JP7128479B2

JP7128479B2 - α線放出核種の分析方法及び分析装置

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Publication number: JP7128479B2
Application number: JP2019136227A
Authority: JP
Inventors: 麻里子瀬川; 暢輔藤; 亮前田; 一朗西中
Original assignee: NATIONAL INSTITUTES FOR QUANTUM AND RADIOLOGICALSCIENCE AND TECHNOLOGY; Japan Atomic Energy Agency
Current assignee: NATIONAL INSTITUTES FOR QUANTUM AND RADIOLOGICALSCIENCE AND TECHNOLOGY; Japan Atomic Energy Agency
Priority date: 2019-07-24
Filing date: 2019-07-24
Publication date: 2022-08-31
Anticipated expiration: 2039-07-24
Also published as: JP2021021567A

Description

本発明は、溶液中のα線放出核種の分析方法及び分析装置に関する。

放射性同位体（ＲＩ）療法は、全身に散在したガンや体内に潜んでいるガンに対し、様々な種類のＲＩを体の内側からガンに当てることで高い治療効果が期待できる（非特許文献１を参照）。この治療法に使用されるＲＩ核種の多くが飛程の長い放射線を放出するため、内臓器官の健全な細胞にまで重度の損傷をもたらす。これに対して、²¹¹Atは飛程の短いα線を放出するため、細胞を必要以上に殺さずにガンにのみ効果を発揮するという特長を持つ核種である。

このような特長を有する²¹¹Atは、ターゲット金属（²⁰⁹Bi、Pb等）に加速した粒子（α、⁷Li等）を照射して直接²¹¹At（半減期７時間）を生成した後、ターゲットから²¹¹Atを化学分離し、²¹¹At溶液として合成される（非特許文献２を参照）。そして、この²¹¹At溶液を薬剤として利用するには、溶液中の²¹¹At量とその化学状態（化学形）とを精度よく調べる必要がある。

化学形を調べる手法としては、薄層クロマトグラフィが一般的に用いられる。この手法では、シリカゲルを薄く塗布したアルミ板（以下、「薄層プレート」と表記する。）等を用いて分析対象を化学形毎に分離した後、イメージングプレート（ＩＰ）によって分析対象から放出されるガンマ線及びＸ線を可視化する。

D. Scott. Wilbur, Nature Chemistry, Volume 5, pp 246 (2013) I. Nishinaka, K. Hashimoto, H. Suzuki, Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry, Volume 318, Issue 2, pp 897-905 (2018)

しかしながら、ＩＰは“その場観察”ができず、ガンマ線及びＸ線に対し感度が十分に高いとは言えない。したがって、²¹¹At溶液をＩＰで可視化する場合、撮像時間の最適化ができないことから、撮像の失敗を防ぐために放射能の高低に拘わらず、²¹¹Atの半減期（７時間）より十分長い時間（１２時間程度）撮像してから画像化を行う必要がある。その結果、分析が終了した時点で²¹¹Atが１／４分以下に減少してしまうという課題がある。

さらに、²¹¹Atは、図８に示すように、²¹¹Rn（半減期１４時間）を経由して合成される場合がある。この²¹¹Rnの崩壊で生成された²¹¹At溶液には、同じく²¹¹Rnの崩壊で生成される²⁰⁷Poが不純物として含まれる。この²⁰⁷Poは５．８時間の半減期で²⁰⁷Biに壊変する際、Ｘ線を放出する。これらのＸ線はバックグラウンドとなり、薄層クロマトグラフィによる²¹¹Atの化学形分析を妨害してしまうので、分析できない²¹¹Atの化学形が生じる。以上から、薬剤への利用を目的とした²¹¹Atの化学形分析に、ＩＰを用いた薄層クロマトグラフィ分析技術を適用できないという課題がある。

そこで、本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、溶液中のα線放出核種の化学形毎のα線量を、迅速且つ正確に分析可能なα線放出核種の分析方法及び分析装置を提供することにある。

本発明の一形態は、前記課題を解決するため、溶液中のα線放出核種の分析方法であって、前記α線放出核種を含む溶液を薄層プレートに滴下し、薄層クロマトグラフィによって、前記α線放出核種を化学形毎に分離する分離ステップと、放射線のうちα線を選択的に可視光線に変換するα線シンチレータを介して、前記α線放出核種が化学形毎に分離された前記薄層プレートを撮像する撮像ステップと、前記α線放出核種の各化学形に対応するスポット領域の輝度値を、前記撮像ステップで撮像した画像から抽出する抽出ステップと、輝度値とα線量との予め求められた対応関係に基づいて、前記抽出ステップで抽出した輝度値に対応するα線量を、前記α線放出核種の化学形毎に特定する特定ステップとを含むことを特徴とする。

上記構成によれば、撮像ステップで撮像した画像から各スポット領域の輝度値を抽出し、抽出した輝度値に対応するα線量を特定することによって、α線放出核種の生成量（溶液中の含有量）を定量することができる。また、薄層クロマトグラフィでα線放出核種を含む溶液を化学形毎に分離してから分析を行うことにより、α線放出核種の生成量を化学形毎に分析することができる。

また、上記構成によれば、α線シンチレータを使用することで、γ線及びＸ線を放出する放射性同位体の影響を受けず、α線のみを可視化することができる。さらに、上記構成によれば、従来のＩＰと比較して撮像時間を大幅に短縮することができる。

また、前記抽出ステップでは、前記スポット領域を構成する複数の輝度値の代表値を抽出することを特徴としてもよい。

上記構成によれば、スポット領域内における濃度のばらつきを吸収することができるので、より正確に分析を行うことができる。

一例として、前記α線放出核種は、²¹¹At、²²⁵Ac、²²³Ra、²¹²Bi、²¹³Bi、¹⁴⁹Tb、²²⁴Ra、²³⁰U、²²⁶Th、²²⁷Thのいずれかであってもよい。

本発明の一形態は、前記課題を解決するため、溶液中のα線放出核種を分析する分析装置であって、放射線のうちα線を選択的に可視光線に変換するα線シンチレータと、薄層クロマトグラフィによって前記α線放出核種が化学形毎に分離された薄層プレートを、前記α線シンチレータを介して撮像する撮像装置と、輝度値とα線量との予め求められた対応関係を記憶するメモリと、前記撮像装置で撮像された画像を分析するコントローラとを備え、前記コントローラは、前記α線放出核種の各化学形に対応するスポット領域の輝度値を、前記撮像装置によって撮像された画像から抽出し、前記メモリに記憶された対応関係に基づいて、抽出した輝度値に対応するα線量を、前記α線放出核種の化学形毎に特定することを特徴とする。

本発明によれば、溶液中のα線放出核種の化学形毎のα線量を、迅速且つ正確に分析することができる。

本発明の実施形態に係る分析装置の概略構成図である。分析装置で得られた２次元画像の解析結果を示す図である。図２の輝度値とα線量との対応関係を示す図である。分析処理のフローチャートである。分析処理の各ステップにおける薄層プレートＰを示す図である。本発明とＩＰとで図２の１２点の輝度値を測定した結果を示す図である。本発明とＩＰとで図５の薄層プレートＰの輝度値を測定した結果を示す図である。 ²¹¹Rnが崩壊して²⁰⁷Pbに至る過程を示す図である。

以下、図面を参照して、実施形態に係る分析装置１及びこの分析装置１を用いたα線放出核種の分析方法を説明する。なお、以下に記載する本発明の実施形態は、本発明を具体化する際の一例を示すものであって、本発明の範囲を実施形態の記載の範囲に限定するものではない。従って、本発明は、実施形態に種々の変更を加えて実施することができる。

図１は、本発明の実施形態に係る分析装置１の概略構成図である。分析装置１は、薄層プレートＰ上に化学形毎に展開されたα線放出核種を分析する装置である。分析装置１は、図１に示すように、暗箱２と、載置台３と、α線シンチレータ４と、対物レンズ５と、高解像度カメラ６と、カメラ受信機７と、撮像制御機８と、画像表示機９とを主に備える。

暗箱２は、薄層プレートＰ、載置台３、α線シンチレータ４、及び対物レンズ５を収容する筐体である。また、暗箱２は、内部空間に可視光線が侵入するのを防止するために遮光されている。また、暗箱２の内壁は、光の反射を防ぐために黒色に塗装されている。また、暗箱２は、薄層プレートＰを出し入れするために開閉される扉（図示省略）を有する。さらに、暗箱２の上面には、対物レンズ５及び高解像度カメラ６を接続するための開口が設けられている。

載置台３は、暗箱２の内部空間において、暗箱２の底壁に載置されている。載置台３には、測定対象物である薄層プレートＰが載置される。そして、載置台３は、薄層プレートＰの載置面の高さを調整可能に構成されている。換言すれば、載置台３は、薄層プレートＰと対物レンズ５との距離を調整可能に構成されている。載置面の高さは、手動で調整されてもよいし、撮像制御機８の指示に従って動作するモータ（図示省略）によって調整されてもよい。

α線シンチレータ４は、放射線（α線、β線、γ線、Ｘ線など）のうち、選択的にα線を可視光線に変換し、その他の放射線を可視光線に変換しない。α線シンチレータ４は、載置台３上の薄層プレートＰに重畳される。換言すれば、α線シンチレータ４は、載置台３上の薄層プレートＰと、対物レンズ５との間に介在する。すなわち、α線シンチレータ４は、薄層プレートＰ上のα線放出核種から放出される放射線のうち、α線のみを可視光線に変換して対物レンズ５に導く役割を担う。

対物レンズ５は、α線シンチレータ４から放出された可視光線を高解像度カメラ６に導く。対物レンズ５は、ピント及び画角を調整する機能を有していてもよい。高解像度カメラ６は、対物レンズ５を通して入射した可視光線を電気信号に変換するフォトダイオード（光電変換素子）を有する。そして、高解像度カメラ６は、フォトダイオードで変換した電気信号（以下、「画像データ」と表記する。）をカメラ受信機７に出力する。対物レンズ５及び高解像度カメラ６は、撮像装置の一例である。

カメラ受信機７は、高解像度カメラ６から画像データを受信し、受信した画像データを撮像制御機８に出力する。撮像制御機８は、分析装置１の動作を制御する。より詳細には、撮像制御機８は、カメラ受信機７を通じて取得した画像データを分析する。分析の具体的な方法は、図４を参照して後述する。また、撮像制御機８は、画像データで示される画像を画像表示機（ディスプレイ）９に表示させる。カメラ受信機７及び撮像制御機８は、コントローラの一例である。

コントローラは、例えば、ＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）、ＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）、及びＲＡＭ（ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）を備える。コントローラは、ＲＯＭに格納されたプログラムコードをＣＰＵが読み出して実行することによって、後述する処理が実現される。ＲＡＭは、ＣＰＵがプログラムを実行する際のワークエリアとして用いられる。

但し、コントローラの具体的な構成はこれに限定されず、ＡＳＩＣ（ＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎＳｐｅｃｉｆｉｃＩｎｔｅｇｒａｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ－ＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＧａｔｅＡｒｒａｙ）などのハードウェアによって実現されてもよい。

コントローラは、メモリの一例であるＲＯＭ、ＲＡＭ、或いはＨＤＤ（ＨａｒｄＤｉｓｋＤｒｉｖｅ）を搭載している。メモリは、輝度値とα線量との予め定められた対応関係を示す情報を記憶している。メモリに記憶させる輝度値とα線量との対応関係を特定するために、日本原子力研究開発機構タンデム加速器施設ホット化学室において、定量性に関する実証実験を実施した。

より詳細には、タンデム加速器を用いて²¹¹At溶液を製造し、乾式化学分離法によって化学分離した。放射能にして５６～６７２［Ｂｑ］の²¹¹At溶液を薄層プレート上の１２個所に滴下することで、画像の輝度値を検量するための検量用²¹¹At試料を用意した。この検量用²¹¹At試料を分析装置１により撮像し、得られた２次元画像の解析を行った。

図２は、分析装置１で得られた２次元画像の解析結果を示す図である。図３は、図２の輝度値とα線量との対応関係を示す図である。図２に示すように、α線シンチレータ４を介して薄層プレートを撮像すると、²¹¹At溶液を滴下した領域（以下、「プロット領域」と表記する。）が光って見える。また、プロット領域は、滴下した²¹¹At溶液のα線強度（α線量）が高いほど明るい（すなわち、輝度が高い）。

図２に示す１２箇所の輝度値とα線量とをプロットすると、図３に示すように、輝度値とα線量との間には、正の相関関係（より詳細には、比例関係）があることが分かる。そして、コントローラのメモリには、図３に示す輝度値とα線量との関係が記憶される。メモリに記憶されている輝度値とα線量との対応関係は、テーブル形式であってもよいし、輝度値を入力すると対応するα線量が出力される関数の形式であってもよい。

次に、図４及び図５を参照して、分析装置１を用いたα線放出核種の分析処理（分析方法）を説明する。図４は、分析処理のフローチャートである。図５は、分析処理の各ステップにおける薄層プレートＰを示す図である。

まず、図５の上段に示すように、薄層プレートＰ上の原点Ｏに²¹¹At溶液を滴下する。薄層プレートＰは、ガラスやアルミニウム等の板上に、吸着剤（例えば、シリカゲル、アルミナ、セルロース）を薄膜状に固定したものである。²¹¹At溶液は、複数の化学形（組成）のアスタチン－２１１を含む溶液である。また、²¹¹At溶液は、²¹¹AtO₄ ^-、²¹¹AtO₃ ^-、²¹¹At^-等の各化学形に加えて、不純物としての²⁰⁷Poを含む。

なお、α線放出核種の具体例はアスタチン－２１１（²¹¹At）に限定されず、アクチニウム－２２５（²²⁵Ac）、ラジウム－２２３（²²³Ra）、ビスマス－２１２（²¹²Bi）、ビスマス－２１３（²¹³Bi）、テルビウム－１４９（¹⁴⁹Tb）、ラジウム－２２４（²²⁴Ra）、ウラン－２３０（²³⁰U）、トリウム－２２６（²²⁶Th）、トリウム－２２７（²²⁷Th）などであってもよい。また、分析処理の対象となる溶液に含まれるα線放出核種は、１種類でもよいし、複数種類でもよい。

次に、薄層プレートＰの原点Ｏに滴下された²¹¹At溶液は、吸着剤の間隙を毛細管現象により移動する。²¹¹Atの化学形毎に移動する距離が異なるので、図５の中段に示すように、薄層プレートＰ上の異なるスポット領域Ａ_１、Ａ_２、Ａ_３に、²¹¹Atが化学形毎に分離（展開）される（Ｓ１１）。ステップＳ１１の処理は、一般的な薄層クロマトグラフィであって、分離ステップの一例である。

この例では、スポット領域Ａ_１に²¹¹AtO₄ ^-が、スポット領域Ａ_２に²¹¹AtO₃ ^-が、スポット領域Ａ_３に²¹¹At^-が位置する。また、²⁰⁷Poは、²¹¹AtO₄ ^-と重なってスポット領域Ａ_１に位置する。²¹¹At溶液の各化学形がどのスポット領域Ａ_１～Ａ_３に位置するかは、予め特定されている。但し、²¹¹At溶液は無色透明なので、この時点では、スポット領域Ａ_１～Ａ_３に²¹¹At溶液が化学形毎に分離されたことを、視覚的に確認することはできない。

次に、²¹¹At溶液が化学形毎に分離された薄層プレートＰを載置台３に載置し、その上にα線シンチレータ４を重ねる。次に、載置台３及び対物レンズ５の一方或いは両方によって、ピント及び画角を調整する。そして、撮像制御機８は、α線シンチレータ４を介して薄層プレートＰを、高解像度カメラ６に撮像させる（Ｓ１２）。ステップＳ１２の処理は、撮像ステップの一例である。

なお、撮像制御機８は、例えば、²¹¹At溶液の濃度に応じて、高解像度カメラ６の露光時間（撮像時間）を調整してもよい。より詳細には、撮像制御機８は、²¹¹At溶液の濃度が高いほど露光時間を短くし、²¹¹At溶液の濃度が低いほど露光時間を長くしてもよい。高解像度カメラ６の露光時間は、例えば、数ミリ秒～数千秒の範囲で適宜調整される。本実施形態では、高解像度カメラ６の露光時間を１０００秒とする。

図５の下段に示すように、画像データで示される画像中の各スポット領域Ａ_１～Ａ_３は、対応する化学形が放出するα線量に応じて明るさ（輝度値）が異なる。図５の下段では、ドットの密度で明るさを表現している。すなわち、ドットの密度が低いほど明るく、ドットの密度が高いほど暗い。換言すれば、スポット領域Ａ_２が最も明るく、スポット領域Ａ_１が最も暗い。

次に、撮像制御機８は、高解像度カメラ６から出力される画像データを、カメラ受信機７を通じて取得する。そして、撮像制御機８は、取得した画像データを画像処理することによって、²¹¹Atの各化学形に対応するスポット領域Ａ_１～Ａ_３それぞれの輝度値を抽出する（Ｓ１３）。ステップＳ１３の処理は、抽出ステップの一例である。

より詳細には、撮像制御機８は、画像上の予め定められた位置の画素値を輝度値として抽出する。なお、スポット領域Ａ_１～Ａ_３は複数の画素で構成されるので、撮像制御機８は、例えば、複数の画素の輝度値の代表値（例えば、平均値、中央値、最頻値）を、各スポット領域Ａ_１～Ａ_３の輝度値として抽出すればよい。これにより、各スポット領域Ａ_１～Ａ_３内における濃度のばらつきを吸収して、正確に分析することが可能となる。

例えば、撮像制御機８は、スポット領域Ａ_１を含む領域の各画素を二値化する。すなわち、画素値が閾値以上の画素に“１”が設定され、画素値が閾値未満の画素に“０”が設定される。次に、撮像制御機８は、“１”が設定された画素数を算出すると共に、“１”が設定された画素の画素値（二値化する前の画素値）を積算した積算画素値を算出する。そして、撮像制御機８は、積算画素値を画素数で除することによって、スポット領域Ａ_１の輝度値の平均値を算出すればよい。

また、輝度値の中央値を算出する場合、撮像制御機８は、“１”が設定された画素の画素値を昇順（或いは降順）に並べ、（画素数／２）番目の画素値をスポット領域Ａ_１の輝度値の中央値とすればよい。さらに、輝度値の最頻値を算出する場合、撮像制御機８は、“１”が設定された画素の画素値のヒストグラムを生成し、生成したヒストグラムからスポット領域Ａ_１の輝度値の最頻値を特定すればよい。また、スポット領域Ａ_２、Ａ_３についても同様の処理を行えばよい。

次に、撮像制御機８は、輝度値とα線量との対応関係をメモリから読み出す。そして、撮像制御機８は、読み出した輝度値とα線量との対応関係に基づいて、スポット領域Ａ_１～Ａ_３それぞれの輝度値に対応するα線量を特定する（Ｓ１４）。すなわち、撮像制御機８は、ステップＳ１３で抽出した輝度値に対応するα線量を、²¹¹Atの化学形毎に特定する。ステップＳ１４の処理は、特定ステップの一例である。

そして、撮像制御機８は、例えば、ステップＳ１２で撮像した画像と、ステップＳ１４で特定した化学形毎のα線量とを、互いに対応付けて画像表示機９に表示してもよい。また、²¹¹Atの単位量当たりのα線量は一定なので、撮像制御機８は、例えば、ステップＳ１４で特定した化学形毎のα線量に基づいて、²¹¹At溶液に含まれる各化学形の割合（生成量）を特定してもよい。

次に、図６及び図７を参照して、本発明に係る分析装置１を用いた分析と、従来のＩＰを用いた分析との性能差について説明する。図６は、本発明“■”とＩＰ“□”とで図２の１２点の輝度値を測定した結果を示す図である。図７は、本発明（実線）とＩＰ（破線）とで図５の薄層プレートＰの輝度値を測定した結果を示す図である。なお、分析装置１による撮像時間は１０００秒、ＩＰによる撮像時間は１２時間とする。

図６を参照すれば明らかなように、本発明に係る分析装置１によって測定される輝度値は、ＩＰによって測定される輝度値の約２００倍である。すなわち、本発明に係る分析装置１は、ＩＰと比較してα線の感度が非常に高い。その結果、α線放出核種の含有量が少ない溶液を分析する場合でも、短時間で高精度に分析できることが確認された。

また、図７を参照すると、スポット領域Ａ_２、Ａ_３の輝度値の測定結果は、本発明とＩＰとで概ね同じ（誤差３％程度）である。一方、スポット領域Ａ_１の輝度値の測定結果は、本発明とＩＰとで大きく異なる。より詳細には、ＩＰで測定したスポット領域Ａ_１の輝度値は、本発明に係る分析装置１で測定したスポット領域Ａ_１の輝度値より高い。

これは、本発明に係る分析装置１がα線量のみを選択的に測定するのに対して、ＩＰではα線以外の放射線にも感度を有するためである。すなわち、²¹¹AtO₄ ^-に重畳してスポット領域Ａ_１に位置する²⁰⁷Poから放出されるＸ線の影響を受けて、輝度値が高くなっている。このように、本発明に係る分析装置１は、不純物である²⁰⁷Poの影響を排除して、²¹¹Atの化学形毎のα線量を正確に特定できることが確認された。

上記の実施形態によれば、例えば以下の作用効果を奏する。

上記の実施形態に係る分析装置１で取得する画像の明るさ（輝度値）と²¹¹Atのα線量とには線形性がある。そこで、高解像度カメラ６で撮像した画像を解析して輝度値を求めることで、²¹¹Atのα線量から²¹¹Atの生成量を定量することができる。また、薄層クロマトグラフィで²¹¹At溶液を化学形毎に分離してから分析を行うことにより、²¹¹Atの生成量を化学形毎に分析することができる。

また、上記の実施形態では、ＩＰで測定しているＸ線と比べて蛍光への変換効率の高いα線に注目し、α線シンチレータ４と増幅機能を有する高解像度カメラ６とを用いることで、ＩＰと比較して約２００倍の高感度で撮像することができる。また、α線シンチレータ４を使用することで、γ線及びＸ線を放出する²¹¹At以外の放射性同位体の影響を受けず、α線のみを可視化することができる。

さらに、上記の実施形態によれば、α線シンチレータ４と高解像度カメラ６とによって、ＩＰと比較して撮像時間を大幅に短縮することができる。その結果、薄層クロマトグラフィを“その場”で撮像し、得られた撮像画像は画像表示機９を用いて即時に２次元的画像で確認できる。この結果、分析に要する時間を最適化することができるため、効率的に²¹¹Atの化学形を同定し生成量を定量することができる。

なお、図４に示す分析処理（特に、ステップＳ１３～Ｓ１４）は、分析装置１の撮像制御機８が実行することに限定されず、オペレータが目視で実行してもよい。例えば、オペレータは、画像表示機９に表示された撮像画像と、予め用意されたα線量毎の輝度値のサンプルとを見比べて、各化学形のα線量を特定してもよい。また、この分析装置１及び分析方法は、医療分野のみならず、基礎化学における分析手法としても応用できる。

以上、本発明の実施形態等について説明したが、実施例での条件は、本発明の実施可能性及び効果を確認するために採用した一条件例であり、本発明は、この一条件例に限定されるものではない。本発明は、本発明の要旨を逸脱せず、本発明の目的を達成する限りにおいて、種々の条件を採用し得るものである。

１…分析装置、２…暗箱、３…載置台、４…α線シンチレータ、５…対物レンズ、６…高解像度カメラ、７…カメラ受信機、８…撮像制御機、９…画像表示機

Claims

溶液中のα線放出核種の分析方法であって、
前記α線放出核種を含む溶液を薄層プレートに滴下し、薄層クロマトグラフィによって、前記α線放出核種を化学形毎に分離する分離ステップと、
放射線のうちα線を選択的に可視光線に変換するα線シンチレータを介して、前記α線放出核種が化学形毎に分離された前記薄層プレートを撮像する撮像ステップと、
前記α線放出核種の各化学形に対応するスポット領域の輝度値を、前記撮像ステップで撮像した画像から抽出する抽出ステップと、
輝度値とα線量との予め求められた対応関係に基づいて、前記抽出ステップで抽出した輝度値に対応するα線量を、前記α線放出核種の化学形毎に特定する特定ステップとを含むことを特徴とするα線放出核種の分析方法。
請求項１に記載のα線放出核種の分析方法において、
前記抽出ステップでは、前記スポット領域を構成する複数の輝度値の代表値を抽出することを特徴とするα線放出核種の分析方法。
請求項１または２に記載のα線放出核種の分析方法において、
前記α線放出核種は、²¹¹At、²²⁵Ac、²²³Ra、²¹²Bi、²¹³Bi、¹⁴⁹Tb、²²⁴Ra、²³⁰U、²²⁶Th、²²⁷Thのいずれかであることを特徴とするα線放出核種の分析方法。
溶液中のα線放出核種を分析する分析装置であって、
放射線のうちα線を選択的に可視光線に変換するα線シンチレータと、
薄層クロマトグラフィによって前記α線放出核種が化学形毎に分離された薄層プレートを、前記α線シンチレータを介して撮像する撮像装置と、
輝度値とα線量との予め求められた対応関係を記憶するメモリと、
前記撮像装置で撮像された画像を分析するコントローラとを備え、
前記コントローラは、
前記α線放出核種の各化学形に対応するスポット領域の輝度値を、前記撮像装置によって撮像された画像から抽出し、
前記メモリに記憶された対応関係に基づいて、抽出した輝度値に対応するα線量を、前記α線放出核種の化学形毎に特定することを特徴とする分析装置。