JP7195876B2 - Radiation monitor and radiation measurement method - Google Patents

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Description

本発明は、放射線の線量率を測定する放射線モニタおよび放射線の測定方法に関する。 The present invention relates to a radiation monitor and a radiation measuring method for measuring a radiation dose rate.

従来からの荷電粒子検出器としては、ガス検出器、シンチレーション検出器、及び、半導体検出器などが知られている。 Gas detectors, scintillation detectors, semiconductor detectors, and the like are known as conventional charged particle detectors.

ガス検出器は、ガスを封入した容器内に金属ワイヤーを設置した構造のものである。荷電粒子が検出器内のガスを電離することによって電子を生成し、その電子を金属ワイヤー近傍の高電界領域で増幅することによって電気信号として測定する。 A gas detector has a structure in which a metal wire is installed in a container filled with gas. Charged particles ionize the gas in the detector to produce electrons, which are amplified in a high electric field region near a metal wire and measured as an electrical signal.

シンチレーション検出器は、シンチレーション素子に荷電粒子が入射するとシンチレーション素子が発光し、その発光を光電子増倍管等を用いて電気信号に変換し、その電気信号をもとに荷電粒子を測定する。荷電粒子が1個入射した時に、多数の光子が生成し、生成した光子の個数が入射した荷電粒子のエネルギに比例することから、生成した光子の個数に比例するパルス状の電気信号の波高値を測定することで、入射した荷電粒子のエネルギを測定する。 A scintillation detector emits light when a charged particle is incident on the scintillation element, converts the emitted light into an electric signal using a photomultiplier tube or the like, and measures the charged particles based on the electric signal. When a charged particle is incident, a large number of photons are generated, and the number of generated photons is proportional to the energy of the incident charged particle. is measured to measure the energy of the incident charged particles.

半導体検出器は、p型とn型の半導体を接合した接合面を中心に形成される電子や正孔がほとんど存在しない領域(空乏層)において、荷電粒子による電離によって生じた電子正孔対が、それぞれp型、n型に移動することによって生じる電気信号をもとに荷電粒子を検出する検出器である。荷電粒子が1個入射した時に、多数の電子正孔対が生成し、生成した電子正孔対の個数が入射した荷電粒子のエネルギに比例することから、生成した電子正孔対の個数に比例するパルス状の電気信号の波高値を測定することで、入射した荷電粒子のエネルギを測定する。 In semiconductor detectors, electron-hole pairs generated by ionization by charged particles are generated in a region (depletion layer) where there are almost no electrons or holes, which is formed around the junction surface where p-type and n-type semiconductors are joined. , p-type and n-type detectors that detect charged particles based on the electrical signals generated by their migration. A large number of electron-hole pairs are generated when one charged particle is incident, and the number of generated electron-hole pairs is proportional to the energy of the incident charged particle. The energy of the incident charged particles is measured by measuring the crest value of the pulsed electrical signal.

特開2017-15662号公報JP 2017-15662 A 特開2016-114392号公報JP 2016-114392 A

しかしながら、これらの荷電粒子線検出器を高線量環境下で用いる場合、以下のような課題がある。 However, when these charged particle beam detectors are used in a high dose environment, there are the following problems.

ガス検出器の場合は、ガス検出器に入射してくるガンマ線と、ガスや検出器容器材料とのコンプトン散乱による電子を数多く測定してしまうことから、荷電粒子との弁別が困難である。 In the case of a gas detector, a large number of gamma rays entering the gas detector and electrons due to Compton scattering with the gas and detector container material are measured, so it is difficult to distinguish them from charged particles.

シンチレーション検出器の場合は、多数のガンマ線が同時にシンチレーション素子に入射してしまい、パルス状の電気信号が重なり合ってしまうことから、荷電粒子を正しく測定することが困難である。それを防ぐために、シンチレーション素子の周囲を鉛等の放射線遮蔽体で覆ってしまうと、荷電粒子が検出器内に入射することができなってしまうため、使用は困難である。 In the case of a scintillation detector, a large number of gamma rays are incident on the scintillation element at the same time, and pulsed electrical signals are superimposed, making it difficult to accurately measure charged particles. If the surroundings of the scintillation element are covered with a radiation shielding material such as lead in order to prevent this, the charged particles cannot enter the detector, which makes the use difficult.

半導体検出器の場合は、多数のガンマ線が同時に半導体素子に入射してしまい、パルス状の電気信号が重なり合ってしまうことから、荷電粒子を正しく測定することが困難である。それを防ぐために、半導体素子の周囲を鉛等の放射線遮蔽体で覆ってしまうと、荷電粒子が検出器内に入射することができなってしまうため、使用は困難である。 In the case of a semiconductor detector, a large number of gamma rays are incident on the semiconductor element at the same time, and the pulsed electrical signals are superimposed, making it difficult to accurately measure charged particles. In order to prevent this, if the periphery of the semiconductor element is covered with a radiation shielding material such as lead, the charged particles cannot enter the detector, making it difficult to use.

中性子線を検出する検出器に関しては、荷電粒子検出器と同様に、ガス検出器、シンチレーション検出器、半導体検出器などが知られている。しかし、上記の荷電粒子検出器と同様に、高線量率環境下における測定が困難だった。 Similar to charged particle detectors, gas detectors, scintillation detectors, semiconductor detectors, and the like are known as detectors for detecting neutron beams. However, as with the above charged particle detector, it was difficult to measure in a high dose rate environment.

これに対し、高線量率環境下で測定可能な放射線モニタとして、例えば特許文献1や特許文献2に記載の技術がある。これらの文献には、放射線検出素子から発せられた光を光ファイバで伝送し、光子1個1個の計数率をもとに線量率を測定する技術について記載されている。 On the other hand, as a radiation monitor capable of measuring in a high dose rate environment, there are techniques described in Patent Document 1 and Patent Document 2, for example. These documents describe techniques for transmitting light emitted from a radiation detection element through an optical fiber and measuring the dose rate based on the count rate of each photon.

しかしながら、放射線モニタを高温環境下で使用する場合は、輻射によるバックグラウンドが存在することから、その補正方法が必要となっている。特許文献1には複数の波長を用いて補正する方法が記載されているが、複数の波長の光子1個1個を測定するシステムが必要となり、システムが複雑化してしまう。また、プラント運転中における放射線モニタの劣化等による輻射によるバックグラウンドの変化を確認し評価する技術については記載されていない。 However, when a radiation monitor is used in a high-temperature environment, there is a background due to radiation, so a correction method is required. Although Patent Literature 1 describes a correction method using a plurality of wavelengths, a system for measuring each photon of a plurality of wavelengths is required, which complicates the system. Also, there is no description of a technique for confirming and evaluating changes in the background due to radiation due to deterioration of the radiation monitor during plant operation.

本発明は、以上のような事情に基づいてなされたものであり、高温及び高線量率環境下においても、高精度に線量率を測定する放射線モニタを提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a radiation monitor capable of measuring the dose rate with high accuracy even in a high temperature and high dose rate environment.

上記課題を解決するために、代表的な本発明の一つは、「放射線が入射すると光子を生成して発光する放射線検出素子と、放射線検出素子を収容するハウジングとを有する放射線検出部と、放射線検出部で生成された光子1個1個を電気信号に変換する光検出部と、電気信号の計数率に基づいて、放射線の線量率を算出する測定装置と、放射線検出部またはその近傍を加熱する加熱部と、を備えた放射線モニタであって、測定装置は、加熱部に電圧を印加したときに第1の計数率を算出し、放射線検出器に放射線が入射したときに第2の計数率を算出し、第2の計数率から第1の計数率を引いた第3の計数率を放射線の線量率に換算することを特徴とする放射線モニタ。」としたものである。 In order to solve the above-mentioned problems, one representative aspect of the present invention is to provide "a radiation detection unit having a radiation detection element that generates photons and emits light when radiation is incident thereon, and a housing that accommodates the radiation detection element; A photodetector that converts each photon generated by the radiation detector into an electrical signal, a measuring device that calculates the dose rate of radiation based on the count rate of the electrical signal, and a radiation detector or its vicinity. a heating unit that heats, the measuring device calculates a first count rate when a voltage is applied to the heating unit, and calculates a second count rate when radiation is incident on the radiation detector. A radiation monitor characterized by calculating a count rate and converting a third count rate obtained by subtracting the first count rate from the second count rate into a dose rate of radiation."

本発明によれば、高温及び高線量率環境下においても、正しい線量率を示す放射線モニタを提供することが可能となる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it becomes possible to provide the radiation monitor which shows a correct dose rate also in a high temperature and high dose rate environment.

本発明の実施例1に係る放射線モニタの構成図である。1 is a configuration diagram of a radiation monitor according to Example 1 of the present invention; FIG. 熱放射(輻射)による光子1個1個の計数率と光子の波長との関係の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of the relationship between the counting rate of each photon due to thermal radiation (radiation) and the wavelength of the photon; 線量率を一定とした場合における、光子1個1個の計数率と加熱部に印加する電力の関係の説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of the relationship between the counting rate of each photon and the power applied to the heating unit when the dose rate is constant. 熱放射により生成された光子の影響を除いた線量率を算出する方法の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a method of calculating a dose rate excluding the effects of photons generated by thermal radiation; 本発明の実施例2に係る放射線モニタの構成図である。FIG. 7 is a configuration diagram of a radiation monitor according to Example 2 of the present invention; 温度の測定値に対する光子1個1個の計数率の一例。An example of the photon-by-photon count rate for temperature measurements. 本発明の実施例3に係る放射線モニタの構成図である。FIG. 7 is a configuration diagram of a radiation monitor according to Example 3 of the present invention; 加熱部に与える電力に対する光子1個1個の計数率の経時変化の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of temporal changes in the counting rate of individual photons with respect to the power applied to the heating unit; 放射線発光素子部が水中または気中にある場合の光子1個1個の計数率の時間変化と加熱部への電力印加の関係の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of the relationship between the time change in the counting rate of each photon and the application of power to the heating section when the radiation light emitting element section is in water or in the air; 本発明の実施例6に係る放射線モニタの構成図である。FIG. 11 is a configuration diagram of a radiation monitor according to Example 6 of the present invention; 本発明の実施例7に係る放射線モニタの構成図である。FIG. 11 is a configuration diagram of a radiation monitor according to Example 7 of the present invention; 本発明の実施例7に係る放射線検出部の構成図である。FIG. 11 is a configuration diagram of a radiation detection unit according to Example 7 of the present invention;

以下、本発明の実施に好適な実施例について説明する。尚、下記はあくまでも実施の例に過ぎず、下記具体的内容に発明自体が限定されることを意図する趣旨ではない。 Preferred examples for carrying out the present invention will be described below. It should be noted that the following is merely an example of implementation, and is not intended to limit the invention itself to the following specific contents.

以下、本発明の実施例を、図面を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

本発明の実施例1を図1乃至図3に基づいて説明する。 Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3. FIG.

まず、本実施例に係る放射線モニタの構成について説明する。図1は、本発明の実施例1に係る放射線モニタの構成図である。 First, the configuration of the radiation monitor according to this embodiment will be described. FIG. 1 is a configuration diagram of a radiation monitor according to Embodiment 1 of the present invention.

本実施例に係る放射線モニタ1は、放射線が入射すると発光する放射線検出部10と、放射線検出部10を加熱する加熱装置20と、光ファイバ40と、光検出部70と、測定装置80と、解析・表示装置90を備える。 The radiation monitor 1 according to the present embodiment includes a radiation detection unit 10 that emits light when radiation is incident, a heating device 20 that heats the radiation detection unit 10, an optical fiber 40, a light detection unit 70, a measurement device 80, An analysis/display device 90 is provided.

放射線検出部10は、セラミック母材に希土類元素を添加した部材からなる放射線発光素子11と、放射線発光素子11を収容する検出器ハウジング12を備える。放射線検出部10は、放射線を測定する測定エリアに設置される。 The radiation detection unit 10 includes a radiation light emitting element 11 made of a ceramic base material to which a rare earth element is added, and a detector housing 12 that accommodates the radiation light emitting element 11 . A radiation detection unit 10 is installed in a measurement area for measuring radiation.

放射線発光素子11は、セラミック母材としての透明イットリウム・アルミ・ガーネットなどの光透過性材料と、この光透過性材料中に含有されたイッテルビウム、ネオジム、セリウム、プラセオジウムなどの希土類元素とにより形成されている。放射線発光素子11(例えばイットリウム・アルミ・ガーネットは、ネオジムを含有させた材料であるYAG:Nd)の光減衰時間は、従来の放射線検出器に用いられるNaI、BGO、プラスチックシンチレータと比較して長いものを選択している。 The radiation light-emitting element 11 is formed of a light-transmitting material such as transparent yttrium, aluminum, and garnet as a ceramic base material, and rare earth elements such as ytterbium, neodymium, cerium, and praseodymium contained in the light-transmitting material. ing. The light decay time of the radiation light emitting element 11 (for example, yttrium aluminum garnet is YAG:Nd, which is a material containing neodymium) is long compared to NaI, BGO, and plastic scintillators used in conventional radiation detectors. choosing something.

加熱装置20は、加熱部21と、電線22と、電圧制御装置23とを備える。 The heating device 20 includes a heating section 21 , an electric wire 22 and a voltage control device 23 .

加熱部21は、例えばヒータ等であり、放射線検出部10または加熱部21の近傍に設置される。 The heating unit 21 is, for example, a heater or the like, and is installed near the radiation detection unit 10 or the heating unit 21 .

電圧制御装置23は、加熱部21に印加する電圧を制御する。 The voltage control device 23 controls the voltage applied to the heating section 21 .

光ファイバ40は、放射線検出部10と光検出部70を接続する。より具体的には、光ファイバ40の一端が放射線発光素子11に接続され、光ファイバ40の他端が光検出部70に接続される。なお、光ファイバ40が放射線発光素子11に「接続」されるという事項には、光ファイバ40の一端が放射線発光素子11に密接される構成の他、光ファイバ40の一端が放射線発光素子11に近接している構成も含まれる。 The optical fiber 40 connects the radiation detector 10 and the photodetector 70 . More specifically, one end of the optical fiber 40 is connected to the radiation light emitting element 11 and the other end of the optical fiber 40 is connected to the photodetector 70 . Regarding the matter that the optical fiber 40 is “connected” to the radiation light emitting element 11 , in addition to the configuration in which one end of the optical fiber 40 is closely attached to the radiation light emitting element 11 , one end of the optical fiber 40 is connected to the radiation light emitting element 11 . Contiguous configurations are also included.

光検出部70は、光ファイバ40を介して、自身に導かれる光(パルス光)を電気信号に変換する(光検出処理)。より具体的には、光検出部70に1つの光子が入射すると、光電変換によって1つの電気信号(パルス信号)が生成されるようになっている。このような光検出部70として、例えば、光電子増倍管やフォトダイオードを用いることができる。 The photodetector 70 converts the light (pulse light) guided to itself via the optical fiber 40 into an electrical signal (photodetection process). More specifically, when one photon is incident on the photodetector 70, one electrical signal (pulse signal) is generated by photoelectric conversion. For example, a photomultiplier tube or a photodiode can be used as such a photodetector 70 .

測定装置80は、光検出部70から入力される電気信号の計数率を測定する装置であり、配線k1を介して光検出部70に接続されている。測定装置80は、図示はしないが、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、各種インタフェース等の電子回路を含んで構成されている。そして、ROMに記憶されたプログラムを読み出してRAMに展開し、CPUが各種処理を実行する。 The measuring device 80 is a device for measuring the count rate of the electrical signal input from the photodetector 70, and is connected to the photodetector 70 via the wiring k1. Although not shown, the measuring device 80 includes electronic circuits such as a CPU (Central Processing Unit), ROM (Read Only Memory), RAM (Random Access Memory), and various interfaces. Then, the program stored in the ROM is read out and developed in the RAM, and the CPU executes various processes.

解析・表示装置90は、配線k2を介して測定装置80に接続されている。図示はしないが、CPU、ROM、RAM、各種インタフェース等の電子回路を含んで構成される。解析・表示装置90は、測定装置80ら入力される電気信号の計数率に基づいて、放射線の線量率を算出し(解析処理)、その算出結果を表示する。なお、電気信号の計数率と、放射線の線量率と、は比例関係にあり、その比例係数が解析・表示装置90に予め記憶されている。 The analysis/display device 90 is connected to the measurement device 80 via the wiring k2. Although not shown, it includes electronic circuits such as a CPU, ROM, RAM, and various interfaces. The analysis/display device 90 calculates the radiation dose rate (analysis processing) based on the count rate of the electrical signal input from the measurement device 80, and displays the calculation result. The electrical signal count rate and the radiation dose rate are in a proportional relationship, and the proportionality coefficient is stored in advance in the analysis/display device 90 .

次に、本実施例に係る放射線モニタの測定原理と動作について説明する。 Next, the measurement principle and operation of the radiation monitor according to this embodiment will be described.

放射線検出素子11に入射する放射線の線量率と、放射線検出素子11で生成される単位時間当たりの光子の個数と、は比例関係にあることが分かっている。すなわち、放射線検出素子11に入射する放射線の線量率と、光検出部70で変換された電気信号(パルス信号)の計数率と、は比例関係にある。そこで、本実施例では、このような比例関係に基づき、光検出部70から測定装置80に出力される電気信号の単位時間当たりの個数(計数率)を、放射線の線量率に換算し、線量率を算出する。以下、詳細に説明する。 It is known that the dose rate of radiation incident on the radiation detection element 11 and the number of photons generated per unit time by the radiation detection element 11 are in a proportional relationship. That is, the dose rate of radiation incident on the radiation detection element 11 and the count rate of the electrical signal (pulse signal) converted by the photodetector 70 are in a proportional relationship. Therefore, in the present embodiment, based on such a proportional relationship, the number of electrical signals per unit time (counting rate) output from the photodetector 70 to the measuring device 80 is converted into a dose rate of radiation, and the dose Calculate the rate. A detailed description will be given below.

放射性発光素子11に放射線又は光が入射すると、放射線発光素子11内の電子または希土類原子がエネルギ準位の高い励起状態に遷移する。その高い励起状態から、エネルギ準位の低い励起状態または基底状態に遷移するときに光子が生成される。 When radiation or light is incident on the radiation light emitting element 11, electrons or rare earth atoms in the radiation light emitting element 11 transition to an excited state with a high energy level. A photon is generated when it transitions from its higher excited state to a lower energy level excited state or ground state.

放射線発光素子11で生成された光子は、光ファイバ40を通って光検出部70で検出される。光検出部70では、光子1個1個を検出し、電気信号(パルス信号)に変換する。 Photons generated by the radiation emitting element 11 pass through the optical fiber 40 and are detected by the photodetector 70 . The photodetector 70 detects each photon and converts it into an electrical signal (pulse signal).

なお、放射線検出素子11で単位時間あたりに生成される光子の個数が(合計の個数)が、光検出部70で光電変換が可能な上限値を超える場合、すなわち光検出部70に光子が多数入射し、複数の光子を1つの電気信号に変換してしまう場合には、光減衰フィルタ(図示せず)を追加で設けてもよい。例えば、光検出部70の前段に光減衰フィルタを設けてもよい。また、光減衰フィルタが不要となるように、放射線検出素子11の種類やハウジング12の材料・厚さを適宜に選択してもよい。これにより、光検出部70が入射した1個1個の光子を、1個1個の電気信号に変換することができる。 Note that when the number of photons (total number) generated per unit time by the radiation detecting element 11 exceeds the upper limit of photoelectric conversion in the photodetector 70, that is, when the photodetector 70 has a large number of photons. An additional optical attenuation filter (not shown) may be provided if incident and converts multiple photons into a single electrical signal. For example, a light attenuation filter may be provided in front of the photodetector 70 . Also, the type of the radiation detection element 11 and the material and thickness of the housing 12 may be appropriately selected so that the light attenuation filter is not required. Thus, each photon incident on the photodetector 70 can be converted into each electrical signal.

また、光検出部70の前段に波長選択部を設置することで、特定の波長のみの光子を透過させることが可能となる。波長選択部には、一枚または複数枚の波長選択フィルタを用いても良いし、分光器を用いても良い。 Further, by installing a wavelength selection section in front of the photodetection section 70, it becomes possible to transmit photons of only a specific wavelength. One or a plurality of wavelength selection filters may be used in the wavelength selection section, or a spectroscope may be used.

光検出部70で電気信号に変換した後、この電気信号の計数率を測定装置80で測定する。放射線検出部10における線量率とこの電気信号の計数率には、比例関係がある。解析表示装置90は、事前に測定した線量率と計数率の比例係数を用いて、計数率から線量率を導出する。 After being converted into an electric signal by the photodetector 70 , the counting rate of this electric signal is measured by the measuring device 80 . There is a proportional relationship between the dose rate in the radiation detection unit 10 and the count rate of this electrical signal. The analysis and display device 90 derives the dose rate from the count rate using the pre-measured dose rate and count rate proportional coefficients.

ここで、放射線検出部10の設置環境温度が高くなると、放射線検出部10の構成部材から熱放射(輻射)による光子の生成が起こる。図2は、熱放射(輻射)による光子1個1個の計数率と光子の波長の関係の説明図である。図中には、放射線による発光も合わせて示している。熱放射(輻射)による光子の生成率は、設置環境温度が高いほど大きく、光子の波長が長いほど大きい。設置環境温度が高くなるに従って、熱放射(輻射)による光子であるバックグラウンドが高くなり、放射線の照射により発光する波長の光子を正確に測定できなくなる。このとき、放射線による線量率を導出するためには、熱放射(輻射)による光子の影響を補正する必要がある。 Here, when the temperature of the environment in which the radiation detection unit 10 is installed rises, photons are generated by thermal radiation (radiation) from constituent members of the radiation detection unit 10 . FIG. 2 is an explanatory diagram of the relationship between the counting rate of each photon due to thermal radiation (radiation) and the wavelength of the photon. The figure also shows light emitted by radiation. The generation rate of photons due to thermal radiation (radiation) increases as the temperature of the installation environment increases, and increases as the wavelength of the photons increases. As the temperature of the installation environment increases, the background of photons due to thermal radiation (radiation) increases, making it impossible to accurately measure photons of wavelengths emitted by irradiation of radiation. At this time, in order to derive the dose rate due to radiation, it is necessary to correct the influence of photons due to thermal radiation (radiation).

そこで本実施例に係る放射線モニタは、次に説明する方法により、熱放射により生成された光子の影響を除いた計数率を導出する。 Therefore, the radiation monitor according to this embodiment derives the count rate excluding the effect of photons generated by thermal radiation by the method described below.

まず、加熱部21が放射線検出部10を加熱する。このとき、電圧制御装置23が加熱部21に印加した電圧に従って、放射線検出部10から光子が生成される。光検出部70は、生成された光子を検出して電気信号に変換する。測定装置80は、変換された電気信号の計数率を測定する。 First, the heating unit 21 heats the radiation detection unit 10 . At this time, photons are generated from the radiation detection section 10 according to the voltage applied to the heating section 21 by the voltage control device 23 . The photodetector 70 detects the generated photons and converts them into electrical signals. A measuring device 80 measures the count rate of the converted electrical signal.

図3は、放射線による線量率を一定とした場合における、光子1個1個の計数率と加熱部21に印加する電力との関係の説明図である。熱放射(輻射)による光子の生成率が放射線検出部10の温度に依存し、放射線検出部10の温度が加熱部21に印加する電力に依存することから、放射線検出部10を加熱部21で加熱したとき、電圧制御装置23からの印加電力の変化に従って変化する光子の計数率は、例えば図3のようになる。このときの光子の計数率と印加電圧の関係、すなわち熱放射(輻射)による光子の生成率と印加電圧の関係を、事前に例えば解析表示装置90に記憶しておき、これを用いて測定値を次のように補正する。 FIG. 3 is an explanatory diagram of the relationship between the counting rate of each photon and the power applied to the heating unit 21 when the dose rate of radiation is constant. The generation rate of photons by thermal radiation (radiation) depends on the temperature of the radiation detection unit 10 , and the temperature of the radiation detection unit 10 depends on the power applied to the heating unit 21 . When heated, the photon counting rate that changes according to changes in the applied power from the voltage control device 23 is, for example, as shown in FIG. The relationship between the photon counting rate and the applied voltage at this time, that is, the relationship between the photon generation rate due to thermal radiation (radiation) and the applied voltage is stored in advance, for example, in the analysis display device 90, and is used to obtain the measured value. is corrected as follows.

図4は、実際に放射線環境下かつ高温環境下で測定した場合における、熱放射により生成された光子の影響を除いた線量率を算出する方法の説明図である。放射線環境下かつ高温環境下の計数率の測定値には、放射線による計数率と熱放射による計数率が含まれる。そこで、解析表示装置90は、計数率の測定値から、熱放射による計数率を差分することで、放射線による計数率を導出する。ここで、熱放射による計数率は、事前に記憶した、または外部の入力装置(図示しない)等を用いて入力した値を用いる。そして、事前に測定した線量率と計数率の比例係数を用いることで線量率に変換し、熱放射により生成された光子の影響を除いた線量率を算出することができる。 FIG. 4 is an explanatory diagram of a method of calculating a dose rate excluding the effect of photons generated by thermal radiation when actually measured in a radiation environment and a high temperature environment. Measurements of the count rate in a radiation and high temperature environment include the count rate due to radiation and the count rate due to thermal radiation. Therefore, the analysis display device 90 derives the count rate due to radiation by subtracting the count rate due to thermal radiation from the measured value of the count rate. Here, a value stored in advance or input using an external input device (not shown) or the like is used as the counting rate due to thermal radiation. Then, by using the dose rate measured in advance and the proportionality coefficient of the count rate, the dose rate can be converted to the dose rate, and the dose rate can be calculated without the influence of photons generated by thermal radiation.

図4は、放射線による計数率が一定の場合を示したが、放射線による計数率が変化する場合も同様に、放射線及び高温環境下での計数率から、熱放射(輻射)による計数率を差分することで放射線による計数率を測定し、熱放射により生成された光子の影響を除いた線量率を算出することができる。 Figure 4 shows the case where the count rate due to radiation is constant, but similarly, when the count rate due to radiation changes, the count rate due to thermal radiation (radiation) is subtracted from the count rate under radiation and high temperature environments. By doing so, it is possible to measure the count rate due to radiation and calculate the dose rate excluding the effect of photons generated by thermal radiation.

実施例2は、放射線モニタが、温度計側部と、信号線と、温度測定制御装置と、データベースとを備える点が、実施例1とは異なる。また本実施例では、放射線モニタを放射線の測定に使用する前に、温度測定値に対する光子1個1個の計数率の値を測定してデータベースに記録する点が、実施例1とは異なる。なお、その他については実施例1と同様である。したがって、実施例1とは異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。 Example 2 differs from Example 1 in that the radiation monitor includes a thermometer side portion, a signal line, a temperature measurement control device, and a database. The present embodiment differs from the first embodiment in that, before the radiation monitor is used to measure radiation, the count rate of each photon with respect to the measured temperature is measured and recorded in the database. Others are the same as those of the first embodiment. Therefore, the parts different from the first embodiment will be explained, and the explanation of the overlapping parts will be omitted.

図5は、本発明の実施例2に係る放射線モニタの構成図である。 FIG. 5 is a configuration diagram of a radiation monitor according to Embodiment 2 of the present invention.

本実施例に係る放射線モニタ1は、温度計側部24と、信号線25と、温度測定制御装置26と、データベース27をさらに備える。 The radiation monitor 1 according to this embodiment further includes a thermometer side portion 24 , a signal line 25 , a temperature measurement control device 26 and a database 27 .

温度測定部24は、温度を測定するセンサなどであり、放射線検出部10の近傍に設置される。設置される位置はハウジング12の内部であっても良いし、ハウジング12の外部であっても良い。温度測定部24で測定された温度は、温度計側部24と温度測定制御装置26とを接続する信号線25を通して、温度測定制御装置26に送信される。 The temperature measurement unit 24 is a sensor or the like that measures temperature, and is installed near the radiation detection unit 10 . The installation position may be inside the housing 12 or outside the housing 12 . The temperature measured by the temperature measurement section 24 is transmitted to the temperature measurement control device 26 through the signal line 25 connecting the thermometer side portion 24 and the temperature measurement control device 26 .

データベース27は、温度計側部24で測定した温度の測定値と、測定装置80で測定される熱放射(輻射)による光子1個1個を変換した電気信号の計数率の関係を記録する。 The database 27 records the relationship between the measured temperature measured by the thermometer side 24 and the count rate of the electrical signal obtained by converting each photon due to thermal radiation (radiation) measured by the measuring device 80 .

図6に温度の測定値に対する光子1個1個の計数率の一例を示す。 FIG. 6 shows an example of the photon count rate for each measured temperature value.

放射線モニタ1を放射線測定に使用する前の段階で、加熱部21を用いて放射線検出部10を加熱する。電圧制御装置23は、加熱部21に印加する電圧を変化して加熱部21の温度を変化させ、温度計側部24は放射線検出部10または加熱部21の近傍の温度を測定する。 Before the radiation monitor 1 is used for radiation measurement, the heating unit 21 is used to heat the radiation detection unit 10 . The voltage control device 23 changes the voltage applied to the heating unit 21 to change the temperature of the heating unit 21 , and the thermometer side unit 24 measures the temperature near the radiation detection unit 10 or the heating unit 21 .

温度計側部24が測定する放射線検出部10または加熱部21の近傍の温度の測定値が上昇するに従って、測定装置80で測定される熱放射(輻射)による光子1個1個を変換した電気信号の計数率が増加する。 As the measured value of the temperature in the vicinity of the radiation detection part 10 or the heating part 21 measured by the thermometer side part 24 increases, the electricity generated by converting each photon due to thermal radiation (radiation) measured by the measuring device 80 Signal count rate increases.

データベース27は、温度計側部24で測定された温度の測定値に対する光子1個1個の計数率を記録する。 The database 27 records the photon-by-photon count rate for the temperature measurements taken at the thermometer side 24 .

本実施例に係る放射線モニタは、事前に放射線検出部10近傍の温度測定値に対する光子1個1個の計数率を測定して記録しておくことで、放射線モニタで放射線を測定中に温度を測定し、温度の測定値からデータベースに記録されたデータを用いて熱放射(輻射)による計数率を導出できる。 The radiation monitor according to this embodiment measures and records the counting rate of each photon with respect to the temperature measurement value in the vicinity of the radiation detection unit 10 in advance. The count rate due to thermal radiation (radiation) can be derived using the data recorded in the database from the temperature measurements.

これにより、計数率の測定値から、熱放射による計数率を差分することで、放射線による計数率を導出し、事前に測定した線量率と計数率の比例係数を用いることで線量率に変換し、熱放射により生成された光子の影響を除いた線量率を算出することができる。 As a result, by subtracting the count rate due to thermal radiation from the measured count rate, the count rate due to radiation is derived, and the dose rate measured in advance and the proportional coefficient of the count rate are used to convert to the dose rate. , the dose rate can be calculated excluding the effect of photons generated by thermal radiation.

実施例3は、放射線モニタが、光照射装置、光照射制御装置、光分岐部、光分岐用光学フィルタを備える点が、実施例1とは異なる。なお、その他については実施例1と同様である。したがって、実施例1とは異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。 The third embodiment differs from the first embodiment in that the radiation monitor includes a light irradiation device, a light irradiation control device, a light branching section, and a light branching optical filter. Others are the same as those of the first embodiment. Therefore, the parts different from the first embodiment will be explained, and the explanation of the overlapping parts will be omitted.

図7は、本発明の実施例3に係る放射線モニタの構成図である。 FIG. 7 is a configuration diagram of a radiation monitor according to Example 3 of the present invention.

本実施例に係る放射線モニタ1は、光照射装置50、光照射制御装置51、光分岐部60、光分岐用光学フィルタ61、をさらに備える。 The radiation monitor 1 according to this embodiment further includes a light irradiation device 50 , a light irradiation control device 51 , a light branching section 60 , and a light branching optical filter 61 .

光照射装置50は、放射線モニタ1が正常に機能しているか否かの判定を行う際に用いられる半導体レーザである。なお、光照射装置50としてLED(Light Emitting Diode)を用いてもよい。光照射装置50は、放射線検出素子11の発光波長とは異なる波長の光を発するようになっている。 The light irradiation device 50 is a semiconductor laser used when determining whether the radiation monitor 1 is functioning normally. Note that an LED (Light Emitting Diode) may be used as the light irradiation device 50 . The light irradiation device 50 emits light having a wavelength different from the emission wavelength of the radiation detection element 11 .

光分岐部60は、放射線検出部10からの光を光照射装置50及び光検出部70に向けて分岐させる。 The light splitter 60 splits the light from the radiation detector 10 toward the light irradiation device 50 and the light detector 70 .

光照射制御装置51は、光照射装置50の発光強度、及び、連続発光またはパルス発光の時のパルス長と発光周波数等を制御する装置であり、配線を介して光照射装置50に接続されている。光照射制御装置51は、図示はしないが、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、各種インタフェース等の電子回路を含んで構成されている。そして、ROMに記憶されたプログラムを読み出してRAMに展開し、CPUが各種処理を実行するようになっている。光照射制御装置51が実行する処理については後記する。 The light irradiation control device 51 is a device for controlling the light emission intensity of the light irradiation device 50, and the pulse length and light emission frequency at the time of continuous light emission or pulse light emission, and is connected to the light irradiation device 50 via wiring. there is Although not shown, the light irradiation control device 51 includes electronic circuits such as a CPU (Central Processing Unit), ROM (Read Only Memory), RAM (Random Access Memory), and various interfaces. Then, the program stored in the ROM is read out and developed in the RAM, and the CPU executes various processes. Processing executed by the light irradiation control device 51 will be described later.

放射線検出部10は、光ファイバ及び光ファイバの後段に設置した光分岐部60を通して、光照射装置50及びに光検出部70それぞれ接続される。 The radiation detection unit 10 is connected to the light irradiation device 50 and the light detection unit 70 through an optical fiber and a light branching unit 60 installed downstream of the optical fiber.

次に、本実施例に係る放射線モニタの動作を説明する。 Next, the operation of the radiation monitor according to this embodiment will be described.

光照射装置50を用いて照射する光の波長を、放射線発光素子11に光を照射することによって生成する光の波長と異なる波長に設定する。光照射装置50で発光した光を、光ファイバ及び光分岐部60を介して、放射線発光素子11に照射すると、放射線発光素子11は、照射された光の強度に比例した個数の光子が生成される。この生成された光子と、照射した光が放射線検出部10内で反射及び散乱された光子が合わさって、光ファイバ及び光分岐部60を介して、波長選択部に入射する。 The wavelength of light to be irradiated using the light irradiation device 50 is set to a wavelength different from the wavelength of light generated by irradiating the radiation light emitting element 11 with light. When the radiation light emitting element 11 is irradiated with the light emitted by the light irradiation device 50 through the optical fiber and the light branching unit 60, the radiation light emitting element 11 generates photons in a number proportional to the intensity of the irradiated light. be. The generated photons and the photons reflected and scattered in the radiation detection section 10 from the irradiated light are combined and enter the wavelength selection section via the optical fiber and the light branching section 60 .

波長選択部では、放射線発光素子11で発光した波長の光子のみが、光検出部70に入射される。 In the wavelength selection section, only photons of the wavelength emitted by the radiation light emitting element 11 are incident on the photodetection section 70 .

光検出部70は、検出した光子を電気信号に変換する。 The photodetector 70 converts the detected photons into electrical signals.

測定装置80は、光検出部70から出力された電気信号の計数率を測定する。事前に測定した発光部からの光の強度と計数率の関係を用いて、放射線モニタの動作確認及び校正を行う。 The measuring device 80 measures the count rate of the electrical signal output from the photodetector 70 . Operation check and calibration of the radiation monitor are performed using the relationship between the light intensity from the light emitting unit and the counting rate measured in advance.

放射線モニタ100Gの点検時には、光照射装置50の光強度や、電気パルスの計数率に基づいて、解析・表示装置90が所定の処理を実行するようになっている。すなわち、解析・表示装置90は、光照射装置50が劣化したのか、それとも、他の部品(放射線検出素子11や光ファイバ40等)が劣化したのかを判定し、その判定結果を表示する。これにより、放射線モニタ1の信頼性を従来よりも高めることができる。 During inspection of the radiation monitor 100G, the analyzing/displaying device 90 executes predetermined processing based on the light intensity of the light irradiation device 50 and the counting rate of the electric pulse. That is, the analysis/display device 90 determines whether the light irradiation device 50 has deteriorated or other components (radiation detection element 11, optical fiber 40, etc.) and displays the determination result. Thereby, the reliability of the radiation monitor 1 can be improved more than before.

実施例4は、放射線モニタの計数率の経時変化を校正する点が実施例2と異なる。なお、その他については実施例2と同様である。したがって、実施例2とは異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。 Example 4 differs from Example 2 in that the counting rate of the radiation monitor is calibrated over time. Others are the same as those of the second embodiment. Therefore, the parts different from the second embodiment will be explained, and the explanation of the overlapping parts will be omitted.

図8に加熱部に与える電力に対する光子1個1個の計数率の経時変化の一例を示す。 FIG. 8 shows an example of temporal changes in the counting rate of individual photons with respect to the power supplied to the heating unit.

放射線モニタ1を放射線測定に使用する前に、電圧制御装置23から加熱部21に印加する電圧に対する光子1個1個の計数率のデータベースを作っていても、使用中に加熱部21に与える電力に対する光子1個1個の計数率が変化する可能性がある。 Even if a photon-by-photon count rate database for the voltage applied to the heating unit 21 from the voltage controller 23 is created before the radiation monitor 1 is used for radiation measurement, the power supplied to the heating unit 21 during use The photon-by-photon count rate for a can vary.

そこで本実施例では、例えば放射線モニタ1のメンテナンスをするときに、加熱部21に印加する電圧を変化させたときの光子1個1個の計数率の測定値から、熱放射(輻射)が無いまたは非常に少ない電量の範囲における光子1個1個の計数率を差分することで、加熱部21に印加する電圧を変化させたときの熱放射(輻射)による計数率を導出し、データベース27に保存する。 Therefore, in this embodiment, for example, when performing maintenance of the radiation monitor 1, the measured value of the counting rate of each photon when the voltage applied to the heating unit 21 is changed shows that there is no thermal radiation (radiation). Alternatively, by subtracting the count rate of each photon in the range of very small amount of electricity, the count rate due to thermal radiation (radiation) when changing the voltage applied to the heating unit 21 is derived, and stored in the database 27 save.

これにより、最新のデータベースをもとに、放射線による計数率を導出し、この計数率と、事前に測定した線量率と計数率の比例係数を用いることで線量率に変換することで、経時劣化した場合においても熱放射(輻射)による計数率を精度良く補正できる。 As a result, based on the latest database, the count rate due to radiation is derived, and by using this count rate and the dose rate measured in advance and the proportional coefficient between the count rate and converting it into a dose rate, deterioration over time can be achieved. Even in this case, the count rate due to thermal radiation (radiation) can be accurately corrected.

実施例5は、放射線検出部の計数率から放射線モニタが水中又は気中のいずれにあるかを判定する点が実施例2と異なる。なお、その他については実施例2と同様である。したがって、実施例2とは異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。 The fifth embodiment differs from the second embodiment in that whether the radiation monitor is in water or in the air is determined from the count rate of the radiation detection unit. Others are the same as those of the second embodiment. Therefore, the parts different from the second embodiment will be explained, and the explanation of the overlapping parts will be omitted.

図9に、放射線検出部10が水中または気中にある場合の光子1個1個の計数率の時間変化と加熱部21への電力印加の関係の一例を示す。 FIG. 9 shows an example of the relationship between the time change in the counting rate of each photon and the power application to the heating unit 21 when the radiation detection unit 10 is in water or air.

本実施例では、事前に、放射線検出部10を水中及び気中のそれぞれに設置した場合において、加熱部21に電圧印加開始前、印加開始、印加中、印加停止及び印加停止後の光子1個1個の計数率の変化を測定し、データベース27に保存しておく。 In this embodiment, when the radiation detection unit 10 is installed in advance in water and in the air, one photon before the start of voltage application to the heating unit 21, the start of voltage application, the voltage application during the voltage application, and the voltage after the voltage application is stopped. A single counting rate change is measured and stored in the database 27 .

加熱部21に電力印加前、印加開始、印加中、印加停止及び印加停止後の光子1個1個の計数率の変化を測定した場合、放射線検出部10が水中にある場合は、気中の場合と比較して、放射線検出部10の周囲の熱伝達率が高いため、光子1個1個の計数率の上昇率が遅く、最大計数率も低くなる。また、印加停止後の計数率の下降率も遅くなる。 When the change in the counting rate of each photon before application of power to the heating unit 21, start of application, during application, stop of application, and after stop of application of power is measured, if the radiation detection unit 10 is in water, Since the heat transfer coefficient around the radiation detection unit 10 is higher than in the case, the rate of increase in the counting rate of each photon is slow, and the maximum counting rate is also low. Also, the rate of decrease in the counting rate after stopping the application is slowed down.

この光子1個1個の計数率の上昇率、最大計数率、及び、計数率の下降率の測定データと、事前に測定したデータベースをもとに、放射線検出部10が水中または気中のいずれかの状態にあるかを判定できる。 Based on the measurement data of the increase rate of the count rate of each photon, the maximum count rate, and the decrease rate of the count rate, and the database measured in advance, the radiation detection unit 10 can detect whether the radiation detection unit 10 is in water or in the air. It can be determined whether the state is

実施例6は、加熱部21をレーザー加熱装置とする点が実施例2と異なる。 The sixth embodiment differs from the second embodiment in that the heating unit 21 is a laser heating device.

図10は、本発明の実施例6に係る放射線モニタの構成図である。 FIG. 10 is a configuration diagram of a radiation monitor according to Example 6 of the present invention.

本実施例では、加熱部21としてレーザ加熱装置を用いる。レーザ加熱装置は、放射線検出部10と光ファイバ40で接続される。 In this embodiment, a laser heating device is used as the heating unit 21 . The laser heating device is connected to the radiation detector 10 by an optical fiber 40 .

レーザ加熱装置で生成したレーザ光を、光ファイバ40を通して放射線検出部10に照射する。ここで、照射されるレーザ光が、放射線検出部10と光分岐部70を光学的に接続する光ファイバに入射しない構造とする。放射線検出部10に照射するレーザ光の強度及びレーザ光の照射時間を変化させることで、放射線検出部10の温度を変化させる。温度計側部24は放射線検出部10の近傍の温度を測定する。データベース27は、温度計側部24で測定した温度の測定値と、測定装置80で測定される熱放射(輻射)による光子1個1個を変換した電気信号の計数率の関係を記録することで、事前に熱放射による放射線の計数率を記録しておく。 A laser beam generated by a laser heating device is applied to the radiation detector 10 through the optical fiber 40 . Here, a structure is adopted in which the irradiated laser light does not enter the optical fiber that optically connects the radiation detection section 10 and the optical branching section 70 . The temperature of the radiation detecting section 10 is changed by changing the intensity of the laser light with which the radiation detecting section 10 is irradiated and the irradiation time of the laser light. The thermometer side part 24 measures the temperature in the vicinity of the radiation detection part 10 . The database 27 records the relationship between the measured value of the temperature measured by the thermometer side 24 and the count rate of the electrical signal obtained by converting each photon due to thermal radiation (radiation) measured by the measuring device 80. Then, record the radiation count rate due to thermal radiation in advance.

これにより、計数率の測定値から、熱放射による計数率を差分し、放射線による計数率を導出し、事前に測定した線量率と計数率の比例係数を用いることで線量率に変換し、熱放射により生成された光子の影響を除いた線量率を算出することができる。 As a result, the count rate due to thermal radiation is subtracted from the measured count rate to derive the count rate due to radiation. A dose rate can be calculated that excludes the effects of photons produced by the radiation.

実施例7は、放射線検出部の構造が実施例6と異なる。なお、その他については実施例2と同様である。したがって、実施例2とは異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。 Example 7 differs from Example 6 in the structure of the radiation detection unit. Others are the same as those of the second embodiment. Therefore, the parts different from the second embodiment will be explained, and the explanation of the overlapping parts will be omitted.

図11は本発明の実施例7に係る放射線モニタの構成図、図12は本発明の実施例7に係る放射線検出部の構成図である。 FIG. 11 is a configuration diagram of a radiation monitor according to Embodiment 7 of the present invention, and FIG. 12 is a configuration diagram of a radiation detector according to Embodiment 7 of the present invention.

本実施例では、光ファイバ40に接続していない放射線発光素子11の側面を、熱放射(輻射)率の小さい金属等で覆う。これを内面とする。また、放射線発光素子11の側面を熱放射(輻射)率の小さい金属等の外側から熱放射(輻射)率の大きい物質で覆う。これを外面とする。なお、本実施例では、光ファイバ40と接している放射線発光素子11の面を底面、その他の面を側面と称する。 In this embodiment, the side surface of the radiation emitting element 11 that is not connected to the optical fiber 40 is covered with metal or the like having a low thermal radiation (emissivity) rate. Let this be the inner surface. Moreover, the side surface of the radiation light emitting element 11 is covered with a material having a high thermal radiation (radiation) rate, such as a metal having a low thermal radiation (radiation) rate. Let this be the outer surface. In this embodiment, the surface of the radiation emitting element 11 that is in contact with the optical fiber 40 is called the bottom surface, and the other surfaces are called side surfaces.

放射線発光素子11には、放射線発光素子11が発光して生成する光子を光検出部70に伝送するための光ファイバと、レーザ加熱装置(加熱部21)で放射線発光素子11を加熱するための光ファイバと、温度測定部24で温度を測定するための光ファイバが接続される。 The radiation light emitting element 11 includes an optical fiber for transmitting photons generated by the radiation light emitting element 11 to the light detection unit 70, and a laser heating device (heating unit 21) for heating the radiation light emitting element 11. An optical fiber is connected to the optical fiber for temperature measurement by the temperature measurement unit 24 .

加熱部21であるレーザ加熱装置からのレーザ光を、放射線発光素子11の外面に照射する。このとき、熱放射(輻射)率の大きい物質に照射することで、加熱効率が向上するとともに、熱放射(輻射)率の小さい金属等の内面による光の遮蔽により、外面からの熱放射(輻射)が放射線発光素子11内に入り混まない。また、熱放射(輻射)率の小さい金属等の内面からの熱放射(輻射)は小さいことから、放射線測定における熱放射(輻射)のバックグラウンドを小さく抑えることができる。また、温度測定部24は、放射線測定素子11の外面からの熱放射(輻射)率を温度測定用光ファイバを通して測定する。熱放射(輻射)率の大きい既知の物質からの熱放射(輻射)強度を測定することで、精度良く温度を測定することが可能となる。 The outer surface of the radiation light emitting element 11 is irradiated with laser light from a laser heating device, which is the heating unit 21 . At this time, by irradiating a substance with a high thermal radiation (radiation) rate, the heating efficiency is improved, and the light is shielded by the inner surface of a metal with a low thermal radiation (radiation) rate, so that the thermal radiation (radiation) from the outer surface ) does not enter the radiation emitting element 11 . In addition, since the thermal radiation (radiation) from the inner surface of a metal or the like having a low thermal radiation (radiation) rate is small, the background of thermal radiation (radiation) in radiation measurement can be kept small. Also, the temperature measurement unit 24 measures the thermal radiation (emissivity) rate from the outer surface of the radiation measurement element 11 through the temperature measurement optical fiber. By measuring the thermal radiation (radiation) intensity from a known substance having a high thermal radiation (radiation) rate, it is possible to measure the temperature with high accuracy.

10…放射線検出部、11…放射線発光素子、12…検出器ハウジング、20…加熱装置、21…加熱部、22…電線、23…電圧制御装置、24…温度測定部、25…信号線、26…温度測定制御装置、27…データベース、40…光ファイバ、50…光照射装置、51…発光部制御装置、60…光分岐部、61…光分岐用光学フィルタ、70…光検出部、80…測定装置、90…解析・表示装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10... Radiation detection part 11... Radiation light-emitting element 12... Detector housing 20... Heating device 21... Heating part 22... Electric wire 23... Voltage control device 24... Temperature measurement part 25... Signal line 26 ... Temperature measurement control device 27 ... Database 40 ... Optical fiber 50 ... Light irradiation device 51 ... Light emitting unit control device 60 ... Light branching unit 61 ... Optical filter for light branching 70 ... Light detection unit 80 ... measuring device, 90... analysis/display device

Claims (10)

放射線が入射すると光子を生成して発光する放射線検出素子と、前記放射線検出素子を収容するハウジングとを有する放射線検出部と、
前記放射線検出部で生成された光子1個1個を電気信号に変換する光検出部と、
前記電気信号の計数率に基づいて、放射線の線量率を算出する測定装置と、
前記放射線検出部を加熱する加熱部と、
を備えた放射線モニタであって、
前記測定装置は、前記加熱部に電圧を印加したときに第1の計数率を算出し、前記放射線検出部に放射線が入射したときに第2の計数率を算出し、前記第2の計数率から前記第1の計数率を引いた第3の計数率を放射線の線量率に換算する
ことを特徴とする放射線モニタ。
a radiation detection unit having a radiation detection element that generates photons and emits light when radiation is incident thereon; and a housing that houses the radiation detection element;
a photodetector that converts each photon generated by the radiation detector into an electrical signal;
a measuring device that calculates a dose rate of radiation based on the count rate of the electrical signal;
a heating unit that heats the radiation detection unit ;
A radiation monitor comprising:
The measurement device calculates a first count rate when a voltage is applied to the heating unit, calculates a second count rate when radiation is incident on the radiation detection unit, and calculates the second count rate. A radiation monitor, wherein a third counting rate obtained by subtracting the first counting rate from is converted into a dose rate of radiation.
電圧を印加して前記加熱部の温度を変化させる電圧制御装置と、
前記加熱部に印加する電圧と前記第1の計数率の関係を記録するデータベースとを備える
ことを特徴とする請求項1に記載の放射線モニタ。
a voltage control device that applies a voltage to change the temperature of the heating unit;
The radiation monitor according to claim 1, further comprising a database that records a relationship between the voltage applied to the heating unit and the first counting rate.
前記放射線検出部の温度を測定する温度測定部を備え、
前記温度測定部が測定した温度の測定値と前記第1の計数率の関係を記録するデータベースとを備える
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の放射線モニタ。
A temperature measurement unit that measures the temperature of the radiation detection unit ,
3. The radiation monitor according to claim 1, further comprising a database that records a relationship between the measured temperature measured by the temperature measuring unit and the first counting rate.
前記測定装置は、前記加熱部に印加する電圧を0としたときの第4の計数率を算出し、
前記データベースに記録された前記第1の計数率と前記第4の計数率の差分により、前記データベースに記録された前記加熱部に印加する電圧または前記温度測定部が測定した温度の測定値と前記第1の計数率との関係を校正する
ことを特徴とする請求項3に記載の放射線モニタ。
The measuring device calculates a fourth count rate when the voltage applied to the heating unit is 0,
According to the difference between the first counting rate and the fourth counting rate recorded in the database, the voltage applied to the heating unit recorded in the database or the measured value of the temperature measured by the temperature measuring unit and the 4. The radiation monitor according to claim 3, wherein the relationship with the first count rate is calibrated.
射線発光素子が発光する光の波長と異なる波長の光を、前記放射線発光素子に照射する照射装置と、
前記照射装置に照射された光によって前記放射線発光素子が生成する波長の光を透過する波長選択フィルタを備える
ことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の放射線モニタ。
an irradiation device for irradiating the radiation light emitting element with light having a wavelength different from that of the light emitted by the radiation light emitting element;
5. The radiation monitor according to any one of claims 1 to 4, further comprising a wavelength selection filter that transmits light having a wavelength generated by the radiation light emitting element by the light irradiated to the irradiation device.
前記測定装置は、前記加熱部で加熱する前、加熱開始するとき、加熱中、加熱を停止するとき、加熱停止後の少なくともいずれかの光子1個1個の計数率の変化から、前記放射線検出部が気中にあるか、水中にあるかを判定する
ことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の放射線モニタ。
The measuring device detects the radiation from a change in the counting rate of at least one photon before heating, when heating is started, during heating, when heating is stopped, and after heating is stopped. 6. The radiation monitor according to any one of claims 1 to 5, wherein it is determined whether the part is in air or in water.
前記加熱部は、生成したレーザ光を光ファイバを通して前記放射線検出部に照射することで前記放射線検出部を加熱することを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか一項に放射線モニタ。 7. The radiation monitor according to claim 1, wherein the heating section heats the radiation detection section by irradiating the radiation detection section with the generated laser light through an optical fiber. 前記加熱部は、放射線検出部に照射するレーザ光の強度またはレーザ光の照射時間を変化させることで、前記放射線検出部の温度を変化させることを特徴とする請求項7に放射線モニタ。 8. The radiation monitor according to claim 7, wherein the heating section changes the temperature of the radiation detection section by changing the intensity of the laser light irradiated to the radiation detection section or the irradiation time of the laser light. 射線発光素子は、側面を第1の熱放射率の金属で覆い、第1の熱放射率の金属の外側から第1の熱放射率よりも大きい第2の熱放射率の金属で覆うことを特徴とする請求項7または請求項8に記載の放射線モニタ。 The radiation light-emitting element is covered with a metal having a first thermal emissivity on its side surface and covered with a metal having a second thermal emissivity higher than the first thermal emissivity from the outside of the metal with the first thermal emissivity. 9. The radiation monitor according to claim 7 or 8, characterized by: 放射線発光素子に放射線が入射すると光子を生成して発光するステップと、
前記放射線発光素子で生成された光子1個1個を電気信号に変換するステップと、
前記電気信号の計数率に基づいて、放射線の線量率を算出するステップと、
を備えた放射線の測定方法であって、
前記放射線発光素子が加熱されたときに第1の計数率を算出し、前記放射線発光素子に放射線が入射したときに第2の計数率を算出し、前記第2の計数率から前記第1の計数率を引いた第3の計数率を放射線の線量率に換算する
ことを特徴とする放射線の測定方法。
generating and emitting photons when radiation is incident on the radiation-emitting device;
converting each photon generated by the radiation emitting element into an electrical signal;
calculating a dose rate of radiation based on the count rate of the electrical signal;
A radiation measurement method comprising
A first count rate is calculated when the radiation light emitting element is heated, a second count rate is calculated when the radiation is incident on the radiation light emitting element, and the first count rate is calculated from the second count rate. A method of measuring radiation, characterized by converting a third counting rate obtained by subtracting the counting rate into a dose rate of radiation.
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