JP7188373B2 - データ解析システム及びデータ解析方法 - Google Patents
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Description
2 ユーザ用端末
3 評価者用端末
10 通信部
20 演算装置
21 計測データ取得部
22 データ解析部
23 前処理部
24 特徴量抽出処理部
25 特徴量解析処理部
26 解析結果送信部
27 解析データ格納処理部(格納処理部)
28 学習用データセット取得部
29 学習部
30 記憶装置
100 材料情報取得システム
Claims (8)
- 演算装置と、
前記演算装置に接続される記憶装置と、
前記演算装置に接続されて外部の端末と通信可能な通信部と、
を備えるデータ解析システムであって、
前記演算装置は、
前記通信部を介して受信した、材料を分析した計測データを取得する計測データ取得部と、
学習済みの機械学習モデルを用いて前記計測データを処理し、前記計測データの解析結果を出力するデータ解析部と、
前記計測データと、前記計測データの解析結果と、を含むデータセットを解析結果データセットとして前記記憶装置の解析結果データベースに格納する格納処理部と、
前記通信部を介して受信した、前記解析結果データセットに基づいて外部で行われた前記計測データの解析結果に対する評価結果を含む、学習用データセットを取得する学習用データセット取得部と、
前記学習用データセットに基づいて、前記機械学習モデルを再学習させる学習部と、
を備えるデータ解析システム。 - 前記演算装置は、
前記計測データの解析結果を、前記計測データの送信元となる外部の前記端末に送信する解析結果送信部をさらに備える、
請求項1に記載のデータ解析システム。 - 前記データ解析部は、
前記計測データに基づいて、前記計測データの特徴量を抽出して出力するように予め学習された特徴量抽出処理部と、
前記計測データの特徴量に基づいて、特徴量に応じた前記計測データの解析結果を出力するように予め学習された特徴量解析処理部と、
を備える請求項1又は請求項2に記載のデータ解析システム。 - 前記データ解析部は
前記計測データ取得部によって取得された前記計測データに対して信号雑音比を高めるための処理を施し、前処理済みの計測データを出力するように予め学習された前処理部をさらに備え、
前記前処理済みの計測データを、入力データとして前記特徴量抽出処理部に入力する、
請求項3に記載のデータ解析システム。 - 前記格納処理部は、
前記解析結果データセットとして、前記計測データと、前記特徴量抽出処理部から出力された前記計測データの特徴量と、前記特徴量解析処理部から出力された前記計測データの解析結果と、を前記解析結果データベースに格納し、
前記学習用データセットには、前記特徴量抽出処理部及び前記特徴量解析処理部から出力された各出力データの良し悪しに応じて数値化されて各出力データに付与された評価スコアが、前記計測データの解析結果に対する評価結果として含まれており、
前記学習部は、
前記計測データと、前記特徴量抽出処理部から出力された前記計測データの特徴量と、その特徴量に対して付与された評価スコアと、に基づいて、前記特徴量抽出処理部を再学習させ、
前記計測データと、前記特徴量解析処理部から出力された前記計測データの解析結果と、その解析結果に対して付与された評価スコアと、に基づいて、前記特徴量解析処理部を再学習させる、
請求項3に記載のデータ解析システム。 - 前記格納処理部は、
前記解析結果データセットとして、前記計測データと、前記前処理部から出力された前処理済みの計測データと、前記特徴量抽出処理部から出力された前記計測データの特徴量と、前記特徴量解析処理部から出力された前記計測データの解析結果と、を前記解析結果データベースに格納し、
前記学習用データセットには、前記前処理部、前記特徴量抽出処理部及び前記特徴量解析処理部から出力された各出力データの良し悪しに応じて数値化されて各出力データに付与された評価スコアが、前記計測データの解析結果に対する評価結果として含まれており、
前記学習部は、
前記計測データと、前記前処理部から出力された前記前処理済みの計測データと、その前処理済みの計測データに対して付与された評価スコアと、に基づいて、前記前処理を再学習させ、
前記計測データと、前記特徴量抽出処理部から出力された前記計測データの特徴量と、その特徴量に対して付与された評価スコアと、に基づいて、前記特徴量抽出処理部を再学習させ、
前記計測データと、前記特徴量解析処理部から出力された前記計測データの解析結果と、その解析結果に対して付与された評価スコアと、に基づいて、前記特徴量解析処理部を再学習させる、
請求項4に記載のデータ解析システム。 - 請求項1から請求項6までのいずれか1項に記載のデータ解析システムを備える材料情報取得システムであって、
外部の前記端末として、
前記データ解析システムを利用するユーザが前記計測データを前記データ解析システムに入力すると共に、前記計測データの解析結果を出力データとして受け取るための第1端末と、
前記解析結果データベースから前記解析結果データセットを取得すると共に、取得した前記解析結果データセットに基づいて行われた前記計測データの解析結果に対する評価結果を含む前記学習用データセットを前記データ解析システムに入力するための第2端末と、
を備える材料情報取得システム。 - 演算装置と、前記演算装置に接続される記憶装置と、前記演算装置に接続されて外部の端末と通信可能な通信部と、を備えるデータ解析システムによるデータ解析方法であって、
前記通信部を介して受信した、材料を分析した計測データを取得する計測データ取得工程と、
学習済みの機械学習モデルを用いて前記計測データを処理し、前記計測データの解析結果を出力するデータ解析工程と、
前記計測データと、前記計測データの解析結果と、を含むデータセットを解析結果データセットとして前記記憶装置の解析結果データベースに格納する格納処理工程と、
前記通信部を介して受信した、前記解析結果データセットに基づいて外部で行われた前記計測データの解析結果に対する評価結果を含む、学習用データセットを取得する学習用データセット取得工程と、
前記学習用データセットに基づいて、前記機械学習モデルを再学習させる学習工程と、
を備えるデータ解析方法。
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