳動法によって測定した。測定に付されたND粒子水分散液は、ND粒子濃度が0.2質量%となるように超純水で希釈された後に超音波洗浄機による超音波照射を経たものであり、ゼータ電位測定温度は25℃である。
<Zeta potential>
The zeta potential of the ND particles contained in the ND particle aqueous dispersion was measured by laser Doppler electrophoresis using an apparatus manufactured by Malvern (trade name “Zetasizer Nano ZS”). The ND particle aqueous dispersion subjected to the measurement was diluted with ultrapure water so that the ND particle concentration was 0.2% by mass, and then subjected to ultrasonic irradiation by an ultrasonic cleaner. The temperature is 25°C.

調製例1
以下工程を経て、ND粒子水分散液を作製した。
(生成工程)
まず、成形された爆薬に電気雷管が装着されたものを爆轟用の耐圧性容器(鉄製、容積:15m3)の内部に設置して容器を密閉した。爆薬としては、TNTとRDXとの混合物(TNT/RDX(質量比)=50/50)0.50kgを使用した。次に、電気雷管を起爆させ、容器内で爆薬を爆轟させた。次に、室温で24時間放置して、容器およびその内部を降温させた。この放冷の後、容器の内壁に付着しているND粒子粗生成物(上記爆轟法で生成したND粒子の凝着体と煤を含む)を回収してND粒子粗生成物を得た。
Preparation example 1
An aqueous dispersion of ND particles was prepared through the following steps.
(Generation process)
First, a molded explosive to which an electric detonator was attached was placed inside a pressure-resistant container for detonation (made of iron, volume: 15 m 3 ), and the container was sealed. As an explosive, 0.50 kg of a mixture of TNT and RDX (TNT/RDX (mass ratio) = 50/50) was used. An electric detonator was then detonated to detonate the explosive within the container. Next, the temperature of the container and its interior was lowered by allowing it to stand at room temperature for 24 hours. After this cooling, the crude ND particles adhering to the inner wall of the container (including the ND particle agglomerate and soot produced by the detonation method) were recovered to obtain the crude ND particles. .

(酸処理工程)
次に、上記工程で得たND粒子粗生成物に対して酸処理を行った。具体的には、当該ND粒子粗生成物200gに6Lの10質量%塩酸を加えて得られたスラリーに対し、常圧条件での還流下で1時間の加熱処理(加熱温度:85~100℃)を行った。次に、冷却後、デカンテーションにより、固形分(ND凝着体と煤を含む)の水洗を行った。沈殿液のpHが低pH側から2に至るまで、デカンテーションによる当該固形分の水洗を反復して行った。
(Acid treatment step)
Next, the ND grain coarse product obtained in the above step was subjected to an acid treatment. Specifically, a slurry obtained by adding 6 L of 10% by mass hydrochloric acid to 200 g of the ND grain crude product was heat-treated under reflux under normal pressure conditions for 1 hour (heating temperature: 85 to 100° C. ) was performed. Next, after cooling, the solid content (including ND aggregate and soot) was washed with water by decantation. The solid content was repeatedly washed with water by decantation until the pH of the precipitate reached 2 from the low pH side.

(酸化処理工程)
次に、混酸処理を行った。具体的には、酸処理後のデカンテーションを経て得た沈殿液(ND凝着体を含む)に、6Lの98質量%硫酸水溶液と1Lの69質量%硝酸水溶液とを加えてスラリーとした後、このスラリーに対し、常圧条件及び還流下において48時間の加熱処理(加熱温度:140~160℃)を行った。次に、冷却後、デカンテーションにより、固形分(ND凝着体を含む)の水洗を行った。水洗当初の上澄み液は着色していたが、上澄み液が目視で透明になるまで、デカンテーションによる当該固形分の水洗を反復して行った。
(Oxidation treatment step)
Next, a mixed acid treatment was performed. Specifically, 6 L of a 98% by mass sulfuric acid aqueous solution and 1 L of a 69% by mass aqueous nitric acid solution are added to a precipitate (including ND aggregates) obtained through decantation after an acid treatment to form a slurry. This slurry was subjected to heat treatment (heating temperature: 140-160° C.) for 48 hours under normal pressure conditions and under reflux. After cooling, the solid content (including the ND aggregate) was washed with water by decantation. Although the supernatant liquid at the beginning of water washing was colored, washing of the solid content with water by decantation was repeated until the supernatant liquid became visually transparent.

(乾燥工程)
次に、上述の水洗処理を経て得られたND粒子含有液1000mLを、噴霧乾燥装置(商品名「スプレードライヤー B-290」、日本ビュッヒ(株)製)を使用して噴霧乾燥に付した。これにより、50gのND粉体を得た。
(Drying process)
Next, 1000 mL of the ND particle-containing liquid obtained through the above water washing treatment was subjected to spray drying using a spray drying apparatus (trade name “Spray Dryer B-290” manufactured by Nippon Buchi Co., Ltd.). This gave 50 g of ND powder.

(酸素酸化工程)
次に、上述のようにして得られたND粉体4.5gをガス雰囲気炉(商品名「ガス雰囲気チューブ炉 KTF045N1」、光洋サーモシステム(株)製)の炉心管内に静置し、炉心管に窒素ガスを流速1L/分で30分間通流させ続けた後、通流ガスを窒素から酸素と窒素との混合ガスへと切り替えて当該混合ガスを流速1L/分で炉心管に通流させ続けた。混合ガス中の酸素濃度は4体積%である。混合ガスへの切り替えの後、炉内を加熱設定温度たる400℃まで昇温させた。昇温速度については、加熱設定温度より20℃低い380℃までは10℃/分とし、その後の380℃から400℃までは1℃/分とした。そして、炉内の温度条件を400℃に維持しつつ、炉内のND粉体について酸素酸化処理を行った。処理時間は3時間とした。
(Oxygen oxidation process)
Next, 4.5 g of the ND powder obtained as described above was left still in the core tube of a gas atmosphere furnace (trade name “Gas Atmosphere Tube Furnace KTF045N1” manufactured by Koyo Thermo Systems Co., Ltd.). After continuing to flow nitrogen gas at a flow rate of 1 L/min for 30 minutes, the flowing gas is switched from nitrogen to a mixed gas of oxygen and nitrogen, and the mixed gas is flowed through the furnace core tube at a flow rate of 1 L/min. continued. The oxygen concentration in the mixed gas is 4% by volume. After switching to the mixed gas, the temperature inside the furnace was raised to 400° C., which is the heating set temperature. The heating rate was 10°C/min up to 380°C, which is 20°C lower than the heating set temperature, and 1°C/min from 380°C to 400°C thereafter. Then, while maintaining the temperature condition in the furnace at 400° C., the ND powder in the furnace was subjected to an oxygen oxidation treatment. The treatment time was 3 hours.

酸素酸化処理後、下記FT-IR分析により、ND粒子におけるカルボキシ基等の含酸素官能基の評価を行った。この分析で得られたスペクトルより、C=O伸縮振動に帰属する1780cm-1付近の吸収がメインピークとして検出された。このことから、前記ND粉体には、表面官能基としてカルボキシル基を有するND粒子(ND-COOH)が主に含まれることが確認できた。
<FT-IR分析条件>
FT-IR装置(商品名「Spectrum400型FT-IR」、(株)パーキンエルマージャパン製)を使用して、フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR)を行った。本測定においては、試料を真空雰囲気下で150℃に加熱しつつ赤外吸収スペクトルを測定した。真空雰囲気下の加熱には、エス・ティ・ジャパン社製のModel-HC900型Heat ChamberとTC-100WA型Thermo Controllerとを併用した。
After the oxygen oxidation treatment, oxygen-containing functional groups such as carboxy groups in the ND particles were evaluated by the following FT-IR analysis. From the spectrum obtained by this analysis, absorption near 1780 cm −1 attributed to C═O stretching vibration was detected as a main peak. From this, it was confirmed that the ND powder mainly contained ND particles (ND-COOH) having a carboxyl group as a surface functional group.
<FT-IR analysis conditions>
Fourier transform infrared spectroscopy (FT-IR) was performed using an FT-IR device (trade name “Spectrum 400 type FT-IR”, manufactured by PerkinElmer Japan Co., Ltd.). In this measurement, the infrared absorption spectrum was measured while heating the sample to 150° C. in a vacuum atmosphere. For heating under vacuum atmosphere, Model-HC900 type Heat Chamber and TC-100WA type Thermo Controller manufactured by ST Japan Co., Ltd. were used together.

(解砕工程)
まず、酸素酸化工程を経たND粉体0.3gと純水29.7mLとを50mLのサンプル瓶内で混合し、スラリー約30mLを得た。次に、当該スラリーについて、1Nの水酸化ナトリウム水溶液の添加によりpHを調整した後、超音波照射器(商品名「超音波洗浄機 AS-3」、アズワン(AS ONE)社製)を使用して2時間の超音波照射を行った。この後、ビーズミリング装置(商品名「並列四筒式サンドグラインダー LSG-4U-2L型」、アイメックス(株)製)を使用してビーズミリングを行った。具体的には、100mLのミル容器であるベッセル(アイメックス(株)製)に超音波照射後のスラリー30mLと直径30μmのジルコニアビーズとを封入し、装置を駆動させてビーズミリングを実行した。このビーズミリングにおいて、ジルコニアビーズの投入量は、ミル容器の容積に対して約33%であり、ミル容器の回転速度は2570rpmであり、ミリング時間は2時間である。
(Crushing process)
First, 0.3 g of ND powder that has undergone the oxygen oxidation process and 29.7 mL of pure water were mixed in a 50 mL sample bottle to obtain about 30 mL of slurry. Next, after adjusting the pH of the slurry by adding a 1N sodium hydroxide aqueous solution, an ultrasonic irradiator (trade name “Ultrasonic Cleaner AS-3”, manufactured by AS ONE) was used. was subjected to ultrasonic irradiation for 2 hours. After that, bead milling was performed using a bead milling device (trade name: “parallel four-cylinder sand grinder LSG-4U-2L type”, manufactured by Imex Co., Ltd.). Specifically, 30 mL of the slurry after ultrasonic irradiation and zirconia beads with a diameter of 30 μm were enclosed in a 100 mL mill vessel Vessel (manufactured by Imex Co., Ltd.), and the apparatus was driven to perform bead milling. In this bead milling, the input amount of zirconia beads is about 33% with respect to the volume of the mill vessel, the rotation speed of the mill vessel is 2570 rpm, and the milling time is 2 hours.

次に、解砕工程を経たスラリーについて、遠心分離装置を使用して遠心分離処理を行った(分級操作)。この遠心分離処理における遠心力は20000×gとし、遠心時間は10分間とした。 Next, the slurry that had undergone the pulverization step was subjected to centrifugal separation using a centrifugal separator (classification operation). The centrifugal force in this centrifugation treatment was 20000×g, and the centrifugation time was 10 minutes.

次に、当該遠心分離処理を経たND粒子含有溶液の上澄み液25mLを回収し、ND粒子水分散液(ND-COOH)を得た。ND粒子水分散液中のND粒子濃度は11.8g/Lであった。また、pH試験紙(商品名「スリーバンドpH試験紙」、アズワン(株)製)を使用して測定したところ、pHは9.33であった。粒径D50は3.97nm、粒径D90は7.20nm、ゼータ電位は-42mVであった。 Next, 25 mL of the supernatant liquid of the ND particle-containing solution that had undergone the centrifugation treatment was collected to obtain an ND particle aqueous dispersion (ND-COOH). The ND particle concentration in the ND particle aqueous dispersion was 11.8 g/L. Further, the pH was 9.33 when measured using a pH test paper (trade name "Three Band pH Test Paper", manufactured by AS ONE Corporation). The particle size D50 was 3.97 nm, the particle size D90 was 7.20 nm, and the zeta potential was -42 mV.

得られたND粒子水分散液中の粒子について、X線回折装置(商品名「SmartLab」、リガク社製)を使用して結晶構造解析を行った。その結果、ダイヤモンドの解析ピーク位置、すなわち、ダイヤモンド結晶の(111)面からの回折ピーク位置に強いピークが認められた。これにより、得られた粒子がダイヤモンドの粒子であることが確認できた。 Crystal structure analysis was performed on the obtained particles in the ND particle aqueous dispersion using an X-ray diffractometer (trade name “SmartLab”, manufactured by Rigaku Corporation). As a result, a strong peak was observed at the analysis peak position of diamond, that is, at the diffraction peak position from the (111) plane of the diamond crystal. This confirmed that the obtained particles were diamond particles.

(修飾工程)
上記で得られたND粒子水分散液を、エバポレーターを使用して乾燥させ、黒色の乾燥粉体を得た。得られた乾燥粉体(100mg)を、ガラス製反応器に入れた12mLのグリシドール中に添加し、超音波洗浄器(商品名「BRANSON2510」、マーシャルサイエンティフィック社製)にて、室温で2時間、超音波処理して溶解させた。これを窒素雰囲気下で撹拌しつつ、140℃で20時間反応させた。反応混合液を冷却後、120mLのメタノールを加え、超音波処理した後、50400Gで2時間遠心分離し、沈殿物を得た。この沈殿物に対して、120mLのメタノールを加え、同様に洗浄-遠心分離工程を5回繰り返し、最後に沈殿物に対して透析膜(Spectra/Prodialysis membrane, MWCO: 12-14 kDa)を用いて純水透析を行い、残留メタノールを水に置換して凍結乾燥し、ポリグリセリンで修飾されたND粒子(PG-ND粒子)の灰色粉体を得た。
TG-DTA熱分析により、ND粒子と表面修飾基の比率を測定した結果、ND粒子:表面修飾基=1:0.7であった。
PG-ND灰色粉体と水を加え、ND粒子の質量を基準として、10g/Lになるように濃度調整してPG-ND粒子水分散液を得た。
(Modification process)
The ND particle aqueous dispersion obtained above was dried using an evaporator to obtain a black dry powder. The obtained dry powder (100 mg) was added to 12 mL of glycidol placed in a glass reactor, and washed in an ultrasonic cleaner (trade name "BRANSON 2510", manufactured by Marshall Scientific) at room temperature for 2 hours. sonicated for hours to dissolve. This was reacted at 140° C. for 20 hours while stirring under nitrogen atmosphere. After cooling the reaction mixture, 120 mL of methanol was added, and after ultrasonic treatment, the mixture was centrifuged at 50400 G for 2 hours to obtain a precipitate. 120 mL of methanol is added to this precipitate, and the same washing-centrifugation process is repeated 5 times. Pure water dialysis was performed, residual methanol was replaced with water, and freeze-drying was performed to obtain gray powder of ND particles modified with polyglycerin (PG-ND particles).
TG-DTA thermal analysis measured the ratio of the ND particles and the surface modification groups, and the result was ND particles:surface modification groups=1:0.7.
PG-ND gray powder and water were added and the concentration was adjusted to 10 g/L based on the mass of ND particles to obtain a PG-ND particle aqueous dispersion.

また、得られたPG-ND灰色粉体について、X線回折装置(商品名「SmartLab」、リガク社製)を使用して小角X線散乱測定(SAXS法)を行い、粒子径分布解析ソフト(商品名「NANO-Solver」、リガク社製)を使用して、散乱角度1°~3°の領域についてPG-NDの一次粒子径を見積もった。この見積もりにおいて、PG-ND一次粒子が球形であり且つ粒子密度が3.51g/cm3であると仮定した。その結果、PG-NDの平均粒子径は7nmであった。 Further, the obtained PG-ND gray powder was subjected to small-angle X-ray scattering measurement (SAXS method) using an X-ray diffractometer (trade name "SmartLab", manufactured by Rigaku), and particle size distribution analysis software ( Using a product name "NANO-Solver" manufactured by Rigaku Corporation), the primary particle size of PG-ND was estimated for the scattering angle range of 1° to 3°. In this estimate, we assumed that the PG-ND primary particles were spherical and had a particle density of 3.51 g/cm 3 . As a result, the average particle size of PG-ND was 7 nm.

ここで、衝撃圧縮法で得られたND粒子、及び前記ND粒子を、爆轟法で得られたND粒子と同様の方法でPG表面修飾して得られた修飾ND粒子についても同様に平均粒子径を測定した。その結果、衝撃圧縮法で得られた未修飾ND粒子の平均粒子径は20nm、修飾ND粒子の平均粒子径は23nmであった。このため、爆轟法により得られたND粒子を用いて得られるPG-ND粒子の方が粒子径が小さく、めっき膜を構成する貴金属マトリックス中に分散させる用途には爆轟法PG-ND粒子の方が優れていることがわかった。 Here, ND particles obtained by the impact compression method and modified ND particles obtained by modifying the surface of the ND particles with PG in the same manner as the ND particles obtained by the detonation method are also average particles. diameter was measured. As a result, the average particle size of the unmodified ND particles obtained by the impact compression method was 20 nm, and the average particle size of the modified ND particles was 23 nm. For this reason, the PG-ND particles obtained using the ND particles obtained by the detonation method have a smaller particle diameter, and the detonation PG-ND particles are used for dispersing in the noble metal matrix that constitutes the plating film. was found to be superior.

〔実施例1〕
調製例1で得られたPG-ND粒子水分散液を、ロジウム濃度5g/Lのめっき液(商品名「ローデックス」、日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース(株)製)に添加してめっき浴(1)(めっき浴中のPG-ND粒子濃度:0.1g/L)を得た。
めっき浴(1)中のPG-ND粒子の粒径を測定したところ、粒径(D10)は30nm、粒径(D50)は44nm、粒径(D90)は76nmであった。
めっき浴(1)は透明(光路長1cmの石英ガラスセルに入れて測定した際の波長600nmの光の光線透過率は95%以上)であり、濁りは全くなかった(ヘーズ値=0)。
[Example 1]
The aqueous dispersion of PG-ND particles obtained in Preparation Example 1 was added to a plating solution having a rhodium concentration of 5 g/L (trade name “Rodex”, manufactured by Nippon Electroplating Engineers Co., Ltd.) to form a plating bath. (1) (PG-ND particle concentration in plating bath: 0.1 g/L) was obtained.
When the particle size of the PG-ND particles in the plating bath (1) was measured, the particle size (D10) was 30 nm, the particle size (D50) was 44 nm, and the particle size (D90) was 76 nm.
Plating bath (1) was transparent (light transmittance for light with a wavelength of 600 nm when measured in a quartz glass cell with an optical path length of 1 cm was 95% or more) and no turbidity (haze value = 0).

めっき膜形成対象部材としての銅板(純度99.9%,縦20mm×横20mm×厚さ2mm)について、脱脂洗浄を行った後、電解Ni/Auめっき処理を行って、下地めっき膜付き銅板を得た。
この下地めっき膜付き銅板を、めっき浴(1)を用いて、pH1、液温50℃、電流密度1.3A/dm2の条件下で、撹拌しながら15分間めっきして、下地めっき膜上に金属ロジウム-ND粒子複合材料からなるめっき膜(ND粒子含有量:12面積%、膜厚:5μm、図2参照)を形成させた。得られためっき膜は、ND粒子が均一に高分散しており、表面が平滑であった。
A copper plate (purity 99.9%, length 20 mm x width 20 mm x thickness 2 mm) as a member to be plated film is degreased and washed, and then subjected to electrolytic Ni/Au plating treatment to obtain a copper plate with a base plating film. Obtained.
This copper plate with a base plating film is plated for 15 minutes with stirring under the conditions of pH 1, solution temperature 50 ° C., current density 1.3 A / dm 2 using plating bath (1), and plating on the base plating film A plated film (ND particle content: 12 area %, film thickness: 5 μm, see FIG. 2) made of a metal rhodium-ND particle composite material was formed on the substrate. The resulting plated film had ND particles highly dispersed uniformly and had a smooth surface.

〔実施例2〕
調製例1で得られたPG-ND粒子水分散液の添加量を変更した以外は実施例1と同様にしてめっき浴(2)(めっき浴中のPG-ND粒子濃度:0.05g/L)を得、得られためっき浴(2)を使用した以外は実施例1と同様にしてめっき膜を得た。
[Example 2]
Plating bath (2) (PG-ND particle concentration in plating bath: 0.05 g/L) was prepared in the same manner as in Example 1, except that the amount of the PG-ND particle aqueous dispersion obtained in Preparation Example 1 was changed. ) was obtained, and a plating film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the obtained plating bath (2) was used.

〔実施例3〕
調製例1で得られたPG-ND粒子水分散液の添加量を変更した以外は実施例1と同様にしてめっき浴(3)(めっき浴中のPG-ND粒子濃度:0.02g/L)を得、得られためっき浴(3)を使用した以外は実施例1と同様にしてめっき膜を得た。
[Example 3]
Plating bath (3) (PG-ND particle concentration in plating bath: 0.02 g/L) was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amount of the PG-ND particle aqueous dispersion obtained in Preparation Example 1 was changed. ) was obtained, and a plating film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the obtained plating bath (3) was used.

〔実施例4〕
調製例1で得られたPG-ND粒子水分散液の添加量を変更した以外は実施例1と同様にしてめっき浴(4)(めっき浴中のPG-ND粒子濃度:0.01g/L)を得、得られためっき浴(4)を使用した以外は実施例1と同様にしてめっき膜を得た。
[Example 4]
Plating bath (4) (PG-ND particle concentration in plating bath: 0.01 g/L) was prepared in the same manner as in Example 1, except that the amount of the PG-ND particle aqueous dispersion obtained in Preparation Example 1 was changed. ) was obtained, and a plating film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the obtained plating bath (4) was used.

〔実施例5〕
調製例1で得られたPG-ND粒子水分散液の添加量を変更した以外は実施例1と同様にしてめっき浴(5)(めっき浴中のPG-ND粒子濃度:0.005g/L)を得、得られためっき浴(5)を使用した以外は実施例1と同様にしてめっき膜を得た。
[Example 5]
Plating bath (5) (PG-ND particle concentration in plating bath: 0.005 g/L) was prepared in the same manner as in Example 1, except that the amount of the PG-ND particle aqueous dispersion obtained in Preparation Example 1 was changed. ) was obtained, and a plating film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the obtained plating bath (5) was used.

〔実施例6〕
調製例1で得られたPG-ND粒子水分散液の添加量を変更した以外は実施例1と同様にしてめっき浴(6)(めっき浴中のPG-ND粒子濃度:0.002g/L)を得、得られためっき浴(6)を使用した以外は実施例1と同様にしてめっき膜を得た。
[Example 6]
Plating bath (6) (PG-ND particle concentration in plating bath: 0.002 g/L) was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amount of the PG-ND particle aqueous dispersion obtained in Preparation Example 1 was changed. ) was obtained, and a plating film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the obtained plating bath (6) was used.

〔比較例1〕
PG-ND粒子水分散液に代えて、調製例1の酸素酸化工程を経て得たND粒子(ND-COOH)の水分散液を使用した以外は実施例1と同様にしてめっき浴(7)を得た。めっき浴(7)中のND粒子は凝集し、大きな塊となっていた。
[Comparative Example 1]
A plating bath (7) was prepared in the same manner as in Example 1 except that the aqueous dispersion of ND particles (ND-COOH) obtained through the oxygen oxidation step of Preparation Example 1 was used instead of the aqueous dispersion of PG-ND particles. got The ND particles in the plating bath (7) aggregated into large clumps.

また、めっき浴(1)に代えてめっき浴(7)を使用した以外は実施例1と同様にしてめっき膜を得た(図3参照)。得られためっき膜は、表面が凸凹であった。 A plated film was obtained in the same manner as in Example 1 except that plating bath (7) was used instead of plating bath (1) (see FIG. 3). The resulting plated film had an uneven surface.

〔比較例2〕
めっき浴(1)に代えて、ロジウム濃度5g/Lのめっき液(商品名「ローデックス」、日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース(株)製)を含み、ND粒子分散液を含まないめっき浴(8)を使用した以外は実施例1と同様にしてめっき膜を形成した(図4参照)。得られためっき膜は、表面が凸凹であった。
[Comparative Example 2]
Instead of the plating bath (1), a plating bath ( A plated film was formed in the same manner as in Example 1 except that 8) was used (see FIG. 4). The resulting plated film had an uneven surface.

〈光沢度測定〉
実施例及び比較例で得られためっき膜の光沢度(GU)を、測定機器(商品名「高光沢グロスチェッカ IG410」、(株)堀場製作所製)を使用して測定した。入射角60°における反射率を測定し、光沢度(GU)を算出した。結果を下記表にまとめて示す。
下記表より、ND粒子の添加量に応じてめっき膜の光沢度(GU)が上昇することがわかった。
<Gloss measurement>
The glossiness (GU) of the plating films obtained in Examples and Comparative Examples was measured using a measuring instrument (trade name “High Gloss Gloss Checker IG410”, manufactured by Horiba, Ltd.). The reflectance at an incident angle of 60° was measured, and the glossiness (GU) was calculated. The results are summarized in the table below.
From the table below, it was found that the glossiness (GU) of the plating film increased according to the amount of ND particles added.

Figure 0007232053000001
Figure 0007232053000001

〔実施例7〕
調製例1で得られたPG-ND粒子水分散液を、金濃度2g/Lのめっき液[商品名「オーロボンドXPH20」(日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース(株)製)から光沢剤を除去したもの]に添加してめっき浴(9)(めっき浴中のPG-ND粒子濃度:0.1g/L)を得た。
めっき浴(9)中のPG-ND粒子の粒径を測定したところ、粒径(D10)は35nm、粒径(D50)は52nm、粒径(D90)は97nmであった。
めっき浴(9)は透明(光路長1cmの石英ガラスセルに入れて測定した際の波長600nmの光の光線透過率は95%以上)であり、濁りは全くなかった。
[Example 7]
The PG-ND particle aqueous dispersion obtained in Preparation Example 1 was obtained by removing the brightener from a plating solution [trade name “Aurobond XPH20” (manufactured by Nippon Electroplating Engineers Co., Ltd.) with a gold concentration of 2 g/L. Plating bath (9) (PG-ND particle concentration in plating bath: 0.1 g/L) was obtained.
When the particle size of the PG-ND particles in the plating bath (9) was measured, the particle size (D10) was 35 nm, the particle size (D50) was 52 nm, and the particle size (D90) was 97 nm.
The plating bath (9) was transparent (light transmittance for light with a wavelength of 600 nm when measured in a quartz glass cell with an optical path length of 1 cm was 95% or more), and there was no turbidity.

実施例1と同様の方法で得られた下地めっき膜付き銅板を、めっき浴(9)を用いて、pH2、液温55℃、電流密度1A/dm2の条件下で、撹拌しながら12分間めっきして、下地めっき膜上に金-ND粒子複合材料からなるめっき膜(ND粒子含有量:7面積%、膜厚:1.6μm)を形成させた。得られためっき膜は、ND粒子が均一に高分散しており、表面が平滑であった。 A copper plate with an underlying plating film obtained in the same manner as in Example 1 was subjected to plating bath (9) under the conditions of pH 2, liquid temperature 55°C, and current density 1 A/dm 2 for 12 minutes while stirring. A plated film (ND particle content: 7 area %, film thickness: 1.6 μm) made of a gold-ND particle composite material was formed on the underlying plated film by plating. The resulting plated film had ND particles highly dispersed uniformly and had a smooth surface.

〔比較例3〕
めっき浴(9)に代えて、金濃度2g/Lのめっき液(商品名「オーロボンドXPH20」、日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース(株)製)を含み、ND粒子分散液を含まないめっき浴(10)を使用した以外は実施例7と同様にしてめっき膜(膜厚:0.97μm)を形成した。得られためっき膜は、表面が凸凹であった。
[Comparative Example 3]
Instead of the plating bath (9), a plating bath ( A plated film (thickness: 0.97 μm) was formed in the same manner as in Example 7, except that No. 10) was used. The resulting plated film had an uneven surface.

実施例7及び比較例3で得られためっき膜の光沢度(GU)を、上記と同様に測定した。結果を下記表にまとめて示す。

Figure 0007232053000002
The glossiness (GU) of the plating films obtained in Example 7 and Comparative Example 3 was measured in the same manner as described above. The results are summarized in the table below.
Figure 0007232053000002

表2より、ND粒子の添加によって、めっき膜の光沢度(GU)が上昇することがわかった。 From Table 2, it was found that the addition of ND particles increased the glossiness (GU) of the plating film.

1 表面修飾基を備えたナノダイヤモンド粒子
2 ナノダイヤモンド粒子(部分)
3 表面修飾基
1 Nanodiamond particles with surface modification groups 2 Nanodiamond particles (part)
3 surface modification group

Claims (6)

下記めっき浴を使用して、電解めっき法により、貴金属マトリックスと、前記貴金属マトリックス中に分散するナノダイヤモンド粒子を含み、入射角60°における光沢度が250GU以上であるめっき膜を製造する、めっき膜の製造方法。
めっき浴:貴金属イオンとポリグリセリン鎖を含む表面修飾基を有するナノダイヤモンド粒子を含み、前記ナノダイヤモンド粒子の含有量は0.001~1.0g/Lであり、めっき浴中における前記ナノダイヤモンド粒子の動的光散乱法による粒子径(D50)は100nm以下である
A plating film containing a noble metal matrix and nanodiamond particles dispersed in the noble metal matrix and having a glossiness of 250 GU or more at an incident angle of 60° is produced by an electrolytic plating method using the following plating bath . manufacturing method.
Plating bath: contains nanodiamond particles having surface modification groups containing noble metal ions and polyglycerol chains, the content of said nanodiamond particles is 0.001-1.0 g/L, and said nanodiamond particles in the plating bath The particle size (D50) by the dynamic light scattering method is 100 nm or less
前記めっき膜は、ナノダイヤモンド粒子を含まない以外は同じ組成のめっき浴を使用して得られためっき膜と比較して、入射角60°における光沢度が20GU以上高い、請求項に記載のめっき膜の製造方法 2. The plating film according to claim 1 , wherein the glossiness at an incident angle of 60° is 20 GU or more higher than a plating film obtained using a plating bath having the same composition except that it does not contain nanodiamond particles. A method for producing a plating film. 前記めっき膜は、表面粗さ(Ra)が0.5μm以下である、請求項1又は2に記載のめっき膜の製造方法 3. The method for producing a plated film according to claim 1, wherein the plated film has a surface roughness (Ra) of 0.5 [mu]m or less. 前記めっき膜の貴金属マトリックス中に分散するナノダイヤモンド粒子のSEM法による粒子径(D50)が4~100nmの範囲である、請求項1~の何れか1項に記載のめっき膜の製造方法 The method for producing a plated film according to any one of claims 1 to 3 , wherein the nanodiamond particles dispersed in the noble metal matrix of the plated film have a particle diameter (D50) of 4 to 100 nm as measured by an SEM method. 前記めっき膜のナノダイヤモンド粒子含有量がめっき膜の0.5~25面積%である、請求項1~の何れか1項に記載のめっき膜の製造方法 The method for producing a plated film according to any one of claims 1 to 4 , wherein the content of nanodiamond particles in the plated film is 0.5 to 25% by area of the plated film. 請求項1~の何れか1項に記載のめっき膜の製造方法によりめっき膜を製造する工程を経て、前記めっき膜を備えた電子部品を得る、電子部品の製造方法A method of manufacturing an electronic component, comprising a step of manufacturing a plated film by the method of manufacturing a plated film according to any one of claims 1 to 5 , to obtain an electronic component provided with the plated film.
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