JP7186521B2 - 外観検査装置の教師画像生成装置 - Google Patents

外観検査装置の教師画像生成装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7186521B2
JP7186521B2 JP2018112374A JP2018112374A JP7186521B2 JP 7186521 B2 JP7186521 B2 JP 7186521B2 JP 2018112374 A JP2018112374 A JP 2018112374A JP 2018112374 A JP2018112374 A JP 2018112374A JP 7186521 B2 JP7186521 B2 JP 7186521B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
dimensional
axis
dimensional shape
teacher image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018112374A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019215240A (ja
Inventor
耕三 多田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Citizen Watch Co Ltd
Citizen Fine Device Co Ltd
Original Assignee
Citizen Watch Co Ltd
Citizen Fine Device Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Citizen Watch Co Ltd, Citizen Fine Device Co Ltd filed Critical Citizen Watch Co Ltd
Priority to JP2018112374A priority Critical patent/JP7186521B2/ja
Publication of JP2019215240A publication Critical patent/JP2019215240A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7186521B2 publication Critical patent/JP7186521B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Description

本発明は、キズや凹凸やゆがみなどの面欠陥を検査する外観検査装置の教師画像生成方法に関する。
従来、キズや凹凸やゆがみなどの面欠陥を検査する外観検査方法として、検査対象である物体の検査したい面(検査面)をカメラで撮像して取得した平面画像に所定の画像処理を施した検査画像と、検査対象である物体の良品サンプルの欠陥のない面(基準面)をカメラで撮像して取得した平面画像に同じ画像処理を施した基準画像とを比較することで、欠陥の有無とその大きさや位置を推定し、検査対象物の良否を判定する方法がある。このような方法では、検査画像と基準画像とを比較し、輝度やコントラストや色の差が閾値を超えた領域に欠陥がある、と判定することが一般的である。
従来の外観検査方法では、物体の基準画像と検査画像を用意する必要があり、基準画像は、欠陥のない面を撮像したものが1枚あればよいが、検査画像は、検査対象の物体ごとに必要となる。
ところで、撮像画像は、検査対象面と相互作用した光をカメラのセンサーが受け取ることで生成されることから、撮像の結果が、検査面の三次元形状に影響を受けることは明らかである。
前述の検査面の三次元形状は、例えば、切削や旋削のいわゆる挽目や研削の粗さなどの微細な形状から、比較的大きなサイズのゆがみや変形などがある。
検査面にある検出したい欠陥が、人間は簡単に識別できるものであっても、背景にある大域的な三次元形状によっては、画像処理的に精度良く自動で区別することは簡単ではない。特定の欠陥を検出できる画像処理的な方法は、適用できる形状の変動範囲が狭く、また、撮像条件も厳しくなるからである。
具体的な例としては、旋盤部品の旋削面に発生する工具や製品の接触によるキズが、バイトの送りでできる旋削痕と角度をなしている場合には、検出は比較的容易であるが、平行にできている場合には、旋削痕とキズの分離、識別は難しい。平行なキズを検出できるように作れば、キズでない挽目をキズと判定するリスクが高まるという問題が生ずる。
そのような経時的な三次元形状の変動を欠陥と容易に切り分けできるまで抑え込むことは大変難しく、近年、進展が著しいディープラーニングなどの機械学習を応用し、環境変動に強い検査を実現させる取り組みが急速に拡大し、実用化が進んでいる。
機械学習には、教師画像が必要である。発見された欠陥の種類(キズ、凹み、ゆがみなど)やサイズ(大きさ、深さ、位置など)でラベルをつけて分類した画像群と、欠陥がない場合の正常な画像群を収集し、それらを教師画像として機械学習に適用し、分類のネットワークモデルを生成する。
生成されたネットワークモデルに新しい検査画像を与えれば、もっとも近い教師画像のラベルを出力する検査方法、つまり、欠陥の有無検出とラベル分類を実行できる検査方法となる。人間が目視で検査し分類した画像そのものをお手本として分類モデルを作るので、三次元形状の変動に起因する見え方変動に強く、教師画像の品質が適切であれば、生成されたモデルは精度良く作業することがわかっている。
そのように有効な手段であるが、機械学習で作るモデルの精度を確保するためには、大量の教師信号が必要である。一般的には最低でも数百枚~数千枚、場合によっては数万枚~数十万枚の画像が要求される。
欠陥の画像を大量に収集することは容易ではない。そもそも、製造現場は欠陥を作ることを目的としていない。また、収集段階では自動的に欠陥を見つける方法がなく、人間による目視検査での作業となり、見つけた欠陥を撮像し、その画像が肉眼での見え方と同じであるか確認する必要があるため、大変な手間がかかる。
面欠陥検査などの外観検査への機械学習の応用は、有望であることは間違いないが、教師画像の収集に課題がある。
本発明は、以上の問題点に鑑みて成されたものであり、教師画像を容易に生成することが可能な外観検査装置の教師画像生成方法を提供することを目的とする。
コンピュータの仮想空間内に検査対象の物体と視点と光源とを仮想的に配置し、前記物体の三次元形状を表現するデータに基づいて前記物体の表面を三次元モデルとして構築し、当該三次元モデルとして構築された前記物体の表面と前記光源から発せられる光との光学的な応答を計算して前記物体の表面から前記視点に入る光の強さと色を算出し、当該算出されたデータをコンピュータ・グラフィックスにより画像に変換し、当該画像を所定の仮想平面における前記物体の見え方を示す教師画像として出力する、外観検査装置の教師画像生成方法とする。
前記三次元モデルに前記物体の面欠陥の形状を加え、当該面欠陥を含む画像を前記教師画像として出力する、外観検査装置の教師画像生成方法であってもよい。
前記物体の位置又は姿勢を自動的に変化させ、変化毎に前記物体の見え方を前記教師画像として自動的に出力する、外観検査装置の教師画像生成方法であってもよい。
前記教師画像と前記物体の実際の物体をカメラで撮像した画像とを比較し、その結果に基づいて前記教師画像の見え方を調整する、外観検査装置の教師画像生成方法であってもよい。
本発明によれば、外観検査装置の教師画像を容易に生成することができる。
本発明に係る外観検査装置の教師画像生成方法を実施するためのコンピュータの構成を示したものである。 本発明に係る外観検査装置の教師画像生成方法を概念的に示したものである。 教師画像を生成するためのデータを取得するデータ取得装置の具体例を示したものである。 物体位置姿勢制御手段の具体例を示す正面図である。 物体位置姿勢制御手段の具体例を示す側面図である。 物体位置姿勢制御手段の具体例の動作を説明するための側面図である。
図1は、本発明に係る外観検査装置の教師画像生成方法を実施するためのコンピュータの構成を示したものである。図2は、本発明に係る外観検査装置の教師画像生成方法を概念的に示したものである。コンピュータ20は、その内部に検査対象の物体8と視点6と光源7とが仮想的に配置された仮想空間1を形成するように動作するものであり、物体8の三次元形状を表現するデータ2から物体8の表面を三次元モデルとして構築するデータ処理手段3と、その物体8の表面と光源7から発せられる光9との光学的な応答10を計算し、物体8の表面から視点6に入る光11の強さと色を計算し、そのデータをCG(コンピュータ・グラフィックス)により画像に変換し、その画像を所定の仮想平面12における物体8の見え方を示す教師画像5として出力するデータ処理手段4とを備えている。
物体8の三次元形状を表現するデータ2は、三次元形状を表現できる形式であればよく、一般的にはSTL形式であるが、テキストデータでXYZ座標値を表記したファイルでも構わない。また、三次元CADの中間ファイル形式であるSTEP、IGESなども読み込み可能であるようにプログラムされていてもよい。
教師画像5を生成するためのプロセスは、まず、ユーザーが仮想空間1内の適当なXYZ位置に光源7と視点6をそれぞれ配置することから始まり、次に、見え方を知りたい物体8の三次元データ2を座標の指定位置(例えばXYZの原点)に配置し、次に、三次元データ2をデータ処理手段3に与え、物体8の三次元モデルを構築し、その物体8の表面の位置を求め、そのデータをデータ処理手段4に渡す。
データ処理手段4は、データ処理手段3から受け取ったデータに基づき、最初に配置された光源7から物体8の面に届いた光線について、光学的な応答を計算し、応答光として反射光と拡散光の向きと強さと色を計算する。次に、視点6に入る応答光を求め、それが視点6が向く方向に垂直な仮想平面12と交わる点にCGにより所定の光の強さと色を与え、教師画像5として出力する。
教師画像5の出力は、ユーザーがコンピュータ20を操作することにより、その操作毎に行われる、もしくは、コンピュータ20にインストールされている電子的プログラムにより、自動的に行われる。
教師画像5は、物体8の面欠陥(キズ、凹み、ゆがみなど)を含む画像と面欠陥を含まない画像のうち何れか一方、又はその両方である。面欠陥は、実際に発生したことがある欠陥に限らず、発生することが予想される欠陥であってもよい。
教師画像5を、多層構造を有するニューラルネットワーク(ディープラーニング)に与えて学習させることにより、外観検査用のネットワークモデルを生成し、そのネットワークモデルに物体23の検査画像を与えることにより、物体23の外観について良否が自動的に判定される。
図3は、教師画像を生成するためのデータを取得するデータ取得装置の具体例を示したものである。この具体例において、データ取得装置は、物体8の三次元形状データに基づいて作製されている物体23の実際の三次元形状を測定する三次元形状測定機21と、物体23の表面を撮像する二次元カメラ22と、物体23の位置と姿勢を制御する位置姿勢制御手段24と、三次元形状測定機21から出力された物体23の三次元形状測定データ、二次元カメラ22から出力された物体23の撮像データ、ならびに位置姿勢制御手段24から出力された物体23の位置姿勢データを受け取るコンピュータ20とを備えている。
図3における二次元カメラ22と物体23との位置関係は、図2における仮想空間1での視点6と物体8との位置関係と同じである。また、図3における物体23を照らす照明(不図示)と物体23との位置関係は、図2における仮想空間1での光源7と物体8との位置関係と同じである。
物体8の教師画像5は、すべて仮想空間内での計算で得られるが、その見え方品質は現実の物体23の現実の見え方に近くなければならない。図3の具体例では、物体23と照明(不図示)と二次元カメラ22との位置関係を図1における仮想空間1での位置関係と同じにそろえたことにより、物体23の位置姿勢データから生成される教師画像5と二次元カメラ22で撮像した物体23の画像との比較により互いの近似度(差異)を測ることができる。近似度を数値化し、差異が小さくなるように、物体8の表面の反射や拡散や色味などの光学的特性を調整することで、教師画像5を実際の見え方に近づけることができる。
図4は、物体位置姿勢制御手段の具体例を示す正面図である。図5は、物体位置姿勢制御手段の具体例を示す側面図である。図6は、物体位置姿勢制御手段の具体例の動作を説明するための側面図である。図4~6は、互いに同じ具体例を示している。この具体例は、図3に示す物体位置姿勢制御手段24の具体例である。この具体例は、第一駆動リンク31a、第二駆動リンク31b、第三駆動リンク31c、及び第四駆動リンク31dから成る駆動リンク群と、第一従動リンク32a、第二従動リンク32b、第三従動リンク32c、及び第四従動リンク32dから成る従動リンク群と、YZθ軸第一駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)33a、YZθ軸第二駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)33b、YZθ軸第三駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)33c、及びYZθ軸第四駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)33dから成るYZθ軸駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)群と、YZθ軸第一駆動モーター34a(不図示)、YZθ軸第二駆動モーター34b(不図示)、YZθ軸第三駆動モーター34c(不図示)、及びYZθ軸第四駆動モーター34dから成るYZθ軸駆動モーター群と、X軸ボールネジ35と、X軸スライダー36と、X軸駆動モーター37と、ワーク載せ台38と、で構成されるパラレルリンク機構を備えている。
第一駆動リンク31a、第二駆動リンク31b、第三駆動リンク31c、及び第四駆動リンク31dの各上端部は、それぞれ、第一従動リンク32a、第二従動リンク32b、第三従動リンク32c、及び第四従動リンク32dの各下端部に、θ方向へ回転可能に接続されている。
第一従動リンク32a、第二従動リンク32b、第三従動リンク32c、及び第四従動リンク32dの各上端部は、それぞれ、ワーク載せ台38の下部に、θ方向へ回転可能に接続されている。
第一駆動リンク31a、第二駆動リンク31b、第三駆動リンク31c、及び第四駆動リンク31dの各下端部は、それぞれ、YZθ軸第一駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)33a、YZθ軸第二駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)33b、YZθ軸第三駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)33c、及びYZθ軸第四駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)33dに、θ方向へ回転可能に接続されている。
YZθ軸第一駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)33a、YZθ軸第二駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)33b、YZθ軸第三駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)33c、及びYZθ軸第四駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)33dの各一端部は、それぞれ、YZθ軸第一駆動モーター34a(不図示)、YZθ軸第二駆動モーター34b(不図示)、YZθ軸第三駆動モーター34c(不図示)、及びYZθ軸第四駆動モーター34dの各動力軸に、接続されている。
X軸スライダー36は、X軸ボールネジ35に、X方向へ直動可能に保持されている。
X軸ボールネジ35の一端部は、X軸駆動モーター37の動力軸に、接続されている。
以上のパラレルリンク機構において、YZθ軸駆動モーター群の各駆動モーターを選択的に動作させると、その動力により、YZθ軸駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)群の各回転軸がθ方向へ選択的に回転し、その回転により、駆動リンク群の各駆動リンクが各回転軸を中心としてθ方向へ所定の角度で選択的に回転し、その回転に連動して従動リンク群の各従動リンクが所定の姿勢となることで、例えば、図6に示すように、ワーク載せ台38がY方向へ移動すると共にθ方向へ回転する。
また、X軸駆動モーター37を動作させると、その動力により、X軸ボールネジ35が回転し、その回転により、X軸スライダー36がX軸ボールネジ35の延在方向に沿ってX方向へ移動し、その移動による動力が駆動リンク群に直接的又は間接的に伝わることにより、駆動リンク群がYZθ軸駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)群の延在方向に沿ってX方向へ移動し、その移動に伴い、ワーク載せ台38がX方向へ移動する。
ワーク載せ台38に物体23が載置されている場合には、ワーク載せ台38と共に物体23の位置や姿勢を変化させることができる。物体23の位置や姿勢を段階的又は連続的に変化させながら、三次元形状測定機21と二次元カメラ22とコンピュータ20とにより、その位置や姿勢における物体23の三次元形状データと二次元画像と位置姿勢データを互いに関連付けて取得すれば、教師画像5を生成するためのデータを効率良く収集することができる。この一連のプロセスは、位置姿勢制御手段24と三次元形状測定機21と二次元カメラ22とコンピュータ20とが互いに連動することにより、自動的に実行されるように構成されていてもよい。
図4~6に示した具体例は、物体23をXYZ方向とX軸回りに移動させるように構成されているが、物体23をYZ軸回りにも移動させるように構成されていてもよい。
1 仮想空間
2 物体の三次元形状を表現するデータ
3 データ処理手段
4 データ処理手段
5 教師画像
6 視点
7 光源
8 物体
9 光
10 光学的な応答
11 光
12 仮想平面
20 コンピュータ
21 三次元形状測定機
22 二次元カメラ
23 物体
24 物体位置姿勢制御手段
31a 第一駆動リンク
31b 第二駆動リンク
31c 第三駆動リンク
31d 第四駆動リンク
32a 第一従動リンク
32b 第二従動リンク
32c 第三従動リンク
32d 第四従動リンク
33a YZθ軸第一駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)
33b YZθ軸第二駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)
33c YZθ軸第三駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)
33d YZθ軸第四駆動回転軸(兼X軸直動ガイド)
34a YZθ軸第一駆動モーター(不図示)
34b YZθ軸第二駆動モーター(不図示)
34c YZθ軸第三駆動モーター(不図示)
34d YZθ軸第四駆動モーター
35 X軸ボールネジ
36 X軸スライダー
37 X軸駆動モーター
38 ワーク載せ台

Claims (1)

  1. 仮想空間内に検査対象の物体と視点と光源とを仮想的に配置し、前記物体の三次元形状を表現する三次元形状データに基づいて前記物体の表面を三次元モデルとして構築し、当該三次元モデルとして構築された前記物体の表面と前記光源から発せられる光との光学的な応答を計算して前記物体の表面から前記視点に入る光の強さと色を算出し、当該算出されたデータをコンピュータ・グラフィックスにより画像に変換し、当該画像を所定の仮想平面における前記物体の見え方を示す教師画像として出力することができるように構成されたコンピュータと、
    前記物体の実際の物体の三次元形状を測定して前記三次元形状データとして前記コンピュータへ出力する三次元形状測定機と、
    前記物体の実際の物体の表面を撮像して二次元画像として前記コンピュータへ出力する二次元カメラと、
    前記三次元形状測定機が前記三次元形状データを取得する際、及び前記二次元カメラが前記二次元画像を取得する際に、前記物体の実際の物体の位置と姿勢を制御する位置姿勢制御手段と、を備え、
    前記コンピュータは、前記教師画像と前記二次元画像とを比較し、当該比較の結果に基づいて前記教師画像の見え方を前記物体の実際の物体の見え方に近づくように調整する、
    ことを特徴とする外観検査装置の教師画像生成装置。
JP2018112374A 2018-06-12 2018-06-12 外観検査装置の教師画像生成装置 Active JP7186521B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018112374A JP7186521B2 (ja) 2018-06-12 2018-06-12 外観検査装置の教師画像生成装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018112374A JP7186521B2 (ja) 2018-06-12 2018-06-12 外観検査装置の教師画像生成装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019215240A JP2019215240A (ja) 2019-12-19
JP7186521B2 true JP7186521B2 (ja) 2022-12-09

Family

ID=68919058

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018112374A Active JP7186521B2 (ja) 2018-06-12 2018-06-12 外観検査装置の教師画像生成装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7186521B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021140459A (ja) * 2020-03-05 2021-09-16 トヨタ自動車株式会社 画像処理システム
JP2022189274A (ja) * 2021-06-11 2022-12-22 日立Astemo株式会社 外観検査装置、外観検査方法、画像生成装置および画像生成方法
WO2023228712A1 (ja) * 2022-05-23 2023-11-30 ソニーグループ株式会社 情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011214903A (ja) 2010-03-31 2011-10-27 Denso It Laboratory Inc 外観検査装置、外観検査用識別器の生成装置及び外観検査用識別器生成方法ならびに外観検査用識別器生成用コンピュータプログラム
JP2013029350A (ja) 2011-07-27 2013-02-07 Hitachi Ltd 外観検査方法及びその装置
JP2017120672A (ja) 2017-04-07 2017-07-06 キヤノン株式会社 画像処理装置および画像処理方法
US20170200265A1 (en) 2016-01-11 2017-07-13 Kla-Tencor Corporation Generating simulated output for a specimen
JP6330092B1 (ja) 2017-08-02 2018-05-23 株式会社ディジタルメディアプロフェッショナル 機械学習用教師データ生成装置及び生成方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011214903A (ja) 2010-03-31 2011-10-27 Denso It Laboratory Inc 外観検査装置、外観検査用識別器の生成装置及び外観検査用識別器生成方法ならびに外観検査用識別器生成用コンピュータプログラム
JP2013029350A (ja) 2011-07-27 2013-02-07 Hitachi Ltd 外観検査方法及びその装置
US20170200265A1 (en) 2016-01-11 2017-07-13 Kla-Tencor Corporation Generating simulated output for a specimen
JP2017120672A (ja) 2017-04-07 2017-07-06 キヤノン株式会社 画像処理装置および画像処理方法
JP6330092B1 (ja) 2017-08-02 2018-05-23 株式会社ディジタルメディアプロフェッショナル 機械学習用教師データ生成装置及び生成方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2019215240A (ja) 2019-12-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104063873B (zh) 一种基于压缩感知的轴套类零件表面缺陷在线检测方法
CN111929309B (zh) 一种基于机器视觉的铸造件外观缺陷检测方法及系统
JP7186521B2 (ja) 外観検査装置の教師画像生成装置
JP7422689B2 (ja) 投影角度の動的選択による物品検査
KR101910484B1 (ko) 3차원(3d) 비전 검사를 위한 방법
CN114041168A (zh) 自动化360度密集点对象检验
CA2554639C (en) Method and system for inspecting surfaces
Lahajnar et al. Machine vision system for inspecting electric plates
JP4862765B2 (ja) 表面検査装置及び表面検査方法
US7905031B1 (en) Process for measuring a part
CN107037130B (zh) 单目视觉三维超声无损检测系统及检测方法
US20170003113A1 (en) Coordinate measuring machine having a camera
EP4202424A1 (en) Method and system for inspection of welds
JP2724300B2 (ja) 特に悪環境における表面の非破壊検査方法
CN208042989U (zh) 一种大尺寸薄板金属工件几何质量自动检测装置
EP3144632B1 (en) Coordinate measuring machine having a camera
Telišková et al. Non-destructive diagnostics of hard-to-reach places by spatial digitization
CN109632815A (zh) 表面缺陷在线检测系统及方法
Yang et al. Inspection of wood surface waviness defects using the light sectioning method
Shao et al. High-Speed and Accurate Method for the Gear Surface Integrity Detection Based on Visual Imaging
JP7440975B2 (ja) 撮像装置と識別方法
Szeto et al. Nondestructive Test Using a 3D Computer Vision System for Damage Detection of Structures
JP2012002605A (ja) 溶接表面の欠陥検査方法
Liu et al. A Novel Apple Size and Surface Quality Detection and Grading System
CN118115372A (zh) 一种工件缺陷检测系统及方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20180613

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210302

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20211130

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211206

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220613

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220808

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20221114

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20221129

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7186521

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150