JP7177535B2 - 導電性高分子膜の作製方法 - Google Patents
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Description
(1)ドープ領域を有する導電性高分子膜の作製方法であって、基板上に導電性高分子材料を塗布して導電性高分子膜を形成する製膜工程と、前記導電性高分子膜の匂い物質への吸着特性を変化させるドーパントを所定の組成で含有するドーパント溶液を、前記ドープ領域の表面上に噴霧するドーピング工程と、を含む、導電性高分子膜の作製方法。
以下、実施形態1に係る導電性高分子膜の作製方法の各工程について順に説明する。導電性高分子膜の作製方法は、ドープ領域1を有する導電性高分子膜3を作製する方法である。
製膜工程Aでは、図1(a)や図2(a)のような基板7上に、図1(b)や図2(b)のように導電性高分子材料を塗布して導電性高分子膜を形成する。導電性高分子材料を基板7上に塗布する方法としては、特に制限されず、スピンコート、蒸着重合、電解重合等、各種塗布方法を採用することができる。これらの中でも、導電性高分子材料としてもポリアニリン原料溶液を薄くかつ均一に塗布するという観点から、スピンコートによる塗布が好ましい。
ドービング工程Bでは、図3(a)及び図3(b)に示すように、ドーパントを含有するドーパント溶液を、ドープ領域1に向けて噴霧する。これにより、図1(c)や図2(d)に示すように、ドープ領域1の表面上にドーパント溶液を塗布することができる。
導電性高分子膜の作製方法には、隔壁形成工程Cが含まれていてもよい。隔壁形成工程Cは、ドーピング工程Bの前に、図2(c)に示すように、複数のドープ領域1のそれぞれを隔てる隔壁を形成する工程である。隔壁は、導電性高分子膜3上に形成される複数のドープ領域1どうしの間に形成され、複数のドープ領域1どうしを隔てることができる。これにより、インクジェットノズル23から噴霧されたドーパント溶液が所望のドープ領域1のみに塗布され易くなる。すなわち、インクジェットノズル23から噴霧されたドーパント溶液が飛散し、所望のドープ領域1以外のドープ領域1に到達し難くなる。
図4(a)は、実施形態1における匂いセンサ10の1例を模式的に示す平面図である。図4(b)は、実施形態1における匂いセンサ10の1例を模式的に示す断面図であり、図4(a)におけるA-A’断面を模式的に示す断面図である。匂いセンサ10は、センサ基板17と、センサ基板17上に配設された導電性高分子膜3と、を有する。導電性高分子膜3内の一部領域である複数のドープ領域1は、ドーパントによってドープされており、匂い物質を吸着する物質吸着膜13として機能する。物質吸着膜13への匂い物質の吸着状態を検出する検出器15は、センサ基板17内に複数組み込ませておくことができる。
次に、匂いセンサ10を備える匂い測定装置50について説明する。図5は、匂い測定装置50の内部構成の説明図である。匂い測定装置50は、匂いセンサ10と、匂いセンサ10に接続された演算処理装置51と、演算処理装置51に接続された記憶装置53と、を有する。匂いセンサ10によって測定された測定結果は、演算処理装置51において処理され、匂いデータとして記憶装置53に記憶させることができる。匂い測定は、記憶装置53に記憶されたプログラムP1を演算処理装置51に実行させることにより、匂い測定装置を匂い測定手段として機能させることができる。なお、匂いデータの取得は、演算処理装置51による実行によらずとも、その他の構成によって実行されてもよい。実施形態1において、演算処理装置51は、例えば、中央処理装置(CPU)、マイクロプロセッサ(MPU)等であり、記憶装置53は、例えば、ハードディスクドライブ(HDD)やソリッドステートドライブ(SDD)、メモリ(RAM)等である。
3:導電性高分子膜 7:基板
9:隔壁 10:匂いセンサ
13:物質吸着膜 15:検出器
17:センサ基板 21:インクジェットヘッド
23:インクジェットノズル 50:匂い測定装置
51:演算処理装置 53:記憶装置
Claims (1)
- ドープ領域を有する導電性高分子膜の作製方法であって、
基板上に導電性高分子材料を塗布して導電性高分子膜を形成する製膜工程と、
前記導電性高分子膜の匂い物質への吸着特性を変化させるドーパントを所定の組成で含有するドーパント溶液を、前記ドープ領域の表面上に噴霧するドーピング工程と、
を含む、導電性高分子膜の作製方法であって、
前記ドーパントが、無機イオン、有機酸イオン、又は、高分子酸アニオンである、導電性高分子膜の作製方法。
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