JP7141668B1 - ハンドピース先端部の位置・方位検出装置、ハンドピース誘導システムおよびハンドピース誘導アシストシステム - Google Patents
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Abstract
Description
光学的な位置方位関係を計測する方法が開発されている(非特許文献1)が、精度が悪くて直接的に口腔内でハンドピースを誘導することができていない。そのため、複雑な間接的な方法、つまり、口腔内の模型を作製し、模型とマウスピースに取り付けた光学的マーカを使って、模型上でハンドピースと光学的マーカの位置方位関係のデータを取りながら、模型上の治療を行い、その際のハンドピースの誘導軌跡をコンピュータに記憶させ、このデータに基づいて実際の治療を自動制御で行うが、その際、口腔内治療箇所とでハンドピースの相対的な位置関係をハンドピースとマウスピースに取り付けた光学的マーカとの位置方位関係を計測して、補正しながら治療を行っている。
また、この開示は、磁界ベクトルセンサを使用していないため、ガウスニュートン法に従って計算することができない。そのため、磁界勾配を活用した反復プロセスを行って、測定値と理論値の誤差を最小限にするX、Y、Z、Θ、Φを求めているが、反復プロセスのために計算速度が遅く、リアルタイム性に難点があると思われる。実際特許文献1には測定速度が記載されていない。以上、磁界ベクトルセンサを前提としていない本開示では磁石体マーカの位置を高精度に測定することはできない。
磁界ベクトルセンサグリッドは、ハンドピースに取り付けたグリッドに、少なくとも5個以上の磁界ベクトルセンサをグリッド状に配置したもので、グリッドの中心を原点にし、ハンドピース軸をY軸、グリッドの横方向を水平方向X軸とし、グリッドの縦方向をZ軸とする座標系をC系とし、
両座標系の位置関係と方位関係を、1Hzから50Hz以下の測定速さで、位置精度0.1mm以下で、方位精度1度以下で測定することを可能とするハンドピースの位置・方位検出装置に関するものである。
そこで、本発明者は、まず第1の課題である高い検出力を有する磁界ベクトルセンサの開発に取り組んだ。
ASIC31の上に原点を中心にしてX軸方向にX1素子、X2素子を対称的に配置し、X軸方向と直交するY軸方向にY1素子、Y2素子を対称的に配置する。各素子はASICの上面に塗布され、溝が加工されたレジスト層に磁性ワイヤ32が配置され、磁性ワイヤ32を周回する検出コイル、4つの電極(33、34)が形成されている。4つの電極(33、34)は連結用電極ホール38を介してASICと接続される。原点には磁性ワイヤ32の上部に上部軟磁性体35が1個形成され、4個の素子の原点とは反対側の端部には磁性ワイヤ32の下部に下部軟磁性体36がそれぞれ形成されている。
この構成により、X軸方向およびY軸方向の磁界を検出するとともにZ軸方向の磁界は上部軟磁性体35により集磁391(又は放磁)され、磁性ワイヤ32を介して下部軟磁性体36により放磁392(又は集磁)されることによって検出される。したがって、原点における磁界ベクトル(Hx、Hy、Hz)が検出される。
本発明は、小型で高性能の磁界ベクトルセンサを使用するものであって、上記二つの発明品の使用に限定されるものではない。
磁界ベクトルセンサは、振動する磁界を検知し、周辺磁界の影響を排除することができる。製作した電磁石のパルス周期は、50Hzから1KHz、パルス幅は0.1m秒から5m秒とした。励磁電流Iは、磁針素材を飽和することができる強さ、すなわちコイルの磁化力Hが保磁力Hcの5倍以上となるようにコイル巻き数を考慮して電流強度を決めた。
この場合、GSRセンサのノイズフィルターのバンドパスフィルターを指定された周波数を優先的に検知できるように設定する。電磁石の周波数は10Hzから1KHzとした。励磁電流Iは、磁針素材を直線的に磁化できる磁化力の範囲、およそ保磁力Hcの0.5倍以下として、コイルの磁化力HがH<0.5Hcとなるように、コイル巻き数を考慮して電流強度を求める。
本発明では、ハンドピースの先端の円筒部に5個以上のセンサを円筒状に配置したグリッド(一例を図7に示す。)と、ハンドピースの先端部にグリッド板を配置し、そこに9個以上のセンサを配置したグリッド(一例を図8に示す。)を試作した。
磁界ベクトルセンサグリッドの中心を原点にし、ハンドピース軸の向きをY軸、センサグリッドの横方向(水平方向)をX軸とし、センサグリッド板の縦方向(垂直方向)をZ軸とする座標系をC系としている。
センサグリッドの組み立て精度については、極力小さくすることが求められて、10μm以下の精度が好ましい。
本発明者は、磁界ベクトルセンサグリッドで、磁石体が発する磁界ベクトルを各測定点で磁界ベクトルとして測定した場合、反復プロセスを必要とせず、測定値と理論値のずれを誤差として、それらを加算した関数として誤差関数を定義して、その最小値からX、Y、ZおよびΘ、Φを計算する方法は、ガウスニュートン法として広く知られている。この原理を用いて、磁石性能、センサ性能、センサの数と配置、磁石体マーカとセンサグリッドの距離およびセンサグリッド配置する対象品の形状とサイズなどを考慮して、実際の計算プログラムを考案することは設計パラーメータの選択とは言えない難しさがある。
この課題を解決するために、本発明者はまず磁石体マーカから発する磁界を磁界ベクトルセンサグリッドで磁界測定を行い、そのデータをガウスニュートン法により、磁石体マーカの位置・方位を計算するプログラム(図9)を作成した。
(2)ステップ102にて、センサの測定誤差の値Nの割合S/Nが、500以上となることを確認する。
(3)次に、ステップ103にて、磁石体マーカ( )がセンサグリッドの(i,j、k)番目のセンサ位置であるPijkに作る磁気の理論値tH(→)ijkを式(1)から求める。ここでまた磁石の傾きをZ軸に対する回転角をφ、X軸に対する回転角をθとする。ここで、磁石体マーカ( )と位置Pijkまでの距離ベクトルを ijkとする。
tH(→)ijk = 1/4πμo {-M(→)/rijk 3 +3(M(→)・ r(→)ijk )r(→)ijk /rijk 5 }・・・(1)
(4)次に、ステップ104にて、磁気理論値と磁気測定値との差を測定誤差εijkとして、求める。
eijk=tH(→)ijk-mH(→)ijk
(5)次に、ステップ105にて、ステップ103により求めた測定誤差εijの誤差関数Eijを誤差の平方和として求める。
Eijk=Σeijk 2
(6)次に、ステップ106にて、ガウスニュートン法で、ステップ104により求めた誤差平方和が最小となるx、y、z、θ、φを、以下の連立方程式を使って求める。
∂Eijk/∂x=0、∂Eijk/∂y=0、∂Eijk/∂z=0、
∂Eijk/∂φ=0、∂Eijk/∂θ=0
(7)次いでステップ107にて、上記方程式から座標系Oh―XYZにおける磁石体マーカの位置X、Y、Zと磁石の磁化の向きΘとΦを求める。
X=x+d×a、Y=y+d×b、Z=z、Θ=θ、Φ=φ
そのために、本発明者は、患者の口腔内の治療位置を、3次元X線CT画像上で、歯に取り付けた磁石体を原点に指定し、磁石体とハンドピース先端との相対的関係をセンサグリッドで計測し、その測定値を使って、以下に示す方法を考案した。
また発明者は、ハンドピースに3軸加速度センサを取り付けて、傾斜度を測定し、それをつかってハンドピースのY軸を水平に維持し、ハンドピースの先端近くに磁気ベクトルセンサグリッドを取り付けて、グリッドの原点をOhとして、ハンドピースの長手方向をY軸とし、グリッドの横方向をX軸、縦方向をZ軸として、座標系C0とした。ハンドピースのドリルの先端位置をA点(以下、先端位置Aという。)とし、その位置をOhA=(0、L、―H)とした。なお、患者の開口した口腔部が手術中に動かないように、患者の顎顔面部を手術用ホルダーで固定しておく。
C2系から見て、A2B2=OmB2+R2-OhA2となる。ここで、C2系とCm系の方位は一致しているので、OmB2=OmB1になり、OhA2は、C系のベクトル量なので、OhA1と同じになる。R2は、C1系で求めたベクトル量なので、座標系の回転に対応して、R2=Ry(φ1)Rz(θ1)R1となる。
C3系において、グリッドを使って磁石の位置R3と方位(θ3、φ3)を計算し、A3B3=OmB3+R3-OhA3となる。ここで、OmB3=R(-α)OmB2を求める。OhA3は、C系のベクトルなので変化はしない。
C4系で、グリッドを使って磁石の位置R4と方位(θ4、φ4)を計算し、A4B4=OmB4+R4-OhAを求める。ここで、OmB4=R(-β)OmB3である。
確認後、ハンドピースを進入パスの逆ルートで初期位置まで戻す。以上の要領でハンドピースを誘導することができる。
歯に磁石体を貼り付けて、ハンドピースの位置・方位検出装置は、磁石体1個を口腔内の特定の歯に磁石体マーカの長さ方向を垂直方向(Z軸)にし、磁化ベクトルを水平方向(X軸)に向けて設置して、前記磁石体の中心を原点Omにして、磁化ベクトルの向きをX軸、磁石体の厚み方向をY軸、長手方向をZ軸とする座標系Cmとし、口腔内の治療位置の中心点をB点(以下、治療位置Bという。)として、、磁石体マーカの中心からの位置関係をOmBと定めておき、
前記ハンドピースは、本体に3軸加速度センサと、磁界ベクトルセンサからなる磁界ベクトルセンサグリッドを有し、
前記3軸加速度センサは、前記ハンドピースの本体に設置し、水平面に対する前記ハンドピースの傾斜角ηを計測し、その測定値を前記データ処理装置に転送する機能を有し、
さらにハンドピースのドリルの先端位置をA点(以下、先端位置Aという。)として、として、座標系Cとし、グリッドの中心からの位置関係をOhAと定めておき、
センサデータ処理装置は、前記3軸加速度センサおよび前記磁界ベクトルセンサグリッドより検出された測定値およびOmBとOhAの固定値とを一体的に処理して、腔内の治療位置とハンドピース先端部の位置・方位関係を算出する機能を有し、およびそれらの値を術者に知らせる表示装置とからなり、
<磁石体>
磁石体としては、パルス型電磁石、交流型電磁石または永久磁石とし、サイズ幅は4mm以下、長さは10mm以下とし、磁石体マーカの磁気モーメントを5×10-9~100×10-9Wbmとする。磁石体マーカは歯に設置できるほど小さいことが必要であるが、小さいと磁気モーメントが小さくなって発生する磁界が弱くなり、位置決め精度が低下することから上記のサイズとする。
GSRセンサは、1MHzから5MHzのパルス周期で磁界を繰り返し高速で測定し、それを平均化して、200Hzから1KHzの測定速度で出力する。
GSRセンサを使った磁界ベクトルセンサとしては、3次元GSR素子をASIC表面と直接形成した一体式タイプ(図3、4)と、On-ASICタイプのGSRセンサ(サイズは、長さ2mm、幅1mm)の4個を、四角錐台の稜線部の4つの斜面に、4回対称かつ鏡面対称に貼り付けた組み立て式タイプ(図5、6)を用いる。
組み立て式タイプは、1KHzの測定速度は5nT以下で、サイズは幅5mm×長さ5mm×高さ2mm以下の超小型で磁界検出力の優れた組み立て式の磁界ベクトルセンサである。
本発明は、小型で高性能の磁界ベクトルセンサを使用するものであって、上記二つのタイプの使用に限定されるものではない。
パルス磁界型電磁石と交流式電磁石の場合、検出した磁界の変動幅を磁石体マーカから発する磁界とした。永久磁石の場合、あらかじめ周辺磁界を測定しておき、測定値からその値を差し引いて補正する。
磁界ベクトルセンサグリッドは、ハンドピースを口腔内に挿入するために空間的制約および形状の制約を強く受ける。
磁界ベクトルセンサグリッドは、ハンドピースの先端部に磁界ベクトルセンサを幾何学的に取り付けたもので、磁界ベクトルセンサがセンサグリッド体に3~25mmの磁界ベクトルセンサ間隔にて5個以上配置され、センサグリッドの中心を原点にし、ハンドピース軸の向きをY軸、センサグリッドの横方向(水平方向)をX軸とし、センサグリッド板の縦方向(垂直方向)をZ軸とする座標系をC系としている。
磁界ベクトルセンサグリッドは、各磁界ベクトルセンサとマルチプレクサMUXと連結し、次の全データが最終MUXと連結し、外部の信号処理回路に転送される。電源配線は、図示していないが、電源配線VDDとグランド配線GNDとが各磁界ベクトルセンサに連結して、センサグリッド稼働時にはすべての磁界ベクトルセンサに電源が供給できるようにしている。グリッド電子回路基板は、ハンドピース本体に設置することが好ましい。
センサグリッドの組み立て精度については、極力小さくすることが求められており、10μm以下の誤差が好ましい。
磁界ベクトルセンサグリッドによる磁石体マーカの計測については、グリッドの中心を原点にし、ハンドピース軸をY軸、グリッド板の水平方向をX軸とし、グリッド板の縦方向をZ軸とする座標系をC系とし、ハンドピースに加速度センサを設置して、Y軸は水平に保ち、グリッドセンサ面であるXZ面を垂直面に保つことにする。
ハンドピースの初期位置は、ハンドピースのC系のXZ面と磁石のCm系のXZ面が対向するように向けることにして、Y軸に沿ってハンドピースを口腔内に近づけて、ハンドピースの先端を口腔内の指定された治療位置に誘導していくことにする。この過程でハンドピースの先端と磁石の位置・方位関係を磁界ベクトルセンサグリッドにより計測し、そのデータをセンサグリッドデータ処理回路に転送し、そこで、磁界ベクトルセンサグリッドにより計測した測定データを高速で処理する。
データ処理装置では、グリッドによる磁石体マーカの測定値を使って、磁石体マーカの位置と方位を算出する。C座標系の原点から磁石体の位置(X、Y、Z)と方位Θ、Φをガウスニュートン法により計算する。
(1)C座標系に固定された磁界センサグリッドの各磁界ベクトルセンサの位置(i,j)における磁界ベクトルmH(→)ijを計測し(ステップ101)、
(2)その絶対値がS/N比で500倍以上あることを確認(ステップ102)し、
(3)磁石体(M(→))が、C座標系に対して、位置(x、y、z)および方位(θ、φ)にあるとして、前記磁界センサグリッドの位置(i,j)がつくる磁界ベクトル
tH(→)ijの理論値を計算し(ステップ103)、
(4)測定誤差を、eij=tH(→)ij-mH(→)ijにより計算し(ステップ104)、
(5)誤差の平方和を、Eij=Σeij 2により計算し(ステップ105)、
(6)誤差平方和を最小とするx、y、z、θ、φを算出して(ステップ106)
(7)磁石体の位置X、Y、Zおよび方位Θ、Φを求め(ステップ107)、
位置精度0.5mm以下、方位精度1度以下、測定サンプリング速度は1~50H
zで位置・方位を測定し、データを1Hzから50Hzの速度で計算する方法であ
る。この方法により、センサグリッドでCh系における磁石体の位置と方位を、位置
精度0.1mm以下、方位精度1度以下で測定することができる。
まず、3次元のX線CT画像マップから、口腔内の磁石体マーカの位置を特定し、磁石体マーカの中心点Omと磁化の向きをX軸、磁石体の縦方向をZ軸とするCm系を想定して、治療位置Bの位置と方位を指定する。
次に、センサグリッドでC系における磁石体の位置と方位を測定し、その磁石体の向きθ、φの測定値を使って、C系をC系のZ軸を回転軸に-θ回転で、両系のXY面の角度ずれを、C系のY軸を回転軸に-φ回転でZX面の角度ずれを、それぞれ修正し、両系の方位を一致させることができる。
回転後のC系における、Cm系における治療位置Bの座標点をC系のそれに変換することによって、C系におけるベクトルABを求めることができる。このベクトルABによって、ハンドピースの先端位置Aと治療位置Bとの相対的な位置方位関係が指定できる。
この方法を使ったハンドピースを、自動制御装置のロボットハンドで把持して歯の治療を行なう誘導システムは、図12に示す手順で行うものである。
(1)あらかじめ、ハンドピースC系におけるハンドピースの先端位置Aの座標位置と、口腔内の磁石系Cmにおける治療位置Bの座標位置、および穴あけ加工の向きY軸を回転軸にβ角回転、次にX軸を回転軸にγ角回転と穴の深さHを入力しておき、ハンドピースのY軸を水平に維持して、歯に設置した磁石の近くに保持し、その状態を誘導システムの初期位置として、この状態の座標系CをC1(図13)とし、センサグリッドによって前記磁石体から発する磁界を前記磁界ベクトルで測定し、磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出する(ステップ201)。
磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出してハンドピースの先端位置Aと所定の治療位置Bとの位置関係ABを計算する(ステップ203)。
磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出し、ハンドピースの先端位置Aと所定の治療位置Bとの位置関係ABを計算し、両者の位置ずれが0.1mm以下と方位ずれが1度以下となっており、両者が一致していることを確認する(ステップ204)。
磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出し、ハンドピースの先端位置Aが、指定された穴の方向に深さHの位置にあることを確認する(ステップ206)。
常時、ハンドピースの位置方位を計測しておき、ハンドピースの移動量から計算できる変化量と1mm以上異なる場合にはハンドピースの移動を一時停止して、その状態をC1系として、上記誘導操作を再開し、位置精度を0.1mm以下、方位精度1度以下を確保するものとする。
本発明の第3実施形態は、第2実施形態を利用して、自動制御装置に代えて、術者が手でハンドピースを把持し、その術者へアシストするシステムである。
(1)術者は表示画面により指定された入力値、A点とB点の位置、および穴あけ加工の向きと穴の深さHを記憶しておき、
ハンドピース先端を水平にして、歯に設置した磁石の近くに保持し、その状態で、磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出し、誘導システムの初期位置として、その値を術者に伝えてアシストし、この状態の座標系CをC1とする(ステップ301)。
磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出し、ハンドピースの先端位置Aが穴の方向に深さHの位置にあることを確認する(ステップ306)。
インプラント穴あけ加工をアシストすることを特徴とするハンドピース誘導アシストシステム。
ハンドピースの先端の円筒部にグリッドを配置する方法に代えて、ハンドピースの先端部にグリッド板を配置し、そのグリッド板に12個のベクトルセンサを配置したグリッド(図7)を用いたもので、グリッドの形状以外は第2実施形態と同じである。
第1実施形態で用いた磁界ベクトルセンサグリッドをベースにし、磁石体としてパルス型電磁石、磁界ベクトルセンサとして3次元素子とASICよりなる一体式タイプを用いたものである。
グリッドの中心は、6個のセンサを配置した平面の中心を原点にし、ハンドピース軸をY軸、グリッド板の水平方向をX軸とし、グリッド板の縦方向をZ軸とする座標系をC系とした。
第1実施例の磁石体の位置・方位検出装置を用いて、ハンドピースの先端部を口腔内の治療位置に誘導するシステムである。
ハンドピースの初期位置は、ハンドピースに加速度センサを設置して、Y軸は水平に保ち、グリッドセンサ面であるXZ面を垂直面に保つことにした。ハンドピースのC系のXZ面と磁石のCm系のXZ面が対向するように向けて、Y軸に沿ってハンドピースを口腔内に近づけて、可能な限り近い位置で、ハンドピースの初期位置を決定した。
その値を使って、ハンドピースの先端を口腔内の指定された治療箇所に誘導していくことにした。
実施例2において、磁石体に交流型電磁石を用いたものである。
磁石体は交流型電磁石で、サイズ幅は4mm、長さは5mm、厚みは1mmとし、磁石体マーカの磁気モーメントは40×10-9Wbmとし、交流周期は500Hzとした。磁針の磁性材料は透磁率30,000、保磁力80A/mよりなるパーマロイを使用し、コイル巻き数は400回にて1mm当たり100回で、励磁電流は0.1A、磁化力Hは40A/mとし、パーマロイのBH曲線における直線域を活用した。
図12に示すフローチャートでハンドピースを誘導した結果、ハンドピースの先端は、位置の精度は0.1mm以下、方位の精度は0.7度以下で、誘導することができた。
実施例2において、パルス型電磁石を永久磁石にしたものである
永久磁石として、NdFeB磁石を用いた。周辺磁界ノイズ対策としては、ハンドピースの初期位置と治療位置の両方の位置における周辺磁界を測定した。次に患者を手術の際の所定の位置に固定して、ハンドピースのグリッドセンサを使って、患者の歯に設置した磁石からの磁界を測定した。両者の差分を磁石からの磁界の測定値としてその測定値を使って、初期位置および治療位置での位置からハンドピースの位置を求めることにした。この時、非磁性素材を使ったハンドピースを用いることが好ましい。
その結果、ハンドピースの先端を位置精度は0.1mm以下、方位の精度は0.7度以下で誘導することができた。
実施例2において、磁界ベクトルセンサとして、組み立て式を使用し、ハンドピースの先端部にグリッド板を配置し、そこに12個の磁界ベクトルセンサを配置したグリッドを用いたものである。
図12に示すフローチャートでハンドピースを誘導した結果、ハンドピースの先端は、位置の精度は0.1mm以下、方位の精度は0.7度以下で、誘導することができた。
常時、ハンドピースの位置方位を計測しておき、ハンドピースの移動量から計算できる変化量と1mm以上異なる場合にはハンドピースの移動を一時停止して、その状態をC1系として、上記誘導操作を再開し、位置精度を0.1mm以下、方位精度1度以下を確保するものとする。
11:基板、12:磁性ワイヤ、13:コイル、14:ワイヤ端子、15:ワイヤ電極、16:接続配線(ワイヤ電極用)、17:コイル端子、18:コイル電極、19:接続配線(コイル電極用)
2:電子回路(GSRセンサの電子回路)
21:パルス発振器、22:GSR素子、221:ワイヤ電極、222:コイル電極、23:寄生容量、24:回路入力電極、25a:1段目検波タイミング調整回路(T1)、25b:2段目検波タイミング調整回路(T2)、26:サンプルホールド回路(出力側回路)、27a:1段目電子スイッチ(SW1)、27b:2段目電子スイッチ(SW2)、28a:1段目サンプルホールド用コンデンサ(C1)、28b:2段目サンプルホールド用コンデンサ(C2)、29:増幅器
3:磁界ベクトルセンサ(一体式)
31:ASIC、32:磁性ワイヤ、33:ワイヤ電極、34:コイル電極、35:上部軟磁性体、36:下部軟磁性体、37:レジスト層(感光性樹脂)、38:連結用電極ホール、391:集磁(放磁)、392:放磁(集磁)、X1:X1軸素子、X2:X2軸素子、Y1:Y1軸素子、Y2:Y2軸素子
4:磁界ベクトルセンサ(組み立て式)
40:台座(四角錘台)、401:三角形の斜面、402:長方形の斜面(四角錘台の稜線部)、403:正方形の上面、404:傾斜角(θs)、41:GSRセンサ(on-ASICタイプ)、411:ASIC、412:GSR素子、413:磁性ワイヤ
5:ハンドピース(円筒部タイプ)
50:円筒部、51:磁界ベクトルセンサ、52:ドリル先端、Oh:原点
6:ハンドピース(軸部グリッド板タイプ)
60:軸部、61:磁界ベクトルセンサグリッド、62:グリッド板(軸部設置)、63:磁界ベクトルセンサ、64:ドリル、65:加速度センサ、Oh:原点
7:3次元X画像マップ
71:ハンドピース、710:ハンドピースの原点Oh、711:位置関係OhA
72:磁石体(パルス型電磁石)、720:磁石体の原点Om、721:磁化の向き(X軸)、722:位置関係OmB
73:骨
74:歯
A:ハンドピースの先端位置
B:治療位置
8:誘導システムにおける座標系C
801:磁界ベクトルセンサ(磁界ベクトルセンサグリッドを構成するセンサ)
81:ハンドピース、8101:C1系の原点Oh1、8103:C3系の原点Oh3、8104:C4系の原点Oh4
82:磁石体、820:磁石体の原点Om、821:角度θ、822:α回転角
83:歯
C1:初期状態の座標系、C3:ハンドピース移動開始状態の座標系、C4:ハンドピースの治療位置への到達時の座標系
R1:C1系における磁石の位置、R3:C3系における磁石の位置、R4:C4系おける磁石の位置
Claims (9)
- 歯に取り付けた磁石体を原点にして口腔内の治療に使用するハンドピース先端部の
位置・方位検出装置において、
前記磁石体は、口腔内の特定の歯に磁石体1個を該磁石体の長さ方向を垂直方向(Z軸)にして磁化ベクトルを水平方向(X軸)に向けて設置されてなり、前記磁石体の中心を原点Omとして磁化ベクトルの向きをX軸、磁石体の厚み方向をY軸、長手方向をZ軸とする磁石座標系Cm系(以下、Cm系という。)とし、口腔内の治療位置の中心点をB点(以下、治療位置Bという。)として、磁石体の原点Omからの位置関係をOmBと定め、
ハンドピースは、3軸加速度センサと磁界ベクトルセンサよりなる磁界ベクトルセンサグリッドとを備え、
前記3軸加速度センサは、前記ハンドピースの本体に設置し、水平面に対する前記ハンドピースの傾斜角ηを測定し、その測定値をセンサデータ処理装置に転送し、
前記磁界ベクトルセンサグリッドは、前記ハンドピースの患者の口腔側の先端近くに設置され、前記磁界ベクトルセンサグリッドの中心を原点Ohとして、前記ハンドピースの軸をY軸、前記磁界ベクトルセンサグリッドのグリッド板の横方向をX軸、グリッド板の縦方向をZ軸とするグリッド座標系C系(以下、C系という。)とし、前記磁石体が発する磁界を測定し、その測定値を前記センサデータ処理装置に転送し、
さらに、ハンドピースのドリルの先端位置をA点(以下、先端位置Aという。)として、グリッドの原点Ohからの位置関係をOhAと定め、
前記センサデータ処理装置は、前記3軸加速度センサの測定値と、前記磁界ベクトルセンサグリッドの測定値と、前記Cm系の前記OmBと前記C系の前記OhAとを一体的に処理して、腔内の治療位置Bとハンドピースの先端位置Aとの位置・方位関係を算出してそれらの値を術者に知らせる表示装置を備え、
また、前記センサデータ処理装置は、前記磁界ベクトルセンサグリッドの測定値を使って、前記C系による前記磁石体の位置X、Y、Zおよび方位Θ、Φを計算し、また加速度センサの測定値を使って、傾斜角ηを計算して、前記C系と前記Cm系の方位関係および原点間の距離を計算し、さらに前記Cm系のデータOmBを前記C系に座標転換することによって、口腔内の治療位置Bとハンドピースの先端位置Aとの位置・方位関係を計算し、術者に知らせることを特徴とするハンドピース先端部の位置・方位検出装置。 - 請求項1において、
前記磁石体は、交流型電磁石、パルス型電磁石または永久磁石とし、
前記磁石体のサイズは、幅6mm以下、長さ10mm以下とし、
前記磁石体の磁気モーメントを5×10-9~100×10-9Wbmとすることを特徴とするハンドピース先端部の位置・方位検出装置。 - 請求項1または2において、
前記磁界ベクトルセンサは、X軸方向とY軸方向に2個ずつ配置した4個の磁界センサ素子とZ軸方向の磁界を集磁・放磁する軟磁性体とからなり、4つの磁界センサ素子で検出した磁界Hx1、Hx2、Hy1、Hy2を、Hx=(Hx1+Hx2)/2、Hy=(Hy1+Hy2)/2、Hz=(Hx1+Hx2+Hy1+Hy2)/4なる式で、電子回路と演算回路とを使って計算して、前記4個の磁界センサの中央部の磁界ベクトル(Hx、Hy、Hz)を計測する一体的なものであって、
大きさは、底辺は2mm~6mm、高さは0.5mm~2mm、1KHzの高速で測定した場合の磁界検出力は50nT以下の性能を有し、一体型の磁界ベクトル(Hx、Hy、Hz)で測定し得ることを特徴とするハンドピース先端部の位置・方位検出装置。 - 請求項1または2において、
磁界ベクトルセンサ素子は、一軸のGSR素子をASIC上面に形成したOn-ASICタイプのGSRセンサの4個を傾斜角度θの四角錐台の4つの斜面に、4回対称かつ鏡面対称に貼り付け、4個のセンサの出力電圧Vx1、Vx2、Vy1、Vy2を計測し、
Hx=(1/2cosθ)(Hx1-Hx2)、
Hy=(1/2cosθ)(Hy1-Hy2)、
Hz=(1/4sinθ)(Hx1+Hx2+Hy1+Hy2)、
なる式で、4個の磁界センサの中央部の磁界ベクトル(Hx、Hy、Hz)を計測する組み立て式なものであって、
サイズは、長さ2mmから6mm、高さ1mmから2mm、傾斜角度θは、20度から45度で、1KHzの高速で測定した場合の磁界検出力は1nT以下の性能を有し、磁界ベクトル(Hx、Hy、Hz)で測定し得ることを特徴とするハンドピース先端部の位置・方位検出装置。 - 請求項1~3のいずれか1項において、
前記磁界ベクトルセンサグリッドは、前記ハンドピースの先端部に磁界ベクトルセンサを幾何学的に取り付けたものであって、
前記磁界ベクトルセンサが磁界ベクトルセンサグリッド体に3~25mmの磁界センサ間隔にて5個以上配置され、
前記磁界ベクトルセンサグリッドの中心を原点にし、ハンドピース軸の向きをY軸、センサグリッドの横方向(水平方向)をX軸とし、センサグリッド板の縦方向(垂直方向)をZ軸とする座標系をC系としていることを特徴とするハンドピースの位置・方位検出装置。 - 請求項1~4のいずれか1項において、
前記磁界ベクトルセンサグリッドは、ハンドピースの先端部の特定の位置にグリッド板を配置し、そのグリッド板に9個以上の前記磁界ベクトルセンサを3~25mmの磁界センサ間隔にて平面幾何学的に配置したグリッドを用いたものであって、
前記磁界ベクトルセンサグリッドの中心を原点にし、ハンドピース軸の向きをY軸、センサグリッドの横方向(水平方向)をX軸とし、センサグリッド板の縦方向(垂直方向)をZ軸とする座標系をC系としていることを特徴とするハンドピースの位置・方位検出装置。 - 請求項1~4のいずれか1項において、
Oh-XYZ座標系における前記磁石体(M(→))の位置を(X、Y、Z)とし、前記磁化ベクトルの向きをX軸に対する回転角をΘとし、Z軸に対する回転角をΦとして、磁石体の位置と方位(X、Y、Z、Θ、Φ)を、ガウスニュートン法に従って、
(1)前記C系に固定された磁界センサグリッドの各磁界センサの位置(i,j)における磁界ベクトルmH(→)ijを計測し、
(2)前記磁石体(M(→))が、前記C系に対して、位置(X、Y、Z)および方位(Θ、Φ)にあるとして、前記磁界センサグリッドの位置(i,j)がつくる磁界ベクトルtH(→)ijの理論値を計算し、
(3)測定誤差を、eij=tH(→)ij-mH(→)ijにより計算し、
(4)誤差の平方和を、Eij=Σeij 2により計算し、
(5)誤差平方和を最小とするx、y、z、θ、φを算出して、
(6)磁石体の位置X、Y、Zおよび方位Θ、Φを求め、
位置精度0.5mm以下、方位精度1度以下、測定サンプリング速度は1~50Hzで位置・方位を測定し、データを1Hzから50Hzの速度で計算することを特徴とするハンドピース先端部の位置・方位検出装置。 - 請求項1~5のいずれか1項に記載されている前記ハンドピースを自動制御装置のロボットハンドで把持して歯の治療を行なう誘導システムにおいて、
(1)あらかじめ、ハンドピースC系における前記ハンドピースの先端位置Aの座標位置と、口腔内の前記Cm系における治療位置Bの座標位置、および穴あけ加工の向きY軸を回転軸にβ角回転、次にX軸を回転軸にγ角回転と穴の深さHを入力しておき、
前記ハンドピースのY軸を水平に維持して、歯に設置した前記磁石体の近くに保持し、その状態を誘導システムの初期位置として、この状態の座標系CをC1系とし、
前記センサグリッドによって前記磁石体から発する磁界を前記磁界ベクトルセンサで測定し、前記磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出し、
(2)前記ハンドピースの向きを、Z軸を軸に-θ回転させてこの状態の座標系CをC2系とし、治療位置BとY軸との角度αを計算し、
(3)前記ハンドピースのZ軸を回転軸にα角回転させて前記ハンドピースを治療位置Bの方向に向ける。その後穴あけ加工の方向にドリルを向けるために、Y軸を回転軸にβ角回転させ、次にX軸を回転軸にγ角回転させた状態の座標系CをC3系とし、
前記磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出し、ハンドピースの先端位置Aと所定の治療位置Bとの位置関係ABを計算し、
(4)ハンドピースの先端位置AをY軸に沿って移動させて、所定の治療位置Bに誘導して静止し、この状態の座標系CをC4系とし、
磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出し、ハンドピースの先端位置Aと所定の治療位置Bとの位置関係を計算し、両者の位置ずれが0.1mm以下と方位ずれが1度以下となっていて、両者が一致していることを確認し、
(5)そうでない場合は、各軸を微小移動させて、位置ずれを0.1mm以下となるように補正し、各軸を回転軸に微小回転させて、方位ずれが1度以下となるように補正し、この状態の座標系CをC5系とし、
(6)前記ハンドピースを指定された向きに指定された距離Hだけ移動させて治療を終えて、この状態の座標系CをC6系とし、
磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出し、ハンドピース先端の位置Aが指定された穴の方向に深さHの位置にあることを確認し、
(7)前記ハンドピースをC6系のZ軸に沿って、Hだけ戻し、次にY軸に沿って距離ABそのまま原点間距離ベクトル(-X、-Y、-Z)だけ移動させて、C4系のA点の位置に戻すことにより、
インプラント穴あけ加工を自動制御で行うことを特徴とするハンドピース誘導システム。 - 請求項8において、
自動制御装置に代えて、術者が手で前記ハンドピースを把持し、
(1)術者は指定された入力値、A点とB点の位置、および穴あけ加工の向きと穴の深さHを記憶しておき、
ハンドピース先端を水平にして、歯に設置した磁石の近くに保持し、その状態で、磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出し、誘導システムの初期位置として、その値を術者に伝えてアシストし、この状態の座標系CをC1とし、
(2)術者が前記ハンドピースの向きを回転軸としてZ軸を-θ回転させる際に、回転中の回転角の変化を術者に伝えてアシストして回転量がθに到達した時に静止し、この状態の座標系CをC2系として治療位置BとY軸との角度αを計算し、
(3)術者はハンドピースのZ軸を回転軸として角度αを回転してハンドピースを治療位置Bの方向に向け、その後穴あけ加工の方向にドリルをむけるために、Y軸を回転軸として角度βを回転させるとともにX軸を回転軸として角度γを回転させる際には、回転角度の変化を術者に伝えてアシストし、所定の回転量に到達した時に静止し、この状態の座標系CをC3系として磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出し、ハンドピースの先端位置Aと所定の治療位置Bとの位置関係ABを計算し
(4)術者はハンドピースの先端位置AをY軸にそって移動させて所定の治療位置Bに誘導され、移動の際には磁石体の位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出し、ハンドピースの先端位置Aと所定の治療位置Bとの位置関係を計算し、移動量を術者に伝えてアシストし、B点に到達して静止し、この状態の座標系CをC4系とし、
両者の位置ずれが0.1mm以下と方位ずれが1度以下となっていることを確認し、
(5)そうでない場合は、術者は、各軸を微小移動させて、位置ずれを0.1mm以下となるように補正し、各軸を回転軸に微小回転させて、方位ずれが1度以下となるように補正し、補正結果を術者に伝えてアシストし、この状態の座標系CをC5系とし、
(6)前記ハンドピースを指定された向きに指定された距離Hだけ移動させる際に、移動中の移動量を術者に伝え、指定された値Hに到達すると術者が加工を終えることができるようにアシストし、この状態の座標系CをC6系とし、
磁石体の位置位置(x、y、z)と方位(θ、φ)を算出し、ハンドピース先端の位置Aが、指定された穴の方向に深さHの位置にあることを確認し、
(7)前記ハンドピースをC6系のZ軸に沿って、Hだけ戻し、次にY軸に沿って距離ABそのまま原点間距離ベクトル(-X、-Y、-Z)だけ移動させて、C4系のA点の位置に戻す動作において、動作中の移動距離を術者に伝えて
インプラント穴あけ加工をアシストすることを特徴とするハンドピース誘導アシストシステム。
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