JP7197853B1 - Electronic parts processing equipment - Google Patents

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Abstract

【課題】電子部品の処理ユニットに対する位置及び向きを所定の位置及び向きにする電子部品処理装置を提供する。【解決手段】ウエハシートに貼付された電子部品WをJ方向に突き出す突出機構、J方向に突き出された電子部品Wをピックアップ位置P1で取得する部品支持部12を有するピックアップユニット13、受け位置P2でピックアップユニット13から電子部品Wを取得する部品保持部14が取り付けられた回転体15の回転により部品保持部14が処理位置P7~P11まで移動する搬送ユニット、及び、処理位置P7~P11に配された電子部品Wに所定の処理を行う処理ユニット17~21を備える電子部品処理装置10において、突出機構をウエハシートに平行に移動させる第1の駆動機構と、ピックアップユニット13をウエハシートに平行に移動させる第2の駆動機構27と、ウエハシートをウエハシートに沿って移動させる第3の移動機構を備える。【選択図】図2An electronic component processing apparatus is provided in which the position and orientation of an electronic component with respect to a processing unit are set to predetermined positions and orientations. A projecting mechanism for projecting an electronic component W attached to a wafer sheet in a J direction, a pickup unit 13 having a component supporter 12 for acquiring the electronic component W projected in the J direction at a pickup position P1, and a receiving position P2. A conveying unit in which the component holding unit 14 moves to the processing positions P7 to P11 by rotation of the rotating body 15 to which the component holding unit 14 for acquiring the electronic component W from the pickup unit 13 is rotated, and the processing positions P7 to P11. In an electronic component processing apparatus 10 including processing units 17 to 21 for performing predetermined processing on electronic components W that have been processed, a first driving mechanism for moving a projecting mechanism parallel to the wafer sheet, and a pickup unit 13 for moving parallel to the wafer sheet. and a third moving mechanism for moving the wafer sheet along the wafer sheet. [Selection drawing] Fig. 2

Description

本発明は、電子部品に対し所定の処理を行う電子部品処理装置に関する。 The present invention relates to an electronic component processing apparatus that performs predetermined processing on electronic components.

外観検査ユニット等の処理ユニットにより電子部品に所定の処理を行う電子部品処理装置は、ウエハシートの前面に貼付された電子部品を吸着ノズル(ピックアップノズル)により順次取得するピックアップユニット(ロータリー式ピックアップ機構)と、ピックアップユニットから得た電子部品を処理ユニットが配置された処理位置まで搬送する搬送ユニット(ターンテーブル等からなるユニット)を備えている(特許文献1参照)。 An electronic component processing apparatus that performs predetermined processing on electronic components by a processing unit such as an appearance inspection unit includes a pick-up unit (rotary type pick-up mechanism ) and a transport unit (a unit including a turntable or the like) that transports the electronic component obtained from the pickup unit to a processing position where the processing unit is arranged (see Patent Document 1).

吸着ノズルは、ウエハシートの裏面がピン(突上げピン)に突かれてウエハシートの表側に突き出された電子部品を吸着して取得する。吸着ノズルに吸着された電子部品の吸着ノズルに対する位置は、突き出された吸着前の電子部品の吸着ノズルに対する位置等に影響される。そして、吸着ノズルに吸着された電子部品の吸着ノズルに対する位置は、搬送ユニットに取得された電子部品の搬送ユニットに対する位置に影響を与える。 The suction nozzle picks up and picks up an electronic component protruded to the front side of the wafer sheet as a result of the back surface of the wafer sheet being poked by a pin (push-up pin). The position of the electronic component sucked by the suction nozzle with respect to the suction nozzle is affected by the position of the projected electronic component before suction with respect to the suction nozzle. The position of the electronic component sucked by the suction nozzle with respect to the suction nozzle affects the position of the electronic component acquired by the transfer unit with respect to the transfer unit.

ここで、搬送ユニットにより処理位置に配された電子部品の処理ユニットに対する位置が予め定められた所定の位置となっていない場合、処理ユニットによる処理が適切に行われない等の問題が生じる。そのため、搬送ユニットに取得された電子部品は、処理位置に搬送される前に、アライメントユニットにより位置調整がなされる。アライメントユニットは搬送ユニットから電子部品を取得して位置を調整した後、搬送ユニットに電子部品を戻す。 Here, if the position of the electronic component placed at the processing position by the transport unit with respect to the processing unit is not at a predetermined position, problems such as improper processing by the processing unit occur. Therefore, the position of the electronic component acquired by the transport unit is adjusted by the alignment unit before being transported to the processing position. The alignment unit retrieves the electronic component from the transport unit, adjusts the position of the electronic component, and then returns the electronic component to the transport unit.

特開2012-119494号公報JP 2012-119494 A

しかしながら、アライメントユニットによる電子部品の位置調整は、処理ユニットによる処理よりも長い時間を要し、結果として、電子部品の効率的な処理を妨げる等の問題があった。
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたもので、搬送ユニットから電子部品を取得して電子部品を位置調整するアライメントユニットを用いることなく、処理位置における電子部品の処理ユニットに対する位置及び向きを予め定められた所定の位置及び向きにすることが可能な電子部品処理装置を提供することを目的とする。
However, position adjustment of the electronic component by the alignment unit requires a longer time than processing by the processing unit, and as a result, there are problems such as hindering efficient processing of the electronic component.
The present invention has been made in view of such circumstances, and the position and orientation of the electronic component at the processing position with respect to the processing unit are determined in advance without using an alignment unit that acquires the electronic component from the transport unit and adjusts the position of the electronic component. An object of the present invention is to provide an electronic component processing apparatus that can be positioned and oriented in a predetermined position.

前記目的に沿う第1の発明に係る電子部品処理装置は、ウエハシートに貼付された電子部品を該ウエハシートに垂直なJ方向に突き出す突出機構、前記J方向に突き出された前記電子部品を前記ウエハシートに対向するピックアップ位置で取得する部品支持部を有するピックアップユニット、受け位置で該ピックアップユニットから前記電子部品を取得する部品保持部が取り付けられた回転体の回転により該部品保持部が該電子部品と共に処理位置まで移動する搬送ユニット、及び、前記処理位置に配された前記電子部品に所定の処理を行う処理ユニットを備える電子部品処理装置において、前記突出機構を前記ウエハシートに平行な仮想平面Eに沿って移動させる第1の駆動機構と、前記部品支持部で前記電子部品を支持した前記ピックアップユニットを前記ウエハシートに平行な仮想平面Fに沿って移動させる第2の駆動機構と、前記ウエハシートを含む仮想平面Q内で該ウエハシートを移動させる第3の駆動機構と、前記部品支持部に取得された前記電子部品の基準位置及び基準向きに対するずれを検出するずれ導出手段と、前記第1の駆動機構、前記第2の駆動機構及び前記第3の駆動機構を制御して、前記ピックアップ位置に配された前記部品支持部、次に前記部品支持部に取得される前記電子部品及び前記突出機構の位置を調整する制御手段とを備え、前記ピックアップユニットは、一回又は複数回の回転動作によって、前記ピックアップ位置に配されていた前記部品支持部を前記受け位置に配される前記部品保持部に対向する渡し位置に移動させる回転部材を有し、前記搬送ユニットは、前記部品保持部を自転させて、該部品保持部に取得された前記電子部品の前記搬送ユニットに対する向きを調整する駆動回転機構を有し、前記制御手段は、前記ずれ導出手段が検出した前記ずれを基に前記第2の駆動機構及び前記駆動回転機構を制御して、前記電子部品が前記処理位置で前記処理ユニットに対し所定の位置及び向きに配されるようにする。 According to a first aspect of the present invention, there is provided an electronic component processing apparatus according to a first aspect of the present invention that meets the above object. A pick-up unit having a component support section that picks up the electronic component at a pick-up position facing the wafer sheet; In an electronic component processing apparatus comprising a transfer unit that moves together with a component to a processing position, and a processing unit that performs a predetermined process on the electronic component arranged at the processing position, the projecting mechanism is arranged on a virtual plane parallel to the wafer sheet. A first drive mechanism for moving along E, a second drive mechanism for moving the pickup unit supporting the electronic component by the component support portion along the imaginary plane F parallel to the wafer sheet, a third driving mechanism for moving the wafer sheet within a virtual plane Q containing the wafer sheet; a deviation deriving means for detecting a deviation from a reference position and a reference orientation of the electronic component acquired by the component support; By controlling the first drive mechanism, the second drive mechanism, and the third drive mechanism, the component support unit arranged at the pickup position, and then the electronic component acquired by the component support unit, and and control means for adjusting the position of the projecting mechanism, and the pickup unit rotates the component support portion from the pick-up position to the receiving position by one or more rotations. It has a rotating member for moving to a transfer position facing the component holding section, and the transport unit rotates the component holding section to adjust the orientation of the electronic component acquired by the component holding section with respect to the transport unit. The control means controls the second drive mechanism and the drive rotation mechanism based on the deviation detected by the deviation derivation means, so that the electronic component is at the processing position. It is arranged in a predetermined position and orientation with respect to the processing unit.

前記目的に沿う第2の発明に係る電子部品処理装置は、ウエハシートに貼付された電子部品を該ウエハシートに垂直なJ方向に突き出す突出機構、前記J方向に突き出された前記電子部品を前記ウエハシートに対向するピックアップ位置で取得する部品支持部を有するピックアップユニット、受け位置で該ピックアップユニットから前記電子部品を取得する部品保持部が取り付けられた回転体の回転により該部品保持部が該電子部品と共に処理位置まで移動する搬送ユニット、及び、前記処理位置に配された前記電子部品に所定の処理を行う処理ユニットを備える電子部品処理装置において、前記部品支持部で前記電子部品を支持した前記ピックアップユニットを前記ウエハシートに平行なG方向又は該G方向の反対方向に移動させる駆動機構βと、前記ウエハシートを含む仮想平面Q内で該ウエハシートを移動させる駆動機構γと、前記ピックアップユニットの移動によりなされた前記電子部品の位置調整の方向に直交するK方向又は該K方向の反対方向に前記処理ユニットを移動させて、前記処理位置に配された前記電子部品に対する、該処理ユニットの前記K方向の位置を調整する駆動機構δと、前記部品支持部に取得された前記電子部品の基準位置及び基準向きに対するずれを検出するずれ導出手段と、前記駆動機構β及び前記駆動機構γを制御して、前記ピックアップ位置に配された前記部品支持部及び次に前記部品支持部に取得される前記電子部品の位置を調整する制御手段とを備え、前記搬送ユニットは、前記部品保持部を自転させて、該部品保持部に取得された前記電子部品の前記搬送ユニットに対する向きを調整する駆動回転機構を有し、前記制御手段は、前記ずれ導出手段が検出した前記ずれを基に前記駆動機構β、前記駆動機構δ及び前記駆動回転機構を制御して、前記電子部品が前記処理位置で前記処理ユニットに対し所定の位置及び向きに配されるようにする。 According to a second aspect of the present invention, there is provided an electronic component processing apparatus according to a second aspect of the present invention that meets the above object. A pick-up unit having a component support section that picks up the electronic component at a pick-up position facing the wafer sheet; An electronic component processing apparatus comprising: a transport unit that moves to a processing position together with a component; and a processing unit that performs a predetermined process on the electronic component placed at the processing position, wherein the electronic component is supported by the component support portion. A driving mechanism β for moving a pickup unit in a G direction parallel to the wafer sheet or in a direction opposite to the G direction, a driving mechanism γ for moving the wafer sheet within a virtual plane Q including the wafer sheet, and the pickup unit. moving the processing unit in the direction K perpendicular to the direction of the position adjustment of the electronic component made by the movement of , or in the direction opposite to the direction K, and moving the processing unit to the electronic component placed at the processing position A drive mechanism δ for adjusting the position in the K direction, a deviation deriving means for detecting a deviation from the reference position and the reference orientation of the electronic component acquired by the component support portion, and the drive mechanism β and the drive mechanism γ. a control means for controlling and adjusting the positions of the component support section arranged at the pick-up position and the position of the electronic component to be subsequently acquired by the component support section, wherein the transport unit moves the component support section; a drive rotation mechanism that rotates to adjust the orientation of the electronic component acquired by the component holding unit with respect to the transport unit; The mechanism β, the drive mechanism δ and the drive rotation mechanism are controlled such that the electronic component is positioned and oriented with respect to the processing unit at the processing position.

第1、第2の発明に係る電子部品処理装置によれば、電子部品を部品支持部や部品保持部で取得(支持)した状態で電子部品の位置及び向きを調整でき、搬送ユニットから電子部品を取得して電子部品を位置調整するアライメントユニットを用いることなく、処理位置における電子部品の処理ユニットに対する位置及び向きを予め定められた所定の位置及び向きにすることが可能である。 According to the electronic component processing apparatus according to the first and second inventions, the position and orientation of the electronic component can be adjusted in a state where the electronic component is acquired (supported) by the component support section or the component holding section, and the electronic component can be transported from the conveying unit. It is possible to set the position and orientation of the electronic component at the processing position to a predetermined position and orientation with respect to the processing unit without using an alignment unit that obtains and aligns the electronic component.

本発明の第1の実施の形態に係る電子部品処理装置の説明図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is explanatory drawing of the electronic component processing apparatus which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 回転体に対する処理ユニット及びピックアップユニットの配置を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing the arrangement of processing units and pickup units with respect to a rotating body; ピックアップユニットによる電子部品の取得及び受け渡しの説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of acquisition and delivery of an electronic component by a pickup unit; 制御手段の接続を示すブロック図である。4 is a block diagram showing connections of control means; FIG. (A)、(B)はそれぞれ、渡し位置に配された電子部品に対するピックアップユニットの位置を示す説明図及び突出機構の説明図である。(A) and (B) are an explanatory diagram showing the position of the pickup unit with respect to the electronic component arranged at the transfer position and an explanatory diagram of the projecting mechanism, respectively. ピックアップユニットの部品支持部の回転を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing rotation of a component support portion of the pickup unit; 電子部品取得処理の流れを示すフロー図である。It is a flow figure which shows the flow of an electronic component acquisition process. 電子部品受渡し処理の流れを示すフロー図である。FIG. 4 is a flow chart showing the flow of electronic component delivery processing; 本発明の第2の実施の形態に係る電子部品処理装置の説明図である。It is explanatory drawing of the electronic component processing apparatus which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 回転体に対する処理ユニット及びピックアップユニットの配置を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing the arrangement of processing units and pickup units with respect to a rotating body; ピックアップユニットによる電子部品の取得及び受け渡しの説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of acquisition and delivery of an electronic component by a pickup unit; 制御手段の接続を示すブロック図である。4 is a block diagram showing connections of control means; FIG. ピックアップユニットが移動する方向を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing directions in which the pickup unit moves; ピックアップユニットの部品支持部の回転を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing rotation of a component support portion of the pickup unit; 電子部品取得処理の流れを示すフロー図である。It is a flow figure which shows the flow of an electronic component acquisition process. 電子部品受渡し処理の流れを示すフロー図である。FIG. 4 is a flow chart showing the flow of electronic component delivery processing; 処理ユニットによる電子部品の処理の流れを示すフロー図である。FIG. 4 is a flow diagram showing a flow of processing electronic components by a processing unit; 駆動回転機構を有する変形例の説明図である。It is explanatory drawing of the modification which has a drive rotation mechanism.

続いて、添付した図面を参照しつつ、本発明を具体化した実施の形態につき説明し、本発明の理解に供する。 Next, specific embodiments of the present invention will be described with reference to the attached drawings for better understanding of the present invention.

図1、図2、図3に示すように、本発明の第1の実施の形態に係る電子部品処理装置10は、ウエハシートHの表面(前面)に貼付された電子部品WをウエハシートHに垂直なJ方向にウエハシートHの裏面(後面)側から突き出す突出機構11、J方向に突き出された電子部品WをウエハシートHに対向するピックアップ位置P1で取得する部品支持部12を有するピックアップユニット13、受け位置P2でピックアップユニット13から電子部品Wを取得する部品保持部14が取り付けられた回転体15の回転により部品保持部14が電子部品Wと共に処理位置P7、P8、P9、P10、P11まで移動する搬送ユニット16、及び、処理位置P7、P8、P9、P10、P11に配された電子部品Wにそれぞれ所定の処理を行う処理ユニット17、18、19、20、21を備えている。以下、詳細に説明する。 As shown in FIGS. 1, 2 and 3, the electronic component processing apparatus 10 according to the first embodiment of the present invention removes the electronic components W attached to the surface (front surface) of the wafer sheet H from the wafer sheet H. A pickup having a projecting mechanism 11 projecting from the back surface (rear surface) side of the wafer sheet H in the J direction perpendicular to , and a component support portion 12 that acquires the electronic component W projected in the J direction at a pickup position P1 facing the wafer sheet H. The rotating body 15 to which the component holding part 14 for acquiring the electronic component W from the pickup unit 13 at the receiving position P2 of the unit 13 is rotated, so that the component holding part 14 moves along with the electronic component W to the processing positions P7, P8, P9, P10, Equipped with a transport unit 16 that moves to P11, and processing units 17, 18, 19, 20, and 21 that perform predetermined processing on electronic components W placed at processing positions P7, P8, P9, P10, and P11, respectively. . A detailed description will be given below.

ピックアップユニット13は、図1、図2、図3に示すように、回転体15の下方に設けられ、支持体21aに回転自在に支持された回転軸22と共に回転する円盤状の回転部材23及びそれぞれ回転部材23に対して半径方向に進退可能に設けられた複数の部品支持部12を有している。部品支持部12は複数あって、それぞれ筒状である。各部品支持部12は、軸心が部品支持部12の進退方向に一致するように放射状に設けられ、回転軸22を中心とする仮想円の外縁に沿って等間隔に配されている。なお、部品支持部12は筒状のものに限定されないのは言うまでもなく、例えば、直方体状や立方体状であってもよい。 As shown in FIGS. 1, 2, and 3, the pickup unit 13 is provided below the rotating body 15, and is a disk-shaped rotating member 23 that rotates together with a rotating shaft 22 that is rotatably supported by a supporting body 21a. Each has a plurality of component support portions 12 which are provided so as to be able to advance and retreat in the radial direction with respect to the rotating member 23 . There are a plurality of component support portions 12, each of which has a tubular shape. Each component support portion 12 is radially provided so that the axial center is aligned with the advance/retreat direction of the component support portion 12, and is arranged at equal intervals along the outer edge of a virtual circle centered on the rotation shaft 22. Needless to say, the component support portion 12 is not limited to a cylindrical shape, and may be rectangular parallelepiped or cubic, for example.

本実施の形態では、4つの部品支持部12が回転部材23を中心に90°の間隔でそれぞれ3時位置、6時位置(180°位置)、9時位置、12時位置(0°位置)に設けられている。各部品支持部12の近傍には、図3に示すように、回転部材23の中心に向かって移動した部品支持部12に対し移動方向とは反対の方向に力を作用させるコイルばね24が取り付けられている。なお、図2、図5(A)では、部品支持部12のコイルばね24等の記載を省略している。 In this embodiment, the four component support portions 12 are positioned at 3 o'clock position, 6 o'clock position (180° position), 9 o'clock position, and 12 o'clock position (0° position) at 90° intervals around the rotating member 23 . is provided in As shown in FIG. 3, coil springs 24 are attached in the vicinity of the component support portions 12 to apply force in the direction opposite to the moving direction to the component support portions 12 moved toward the center of the rotating member 23. It is 2 and 5A, illustration of the coil spring 24 and the like of the component support portion 12 is omitted.

本実施の形態において、各部品支持部12は、真空圧(負圧)によって電子部品Wを吸着し、大気開放又は正圧によって電子部品Wの吸着状態を解除する吸着ノズルである。各部品支持部12は、支持体21a内に設けられた図4に示すモータ51の作動及び停止の繰り返しによる回転部材23の間欠的な回転に伴って、間欠的に円弧状の経路を90°移動し、順次、多数(複数)の電子部品Wが表面に貼り付けられたウエハシートHに対向するピックアップ位置P1(6時位置、180°位置)に配される。 In the present embodiment, each component support portion 12 is a suction nozzle that sucks the electronic component W by vacuum pressure (negative pressure) and cancels the sucked state of the electronic component W by release to the atmosphere or positive pressure. Each component support portion 12 intermittently rotates along an arc-shaped path by 90° as the rotating member 23 is intermittently rotated by repeating the operation and stop of the motor 51 shown in FIG. It is moved and sequentially placed at a pickup position P1 (6 o'clock position, 180° position) facing the wafer sheet H having a large number (plurality) of electronic components W attached to its surface.

本実施の形態では、ピックアップユニット13の直下のピックアップユニット13から距離を有する位置にウエハシートHが水平配置されている。電子部品Wは、例えば、ダイオード、トランジスタ、コンデンサ、インダクタ、IC(Integrated Circuit)である。図3、図6に示すように、電子部品Wは、平行な2つの面W1、W2を有し、面W1がウエハシートHの表面に密着した状態でウエハシートHに貼付されている。 In the present embodiment, the wafer sheet H is horizontally arranged at a position that is a distance from the pickup unit 13 immediately below the pickup unit 13 . Electronic components W are, for example, diodes, transistors, capacitors, inductors, and ICs (Integrated Circuits). As shown in FIGS. 3 and 6, the electronic component W has two parallel surfaces W1 and W2, and is attached to the wafer sheet H with the surface W1 in close contact with the surface of the wafer sheet H. As shown in FIGS.

ピックアップユニット13及び支持体21aは、図3、図5(A)に示すように、支持体21aに取り付けられたX軸駆動手段25の作動によりウエハシートHに平行(本実施の形態では、水平)な面内のX軸方向に移動し、X軸駆動手段25に取り付けられたY軸駆動手段26の作動によりX軸駆動手段25と共に、X軸駆動手段25の作動によってピックアップユニット13及び支持体21aが移動する方向に直交する方向(ウエハシートHに平行な面内のY軸方向)に移動(本実施の形態では、水平移動)する。従って、ウエハシートHに平行でピックアップユニット13を通る仮想平面を仮想平面Fとして、本実施の形態では、ピックアップユニット13を仮想平面Fに沿って(仮想平面F内で)自在に移動させる第2の駆動機構27が、X軸駆動手段25及びY軸駆動手段26を有して構成されている。 As shown in FIGS. 3 and 5A, the pickup unit 13 and the support 21a are moved parallel to the wafer sheet H (in this embodiment, horizontally) by the operation of the X-axis driving means 25 attached to the support 21a. ), and moves along with the X-axis driving means 25 by the operation of the Y-axis driving means 26 attached to the X-axis driving means 25, and by the operation of the X-axis driving means 25, the pickup unit 13 and the support body. It moves (horizontally moves in this embodiment) in a direction perpendicular to the moving direction of 21a (Y-axis direction in a plane parallel to the wafer sheet H). Therefore, a virtual plane parallel to the wafer sheet H and passing through the pickup unit 13 is defined as a virtual plane F, and in the present embodiment, the pickup unit 13 is freely moved along the virtual plane F (within the virtual plane F). is configured to have an X-axis drive means 25 and a Y-axis drive means 26 .

また、ウエハシートH及びウエハシートHが装着されたウエハリング29は、図3に示すように、ウエハリング29を支持するX軸駆動手段30の作動によりウエハシートHを含む仮想平面Q内で(本実施の形態では、水平に)X軸方向に移動する。更に、ウエハシートH及びウエハリング29はX軸駆動手段30に取り付けられたY軸駆動手段31の作動によりX軸駆動手段30と共に、X軸駆動手段30の作動によってウエハシートH及びウエハリング29が移動する方向に直交するY軸方向に仮想平面Q内で移動(本実施の形態では、水平移動)する。本実施の形態では、ウエハシートHを仮想平面Q内で自在に移動させる第3の駆動機構35が、X軸駆動手段30及びY軸駆動手段31を有して構成されている。 3, the wafer sheet H and the wafer ring 29 with the wafer sheet H mounted thereon are moved within a virtual plane Q including the wafer sheet H ( In this embodiment, it moves in the X-axis direction (horizontally). Further, the wafer sheet H and the wafer ring 29 are moved together with the X-axis driving means 30 by the operation of the Y-axis driving means 31 attached to the X-axis driving means 30, and the wafer sheet H and the wafer ring 29 are moved by the operation of the X-axis driving means 30. It moves within the virtual plane Q in the Y-axis direction perpendicular to the direction of movement (horizontal movement in this embodiment). In the present embodiment, the third driving mechanism 35 for freely moving the wafer sheet H within the virtual plane Q is configured with X-axis driving means 30 and Y-axis driving means 31 .

ウエハシートHの直下に設けられた筒状部材32の内側には、駆動源33の作動によりウエハシートHに対し垂直な方向に進退(本実施の形態では鉛直方向又は鉛直方向逆向きに移動)するピン34が設けられている。駆動源33には、図3、図5(B)に示すように、筒状部材32、駆動源33及びピン34をウエハシートHに平行(本実施の形態では、水平)な面内のX軸方向に移動させるX軸駆動手段46が取り付けられている。X軸駆動手段46には、筒状部材32、駆動源33及びピン34を、X軸駆動手段46の作動により筒状部材32、駆動源33及びピン34が移動する方向に直交するY軸方向(ウエハシートHに平行)に移動(本実施の形態では、水平移動)させるY軸駆動手段47が取り付けられている。 Inside the cylindrical member 32 provided directly under the wafer sheet H, a drive source 33 is operated to advance and retreat in a direction perpendicular to the wafer sheet H (in this embodiment, it moves in the vertical direction or in the opposite vertical direction). A pin 34 is provided. As shown in FIGS. 3 and 5B, the drive source 33 includes a cylindrical member 32, a drive source 33, and a pin 34 arranged in an X plane parallel (horizontal in this embodiment) to the wafer sheet H. An X-axis driving means 46 for axial movement is attached. In the X-axis driving means 46, the cylindrical member 32, the driving source 33, and the pin 34 are moved in the Y-axis direction perpendicular to the direction in which the cylindrical member 32, the driving source 33, and the pin 34 are moved by the operation of the X-axis driving means 46. A Y-axis driving means 47 for moving (in this embodiment, horizontally moving) (parallel to the wafer sheet H) is attached.

本実施の形態では、筒状部材32、駆動源33及びピン34を有して突出機構11が形成されている。また、ウエハシートH及び仮想平面Fに平行で突出機構11を通る仮想平面を仮想平面Eとして、突出機構11を仮想平面Eに沿って(仮想平面E内で)移動させる第1の駆動機構49がX軸駆動手段46及びY軸駆動手段47を有して形成されている。
なお、図3では、ウエハシートH、ウエハリング29及びX軸駆動手段30が断面図として記載され、図2、図5(A)、(B)では、ウエハシートHに貼付されている電子部品W、ウエハリング29及びX軸駆動手段30等の記載を省略している。
In the present embodiment, the protruding mechanism 11 is formed with the cylindrical member 32, the drive source 33 and the pin 34. As shown in FIG. A first drive mechanism 49 moves the projection mechanism 11 along the virtual plane E (within the virtual plane E), with a virtual plane parallel to the wafer sheet H and the virtual plane F and passing through the projection mechanism 11 as a virtual plane E. is formed with X-axis drive means 46 and Y-axis drive means 47 .
3, the wafer sheet H, the wafer ring 29, and the X-axis driving means 30 are shown as cross-sectional views, and FIGS. W, the wafer ring 29, the X-axis driving means 30, etc. are omitted.

X軸駆動手段30及びY軸駆動手段31の作動により、ウエハシートHの表面に貼付されている多数の電子部品Wの内の一つの電子部品Wが、順次、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12に取得される位置(以下、「被ピックアップ位置」と言う)に配される。ピン34は、ウエハシートHの裏側(本実施の形態では、下側)に位置し、表側に向けてJ方向に移動(本実施の形態では、上昇)することによって、被ピックアップ位置に配された電子部品Wを、ウエハシートHの表側に移動させ、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12に接触させる。 By the operation of the X-axis driving means 30 and the Y-axis driving means 31, one electronic component W out of many electronic components W attached to the surface of the wafer sheet H is sequentially picked up at the pick-up position P1. It is arranged at a position to be acquired by the support portion 12 (hereinafter referred to as a “picked-up position”). The pin 34 is located on the back side (lower side in this embodiment) of the wafer sheet H, and is arranged at the position to be picked up by moving (raising in this embodiment) in the J direction toward the front side. The electronic component W picked up is moved to the front side of the wafer sheet H and brought into contact with the component support portion 12 arranged at the pickup position P1.

ピックアップ位置P1に配された部品支持部12は、部品支持部12に接触した電子部品Wの面W2を吸着し、ピン34のJ方向逆向き(本実施の形態では、鉛直方向)の移動により電子部品WがウエハシートHから離れることにより電子部品WをウエハシートHから取得する。 The component support portion 12 arranged at the pickup position P1 sucks the surface W2 of the electronic component W that is in contact with the component support portion 12, and by moving the pin 34 in the direction opposite to the J direction (vertical direction in this embodiment), The electronic component W is obtained from the wafer sheet H by separating the electronic component W from the wafer sheet H.

また、ピックアップユニット13の近傍には、ピックアップ位置P1で電子部品Wを取得した部品支持部12と共に移動して9時位置に配された電子部品Wの面W1を撮像する撮像手段28が設けられている。以下、電子部品Wが撮像手段28により撮像される位置を「撮像位置」とも言う。図示しない支持部材に支持された撮像手段28は撮像位置に配された電子部品Wの面W1を撮像し電子部品Wの面W1を正面から撮像した画像を得る。撮像手段28は部品支持部12が支持している電子部品Wの面W1を撮像できればよく、例えば、電子部品Wが7時30分位置に一次停止する場合は、7時30分位置に配された電子部品Wの面W1を撮像するように撮像手段28を配置してもよい。 In the vicinity of the pickup unit 13, there is provided an imaging means 28 that moves together with the component support portion 12 that has picked up the electronic component W at the pickup position P1 and captures an image of the surface W1 of the electronic component W placed at the 9 o'clock position. ing. Hereinafter, the position where the image of the electronic component W is imaged by the imaging means 28 is also referred to as the "imaging position". An imaging means 28 supported by a support member (not shown) images the surface W1 of the electronic component W arranged at the imaging position to obtain an image of the surface W1 of the electronic component W captured from the front. The imaging means 28 only needs to be able to image the surface W1 of the electronic component W supported by the component support section 12. For example, when the electronic component W temporarily stops at the 7:30 position, the imaging means 28 is arranged at the 7:30 position. The image capturing means 28 may be arranged so as to image the surface W1 of the electronic component W which is mounted.

撮像手段28には、図4に示すように、撮像手段28が撮像した画像を取得するずれ導出手段28aが接続されている。ずれ導出手段28aは、撮像手段28が撮像した画像から電子部品Wの位置及び向きを検出可能である。ずれ導出手段28aには、処理位置P7、P8、P9、P10、P11に配された電子部品Wがそれぞれ処理ユニット17、18、19、20、21に対して予め定められた位置及び向きに配されるための撮像位置における電子部品Wの位置及び向き(以下、「電子部品Wの基準位置及び基準向き」)が記憶されている。 As shown in FIG. 4, the imaging means 28 is connected with a deviation derivation means 28a for obtaining an image captured by the imaging means 28. As shown in FIG. The deviation deriving means 28a can detect the position and orientation of the electronic component W from the image captured by the image capturing means 28 . Electronic components W arranged at processing positions P7, P8, P9, P10, and P11 are arranged in predetermined positions and orientations with respect to processing units 17, 18, 19, 20, and 21, respectively, in deviation deriving means 28a. The position and orientation of the electronic component W at the imaging position to be captured (hereinafter referred to as "reference position and reference orientation of the electronic component W") are stored.

ずれ導出手段28aは、撮像手段28が撮像位置に配された電子部品Wを撮像する度に、撮像手段28が撮像した画像から部品支持部12に取得(支持)された状態で撮像された電子部品Wの位置及び向きを検出し、検出した電子部品Wの位置及び向きと、記憶している電子部品Wの基準位置及び基準向きとを比較して、当該電子部品Wの基準位置及び基準向きに対するずれ(当該電子部品Wの基準位置に対する位置のずれ及び当該電子部品Wの基準向きに対する向きのずれ)を検出し、そのずれを該当の電子部品Wに紐づけて記憶する。 Each time the imaging means 28 captures an image of the electronic component W placed at the imaging position, the deviation deriving means 28a calculates the electronic components captured by the imaging means 28 while being acquired (supported) by the component support section 12 from the image captured by the imaging means 28 . The position and orientation of the component W are detected, the detected position and orientation of the electronic component W are compared with the stored reference position and reference orientation of the electronic component W, and the reference position and reference orientation of the electronic component W are determined. (positional deviation of the electronic component W relative to the reference position and orientation deviation of the electronic component W relative to the reference orientation) are detected, and the deviation is associated with the corresponding electronic component W and stored.

ピックアップユニット13は、図6に示すように、回転部材23の中心と部品支持部12の間に駆動回転部56を有している。駆動回転部56は、部品支持部12の軸心を通る仮想回転軸R回りに部品支持部12を自転させることができる。部品支持部12の軸心は、部品支持部12がピックアップ位置P1に配された際にJ方向に配されることから、駆動回転部56は、部品支持部12がピックアップ位置P1に配された状態でJ方向に配される仮想回転軸R回りに部品支持部12を自転させることとなる。 The pickup unit 13 has a driving rotating portion 56 between the center of the rotating member 23 and the component supporting portion 12, as shown in FIG. The drive rotation section 56 can rotate the component support section 12 around a virtual rotation axis R passing through the axis of the component support section 12 . Since the axial center of the component support portion 12 is arranged in the J direction when the component support portion 12 is arranged at the pickup position P1, the driving rotation portion 56 is arranged to rotate when the component support portion 12 is arranged at the pickup position P1. In this state, the component support portion 12 is rotated around the virtual rotation axis R arranged in the J direction.

また、搬送ユニット16は、図1、図2に示すように、ベース台45に固定されたモータ36と、複数の部品保持部14が外周に沿って等ピッチで取り付けられ、モータ36の作動によって回転する回転体15を有している。モータ36は、回転体15を間欠的に回転駆動させて、複数の部品保持部14を間欠的に移動させる。回転体15の一回の回転動作により、各部品保持部14は部品保持部14の配置ピッチ分移動する。 As shown in FIGS. 1 and 2, the transport unit 16 has a motor 36 fixed to a base 45 and a plurality of component holders 14 attached at equal pitches along the outer circumference. It has a rotary body 15 that rotates. The motor 36 intermittently rotationally drives the rotor 15 to intermittently move the plurality of component holders 14 . One rotation of the rotating body 15 moves each of the component holders 14 by the arrangement pitch of the component holders 14 .

各部品保持部14は、鉛直方向に長く、回転体15を貫通した状態で回転体15に昇降可能に取り付けられている。各部品保持部14は下端部で電子部品Wを吸着する吸着ノズルであり、真空圧(負圧)によって電子部品Wを吸着し、大気開放又は正圧によって電子部品Wの吸着状態を解除する。各部品保持部14には、回転体15より上側の領域に、下降した部品保持部14に上向きの力を作用させるコイルばね37が装着されている。 Each component holding part 14 is elongated in the vertical direction and attached to the rotating body 15 so as to be able to move up and down while passing through the rotating body 15 . Each component holding portion 14 is a suction nozzle that sucks the electronic component W at its lower end, sucks the electronic component W by vacuum pressure (negative pressure), and releases the electronic component W from the sucked state by opening to the atmosphere or by positive pressure. A coil spring 37 is attached to each component holding portion 14 in a region above the rotating body 15 to apply an upward force to the component holding portion 14 that has been lowered.

回転体15の上方には、モータ36及び回転体15を貫通する支持部材38に固定された円盤状の板材39が設けられている。水平配置された板材39の外周には、それぞれモータ40が固定された複数の保持部材41が取り付けられ、各保持部材41には鉛直に配された棒状の可動体42が昇降自在に装着されている。各モータ40の下方には、下降した可動体42に対し上向きの力を与えるコイルばね43が設けられている。モータ40は、図4に示すように、X軸駆動手段25、30、46、Y軸駆動手段26、31、47、撮像手段28、ずれ導出手段28a、駆動源33、モータ36、51及び駆動回転部56と共に制御手段57に接続されている。 A disc-shaped plate member 39 fixed to a support member 38 passing through the motor 36 and the rotating body 15 is provided above the rotating body 15 . A plurality of holding members 41 to which motors 40 are fixed are attached to the outer periphery of the plate member 39 arranged horizontally. there is A coil spring 43 is provided below each motor 40 to apply an upward force to the lowered movable body 42 . As shown in FIG. 4, the motor 40 includes X-axis driving means 25, 30, 46, Y-axis driving means 26, 31, 47, imaging means 28, displacement deriving means 28a, driving source 33, motors 36, 51 and driving means. It is connected to the control means 57 together with the rotating part 56 .

本実施の形態では、モータ40に、モータ40の駆動によって昇降する出力軸44が連結されており、可動体42は下降する出力軸44によって押し下げられる。回転体15及び複数の部品保持部14は、モータ36が駆動するごとに、部品保持部14の配置ピッチに相当する角度回転する。各可動体42は、部品保持部14が一時停止する位置の上方に配され、対応するモータ40の作動により下降し、一時停止している部品保持部14を押し下げる。なお、図1においては、部品保持部14、モータ40、保持部材41、可動体42及び出力軸44等がそれぞれ2つずつ記載されているが、本実施の形態では、これらがそれぞれ3つ以上設けられている。 In this embodiment, the motor 40 is connected to an output shaft 44 that moves up and down when driven by the motor 40, and the movable body 42 is pushed down by the output shaft 44 that moves down. The rotating body 15 and the plurality of component holders 14 rotate by an angle corresponding to the arrangement pitch of the component holders 14 each time the motor 36 is driven. Each movable body 42 is arranged above the position where the component holding portion 14 is temporarily stopped, and is lowered by the operation of the corresponding motor 40 to push down the component holding portion 14 that is temporarily stopped. In FIG. 1, two each of the component holding portion 14, the motor 40, the holding member 41, the movable body 42, the output shaft 44, and the like are shown. is provided.

部品保持部14が一時停止する複数の位置の1つは、図2、図3に示すように、ピックアップユニット13の上方の受け位置P2である。ピックアップ位置P1でウエハシートHから電子部品Wを取得した部品支持部12は、モータ51の作動及び停止の繰り返しにより、電子部品Wと共に間欠的に移動して、受け位置P2の直下の渡し位置P3に停止した状態となる。 One of the plurality of positions where the component holding portion 14 temporarily stops is the receiving position P2 above the pickup unit 13, as shown in FIGS. After picking up the electronic components W from the wafer sheet H at the pick-up position P1, the component support section 12 intermittently moves together with the electronic components W by repeating the operation and stop of the motor 51 to reach the transfer position P3 directly below the receiving position P2. It will be in a stopped state.

本実施の形態では、回転部材23(回転軸)を中心に渡し位置P3が12時位置(0°位置)であり、回転部材23が2回(複数回の一例)の90°の回転動作により回転軸22回りに180°回転することによって、ピックアップ位置P1に配されていた部品支持部12を受け位置P3に配された部品保持部14に対向する渡し位置P3に移動させると共に、渡し位置P3に配されていた部品支持部12をピックアップ位置P1に移動させる。部品支持部12が2つの場合、回転部材23が一回の回転動作により180°回転することにより、ピックアップ位置P1に配されていた部品支持部12を渡し位置P3に移動させ、渡し位置P3に配されていた部品支持部12をピックアップ位置P1に移動させるようにすることができる。 In the present embodiment, the transfer position P3 is at the 12 o'clock position (0° position) about the rotating member 23 (rotating shaft), and the rotating member 23 rotates twice (an example of a plurality of times) by 90°. By rotating 180° around the rotary shaft 22, the component support section 12 arranged at the pick-up position P1 is moved to the transfer position P3 facing the component holding section 14 arranged at the receiving position P3, and the transfer position P3 is moved. , is moved to the pick-up position P1. In the case where there are two component support sections 12, the rotation member 23 rotates 180° in one rotation, thereby moving the component support section 12 from the pick-up position P1 to the transfer position P3, and then to the transfer position P3. The component support portion 12 that has been placed can be moved to the pickup position P1.

受け位置P2に配された部品保持部14は、モータ40の作動により可動体42と共に下降して、渡し位置P3に配されている部品支持部12に吸着された電子部品Wの面W1に接触し電子部品Wの面W1を吸着する。受け位置P2で電子部品Wを吸着した部品保持部14は、電子部品Wの吸着を解除した部品支持部12から電子部品Wを取得し、モータ40の作動により可動体42と共に上昇する。 The component holding portion 14 arranged at the receiving position P2 descends together with the movable body 42 by the operation of the motor 40, and contacts the surface W1 of the electronic component W attracted to the component supporting portion 12 arranged at the transfer position P3. and the surface W1 of the electronic component W is sucked. The component holding portion 14 that has sucked the electronic component W at the receiving position P2 acquires the electronic component W from the component support portion 12 that has released the electronic component W, and rises together with the movable body 42 by the operation of the motor 40 .

搬送ユニット16の近傍には、図2に示すように、部品保持部14に吸着された電子部品Wに対し、それぞれ所定の処理(外観検査、電気特性検査、レーザーマーキング等)を行う処理ユニット17、18、19、20、21が設けられている。
部品保持部14に吸着された電子部品W及び部品保持部14は、モータ36の作動及び停止の繰り返しにより間欠的に移動して、処理ユニット17による処理が行われる処理位置P7、処理ユニット18による処理が行われる処理位置P8、処理ユニット19による処理が行われる処理位置P9、処理ユニット20による処理が行われる処理位置P10、処理ユニット21による処理が行われる処理位置P11に順次停止する。
As shown in FIG. 2, a processing unit 17 for performing predetermined processing (visual inspection, electrical property inspection, laser marking, etc.) on each electronic component W attracted to the component holding unit 14 is provided near the transport unit 16 . , 18, 19, 20, 21 are provided.
The electronic component W attracted to the component holding portion 14 and the component holding portion 14 are intermittently moved by repeating the operation and stop of the motor 36, and are moved to the processing position P7 where the processing by the processing unit 17 is performed, and It stops sequentially at a processing position P8 where processing is performed, a processing position P9 where processing is performed by the processing unit 19, a processing position P10 where processing is performed by the processing unit 20, and a processing position P11 where processing by the processing unit 21 is performed.

また、制御手段57には、図4に示すように、ウエハシートHに貼付された状態で被ピックアップ位置又はその近傍に配された電子部品W及びその周囲の電子部品WをウエハシートHの表面側から撮像する撮像手段58と、撮像手段58の撮像画像を基に被ピックアップ位置又はその近傍に配された電子部品Wの位置を検出する位置検出手段59も接続されている。 4, the control means 57 controls the electronic components W attached to the wafer sheet H and arranged at or near the position to be picked up and the electronic components W around them on the surface of the wafer sheet H. An imaging means 58 for imaging from the side and a position detection means 59 for detecting the position of the electronic component W arranged at or near the pick-up position based on the image captured by the imaging means 58 are also connected.

制御手段57は、例えば、CPU及びメモリ等によって構成でき、X軸駆動手段25、30、47、Y軸駆動手段26、31、46、駆動源33、モータ36、40、51、撮像手段28、58及び駆動回転部56を制御すること、並びに、ずれ導出手段28a及び位置検出手段59から電子データを取得することができる。 The control means 57 can be composed of, for example, a CPU and a memory, and includes X-axis driving means 25, 30, 47, Y-axis driving means 26, 31, 46, driving source 33, motors 36, 40, 51, imaging means 28, 58 and the drive rotator 56, and electronic data can be obtained from the deviation derivation means 28a and the position detection means 59. FIG.

ここで、処理ユニット17は、処理位置P7に配された電子部品Wが処理ユニット17に対して予め定められた所定の位置及び向きに配されていることを前提として、電子部品Wに対して処理を行うように設計されている。そのため、処理位置P7に配された電子部品Wが処理ユニット17に対して所定の位置及び向きに配されていなければ、処理ユニット17は電子部品Wに対して適切に処理が行えない等の問題が生じる。この点、処理位置P8に配された電子部品Wと処理ユニット18、処理位置P9に配された電子部品Wと処理ユニット19、処理位置P10に配された電子部品Wと処理ユニット20、及び、処理位置P11に配された電子部品Wと処理ユニット21についても同様である。 Here, on the premise that the electronic component W arranged at the processing position P7 is arranged in a predetermined position and orientation with respect to the processing unit 17, the processing unit 17 is arranged with respect to the electronic component W Designed to handle. Therefore, if the electronic component W arranged at the processing position P7 is not arranged in a predetermined position and orientation with respect to the processing unit 17, the processing unit 17 cannot properly process the electronic component W. occurs. In this regard, the electronic component W and the processing unit 18 arranged at the processing position P8, the electronic component W and the processing unit 19 arranged at the processing position P9, the electronic component W and the processing unit 20 arranged at the processing position P10, and The same applies to the electronic component W and the processing unit 21 arranged at the processing position P11.

そこで、本実施の形態では、以下に説明する工程により、電子部品Wが処理位置P7、P8、P9、P10、P11で処理ユニット17、18、19、20、21に対しそれぞれ所定の位置及び向きに配されるようにする。 Therefore, in the present embodiment, the electronic component W is placed at the processing positions P7, P8, P9, P10, and P11 at predetermined positions and orientations with respect to the processing units 17, 18, 19, 20, and 21, respectively, by the steps described below. be distributed to

<準備処理>
ピックアップユニット13が予め定められた標準位置に配され、全ての部品支持部12が電子部品Wを吸着していない状態で、モータ51の間欠的な作動により、部品支持部12を順次、撮像位置に配置し、撮像手段28が撮像位置に配された部品支持部12を撮像する。制御手段57は、撮像手段28の撮像画像を基に、各部品支持部12について、部品支持部12がピックアップ位置P1に配された際の部品支持部12の中心の位置を導出し記憶する。
<Preparation processing>
In a state in which the pickup unit 13 is arranged at a predetermined standard position and none of the component support sections 12 are picking up the electronic component W, the intermittent operation of the motor 51 sequentially moves the component support section 12 to the imaging position. , and the imaging means 28 images the component support portion 12 arranged at the imaging position. Based on the image captured by the imaging means 28, the control means 57 derives and stores the position of the center of the component support portion 12 when the component support portion 12 is placed at the pick-up position P1.

このような処理を行うのは、部品支持部12の製造誤差等により、個々の部品支持部12において部品支持部12の中心位置が異なることを確認したためである。但し、個々の部品支持部12の中心位置の差異は極僅かであることから、電子部品処理装置10に求められる要求によっては、この準備処理は省略される。
なお、準備処理におけるモータ51や撮像手段28等の制御は、制御手段57によりなされることについての記載は省略している。この点、以下の説明でも同様にすることがある。
This processing is performed because it was confirmed that the center positions of the component support portions 12 differ among the individual component support portions 12 due to manufacturing errors of the component support portions 12 or the like. However, since the difference in the central positions of the individual component support portions 12 is very slight, this preparatory process may be omitted depending on the requirements of the electronic component processing apparatus 10 .
It should be noted that the control of the motor 51, the imaging means 28, etc. in the preparatory process by the control means 57 is omitted. In this respect, the same may be applied to the following description.

<電子部品取得処理>
準備処理が完了した後、図7に示すステップS1~ステップS6によって、ピックアップユニット13が、ウエハシートHから電子部品Wをピックアップする。
<Electronic component acquisition processing>
After the preparation process is completed, the pickup unit 13 picks up the electronic components W from the wafer sheet H in steps S1 to S6 shown in FIG.

ステップS1:制御手段57は、図7に示すように、X軸駆動手段30及びY軸駆動手段31を制御し、一の電子部品Wをピックアップ位置P1に配された部品支持部12に対向する被ピックアップ位置に配置すべく、ウエハリング29と共にウエハシートHを予め定められたピッチ分移動させ、当該電子部品Wを撮像手段58により撮像する。なお、ウエハリング29及びウエハシートHが予め定められたピッチ分移動する前に撮像手段58による当該電子部品Wの撮像を行ってもよい。 Step S1: As shown in FIG. 7, the control means 57 controls the X-axis driving means 30 and the Y-axis driving means 31 so that one electronic component W faces the component support portion 12 arranged at the pick-up position P1. The wafer sheet H is moved by a predetermined pitch with the wafer ring 29 so as to be arranged at the pick-up position, and the electronic component W is imaged by the imaging means 58 . Note that the electronic component W may be imaged by the imaging means 58 before the wafer ring 29 and the wafer sheet H are moved by a predetermined pitch.

ステップS2:ウエハシートHに貼付されている個々の電子部品Wの位置は、多少のばらつきがあることから、電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されていないことがあり得る。そこで、位置検出手段59は撮像手段58の撮像画像を基に当該電子部品Wの位置を検出し、当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されているか否かを判定する。
ステップS3:位置検出手段59により当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されていると判定された場合、当該電子部品Wの移動は行われない。
Step S2: Since the positions of the individual electronic components W attached to the wafer sheet H have some variations, it is possible that the electronic components W are not arranged at the pick-up position. Therefore, the position detection means 59 detects the position of the electronic component W based on the captured image of the imaging means 58, and determines whether or not the electronic component W is arranged at the position to be picked up.
Step S3: When the position detecting means 59 determines that the electronic component W is arranged at the position to be picked up, the electronic component W is not moved.

ステップS4:一方、位置検出手段59により当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されていないと判定された場合、制御手段57は当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されるように、X軸駆動手段30及びY軸駆動手段31を制御して、ウエハリング29及びウエハシートHと共に当該電子部品Wを移動させ、当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配されるようにする。 Step S4: On the other hand, if the position detection means 59 determines that the electronic component W is not located at the position to be picked up, the control means 57 moves the electronic component W so that the electronic component W is located at the position to be picked up. By controlling the driving means 30 and the Y-axis driving means 31, the electronic component W is moved together with the wafer ring 29 and the wafer sheet H so that the electronic component W is arranged at the pickup position.

ステップS5:制御手段57は、ピックアップ位置P1(6時位置)に向かっている部品支持部12に紐づけて記憶しているピックアップ位置P1における当該部品支持部12の中心位置を基に、X軸駆動手段25及びY軸駆動手段26を作動させて、標準位置に配されたピックアップユニット13を仮想平面Fに沿って移動させ、当該部品支持部12がピックアップ位置P1に配された際に、当該部品支持部12の中心、被ピックアップ位置に配されている電子部品Wの中心及びピン34の中心が仮想直線(本実施の形態では、J方向に沿った仮想直線)上に配されるようにする。 Step S5: Based on the stored center position of the component support portion 12 at the pickup position P1 that is linked to the component support portion 12 facing the pickup position P1 (6 o'clock position), the control means 57 By operating the drive means 25 and the Y-axis drive means 26, the pickup unit 13 arranged at the standard position is moved along the virtual plane F, and when the component support portion 12 is arranged at the pickup position P1, the The center of the component support portion 12, the center of the electronic component W arranged at the position to be picked up, and the center of the pin 34 are arranged on an imaginary straight line (in this embodiment, an imaginary straight line along the J direction). do.

なお、ピックアップユニット13の仮想平面Fに沿った移動は、部品支持部12がピックアップ位置P1に配された状態で行ってもよい。本実施の形態では、被ピックアップ位置に配されている電子部品Wの中心及びピン34の中心がJ方向に沿った仮想直線上に配されるように設計されていることから、ステップS5で突出機構11は移動させないが、当該電子部品Wの中心及びピン34の中心がJ方向に沿った仮想直線上に配されていない場合、当該電子部品Wの中心及びピン34の中心がJ方向に沿った仮想直線上に配されるように、X軸駆動手段46及びY軸駆動手段47の作動により突出機構11の位置が調整される。 Note that the movement of the pickup unit 13 along the virtual plane F may be performed while the component support portion 12 is arranged at the pickup position P1. In the present embodiment, the center of the electronic component W arranged at the pick-up position and the center of the pin 34 are designed to be arranged on an imaginary straight line along the J direction. Although the mechanism 11 is not moved, if the center of the electronic component W and the center of the pin 34 are not arranged on an imaginary straight line along the J direction, the center of the electronic component W and the center of the pin 34 are aligned along the J direction. The position of the protruding mechanism 11 is adjusted by the operation of the X-axis driving means 46 and the Y-axis driving means 47 so as to be arranged on the virtual straight line.

即ち、制御手段57は、第1の駆動機構49、第2の駆動機構27及び第3の駆動機構35を制御(第1の駆動機構49、第2の駆動機構27及び第3の駆動機構35のいずれか一つ又は複数を作動)して、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12、次に部品支持部12に取得される電子部品W及び突出機構11の位置を調整する。 That is, the control means 57 controls the first driving mechanism 49, the second driving mechanism 27 and the third driving mechanism 35 (the first driving mechanism 49, the second driving mechanism 27 and the third driving mechanism 35 ) to adjust the positions of the component supporter 12 placed at the pick-up position P1, the electronic component W to be acquired by the component supporter 12, and the projecting mechanism 11. FIG.

ここで、ステップS1~S5は、被ピックアップ位置に配された電子部品Wの中心を基準として、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12、被ピックアップ位置に配された(即ち、次に部品支持部12に取得される)電子部品W及び突出機構11を位置調整する手順であるが、当該位置調整の手順を、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12の中心を基準にして行うこともできる。その場合、ステップS2~S5の代わりに、下記のステップS2’~S3’がなされる。 Here, steps S1 to S5 are based on the center of the electronic component W placed at the pick-up position, and the component support portion 12 placed at the pick-up position P1 is placed at the pick-up position (that is, the component is placed next to the pick-up position). The procedure for adjusting the position of the electronic component W and the protruding mechanism 11 (obtained by the support portion 12) is performed with reference to the center of the component support portion 12 arranged at the pick-up position P1. can also In that case, the following steps S2' to S3' are performed instead of steps S2 to S5.

ステップS2’:位置検出手段59は、ステップS1で撮像手段58が電子部品Wを撮像した撮像画像を基に当該電子部品Wの位置を検出し、当該電子部品Wの中心の位置を記憶する。 Step S2': The position detection means 59 detects the position of the electronic component W based on the captured image of the electronic component W captured by the imaging means 58 in step S1, and stores the position of the center of the electronic component W.

ステップS3’:制御手段57は、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12に紐づけて記憶しているピックアップ位置P1における当該部品支持部12の中心位置、及び、位置検出手段59に記憶された、次に部品支持部12に所得される電子部品Wの中心位置を基に、X軸駆動手段30、Y軸駆動手段31、X軸駆動手段46及びY軸駆動手段47を作動させ、ピックアップユニット13が標準位置に配置された状態でピックアップ位置P1に配された部品支持部12の中心に対して、次に部品支持部12に所得される電子部品Wの中心位置及びピン34の中心位置がJ方向に沿った仮想直線上に配されるようにする。 Step S3': The control means 57 stores the center position of the component support portion 12 at the pickup position P1, which is linked to the component support portion 12 arranged at the pickup position P1, and the position detection means 59. Next, based on the center position of the electronic component W obtained by the component support portion 12, the X-axis driving means 30, the Y-axis driving means 31, the X-axis driving means 46 and the Y-axis driving means 47 are operated to pick up. With respect to the center of the component support portion 12 arranged at the pickup position P1 with the unit 13 arranged at the standard position, the center position of the electronic component W and the center position of the pin 34 next to be picked up by the component support portion 12 are are arranged on an imaginary straight line along the J direction.

ステップS6:ピックアップ位置P1に配された部品支持部12、被ピックアップ位置に配された電子部品W及び突出機構11の位置調整が完了した後、制御手段57は、駆動源33を作動させて、ピン34をJ方向に移動させ、被ピックアップ位置に配されていた電子部品Wをピックアップ位置P1に配された部品支持部12に接近させて吸着させ、ピン34のJ方向逆向きの移動により当該部品支持部12に当該電子部品Wを取得させる。部品支持部12の中心、電子部品Wの中心及びピン34の中心が直線的に並んだ状態で部品支持部12による電子部品Wの取得が行われるため、部品支持部12は電子部品Wを安定的に取得することができる。 Step S6: After completing the position adjustment of the component support portion 12 arranged at the pickup position P1, the electronic component W arranged at the position to be picked up, and the projecting mechanism 11, the control means 57 operates the drive source 33 to The pin 34 is moved in the J direction to bring the electronic component W arranged at the pick-up position closer to the component support portion 12 arranged at the pick-up position P1 to attract the electronic component W, and the pin 34 is moved in the opposite direction to the J direction. The electronic component W is acquired by the component support section 12 . Since the electronic component W is acquired by the component supporter 12 in a state in which the center of the component supporter 12, the center of the electronic component W, and the center of the pin 34 are aligned linearly, the component supporter 12 stabilizes the electronic component W. can be acquired

ステップS7:ピックアップ位置P1に配された部品支持部12による電子部品Wの取得が完了した後、ピックアップユニット13が標準位置に配されていない場合、X軸駆動手段25及びY軸駆動手段26の作動によりピックアップユニット13は標準位置に戻され、ウエハシートHが標準位置に配されていない場合、X軸駆動手段30及びY軸駆動手段31の作動によりウエハシートHは標準位置に戻され、突出機構11が標準位置に配されていない場合、X軸駆動手段46及びY軸駆動手段47の作動により突出機構11は標準位置に戻される。 Step S7: After completion of acquisition of the electronic component W by the component support section 12 arranged at the pickup position P1, if the pickup unit 13 is not arranged at the standard position, the X-axis driving means 25 and the Y-axis driving means 26 are By the operation, the pickup unit 13 is returned to the standard position. If the wafer sheet H is not placed in the standard position, the X-axis driving means 30 and the Y-axis driving means 31 are actuated to return the wafer sheet H to the standard position and protrude. When the mechanism 11 is not placed at the standard position, the X-axis driving means 46 and the Y-axis driving means 47 are operated to return the protruding mechanism 11 to the standard position.

ここで、ステップS1は、ピックアップユニット13及びウエハシートHがそれぞれ標準位置に配されている状態で行われる。 Here, step S1 is performed in a state in which the pickup unit 13 and the wafer sheet H are arranged at their standard positions.

<電子部品受渡し処理>
ピックアップ位置P1に配された部品支持部12によりウエハシートHから取得された電子部品Wは、図8に示すステップS11~S16を経てピックアップユニット13から搬送ユニット16に受け渡される。
<Electronic parts delivery process>
The electronic component W picked up from the wafer sheet H by the component supporter 12 arranged at the pickup position P1 is transferred from the pickup unit 13 to the transfer unit 16 through steps S11 to S16 shown in FIG.

ステップS11:ピックアップユニット13が標準位置に配されている状態で、撮像手段28は、図8に示すように、撮像位置で静止している電子部品Wを撮像する。
ステップS12:ずれ導出手段28aは撮像手段28の撮像画像を基に部品支持部12に取得(支持)された状態で撮像された電子部品Wの位置及び向きを検出し、検出した電子部品Wの位置及び向きと記憶している電子部品Wの基準位置及び基準向きとを比較して、当該電子部品Wの基準位置及び基準向きに対するずれを検出し、検出した基準位置及び基準向きに対するずれを当該電子部品Wに紐づけて記憶する。
Step S11: With the pickup unit 13 placed at the standard position, the imaging means 28 images the electronic component W stationary at the imaging position, as shown in FIG.
Step S12: The deviation deriving means 28a detects the position and orientation of the electronic component W imaged while being acquired (supported) by the component support section 12 based on the captured image of the imaging means 28, and detects the position and orientation of the detected electronic component W. By comparing the position and orientation with the stored reference position and reference orientation of the electronic component W, the deviation of the electronic component W from the reference position and reference orientation is detected, and the detected deviation from the reference position and reference orientation is detected. It is stored in association with the electronic component W.

ステップS13:制御手段57は、ずれ導出手段28aが当該電子部品Wに紐づけて記憶した当該電子部品Wの基準位置及び基準向きに対するずれを基に、12時位置に配された電子部品Wの位置及び向きを調整する。具体的には、制御手段57が、X軸駆動手段25及びY軸駆動手段26を作動させ、部品支持部12で電子部品Wを支持したピックアップユニット13を仮想平面Fに沿って移動させて、部品支持部12に支持されて12時位置に配された電子部品Wを位置調整して所定の位置に配すると共に、当該電子部品Wを支持している部品支持部12に対応する駆動回転部56を作動させて当該電子部品Wを仮想回転軸R回りに自転させて、当該電子部品Wの向きを調整して所定の向きに配置する。 Step S13: Based on the deviation of the electronic component W with respect to the reference position and the reference orientation stored in association with the electronic component W by the deviation deriving means 28a, the control means 57 determines the position of the electronic component W arranged at the 12 o'clock position. Adjust position and orientation. Specifically, the control means 57 operates the X-axis drive means 25 and the Y-axis drive means 26 to move the pickup unit 13 supporting the electronic component W by the component support portion 12 along the virtual plane F, The position of the electronic component W supported by the component support portion 12 and arranged at the 12 o'clock position is adjusted and arranged at a predetermined position, and a drive rotation portion corresponding to the component support portion 12 supporting the electronic component W. 56 is operated to rotate the electronic component W around the virtual rotation axis R, and the orientation of the electronic component W is adjusted to arrange it in a predetermined orientation.

12時位置に配された電子部品Wの位置調整後の位置が渡し位置P3である。
このステップS13は、ステップS6の後に行っても良いし、ステップS6の前に行っても良い。ステップS6の後にステップS13を行う場合、駆動回転部56の作動による電子部品Wの向き調整は、電子部品Wが12時位置に配される前に行うことができる。ステップS6の前にステップS13を行う場合、X軸駆動手段25、Y軸駆動手段26及び駆動回転部56の作動による電子部品Wの位置及び向きの調整は、電子部品Wが12時位置に向かっているタイミングで行うことができる。
The position after position adjustment of the electronic component W arranged at the 12 o'clock position is the transfer position P3.
This step S13 may be performed after step S6 or before step S6. When step S13 is performed after step S6, the orientation of the electronic component W can be adjusted by operating the drive rotating portion 56 before the electronic component W is placed at the 12 o'clock position. When step S13 is performed before step S6, the position and orientation of the electronic component W are adjusted by operating the X-axis driving means 25, the Y-axis driving means 26, and the drive rotating portion 56. can be done at any time.

ステップS14:制御手段57は、受け位置P2の上方に設けられたモータ40を作動させ、受け位置P2で静止していた部品保持部14を下降させて、12時位置で静止している部品支持部12に支持された電子部品Wの面W1に接触させる。
ステップS15:部品保持部14が電子部品Wの面W1を吸着し、部品支持部12は電子部品Wの面W2の吸着を解除する。ピックアップユニット13は、部品支持部12が電子部品Wの面W2の吸着を解除した後に、標準位置に戻される。
Step S14: The control means 57 operates the motor 40 provided above the receiving position P2 to lower the component holding section 14 which has been stationary at the receiving position P2, thereby supporting the component which is stationary at the 12 o'clock position. The surface W1 of the electronic component W supported by the portion 12 is brought into contact.
Step S15: The component holding portion 14 sucks the surface W1 of the electronic component W, and the component support portion 12 releases the surface W2 of the electronic component W from being sucked. The pickup unit 13 is returned to the standard position after the component supporter 12 releases the suction of the surface W2 of the electronic component W. As shown in FIG.

ステップS16:制御手段57がモータ40を作動させて部品保持部14を上昇させることによって、部品保持部14は部品支持部12から電子部品Wを取得する。これにより、ピックアップユニット13から搬送ユニット16への電子部品Wの受け渡しが完了する。 Step S<b>16 : The component holding section 14 acquires the electronic component W from the component supporting section 12 by the control means 57 operating the motor 40 to raise the component holding section 14 . This completes the delivery of the electronic component W from the pickup unit 13 to the transport unit 16 .

受け位置P2で部品支持部12から電子部品Wを取得した部品保持部14は、図2に示すように、モータ36の作動(本実施の形態では、モータ36の2回の作動)により、電子部品Wと共に移動して処理位置P7に配される。ここで、ステップS7でのX軸駆動手段25、Y軸駆動手段26及び駆動回転部56の作動による電子部品Wの位置及び向きの調整によって、処理位置P7に配された電子部品Wは、処理ユニット17に対して所定の位置及び向きに配された状態になる。よって、制御手段57は、ずれ導出手段28aが検出したずれを基に第2の駆動機構27及び駆動回転部56を制御して、電子部品Wが処置位置P7で処理ユニット17に対し所定の位置及び向きに配されるようにする。 As shown in FIG. 2, the component holding portion 14 that has acquired the electronic component W from the component support portion 12 at the receiving position P2 receives an electronic It moves together with the part W and is arranged at the processing position P7. Here, by adjusting the position and orientation of the electronic component W by operating the X-axis driving means 25, the Y-axis driving means 26, and the drive rotating portion 56 in step S7, the electronic component W arranged at the processing position P7 can be processed. It is arranged in a predetermined position and orientation with respect to the unit 17 . Therefore, the control means 57 controls the second driving mechanism 27 and the drive rotating part 56 based on the deviation detected by the deviation deriving means 28a so that the electronic component W is positioned at a predetermined position with respect to the processing unit 17 at the treatment position P7. and direction.

その後、処理位置P7に配された電子部品Wに対して処理ユニット17は所定の処理を行う。
モータ36の作動による回転体15の回転は、原則、回転部材23の回転と同じタイミングでなされる。
Thereafter, the processing unit 17 performs predetermined processing on the electronic component W placed at the processing position P7.
The rotation of the rotor 15 by the operation of the motor 36 is, in principle, performed at the same timing as the rotation of the rotating member 23 .

処理位置P8に配された電子部品Wに対する処理ユニット18による処理、処理位置P9に配された電子部品Wに対する処理ユニット19による処理、処理位置P10に配された電子部品Wに対する処理ユニット20による処理及び処理位置P11に配された電子部品Wに対する処理ユニット21による処理は、処理位置P7に配された電子部品Wに対する処理ユニット17による処理と同タイミングで行われる。処理ユニット17、18、19、20、21のいくつかは部品保持部14が電子部品Wを支持した状態で電子部品Wに処理を行い、残りは部品保持部14から電子部品Wを取得した後、電子部品Wに処理を行い、部品保持部14に電子部品Wを戻す。 Processing by the processing unit 18 for the electronic component W placed at the processing position P8, processing by the processing unit 19 for the electronic component W placed at the processing position P9, and processing by the processing unit 20 for the electronic component W placed at the processing position P10. And the processing by the processing unit 21 for the electronic component W arranged at the processing position P11 is performed at the same timing as the processing by the processing unit 17 for the electronic component W arranged at the processing position P7. Some of the processing units 17, 18, 19, 20, and 21 perform processing on the electronic component W while the electronic component W is supported by the component holding unit 14, and the rest after acquiring the electronic component W from the component holding unit 14. , the electronic component W is processed, and the electronic component W is returned to the component holding portion 14 .

次に、図9~図17を参照して、本発明の第2の実施の形態に係る電子部品処理装置70について説明する。なお、電子部品処理装置70において、電子部品処理装置10と同様の構成については同じ符号を付して詳しい説明を省略する。
電子部品処理装置70は、図9、図10、図11に示すように、ウエハシートHの表面に貼付された電子部品WをウエハシートHに垂直なJ方向にウエハシートHの裏面側から突き出す突出機構11、J方向に突き出された電子部品WをウエハシートHに対向するピックアップ位置P1で取得する部品支持部12を有するピックアップユニット13、受け位置P2でピックアップユニット13から電子部品Wを取得する部品保持部14が取り付けられた回転体15の回転により部品保持部14が電子部品Wと共に処理位置P7、P8、P9、P10、P11まで移動する搬送ユニット16、及び、処理位置P7、P8、P9、P10、P11に配された電子部品Wにそれぞれ所定の処理を行う処理ユニット17、18、19、20、21を備えている。
Next, an electronic component processing apparatus 70 according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 9 to 17. FIG. In the electronic component processing apparatus 70, the same components as those of the electronic component processing apparatus 10 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
As shown in FIGS. 9, 10, and 11, the electronic component processing apparatus 70 protrudes the electronic components W attached to the front surface of the wafer sheet H from the back surface side of the wafer sheet H in the direction J perpendicular to the wafer sheet H. A projecting mechanism 11, a pickup unit 13 having a component support portion 12 for acquiring the electronic component W projected in the J direction at a pickup position P1 facing the wafer sheet H, and acquiring the electronic component W from the pickup unit 13 at a receiving position P2. A conveying unit 16 in which the component holder 14 moves together with the electronic component W to the processing positions P7, P8, P9, P10, and P11 by rotation of the rotating body 15 to which the component holder 14 is attached, and the processing positions P7, P8, and P9. , P10 and P11 are provided with processing units 17, 18, 19, 20 and 21 for performing predetermined processing, respectively.

ピックアップユニット13は、回転体15の下方に設けられ、支持体71に支持された回転軸22及びそれぞれ回転部材23に対して進退可能に設けられた4つ(複数)の部品支持部12を有している。本実施の形態では、ウエハシートHが、ピックアップユニット13と略同一の高さ位置に鉛直に配されている。各部品支持部12は、支持体71内に設けられた図12に示すモータ51の作動及び停止の繰り返しによる回転部材23の間欠的な回転に伴って90度移動し、順次、ウエハシートHに対向するピックアップ位置P1(3時位置)に配される。なお、図10、図13では、部品支持部12に力を作用させるコイルばね24等の記載を省略している。 The pickup unit 13 is provided below the rotating body 15 and has a rotating shaft 22 supported by a supporting body 71 and four (plurality) of component supporting portions 12 provided so as to move forward and backward relative to the rotating member 23 . doing. In this embodiment, the wafer sheet H is arranged vertically at substantially the same height position as the pickup unit 13 . Each component support portion 12 moves 90 degrees with intermittent rotation of the rotating member 23 due to repeated operation and stop of the motor 51 shown in FIG. They are arranged at the opposing pickup position P1 (3 o'clock position). 10 and 13 omit the description of the coil spring 24 and the like that apply force to the component support portion 12. As shown in FIG.

支持体71は、図9、図11に示すように、ベース台72上に平行に設けられたガイドレール73、74に移動可能に取り付けられている。支持体71の近傍には、図10、図13に示すように、作動により動力伝達部75を介して支持体71に力を与え、ピックアップユニット13をガイドレール73、74に沿って水平移動させる駆動源76が設置されている。 As shown in FIGS. 9 and 11, the support 71 is movably mounted on guide rails 73 and 74 provided in parallel on a base 72 . In the vicinity of the support 71, as shown in FIGS. 10 and 13, a force is applied to the support 71 through a power transmission section 75 by operation to horizontally move the pickup unit 13 along the guide rails 73 and 74. A drive source 76 is installed.

本実施の形態では、ピックアップユニット13が、ウエハシートHに平行なG方向又はG方向の反対方向に移動する。平面視して(回転体15の回転軸に沿って見て)、G方向は、図13に示すように、回転体15の回転中心と受け位置P2とを通る仮想直線Nに垂直である。ピックアップユニット13をG方向又はG方向の反対方向に移動させる駆動機構βの一例である駆動機構77が、ガイドレール73、74、動力伝達部75及び駆動源76を有して構成されている。 In this embodiment, the pickup unit 13 moves in the G direction parallel to the wafer sheet H or in the direction opposite to the G direction. In plan view (along the rotation axis of the rotor 15), the G direction is perpendicular to the imaginary straight line N passing through the center of rotation of the rotor 15 and the receiving position P2, as shown in FIG. A drive mechanism 77 , which is an example of a drive mechanism β for moving the pickup unit 13 in the G direction or in a direction opposite to the G direction, includes guide rails 73 and 74 , a power transmission section 75 and a drive source 76 .

また、ウエハシートH及びウエハシートHを装着するウエハリング29は、図11に示すように、ウエハリング29を支持する垂直駆動手段78の作動により鉛直方向正側及び負側に移動する。更に、ウエハシートH及びウエハリング29は垂直駆動手段78に取り付けられた水平駆動手段79の作動により垂直駆動手段78と共に水平に移動する。垂直駆動手段78に取り付けられた筒状部材32の内側には、駆動源33の作動により水平に進退するピン34が設けられている。本実施の形態では、ウエハシートHを含む仮想平面Q内でウエハシートHを自在に移動させる駆動機構80(駆動機構γの一例)が垂直駆動手段78及び水平駆動手段79を有して構成されている。 As shown in FIG. 11, the wafer sheet H and the wafer ring 29 on which the wafer sheet H is mounted are moved to the positive and negative sides in the vertical direction by the operation of the vertical drive means 78 that supports the wafer ring 29 . Further, the wafer sheet H and wafer ring 29 are horizontally moved together with the vertical drive means 78 by the operation of the horizontal drive means 79 attached to the vertical drive means 78 . Inside the cylindrical member 32 attached to the vertical driving means 78, a pin 34 is provided which advances and retreats horizontally by the operation of the driving source 33. As shown in FIG. In the present embodiment, a drive mechanism 80 (an example of a drive mechanism γ) for freely moving the wafer sheet H within the virtual plane Q containing the wafer sheet H is configured with vertical drive means 78 and horizontal drive means 79 . ing.

なお、図11では、ウエハシートH、ウエハリング29及び垂直駆動手段78を断面図として記載している。垂直駆動手段78及び水平駆動手段79の作動により、ウエハシートHの表面に貼付されている多数の電子部品Wの内の一つの電子部品Wが、順次、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12に取得される被ピックアップ位置に配される。 11, the wafer sheet H, the wafer ring 29 and the vertical driving means 78 are shown as cross-sectional views. By the operation of the vertical driving means 78 and the horizontal driving means 79, one electronic component W among the many electronic components W attached to the surface of the wafer sheet H is sequentially moved to the component support portion arranged at the pick-up position P1. 12 is placed at the pick-up position.

ウエハシートHの近傍に設けられた筒状部材32の内側には、駆動源33の作動によりウエハシートHに対し垂直な方向(水平方向)に進退(J方向又はJ方向逆向きに移動)するピン34が設けられている。ピン34は、ウエハシートHの裏側に位置し、前進(J方向に移動)することによって、ピックアップ位置に配された電子部品Wを、ウエハシートHの表側に移動させ(J方向に突き出し)、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12に接触させる。 Inside the cylindrical member 32 provided in the vicinity of the wafer sheet H, a driving source 33 is operated to advance and retreat in a direction (horizontal direction) perpendicular to the wafer sheet H (moving in the J direction or in the opposite direction to the J direction). A pin 34 is provided. The pin 34 is positioned on the back side of the wafer sheet H, and moves forward (moves in the J direction) to move the electronic component W arranged at the pickup position to the front side of the wafer sheet H (projects in the J direction), It is brought into contact with the component support portion 12 arranged at the pick-up position P1.

駆動源33には、図11、図13に示すように、筒状部材32、駆動源33及びピン34を有して形成されている突出機構11を、ウエハシートHに平行なG方向又はG方向の反対方向に移動させる水平駆動手段81(駆動機構αの一例)が取り付けられている。 As shown in FIGS. 11 and 13, the drive source 33 has a projecting mechanism 11 formed with a cylindrical member 32, a drive source 33 and a pin 34, which is arranged in the G direction or G direction parallel to the wafer sheet H. A horizontal driving means 81 (an example of a driving mechanism α) for moving in the opposite direction is attached.

また、ピックアップユニット13の近傍には、ピックアップ位置P1で電子部品Wを取得した部品支持部12と共に移動して6時位置に配された電子部品Wの面W1を撮像する撮像手段82が設けられている。以下、「6時位置」を「撮像位置」とも言う。撮像手段82はプリズム83を介して撮像位置に配された電子部品Wの面W1を撮像し電子部品Wの面W1を正面から撮像した画像を得る。撮像手段82は部品支持部12が支持している電子部品Wの面W1を撮像できればよく、例えば、9時位置に配された電子部品Wの面W1を撮像するように撮像手段82を配置してもよい。 In the vicinity of the pickup unit 13, there is provided an imaging means 82 that moves together with the component support section 12 that has picked up the electronic component W at the pickup position P1 and captures an image of the surface W1 of the electronic component W placed at the 6 o'clock position. ing. Hereinafter, the "6 o'clock position" is also referred to as the "imaging position". The imaging means 82 images the surface W1 of the electronic component W placed at the imaging position via the prism 83 to obtain an image of the surface W1 of the electronic component W captured from the front. The imaging means 82 only needs to be able to image the surface W1 of the electronic component W supported by the component support section 12. For example, the imaging means 82 is arranged so as to image the surface W1 of the electronic component W placed at the 9 o'clock position. may

撮像手段82には、図12に示すように、撮像手段82が撮像した画像を取得するずれ導出手段84が接続されている。ずれ導出手段84は、撮像手段82が撮像した画像から電子部品Wの位置及び向きを検出可能である。ずれ導出手段84には、電子部品Wの基準位置及び基準向きが記憶されている。ずれ導出手段84は、撮像手段82が撮像位置に配された電子部品Wを撮像する度に、撮像された電子部品Wについて検出した電子部品Wの位置及び向きと、記憶している電子部品Wの基準位置及び基準向きとを比較して、電子部品Wの基準位置及び基準向きに対するずれを検出し、検出した基準位置及び基準向きに対するずれを該当の電子部品Wに紐づけて記憶する。 As shown in FIG. 12, the imaging means 82 is connected with a deviation derivation means 84 for obtaining an image captured by the imaging means 82 . The deviation deriving means 84 can detect the position and orientation of the electronic component W from the image captured by the imaging means 82 . A reference position and a reference orientation of the electronic component W are stored in the deviation deriving means 84 . Every time the imaging means 82 takes an image of the electronic component W arranged at the imaging position, the deviation derivation means 84 detects the detected position and orientation of the electronic component W with respect to the imaged electronic component W, and the stored electronic component W are compared with the reference position and orientation of the electronic component W to detect the deviation of the electronic component W from the reference position and orientation, and the detected deviation from the reference position and orientation is linked to the corresponding electronic component W and stored.

駆動回転部56は、図14に示すように、部品支持部12がピックアップ位置P1に配された状態でJ方向に配される仮想回転軸R回りに部品支持部12を自転させることができる。
本実施の形態では、図11、図14に示すように、回転部材23(回転軸22)を中心に渡し位置P3が12時位置であり、回転部材23が3回の90°回転動作により270°回転することによって、ピックアップ位置P1に配されていた部品支持部12が渡し位置P3に配される。
As shown in FIG. 14, the driving rotation section 56 can rotate the component support section 12 around the virtual rotation axis R arranged in the J direction in a state where the component support section 12 is arranged at the pick-up position P1.
In this embodiment, as shown in FIGS. 11 and 14, the transfer position P3 is at the 12 o'clock position about the rotating member 23 (rotating shaft 22), and the rotating member 23 rotates 90° three times to rotate 270 degrees. By rotating by degrees, the component support portion 12 arranged at the pick-up position P1 is arranged at the transfer position P3.

また、図10に示すように、平面視して(回転体15の回転軸に沿って見て)回転体15の中心と処理位置P7を通る仮想直線を仮想直線Mとし、仮想直線Mに沿って処理位置P7から回転体15の中心に向けての方向をK方向(即ち、K方向は仮想直線Mに沿う方向である)として、処理ユニット17には、K方向又はK方向の反対方向に移動させる駆動機構87(駆動機構δの一例)が連結されている。 Further, as shown in FIG. 10, a virtual straight line passing through the center of the rotating body 15 and the processing position P7 in plan view (along the rotation axis of the rotating body 15) is defined as a virtual straight line M, and along the virtual straight line M Assuming that the direction from the processing position P7 toward the center of the rotating body 15 is the K direction (that is, the K direction is the direction along the imaginary straight line M), the processing unit 17 has the K direction or the direction opposite to the K direction. A driving mechanism 87 (an example of the driving mechanism δ) for moving is connected.

同様に、平面視して回転体15の中心と処理位置P8を通る水平な仮想直線を仮想直線Mとし、仮想直線Mに沿って処理位置P8から回転体15の中心に向けての方向をK方向とし、平面視して回転体15の中心と処理位置P9を通る水平な仮想直線を仮想直線Mとし、仮想直線Mに沿って処理位置P9から回転体15の中心に向けての方向をK方向とし、平面視して回転体15の中心と処理位置P10を通る水平な仮想直線を仮想直線Mとし、仮想直線Mに沿って処理位置P10から回転体15の中心に向けての方向をK方向とし、平面視して回転体15の中心と処理位置P11を通る水平な仮想直線を仮想直線Mとし、仮想直線Mに沿って処理位置P11から回転体15の中心に向けての方向をK方向として、処理ユニット18、19、20、21にはそれぞれ、K方向又はK方向の反対方向に移動させる駆動機構88、89、90、91(それぞれ駆動機構δの一例)が連結されている。なお、図10では、処理ユニット17及び処理位置P7に対応する仮想直線M以外の仮想直線Mの記載を省略している。 Similarly, a horizontal virtual straight line passing through the center of the rotating body 15 and the processing position P8 in plan view is defined as a virtual straight line M, and the direction along the virtual straight line M from the processing position P8 toward the center of the rotating body 15 is K A horizontal imaginary straight line passing through the center of the rotating body 15 and the processing position P9 in plan view is assumed to be an imaginary straight line M, and the direction along the imaginary straight line M from the processing position P9 toward the center of the rotating body 15 is K. A horizontal imaginary straight line passing through the center of the rotating body 15 and the processing position P10 in plan view is assumed to be an imaginary straight line M, and the direction from the processing position P10 toward the center of the rotating body 15 along the imaginary straight line M is K. A horizontal imaginary straight line passing through the center of the rotating body 15 and the processing position P11 in plan view is assumed to be an imaginary straight line M, and the direction along the imaginary straight line M from the processing position P11 toward the center of the rotating body 15 is K. In terms of direction, the processing units 18, 19, 20, and 21 are connected to drive mechanisms 88, 89, 90, and 91 (each an example of a drive mechanism δ) for moving in the K direction or in the direction opposite to the K direction, respectively. Note that in FIG. 10, description of the virtual straight lines M other than the virtual straight lines M corresponding to the processing unit 17 and the processing position P7 is omitted.

駆動機構87、88、89、90、91は、図12に示すように、駆動源76、垂直駆動手段78、水平駆動手段79、駆動源33、モータ36、40、51、撮像手段58、82、位置検出手段59、ずれ導出手段84及び駆動回転部56と共に制御手段57aに接続されている。
制御手段57aは、駆動源33、76、モータ36、40、51、駆動回転部56、撮像手段58、82、垂直駆動手段78、水平駆動手段79、81、駆動機構87、88、89、90、91を制御すること、並びに、位置検出手段59及びずれ導出手段84から電子データを取得することができる。
12, the drive mechanisms 87, 88, 89, 90 and 91 include a drive source 76, vertical drive means 78, horizontal drive means 79, drive source 33, motors 36, 40 and 51, imaging means 58 and 82. , the position detecting means 59, the displacement deriving means 84 and the drive rotating portion 56 are connected to the control means 57a.
The control means 57a includes drive sources 33 and 76, motors 36, 40 and 51, drive rotation section 56, imaging means 58 and 82, vertical drive means 78, horizontal drive means 79 and 81, drive mechanisms 87, 88, 89 and 90. , 91 and electronic data can be obtained from the position detection means 59 and the displacement derivation means 84 .

本実施の形態では、電子部品処理装置10に行った準備処理と同様の準備処理を行った後、以下に記す処理により、電子部品Wが処理位置P7、P8、P9、P10、P11で処理ユニット17、18、19、20、21に対しそれぞれ所定の位置及び向きに配されるようにする。 In the present embodiment, after performing the same preparatory processing as that performed on the electronic component processing apparatus 10, the electronic components W are processed at the processing positions P7, P8, P9, P10, and P11 by the processing described below. 17, 18, 19, 20 and 21 are arranged in predetermined positions and orientations, respectively.

<電子部品取得処理>
準備処理が完了した後、図15に示すステップS21~ステップS27によって、ピックアップユニット13が、ウエハシートHから電子部品Wをピックアップする。
<Electronic component acquisition processing>
After the preparation process is completed, the pickup unit 13 picks up the electronic components W from the wafer sheet H in steps S21 to S27 shown in FIG.

ステップS21:制御手段57aは、図15に示すように、垂直駆動手段78及び水平駆動手段79を制御し、一の電子部品Wをピックアップ位置P1に配された部品支持部12に対向する被ピックアップ位置に配置すべく、ウエハリング29と共にウエハシートHを予め定められたピッチ分移動させ、当該電子部品Wを撮像手段58により撮像する。なお、ウエハリング29及びウエハシートHが予め定められたピッチ分移動する前に撮像手段58による当該電子部品Wの撮像を行ってもよい。 Step S21: As shown in FIG. 15, the control means 57a controls the vertical driving means 78 and the horizontal driving means 79 to move one electronic component W to the part to be picked up facing the component support portion 12 arranged at the pickup position P1. The wafer sheet H is moved by a predetermined pitch along with the wafer ring 29 so as to arrange the electronic component W at the position, and the electronic component W is imaged by the imaging means 58 . Note that the electronic component W may be imaged by the imaging means 58 before the wafer ring 29 and the wafer sheet H are moved by a predetermined pitch.

ステップS22:位置検出手段59が撮像手段58の撮像画像を基に当該電子部品Wの位置を検出し、当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されているか否かを判定する。
ステップS23:位置検出手段59により当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されていると判定された場合、当該電子部品Wの移動は行われない。
Step S22: The position detection means 59 detects the position of the electronic component W based on the captured image of the imaging means 58, and determines whether or not the electronic component W is arranged at the pickup position.
Step S23: When the position detecting means 59 determines that the electronic component W is arranged at the position to be picked up, the electronic component W is not moved.

ステップS24:一方、位置検出手段59により当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されていないと判定された場合、制御手段57aは当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されるように、垂直駆動手段78及び水平駆動手段79を制御して、ウエハリング29及びウエハシートHと共に当該電子部品Wを移動させ、当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配されるようにする。 Step S24: On the other hand, if the position detecting means 59 determines that the electronic component W is not located at the position to be picked up, the control means 57a vertically drives the electronic component W so that it is located at the position to be picked up. By controlling the means 78 and the horizontal driving means 79, the electronic component W is moved together with the wafer ring 29 and the wafer sheet H so that the electronic component W is arranged at the position to be picked up.

ステップS25:制御手段57aは、ピックアップ位置P1(3時位置)に向かっている部品支持部12に紐づけて記憶しているピックアップ位置P1における当該部品支持部12の中心位置を基に、駆動源76を作動させ、標準位置に配されたピックアップユニット13をG方向又はG方向の反対方向に移動させて、当該部品支持部12がピックアップ位置P1に配された際に、当該部品支持部12の中心、被ピックアップ位置に配されている電子部品Wの中心及びピン34の中心が仮想直線(本実施の形態では、J方向に沿った仮想直線)上に配されるようにする。 Step S25: The control means 57a controls the drive source based on the center position of the component support portion 12 at the pickup position P1, which is linked to and stored with the component support portion 12 facing the pickup position P1 (3 o'clock position). 76 is operated to move the pickup unit 13 arranged at the standard position in the G direction or in the direction opposite to the G direction, and when the component support portion 12 is arranged at the pickup position P1, the component support portion 12 is moved. The center, the center of the electronic component W arranged at the pick-up position, and the center of the pin 34 are arranged on an imaginary straight line (in this embodiment, an imaginary straight line along the J direction).

なお、ピックアップユニット13のG方向又はG方向の反対方向への移動は、部品支持部12がピックアップ位置P1に配された状態で行ってもよい。本実施の形態では、被ピックアップ位置に配されている電子部品Wの中心及びピン34の中心がJ方向に沿った仮想直線上に配されるように設計されていることから、ステップS25で突出機構11は移動させないが、当該電子部品Wの中心及びピン34の中心がJ方向に沿った仮想直線上に配されていない場合、当該電子部品Wの中心及びピン34の中心がJ方向に沿った仮想直線上に配されるように、水平駆動手段81の作動により突出機構11の位置が調整される。 Note that the movement of the pickup unit 13 in the G direction or in the direction opposite to the G direction may be performed while the component support portion 12 is arranged at the pickup position P1. In the present embodiment, the center of the electronic component W arranged at the pick-up position and the center of the pin 34 are designed to be arranged on an imaginary straight line along the J direction. Although the mechanism 11 is not moved, if the center of the electronic component W and the center of the pin 34 are not arranged on an imaginary straight line along the J direction, the center of the electronic component W and the center of the pin 34 are aligned along the J direction. The position of the protruding mechanism 11 is adjusted by the operation of the horizontal driving means 81 so that it is arranged on the imaginary straight line.

即ち、制御手段57aは、駆動機構α、駆動機構β及び駆動機構γを制御(駆動機構α、駆動機構β及び駆動機構γのいずれか一つ又は複数を作動)して、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12、次に部品支持部12に取得される電子部品W及び突出機構11の位置を調整する。 That is, the control means 57a controls the drive mechanism α, the drive mechanism β, and the drive mechanism γ (activates any one or more of the drive mechanism α, the drive mechanism β, and the drive mechanism γ) to place the pickup at the pickup position P1. Then, the positions of the electronic component W and the protruding mechanism 11 to be acquired by the component supporting portion 12 are adjusted.

ここで、ステップS21~S25は、被ピックアップ位置に配された電子部品Wの中心を基準として、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12、被ピックアップ位置に配された(即ち、次に部品支持部12に取得される)電子部品W及び突出機構11を位置調整する手順であるが、当該位置調整の手順を、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12の中心を基準にして行うこともできる。その場合、ステップS22~S25の代わりに、下記のステップS22’~S23’がなされる。 In steps S21 to S25, the center of the electronic component W placed at the pick-up position is used as a reference, and the component support portion 12 placed at the pick-up position P1 is placed at the pick-up position (that is, the component is placed next to the pick-up position). The procedure for adjusting the position of the electronic component W and the protruding mechanism 11 (obtained by the support portion 12) is performed with reference to the center of the component support portion 12 arranged at the pick-up position P1. can also In that case, the following steps S22' to S23' are performed instead of steps S22 to S25.

ステップS22’:位置検出手段59は、ステップS21で撮像手段58が電子部品Wを撮像した撮像画像を基に当該電子部品Wの位置を検出し、当該電子部品Wの中心の位置を記憶する。 Step S22': The position detection means 59 detects the position of the electronic component W based on the captured image of the electronic component W captured by the imaging means 58 in step S21, and stores the position of the center of the electronic component W.

ステップS23’:制御手段57aは、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12に紐づけて記憶しているピックアップ位置P1における当該部品支持部12の中心位置、及び、位置検出手段59に記憶された、次に部品支持部12に所得される電子部品Wの中心位置を基に、水平駆動手段79、81を作動させ、ピックアップユニット13が標準位置に配置された状態でピックアップ位置P1に配された部品支持部12の中心に対して、次に部品支持部12に所得される電子部品Wの中心位置及びピン34の中心位置がJ方向に沿った仮想直線上に配されるようにする。 Step S23′: The control means 57a determines the center position of the component support portion 12 at the pickup position P1 stored in association with the component support portion 12 placed at the pickup position P1, and the position detection means 59 stores the position. Next, based on the center position of the electronic component W obtained by the component support portion 12, the horizontal driving means 79 and 81 are operated, and the pickup unit 13 is arranged at the pickup position P1 in a state of being arranged at the standard position. With respect to the center of the component support portion 12, the center position of the electronic component W and the center position of the pin 34, which are to be obtained in the component support portion 12 next, are arranged on an imaginary straight line along the J direction.

ステップS26:ピックアップ位置P1に配された部品支持部12、被ピックアップ位置に配された電子部品W及び突出機構11の位置調整が完了した後、制御手段57aは、駆動源33を作動させて、ピン34をJ方向に移動させ、被ピックアップ位置に配されていた電子部品Wをピックアップ位置P1に配された部品支持部12に接近させて吸着させ、ピン34のJ方向逆向きの移動により当該部品支持部12に当該電子部品Wを取得させる。 Step S26: After completing the position adjustment of the component support portion 12 arranged at the pickup position P1, the electronic component W arranged at the position to be picked up, and the projecting mechanism 11, the control means 57a operates the drive source 33 to The pin 34 is moved in the J direction to bring the electronic component W arranged at the pick-up position closer to the component support portion 12 arranged at the pick-up position P1 to attract the electronic component W, and the pin 34 is moved in the opposite direction to the J direction. The electronic component W is acquired by the component support section 12 .

ステップS27:ピックアップ位置P1に配された部品支持部12による電子部品Wの取得が完了した後、ピックアップユニット13が標準位置に配されていない場合、駆動源76の作動によりピックアップユニット13は標準位置に戻され、ウエハシートHが標準位置に配されていない場合、水平駆動手段79の作動によりウエハシートHは標準位置に戻され、突出機構11が標準位置に配されていない場合、水平駆動手段81の作動により突出機構11は標準位置に戻される。 Step S27: After completion of picking up the electronic component W by the component support section 12 placed at the pickup position P1, if the pickup unit 13 is not placed at the standard position, the drive source 76 operates to move the pickup unit 13 to the standard position. If the wafer sheet H is not placed at the standard position, the horizontal driving means 79 is operated to return the wafer sheet H to the standard position. Actuation of 81 returns the projection mechanism 11 to the standard position.

ここで、ステップS21は、ピックアップユニット13及びウエハシートHがそれぞれ標準位置に配されている状態で行われる。 Here, step S21 is performed in a state in which the pickup unit 13 and the wafer sheet H are placed at their standard positions.

<電子部品受渡し処理>
ピックアップ位置P1に配された部品支持部12によりウエハシートHから取得された電子部品Wは、図16に示すステップS31~S36を経てピックアップユニット13から搬送ユニット16に受け渡される。
<Electronic parts delivery process>
The electronic component W picked up from the wafer sheet H by the component supporter 12 arranged at the pickup position P1 is transferred from the pickup unit 13 to the transfer unit 16 through steps S31 to S36 shown in FIG.

ステップS31:ピックアップユニット13が標準位置に配されている状態で、撮像手段82は、図16に示すように、撮像位置で静止している電子部品Wを撮像する。
ステップS32:ずれ導出手段84は、撮像手段82の撮像画像を基に部品支持部12に取得(支持)された状態で撮像された電子部品Wの位置及び向きを検出し、検出した電子部品Wの位置及び向きと記憶している電子部品Wの基準位置及び基準向きとを比較して、当該電子部品Wの基準位置及び基準向きに対するずれを検出し、そのずれを当該電子部品Wに紐づけて記憶する。
Step S31: With the pickup unit 13 placed at the standard position, the imaging means 82 images the electronic component W stationary at the imaging position, as shown in FIG.
Step S32: The deviation deriving means 84 detects the position and orientation of the electronic component W imaged while being acquired (supported) by the component support section 12 based on the captured image of the imaging means 82, and detects the detected electronic component W is compared with the stored reference position and reference orientation of the electronic component W to detect the deviation of the electronic component W from the reference position and reference orientation, and the deviation is linked to the electronic component W memorize.

ステップS33:制御手段57aは、ずれ導出手段84が当該電子部品Wに紐づけて記憶した当該電子部品Wの基準位置及び基準向きに対するずれを基に、12時位置に配された電子部品Wの位置及び向きを調整する。具体的には、制御手段57aが、駆動源76を作動させ、部品支持部12で電子部品Wを支持したピックアップユニット13をG方向又はG方向の反対方向に移動させて、部品支持部12に支持されて12時位置に配された電子部品WのG方向の位置を調整して所定の位置に配すると共に、当該電子部品Wを支持している部品支持部12に対応する駆動回転部56を作動させて当該電子部品Wを仮想回転軸R回りに自転させて、当該電子部品Wの向きを調整して所定の向きに配置する。 Step S33: Based on the deviation of the electronic component W from the reference position and the reference orientation stored in association with the electronic component W by the deviation deriving means 84, the control means 57a determines whether the electronic component W placed at the 12 o'clock position is Adjust position and orientation. Specifically, the control means 57a operates the drive source 76 to move the pickup unit 13 supporting the electronic component W by the component support portion 12 in the G direction or in the direction opposite to the G direction. The position of the electronic component W supported and arranged at the 12 o'clock position in the G direction is adjusted to place it at a predetermined position, and a drive rotating portion 56 corresponding to the component support portion 12 supporting the electronic component W. is operated to rotate the electronic component W around the virtual rotation axis R, and the direction of the electronic component W is adjusted to arrange it in a predetermined direction.

12時位置に配された電子部品Wの位置調整後の位置が渡し位置P3である。
このステップS33は、ステップS26の後に行っても良いし、ステップS26の前に行っても良い。ステップS26の後にステップS33を行う場合、駆動回転部56の作動による電子部品Wの向き調整は、電子部品Wが12時位置に配される前に行うことができる。ステップS26の前にステップS33を行う場合、駆動源76及び駆動回転部56の作動による電子部品Wの位置及び向きの調整は、電子部品Wが12時位置に向かっているタイミングで行うことができる。
The position after position adjustment of the electronic component W arranged at the 12 o'clock position is the transfer position P3.
This step S33 may be performed after step S26, or may be performed before step S26. When step S33 is performed after step S26, the direction adjustment of the electronic component W by the operation of the drive rotating portion 56 can be performed before the electronic component W is arranged at the 12 o'clock position. When step S33 is performed before step S26, the position and orientation of the electronic component W can be adjusted by the operation of the drive source 76 and the drive rotating portion 56 at the timing when the electronic component W is moving toward the 12 o'clock position. .

12時位置で位置及び向きが調整された電子部品Wは、電子部品処理装置10による電子部品Wに対する処理と同様の処理がなされてピックアップユニット13の部品支持部12から搬送ユニット16の部品保持部14に受け渡され、搬送ユニット16の部品保持部14に支持された電子部品Wに対して、以下に示す工程により処理ユニット17、18、19、20、21による所定の処理がなされる。 The electronic component W whose position and orientation have been adjusted at the 12 o'clock position is processed in the same manner as the electronic component W by the electronic component processing apparatus 10, and is transferred from the component support portion 12 of the pickup unit 13 to the component holding portion of the transport unit 16. 14 and supported by the component holder 14 of the transport unit 16, the electronic components W are subjected to predetermined processing by the processing units 17, 18, 19, 20, and 21 in the following steps.

<処理ユニットの処理>
受け位置P2で部品支持部12から電子部品Wを取得した部品保持部14は、モータ36の作動により、電子部品Wと共に移動して処理位置P7の1つ上流側の停止領域に配される。その後、図17に示すステップS41~S42により、電子部品W及び処理ユニット17の回転体15の半径方向の位置調整が行われる。モータ36の作動による回転体15の回転及び部品保持部14の移動は、原則として、回転部材23の回転及び部品支持部12の移動と同じタイミングでなされる。
<Processing of the processing unit>
The component holding unit 14 that has acquired the electronic component W from the component supporting unit 12 at the receiving position P2 moves together with the electronic component W by the operation of the motor 36 and is arranged in the stop area one upstream of the processing position P7. After that, in steps S41 and S42 shown in FIG. 17, the positions of the electronic component W and the rotating body 15 of the processing unit 17 are adjusted in the radial direction. The rotation of the rotary member 15 and the movement of the component holder 14 by the operation of the motor 36 are, in principle, performed at the same timing as the rotation of the rotary member 23 and the movement of the component supporter 12 .

ステップS41:制御手段57aは、モータ36を作動させて電子部品W及び部品保持部14を処理位置P7に移動させると共に、ステップS26でずれ導出手段84が当該電子部品Wに紐づけて記憶した基準位置及び基準向きに対するずれを基に、処理ユニット17をK方向又はK方向の反対方向のいずれに移動させるか、及び、その移動距離を決定して、駆動機構87を作動させる。 Step S41: The control means 57a operates the motor 36 to move the electronic component W and the component holding section 14 to the processing position P7, and the deviation derivation means 84 stores the reference associated with the electronic component W in step S26. Based on the position and deviation from the reference orientation, it is determined whether the processing unit 17 should be moved in the K direction or in the direction opposite to the K direction, and the movement distance is determined, and the drive mechanism 87 is operated.

駆動機構87の作動により、処理ユニット17はK方向又はK方向の反対方向に移動し、処理ユニット17が、仮想直線M方向の位置において、処理位置P7に配される電子部品Wに対し予め定められた位置に配されるようにする。従って、駆動機構87は、ピックアップユニット13の移動によりなされた電子部品Wの位置調整の方向に直交するK方向又はK方向の反対方向に移動させて、処理位置P7に配された電子部品Wに対する、処理ユニット17のK方向の位置を調整することとなる。 By the operation of the driving mechanism 87, the processing unit 17 moves in the K direction or in the direction opposite to the K direction, and the processing unit 17 moves the electronic component W disposed at the processing position P7 at the position in the direction of the imaginary straight line M. placed in the designated position. Therefore, the driving mechanism 87 moves in the direction K orthogonal to the direction of the position adjustment of the electronic component W performed by the movement of the pickup unit 13 or in the direction opposite to the direction K, and moves the electronic component W arranged at the processing position P7. , the position of the processing unit 17 in the K direction is adjusted.

その結果、処理位置P7に配された電子部品Wは処理ユニット17に対して所定の位置及び向きに配される。従って、制御手段57aは、ずれ導出手段84が検出したずれを基に駆動機構77、87及び駆動回転部56を制御して、電子部品Wが処理位置P7で処理ユニット17に対し所定の位置及び向きに配されるようにする。
本実施の形態では、処理ユニット17のK方向又はK方向の反対方向の移動を、電子部品Wが処理位置P7に配される前に終えるようにしているが、電子部品Wが処理位置P7に配された後に処理ユニット17のK方向又はK方向の反対方向の移動を終えるようにしてもよい。
As a result, the electronic component W arranged at the processing position P7 is arranged at a predetermined position and orientation with respect to the processing unit 17. FIG. Therefore, the control means 57a controls the driving mechanisms 77 and 87 and the drive rotating part 56 based on the deviation detected by the deviation deriving means 84 so that the electronic component W is positioned at the processing position P7 with respect to the processing unit 17. Make sure it is oriented.
In this embodiment, the movement of the processing unit 17 in the K direction or in the direction opposite to the K direction is completed before the electronic component W is placed at the processing position P7. After being placed, the movement of the processing unit 17 in the K direction or in the direction opposite to the K direction may be completed.

ここで、処理位置P7に配された電子部品Wに対して、処理ユニット17の位置調整が行われているタイミングで、処理位置P8に配されている電子部品Wに対して、処理ユニット18の位置調整が行われ、処理位置P9に配されている電子部品Wに対して、処理ユニット19の位置調整が行われ、処理位置P10に配されている電子部品Wに対して、処理ユニット20の位置調整が行われ、処理位置P11に配されている電子部品Wに対して、処理ユニット21の位置調整が行われる。 Here, at the timing when the position adjustment of the processing unit 17 is being performed with respect to the electronic component W arranged at the processing position P7, the processing unit 18 is moved to the electronic component W arranged at the processing position P8. Positional adjustment of the processing unit 19 is performed with respect to the electronic component W disposed at the processing position P9, and processing unit 20 is positioned with respect to the electronic component W disposed at the processing position P10. Position adjustment is performed, and the position adjustment of the processing unit 21 is performed with respect to the electronic component W arranged at the processing position P11.

更に、本実施の形態では、同タイミングで、ステップS27におけるピックアップユニット13の移動による電子部品WのG方向の位置調整及び電子部品Wの仮想回転軸R回りの向き調整が行われる。従って、処理ユニット17を処理位置P7に配された電子部品Wに対し予め定められた位置及び向きに配するために行われる各処理を効果的に行うことができ、結果として、電子部品処理装置70による単位時間当たりの電子部品Wの処理数を多くすることが可能である。 Further, in the present embodiment, the position adjustment of the electronic component W in the G direction and the orientation adjustment of the electronic component W around the virtual rotation axis R are performed at the same timing by moving the pickup unit 13 in step S27. Therefore, it is possible to effectively carry out each processing for arranging the processing unit 17 in a predetermined position and orientation with respect to the electronic component W arranged at the processing position P7, and as a result, the electronic component processing apparatus It is possible to increase the number of electronic components W processed per unit time by 70 .

また、平面視して、モータ36を中心に配されている処理ユニット17、18、19、20、21の各間には、充分な空き領域がないため、処理ユニット17、18、19、20、21をそれぞれK方向に垂直な方向に移動させることはスペース的に問題となるが、本実施の形態では、処理ユニット17、18、19、20、21がそれぞれK方向のみに移動させるのでこの問題を回避できる。 In addition, since there is no sufficient space between the processing units 17, 18, 19, 20, and 21 arranged around the motor 36 in plan view, the processing units 17, 18, 19, and 20 , 21 in the direction perpendicular to the K direction causes a spatial problem. can avoid the problem.

ステップS42:回転体15の半径方向の移動を終えた処理ユニット17は、処理位置P7に配されて静止している電子部品Wに対して所定の処理を行い、本実施の形態では、略同じタイミングで、処理位置P8、P9、P10、P11に配されている各電子部品Wに対して処理ユニット18、19、20、21によりそれぞれ所定の処理が行われる。 Step S42: The processing unit 17, which has finished moving the rotating body 15 in the radial direction, performs a predetermined processing on the electronic component W placed at the processing position P7 and stationary. Predetermined processes are performed by the processing units 18, 19, 20, and 21 on the electronic components W placed at the processing positions P8, P9, P10, and P11 at the timing.

以上、本発明の実施の形態を説明したが、本発明は、上記した形態に限定されるものでなく、要旨を逸脱しない条件の変更等は全て本発明の適用範囲である。
例えば、ウエハシートは鉛直又は水平に配されている必要はない。
Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and all modifications of conditions that do not deviate from the gist of the present invention are within the scope of the present invention.
For example, the wafer sheets need not be oriented vertically or horizontally.

また、ピックアップユニットが駆動回転部を有する代わりに、図18に示す変形例のように、搬送ユニット100が部品保持部101を自転させる駆動回転機構102を有することによって、電子部品Wの向きを調整するようにしてもよい。駆動回転機構102は、図18に示すように、電子部品Wを取得した部品保持部101が処理位置に配される前に当該部品保持部101を自転させて、部品保持部101に取得された(部品支持部12が支持している)電子部品Wの搬送ユニットに対する向きを調整する。 Further, instead of the pick-up unit having a drive rotation section, the transfer unit 100 has a drive rotation mechanism 102 for rotating the component holding section 101, as in the modification shown in FIG. You may make it As shown in FIG. 18 , the drive rotation mechanism 102 rotates the component holding unit 101 that has acquired the electronic component W before the component holding unit 101 is placed at the processing position, and the electronic component W acquired by the component holding unit 101 is rotated. The orientation of the electronic component W (supported by the component support section 12) with respect to the transport unit is adjusted.

この場合、制御手段は、ずれ導出手段が検出したずれを基に第2の駆動機構及び駆動回転機構102(又は駆動機構β、駆動機構δ及び駆動回転機構102)を制御して、電子部品Wが処理位置で処理ユニットに対し所定の位置及び向きに配されるようにする。駆動回転機構102を採用する場合、ピックアップユニット103に駆動回転部を設ける必要はない。 In this case, the control means controls the second drive mechanism and the drive rotation mechanism 102 (or the drive mechanism β, the drive mechanism δ, and the drive rotation mechanism 102) based on the deviation detected by the deviation derivation means, and the electronic component W is positioned and oriented with respect to the processing unit at the processing position. When the drive rotation mechanism 102 is employed, the pickup unit 103 does not need to be provided with a drive rotation section.

ここで、回転体の回転方向に沿って最も上流側の処理位置が電子部品の向きの正確な調整を要さない処理ユニット(例えば、撮像手段を用いた電子部品の外観検査を行う処理ユニット)に対応し、上流側から2番目の処理位置が電子部品の向きの正確な調整を要する処理ユニット(例えば、電子部品の電気特性検査を行う処理ユニット)に対応する場合、駆動回転機構102による電子部品Wの向き調整は、上流側から2番目の処理位置に配される前(例えば、部品保持部101が最も上流側の処理位置から2番目の処理位置に移動しているタイミング)で行っても良いし、上流側から2番目の処理位置に配された状態で行っても良い。
なお、駆動回転機構102は、例えば、モータを有して構成することができる。図18に示す変形例において電子部品処理装置10、70と同様の構成については同じ符号を付して詳しい説明を省略する。
Here, the most upstream processing position along the rotation direction of the rotor does not require accurate adjustment of the orientation of the electronic component (for example, a processing unit that performs visual inspection of electronic components using imaging means). , and the second processing position from the upstream side corresponds to a processing unit that requires accurate adjustment of the orientation of the electronic component (for example, a processing unit that performs electrical property inspection of the electronic component). The orientation of the component W is adjusted before it is placed at the second processing position from the upstream side (for example, at the timing when the component holding unit 101 moves from the most upstream processing position to the second processing position). Alternatively, it may be performed in a state where it is placed at the second processing position from the upstream side.
In addition, the drive rotation mechanism 102 can be configured to have a motor, for example. In the modification shown in FIG. 18, the same components as those of the electronic component processing apparatuses 10 and 70 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

更に、第1の駆動機構は、突出機構を移動させる方向が異なる2つの駆動手段を有すればよく、突出機構を移動させる方向が直交するX軸駆動手段及びY軸駆動手段を有する必要はない。これは、ピックアップユニットを移動させる第2の駆動機構、ウエハシートを移動させる第3の駆動機構、及び、ウエハシートを移動させる駆動機構γについても同様である。 Furthermore, the first driving mechanism only needs to have two driving means for moving the projecting mechanism in different directions, and does not need to have X-axis driving means and Y-axis driving means for moving the projecting mechanism in orthogonal directions. . The same applies to the second driving mechanism for moving the pickup unit, the third driving mechanism for moving the wafer sheet, and the driving mechanism γ for moving the wafer sheet.

そして、搬送ユニットの回転体は鉛直な回転軸を中心に回転する必要はなく、例えば、搬送ユニットの回転体が水平な回転軸を中心に回転するようにしてもよい。搬送ユニットの回転体が水平な回転軸を中心に回転する場合、同回転体の回転軸に沿って見て同回転体の中心と処理位置を通る仮想直線Mは、処理位置が配される仮想鉛直面上に配されることとなる。 Further, the rotating body of the transport unit does not need to rotate about a vertical rotating shaft, and for example, the rotating body of the transport unit may rotate about a horizontal rotating shaft. When the rotator of the transport unit rotates about a horizontal axis of rotation, an imaginary straight line M passing through the center of the rotator and the processing position when viewed along the axis of rotation of the rotator is the imaginary line M on which the processing position is arranged. It will be arranged on the vertical plane.

更に、ピックアップユニットと搬送ユニットの間にピックアップユニットから電子部品を取得して搬送ユニットに与える中継ユニットを設けてもよい。
そして、部品支持部に取得された電子部品の位置及び向きの検出を、撮像手段が撮像した画像を基に行う必要はなく、例えば、当該検出をレーザセンサの計測値を基に行うようにしてもよい。
Furthermore, a relay unit may be provided between the pickup unit and the transport unit to obtain the electronic component from the pickup unit and provide it to the transport unit.
Further, it is not necessary to detect the position and orientation of the electronic component acquired by the component support portion based on the image captured by the imaging means. good too.

10:電子部品処理装置、11:突出機構、12:部品支持部、13:ピックアップユニット、14:部品保持部、15:回転体、16:搬送ユニット、17、18、19、20、21:処理ユニット、21a:支持体、22:回転軸、23:回転部材、24:コイルばね、25:X軸駆動手段、26:Y軸駆動手段、27:第2の駆動機構、28:撮像手段、28a:ずれ導出手段、29:ウエハリング、30:X軸駆動手段、31:Y軸駆動手段、32:筒状部材、33:駆動源、34:ピン、35:第3の駆動機構、36:モータ、37:コイルばね、38:支持部材、39:板材、40:モータ、41:保持部材、42:可動体、43:コイルばね、44:出力軸、45:ベース台、46:X軸駆動手段、47:Y軸駆動手段、49:第1の駆動機構、51:モータ、56:駆動回転部、57、57a:制御手段、58:撮像手段、59:位置検出手段、70:電子部品処理装置、71:支持体、72:ベース台、73、74:ガイドレール、75:動力伝達部、76:駆動源、77:駆動機構、78:垂直駆動手段、79:水平駆動手段、80:駆動機構、81:水平駆動手段、82:撮像手段、83:プリズム、84:ずれ導出手段、87、88、89、90、91:駆動機構、100:搬送ユニット、101:部品保持部、102:駆動回転機構、103:ピックアップユニット、H:ウエハシート、M、N:仮想直線、P1:ピックアップ位置、P2:受け位置、P3:渡し位置、P7、P8、P9、P10、P11:処理位置、R:仮想回転軸、W:電子部品、W1、W2:面 10: electronic component processing device, 11: protruding mechanism, 12: component support section, 13: pickup unit, 14: component holding section, 15: rotating body, 16: transport unit, 17, 18, 19, 20, 21: processing Unit 21a: Support 22: Rotating shaft 23: Rotating member 24: Coil spring 25: X-axis driving means 26: Y-axis driving means 27: Second driving mechanism 28: Imaging means 28a : deviation leading means, 29: wafer ring, 30: X-axis driving means, 31: Y-axis driving means, 32: cylindrical member, 33: driving source, 34: pin, 35: third driving mechanism, 36: motor , 37: coil spring, 38: support member, 39: plate material, 40: motor, 41: holding member, 42: movable body, 43: coil spring, 44: output shaft, 45: base, 46: X-axis driving means , 47: Y-axis driving means, 49: First driving mechanism, 51: Motor, 56: Driving rotating part, 57, 57a: Control means, 58: Imaging means, 59: Position detecting means, 70: Electronic component processing device , 71: support, 72: base, 73, 74: guide rail, 75: power transmission unit, 76: drive source, 77: drive mechanism, 78: vertical drive means, 79: horizontal drive means, 80: drive mechanism , 81: horizontal driving means, 82: imaging means, 83: prism, 84: deviation deriving means, 87, 88, 89, 90, 91: driving mechanism, 100: conveying unit, 101: component holder, 102: drive rotation Mechanism 103: Pick-up unit H: Wafer sheet M, N: Virtual straight line P1: Pick-up position P2: Receiving position P3: Transfer position P7, P8, P9, P10, P11: Processing position R: Virtual Axis of rotation, W: electronic component, W1, W2: surface

Claims (4)

ウエハシートに貼付された電子部品を該ウエハシートに垂直なJ方向に突き出す突出機構、前記J方向に突き出された前記電子部品を前記ウエハシートに対向するピックアップ位置で取得する部品支持部を有するピックアップユニット、受け位置で該ピックアップユニットから前記電子部品を取得する部品保持部が取り付けられた回転体の回転により該部品保持部が該電子部品と共に処理位置まで移動する搬送ユニット、及び、前記処理位置に配された前記電子部品に所定の処理を行う処理ユニットを備える電子部品処理装置において、
前記突出機構を前記ウエハシートに平行な仮想平面Eに沿って移動させる第1の駆動機構と、
前記部品支持部で前記電子部品を支持した前記ピックアップユニットを前記ウエハシートに平行な仮想平面Fに沿って移動させる第2の駆動機構と、
前記ウエハシートを含む仮想平面Q内で該ウエハシートを移動させる第3の駆動機構と、
前記部品支持部に取得された前記電子部品の基準位置及び基準向きに対するずれを検出するずれ導出手段と、
前記第1の駆動機構、前記第2の駆動機構及び前記第3の駆動機構を制御して、前記ピックアップ位置に配された前記部品支持部、次に前記部品支持部に取得される前記電子部品及び前記突出機構の位置を調整する制御手段とを備え、
前記ピックアップユニットは、一回又は複数回の回転動作によって、前記ピックアップ位置に配されていた前記部品支持部を前記受け位置に配される前記部品保持部に対向する渡し位置に移動させる回転部材を有し、
前記搬送ユニットは、前記部品保持部を自転させて、該部品保持部に取得された前記電子部品の前記搬送ユニットに対する向きを調整する駆動回転機構を有し、
前記制御手段は、前記ずれ導出手段が検出した前記ずれを基に前記第2の駆動機構及び前記駆動回転機構を制御して、前記電子部品が前記処理位置で前記処理ユニットに対し所定の位置及び向きに配されるようにすることを特徴とする電子部品処理装置。
A pickup having a projecting mechanism for projecting an electronic component attached to a wafer sheet in a direction J perpendicular to the wafer sheet, and a component support section for acquiring the electronic component projecting in the J direction at a pickup position facing the wafer sheet. a conveying unit in which the component holder moves to a processing position together with the electronic component by rotation of a rotating body attached with a component holder that acquires the electronic component from the pick-up unit at the receiving position; In an electronic component processing apparatus comprising a processing unit that performs predetermined processing on the arranged electronic components,
a first driving mechanism for moving the protruding mechanism along an imaginary plane E parallel to the wafer sheet;
a second drive mechanism for moving the pickup unit supporting the electronic component by the component support portion along a virtual plane F parallel to the wafer sheet;
a third driving mechanism for moving the wafer sheet within a virtual plane Q containing the wafer sheet;
a deviation deriving means for detecting a deviation from a reference position and a reference orientation of the electronic component acquired by the component support;
By controlling the first drive mechanism, the second drive mechanism, and the third drive mechanism, the component support unit arranged at the pickup position, and then the electronic component acquired by the component support unit and control means for adjusting the position of the projection mechanism,
The pick-up unit includes a rotating member that rotates once or multiple times to move the component support portion arranged at the pick-up position to a transfer position facing the component holding portion arranged at the receiving position. have
The transport unit has a drive rotation mechanism that rotates the component holding unit to adjust the orientation of the electronic component acquired by the component holding unit with respect to the transport unit,
The control means controls the second drive mechanism and the drive rotation mechanism based on the deviation detected by the deviation deriving means, so that the electronic component is positioned at the processing position at a predetermined position relative to the processing unit. An electronic component processing apparatus characterized by being arranged in an orientation.
ウエハシートに貼付された電子部品を該ウエハシートに垂直なJ方向に突き出す突出機構、前記J方向に突き出された前記電子部品を前記ウエハシートに対向するピックアップ位置で取得する部品支持部を有するピックアップユニット、受け位置で該ピックアップユニットから前記電子部品を取得する部品保持部が取り付けられた回転体の回転により該部品保持部が該電子部品と共に処理位置まで移動する搬送ユニット、及び、前記処理位置に配された前記電子部品に所定の処理を行う処理ユニットを備える電子部品処理装置において、
前記部品支持部で前記電子部品を支持した前記ピックアップユニットを前記ウエハシートに平行なG方向又は該G方向の反対方向に移動させる駆動機構βと、
前記ウエハシートを含む仮想平面Q内で該ウエハシートを移動させる駆動機構γと、
前記ピックアップユニットの移動によりなされた前記電子部品の位置調整の方向に直交するK方向又は該K方向の反対方向に前記処理ユニットを移動させて、前記処理位置に配された前記電子部品に対する、該処理ユニットの前記K方向の位置を調整する駆動機構δと、
前記部品支持部に取得された前記電子部品の基準位置及び基準向きに対するずれを検出するずれ導出手段と、
前記駆動機構β及び前記駆動機構γを制御して、前記ピックアップ位置に配された前記部品支持部及び次に前記部品支持部に取得される前記電子部品の位置を調整する制御手段とを備え、
前記搬送ユニットは、前記部品保持部を自転させて、該部品保持部に取得された前記電子部品の前記搬送ユニットに対する向きを調整する駆動回転機構を有し、
前記制御手段は、前記ずれ導出手段が検出した前記ずれを基に前記駆動機構β、前記駆動機構δ及び前記駆動回転機構を制御して、前記電子部品が前記処理位置で前記処理ユニットに対し所定の位置及び向きに配されるようにすることを特徴とする電子部品処理装置。
A pickup having a projecting mechanism for projecting an electronic component attached to a wafer sheet in a direction J perpendicular to the wafer sheet, and a component support section for acquiring the electronic component projecting in the J direction at a pickup position facing the wafer sheet. a conveying unit in which the component holder moves to a processing position together with the electronic component by rotation of a rotating body attached with a component holder that acquires the electronic component from the pick-up unit at the receiving position; In an electronic component processing apparatus comprising a processing unit that performs predetermined processing on the arranged electronic components,
a drive mechanism β for moving the pickup unit supporting the electronic component by the component support portion in a G direction parallel to the wafer sheet or in a direction opposite to the G direction;
a drive mechanism γ for moving the wafer sheet within a virtual plane Q containing the wafer sheet;
By moving the processing unit in a direction K perpendicular to the direction of position adjustment of the electronic component made by moving the pickup unit or in a direction opposite to the direction K, a driving mechanism δ for adjusting the position of the processing unit in the K direction;
a deviation deriving means for detecting a deviation from a reference position and a reference orientation of the electronic component acquired by the component support;
a control means for controlling the drive mechanism β and the drive mechanism γ to adjust the position of the component support section arranged at the pick-up position and the position of the electronic component to be subsequently acquired by the component support section;
The transport unit has a drive rotation mechanism that rotates the component holding unit to adjust the orientation of the electronic component acquired by the component holding unit with respect to the transport unit,
The control means controls the drive mechanism β, the drive mechanism δ, and the drive rotation mechanism based on the deviation detected by the deviation deriving means, so that the electronic component moves to the processing unit at the processing position in a predetermined position. An electronic component processing apparatus characterized in that it is arranged in the position and orientation of
請求項2記載の電子部品処理装置において、前記回転体の回転軸に沿って見て、前記G方向は、前記回転体の回転中心と前記受け位置とを通る仮想直線Nに垂直であり、前記K方向は、前記回転体の回転中心と前記処理位置とを通る仮想直線Mに沿う方向であることを特徴とする電子部品処理装置。 3. The electronic component processing apparatus according to claim 2, wherein when viewed along the rotation axis of said rotor, said direction G is perpendicular to an imaginary straight line N passing through said center of rotation of said rotor and said receiving position, and said An electronic component processing apparatus, wherein the K direction is a direction along an imaginary straight line M passing through the center of rotation of the rotating body and the processing position. 請求項1又は2記載の電子部品処理装置において、前記部品支持部が取得した前記電子部品を撮像する撮像手段を備え、前記ずれ導出手段は、前記撮像手段が撮像した画像を基に前記ずれを検出することを特徴とする電子部品処理装置。 3. The electronic component processing apparatus according to claim 1, further comprising imaging means for capturing an image of said electronic component acquired by said component supporter, wherein said deviation derivation means determines said deviation based on the image captured by said imaging means. An electronic component processing apparatus characterized by detecting.
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