JP7197853B1 - Electronic parts processing equipment - Google Patents
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Abstract
【課題】電子部品の処理ユニットに対する位置及び向きを所定の位置及び向きにする電子部品処理装置を提供する。【解決手段】ウエハシートに貼付された電子部品WをJ方向に突き出す突出機構、J方向に突き出された電子部品Wをピックアップ位置P1で取得する部品支持部12を有するピックアップユニット13、受け位置P2でピックアップユニット13から電子部品Wを取得する部品保持部14が取り付けられた回転体15の回転により部品保持部14が処理位置P7~P11まで移動する搬送ユニット、及び、処理位置P7~P11に配された電子部品Wに所定の処理を行う処理ユニット17~21を備える電子部品処理装置10において、突出機構をウエハシートに平行に移動させる第1の駆動機構と、ピックアップユニット13をウエハシートに平行に移動させる第2の駆動機構27と、ウエハシートをウエハシートに沿って移動させる第3の移動機構を備える。【選択図】図2An electronic component processing apparatus is provided in which the position and orientation of an electronic component with respect to a processing unit are set to predetermined positions and orientations. A projecting mechanism for projecting an electronic component W attached to a wafer sheet in a J direction, a pickup unit 13 having a component supporter 12 for acquiring the electronic component W projected in the J direction at a pickup position P1, and a receiving position P2. A conveying unit in which the component holding unit 14 moves to the processing positions P7 to P11 by rotation of the rotating body 15 to which the component holding unit 14 for acquiring the electronic component W from the pickup unit 13 is rotated, and the processing positions P7 to P11. In an electronic component processing apparatus 10 including processing units 17 to 21 for performing predetermined processing on electronic components W that have been processed, a first driving mechanism for moving a projecting mechanism parallel to the wafer sheet, and a pickup unit 13 for moving parallel to the wafer sheet. and a third moving mechanism for moving the wafer sheet along the wafer sheet. [Selection drawing] Fig. 2
Description
本発明は、電子部品に対し所定の処理を行う電子部品処理装置に関する。 The present invention relates to an electronic component processing apparatus that performs predetermined processing on electronic components.
外観検査ユニット等の処理ユニットにより電子部品に所定の処理を行う電子部品処理装置は、ウエハシートの前面に貼付された電子部品を吸着ノズル(ピックアップノズル)により順次取得するピックアップユニット(ロータリー式ピックアップ機構)と、ピックアップユニットから得た電子部品を処理ユニットが配置された処理位置まで搬送する搬送ユニット(ターンテーブル等からなるユニット)を備えている(特許文献1参照)。 An electronic component processing apparatus that performs predetermined processing on electronic components by a processing unit such as an appearance inspection unit includes a pick-up unit (rotary type pick-up mechanism ) and a transport unit (a unit including a turntable or the like) that transports the electronic component obtained from the pickup unit to a processing position where the processing unit is arranged (see Patent Document 1).
吸着ノズルは、ウエハシートの裏面がピン(突上げピン)に突かれてウエハシートの表側に突き出された電子部品を吸着して取得する。吸着ノズルに吸着された電子部品の吸着ノズルに対する位置は、突き出された吸着前の電子部品の吸着ノズルに対する位置等に影響される。そして、吸着ノズルに吸着された電子部品の吸着ノズルに対する位置は、搬送ユニットに取得された電子部品の搬送ユニットに対する位置に影響を与える。 The suction nozzle picks up and picks up an electronic component protruded to the front side of the wafer sheet as a result of the back surface of the wafer sheet being poked by a pin (push-up pin). The position of the electronic component sucked by the suction nozzle with respect to the suction nozzle is affected by the position of the projected electronic component before suction with respect to the suction nozzle. The position of the electronic component sucked by the suction nozzle with respect to the suction nozzle affects the position of the electronic component acquired by the transfer unit with respect to the transfer unit.
ここで、搬送ユニットにより処理位置に配された電子部品の処理ユニットに対する位置が予め定められた所定の位置となっていない場合、処理ユニットによる処理が適切に行われない等の問題が生じる。そのため、搬送ユニットに取得された電子部品は、処理位置に搬送される前に、アライメントユニットにより位置調整がなされる。アライメントユニットは搬送ユニットから電子部品を取得して位置を調整した後、搬送ユニットに電子部品を戻す。 Here, if the position of the electronic component placed at the processing position by the transport unit with respect to the processing unit is not at a predetermined position, problems such as improper processing by the processing unit occur. Therefore, the position of the electronic component acquired by the transport unit is adjusted by the alignment unit before being transported to the processing position. The alignment unit retrieves the electronic component from the transport unit, adjusts the position of the electronic component, and then returns the electronic component to the transport unit.
しかしながら、アライメントユニットによる電子部品の位置調整は、処理ユニットによる処理よりも長い時間を要し、結果として、電子部品の効率的な処理を妨げる等の問題があった。
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたもので、搬送ユニットから電子部品を取得して電子部品を位置調整するアライメントユニットを用いることなく、処理位置における電子部品の処理ユニットに対する位置及び向きを予め定められた所定の位置及び向きにすることが可能な電子部品処理装置を提供することを目的とする。
However, position adjustment of the electronic component by the alignment unit requires a longer time than processing by the processing unit, and as a result, there are problems such as hindering efficient processing of the electronic component.
The present invention has been made in view of such circumstances, and the position and orientation of the electronic component at the processing position with respect to the processing unit are determined in advance without using an alignment unit that acquires the electronic component from the transport unit and adjusts the position of the electronic component. An object of the present invention is to provide an electronic component processing apparatus that can be positioned and oriented in a predetermined position.
前記目的に沿う第1の発明に係る電子部品処理装置は、ウエハシートに貼付された電子部品を該ウエハシートに垂直なJ方向に突き出す突出機構、前記J方向に突き出された前記電子部品を前記ウエハシートに対向するピックアップ位置で取得する部品支持部を有するピックアップユニット、受け位置で該ピックアップユニットから前記電子部品を取得する部品保持部が取り付けられた回転体の回転により該部品保持部が該電子部品と共に処理位置まで移動する搬送ユニット、及び、前記処理位置に配された前記電子部品に所定の処理を行う処理ユニットを備える電子部品処理装置において、前記突出機構を前記ウエハシートに平行な仮想平面Eに沿って移動させる第1の駆動機構と、前記部品支持部で前記電子部品を支持した前記ピックアップユニットを前記ウエハシートに平行な仮想平面Fに沿って移動させる第2の駆動機構と、前記ウエハシートを含む仮想平面Q内で該ウエハシートを移動させる第3の駆動機構と、前記部品支持部に取得された前記電子部品の基準位置及び基準向きに対するずれを検出するずれ導出手段と、前記第1の駆動機構、前記第2の駆動機構及び前記第3の駆動機構を制御して、前記ピックアップ位置に配された前記部品支持部、次に前記部品支持部に取得される前記電子部品及び前記突出機構の位置を調整する制御手段とを備え、前記ピックアップユニットは、一回又は複数回の回転動作によって、前記ピックアップ位置に配されていた前記部品支持部を前記受け位置に配される前記部品保持部に対向する渡し位置に移動させる回転部材を有し、前記搬送ユニットは、前記部品保持部を自転させて、該部品保持部に取得された前記電子部品の前記搬送ユニットに対する向きを調整する駆動回転機構を有し、前記制御手段は、前記ずれ導出手段が検出した前記ずれを基に前記第2の駆動機構及び前記駆動回転機構を制御して、前記電子部品が前記処理位置で前記処理ユニットに対し所定の位置及び向きに配されるようにする。 According to a first aspect of the present invention, there is provided an electronic component processing apparatus according to a first aspect of the present invention that meets the above object. A pick-up unit having a component support section that picks up the electronic component at a pick-up position facing the wafer sheet; In an electronic component processing apparatus comprising a transfer unit that moves together with a component to a processing position, and a processing unit that performs a predetermined process on the electronic component arranged at the processing position, the projecting mechanism is arranged on a virtual plane parallel to the wafer sheet. A first drive mechanism for moving along E, a second drive mechanism for moving the pickup unit supporting the electronic component by the component support portion along the imaginary plane F parallel to the wafer sheet, a third driving mechanism for moving the wafer sheet within a virtual plane Q containing the wafer sheet; a deviation deriving means for detecting a deviation from a reference position and a reference orientation of the electronic component acquired by the component support; By controlling the first drive mechanism, the second drive mechanism, and the third drive mechanism, the component support unit arranged at the pickup position, and then the electronic component acquired by the component support unit, and and control means for adjusting the position of the projecting mechanism, and the pickup unit rotates the component support portion from the pick-up position to the receiving position by one or more rotations. It has a rotating member for moving to a transfer position facing the component holding section, and the transport unit rotates the component holding section to adjust the orientation of the electronic component acquired by the component holding section with respect to the transport unit. The control means controls the second drive mechanism and the drive rotation mechanism based on the deviation detected by the deviation derivation means, so that the electronic component is at the processing position. It is arranged in a predetermined position and orientation with respect to the processing unit.
前記目的に沿う第2の発明に係る電子部品処理装置は、ウエハシートに貼付された電子部品を該ウエハシートに垂直なJ方向に突き出す突出機構、前記J方向に突き出された前記電子部品を前記ウエハシートに対向するピックアップ位置で取得する部品支持部を有するピックアップユニット、受け位置で該ピックアップユニットから前記電子部品を取得する部品保持部が取り付けられた回転体の回転により該部品保持部が該電子部品と共に処理位置まで移動する搬送ユニット、及び、前記処理位置に配された前記電子部品に所定の処理を行う処理ユニットを備える電子部品処理装置において、前記部品支持部で前記電子部品を支持した前記ピックアップユニットを前記ウエハシートに平行なG方向又は該G方向の反対方向に移動させる駆動機構βと、前記ウエハシートを含む仮想平面Q内で該ウエハシートを移動させる駆動機構γと、前記ピックアップユニットの移動によりなされた前記電子部品の位置調整の方向に直交するK方向又は該K方向の反対方向に前記処理ユニットを移動させて、前記処理位置に配された前記電子部品に対する、該処理ユニットの前記K方向の位置を調整する駆動機構δと、前記部品支持部に取得された前記電子部品の基準位置及び基準向きに対するずれを検出するずれ導出手段と、前記駆動機構β及び前記駆動機構γを制御して、前記ピックアップ位置に配された前記部品支持部及び次に前記部品支持部に取得される前記電子部品の位置を調整する制御手段とを備え、前記搬送ユニットは、前記部品保持部を自転させて、該部品保持部に取得された前記電子部品の前記搬送ユニットに対する向きを調整する駆動回転機構を有し、前記制御手段は、前記ずれ導出手段が検出した前記ずれを基に前記駆動機構β、前記駆動機構δ及び前記駆動回転機構を制御して、前記電子部品が前記処理位置で前記処理ユニットに対し所定の位置及び向きに配されるようにする。 According to a second aspect of the present invention, there is provided an electronic component processing apparatus according to a second aspect of the present invention that meets the above object. A pick-up unit having a component support section that picks up the electronic component at a pick-up position facing the wafer sheet; An electronic component processing apparatus comprising: a transport unit that moves to a processing position together with a component; and a processing unit that performs a predetermined process on the electronic component placed at the processing position, wherein the electronic component is supported by the component support portion. A driving mechanism β for moving a pickup unit in a G direction parallel to the wafer sheet or in a direction opposite to the G direction, a driving mechanism γ for moving the wafer sheet within a virtual plane Q including the wafer sheet, and the pickup unit. moving the processing unit in the direction K perpendicular to the direction of the position adjustment of the electronic component made by the movement of , or in the direction opposite to the direction K, and moving the processing unit to the electronic component placed at the processing position A drive mechanism δ for adjusting the position in the K direction, a deviation deriving means for detecting a deviation from the reference position and the reference orientation of the electronic component acquired by the component support portion, and the drive mechanism β and the drive mechanism γ. a control means for controlling and adjusting the positions of the component support section arranged at the pick-up position and the position of the electronic component to be subsequently acquired by the component support section, wherein the transport unit moves the component support section; a drive rotation mechanism that rotates to adjust the orientation of the electronic component acquired by the component holding unit with respect to the transport unit; The mechanism β, the drive mechanism δ and the drive rotation mechanism are controlled such that the electronic component is positioned and oriented with respect to the processing unit at the processing position.
第1、第2の発明に係る電子部品処理装置によれば、電子部品を部品支持部や部品保持部で取得(支持)した状態で電子部品の位置及び向きを調整でき、搬送ユニットから電子部品を取得して電子部品を位置調整するアライメントユニットを用いることなく、処理位置における電子部品の処理ユニットに対する位置及び向きを予め定められた所定の位置及び向きにすることが可能である。 According to the electronic component processing apparatus according to the first and second inventions, the position and orientation of the electronic component can be adjusted in a state where the electronic component is acquired (supported) by the component support section or the component holding section, and the electronic component can be transported from the conveying unit. It is possible to set the position and orientation of the electronic component at the processing position to a predetermined position and orientation with respect to the processing unit without using an alignment unit that obtains and aligns the electronic component.
続いて、添付した図面を参照しつつ、本発明を具体化した実施の形態につき説明し、本発明の理解に供する。 Next, specific embodiments of the present invention will be described with reference to the attached drawings for better understanding of the present invention.
図1、図2、図3に示すように、本発明の第1の実施の形態に係る電子部品処理装置10は、ウエハシートHの表面(前面)に貼付された電子部品WをウエハシートHに垂直なJ方向にウエハシートHの裏面(後面)側から突き出す突出機構11、J方向に突き出された電子部品WをウエハシートHに対向するピックアップ位置P1で取得する部品支持部12を有するピックアップユニット13、受け位置P2でピックアップユニット13から電子部品Wを取得する部品保持部14が取り付けられた回転体15の回転により部品保持部14が電子部品Wと共に処理位置P7、P8、P9、P10、P11まで移動する搬送ユニット16、及び、処理位置P7、P8、P9、P10、P11に配された電子部品Wにそれぞれ所定の処理を行う処理ユニット17、18、19、20、21を備えている。以下、詳細に説明する。
As shown in FIGS. 1, 2 and 3, the electronic
ピックアップユニット13は、図1、図2、図3に示すように、回転体15の下方に設けられ、支持体21aに回転自在に支持された回転軸22と共に回転する円盤状の回転部材23及びそれぞれ回転部材23に対して半径方向に進退可能に設けられた複数の部品支持部12を有している。部品支持部12は複数あって、それぞれ筒状である。各部品支持部12は、軸心が部品支持部12の進退方向に一致するように放射状に設けられ、回転軸22を中心とする仮想円の外縁に沿って等間隔に配されている。なお、部品支持部12は筒状のものに限定されないのは言うまでもなく、例えば、直方体状や立方体状であってもよい。
As shown in FIGS. 1, 2, and 3, the
本実施の形態では、4つの部品支持部12が回転部材23を中心に90°の間隔でそれぞれ3時位置、6時位置(180°位置)、9時位置、12時位置(0°位置)に設けられている。各部品支持部12の近傍には、図3に示すように、回転部材23の中心に向かって移動した部品支持部12に対し移動方向とは反対の方向に力を作用させるコイルばね24が取り付けられている。なお、図2、図5(A)では、部品支持部12のコイルばね24等の記載を省略している。
In this embodiment, the four
本実施の形態において、各部品支持部12は、真空圧(負圧)によって電子部品Wを吸着し、大気開放又は正圧によって電子部品Wの吸着状態を解除する吸着ノズルである。各部品支持部12は、支持体21a内に設けられた図4に示すモータ51の作動及び停止の繰り返しによる回転部材23の間欠的な回転に伴って、間欠的に円弧状の経路を90°移動し、順次、多数(複数)の電子部品Wが表面に貼り付けられたウエハシートHに対向するピックアップ位置P1(6時位置、180°位置)に配される。
In the present embodiment, each
本実施の形態では、ピックアップユニット13の直下のピックアップユニット13から距離を有する位置にウエハシートHが水平配置されている。電子部品Wは、例えば、ダイオード、トランジスタ、コンデンサ、インダクタ、IC(Integrated Circuit)である。図3、図6に示すように、電子部品Wは、平行な2つの面W1、W2を有し、面W1がウエハシートHの表面に密着した状態でウエハシートHに貼付されている。
In the present embodiment, the wafer sheet H is horizontally arranged at a position that is a distance from the
ピックアップユニット13及び支持体21aは、図3、図5(A)に示すように、支持体21aに取り付けられたX軸駆動手段25の作動によりウエハシートHに平行(本実施の形態では、水平)な面内のX軸方向に移動し、X軸駆動手段25に取り付けられたY軸駆動手段26の作動によりX軸駆動手段25と共に、X軸駆動手段25の作動によってピックアップユニット13及び支持体21aが移動する方向に直交する方向(ウエハシートHに平行な面内のY軸方向)に移動(本実施の形態では、水平移動)する。従って、ウエハシートHに平行でピックアップユニット13を通る仮想平面を仮想平面Fとして、本実施の形態では、ピックアップユニット13を仮想平面Fに沿って(仮想平面F内で)自在に移動させる第2の駆動機構27が、X軸駆動手段25及びY軸駆動手段26を有して構成されている。
As shown in FIGS. 3 and 5A, the
また、ウエハシートH及びウエハシートHが装着されたウエハリング29は、図3に示すように、ウエハリング29を支持するX軸駆動手段30の作動によりウエハシートHを含む仮想平面Q内で(本実施の形態では、水平に)X軸方向に移動する。更に、ウエハシートH及びウエハリング29はX軸駆動手段30に取り付けられたY軸駆動手段31の作動によりX軸駆動手段30と共に、X軸駆動手段30の作動によってウエハシートH及びウエハリング29が移動する方向に直交するY軸方向に仮想平面Q内で移動(本実施の形態では、水平移動)する。本実施の形態では、ウエハシートHを仮想平面Q内で自在に移動させる第3の駆動機構35が、X軸駆動手段30及びY軸駆動手段31を有して構成されている。
3, the wafer sheet H and the
ウエハシートHの直下に設けられた筒状部材32の内側には、駆動源33の作動によりウエハシートHに対し垂直な方向に進退(本実施の形態では鉛直方向又は鉛直方向逆向きに移動)するピン34が設けられている。駆動源33には、図3、図5(B)に示すように、筒状部材32、駆動源33及びピン34をウエハシートHに平行(本実施の形態では、水平)な面内のX軸方向に移動させるX軸駆動手段46が取り付けられている。X軸駆動手段46には、筒状部材32、駆動源33及びピン34を、X軸駆動手段46の作動により筒状部材32、駆動源33及びピン34が移動する方向に直交するY軸方向(ウエハシートHに平行)に移動(本実施の形態では、水平移動)させるY軸駆動手段47が取り付けられている。
Inside the
本実施の形態では、筒状部材32、駆動源33及びピン34を有して突出機構11が形成されている。また、ウエハシートH及び仮想平面Fに平行で突出機構11を通る仮想平面を仮想平面Eとして、突出機構11を仮想平面Eに沿って(仮想平面E内で)移動させる第1の駆動機構49がX軸駆動手段46及びY軸駆動手段47を有して形成されている。
なお、図3では、ウエハシートH、ウエハリング29及びX軸駆動手段30が断面図として記載され、図2、図5(A)、(B)では、ウエハシートHに貼付されている電子部品W、ウエハリング29及びX軸駆動手段30等の記載を省略している。
In the present embodiment, the
3, the wafer sheet H, the
X軸駆動手段30及びY軸駆動手段31の作動により、ウエハシートHの表面に貼付されている多数の電子部品Wの内の一つの電子部品Wが、順次、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12に取得される位置(以下、「被ピックアップ位置」と言う)に配される。ピン34は、ウエハシートHの裏側(本実施の形態では、下側)に位置し、表側に向けてJ方向に移動(本実施の形態では、上昇)することによって、被ピックアップ位置に配された電子部品Wを、ウエハシートHの表側に移動させ、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12に接触させる。
By the operation of the X-axis driving means 30 and the Y-axis driving means 31, one electronic component W out of many electronic components W attached to the surface of the wafer sheet H is sequentially picked up at the pick-up position P1. It is arranged at a position to be acquired by the support portion 12 (hereinafter referred to as a “picked-up position”). The
ピックアップ位置P1に配された部品支持部12は、部品支持部12に接触した電子部品Wの面W2を吸着し、ピン34のJ方向逆向き(本実施の形態では、鉛直方向)の移動により電子部品WがウエハシートHから離れることにより電子部品WをウエハシートHから取得する。
The
また、ピックアップユニット13の近傍には、ピックアップ位置P1で電子部品Wを取得した部品支持部12と共に移動して9時位置に配された電子部品Wの面W1を撮像する撮像手段28が設けられている。以下、電子部品Wが撮像手段28により撮像される位置を「撮像位置」とも言う。図示しない支持部材に支持された撮像手段28は撮像位置に配された電子部品Wの面W1を撮像し電子部品Wの面W1を正面から撮像した画像を得る。撮像手段28は部品支持部12が支持している電子部品Wの面W1を撮像できればよく、例えば、電子部品Wが7時30分位置に一次停止する場合は、7時30分位置に配された電子部品Wの面W1を撮像するように撮像手段28を配置してもよい。
In the vicinity of the
撮像手段28には、図4に示すように、撮像手段28が撮像した画像を取得するずれ導出手段28aが接続されている。ずれ導出手段28aは、撮像手段28が撮像した画像から電子部品Wの位置及び向きを検出可能である。ずれ導出手段28aには、処理位置P7、P8、P9、P10、P11に配された電子部品Wがそれぞれ処理ユニット17、18、19、20、21に対して予め定められた位置及び向きに配されるための撮像位置における電子部品Wの位置及び向き(以下、「電子部品Wの基準位置及び基準向き」)が記憶されている。
As shown in FIG. 4, the imaging means 28 is connected with a deviation derivation means 28a for obtaining an image captured by the imaging means 28. As shown in FIG. The deviation deriving means 28a can detect the position and orientation of the electronic component W from the image captured by the image capturing means 28 . Electronic components W arranged at processing positions P7, P8, P9, P10, and P11 are arranged in predetermined positions and orientations with respect to processing
ずれ導出手段28aは、撮像手段28が撮像位置に配された電子部品Wを撮像する度に、撮像手段28が撮像した画像から部品支持部12に取得(支持)された状態で撮像された電子部品Wの位置及び向きを検出し、検出した電子部品Wの位置及び向きと、記憶している電子部品Wの基準位置及び基準向きとを比較して、当該電子部品Wの基準位置及び基準向きに対するずれ(当該電子部品Wの基準位置に対する位置のずれ及び当該電子部品Wの基準向きに対する向きのずれ)を検出し、そのずれを該当の電子部品Wに紐づけて記憶する。
Each time the imaging means 28 captures an image of the electronic component W placed at the imaging position, the deviation deriving means 28a calculates the electronic components captured by the imaging means 28 while being acquired (supported) by the
ピックアップユニット13は、図6に示すように、回転部材23の中心と部品支持部12の間に駆動回転部56を有している。駆動回転部56は、部品支持部12の軸心を通る仮想回転軸R回りに部品支持部12を自転させることができる。部品支持部12の軸心は、部品支持部12がピックアップ位置P1に配された際にJ方向に配されることから、駆動回転部56は、部品支持部12がピックアップ位置P1に配された状態でJ方向に配される仮想回転軸R回りに部品支持部12を自転させることとなる。
The
また、搬送ユニット16は、図1、図2に示すように、ベース台45に固定されたモータ36と、複数の部品保持部14が外周に沿って等ピッチで取り付けられ、モータ36の作動によって回転する回転体15を有している。モータ36は、回転体15を間欠的に回転駆動させて、複数の部品保持部14を間欠的に移動させる。回転体15の一回の回転動作により、各部品保持部14は部品保持部14の配置ピッチ分移動する。
As shown in FIGS. 1 and 2, the
各部品保持部14は、鉛直方向に長く、回転体15を貫通した状態で回転体15に昇降可能に取り付けられている。各部品保持部14は下端部で電子部品Wを吸着する吸着ノズルであり、真空圧(負圧)によって電子部品Wを吸着し、大気開放又は正圧によって電子部品Wの吸着状態を解除する。各部品保持部14には、回転体15より上側の領域に、下降した部品保持部14に上向きの力を作用させるコイルばね37が装着されている。
Each
回転体15の上方には、モータ36及び回転体15を貫通する支持部材38に固定された円盤状の板材39が設けられている。水平配置された板材39の外周には、それぞれモータ40が固定された複数の保持部材41が取り付けられ、各保持部材41には鉛直に配された棒状の可動体42が昇降自在に装着されている。各モータ40の下方には、下降した可動体42に対し上向きの力を与えるコイルばね43が設けられている。モータ40は、図4に示すように、X軸駆動手段25、30、46、Y軸駆動手段26、31、47、撮像手段28、ずれ導出手段28a、駆動源33、モータ36、51及び駆動回転部56と共に制御手段57に接続されている。
A disc-shaped
本実施の形態では、モータ40に、モータ40の駆動によって昇降する出力軸44が連結されており、可動体42は下降する出力軸44によって押し下げられる。回転体15及び複数の部品保持部14は、モータ36が駆動するごとに、部品保持部14の配置ピッチに相当する角度回転する。各可動体42は、部品保持部14が一時停止する位置の上方に配され、対応するモータ40の作動により下降し、一時停止している部品保持部14を押し下げる。なお、図1においては、部品保持部14、モータ40、保持部材41、可動体42及び出力軸44等がそれぞれ2つずつ記載されているが、本実施の形態では、これらがそれぞれ3つ以上設けられている。
In this embodiment, the
部品保持部14が一時停止する複数の位置の1つは、図2、図3に示すように、ピックアップユニット13の上方の受け位置P2である。ピックアップ位置P1でウエハシートHから電子部品Wを取得した部品支持部12は、モータ51の作動及び停止の繰り返しにより、電子部品Wと共に間欠的に移動して、受け位置P2の直下の渡し位置P3に停止した状態となる。
One of the plurality of positions where the
本実施の形態では、回転部材23(回転軸)を中心に渡し位置P3が12時位置(0°位置)であり、回転部材23が2回(複数回の一例)の90°の回転動作により回転軸22回りに180°回転することによって、ピックアップ位置P1に配されていた部品支持部12を受け位置P3に配された部品保持部14に対向する渡し位置P3に移動させると共に、渡し位置P3に配されていた部品支持部12をピックアップ位置P1に移動させる。部品支持部12が2つの場合、回転部材23が一回の回転動作により180°回転することにより、ピックアップ位置P1に配されていた部品支持部12を渡し位置P3に移動させ、渡し位置P3に配されていた部品支持部12をピックアップ位置P1に移動させるようにすることができる。
In the present embodiment, the transfer position P3 is at the 12 o'clock position (0° position) about the rotating member 23 (rotating shaft), and the rotating
受け位置P2に配された部品保持部14は、モータ40の作動により可動体42と共に下降して、渡し位置P3に配されている部品支持部12に吸着された電子部品Wの面W1に接触し電子部品Wの面W1を吸着する。受け位置P2で電子部品Wを吸着した部品保持部14は、電子部品Wの吸着を解除した部品支持部12から電子部品Wを取得し、モータ40の作動により可動体42と共に上昇する。
The
搬送ユニット16の近傍には、図2に示すように、部品保持部14に吸着された電子部品Wに対し、それぞれ所定の処理(外観検査、電気特性検査、レーザーマーキング等)を行う処理ユニット17、18、19、20、21が設けられている。
部品保持部14に吸着された電子部品W及び部品保持部14は、モータ36の作動及び停止の繰り返しにより間欠的に移動して、処理ユニット17による処理が行われる処理位置P7、処理ユニット18による処理が行われる処理位置P8、処理ユニット19による処理が行われる処理位置P9、処理ユニット20による処理が行われる処理位置P10、処理ユニット21による処理が行われる処理位置P11に順次停止する。
As shown in FIG. 2, a
The electronic component W attracted to the
また、制御手段57には、図4に示すように、ウエハシートHに貼付された状態で被ピックアップ位置又はその近傍に配された電子部品W及びその周囲の電子部品WをウエハシートHの表面側から撮像する撮像手段58と、撮像手段58の撮像画像を基に被ピックアップ位置又はその近傍に配された電子部品Wの位置を検出する位置検出手段59も接続されている。 4, the control means 57 controls the electronic components W attached to the wafer sheet H and arranged at or near the position to be picked up and the electronic components W around them on the surface of the wafer sheet H. An imaging means 58 for imaging from the side and a position detection means 59 for detecting the position of the electronic component W arranged at or near the pick-up position based on the image captured by the imaging means 58 are also connected.
制御手段57は、例えば、CPU及びメモリ等によって構成でき、X軸駆動手段25、30、47、Y軸駆動手段26、31、46、駆動源33、モータ36、40、51、撮像手段28、58及び駆動回転部56を制御すること、並びに、ずれ導出手段28a及び位置検出手段59から電子データを取得することができる。
The control means 57 can be composed of, for example, a CPU and a memory, and includes X-axis driving means 25, 30, 47, Y-axis driving means 26, 31, 46, driving
ここで、処理ユニット17は、処理位置P7に配された電子部品Wが処理ユニット17に対して予め定められた所定の位置及び向きに配されていることを前提として、電子部品Wに対して処理を行うように設計されている。そのため、処理位置P7に配された電子部品Wが処理ユニット17に対して所定の位置及び向きに配されていなければ、処理ユニット17は電子部品Wに対して適切に処理が行えない等の問題が生じる。この点、処理位置P8に配された電子部品Wと処理ユニット18、処理位置P9に配された電子部品Wと処理ユニット19、処理位置P10に配された電子部品Wと処理ユニット20、及び、処理位置P11に配された電子部品Wと処理ユニット21についても同様である。
Here, on the premise that the electronic component W arranged at the processing position P7 is arranged in a predetermined position and orientation with respect to the
そこで、本実施の形態では、以下に説明する工程により、電子部品Wが処理位置P7、P8、P9、P10、P11で処理ユニット17、18、19、20、21に対しそれぞれ所定の位置及び向きに配されるようにする。
Therefore, in the present embodiment, the electronic component W is placed at the processing positions P7, P8, P9, P10, and P11 at predetermined positions and orientations with respect to the
<準備処理>
ピックアップユニット13が予め定められた標準位置に配され、全ての部品支持部12が電子部品Wを吸着していない状態で、モータ51の間欠的な作動により、部品支持部12を順次、撮像位置に配置し、撮像手段28が撮像位置に配された部品支持部12を撮像する。制御手段57は、撮像手段28の撮像画像を基に、各部品支持部12について、部品支持部12がピックアップ位置P1に配された際の部品支持部12の中心の位置を導出し記憶する。
<Preparation processing>
In a state in which the
このような処理を行うのは、部品支持部12の製造誤差等により、個々の部品支持部12において部品支持部12の中心位置が異なることを確認したためである。但し、個々の部品支持部12の中心位置の差異は極僅かであることから、電子部品処理装置10に求められる要求によっては、この準備処理は省略される。
なお、準備処理におけるモータ51や撮像手段28等の制御は、制御手段57によりなされることについての記載は省略している。この点、以下の説明でも同様にすることがある。
This processing is performed because it was confirmed that the center positions of the
It should be noted that the control of the
<電子部品取得処理>
準備処理が完了した後、図7に示すステップS1~ステップS6によって、ピックアップユニット13が、ウエハシートHから電子部品Wをピックアップする。
<Electronic component acquisition processing>
After the preparation process is completed, the
ステップS1:制御手段57は、図7に示すように、X軸駆動手段30及びY軸駆動手段31を制御し、一の電子部品Wをピックアップ位置P1に配された部品支持部12に対向する被ピックアップ位置に配置すべく、ウエハリング29と共にウエハシートHを予め定められたピッチ分移動させ、当該電子部品Wを撮像手段58により撮像する。なお、ウエハリング29及びウエハシートHが予め定められたピッチ分移動する前に撮像手段58による当該電子部品Wの撮像を行ってもよい。
Step S1: As shown in FIG. 7, the control means 57 controls the X-axis driving means 30 and the Y-axis driving means 31 so that one electronic component W faces the
ステップS2:ウエハシートHに貼付されている個々の電子部品Wの位置は、多少のばらつきがあることから、電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されていないことがあり得る。そこで、位置検出手段59は撮像手段58の撮像画像を基に当該電子部品Wの位置を検出し、当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されているか否かを判定する。
ステップS3:位置検出手段59により当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されていると判定された場合、当該電子部品Wの移動は行われない。
Step S2: Since the positions of the individual electronic components W attached to the wafer sheet H have some variations, it is possible that the electronic components W are not arranged at the pick-up position. Therefore, the position detection means 59 detects the position of the electronic component W based on the captured image of the imaging means 58, and determines whether or not the electronic component W is arranged at the position to be picked up.
Step S3: When the position detecting means 59 determines that the electronic component W is arranged at the position to be picked up, the electronic component W is not moved.
ステップS4:一方、位置検出手段59により当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されていないと判定された場合、制御手段57は当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されるように、X軸駆動手段30及びY軸駆動手段31を制御して、ウエハリング29及びウエハシートHと共に当該電子部品Wを移動させ、当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配されるようにする。
Step S4: On the other hand, if the position detection means 59 determines that the electronic component W is not located at the position to be picked up, the control means 57 moves the electronic component W so that the electronic component W is located at the position to be picked up. By controlling the driving means 30 and the Y-axis driving means 31, the electronic component W is moved together with the
ステップS5:制御手段57は、ピックアップ位置P1(6時位置)に向かっている部品支持部12に紐づけて記憶しているピックアップ位置P1における当該部品支持部12の中心位置を基に、X軸駆動手段25及びY軸駆動手段26を作動させて、標準位置に配されたピックアップユニット13を仮想平面Fに沿って移動させ、当該部品支持部12がピックアップ位置P1に配された際に、当該部品支持部12の中心、被ピックアップ位置に配されている電子部品Wの中心及びピン34の中心が仮想直線(本実施の形態では、J方向に沿った仮想直線)上に配されるようにする。
Step S5: Based on the stored center position of the
なお、ピックアップユニット13の仮想平面Fに沿った移動は、部品支持部12がピックアップ位置P1に配された状態で行ってもよい。本実施の形態では、被ピックアップ位置に配されている電子部品Wの中心及びピン34の中心がJ方向に沿った仮想直線上に配されるように設計されていることから、ステップS5で突出機構11は移動させないが、当該電子部品Wの中心及びピン34の中心がJ方向に沿った仮想直線上に配されていない場合、当該電子部品Wの中心及びピン34の中心がJ方向に沿った仮想直線上に配されるように、X軸駆動手段46及びY軸駆動手段47の作動により突出機構11の位置が調整される。
Note that the movement of the
即ち、制御手段57は、第1の駆動機構49、第2の駆動機構27及び第3の駆動機構35を制御(第1の駆動機構49、第2の駆動機構27及び第3の駆動機構35のいずれか一つ又は複数を作動)して、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12、次に部品支持部12に取得される電子部品W及び突出機構11の位置を調整する。
That is, the control means 57 controls the
ここで、ステップS1~S5は、被ピックアップ位置に配された電子部品Wの中心を基準として、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12、被ピックアップ位置に配された(即ち、次に部品支持部12に取得される)電子部品W及び突出機構11を位置調整する手順であるが、当該位置調整の手順を、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12の中心を基準にして行うこともできる。その場合、ステップS2~S5の代わりに、下記のステップS2’~S3’がなされる。
Here, steps S1 to S5 are based on the center of the electronic component W placed at the pick-up position, and the
ステップS2’:位置検出手段59は、ステップS1で撮像手段58が電子部品Wを撮像した撮像画像を基に当該電子部品Wの位置を検出し、当該電子部品Wの中心の位置を記憶する。 Step S2': The position detection means 59 detects the position of the electronic component W based on the captured image of the electronic component W captured by the imaging means 58 in step S1, and stores the position of the center of the electronic component W.
ステップS3’:制御手段57は、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12に紐づけて記憶しているピックアップ位置P1における当該部品支持部12の中心位置、及び、位置検出手段59に記憶された、次に部品支持部12に所得される電子部品Wの中心位置を基に、X軸駆動手段30、Y軸駆動手段31、X軸駆動手段46及びY軸駆動手段47を作動させ、ピックアップユニット13が標準位置に配置された状態でピックアップ位置P1に配された部品支持部12の中心に対して、次に部品支持部12に所得される電子部品Wの中心位置及びピン34の中心位置がJ方向に沿った仮想直線上に配されるようにする。
Step S3': The control means 57 stores the center position of the
ステップS6:ピックアップ位置P1に配された部品支持部12、被ピックアップ位置に配された電子部品W及び突出機構11の位置調整が完了した後、制御手段57は、駆動源33を作動させて、ピン34をJ方向に移動させ、被ピックアップ位置に配されていた電子部品Wをピックアップ位置P1に配された部品支持部12に接近させて吸着させ、ピン34のJ方向逆向きの移動により当該部品支持部12に当該電子部品Wを取得させる。部品支持部12の中心、電子部品Wの中心及びピン34の中心が直線的に並んだ状態で部品支持部12による電子部品Wの取得が行われるため、部品支持部12は電子部品Wを安定的に取得することができる。
Step S6: After completing the position adjustment of the
ステップS7:ピックアップ位置P1に配された部品支持部12による電子部品Wの取得が完了した後、ピックアップユニット13が標準位置に配されていない場合、X軸駆動手段25及びY軸駆動手段26の作動によりピックアップユニット13は標準位置に戻され、ウエハシートHが標準位置に配されていない場合、X軸駆動手段30及びY軸駆動手段31の作動によりウエハシートHは標準位置に戻され、突出機構11が標準位置に配されていない場合、X軸駆動手段46及びY軸駆動手段47の作動により突出機構11は標準位置に戻される。
Step S7: After completion of acquisition of the electronic component W by the
ここで、ステップS1は、ピックアップユニット13及びウエハシートHがそれぞれ標準位置に配されている状態で行われる。
Here, step S1 is performed in a state in which the
<電子部品受渡し処理>
ピックアップ位置P1に配された部品支持部12によりウエハシートHから取得された電子部品Wは、図8に示すステップS11~S16を経てピックアップユニット13から搬送ユニット16に受け渡される。
<Electronic parts delivery process>
The electronic component W picked up from the wafer sheet H by the
ステップS11:ピックアップユニット13が標準位置に配されている状態で、撮像手段28は、図8に示すように、撮像位置で静止している電子部品Wを撮像する。
ステップS12:ずれ導出手段28aは撮像手段28の撮像画像を基に部品支持部12に取得(支持)された状態で撮像された電子部品Wの位置及び向きを検出し、検出した電子部品Wの位置及び向きと記憶している電子部品Wの基準位置及び基準向きとを比較して、当該電子部品Wの基準位置及び基準向きに対するずれを検出し、検出した基準位置及び基準向きに対するずれを当該電子部品Wに紐づけて記憶する。
Step S11: With the
Step S12: The deviation deriving means 28a detects the position and orientation of the electronic component W imaged while being acquired (supported) by the
ステップS13:制御手段57は、ずれ導出手段28aが当該電子部品Wに紐づけて記憶した当該電子部品Wの基準位置及び基準向きに対するずれを基に、12時位置に配された電子部品Wの位置及び向きを調整する。具体的には、制御手段57が、X軸駆動手段25及びY軸駆動手段26を作動させ、部品支持部12で電子部品Wを支持したピックアップユニット13を仮想平面Fに沿って移動させて、部品支持部12に支持されて12時位置に配された電子部品Wを位置調整して所定の位置に配すると共に、当該電子部品Wを支持している部品支持部12に対応する駆動回転部56を作動させて当該電子部品Wを仮想回転軸R回りに自転させて、当該電子部品Wの向きを調整して所定の向きに配置する。
Step S13: Based on the deviation of the electronic component W with respect to the reference position and the reference orientation stored in association with the electronic component W by the deviation deriving means 28a, the control means 57 determines the position of the electronic component W arranged at the 12 o'clock position. Adjust position and orientation. Specifically, the control means 57 operates the X-axis drive means 25 and the Y-axis drive means 26 to move the
12時位置に配された電子部品Wの位置調整後の位置が渡し位置P3である。
このステップS13は、ステップS6の後に行っても良いし、ステップS6の前に行っても良い。ステップS6の後にステップS13を行う場合、駆動回転部56の作動による電子部品Wの向き調整は、電子部品Wが12時位置に配される前に行うことができる。ステップS6の前にステップS13を行う場合、X軸駆動手段25、Y軸駆動手段26及び駆動回転部56の作動による電子部品Wの位置及び向きの調整は、電子部品Wが12時位置に向かっているタイミングで行うことができる。
The position after position adjustment of the electronic component W arranged at the 12 o'clock position is the transfer position P3.
This step S13 may be performed after step S6 or before step S6. When step S13 is performed after step S6, the orientation of the electronic component W can be adjusted by operating the
ステップS14:制御手段57は、受け位置P2の上方に設けられたモータ40を作動させ、受け位置P2で静止していた部品保持部14を下降させて、12時位置で静止している部品支持部12に支持された電子部品Wの面W1に接触させる。
ステップS15:部品保持部14が電子部品Wの面W1を吸着し、部品支持部12は電子部品Wの面W2の吸着を解除する。ピックアップユニット13は、部品支持部12が電子部品Wの面W2の吸着を解除した後に、標準位置に戻される。
Step S14: The control means 57 operates the
Step S15: The
ステップS16:制御手段57がモータ40を作動させて部品保持部14を上昇させることによって、部品保持部14は部品支持部12から電子部品Wを取得する。これにより、ピックアップユニット13から搬送ユニット16への電子部品Wの受け渡しが完了する。
Step S<b>16 : The
受け位置P2で部品支持部12から電子部品Wを取得した部品保持部14は、図2に示すように、モータ36の作動(本実施の形態では、モータ36の2回の作動)により、電子部品Wと共に移動して処理位置P7に配される。ここで、ステップS7でのX軸駆動手段25、Y軸駆動手段26及び駆動回転部56の作動による電子部品Wの位置及び向きの調整によって、処理位置P7に配された電子部品Wは、処理ユニット17に対して所定の位置及び向きに配された状態になる。よって、制御手段57は、ずれ導出手段28aが検出したずれを基に第2の駆動機構27及び駆動回転部56を制御して、電子部品Wが処置位置P7で処理ユニット17に対し所定の位置及び向きに配されるようにする。
As shown in FIG. 2, the
その後、処理位置P7に配された電子部品Wに対して処理ユニット17は所定の処理を行う。
モータ36の作動による回転体15の回転は、原則、回転部材23の回転と同じタイミングでなされる。
Thereafter, the
The rotation of the
処理位置P8に配された電子部品Wに対する処理ユニット18による処理、処理位置P9に配された電子部品Wに対する処理ユニット19による処理、処理位置P10に配された電子部品Wに対する処理ユニット20による処理及び処理位置P11に配された電子部品Wに対する処理ユニット21による処理は、処理位置P7に配された電子部品Wに対する処理ユニット17による処理と同タイミングで行われる。処理ユニット17、18、19、20、21のいくつかは部品保持部14が電子部品Wを支持した状態で電子部品Wに処理を行い、残りは部品保持部14から電子部品Wを取得した後、電子部品Wに処理を行い、部品保持部14に電子部品Wを戻す。
Processing by the
次に、図9~図17を参照して、本発明の第2の実施の形態に係る電子部品処理装置70について説明する。なお、電子部品処理装置70において、電子部品処理装置10と同様の構成については同じ符号を付して詳しい説明を省略する。
電子部品処理装置70は、図9、図10、図11に示すように、ウエハシートHの表面に貼付された電子部品WをウエハシートHに垂直なJ方向にウエハシートHの裏面側から突き出す突出機構11、J方向に突き出された電子部品WをウエハシートHに対向するピックアップ位置P1で取得する部品支持部12を有するピックアップユニット13、受け位置P2でピックアップユニット13から電子部品Wを取得する部品保持部14が取り付けられた回転体15の回転により部品保持部14が電子部品Wと共に処理位置P7、P8、P9、P10、P11まで移動する搬送ユニット16、及び、処理位置P7、P8、P9、P10、P11に配された電子部品Wにそれぞれ所定の処理を行う処理ユニット17、18、19、20、21を備えている。
Next, an electronic
As shown in FIGS. 9, 10, and 11, the electronic
ピックアップユニット13は、回転体15の下方に設けられ、支持体71に支持された回転軸22及びそれぞれ回転部材23に対して進退可能に設けられた4つ(複数)の部品支持部12を有している。本実施の形態では、ウエハシートHが、ピックアップユニット13と略同一の高さ位置に鉛直に配されている。各部品支持部12は、支持体71内に設けられた図12に示すモータ51の作動及び停止の繰り返しによる回転部材23の間欠的な回転に伴って90度移動し、順次、ウエハシートHに対向するピックアップ位置P1(3時位置)に配される。なお、図10、図13では、部品支持部12に力を作用させるコイルばね24等の記載を省略している。
The
支持体71は、図9、図11に示すように、ベース台72上に平行に設けられたガイドレール73、74に移動可能に取り付けられている。支持体71の近傍には、図10、図13に示すように、作動により動力伝達部75を介して支持体71に力を与え、ピックアップユニット13をガイドレール73、74に沿って水平移動させる駆動源76が設置されている。
As shown in FIGS. 9 and 11, the
本実施の形態では、ピックアップユニット13が、ウエハシートHに平行なG方向又はG方向の反対方向に移動する。平面視して(回転体15の回転軸に沿って見て)、G方向は、図13に示すように、回転体15の回転中心と受け位置P2とを通る仮想直線Nに垂直である。ピックアップユニット13をG方向又はG方向の反対方向に移動させる駆動機構βの一例である駆動機構77が、ガイドレール73、74、動力伝達部75及び駆動源76を有して構成されている。
In this embodiment, the
また、ウエハシートH及びウエハシートHを装着するウエハリング29は、図11に示すように、ウエハリング29を支持する垂直駆動手段78の作動により鉛直方向正側及び負側に移動する。更に、ウエハシートH及びウエハリング29は垂直駆動手段78に取り付けられた水平駆動手段79の作動により垂直駆動手段78と共に水平に移動する。垂直駆動手段78に取り付けられた筒状部材32の内側には、駆動源33の作動により水平に進退するピン34が設けられている。本実施の形態では、ウエハシートHを含む仮想平面Q内でウエハシートHを自在に移動させる駆動機構80(駆動機構γの一例)が垂直駆動手段78及び水平駆動手段79を有して構成されている。
As shown in FIG. 11, the wafer sheet H and the
なお、図11では、ウエハシートH、ウエハリング29及び垂直駆動手段78を断面図として記載している。垂直駆動手段78及び水平駆動手段79の作動により、ウエハシートHの表面に貼付されている多数の電子部品Wの内の一つの電子部品Wが、順次、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12に取得される被ピックアップ位置に配される。
11, the wafer sheet H, the
ウエハシートHの近傍に設けられた筒状部材32の内側には、駆動源33の作動によりウエハシートHに対し垂直な方向(水平方向)に進退(J方向又はJ方向逆向きに移動)するピン34が設けられている。ピン34は、ウエハシートHの裏側に位置し、前進(J方向に移動)することによって、ピックアップ位置に配された電子部品Wを、ウエハシートHの表側に移動させ(J方向に突き出し)、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12に接触させる。
Inside the
駆動源33には、図11、図13に示すように、筒状部材32、駆動源33及びピン34を有して形成されている突出機構11を、ウエハシートHに平行なG方向又はG方向の反対方向に移動させる水平駆動手段81(駆動機構αの一例)が取り付けられている。
As shown in FIGS. 11 and 13, the
また、ピックアップユニット13の近傍には、ピックアップ位置P1で電子部品Wを取得した部品支持部12と共に移動して6時位置に配された電子部品Wの面W1を撮像する撮像手段82が設けられている。以下、「6時位置」を「撮像位置」とも言う。撮像手段82はプリズム83を介して撮像位置に配された電子部品Wの面W1を撮像し電子部品Wの面W1を正面から撮像した画像を得る。撮像手段82は部品支持部12が支持している電子部品Wの面W1を撮像できればよく、例えば、9時位置に配された電子部品Wの面W1を撮像するように撮像手段82を配置してもよい。
In the vicinity of the
撮像手段82には、図12に示すように、撮像手段82が撮像した画像を取得するずれ導出手段84が接続されている。ずれ導出手段84は、撮像手段82が撮像した画像から電子部品Wの位置及び向きを検出可能である。ずれ導出手段84には、電子部品Wの基準位置及び基準向きが記憶されている。ずれ導出手段84は、撮像手段82が撮像位置に配された電子部品Wを撮像する度に、撮像された電子部品Wについて検出した電子部品Wの位置及び向きと、記憶している電子部品Wの基準位置及び基準向きとを比較して、電子部品Wの基準位置及び基準向きに対するずれを検出し、検出した基準位置及び基準向きに対するずれを該当の電子部品Wに紐づけて記憶する。 As shown in FIG. 12, the imaging means 82 is connected with a deviation derivation means 84 for obtaining an image captured by the imaging means 82 . The deviation deriving means 84 can detect the position and orientation of the electronic component W from the image captured by the imaging means 82 . A reference position and a reference orientation of the electronic component W are stored in the deviation deriving means 84 . Every time the imaging means 82 takes an image of the electronic component W arranged at the imaging position, the deviation derivation means 84 detects the detected position and orientation of the electronic component W with respect to the imaged electronic component W, and the stored electronic component W are compared with the reference position and orientation of the electronic component W to detect the deviation of the electronic component W from the reference position and orientation, and the detected deviation from the reference position and orientation is linked to the corresponding electronic component W and stored.
駆動回転部56は、図14に示すように、部品支持部12がピックアップ位置P1に配された状態でJ方向に配される仮想回転軸R回りに部品支持部12を自転させることができる。
本実施の形態では、図11、図14に示すように、回転部材23(回転軸22)を中心に渡し位置P3が12時位置であり、回転部材23が3回の90°回転動作により270°回転することによって、ピックアップ位置P1に配されていた部品支持部12が渡し位置P3に配される。
As shown in FIG. 14, the driving
In this embodiment, as shown in FIGS. 11 and 14, the transfer position P3 is at the 12 o'clock position about the rotating member 23 (rotating shaft 22), and the rotating
また、図10に示すように、平面視して(回転体15の回転軸に沿って見て)回転体15の中心と処理位置P7を通る仮想直線を仮想直線Mとし、仮想直線Mに沿って処理位置P7から回転体15の中心に向けての方向をK方向(即ち、K方向は仮想直線Mに沿う方向である)として、処理ユニット17には、K方向又はK方向の反対方向に移動させる駆動機構87(駆動機構δの一例)が連結されている。
Further, as shown in FIG. 10, a virtual straight line passing through the center of the
同様に、平面視して回転体15の中心と処理位置P8を通る水平な仮想直線を仮想直線Mとし、仮想直線Mに沿って処理位置P8から回転体15の中心に向けての方向をK方向とし、平面視して回転体15の中心と処理位置P9を通る水平な仮想直線を仮想直線Mとし、仮想直線Mに沿って処理位置P9から回転体15の中心に向けての方向をK方向とし、平面視して回転体15の中心と処理位置P10を通る水平な仮想直線を仮想直線Mとし、仮想直線Mに沿って処理位置P10から回転体15の中心に向けての方向をK方向とし、平面視して回転体15の中心と処理位置P11を通る水平な仮想直線を仮想直線Mとし、仮想直線Mに沿って処理位置P11から回転体15の中心に向けての方向をK方向として、処理ユニット18、19、20、21にはそれぞれ、K方向又はK方向の反対方向に移動させる駆動機構88、89、90、91(それぞれ駆動機構δの一例)が連結されている。なお、図10では、処理ユニット17及び処理位置P7に対応する仮想直線M以外の仮想直線Mの記載を省略している。
Similarly, a horizontal virtual straight line passing through the center of the
駆動機構87、88、89、90、91は、図12に示すように、駆動源76、垂直駆動手段78、水平駆動手段79、駆動源33、モータ36、40、51、撮像手段58、82、位置検出手段59、ずれ導出手段84及び駆動回転部56と共に制御手段57aに接続されている。
制御手段57aは、駆動源33、76、モータ36、40、51、駆動回転部56、撮像手段58、82、垂直駆動手段78、水平駆動手段79、81、駆動機構87、88、89、90、91を制御すること、並びに、位置検出手段59及びずれ導出手段84から電子データを取得することができる。
12, the
The control means 57a includes
本実施の形態では、電子部品処理装置10に行った準備処理と同様の準備処理を行った後、以下に記す処理により、電子部品Wが処理位置P7、P8、P9、P10、P11で処理ユニット17、18、19、20、21に対しそれぞれ所定の位置及び向きに配されるようにする。
In the present embodiment, after performing the same preparatory processing as that performed on the electronic
<電子部品取得処理>
準備処理が完了した後、図15に示すステップS21~ステップS27によって、ピックアップユニット13が、ウエハシートHから電子部品Wをピックアップする。
<Electronic component acquisition processing>
After the preparation process is completed, the
ステップS21:制御手段57aは、図15に示すように、垂直駆動手段78及び水平駆動手段79を制御し、一の電子部品Wをピックアップ位置P1に配された部品支持部12に対向する被ピックアップ位置に配置すべく、ウエハリング29と共にウエハシートHを予め定められたピッチ分移動させ、当該電子部品Wを撮像手段58により撮像する。なお、ウエハリング29及びウエハシートHが予め定められたピッチ分移動する前に撮像手段58による当該電子部品Wの撮像を行ってもよい。
Step S21: As shown in FIG. 15, the control means 57a controls the vertical driving means 78 and the horizontal driving means 79 to move one electronic component W to the part to be picked up facing the
ステップS22:位置検出手段59が撮像手段58の撮像画像を基に当該電子部品Wの位置を検出し、当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されているか否かを判定する。
ステップS23:位置検出手段59により当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されていると判定された場合、当該電子部品Wの移動は行われない。
Step S22: The position detection means 59 detects the position of the electronic component W based on the captured image of the imaging means 58, and determines whether or not the electronic component W is arranged at the pickup position.
Step S23: When the position detecting means 59 determines that the electronic component W is arranged at the position to be picked up, the electronic component W is not moved.
ステップS24:一方、位置検出手段59により当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されていないと判定された場合、制御手段57aは当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配置されるように、垂直駆動手段78及び水平駆動手段79を制御して、ウエハリング29及びウエハシートHと共に当該電子部品Wを移動させ、当該電子部品Wが被ピックアップ位置に配されるようにする。
Step S24: On the other hand, if the position detecting means 59 determines that the electronic component W is not located at the position to be picked up, the control means 57a vertically drives the electronic component W so that it is located at the position to be picked up. By controlling the
ステップS25:制御手段57aは、ピックアップ位置P1(3時位置)に向かっている部品支持部12に紐づけて記憶しているピックアップ位置P1における当該部品支持部12の中心位置を基に、駆動源76を作動させ、標準位置に配されたピックアップユニット13をG方向又はG方向の反対方向に移動させて、当該部品支持部12がピックアップ位置P1に配された際に、当該部品支持部12の中心、被ピックアップ位置に配されている電子部品Wの中心及びピン34の中心が仮想直線(本実施の形態では、J方向に沿った仮想直線)上に配されるようにする。
Step S25: The control means 57a controls the drive source based on the center position of the
なお、ピックアップユニット13のG方向又はG方向の反対方向への移動は、部品支持部12がピックアップ位置P1に配された状態で行ってもよい。本実施の形態では、被ピックアップ位置に配されている電子部品Wの中心及びピン34の中心がJ方向に沿った仮想直線上に配されるように設計されていることから、ステップS25で突出機構11は移動させないが、当該電子部品Wの中心及びピン34の中心がJ方向に沿った仮想直線上に配されていない場合、当該電子部品Wの中心及びピン34の中心がJ方向に沿った仮想直線上に配されるように、水平駆動手段81の作動により突出機構11の位置が調整される。
Note that the movement of the
即ち、制御手段57aは、駆動機構α、駆動機構β及び駆動機構γを制御(駆動機構α、駆動機構β及び駆動機構γのいずれか一つ又は複数を作動)して、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12、次に部品支持部12に取得される電子部品W及び突出機構11の位置を調整する。
That is, the control means 57a controls the drive mechanism α, the drive mechanism β, and the drive mechanism γ (activates any one or more of the drive mechanism α, the drive mechanism β, and the drive mechanism γ) to place the pickup at the pickup position P1. Then, the positions of the electronic component W and the protruding
ここで、ステップS21~S25は、被ピックアップ位置に配された電子部品Wの中心を基準として、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12、被ピックアップ位置に配された(即ち、次に部品支持部12に取得される)電子部品W及び突出機構11を位置調整する手順であるが、当該位置調整の手順を、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12の中心を基準にして行うこともできる。その場合、ステップS22~S25の代わりに、下記のステップS22’~S23’がなされる。
In steps S21 to S25, the center of the electronic component W placed at the pick-up position is used as a reference, and the
ステップS22’:位置検出手段59は、ステップS21で撮像手段58が電子部品Wを撮像した撮像画像を基に当該電子部品Wの位置を検出し、当該電子部品Wの中心の位置を記憶する。 Step S22': The position detection means 59 detects the position of the electronic component W based on the captured image of the electronic component W captured by the imaging means 58 in step S21, and stores the position of the center of the electronic component W.
ステップS23’:制御手段57aは、ピックアップ位置P1に配された部品支持部12に紐づけて記憶しているピックアップ位置P1における当該部品支持部12の中心位置、及び、位置検出手段59に記憶された、次に部品支持部12に所得される電子部品Wの中心位置を基に、水平駆動手段79、81を作動させ、ピックアップユニット13が標準位置に配置された状態でピックアップ位置P1に配された部品支持部12の中心に対して、次に部品支持部12に所得される電子部品Wの中心位置及びピン34の中心位置がJ方向に沿った仮想直線上に配されるようにする。
Step S23′: The control means 57a determines the center position of the
ステップS26:ピックアップ位置P1に配された部品支持部12、被ピックアップ位置に配された電子部品W及び突出機構11の位置調整が完了した後、制御手段57aは、駆動源33を作動させて、ピン34をJ方向に移動させ、被ピックアップ位置に配されていた電子部品Wをピックアップ位置P1に配された部品支持部12に接近させて吸着させ、ピン34のJ方向逆向きの移動により当該部品支持部12に当該電子部品Wを取得させる。
Step S26: After completing the position adjustment of the
ステップS27:ピックアップ位置P1に配された部品支持部12による電子部品Wの取得が完了した後、ピックアップユニット13が標準位置に配されていない場合、駆動源76の作動によりピックアップユニット13は標準位置に戻され、ウエハシートHが標準位置に配されていない場合、水平駆動手段79の作動によりウエハシートHは標準位置に戻され、突出機構11が標準位置に配されていない場合、水平駆動手段81の作動により突出機構11は標準位置に戻される。
Step S27: After completion of picking up the electronic component W by the
ここで、ステップS21は、ピックアップユニット13及びウエハシートHがそれぞれ標準位置に配されている状態で行われる。
Here, step S21 is performed in a state in which the
<電子部品受渡し処理>
ピックアップ位置P1に配された部品支持部12によりウエハシートHから取得された電子部品Wは、図16に示すステップS31~S36を経てピックアップユニット13から搬送ユニット16に受け渡される。
<Electronic parts delivery process>
The electronic component W picked up from the wafer sheet H by the
ステップS31:ピックアップユニット13が標準位置に配されている状態で、撮像手段82は、図16に示すように、撮像位置で静止している電子部品Wを撮像する。
ステップS32:ずれ導出手段84は、撮像手段82の撮像画像を基に部品支持部12に取得(支持)された状態で撮像された電子部品Wの位置及び向きを検出し、検出した電子部品Wの位置及び向きと記憶している電子部品Wの基準位置及び基準向きとを比較して、当該電子部品Wの基準位置及び基準向きに対するずれを検出し、そのずれを当該電子部品Wに紐づけて記憶する。
Step S31: With the
Step S32: The deviation deriving means 84 detects the position and orientation of the electronic component W imaged while being acquired (supported) by the
ステップS33:制御手段57aは、ずれ導出手段84が当該電子部品Wに紐づけて記憶した当該電子部品Wの基準位置及び基準向きに対するずれを基に、12時位置に配された電子部品Wの位置及び向きを調整する。具体的には、制御手段57aが、駆動源76を作動させ、部品支持部12で電子部品Wを支持したピックアップユニット13をG方向又はG方向の反対方向に移動させて、部品支持部12に支持されて12時位置に配された電子部品WのG方向の位置を調整して所定の位置に配すると共に、当該電子部品Wを支持している部品支持部12に対応する駆動回転部56を作動させて当該電子部品Wを仮想回転軸R回りに自転させて、当該電子部品Wの向きを調整して所定の向きに配置する。
Step S33: Based on the deviation of the electronic component W from the reference position and the reference orientation stored in association with the electronic component W by the deviation deriving means 84, the control means 57a determines whether the electronic component W placed at the 12 o'clock position is Adjust position and orientation. Specifically, the control means 57a operates the
12時位置に配された電子部品Wの位置調整後の位置が渡し位置P3である。
このステップS33は、ステップS26の後に行っても良いし、ステップS26の前に行っても良い。ステップS26の後にステップS33を行う場合、駆動回転部56の作動による電子部品Wの向き調整は、電子部品Wが12時位置に配される前に行うことができる。ステップS26の前にステップS33を行う場合、駆動源76及び駆動回転部56の作動による電子部品Wの位置及び向きの調整は、電子部品Wが12時位置に向かっているタイミングで行うことができる。
The position after position adjustment of the electronic component W arranged at the 12 o'clock position is the transfer position P3.
This step S33 may be performed after step S26, or may be performed before step S26. When step S33 is performed after step S26, the direction adjustment of the electronic component W by the operation of the
12時位置で位置及び向きが調整された電子部品Wは、電子部品処理装置10による電子部品Wに対する処理と同様の処理がなされてピックアップユニット13の部品支持部12から搬送ユニット16の部品保持部14に受け渡され、搬送ユニット16の部品保持部14に支持された電子部品Wに対して、以下に示す工程により処理ユニット17、18、19、20、21による所定の処理がなされる。
The electronic component W whose position and orientation have been adjusted at the 12 o'clock position is processed in the same manner as the electronic component W by the electronic
<処理ユニットの処理>
受け位置P2で部品支持部12から電子部品Wを取得した部品保持部14は、モータ36の作動により、電子部品Wと共に移動して処理位置P7の1つ上流側の停止領域に配される。その後、図17に示すステップS41~S42により、電子部品W及び処理ユニット17の回転体15の半径方向の位置調整が行われる。モータ36の作動による回転体15の回転及び部品保持部14の移動は、原則として、回転部材23の回転及び部品支持部12の移動と同じタイミングでなされる。
<Processing of the processing unit>
The
ステップS41:制御手段57aは、モータ36を作動させて電子部品W及び部品保持部14を処理位置P7に移動させると共に、ステップS26でずれ導出手段84が当該電子部品Wに紐づけて記憶した基準位置及び基準向きに対するずれを基に、処理ユニット17をK方向又はK方向の反対方向のいずれに移動させるか、及び、その移動距離を決定して、駆動機構87を作動させる。
Step S41: The control means 57a operates the
駆動機構87の作動により、処理ユニット17はK方向又はK方向の反対方向に移動し、処理ユニット17が、仮想直線M方向の位置において、処理位置P7に配される電子部品Wに対し予め定められた位置に配されるようにする。従って、駆動機構87は、ピックアップユニット13の移動によりなされた電子部品Wの位置調整の方向に直交するK方向又はK方向の反対方向に移動させて、処理位置P7に配された電子部品Wに対する、処理ユニット17のK方向の位置を調整することとなる。
By the operation of the
その結果、処理位置P7に配された電子部品Wは処理ユニット17に対して所定の位置及び向きに配される。従って、制御手段57aは、ずれ導出手段84が検出したずれを基に駆動機構77、87及び駆動回転部56を制御して、電子部品Wが処理位置P7で処理ユニット17に対し所定の位置及び向きに配されるようにする。
本実施の形態では、処理ユニット17のK方向又はK方向の反対方向の移動を、電子部品Wが処理位置P7に配される前に終えるようにしているが、電子部品Wが処理位置P7に配された後に処理ユニット17のK方向又はK方向の反対方向の移動を終えるようにしてもよい。
As a result, the electronic component W arranged at the processing position P7 is arranged at a predetermined position and orientation with respect to the
In this embodiment, the movement of the
ここで、処理位置P7に配された電子部品Wに対して、処理ユニット17の位置調整が行われているタイミングで、処理位置P8に配されている電子部品Wに対して、処理ユニット18の位置調整が行われ、処理位置P9に配されている電子部品Wに対して、処理ユニット19の位置調整が行われ、処理位置P10に配されている電子部品Wに対して、処理ユニット20の位置調整が行われ、処理位置P11に配されている電子部品Wに対して、処理ユニット21の位置調整が行われる。
Here, at the timing when the position adjustment of the
更に、本実施の形態では、同タイミングで、ステップS27におけるピックアップユニット13の移動による電子部品WのG方向の位置調整及び電子部品Wの仮想回転軸R回りの向き調整が行われる。従って、処理ユニット17を処理位置P7に配された電子部品Wに対し予め定められた位置及び向きに配するために行われる各処理を効果的に行うことができ、結果として、電子部品処理装置70による単位時間当たりの電子部品Wの処理数を多くすることが可能である。
Further, in the present embodiment, the position adjustment of the electronic component W in the G direction and the orientation adjustment of the electronic component W around the virtual rotation axis R are performed at the same timing by moving the
また、平面視して、モータ36を中心に配されている処理ユニット17、18、19、20、21の各間には、充分な空き領域がないため、処理ユニット17、18、19、20、21をそれぞれK方向に垂直な方向に移動させることはスペース的に問題となるが、本実施の形態では、処理ユニット17、18、19、20、21がそれぞれK方向のみに移動させるのでこの問題を回避できる。
In addition, since there is no sufficient space between the processing
ステップS42:回転体15の半径方向の移動を終えた処理ユニット17は、処理位置P7に配されて静止している電子部品Wに対して所定の処理を行い、本実施の形態では、略同じタイミングで、処理位置P8、P9、P10、P11に配されている各電子部品Wに対して処理ユニット18、19、20、21によりそれぞれ所定の処理が行われる。
Step S42: The processing
以上、本発明の実施の形態を説明したが、本発明は、上記した形態に限定されるものでなく、要旨を逸脱しない条件の変更等は全て本発明の適用範囲である。
例えば、ウエハシートは鉛直又は水平に配されている必要はない。
Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and all modifications of conditions that do not deviate from the gist of the present invention are within the scope of the present invention.
For example, the wafer sheets need not be oriented vertically or horizontally.
また、ピックアップユニットが駆動回転部を有する代わりに、図18に示す変形例のように、搬送ユニット100が部品保持部101を自転させる駆動回転機構102を有することによって、電子部品Wの向きを調整するようにしてもよい。駆動回転機構102は、図18に示すように、電子部品Wを取得した部品保持部101が処理位置に配される前に当該部品保持部101を自転させて、部品保持部101に取得された(部品支持部12が支持している)電子部品Wの搬送ユニットに対する向きを調整する。
Further, instead of the pick-up unit having a drive rotation section, the
この場合、制御手段は、ずれ導出手段が検出したずれを基に第2の駆動機構及び駆動回転機構102(又は駆動機構β、駆動機構δ及び駆動回転機構102)を制御して、電子部品Wが処理位置で処理ユニットに対し所定の位置及び向きに配されるようにする。駆動回転機構102を採用する場合、ピックアップユニット103に駆動回転部を設ける必要はない。
In this case, the control means controls the second drive mechanism and the drive rotation mechanism 102 (or the drive mechanism β, the drive mechanism δ, and the drive rotation mechanism 102) based on the deviation detected by the deviation derivation means, and the electronic component W is positioned and oriented with respect to the processing unit at the processing position. When the
ここで、回転体の回転方向に沿って最も上流側の処理位置が電子部品の向きの正確な調整を要さない処理ユニット(例えば、撮像手段を用いた電子部品の外観検査を行う処理ユニット)に対応し、上流側から2番目の処理位置が電子部品の向きの正確な調整を要する処理ユニット(例えば、電子部品の電気特性検査を行う処理ユニット)に対応する場合、駆動回転機構102による電子部品Wの向き調整は、上流側から2番目の処理位置に配される前(例えば、部品保持部101が最も上流側の処理位置から2番目の処理位置に移動しているタイミング)で行っても良いし、上流側から2番目の処理位置に配された状態で行っても良い。
なお、駆動回転機構102は、例えば、モータを有して構成することができる。図18に示す変形例において電子部品処理装置10、70と同様の構成については同じ符号を付して詳しい説明を省略する。
Here, the most upstream processing position along the rotation direction of the rotor does not require accurate adjustment of the orientation of the electronic component (for example, a processing unit that performs visual inspection of electronic components using imaging means). , and the second processing position from the upstream side corresponds to a processing unit that requires accurate adjustment of the orientation of the electronic component (for example, a processing unit that performs electrical property inspection of the electronic component). The orientation of the component W is adjusted before it is placed at the second processing position from the upstream side (for example, at the timing when the
In addition, the
更に、第1の駆動機構は、突出機構を移動させる方向が異なる2つの駆動手段を有すればよく、突出機構を移動させる方向が直交するX軸駆動手段及びY軸駆動手段を有する必要はない。これは、ピックアップユニットを移動させる第2の駆動機構、ウエハシートを移動させる第3の駆動機構、及び、ウエハシートを移動させる駆動機構γについても同様である。 Furthermore, the first driving mechanism only needs to have two driving means for moving the projecting mechanism in different directions, and does not need to have X-axis driving means and Y-axis driving means for moving the projecting mechanism in orthogonal directions. . The same applies to the second driving mechanism for moving the pickup unit, the third driving mechanism for moving the wafer sheet, and the driving mechanism γ for moving the wafer sheet.
そして、搬送ユニットの回転体は鉛直な回転軸を中心に回転する必要はなく、例えば、搬送ユニットの回転体が水平な回転軸を中心に回転するようにしてもよい。搬送ユニットの回転体が水平な回転軸を中心に回転する場合、同回転体の回転軸に沿って見て同回転体の中心と処理位置を通る仮想直線Mは、処理位置が配される仮想鉛直面上に配されることとなる。 Further, the rotating body of the transport unit does not need to rotate about a vertical rotating shaft, and for example, the rotating body of the transport unit may rotate about a horizontal rotating shaft. When the rotator of the transport unit rotates about a horizontal axis of rotation, an imaginary straight line M passing through the center of the rotator and the processing position when viewed along the axis of rotation of the rotator is the imaginary line M on which the processing position is arranged. It will be arranged on the vertical plane.
更に、ピックアップユニットと搬送ユニットの間にピックアップユニットから電子部品を取得して搬送ユニットに与える中継ユニットを設けてもよい。
そして、部品支持部に取得された電子部品の位置及び向きの検出を、撮像手段が撮像した画像を基に行う必要はなく、例えば、当該検出をレーザセンサの計測値を基に行うようにしてもよい。
Furthermore, a relay unit may be provided between the pickup unit and the transport unit to obtain the electronic component from the pickup unit and provide it to the transport unit.
Further, it is not necessary to detect the position and orientation of the electronic component acquired by the component support portion based on the image captured by the imaging means. good too.
10:電子部品処理装置、11:突出機構、12:部品支持部、13:ピックアップユニット、14:部品保持部、15:回転体、16:搬送ユニット、17、18、19、20、21:処理ユニット、21a:支持体、22:回転軸、23:回転部材、24:コイルばね、25:X軸駆動手段、26:Y軸駆動手段、27:第2の駆動機構、28:撮像手段、28a:ずれ導出手段、29:ウエハリング、30:X軸駆動手段、31:Y軸駆動手段、32:筒状部材、33:駆動源、34:ピン、35:第3の駆動機構、36:モータ、37:コイルばね、38:支持部材、39:板材、40:モータ、41:保持部材、42:可動体、43:コイルばね、44:出力軸、45:ベース台、46:X軸駆動手段、47:Y軸駆動手段、49:第1の駆動機構、51:モータ、56:駆動回転部、57、57a:制御手段、58:撮像手段、59:位置検出手段、70:電子部品処理装置、71:支持体、72:ベース台、73、74:ガイドレール、75:動力伝達部、76:駆動源、77:駆動機構、78:垂直駆動手段、79:水平駆動手段、80:駆動機構、81:水平駆動手段、82:撮像手段、83:プリズム、84:ずれ導出手段、87、88、89、90、91:駆動機構、100:搬送ユニット、101:部品保持部、102:駆動回転機構、103:ピックアップユニット、H:ウエハシート、M、N:仮想直線、P1:ピックアップ位置、P2:受け位置、P3:渡し位置、P7、P8、P9、P10、P11:処理位置、R:仮想回転軸、W:電子部品、W1、W2:面 10: electronic component processing device, 11: protruding mechanism, 12: component support section, 13: pickup unit, 14: component holding section, 15: rotating body, 16: transport unit, 17, 18, 19, 20, 21: processing Unit 21a: Support 22: Rotating shaft 23: Rotating member 24: Coil spring 25: X-axis driving means 26: Y-axis driving means 27: Second driving mechanism 28: Imaging means 28a : deviation leading means, 29: wafer ring, 30: X-axis driving means, 31: Y-axis driving means, 32: cylindrical member, 33: driving source, 34: pin, 35: third driving mechanism, 36: motor , 37: coil spring, 38: support member, 39: plate material, 40: motor, 41: holding member, 42: movable body, 43: coil spring, 44: output shaft, 45: base, 46: X-axis driving means , 47: Y-axis driving means, 49: First driving mechanism, 51: Motor, 56: Driving rotating part, 57, 57a: Control means, 58: Imaging means, 59: Position detecting means, 70: Electronic component processing device , 71: support, 72: base, 73, 74: guide rail, 75: power transmission unit, 76: drive source, 77: drive mechanism, 78: vertical drive means, 79: horizontal drive means, 80: drive mechanism , 81: horizontal driving means, 82: imaging means, 83: prism, 84: deviation deriving means, 87, 88, 89, 90, 91: driving mechanism, 100: conveying unit, 101: component holder, 102: drive rotation Mechanism 103: Pick-up unit H: Wafer sheet M, N: Virtual straight line P1: Pick-up position P2: Receiving position P3: Transfer position P7, P8, P9, P10, P11: Processing position R: Virtual Axis of rotation, W: electronic component, W1, W2: surface
Claims (4)
前記突出機構を前記ウエハシートに平行な仮想平面Eに沿って移動させる第1の駆動機構と、
前記部品支持部で前記電子部品を支持した前記ピックアップユニットを前記ウエハシートに平行な仮想平面Fに沿って移動させる第2の駆動機構と、
前記ウエハシートを含む仮想平面Q内で該ウエハシートを移動させる第3の駆動機構と、
前記部品支持部に取得された前記電子部品の基準位置及び基準向きに対するずれを検出するずれ導出手段と、
前記第1の駆動機構、前記第2の駆動機構及び前記第3の駆動機構を制御して、前記ピックアップ位置に配された前記部品支持部、次に前記部品支持部に取得される前記電子部品及び前記突出機構の位置を調整する制御手段とを備え、
前記ピックアップユニットは、一回又は複数回の回転動作によって、前記ピックアップ位置に配されていた前記部品支持部を前記受け位置に配される前記部品保持部に対向する渡し位置に移動させる回転部材を有し、
前記搬送ユニットは、前記部品保持部を自転させて、該部品保持部に取得された前記電子部品の前記搬送ユニットに対する向きを調整する駆動回転機構を有し、
前記制御手段は、前記ずれ導出手段が検出した前記ずれを基に前記第2の駆動機構及び前記駆動回転機構を制御して、前記電子部品が前記処理位置で前記処理ユニットに対し所定の位置及び向きに配されるようにすることを特徴とする電子部品処理装置。 A pickup having a projecting mechanism for projecting an electronic component attached to a wafer sheet in a direction J perpendicular to the wafer sheet, and a component support section for acquiring the electronic component projecting in the J direction at a pickup position facing the wafer sheet. a conveying unit in which the component holder moves to a processing position together with the electronic component by rotation of a rotating body attached with a component holder that acquires the electronic component from the pick-up unit at the receiving position; In an electronic component processing apparatus comprising a processing unit that performs predetermined processing on the arranged electronic components,
a first driving mechanism for moving the protruding mechanism along an imaginary plane E parallel to the wafer sheet;
a second drive mechanism for moving the pickup unit supporting the electronic component by the component support portion along a virtual plane F parallel to the wafer sheet;
a third driving mechanism for moving the wafer sheet within a virtual plane Q containing the wafer sheet;
a deviation deriving means for detecting a deviation from a reference position and a reference orientation of the electronic component acquired by the component support;
By controlling the first drive mechanism, the second drive mechanism, and the third drive mechanism, the component support unit arranged at the pickup position, and then the electronic component acquired by the component support unit and control means for adjusting the position of the projection mechanism,
The pick-up unit includes a rotating member that rotates once or multiple times to move the component support portion arranged at the pick-up position to a transfer position facing the component holding portion arranged at the receiving position. have
The transport unit has a drive rotation mechanism that rotates the component holding unit to adjust the orientation of the electronic component acquired by the component holding unit with respect to the transport unit,
The control means controls the second drive mechanism and the drive rotation mechanism based on the deviation detected by the deviation deriving means, so that the electronic component is positioned at the processing position at a predetermined position relative to the processing unit. An electronic component processing apparatus characterized by being arranged in an orientation.
前記部品支持部で前記電子部品を支持した前記ピックアップユニットを前記ウエハシートに平行なG方向又は該G方向の反対方向に移動させる駆動機構βと、
前記ウエハシートを含む仮想平面Q内で該ウエハシートを移動させる駆動機構γと、
前記ピックアップユニットの移動によりなされた前記電子部品の位置調整の方向に直交するK方向又は該K方向の反対方向に前記処理ユニットを移動させて、前記処理位置に配された前記電子部品に対する、該処理ユニットの前記K方向の位置を調整する駆動機構δと、
前記部品支持部に取得された前記電子部品の基準位置及び基準向きに対するずれを検出するずれ導出手段と、
前記駆動機構β及び前記駆動機構γを制御して、前記ピックアップ位置に配された前記部品支持部及び次に前記部品支持部に取得される前記電子部品の位置を調整する制御手段とを備え、
前記搬送ユニットは、前記部品保持部を自転させて、該部品保持部に取得された前記電子部品の前記搬送ユニットに対する向きを調整する駆動回転機構を有し、
前記制御手段は、前記ずれ導出手段が検出した前記ずれを基に前記駆動機構β、前記駆動機構δ及び前記駆動回転機構を制御して、前記電子部品が前記処理位置で前記処理ユニットに対し所定の位置及び向きに配されるようにすることを特徴とする電子部品処理装置。 A pickup having a projecting mechanism for projecting an electronic component attached to a wafer sheet in a direction J perpendicular to the wafer sheet, and a component support section for acquiring the electronic component projecting in the J direction at a pickup position facing the wafer sheet. a conveying unit in which the component holder moves to a processing position together with the electronic component by rotation of a rotating body attached with a component holder that acquires the electronic component from the pick-up unit at the receiving position; In an electronic component processing apparatus comprising a processing unit that performs predetermined processing on the arranged electronic components,
a drive mechanism β for moving the pickup unit supporting the electronic component by the component support portion in a G direction parallel to the wafer sheet or in a direction opposite to the G direction;
a drive mechanism γ for moving the wafer sheet within a virtual plane Q containing the wafer sheet;
By moving the processing unit in a direction K perpendicular to the direction of position adjustment of the electronic component made by moving the pickup unit or in a direction opposite to the direction K, a driving mechanism δ for adjusting the position of the processing unit in the K direction;
a deviation deriving means for detecting a deviation from a reference position and a reference orientation of the electronic component acquired by the component support;
a control means for controlling the drive mechanism β and the drive mechanism γ to adjust the position of the component support section arranged at the pick-up position and the position of the electronic component to be subsequently acquired by the component support section;
The transport unit has a drive rotation mechanism that rotates the component holding unit to adjust the orientation of the electronic component acquired by the component holding unit with respect to the transport unit,
The control means controls the drive mechanism β, the drive mechanism δ, and the drive rotation mechanism based on the deviation detected by the deviation deriving means, so that the electronic component moves to the processing unit at the processing position in a predetermined position. An electronic component processing apparatus characterized in that it is arranged in the position and orientation of
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