JP7172179B2 - 表示制御方法、情報処理装置及び表示制御プログラム - Google Patents
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Description
製造物を含む撮影画像を取得することで、前記撮影画像から抽出した複数のエッジ線と、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線とを表示した場合に、表示した前記複数のエッジ線と、表示した前記複数の稜線とから、
前記製造物を製造する際の基準となるエッジ線と、該エッジ線に対応する3次元モデルの稜線とのペアである基準線のペアとして、前記複数のエッジ線のうちの第1エッジ線と前記複数の稜線のうちの第1稜線とのペアの指定を受け付けるとともに、
前記基準線のペア以外のペアとして、前記複数のエッジ線のうちの第2エッジ線と前記複数の稜線のうちの第2稜線とのペアの指定を受け付け、
前記第1稜線の位置を、前記第1エッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、前記第2稜線の位置が前記第2エッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定し、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する、
処理をコンピュータが実行することを特徴とする。
・撮影画像に含まれる製造物1510のエッジ線1511と3次元CADデータ1520のエッジ線1521、
・撮影画像に含まれる製造物1510のエッジ線1512と3次元CADデータ1520のエッジ線1522、
・撮影画像に含まれる製造物1510のエッジ線1513と3次元CADデータ1520のエッジ線1523、
・撮影画像に含まれる製造物1510のエッジ線1514と3次元CADデータ1520のエッジ線1524、
を指定して、指定した4ペアのそれぞれのずれ量の総和が最小となるように、重畳表示した重畳方法を示している。
<3次元重畳技術の適用例>
はじめに3次元重畳技術の適用例について説明する。図1は、3次元重畳技術の適用例を示す第1の図である。図1において、工程100は、製造メーカにおいて製品を製造し、出荷するまでの一般的な工程を示したものである。
次に、情報処理装置110のハードウェア構成について説明する。図2は、情報処理装置のハードウェア構成の一例を示す図である。図2に示すように、情報処理装置110は、CPU(Central Processing Unit)201、ROM(Read Only Memory)202、RAM(Random Access Memory)203を有する。CPU201、ROM202、RAM203は、いわゆるコンピュータを形成する。
次に、情報処理装置110の機能構成について説明する。図3は、情報処理装置の機能構成の一例を示す図である。上述したとおり、情報処理装置110には、表示制御プログラムがインストールされており、当該プログラムが実行されることで、情報処理装置110は、表示制御部300として機能する。
次に、第1の実施形態に係る情報処理装置110の表示制御部300において実行される、表示制御処理の流れについて説明する。図4は、第1の実施形態に係る情報処理装置による表示制御処理の流れを示すフローチャートである。情報処理装置110において表示制御プログラムが起動されることで、図4に示す表示制御処理が開始される。
次に、表示制御処理(図4)の各工程(ステップS401~S406)の具体例について説明する。
はじめに、3次元CADデータ取得処理(ステップS401)の具体例として、3次元CADデータ取得処理時の表示画面の画面例について説明する。図5は、3次元CADデータ取得処理の画面例を示す図である。
次に、撮影画像データ取得処理(ステップS402)の具体例として、撮影画像データ取得処理時の表示画面の画面例について説明する。図6は、撮影画像データ取得処理の画面例を示す図である。
次に、表示処理(ステップS403)から重畳データ表示処理(ステップS406)までの各処理の具体例を、画面例を用いて説明する。図7は、表示処理から重畳データ表示処理までの各処理の画面例を示す図である。
次に、表示制御処理の重畳処理(ステップS405)の詳細について説明する。図8は、重畳処理の詳細を示す第1のフローチャートである。
上記第1の実施形態では、基準線のペアを1ペア指定する場合について説明した。これに対して、第2の実施形態では、基準線のペアを2ペアまたは基準線と基準点のペアを1ペアずつ指定する場合について説明する。以下、第2の実施形態について、上記第1の実施形態との相違点を中心に説明する。
はじめに、第2の実施形態に係る情報処理装置による表示制御処理の流れについて説明する。図9は、第2の実施形態に係る情報処理装置による表示制御処理の流れを示すフローチャートである。図4に示したフローチャートとの相違点は、ステップS901~S95である。
次に、表示制御処理(図9)の各工程(ステップS401~S905)のうち、表示処理(ステップS901)から差異領域表示処理(ステップS905)までの各工程の画面例について説明する。図10は、表示処理から差異領域表示処理までの各処理の画面例を示す図である。
次に、表示制御処理の重畳処理(ステップS903)の詳細について説明する。図13は、重畳処理の詳細を示す第2のフローチャートである。
上記第1及び第2の実施形態では、重畳処理(ステップS405、ステップS903)を情報処理装置110にて実行するものとして説明した。しかしながら、重畳処理の実行主体は、情報処理装置110に限定されない。例えば、情報処理装置110と通信可能に接続されるサーバ装置であってもよい。
上記第1の実施形態では、作業者130が、“基準線指定”ボタン702や“エッジ線指定”ボタン703等を選択してから、基準線や基準線以外のエッジ線を指定するものとして説明した。しかしながら、作業者130による基準線の選択方法はこれに限定されず、例えば、はじめに、複数のエッジ線のペアを指定し、指定した複数のエッジ線のペアの中から、基準線のペアを選択するようにしてもよい。
(付記1)
製造物を含む撮影画像から抽出された複数のエッジ線と、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線とを表示し、
表示した前記複数のエッジ線に含まれるエッジ線と、表示した前記複数の稜線に含まれる稜線とを含む複数のペアの指定と、指定された前記複数のペアのうちの何れかのペアの指定とを受け付け、
指定された前記何れかのペアに含まれる稜線の位置を、前記何れかのペアに含まれるエッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、指定された前記複数のペアのうちの他のペアに含まれる稜線の位置が前記他のペアに含まれるエッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定し、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する、
処理をコンピュータが実行することを特徴とする表示制御方法。
(付記2)
指定された前記複数のペアのうちの何れかのペアは、前記製造物を製造する際の基準線であるエッジ線と、前記3次元モデルの対応する基準線である稜線とを含むことを特徴とする付記1に記載の表示制御方法。
(付記3)
指定された前記複数のペアのうちの他のペアは、
前記製造物を製造する際の他の基準線であるエッジ線と、前記3次元モデルの対応する他の基準線である稜線とを含む、または、
前記製造物を製造する際の基準点を含むエッジ線と、前記3次元モデルの対応する基準点を含む稜線とを含む、
ことを特徴とする付記2に記載の表示制御方法。
(付記4)
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示した際の、対応するエッジ線と稜線との間の差異領域を、
該差異領域の位置及び形状を特定するための2次元図形により表示する、または、
該差異領域の位置を特定するためのマーカにより表示する
ことを特徴とする付記3に記載の表示制御方法。
(付記5)
前記差異領域の大きさに応じた色で前記2次元図形または前記マーカを表示することを特徴とする付記4に記載の表示制御方法。
(付記6)
製造物を含む撮影画像から抽出された複数のエッジ線を表示し、
表示した前記複数のエッジ線に含まれる何れかのエッジ線の指定を受け付け、
表示した前記複数のエッジ線のうち、指定された前記何れかのエッジ線を含む所定数のエッジ線を、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線のうち、前記所定数の稜線にそれぞれ対応付け、
指定された前記何れかのエッジ線に対応付けられた稜線の位置を、前記何れかのエッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、指定された前記所定数のエッジ線に含まれる他のエッジ線に対応付けられた稜線の位置が前記他のエッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定し、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する、
処理をコンピュータが実行することを特徴とする表示制御方法。
(付記7)
指定された前記何れかのエッジ線は、前記製造物を製造する際の基準線であることを特徴とする付記6に記載の表示制御方法。
(付記8)
指定された前記何れかのエッジ線は、前記製造物を製造する際の第1の基準線であり、指定された前記所定数のエッジ線に含まれる他のエッジ線は、前記製造物を製造する際の第2の基準線であることを特徴とする付記6に記載の表示制御方法。
(付記9)
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示した際の、対応するエッジ線と稜線との間の差異領域を、
該差異領域の位置及び形状を特定するための2次元図形により表示する、または、
該差異領域の位置を特定するためのマーカにより表示する
ことを特徴とする付記8に記載の表示制御方法。
(付記10)
前記差異領域の大きさに応じた色で前記2次元図形または前記マーカを表示することを特徴とする付記9に記載の表示制御方法。
(付記11)
製造物を含む撮影画像から抽出された複数のエッジ線と、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線とを表示する表示部と、
表示した前記複数のエッジ線に含まれるエッジ線と、表示した前記複数の稜線に含まれる稜線とを含む複数のペアの指定と、指定された前記複数のペアのうちの何れかのペアの指定とを受け付ける指定部と、
指定された前記何れかのペアに含まれる稜線の位置を、前記何れかのペアに含まれるエッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、指定された前記複数のペアのうちの他のペアに含まれる稜線の位置が前記他のペアに含まれるエッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定する特定部と、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する重畳表示部と
を有することを特徴とする情報処理装置。
(付記12)
製造物を含む撮影画像から抽出された複数のエッジ線を表示する表示部と、
表示した前記複数のエッジ線に含まれる何れかのエッジ線の指定を受け付ける指定部と、
表示した前記複数のエッジ線のうち、指定された前記何れかのエッジ線を含む所定数のエッジ線を、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線のうち、前記所定数の稜線にそれぞれ対応付けるペアリング部と、
指定された前記何れかのエッジ線に対応付けられた稜線の位置を、前記何れかのエッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、指定された前記所定数のエッジ線に含まれる他のエッジ線に対応付けられた稜線の位置が前記他のエッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定する特定部と、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する重畳表示部と、
を有することを特徴とする情報処理装置。
(付記13)
製造物を含む撮影画像から抽出された複数のエッジ線と、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線とを表示し、
表示した前記複数のエッジ線に含まれるエッジ線と、表示した前記複数の稜線に含まれる稜線とを含む複数のペアの指定と、指定された前記複数のペアのうちの何れかのペアの指定とを受け付け、
指定された前記何れかのペアに含まれる稜線の位置を、前記何れかのペアに含まれるエッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、指定された前記複数のペアのうちの他のペアに含まれる稜線の位置が前記他のペアに含まれるエッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定し、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する、
処理をコンピュータに実行させるための表示制御プログラム。
(付記14)
製造物を含む撮影画像から抽出された複数のエッジ線を表示し、
表示した前記複数のエッジ線に含まれる何れかのエッジ線の指定を受け付け、
表示した前記複数のエッジ線のうち、指定された前記何れかのエッジ線を含む所定数のエッジ線を、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線のうち、前記所定数の稜線にそれぞれ対応付け、
指定された前記何れかのエッジ線に対応付けられた稜線の位置を、前記何れかのエッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、指定された前記所定数のエッジ線に含まれる他のエッジ線に対応付けられた稜線の位置が前記他のエッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定し、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する、
処理をコンピュータに実行させるための表示制御プログラム。
121 :3次元CADデータ
122 :撮影画像データ
123 :重畳データ
300 :表示制御部
301 :3次元CADデータ取得部
302 :撮影画像データ取得部
303 :重畳部
304 :指定部
305 :表示部
1400 :サーバ装置
Claims (12)
- 製造物を含む撮影画像を取得することで、前記撮影画像から抽出した複数のエッジ線と、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線とを表示した場合に、表示した前記複数のエッジ線と、表示した前記複数の稜線とから、
前記製造物を製造する際の基準となるエッジ線と、該エッジ線に対応する3次元モデルの稜線とのペアである基準線のペアとして、前記複数のエッジ線のうちの第1エッジ線と前記複数の稜線のうちの第1稜線とのペアの指定を受け付けるとともに、
前記基準線のペア以外のペアとして、前記複数のエッジ線のうちの第2エッジ線と前記複数の稜線のうちの第2稜線とのペアの指定を受け付け、
前記第1稜線の位置を、前記第1エッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、前記第2稜線の位置が前記第2エッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定し、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する、
処理をコンピュータが実行することを特徴とする表示制御方法。 - 前記基準線のペア以外のペアとして、
前記製造物を製造する際の他の基準線である前記第2エッジ線と、前記第2エッジ線に対応する前記3次元モデルの前記第2稜線の指定、または、
前記製造物を製造する際の前記第2エッジ線上の基準点と、前記第2エッジ線に対応する前記3次元モデルの前記第2稜線上の基準点の指定を受け付ける、
ことを特徴とする請求項1に記載の表示制御方法。 - 特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示した際の、対応するエッジ線と稜線との間の差異領域を、
該差異領域の位置及び形状を特定するための2次元図形により表示する、または、
該差異領域の位置を特定するためのマーカにより表示する
ことを特徴とする請求項2に記載の表示制御方法。 - 前記差異領域の大きさに応じた色で前記2次元図形または前記マーカを表示することを特徴とする請求項3に記載の表示制御方法。
- 製造物を含む撮影画像を取得することで、前記撮影画像から抽出した複数のエッジ線を表示した場合に、表示した前記複数のエッジ線の中から、前記製造物を製造する際の基準となる第1エッジ線の指定を受け付け、
前記第1エッジ線の指定を受け付けた場合に、前記第1エッジ線を含む所定数のエッジ線を、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線のうち、前記所定数の稜線にそれぞれ対応付け、
指定された前記第1エッジ線に対応付けられた第1稜線の位置を、前記第1エッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、指定された前記所定数のエッジ線に含まれる第2エッジ線に対応付けられた第2稜線の位置が前記第2エッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定し、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する、
処理をコンピュータが実行することを特徴とする表示制御方法。 - 指定された前記第1エッジ線は、前記製造物を製造する際の第1の基準線であり、指定された前記所定数のエッジ線に含まれる前記第2エッジ線は、前記製造物を製造する際の第2の基準線であることを特徴とする請求項5に記載の表示制御方法。
- 特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示した際の、対応するエッジ線と稜線との間の差異領域を、
該差異領域の位置及び形状を特定するための2次元図形により表示する、または、
該差異領域の位置を特定するためのマーカにより表示する
ことを特徴とする請求項6に記載の表示制御方法。 - 前記差異領域の大きさに応じた色で前記2次元図形または前記マーカを表示することを特徴とする請求項7に記載の表示制御方法。
- 製造物を含む撮影画像が取得されることで、前記撮影画像から抽出された複数のエッジ線と、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線とが表示された場合に、表示された前記複数のエッジ線と、表示された前記複数の稜線とから、
前記製造物を製造する際の基準となるエッジ線と、該エッジ線に対応する3次元モデルの稜線とのペアである基準線のペアとして、前記複数のエッジ線のうちの第1エッジ線と前記複数の稜線のうちの第1稜線とのペアの指定を受け付けるとともに、
前記基準線のペア以外のペアとして、前記複数のエッジ線のうちの第2エッジ線と前記複数の稜線のうちの第2稜線とのペアの指定を受け付ける、
指定部と、
前記第1稜線の位置を、前記第1エッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、前記第2稜線の位置が前記第2エッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定する特定部と、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する重畳表示部と
を有することを特徴とする情報処理装置。 - 製造物を含む撮影画像が取得されることで、前記撮影画像から抽出された複数のエッジ線が表示された場合に、表示された前記複数のエッジ線の中から、前記製造物を製造する際の基準となる第1エッジ線の指定を受け付ける指定部と、
前記第1エッジ線の指定を受け付けた場合に、前記第1エッジ線を含む所定数のエッジ線を、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線のうち、前記所定数の稜線にそれぞれ対応付けるペアリング部と、
指定された前記第1エッジ線に対応付けられた第1稜線の位置を、前記第1エッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、指定された前記所定数のエッジ線に含まれる第2エッジ線に対応付けられた第2稜線の位置が前記第2エッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定する特定部と、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する重畳表示部と、
を有することを特徴とする情報処理装置。 - 製造物を含む撮影画像を取得することで、前記撮影画像から抽出した複数のエッジ線と、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線とを表示した場合に、表示した前記複数のエッジ線と、表示した前記複数の稜線とから、
前記製造物を製造する際の基準となるエッジ線と、該エッジ線に対応する3次元モデルの稜線とのペアである基準線のペアとして、前記複数のエッジ線のうちの第1エッジ線と前記複数の稜線のうちの第1稜線とのペアの指定を受け付けるとともに、
前記基準線のペア以外のペアとして、前記複数のエッジ線のうちの第2エッジ線と前記複数の稜線のうちの第2稜線とのペアの指定を受け付け、
前記第1稜線の位置を、前記第1エッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、前記第2稜線の位置が前記第2エッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定し、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する、
処理をコンピュータに実行させるための表示制御プログラム。 - 製造物を含む撮影画像を取得することで、前記撮影画像から抽出した複数のエッジ線を表示した場合に、表示した前記複数のエッジ線の中から、前記製造物を製造する際の基準となる第1エッジ線の指定を受け付け、
前記第1エッジ線の指定を受け付けた場合に、前記第1エッジ線を含む所定数のエッジ線を、前記製造物の設計データに応じた3次元モデルに含まれる複数の稜線のうち、前記所定数の稜線にそれぞれ対応付け、
指定された前記第1エッジ線に対応付けられた第1稜線の位置を、前記第1エッジ線の位置に所定の一致度以上で一致させた状態で、指定された前記所定数のエッジ線に含まれる第2エッジ線に対応付けられた第2稜線の位置が前記第2エッジ線の位置に対応する前記3次元モデルの姿勢を特定し、
特定した前記姿勢で前記3次元モデルを前記撮影画像に重畳表示する、
処理をコンピュータに実行させるための表示制御プログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018121732A JP7172179B2 (ja) | 2018-06-27 | 2018-06-27 | 表示制御方法、情報処理装置及び表示制御プログラム |
US16/448,036 US20200005551A1 (en) | 2018-06-27 | 2019-06-21 | Display control method and display control apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018121732A JP7172179B2 (ja) | 2018-06-27 | 2018-06-27 | 表示制御方法、情報処理装置及び表示制御プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020003995A JP2020003995A (ja) | 2020-01-09 |
JP7172179B2 true JP7172179B2 (ja) | 2022-11-16 |
Family
ID=69054704
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018121732A Active JP7172179B2 (ja) | 2018-06-27 | 2018-06-27 | 表示制御方法、情報処理装置及び表示制御プログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20200005551A1 (ja) |
JP (1) | JP7172179B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102020134680B4 (de) * | 2020-12-22 | 2023-01-19 | Visometry GmbH | Verfahren und Anordnung zur Qualitätsprüfung eines Objekts |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017091078A (ja) | 2015-11-06 | 2017-05-25 | 富士通株式会社 | 重畳表示方法、重畳表示装置、及び重畳表示プログラム |
JP2018081589A (ja) | 2016-11-17 | 2018-05-24 | 富士通株式会社 | 重畳画像生成プログラム、重畳画像生成方法、および情報処理装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102012106890A1 (de) * | 2012-07-30 | 2014-01-30 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Dreidimensionale Darstellung von Objekten |
JP2018142109A (ja) * | 2017-02-27 | 2018-09-13 | 富士通株式会社 | 表示制御プログラム、表示制御方法および表示制御装置 |
-
2018
- 2018-06-27 JP JP2018121732A patent/JP7172179B2/ja active Active
-
2019
- 2019-06-21 US US16/448,036 patent/US20200005551A1/en not_active Abandoned
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017091078A (ja) | 2015-11-06 | 2017-05-25 | 富士通株式会社 | 重畳表示方法、重畳表示装置、及び重畳表示プログラム |
JP2018081589A (ja) | 2016-11-17 | 2018-05-24 | 富士通株式会社 | 重畳画像生成プログラム、重畳画像生成方法、および情報処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2020003995A (ja) | 2020-01-09 |
US20200005551A1 (en) | 2020-01-02 |
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