JP7198078B2 - 分析装置、分析方法、及びプログラム - Google Patents
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Description
例えば、大気中に含まれる浮遊粒子状物質(例えば、PM2.5)を捕集フィルタに捕集し、当該捕集された浮遊粒子状物質から発生する蛍光X線に基づいて浮遊粒子状物質に含まれる元素を分析する装置が知られている(例えば、特許文献1)。
この装置は、所定の時間毎に浮遊粒子状物質を捕集して連続的な分析を実行できる。
なお、上記の炭素化合物としては、例えば、ブラックカーボン、有機炭素、ブラウンカーボンなど、主成分の元素は炭素であるが化学的構造や性質が異なる種々の物質がある。例えば、野焼きなど物質の燃焼により生じた浮遊粒子状物質は、有機炭素を主成分とする。
本発明の一見地に係る分析装置は、測定対象から発生する蛍光X線に基づいて、当該測定対象に含まれる元素に関する情報を取得する装置である。測定装置は、X線測定装置と、光学特性測定装置と、演算部と、を備える。
X線測定装置は、蛍光X線を測定する。光学特性測定装置は、測定対象に含まれる炭素化合物の光学的特性を取得する。
演算部は、炭素化合物の光学的特性に基づいて、測定対象に含まれる炭素化合物の量に関する情報を算出する。また、演算部は、炭素化合物の量に関する情報に基づいて、X線測定装置により測定された蛍光X線に関する情報を補正する。
これにより、測定対象に含まれる炭素化合物の量に関する情報を、当該炭素化合物の光学的特性に基づいて正確に算出しつつ、光学的特性を用いて算出された炭素化合物の量に関する情報に基づいて、炭素化合物による自己吸収の影響を受けた蛍光X線に関する情報を正確に補正できる。
◎蛍光X線を検出するステップ。
◎測定対象に含まれる炭素化合物の蛍光X線以外の光学的特性を取得するステップ。
◎炭素化合物の光学的特性に基づいて、測定対象に含まれる炭素化合物の量に関する情報を算出するステップ。
◎炭素化合物の量に関する情報に基づいて、蛍光X線に関する情報を補正するステップ。
これにより、測定対象に含まれる炭素化合物の量に関する情報を当該炭素化合物の光学的特性に基づいて正確に算出しつつ、光学的特性を用いて算出された炭素化合物の量に関する情報に基づいて、正確に蛍光X線に関する情報を補正できる。
(1)分析装置の構成
(1-1)概要
以下、図1を用いて、第1実施形態に係る分析装置100の構成を説明する。図1は、分析装置の構成を示す図である。第1実施形態に係る分析装置100は、大気中に浮遊する粒子状物質(例えば、PM2.5などの微小粒子)を捕集し、当該粒子状物質に含まれる元素を分析する装置である。すなわち、本実施形態の分析装置100は、粒子状物質FPを主な測定対象とする。
そのため、分析装置100は、例えば、危険な粒子状物質の発生源又はその近傍に配置され、当該発生源などから発生する粒子状物質を分析する。例えば、交通量が多い道路(幹線道路、高速道路など)沿い又はその近傍、粒子状物質を発生する可能性がある工場地帯又はその近傍に配置される。
捕集フィルタ1は、例えば、補強層と、補強層上に積層して形成された捕集層とを有する、白色のテープ状部材である。補強層は、例えば、高分子材料(ポリエチレンなど)の不織布にて形成される。捕集層は、粒子状物質FP(粒径:2.5μm以下)を捕集可能な孔を有する。捕集層は、例えば、フッ素樹脂系材料にて形成される。捕集フィルタ1のうち、粒子状物質FPが捕集された箇所を「捕集領域」と呼ぶ。その他、1層のガラスフィルタ、1層のフッ素樹脂系材料のフィルタなどを、捕集フィルタ1として使用できる。
捕集フィルタ1は、送り出しリール1aから送り出し、巻き取りリール1bにより巻き取ることで、長さ方向(図1の太矢印にて示す方向)に移動できる。
吸引ポンプ51は、吸引口53に吸引力を発生させる。吸引力を発生した吸引口53は、排出口55から捕集フィルタ1の第1位置P1に向けて大気Aを排出させ、大気Aに含まれる粒子状物質FPを捕集領域に捕集させる。
X線測定装置2は、第1位置P1よりも捕集フィルタ1の移動の下流側の第3位置P3に設けられる。X線測定装置2は、第3位置P3に存在する粒子状物質FPにX線を照射することにより、当該粒子状物質FPから発生した蛍光X線を測定する装置である。
具体的には、X線測定装置2は、X線源21と、検出器23とを有する。X線源21は、捕集フィルタ1の第3位置P3に捕集された粒子状物質FPにX線を照射する。X線源21は、例えば、パラジウムなどの金属に電子線を照射してX線を発生させる装置である。
光学特性測定装置3は、捕集フィルタ1の長さ方向において、第1位置P1と第3位置P3との間の第2位置P2に設けられる。光学特性測定装置3は、粒子状物質FPに含まれる炭素化合物の光学的特性を取得する装置である。光学特性測定装置3にて取得する「光学的特性」とは、X線以外の、すなわちX線の波長領域を含まない、紫外~赤外の波長領域の光やγ線領域についての特性をいう。X線の波長領域としては、例えば10pmから10nmの領域をいい、紫外~赤外の波長領域としては例えば10nmから1m、γ線の波長領域としては、例えば1pmから10pmの波長領域を含む10pm以下の波長をいう。
本実施形態において、光学特性測定装置3は、画像取得センサー31と、光フィルタ33と、光源35と、を有する。
このような画像取得センサー31は、例えば、電荷結合素子(CCD)が二次元アレイ状に配置されたCCDイメージセンサー、受光素子がアレイ状に配置されたCMOSイメージセンサーである。
本実施形態において、光フィルタ33は、可視光フィルタ33aと、赤外光フィルタ33bと、を有する。なお、可視光フィルタ33aと赤外光フィルタ33bは、手動又は自動にて切り換えて、画像取得センサー31の受光面と捕集フィルタ1との間に配置できる。
その一方で、粒子状物質FPにブラックカーボンがほとんど含まれず有機炭素の含有量の割合が高い場合、可視光領域におけるブラックカーボンの影響は小さくなり、可視光領域における有機炭素の光学的特性が可視光画像データにおいて認識できるようになる。
よって、粒子状物質FPにブラックカーボンがほとんど含まれないと考えられる場合には、可視光画像データに基づいて、有機炭素の含有量を算出できる。
有機炭素としては、例えば、ブラウンカーボン、芳香族炭化水素、不飽和炭化水素などがある。有機炭素の種類毎に、特定の光学的特性を有する。
その一方で、粒子状物質FPに有機炭素がほとんど含まれずブラックカーボンの含有量の割合が高い場合、赤外領域における有機炭素の影響は小さくなり、赤外領域におけるブラックカーボンの光学的特性が赤外画像データにおいて認識できるようになる。
よって、粒子状物質FPに有機炭素がほとんど含まれないと考えられる場合には、赤外画像データに基づいて、ブラックカーボンの含有量を算出できる。
光源35のこのような配置により、捕集フィルタ1の長さ方向の広い範囲に均一に光を照射できる。複数の光源35が配置される楕円の長軸及び/又は短軸の大きさは、視野領域VAの縦横の長さの比率などに応じて適宜決定できる。また、複数の光源35は、視野領域VAの形状等に応じて、楕円以外の任意の形状の周上に配置することもできる。
光源35を設けることにより、捕集フィルタ1の第2位置P2のより明瞭な画像データを取得できる。
なお、板状部材37の厚みは、光を過度に通過させるものでなければ、例えば、厚板状又は薄膜状など、任意の厚みとできる。
捕集フィルタ1(粒子状物質FP)の画像データを取得する際に板状部材37を配置することにより、捕集フィルタ1(粒子状物質FP)の画像データをより明瞭にすることができる。
演算部4は、図3に示すように、CPU41と、RAM、ROMなどの記憶装置43と、ディスプレイ45(例えば、液晶ディスプレイなど)と、分析装置100の各部との間のデータ及び信号の入出力、信号変換などを行う各種インターフェース47(例えば、I/Oポート、通信インターフェースなど)と、を有するコンピュータシステムである。図3は、演算部の構成を示す図である。
演算部4は、分析装置100の各部の制御、及び、分析装置100の各部で取得したデータ(蛍光X線のデータ、光学特性測定装置3にて取得したデータ(上記の画像データ)など)を用いた演算を行う。
本実施形態では、演算部4は、粒子状物質FPに含まれる炭素化合物の含有量を、炭素化合物の量に関する情報として算出する。
本実施形態において、演算部4は、上記画像データから算出した炭素化合物の量に関する情報に基づいて、第3位置P3に存在する粒子状物質FPに含まれる炭素化合物による蛍光X線の自己吸収の度合いを算出し、この自己吸収の度合いに基づいて、取得した蛍光X線スペクトルに関する情報を補正する。本実施形態では、演算部4は、取得した蛍光X線スペクトルに関する情報として、取得した蛍光X線スペクトルの強度を補正する。
その後、演算部4は、強度を補正した蛍光X線スペクトルにおいて、強度のピークが存在するエネルギー値に基づいて、粒子状物質FPに含まれる元素の定量を行う。
図1に示すように、分析装置100は、捕集量測定部6を備えていてもよい。捕集量測定部6は、捕集フィルタ1の第1位置P1に捕集された粒子状物質FPの捕集量を測定する。
具体的には、捕集量測定部6は、β線源61と、β線検出器63とを有する。β線源61は、排出口53内部に設けられ、第1位置P1に向けてβ線を照射する。β線検出器63は、吸引口55内部においてβ線源61に対向するよう設けられ、捕集領域を透過したβ線の強度を測定する。
第1位置P1に捕集された粒子状物質FPの捕集量は、β線検出器63にて測定されたβ線の強度に基づいて、粒子状物質FPの質量濃度として算出できる。
(2-1)輝度の積算値に基づく算出方法
以下、捕集フィルタ1に捕集された粒子状物質FPを撮影した画像データに基づいて、粒子状物質FPに含まれる炭素化合物(ブラックカーボン、有機炭素)の含有量を算出する原理について説明する。
例えば、画像取得センサー31の前に可視光フィルタ33aを配置して、可視光領域における画像データ(可視光画像データ)を画像取得センサー31にて取得した場合、図4の(1)~(3)に示すような二次元の画像データが取得される。図4は、捕集フィルタに捕集された粒子状物質の画像データの一例を示す図である。
このように、画像取得センサー31にて取得される画像データにおいては、粒子状物質FPの捕集量が多くなるに従って、その中心部分の「輝度」が減少する。
捕集量により輝度が殆ど変化しない第2画像データIM2は、捕集フィルタ1の粒子状物質FPが捕集されていない部分に対応する。
このように、画像取得センサー31にて取得する画像データに、第1画像データIM1と第2画像データIM2とを含めておくことで、捕集フィルタ1における粒子状物質FPが捕集された部分と捕集されていない部分とを、容易に特定できる。
なお、図5に示す第1画像データIM1の輝度の積算値と粒子状物質の捕集量との関係は、輝度の積算値と粒子状物質FPの捕集量とを関連付けて、第1検量線SC1(図3)として予め取得され、記憶装置43に記憶される。
従って、画像データを取得後に、第1画像データIM1に含まれる画素の輝度を積算し、第1検量線SC1と算出した輝度の積算値とを対応付けることで、捕集フィルタ1に捕集された粒子状物質FPに含まれるブラックカーボンの含有量を算出できる。
なお、第2検量線SC2(図3)は、第1検量線SC1と同様に、予め取得されて記憶装置43に記憶されている。
上記にて説明した輝度の積算値に基づいて炭素化合物の含有量を算出する方法以外にも、第1画像データIM1と第2画像データIM2との輝度差に基づいて炭素化合物の含有量を算出することもできる。以下、その方法について説明する。
例えば、図4の(1)~(3)に示す画像データのそれぞれについて、画像データ内でとりうる輝度と、画像データに含まれる特定の輝度を有する画素の数と、を関連付けると、図6の(1)~(3)に示すようなヒストグラム(輝度ヒストグラムと呼ぶ)が得られる。図6は、輝度ヒストグラムと炭素化合物の含有量との関係の一例を示す図である。
上記の第1輝度Br1は第2輝度Br2よりも小さい。このことから、第1ピークPE1は第1画像データIM1(粒子状物質FPの捕集領域)に含まれる画素の輝度分布に対応し、第2ピークPE2は第2画像データIM2(捕集フィルタ1)に含まれる画素の輝度分布に対応する。
輝度ヒストグラムを用いて含有量を算出する場合には、記憶装置43に記憶される第1検量線SC1及び第2検量線SC2は、輝度ヒストグラムにおける輝度差ΔBRと炭素化合物の含有量との関係を示したデータとなる。
なぜなら、画像データにおいて第1画像データIM1と第2画像データIM2との割合が変化しても、輝度ヒストグラムにおいて第1ピークPE1と第2ピークPE2が現れる輝度(第1輝度Br1、第2輝度Br2)は変化せず、その結果、輝度差ΔBRが、第1画像データIM1と第2画像データIM2との割合によって変化しないからである。
以下、図7及び図8を用いて、粒子状物質FPを分析する際の分析装置100の動作を説明する。図7は、分析装置の全体動作を示すフローチャートである。図8は、粒子状物質の分析動作を示すフローチャートである。
分析装置100の分析動作は、ステップS1において、捕集部5が、捕集フィルタ1の第1位置P1に大気A中の粒子状物質FPを捕集することから始まる。捕集部5は、あらかじめ決められた所定の時間(例えば、1時間)だけ粒子状物質FPを捕集フィルタ1に捕集する。
その後、ステップS2において、捕集フィルタ1を移動させて、第1位置P1の粒子状物質FPを、第2位置に移動させる。
具体的には、まず、ステップS3において、可視光領域のデータを取得する。より具体的には、光源35により捕集フィルタ1の第2位置の周囲に光を照射し、画像取得センサー31と捕集フィルタ1との間に可視光フィルタ33aを配置する。その後、画像取得センサー31により可視光画像データを取得する。
次に、ステップS4において、赤外領域のデータを取得する。具体的には、上記の可視光フィルタ33aを赤外光フィルタ33bに交換する。その後、画像取得センサー31により赤外画像データを取得する。
まず、ステップS61において、粒子状物質FPから発生する蛍光X線スペクトルを取得する。具体的には、X線源21により粒子状物質FPにX線を照射することで蛍光X線を発生させ、その蛍光X線を検出器23にて検出する。演算部4は、検出器23にて検出した蛍光X線について、蛍光X線のエネルギー値と強度とを関連付けて、蛍光X線スペクトルを生成する。
まず、ステップS62において、炭素化合物の量に関する情報を算出する。
具体的には、演算部4は、ステップS3にて取得した可視光領域のデータを用いて、粒子状物質FPに含まれるブラックカーボンの含有量を算出する。本実施形態においては、可視光画像データの輝度の積算値、又は、可視光画像データの輝度差に基づいて、粒子状物質FPに含まれるブラックカーボンの含有量を算出する。
可視光画像データの第1画像データIM1と第2画像データIM2の輝度差ΔBRは、直接的には捕集フィルタ1上のブラックカーボンの厚みにより生じる。従って、演算部4は、可視光画像データに基づいて、捕集フィルタ1上の粒子状物質FPの厚さを直接的に算出できる。
その後、ブラックカーボンの厚み(体積)と密度とを乗算して、ブラックカーボンの含有量を算出できる。
吸収係数は、例えば、ブラックカーボン、有機炭素(ブラウンカーボン、芳香族炭化水素、不飽和炭化水素など)の各標準試料とグレーチャートとを用いて予め算出しておく。
具体的には、演算部4は、ステップS61にて取得した蛍光X線スペクトルの強度を、以下のX線の吸収を表す式を用いて補正する。以下の式において、Iは蛍光X線の実測された強度であり、I0は自己吸収による影響がない場合の蛍光X線の強度である。q1はブラックカーボンの含有量、q2は有機炭素の含有量である。μ1はブラックカーボンの吸収係数、μ2は有機炭素の吸収係数である。
I=I0*exp{-(μ1*q1+μ2*q2)}
吸収係数μ1、μ2の値とX線のエネルギー値との関係は、互いに関連付けられて記憶装置43に記憶されている。
その一方、分析動作を停止する場合(ステップS7において「Yes」)、分析動作は終了する。
このように、本実施形態の分析装置100では、粒子状物質FPのような炭素化合物を主成分とする測定対象の分析を行う場合において、X線測定装置2にて取得した蛍光X線の強度を、当該炭素化合物の含有量に基づいて補正をしている。これにより、粒子状物質FPに含まれる元素分析をより精度よく実行できる。
炭素化合物による自己吸収は、特に、測定対象に含まれる軽元素(例えば、カルシウム(Ca)、アルミニウム(Al)、シリコン(Si)、カリウム(K)など)の分析結果に大きく影響する。なぜなら、炭素化合物によるX線の吸収は低エネルギー側で大きくなり、かつ、軽元素は比較的低エネルギー側に蛍光X線のピーク位置が存在するからである。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。特に、本明細書に書かれた複数の実施形態及び変形例は必要に応じて任意に組み合せ可能である。
(A)上記の図7及び8のフローチャートを用いて説明した分析動作において、各処理の順番、及び/又は、各処理の内容は、適宜変更できる。
赤外線センサーとしては、例えば、サーモパイルセンサー、フローセンサーなど、赤外吸収又は反射を測定できるセンサーを用いることができる。
また、可視光センサーとしては、例えば、フォトダイオードなどの可視光吸収又は反射を測定できるセンサーをもちいル事ができる。
また、特定波長の光を出力するレーザ発振器、LEDなどを光源35として用いることもできる。
例えば、トナー、粉末食品など、黒色及び白色以外の色を有する測定対象に含まれる不純物元素を分析する場合にも適用できる。この場合には、光フィルタ33として、測定対象が反射/吸収する色の光を通過させるフィルタを用いる。
1 捕集フィルタ
1a 送り出しリール
1b 巻き取りリール
2 X線測定装置
21 X線源
23 検出器
3 光学特性測定装置
31 画像取得センサー
33 光フィルタ
33a 可視光フィルタ
33b 赤外光フィルタ
35 光源
37 板状部材
4 演算部
41 CPU
43 記憶装置
45 ディスプレイ
47 インターフェース
5 捕集部
51 吸引ポンプ
53 吸引口
55 排出口
6 捕集量測定部
61 β線源
63 β線検出器
A 大気
Br1 第1輝度
Br2 第2輝度
FP 粒子状物質
IM1 第1画像データ
IM2 第2画像データ
P1 第1位置
P2 第2位置
P3 第3位置
PE1 第1ピーク
PE2 第2ピーク
SC1 第1検量線
SC2 第2検量線
VA 視野領域
ΔBR 輝度差
Claims (12)
- 測定対象から発生する蛍光X線に基づいて、前記測定対象に含まれる元素に関する情報を取得する装置であって、
前記蛍光X線を測定するX線測定装置と、
前記測定対象に光を照射する光源を有し、前記光源から前記測定対象に照射された光を用いて、前記測定対象に含まれる炭素化合物のX線の波長領域を含まない波長領域における光学的特性を取得する光学特性測定装置と、
前記炭素化合物の光学的特性に基づいて前記測定対象に含まれる前記炭素化合物の量に関する情報を算出し、算出した前記炭素化合物の量に関する情報と、前記X線測定装置により測定された前記蛍光X線の強度と、に基づいて、前記炭素化合物による自己吸収の影響を補正した蛍光X線の強度を算出する演算部と、
を備える分析装置。 - 前記光学特性測定装置は、前記測定対象の光学的特性を測定するセンサーを有する、請求項1に記載の分析装置。
- 前記センサーは、前記測定対象の画像データを取得する画像取得センサーである、請求項2に記載の分析装置。
- 前記光学特性測定装置は、前記センサーと前記測定対象との間に配置される光フィルタを有する、請求項3に記載の分析装置。
- 前記光源は白色光源である、請求項1に記載の分析装置。
- 前記演算部は、可視光領域における前記炭素化合物の光学的特性に基づいて、前記測定対象に含まれるブラックカーボンの含有量を算出する、請求項1~5のいずれかに記載の分析装置。
- 前記演算部は、可視光領域における前記炭素化合物の光学的特性に基づいて、前記測定対象に含まれる有機炭素の含有量を算出する、請求項1~6のいずれかに記載の分析装置。
- 前記演算部は、赤外領域における前記炭素化合物の光学的特性に基づいて、前記測定対象に含まれる有機炭素の含有量を算出する、請求項1~7のいずれかに記載の分析装置。
- 前記演算部は、赤外領域における前記炭素化合物の光学的特性に基づいて、前記測定対象に含まれるブラックカーボンの含有量を算出する、請求項1~8のいずれかに記載の分析装置。
- 前記測定対象を捕集する捕集フィルタをさらに備える、請求項1~9のいずれかに記載の分析装置。
- 測定対象から発生する蛍光X線に基づいて、前記測定対象に含まれる元素に関する情報を取得する方法であって、
前記蛍光X線を検出するステップと、
光源により前記測定対象に光を照射するステップと、
前記光源から前記測定対象に照射された光を用いて、前記測定対象に含まれる炭素化合物のX線の波長領域を含まない波長領域における光学的特性を取得するステップと、
前記炭素化合物の光学的特性に基づいて、前記測定対象に含まれる前記炭素化合物の量に関する情報を算出するステップと、
前記炭素化合物の量に関する情報と前記蛍光X線の強度とに基づいて、前記炭素化合物による自己吸収の影響を補正した蛍光X線の強度を算出するステップと、
を含む分析方法。 - 測定対象から発生する蛍光X線に基づいて、前記測定対象に含まれる元素に関する情報を取得する方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記方法は、
前記蛍光X線を検出するステップと、
光源により前記測定対象に光を照射するステップと、
前記光源から前記測定対象に照射された光を用いて、前記測定対象に含まれる炭素化合物のX線の波長領域を含まない波長領域における光学的特性を取得するステップと、
前記炭素化合物の光学的特性に基づいて、前記測定対象に含まれる前記炭素化合物の量に関する情報を算出するステップと、
前記炭素化合物の量に関する情報と前記蛍光X線の強度とに基づいて、前記炭素化合物による自己吸収の影響を補正した蛍光X線の強度を算出するステップと、
を含むプログラム。
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---|---|---|---|---|
CA3115154A1 (en) * | 2018-10-18 | 2020-04-23 | Security Matters Ltd. | System and method for detection and identification of foreign elements in a substance |
KR102464470B1 (ko) * | 2020-12-07 | 2022-11-09 | 한국과학기술연구원 | 브라운 카본의 측정된 시료 브라운 카본의 광흡수 효율 수치화 방법 |
CN116337699A (zh) * | 2021-12-24 | 2023-06-27 | 晋城三赢精密电子有限公司 | 颗粒物光学检测系统及方法 |
CN115629027B (zh) * | 2022-12-01 | 2023-03-14 | 杭州谱育科技发展有限公司 | 基于形变数据补偿处理的颗粒物检测装置和方法 |
CN116202927B (zh) * | 2023-04-28 | 2023-08-01 | 杭州谱育科技发展有限公司 | 气体中颗粒物检测装置和方法 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001066269A (ja) | 1999-08-26 | 2001-03-16 | Rigaku Industrial Co | 蛍光x線分析装置 |
JP2004528567A (ja) | 2001-05-04 | 2004-09-16 | ニトン・コーポレーション | レーザー誘起蛍光量子分析装置と組み合わせた蛍光x線分析装置 |
JP2005527833A (ja) | 2002-05-29 | 2005-09-15 | エクスレイディア・インコーポレイテッド | 元素別x線蛍光顕微鏡および動作の方法 |
JP2007155631A (ja) | 2005-12-08 | 2007-06-21 | Shimadzu Corp | Icp発光分光分析装置 |
JP2008045975A (ja) | 2006-08-14 | 2008-02-28 | Daido Steel Co Ltd | 炭素濃度分布測定方法およびこれを用いた浸炭部材の製造方法 |
JP2008261712A (ja) | 2007-04-11 | 2008-10-30 | Kimoto Denshi Kogyo Kk | 浮遊粒子状物質の測定装置 |
WO2014061368A1 (ja) | 2012-10-15 | 2014-04-24 | ソニー株式会社 | 微小粒子測定装置 |
CN105092624A (zh) | 2014-05-20 | 2015-11-25 | 株式会社堀场制作所 | 分析装置和校正方法 |
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JP2015531480A5 (ja) | 2013-09-06 | 2016-07-07 | ||
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Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0621866B2 (ja) * | 1986-03-19 | 1994-03-23 | 川崎重工業株式会社 | 気流中粉体の色計測方法およびその装置 |
JPH0688793A (ja) * | 1992-09-04 | 1994-03-29 | Kobe Steel Ltd | 発光分析による鋼の成分分析方法 |
US9488605B2 (en) * | 2012-09-07 | 2016-11-08 | Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc. | Confocal XRF-CT system for mining analysis |
WO2014100241A1 (en) * | 2012-12-19 | 2014-06-26 | University Of California, | Optimizing analysis and identification of particulate matter |
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CN112986300B (zh) * | 2021-02-22 | 2024-01-30 | 中海石油(中国)有限公司海南分公司 | 一种基于x射线荧光数据的岩屑录井分析方法、系统 |
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Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001066269A (ja) | 1999-08-26 | 2001-03-16 | Rigaku Industrial Co | 蛍光x線分析装置 |
JP2004528567A (ja) | 2001-05-04 | 2004-09-16 | ニトン・コーポレーション | レーザー誘起蛍光量子分析装置と組み合わせた蛍光x線分析装置 |
JP2005527833A (ja) | 2002-05-29 | 2005-09-15 | エクスレイディア・インコーポレイテッド | 元素別x線蛍光顕微鏡および動作の方法 |
JP2007155631A (ja) | 2005-12-08 | 2007-06-21 | Shimadzu Corp | Icp発光分光分析装置 |
JP2008045975A (ja) | 2006-08-14 | 2008-02-28 | Daido Steel Co Ltd | 炭素濃度分布測定方法およびこれを用いた浸炭部材の製造方法 |
JP2008261712A (ja) | 2007-04-11 | 2008-10-30 | Kimoto Denshi Kogyo Kk | 浮遊粒子状物質の測定装置 |
WO2014061368A1 (ja) | 2012-10-15 | 2014-04-24 | ソニー株式会社 | 微小粒子測定装置 |
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US20150338357A1 (en) | 2014-05-20 | 2015-11-26 | Horiba, Ltd. | Analyzing apparatus and calibration method |
JP2015219200A (ja) | 2014-05-21 | 2015-12-07 | 株式会社堀場製作所 | 分析装置及び校正方法 |
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