JP7177623B2 - A method for producing a resin molded article, a resin molded article, and its use. - Google Patents

A method for producing a resin molded article, a resin molded article, and its use. Download PDF

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Description

本発明は樹脂モールド成形品の製造方法に関し、より具体的には、プロセス用離型フィルムフィルムを用いた圧縮成形による、樹脂封止半導体素子等の樹脂モールド成形品の製造方法、に関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method for producing a resin-molded article, and more specifically to a method for producing a resin-molded article such as a resin-encapsulated semiconductor element by compression molding using a process release film.

半導体素子等の製造方法において、半導体チップ等を樹脂モールドする方法としては、半導体チップ等を、金型内の所定の場所に位置するように配置し、金型内に硬化性樹脂を充填して硬化させる、トランスファ成形法または圧縮成形法による方法が知られている(例えば、特許文献1参照)。
近年、大容量のNAND型フラッシュメモリが増えてきている。この種の素子はメモリチップを多段に積層するため、全体の厚みが大きい。したがって、これを製造するための金型のキャビティも深くなってきている。圧縮成形法にて離型フィルムを用いる場合、金型の表面に配置された離型フィルムは一度伸ばされ、その後に縮められるため、離型フィルムにシワが発生する問題がある。シワの問題は、金型のキャビティが深くなるにつれて顕著になり、場合によっては、シワになった離型フィルムが硬化性樹脂に食い込み離型しない、という現象が発生する。すなわち、大容量のNAND型フラッシュメモリ等の厚みの大きい素子の製造プロセスにおいては、シワによる剥離不良や外観不良の問題が一層深刻であり、その解決が強く求められていた。
半導体チップ等を樹脂モールドする際の剥離不良や外観不良を防止するための対策としては、金型設計を改良することが提案されている(例えば、特許文献2参照)。しかしながら、この対策は金型の構造を複雑化し、また金型設計上の自由度を制限するため、適用可能なプロセス、材料には限界があった。
また、伸縮時のシワの防止については、特定の物性を有するエチレン-テトラフルオロエチレン共重合体フィルムをプロセス用離型フィルムとして使用することが提案されている(例えば、特許文献3参照)。しかし、剥離不良の防止の点で、更なる改良の余地があった。
また、半導体チップ以外の物品を圧縮成形法により樹脂モールドする場合においても、厚みの大きい物品をモールドするとき等に同様の課題があり、有効な剥離不良対策が求められていた。
In the method of manufacturing a semiconductor element, etc., a method of resin-molding a semiconductor chip or the like involves placing the semiconductor chip or the like in a predetermined position in a mold and filling the mold with a curable resin. A method of curing by transfer molding or compression molding is known (see, for example, Patent Document 1).
In recent years, large-capacity NAND flash memories are increasing. This type of element has a large overall thickness because memory chips are stacked in multiple stages. Therefore, the cavities of the molds for manufacturing them are also getting deeper. When the release film is used in the compression molding method, the release film placed on the surface of the mold is stretched once and then contracted. The problem of wrinkles becomes more pronounced as the cavity of the mold becomes deeper, and in some cases, a phenomenon occurs in which the wrinkled release film bites into the curable resin and does not release from the mold. That is, in the process of manufacturing thick devices such as large-capacity NAND-type flash memories, peeling defects and poor appearance due to wrinkles are more serious problems, and solutions to these problems have been strongly desired.
As a countermeasure for preventing delamination defects and appearance defects when resin-molding a semiconductor chip or the like, it has been proposed to improve the mold design (see, for example, Patent Document 2). However, this countermeasure complicates the structure of the mold and limits the degree of freedom in mold design, so there are limits to applicable processes and materials.
In addition, with regard to prevention of wrinkles during expansion and contraction, it has been proposed to use an ethylene-tetrafluoroethylene copolymer film having specific physical properties as a process release film (see, for example, Patent Document 3). However, there is still room for further improvement in terms of preventing poor peeling.
Also, in the case of resin-molding articles other than semiconductor chips by compression molding, the same problem occurs when molding articles with a large thickness, and effective countermeasures against delamination failure have been desired.

特開2004-74461号公報JP-A-2004-74461 特開2005-225133号公報JP-A-2005-225133 国際公開第2018/008562 A1号パンフレットInternational Publication No. 2018/008562 A1 Pamphlet

本発明は、上記の従来技術の限界に鑑み、圧縮成形法により半導体チップ等の物品を樹脂モールドして樹脂モールド成形品を製造する方法であって、樹脂モールド後の成形品を、金型構造や離型剤等に依存することなく容易に離型でき、かつシワや樹脂欠け等の外観不良のない成形品を得ることができる、樹脂モールド成形品の製造方法を提供することを課題とする。 In view of the limitations of the prior art described above, the present invention provides a method for manufacturing a resin-molded product by resin-molding an article such as a semiconductor chip by compression molding. To provide a method for producing a resin-molded product, which can be easily released without depending on a mold release agent or the like, and can obtain a molded product without appearance defects such as wrinkles and resin chipping. .

本発明者は、鋭意検討の結果、下型に設けられたキャビティ凹部の内面がプロセス用離型フィルムにより被覆され、キャビティ凹部にモールド用の樹脂が供給された状態で、上型と下型とで被成形品をクランプして圧縮成形する樹脂モールド成形品の製造方法、又は上型に設けられたキャビティ凹部の内面がプロセス用離型フィルムにより被覆され、下型にモールド用の樹脂と被成形品が供給された状態で、上型と下型とで被成形品をクランプして圧縮成形する樹脂モールド成形品の製造方法において、特定の物性を有するプロセス用離型フィルムを用いることで、剥離不良や外観不良を効果的に抑制できることを見出し、本発明を完成するに至った。
すなわち本発明の第1態様は、
[1]
下型に設けられたキャビティ凹部の内面がプロセス用離型フィルムにより被覆され、前記キャビティ凹部にモールド用の樹脂が供給された状態で、上型と前記下型とで被成形品をクランプして圧縮成形する樹脂モールド成形品の製造方法であって、
金型に前記プロセス用離型フィルムと前記モールド用の樹脂と前記被成形品とをセットし、前記プロセス用離型フィルムを前記下型側からエア吸引して前記キャビティ凹部の内面にならってエア吸着する工程、
任意選択で、前記上型と前記下型とを当接させて外部とエアシールしたキャビティを形成した状態で、前記キャビティに連通して設けた流路を介してエア吸引機構により前記キャビティから真空排気する工程、及び
前記上型と前記下型とを圧縮成形位置まで型締めし、前記モールド用の樹脂を硬化させて前記被成形品を圧縮成形する工程、をこの順で有し、
前記プロセス用離型フィルムの少なくとも一方向における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長させたときの引張強度が1.0MPaから10.0MPaであり、
かつ前記プロセス用離型フィルムを同条件で少なくとも一方向に37.5%伸長後に、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、下記式(1)式にしたがって得られる復元率(%)が、30~80(%)である、上記樹脂モールド成形品の製造方法、である。
戻り値/伸長長さ×100=復元率% ・・・(1)。
As a result of intensive studies, the present inventors have found that the inner surface of the cavity recess provided in the lower mold is covered with a mold release film for processing, and the cavity recess is supplied with a resin for molding, and the upper mold and the lower mold A method of manufacturing a resin-molded product in which the product is clamped and compression-molded, or the inner surface of the cavity recess provided in the upper mold is covered with a release film for processing, and the resin for molding and the product to be molded in the lower mold In the method of manufacturing a resin molded product in which the product is clamped between the upper mold and the lower mold while the product is being supplied and compression molding is performed, by using a release film for processing that has specific physical properties, peeling can be achieved. The inventors have found that defects and appearance defects can be effectively suppressed, and have completed the present invention.
That is, the first aspect of the present invention is
[1]
In a state in which the inner surface of the cavity recess provided in the lower mold is covered with a process release film and the mold resin is supplied to the cavity recess, the article to be molded is clamped between the upper mold and the lower mold. A method for manufacturing a resin molded product by compression molding,
The release film for process, the resin for molding, and the article to be molded are set in a mold, and the release film for process is sucked from the lower mold side to follow the inner surface of the cavity recess. the step of adsorbing;
Optionally, in a state in which the upper mold and the lower mold are brought into contact with each other to form a cavity air-sealed with the outside, the cavity is evacuated by an air suction mechanism through a flow path provided in communication with the cavity. and a step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the molding resin, and compression molding the molded product in this order,
The tensile strength in at least one direction of the process release film is 1.0 MPa to 10.0 MPa when stretched 37.5% at 100 mm / min at a temperature of 175 ° C.,
And the process release film was stretched by 37.5% in at least one direction under the same conditions, then rested for 2 minutes, and then returned to the origin direction at 100 mm / min in the compression direction. The method for producing the resin molded product, wherein the recovery rate (%) obtained from a certain return value according to the following formula (1) is 30 to 80 (%).
Return value/extension length×100=restoration rate % (1).

また、本発明の第2態様は、上記第1態様における上型と下型の役割をほぼ入れ替えたものであり、より具体的には、
[2]
上型に設けられたキャビティ凹部の内面がプロセス用離型フィルムにより被覆され、下型にモールド用の樹脂と被成形品が供給された状態で、前記上型と前記下型とで前記被成形品をクランプして圧縮成形する樹脂モールド成形品の製造方法であって、
金型に前記プロセス用離型フィルムと前記モールド用の樹脂と前記被成形品とをセットし、前記プロセス用離型フィルムを前記上型側からエア吸引して前記キャビティ凹部の内面にならってエア吸着する工程、
任意選択で、前記上型と前記下型とを当接させて、外部とエアシールしたキャビティを形成した状態で、前記キャビティに連通して設けた流路を介してエア吸引機構により前記キャビティから真空排気する工程、及び
前記上型と前記下型とを圧縮成形位置まで型締めし、前記モールド用の樹脂を硬化させて前記被成形品を圧縮成形する工程、をこの順で有し、
前記プロセス用離型フィルムの少なくとも一方向における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長させたときの引張強度が1.0MPaから10.0MPaであり、
かつ前記プロセス用離型フィルムを同条件で少なくとも一方向に37.5%伸長後に、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、上記式(1)式にしたがって得られる復元率(%)が、30~80(%)である、上記樹脂モールド成形品の製造方法、である。
In addition, the second aspect of the present invention is such that the roles of the upper mold and the lower mold in the first aspect are almost interchanged, and more specifically,
[2]
In a state in which the inner surface of the cavity recess provided in the upper mold is covered with a process release film, and the resin for molding and the article to be molded are supplied to the lower mold, the upper mold and the lower mold are used to perform the molding. A method for manufacturing a resin molded product by clamping and compression molding the product,
The release film for process, the resin for the mold, and the article to be molded are set in a mold, and the release film for process is sucked from the upper mold side to follow the inner surface of the cavity recess. the step of adsorbing;
Optionally, in a state in which the upper mold and the lower mold are brought into contact with each other to form a cavity air-sealed with the outside, a vacuum is drawn from the cavity by an air suction mechanism through a flow path provided communicating with the cavity. a step of evacuating, and a step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the molding resin, and compression molding the molded product in this order,
The tensile strength in at least one direction of the process release film is 1.0 MPa to 10.0 MPa when stretched 37.5% at 100 mm / min at a temperature of 175 ° C.,
And the process release film was stretched by 37.5% in at least one direction under the same conditions, then rested for 2 minutes, and then returned to the origin direction at 100 mm / min in the compression direction. The method for producing the resin-molded product, wherein the recovery rate (%) obtained from a certain return value according to the above formula (1) is 30 to 80 (%).

更に、下記[3]から[12]は、いずれも本発明の好ましい一態様又は一実施形態である。
[3]
前記プロセス用離型フィルムに、前記金型外で前記モールド用の樹脂を供給し、前記プロセス用離型フィルムとともに前記モールド用の樹脂を前記金型内に搬入して樹脂モールドすることを特徴とする[1]又は[2]記載の樹脂モールド成形品の製造方法。
[4]
前記被成形品が、半導体チップを含む、[1]から[3]のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法。
[5]
前期被成形品が、複数個の半導体チップが搭載された基板、半導体ウエハあるいはリードフレームである、[1]から[3]のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法。
[6]
前記上型と前記下型とを圧縮成形位置まで型締めし、前記モールド用の樹脂を硬化させて前記被成形品を圧縮成形する工程の前後の前記キャビティ深さの差が、1.0mm以上である、[1]から[5]のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法。
[7]
前記上型と前記下型とを圧縮成形位置まで型締めし、前記モールド用の樹脂を硬化させて前記被成形品を圧縮成形する工程の後の前記キャビティ深さが、0.5mm以上である、[1]から[6]のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法。
[8]
前記上型と前記下型とを圧縮成形位置まで型締めし、前記モールド用の樹脂を硬化させて前記被成形品を圧縮成形する工程における最高温度が、110から190℃である、[1]から[7]のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法。
[9]
前記モールド用の樹脂が、エポキシ系樹脂、ポリイミド系樹脂、及びシリコーン系樹脂 からなる群より選ばれる少なくとも一種の樹脂を含有する、[1]から[8]のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法。
[10]
前記プロセス用離型フィルムの少なくとも1の表面の水に対する接触角が、90°から130°である、[1]から[9]のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法
[11]
[1]から[10]のいずれか一項に記載の製造方法により製造された、樹脂封止半導体素子。
[12]
[11]に記載の樹脂封止半導体を有する、電気電子機器、又は輸送機械。
Furthermore, the following [3] to [12] are all preferable aspects or embodiments of the present invention.
[3]
The molding resin is supplied to the process release film outside the mold, and the molding resin is carried into the mold together with the process release film to perform resin molding. The method for producing a resin molded product according to [1] or [2].
[4]
The method for producing a resin-molded article according to any one of [1] to [3], wherein the article to be molded includes a semiconductor chip.
[5]
The method for producing a resin-molded article according to any one of [1] to [3], wherein the article to be molded is a substrate on which a plurality of semiconductor chips are mounted, a semiconductor wafer, or a lead frame.
[6]
The difference in the depth of the cavity before and after the step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the molding resin, and compression molding the molded product is 1.0 mm or more. The method for producing a resin molded product according to any one of [1] to [5].
[7]
The cavity depth after the step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the molding resin, and compression molding the molded product is 0.5 mm or more. , The method for producing a resin molded product according to any one of [1] to [6].
[8]
The maximum temperature in the step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the molding resin, and compression molding the molded product is 110 to 190° C. [1] The method for producing a resin molded product according to any one of [7].
[9]
The resin according to any one of [1] to [8], wherein the molding resin contains at least one resin selected from the group consisting of epoxy resins, polyimide resins, and silicone resins. A method of manufacturing a molded product.
[10]
The method for producing a resin molded product according to any one of [1] to [9], wherein the contact angle of water on at least one surface of the process release film is from 90 ° to 130 °. 11]
A resin-encapsulated semiconductor device manufactured by the manufacturing method according to any one of [1] to [10].
[12]
An electric/electronic device or transport machine, comprising the resin-encapsulated semiconductor according to [11].

なお、上記課題は、上記[1]又は[2]に記載の製造方法において、プロセス用離型フィルムが、離型層Aと、耐熱樹脂層Bとを少なくとも含み、該耐熱樹脂層Bの、温度175℃で、100mm/分で少なくとも一方向に37.5%伸長後に、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、下記式(1)式にしたがって得られる復元率(%)が30~80(%)である方法によっても解決される。
戻り値/伸長長さ×100=復元率% ・・・(1)
より具体的には、下記[13]又は[14]の製造方法によっても解決される。
[13]
下型に設けられたキャビティ凹部の内面がプロセス用離型フィルムにより被覆され、前記キャビティ凹部にモールド用の樹脂が供給された状態で、上型と前記下型とで被成形品をクランプして圧縮成形する樹脂モールド成形品の製造方法であって、
金型に前記プロセス用離型フィルムと前記モールド用の樹脂と前記被成形品とをセットし、前記プロセス用離型フィルムを前記下型側からエア吸引して前記キャビティ凹部の内面にならってエア吸着する工程、
任意選択で、前記上型と前記下型とを当接させて外部とエアシールしたキャビティを形成した状態で、前記キャビティに連通して設けた流路を介してエア吸引機構により前記キャビティから真空排気する工程、及び
前記上型と前記下型とを圧縮成形位置まで型締めし、前記モールド用の樹脂を硬化させて前記被成形品を圧縮成形する工程、をこの順で有し、
前記プロセス用離型フィルムが、離型層Aと、耐熱樹脂層Bとを少なくとも含み、該耐熱樹脂層Bの、温度175℃で、100mm/分で少なくとも一方向に37.5%伸長後に、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、下記式(1)式にしたがって得られる復元率(%)が30~80(%)である、上記樹脂モールド成形品の製造方法
戻り値/伸長長さ×100=復元率% ・・・(1)。
[14]
上型に設けられたキャビティ凹部の内面がプロセス用離型フィルムにより被覆され、下型にモールド用の樹脂と被成形品が供給された状態で、前記上型と前記下型とで前記被成形品をクランプして圧縮成形する樹脂モールド成形品の製造方法であって、
金型に前記プロセス用離型フィルムと前記モールド用の樹脂と前記被成形品とをセットし、前記プロセス用離型フィルムを前記上型側からエア吸引して前記キャビティ凹部の内面にならってエア吸着する工程、
任意選択で、前記上型と前記下型とを当接させて、外部とエアシールしたキャビティを形成した状態で、前記キャビティに連通して設けた流路を介してエア吸引機構により前記キャビティから真空排気する工程、及び
前記上型と前記下型とを圧縮成形位置まで型締めし、前記モールド用の樹脂を硬化させて前記被成形品を圧縮成形する工程、をこの順で有し、
前記プロセス用離型フィルムが、離型層Aと、耐熱樹脂層Bとを少なくとも含み、該耐熱樹脂層Bの、温度175℃で、100mm/分で少なくとも一方向に37.5%伸長後に、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、下記式(1)式にしたがって得られる復元率(%)が30~80(%)である、上記樹脂モールド成形品の製造方法
戻り値/伸長長さ×100=復元率% ・・・(1)。
なお、上記[13]又は[14]の製造方法の好ましい諸態様及び諸実施形態として、[13]又は[14]に記載の製造方法に、上記[1]から[12]記載の技術的事項の少なくとも一部を適宜付加したもの、を挙げることができる。
In addition, the above-mentioned problem is solved by the manufacturing method described in [1] or [2] above, wherein the release film for process includes at least a release layer A and a heat-resistant resin layer B, and the heat-resistant resin layer B At a temperature of 175 ° C., after stretching 37.5% in at least one direction at 100 mm / min, after resting for 2 minutes, when returning to the origin direction at 100 mm / min in the compression direction, the return is the displacement until the load becomes 0. From the values, it can also be solved by a method in which the recovery rate (%) obtained according to the following formula (1) is 30 to 80 (%).
Return value/extension length x 100 = recovery rate % (1)
More specifically, the problem can also be solved by the manufacturing method of [13] or [14] below.
[13]
In a state in which the inner surface of the cavity recess provided in the lower mold is covered with a process release film and the mold resin is supplied to the cavity recess, the article to be molded is clamped between the upper mold and the lower mold. A method for manufacturing a resin molded product by compression molding,
The release film for process, the resin for molding, and the article to be molded are set in a mold, and the release film for process is sucked from the lower mold side to follow the inner surface of the cavity recess. the step of adsorbing;
Optionally, in a state in which the upper mold and the lower mold are brought into contact with each other to form a cavity air-sealed with the outside, the cavity is evacuated by an air suction mechanism through a flow path provided in communication with the cavity. and a step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the molding resin, and compression molding the molded product in this order,
The process release film includes at least a release layer A and a heat-resistant resin layer B, and after elongation of the heat-resistant resin layer B by 37.5% in at least one direction at a temperature of 175 ° C. and 100 mm / min, After resting for 2 minutes, when returning to the origin direction at 100 mm / min in the compression direction, the return value, which is the displacement until the load becomes 0, is obtained according to the following formula (1). The recovery rate (%) is 30. Method for manufacturing the above resin molded product, which is ~80 (%) Return value/elongation length×100=restoration rate % (1).
[14]
In a state in which the inner surface of the cavity recess provided in the upper mold is covered with a process release film, and the resin for molding and the article to be molded are supplied to the lower mold, the upper mold and the lower mold are used to perform the molding. A method for manufacturing a resin molded product by clamping and compression molding the product,
The release film for process, the resin for the mold, and the article to be molded are set in a mold, and the release film for process is sucked from the upper mold side to follow the inner surface of the cavity recess. the step of adsorbing;
Optionally, in a state in which the upper mold and the lower mold are brought into contact with each other to form a cavity air-sealed with the outside, a vacuum is drawn from the cavity by an air suction mechanism through a flow path provided communicating with the cavity. a step of evacuating, and a step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the molding resin, and compression molding the molded product in this order,
The process release film includes at least a release layer A and a heat-resistant resin layer B, and after elongation of the heat-resistant resin layer B by 37.5% in at least one direction at a temperature of 175 ° C. and 100 mm / min, After resting for 2 minutes, when returning to the origin direction at 100 mm / min in the compression direction, the return value, which is the displacement until the load becomes 0, is obtained according to the following formula (1). The recovery rate (%) is 30. Method for manufacturing the above resin molded product, which is ~80 (%) Return value/elongation length×100=restoration rate % (1).
In addition, as preferred aspects and embodiments of the production method of [13] or [14] above, the production method of [13] or [14] is added to the technical matters of [1] to [12] above. Appropriately added at least part of the can be mentioned.

本発明の樹脂モールド成形品の製造方法によれば、樹脂封止半導体素子等の樹脂モールド成形品を、金型構造や離型剤等に依存することなく容易に離型でき、かつシワや樹脂欠け等の外観不良のない成形品を得ることができる、という実用上高い価値を有する顕著な技術的効果が実現される。 According to the method for producing a resin-molded article of the present invention, a resin-molded article such as a resin-encapsulated semiconductor element can be easily released from the mold without depending on the mold structure, release agent, etc. It is possible to obtain a molded article free from appearance defects such as chipping, which is a remarkable technical effect of high practical value.

本発明の樹脂モールド成形品の製造方法を用いた、半導体チップの樹脂封止プロセスの一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the resin sealing process of a semiconductor chip using the manufacturing method of the resin mold molding of this invention. 本発明の実施例/比較例における、成形後の剥離状態等の試験方法を示す模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram showing a test method for the peeling state after molding, etc., in Examples/Comparative Examples of the present invention. 本発明の樹脂モールド成形品の製造方法の、好ましい一実施形態を示す模式図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic diagram which shows preferable one Embodiment of the manufacturing method of the resin mold molding of this invention. 本発明の実施例/比較例における、フィルム引張試験、及びフィルム伸びの戻り値評価の試験方法を示す模式図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic diagram which shows the test method of the return value evaluation of the film tensile test and film elongation in the Example/comparative example of this invention. 本発明の実施例/比較例における、フィルム引張試験、及びフィルム伸びの戻り値評価の模式図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic diagram of a film tensile test and film elongation return value evaluation in Examples/Comparative Examples of the present invention.

本発明の第1態様は、下型に設けられたキャビティ凹部の内面がプロセス用離型フィルムにより被覆され、キャビティ凹部にモールド用の樹脂が供給された状態で、上型と下型とで被成形品をクランプして圧縮成形する樹脂モールド成形品の製造方法であって、
金型に前記プロセス用離型フィルムとモールド用の樹脂と被成形品とをセットし、前記プロセス用離型フィルムを下型側からエア吸引してキャビティ凹部の内面にならってエア吸着する工程、
任意選択で、上型と下型とを当接させて外部とエアシールしたキャビティを形成した状態で、前記キャビティに連通して設けた流路を介してエア吸引機構によりキャビティから真空排気する工程、及び
前記上型と下型とを圧縮成形位置まで型締めし、樹脂を硬化させて被成形品を圧縮成形する工程、をこの順で有し、
前記プロセス用離型フィルムの少なくとも一方向における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長させたときの引張強度が1.0MPaから10.0MPaであり、
かつ前記プロセス用離型フィルムを同条件で少なくとも一方向に37.5%伸長後に、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、下記式(1)式にしたがって得られる復元率(%)が、30~80(%)である、上記樹脂モールド成形品の製造方法、である。
戻り値/伸長長さ×100=復元率% ・・・(1)
In a first aspect of the present invention, the inner surface of a cavity recess provided in a lower mold is covered with a process release film, and the cavity recess is covered with an upper mold and a lower mold in a state in which a molding resin is supplied to the cavity recess. A method for manufacturing a resin molded product by clamping and compression molding a molded product,
A step of setting the release film for process, the resin for molding, and the article to be molded in a mold, and sucking the release film for process from the lower mold side to follow the inner surface of the cavity recess,
Optionally, in a state in which the upper mold and the lower mold are brought into contact with each other to form a cavity air-sealed with the outside, a step of evacuating the cavity from the cavity by an air suction mechanism through a flow path provided in communication with the cavity; and a step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the resin, and compression molding the molded product in this order,
The tensile strength in at least one direction of the process release film is 1.0 MPa to 10.0 MPa when stretched 37.5% at 100 mm / min at a temperature of 175 ° C.,
And the process release film was stretched by 37.5% in at least one direction under the same conditions, then rested for 2 minutes, and then returned to the origin direction at 100 mm / min in the compression direction. The method for producing the resin molded product, wherein the recovery rate (%) obtained from a certain return value according to the following formula (1) is 30 to 80 (%).
Return value/extension length x 100 = recovery rate % (1)

また、本発明の第2態様は、上記第1態様における上型と下型の役割をほぼ入れ替えたものであり、より具体的には、上型に設けられたキャビティ凹部の内面がプロセス用離型フィルムにより被覆され、下型にモールド用の樹脂と被成形品が供給された状態で、上型と下型とで被成形品をクランプして圧縮成形する樹脂モールド成形品の製造方法であって、
金型にプロセス用離型フィルムとモールド用の樹脂と被成形品とをセットし、プロセス用離型フィルムを上型側からエア吸引してキャビティ凹部の内面にならってエア吸着する工程、
任意選択で、上型と下型とを当接させて、外部とエアシールしたキャビティを形成した状態で、前記キャビティに連通して設けた流路を介してエア吸引機構によりキャビティから真空排気する工程、及び
前記上型と下型とを圧縮成形位置まで型締めし、樹脂を硬化させて被成形品を圧縮成形する工程、をこの順で有し、
前記プロセス用離型フィルムの少なくとも一方向における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長させたときの引張強度が1.0MPaから10.0MPaであり、
かつ前記プロセス用離型フィルムを同条件で少なくとも一方向に37.5%伸長後に、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、上記式(1)式にしたがって得られる復元率(%)が、30~80(%)である、上記樹脂モールド成形品の製造方法である。
In the second aspect of the present invention, the roles of the upper mold and the lower mold in the first aspect are almost interchanged. It is a method of manufacturing a resin-molded product in which the product is covered with a mold film and the product is clamped between an upper mold and a lower mold in a state in which the resin for molding and the product to be molded are supplied to the lower mold, and then compression-molded. hand,
A step of setting the process release film, the resin for the mold, and the article to be molded in the mold, sucking air from the upper mold side of the process release film to follow the inner surface of the cavity recess,
Optionally, in a state in which the upper mold and the lower mold are brought into contact with each other to form a cavity air-sealed with the outside, a step of evacuating the cavity from the cavity by means of an air suction mechanism through a channel provided in communication with the cavity. , and a step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the resin, and compression molding the molded product in this order,
The tensile strength in at least one direction of the process release film is 1.0 MPa to 10.0 MPa when stretched 37.5% at 100 mm / min at a temperature of 175 ° C.,
And the process release film was stretched by 37.5% in at least one direction under the same conditions, then rested for 2 minutes, and then returned to the origin direction at 100 mm / min in the compression direction. In the method for producing a resin-molded product, the recovery rate (%) obtained from a certain returned value according to the above formula (1) is 30 to 80 (%).

プロセス用離型フィルム
上記のように、本発明の樹脂モールド成形品の製造方法は、特定の物性を有するプロセス用離型フィルムを用いるものである。
より具体的には、本発明の樹脂モールド成形品の製造方法に用いるプロセス用離型フィルムは、その少なくとも一方向における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長させたときの引張強度が1.0MPaから10.0MPaであり、
かつ前記プロセス用離型フィルムを同条件で少なくとも一方向に37.5%伸長後に、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、下記式(1)式にしたがって得られる復元率(%)が、30~80(%)である。
Release Film for Processing As described above, the method for producing a resin-molded article of the present invention uses a release film for processing having specific physical properties.
More specifically, the process release film used in the method for producing a resin molded product of the present invention has a tensile strength in at least one direction when stretched 37.5% at 100 mm / min at a temperature of 175 ° C. strength is from 1.0 MPa to 10.0 MPa,
And the process release film was stretched by 37.5% in at least one direction under the same conditions, then rested for 2 minutes, and then returned to the origin direction at 100 mm / min in the compression direction. A restoration rate (%) obtained from a certain return value according to the following formula (1) is 30 to 80 (%).

上記の様に、本発明で用いるプロセス用離型フィルムは、その少なくとも一方向における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長させたときの引張強度が1.0MPaから10.0MPaである。
プロセス用離型フィルム引張強度が上記範囲内にあることで、これを用いる本発明の樹脂モールド成形品の製造方法において、樹脂封止プロセスにおける破れやシワ等の問題を有効に抑制することができる。
本発明で用いるプロセス用離型フィルムの、少なくとも一方向における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長させたときの引張強度の上限は、9.0MPaであることが好ましく、8.0MPaであることがより好ましい。また、本発明で用いるプロセス用離型フィルムの、少なくとも一方向における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長させたときの引張強度の下限は、2.0MPaであることが好ましく、4.0MPaであることがより好ましく、6.0MPaであることが更に好ましい。
更に、本発明で用いるプロセス用離型フィルムは、MD方向(フィルムの流れ方向)における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長させたときの引張強度が上記条件を満たすことが特に好ましい。本発明の樹脂モールド成形品の製造方法においては、フィルムの供給等の関係上、MD方向(フィルムの流れ方向)にプロセス用離型フィルムが伸張される場合が多いので、MD方向(フィルムの流れ方向)における引張強度が上記条件を満たすことが特に好ましい。
更にはMD方向およびMD方向に直交するTD方向において、ともに上記条件を満たすことがより好ましい。
プロセス用離型フィルムの引張強度は、当該技術分野において従来公知の方法で測定することができ、例えば本願明細書実施例に記載の方法で測定することができる。
本発明で用いるプロセス用離型フィルムの引張強度は、フィルムの素材、厚み、製造条件、とりわけ延伸及び熱処理条件を適宜設定することで、調整することができる。また、本発明のプロセス用離型フィルムが多層フィルムである場合には、各層を構成するフィルムの素材、厚み、製造条件等を適宜組み合わせることで、調整することができる。
As described above, the process release film used in the present invention has a tensile strength of 1.0 MPa to 10.0 MPa when stretched 37.5% at 100 mm / min at a temperature of 175 ° C. in at least one direction. is.
When the process release film has a tensile strength within the above range, problems such as breakage and wrinkles in the resin sealing process can be effectively suppressed in the method for producing a resin molded product of the present invention using the same. .
The upper limit of the tensile strength of the process release film used in the present invention in at least one direction at a temperature of 175 ° C. and 37.5% elongation at 100 mm / min is preferably 9.0 MPa. 0 MPa is more preferred. In addition, the lower limit of the tensile strength of the process release film used in the present invention in at least one direction at a temperature of 175° C. and 37.5% elongation at 100 mm/min is preferably 2.0 MPa. , 4.0 MPa, and even more preferably 6.0 MPa.
Furthermore, the process release film used in the present invention has a tensile strength in the MD direction (film flow direction) at a temperature of 175 ° C. and when stretched 37.5% at 100 mm / min. Especially preferred. In the method for producing a resin molded product of the present invention, the process release film is often stretched in the MD direction (film flow direction) due to the supply of the film. direction) satisfies the above conditions.
Furthermore, it is more preferable to satisfy the above condition both in the MD direction and in the TD direction perpendicular to the MD direction.
The tensile strength of the process release film can be measured by a method conventionally known in the art, for example, by the method described in the examples of the present specification.
The tensile strength of the process release film used in the present invention can be adjusted by appropriately setting the film material, thickness, production conditions, especially stretching and heat treatment conditions. Moreover, when the release film for processing of the present invention is a multilayer film, it can be adjusted by appropriately combining the material, thickness, production conditions, etc. of the films constituting each layer.

同じく上記の様に、本発明で用いるプロセス用離型フィルムは、その少なくとも一方向における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長後に、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、下記式(1)式にしたがって得られる復元率(%)が、30~80(%)である。
戻り値/伸長長さ×100=復元率% ・・・(1)。
復元率が上記条件を満たすことで、これを用いる本発明の樹脂モールド成形品の製造方法においては、樹脂封止プロセスにおける破れや成形体の外観不良等の問題を有効に抑制しながら、離型フィルムの噛み込みによる剥離不良を効果的に防止することができる。
復元率は、43%以上であることが好ましく、45%以上であることが特に好ましい。
更に、本発明で用いるプロセス用離型フィルムは、MD方向(フィルムの流れ方向)における、上記復元率が上記条件を満たすことが好ましい。本発明の樹脂モールド成形品の製造方法においては、フィルムの供給等の関係上、MD方向(フィルムの流れ方向)にプロセス用離型フィルムが伸縮される場合が多いので、MD方向(フィルムの流れ方向)における復元率が上記条件を満たすことが特に好ましい。
更にはMD方向およびMD方向に直交するTD方向において、ともに上記条件を満たすことがより好ましい。
Also as described above, the process release film used in the present invention is stretched in at least one direction at a temperature of 175° C. at 100 mm/min for 37.5%, then rested for 2 minutes, and then stretched at 100 mm/min in the compression direction. The recovery rate (%) obtained according to the following formula (1) is 30 to 80 (%) from the return value, which is the displacement until the load becomes 0 when the load is returned to the origin direction at .
Return value/extension length×100=restoration rate % (1).
Since the recovery rate satisfies the above conditions, in the method for producing a resin molded product of the present invention using this, it is possible to effectively suppress problems such as breakage in the resin sealing process and poor appearance of the molded product while releasing the mold. It is possible to effectively prevent peeling failure due to film biting.
The recovery rate is preferably 43% or more, particularly preferably 45% or more.
Furthermore, it is preferable that the process release film used in the present invention has the above-mentioned recovery ratio in the MD direction (the flow direction of the film) satisfying the above-mentioned conditions. In the method for producing a resin molded product of the present invention, the process release film is often stretched in the MD direction (film flow direction) due to the supply of the film. direction) satisfies the above conditions.
Furthermore, it is more preferable to satisfy the above condition both in the MD direction and in the TD direction orthogonal to the MD direction.

図4に、戻り値の測定方法を模式的に示す。
まず、測定するフィルムを、テンシロン万能材料試験機等の引張試験を行うことができる試験機にチャック間距離Lでセットする(図4(a))。
次に、温度175℃で、チャック間に引張応力をかけ、100mm/分で37.5%伸張させる(伸びΔL=L×0.375)(図4(b))。
そのまま2分間静止した後、圧縮方向(伸張とは逆方向)に100mm/分で戻したとき、荷重が0になる点の変異を戻り値ΔLとした(図4(c))。
上記測定結果から、復元率を下式に従い算出する。
復元率(%)=100×ΔL/ΔL
FIG. 4 schematically shows a method of measuring the return value.
First, a film to be measured is set in a testing machine capable of performing a tensile test such as a Tensilon universal testing machine with a distance between chucks of L0 (Fig. 4(a)).
Next, a tensile stress is applied between the chucks at a temperature of 175° C., and the chuck is elongated by 37.5% at 100 mm/min (elongation ΔL 1 =L 0 ×0.375) (FIG. 4(b)).
After remaining still for 2 minutes, the displacement at which the load becomes 0 when returned in the compression direction (opposite direction to the extension) at 100 mm/min was defined as the return value ΔL 2 (Fig. 4(c)).
From the above measurement results, the recovery rate is calculated according to the following formula.
Recovery rate (%) = 100 × ΔL 2 / ΔL 1

本発明の樹脂モールド成形品の製造方法において、用いる離型フィルムの復元率が上記範囲内にあることで、離型フィルムの噛み込みによる剥離不良が効果的に防止されるメカニズムは必ずしも明らかではないが、例えば、図2に示す様な、樹脂封止プロセスと、何らかの関係があることが推定される。
より具体的には、プロセス用離型フィルムが下型上に配置された直後(図2(a))と比較して、真空吸着工程後(図2(b))には、プロセス用離型フィルムは初期キャビティ深さの2倍(2×a)伸張した状態にある。
その後、型締め、圧縮を行なうと、プロセス用離型フィルムは、圧縮方向(伸張とは逆方向)に戻された状態になり、例えば典型的な樹脂封止プロセスでは、キャビティ深さは、初期と比べ1/3程度に圧縮される。このとき、復元率がキャビティ深さの減少率(a-a)/aと較べて極端に小さいと、キャビティ側面の離型フィルムにシワが発生しやすくなり、その結果封止樹脂との間に噛みこみが発生しやすくなる方向に作用し得ることと、何らかの関係があることが推定される。
In the method for producing a resin molded article of the present invention, the mechanism by which the recovery rate of the release film used is within the above range to effectively prevent peeling failure due to the release film being caught is not necessarily clear. However, it is presumed that there is some relationship with the resin sealing process as shown in FIG. 2, for example.
More specifically, after the vacuum adsorption step (FIG. 2(b)), the release film for process is less than immediately after it is placed on the lower mold (FIG. 2(a)). The film is in the stretched state by twice the initial cavity depth (2xa 1 ).
After that, when mold clamping and compression are performed, the release film for process is returned to the compression direction (the direction opposite to the extension). It is compressed to about 1/3 compared to . At this time, if the restoration rate is extremely small compared to the reduction rate of the cavity depth (a 1 −a 2 )/a 1 , wrinkles are likely to occur in the release film on the side of the cavity. It is presumed that there is some relationship with the fact that it can act in a direction that tends to cause biting between.

本発明で用いるプロセス用離型フィルムの復元率は、フィルムの素材、厚み、製造条件、とりわけ延伸及び熱処理条件を適宜設定することで、調整することができる。また、本発明のプロセス用離型フィルムが多層フィルムである場合には、各層を構成するフィルムの素材、厚み、製造条件等を適宜組み合わせることによっても、調整することができる The recovery rate of the process release film used in the present invention can be adjusted by appropriately setting the film material, thickness, production conditions, especially stretching and heat treatment conditions. In addition, when the release film for processing of the present invention is a multilayer film, it can be adjusted by appropriately combining the material, thickness, manufacturing conditions, etc. of the films constituting each layer.

また、本発明で用いるプロセス用離型フィルムは、その少なくとも1の表面の水に対する接触角が、90°から130°であることが好ましい。その少なくとも1の表面の水に対する接触角が上記範囲にあることにより、本形態のプロセス用離型フィルムは、封止樹脂からの剥離性に一層優れるものである。
本形態のプロセス用離型フィルムの、その少なくとも1の表面の水に対する接触角は、好ましくは95°から120°であり、より好ましくは98°から115°、更に好ましくは100°から110°である。
本で用いるプロセス用離型フィルムは、その両面の水に対する接触角が、上記条件を満たすことが好ましい。両面の水に対する接触角が、上記条件を満たすことで、封止樹脂及び金型の両方からの離型性に優れる、プロセス用離型フィルムを実現することができる。
フィルム表面の水に対する接触角は、当該技術分野における通常の方法で測定すればよく、例えば本願実施例に記載の方法で測定することができる。
Further, the process release film used in the present invention preferably has a contact angle with water on at least one surface of 90° to 130°. Since the contact angle of at least one surface with respect to water is within the above range, the process release film of the present embodiment is even more excellent in releasability from the sealing resin.
The contact angle of at least one surface of the process release film of the present embodiment with respect to water is preferably 95° to 120°, more preferably 98° to 115°, still more preferably 100° to 110°. be.
The contact angles with water on both surfaces of the process release film used in books preferably satisfy the above conditions. When the contact angles with respect to water on both sides satisfy the above conditions, it is possible to realize a process release film that is excellent in releasability from both the sealing resin and the mold.
The contact angle of the film surface to water may be measured by a common method in the technical field, for example, it can be measured by the method described in the Examples of the present application.

少なくとも1の表面の水に対する接触角が上記条件を満たすように、本発明で用いるプロセス用離型フィルムは、水に対する接触角が上記条件を満たす樹脂、例えばフッ素樹脂、4-メチル-1-ペンテン(共)重合体、及びポリスチレン系樹脂からなる群より選ばれる樹脂を含むこと、またはその様な樹脂からなることが好ましい。また、本発明で用いるプロセス用離型フィルムが多層フィルムである場合には、少なくとも一の表面を構成する層に、フッ素樹脂、4-メチル-1-ペンテン(共)重合体、及びポリスチレン系樹脂からなる群より選ばれる樹脂を使用することも好ましい。 The process release film used in the present invention is composed of a resin such as a fluororesin, 4-methyl-1-pentene, etc. that satisfies the above conditions for the contact angle for water on at least one surface so that the contact angle for water satisfies the above conditions. It is preferable to contain a resin selected from the group consisting of (co)polymers and polystyrene resins, or to consist of such a resin. Further, when the process release film used in the present invention is a multilayer film, the layer constituting at least one surface contains a fluororesin, a 4-methyl-1-pentene (co)polymer, and a polystyrene resin. It is also preferred to use a resin selected from the group consisting of

本発明で用いるプロセス用離型フィルムは、上記の所要特性を具備する限り、単層フィルムであっても、多層フィルムであってもよいが、所要の各特性を同時に満足し、かつ好ましい特性を適宜具備する観点からは、設計上の自由度の高い多層フィルムであることが好ましい。
多層フィルムである場合のフィルム構成にも特に限定は無いが、成形品や金型に対する離型性を有する離型層A、及び該離型層Aを支持する耐熱樹脂層B、を含む積層フィルムであることが好ましい。この形態においては、プロセス用離型フィルムの、水に対する接触角が、90°から130°である少なくとも1の表面は、離型層Aで構成されることが好ましい。
この形態のプロセス用離型フィルムは、所望により、更に離型層A’を有していてもよく、このとき、離型層Aと、耐熱樹脂層Bと、離型層A’とが、この順で積層されることが好ましい。更にこのとき、離型層A’の水に対する接触角も、90°から130°であることが好ましい。
The process release film used in the present invention may be a single-layer film or a multilayer film as long as it has the above-mentioned required properties. From the point of view of providing it appropriately, it is preferable to use a multilayer film with a high degree of freedom in design.
In the case of a multilayer film, the film structure is not particularly limited, but a laminated film containing a release layer A having releasability from a molded product or a mold, and a heat-resistant resin layer B supporting the release layer A. is preferably In this embodiment, it is preferable that at least one surface of the process release film having a contact angle with water of 90° to 130° is composed of the release layer A.
If desired, the process release film of this form may further have a release layer A'. At this time, the release layer A, the heat-resistant resin layer B, and the release layer A' It is preferable to laminate in this order. Furthermore, at this time, the contact angle of the release layer A' to water is also preferably from 90° to 130°.

本形態のプロセス用離型フィルムは、本発明の樹脂モールド成形品の製造方法において、成形金型の内部で被成形品を圧縮成形するときに、成形金型の内面に配置される。このとき、離型フィルムの離型層A(離型層A’が存在する場合には離型層A’であってもよい)を、被成形品側に配置することが好ましい。本形態の離型フィルムを配置することで、樹脂封止された半導体素子等を、金型から容易に離型することができる。
離型層Aの水に対する接触角は、通常90°から130°であり、この様な接触角を有することにより離型層Aは濡れ性が低く、硬化した封止樹脂や金型表面に固着することなく、成形品を容易に離型することができる。
離型層Aの水に対する接触角は、好ましくは95°から120°であり、より好ましくは98°から115°、更に好ましくは100°から110°である。
In the method for producing a resin-molded product of the present invention, the process release film of this embodiment is placed on the inner surface of the mold when the product to be molded is compression-molded inside the mold. At this time, it is preferable to dispose the release layer A of the release film (if the release layer A' is present, it may be the release layer A') on the side of the article to be molded. By arranging the release film of this embodiment, a resin-encapsulated semiconductor element or the like can be easily released from the mold.
The contact angle of the release layer A with respect to water is usually 90° to 130°. With such a contact angle, the release layer A has low wettability and adheres to the cured encapsulating resin and the mold surface. The molded product can be easily released from the mold without
The contact angle of the release layer A with water is preferably from 95° to 120°, more preferably from 98° to 115°, still more preferably from 100° to 110°.

離型層A
上記好ましい実施形態で用いるプロセス用離型フィルムを構成する離型層Aは、水に対する接触角が、通常90°から130°であり、好ましくは95°から120°であり、より好ましくは98°から115°、更に好ましくは100°から110°である。成形品の離型性に優れること、入手の容易さなどから、フッ素樹脂、4-メチル-1-ペンテン(共)重合体、及びポリスチレン系樹脂からなる群より選ばれる樹脂を含むことが好ましい。
Release layer A
The release layer A constituting the process release film used in the preferred embodiment has a contact angle with water of usually 90° to 130°, preferably 95° to 120°, more preferably 98°. to 115°, more preferably 100° to 110°. It is preferable to include a resin selected from the group consisting of fluororesins, 4-methyl-1-pentene (co)polymers, and polystyrene-based resins in view of the excellent releasability of molded articles and the ease of availability.

離型層Aに用いることができるフッ素樹脂は、テトラフルオロエチレンに由来する構成単位を含む樹脂であってもよい。テトラフルオロエチレンの単独重合体であってもよいが、他のオレフィンとの共重合体であってもよい。他のオレフィンの例には、エチレンが含まれる。モノマー構成単位としてテトラフルオロエチレンとエチレンとを含む共重合体は好ましい一例であり、この様な共重合体においては、テトラフルオロエチレンに由来する構成単位の割合が55~100質量%であり、エチレンに由来する構成単位の割合が0~45質量%であることが好ましい。 The fluororesin that can be used for the release layer A may be a resin containing structural units derived from tetrafluoroethylene. It may be a homopolymer of tetrafluoroethylene, or a copolymer with other olefins. Examples of other olefins include ethylene. A preferred example is a copolymer containing tetrafluoroethylene and ethylene as monomer structural units. The proportion of structural units derived from is preferably 0 to 45% by mass.

離型層Aに用いることができる4-メチル-1-ペンテン(共)重合体は、4-メチル-1-ペンテンの単独重合体であってもよく、また4-メチル-1-ペンテンと、それ以外の炭素原子数2~20のオレフィン(以下「炭素原子数2~20のオレフィン」という)との共重合体であってもよい。 The 4-methyl-1-pentene (co)polymer that can be used in the release layer A may be a homopolymer of 4-methyl-1-pentene, and 4-methyl-1-pentene and Copolymers with other olefins having 2 to 20 carbon atoms (hereinafter referred to as "olefins having 2 to 20 carbon atoms") may also be used.

4-メチル-1-ペンテンと、炭素原子数2~20のオレフィンとの共重合体の場合、4-メチル-1-ペンテンと共重合される炭素原子数2~20のオレフィンは、4-メ
チル-1-ペンテンに可とう性を付与し得る。炭素原子数2~20のオレフィンの例には、エチレン、プロピレン、1-ブテン、1-ヘキセン、1-ヘプテン、1-オクテン、1-デセン、1-テトラデセン、1-ヘキサデセン、1-ヘプタデセン、1-オクタデセン、1-エイコセン等が含まれる。これらのオレフィンは、1種のみを用いてもよいし、2種以上を組み合せて用いてもよい。
In the case of a copolymer of 4-methyl-1-pentene and an olefin having 2 to 20 carbon atoms, the olefin having 2 to 20 carbon atoms to be copolymerized with 4-methyl-1-pentene is 4-methyl -1-Pentene can impart flexibility. Examples of C2-C20 olefins include ethylene, propylene, 1-butene, 1-hexene, 1-heptene, 1-octene, 1-decene, 1-tetradecene, 1-hexadecene, 1-heptadecene, 1 -octadecene, 1-eicosene, and the like. These olefins may be used alone or in combination of two or more.

4-メチル-1-ペンテンと、炭素原子数2~20のオレフィンとの共重合体の場合、4-メチル-1-ペンテンに由来する構成単位の割合が96~99質量%であり、それ以外の炭素原子数2~20のオレフィンに由来する構成単位の割合が1~4質量%であることが好ましい。炭素原子数2~20のオレフィン由来の構成単位の含有量が少なくすることで、共重合体を硬く、すなわち貯蔵弾性率E’が高くすることができ、封止工程等における皺が発生の抑制に有利である。一方、炭素原子数2~20のオレフィン由来の構成単位の含有量が多くすることで、共重合体を軟らかく、すなわち貯蔵弾性率E’を低くすることができ、金型追随性を向上させるのに有利である。 In the case of a copolymer of 4-methyl-1-pentene and an olefin having 2 to 20 carbon atoms, the ratio of structural units derived from 4-methyl-1-pentene is 96 to 99% by mass, and other The ratio of structural units derived from olefins having 2 to 20 carbon atoms is preferably 1 to 4% by mass. By reducing the content of structural units derived from olefins having 2 to 20 carbon atoms, the copolymer can be hardened, that is, the storage elastic modulus E' can be increased, and the occurrence of wrinkles in the sealing process etc. can be suppressed. It is advantageous to On the other hand, by increasing the content of structural units derived from olefins having 2 to 20 carbon atoms, the copolymer can be made soft, that is, the storage elastic modulus E' can be lowered, and mold followability can be improved. It is advantageous to

4-メチル-1-ペンテン(共)重合体は、当業者において公知の方法で製造されうる。例えば、チーグラ・ナッタ触媒、メタロセン系触媒等の公知の触媒を用いた方法により製造されうる。4-メチル-1-ペンテン(共)重合体は、結晶性の高い(共)重合体であることが好ましい。結晶性の共重合体としては、アイソタクチック構造を有する共重合体、シンジオタクチック構造を有する共重合体のいずれであってもよいが、特にアイソタクチック構造を有する共重合体であることが物性の点からも好ましく、また入手も容易である。さらに、4-メチル-1-ペンテン(共)重合体は、フィルム状に成形でき、金型成形時の温度や圧力等に耐える強度を有していれば、立体規則性や分子量も、特に制限されない。4-メチル-1-ペンテン共重合体は、例えば、三井化学株式会社製TPX(登録商標)等、市販の共重合体であってもよい。 4-Methyl-1-pentene (co)polymers can be produced by methods known to those skilled in the art. For example, it can be produced by a method using known catalysts such as Ziegler-Natta catalysts and metallocene catalysts. The 4-methyl-1-pentene (co)polymer is preferably a highly crystalline (co)polymer. The crystalline copolymer may be either a copolymer having an isotactic structure or a copolymer having a syndiotactic structure. In particular, it should be a copolymer having an isotactic structure. is preferable from the viewpoint of physical properties, and is easily available. Furthermore, the 4-methyl-1-pentene (co)polymer can be molded into a film, and if it has strength to withstand the temperature and pressure during mold molding, the stereoregularity and molecular weight are also limited. not. The 4-methyl-1-pentene copolymer may be a commercially available copolymer such as TPX (registered trademark) manufactured by Mitsui Chemicals, Inc.

離型層Aに用いることができるポリスチレン系樹脂には、スチレンの単独重合体及び共重合体が包含され、その重合体中に含まれるスチレン由来の構造単位は少なくとも60重量%以上であることが好ましく、より好ましくは80重量%以上である。
ポリスチレン系樹脂は、アイソタクチックポリスチレンであってもシンジオタクチックポリスチレンであってもよいが、透明性、入手の容易さなどの観点からはアイソタクチックポリスチレンが好ましく、離型性、耐熱性などの観点からは、シンジオタクチックポリスチレンが好ましい。ポリスチレンは、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
Polystyrene-based resins that can be used for the release layer A include styrene homopolymers and copolymers, and the styrene-derived structural units contained in the polymer are at least 60% by weight or more. It is preferably 80% by weight or more, more preferably 80% by weight or more.
The polystyrene-based resin may be either isotactic polystyrene or syndiotactic polystyrene, but isotactic polystyrene is preferable from the viewpoint of transparency, availability, etc., and mold releasability, heat resistance, etc. From the viewpoint of, syndiotactic polystyrene is preferred. One type of polystyrene may be used alone, or two or more types may be used in combination.

離型層Aは、圧縮成形時の金型の最高温度(典型的には110~190℃)に絶え得る耐熱性を有することが好ましい。かかる観点から、離型層Aとしては、結晶成分を有する結晶性樹脂を含むことが好ましく、当該結晶性樹脂の融点は190℃以上であることが好ましく、200℃以上300℃以下がより好ましい。
離型層Aに結晶性をもたらすため、例えばフッ素樹脂においてはテトラフルオロエチレンから導かれる構成単位を少なくとも含むことが好ましく、4-メチル-1-ペンテン(共)重合体においては4-メチル-1-ペンテンから導かれる構成単位を少なくとも含むことが好ましく、ポリスチレン系樹脂においてはシンジオタクチックポリスチレンを少なくとも含むことが好ましい。離型層Aを構成する樹脂に結晶成分が含まれることにより、樹脂封止工程等において皺が発生し難く、皺が成形品に転写されて外観不良を生じることを抑制するのに好適である。
The release layer A preferably has heat resistance that can withstand the maximum temperature of the mold during compression molding (typically 110 to 190°C). From this point of view, the release layer A preferably contains a crystalline resin having a crystalline component, and the melting point of the crystalline resin is preferably 190° C. or higher, more preferably 200° C. or higher and 300° C. or lower.
In order to bring crystallinity to the release layer A, for example, the fluorine resin preferably contains at least a structural unit derived from tetrafluoroethylene, and the 4-methyl-1-pentene (co)polymer contains 4-methyl-1 It preferably contains at least structural units derived from -pentene, and preferably contains at least syndiotactic polystyrene in polystyrene resins. Since the resin constituting the release layer A contains a crystalline component, wrinkles are less likely to occur in the resin sealing process, etc., and are suitable for suppressing the appearance defects caused by the transfer of wrinkles to the molded product. .

離型層Aを構成する上記結晶性成分を含む樹脂は、JISK7221に準じて示差走査熱量測定(DSC)によって測定した第1回昇温工程での結晶融解熱量が15J/g以上、60J/g以下であることが好ましく、20J/g以上、50J/g以下であることがより好ましい。15J/g以上であると、樹脂封止工程等での熱プレス成形に耐え得る耐熱性及び離型性をより効果的に発現することが可能であることに加え、寸法変化率も抑制することができるため、皺の発生も防止することができる。一方、前記結晶融解熱量が60J/g以下であると、離型層Aが適切な硬度となるため、圧縮成形工程等においてフィルムの金型への十分な追随性を得ることができるため、フィルムの破損のおそれもない。 The resin containing the crystalline component that constitutes the release layer A has a crystal melting heat quantity of 15 J/g or more and 60 J/g or less in the first heating step measured by differential scanning calorimetry (DSC) according to JISK7221. and more preferably 20 J/g or more and 50 J/g or less. When it is 15 J/g or more, it is possible to more effectively exhibit heat resistance and releasability that can withstand hot press molding in a resin sealing process, etc., and also to suppress the dimensional change rate. Therefore, the occurrence of wrinkles can also be prevented. On the other hand, when the heat of crystal fusion is 60 J/g or less, the release layer A has an appropriate hardness, so that the film can be sufficiently conformed to a mold in a compression molding process or the like. There is no risk of damage to the

離型層Aは、フッ素樹脂、4-メチル-1-ペンテン共重合体、及び/又はポリスチレン系樹脂の他に、さらに他の樹脂を含んでもよい。この場合、他の樹脂の硬度が比較的高いことが好ましい。他の樹脂の例には、ポリアミド-6、ポリアミド-66、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンテレフタレートが含まれる。このように、離型層Aが、例えば柔らかい樹脂を多く含む場合(例えば、4-メチル-1-ペンテン共重合体において炭素原子数2~20のオレフィンを多く含む場合)でも、硬度の比較的高い樹脂をさらに含むことで、離型層Aを硬くすることができ、圧縮成形工程等における皺の発生の抑制に有利である。 The release layer A may contain other resins in addition to the fluororesin, 4-methyl-1-pentene copolymer, and/or polystyrene resin. In this case, it is preferable that the hardness of the other resin is relatively high. Examples of other resins include polyamide-6, polyamide-66, polybutylene terephthalate, polyethylene terephthalate. In this way, even when the release layer A contains a large amount of soft resin (for example, a large amount of olefin having 2 to 20 carbon atoms in a 4-methyl-1-pentene copolymer), the hardness is relatively low. By further including a high-grade resin, the release layer A can be hardened, which is advantageous in suppressing the occurrence of wrinkles in the compression molding process or the like.

これらの他の樹脂の含有量は、離型層Aを構成する樹脂成分に対して例えば3~30質量%であることが好ましい。他の樹脂の含有量を3質量以上とすることで、添加による効果を実質的なものとすることができ、30質量%以下とすることで、金型や成形品に対する離型性を維持することができる。 The content of these other resins is preferably, for example, 3 to 30% by mass based on the resin component constituting the release layer A. By setting the content of the other resin to 3% by mass or more, the effect of addition can be made substantial. be able to.

また離型層Aは、フッ素樹脂、4-メチル-1-ペンテン共重合体、及び/又はポリスチレン系樹脂に加えて、本発明において用いる離型フィルムの目的を損なわない範囲で、耐熱安定剤、耐候安定剤、発錆防止剤、耐銅害安定剤、帯電防止剤等、フィルム用樹脂に一般的に配合される公知の添加剤を含んでもよい。これらの添加剤の含有量は、フッ素樹脂、4-メチル-1-ペンテン共重合体、及び/又はポリスチレン系樹脂100重量部に対して、例えば0.0001~10重量部とすることができる。 In addition to the fluororesin, 4-methyl-1-pentene copolymer, and/or polystyrene resin, the release layer A contains a heat stabilizer, Known additives generally blended in film resins, such as weather stabilizers, rust inhibitors, copper damage-resistant stabilizers, and antistatic agents, may also be included. The content of these additives can be, for example, 0.0001 to 10 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the fluororesin, 4-methyl-1-pentene copolymer, and/or polystyrene resin.

離型層Aの厚みは、樹脂モールド成形品に対する離型性が十分であれば、特に制限はないが、通常1~50μmであり、好ましくは5~30μmである。 The thickness of the release layer A is not particularly limited as long as it has sufficient releasability from the resin molded product, but it is usually 1 to 50 μm, preferably 5 to 30 μm.

離型層Aの表面は、必要に応じて凹凸形状を有していてもよく、それにより離型性を向
上させることができる。離型層Aの表面に凹凸を付与する方法は、特に制限はないが、エンボス加工等の一般的な方法が採用できる。
The surface of the release layer A may have an uneven shape as necessary, thereby improving the releasability. There is no particular limitation on the method for imparting unevenness to the surface of the release layer A, but a general method such as embossing can be employed.

離型層A’
上記好ましい実施形態で用いるプロセス用離型フィルムは、離型層A及び耐熱樹脂層Bに加えて、更に離型層A’を有していてもよい。すなわち、本形態のプロセス用離型フィルムは、離型層Aと、耐熱樹脂層Bと、離型層A’とをこの順で含む積層フィルムであるプロセス用離型フィルムであってもよい。
上記好ましい実施形態で用いるプロセス用離型フィルムを構成してもよい離型層A’の水に対する接触角は、通常90°から130°であり、好ましくは95°から120°であり、より好ましくは98°から115°、更に好ましくは100°から110°である。そして、離型層A’の好ましい材質、構成、物性等は、上記において離型層Aについて説明したものと同様である。
Release layer A'
In addition to the release layer A and the heat-resistant resin layer B, the process release film used in the preferred embodiment may further have a release layer A'. That is, the process release film of the present embodiment may be a process release film that is a laminated film including a release layer A, a heat-resistant resin layer B, and a release layer A′ in this order.
The contact angle with water of the release layer A′ that may constitute the process release film used in the preferred embodiment is usually 90° to 130°, preferably 95° to 120°, more preferably is 98° to 115°, more preferably 100° to 110°. The preferred material, structure, physical properties, etc. of the release layer A' are the same as those described for the release layer A above.

上記好ましい実施形態で用いるプロセス用離型フィルムが、離型層Aと、耐熱樹脂層Bと、離型層A’とをこの順で含む積層フィルムである場合の離型層Aと離型層A’とは同一の構成の層であってもよいし、異なる構成の層であってもよい。
反りの防止や、いずれの面も同様の離型性を有することによる取り扱いの容易さ等の観点からは、離型層Aと離型層A’とは同一または略同一の構成であることが好ましく、離型層Aと離型層A’とを使用するプロセスとの関係でそれぞれ最適に設計する観点、例えば、離型層Aを金型からの離型性に優れたものとし、離型層A’を成形物からの剥離性に優れたものとする等の観点からは、離型層Aと離型層A’とを異なる構成のものとすることが好ましい。
離型層Aと離型層A’とを異なる構成のものとする場合には、離型層Aと離型層A’とを同一の材料であって厚み等の構成が異なるものとしてもよいし、材料もそれ以外の構成も異なるものとしてもよい。
The release layer A and the release layer when the process release film used in the preferred embodiment is a laminated film containing the release layer A, the heat-resistant resin layer B, and the release layer A' in this order. A′ may be a layer having the same structure or a layer having a different structure.
From the viewpoint of prevention of warping and ease of handling by having the same releasability on both sides, it is preferable that the release layer A and the release layer A' have the same or substantially the same configuration. Preferably, the release layer A and the release layer A' are optimally designed in relation to the process using them. From the viewpoint of making the layer A' excellent in releasability from the molding, it is preferable that the release layer A and the release layer A' have different structures.
When the release layer A and the release layer A' have different structures, the release layer A and the release layer A' may be made of the same material and have different structures such as thickness. However, the materials and other configurations may be different.

耐熱樹脂層B
上記実施形態で用いるプロセス用離型フィルムを構成する耐熱樹脂層Bは、離型層A(及び場合により離型層A’)を支持し、かつ金型温度等による皺発生を抑制する機能を有することが好ましい。
Heat-resistant resin layer B
The heat-resistant resin layer B constituting the process release film used in the above embodiment supports the release layer A (and the release layer A′ in some cases) and has the function of suppressing the occurrence of wrinkles due to mold temperature and the like. It is preferable to have

本実施形態で用いるプロセス用離型フィルムにおいては、耐熱樹脂層Bの、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長後に、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、下記式(1)式にしたがって得られる復元率(%)が、30(%)以上であることが好ましい。
戻り値/伸長長さ×100=復元率% ・・・(1)。
耐熱樹脂層Bの復元率が上記条件を満たすことで、本実施形態で用いるプロセス用離型フィルムが所定の復元率を具備することが容易になり、当該プロセス用離型フィルムが、樹脂封止プロセスにおける破れや成形体の外観不良等の問題を有効に抑制しながら、離型フィルムの噛み込みによる剥離不良を防止することが、いっそう容易になる。
耐熱樹脂層Bの復元率は、40%以上であることが好ましく、45%以上であることがより好ましく、50%以上であることが特に好ましい。
上記好ましいプロセス用離型フィルムにおいては、耐熱樹脂層Bの少なくとも一方向において復元率が上記条件を満たすことが好ましく、プロセス用離型フィルムのMD方向(フィルムの流れ方向)に相当する方向において復元率が上記条件を満たすことがより好ましい。MD方向およびTD方向において、ともに上記条件を満足することがさらに好ましい。
In the process release film used in this embodiment, the heat-resistant resin layer B is stretched at a temperature of 175 ° C. by 37.5% at 100 mm / min, then rests for 2 minutes, and then moves to the origin direction at 100 mm / min in the compression direction. It is preferable that the recovery rate (%) obtained from the return value, which is the displacement until the load becomes 0 when returned, according to the following formula (1) is 30 (%) or more.
Return value/extension length×100=restoration rate % (1).
When the recovery rate of the heat-resistant resin layer B satisfies the above conditions, it becomes easy for the process release film used in the present embodiment to have a predetermined recovery rate, and the process release film can be resin-sealed. It becomes easier to prevent peeling defects caused by the mold release film getting caught while effectively suppressing problems such as breakage in the process and poor appearance of the molded product.
The recovery rate of the heat-resistant resin layer B is preferably 40% or more, more preferably 45% or more, and particularly preferably 50% or more.
In the preferred release film for process use, it is preferable that the recovery rate satisfies the above conditions in at least one direction of the heat-resistant resin layer B, and the recovery is achieved in the direction corresponding to the MD direction (flow direction of the film) of the release film for process use. More preferably, the rate satisfies the above conditions. More preferably, the above conditions are satisfied in both the MD direction and the TD direction.

耐熱樹脂層Bには、無延伸フィルム、延伸フィルムを含め任意の樹脂層を用いることができる。 Any resin layer can be used for the heat-resistant resin layer B, including non-stretched films and stretched films.

無延伸フィルムの中でも、上述の復元率の観点から、エラストマー性を有した樹脂であることが好ましい。エラストマー性を有する樹脂としては、熱可塑性エラストマー及びシリコーン等が挙げられる。これらは1種のみを用いてもよく2種以上を併用してもよい。これらのうちでは、熱可塑性を有するものが好ましく、熱可塑性エラストマーが特に好ましい。 Among non-stretched films, a resin having elastomeric properties is preferable from the viewpoint of the above-mentioned recovery rate. Examples of elastomeric resins include thermoplastic elastomers and silicones. These may use only 1 type and may use 2 or more types together. Among these, those having thermoplasticity are preferred, and thermoplastic elastomers are particularly preferred.

熱可塑性エラストマーは、ハードセグメント及びソフトセグメントを有したブロック共重合体からなってもよく、ハードポリマーとソフトポリマーとのポリマーアロイからなってもよく、これらの両方の特性を有したものであってもよい。 The thermoplastic elastomer may consist of a block copolymer having a hard segment and a soft segment, or may consist of a polymer alloy of a hard polymer and a soft polymer, and has the properties of both. good too.

耐熱樹脂層Bの復元率にかかわる特性は、これらの成分の調整によりコントロールできる。即ち、樹脂種、複数種の樹脂を含む場合にはそれらの割合、樹脂を構成する重合体の分子構造(ハードセグメント及びソフトセグメントの割合)を調整することによってコントロールできる。 The properties related to the recovery rate of the heat-resistant resin layer B can be controlled by adjusting these components. That is, it can be controlled by adjusting the type of resin, the proportions of resins when a plurality of types of resins are contained, and the molecular structure (ratio of hard segment and soft segment) of the polymer constituting the resin.

熱可塑性エラストマーとしては、ポリエステル系熱可塑性エラストマー(熱可塑ポリエステルエラストマー)、ポリアミド系熱可塑性エラストマー(熱可塑ポリアミドエラストマー)、スチレン系熱可塑性エラストマー(熱可塑スチレンエラストマー)、オレフィン系熱可塑性エラストマー(熱可塑ポリオレフィンエラストマー)、塩化ビニル系熱可塑性エラストマー(熱可塑塩化ビニルエラストマー)、ポリイミド系熱可塑性エラストマー{熱可塑ポリイミドエラストマー、ポリイミドエステル系熱可塑性エラストマー(熱可塑ポリイミドエステルエラストマー)、ポリイミドウレタン系熱可塑性エラストマー(熱可塑ポリイミドウレタンエラストマー)等}、ポリウレタン系熱可塑エラストマー(熱可塑ポリウレタンエラストマー)などが挙げられる。これらは1種のみを用いてもよく2種以上を併用してもよい。
これらのうちでは、ポリエステル系熱可塑性エラストマー、ポリアミド系熱可塑性エラストマー、ポリイミド系熱可塑性エラストマー、ポリウレタン系熱可塑性エラストマーが好ましく、更には、ポリエステル系熱可塑性エラストマー、ポリアミド系熱可塑性エラストマー、ポリウレタン系熱可塑性エラストマーが特に好ましい。
Thermoplastic elastomers include polyester-based thermoplastic elastomers (thermoplastic polyester elastomers), polyamide-based thermoplastic elastomers (thermoplastic polyamide elastomers), styrene-based thermoplastic elastomers (thermoplastic styrene elastomers), olefin-based thermoplastic elastomers (thermoplastic polyolefin elastomer), vinyl chloride thermoplastic elastomer (thermoplastic vinyl chloride elastomer), polyimide thermoplastic elastomer {thermoplastic polyimide elastomer, polyimide ester thermoplastic elastomer (thermoplastic polyimide ester elastomer), polyimide urethane thermoplastic elastomer ( thermoplastic polyimide urethane elastomer), etc.), polyurethane thermoplastic elastomer (thermoplastic polyurethane elastomer), and the like. These may use only 1 type and may use 2 or more types together.
Among these, polyester-based thermoplastic elastomers, polyamide-based thermoplastic elastomers, polyimide-based thermoplastic elastomers, and polyurethane-based thermoplastic elastomers are preferred, and polyester-based thermoplastic elastomers, polyamide-based thermoplastic elastomers, and polyurethane-based thermoplastic elastomers are preferred. Elastomers are particularly preferred.

ポリエステル系熱可塑性エラストマーは、ポリエステル成分をハードセグメントとするものであればよく、それ以外の点については、どのような構成であってもよい。ソフトセグメントとしては、ポリエステル、ポリエーテル及びポリエーテルエステル等を利用できる。これらは1種のみを用いてもよく2種以上を併用してもよい。ハードセグメントを構成するポリエステル成分としては、テレフタル酸ジメチル等のモノマーに由来する構成単位を含むことができる。一方、ソフトセグメントを構成する成分としては、1,4-ブタンジオール及びポリ(オキシテトラメチレン)グリコール等のモノマーに由来する構成単位を含むことができる。より具体的には、PBT-PE-PBT型ポリエステル系熱可塑性エラストマー等が挙げられる。尚、上記「PBT-PE-PBT」の記載におけるPBTはポリブチレンテレフタレートを、PEはポリエーテルを、各々意味する。 The polyester-based thermoplastic elastomer may have any structure as long as it has a polyester component as a hard segment. Polyesters, polyethers, polyetheresters, and the like can be used as soft segments. These may use only 1 type and may use 2 or more types together. The polyester component constituting the hard segment may contain structural units derived from monomers such as dimethyl terephthalate. On the other hand, the components constituting the soft segment may contain constitutional units derived from monomers such as 1,4-butanediol and poly(oxytetramethylene)glycol. More specific examples include PBT-PE-PBT type polyester thermoplastic elastomers. PBT and PE in the above description of "PBT-PE-PBT" mean polybutylene terephthalate and polyether, respectively.

ポリアミド系熱可塑性エラストマーは、ポリアミド成分をハードセグメントとするものであればよく、それ以外の点については、どのような構成であってもよい。ソフトセグメントとしては、ポリエステル、ポリエーテル及びポリエーテルエステル等を利用できる。これらは1種のみを用いてもよく2種以上を併用してもよい。ハードセグメントを構成するポリアミド成分としては、ポリアミド6、ポリアミド11及びポリアミド12等が挙げられる。これらは1種のみを用いてもよく2種以上を併用してもよい。これらのポリアミド成分には、各種のラクタム等をモノマーとして利用できる。一方、ソフトセグメントを構成する成分としては、ジカルボン酸等のモノマーやポリエーテルポリオールに由来する構成単位を含むことができる。このうち、ポリエーテルポリオールとしては、ポリエーテルジオールが好ましく、例えば、ポリ(テトラメチレン)グリコール、ポリ(オキシプロピレン)グリコール等が挙げられる。これらは1種のみを用いてもよく2種以上を併用してもよい。より具体的には、ポリエーテルアミド型ポリアミド系熱可塑性エラストマー、ポリエステルアミド型ポリアミド系熱可塑性エラストマー、ポリエーテルエステルアミド型ポリアミド系熱可塑性エラストマー等が挙げられる。 The polyamide-based thermoplastic elastomer may have any configuration as long as it has a polyamide component as a hard segment. Polyesters, polyethers, polyetheresters, and the like can be used as soft segments. These may use only 1 type and may use 2 or more types together. Polyamide components constituting the hard segment include polyamide 6, polyamide 11, polyamide 12, and the like. These may use only 1 type and may use 2 or more types together. Various lactams and the like can be used as monomers for these polyamide components. On the other hand, the component that constitutes the soft segment may contain structural units derived from monomers such as dicarboxylic acids and polyether polyols. Among these polyether polyols, polyether diols are preferable, and examples thereof include poly(tetramethylene) glycol and poly(oxypropylene) glycol. These may use only 1 type and may use 2 or more types together. More specifically, polyether amide type polyamide type thermoplastic elastomers, polyester amide type polyamide type thermoplastic elastomers, polyether ester amide type polyamide type thermoplastic elastomers, and the like can be mentioned.

ポリウレタン系熱可塑性エラストマーは、ポリウレタン成分をハードセグメントとするものであればよく、それ以外の点については、どのような構成であってもよい。ソフトセグメントとしては、ポリエステル、ポリエーテル及びポリエーテルエステル、ポリカーボネート等を利用できる。これらは1種のみを用いてもよく2種以上を併用してもよい。
ハードセグメントを構成するポリウレタン成分としては、短鎖グリコール(低分子ポリオール)とイソシアネートの反応で得られるポリウレタン由来する構成単位を含むことができる。ここでポリウレタンとは、イソシアネート(-NCO)とアルコール(-OH)の重付加反応(ウレタン化反応)で得られる、ウレタン結合(-NHCOO-)を有する化合物の総称である。より具体的には、ポリエステル型ポリウレタン系熱可塑性エラストマー、ポリエーテル型ポリウレタン系熱可塑性エラストマー、及びポリカーボネート型ポリウレタン系熱可塑性エラストマー挙げられる。
The thermoplastic polyurethane elastomer may have any configuration as long as it has a polyurethane component as a hard segment. Polyesters, polyethers and polyetheresters, polycarbonates and the like can be used as soft segments. These may use only 1 type and may use 2 or more types together.
The polyurethane component constituting the hard segment may contain structural units derived from polyurethane obtained by reaction of short-chain glycol (low-molecular-weight polyol) and isocyanate. Here, polyurethane is a general term for compounds having urethane bonds (--NHCOO--) obtained by polyaddition reaction (urethanization reaction) of isocyanate (--NCO) and alcohol (--OH). More specific examples include polyester-type polyurethane-based thermoplastic elastomers, polyether-type polyurethane-based thermoplastic elastomers, and polycarbonate-type polyurethane-based thermoplastic elastomers.

延伸フィルムは、当該フィルムを面内方向に延伸された状態にすることで弾性による復元力を利用した伸縮性を示すフィルム基材とすることができるため、復元率が30(%)以上という上記の好ましい特性を実現することが比較的容易であるので、耐熱樹脂層Bとして好適に使用することができる。 The stretched film can be used as a film substrate that exhibits stretchability using the restoring force due to elasticity by stretching the film in the in-plane direction, so the restoration rate is 30 (%) or more. can be suitably used as the heat-resistant resin layer B because it is relatively easy to realize the preferable properties of

上記延伸フィルムは、一軸延伸フィルムであってもよく、二軸延伸フィルムであってもよい。一軸延伸フィルムである場合には、縦延伸、横延伸のいずれであっても良い。
上記延伸フィルムを得るための方法、装置にも特に限定は無く、当業界において公知の方法で延伸を行えばよい。例えば、加熱ロールやテンター式延伸機で延伸することができる。
The stretched film may be a uniaxially stretched film or a biaxially stretched film. In the case of a uniaxially stretched film, it may be longitudinally stretched or transversely stretched.
The method and apparatus for obtaining the stretched film are not particularly limited, and stretching may be performed by a method known in the art. For example, it can be stretched with a heating roll or a tenter-type stretching machine.

上記延伸フィルムとしては、延伸ポリエステルフィルム、延伸エチレン-ビニルアルコール共重合体フィルム、延伸ポリアミドフィルム、延伸ポリエチレンフィルム、及び延伸ポリプロピレンフィルムからなる群より選ばれる延伸フィルムを使用することが好ましい。これらの延伸フィルムは、機械的物性が本発明の用途に適したものであり、また低コストで入手が比較的容易であるため、耐熱樹脂層Bにおける延伸フィルムとして特に好適である。 As the stretched film, it is preferable to use a stretched film selected from the group consisting of a stretched polyester film, a stretched ethylene-vinyl alcohol copolymer film, a stretched polyamide film, a stretched polyethylene film, and a stretched polypropylene film. These stretched films are particularly suitable as the stretched film in the heat-resistant resin layer B because their mechanical properties are suitable for the use of the present invention, and they are available at low cost and relatively easily.

延伸ポリエステルフィルムとしては、延伸ポリブチレンテレフタレート(PBT)フィルム、延伸ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルムが好ましく、二軸延伸ポリブチレンテレフタレート(PBT)フィルムが特に好ましい。
延伸ポリアミドフィルムを構成するポリアミドには特に限定は無いが、ポリアミド-6、ポリアミド-66等を好ましく用いることができる。
延伸ポリエチレンフィルムとしては、一軸延伸ポリエチレンフィルム、二軸延伸ポリエチレンフィルム等を好ましく用いることができる。
延伸ポリプロピレンフィルムとしては、一軸延伸ポリプロピレンフィルム、二軸延伸ポリプロピレンフィルム等を好ましく用いることができる。
延伸倍率には特に限定はなく、熱寸法変化率を適切に制御し、好適な機械的性質を実現するために適切な値を適宜設定すれば良いが、例えば縦方向、横方向ともに2.0~10.0倍の範囲であることが好ましい。
As the stretched polyester film, a stretched polybutylene terephthalate (PBT) film and a stretched polyethylene terephthalate (PET) film are preferable, and a biaxially stretched polybutylene terephthalate (PBT) film is particularly preferable.
Polyamide constituting the stretched polyamide film is not particularly limited, but polyamide-6, polyamide-66 and the like can be preferably used.
As the stretched polyethylene film, a uniaxially stretched polyethylene film, a biaxially stretched polyethylene film, or the like can be preferably used.
As the oriented polypropylene film, a uniaxially oriented polypropylene film, a biaxially oriented polypropylene film, or the like can be preferably used.
The draw ratio is not particularly limited, and an appropriate value may be appropriately set in order to appropriately control the thermal dimensional change rate and achieve suitable mechanical properties. A range of up to 10.0 times is preferred.

耐熱樹脂層Bは、フィルムの強度や、その熱寸法変化率を適切な範囲に制御する観点から、圧縮成形時の金型の最高温度(典型的には110~190℃)に絶え得る耐熱性を有することが好ましい。かかる観点から、耐熱樹脂層Bは、結晶成分を有する結晶性樹脂を含むことが好ましく、当該結晶性樹脂の融点は100℃以上であることが好ましく、140℃以上300℃以下であることがより好ましく、150以上270℃以下であることが更に好ましく、170以上240℃以下であることが特に好ましい。融点は必ずしも成形時の金型の最高温度以上である必要はない。また、融点は熱分析法(DSC法)によって測定することができるが、融解ピークが複数検出される場合は、最も高い温度にある融解ピークから融点を求める。 The heat-resistant resin layer B has heat resistance that can withstand the maximum temperature of the mold during compression molding (typically 110 to 190 ° C.) from the viewpoint of controlling the strength of the film and its thermal dimensional change rate within an appropriate range. It is preferred to have From this point of view, the heat-resistant resin layer B preferably contains a crystalline resin having a crystalline component, and the melting point of the crystalline resin is preferably 100° C. or higher, more preferably 140° C. or higher and 300° C. or lower. It is preferably from 150 to 270°C, and particularly preferably from 170 to 240°C. The melting point does not necessarily need to be higher than the maximum temperature of the mold during molding. Also, the melting point can be measured by a thermal analysis method (DSC method). When multiple melting peaks are detected, the melting point is determined from the highest melting peak.

上述の様に、耐熱樹脂層Bは結晶成分を有する結晶性樹脂を含むことが好ましい。耐熱樹脂層Bに含有させる結晶性樹脂として、例えばポリエステル樹脂、エチレン-ビニルアルコール共重合体樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂等の結晶性樹脂をその一部または全部に用いることができる。具体的にはポリエステル樹脂においてはポリブチレンテレフタレートまたはポリエチレンテレフタレート、ポリアミド樹脂においてはポリアミド6やポリアミド66、ポリエチレン樹脂においては高密度ポリエチレン、低密度ポリエチレン、直鎖状低密度ポリエチレン、超高分子量ポリエチレン、ポリプロピレン樹脂においてはアイソタクチックポリプロピレンを用いることが好ましい。ポリブチレンテレフタレート、及びエチレン-ビニルアルコール共重合体からなる群より選ばれる少なくとも一種の樹脂を含むことが、特に好ましい。
耐熱樹脂層Bに前記結晶性樹脂の結晶成分を含ませることにより、それにより構成されるプロセス用離型フィルムが本発明所定の引張強度、及び復元率を実現するのにより有利になる。また、樹脂封止工程等において皺が発生し難く、皺が成形品に転写されて外観不良を生じることを抑制するのにより有利となる。
As described above, the heat-resistant resin layer B preferably contains a crystalline resin having a crystalline component. As the crystalline resin contained in the heat-resistant resin layer B, for example, a crystalline resin such as a polyester resin, an ethylene-vinyl alcohol copolymer resin, a polyamide resin, a polyethylene resin, or a polypropylene resin can be used partially or wholly. Specifically, polyester resins are polybutylene terephthalate or polyethylene terephthalate, polyamide resins are polyamide 6 and polyamide 66, polyethylene resins are high-density polyethylene, low-density polyethylene, linear low-density polyethylene, ultra-high molecular weight polyethylene, and polypropylene. Isotactic polypropylene is preferably used as the resin. It is particularly preferable to contain at least one resin selected from the group consisting of polybutylene terephthalate and ethylene-vinyl alcohol copolymer.
By including the crystalline component of the crystalline resin in the heat-resistant resin layer B, it is more advantageous for the release film for process use to achieve the predetermined tensile strength and recovery rate of the present invention. In addition, wrinkles are less likely to occur in a resin encapsulation step or the like, which is more advantageous in suppressing the occurrence of poor appearance due to wrinkles being transferred to the molded product.

耐熱樹脂層Bの厚みは、フィルム強度を確保できれば、特に制限はないが、通常1~200μm、好ましくは5~100μm、特に好ましくは10~50μmである。 The thickness of the heat-resistant resin layer B is not particularly limited as long as the film strength can be ensured.

なお、本願の課題の別の解決手段として、上述の樹脂モールド成形品の製造方法において、プロセス用離型フィルムとして、離型層Aと、耐熱樹脂層Bとを少なくとも含み、該耐熱樹脂層Bの復元率(%)が30~80(%)であるプロセス用離型フィルム(第二のプロセス用離型フィルム)を使用することもできる。
ここで、耐熱樹脂層Bの復元率は、耐熱樹脂層B単独(積層しない状態)で、温度175℃で、100mm/分で少なくとも一方向に37.5%伸長し、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、下記式(1)式にしたがって得られるものである。
戻り値/伸長長さ×100=復元率% ・・・(1)
耐熱樹脂層Bの復元率は40%以上が好ましく、45%以上であることがより好ましく、50%以上であることが特に好ましい。
第二のプロセス用離型フィルムを構成する耐熱樹脂層Bは、少なくとも一方向、好ましくはそのMD方向における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長させたときの引張強度が、1.0MPaから30.0MPaであることが好ましい。当該引張強度は、5.0MPaから25.0MPaであることがより好ましく、10.0MPaから20.0MPaであることが特に好ましい。
As another means for solving the problem of the present application, in the above-described method for producing a resin molded product, the release film for process includes at least a release layer A and a heat-resistant resin layer B, and the heat-resistant resin layer B A process release film (second process release film) having a recovery rate (%) of 30 to 80 (%) can also be used.
Here, the recovery rate of the heat-resistant resin layer B is that the heat-resistant resin layer B alone (not laminated) is stretched by 37.5% in at least one direction at 100 mm/min at a temperature of 175° C., rests for 2 minutes, and is then compressed. It is obtained according to the following formula (1) from the return value, which is the displacement until the load becomes 0 when returning to the origin direction at 100 mm/min in the direction.
Return value/extension length x 100 = recovery rate % (1)
The recovery rate of the heat-resistant resin layer B is preferably 40% or more, more preferably 45% or more, and particularly preferably 50% or more.
The heat-resistant resin layer B constituting the second process release film has a tensile strength of It is preferably from 1.0 MPa to 30.0 MPa. The tensile strength is more preferably 5.0 MPa to 25.0 MPa, particularly preferably 10.0 MPa to 20.0 MPa.

第二のプロセス用離型フィルムは、本発明で用いるプロセス用離型フィルムについてのここまで述べてきた要件を備えていてもよく、備えていなくともよい。例えば、積層フィルム全体のMD方向の復元率が、30~80(%)の範囲内であってもよく、その範囲外であってもよい。また、積層フィルム全体のMD方向の引張強度が、1.0MPaから10.0MPaの範囲内であってもよく、その範囲外であってもよい。
本願の課題を効率よく解決する観点からは、第二のプロセス用離型フィルムは、本発明で用いるプロセス用離型フィルムについての要件の少なくとも一部を具備していることが好ましく、本発明にで用いるプロセス用離型フィルムについての要件の全てを具備していることが特に好ましい。
The second process release film may or may not meet the requirements described above for the process release film used in the present invention. For example, the MD direction recovery rate of the entire laminate film may be within the range of 30 to 80 (%), or may be outside the range. Moreover, the tensile strength in the MD direction of the entire laminated film may be within the range of 1.0 MPa to 10.0 MPa, or may be outside the range.
From the viewpoint of efficiently solving the problems of the present application, the second process release film preferably satisfies at least part of the requirements for the process release film used in the present invention. It is particularly preferred to have all of the requirements for a process release film used in .

また、第二のプロセス用離型フィルムは、本発明で用いるプロセス用離型フィルムについて本願明細書に記載された、好ましい技術的特徴の一部又は全部を備えていてもよく、備えていなくともよい。
本願の課題を効率よく解決する観点からは、第二のプロセス用離型フィルムは、本発明で用いるプロセス用離型フィルムについて本願明細書に記載された、好ましい技術的特徴の少なくとも一部を具備していることが好ましい。
In addition, the second process release film may or may not have some or all of the preferred technical features described herein for the process release film used in the present invention. good.
From the viewpoint of efficiently solving the problems of the present application, the second process release film has at least a part of the preferred technical features described herein for the process release film used in the present invention. preferably.

それ以外の層
本形態で用いるプロセス用離型フィルムは、本発明の目的に反しない限りにおいて、離型層A、耐熱樹脂層B及び離型層A’以外の層を有していてもよい。例えば、離型層A(又は離型層A’)と耐熱樹脂層Bとの間に、必要に応じて接着層やクッション層を有してもよい。接着層に用いる材料は、離型層Aと耐熱樹脂層Bとを強固に接着でき、樹脂封止工程や離型工程においても剥離しないものであれば、特に制限されない。クッション層に用いる材料は、金型や被成形品上の凹凸にスムーズに追随させられるようにフィルムの破れ等なく段差を追随できるものであれば、特に制限されない。
Other Layers The process release film used in this embodiment may have layers other than the release layer A, the heat-resistant resin layer B, and the release layer A′ as long as they do not contradict the purpose of the present invention. . For example, between the release layer A (or the release layer A') and the heat-resistant resin layer B, an adhesive layer or a cushion layer may be provided as necessary. The material used for the adhesive layer is not particularly limited as long as it can firmly bond the release layer A and the heat-resistant resin layer B and does not separate in the resin sealing process and the release process. The material used for the cushion layer is not particularly limited as long as it can smoothly follow the irregularities on the mold or molded article without breaking the film.

例えば、離型層A(又は離型層A’)が4-メチル-1-ペンテン共重合体を含む場合は、接着層は、不飽和カルボン酸等によりグラフト変性された変性4-メチル-1-ペンテン系共重合体樹脂、4-メチル-1-ペンテン系共重合体とα-オレフィン系共重合体とからなるオレフィン系接着樹脂等であることが好ましい。離型層A(又は離型層A’)がフッ素樹脂を含む場合は、接着層は、ポリエステル系、アクリル系、フッ素ゴム系等の粘着剤であることが好ましい。接着層の厚みは、離型層A(又は離型層A’)と耐熱樹脂層Bとの接着性を向上できれば、特に制限はないが、例えば0.5~10μmである。
また例えば、クッション層は、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、α-オレフィン系共重合体、ポリエステル系、アクリル系、フッ素ゴム系等であることが好ましい。クッション層の厚みは、所望の段差追随性を満たせられるクッション性が得られれば、特に制限はないが、例えば10~250μmが好ましい。
For example, when the release layer A (or the release layer A′) contains a 4-methyl-1-pentene copolymer, the adhesive layer is modified 4-methyl-1 graft-modified with an unsaturated carboxylic acid or the like. -Pentene-based copolymer resin, olefin-based adhesive resin composed of 4-methyl-1-pentene-based copolymer and α-olefin-based copolymer, and the like are preferable. When the release layer A (or the release layer A') contains a fluororesin, the adhesive layer is preferably made of a polyester-based, acrylic-based, fluororubber-based adhesive, or the like. The thickness of the adhesive layer is not particularly limited as long as the adhesiveness between the release layer A (or the release layer A') and the heat-resistant resin layer B can be improved.
Further, for example, the cushion layer is preferably made of polyethylene resin, polypropylene resin, α-olefin copolymer, polyester, acrylic, fluororubber, or the like. The thickness of the cushion layer is not particularly limited as long as the desired level conformability can be obtained, but is preferably 10 to 250 μm, for example.

本発明で用いるプロセス用離型フィルムの総厚みには特に制限は無いが、例えば10~300μmであることが好ましく、30~150μmであることがより好ましい。離型フィルムの総厚みが上記範囲にあると、巻物として使用する際のハンドリング性が良好であるとともに、フィルムの廃棄量が少ないため好ましい。 The total thickness of the process release film used in the present invention is not particularly limited, but is preferably 10 to 300 μm, more preferably 30 to 150 μm. When the total thickness of the release film is in the above range, it is preferable because the handling property when used as a roll is good and the amount of waste of the film is small.

プロセス用離型フィルムの製造方法
本発明で用いるプロセス用離型フィルムは、任意の方法で製造されうる。
本発明で用いるプロセス用離型フィルムが単層フィルムの場合には、押し出し法、延伸法等の従来公知のフィルム製造方法で製造することができる。
また、本発明で用いるプロセス用離型フィルムが多層フィルム、例えば離型層Aと耐熱樹脂層Bとを含む多層フィルムである場合、例えば、1)離型層Aと耐熱樹脂層Bを共押出成形して積層することにより、プロセス用離型フィルムを製造する方法(共押出し形成法)、2)耐熱樹脂層Bとなるフィルム上に、離型層Aや接着層となる樹脂の溶融樹脂を塗布・乾燥したり、または離型層Aや接着層となる樹脂を溶剤に溶解させた樹脂溶液を塗布・乾燥したりして、プロセス用離型フィルムを製造する方法(塗布法)、3)予め離型層Aとなるフィルムと、耐熱樹脂層Bとなるフィルムとを製造しておき、これらのフィルムを積層(ラミネート)することにより、プロセス用離型フィルムを製造する方法(ラミネート法)などを採用することができる。
Method for Producing Process Release Film The process release film used in the present invention can be produced by any method.
When the process release film used in the present invention is a single-layer film, it can be produced by a conventionally known film production method such as an extrusion method or a stretching method.
Further, when the process release film used in the present invention is a multilayer film, for example, a multilayer film containing a release layer A and a heat-resistant resin layer B, for example, 1) the release layer A and the heat-resistant resin layer B are co-extruded. A method of manufacturing a process release film by molding and laminating (co-extrusion method); A method of manufacturing a process release film by coating and drying, or by coating and drying a resin solution obtained by dissolving a resin for the release layer A or an adhesive layer in a solvent (coating method), 3) A method of manufacturing a release film for a process by pre-manufacturing a film to be the release layer A and a film to be the heat-resistant resin layer B, and laminating these films (lamination method), etc. can be adopted.

3)の方法において、各樹脂フィルムを積層する方法としては、公知の種々のラミネート方法が採用でき、例えば押出ラミネート法、ドライラミネート法、熱ラミネート法等が挙げられる。
ドライラミネート法では、接着剤を用いて各樹脂フィルムを積層する。接着剤としては、ドライラミネート用の接着剤として公知のものを使用できる。例えばポリ酢酸ビニル系接着剤;アクリル酸エステル(アクリル酸エチル、アクリル酸ブチル、アクリル酸2-エチルヘキシルエステル等)の単独重合体もしくは共重合体、またはアクリル酸エステルと他の単量体(メタクリル酸メチル、アクリロニトリル、スチレン等)との共重合体等からなるポリアクリル酸エステル系接着剤;シアノアクリレ-ト系接着剤;エチレンと他の単量体(酢酸ビニル、アクリル酸エチル、アクリル酸、メタクリル酸等)との共重合体等からなるエチレン共重合体系接着剤;セルロ-ス系接着剤;ポリエステル系接着剤;ポリアミド系接着剤;ポリイミド系接着剤;尿素樹脂またはメラミン樹脂等からなるアミノ樹脂系接着剤;フェノ-ル樹脂系接着剤;エポキシ系接着剤;ポリオール(ポリエーテルポリオール、ポリエステルポリオール等)とイソシアネートおよび/またはイソシアヌレートと架橋させるポリウレタン系接着剤;反応型(メタ)アクリル系接着剤;クロロプレンゴム、ニトリルゴム、スチレン-ブタジエンゴム等からなるゴム系接着剤;シリコーン系接着剤;アルカリ金属シリケ-ト、低融点ガラス等からなる無機系接着剤;その他等の接着剤を使用できる。3)の方法で積層する樹脂フィルムは、市販のものを用いてもよく、公知の製造方法により製造したものを用いてもよい。樹脂フィルムには、コロナ処理、大気圧プラズマ処理、真空プラズマ処理、プライマー塗工処理等の表面処理が施されてもよい。樹脂フィルムの製造方法としては、特に限定されず、公知の製造方法を利用できる。
In the method 3), as a method for laminating each resin film, various known lamination methods can be employed, such as an extrusion lamination method, a dry lamination method, a heat lamination method, and the like.
In the dry lamination method, each resin film is laminated using an adhesive. As the adhesive, one known as an adhesive for dry lamination can be used. For example, polyvinyl acetate-based adhesives; homopolymers or copolymers of acrylic esters (ethyl acrylate, butyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, etc.), or acrylic esters and other monomers (methacrylic acid cyanoacrylate-based adhesives; ethylene and other monomers (vinyl acetate, ethyl acrylate, acrylic acid, methacrylic acid) Ethylene copolymer adhesives made of copolymers, etc.) Cellulose adhesives Polyester adhesives Polyamide adhesives Polyimide adhesives Amino resins made of urea resin or melamine resin Adhesives; Phenolic resin adhesives; Epoxy adhesives; Polyurethane adhesives crosslinked with polyols (polyether polyols, polyester polyols, etc.) and isocyanates and/or isocyanurates; Reactive (meth)acrylic adhesives rubber adhesives such as chloroprene rubber, nitrile rubber and styrene-butadiene rubber; silicone adhesives; inorganic adhesives such as alkali metal silicates and low-melting glass; and other adhesives. As the resin film to be laminated by the method of 3), a commercially available one may be used, or one produced by a known production method may be used. The resin film may be subjected to surface treatment such as corona treatment, atmospheric pressure plasma treatment, vacuum plasma treatment, and primer coating treatment. The method for producing the resin film is not particularly limited, and known production methods can be used.

1)共押出し成形法は、離型層Aとなる樹脂層と耐熱樹脂層Bとなる樹脂層との間に、異物が噛み込む等による欠陥や、離型フィルムの反りが生じ難い点で好ましい。3)ラミネート法は、耐熱樹脂層Bに延伸フィルムを用いる場合に好適な製造方法である。この場合は、必要に応じてフィルム同士の界面に適切な接着層を形成することが好ましい。フィルム同士の接着性を高める上で、フィルム同士の界面に、必要に応じてコロナ放電処理等の表面処理を施してもよい。 1) The co-extrusion molding method is preferable in that defects such as foreign matter being caught between the resin layer serving as the release layer A and the resin layer serving as the heat-resistant resin layer B and warping of the release film are less likely to occur. . 3) The lamination method is a suitable manufacturing method when a stretched film is used for the heat-resistant resin layer B. In this case, it is preferable to form an appropriate adhesive layer on the interface between the films as necessary. In order to improve the adhesiveness between the films, the interface between the films may be subjected to surface treatment such as corona discharge treatment, if necessary.

上記2)塗布法における塗布手段は、特に限定されないが、例えばロールコータ、ダイコータ、スプレーコータ等の各種コータが用いられる。溶融押出手段は、特に限定されないが、例えばT型ダイやインフレーション型ダイを有する押出機などが用いられる。 The coating means in the above 2) coating method is not particularly limited, but various coaters such as a roll coater, a die coater, and a spray coater are used. The melt extrusion means is not particularly limited, but for example, an extruder having a T-type die or an inflation type die is used.

プロセス用離型フィルムは、必要に応じて1軸または2軸延伸されていてもよく、それによりフィルムの膜強度を高めることができる。 The process release film may optionally be uniaxially or biaxially stretched to increase the film strength of the film.

樹脂モールド成形品の製造方法
本発明の樹脂モールド成形品の製造方法は、圧縮成形法による樹脂封止を行うプロセスを伴うものであり、より具体的には、
[1]下型に設けられたキャビティ凹部の内面が、上記特定のプロセス用離型フィルムにより被覆され、キャビティ凹部にモールド用の樹脂が供給された状態で、上型と下型とで被成形品をクランプして圧縮成形する樹脂モールド成形品の製造方法であって、
金型に該プロセス用離型フィルムとモールド用の樹脂と被成形品とをセットし、該プロセス用離型フィルムを下型側からエア吸引してキャビティ凹部の内面にならってエア吸着する工程、
任意選択で、上型と下型とを当接させて外部とエアシールしたキャビティを形成した状態で、前記キャビティに連通して設けた流路を介してエア吸引機構によりキャビティから真空排気する工程、及び
前記上型と下型とを圧縮成形位置まで型締めし、樹脂を硬化させて被成形品を圧縮成形する工程、をこの順で有する、上記樹脂モールド成形品の製造方法、又は
[2]上型に設けられたキャビティ凹部の内面が、上記特定のプロセス用離型フィルムにより被覆され、下型にモールド用の樹脂と被成形品が供給された状態で、上型と下型とで被成形品をクランプして圧縮成形する樹脂モールド成形品の製造方法であって、
金型に該プロセス用離型フィルムとモールド用の樹脂と被成形品とをセットし、該プロセス用離型フィルムを上型側からエア吸引してキャビティ凹部の内面にならってエア吸着する工程、
任意選択で、上型と下型とを当接させて、外部とエアシールしたキャビティを形成した状態で、前記キャビティに連通して設けた流路を介してエア吸引機構によりキャビティから真空排気する工程、及び
前記上型と下型とを圧縮成形位置まで型締めし、樹脂を硬化させて被成形品を圧縮成形する工程、をこの順で有する、上記樹脂モールド成形品の製造方法、である。
Method for producing a resin-molded article The method for producing a resin-molded article according to the present invention involves a process of resin sealing by compression molding.
[1] In a state in which the inner surface of the cavity recess provided in the lower mold is covered with the specific release film for process, and the cavity recess is supplied with the molding resin, the upper mold and the lower mold are used for molding. A method for manufacturing a resin molded product by clamping and compression molding the product,
A step of setting the release film for process, the resin for molding, and the article to be molded in a mold, and sucking the release film for process from the lower mold side so as to follow the inner surface of the recessed portion of the cavity.
Optionally, in a state in which the upper mold and the lower mold are brought into contact with each other to form a cavity air-sealed with the outside, a step of evacuating the cavity from the cavity by an air suction mechanism through a flow path provided in communication with the cavity; and the step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the resin, and compression molding the molded product in this order, or [2] The inner surface of the cavity recess provided in the upper mold is covered with the above-mentioned specific process release film, and the lower mold is covered with the upper mold and the lower mold in a state in which the resin for molding and the article to be molded are supplied. A method for manufacturing a resin molded product by clamping and compression molding a molded product,
A step of setting the release film for process, the resin for molding, and the article to be molded in a mold, and sucking the release film for process from the upper mold side so as to follow the inner surface of the recessed portion of the cavity.
Optionally, in a state in which the upper mold and the lower mold are brought into contact with each other to form a cavity air-sealed with the outside, a step of evacuating the cavity from the cavity by means of an air suction mechanism through a channel provided in communication with the cavity. and a step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the resin, and compression molding the molded product, in this order.

本発明の製造方法においては、上記特定の物性を有するプロセス用離型フィルムを、金型内に半導体チップ等を配置してモールド用の樹脂(封止樹脂)を圧縮成形する際に、半導体チップ等と金型内面との間に配置することで、金型や成形品からの剥離不良、バリの発生等を効果的に防止することができる。
本発明の製造方法における圧縮成形に用いるモールド用の樹脂(封止樹脂)は、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂のいずれであってもよいが、当該技術分野においては熱硬化性樹脂が広く用いられており、特にエポキシ系樹脂、ポリイミド系樹脂、及びシリコーン系樹脂からなる群より選ばれる少なくとも一種の樹脂を含有するものであることが好ましい。
In the manufacturing method of the present invention, when a semiconductor chip or the like is placed in a mold and a molding resin (sealing resin) is compression-molded, the process release film having the specific physical properties described above is applied to the semiconductor chip. By arranging it between the inner surface of the mold and the mold, it is possible to effectively prevent separation failure from the mold and the molded product, generation of burrs, and the like.
The molding resin (sealing resin) used for compression molding in the manufacturing method of the present invention may be either a thermoplastic resin or a thermosetting resin, but thermosetting resins are widely used in the technical field. In particular, it preferably contains at least one resin selected from the group consisting of epoxy resins, polyimide resins, and silicone resins.

本発明の樹脂モールド成形品の製造方法においては、モールド様の樹脂、及びプロセス用離型フィルムの供給方法には特に限定は無いが、プロセス用離型フィルムに、金型外でモールド用の樹脂を供給し、前記プロセス用離型フィルムとともに前記モールド用の樹脂を金型内に搬入して樹脂モールドすることが好ましい。
また、本発明の樹脂モールド成形品の製造方法においては、前記被成形品が、半導体チップを含むことが好ましく、より具体的には、複数個の半導体チップが搭載された基板、半導体ウエハあるいはリードフレームであることが特に好ましい。
In the method for producing a resin-molded product of the present invention, there is no particular limitation on the method of supplying the mold-like resin and the process release film, but the process release film is coated with the mold resin outside the mold. is supplied, and the resin for molding is carried into the mold together with the mold release film for the process for resin molding.
Further, in the method of manufacturing a resin-molded article of the present invention, the article to be molded preferably includes a semiconductor chip. A frame is particularly preferred.

以下、図1を参照しながら、本発明の樹脂モールド成形品の製造方法の好ましい一実施形態である半導体チップの樹脂封止プロセスについて説明する。当該実施形態においては、においては、図1に示す1.から9.の各工程がこの順で実施される。 Hereinafter, a resin sealing process for a semiconductor chip, which is a preferred embodiment of the method for manufacturing a resin molded article of the present invention, will be described with reference to FIG. In this embodiment, 1. shown in FIG. to 9. are carried out in this order.

まず「1.フィルムカット」工程において、プロセス用離型フィルム11を、ロール状の巻物からから引き出して、X-Yステージ13上に展開し、所定のサイズに切断する。このプロセス用離型フィルム11の所定のサイズには特に制限は無いが、樹脂モールドに用いる下型19内に設けられたキャビティ19cの全面をカバーし、更に下型19を構成するクランパ19bと上型15の間にフィルム11をクランプするための固定代を含む大きさであることが好ましい。 First, in the "1. Film cutting" step, the process release film 11 is pulled out from the roll, spread on the XY stage 13, and cut into a predetermined size. Although there is no particular limitation on the predetermined size of the process release film 11, it covers the entire surface of the cavity 19c provided in the lower mold 19 used for resin molding, and further comprises the clamper 19b and the upper mold 19. It is preferable that the size includes a fixing margin for clamping the film 11 between the molds 15 .

次に、「2.枠型設置」工程において、上記固定代と略重なる形状を有する枠14を、上記X-Yステージ13上に展開され、所定のサイズに切断されたプロセス用離型フィルム11上に、上記固定代と略重なるように設置する。 Next, in the step of “2. Frame mold installation”, the frame 14 having a shape substantially overlapping the fixing margin is developed on the XY stage 13, and the process release film 11 cut to a predetermined size. It is installed on top so as to substantially overlap with the fixed margin.

次に、「3.樹脂計量」工程において、上記プロセス用離型フィルム11上であって、上記枠14内に、所定量のモールド用樹脂18を計量しながら配置する。モールド用樹脂18の量には特に制限は無いが、後記「8.圧縮」工程後のキャビティ19cの体積と略同一であることが望ましい。 Next, in the "3. Resin weighing" step, a predetermined amount of molding resin 18 is placed on the process release film 11 and within the frame 14 while being weighed. The amount of the molding resin 18 is not particularly limited, but it is desirable that the amount is substantially the same as the volume of the cavity 19c after the "8. Compression" step described later.

次に、「4.樹脂+フィルム搬送」工程において、上記プロセス用離型フィルム11を上記枠14に吸着したまま、当該離型フィルム11上に配置されたモールド用樹脂18とともに、X-Yステージ13から分離して搬送し、樹脂封止を行なう下型19上に配置する。このとき、下型19に設けられたキャビティ19cを上記プロセス用離型フィルム11が覆い、かつ、上記プロセス用離型フィルム11上に配置されたモールド用樹脂18が上記キャビティ19c上に位置するように、配置することが好ましい。 Next, in the “4. resin + film transport” step, while the mold release film 11 for process is adhered to the frame 14, together with the mold resin 18 placed on the release film 11, the XY stage is carried out. It is separated from 13, conveyed, and placed on a lower mold 19 for resin sealing. At this time, the process release film 11 covers the cavity 19c provided in the lower mold 19, and the mold resin 18 placed on the process release film 11 is positioned above the cavity 19c. It is preferable to place the

次に、「5.真空吸着」工程において、上記プロセス用離型フィルム11の固定代を、上記枠14と下型19を構成するクランパ19bとの間でクランプしながら、上記下型19中のキャビティ19c内に設けられた吸着孔から脱気して、上記プロセス用離型フィルム11を、キャビティ19cの内面にならって吸着支持する。このとき、上記プロセス用離型11フィルムの固定代を、下型19の周縁部に設けられた吸着孔に吸着することで固定してもよい。
フィルム周縁部にある固定代を固定したまま、キャビティ19cの内面に沿って吸着支持されることで、上記プロセス用離型フィルムは、キャビティ深さに略相当する長さだけ伸張される。本工程におけるキャビティ19cの(初期)深さは、本実施形態の樹脂封止プロセスにより作製される樹脂封止半導体素子の厚さに応じて適宜設定することができる。本工程におけるキャビティ19cの(初期)深さは、通常1.0~10.0mmであるが、これに限定されない。
本工程においては、プロセス用離型フィルム11は、容易にキャビティ19cの内面に沿って吸着支持される柔軟性を有するとともに、金型15、19の加熱温度に耐えられる耐熱性を有することが好ましい。また、樹脂封止後に金型19から容易に離型し、かつ、モールド用樹脂18から容易に剥離できるものであることが好ましい。
Next, in the "5. Vacuum adsorption" step, while clamping the fixing margin of the process release film 11 between the frame 14 and the clamper 19b constituting the lower mold 19, Air is removed from the suction holes provided in the cavity 19c, and the process release film 11 is sucked and supported along the inner surface of the cavity 19c. At this time, the fixing margin of the mold release film 11 for process may be fixed by suction to suction holes provided in the peripheral portion of the lower mold 19 .
By being supported by suction along the inner surface of the cavity 19c while fixing the fixing margin on the film peripheral portion, the release film for process is stretched by a length substantially corresponding to the depth of the cavity. The (initial) depth of the cavity 19c in this step can be appropriately set according to the thickness of the resin-encapsulated semiconductor element produced by the resin encapsulation process of this embodiment. The (initial) depth of the cavity 19c in this step is usually 1.0 to 10.0 mm, but is not limited to this.
In this step, it is preferable that the process release film 11 has flexibility to be easily adsorbed and supported along the inner surface of the cavity 19 c and has heat resistance to withstand the heating temperature of the molds 15 and 19 . . Moreover, it is preferable that it can be easily released from the mold 19 after being sealed with resin and can be easily peeled off from the molding resin 18 .

次に、「6.基盤設置」工程において、半導体チップ17(及び必要に応じて回路部品)が搭載された基板16を、半導体チップ17が下向きとなる様に上型15に吸着し、該半導体チップ17が下型19中のキャビティ19cの略中心に位置するように、上型15を移動して位置合わせする。 Next, in the step of "6. Base installation", the substrate 16 on which the semiconductor chip 17 (and circuit components if necessary) is mounted is sucked to the upper die 15 so that the semiconductor chip 17 faces downward, and the semiconductor is The upper mold 15 is moved and aligned so that the chip 17 is positioned substantially in the center of the cavity 19c in the lower mold 19. Then, as shown in FIG.

次に、「7.型締め」工程において、当初のキャビティ19cの空間を維持したまま(下型19中のキャビティブロック19aを当初位置のまま)、上型15と下型19とを接触させ、型締めを行なう。 Next, in the "7. Mold clamping" step, while maintaining the initial space of the cavity 19c (the cavity block 19a in the lower mold 19 remains at the initial position), the upper mold 15 and the lower mold 19 are brought into contact, Close the mold.

次に、「8.圧縮」工程において、キャビティブロック19aを圧縮成形位置まで上昇させ、キャビティ19c中のモールド用樹脂18を圧縮成形する。これにより、基板16上の半導体チップ17(及び必要に応じて回路部品)が、モールド用樹脂18によって封止される。
キャビティ19cの初期深さと、圧縮成形後のキャビティ19cの最終深さとの差は、1.0mm以上であることが好ましく、1.3mm以上であることがより好ましく、1.6mm以上であることが特に好ましい。大容量のNAND型フラッシュメモリ等の厚みの大きい半導体チップ17を樹脂封止する場合、キャビティ19cの初期深さと、圧縮成形後のキャビティ19cの最終深さとの差が大きくなる傾向にあり、その様な場合であっても、特定のプロセス用離型フィルムを用いる本発明の樹脂モールド成形品の製造方法によれば、剥離不良等の問題を有効に抑制しながら、厚みの大きい半導体チップ17を適切に樹脂封止することができる。
Next, in the "8. Compression" step, the cavity block 19a is raised to the compression molding position, and the molding resin 18 in the cavity 19c is compression molded. As a result, the semiconductor chip 17 (and circuit components if necessary) on the substrate 16 is sealed with the molding resin 18 .
The difference between the initial depth of the cavity 19c and the final depth of the cavity 19c after compression molding is preferably 1.0 mm or more, more preferably 1.3 mm or more, and preferably 1.6 mm or more. Especially preferred. When a semiconductor chip 17 having a large thickness such as a large-capacity NAND flash memory is resin-sealed, the difference between the initial depth of the cavity 19c and the final depth of the cavity 19c after compression molding tends to increase. Even in such a case, according to the method of manufacturing a resin-molded article of the present invention using a specific mold release film, the semiconductor chip 17 having a large thickness can be properly formed while effectively suppressing problems such as poor peeling. can be resin-sealed.

また、キャビティ19cの最終深さ(圧縮成形後の樹脂厚み)は、0.5mm以上であることが好ましく、0.7mm以上であることがより好ましく、1.0mm以上であることが特に好ましい。キャビティ19cの最終深さが0.5mm以上であることによって、大容量のNAND型フラッシュメモリ等の厚みの大きい半導体チップ17を適切に樹脂封止した樹脂モールド成形品を製造することができる。
圧縮成形にあたっては、モールド用樹脂18が適切な流動性を示す温度まで加熱することが好ましく、またモールド用樹脂18が熱硬化性樹脂である場合にあっては、成形後のモールド用樹脂が十分に硬化する温度、時間で加熱することが好ましい。例えば、樹脂封止プロセスにおける最高温度を、110から190℃に設定することができ、120から180℃に設定することがより好ましい。
その際の成形圧力、硬化時間にも特に限定は無く、モールド用樹脂18の種類、および封止温度に対応して適宜好ましい条件を設定すればよいが、例えば成形圧力50~300kN/cm、より好ましくは70~150kN/cm、硬化時間1~60分、より好ましくは2~10分の範囲で適宜設定することができる。
Further, the final depth of the cavity 19c (resin thickness after compression molding) is preferably 0.5 mm or more, more preferably 0.7 mm or more, and particularly preferably 1.0 mm or more. By setting the final depth of the cavity 19c to 0.5 mm or more, it is possible to manufacture a resin-molded product in which a thick semiconductor chip 17 such as a large-capacity NAND flash memory is appropriately resin-sealed.
In compression molding, it is preferable to heat the molding resin 18 to a temperature at which it exhibits appropriate fluidity. It is preferable to heat at a temperature and time at which it hardens to . For example, the maximum temperature in the resin sealing process can be set to 110 to 190°C, more preferably 120 to 180°C.
There are no particular limitations on the molding pressure and curing time at that time, and preferable conditions may be appropriately set according to the type of molding resin 18 and the sealing temperature. More preferably 70 to 150 kN/cm 2 , curing time 1 to 60 minutes, more preferably 2 to 10 minutes can be appropriately set.

モールド用樹脂18としては、液状樹脂であっても、常温で固体状の樹脂であってもよいが、樹脂封止時加熱により液状となるものなどの封止材を適宜採用できる。モールド用樹脂材料として、具体的には、主としてエポキシ系樹脂(高分子内に残存させたエポキシ基で架橋ネットワークを形成することで硬化させることが可能な熱硬化性樹脂であり、好ましくはビフェニル型エポキシ樹脂、ビスフェノールエポキシ樹脂、o-クレゾールノボラック型エポキシ樹脂など)が用いられ、エポキシ系樹脂以外の封止樹脂として、ポリイミド系樹脂(主鎖の繰り返し単位にイミド結合を有する高分子樹脂であり、好ましくはビスマレイミド系など)、シリコーン系樹脂(主骨格の繰り返し単位にシロキサン結合を有する高分子樹脂であり、好ましくは熱硬化付加型など)など、モールド用樹脂として通常使用されているものを好適に用いることができる。 The molding resin 18 may be a liquid resin or a resin that is solid at room temperature, but a sealing material that becomes liquid when heated during resin sealing can be used as appropriate. Specifically, resin materials for molding are mainly epoxy resins (thermosetting resins that can be cured by forming a crosslinked network with epoxy groups remaining in the polymer, preferably biphenyl type resins). epoxy resin, bisphenol epoxy resin, o-cresol novolac type epoxy resin, etc.) is used, and as a sealing resin other than the epoxy resin, a polyimide resin (a polymer resin having an imide bond in the repeating unit of the main chain, Bismaleimide-based resins are preferred), silicone-based resins (polymeric resins having a siloxane bond in the repeating unit of the main skeleton, preferably thermosetting addition-type resins, etc.), and the like, which are commonly used as molding resins, are suitable. can be used for

次に、「9.型開き(離型)」工程において、上型15を下型19から分離し、樹脂モールド成形品(樹脂封止半導体チップ)を金型外へ取り出す。このとき、成形品がプロセス用離型フィルム11から容易に剥離するという、好ましい効果が実現される。特にキャビティ19c側面のプロセス用離型フィルム11が、成形品に噛み込むことなく剥離するという、従来技術によっては実現困難だった好ましい効果が実現される。また、剥離後の成形品の表面が、樹脂欠け等の無い良好な外観を有するという、好ましい効果も実現される。上記特定の物性を有するプロセス用離型フィルムを用いる本実施形態の製造方法によれば、この様な好ましい結果を実現することが容易となる。 Next, in the "9. Mold opening (mold release)" step, the upper mold 15 is separated from the lower mold 19, and the resin-molded product (resin-encapsulated semiconductor chip) is taken out of the mold. At this time, the favorable effect that the molded product can be easily peeled off from the process release film 11 is achieved. In particular, the process release film 11 on the side surface of the cavity 19c can be peeled off without biting into the molded product, which is a desirable effect that has been difficult to achieve with conventional technology. In addition, a favorable effect is also realized that the surface of the molded product after peeling has a good appearance without resin chipping. According to the production method of the present embodiment using the process release film having the above specific physical properties, such preferable results can be easily achieved.

次に、図3を参照しながら、本発明の樹脂モールド成形品の製造方法の他の好ましい実施形態である、半導体チップの樹脂封止プロセスについて説明する。この実施形態においては、上型と下型とを当接させて、外部とエアシールしたキャビティを形成した状態で、前記キャビティに連通して設けた流路を介してエア吸引機構によりキャビティから真空排気する工程を有することで、キャビティ内に残留しているエアを確実に排気することができ、同時に樹脂中に含まれているエアを排気することができて、樹脂中にボイドのない高品質の圧縮成形をすることができる。
当該実施形態においては、図3に示す(a)から(d)の各工程がこの順で実施される。
Next, referring to FIG. 3, a semiconductor chip resin encapsulation process, which is another preferred embodiment of the method for manufacturing a resin molded product according to the present invention, will be described. In this embodiment, the upper mold and the lower mold are brought into contact with each other to form a cavity air-sealed with the outside. By having the step of doing, the air remaining in the cavity can be exhausted reliably, and the air contained in the resin can be exhausted at the same time, resulting in a high quality resin without voids. Can be compression molded.
In this embodiment, the steps (a) to (d) shown in FIG. 3 are performed in this order.

図3(a)で、310はプレス装置の固定プラテンに固設される下型ベース、312は下型ベース310に固定した下型、314は下型312の側面に摺接させて型開閉方向に可動に支持した下型クランパである。
下型クランパ314は樹脂モールド領域を規定する下型312の側面を囲む枠体状に形成される。本実施形態では樹脂モールド領域が平面形状で矩形状に形成され、下型クランパ314はしたがって矩形の枠体状に形成されている。このように下型クランパ314は樹脂モールド領域に合わせて形成するから、たとえば、半導体ウエハのように被成形品の樹脂モールド領域が円形状となるような場合は、下型クランパ314は円リング状に形成される。
In FIG. 3(a), 310 is a lower mold base fixed to a fixed platen of the press device, 312 is a lower mold fixed to the lower mold base 310, and 314 is slidably contacted with the side surface of the lower mold 312 to open and close the mold. It is a lower die clamper that is movably supported on the
The lower mold clamper 314 is formed in a frame shape surrounding the side surface of the lower mold 312 that defines the resin mold region. In this embodiment, the resin mold region is formed in a planar rectangular shape, and the lower mold clamper 314 is therefore formed in a rectangular frame shape. Since the lower mold clamper 314 is formed in accordance with the resin mold region in this manner, for example, when the resin mold region of the molded product is circular, such as a semiconductor wafer, the lower mold clamper 314 is formed in a circular ring shape. formed in

316は下型クランパ314を上型に向けて付勢する付勢手段としてのスプリングである。下型クランパ314は型開きした状態で上端面が下型312の樹脂成形面よりも上方に突出するようスプリング316によって付勢して設けられている。下型クランパ314が下型312の樹脂成形面よりも突出することにより、下型312の樹脂成形面と下型312の周囲が下型クランパ314によって囲まれたキャビティ凹部が形成される。
318は下型312の側面と下型クランパ314の内側面との間をエアシールするシールであり、下型312の側面の全周にわたって周設されている。なお、シール318は下型クランパ314が昇降移動する際に、常時下型クランパ314の内側面に摺接する位置に設けられている。
319は下型クランパ314の上端面に設けたシールである。このシール319は上型との間で樹脂モールド領域(キャビティ)を外部からエアシールするために設けられている。
A spring 316 serves as a biasing means for biasing the lower die clamper 314 toward the upper die. The lower die clamper 314 is biased by a spring 316 so that the upper end surface of the lower die clamper 314 projects upward from the resin molding surface of the lower die 312 when the mold is opened. When the lower die clamper 314 protrudes from the resin molding surface of the lower die 312 , a cavity recess is formed in which the resin molding surface of the lower die 312 and the periphery of the lower die 312 are surrounded by the lower die clamper 314 .
A seal 318 provides an air seal between the side surface of the lower mold 312 and the inner surface of the lower mold clamper 314 , and is provided along the entire circumference of the side surface of the lower mold 312 . The seal 318 is provided at a position where it always slides on the inner surface of the lower die clamper 314 when the lower die clamper 314 moves up and down.
A seal 319 is provided on the upper end face of the lower clamper 314 . This seal 319 is provided to air-seal the resin mold region (cavity) from the outside with the upper mold.

また、図3(a)で320はプレス装置の可動プラテンに固設される上型ベースであり、322は上型ベース320に固定した上型、324は上型322の側面に摺接させて型開閉方向に可動に支持した上型クランパである。上型クランパ24も下型クランパ314と同様に、上型322の側面を囲む枠体状に形成される。
上型322は樹脂モールド時に被成形品を保持し、下型312との間で被成形品をクランプして樹脂モールドする。したがって、上型322も下型312とほぼ同形の平面形状に形成され、上型クランパ324も下型クランパ314と略同形状の枠体状に形成される。
In FIG. 3A, reference numeral 320 denotes an upper mold base fixed to the movable platen of the press device, 322 is an upper mold fixed to the upper mold base 320, and 324 is in sliding contact with the side surface of the upper mold 322. This is an upper die clamper that is movably supported in the die opening/closing direction. Similarly to the lower mold clamper 314 , the upper mold clamper 24 is also formed in a frame shape surrounding the side surface of the upper mold 322 .
The upper mold 322 holds the article to be molded during resin molding, clamps the article to be molded between itself and the lower mold 312, and resin molds the article. Accordingly, the upper die 322 is also formed in a planar shape substantially the same as the lower die 312 , and the upper die clamper 324 is also formed in a frame shape substantially the same as the lower die clamper 314 .

なお、上型322のクランプ面は、型閉じした際に上型322の外周縁部が下型クランパ314に当接するように、下型312の樹脂モールド領域(外形形状)よりも若干大きく形成されている。また、上型クランパ324の下端面は平坦面に形成され、下型クランパ314の上端面に対向する配置となっている。上型クランパ324の下端面を平坦面とし、下型クランパ314と対向する配置としているのは、下型クランパ314に上型クランパ324が当接した際に、上型と下型とで囲まれるキャビティがシール319により外部からエアシールされるようにするためである。したがって、シール319は下型クランパ314に設けるかわりに上型クランパ324に設けるようにしてもよい。
なお、本実施形態ではシール319により上型クランパ324と下型クランパ314との間をエアシールしているが、下型312にセットするプロセス用離型フィルム350を上型クランパ324と下型クランパ314とでクランプされる領域まで覆う広幅に設け、上型クランパ324と下型クランパ314とでプロセス用離型フィルム350をクランプしてエアシールするようにすることもできる。
The clamping surface of the upper mold 322 is formed slightly larger than the resin-molded area (outer shape) of the lower mold 312 so that the outer peripheral edge of the upper mold 322 contacts the lower mold clamper 314 when the mold is closed. ing. Further, the lower end surface of the upper die clamper 324 is formed into a flat surface and arranged to face the upper end surface of the lower die clamper 314 . The reason why the lower end surface of the upper die clamper 324 is a flat surface and is arranged to face the lower die clamper 314 is that when the upper die clamper 324 contacts the lower die clamper 314, it is surrounded by the upper die and the lower die. This is so that the cavity is air-sealed from the outside by the seal 319 . Accordingly, the seal 319 may be provided on the upper die clamper 324 instead of on the lower die clamper 314 .
In this embodiment, the seal 319 air seals between the upper clamper 324 and the lower clamper 314 . It is also possible to provide a wide width covering up to the area clamped by the upper mold clamper 324 and the lower mold clamper 314 to clamp the release film 350 for air sealing.

326は上型クランパ324を常時下型側に向けて付勢する付勢手段としてのスプリングである。上型クランパ24は、スプリング326の付勢力により、常時は、その下端面が上型322のクランプ面よりも下方に突出するように設けられている。328は上型322の側面と上型クランパ324の内側面との間をエアシールするシールであり、上型322の側面の全周にわたって周設され、上型クランパ324が昇降移動する際に、常時上型クランパ324の内側面が摺接するように設けられている。 326 is a spring as biasing means for normally biasing the upper die clamper 324 toward the lower die side. The upper die clamper 24 is provided so that the lower end surface of the upper die clamper 24 normally protrudes below the clamping surface of the upper die 322 due to the biasing force of the spring 326 . 328 is a seal for air-sealing between the side surface of the upper die 322 and the inner side surface of the upper die clamper 324. It is provided so that the inner surface of the upper mold clamper 324 is in sliding contact.

本実施形態の樹脂モールド成形品の製造方法はプロセス用離型フィルムを用いて樹脂モールドするとともに、樹脂モールド時にキャビティから真空排気して樹脂モールドする工程を有している。
このため、下型クランパ314の内側面と下型312の側面との間からエアを吸引する流路314aと、プロセス用離型フィルムを下型クランパ314の上端面でエア吸着するための流路314bを設ける。330は流路314a、314bに連通して金型外に設けたエア吸引機構である。なお、下型クランパ314の内側面と下型312の側面との間には下型312側からプロセス用離型フィルムをエア吸引するための流路(隙間)が形成されている。この流路は下型312の側面と下型クランパ314の内側面の全面にわたって設ける必要はなく、部分的にプロセス用離型フィルムをエア吸引するための溝状の流路であってもよい。
The method for manufacturing a resin-molded article according to the present embodiment includes the steps of resin-molding using a release film for processing, and performing resin-molding by evacuating the cavity during resin-molding.
Therefore, a flow path 314 a for sucking air from between the inner surface of the lower die clamper 314 and the side surface of the lower die 312 and a flow path for sucking the release film for process on the upper end surface of the lower die clamper 314 are provided. 314b is provided. 330 is an air suction mechanism provided outside the mold in communication with the channels 314a and 314b. Between the inner surface of the lower mold clamper 314 and the side surface of the lower mold 312, a channel (gap) is formed for air suction of the process release film from the lower mold 312 side. The channel does not need to be provided over the entire side surface of the lower mold 312 and the inner surface of the lower clamper 314, and may be a groove-like channel for partially sucking the process release film.

また、上型側には、上型クランパ324にキャビティ内からエアを排気するための流路324aを設ける。332は流路324aに連通して金型外に設けたエア吸引機構である。
なお、本実施形態においては、金型開閉動作は、上型322を可動側としているが、下型312を可動側とすることも可能である。
Further, on the upper die side, the upper die clamper 324 is provided with a channel 324a for exhausting air from the cavity. 332 is an air suction mechanism provided outside the mold in communication with the flow path 324a.
In this embodiment, the upper die 322 is on the movable side for opening and closing the mold, but the lower die 312 may be on the movable side.

続いて、本実施形態の樹脂モールド成形品の製造方法の具体的なプロセスを、図3(a)から(d)にしたがって説明する。
図3(a)は上型322に半導体チップ340を供給し、下型312にプロセス用離型フィルム350とモールド用樹脂352とを供給した状態を示す。
本実施形態では、上型322にフィンガ等の機械的に半導体チップ340を支持する支持機構を設け、上型322に半導体チップ340を保持して半導体チップ340をクランプするように構成している。
下型312にプロセス用離型フィルム350とモールド用樹脂352を供給する方法としては、下型312に下型クランパ314の上端面まで被覆する幅の長尺状のプロセス用離型フィルム350を供給し、下型312と下型クランパ314とによって形成されるキャビティ凹部の内面形状にならってプロセス用離型フィルム50をエア吸着してキャビティ凹部にモールド用樹脂352を供給する方法、下型312の樹脂封止領域に合わせた凹部状にプリフォームしたプロセス用離型フィルムに、金型外であらかじめモールド用樹脂352を供給し、プロセス用離型フィルム350とモールド用樹脂352を金型内に搬入してセットする方法が可能であり、それほど流動性の高くない樹脂の場合には、あらかじめプリフォームされていないプロセス用離型フィルムにモールド用の樹脂を供給し、プロセス用離型フィルムと樹脂とを金型内に搬入してセットする方法も可能である。
Concrete processes of the method for manufacturing a resin molded article according to the present embodiment will now be described with reference to FIGS. 3(a) to 3(d).
FIG. 3A shows a state in which a semiconductor chip 340 is supplied to an upper mold 322 and a process release film 350 and a molding resin 352 are supplied to a lower mold 312 .
In this embodiment, the upper die 322 is provided with a support mechanism such as fingers for mechanically supporting the semiconductor chip 340 , and the upper die 322 holds the semiconductor chip 340 and clamps the semiconductor chip 340 .
As a method of supplying the process release film 350 and the molding resin 352 to the lower mold 312 , the process release film 350 having a width covering the upper end surface of the lower mold clamper 314 is supplied to the lower mold 312 . Then, following the inner surface shape of the cavity recess formed by the lower mold 312 and the lower mold clamper 314, the mold resin 352 is supplied to the cavity recess by air-adsorbing the process release film 50. Molding resin 352 is supplied in advance outside the mold to the process release film preformed into a concave shape matching the resin sealing area, and the process release film 350 and the molding resin 352 are carried into the mold. In the case of a resin that does not have high fluidity, the molding resin is supplied to the process release film that has not been preformed in advance, and the process release film and the resin are mixed together. can be carried into the mold and set.

プロセス用離型フィルム350は、上記の特定の物性を具備するものであり、金型の加熱温度に耐える耐熱性、エア吸引によってキャビティ凹部の内面形状にならってエア吸着される伸縮性、樹脂との剥離性といった機能を備えるものである。プロセス用離型フィルム350の柔軟性が高くプリフォームした形態がそのままで保持できない場合には、セット治具によってプロセス用離型フィルム350を支持して金型内に搬入して下型312にセットする。金型外でプロセス用離型フィルム350にモールド用樹脂352を供給した後、金型内に搬入して樹脂モールドする方法は、モールド用樹脂を正確に計量することが容易であること、金型内にプロセス用離型フィルム350とモールド用の樹脂をセットした時点から樹脂が加熱開始されるから、樹脂が均一に加熱できるという利点がある。 The process release film 350 has the specific physical properties described above. It has a function such as peelability. If the process release film 350 is too flexible to retain the preformed shape as it is, the process release film 350 is supported by a set jig, carried into the mold, and set on the lower mold 312 . do. The method of supplying the molding resin 352 to the process release film 350 outside the mold and then carrying it into the mold for resin molding facilitates accurate weighing of the molding resin. Since the resin starts to be heated from the time when the release film 350 for process and the resin for molding are set inside, there is an advantage that the resin can be uniformly heated.

図3(b)は、半導体チップ340とプロセス用離型フィルム350およびモールド用樹脂352とを金型内に供給した後、上型ベース320を上型クランパ324と下型クランパ314とが当接する位置まで下降させ、キャビティ360内のエアを真空排気している状態を示す。
上型ベース320が下降して上型クランパ324と下型クランパ314とが当接することにより、シール319を介して上型クランパ324と下型クランパ314との間がエアシールされ、型開きの状態で開放されていたキャビティ構成部分が外部からエアシールされたキャビティとなる。上型クランパ324に設けた流路324aは、キャビティの内部空間に連通する位置に設けられているから、流路324aからキャビティ内のエアを確実に排気することができる。
なお、本実施形態ではプロセス用離型フィルム350の周縁部が上型クランパ324と下型クランパ314とが当接する部位よりも内側に位置するようにしているが、プロセス用離型フィルム50は上型クランパ324と下型クランパ314とによってクランプされてもよく、プロセス用離型フィルム350は個片状のものに限らず、長尺状のものであっても使用できる。
In FIG. 3B, after the semiconductor chip 340, the process release film 350 and the molding resin 352 are supplied into the mold, the upper mold base 320 is brought into contact with the upper mold clamper 324 and the lower mold clamper 314. It is lowered to the position and the air in the cavity 360 is evacuated.
When the upper die base 320 descends and the upper die clamper 324 and the lower die clamper 314 come into contact with each other, an air seal is formed between the upper die clamper 324 and the lower die clamper 314 via the seal 319, and the die is opened. The open cavity forming part becomes a cavity air-sealed from the outside. Since the channel 324a provided in the upper die clamper 324 is provided at a position communicating with the internal space of the cavity, the air in the cavity can be reliably discharged from the channel 324a.
In the present embodiment, the peripheral edge of the process release film 350 is located inside the contact area between the upper clamper 324 and the lower clamper 314 . It may be clamped by the mold clamper 324 and the lower mold clamper 314, and the process release film 350 is not limited to individual pieces, and may be long.

このようにキャビティ360を外部からエアシールした状態でエア吸引機構332から真空排気してキャビティ内からエアを排気する。プロセス用離型フィルム350は下型クランパ314にエア吸着されているから、キャビティ360からの排気は上型クランパ324に設けた流路324aからなされる。なお、エア吸引機構332によりキャビティ360から真空排気する際には、プロセス用離型フィルム350を下型312側に吸着支持しておくため、エア吸引機構330によって下型側からプロセス用離型フィルム350をエア吸引する。
キャビティ360からの排気は、図3(b)に示すように、半導体チップ340が下型クランパ314の上端面に当接しない状態で行う。これによって、モールド用樹脂352の上方空間内から確実に排気することができる。この真空排気によって、キャビティ内の残留エアが排気され、モールド用樹脂352に混入されているエアも排気されて圧縮成形時に樹脂中にボイドが発生することを防止する。
In this way, the cavity 360 is air-sealed from the outside, and the air is evacuated from the air suction mechanism 332 to exhaust the air from the cavity. Since the process release film 350 is air-adsorbed by the lower clamper 314 , the air is exhausted from the cavity 360 through the flow path 324 a provided in the upper clamper 324 . When the cavity 360 is evacuated by the air suction mechanism 332, the process release film 350 is adsorbed and supported on the lower mold 312 side. 350 is air sucked.
Exhaust from the cavity 360 is performed in a state in which the semiconductor chip 340 does not contact the upper end surface of the lower mold clamper 314 as shown in FIG. 3B. As a result, the space above the molding resin 352 can be reliably exhausted. By this evacuation, residual air in the cavity is exhausted, and air mixed in the molding resin 352 is also exhausted, thereby preventing voids from occurring in the resin during compression molding.

本実施形態では上型322に半導体チップ340を支持してキャビティ360から真空排気しているが、上型322に半導体チップ340を支持せずに、下型クランパ314に半導体チップ340をセットして真空排気するようにすることも可能である。 In this embodiment, the semiconductor chip 340 is supported by the upper mold 322 and the cavity 360 is evacuated. It is also possible to evacuate.

図3(c)は、キャビティ360から真空排気した後、上型ベース320を更に下降させて半導体チップ340を下型クランパ314に当接させた状態である。実際には、下型クランパ314の上端面を被覆するプロセス用離型フィルム350に半導体チップ340(基板)が当接し、モールド用樹脂352が収容されているキャビティ360はプロセス用離型フィルム350と半導体チップ340とによってエアシールされた領域となる。このクランプ操作においても流路314aを介してエア吸引機構330により真空吸引し、下型312のキャビティ凹部の形状にならってプロセス用離型フィルム350がエア吸着されるようにする。
なお、上型クランパ324を付勢するスプリング326の付勢力は、下型クランパ314を付勢するスプリング316の付勢力よりも小さく設定されており、半導体チップ340が下型クランパ314の上端面に当接するまでは上型側のスプリング326が圧縮され、上型322が上型クランパ324に対して相対的に下動する。
FIG. 3C shows a state in which the upper die base 320 is further lowered after the cavity 360 is evacuated, and the semiconductor chip 340 is brought into contact with the lower die clamper 314 . Actually, the semiconductor chip 340 (substrate) is in contact with the process release film 350 covering the upper end surface of the lower clamper 314 , and the cavity 360 containing the molding resin 352 is the process release film 350 . It becomes a region air-sealed with the semiconductor chip 340 . Also in this clamping operation, vacuum suction is performed by the air suction mechanism 330 through the flow path 314 a so that the process release film 350 is air-sucked according to the shape of the cavity recess of the lower mold 312 .
The biasing force of the spring 326 that biases the upper die clamper 324 is set to be smaller than the biasing force of the spring 316 that biases the lower die clamper 314 , so that the semiconductor chip 340 contacts the upper end surface of the lower die clamper 314 . The spring 326 on the upper die side is compressed until it abuts, and the upper die 322 moves downward relative to the upper die clamper 324 .

なお、半導体チップ340の基板にエアベントを設けるか、下型クランパ314の半導体チップ340に当接する上端面にエアベントを設けることにより、半導体チップ340が下型クランパ314に当接した後も、エアベントを介してキャビティ360からエア吸引することも可能である。このようなエアベントを設けた場合は、圧縮成形位置まで型締めした際もキャビティからエア吸引することが可能であるが、半導体チップ340の基板表面におよび金型表面に樹脂が漏出することがあり、樹脂の漏出を避けたい場合にはエアベントを設けないようにするのがよい。 By providing an air vent on the substrate of the semiconductor chip 340 or providing an air vent on the upper end surface of the lower die clamper 314 that abuts on the semiconductor chip 340, the air vent can be maintained even after the semiconductor chip 340 abuts on the lower die clamper 314. It is also possible to suck air from the cavity 360 through. When such an air vent is provided, air can be sucked from the cavity even when the mold is clamped to the compression molding position, but the resin may leak onto the substrate surface of the semiconductor chip 340 and onto the mold surface. If it is desired to avoid leakage of the resin, it is better not to provide an air vent.

図3(d)は、上型322をさらに下降させて最終的に半導体チップ340を圧縮成形した状態を示す。圧縮成形は、半導体チップ340が下型クランパ314に当接した状態から上型ベース320をさらに圧縮成形位置まで下動させることによってなされる。下型クランパ314に半導体チップ340が当接した状態から上型322を押し下げることにより、下型クランパ314がスプリング316の付勢力に抗して押し下げられ、半導体チップ340が下型312と上型322とによってクランプされて樹脂成形される。上型322の下動は、下型312と上型322とによる型締力が所定値になったところで停止し、その状態でキャビティの全体に樹脂が充填されて圧縮成形される。 FIG. 3(d) shows a state in which the upper mold 322 is further lowered and the semiconductor chip 340 is finally compression molded. Compression molding is performed by further lowering the upper die base 320 from the state where the semiconductor chip 340 is in contact with the lower die clamper 314 to the compression molding position. By pushing down the upper mold 322 from the state where the semiconductor chip 340 is in contact with the lower mold clamper 314 , the lower mold clamper 314 is pushed down against the biasing force of the spring 316 , and the semiconductor chip 340 is clamped between the lower mold 312 and the upper mold 322 . It is clamped by and resin-molded. The downward movement of the upper mold 322 stops when the mold clamping force between the lower mold 312 and the upper mold 322 reaches a predetermined value, and in this state, the entire cavity is filled with resin and compression molding is performed.

圧縮成形位置でモールド用樹脂352が硬化するまで保持した後、型開きし、金型内から樹脂モールド成形品を取り出す。樹脂モールド成形品は半導体チップ340の片面が一括して樹脂封止された形態に樹脂成形されたものとなる。半導体チップ340が基板に多数個の半導体チップが搭載された製品の場合は、圧縮成形された成形品をダイサーにより切断して個片の半導体装置を得ることができる。 After the compression molding position is held until the molding resin 352 hardens, the mold is opened and the resin molded product is taken out from the inside of the mold. A resin-molded product is obtained by resin-molding such that one side of the semiconductor chip 340 is collectively sealed with resin. In the case where the semiconductor chip 340 is a product in which a large number of semiconductor chips are mounted on a substrate, individual semiconductor devices can be obtained by cutting the compression-molded product with a dicer.

本実施形態の樹脂モールド成形品の製造方法によれば、このとき樹脂モールド成形品がプロセス用離型フィルム350から容易に剥離するという、好ましい効果が実現される。特にキャビティ360の側面のプロセス用離型フィルム350が、樹脂モールド成形品に噛み込むことなく剥離するという、従来技術によっては実現困難だった好ましい効果が実現される。また、剥離後の樹脂モールド成形品の表面が、樹脂欠け等の無い良好な外観を有するという、好ましい効果も実現される。上記特定の物性を有するプロセス用離型フィルムを用いる実施形態の製造方法によれば、この様な好ましい結果を実現することが容易となる。
さらに、下型312および下型クランパ314等の、樹脂モールド時に樹脂が接触する部位についてはプロセス用離型フィルム350によって被覆されているから、下型クランパ314の摺動部や流路314a、314bに樹脂が付着することがなく、下型クランパ314の動作等を阻害することなく樹脂モールドすることができる。
According to the method for manufacturing a resin molded product of the present embodiment, a preferable effect is achieved in that the resin molded product can be easily separated from the process release film 350 at this time. In particular, the process release film 350 on the side surface of the cavity 360 can be peeled off without biting into the resin molded product, which is a desirable effect that has been difficult to achieve with conventional technology. In addition, a preferable effect is also realized that the surface of the resin molded article after peeling has a good appearance without resin chipping or the like. According to the manufacturing method of the embodiment using the process release film having the specific physical properties, it is easy to achieve such favorable results.
Furthermore, since the parts of the lower mold 312 and the lower mold clamper 314 that are in contact with the resin during resin molding are covered with the process release film 350, the sliding parts of the lower mold clamper 314 and the flow paths 314a and 314b are covered. Resin does not adhere to the lower mold clamper 314, and resin molding can be performed without interfering with the operation of the lower mold clamper 314 or the like.

上記の各実施形態をはじめとする、特定の物性を有するプロセス用離型フィルムを用いた、本発明の樹脂モールド成形品の製造方法によれば、全体の厚みが大きい等の特徴を有する、高い付加価値を有する樹脂モールド成形品を、外観不良や、側面の噛み込みによる外観不良を抑制しながら、高い生産性で製造することができる。特に好ましくは、本発明の製造方法を応用した、半導体チップを樹脂封止する方法、又はその様な工程を有する樹脂封止半導体素子の製造方法によって、大容量のNAND型フラッシュメモリなどの、メモリチップを多段に積層するため全体の厚みが大きい半導体チップを樹脂封止した樹脂封止半導体素子を、外観不良や、側面の噛み込みによる外観不良を抑制しながら、高い生産性で製造することができる。
この様な樹脂封止半導体素子をはじめとする樹脂モールド成形品は、メモリ系半導体に限らず、ロジック系半導体や、SiP(システムインパッケージ)と呼ばれる異種の半導体パッケージや半導体チップを3次元で積層する高性能半導体チップへも適用でき、更には、光電素子、センサー素子、または光学素子に用いられるレンズ成形などの樹脂成形物、にも適用することができる。
これらの高性能の半導体チップ等が樹脂封止された樹脂モールド成形品は、例えば高性能の半導体チップが、封止樹脂中に適切に封止された、優れた樹脂封止半導体素子等の高い付加価値を有するものであり、また生産効率を高めることができるので、電気電子機器、輸送機械等に実装して、その高機能化、高性能化、低コスト化に資することができる。
According to the method for producing a resin molded product of the present invention, which uses a process release film having specific physical properties, including each of the above embodiments, it has characteristics such as a large overall thickness and a high It is possible to manufacture value-added resin molded products with high productivity while suppressing appearance defects and appearance defects due to side bite. Particularly preferably, a method for resin-sealing a semiconductor chip or a method for manufacturing a resin-sealed semiconductor device having such a process, which applies the manufacturing method of the present invention, can be used to produce a memory such as a large-capacity NAND flash memory. It is possible to manufacture a resin-encapsulated semiconductor element, in which a semiconductor chip with a large overall thickness due to multi-layered chips is resin-encapsulated, while suppressing appearance defects and appearance defects due to side bites with high productivity. can.
Resin-molded products such as resin-encapsulated semiconductor elements are not limited to memory-type semiconductors, but also logic-type semiconductors, SiP (System-in-Package), different types of semiconductor packages, and semiconductor chips, which are three-dimensionally stacked. The present invention can also be applied to high-performance semiconductor chips, and can also be applied to resin moldings such as lens moldings used for photoelectric elements, sensor elements, or optical elements.
Resin-molded products in which these high-performance semiconductor chips and the like are resin-encapsulated are excellent resin-encapsulated semiconductor elements in which, for example, high-performance semiconductor chips are appropriately encapsulated in encapsulating resin. Since it has added value and can improve production efficiency, it can be mounted in electrical/electronic equipment, transportation equipment, etc., and contribute to the enhancement of functionality, performance, and cost reduction.

以下、本発明を実施例によりさらに詳細に説明するが、本発明は、これにより何ら限定されるものではない。 EXAMPLES The present invention will be described in more detail below with reference to Examples, but the present invention is not limited by these Examples.

以下の実施例/比較例において使用したプロセス用離型フィルム、及び得られた樹脂モールド成形品の物性/特性の評価は下記の方法で行った。 The physical properties/characteristics of the process release films used in the following Examples/Comparative Examples and the obtained resin molded articles were evaluated by the following methods.

(水に対する接触角(水接触角))
JIS R3257に準拠して、接触角測定器(Kyowa Inter face Science社製、FACECA-W)を用いて、プロセス用離型フィルムの離型層A又はA’の表面の水接触角を測定した。
(Contact angle with water (water contact angle))
According to JIS R3257, the water contact angle on the surface of the release layer A or A' of the process release film was measured using a contact angle measuring instrument (Kyowa Interface Science, FACECA-W).

(引張強度)
各実施例/比較例で作製したプロセス用離型フィルムを用い、初期チャック間を20mmとし、175℃環境下、100mm/minで7.5mm(37.5%)伸長させたときのフィルムにかかる荷重を、引張強度として測定した。
(tensile strength)
Using the process release film produced in each example/comparative example, the initial chuck distance was set to 20 mm, and the film was stretched at 100 mm/min to 7.5 mm (37.5%) at 175 ° C. Load was measured as tensile strength.

(戻り値、復元率)
各実施例/比較例で作製したプロセス用離型フィルムを用い、初期チャック間を20mmとし、175℃環境下、100mm/minで7.5mm伸長(このときの伸びΔLを、伸長長さΔLとする。)後、2分間そのまま保持後、100mm/minで伸びと逆方向にチャックを戻したときの荷重が0になったときの伸びΔLの変位(戻り)を測定し、戻り値ΔL(mm)とした。
具体的な、フィルムの伸縮を、図4に示す。図4(a)中、初期フィルム長さLは、20mmであり、図4(b)中、最大フィルム伸びΔLは、7.5mmであった。図4(c)に示す荷重が0になったときの戻り値ΔLを各試料について測定し、ΔL及びΔLから下式に従い復元率を算出した。

復元率(%)=100×ΔL/ΔL
(return value, recovery rate)
Using the process release film produced in each example/comparative example, the initial chuck distance was set to 20 mm, and the elongation was 7.5 mm at 100 mm/min in a 175°C environment (elongation ΔL at this time, elongation length ΔL 1 After that, after holding it as it is for 2 minutes, the displacement (return) of the elongation ΔL when the load becomes 0 when the chuck is returned at 100 mm / min in the opposite direction to the elongation is measured, and the return value ΔL 2 (mm).
FIG. 4 shows specific expansion and contraction of the film. In FIG. 4(a), the initial film length L 0 was 20 mm, and in FIG. 4(b) the maximum film elongation ΔL 1 was 7.5 mm. The return value ΔL 2 when the load becomes 0 shown in FIG. 4(c) was measured for each sample, and the recovery rate was calculated from ΔL 1 and ΔL 2 according to the following formula.

Recovery rate (%) = 100 × ΔL 2 / ΔL 1

(融点(Tm))
示差走査熱量計(DSC)としてティー・エイ・インスツルメント社製Q100を用い、重合体試料約5mgを精秤し、JISK7121に準拠し、窒素ガス流入量:50ml/分の条件下で、25℃から加熱速度:10℃/分で280℃まで昇温して熱融解曲線を測定し、得られた熱融解曲線から、試料の融点(Tm)を求めた。
(Melting point (Tm))
Using Q100 manufactured by TA Instruments as a differential scanning calorimeter (DSC), about 5 mg of polymer sample was accurately weighed, and nitrogen gas flow rate: 50 ml / min. C. to 280.degree. C. at a heating rate of 10.degree.

(離型性)
各実施例/比較例で作製したプロセス用離型フィルムを用い、図1に示すようなプロセスで、半導体チップの樹脂封止を行なった。
封止樹脂としては、日立化成工業(株)製のエポキシ系リードフレームパッケージ用封止材(銘柄:CEL-9750ZHF10)を用いた。
当該図1のプロセス中の、「4.樹脂+フィルム搬送」、「5.真空吸着」、並びに「7型締め」及び「9.圧縮」の詳細条件を、図2(a)、(b)、並びに(c)に示す。図2(a)中、型締め初期のキャビティ29cの深さaは、2.4mmであり、図2(b)中、キャビティ29cの幅は、54mmであり、図2(b)中、キャビティ29cの紙面垂直方向の長さは、221mmであり、図2(c)中、型締め、圧縮後のキャビティ最終深さaは、0.8mmであった。また、成形金型の温度(成形温度)は175℃、成形圧力は96kN、成形時間は120秒であった。
その後、図1中の「9.型開き(離型)」に示すようにして、上型を引き上げ、樹脂封止された半導体チップ(半導体パッケージ)を離型フィルムから離型した。離型フィルムの離型性を、以下の基準で評価した。
◎:離型フィルムが、金型の開放と同時に自然に剥がれる。
○:離型フィルムは自然には剥がれないが、手で引っ張ると(張力を加えると)簡単に剥がれる。
×:離型フィルムが、半導体パッケージの樹脂封止面に密着しており、手では剥がせない。
(Releasability)
A semiconductor chip was resin-encapsulated by the process shown in FIG. 1 using the process release film produced in each example/comparative example.
As the sealing resin, an epoxy lead frame package sealing material (brand name: CEL-9750ZHF10) manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd. was used.
Detailed conditions of "4. resin + film transfer", "5. vacuum adsorption", and "7 mold clamping" and "9. compression" in the process of Fig. 1 are shown in Figs. , as well as (c). In FIG. 2( a ), the depth a1 of the cavity 29c at the initial stage of mold clamping is 2.4 mm, and in FIG. 2(b), the width of the cavity 29c is 54 mm. The length of the cavity 29c in the direction perpendicular to the paper surface was 221 mm, and the final cavity depth a2 after clamping and compression in FIG. 2 (c) was 0.8 mm. The mold temperature (molding temperature) was 175° C., the molding pressure was 96 kN, and the molding time was 120 seconds.
After that, as shown in "9. Mold opening (mold release)" in FIG. 1, the upper mold was pulled up, and the resin-sealed semiconductor chip (semiconductor package) was released from the mold release film. The releasability of the release film was evaluated according to the following criteria.
⊚: The release film is naturally peeled off at the same time as the mold is opened.
◯: The release film does not peel off naturally, but can be easily peeled off by hand pulling (applying tension).
x: The release film adhered to the resin sealing surface of the semiconductor package and could not be peeled off by hand.

(金型追随性)
上記工程で離型を行った際の離型フィルムの金型追随性を、以下の基準で評価した。
◎:半導体パッケージに、樹脂欠け(樹脂が充填されない部分)が全くない。
○:半導体パッケージの端部に、樹脂欠けが僅かにある。
×:半導体パッケージの端部に、樹脂欠けが多くある。または成形時フィルム破れが発生する。
(mold followability)
The mold followability of the release film when the mold was released in the above steps was evaluated according to the following criteria.
⊚: There is no resin chipping (portion not filled with resin) in the semiconductor package.
◯: There is a slight lack of resin at the edge of the semiconductor package.
x: There are many resin chippings at the edge of the semiconductor package. Alternatively, film tearing occurs during molding.

(側面かみ込みによる剥離不良)
上記工程で離型を行った際の、離型フィルムの側面かみこみによる剥離不良を、以下の基準で評価した。
◎:半導体パッケージ側面に、かみ込み跡もなく剥離不良もなし。
○:半導体パッケージ側面に、かみ込み跡はあるが、剥離不良はなし。
×:半導体パッケージ側面に、かみ込み跡があり、剥離不良も発生あり。
(Detachment failure due to side jamming)
When the mold was released in the above steps, the peeling failure due to the release film being caught on the side surface was evaluated according to the following criteria.
⊚: There is no trace of entrapment on the side surface of the semiconductor package, and there is no defect in peeling.
◯: There are traces of entrapment on the side surface of the semiconductor package, but there is no defect in peeling.
x: Biting marks were found on the side surface of the semiconductor package, and peeling defects also occurred.

[実施例1]
耐熱樹脂層Bとして、膜厚15μmの二軸延伸PBT(ポリブチレンテレフタレート)フィルム(興人フィルム&ケミカルズ社製、銘柄名:ボブレットST、融点223℃)を使用し、離型層A及びA’として、無延伸の4-メチル-1-ペンテン共重合樹脂フィルムを使用した。具体的には、三井化学株式会社製4-メチル-1-ペンテン共重合樹脂(製品名:TPX、銘柄名:MX022)」を270℃で溶融押出して、T型ダイのスリット幅を調整することにより、厚み15μmの無延伸フィルムを成膜したものを使用した。
無延伸の4-メチル-1-ペンテン共重合樹脂フィルムは、接着面となる一方のフィルム表面が、JIS R3257に基づく水接触角が30°以上の場合、30以下となるように、接着剤による接着性向上の観点からコロナ処理を施した。
[Example 1]
As the heat-resistant resin layer B, a 15 μm-thick biaxially stretched PBT (polybutylene terephthalate) film (Kohjin Film & Chemicals Co., Ltd., brand name: BOBBLET ST, melting point 223° C.) is used, and release layers A and A′ are used. A non-stretched 4-methyl-1-pentene copolymer resin film was used as the film. Specifically, 4-methyl-1-pentene copolymer resin manufactured by Mitsui Chemicals, Inc. (product name: TPX, brand name: MX022)" is melt-extruded at 270 ° C. to adjust the slit width of the T-type die. A non-stretched film having a thickness of 15 μm was used.
The unstretched 4-methyl-1-pentene copolymer resin film has a water contact angle of 30 ° or less based on JIS R3257 on one film surface, which is the adhesive surface, so that it is 30 or less. Corona treatment was performed from the viewpoint of improving adhesion.

(接着剤)
各フィルムを貼り合せるドライラミ工程で使用する接着剤としては、以下のウレタン系接着剤Aを用いた。
[ウレタン系接着剤A]
主剤:タケラックA-616(三井化学社製)。硬化剤:タケネートA-65(三井化学社製)。主剤と硬化剤とを、質量比(主剤:硬化剤)が16:1となるように混合し、希釈剤として酢酸エチルを用いた。
(glue)
Urethane-based adhesive A below was used as the adhesive used in the dry lamination step for laminating each film.
[Urethane adhesive A]
Main agent: Takelac A-616 (manufactured by Mitsui Chemicals, Inc.). Curing agent: Takenate A-65 (manufactured by Mitsui Chemicals). The main agent and the curing agent were mixed so that the mass ratio (main agent:curing agent) was 16:1, and ethyl acetate was used as the diluent.

(離型フィルムの製造)
二軸延伸PBTフィルムの一方の面に、グラビアコートでウレタン系接着剤Aを1.5g/mで塗工し、無延伸の4-メチル-1-ペンテン共重合樹脂フィルムのコロナ処理面をドライラミネートにて貼り合わせ後、続いてこのラミネートフィルムの二軸延伸PBTフィルム面の側に、ウレタン系接着剤Aを1.5g/mで塗工し、もう1枚の無延伸の4-メチル-1-ペンテン共重合樹脂フィルムのコロナ処理面をドライラミネートにて貼り合わせて、5層構造(離型層A/接着層/耐熱樹脂層B/接着層/離型層A’)のプロセス用離型フィルムを得た。
ドライラミネート条件は、基材幅900mm、搬送速度30m/分、乾燥温度50~60℃、ラミネートロール温度50℃、ロール圧力3.0MPaとした。
(Production of release film)
On one side of the biaxially stretched PBT film, urethane-based adhesive A was applied at 1.5 g/m 2 by gravure coating, and the corona-treated surface of the unstretched 4-methyl-1-pentene copolymer resin film was coated. After bonding by dry lamination, urethane-based adhesive A was applied at 1.5 g/m 2 to the side of the biaxially stretched PBT film surface of this laminate film, and another non-stretched 4- A process in which the corona-treated surface of a methyl-1-pentene copolymer resin film is laminated by dry lamination to form a five-layer structure (release layer A/adhesive layer/heat-resistant resin layer B/adhesive layer/release layer A'). A release film for
Dry lamination conditions were as follows: base material width 900 mm, transport speed 30 m/min, drying temperature 50 to 60° C., lamination roll temperature 50° C., roll pressure 3.0 MPa.

当該プロセス用離型フィルムの、引張強度は7.5MPa、戻り値は、3.6mm、復元率は、48%であった。
離型性、金型追随性、及び剥離不良の評価結果を表1に示す。離型フィルムが、金型の開放と同時に自然に剥がれる良好な離型性を示し、半導体パッケージに樹脂欠けが全くない良好な金型追随性を示した。また、半導体パッケージの側面に、かみ込み跡は認められず、剥離不良もなく、側面かみ込みによる剥離不良が有効に抑制された。すなわち、実施例1の半導体樹脂封止プロセスは、離型性、及び金型追随性が良好で、側面かみ込みによる剥離不良が有効に抑制された、優れた樹脂モールド成形品の製造方法であった。
The process release film had a tensile strength of 7.5 MPa, a return value of 3.6 mm, and a recovery rate of 48%.
Table 1 shows the evaluation results of releasability, mold followability, and peeling failure. The release film exhibited good release properties, such as being spontaneously peeled off at the same time as the mold was opened, and exhibited excellent mold followability with no resin chipping on the semiconductor package. In addition, no trace of entrapment was observed on the side surface of the semiconductor package, and no delamination failure was observed. In other words, the semiconductor resin encapsulation process of Example 1 is a method for manufacturing an excellent resin molded product, which has good releasability and mold followability, and effectively suppresses peeling defects due to side jamming. rice field.

[実施例2~3]
表1に示す組み合わせで表1記載の各フィルムを離型層A及びA’並びに耐熱樹脂層Bとして用いた他は、実施例1と同様にしてプロセス用離型フィルムを作製し、封止、離型を行い、特性を評価した。結果を表1に示す。
一部に側面かみ込みによる剥離不良の抑制が実施例1には及ばないものもあったが、いずれの実施例のプロセスも離型性、皺の抑制、及び金型追随性が高いレベルでバランスした良好な樹脂モールド成形品の製造方法であった
[Examples 2-3]
A process release film was produced in the same manner as in Example 1, except that the films listed in Table 1 were used as the release layers A and A' and the heat-resistant resin layer B in the combinations shown in Table 1, sealed, After releasing from the mold, the properties were evaluated. Table 1 shows the results.
In some cases, the suppression of peeling failure due to side jamming was not as good as in Example 1, but the processes of all examples are balanced at a high level of releasability, suppression of wrinkles, and mold followability. It was a method for manufacturing a good resin molded product

なお、表に記載の各フィルムの詳細は、以下のとおりである。
(TPX-1)無延伸4MP-1(TPX)フィルム
三井化学株式会社製4-メチル-1-ペンテン共重合樹脂(製品名:TPX、銘柄名:MX022、融点:229℃)を用いて厚み15μmの無延伸フィルムを成膜したもの。
(TPX-2)無延伸4MP-1(TPX)フィルム
三井化学株式会社製4-メチル-1-ペンテン共重合樹脂(製品名:TPX、銘柄名:MX022、融点:229℃)を用いて厚み50μmの無延伸フィルムを成膜したもの。
(OPBT1)二軸延伸PBTフィルム
興人フィルム&ケミカルズ社製の厚み15μmの、二軸延伸ポリブチレンテレフタレートフィルム(銘柄名:ボブレットST、融点:223℃、引張強度:20.0MPa)を用いた。
(OPBT2)二軸延伸PBTフィルム
興人フィルム&ケミカルズ社製の厚み25μmの、二軸延伸ポリブチレンテレフタレートフィルム(銘柄名:ボブレットST、融点:223℃、引張強度:19.2MPa)を用いた。
(CPBT1)無延伸PBTフィルム
三菱エンジニアリングプラスチックス社製ポリブチレンテレフタレート樹脂(銘柄名:5020、融点:223℃)を用いて、厚み50μmの無延伸単層フィルムを成膜したもの。
(CPBT2)無延伸PBTフィルム
三菱エンジニアリングプラスチックス社製ポリブチレンテレフタレート樹脂(銘柄名:5020、融点:223℃、引張強度:2.1MPa)を用いて、厚み20μmの無延伸単層フィルムを成膜したもの。
(無延伸Ny)無延伸ナイロンフィルム
三菱ケミカル社製の厚み20μmの無延伸ナイロンフィルム(商品名:ダイアミロン C、融点:220℃、引張強度:1.9MPa)を使用した。
(OPET1)二軸延伸PETフィルム
帝人フィルム・ソリューション社製の厚み13μmの二軸延伸PET(ポリエチレンテレフタレート)フィルム(製品名:テレフレックスFT、融点:227℃)を使用した。
(OPET2)二軸延伸PETフィルム
帝人フィルム・ソリューション社製の厚み13μmの二軸延伸PET(ポリエチレンテレフタレート)フィルム(製品名:テレフレックスFW2、融点:227℃)を使用した。
(EVOH)二軸延伸EVOHフィルム
クラレ社製の厚み15μmの二軸延伸EVOH(エチレン・ビニルアルコール共重合体)フィルム(商品名:エバール EF-XL、融点182℃、引張強度:2.2MPa)を使用した。
これらのフィルムのうち、耐熱樹脂層Bとして使用したものについては、フィルム単独(積層しない状態)についても、上記測定方法に従って戻り値、及び復元率を測定した。結果を表2に示す。
The details of each film described in the table are as follows.
(TPX-1) Non-stretched 4MP-1 (TPX) film Mitsui Chemicals, Inc. 4-methyl-1-pentene copolymer resin (product name: TPX, brand name: MX022, melting point: 229 ° C.) was used to make a thickness of 15 μm. A film formed from a non-stretched film.
(TPX-2) Non-stretched 4MP-1 (TPX) film Mitsui Chemicals, Inc. 4-methyl-1-pentene copolymer resin (product name: TPX, brand name: MX022, melting point: 229 ° C.) was used to make a thickness of 50 μm. A film formed from a non-stretched film.
(OPBT1) Biaxially Stretched PBT Film A 15 μm-thick biaxially stretched polybutylene terephthalate film (brand name: Boblet ST, melting point: 223° C., tensile strength: 20.0 MPa) manufactured by Kohjin Film & Chemicals Co., Ltd. was used.
(OPBT2) Biaxially Stretched PBT Film A 25 μm-thick biaxially stretched polybutylene terephthalate film (brand name: Boblet ST, melting point: 223° C., tensile strength: 19.2 MPa) manufactured by Kohjin Film & Chemicals Co., Ltd. was used.
(CPBT1) Unstretched PBT film A 50 μm-thick unstretched monolayer film was formed using a polybutylene terephthalate resin (brand name: 5020, melting point: 223° C.) manufactured by Mitsubishi Engineering-Plastics.
(CPBT2) Non-stretched PBT film Using polybutylene terephthalate resin (brand name: 5020, melting point: 223°C, tensile strength: 2.1 MPa) manufactured by Mitsubishi Engineering-Plastics, a non-stretched monolayer film with a thickness of 20 µm was formed. What I did.
(Unstretched Ny) Unstretched Nylon Film A 20 μm-thick unstretched nylon film manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation (trade name: Diamiron C, melting point: 220° C., tensile strength: 1.9 MPa) was used.
(OPET1) Biaxially Stretched PET Film A 13 μm-thick biaxially stretched PET (polyethylene terephthalate) film (product name: Teleflex FT, melting point: 227° C.) manufactured by Teijin Film Solutions Co., Ltd. was used.
(OPET2) Biaxially Stretched PET Film A 13 μm thick biaxially stretched PET (polyethylene terephthalate) film (trade name: Teleflex FW2, melting point: 227° C.) manufactured by Teijin Film Solutions Co., Ltd. was used.
(EVOH) Biaxially stretched EVOH film Biaxially stretched EVOH (ethylene-vinyl alcohol copolymer) film with a thickness of 15 μm manufactured by Kuraray Co., Ltd. (trade name: EVAL EF-XL, melting point: 182° C., tensile strength: 2.2 MPa) was used. used.
Of these films, the return value and recovery rate of the film used as the heat-resistant resin layer B were also measured according to the above-described measurement methods for the film alone (unlaminated state). Table 2 shows the results.

[比較例1~2]
又は表1に示すフィルムを、それぞれ単独でプロセス用離型フィルムとして使用して、実施例1と同様にして封止、離型を行い、プロセスの良否を評価した。結果を表1に示す。
いずれの比較例のプロセスも、総合的に実施例には及ばない性能に留まり、特に側面かみ込みによる剥離不良を有効に抑制することができなかった。
[Comparative Examples 1 and 2]
Alternatively, each of the films shown in Table 1 was used alone as a mold release film for processing, sealing and mold release were performed in the same manner as in Example 1, and the quality of the process was evaluated. Table 1 shows the results.
In any of the processes of the comparative examples, the overall performance was not as good as that of the examples, and in particular, it was not possible to effectively suppress the peeling defect caused by side entrapment.

[比較例3~6]
表1に示す組み合わせで表1記載の各フィルムを離型層A及びA’並びに耐熱樹脂層Bとして用いたこと以外は、実施例1と同様にしてプロセス用離型フィルムを作製し、封止、離型を行い、特性を評価した。結果を表1に示す。
離型性、及び金型追随性は実施例のプロセスと同様に良好であったが、皺の発生を抑制することができなかった。

Figure 0007177623000001
[Comparative Examples 3 to 6]
A process release film was produced in the same manner as in Example 1 except that the films listed in Table 1 were used as the release layers A and A' and the heat-resistant resin layer B in the combinations shown in Table 1, and sealed. , the mold was released, and the characteristics were evaluated. Table 1 shows the results.
The releasability and mold followability were as good as in the process of the example, but the occurrence of wrinkles could not be suppressed.
Figure 0007177623000001

Figure 0007177623000002
Figure 0007177623000002

本発明の樹脂モールド成形品の製造方法は、樹脂封止半導体素子、樹脂モールド光学素子等の、樹脂モールド成形品を、金型構造や離型剤等に依存することなく容易に離型でき、かつシワや樹脂欠け等の外観不良のない成形品を高い生産性で製造することができるという実用上高い価値を有する技術的効果をもたらすものであり、半導体プロセス産業、光学素子製造産業をはじめとする産業の各分野において、高い利用可能性を有する。 The method for producing a resin-molded article of the present invention can easily release a resin-molded article such as a resin-encapsulated semiconductor element or a resin-molded optical element from a mold without depending on a mold structure, a mold release agent, and the like. In addition, it is possible to manufacture molded products with high productivity without appearance defects such as wrinkles and resin chipping, which brings about a technical effect of high practical value, and is widely used in the semiconductor process industry, the optical element manufacturing industry, and other industries. It has high applicability in each field of the industry.

11、21:プロセス用離型フィルム
12:カッター
13:X-Yステージ
14、24:枠
15、25:上型
16:26基板
17:27:半導体チップ
18、28:モールド用樹脂
19、29:下型
19a、29a:キャビティブロック
19b、29b:クランパ
19c、29c:キャビティ
310:下型ベース
312:下型
314:下型クランパ
314a、314b:流路
316、326:スプリング
318、319、328:シール
320:上型ベース
322:上型
324:上型クランパ
324a:流路
330、332:エア吸引機構
340:半導体チップ
350:プロセス用離型フィルム
352:モールド用樹脂
360:キャビティ
: キャビティの初期深さ
: キャビティの最終深さ
: 初期フィルム長
ΔL:最大フィルム伸び
ΔL:戻り値
11, 21: release film for process 12: cutter 13: XY stage 14, 24: frame 15, 25: upper mold 16: 26 substrate 17: 27: semiconductor chip 18, 28: molding resin 19, 29: Lower die 19a, 29a: Cavity block 19b, 29b: Clamper 19c, 29c: Cavity 310: Lower die base 312: Lower die 314: Lower die clamper 314a, 314b: Flow path 316, 326: Springs 318, 319, 328: Seal 320: Upper mold base 322: Upper mold 324: Upper mold clamper 324a: Flow path 330, 332: Air suction mechanism 340: Semiconductor chip 350: Release film for process 352: Mold resin 360: Cavity a1: Initial stage of cavity Depth a 2 : final cavity depth L 0 : initial film length ΔL 1 : maximum film elongation ΔL 2 : return value

Claims (12)

下型に設けられたキャビティ凹部の内面がプロセス用離型フィルムにより被覆され、前記キャビティ凹部にモールド用の樹脂が供給された状態で、上型と前記下型とで被成形品をクランプして圧縮成形する樹脂モールド成形品の製造方法であって、
金型に前記プロセス用離型フィルムと前記モールド用の樹脂と前記被成形品とをセットし、前記プロセス用離型フィルムを前記下型側からエア吸引して前記キャビティ凹部の内面にならってエア吸着する工程、
任意選択で、前記上型と前記下型とを当接させて外部とエアシールしたキャビティを形成した状態で、前記キャビティに連通して設けた流路を介してエア吸引機構により前記キャビティから真空排気する工程、及び
前記上型と前記下型とを圧縮成形位置まで型締めし、前記モールド用の樹脂を硬化させて前記被成形品を圧縮成形する工程、をこの順で有し、
前記プロセス用離型フィルムの少なくとも一方向における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長させたときの引張強度が1.0MPaから10.0MPaであり、
かつ前記プロセス用離型フィルムを同条件で少なくとも一方向に37.5%伸長後に、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、下記式(1)式にしたがって得られる復元率(%)が、30~80(%)であり、
前記圧縮成形の際に前記プロセス用離型フィルムが伸張及び圧縮される、上記樹脂モールド成形品の製造方法
戻り値/伸長長さ×100=復元率% ・・・(1)。
In a state in which the inner surface of the cavity recess provided in the lower mold is covered with a process release film and the mold resin is supplied to the cavity recess, the article to be molded is clamped between the upper mold and the lower mold. A method for manufacturing a resin molded product by compression molding,
The release film for process, the resin for molding, and the article to be molded are set in a mold, and the release film for process is sucked from the lower mold side to follow the inner surface of the cavity recess. the step of adsorbing;
Optionally, in a state in which the upper mold and the lower mold are brought into contact with each other to form a cavity air-sealed with the outside, the cavity is evacuated by an air suction mechanism through a flow path provided in communication with the cavity. and a step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the molding resin, and compression molding the molded product in this order,
The tensile strength in at least one direction of the process release film is 1.0 MPa to 10.0 MPa when stretched 37.5% at 100 mm / min at a temperature of 175 ° C.,
And the process release film was stretched by 37.5% in at least one direction under the same conditions, then rested for 2 minutes, and then returned to the origin direction at 100 mm / min in the compression direction. From a certain return value, the restoration rate (%) obtained according to the following formula (1) is 30 to 80 (%) ,
A method for producing a resin-molded product , wherein the process release film is stretched and compressed during the compression molding Return value/stretched length×100=restoration rate % (1).
上型に設けられたキャビティ凹部の内面がプロセス用離型フィルムにより被覆され、下型にモールド用の樹脂と被成形品が供給された状態で、前記上型と前記下型とで前記被成形品をクランプして圧縮成形する樹脂モールド成形品の製造方法であって、
金型に前記プロセス用離型フィルムと前記モールド用の樹脂と前記被成形品とをセットし、前記プロセス用離型フィルムを前記上型側からエア吸引して前記キャビティ凹部の内面にならってエア吸着する工程、
任意選択で、前記上型と前記下型とを当接させて、外部とエアシールしたキャビティを形成した状態で、前記キャビティに連通して設けた流路を介してエア吸引機構により前記キャビティから真空排気する工程、及び
前記上型と前記下型とを圧縮成形位置まで型締めし、前記モールド用の樹脂を硬化させて前記被成形品を圧縮成形する工程、をこの順で有し、
前記プロセス用離型フィルムの少なくとも一方向における、温度175℃で、100mm/分で37.5%伸長させたときの引張強度が1.0MPaから10.0MPaであり、
かつ前記プロセス用離型フィルムを同条件で少なくとも一方向に37.5%伸長後に、2分間静止後、圧縮方向に100mm/分で原点方向へ戻したとき、荷重が0になるまでの変位である戻り値から、下記式(1)式にしたがって得られる復元率(%)が、30~80(%)であり、
前記圧縮成形の際に前記プロセス用離型フィルムが伸張及び圧縮される、上記樹脂モールド成形品の製造方法
戻り値/伸長長さ×100=復元率% ・・・(1)。
In a state in which the inner surface of the cavity recess provided in the upper mold is covered with a process release film, and the resin for molding and the article to be molded are supplied to the lower mold, the upper mold and the lower mold are used to perform the molding. A method for manufacturing a resin molded product by clamping and compression molding the product,
The release film for process, the resin for the mold, and the article to be molded are set in a mold, and the release film for process is sucked from the upper mold side to follow the inner surface of the cavity recess. the step of adsorbing;
Optionally, in a state in which the upper mold and the lower mold are brought into contact with each other to form a cavity air-sealed with the outside, a vacuum is drawn from the cavity by an air suction mechanism through a flow path provided communicating with the cavity. a step of evacuating, and a step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the molding resin, and compression molding the molded product in this order,
The tensile strength in at least one direction of the process release film is 1.0 MPa to 10.0 MPa when stretched 37.5% at 100 mm / min at a temperature of 175 ° C.,
And the process release film was stretched by 37.5% in at least one direction under the same conditions, then rested for 2 minutes, and then returned to the origin direction at 100 mm / min in the compression direction. From a certain return value, the restoration rate (%) obtained according to the following formula (1) is 30 to 80 (%) ,
A method for producing a resin-molded product , wherein the process release film is stretched and compressed during the compression molding Return value/stretched length×100=restoration rate % (1).
前記プロセス用離型フィルムに、前記金型外で前記モールド用の樹脂を供給し、前記プロセス用離型フィルムとともに前記モールド用の樹脂を前記金型内に搬入して樹脂モールドすることを特徴とする請求項1又は2記載の樹脂モールド成形品の製造方法。 The molding resin is supplied to the process release film outside the mold, and the molding resin is carried into the mold together with the process release film to perform resin molding. 3. The method for producing a resin molded article according to claim 1 or 2. 前記被成形品が、半導体チップを含む、請求項1から3のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法。 The method for manufacturing a resin-molded article according to any one of claims 1 to 3, wherein the article to be molded includes a semiconductor chip. 前期被成形品が、複数個の半導体チップが搭載された基板、半導体ウエハあるいはリードフレームである、請求項1から3のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法。 4. The method of manufacturing a resin-molded article according to claim 1, wherein the article to be molded is a substrate on which a plurality of semiconductor chips are mounted, a semiconductor wafer, or a lead frame. 前記上型と前記下型とを圧縮成形位置まで型締めし、前記モールド用の樹脂を硬化させて前記被成形品を圧縮成形する工程の前後の前記キャビティ深さの差が、1.0mm以上である、請求項1から5のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法。 The difference in the depth of the cavity before and after the step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the molding resin, and compression molding the molded product is 1.0 mm or more. The method for producing a resin-molded product according to any one of claims 1 to 5, wherein 前記上型と前記下型とを圧縮成形位置まで型締めし、前記モールド用の樹脂を硬化させて前記被成形品を圧縮成形する工程の後の前記キャビティ深さが、0.5mm以上である、請求項1から6のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法。 The cavity depth after the step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the molding resin, and compression molding the molded product is 0.5 mm or more. A method for producing a resin molded article according to any one of claims 1 to 6. 前記上型と前記下型とを圧縮成形位置まで型締めし、前記モールド用の樹脂を硬化させて前記被成形品を圧縮成形する工程における最高温度が、110から190℃である、請求項1から7のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法。 2. The maximum temperature in the step of clamping the upper mold and the lower mold to a compression molding position, curing the molding resin, and compression molding the molded product is 110 to 190°C. 8. The method for producing a resin molded product according to any one of 7 above. 前記モールド用の樹脂が、エポキシ系樹脂、ポリイミド系樹脂、及びシリコーン系樹脂 からなる群より選ばれる少なくとも一種の樹脂を含有する、請求項1から8のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法。 Resin molding according to any one of claims 1 to 8, wherein the molding resin contains at least one resin selected from the group consisting of epoxy resins, polyimide resins, and silicone resins. method of manufacturing the product. 前記プロセス用離型フィルムの少なくとも1の表面の水に対する接触角が、90°から130°である、請求項1から9のいずれか一項に記載の、樹脂モールド成形品の製造方法 10. The method for producing a resin-molded product according to any one of claims 1 to 9, wherein the contact angle of water on at least one surface of the process release film is 90° to 130°. 請求項1から10のいずれか一項に記載の製造方法により樹脂モールド成形品を製造する工程を含む、樹脂封止半導体素子の製造方法A method for manufacturing a resin-encapsulated semiconductor device, comprising a step of manufacturing a resin-molded product by the manufacturing method according to any one of claims 1 to 10. 請求項11に記載の製造方法により樹脂封止半導体を製造する工程を有する、電気電子機器、又は輸送機械の製造方法12. A method of manufacturing an electrical/electronic device or a transportation machine, comprising a step of manufacturing a resin-encapsulated semiconductor by the manufacturing method according to claim 11.
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