JP7131625B2 - X-ray phase imaging system - Google Patents
X-ray phase imaging system Download PDFInfo
- Publication number
- JP7131625B2 JP7131625B2 JP2020552539A JP2020552539A JP7131625B2 JP 7131625 B2 JP7131625 B2 JP 7131625B2 JP 2020552539 A JP2020552539 A JP 2020552539A JP 2020552539 A JP2020552539 A JP 2020552539A JP 7131625 B2 JP7131625 B2 JP 7131625B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grating
- ray source
- grid
- projected
- ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/041—Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/52—Target size or shape; Direction of electron beam, e.g. in tubes with one anode and more than one cathode
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
本発明は、X線位相イメージング装置に関し、X線の可干渉性を高める格子を備えるX線位相イメージング装置に関する。 The present invention relates to an X-ray phase imaging apparatus, and more particularly to an X-ray phase imaging apparatus having a grating that enhances the coherence of X-rays.
従来、X線の可干渉性を高める格子を備えるX線位相イメージング装置が知られている。このようなX線位相イメージング装置は、たとえば、特開2012-16370号公報に開示されている。 Conventionally, an X-ray phase imaging apparatus is known that includes a grating that enhances the coherence of X-rays. Such an X-ray phase imaging apparatus is disclosed, for example, in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2012-16370.
特開2012-16370号公報のX線位相イメージング装置は、X線源と、X線源の照射方向に配置された検出器と、X線源とX線画像検出器との間において、X線源の近傍に設けられたマルチスリットと、マルチスリットと検出器との間に配置された格子とを含む複数の格子と、を備えている。マルチスリットは、X線源から照射されるX線の可干渉性を高めるために設けられている。特開2012-16370号公報のX線撮像装置は、複数の格子のいずれかを格子ピッチの方向に移動させながら、X線源から照射されたX線を複数の格子を用いて干渉させることにより、検出器において検出されるX線の強度変化を表す強度変調信号を取得する。 The X-ray phase imaging apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-16370 includes an X-ray source, a detector arranged in the irradiation direction of the X-ray source, and an X-ray image detector between the X-ray source and the X-ray image detector. A plurality of gratings including a multi-slit near the source and a grating positioned between the multi-slit and the detector. A multi-slit is provided to enhance the coherence of X-rays emitted from the X-ray source. The X-ray imaging apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-16370 uses a plurality of gratings to interfere X-rays emitted from an X-ray source while moving one of the plurality of gratings in the direction of the grating pitch. , to obtain an intensity-modulated signal representing the intensity variation of the X-rays detected at the detector.
特開2012-16370号公報のX線撮像装置は、複数の格子の間に被写体を置かない場合の強度変調信号と、被写体を置いた場合の強度変調信号と、の位相差に基づいて、被写体内部を画像化した位相コントラスト画像を生成するように構成されている。特開2012-16370号公報に記載のような従来のX線撮像装置は、X線の吸収量ではなく、X線の位相差を利用して、被写体内を画像化することによって、X線を吸収しにくい軽元素物体や生体軟部組織を画像化することが可能である。なお、位相コントラスト画像とは、吸収像と、位相微分像と、暗視野像とを含んでいる。吸収像とは、X線が被写体を通過した際に生じるX線の減衰に基づいて画像化した像である。また、位相微分像とは、X線が被写体を通過した際に発生するX線の位相のずれをもとに画像化した像である。また、暗視野像とは、物体の小角散乱に基づくVisibilityの変化によって得られる、Visibility像のことである。また、暗視野像は、小角散乱像とも呼ばれる。「Visibility」とは、鮮明度のことである。 The X-ray imaging apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-16370 detects an object based on the phase difference between an intensity-modulated signal when the object is not placed between a plurality of gratings and an intensity-modulated signal when the object is placed. It is configured to generate a phase-contrast image of the interior. A conventional X-ray imaging apparatus as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-16370 utilizes the phase difference of X-rays rather than the amount of absorption of X-rays to image the inside of a subject, thereby capturing X-rays. It is possible to image hard-to-absorb light element objects and biological soft tissues. Note that the phase contrast image includes an absorption image, a phase differential image, and a dark field image. An absorption image is an image formed based on attenuation of X-rays that occur when X-rays pass through an object. A phase differential image is an image formed based on the phase shift of X-rays generated when the X-rays pass through a subject. A dark-field image is a visibility image obtained by changes in visibility based on small-angle scattering of an object. A dark-field image is also called a small-angle scattering image. "Visibility" is definition.
ここで、被写体の詳細な構造を確認するために、被写体を拡大して撮像することが望まれる場合がある。この場合、鮮明度を高めることなく被写体を拡大して撮像すると、得られる画像の画質が劣化するという不都合がある。そこで、鮮明度を高めて撮像することにより、拡大した画像を撮像する場合でも、画質の低下を抑制することができる。鮮明度を高めるためには、X線源の焦点サイズを小さくすることが考えられる。しかしながら、特開2012-16370号公報では、X線源の可干渉性を高めるために、X線源にマルチスリットが設けられている。X線源にマルチスリットが備えられた構成においてX線源の焦点サイズを小さくすると、マルチスリットの格子パターンが解像され、画像上に縞模様として検出される。そのため、マルチスリットの格子パターンの縞模様によって、得られる画像の画質が劣化するという問題点がある。 Here, in order to check the detailed structure of the subject, it may be desired to take an enlarged image of the subject. In this case, there is a problem that the image quality of the obtained image is degraded if the subject is magnified and imaged without increasing the definition. Therefore, by capturing an image with increased sharpness, it is possible to suppress deterioration in image quality even when capturing an enlarged image. In order to improve definition, it is conceivable to reduce the focal size of the X-ray source. However, in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2012-16370, the X-ray source is provided with multi-slits in order to increase the coherence of the X-ray source. When the focal size of the X-ray source is reduced in a configuration in which the X-ray source is provided with multi-slits, the grid pattern of the multi-slits is resolved and detected as stripes on the image. Therefore, there is a problem that the image quality of the obtained image is degraded by the striped pattern of the grid pattern of the multi-slits.
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、X線源の焦点サイズを小さくすることにより鮮明度を高めて撮像する場合でも、得られる画像の画質が劣化することを抑制することが可能なX線位相イメージング装置を提供することである。 The present invention has been made to solve the above-described problems. An object of the present invention is to provide an X-ray phase imaging apparatus capable of suppressing .
上記目的を達成するために、この発明の第1の局面におけるX線位相イメージング装置は、被写体にX線を照射するX線源と、X線源から照射されたX線を検出する検出器と、X線源と検出器との間に配置され、X線源から照射されるX線を線光源にしてX線の可干渉性を高めるマルチスリットである第1格子と、第1格子からのX線が照射され自己像を形成する位相格子である第2格子とを含む複数の格子と、検出器によって検出された信号に基づいて位相コントラスト画像を生成する画像処理部と、を備え、位相コントラスト画像の鮮明度を高めるために、X線源の焦点サイズを小さくするように変更した場合に、X線源は、焦点サイズを小さくすることに起因して、X線が照射されることにより拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出される場合に、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが、検出器によって検出されないように、第1格子とX線源との相対的な配置が調整されるか、または、X線源の焦点サイズが増加するようにX線源の焦点サイズが調整される。 To achieve the above object, an X-ray phase imaging apparatus according to a first aspect of the present invention comprises an X-ray source that irradiates an object with X-rays, and a detector that detects the X-rays emitted from the X-ray source. , a first grating which is a multi-slit arranged between an X-ray source and a detector and uses the X-ray emitted from the X-ray source as a line source to increase the coherence of the X-ray; A plurality of gratings including a second grating that is a phase grating that is irradiated with X-rays and forms a self-image, and an image processing unit that generates a phase contrast image based on the signal detected by the detector, When the focus size of the X-ray source is changed to be smaller in order to increase the sharpness of the phase-contrast image, the X-ray source is irradiated with X-rays due to the smaller focus size. The first grating and the X-ray source are combined so that the enlarged and projected grating pattern of the first grating is not detected by the detector when the enlarged and projected grating pattern of the first grating is detected by are adjusted, or the focus size of the x-ray source is adjusted such that the focal size of the x-ray source is increased .
この発明の第1の局面におけるX線位相イメージング装置では、上記のように、位相コントラスト画像の鮮明度を高めるために、X線源の焦点サイズを小さくするように変更した場合に、X線源は、焦点サイズを小さくすることに起因して、X線が照射されることにより拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出される場合に、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが、検出器によって検出されないように、第1格子とX線源との相対的な配置が調整されるか、または、X線源の焦点サイズが増加するようにX線源の焦点サイズが調整される。これにより、X線源の焦点サイズを小さくすることにより鮮明度を高めて撮像した場合でも、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出器によって検出されることを抑制することができる。その結果、X線源の焦点サイズを小さくすることにより鮮明度を高めて撮像する場合でも、得られる画像の画質が劣化することを抑制することができる。 In the X-ray phase imaging apparatus according to the first aspect of the present invention, as described above, when the focus size of the X-ray source is changed to be smaller in order to increase the clarity of the phase contrast image, the X-ray source is due to the reduction of the focal spot size, when the grid pattern of the first grid magnified and projected is detected by irradiation with X-rays, the magnified and projected first grid The relative placement of the first grating and the X-ray source is adjusted so that the grating pattern is not detected by the detector, or the focus size of the X-ray source is increased so that the focus size of the X-ray source is increased. is adjusted. As a result, it is possible to prevent the enlarged and projected grid pattern of the first grid from being detected by the detector, even when imaging is performed with increased definition by reducing the focal size of the X-ray source. . As a result, it is possible to suppress the deterioration of the image quality of the obtained image even when the focus size of the X-ray source is reduced to increase the definition.
上記第1の局面におけるX線位相イメージング装置において、好ましくは、X線源は、検出器によって解像されることにより、拡大されて投影された第1格子の格子パターンの縞模様が検出されないように、第1格子とX線源との相対的な配置またはX線源の焦点サイズが調整される。このように構成すれば、第1格子とX線源との相対的な配置またはX線源の焦点サイズを調整することにより、拡大されて投影された第1格子の格子パターンの縞模様が検出器によって解像されることを抑制することができる。その結果、たとえば、肉眼で認識できない鮮明度において、拡大されて投影された第1格子の格子パターンの縞模様が検出器によって検出されることを抑制することが可能となるので、拡大されて投影された第1格子の格子パターンに起因して画像の画質が劣化することを、より抑制することができる。 In the X-ray phase imaging apparatus according to the first aspect, preferably, the X-ray source is resolved by the detector so that the fringe pattern of the enlarged and projected grid pattern of the first grid is not detected. Then, the relative placement of the first grating and the X-ray source or the focus size of the X-ray source is adjusted. With this configuration, by adjusting the relative arrangement of the first grating and the X-ray source or the focal size of the X-ray source, the enlarged and projected grid pattern of the first grating is detected. resolution by the instrument can be suppressed. As a result, for example, it is possible to suppress the stripe pattern of the enlarged and projected grid pattern of the first grid from being detected by the detector at a definition that cannot be recognized by the naked eye. It is possible to further suppress the deterioration of the image quality of the image due to the grid pattern of the first grid.
上記第1の局面におけるX線位相イメージング装置において、好ましくは、X線源は、X線の光軸方向において、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出器によって検出されない位置に、第1格子から離間して配置される。このように構成すれば、焦点サイズを小さくすることに起因して、X線が照射されることにより拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出される場合でも、拡大されて投影された第1格子の格子パターンの拡大率を小さくすることができる。その結果、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが解像されなくなるため、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出器によって検出されることを抑制することが可能となり、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出されることに起因して画像の画質が劣化することを抑制することができる。 In the X-ray phase imaging apparatus according to the first aspect, preferably, the X-ray source is positioned in the optical axis direction of the X-ray at a position where the magnified and projected grating pattern of the first grating is not detected by the detector, It is spaced apart from the first grid. With this configuration, even if the grid pattern of the first grid is detected as being magnified and projected due to the irradiation of the X-rays due to the reduction in the focus size, the grid pattern is magnified and projected. In addition, the magnification of the grid pattern of the first grid can be reduced. As a result, the enlarged and projected grid pattern of the first grid is not resolved, so that it is possible to suppress the detector from detecting the enlarged and projected grid pattern of the first grid, It is possible to suppress deterioration of the image quality of the image due to detection of the grid pattern of the first grid projected in an enlarged manner.
上記第1の局面におけるX線位相イメージング装置において、好ましくは、X線源は、拡大されて投影された第1格子の格子パターンの1周期が、検出器の画素サイズよりも小さくなるような拡大率となる位置に配置される。このように構成すれば、拡大されて投影された第1格子の格子パターンの1周期の大きさを、検出器の画素サイズよりも小さくすることが可能となるので、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出器によって検出されることをより抑制することができる。その結果、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出されることに起因して画像の画質が劣化することをより抑制することができる。 In the X-ray phase imaging apparatus according to the first aspect, preferably, the X-ray source is enlarged such that one period of the enlarged and projected grating pattern of the first grating is smaller than the pixel size of the detector. It is placed in a position that becomes a rate. With this configuration, it is possible to make the size of one period of the enlarged and projected grid pattern of the first grid smaller than the pixel size of the detector. It is possible to further suppress detection of the grid pattern of one grid by the detector. As a result, it is possible to further suppress deterioration in image quality due to detection of the grid pattern of the first grid projected in an enlarged manner.
この場合、好ましくは、X線源は、以下の式(1)~(3)を定義した場合、以下の式(4)を満たすような位置に配置される。
このように構成すれば、上記式(4)を満たす位置にX線源を配置することにより、拡大されて投影された第1格子の格子パターンの1周期の大きさを、検出器の画素サイズよりも容易に小さくすることができる。その結果、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出されることに起因して画像の画質が劣化することを、より容易に抑制することができる。In this case, the X-ray source is preferably placed at a position that satisfies the following equation (4) when the following equations (1) to (3) are defined.
With this configuration, by arranging the X-ray source at a position that satisfies the above formula (4), the size of one period of the enlarged and projected grid pattern of the first grid can be changed to the pixel size of the detector. can be easily made smaller. As a result, it is possible to more easily suppress the deterioration of the image quality of the image due to the detection of the grid pattern of the first grid projected in an enlarged manner.
上記第1の局面におけるX線位相イメージング装置において、好ましくは、X線源の焦点サイズの大きさに起因して生じる、拡大されて投影された第1格子の格子パターンのぼけ量が、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出器によって検出されなくなるぼけ量となるように、X線源の焦点サイズが設定される。このように構成すれば、焦点サイズを小さくすることに起因して、X線が照射されることにより拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出される場合でも、拡大されて投影された第1格子の格子パターンをぼけさせることができる。その結果、拡大されて投影された第1格子の格子パターンを検出器で検出できなくなるまでぼけさせることが可能となるので、拡大されて投影された第1格子の格子パターンに起因して、画像の画質が劣化することを抑制することができる。 In the X-ray phase imaging apparatus according to the first aspect, preferably, the amount of blurring of the enlarged and projected grating pattern of the first grating caused by the focal size of the X-ray source is enlarged. The focal spot size of the X-ray source is set such that the grid pattern of the first grid projected by 1 is a blur amount that is not detected by the detector. With this configuration, even if the grid pattern of the first grid is detected as being magnified and projected due to the irradiation of the X-rays due to the reduction in the focus size, the grid pattern is magnified and projected. The grid pattern of the first grid can be blurred. As a result, the enlarged and projected grid pattern of the first grid can be blurred until it cannot be detected by the detector. deterioration of image quality can be suppressed.
ここで、本願発明者らが鋭意検討した結果、ぼけ量が、拡大されて投影された第1格子の格子パターンの1周期の3.0倍以上となった場合に、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出器によって検出されないという知見を得た。この発明の第2の局面によるX線位相イメージング装置は、この知見に基づいて、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出器によって検出されなくなるぼけ量となるように、X線源の焦点サイズが設定される。すなわち、この発明による第2の局面によるX線位相イメージング装置は、被写体にX線を照射するX線源と、X線源から照射されたX線を検出する検出器と、X線源と検出器との間に配置され、X線源から照射されるX線の可干渉性を高める第1格子と、第1格子からのX線が照射される第2格子とを含む複数の格子と、検出器によって検出された信号に基づいて位相コントラスト画像を生成する画像処理部と、を備え、X線源は、焦点サイズを小さくすることに起因して、X線が照射されることにより拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出される場合に、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが、検出器によって検出されないように、第1格子とX線源との相対的な配置またはX線源の焦点サイズが調整され、X線源の焦点サイズの大きさに起因して生じる、拡大されて投影された第1格子の格子パターンのぼけ量が、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが前記検出器によって検出されなくなるぼけ量となるように、X線源の焦点サイズが設定され、X線源は、ぼけ量が、拡大されて投影された第1格子の格子パターンの1周期の3.0倍以上、の範囲となるように、X線源の焦点サイズが設定される。このように構成すれば、拡大されて投影された第1格子の格子パターンを、検出器によって検出されなくなるまで容易にぼけさせることができる。その結果、拡大されて投影された第1格子の格子パターンに起因して、画像の画質が劣化することを容易に抑制することができる。 Here, as a result of intensive studies by the inventors of the present application, when the amount of blur is 3.0 times or more of one period of the grid pattern of the enlarged and projected first grid, the enlarged and projected It was found that the grid pattern of the first grid was not detected by the detector. Based on this knowledge, the X-ray phase imaging apparatus according to the second aspect of the present invention provides an X-ray source so that the magnified and projected grid pattern of the first grid has a blur amount that is not detected by the detector. focal size is set . That is, the X-ray phase imaging apparatus according to the second aspect of the present invention comprises: an X-ray source for irradiating an object with X-rays; a detector for detecting the X-rays irradiated from the X-ray source; a plurality of gratings disposed between the vessel and including a first grating for enhancing the coherence of X-rays emitted from the X-ray source and a second grating for receiving X-rays from the first grating; an image processor that generates a phase-contrast image based on the signals detected by the detector, wherein the X-ray source is magnified by being irradiated with X-rays due to the reduction of the focal spot size. The relative relationship between the first grating and the X-ray source is such that when the grating pattern of the first grating projected as an enlarged projection is not detected by the detector, or the focal size of the X-ray source is adjusted, and the amount of blurring of the enlarged and projected grid pattern of the first grating caused by the size of the focal size of the X-ray source is enlarged and projected. The focal size of the X-ray source is set such that the grid pattern of the first grid is not detected by the detector, and the X-ray source is projected with an enlarged blur amount. The focal size of the X-ray source is set to a range of 3.0 times or more of one period of the grating pattern. With this configuration, the enlarged and projected grid pattern of the first grid can be easily blurred until it is no longer detected by the detector. As a result, it is possible to easily suppress deterioration in the image quality of the image due to the grid pattern of the first grid projected in an enlarged manner.
上記拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出器によって検出されなくなるぼけ量となるように、X線源の焦点サイズが設定される構成において、好ましくは、X線源は、拡大されて投影された第1格子の格子パターンの1周期が、検出器の画素サイズよりも大きくなる場合に、以下の式(5)により定義されるぼけ量の大きさが、以下の式(6)を満たすように、X線源の焦点サイズが設定される。
このように構成すれば、拡大されて投影された第1格子の格子パターンの1周期の大きさを、検出器の画素サイズよりも小さくすることが困難な場合でも、拡大されて投影された第1格子の格子パターンが検出器によって検出されることを容易に抑制することができる。その結果、X線源の焦点サイズsを、上記式(6)を満たす焦点サイズに調整することにより、拡大されて投影された第1格子の格子パターンに起因して画像の画質が劣化することを容易に抑制することができる。In the configuration in which the focal size of the X-ray source is set such that the enlarged and projected grid pattern of the first grid is a blur amount that is not detected by the detector, the X-ray source is preferably magnified. When one period of the grid pattern of the first grid projected by the following equation is larger than the pixel size of the detector, the magnitude of the blur amount defined by the following equation (5) is given by the following equation (6) The focal spot size of the X-ray source is set so as to satisfy
With this configuration, even if it is difficult to make the size of one period of the enlarged and projected grid pattern of the first grid smaller than the pixel size of the detector, the enlarged and projected first grid can be used. It is possible to easily suppress detection of a grid pattern of one grid by the detector. As a result, by adjusting the focus size s of the X-ray source to a focus size that satisfies the above formula (6), the image quality of the image is degraded due to the enlarged and projected grid pattern of the first grid. can be easily suppressed.
上記第1の局面におけるX線位相イメージング装置において、好ましくは、第2格子と、検出器との間に配置された第3格子をさらに含む。このように構成すれば、検出器の画素サイズの大きさが、第2格子の自己像の1周期の大きさよりも大きい場合でも、モアレ縞を検出することにより、位相コントラスト画像を生成することができる。その結果、検出器の画素サイズに依存することなく位相コントラスト画像を生成することが可能となるので、検出器の選択の自由度を向上させることができる。 The X-ray phase imaging apparatus according to the first aspect preferably further includes a third grating arranged between the second grating and the detector. With this configuration, even when the pixel size of the detector is larger than the size of one period of the self-image of the second grating, a phase contrast image can be generated by detecting moire fringes. can. As a result, a phase-contrast image can be generated without depending on the pixel size of the detector, so the degree of freedom in selecting detectors can be improved.
本発明によれば、上記のように、X線源の焦点サイズを小さくすることにより鮮明度を高めて撮像する場合でも、得られる画像の画質が劣化することを抑制することが可能なX線位相イメージング装置を提供することができる。 According to the present invention, as described above, X-rays capable of suppressing deterioration in image quality of an obtained image even when imaging is performed with increased definition by reducing the focal size of the X-ray source. A phase imaging device can be provided.
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。 Embodiments embodying the present invention will be described below with reference to the drawings.
[第1実施形態]
図1~図6を参照して、第1実施形態によるX線位相イメージング装置100の構成について説明する。[First embodiment]
The configuration of an X-ray
(X線位相イメージング装置の構成)
まず、図1を参照して、本発明の本実施形態によるX線位相イメージング装置100の構成について説明する。(Configuration of X-ray phase imaging device)
First, referring to FIG. 1, the configuration of an X-ray
図1に示すように、X線位相イメージング装置100は、タルボ(Talbot)効果を利用して、被写体Qの内部を画像化する装置である。X線位相イメージング装置100は、複数の格子のうち、いずれか1つを、格子の周期方向(Y方向)に並進移動させながら被写体Qを撮像するように構成されている。
As shown in FIG. 1, the X-ray
図1に示すように、X線位相イメージング装置100は、X線源1と、検出器2と、第1格子3と第2格子4とを含む複数の格子と、画像処理部5と、制御部6と、記憶部7と、格子移動機構8と、を備えている。なお、本明細書において、X線源1から第1格子3に向かう方向をZ2方向、その逆向きの方向をZ1方向とする。また、Z方向と直交する紙面内の左右方向をX方向とし、図1の紙面の奥に向かう方向をX2方向、図1の紙面の手前側に向かう方向をX1方向とする。また、Z方向と直交する面内の上下方向をY方向とし、上方向をY1方向、下方向をY2方向とする。
As shown in FIG. 1, the X-ray
X線源1は、高電圧が印加されることにより、X線を発生させるとともに、発生されたX線を被写体Qに向けて照射するように構成されている。なお、X線源1は、焦点サイズsが調整されることにより、得られる画像の鮮明度が調整される。焦点サイズsを小さくした場合、得られる画像の鮮明度を高めることができる。 The X-ray source 1 is configured to generate X-rays and irradiate a subject Q with the generated X-rays by applying a high voltage thereto. The sharpness of the obtained image is adjusted by adjusting the focus size s of the X-ray source 1 . If the focal spot size s is reduced, the definition of the resulting image can be enhanced.
第1格子3は、Y方向に所定の周期(ピッチ)p0で配列される複数のスリット3aおよび、X線吸収部3bを有している。各スリット3aおよびX線吸収部3bはそれぞれ、X方向に沿って直線状に延びるように形成されている。また、各スリット3aおよびX線吸収部3bはそれぞれ、互いに平行に延びるように形成されている。第1格子3は、いわゆる吸収格子である。第1格子3には、X線源1からX線が照射される。第1格子3は、各スリット3aを通過したX線を、各スリット3aの位置に対応する線光源とするように構成されている。
The
第2格子4は、第1格子3と、検出器2との間に配置されており、第1格子3を通過したX線が照射される。第2格子4は、タルボ効果により、第2格子4の自己像(図示せず)を形成するために設けられている。可干渉性を有するX線が、スリットが形成された格子を通過すると、格子から所定の距離(タルボ距離)離れた位置に、格子の像(自己像)が形成される。これをタルボ効果という。
The
第2格子4は、Y方向に所定の周期(ピッチ)p3で配列される複数のスリット4aおよび、X線位相変化部4bを有している。各スリット4aおよびX線位相変化部4bはそれぞれ、X方向に沿って直線状に延びるように形成されている。また、各スリット4aおよびX線位相変化部4bはそれぞれ、互いに平行に延びるように形成されている。第2格子4は、いわゆる位相格子である。第1格子3、第2格子4はそれぞれ異なる役割を持つ格子であるが、スリット3aおよびスリット4aはそれぞれX線を透過させる。また、X線吸収部3bはX線を遮蔽する役割を担っており、X線位相変化部4bはスリット4aとの屈折率の違いによってX線の位相を変化させる。The
検出器2は、X線を検出するとともに、検出されたX線を電気信号に変換し、変換された電気信号を画像信号として読み取るように構成されている。検出器2は、たとえば、FPD(Flat Panel Detector)である。検出器2は、複数の変換素子(図示せず)と複数の変換素子上に配置された画素電極(図示せず)とにより構成されている。複数の変換素子および画素電極は、所定の周期(画素サイズp2)で、X方向およびY方向にアレイ状に配列されている。また、検出器2は、取得した画像信号を、画像処理部5に出力するように構成されている。The
画像処理部5は、検出器2から出力された画像信号に基づいて、位相コントラスト画像15(図4参照)を生成するように構成されている。第1実施形態では、画像処理部5は、たとえば、位相コントラスト画像15として、吸収像15a(図4参照)、位相微分像15b(図4参照)および暗視野像15c(図4参照)を生成する。画像処理部5は、たとえば、GPU(Graphics Processing Unit)または画像処理用に構成されたFPGA(Field-Programmable Gate Array)などのプロセッサを含む。
The
制御部6は、格子移動機構8を制御して、第2格子4を移動させるように構成されている。制御部6は、たとえば、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)およびRAM(Random Access Memory)などを含む。
The controller 6 is configured to control the
記憶部7は、画像処理部5が生成した位相コントラスト画像15などを保存するように構成されている。記憶部7は、たとえば、HDD(Hard Disk Drive)や不揮発性のメモリなどを含む。
The
格子移動機構8は、制御部6の制御の下、第2格子4を移動可能に構成されている。また、格子移動機構8は、第2格子4を保持している。
The
(格子移動機構)
図2に示すように、格子移動機構8は、X方向、Y方向、Z方向、Z方向の軸線周りの回転方向Rz、X方向の軸線周りの回転方向Rx、および、Y方向の軸線周りの回転方向Ryに第1格子3を移動可能に構成されている。具体的には、格子移動機構8は、X方向直動機構80と、Y方向直動機構81と、Z方向直動機構82と、直動機構接続部83と、ステージ支持部駆動部84と、ステージ支持部85と、ステージ駆動部86と、ステージ87とを含む。X方向直動機構80は、X方向に移動可能に構成されている。X方向直動機構80は、たとえば、モータなどを含む。Y方向直動機構81は、Y方向に移動可能に構成されている。Y方向直動機構81は、たとえば、モータなどを含む。Z方向直動機構82は、Z方向に移動可能に構成されている。Z方向直動機構82は、たとえば、モータなどを含む。(Grid moving mechanism)
As shown in FIG. 2, the grating moving
格子移動機構8は、X方向直動機構80の動作により、第1格子3をX方向に移動させるように構成されている。また、格子移動機構8は、Y方向直動機構81の動作により、第1格子3をY方向に移動させるように構成されている。また、格子移動機構8は、Z方向直動機構82の動作により、第1格子3をZ方向に移動させるように構成されている。
The
ステージ支持部85は、ステージ87を下方(Y1方向)から支持している。ステージ駆動部86は、ステージ87をX方向に往復移動させるように構成されている。ステージ87は、底部がステージ支持部85に向けて凸曲面状に形成されており、X方向に往復移動されることにより、Z方向の軸線周り(Rz方向)に回動するように構成されている。また、ステージ支持部駆動部84は、ステージ支持部85をZ方向に往復移動させるように構成されている。また、ステージ支持部85は底部が直動機構接続部83に向けて凸曲面状に形成されており、Z方向に往復移動されることにより、X方向の軸線周り(Rx方向)に回動するように構成されている。また、直動機構接続部83は、Y方向の軸線周り(Ry方向)に回動可能にX方向直動機構80に設けられている。したがって、格子移動機構8は、格子をY方向の中心軸線周りに回動させることができる。
The
ここで、被写体Qを拡大して撮像する場合、鮮明度を高めることなく拡大して撮像すると、得られる位相コントラスト画像15が不鮮明となる場合がある。そこで、得られる位相コントラスト画像15の鮮明度を高めることが考えられる。X線源1の焦点サイズsを小さくすることにより、得られる位相コントラスト画像15の鮮明度を高めることができる。しかしながら、X線源1の焦点サイズsを小さくした場合、第1格子3が解像されることにより、検出器2において、第1格子3の格子パターン9(図1参照)が拡大されて投影される。拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の周期p1(図1参照)の大きさによっては、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2によって検出される場合がある。以下、図3を参照して、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2によって検出される場合について説明する。Here, when the object Q is imaged by enlarging it, if it is imaged by enlarging it without increasing the definition, the obtained
(第1比較例)
図3は、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2によって検出される場合の比較例によるX線位相イメージング装置200をX方向から見た模式図である。図3に示すように、X線位相イメージング装置200は、X線源11と、検出器12と、第1格子13と、制御部(図示せず)と、記憶部(図示せず)と、格子移動機構(図示せず)とを備える。なお、図3に示すX線源11と、検出器12と、第1格子13とは、それぞれ、図1に示すX線位相イメージング装置100が備えるX線源1と、検出器2と、第1格子3と、同様の構成である。(First comparative example)
FIG. 3 is a schematic diagram of an X-ray
図3に示す例は、X線源1と、第1格子13との間の距離が、距離R1となる位置に第1格子13を配置している。また、図3に示す例は、X線源11と検出器14との間の距離が、距離R2となる位置に検出器14を配置している。In the example shown in FIG. 3, the
図3では、第1格子13は、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン19の1周期p4の大きさが、検出器12の画素サイズp2の大きさよりも大きくなる例を示している。拡大されて投影された第1格子13の格子パターン19の1周期p4の大きさが、検出器12の画素サイズp2よりも大きくなる場合、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン19が解像され、生成される位相コントラスト画像15において、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が縞模様SP(図4参照)として検出される。In FIG. 3, the
図4(A)は、第1比較例によるX線位相イメージング装置200によって得られる吸収像15aの模式図である。図4(B)は、第1比較例によるX線位相イメージング装置200によって得られる位相微分像15bの模式図である。図4(C)は、第1比較例によるX線位相イメージング装置200によって得られる暗視野像15cの模式図である。図4(A)~図4(C)に示す各位相コントラスト画像15において、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因する縞模様SPが検出される。そのため、位相コントラスト画像15の画質が劣化している。
FIG. 4A is a schematic diagram of an
そこで、第1実施形態では、X線源1は、焦点サイズsを小さくすることに起因して、X線が照射されることにより拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出される場合に、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が、検出器2によって検出されないように、第1格子3とX線源1との相対的な配置が調整される。具体的には、X線源1は、検出器2によって解像されることにより、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPが検出されないように、第1格子3とX線源1との相対的な配置が調整される。
Therefore, in the first embodiment, the X-ray source 1 detects the
図5に示すように、第1実施形態では、X線源1は、X線の光軸方向(Z方向)において、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2によって検出されない位置に、第1格子3から離間して配置される。具体気には、X線源1は、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1が、検出器2の画素サイズp2よりも小さくなるような拡大率mとなる位置に配置される。より具体的には、X線源1は、以下の式(1)~(3)を定義した場合、以下の式(4)を満たすような位置に配置される。なお、図5には、比較のために、第1比較例によるX線位相イメージング装置200におけるX線源11を破線で図示している。
図5に示すように、上記式(4)を満たす位置にX線源1を配置した場合、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1が、検出器2の画素サイズp2よりも小さくなる。そのため、検出器2によって拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出されなくなる。なお、X線源1と第1格子3との間の距離r0を遠ざけると、検出器2に到達するX線の線量が低下する。そのため、X線の線量不足に起因する位相コントラスト画像15の画質の劣化を抑制するために、撮像時間を長くしなければならない。しかしながら、撮像時間を長くすると、被ばく量が増加するため、好ましくない。As shown in FIG. 5, when the X-ray source 1 is placed at a position that satisfies the above formula (4), one period p 1 of the
そこで、第1実施形態では、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因する位相コントラスト画像15の画質の劣化を抑制しつつ、被ばく量を増加させないために、上記式(4)におけるnが1に近づくような相対位置にX線源1と第1格子3とを配置する。好ましくは、n=1となる相対位置にX線源1と第1格子3とを配置する。また、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因する位相コントラスト画像15の画質の劣化をより抑制したい場合には、nが0.8~0.9となる位置に相対位置にX線源1と第1格子3とを配置してもよい。すなわち、nの値が、以下の式(7)を満たすような相対位置に、相対位置にX線源1と第1格子3とを配置すればよい。
図6(A)は、第1実施形態によるX線位相イメージング装置100によって得られる吸収像15aの模式図である。図6(B)は、第1実施形態によるX線位相イメージング装置100によって得られる位相微分像15bの模式図である。図6(C)は、第1実施形態によるX線位相イメージング装置100によって得られる暗視野像15cの模式図である。図6(A)~図6(C)に示す各位相コントラスト画像15では、図4(A)~図4(C)に示す各位相コントラスト画像15と異なり、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因する縞模様SPが検出されていない。したがって、上記式(4)を満たす位置にX線源1を配置することにより、鮮明度を高めた場合でも、位相コントラスト画像15の画質が劣化することを抑制することができる。
FIG. 6A is a schematic diagram of an
(第1実施形態の効果)
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。(Effect of the first embodiment)
The following effects can be obtained in the first embodiment.
第1実施形態では、上記のように、X線位相イメージング装置100は、被写体QにX線を照射するX線源1と、X線源1から照射されたX線を検出する検出器2と、X線源1と検出器2との間に配置され、X線源1から照射されるX線の可干渉性を高める第1格子3と、第1格子3からのX線が照射される第2格子4とを含む複数の格子と、検出器2によって検出された信号に基づいて位相コントラスト画像15を生成する画像処理部5と、を備え、X線源1は、焦点サイズsを小さくすることに起因して、X線が照射されることにより拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出される場合に、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が、検出器2によって検出されないように、第1格子3とX線源1との相対的な配置が調整される。これにより、X線源1の焦点サイズsを小さくすることにより鮮明度を高めて撮像した場合でも、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2によって検出されることを抑制することができる。その結果、X線源1の焦点サイズsを小さくすることにより鮮明度を高めて撮像する場合でも、得られる位相コントラスト画像15の画質が劣化することを抑制することができる。
In the first embodiment, as described above, the X-ray
また、第1実施形態では、上記のように、X線源1は、検出器2によって解像されることにより、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPが検出されないように、第1格子3とX線源1との相対的な配置が調整される。これにより、第1格子3とX線源1との相対的な配置を調整することにより、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPが検出器2によって解像されることを抑制することができる。その結果、たとえば、肉眼で認識できない鮮明度において、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPが検出器2によって検出されることを抑制することが可能となるので、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因して位相コントラスト画像15の画質が劣化することを、より抑制することができる。
Further, in the first embodiment, as described above, the X-ray source 1 is resolved by the
また、第1実施形態では、上記のように、X線源1は、X線の光軸方向(Z方向)において、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2によって検出されない位置に、第1格子3から離間して配置される。これにより、焦点サイズsを小さくすることに起因して、X線が照射されることにより拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出される場合でも、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の拡大率mを小さくすることができる。その結果、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が解像されなくなるため、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2によって検出されることを抑制することが可能となり、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出されることに起因して画像の画質が劣化することを抑制することができる。
In the first embodiment, as described above, the X-ray source 1 uses the
また、第1実施形態では、上記のように、X線源1は、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1が、検出器2の画素サイズp2よりも小さくなるような拡大率mとなる位置に配置される。これにより、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の大きさを、検出器2の画素サイズp2よりも小さくすることが可能となるので、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2によって検出されることをより抑制することができる。その結果、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出されることに起因して位相コントラスト画像15の画質が劣化することをより抑制することができる。In addition, in the first embodiment, as described above, the X-ray source 1 is such that one period p 1 of the
また、第1実施形態では、上記のように、X線源1は、上記式(1)~(3)を定義した場合、上記式(4)を満たすような位置に配置される。これにより、上記式(4)を満たす位置にX線源1を配置することにより、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の大きさを、検出器2の画素サイズp2よりも容易に小さくすることができる。その結果、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出されることに起因して位相コントラスト画像15の画質が劣化することを、より容易に抑制することができる。Further, in the first embodiment, as described above, the X-ray source 1 is arranged at a position that satisfies the above equation (4) when the above equations (1) to (3) are defined. As a result, by arranging the X-ray source 1 at a position that satisfies the above formula (4), the size of one period p1 of the enlarged and projected
[第2実施形態]
次に、図1および図7~図9を参照して、第2実施形態によるX線位相イメージング装置300(図1参照)の構成について説明する。拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2において検出されなくなるようにX線源1と第1格子3との間の距離r0を調整する第1実施形態と異なり、第2実施形態によるX線位相イメージング装置300では、X線が照射されることにより拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が、検出器2によって検出されないように、X線源1の焦点サイズsが調整される。なお、上記第1実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、説明を省略する。[Second embodiment]
Next, the configuration of the X-ray phase imaging apparatus 300 (see FIG. 1) according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 7 to 9. FIG. Unlike the first embodiment in which the distance r0 between the X-ray source 1 and the
図1に示すように、X線位相イメージング装置300は、X線源1と、検出器2と、第1格子3と、第2格子4と、画像処理部5と、制御部6と、記憶部7と、格子移動機構8とを備える。X線位相イメージング装置300は、X線源1と第1格子3との間の距離r0およびX線源1の焦点サイズsが異なる点を除いて、第1実施形態によるX線位相イメージング装置100と同様の構成である。As shown in FIG. 1, the X-ray
第2実施形態では、X線が照射されることにより拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が、検出器2によって検出されないように、X線源1の焦点サイズsが調整される。具体的には、X線源1の焦点サイズsの大きさに起因して生じる、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2によって検出されなくなるぼけ量bとなるように、X線源1の焦点サイズsが設定される。
In the second embodiment, the focal size s of the X-ray source 1 is adjusted so that the
ここで、図7を参照して、ぼけ量bについて説明する。図7に示すように、X線源1のY1方向側から照射されるX線XR1と、X線源1のY2方向側から照射されるX線XR2とでは、第1格子3の同一箇所に向けて照射された場合でも、検出器2において到達するY方向の位置が異なる。検出器2において到達する位置が異なるため、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の輪郭がぼける。拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の輪郭がぼける量が、ぼけ量bである。ぼけ量bが小さい場合、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPの輪郭が鮮明となり、縞模様SPが鮮明に検出される。一方、ぼけ量bが大きい場合、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の輪郭が不鮮明となり、縞模様SPが鮮明に検出されなくなり、ぼけ量bが所定の大きさ以上になると、縞模様SPとして検出されなくなる。
Here, the blur amount b will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 7, the X-ray XR1 emitted from the X-ray source 1 in the Y1 direction and the X-ray XR2 emitted from the X-ray source 1 in the Y2 direction are at the same location on the
拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bは、以下に示す式(5)により取得される。
鮮明度を高めて撮像することにより、位相コントラスト画像15を取得する場合、X線源1の焦点サイズsを小さくすることが考えらえる。以下、図8を参照して、X線源の焦点サイズを小さくした場合のぼけ量bについて説明する。
When acquiring the
(第2比較例)
図8に示すX線位相イメージング装置400は、X線源21と、検出器22と、第1格子33と、を備えている。X線源21は、焦点サイズscが、上記第1実施形態によるX線源1の焦点サイズsよりも小さい点を除いて、X線源1と同様の構成である。また、検出器22、および第1格子33は、それぞれ、上記第1実施形態による検出器2および第1格子3と同様の構成である。(Second comparative example)
An X-ray
図8に示す例では、X線源21の焦点サイズscが、X線源1の焦点サイズsよりも小さい場合を示している。図8に示す構成においても、X線源21の焦点サイズscとぼけ量bcとの関係は、上記式(5)と同様である。したがって、X線源21の焦点サイズscが小さくなると、拡大されて投影された第1格子13の格子パターン9のぼけ量bcが小さくなる。拡大されて投影された第1格子13の格子パターン9のぼけ量bcが小さくなると、拡大されて投影された第1格子13の格子パターン9の縞模様SP(図示せず)が鮮明となるため、位相コントラスト画像15において、拡大されて投影された第1格子13の格子パターン9の縞模様SPが検出される。
The example shown in FIG. 8 shows the case where the focus size sc of the
ここで、本発明の発明者らは、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の3.0倍以上の範囲となる場合に、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2によって検出されなくなるという知見を得た。Here, the inventors of the present invention found that the blur amount b of the enlarged and projected
上記知見に基づいて、第2実施形態では、X線源1は、ぼけ量bが、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の3.0倍以上の範囲となるように、X線源1の焦点サイズsが設定される。具体的には、X線源1は、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1が、検出器2の画素サイズp2よりも大きくなる場合に、上記式(5)により定義されるぼけ量bの大きさが、以下の式(6)を満たすように、X線源1の焦点サイズsが設定される。
なお、X線源1および複数の格子の配置によっては、ぼけ量bが拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の3.0倍となるようにX線源1の焦点サイズsを調整したとしても、第1格子3の格子パターン9が検出される場合がある。そのような場合は、第1格子3の格子パターン9が検出されないようなぼけ量bの大きさとなるように、X線源1の焦点サイズsを調整すればよい。たとえば、ぼけ量bの大きさが、ぼけ量bが拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の6.5倍となるように、X線源1の焦点サイズsを調整すればよい。また、ぼけ量bの上限については、特に制限はないが、得られる位相コントラスト画像15の画質の劣化が許容できる範囲において、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出されないようにX線源1の焦点サイズsを調整すればよい。Depending on the arrangement of the X-ray source 1 and the plurality of gratings, the X-ray source may be adjusted such that the amount of blur b is 3.0 times the one period p 1 of the
第1実施形態では、X線源1と第1格子3との間の距離r0を大きくすることにより、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9を検出器2において検出されなくする構成であった。しかしながら、たとえば、鮮明度を高めるために、X線源1の焦点サイズsを小さく設定する際に、X線源1と第1格子3とを、上記式(4)を満たす位置にX線源1を配置できない場合がある。その場合でも、上記式(6)を満たす焦点サイズsに設定することにより、位相コントラスト画像15の鮮明度を高めつつ、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因して位相コントラスト画像15の画質の劣化を抑制することができる。In the first embodiment, by increasing the distance r0 between the X-ray source 1 and the
なお、図7に示すX線源1は、第1実施形態におけるX線源1の焦点サイズs(図1参照)および第2比較例におけるX線源21の焦点サイズsc(図8参照)よりも焦点サイズsを大きく図示している。これは、第1実施形態におけるX線源1の焦点サイズsおよび第2比較例におけるX線源21の焦点サイズscが、鮮明度を高めるために焦点サイズsおよび焦点サイズscを小さくしているからである。なお、第2実施形態におけるX線源1の焦点サイズsは、一般的なX線撮像を行う際のX線源の焦点サイズよりも小さく設定される。すなわち、第2実施形態におけるX線源1の焦点サイズsは、鮮明度を高めるために、通常のX線撮影を行う際の焦点サイズよりも小さく設定され、かつ、ぼけ量bを上記式(6)の範囲とするために、上記第1実施形態におけるX線源1の焦点サイズsよりも大きく設定される。
The X-ray source 1 shown in FIG. 7 has a focal size s (see FIG. 1) of the X-ray source 1 in the first embodiment and a focal size sc (see FIG. 8) of the
(実験例)
次に、図9を参照して、上記知見を得た実験について説明する。(Experimental example)
Next, with reference to FIG. 9, an experiment for obtaining the above knowledge will be described.
図9は、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bの範囲を取得するために、X線源1の焦点サイズsを変更して撮像したX線画像17およびX線画像17をフーリエ変換(FT)することにより得られたフーリエ変換画像18である。なお、フーリエ変換画像18には、0次ピーク30と、1次ピーク31とが写っている。フーリエ変換画像18における0次ピーク30と1次ピーク31とのうち、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPに起因するピークが1次ピーク31である。
FIG. 9 shows an
図9に示す実験例では、X線画像17における拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPの有無を、フーリエ変換画像18における1次ピーク31が検出されたか否かによって判定している。すなわち、肉眼において拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPが確認できない場合でも、フーリエ変換画像18において1次ピーク31が編出された場合には、X線画像17において拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPが検出されとみなす。
In the experimental example shown in FIG. 9, the presence or absence of the striped pattern SP of the
なお、図9に示す例では、X線源1と検出器2との間の距離Rが、1120mmとなる位置にX線源1および検出器2を配置して実験を行った。また、図9に示す例では、X線源1と、第1格子3との間の距離r0が、100mmとなる位置に、X線源1および第1格子3を配置して実験を行った。また、図9に示す例では、格子周期p0が、9μmである第1格子3を用いて実験を行った。また、図9に示す例では、画素サイズp2が75μmである検出器2を用いて実験を行った。以上の条件により、図9に示す例では、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の周期p1が100.8μmとなり、上記式(4)におけるnが、1.34となる条件において実験を行った。In the example shown in FIG. 9, the experiment was conducted with the X-ray source 1 and the
図9(A)に示す例は、X線源1の焦点サイズsを10μmに設定して撮像されたX線画像17aの模式図である。X線源1の焦点サイズsが10μmに設定されているため、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、102μmとなった。すなわち、X線画像17aは、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の1.01倍となるように、X線源1の焦点サイズsを調整した例である。X線画像17aでは、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPが確認できた。The example shown in FIG. 9A is a schematic diagram of an
X線画像17aをフーリエ変換して得られたフーリエ変換画像18aでは、0次ピーク30と、1次ピーク31とが確認できた。したがって、X線源1の焦点サイズsを10μmに設定した場合には、X線画像17aにおいて、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPを確認することができたとともに、フーリエ変換画像18aにおいても、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因する1次ピーク31が確認できた。
A 0th-
図9(B)に示す例は、X線源1の焦点サイズsを12μmに設定したため、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、122μmとなったX線画像17bの模式図である。すなわち、X線画像17bは、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の1.21倍となるように、X線源1の焦点サイズsを調整した例である。X線画像17bにおいても、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPが確認できた。In the example shown in FIG. 9(B), since the focus size s of the X-ray source 1 is set to 12 μm, the blur amount b of the enlarged and projected
X線画像17bをフーリエ変換して得られたフーリエ変換画像18bでは、0次ピーク30と、1次ピーク31とが確認できた。したがって、X線源1の焦点サイズsを12μmに設定した場合には、X線画像17bにおいて、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPを確認することができたとともに、フーリエ変換画像18bにおいても、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因する1次ピーク31が確認できた。
A
図9(C)に示す例は、X線源1の焦点サイズsを14μmに設定したため、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、143μmとなったX線画像17cの模式図である。すなわち、X線画像17cは、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の1.42倍となるように、X線源1の焦点サイズsを調整した場合の例である。X線画像17cにおいても、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPが確認できた。In the example shown in FIG. 9(C), since the focus size s of the X-ray source 1 is set to 14 μm, the blur amount b of the enlarged and projected
X線画像17cをフーリエ変換して得られたフーリエ変換画像18cでは、0次ピーク30と、1次ピーク31とが確認できた。したがって、X線源1の焦点サイズsを14μmに設定した場合には、X線画像17cにおいて、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPを確認することができたとともに、フーリエ変換画像18Cにおいても、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因する1次ピーク31が確認できた。
A
図9(D)に示す例は、X線源1の焦点サイズsを16μmに設定したため、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、163μmとなったX線画像17dの模式図である。すなわち、X線画像17dは、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の1.62倍となるように、X線源1の焦点サイズsを調整した場合の例である。X線画像17dにおいては、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPは確認できなかった。In the example shown in FIG. 9(D), since the focus size s of the X-ray source 1 is set to 16 μm, the blur amount b of the enlarged and projected
X線画像17dをフーリエ変換して得られたフーリエ変換画像18dでは、0次ピーク30と、1次ピーク31とが確認できた。X線源1の焦点サイズsを16μmに設定した場合には、X線画像17dにおいて、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPを確認することがでなかった。しかし、フーリエ変換画像18bにおいては、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因する1次ピーク31が確認できた。
A
図9(E)に示す例は、X線源1の焦点サイズsが30μmに設定されているため、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、306μmとなっているX線画像17e。したがって、X線画像17eは、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の3.04倍となるように、X線源1の焦点サイズsを調整した場合の例である。In the example shown in FIG. 9(E), the focus size s of the X-ray source 1 is set to 30 μm, so the blur amount b of the enlarged and projected
X線画像17eをフーリエ変換して得られたフーリエ変換画像18eでは、0次ピーク30は確認できたが、1次ピーク31は確認できなかった。X線源1の焦点サイズsを30μmに設定した場合には、X線画像17eにおいて、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の縞模様SPを確認することができなかったとともに、フーリエ変換画像18eにおいても、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因する1次ピーク31が確認できなかった。
In the
図9(A)~図9(E)に示すように、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが大きくなるにつれて、X線画像17における縞模様SPが不鮮明となった。ぼけ量bが、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の1.6倍以上になった場合に、肉眼で確認することができなくなった。また、フーリエ変換画像18においては、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが大きくなるにつれて、1次ピーク31の強度(信号強度)が小さくなった。ぼけ量bが、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の3倍以上になった場合に、1次ピーク31が検出されなくなった。なお、図9に示す例では、便宜上、1次ピーク31の強度(信号強度)を、1次ピーク31の大きさおよび図示する線の太さで表現している。これらにより、ぼけ量bの範囲が上記式(6)に示す範囲となる場合に、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出されなくなるという実験結果を得た。As shown in FIGS. 9A to 9E, as the blur amount b of the enlarged and projected
なお、第2実施形態のその他の構成は、上記第1実施形態と同様である。 Other configurations of the second embodiment are the same as those of the first embodiment.
(第2実施形態の効果)
第2実施形態では、以下のような効果を得ることができる。(Effect of Second Embodiment)
The following effects can be obtained in the second embodiment.
第2実施形態では、上記のように、被写体QにX線を照射するX線源1と、X線源1から照射されたX線を検出する検出器2と、X線源1と検出器2との間に配置され、X線源1から照射されるX線の可干渉性を高める第1格子3と、第1格子3からのX線が照射される第2格子4とを含む複数の格子と、検出器2によって検出された信号に基づいて位相コントラスト画像15を生成する画像処理部5と、を備え、X線源1は、焦点サイズsを小さくすることに起因して、X線が照射されることにより拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出される場合に、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が、検出器2によって検出されないように、X線源1の焦点サイズsが調整される。これにより、上記第1実施形態によるX線位相イメージング装置100と同様に、X線源1の焦点サイズsを小さくすることにより鮮明度を高めて撮像する場合でも、得られる位相コントラスト画像15の画質が劣化することを抑制することができる。
In the second embodiment, as described above, the X-ray source 1 that irradiates the subject Q with X-rays, the
また、第2実施形態では、上記のように、X線源1の焦点サイズsの大きさに起因して生じる、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9のぼけ量bが、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2によって検出されなくなるぼけ量bとなるように、X線源1の焦点サイズsが設定される。こにより、焦点サイズsを小さくすることに起因して、X線が照射されることにより拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出される場合でも、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9をぼけさせることができる。その結果、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9を検出器2で検出できなくなるまでぼけさせることが可能となるので、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因して、位相コントラスト画像15の画質が劣化することを抑制することができる。
Further, in the second embodiment, as described above, the blur amount b of the enlarged and projected
また、第2実施形態では、上記のように、X線源1は、ぼけ量bが、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の3.0倍以上の範囲となるように、X線源1の焦点サイズsが設定される。これにより、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9を、検出器2によって検出されなくなるまで容易にぼけさせることができる。その結果、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因して、位相コントラスト画像15の画質が劣化することを容易に抑制することができる。Further, in the second embodiment, as described above, the X-ray source 1 has a blur amount b of 3.0 times or more of one period p1 of the
また、第2実施形態では、上記のように、X線源1は、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1が、検出器2の画素サイズp2よりも大きくなる場合に、上記式(5)により定義されるぼけ量bの大きさが、上記式(6)を満たすように、X線源1の焦点サイズsが設定される。これにより、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9の1周期p1の大きさを、検出器2の画素サイズp2よりも小さくすることが困難な場合でも、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9が検出器2によって検出されることを容易に抑制することができる。その結果、X線源1の焦点サイズsを、上記式(6)を満たす焦点サイズsに調整することにより、拡大されて投影された第1格子3の格子パターン9に起因して位相コントラスト画像15の画質が劣化することを容易に抑制することができる。In addition, in the second embodiment, as described above, the X-ray source 1 is such that one period p 1 of the
(変形例)
なお、今回開示された実施形態および実験例は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態および実験例の説明ではなく、請求の範囲によって示され、さらに請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。(Modification)
It should be noted that the embodiments and experimental examples disclosed this time should be considered illustrative in all respects and not restrictive. The scope of the present invention is indicated by the scope of the claims rather than the description of the above-described embodiments and experimental examples, and includes all changes (modifications) within the meaning and scope equivalent to the scope of the claims.
たとえば、上記第1および第2実施形態では、複数の格子として、第1格子3および第2格子4を含む構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図10に示すX線位相イメージング装置500のように、第2格子4と検出器2との間に、第3格子25を設ける構成でもよい。第3格子25は、Y方向に所定の周期(ピッチ)p5で配列される複数のスリット25aおよびX線吸収部25bを有している。各スリット25aおよびX線吸収部25bはそれぞれ、X方向に沿って直線状に延びるように形成されている。また、各スリット25aおよびX線吸収部25bはそれぞれ、互いに平行に延びるように形成されている。また、第3格子25は、第2格子4と検出器2との間に配置されており、第2格子4を通過したX線が照射される。また、第3格子25は、第2格子4からタルボ距離離れた位置に配置される。第3格子25は、第2格子4の自己像と干渉して、検出器2の検出表面上にモアレ縞(図示せず)を形成する。これにより、検出器2の画素サイズp2の大きさが、第2格子4の自己像の1周期の大きさよりも大きい場合でも、モアレ縞を検出することにより、位相コントラスト画像15(吸収像15a、位相微分像15bおよび暗視野像15c)を生成することができる。その結果、検出器2の画素サイズp2に依存することなく位相コントラスト画像15(吸収像15a、位相微分像15bおよび暗視野像15c)を生成することが可能となるので、検出器2の選択の自由度を向上させることができる。For example, in the above-described first and second embodiments, examples of configurations including the
また、上記第1および第2実施形態では、格子移動機構8が第2格子4を移動させる構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、格子移動機構8によって、第1格子3をY方向に移動させて撮像するように構成されていてもよい。また、複数の格子として、第3格子25(図10参照)を備える場合、格子移動機構8によって、第3格子25をY方向に移動させて撮像するように構成されていてもよい。
Further, in the above-described first and second embodiments, an example of a configuration in which the
また、上記第1および第2実施形態では、第2格子4が位相格子である構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第2格子4は、吸収格子であってもよい。
Also, in the above-described first and second embodiments, the
また、上記第1および第2実施形態では、格子移動機構8によって第2格子4を移動させながら撮像する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第2格子4をX線の光軸方向周りにわずかに回転させることにより生じるモアレ縞を利用したモアレ1枚撮り手法においても、本発明を適用することが可能である。
Further, in the above-described first and second embodiments, an example of a configuration in which an image is captured while the
1 X線源
2 検出器
3 第1格子
4 第2格子
6 画像処理部
9 拡大されて投影された第1格子の格子パターン
15 位相コントラスト画像
25 第3格子
100、300、500 X線位相イメージング装置
b ぼけ量
m 第1格子の拡大率
n 拡大されて投影された第1格子の格子パターンに含まれる画素数
p0 第1格子の格子周期
p1 拡大されて投影された第1格子の格子パターンの格子周期
p2 検出器の画素サイズ
Q 被写体
R X線源と検出器との間の距離
r0 X線源と第1格子との間の距離
s X線源の焦点サイズ
SP 拡大されて投影された第1格子の格子パターンの縞模様REFERENCE SIGNS LIST 1
Claims (9)
前記X線源から照射されたX線を検出する検出器と、
前記X線源と前記検出器との間に配置され、前記X線源から照射されるX線を線光源にしてX線の可干渉性を高めるマルチスリットである第1格子と、前記第1格子からのX線が照射され自己像を形成する位相格子である第2格子とを含む複数の格子と、
前記検出器によって検出された信号に基づいて位相コントラスト画像を生成する画像処理部と、を備え、
前記位相コントラスト画像の鮮明度を高めるために、前記X線源の焦点サイズを小さくするように変更した場合に、前記X線源は、焦点サイズを小さくすることに起因して、X線が照射されることにより拡大されて投影された前記第1格子の格子パターンが検出される場合に、拡大されて投影された前記第1格子の格子パターンが、前記検出器によって検出されないように、前記第1格子と前記X線源との相対的な配置が調整されるか、または、前記X線源の焦点サイズが増加するように前記X線源の焦点サイズが調整される、X線位相イメージング装置。 an X-ray source that irradiates an object with X-rays;
a detector that detects X-rays emitted from the X-ray source;
a first grating which is a multi-slit arranged between the X-ray source and the detector and is arranged between the X-ray source and the X-ray source to make the X-ray emitted from the X-ray source a linear light source and enhance the coherence of the X-ray; a plurality of gratings including a second grating that is a phase grating that is irradiated with X-rays from the grating to form a self-image ;
an image processing unit that generates a phase contrast image based on the signal detected by the detector;
When the focus size of the X-ray source is modified to reduce the focus size to increase the sharpness of the phase-contrast image, the X-ray source emits X-rays due to the reduction of the focus size. When the grid pattern of the first grid magnified and projected is detected, the grid pattern of the first grid magnified and projected is not detected by the detector. 1. An X-ray phase imaging apparatus wherein the relative placement of the grating and the X-ray source is adjusted, or the focal size of the X-ray source is adjusted such that the focal size of the X-ray source is increased. .
m:拡大されて投影された前記第1格子の格子パターンの拡大率;
R:前記X線源と前記検出器との間の距離;
r0:前記X線源と前記第1格子との間の距離;
p1:拡大されて投影された前記第1格子の格子パターンの周期;
p0:前記第1格子の格子周期;
n:拡大されて投影された前記第1格子の格子パターンに含まれる画素数;
p2:前記検出器の画素サイズ;
である。 5. The X-ray phase imaging apparatus according to claim 4, wherein the X-ray source is arranged at a position that satisfies the following formula (4) when the following formulas (1) to (3) are defined.
m: magnification of the grid pattern of the first grid projected in an enlarged manner;
R: distance between the X-ray source and the detector;
r 0 : distance between the X-ray source and the first grating;
p 1 : the period of the enlarged projected grating pattern of the first grating;
p 0 : grating period of the first grating;
n: the number of pixels included in the grid pattern of the first grid projected in an enlarged manner;
p 2 : pixel size of the detector;
is.
前記X線源から照射されたX線を検出する検出器と、
前記X線源と前記検出器との間に配置され、前記X線源から照射されるX線の可干渉性を高める第1格子と、前記第1格子からのX線が照射される第2格子とを含む複数の格子と、
前記検出器によって検出された信号に基づいて位相コントラスト画像を生成する画像処理部と、を備え、
前記X線源は、焦点サイズを小さくすることに起因して、X線が照射されることにより拡大されて投影された前記第1格子の格子パターンが検出される場合に、拡大されて投影された前記第1格子の格子パターンが、前記検出器によって検出されないように、前記第1格子と前記X線源との相対的な配置または前記X線源の焦点サイズが調整され、
前記X線源の焦点サイズの大きさに起因して生じる、拡大されて投影された前記第1格子の格子パターンのぼけ量が、拡大されて投影された前記第1格子の格子パターンが前記検出器によって検出されなくなる前記ぼけ量となるように、前記X線源の焦点サイズが設定され、
前記X線源は、前記ぼけ量が、拡大されて投影された前記第1格子の格子パターンの1周期の3.0倍以上の範囲となるように、前記X線源の焦点サイズが設定される、X線位相イメージング装置。 an X-ray source that irradiates an object with X-rays;
a detector that detects X-rays emitted from the X-ray source;
a first grating disposed between the X-ray source and the detector to enhance the coherence of X-rays emitted from the X-ray source; and a second grating irradiated with X-rays from the first grating. a plurality of grids, including a grid;
an image processing unit that generates a phase contrast image based on the signal detected by the detector;
The X-ray source is magnified and projected when the grid pattern of the first grid, which is magnified and projected by irradiation with X-rays, is detected due to the reduction of the focus size. adjusting the relative arrangement of the first grating and the X-ray source or the focus size of the X-ray source so that the grating pattern of the first grating is not detected by the detector;
The amount of blurring of the magnified and projected grid pattern of the first grid caused by the focal size of the X-ray source is detected by the magnified and projected grid pattern of the first grid. a focal size of the X-ray source is set such that the amount of blur is no longer detected by the instrument;
The focal size of the X-ray source is set such that the amount of blur is in the range of 3.0 times or more one period of the enlarged and projected grating pattern of the first grating. An X -ray phase imaging device.
b:前記ぼけ量;
s:前記X線源の焦点サイズ;
である。 In the X-ray source, when one period of the enlarged and projected grid pattern of the first grid is larger than the pixel size of the detector, the blur amount defined by the following equation (5) 8. The X-ray phase imaging apparatus according to claim 7, wherein the focal size of the X-ray source is set such that the magnitude satisfies the following equation (6).
b: the blur amount;
s: focal spot size of the X-ray source;
is.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018194895 | 2018-10-16 | ||
JP2018194895 | 2018-10-16 | ||
PCT/JP2019/030165 WO2020079919A1 (en) | 2018-10-16 | 2019-08-01 | X-ray phase imaging device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2020079919A1 JPWO2020079919A1 (en) | 2021-09-16 |
JP7131625B2 true JP7131625B2 (en) | 2022-09-06 |
Family
ID=70283853
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020552539A Active JP7131625B2 (en) | 2018-10-16 | 2019-08-01 | X-ray phase imaging system |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7131625B2 (en) |
WO (1) | WO2020079919A1 (en) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007125833A1 (en) | 2006-04-24 | 2007-11-08 | The University Of Tokyo | X-ray image picking-up device and x-ray image picking-up method |
JP2018029777A (en) | 2016-08-24 | 2018-03-01 | 株式会社島津製作所 | X-ray phase difference imaging apparatus |
CN108469443A (en) | 2018-04-18 | 2018-08-31 | 北京航空航天大学 | X-ray grating differential phase contrast imaging method and device based on two dimension dislocation absorption grating |
JP2018155502A (en) | 2017-03-15 | 2018-10-04 | 株式会社島津製作所 | Radiation grating detector and x-ray inspection device |
-
2019
- 2019-08-01 JP JP2020552539A patent/JP7131625B2/en active Active
- 2019-08-01 WO PCT/JP2019/030165 patent/WO2020079919A1/en active Application Filing
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007125833A1 (en) | 2006-04-24 | 2007-11-08 | The University Of Tokyo | X-ray image picking-up device and x-ray image picking-up method |
JP2018029777A (en) | 2016-08-24 | 2018-03-01 | 株式会社島津製作所 | X-ray phase difference imaging apparatus |
JP2018155502A (en) | 2017-03-15 | 2018-10-04 | 株式会社島津製作所 | Radiation grating detector and x-ray inspection device |
CN108469443A (en) | 2018-04-18 | 2018-08-31 | 北京航空航天大学 | X-ray grating differential phase contrast imaging method and device based on two dimension dislocation absorption grating |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020079919A1 (en) | 2020-04-23 |
JPWO2020079919A1 (en) | 2021-09-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6399833B2 (en) | Source grating, interferometer, and object information acquisition system | |
JP5783987B2 (en) | Radiography equipment | |
JP2012090945A (en) | Radiation detection device, radiographic apparatus, and radiographic system | |
JP2012085995A5 (en) | ||
JP2011218147A (en) | Radiographic system | |
US20160035450A1 (en) | Talbot interferometer, talbot interference system, and fringe scanning method | |
US11175241B2 (en) | X-ray phase image capturing system | |
WO2019220689A1 (en) | X-ray imaging device | |
JP2018102558A (en) | X-ray phase imaging device | |
WO2019239624A1 (en) | X-ray imaging device | |
WO2012169426A1 (en) | Radiography system | |
WO2012169427A1 (en) | Radiography system | |
JP7131625B2 (en) | X-ray phase imaging system | |
WO2017159229A1 (en) | Radiographic image generation device | |
JP7040625B2 (en) | X-ray phase imaging system | |
WO2020188856A1 (en) | X-ray imaging device | |
JP7226171B2 (en) | X-ray phase imaging system | |
JP5787597B2 (en) | Imaging device | |
WO2012147749A1 (en) | Radiography system and radiography method | |
JP7226212B2 (en) | X-RAY PHASE IMAGING DEVICE AND PHASE CONTRAST IMAGE GENERATING METHOD | |
JP7060090B2 (en) | Optical imaging device and image processing method | |
JP2013063166A (en) | Radiographic apparatus and image processing method | |
WO2013051647A1 (en) | Radiography device and image processing method | |
JP6673189B2 (en) | X-ray phase contrast imaging device | |
WO2013084657A1 (en) | Radiation imaging device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210310 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220426 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220623 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220726 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220808 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7131625 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |