JP7165579B2 - Ultraviolet flaw detection lamp with spot illumination mechanism - Google Patents
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Description
本発明は、蛍光磁粉探傷試験方法や蛍光浸透探傷試験方法に用いられるスポット照明機構付紫外線探傷灯に関するものである。 The present invention relates to an ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism used in fluorescent magnetic particle flaw detection methods and fluorescent penetrant flaw detection methods.
蛍光磁粉探傷試験方法並びに蛍光浸透探傷試験方法においては、探傷(欠陥部の検出)に際し、蛍光磁粉並びに蛍光浸透液に用いられている蛍光物質を励起して発光させるために紫外線探傷灯(当業者間では「ブラックライト」とも呼ばれている)が使用されている。 In the fluorescent magnetic particle testing method and the fluorescent penetrant testing method, when performing flaw detection (detection of defects), an ultraviolet flaw detection lamp (a person skilled in the art (also called a "black light") is used.
周知の通り、上記用途に使用されている紫外線探傷灯の代表的な構造は、前面に紫外線照射用開口部を設けた金属製又はプラスチツクス製ケース内には該開口部に面して可視光線をカットして紫外線を透過させるNiOやCoOなどを含むリン酸系暗色ガラス製紫外線透過フィルタが配置され、該フィルタの後方には紫外線を発する水銀ランプ、メタルハライドランプ、ハロゲンランプ、キセノンランプ等の光源がその先端面を当該フィルタ面に対向させて配置されており、当該光源が当該ケース外のチヨークコイル型やインバータ型の安定器に2芯キャブタイヤーケーブルによって接続されている。 As is well known, a typical structure of an ultraviolet flaw detection lamp used for the above purpose is a metal or plastic case provided with an opening for ultraviolet irradiation on the front side. An ultraviolet ray transmitting filter made of phosphoric acid-based dark-colored glass containing NiO, CoO, or the like, which cuts off ultraviolet rays and transmits ultraviolet rays, is arranged, and behind the filter, light sources such as mercury lamps, metal halide lamps, halogen lamps, and xenon lamps that emit ultraviolet rays. is arranged with its tip surface facing the filter surface, and the light source is connected to a choke coil type or inverter type ballast outside the case by a two-core cab-tire cable.
なお、上記紫外線照射用開口部から照射される紫外線の効率を上げるために、上記紫外線透過用フィルタの後方に中央部乃至中央部近傍に孔を有する金属製漏斗形反射体がその反射面を当該フィルタ面に対向させて配置され、この反射体の孔に上記光源がその先端部を当該フィルタ面に対向させて挿入されている構造が採られている場合もある。 In addition, in order to increase the efficiency of the ultraviolet rays irradiated from the ultraviolet irradiation opening, a metal funnel-shaped reflector having a hole at or near the central portion behind the ultraviolet ray transmission filter is provided to cover the reflecting surface. In some cases, a structure is adopted in which the light source is placed facing the filter surface, and the light source is inserted into the hole of the reflector with the tip thereof facing the filter surface.
蛍光磁粉探傷試験方法や蛍光浸透探傷試験方法においては、紫外線探傷灯は暗所で使用されるが、当該暗所において可視光による照明が必要となる場合(例えば、計器類の調節や被検査物の位置ぎめ・表面状態の確認等を行う場合)に、スポット照明として懐中電灯などを持って両手がふさがってしまうと、磁化器(当業者間では「ハンドマグナ」と呼ばれている)を持って行う方式の探傷試験方法等を実施することが困難になってしまうため、実公昭46-32231号公報には、手で持つ把柄部にフィラメント照明灯を設けた照明灯付紫外線投光器が開示されている。 In the fluorescent magnetic particle testing method and the fluorescent penetrant testing method, the ultraviolet flaw detection lamp is used in a dark place. position, surface condition, etc.), if both hands are occupied by holding a flashlight as a spot light, hold the magnetizer (called "hand magna" among those skilled in the art). Therefore, Japanese Utility Model Publication No. 46-32231 discloses an ultraviolet light projector with an illumination light, in which a filament illumination light is provided in a handle held by hand. ing.
また、探傷作業前の試験体の表面状態を確認したり、指示模様観察において試験体の表面に現れた指示模様が欠陥に起因したものか、疑似模様であるかの確認は、スポット照明で行われるが、この指示模様の確認作業の能率向上のために、特開2000-74842号公報には、スポット光の照射面が照射距離300mmで100~150mm以上の円又は楕円配光となり、かつ、照射面の照度を上げることができる、楕円状凹面反射鏡と、該楕円状凹面反射鏡の焦点と長軸径側頂点との間の線上で移動する光源とを備えるスポット照明が設けられたスポット照明機構付紫外線探傷灯が開示されている。 In addition, spot lighting is used to confirm the surface condition of the test piece before flaw detection work, and to confirm whether the indication pattern that appears on the surface of the test piece is caused by a defect or is a pseudo pattern. However, in order to improve the efficiency of the confirmation work of the indicated pattern, Japanese Patent Laid-Open No. 2000-74842 discloses that the irradiation surface of the spot light has a circular or elliptical light distribution of 100 to 150 mm or more at an irradiation distance of 300 mm, and A spot provided with a spot illumination, which can increase the illuminance of the illuminated surface, and which has an elliptical concave reflecting mirror and a light source that moves on a line between the focal point of the elliptical concave reflecting mirror and the vertex on the major axis side. An ultraviolet flaw detection lamp with an illumination mechanism is disclosed.
しかしながら、試験体の表面観察においては、試験体に近づいて観察したい作業者もいれば、少し離れて観察したい作業者もいて、光源からの照射距離が一定に保持されてスポット照明が利用されるわけではない。
そして、指示模様の確認作業に求められる照射面の照度は、照らされている物体表面の明るさなので、光源からの照射距離によって異なるため、一定の照度以上で能率的に試験体の表面の指示模様を観察するには、光源から集光レンズや反射鏡などの光学系の位置までの距離を調節する必要がある。この照度調節は作業者の目視で行われ、観察する作業者によっては、十分な照度調整ができずに、試験体のきず(欠陥)を見落としてしまうことがある。
However, when observing the surface of a test object, some workers want to observe the test object closer, while others want to observe it a little further away. Do not mean.
Since the illuminance of the irradiated surface required for confirming the indicated pattern is the brightness of the illuminated object surface, it varies depending on the irradiation distance from the light source. In order to observe the pattern, it is necessary to adjust the distance from the light source to the position of the optical system such as the condenser lens and reflector. This illuminance adjustment is performed visually by the operator, and some observers may overlook flaws (defects) on the specimen due to insufficient illuminance adjustment.
そこで、観察する作業者の光源からの照射距離に応じた照度調節が不十分であることから発生する試験体のきず(欠陥)の見落としを防止するため、光源からの照射距離が変わっても、同程度の照度へ調節ができるスポット照明機構が設けられたスポット照明機構付紫外線探傷灯の開発が望まれる。 Therefore, in order to prevent the overlooking of flaws (defects) on the specimen that occur due to insufficient illuminance adjustment according to the irradiation distance from the light source of the operator observing, even if the irradiation distance from the light source changes, It is desired to develop an ultraviolet flaw detection lamp with a spot lighting mechanism that can adjust the illuminance to the same level.
本発明の目的は、蛍光磁粉探傷試験方法や蛍光浸透探傷試験方法において、試験体とスポット照明との距離が変わっても、同程度の照度のスポット光で試験体の表面を照射可能に調節することができるスポット照明機構付紫外線探傷灯を提供する。 An object of the present invention is to adjust so that the surface of a specimen can be irradiated with spot light of the same illuminance even if the distance between the specimen and the spot illumination changes in a fluorescent magnetic particle testing method or a fluorescent penetrant testing method. To provide an ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism capable of
上記課題を解決するため、本発明のスポット照明機構付紫外線探傷灯では、
紫外線光源を備えた紫外線照射本体と、
該紫外線照射本体に一体的に設けられた基部と、
からなると共に、
該基部に、可視スポット光を照射するスポット照明機構が設けられているスポット照明機構付紫外線探傷灯において、
前記スポット照明機構が、
ランプハウジングと、レンズケーシングと、可視光線光源を前面に有する切替リングと、レンズと、付勢部材と、を備え、
前記ランプハウジングは、前部外周壁に螺着用のねじ山が形成されているねじ部を有し、
前記レンズケーシングは、筒形状で後部内周壁に前記ランプハウジングを内装するように前記ランプハウジングのねじ山に螺合するねじ山が形成され、
前記切替リングは、その外周壁に一対の凸部が形成され、該一対の凸部の外縁は前記ねじ部のねじ谷径よりも内側に位置し、
前記レンズは、前記レンズケーシングの前面に嵌め込まれ、
前記付勢部材は、前記レンズケーシングに収容され、前記切替リングに対して前記レンズをレンズ側方向に付勢し、
前記ねじ部には、一対の同一深さの溝が前記ランプハウジングの前面から垂直後方に向かって複数形成され、
前記一対の同一深さの溝について、溝の深さが異なる溝を複数設け、
前記一対の同一深さの溝は前記一対の凸部と係合し、
該係合を溝の深さが異なる各前記一対の同一深さの溝との間で切り替え可能であることを特徴とする。
In order to solve the above problems, in the ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism of the present invention,
an ultraviolet irradiation body provided with an ultraviolet light source;
a base provided integrally with the ultraviolet irradiation main body;
consists of
In the ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism, wherein the base is provided with a spot illumination mechanism for irradiating visible spot light,
The spot illumination mechanism is
a lamp housing, a lens casing, a switching ring having a visible light source in front thereof, a lens, and a biasing member;
The lamp housing has a threaded portion in which a thread for screwing is formed on the outer peripheral wall of the front portion,
The lens casing has a cylindrical shape, and a screw thread is formed on a rear inner peripheral wall thereof so as to engage with a screw thread of the lamp housing so as to accommodate the lamp housing,
The switching ring has a pair of protrusions formed on its outer peripheral wall, the outer edges of the pair of protrusions being positioned inside the root diameter of the threaded portion,
the lens is fitted into the front surface of the lens casing;
the biasing member is housed in the lens casing and biases the lens toward the lens side with respect to the switching ring;
a plurality of a pair of grooves of the same depth are formed in the threaded portion extending vertically rearward from the front surface of the lamp housing;
A plurality of grooves having different depths are provided in the pair of grooves having the same depth,
the pair of grooves of the same depth are engaged with the pair of protrusions;
It is characterized in that the engagement can be switched between each pair of grooves having different groove depths and having the same depth.
更に、前記可視光線光源は、前記切替リングの前面に収容可能に前記切替リングとは別体で構成されることを特徴とする。 Further, the visible light source is configured separately from the switching ring so as to be accommodated in the front surface of the switching ring.
更に、溝の深さが異なる各前記一対の同一深さの溝は、3種類以上形成されることを特徴とする。 Further, each pair of same-depth grooves having different groove depths are formed in three or more types.
更に、前記レンズは、フレネルレンズ、凸レンズ、又はマイクロレンズアレイの少なくともいずれかであることを特徴とする。 Further, the lens is at least one of a Fresnel lens, a convex lens, and a microlens array.
本発明のスポット照明機構付紫外線探傷灯によれば、紫外線光源を備えた紫外線照射本体と、該紫外線照射本体に一体的に設けられた基部と、からなると共に、該基部に、可視スポット光を照射するスポット照明機構が設けられているスポット照明機構付紫外線探傷灯において、前記スポット照明機構が、ランプハウジングと、レンズケーシングと、可視光線光源を前面に有する切替リングと、レンズと、付勢部材と、を備え、前記ランプハウジングは、前部外周壁に螺着用のねじ山が形成されているねじ部を有し、前記レンズケーシングは、筒形状で後部内周壁に前記ランプハウジングを内装するように前記ランプハウジングのねじ山に螺合するねじ山が形成され、前記切替リングは、その外周壁に一対の凸部が形成され、該一対の凸部の外縁は前記ねじ部のねじ谷径よりも内側に位置し、前記レンズは、前記レンズケーシングの前面に嵌め込まれ、前記付勢部材は、前記レンズケーシングに収容され、前記切替リングに対して前記レンズをレンズ側方向に付勢し、前記ねじ部には、一対の同一深さの溝が前記ランプハウジングの前面から垂直後方に向かって複数形成され、前記一対の同一深さの溝について、溝の深さが異なる溝を複数設け、前記一対の同一深さの溝は前記一対の凸部と係合し、該係合を溝の深さが異なる各前記一対の同一深さの溝との間で切り替え可能であるので、試験体とスポット照明との距離が変わっても、同程度の照度のスポット光で試験体の表面を照射可能に段階的に調節することが可能となり、観察する作業者によって十分な照度調整ができずに、試験体のきず(欠陥)を見落としてしまうことを防止することができる。また、従来のスポット照明で照射範囲を連続的に調節するために設けられているねじ部に溝を形成するという簡易な加工によって、試験体の表面観察以外での照射範囲の調節にも使用することもでき、複数の用途に対応可能となる。 According to the ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism of the present invention, it comprises an ultraviolet irradiation main body having an ultraviolet light source and a base integrally provided with the ultraviolet irradiation main body, and a visible spot light is emitted to the base. An ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism provided with a spot illumination mechanism for irradiation, wherein the spot illumination mechanism comprises a lamp housing, a lens casing, a switching ring having a visible light source on its front surface, a lens, and an urging member. wherein the lamp housing has a threaded portion in which screw threads are formed on the front outer peripheral wall, and the lens casing has a cylindrical shape and is arranged to accommodate the lamp housing in the rear inner peripheral wall. The switch ring has a pair of protrusions formed on its outer peripheral wall, and the outer edges of the pair of protrusions are formed with a diameter greater than the thread root diameter of the threaded portion. The lens is fitted in the front surface of the lens casing, and the biasing member is housed in the lens casing and biases the lens toward the lens side with respect to the switching ring. A plurality of a pair of grooves having the same depth are formed in the threaded portion toward the vertical rearward direction from the front surface of the lamp housing. A pair of grooves of the same depth are engaged with the pair of protrusions, and the engagement can be switched between the pair of grooves of the same depth having different groove depths, so that the specimen and Even if the distance from the spotlight changes, it is possible to adjust step by step so that the surface of the test object can be irradiated with the same level of illuminance of the spotlight. It is possible to prevent the flaws (defects) of the specimen from being overlooked. In addition, it can be used to adjust the irradiation range for purposes other than observing the surface of a test object by simply forming a groove in the threaded part, which is provided to continuously adjust the irradiation range with conventional spot lighting. It can also be used for multiple purposes.
更に、本発明のスポット照明機構付紫外線探傷灯によれば、前記可視光線光源は、前記切替リングの前面に収容可能に前記切替リングとは別体で構成されるので、可視光線光源としてのランプ交換等のメンテナンス性が良好となる。 Furthermore, according to the ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism of the present invention, the visible light source is configured separately from the switching ring so as to be accommodated in the front surface of the switching ring. Maintainability such as replacement is improved.
更に、本発明のスポット照明機構付紫外線探傷灯によれば、溝の深さが異なる各前記一対の同一深さの溝は、3種類以上形成されるので、試験体の表面観察における試験体とスポット照明との距離を、より作業者の観察し易い位置に調節することが可能となり、作業効率が向上する。 Furthermore, according to the ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism of the present invention, since three or more types of grooves having the same depth are formed in each pair of grooves having different depths, it is possible to observe the surface of the test piece. It is possible to adjust the distance from the spot illumination to a position where it is easier for the operator to observe, improving work efficiency.
更に、本発明のスポット照明機構付紫外線探傷灯によれば、前記レンズは、フレネルレンズ、凸レンズ、又はマイクロレンズアレイの少なくともいずれかであるので、試験体の表面観察における照度調節の幅を広げることができる。 Furthermore, according to the ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism of the present invention, since the lens is at least one of a Fresnel lens, a convex lens, and a microlens array, it is possible to widen the range of illuminance adjustment in observing the surface of a specimen. can be done.
以下に、図面を参照しつつ、本発明の実施形態の詳細を説明する。図1は本発明の一実施形態に係るスポット照明機構付紫外線探傷灯の側面図、図2は図1に示すスポット照明機構付紫外線探傷灯の正面図、図3は図1に示すスポット照明機構を透視により表した一部断面部分側面図、図4は従来のスポット照明機構付紫外線探傷灯における紫外線照射本体の構造を示す一部省略・一部断面側面図である。
なお、以下では、説明の便宜上、図3のスポット照明機構30において、可視スポット光が通過して出ていくレンズ32側を前とし、レンズ32に対して可視光発光部31側を後とする。
Hereinafter, details of embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is a side view of an ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism according to one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a front view of the ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism shown in FIG. 1, and FIG. 3 is the spot illumination mechanism shown in FIG. FIG. 4 is a partly omitted and partly cross-sectional side view showing the structure of an ultraviolet irradiation main body in a conventional ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism.
In the following, for convenience of explanation, in the
図1~図4に示されるように、本実施形態に係るスポット照明機構付紫外線探傷灯1は、前面に紫外線照射用開口部2が設けられて該開口部2に向けて取付られた紫外線光源5bから照射される光線を開口部2に向かって照射する紫外線照射本体10と、該紫外線照射本体10に一体的に設けられた基部20と、からなると共に、該基部20に前記開口部2から照射される紫外線の方向と同一方向に可視スポット光を照射するスポット照明機構30が前面から設けられている。なお、スポット照明機構30下方の基部20には、手の指で押すことによりスポット照明機構30の可視光線光源31bを点灯させる点灯スイッチ36が設けられている。
As shown in FIGS. 1 to 4, an ultraviolet
スポット照明機構30は、図5~図7及び図9に示すように、ランプハウジング40と、レンズケーシング60と、可視光を照射する可視光発光部31を前面に有する切替リング50と、レンズ32と、付勢部材33と、を備え、ランプハウジング40は、前部外周壁に螺着用のねじ山41が形成されているねじ部42を有し、レンズケーシング60は、筒形状で後部内周壁に前記ランプハウジング40を内装するようにランプハウジング40のねじ山41に螺合するねじ山61が形成され、切替リング50は、その外周壁に一対の凸部(51a,51a)が形成され、一対の凸部の外縁53はねじ部42のねじ谷径d1よりも内側に位置し、レンズ32は、レンズケーシング60の前面に内側から嵌め込まれ、付勢部材33は、レンズケーシング60に収容され、切替リング50に対してレンズ32をレンズ32側方向に付勢し、ねじ部42には、一対の同一深さの溝(43a,43a、43b,43b)がランプハウジング40の前面45から垂直後方に向かって複数形成され、一対の同一深さの溝(43a,43a、43b,43b)について、溝の深さが異なる溝を複数設け、一対の同一深さの溝(43a,43a、43b,43b)は前記一対の凸部(51a,51a)と係合し、その係合を溝の深さが異なる各前記一対の同一深さの溝との間で切り替え可能であることを特徴とする。
As shown in FIGS. 5 to 7 and 9, the
以下では、本実施形態に係るスポット照明機構付紫外線探傷灯1の好適な態様の一例について、紫外線照射本体10とスポット照明機構30の順で、詳細に説明する。なお、本実施形態に係るスポット照明機構付紫外線探傷灯1は、スポット照明機構以外の構成は、基本的に蛍光磁粉探傷試験方法や蛍光浸透探傷試験方法に使用されている従来のスポット照明機構付紫外線探傷灯と同様の構成としてよい。
An example of a preferred aspect of the ultraviolet
したがって、図4に示される従来のスポット照明機構付紫外線探傷灯における紫外線照射本体10の構成と同様に、紫外線照射本体10は、例えば、金属又はプラスチック等で製作され、紫外線照射本体10前面に紫外線照射用開口部2が設けられており、また、紫外線照射本体10の下方に一体的に設けられた基部20には、片手で把持できる胴回りを有する把手体が設けられ、把手体の手持ち位置と紫外線照射本体10との間に前記開口部2から照射される光線の方向と同一方向に可視スポット光を照射するスポット照明機構30が設けられてもよい。更に、紫外線照射用開口部2に面して可視光線をカットして紫外線を透過させるNiOやCoOを含むリン酸系暗色ガラス製紫外線透過フィルタ3が配置されてもよく、このフィルタとしては330~390nmの紫外線を通過させるものが選定される。
Therefore, similar to the structure of the ultraviolet irradiation
紫外線透過フィルタ3の後方には紫外線LEDユニット4が配置される。紫外線LEDユニット4は、紫外線発光部5と、ヒートシンク6等を有する。紫外線LEDユニット4は、ヒートシンク6が紫外線照射本体10の後面に対向し、紫外線発光部5が紫外線透過フィルタ3の面に対向する状態で紫外線照射本体10の内部に収容される。紫外線照射本体10の後面には、板状部材が折り曲げて形成された固定部材7がボルト等によって固定されている。紫外線LEDユニット4は、この固定部材7に支柱部材8を介してボルト等によって固定されている。
An
紫外線発光部5は、回路基板5aと、回路基板5aの前面に取り付けられた紫外線LED(紫外線光源)5bと、紫外線LED5bを覆うように配設された紫外線用レンズ5cと、紫外線用レンズ5cを保持する保護カバー5d等で構成される。回路基板5aは、プリント配線基板に例示される樹脂等から形成される絶縁板上に金属配線からなる回路を形成したものである。回路基板5aは、前面視で円形に形成され、回路基板5aの回路には、図示せぬ配線を介して紫外線照射本体10の外の安定器に2芯キャブタイヤーケーブル9によって電気的に接続されている。紫外線LED5bは、電気信号を光信号に変換する発光素子であり、紫外線を発光する。紫外線LED5bは、回路基板5aの回路と電気的に接続されており、2芯キャブタイヤーケーブル9を介して電源から供給される電力によって発光可能に構成されている。
The ultraviolet
紫外線用レンズ5cは、シリコン樹脂等の紫外線の透過性に優れた材料で形成され、紫外線LED5bを覆う。紫外線は、紫外線用レンズ5cを透過して回路基板5aに対して垂直方向である前方へ照射される。保護カバー5dは、ステンレス等から形成され、紫外線用レンズ5cを保持し、回路基板5aに取り付けられる。なお、紫外線発光部5は、紫外線LED5bによって紫外線を発光可能な構成であれば良く、上述の構成は特に限定されるものではない。例えば、紫外線を反射させる反射板を有する構成であっても良い。
The
ヒートシンク6は、放熱器であり、紫外線LED5bが紫外線を発光する際に生じる熱を放熱するように構成されている。ヒートシンク6は、アルミニウム等の熱伝導性の高い材料で形成される。ヒートシンク6は、略円形の円板の基部6aと、該基部の背面から後方へ向けて延設される複数の円柱状、または角柱状の突起部6bとで構成され、体積当たりの表面積を増やすことで放熱効果を高めている。ヒートシンク6は、その基部6aの前面が回路基板5aの背面に接合されて紫外線発光部5に取り付けられる。以上の構成によって、ヒートシンク6は、紫外線LEDユニット4を効果的に冷却することができる。なお、ヒートシンク6は、紫外線LED5bが紫外線を発光する際に生じる熱を放熱できる構成であれば良く、上述の構成に限定されるものではない。
The
次に、スポット照明機構30の構成について、図面を参照しつつ説明する。図5は図1に示すスポット照明機構付紫外線探傷灯におけるスポット照明機構の構成を示す分解斜視図である。図6は図5に示すスポット照明機構におけるランプハウジングを示す図で、図6(a)は平面図、図6(b)は図6(a)に示すI-I線断面図、図6(c)は図6(a)に示すII-II線断面図、図7は図5に示すスポット照明機構における切替リングを示す図で、図7(a)は平面図、図7(b)は図7(a)に示すIII-III線断面図、図7(c)は図7(a)に示すIV-IV線断面図である。
Next, the configuration of the
スポット照明機構30は、ランプハウジング40と、レンズケーシング60と、可視光を照射する可視光発光部31を前面に有する切替リング50と、レンズ32と、スプリング(付勢部材)33と、を備えている。ランプハウジング40は、外径の異なる円筒を略同心状に組合せた外周壁を有する略円筒形状で、前部外周壁の外径が後部外周壁の外径よりも小さく構成され、前部外周壁に螺着用のねじ山41が形成されているねじ部42を有し、後部外周壁には、該紫外線照射本体10に一体的に設けられた基部20の把手体の手持ち位置と紫外線照射本体10との間に、ねじ止め固定するための一対の取付ステー44が円筒軸対称に形成されている。ねじ部42が形成されている円筒には、ランプハウジング40の前面45から垂直後方に向かって一対の同一深さの溝(43a,43a、43b,43b)が円筒軸対称に複数設けられ、該一対の同一深さの溝(43a,43a、43b,43b)について、溝の深さが異なる溝が複数設けられている。なお、本開示の図面では、一対の同一深さの溝(43a,43a)が、一対の同一深さの溝(43b,43b)よりも溝の深さが大きく形成されている。
The
図8(a)及び(b)に示すように、この一対の同一深さの溝(43a,43a、43b,43b)は後述する切替リング50の一対の凸部(51a,51a)と係合し、更に、この係合を深さの異なる一対の同一深さの溝(43a,43a、43b,43b)同士の間で切替えることで、試験体とスポット照明との距離が変わっても、試験体の表面観察に十分な同程度の照度の可視スポット光で試験体表面を照射することを可能にする。すなわち、自分の観察し易い試験体との距離に対応した溝に切替えれば、目視による照度調節をすることなく十分な照度の可視スポット光で試験体の表面を観察することができる。
なお、暗所における可視スポット光による試験体の表面観察においては、照射面における中心照度が600Lx以上、3000Lx以下であるのが良いとされており、また上述における同程度の照度とは、試験体表面における照度の差が例えば、200Lx以内であることを意味するが、この範囲には限定されず、試験体表面における照度の差は、暗所における試験体の表面観察において試験体表面のきず(欠陥)の見落としが防止できる効果が得られるような範囲内で適宜選択することができる。
As shown in FIGS. 8(a) and 8(b), the pair of grooves (43a, 43a, 43b, 43b) having the same depth are engaged with a pair of protrusions (51a, 51a) of the switching
In addition, in observing the surface of a test object with visible spot light in a dark place, it is preferable that the central illuminance on the irradiated surface is 600 Lx or more and 3000 Lx or less. It means that the difference in illuminance on the surface is, for example, within 200 Lx, but is not limited to this range. It can be appropriately selected within a range in which the effect of preventing oversight of defects) is obtained.
そして、一対の同一深さの溝(43a,43a、43b,43b)の深さは、あらかじめ実験等で得られたデータに基づいて正確に形成される必要があり、ランプハウジング40とレンズケーシング60のねじを閉めた状態で、スポット照明を所定の距離から試験体に照射し、試験体の照射面における中心照度が600Lx以上、3000Lx以下得られた時の可視光LED31bからレンズ32までの光学的距離に対応して定まるものである。 The depths of the pair of grooves (43a, 43a, 43b, 43b) having the same depth must be accurately formed based on data obtained in advance through experiments or the like. With the screw closed, the test object is irradiated with spot lighting from a predetermined distance, and the central illuminance on the irradiated surface of the test object is 600 Lx or more and 3000 Lx or less. It is determined according to the distance.
図9(a)及び(b)に示すように、レンズケーシング60は、円筒形状で後部内周壁にランプハウジング40を内装するようにランプハウジング40のねじ山41に螺合するねじ山61が形成されている。また、レンズケーシング60の前部内周壁にはレンズ32が嵌め込み可能に段差62が形成されており、レンズ32は、傷つき防止等の観点から光線を透過する透明な保護ガラス34を介して嵌め込まれるのがよい。更に、レンズ32には、光源からの光を集光して光の照射範囲を小さくする集光レンズとして、例えば、フルネルレンズ、凸レンズ、マイクロレンズアレイ等の少なくともいずれかを用いるとよい。これらのレンズを変更または組み合わせて使用可能にすることによって、試験体の表面観察における照度調節の幅を広げることができる。
As shown in FIGS. 9(a) and 9(b), the
更に、レンズケーシング60の前部外周壁には、前後方向に延びる溝部63が全周に渡って形成されるのがよい。この溝部63は、前述の一対の同一深さの溝(43a,43a、43b,43b)と後述する切替リング50の一対の凸部(51a,51a)との係合切替のためにレンズケーシング60を取り外しして分解する時や、後述する可視光LED31bとレンズ32までの光学的距離の調節を連続的に行うためにレンズケーシング60を回す時などにおいて、レンズケーシング60を回し易くするための滑り止めとして機能する。更に、レンズケーシング60の外壁は、スポット照明機構と基部20との隙間から基部20内へ外部から液体が侵入すること、またはこの隙間から可視スポット光が外部に漏れること、を防止するため、ゴム部材などの円環状の防止リング35によって外方からシールできる構成としてもよい(図3参照)。
Further, a
図8に示すように、可視光発光部31は、回路基板31aと、回路基板31aの前面に取り付けられた可視光LED(可視光線光源)31b等で構成される。回路基板31aは、プリント配線基板に例示される樹脂等から形成される絶縁板上に金属配線からなる回路を形成したものである。回路基板31aは、前面視で円形に形成され、回路基板31aの回路には、図示せぬ配線を介してスポット照明機構30の外の安定器に2芯キャブタイヤーケーブル9によって電気的に接続されている。可視光LED31bは、電気信号を光信号に変換する発光素子であり、可視光線を発光する。可視光LED31bは、回路基板31aの回路と電気的に接続されており、2芯キャブタイヤーケーブル9を介して電源から供給される電力によって発光可能に構成されている。
As shown in FIG. 8, the visible
切替リング50と可視光発光部31とは別体で構成されてもよく、切替リング50は円筒形状で前面に可視光発光部31を収容可能な外径側から内径側に向かって前方から後方に1段下がる段差52が形成されていてもよい(図7(b)参照)。切替リング50と可視光発光部31とが別体で構成されることで、可視光線光源としてのランプ交換等のメンテナンス性が良好となる。
また、切替リング50の外周壁には、ランプハウジング40の一対の同一深さの溝(43a,43a、43b,43b)と係合し、かつ、溝の深さの異なる各一対の同一深さの溝間での係合の切替えが可能な前後方向に延びる一対の凸部(51a,51a)が形成されている。この一対の凸部(51a,51a)は円筒軸対称に設けられ、その外縁53はランプハウジング40のねじ部42のねじ谷径d1よりも小である。これによって、切替リング50の一対の凸部(51a,51a)がランプハウジング40とレンズケーシング60のねじの開閉の障害となることがなく、後述する可視光LED31bとレンズ32までの光学的距離の調節を連続的に行うことが可能となる。
上記溝の深さが異なる各一対の同一深さの溝は、3種類以上形成されるのが好ましい。これによって、作業者は試験体の表面観察における試験体とスポット照明との距離を、より観察し易い位置に調節することが可能となり、作業効率が向上する。
The switching
Further, on the outer peripheral wall of the switching
It is preferable that each pair of grooves having different depths and having the same depth is formed in three or more types. As a result, the operator can adjust the distance between the test piece and the spot illumination for observation of the surface of the test piece to a position that facilitates observation, thereby improving work efficiency.
スプリング(付勢部材)33は、圧縮コイルスプリングであり、切替リング50に収容された可視光発光部31の回路基板31aに対してレンズ32及び保護ガラス34をレンズケーシング60に付勢している。すなわち、スプリング33は、一端側が切替リング50の前面に収容された可視光発光部31の回路基板31aに、また他端側がレンズ32に、それぞれ当接するように位置している。これにより、スプリング33は、レンズ32及び保護ガラス34をレンズケーシング60に付勢するため、レンズケーシング60の段差62に嵌め込まれるレンズ32及び保護ガラス34が後方に移動することを抑制している。つまり、レンズケーシング60の段差62に嵌め込まれたレンズ32及び保護ガラス34のガタツキを防止している。
A spring (biasing member) 33 is a compression coil spring and biases the
なお、上述のランプハウジング40、レンズケーシング60、及びレンズ32は、合成樹脂等の非金属材料、切替リング50は、アルミニウム等の金属材料で形成されているが、各部材の材料は特に限定されるものではない。
Although the
続いてスポット照明機構30の作動について図8~図10に基づいて説明する。図8は図5に示すスポット照明機構の後述する段階的調整機構の作動を示す説明図で、図8(a)は光学的距離の伸張状態、図8(b)は光学的距離の収縮状態、を示すものである。図9(a)の左図は図8(a)に示すV-V線断面図、図9(a)の右図は図8(b)に示すVII-VII線断面図、図9(b)の左図は、図8(a)に示すVI-VI線断面図、図9(b)の右図は、図8(b)に示すVIII-VIII線断面図である。図10は図5に示すスポット照明機構の後述する照射範囲の連続的調節機構の作動を示す説明図で、図10(a)は光学的距離の収縮状態、図10(b)は光学的距離の伸張状態、を示すものである。
Next, operation of the
図8及び図9では、切替リング50の一対の凸部(51a,51a)を、ランプハウジング40の一対の同一深さの溝(43a,43a)との係合から、これより溝の深さの浅い一対の溝(43b,43b)との係合へ切替えることにより可視光発光部31を前方にL1進行させて、可視光LED31bからレンズ32までの光学的距離を2段階に調節可能にしたものである(以下、「段階的調節機構」と言う)。この係合切替え操作は、レンズケーシング60を所定方向に回してランプハウジング40のねじとの螺着を解除して分解した状態で、切替リング50の一対の凸部(51a,51a)を手動で一対の同一深さの溝(43a,43a)から引き抜いて周方向に回転させる等して溝の深さの異なる一対の同一深さの溝(43b,43b)に差し込むことで行われる。
なお、一対の同一深さの溝との係合を逆方向(より溝の深さが大きい一対の同一深さの溝)へ切替えることで可視光発光部31を後方にL1後退させて、光学的距離を2段階に調節可能となっている。
8 and 9, the pair of protrusions (51a, 51a) of the switching
By switching the engagement with the pair of grooves of the same depth to the opposite direction (the pair of grooves of the same depth having a larger groove depth), the visible
この段階的調整機構は、試験体とスポット照明機構30との距離が変わっても、試験体の表面観察に十分な照度の可視スポット光で試験体表面を照射することを可能にすることを目的とするものであり、一対の同一深さの溝の深さは、ランプハウジング40とレンズケーシング60のねじを閉めた状態で、スポット照明を所定の距離から試験体に照射し、試験体の照射面における中心照度が600Lx以上、3000Lx以下得られた時の可視光LED31bからレンズ32までの光学的距離に対応して定まるものである(後記の実施例を参照)。
The purpose of this stepwise adjustment mechanism is to make it possible to illuminate the surface of the specimen with visible spot light of sufficient illuminance to observe the surface of the specimen even if the distance between the specimen and the
図11に示すように、上述の切替リング50を一対の同一深さの溝から引き抜いて周方向に回転させて差し込む切り替え操作を容易にする観点から、切替リング50の前面には切替操作時に前面から起こして把持することができる把持部54が設けられるのが好ましい。この把持部54を持って操作することによって、一対の同一深さの溝から切替リング50の引き抜きや異なる溝の深さの一対の同一深さの溝間での切替えにおける回転操作を容易に行うことができる。
As shown in FIG. 11, from the viewpoint of facilitating the switching operation of pulling out the switching
上記切替え操作を容易にする別の手段として、図12に示すように、切替リング50とランプハウジング40との間に補助スプリング(付勢部材)37を嵌合させ、レンズケーシング60を所定方向に回してランプハウジング40のねじとの螺着を解除して分解した際に、切替リング50が一対の同一深さの溝から浮き上がってくる構成としてもよい。この補助スプリング37は、圧縮コイルスプリングであり、ランプハウジング40の中間部内壁にこの補助スプリングと嵌合可能な突出部を設けて、この突出部に対して切替リング50を前方に付勢している。また、この補助スプリング37の付勢力は、上記分解時に切替リング50を浮き上がらせることができればよく、前記スプリング33の付勢力よりも弱く構成されている。更に、スポット照明の組立時に補助スプリング37の影響で切替リング50が溝底部から浮き上がらず、且つ分解時に切替リング50が浮き上がるように、ランプハウジング40の突出部は溝底部から前後方向に所定の距離を隔てて形成されるのがよい。この所定の距離を隔てる代わりとして、切替リング50の後面に補助スプリング37を収容可能な外径側から内径側に向かって後方から前方に1段下がる段差が形成されてもよい。
As another means for facilitating the switching operation, as shown in FIG. 12, an auxiliary spring (biasing member) 37 is fitted between the switching
ここで、段階的調節機構においてランプハウジング40に設けられる一対の同一深さの溝の変形例について図13を参照して説明する。
図13(a)に示す変形例1では、異なる溝の深さの一対の同一深さの溝間における切替リング150による切替操作を容易にする観点から、溝の深さの異なる各一対の同一深さの溝(143a,143a、143b,143b)が周方向に階段状に形成されている。更に、切替え位置での係止を確実にする観点から、前記階段状に形成された段部(一対の同一深さの溝の溝底部に相当)に、切替リング150の一対の凸部(151a,151a)の一部が係合可能な凹部145が形成されるのが好ましい。なお、図13(b)に上記変形例1における溝の深さの異なる各一対の同一深さの溝を3種類形成した変形例2を示す。図中における矢印A及びBの向きは、切替操作時の切替リング150の操作方向を示している。
A variation of the pair of equal depth grooves provided in the
In the
次に、図10では、ランプハウジング40に対してレンズケーシング60を持って回転させることによりレンズ32を前方にL2進行させて、可視光LED31bからレンズ32までの光学的距離を連続的に調節可能にしたものである(以下、「連続的調節機構」と言う)。なお、連続的調整機構においてはレンズケーシング60を逆回転させることでレンズ32を後方にL2後退させて、光学的距離を連続的に調節可能となっている。
Next, in FIG. 10, by holding the
この連続的調節機構は、従来のスポット照明で試験体の表面観察やそれ以外での照射範囲や照度の連続的な調節に使用するために設けられていたものであるが、本開示のスポット照明機構付紫外線探傷灯におけるスポット照明機構では、上記調節用に設けられたねじ部42に一対の同一深さの溝を形成しているため、従来の連続的調節機構の機能を失うことなく、本開示における段階的調節機構と併用でき、複数の用途に対応可能となっている。
This continuous adjustment mechanism is provided for use in conventional spot lighting for surface observation of a test object and for continuous adjustment of the irradiation range and illuminance in other cases, but the spot lighting of the present disclosure In the spot illumination mechanism of the ultraviolet flaw detection lamp with mechanism, since a pair of grooves of the same depth are formed in the threaded
以下に、実施例を示して、本発明を更に具体的に説明する。しかしながら、本発明は、以下の実施例に限定されるものではない。 EXAMPLES The present invention will be described more specifically below by way of examples. However, the invention is not limited to the following examples.
ここで、図4に示す一般的な市販のスポット照明機構付紫外線探傷灯1の把手体の上部にスポット照明機構30を組み込む場合のスポット照明機構30において、一対の同一深さの溝の深さの好ましい値について説明する。
一般的な市販のスポット照明機構付紫外線探傷灯(スーパーライトD-10:商品名:70Wメタルハライドランプ(紫外線灯)使用:マークテック株式会社製)は、紫外線透過フィルタ3の直径が90mmで、把手体の長さ120mm、奥行き幅35mm、厚さ22mmで構成されており、この紫外線探傷灯に組み込まれる図3に示すスポット照明機構30は、ランプハウジング40の軸方向の長さ24mm、後部外径26mm(ランプハウジング40を基部20に固定させるための取付ステー44を除く)で、切替リング50の軸方向の長さ5.5mm、外径19.09mm(一対の凸部51aを除く)である。
このスポット照明機構30において、ランプハウジング40とレンズケーシング60のねじを閉めた状態で、所定の距離から試験体にスポット照明を照射した場合に、試験体の照射面における中心照度が600Lx以上、3000Lx以下得られた時の可視光LED31bからレンズ32までの光学的距離に対応した一対の同一深さの溝の深さを、2種類設けた場合について測定した。
Here, in the
A general commercially available ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism (Super Light D-10: product name: 70 W metal halide lamp (ultraviolet lamp) used: manufactured by Marktec Co., Ltd.) has an
In this
表1には、2種類の一対の同一深さの溝(43a,43a、43b,43b)を設けた場合に、スポット照明の前面から試験体までの距離が200mm及び300mmにおいて、試験体の照射面における中心照度が600Lx以上、3000Lx以下得られた時の可視光LED31bからレンズ32までの光学的距離(mm)、一対の同一深さの溝の深さ(mm)が示されている。
In Table 1, when two pairs of grooves (43a, 43a, 43b, 43b) of the same depth are provided, the distance from the front surface of the spot illumination to the test object is 200 mm and 300 mm. The optical distance (mm) from the visible
表1の結果に基づいてランプハウジング40のねじ部42に一対の同一深さの溝を2種類形成したスポット照明機構を得た。そして、スポット照明の前面から試験体までの所定の距離ごとに、各距離に対応した一対の同一深さの溝に切り替えて試験体の照射面における中心照度を測定したところ、いずれの一対の同一深さの溝においても600Lx以上、3000Lx以下の中心照度を得ることが確認できた。
Based on the results shown in Table 1, a spot illumination mechanism was obtained in which two types of grooves having the same depth were formed in the threaded
上述された実施例から、本実施形態に係るスポット照明機構付紫外線探傷灯1は、その構成によって、蛍光磁粉探傷試験方法や蛍光浸透探傷試験方法において、試験体とスポット照明との距離が変わっても、同程度の照度のスポット光で試験体の表面を照射可能に段階的に調節することができることが示された。
From the above-described examples, the ultraviolet
本開示は、蛍光磁粉探傷試験方法や蛍光浸透探傷試験方法において、暗所で探傷作業前の試験体の表面状態を確認したり、指示模様観察において試験体の表面に現れた指示模様が欠陥に起因したものか、疑似模様であるかの確認に用いられるスポット照明に好適に利用することができる。しかしながら、本開示は、上述された実施形態に限定されるものではない。また、本開示は、上述の試験体の表面観察以外での照射範囲や照度の連続的な調節にも好適に使用することができる。 In the fluorescent magnetic particle testing method and the fluorescent penetrant testing method, the present disclosure confirms the surface state of the test object before flaw detection work in a dark place, and the indication pattern that appears on the surface of the test object in the observation of the indication pattern is a defect. It can be suitably used for spot lighting used to confirm whether the pattern is caused by the pattern or whether it is a pseudo pattern. However, the disclosure is not limited to the embodiments described above. In addition, the present disclosure can be suitably used for continuous adjustment of irradiation range and illuminance other than surface observation of the specimen described above.
1 スポット照明機構付紫外線探傷灯
2 紫外線照射用開口部
3 紫外線透過フィルタ
4 紫外線LEDユニット
5 紫外線発光部
5a 回路基板
5b 紫外線LED(紫外線光源)
5c 紫外線用レンズ
5d 保護カバー
6 ヒートシンク
6a ヒートシンクの基部
6b 突起部
7 固定部材
8 支柱部材
9 2芯キャブタイヤーケーブル
10 紫外線照射本体
20 基部
30 スポット照明機構
31 可視光発光部
31a 可視光LEDの回路基板
31b 可視光LED(可視光線光源)
32 レンズ
33 スプリング(付勢部材)
34 保護ガラス
35 防止リング
36 点灯スイッチ
37 補助スプリング
40 ランプハウジング
41 ねじ山
42 ねじ部
43a、43b 一対の同一深さの溝
44 取付ステー
45 ランプハウジングの前面
50 切替リング
51a 一対の凸部
52 切替リングの段差
53 一対の凸部の外縁
54 把持部
60 レンズケーシング
61 レンズケーシングのねじ山
62 レンズケーシングの段差
63 溝部
150 切替リング
143a、143b 一対の同一深さの溝
151a,151a 一対の凸部
145 凹部
d1 ねじ部のねじ谷径
1 Ultraviolet flaw detection lamp with
5c
32
34
Claims (4)
該紫外線照射本体に一体的に設けられた基部と、
からなると共に、
該基部に、可視スポット光を照射するスポット照明機構が設けられているスポット照明機構付紫外線探傷灯において、
前記スポット照明機構が、
ランプハウジングと、レンズケーシングと、可視光線光源を前面に有する切替リングと、レンズと、付勢部材と、を備え、
前記ランプハウジングは、前部外周壁に螺着用のねじ山が形成されているねじ部を有し、
前記レンズケーシングは、筒形状で後部内周壁に前記ランプハウジングを内装するように前記ランプハウジングのねじ山に螺合するねじ山が形成され、
前記切替リングは、その外周壁に一対の凸部が形成され、該一対の凸部の外縁は前記ねじ部のねじ谷径よりも内側に位置し、
前記レンズは、前記レンズケーシングの前面に嵌め込まれ、
前記付勢部材は、前記レンズケーシングに収容され、前記切替リングに対して前記レンズをレンズ側方向に付勢し、
前記ねじ部には、一対の同一深さの溝が前記ランプハウジングの前面から垂直後方に向かって複数形成され、
前記一対の同一深さの溝について、溝の深さが異なる溝を複数設け、
前記一対の同一深さの溝は前記一対の凸部と係合し、
該係合を溝の深さが異なる各前記一対の同一深さの溝との間で切り替え可能であることを特徴とする、
スポット照明機構付紫外線探傷灯。 an ultraviolet irradiation body provided with an ultraviolet light source;
a base provided integrally with the ultraviolet irradiation main body;
consists of
In the ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism, wherein the base is provided with a spot illumination mechanism for irradiating visible spot light,
The spot illumination mechanism is
a lamp housing, a lens casing, a switching ring having a visible light source in front thereof, a lens, and a biasing member;
The lamp housing has a threaded portion in which a thread for screwing is formed on the outer peripheral wall of the front portion,
The lens casing has a cylindrical shape, and a screw thread is formed on a rear inner peripheral wall thereof so as to engage with a screw thread of the lamp housing so as to accommodate the lamp housing,
The switching ring has a pair of protrusions formed on its outer peripheral wall, the outer edges of the pair of protrusions being positioned inside the root diameter of the threaded portion,
the lens is fitted into the front surface of the lens casing;
the biasing member is housed in the lens casing and biases the lens toward the lens side with respect to the switching ring;
a plurality of a pair of grooves of the same depth are formed in the screw portion toward the vertical rearward from the front surface of the lamp housing;
A plurality of grooves having different depths are provided in the pair of grooves having the same depth,
the pair of grooves of the same depth are engaged with the pair of protrusions;
characterized in that the engagement can be switched between each of the pair of grooves of the same depth with different groove depths,
Ultraviolet flaw detection lamp with spot lighting mechanism.
請求項1に記載のスポット照明機構付紫外線探傷灯。 The visible light source is configured separately from the switching ring so as to be accommodated in the front surface of the switching ring,
The ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism according to claim 1.
請求項1または2に記載のスポット照明機構付紫外線探傷灯。 Each of the pair of same-depth grooves with different groove depths is formed in three or more types,
3. The ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism according to claim 1 or 2.
請求項1~3のいずれか1項に記載のスポット照明機構付紫外線探傷灯。 The lens is at least one of a Fresnel lens, a convex lens, or a microlens array,
An ultraviolet flaw detection lamp with a spot illumination mechanism according to any one of claims 1 to 3.
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