JP7204755B2 - 遷移金属酸化物触媒を用いる電解アンモニア製造 - Google Patents
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Description
N2+8H++8e- → 2NH3+H2
を通じて、溶媒和プロトン、電子及び大気窒素からアンモニア形成を触媒するMoFe7S9Nクラスターである。
N2+6(H++e-) ⇔ 2NH3
と表すことができる。
O*+(H++e-)⇔ *OH
OH*+(H++e-)⇔ H2O+*
br-サイトを空のままにできる。これらの空のbr-サイトはその後さらにプロトン化されうる。
この結果、110表面は還元され、6配位金属原子間の架橋サイトを空のままにできる。架橋サイトは、本明細書の図1に示されているように、部分的に又は完全に、酸素又は水素原子のような他の原子に占有されることもある。
少なくとも一つのプロトン源を含む電解槽にN2を供給し;
そのN2を電解槽内のカソード電極表面と接触させ、ここで該カソード電極表面は少なくとも一つの遷移金属酸化物を含む触媒表面を含み;そして
前記電解槽に電流を流すことによって窒素をプロトンと反応させてアンモニアを形成させることを含む方法。
吸着された種と気体分子の間のゼロ点エネルギー補正とエントロピー差をすべての反応中間体について調和近似(harmonic approximation)内で計算する。これらの値を表1に示す。
序文
様々な電解質及び電極材料が、熱力学的要件を緩和し、不均一触媒反応を用いるアンモニア形成速度を最適化するために試されてきた(Amar 2011;Denvir 2008(US7314544 B2);Ouzoounidou 2007;Pappenfus 2009;Amar 2011;Song 2004)。固体電解質及びポリマー電解質膜(PEM)を基にした電解槽が、水素供給ガスと生成したアンモニアの分離を簡易にする構成(セットアップ)であるため、この研究の多くの主題であった。Nafion膜で報告された最も高いアンモニア形成速度は1.13×10-8 mol s-1 cm-2で、ファラデー効率はおよそ90%である。ここでは湿潤H2が供給ガスとして使用された(Xu 2009)。空気と水を供給ガスとして使用することは面白い可能性であるが、そのようにして得られた最も高いアンモニア形成速度はかなり低く、1.14×10-9 mol s-1 cm-2であった(Lan 2013)。わずか1%のCEしか得られず、-1.6Vの過電位を必要とした。これらの結果は有望ではあるが、依然として商業的に実現可能な製造速度(4.3~8.7×10-7 mol s-1 cm-2)にはほど遠い(Giddey,Badwal,2013)。
DFT計算:本研究では、天然に存在するルチル構造の11の遷移金属酸化物の(110)面を、電気化学的アンモニア形成に焦点を絞って考察する。なぜならば、(110)表面は、ルチル構造の最も安定な低指数面だからである。周囲条件でルチル構造で安定な酸化物は、TiO2、NbO2、TaO2、ReO2、IrO2、OsO2、CrO2、MnO2、RuO2、RhO2及びPtO2である(Harold Kung)。酸化物表面は、4層になった48個の原子によってモデル化される。各層は4個の金属原子と8個の酸素原子からなる。下の2層は固定されているが、上の2層と吸着種は十分に緩和(relax)可能である。境界条件はx及びy方向に周期的であり、表面はz方向に12Åの真空によって分離されている。構造最適化は、すべての可動原子に対する任意の方向の力が0.01ev/Å未満のときに収束したと見なされる。RPBE格子定数が各酸化物について最適化され、スピン偏極が説明された。本研究で酸化物について最適化されたRPBE格子定数は次の通りである。TiO2:a=4.65Å、c=2.98Å;NbO2:a=5.11Å、c=3.00Å;TaO2:a=4.98Å、c=3.02Å;ReO2:a=4.77Å、c=3.14Å;IrO2:a=4.58Å、c=3.13Å;OsO2:a=4.58Å、c=3.18Å;CrO2:a=4.50Å、c=2.96Å;MnO2:a=4.86Å、c=2.85Å;RuO2:a=4.58Å、c=3.2Å;RhO2:a=4.55Å、c=3.06Å及びPtO2:a=4.65Å、c=3.19Å。
電気化学反応とモデリング:反応におけるプロトン源は、水分解か又はアノードでのH2酸化反応のいずれかでありうる。我々の絶対電位をSHEに関連付けるために、我々はここではH2をプロトン及び電子の便利な供給源としてのみ参照する。
ここでは、プロトンは電解質中に溶媒和され、電子はワイヤを通じてカソードに移動する。N2還元の全体的反応は、
N2+6(H++e-)⇔ 2NH3 (3)
である。
ΔG=ΔE+ΔEZPE-TΔS (10)
に従って推定される。式中、ΔEはDFTを用いて計算されたエネルギーである。ΔEZPEとΔSは、それぞれ吸着種と気相分子間のゼロ点エネルギーとエントロピーの差である。それらは調和近似内で計算され、値はESIに示される。印加バイアスUの影響は、すべての電気化学反応段階について、n個の電子が関与する反応の自由エネルギーを-neUによってシフトさせることによって含められるので、各素過程の自由エネルギーは、
ΔG=ΔE+ΔEZPE-TΔS-neU (11)
によって与えられる。
安定性:ルチル(110)表面は、二つの異なる配位環境の金属原子を含有している(図1参照)。6配位金属原子の列と5配位金属原子の列が[001]方向に沿って交互に並んでいる。6配位金属原子はバルクとほぼ同じ幾何学を有するが、5配位金属原子は、表面に垂直な飽和されていない結合を有する(Morgan 2007)。従って、二つの異なる表面サイト、すなわち、5配位金属原子上に配位不飽和サイト(cus-サイト)と、2個の6配位金属原子間に架橋サイト(br-サイト)が見出される。我々は、br-サイトは一般的にcus-サイトより吸着物を強く結合し、表面の触媒活性はbr-サイトの占有率に依存することを見出した。そこで、br-サイトへの酸素及び水素の様々な被覆率の系統的研究を各ルチル酸化物について実施し、様々な被覆率を有する(110)面の相対的安定性を安定性ダイアグラムに示す。一例として図2参照(しかしその他すべてはESIに示される)。化学量論的(110)表面では、br-サイトは酸素に占有されているが、cus-サイトは空である。我々は、化学量論的(110)表面を酸素終端(O-term)と呼ぶ。図1c参照。O-term表面の架橋酸素原子は配位不足であるので、実験及び運転条件下で表面から還元できる。O-term表面の還元の自由エネルギーを計算するために、我々はNorskovらが開発した方法論に従う。そこでは、表面の還元は電解質との水とプロトンの交換を通じて起こり、
O*+(H++e-)⇔ *OH (12)
OH*+(H++e-)⇔ H2O+* (13)
br-サイトを空のままにする。我々はその表面を還元表面(還元された表面)と呼ぶ。図1a参照。空のbr-サイトはその後さらにプロトン化されうる。
我々はその表面を水素終端(H-term)と呼ぶ。図1b参照。我々はまた、br-サイトの半分が水素又は酸素のいずれかで被覆され、サイトの半分が空の表面構成にも注目する。これらの表面は0.25単層(ML)表面と呼ばれる。
DFT計算を使用して、NbO2、RuO2、RhO2、TaO2、ReO2、TiO2、OsO2、MnO2、CrO2、IrO2及びPtO2のルチル構造の(110)面での周囲条件での電気化学的アンモニアのための窒素活性化の可能性を探った。様々な吸着物を有する面の相対的安定性を印加電位の関数として計算した。各表面の触媒活性を調べ、電位決定段階を見つけた。すべての電気化学的段階の自由エネルギーを下降させるのに必要な印加電位で、すべての酸化物はサイト上に吸着された水素を有すると最も安定であることが見出された。これらの酸化物のうち、ReO2及びTaO2はN2H吸着を好む。
[請求項1]
アンモニアの製造法であって、
少なくとも一つのプロトン源を含む電解槽にN2を供給し;
そのN2を電解槽内のカソード電極表面と接触させ、ここで該カソード電極表面は少な
くとも一つの遷移金属酸化物を含む触媒表面を含み;そして
前記電解槽に電流を流すことによって窒素をプロトンと反応させてアンモニアを形成さ
せることを含む方法。
[請求項2]
触媒が、酸化チタン、酸化クロム、酸化マンガン、酸化ニオブ、酸化タンタル、酸化ル
テニウム、酸化ロジウム、酸化白金、酸化オスミウム、酸化レニウム及び酸化イリジウム
からなる群から選ばれる一つ又は複数の遷移金属酸化物を含む、請求項1に記載の方法。
[請求項3]
触媒が、酸化レニウム、酸化タンタル及び酸化ニオブからなる群から選ばれる一つ又は
複数の酸化物を含む、請求項2に記載の方法。
[請求項4]
触媒表面が、ルチル構造を有する少なくとも一つの表面を含む、請求項1~3のいずれ
か1項に記載の方法。
[請求項5]
触媒表面が、(110)面を有する少なくとも一つの表面を含む、請求項1~4のいず
れか1項に記載の方法。
[請求項6]
アンモニアが、電解槽中で、約-1.0V未満、さらに好ましくは約-0.8V未満、
なおさらに好ましくは約-0.5V未満の電極電位で形成される、請求項1~5のいずれ
か1項に記載の方法。
[請求項7]
触媒が酸化ニオブを含み、そしてアンモニアが電解槽中で約-0.5V未満、好ましく
は約-0.4V~約-0.5Vの範囲の電極電位で形成される、請求項1~5のいずれか
1項に記載の方法。
[請求項8]
触媒が酸化レニウムを含み、そしてアンモニアが電解槽中で約-0.9V未満、好まし
くは約-0.8V~約-0.9Vの範囲の電極電位で形成される、請求項1~5のいずれ
か1項に記載の方法。
[請求項9]
触媒が酸化タンタルを含み、そしてアンモニアが電解槽中で約-1.1V未満、好まし
くは約-1.0V~約-1.1Vの範囲の電極電位で形成される、請求項1~5のいずれ
か1項に記載の方法。
[請求項10]
形成されたNH3のモル数に比べて、50%モル未満、好ましくは20%未満、なおさ
らに好ましくは10%未満のH2しか形成されない、請求項1~9のいずれか1項に記載
の方法。
[請求項11]
前記電解槽が一つ又は複数の水性電解液を含む、請求項1~10のいずれか1項に記載
の方法。
[請求項12]
前記電解槽が、有機プロトン性又は非プロトン性溶媒、又はその混和性混合物、好まし
くは水混和性有機溶媒を含む電解液を含む、請求項1~10のいずれか1項に記載の方法
。
[請求項13]
前記窒素が、前記カソード電極表面に接触した電解液に窒素ガスをバブリングすること
によって電解槽に供給される、請求項11又は12に記載の方法。
[請求項14]
アンモニアの形成におけるプロトン源が、アノードでの水分解又はアノードでのH2酸
化反応由来である、請求項1~13のいずれか1項に記載の方法。
[請求項15]
約-10℃~約40℃の範囲、好ましくは約0℃~40℃の範囲の温度で運転される、
請求項1~14のいずれか1項に記載の方法。
[請求項16]
周囲室温及び大気圧で運転される、請求項1~15のいずれか1項に記載の方法。
[請求項17]
アンモニア生成のためのシステムであって、該システムは、少なくとも一つの電気化学
槽を含み、該電解槽は触媒表面を有する少なくとも一つのカソード電極を含み、その触媒
表面は一つ又は複数の遷移金属酸化物を含む少なくとも一つの触媒を担持しているシステ
ム。
[請求項18]
前記一つ又は複数の遷移金属酸化物が、酸化チタン、酸化クロム、酸化マンガン、酸化
ニオブ、酸化タンタル、酸化ルテニウム、酸化ロジウム、酸化白金、酸化オスミウム、酸
化レニウム及び酸化イリジウムからなる群から選ばれる、請求項17に記載のシステム。
[請求項19]
少なくとも一つの遷移金属酸化物が、酸化レニウム、酸化タンタル及び酸化ニオブから
なる群から選ばれる、請求項17又は18に記載のシステム。
[請求項20]
触媒表面が、ルチル構造を有する少なくとも一つの表面を含む、前記請求項17~19
のいずれか1項に記載のシステム。
[請求項21]
触媒表面が、(110)面を有する少なくとも一つの表面を含む、前記請求項17~2
0のいずれか1項に記載のシステム。
[請求項22]
前記電解槽が一つ又は複数の電解液をさらに含む、請求項17~21のいずれか1項に
記載のシステム。
[請求項23]
前記電解槽が、酸性、中性又はアルカリ性の水溶液を含む、請求項22に記載のシステ
ム。
[請求項24]
前記電解槽が、有機プロトン性又は非プロトン性溶媒、又はその混和性混合物、好まし
くは水混和性有機溶媒を含む電解液を含む、請求項22に記載のシステム。
[請求項25]
電解槽中で、約-1.0V未満、さらに好ましくは約-0.8V未満、なおさらに好ま
しくは約-0.5V未満の電極電位でアンモニアを製造するように構成されている、請求
項17~24のいずれか1項に記載のシステム。
[請求項26]
触媒が酸化ニオブを含み、そしてシステムが電解槽中で約-0.5V未満、好ましくは
約-0.4V~約-0.5Vの範囲の電極電位でアンモニアを製造するように構成されて
いる、請求項25に記載のシステム。
[請求項27]
触媒が酸化レニウムを含み、そしてシステムが電解槽中で約-0.9V未満、好ましく
は約-0.8V~約-0.9Vの範囲の電極電位でアンモニアを製造するように構成され
ている、請求項25に記載のシステム。
[請求項28]
触媒が酸化タンタルを含み、そしてシステムが電解槽中で約-1.1V未満、好ましく
は約-1.0V~約-1.1Vの範囲の電極電位でアンモニアを製造するように構成され
ている、請求項17~24のいずれか1項に記載のシステム。
参考文献:
Claims (28)
- アンモニアの製造法であって、
少なくとも一つのプロトン源を含む電解槽にN2を供給し;
そのN2を該電解槽内のカソード電極表面と接触させ、ここで該カソード電極表面は、酸化クロム、酸化ニオブ、酸化タンタル、酸化ロジウム、酸化白金、酸化オスミウム、酸化レニウム及び酸化イリジウムからなる群から選ばれる少なくとも一つの遷移金属酸化物を含む触媒表面を含み;そして
前記電解槽に電流を流すことによって窒素をプロトンと反応させてアンモニアを形成さ
せることを含む方法。 - 前記触媒表面が、ルチル構造を有する少なくとも一つの表面を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記触媒表面が、(110)面を有する少なくとも一つの表面を含む、請求項1に記載の方法。
- アンモニアが、前記電解槽中で、標準水素電極(SHE)に対して約-1.0V未満の電極電位で形成される、請求項1~3のいずれか1項に記載の方法。
- アンモニアが、前記電解槽中で、標準水素電極(SHE)に対して約-0.8V未満の電極電位で形成される、請求項1~3のいずれか1項に記載の方法。
- アンモニアが、前記電解槽中で、標準水素電極(SHE)に対して約-0.5V未満の電極電位で形成される、請求項1~3のいずれか1項に記載の方法。
- 前記触媒が酸化ニオブを含み、そしてアンモニアが前記電解槽中で標準水素電極(SHE)に対して約-1.1V未満の電極電位で形成される、請求項1~3のいずれか1項に記載の方法。
- 前記触媒が酸化レニウムを含み、そしてアンモニアが前記電解槽中で標準水素電極(SHE)に対して約-0.7V未満の電極電位で形成される、請求項1~3のいずれか1項に記載の方法。
- 前記触媒が酸化タンタルを含み、そしてアンモニアが前記電解槽中で標準水素電極(SHE)に対して約-0.7V未満の電極電位で形成される、請求項1~3のいずれか1項に記載の方法。
- 形成されたNH3のモル数に比べて、50%モル未満のH2しか形成されない、請求項1~9のいずれか1項に記載の方法。
- 前記電解槽が一つ又は複数の水性電解液を含む、請求項1~10のいずれか1項に記載
の方法。 - 前記電解槽が、有機プロトン性又は非プロトン性溶媒、又はその混和性混合物、又は水混和性有機溶媒を含む電解液を含む、請求項1~10のいずれか1項に記載の方法。
- 前記窒素が、前記カソード電極表面に接触した電解液に窒素ガスをバブリングすること
によって電解槽に供給される、請求項11又は12に記載の方法。 - アンモニアの形成におけるプロトン源が、アノードでの水分解又はアノードでのH2酸
化反応由来である、請求項1~13のいずれか1項に記載の方法。 - 約-10℃~約40℃の範囲の温度で運転される、請求項1~14のいずれか1項に記載の方法。
- 周囲室温及び大気圧で運転される、請求項1~15のいずれか1項に記載の方法。
- アンモニア生成のためのシステムであって、該システムは、少なくとも一つの電解槽を含み、該電解槽は触媒表面を有する少なくとも一つのカソード電極を含み、その触媒表面は、酸化クロム、酸化ニオブ、酸化タンタル、酸化ロジウム、酸化白金、酸化オスミウム、酸化レニウム及び酸化イリジウムからなる群から選ばれる一つ又は複数の遷移金属酸化物を含む少なくとも一つの触媒を担持しているシステム。
- 前記触媒表面が、ルチル構造を有する少なくとも一つの表面を含む、請求項17に記載のシステム。
- 前記触媒表面が、(110)面を有する少なくとも一つの表面を含む、請求項17に記載のシステム。
- 前記電解槽が一つ又は複数の電解液をさらに含む、請求項17~19のいずれか1項に
記載のシステム。 - 前記電解槽が、酸性、中性又はアルカリ性の水溶液を含む、請求項20に記載のシステ
ム。 - 前記電解槽が、有機プロトン性又は非プロトン性溶媒、又はその混和性混合物、又は水混和性有機溶媒を含む電解液を含む、請求項20に記載のシステム。
- 前記電解槽中で、標準水素電極(SHE)に対して約-1.0V未満の電極電位でアンモニアを製造するように構成されている、請求項17~22のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記電解槽中で、標準水素電極(SHE)に対して約-0.8V未満の電極電位でアンモニアを製造するように構成されている、請求項17~23のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記電解槽中で、標準水素電極(SHE)に対して約-0.5V未満の電極電位でアンモニアを製造するように構成されている、請求項17~23のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記触媒が酸化ニオブを含み、そして前記システムが前記電解槽中で標準水素電極(SHE)に対して約-1.1V未満の電極電位でアンモニアを製造するように構成されている、請求項17~22のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記触媒が酸化レニウムを含み、そして前記システムが前記電解槽中で標準水素電極(SHE)に対して約-0.7V未満の電極電位でアンモニアを製造するように構成されている、請求項17~22のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記触媒が酸化タンタルを含み、そして前記システムが前記電解槽中で標準水素電極(SHE)に対して約-0.7V未満の電極電位でアンモニアを製造するように構成されている、請求項17~22のいずれか1項に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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