JP7171320B2 - INKJET RECORDING DEVICE, CONTROL METHOD THEREOF, AND PROGRAM - Google Patents
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Description
本発明は、インクジェット記録装置、その制御方法、及びプログラムに関する。 The present invention relates to an inkjet recording apparatus, its control method, and a program.
従来、インクを吐出するための熱エネルギーを生成する複数の記録素子が配置された素子基板を有する記録ヘッドを用いて、記録媒体に画像を記録するインクジェット記録装置が知られている。 2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known an inkjet printing apparatus that prints an image on a printing medium using a printing head having an element substrate on which a plurality of printing elements that generate thermal energy for ejecting ink are arranged.
例えば、特許文献1には、記録ヘッドに配置された素子基板を複数の領域に分割し、該分割した領域の夫々に配置されたサブヒータで加熱することによって、素子基板が設定温度となるように制御する構成が開示されている。 For example, in Patent Document 1, an element substrate arranged in a print head is divided into a plurality of areas, and the element substrate is heated by sub-heaters arranged in each of the divided areas so that the element substrate reaches a set temperature. A controlling configuration is disclosed.
しかしながら、特許文献1では、サブヒータの駆動電力に上限値が設定されており、一部のサブヒータの駆動電力が上限値に達している場合、該一部のサブヒータが担当する領域の温度を設定温度まで上昇させる時間が長くなるという課題がある。 However, in Patent Document 1, an upper limit is set for the driving power of the sub-heaters. There is a problem that it takes a long time to raise the temperature.
そこで本発明は、上記の課題に鑑み、記録装置の記録ヘッドにおいて、一部のサブヒータの駆動電力が上限値に達している場合であっても、該一部のサブヒータが担当する領域の温度を設定温度まで上昇させる時間を短くすることを目的とする。 Therefore, in view of the above problems, the present invention provides a print head of a printing apparatus, in which even if the drive power of some of the sub-heaters reaches the upper limit, the temperature of the area that some of the sub-heaters are in charge of is reduced. The purpose is to shorten the time to raise to the set temperature.
本発明は、記録媒体にインクを吐出する記録素子から成る1または複数の記録素子列と、前記インクを加熱する加熱素子と、温度を検出するセンサとがそれぞれ設けられた素子基板を有し、該素子基板を複数の領域に分割した場合に得られる複数の分割領域のそれぞれに対して、前記加熱素子と前記センサとが配されているインクジェット記録装置であって、前記分割領域ごとに、該分割領域に配された前記センサによって検出される温度と目標温度との間の差分に基づき、該分割領域に配された前記加熱素子に対する駆動強度を決定する第1決定手段と、前記分割領域ごとに、前記駆動強度を補正するための補正値を決定する第2決定手段と、前記分割領域ごとに、前記駆動強度と前記補正値とを加算することで、補正された駆動強度を決定する第3決定手段と、前記分割領域ごとに、前記補正された駆動強度に従って、前記加熱素子を駆動する駆動手段とを有し、第1の加熱素子グループに対する前記補正された駆動強度が該補正された駆動強度の上限値に達している場合、前記第1の加熱素子グループの加熱素子が配された分割領域に近接し、かつ、該分割領域より加熱効率が高い分割領域に配された第2の加熱素子グループに対する前記補正値が、前記第1の加熱素子グループに対する前記補正値と等しいことを特徴とするインクジェット記録装置である。 The present invention includes an element substrate provided with one or more recording element arrays each composed of recording elements for ejecting ink onto a recording medium, a heating element for heating the ink, and a sensor for detecting temperature, An inkjet recording apparatus in which the heating element and the sensor are arranged for each of a plurality of divided areas obtained by dividing the element substrate into a plurality of areas, first determining means for determining driving strength for the heating element arranged in the divided area based on the difference between the temperature detected by the sensor arranged in the divided area and the target temperature; a second determining means for determining a correction value for correcting the driving strength; and a second determining means for determining the corrected driving strength by adding the driving strength and the correction value for each of the divided areas. 3 determining means, and driving means for driving the heating elements according to the corrected driving intensity for each of the divided regions, wherein the corrected driving intensity for the first heating element group is the corrected driving intensity. When the driving intensity reaches the upper limit value, the second heating element is arranged in a divided area that is close to the divided area where the heating elements of the first heating element group are arranged and has higher heating efficiency than the divided area. The inkjet recording apparatus is characterized in that the correction value for the heating element group is equal to the correction value for the first heating element group.
本発明により、一部のサブヒータの駆動電力が上限値に達している場合であっても、該一部のサブヒータが担当する領域の温度を設定温度まで上昇させる時間を短くすることが可能となる。 According to the present invention, even when the drive power of some of the sub-heaters has reached the upper limit, it is possible to shorten the time required to raise the temperature of the area that some of the sub-heaters are in charge of to the set temperature. .
以下、添付図面を参照して本発明の好適な実施形態について、さらに具体的かつ詳細に説明する。但し、ここで記載されている構成要素の相対配置等は、特定の記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。 Preferred embodiments of the present invention will now be described more specifically and in detail with reference to the accompanying drawings. However, unless there is a specific description, the relative arrangement and the like of the components described here are not intended to limit the scope of the present invention only to them.
尚、本明細書において、「記録」(「プリント」という場合もある)とは、文字、図形等有意の情報を形成する場合のみならず、有意無意を問わない。さらに人間が視覚で知覚し得るように顕在化したものであるか否かも問わず、広く記録媒体上に画像、模様、パターン等を形成する、または媒体の加工を行う場合も表すものとする。 In this specification, "recording" (sometimes referred to as "printing") means not only the formation of significant information such as characters and graphics, but also meaninglessness. Furthermore, regardless of whether or not it is actualized so that humans can perceive it visually, it also represents the case of forming an image, design, pattern, etc. on a recording medium or processing the medium.
また、「記録媒体」とは、一般的な記録装置で用いられる紙のみならず、広く、布、プラスチック・フィルム、金属板、ガラス、セラミックス、木材、皮革等、インクを受容可能なものも表すものとする。 The term "recording medium" refers not only to paper used in general recording devices, but also to a wide range of materials that can accept ink, such as cloth, plastic film, metal plate, glass, ceramics, wood, and leather. shall be
さらに、「インク」(「液体」と言う場合もある)とは、上記「記録(プリント)」の定義と同様広く解釈されるべきものである。従って、記録媒体上に付与されることによって、画像、模様、パターン等の形成または記録媒体の加工、或いはインクの処理(例えば記録媒体に付与されるインク中の色剤の凝固または不溶化)に供される液体などの記録材も表すものとする。 Furthermore, "ink" (sometimes referred to as "liquid") should be interpreted broadly in the same way as the definition of "print" above. Therefore, by being applied on a recording medium, it can be used for forming an image, design, pattern, etc., processing the recording medium, or treating ink (for example, solidifying or insolubilizing the coloring agent in the ink applied to the recording medium). It also represents a recording material such as a liquid that is applied.
またさらに、「記録素子」とは、特にことわらない限り、インク吐出口乃至これに連通する液路およびインク吐出に利用されるエネルギーを発生する素子を総括して言うものとする。 Furthermore, unless otherwise specified, the term "printing element" generally refers to an ink ejection port, a liquid path communicating therewith, and an element that generates energy used for ink ejection.
またさらに、「素子基板」(「ヘッド基板」、「ヒータボード」と言う場合もある)とは、シリコン半導体から成る単なる基体を指し示すものではなく、各素子や配線等が設けられた記録素子基板の構成を差し示すものである。因みに、基板上とは、単に素子基板の上を指し示すだけでなく、素子基板の表面、表面近傍の素子基板内部側をも示すものとする。 Further, the term "element substrate" (sometimes called "head substrate" or "heater board") does not simply refer to a substrate made of a silicon semiconductor, but rather a printing element substrate on which elements, wiring, etc. are provided. It indicates the configuration of Incidentally, "on the substrate" means not only the top of the element substrate but also the surface of the element substrate and the inside of the element substrate in the vicinity of the surface.
本発明の最も重要な特徴をなすインクジェット記録ヘッド(以下、単純に「記録ヘッド」と記載する)では、複数の記録素子から成る記録素子列と、該複数の記録素子を駆動する駆動回路とを同一基板に実装している。また、後述の説明から分かるように、記録ヘッドは複数の素子基板を内蔵し、これらの素子基板をカスケード接続する構造をとっている。従って、本発明の記録ヘッドは、相対的に長い記録幅を実現することができるため、一般に見られるシリアルタイプの記録装置のみならず、その記録幅が記録媒体の幅に相当するようなフルライン記録ヘッドを備えた記録装置にも用いられる。また、本発明の記録ヘッドは、シリアルタイプの記録装置の中でも、A0やB0等の大きなサイズの記録媒体に記録する大判プリンタに用いられる。まず、本発明の記録ヘッドが用いられる記録装置について説明する。 An ink jet print head (hereinafter simply referred to as a "print head"), which is the most important feature of the present invention, includes a print element array composed of a plurality of print elements and a drive circuit for driving the plurality of print elements. Mounted on the same board. Further, as will be understood from the description given later, the printhead has a structure in which a plurality of element substrates are incorporated and these element substrates are cascade-connected. Therefore, since the print head of the present invention can achieve a relatively long print width, it can be used not only in a serial type print apparatus commonly seen but also in a full-line print head whose print width corresponds to the width of a print medium. It is also used in a recording device with a recording head. Among serial type recording apparatuses, the recording head of the present invention is used in a large format printer for recording on a recording medium of a large size such as A0 or B0. First, a recording apparatus using the recording head of the present invention will be described.
<記録装置の概要について>
図1は、本発明における記録装置の1例として、フルラインの記録ヘッド100K、100C、100M、100Yと、常に安定したインク吐出を保証するための回復系ユニットとを備えたインクジェット記録装置1の構造を説明するための斜視透視図である。尚、以下では、「インクジェット記録装置1」を単純に「記録装置1」と記載する。
<Outline of recording device>
FIG. 1 shows, as an example of a recording apparatus according to the present invention, an inkjet recording apparatus 1 equipped with full-
フィーダユニット17内にセットされた記録用紙15は、搬送ユニット16によって図中+X方向に搬送され、各色の記録ヘッドにより実際に記録が行われる位置(記録位置とする)に到達する。記録用紙15への記録では、まず、搬送ユニット16が記録用紙15を搬送しながら、記録用紙15内に設定される基準位置がブラック(K)インクを吐出する記録ヘッド100Kの下に到達したときに、記録ヘッド100Kからブラックインクを吐出する。同様に、シアン(C)インクを吐出する記録ヘッド100C、マゼンタ(M)インクを吐出する記録ヘッド100M、イエロ(Y)インクを吐出する記録ヘッド100Yの順に、記録用紙15の基準位置が各色の記録ヘッドの下に到達すると、各色インクを吐出する。このようにしてカラー画像が印刷された記録用紙15は、スタッカトレイ20に排出されて堆積される。
The
記録装置1はさらに、記録ヘッド100K、100C、100M、100Yに供給されるインク毎に交換可能なインクカートリッジ(不図示)を有している。フロントドア19は、インクカートリッジを交換する際に開閉する扉である。また、記録装置1はさらに、記録ヘッド100へのインク供給や回復動作のためのポンプユニット(不図示)、記録装置1全体を制御する制御基板(不図示)等も有している。
The recording apparatus 1 further includes an ink cartridge (not shown) that can be replaced for each ink supplied to the
尚、図1に示す座標、即ち、記録媒体の搬送方向を示すX軸と、重力方向を示すZ軸と、X軸とZ軸とに直角に交差するY軸との関係は、以降の説明でも共通して用いるものとする。以上が、本発明における記録装置の概要の内容である。 The coordinates shown in FIG. 1, that is, the relationship between the X-axis indicating the conveying direction of the recording medium, the Z-axis indicating the direction of gravity, and the Y-axis perpendicularly intersecting the X-axis and the Z-axis will be described later. However, it shall be used in common. The above is the outline of the recording apparatus according to the present invention.
<記録装置の制御構成について>
次に、図1を用いて説明した記録装置1の記録制御を実行するための構成(いわゆる、制御構成)について、図2を用いて説明する。図2は、記録装置1の制御回路の構成を示すブロック図である。図2において、コントローラ30は、MPU31、ROM32、ゲートアレイ(G.A.)33、及びDRAM34を含んで構成される。
<Regarding the control configuration of the recording device>
Next, a configuration (so-called control configuration) for executing recording control of the recording apparatus 1 described with reference to FIG. 1 will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the control circuit of the recording apparatus 1. As shown in FIG. In FIG. 2, the
インタフェース40は、記録データを入力するインタフェースである。ROM32は、不揮発性の記憶領域であり、MPU31が実行する制御プログラムを格納するROMである。DRAM34は、記録データや記録ヘッド100に供給される記録信号等のデータを一時的に格納するDRAMである。ゲートアレイ33は、記録ヘッド100に対する記録信号の供給制御を行うゲートアレイであり、インタフェース40、MPU31、DRAM34間のデータ転送制御も行う。キャリッジモータ90は、記録ヘッド100(100K、100C、100M、100Y)を搬送するためのモータである。搬送モータ70は、記録媒体を搬送するためのモータである。ヘッドドライバ50は、記録ヘッド100を駆動する。モータドライバ60は、搬送モータ70を駆動するためのモータドライバであり、モータドライバ80は、キャリッジモータ90を駆動するためのモータドライバである。
The
尚、図1に示すようなフルライン記録ヘッドを用いる構成の記録装置では、キャリッジモータ90やそのモータを駆動するモータドライバ80は存在しない。このことを考慮して、図2では、モータドライバ80及びキャリッジモータ90に、括弧をつけている。
It should be noted that the carriage motor 90 and the
以上説明した制御回路の動作を説明する。インタフェース40を介して入力された記録データ(ビットマップ画像データ)は、MPU31及びゲートアレイ33により、記録信号に変換される。記録信号とは、インク吐出口用の、吐出または非吐出を表すON/OFF信号である。モータドライバ60、80が駆動されると共に、ヘッドドライバ50に送られた記録信号に従って記録ヘッド100が駆動され、記録が行われる。
The operation of the control circuit described above will be described. Print data (bitmap image data) input via the
以下では、フルライン型の記録ヘッドを例に挙げて、本発明の実施形態を説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、前述したようなシリアルタイプの記録装置の記録ヘッドに本発明を適用しても良い。以上が、本発明における記録装置1の制御構成の内容である。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described using a full-line type printhead as an example. The present invention may be applied. The above is the content of the control configuration of the recording apparatus 1 according to the present invention.
[第1の実施形態]
以下、本発明の第1の実施形態について説明する。
[First embodiment]
A first embodiment of the present invention will be described below.
<記録ヘッドの構成について>
図3は、本実施形態に係る記録ヘッドの構成の概要を説明するための図である。図3に示すように、本実施形態に係る記録ヘッド100には、記録ヘッド100が伸長する方向(Y方向)に沿って、複数の素子基板301が配列される。尚、図3では説明の便宜上、インクを吐出する記録素子(具体的には吐出口)、及び、この吐出口に対応する熱エネルギーを生成するヒータについては、省略している。
<Construction of the recording head>
FIG. 3 is a diagram for explaining the outline of the configuration of the print head according to this embodiment. As shown in FIG. 3, in the
素子基板301には、複数のサブヒータ(加熱素子)302が設けられる。サブヒータ302は、インクを吐出する記録素子(具体的には吐出口)それぞれに対応付けて設けられるヒータとは異なるヒータである。尚、図3では、素子基板301を40個の領域に格子状に分割し、該分割した領域(分割領域とする)の夫々に対応するサブヒータを設ける構成としている。しかし、サブヒータ302の数や配置は、特に図3に示すものに限定されず、サブヒータ302により素子基板301の領域全体の温度調整が可能な数や配置であれば良い。
A plurality of sub-heaters (heating elements) 302 are provided on the
また、各サブヒータ302には、温度検出手段(温度センサ)303が設けられる。尚、温度検出手段303の数や配置は特に図3に示すものに限定されず、各サブヒータ302における温度情報を取得することが可能な数や配置であれば良い。また、素子基板301の配列構成や形状も、図3に示すものに限定されない。例えば、素子基板の形状は図示したような長方形ではない平行四辺形の他、長方形、台形等の四角形であっても良い。さらに、記録ヘッド100は、(素子基板の)複数列から構成されても良いし、或いは、記録ヘッド100における素子基板の配列は、千鳥配列であっても良い。
Further, each sub-heater 302 is provided with a temperature detection means (temperature sensor) 303 . The number and arrangement of the temperature detecting means 303 are not particularly limited to those shown in FIG. Also, the arrangement configuration and shape of the
<保温制御処理について>
以下、本実施形態に係る保温制御処理について、図4を用いて説明する。図4は、本実施形態に係る、サブヒータ駆動を伴う保温制御処理のフローチャートである。図4に示すフローの各処理は、例えば、MPU31がROM32等に格納されたプログラムを読み出して実行することにより実現される。尚、以下では、各処理の主体をコントローラ30として説明する。また、以下のフローは、印刷ジョブの実行指示を受け取ったことに応じて開始される。
<Regarding heat retention control processing>
The heat retention control process according to this embodiment will be described below with reference to FIG. FIG. 4 is a flow chart of heat retention control processing accompanied by sub-heater driving according to the present embodiment. Each process of the flow shown in FIG. 4 is implemented by, for example, the
ステップS400において、コントローラ30は、各素子基板301の分割領域のうち未処理の1つに注目する。本ステップで注目する領域を、注目分割領域とする。例えば、図3に示すケースでは、本ステップにて、40個の分割領域のうちの1つが、注目分割領域として選ばれる。尚、以降では「ステップS~」を単純に「S~」と記載する。
In step S<b>400 , the
S401において、コントローラ30は、注目分割領域の温度を取得する。ここで、注目分割領域の温度は、注目分割領域に対応する温度検出手段303により取得できる。
In S401, the
S402において、コントローラ30は、S401で取得した注目分割領域の温度と、目標温度(Ttgtとする)との差分(ΔTとする)を算出する。ここで「目標温度」とは、画像形成を行うために各注目分割領域で維持されるべき温度を示し、デフォルト値として設定されている。尚、本実施形態では、複数の素子基板と各素子基板における複数の分割領域との両方に対して共通の値が、目標温度として用いられるものとする。目標温度の値は予め規定され、ROM32等に保持されている。
In S402, the
S403において、コントローラ30は、S402で算出した温度差ΔTに基づき、注目分割領域に対応するサブヒータ302に対する駆動強度を示す指標を決定する。具体的には、コントローラ30は、図5に示すようなテーブルを参照して、S402で算出した温度差ΔTに対応するサブヒータランクを選択する。サブヒータランク(SHランクと略記する)とは、本実施形態で採用するサブヒータに対する駆動強度を示す指標である。図5は、温度差ΔTとSHランクとの間の対応関係を保持するテーブルを示している。図5(a)に示すように、本実施形態のSHランクは、0以上31以下の範囲の値をとることができる。SHランクが大きいほどサブヒータを駆動する際のパルス幅が長くなり、つまり、サブヒータを駆動する時間が長くなる一方で、SHランクが0のとき、サブヒータを駆動しない。
In S403, the
記録装置1の電源をONにした後、1回目の保温制御処理を開始する際、素子基板301の温度は環境温度とほぼ等しく、分割領域の温度と目標温度Ttgtとの差分(温度差ΔT)が大きいので、SHランクは大きくなる。従って、強い駆動強度で駆動されたサブヒータ302により、分割領域は急速に加熱される。しばらく加熱されると、温度差ΔTが小さくなるので、SHランクは小さくなり、分割領域の温度が目標温度Ttgtとほぼ等しい状態が維持される。
When the first heat retention control process is started after the power of the recording apparatus 1 is turned on, the temperature of the
図5(a)は、サブヒータの駆動電力に上限値を設定しない場合の対応関係を示すテーブルであり、図5(b)は、サブヒータの駆動電力に上限値を設定した場合の対応関係を示すテーブルである。ここでサブヒータの駆動電力の「上限値」とは、記録装置1の消費電力を所定量以下に抑えるために予め規定された、補正前と補正後との夫々に対するサブヒータランクの閾値である、これらの閾値は、環境温度や記録する用紙の幅に応じて異なって良い。同一の駆動条件でサブヒータを駆動するような場合であっても、環境温度が低いほど、また、記録する用紙の幅が長いほど、記録装置1の消費電力が大きくなる。従って、記録装置1の消費電力を所定量以下に抑えるためには、サブヒータの駆動電力の上限値を小さくする必要がある。尚、以下では、補正前の上限値が23、補正後の上限値が31に設定されているケースについて説明する。 FIG. 5(a) is a table showing the correspondence when no upper limit is set for the driving power of the sub-heater, and FIG. 5(b) shows the correspondence when the upper limit is set for the driving power of the sub-heater. is a table. Here, the "upper limit" of the sub-heater driving power is a threshold value of the sub-heater rank before and after correction, which is defined in advance to keep the power consumption of the printing apparatus 1 below a predetermined amount. These thresholds may vary depending on the environmental temperature and the width of the paper to be recorded. Even if the sub-heaters are driven under the same drive conditions, the power consumption of the recording apparatus 1 increases as the environmental temperature decreases and as the width of the paper to be recorded increases. Therefore, in order to suppress the power consumption of the printing apparatus 1 to a predetermined amount or less, it is necessary to reduce the upper limit of the driving power of the sub-heater. A case in which the upper limit value before correction is set to 23 and the upper limit value after correction is set to 31 will be described below.
S404において、コントローラ30は、S403で選択したSHランクを補正するための値(SHランク補正値とする)を決定する。本実施形態では、SHランク補正値は、サブヒータ毎の熱特性を考慮しサブヒータ上の位置に応じて予め規定され、サブヒータ上の位置とSHランク補正値との関係を保持するテーブルが、ROM32に格納されている。熱特性は大きく分けて、発熱特性と放熱特性という2つの特性がある。発熱特性はサブヒータの製造公差に起因する抵抗ばらつきから決まり、抵抗値が小さいほど電流値が大きくなり、電圧は固定なので発熱量(消費電力)が大きくなる。放熱特性はサブヒータの素子基板上の位置に基づいて決まり、一般的には、素子基板上の端部の方が中央部よりも放熱量が大きくなる。本実施形態は放熱特性に関する補正制御なので、発熱特性については考えない。(つまり、サブヒータの製造公差に起因する抵抗ばらつきは無いものとする。)
In S404, the
図6は、従来の構成を用いて、高温環境においてサブヒータを駆動した際の、素子基板の温度変化を説明する図である。詳しくは、図6(a)は、素子基板上の各位置に対応するサブヒータ毎のSHランク補正値を示し、素子基板に配されたサブヒータ毎の熱特性に応じたサブヒータのグループ分けを示している。また、図6(b)は、図6(a)に示すSHランク補正値を適用してサブヒータを駆動した際の、各サブヒータが担当する素子基板の分割領域の温度変化を示している。図6(a)に示すように従来の構成では、加熱効率が低い位置に配置されるサブヒータ(具体的には、左上端と左下端と右下端と右上端との4隅のサブヒータ)に対応するパルス幅を長くする。一方で、これらのサブヒータより加熱効率が高い位置に配置されるサブヒータに対応するパルス幅を短くする。これにより、素子基板上の温度ばらつきを低減させている。素子基板上の個々のサブヒータについて、そのデバイスとしての能力(電流に対して発生させられる熱量)は同じだが、配置位置によって加熱効率が異なる。上述したように、左上端と左下端と右下端と右上端との4隅のサブヒータの加熱効率が低い理由は、周りにサブヒータが無い分、熱が逃げ易いためである。 FIG. 6 is a diagram for explaining the temperature change of the element substrate when the sub-heater is driven in a high-temperature environment using the conventional configuration. Specifically, FIG. 6A shows the SH rank correction value for each sub-heater corresponding to each position on the element substrate, and shows the grouping of the sub-heaters according to the thermal characteristics of each sub-heater arranged on the element substrate. there is FIG. 6(b) shows temperature changes in the divided regions of the element substrate that each sub-heater is in charge of when the sub-heaters are driven by applying the SH rank correction value shown in FIG. 6(a). As shown in FIG. 6(a), the conventional configuration corresponds to sub-heaters arranged at positions with low heating efficiency (specifically, the sub-heaters at the four corners of the upper left, lower left, lower right, and upper right corners). lengthen the pulse width. On the other hand, the pulse width corresponding to the sub-heaters arranged at positions where the heating efficiency is higher than those of these sub-heaters is shortened. This reduces temperature variations on the element substrate. The individual sub-heaters on the element substrate have the same device capability (amount of heat generated with respect to current), but differ in heating efficiency depending on the arrangement position. As described above, the reason why the heating efficiency of the sub-heaters at the four corners of the upper left, lower left, lower right, and upper right corners is low is that there are no sub-heaters in the surroundings, so that heat can easily escape.
因みに、図6(a)では、SHランクの補正前後で素子基板毎の消費電力を等しくするため、素子基板内のSHランク補正値の合計が0になるように設定している。素子基板毎の消費電力を、補正前後で等しくすることによって、消費電力に関係する制御への影響を無くすことができる。尚、前述したように、図6は高温環境のケースを示し、環境温度(D2とする)と目標温度(D3とする)との差分が比較的小さいので、加熱開始から加熱完了までの時間(加熱時間とする)はT2-T1となり、後述する低温環境のケースと比べると短くなる。また、サブヒータを駆動する電力に余裕があるので、素子基板上の温度ばらつきを発生させることのない、環境温度から目標温度までの加熱制御が可能である。 Incidentally, in FIG. 6A, the sum of the SH rank correction values in the element substrate is set to 0 in order to equalize the power consumption of each element substrate before and after the SH rank correction. By equalizing the power consumption of each element substrate before and after correction, it is possible to eliminate the influence on control related to power consumption. As described above, FIG. 6 shows the case of a high-temperature environment, and since the difference between the environmental temperature (assumed to be D2) and the target temperature (assumed to be D3) is relatively small, the time from the start of heating to the completion of heating ( (heating time) is T2-T1, which is shorter than the low-temperature environment case described later. In addition, since there is sufficient power to drive the sub-heater, it is possible to control the heating from the environmental temperature to the target temperature without causing temperature variations on the element substrate.
図4の説明に戻る。S404の後、S405において、コントローラ30は、注目分割領域に対するサブヒータのSHランクを最終的に決定する。具体的には、S403にて図5(b)のテーブルを用いて選択したSHランクに、S404にて決定した注目分割領域に対応するSHランク補正値(図6(a)参照)を加算する。例えばΔT>2.0の場合、加熱効率が低い位置に配置される第1のサブヒータグループ(SHグループと略記する)に属するサブヒータに関しては、補正前のSHランクは23、SHランク補正値は8であるので、補正後のSHランクは31となる。尚、補正値を加算した結果、31より大きくなる場合は31に設定し、0より小さくなる場合は0に設定する。
Returning to the description of FIG. After S404, in S405, the
S406において、コントローラ30は、S405で決定したSHランクに対応するパルス幅で、各サブヒータ302を駆動する。
In S406, the
S407において、コントローラ30は、未処理の分割領域があるか判定する。本ステップの判定結果が真の場合、処理はS400に戻り、次の注目分割領域が選択される。一方、本ステップの判定結果が偽の場合、一連の処理は終了する。以上が、本実施形態における保温制御処理の内容である。
In S407, the
<第1の実施形態の具体例>
<<従来の構成の場合>>
本実施形態における具体例について説明する前に、まず、従来の構成における動作例について説明する。図7は、従来の構成を用いて、低温環境においてサブヒータを駆動した際の、素子基板の温度変化を説明する図である。詳しくは、図7(a)は、素子基板上の各位置に対応するサブヒータ毎のSHランク補正値を示し、素子基板に配されたサブヒータ毎の熱特性に応じたサブヒータのグループ分けを示している。ここで、図に示すように、加熱効率が最も低い位置に配置されるサブヒータ群、具体的には、左上端と左下端と右下端と右上端との4隅のサブヒータを、第1のサブヒータグループ(SHグループと略記する。加熱素子グループともいう。)とする。また、第1のSHグループのサブヒータに何れかの方向で近接(隣接ともいう)し、かつ第1のSHグループのサブヒータより加熱効率が高い位置に配置されるサブヒータ群を第2のSHグループとする。
<Specific example of the first embodiment>
<<Conventional configuration>>
Before describing a specific example of this embodiment, first, an operation example of a conventional configuration will be described. FIG. 7 is a diagram for explaining the temperature change of the element substrate when the sub-heater is driven in a low-temperature environment using the conventional configuration. Specifically, FIG. 7A shows the SH rank correction value for each sub-heater corresponding to each position on the element substrate, and shows the grouping of the sub-heaters according to the thermal characteristics of each sub-heater arranged on the element substrate. there is Here, as shown in the figure, the group of sub-heaters arranged at the position with the lowest heating efficiency, specifically, the sub-heaters at the four corners of the upper left, lower left, lower right and upper right corners are arranged as the first sub-heaters. A heater group (abbreviated as an SH group, also called a heating element group) is used. A group of sub-heaters arranged in a position close to (also called adjacent to) the sub-heaters of the first SH group in any direction and having higher heating efficiency than the sub-heaters of the first SH group is called the second SH group. do.
図7(b)は、図7(a)に示すSHランク補正値を適用してサブヒータを駆動した際の、各サブヒータが担当する素子基板の分割領域の温度変化を示している。前述したように、図7は低温環境のケースを示し、環境温度(D1とする。但しD1<D2。)と目標温度D3との差分が比較的大きいので、加熱時間はT4-T1となり、図6(b)に示したケースより長い。また、サブヒータを駆動する電力に余裕がないので、加熱効率が低い第1のSHグループに属する各サブヒータが担当する分割領域に関し、加熱効率が高い第2のSHグループに属する各サブヒータが担当する分割領域と比較して、加熱中の温度が低くなる。即ち、図7(b)に示すように、第1のSHグループに属するサブヒータは、設定できる最大のSHランクに対応する最長のパルス幅でサブヒータを駆動しても、第2のSHグループに属するサブヒータよりも加熱時間が長くなる。尚、本例における「最大のSHランク」とは、サブヒータランク上限値23にサブヒータランク補正値8を加算した補正後のサブヒータランク値31である。
FIG. 7(b) shows temperature changes in the divided regions of the element substrate that each sub-heater is in charge of when the sub-heaters are driven by applying the SH rank correction values shown in FIG. 7(a). As described above, FIG. 7 shows the case of the low temperature environment, and since the difference between the environmental temperature (D1, provided that D1<D2) and the target temperature D3 is relatively large, the heating time is T4-T1. longer than the case shown in 6(b). In addition, since there is no margin in the electric power for driving the sub-heaters, the divided regions assigned to the sub-heaters belonging to the first SH group having low heating efficiency are assigned to the sub-heaters belonging to the second SH group having high heating efficiency. Compared to the area, the temperature during heating will be lower. That is, as shown in FIG. 7B, the sub-heater belonging to the first SH group belongs to the second SH group even if the sub-heater is driven with the longest pulse width corresponding to the maximum settable SH rank. Heating time is longer than sub-heater. The “maximum SH rank” in this example is the corrected
<<本実施形態の場合>>
次に、本実施形態に係る構成における動作例について説明する。図8は、本実施形態に係る構成を用いて、低温環境においてサブヒータを駆動した際の、素子基板の温度変化を説明する図である。詳しくは、図8(a)は、素子基板上の各位置に対応するサブヒータ毎のSHランク補正値を示し、素子基板に配されたサブヒータ毎の熱特性に応じたサブヒータのグループ分けを示している。また、図8(b)は、図8(a)に示すSHランク補正値を適用してサブヒータを駆動した際の、各サブヒータが担当する素子基板の分割領域の温度変化を示している。尚、前述したように、本実施形態における素子基板とその分割領域の形状は、平行四辺形であるが(図3参照)、図8(a)では、説明上、素子基板を長方形で表し、分割領域を正方形で表している。
<<In the case of this embodiment>>
Next, an operation example in the configuration according to this embodiment will be described. FIG. 8 is a diagram for explaining the temperature change of the element substrate when the sub-heater is driven in a low-temperature environment using the configuration according to this embodiment. Specifically, FIG. 8A shows the SH rank correction value for each sub-heater corresponding to each position on the element substrate, and shows the grouping of the sub-heaters according to the thermal characteristics of each sub-heater arranged on the element substrate. there is FIG. 8(b) shows temperature changes in the divided regions of the element substrate that each sub-heater is in charge of when the sub-heaters are driven by applying the SH rank correction values shown in FIG. 8(a). As described above, the shape of the element substrate and its divided regions in this embodiment is a parallelogram (see FIG. 3). The divided regions are represented by squares.
図8(a)に示すように、第1のSHグループに対応するサブヒータランク補正値は、従来例と同じく8である。ところが、第2のSHグループに対応するSHランクが8であり、従来例のそれと比較して高い。因みに、従来例の第2のSHグループに対するSHランクは0である(図7(a)参照)。 As shown in FIG. 8A, the sub-heater rank correction value corresponding to the first SH group is 8 as in the conventional example. However, the SH rank corresponding to the second SH group is 8, which is higher than that of the conventional example. Incidentally, the SH rank for the second SH group in the conventional example is 0 (see FIG. 7(a)).
従って、本実施形態に係る第2のSHグループの各サブヒータが担当する分割領域の温度は、加熱中、従来例に係る第2のSHグループの各サブヒータが担当する分割領域の温度より高くなる。その結果、本実施形態では、第2のSHグループのサブヒータから第1のSHグループのサブヒータに伝達される熱量が、従来例より多くなる。よって、第1のSHグループの温度を環境温度D1から目標温度D3まで上昇させるために要する加熱時間はT3-T1となり、従来例の加熱時間であるT4-T1より短くなる。 Therefore, during heating, the temperature of the divided area handled by each sub-heater of the second SH group according to the present embodiment becomes higher than the temperature of the divided area handled by each sub-heater of the second SH group according to the conventional example. As a result, in this embodiment, the amount of heat transferred from the second SH group sub-heater to the first SH group sub-heater is greater than in the conventional example. Therefore, the heating time required to raise the temperature of the first SH group from the ambient temperature D1 to the target temperature D3 is T3-T1, which is shorter than the conventional heating time T4-T1.
<本実施形態の効果、変形例について>
このように本実施形態では、第1のSHグループに供給する電力は従来例と同じだが、第2のSHグループに供給する電力を多くし、その分だけ第1、第2のSHグループ以外のサブヒータに供給する電力を少なくする。例えば、図8(a)のケースでは、素子基板の中央に位置する12個のサブヒータの夫々に対する補正値を-8としている。
<Effects of the present embodiment and modifications>
As described above, in this embodiment, the power supplied to the first SH group is the same as that of the conventional example, but the power supplied to the second SH group is increased. Reduce the power supplied to the sub-heater. For example, in the case of FIG. 8A, the correction value for each of the 12 sub-heaters located in the center of the element substrate is -8.
本実施形態により、素子基板全体に供給する電力(素子基板毎の消費電力)を変えることなく、素子基板全体の加熱時間を短くすることができる。 According to this embodiment, the heating time of the entire element substrate can be shortened without changing the power supplied to the entire element substrate (the power consumption of each element substrate).
<<変形例1>>
前述の形態では、素子基板内で近接するサブヒータから伝わる熱よりも素子基板間で近接するサブヒータから伝わる熱の方が小さくなる構成(断熱構成)について説明した。しかし、素子基板内で近接するサブヒータから伝わる熱(分割領域間で伝わる熱)と、素子基板間で近接するサブヒータから伝わる熱とがほぼ等しくなる構成(非断熱構成)に本実施形態を適用しても良い。
<<Modification 1>>
In the above embodiment, the configuration (insulating configuration) in which the heat transmitted from the adjacent sub-heaters between the element substrates is smaller than the heat transmitted from the adjacent sub-heaters within the element substrates has been described. However, the present embodiment is applied to a configuration (non-adiabatic configuration) in which the heat transmitted from adjacent sub-heaters within the element substrate (heat transmitted between divided regions) and the heat transmitted from adjacent sub-heaters between element substrates are substantially equal. can be
以下、詳しく説明する。前述の実施形態では、各素子基板における四隅のサブヒータの加熱効率が低くなるものとした。これに対し、本変形例では、記録ヘッド全体における四隅のサブヒータの加熱効率が低くなる。具体的に、記録ヘッド全体における四隅のサブヒータとは、図3のケースを挙げて説明すると、記録ヘッド100左端の素子基板の左上と左下のサブヒータ、及び、記録ヘッド右端の素子基板の右上と右下とのサブヒータである。このように本変形例では、記録ヘッドの第1の方向(X方向)の端部かつ第2の方向(Y方向)の端部を含まない素子基板は、加熱効率が低いサブヒータ(第1のSHグループ)を有さない。よって、記録ヘッドの第1の方向の端部かつ第2の方向の端部を含む素子基板に供給する電力を多くする一方で、その分だけ記録ヘッドの第1の方向の端部かつ第2の方向の端部を含まない素子基板に供給する電力を少なくする。但しこのとき、記録ヘッド内のSHランク補正値の合計が0となるように設定する必要がある。
A detailed description will be given below. In the above-described embodiment, the heating efficiency of the sub-heaters at the four corners of each element substrate is low. On the other hand, in this modified example, the heating efficiency of the sub-heaters at the four corners of the entire print head is low. Specifically, the sub-heaters at the four corners of the entire printhead are the upper left and lower left sub-heaters of the element substrate at the left end of the
<<変形例2>>
前述の形態では、各素子基板において、第1の方向(X方向)の端部と第2の方向(Y方向)の端部との四隅のサブヒータの加熱効率が同程度に低い場合を説明したが、本実施形態はこのような場合に限定されない。例えば、各素子基板の左上と右下とのサブヒータの加熱効率が、各素子基板の左下と右上とのサブヒータの加熱効率よりも小さい場合に、本実施形態を適用して良い。或いは、各素子基板の左下と右上とのサブヒータの加熱効率が、各素子基板の左上と右下とのサブヒータの加熱効率よりも小さい場合に、本実施形態を適用しても良い。
<<
In the above embodiment, the case where the heating efficiency of the sub-heaters at the four corners of the end portion in the first direction (X direction) and the end portion in the second direction (Y direction) of each element substrate is similarly low has been described. However, this embodiment is not limited to such a case. For example, this embodiment may be applied when the heating efficiency of the upper left and lower right sub-heaters of each element substrate is lower than the heating efficiency of the lower left and upper right sub-heaters of each element substrate. Alternatively, the present embodiment may be applied when the heating efficiency of the lower left and upper right sub-heaters of each element substrate is lower than the heating efficiency of the upper left and lower right sub-heaters of each element substrate.
具体的な1例として、各素子基板の形状が平行四辺形であり、かつ各素子基板の左上と右下との内角(2隅の内角)が、左下と右上との内角(他の2隅の内角)よりも小さい場合を説明する。この場合、小さい方の内角に対応する領域(各素子基板の左上と右下)の方が、大きい方の内角に対応する領域(各素子基板の左下と右上)よりも放熱し易い。即ち、各素子基板において、左上と右下におけるサブヒータの加熱効率は、左下と右上におけるサブヒータの加熱効率より低くなる。従って、各素子基板において、左上と右下に対応するサブヒータを第1のSHグループに属するものとし、これらのサブヒータに隣接するサブヒータを第2のSHグループに属するものとすれば良い。 As a specific example, the shape of each element substrate is a parallelogram, and the interior angle between the upper left and the lower right of each element substrate (the interior angle of the two corners) is the interior angle between the lower left and the upper right (the other two corners ) will be described. In this case, areas corresponding to smaller interior angles (upper left and lower right of each element substrate) are easier to dissipate heat than areas corresponding to larger interior angles (lower left and upper right of each element substrate). That is, in each element substrate, the heating efficiency of the sub-heaters in the upper left and lower right is lower than the heating efficiency of the sub-heaters in the lower left and upper right. Therefore, in each element substrate, the sub-heaters corresponding to the upper left and lower right should belong to the first SH group, and the sub-heaters adjacent to these sub-heaters should belong to the second SH group.
第1のSHグループに属するサブヒータに供給する電力は従来例と同じだが、第2のSHグループに属するサブヒータに供給する電力を多くする。また、その分だけ第1、第2のサブヒータグループ以外のサブヒータに供給する電力を少なくする。これによって、素子基板全体に供給する電力を変えることなく、素子基板全体の加熱時間を短くすることができる。 The power supplied to the sub-heaters belonging to the first SH group is the same as in the conventional example, but the power supplied to the sub-heaters belonging to the second SH group is increased. Also, the power supplied to the sub-heaters other than the first and second sub-heater groups is reduced accordingly. As a result, the heating time of the entire element substrate can be shortened without changing the power supplied to the entire element substrate.
[第2の実施形態]
第1の実施形態では、各素子基板の端部におけるサブヒータまたは記録ヘッドの端部におけるサブヒータの加熱効率が低い場合を説明した。本実施形態では、1つの素子基板が複数のインク供給口を有し、該インク供給口を経由してインクが記録装置1内を循環する場合を説明する。
[Second embodiment]
In the first embodiment, the case where the heating efficiency of the sub-heater at the end of each element substrate or the sub-heater at the end of the print head is low has been described. In this embodiment, one element substrate has a plurality of ink supply ports, and ink circulates in the recording apparatus 1 via the ink supply ports.
<記録ヘッドの構成について>
図9は、本実施形態に係る記録ヘッドの構成の概要を説明するための図である。尚、記録ヘッドにおけるサブヒータと温度センサとの位置関係に関しては、本実施形態においても、第1の実施形態と同じ構成(図3参照)を採用するものとする。図3が、サブヒータと温度センサとの位置関係を示しているのに対し、図9は、サブヒータとインク供給口との位置関係を示している。インクは流入側のインク供給口(流入口ともいう)901から素子基板内に流入し、素子基板内の各記録素子にインクが供給される。供給されたインクを用いて記録媒体への記録が行われる。記録に用いられなかったインクは、流出側のインク供給口(流出口ともいう)902から素子基板外に流出する。素子基板から流出したインクは、記録装置1内の循環経路を経由し、再度素子基板に流入する。
<Construction of the recording head>
FIG. 9 is a diagram for explaining the outline of the configuration of the print head according to this embodiment. Regarding the positional relationship between the sub-heater and the temperature sensor in the print head, the same configuration as in the first embodiment (see FIG. 3) is also adopted in this embodiment. 3 shows the positional relationship between the sub-heater and the temperature sensor, while FIG. 9 shows the positional relationship between the sub-heater and the ink supply port. Ink flows into the element substrate from an ink supply port (also referred to as an inflow port) 901 on the inflow side, and the ink is supplied to each recording element in the element substrate. Printing is performed on a printing medium using the supplied ink. Ink that has not been used for printing flows out of the element substrate from an ink supply port (also referred to as an outflow port) 902 on the outflow side. The ink that has flowed out of the element substrate passes through the circulation path in the recording apparatus 1 and flows into the element substrate again.
保温制御を実施している場合、記録ヘッド100の温度は目標温度とほぼ同じである一方、記録装置1内の循環経路の温度は環境温度とほぼ同じである。目標温度は環境温度よりも高いため、流入側のインク供給口901からは冷たい(環境温度に近い)インクが流入し、素子基板内を流れる間に徐々に加熱される。その後、流出側のインク供給口902からは温かい(目標温度に近い)インクが流出し、循環経路を流れる間に徐々に冷却される。このように、流入側のインク供給口901に常に冷たいインクが供給されるため、この流入側のインク供給口901に対応するサブヒータの加熱効率が低くなる。
When heat retention control is performed, the temperature of the
図10は、本実施形態に係る構成を用いて、低温環境においてサブヒータを駆動した際の、素子基板の温度変化を説明するための図である。詳しくは、図10(a)は、素子基板上の各位置に対応するサブヒータ毎のSHランク補正値を示し、サブヒータ毎の熱特性に応じたサブヒータのグループ分けを示している。また、図10(b)は、図10(a)に示すSHランク補正値を適用してサブヒータを駆動した際の、各サブヒータが担当する素子基板の分割領域の温度変化を示している。尚、前述したように、本実施形態における素子基板とその分割領域の形状は、平行四辺形であるが(図9参照)、図10(a)では、説明上、素子基板を長方形で表し、分割領域を正方形で表している。 FIG. 10 is a diagram for explaining the temperature change of the element substrate when the sub-heater is driven in a low-temperature environment using the configuration according to this embodiment. Specifically, FIG. 10A shows the SH rank correction value for each sub-heater corresponding to each position on the element substrate, and shows the grouping of the sub-heaters according to the thermal characteristics of each sub-heater. FIG. 10(b) shows temperature changes in the divided regions of the element substrate that each sub-heater is in charge of when the sub-heaters are driven by applying the SH rank correction values shown in FIG. 10(a). As described above, the shape of the element substrate and its divided regions in this embodiment is a parallelogram (see FIG. 9). The divided regions are represented by squares.
本実施形態では、加熱効率が低いサブヒータ(第1のSHグループに属するサブヒータ)夫々の位置は、流入側のインク供給口901が配される位置と同じである。図10(a)に示すように、図8(a)と同様に、第1のSHグループに属するサブヒータに供給する電力は、従来例と同じにする。また、加熱効率が第1のSHグループより高く、かつ第1のSHグループに属するサブヒータに近接するサブヒータ(即ち、第2のSHグループに属するサブヒータ)に供給する電力を多くする。また、その分だけ第1、第2のサブヒータグループ以外のサブヒータに供給する電力を少なくする。
In this embodiment, the positions of the sub-heaters with low heating efficiency (sub-heaters belonging to the first SH group) are the same as the positions where the inflow-side
<本実施形態の効果について>
本実施形態により、素子基板全体に供給する電力(素子基板毎の消費電力)を変えることなく、素子基板全体の加熱時間を短くすることができる。
<About the effect of this embodiment>
According to this embodiment, the heating time of the entire element substrate can be shortened without changing the power supplied to the entire element substrate (the power consumption of each element substrate).
[その他の実施形態]
前述の実施形態では、記録ヘッドの構成に基づき一意に決まる、固定値のSHランク補正値を用いた(図8(a)、図10(a)参照)。しかし、記録装置の加熱モードに応じて、適用するSHランク補正値を変更してもよい。具体的には、目標温度まで加熱する第1の加熱モード(印刷前)と、達成した目標温度を保持する第2の加熱モード(印刷中)とで、異なるSHランク補正値を適用しても良い。
[Other embodiments]
In the above embodiment, a fixed SH rank correction value that is uniquely determined based on the configuration of the printhead is used (see FIGS. 8A and 10A). However, the SH rank correction value to be applied may be changed according to the heating mode of the printing apparatus. Specifically, even if different SH rank correction values are applied in the first heating mode (before printing) that heats up to the target temperature and in the second heating mode (during printing) that maintains the achieved target temperature, good.
以下、詳しく説明する。まず、印刷前に保温制御と循環制御を開始するが、循環制御の立ち上げにある程度時間がかかるため、適正な流量でインクが循環する前に、記録ヘッドの温度が目標温度に到達してしまう。従って、印刷前は、循環制御に起因する流入側のインク供給口901に対応するサブヒータの加熱効率は低下しない一方、素子基板301の端部におけるサブヒータの加熱効率は低下する。よって、印刷前は、第1の実施形態と同様のサブヒータランク補正値を適用すれば良い。
A detailed description will be given below. First, heat retention control and circulation control are started before printing, but since it takes some time to start circulation control, the temperature of the print head reaches the target temperature before the ink circulates at an appropriate flow rate. . Therefore, before printing, the heating efficiency of the sub-heater corresponding to the
また、印刷中は適正な流量でインクが循環するため、循環制御により、流入側のインク供給口901に対応するサブヒータの加熱効率は低下する。前述したように、素子基板301の端部のサブヒータの加熱効率も低下するが、循環制御による加熱効率の低下の度合いと比べると、無視できるほど小さい。よって、印刷中は第2の実施形態と同様のSHランク補正値を適用すれば良い。
In addition, since the ink circulates at an appropriate flow rate during printing, the heating efficiency of the sub-heater corresponding to the
尚、本発明は上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムをネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピューターにおける1つ以上のプロセッサがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。 In addition, the present invention supplies a program that implements one or more functions of the above-described embodiments to a system or apparatus via a network or a storage medium, and one or more processors in the computer of the system or apparatus reads and executes the program. It can also be realized by processing to It can also be implemented by a circuit (for example, ASIC) that implements one or more functions.
1 記録装置、
30 コントローラ、
31 MPU、
32 ROM、
34 DRAM、
100 記録ヘッド
1 recording device,
30 controller,
31 MPUs,
32 ROMs,
34 DRAM,
100 recording head
Claims (14)
前記分割領域ごとに、該分割領域に配された前記センサによって検出される温度と目標温度との間の差分に基づき、該分割領域に配された前記加熱素子に対する駆動強度を決定する第1決定手段と、
前記分割領域ごとに、前記駆動強度を補正するための補正値を決定する第2決定手段と、
前記分割領域ごとに、前記駆動強度と前記補正値とを加算することで、補正された駆動強度を決定する第3決定手段と、
前記分割領域ごとに、前記補正された駆動強度に従って、前記加熱素子を駆動する駆動手段と
を有し、
第1の加熱素子グループに対する前記補正された駆動強度が該補正された駆動強度の上限値に達している場合、前記第1の加熱素子グループの加熱素子が配された分割領域に近接し、かつ、該分割領域より加熱効率が高い分割領域に配された第2の加熱素子グループに対する前記補正値が、前記第1の加熱素子グループに対する前記補正値と等しいことを特徴とするインクジェット記録装置。 An element substrate provided with one or a plurality of recording element arrays composed of recording elements for ejecting ink onto a recording medium, a heating element for heating the ink, and a sensor for detecting temperature, wherein the element substrate is provided with An inkjet recording apparatus in which the heating element and the sensor are arranged for each of a plurality of divided areas obtained by dividing into a plurality of areas,
A first determination for determining, for each of the divided areas, a driving strength for the heating element arranged in the divided area based on a difference between a temperature detected by the sensor arranged in the divided area and a target temperature. means and
a second determining means for determining a correction value for correcting the driving intensity for each of the divided regions;
a third determining means for determining a corrected drive strength by adding the drive strength and the correction value for each of the divided regions;
driving means for driving the heating element according to the corrected driving intensity for each of the divided regions;
when the corrected drive strength for the first heating element group reaches the upper limit of the corrected drive strength, the divided region where the heating elements of the first heating element group are arranged; 2. An inkjet recording apparatus, wherein the correction value for a second heating element group arranged in a divided area having higher heating efficiency than the divided area is equal to the correction value for the first heating element group.
前記記録素子列は、前記第1の方向と交差する第2の方向に沿って伸長し、
前記複数の素子基板は、前記第2の方向に沿って配列され、
前記記録ヘッドは、前記第2の方向に沿って伸長する
ことを特徴とする請求項2に記載のインクジェット記録装置。 the recording medium is conveyed along a first direction;
the recording element array extends along a second direction that intersects with the first direction;
The plurality of element substrates are arranged along the second direction,
3. An inkjet recording apparatus according to claim 2, wherein said recording head extends along said second direction.
前記第1の加熱素子グループは、前記複数の素子基板のそれぞれにおける4隅の分割領域を担当する4つの加熱素子を含むことを特徴とする請求項4に記載のインクジェット記録装置。 For each of the plurality of element substrates, the amount of heat transferred between adjacent divided regions in the same element substrate is greater than the amount of heat transferred between different adjacent element substrates,
5. An ink jet recording apparatus according to claim 4, wherein said first heating element group includes four heating elements which are in charge of four corner divided areas of each of said plurality of element substrates.
前記第1の加熱素子グループは、前記記録ヘッドにおける4隅の分割領域を担当する4つの加熱素子を含むことを特徴とする請求項4に記載のインクジェット記録装置。 For each of the plurality of element substrates, the amount of heat transferred between different adjacent element substrates is greater than the amount of heat transferred between adjacent divided regions within the same element substrate,
5. An ink jet printing apparatus according to claim 4, wherein said first heating element group includes four heating elements which are in charge of four corner divided areas of said printing head.
前記第1の加熱素子グループは、前記複数の素子基板のそれぞれにおける、前記平行四辺形の内角のうち小さい方に対応する端部に該当する2隅の分割領域を担当する2つの加熱素子を含むことを特徴とする請求項2乃至8の何れか1項に記載のインクジェット記録装置。 each shape of the plurality of element substrates is a parallelogram,
The first heating element group includes two heating elements that are in charge of divided areas of two corners of each of the plurality of element substrates corresponding to the smaller internal angles of the parallelogram. 9. The inkjet recording apparatus according to any one of claims 2 to 8, characterized in that:
前記素子基板は、該素子基板に前記インクが流入する流入口と、該素子基板から該インクが流出する流出口とを有し、
前記第1の加熱素子グループは、前記複数の素子基板のそれぞれにおける、前記流入口が存在する前記分割領域を担当する加熱素子を含むことを特徴とする請求項2乃至4の何れか1項に記載のインクジェット記録装置。 the ink circulates through a circulation path including the recording head;
The element substrate has an inlet through which the ink flows into the element substrate and an outlet through which the ink flows out from the element substrate,
5. The method according to any one of claims 2 to 4, wherein the first heating element group includes heating elements in charge of the divided regions where the inlets exist on each of the plurality of element substrates. The inkjet recording apparatus described.
前記第2決定手段は、前記インクジェット記録装置が動作しているモードに応じた前記補正値を決定することを特徴とする請求項2乃至10の何れか1項に記載のインクジェット記録装置。 The inkjet recording apparatus operates in either a first mode of heating the recording head to a target temperature or a second mode of maintaining the target temperature,
11. The inkjet recording apparatus according to any one of claims 2 to 10, wherein said second determination means determines said correction value according to a mode in which said inkjet recording apparatus is operating.
前記分割領域ごとに、該分割領域に配された前記センサによって検出される温度と目標温度との間の差分に基づき、該分割領域に配された前記加熱素子に対する駆動強度を決定するステップと、
前記分割領域ごとに、前記駆動強度を補正するための補正値を決定するステップと、
前記分割領域ごとに、前記駆動強度と前記補正値とを加算することで、補正された駆動強度を決定するステップと、
前記分割領域ごとに、前記補正された駆動強度に従って、前記加熱素子を駆動するステップと
を有し、
第1の加熱素子グループに対する前記補正された駆動強度が該補正された駆動強度の上限値に達している場合、前記第1の加熱素子グループの加熱素子が配された分割領域に近接し、かつ、該分割領域より加熱効率が高い分割領域に配された第2の加熱素子グループに対する前記補正値が、前記第1の加熱素子グループに対する前記補正値と等しいことを特徴とする制御方法。 An element substrate provided with one or a plurality of recording element arrays composed of recording elements for ejecting ink onto a recording medium, a heating element for heating the ink, and a sensor for detecting temperature, wherein the element substrate is provided with A control method for an inkjet recording apparatus in which the heating element and the sensor are arranged for each of a plurality of divided areas obtained by dividing into a plurality of areas,
determining, for each of the divided areas, a driving strength for the heating element arranged in the divided area based on a difference between a temperature detected by the sensor arranged in the divided area and a target temperature;
determining a correction value for correcting the driving intensity for each of the divided regions;
determining a corrected drive strength by adding the drive strength and the correction value for each of the divided regions;
driving the heating element according to the corrected driving intensity for each of the divided regions;
when the corrected drive strength for the first heating element group reaches the upper limit of the corrected drive strength, the divided region where the heating elements of the first heating element group are arranged; 2. A control method according to claim 1, wherein said correction value for a second heating element group arranged in a divided area having higher heating efficiency than said divided area is equal to said correction value for said first heating element group.
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