JP7121875B1 - パーシステントメモリシステム等のデータ完全性 - Google Patents
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Abstract
Description
0x33=x6+x5+x2+x+1 [1]
他の多項式も可能であることは明らかであろう。さらに、NVDIMM-P規格(又は、他の類似規格)の異なるバージョンが将来開発され、関連パケットによりさらに多くのUSERビットが利用可能になれば、追加のビットを利用する異なるCRCコードをサポートすることができる。
Claims (15)
- メモリコントローラを備えたデータプロセッサであって、
前記メモリコントローラは、
復号化されたコマンドを格納してディスパッチするためにメモリチャネルに接続されたコマンドキューと、
前記コマンドキューに接続され、所定の基準に従って前記コマンドキューからコマンドを選択するためのアービタと、
書き込み要求のデータに応じて、第1のタイプのエラーコードを生成するための第1のエラーコード生成回路と、
前記書き込み要求に対して、前記第1のタイプのエラーコードとは異なる第2のタイプのエラーコードを生成するための第2のエラーコード生成回路と、
前記アービタと、前記第1のエラーコード生成回路と、前記第2のエラーコード生成回路と、に接続され、書き込みコマンドをインターフェースに提供するためのキューであって、前記書き込みコマンドは、前記データと、前記第1のタイプのエラーコードと、前記第2のタイプのエラーコードと、を含む、キューと、を備える、
データプロセッサ。 - 前記メモリコントローラは、
前記コマンドキューに接続された第1のポートと、前記メモリチャネルに接続された第2のポートと、を有するパケタイザ及びドライバを備え、
前記パケタイザ及びドライバは、
前記第1のタイプのエラーコードを書き込みデータパケットの所定のエラー訂正コード(ECC)フィールドに提供し、前記第2のタイプのエラーコードのビットを前記書き込みデータパケットの所定のユーザデータフィールドの対応するビットに提供する、
請求項1のデータプロセッサ。 - 前記第2のエラーコード生成回路は、前記書き込み要求の前記データ及びアドレスを使用して、前記第2のタイプのエラーコードを生成する、
請求項1のデータプロセッサ。 - 前記第2のエラーコード生成回路は、前記書き込み要求のメタデータを使用して、前記第2のタイプのエラーコードを生成する、
請求項1のデータプロセッサ。 - 前記第2のエラーコード生成回路は、前記メタデータのポイズンビットに応じて、前記第2のタイプのエラーコードを生成する、
請求項4のデータプロセッサ。 - 前記メモリチャネルは、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)と、パーシステントストレージを備えた不揮発性デュアルインラインメモリモジュール(NVDIMM-P)と、にインターフェースするように構成された異種メモリチャネルであり、
前記メモリコントローラは、メモリアクセス要求を受信するための入力と、前記メモリアクセス要求に応じて前記復号化されたコマンドを提供するための出力と、を有する復号器を備え、前記復号化されたコマンドの各々は、前記メモリアクセス要求が前記NVDIMM-Pへの要求であるか否かを示す復号化された信号を含む、
請求項1のデータプロセッサ。 - メモリチャネルと、
前記メモリチャネルに接続されたメモリと、
前記メモリチャネルに接続され、パケット構造を使用して前記メモリチャネルを介して前記メモリにアクセスするように構成されたデータプロセッサであって、前記パケット構造は、複数のコマンドを定義し、対応するアドレスビットと、データビットと、ユーザビットと、を有し、前記データプロセッサは、第1のタイプのエラーコードを使用して前記メモリチャネルを介して前記メモリと通信する、データプロセッサと、
を備えるデータ処理システムであって、
前記データプロセッサは、書き込みアクセス要求に応じて第2のタイプのエラーコードを計算し、前記第2のタイプのエラーコードの各ビットを前記ユーザビットの対応するビットとして加え、前記第2のタイプのエラーコードは、前記第1のタイプのエラーコードとは異なり、
前記メモリは、書き込みコマンドに応じて前記ユーザビットを前記メモリに格納し、読み出しコマンドに応じて、前記ユーザビットを読み出し応答パケットで前記データプロセッサに転送する、
データ処理システム。 - 前記データプロセッサは、メモリコントローラを備え、
前記メモリコントローラは、
前記メモリチャネルに接続され、インターフェースからデータ応答を受信するためのキューであって、前記データ応答は、読み出しデータと、対応する第1のタイプのエラーコードと、前記第1のタイプのエラーコードとは異なる対応する第2のタイプのエラーコードと、を含む、キューと、
前記読み出し応答の前記読み出しデータに応じて前記第1のタイプのエラーコードを生成し、前記第1のタイプのエラーコードと、前記メモリチャネルから受信した第1のエラーコードとを比較し、前記比較に応じて第1のタイプのエラー信号を選択的に生成するための第1のエラーコードチェック回路と、
前記読み出し応答の前記読み出しデータに応じて前記第2のタイプのエラーコードを生成し、前記第2のタイプのエラーコードと、前記メモリチャネルから受信した前記読み出し応答パケット内の第2のエラーコードとを比較し、前記比較に応じて第2のタイプのエラー信号を選択的に生成するための第2のエラーコードチェック回路と、を備える、
請求項7のデータ処理システム。 - 前記インターフェースに接続された第1のポートと、前記メモリチャネルに接続されるように構成された第2のポートと、を有する物理インターフェース回路(PHY)であって、前記読み出し応答パケットの所定のデータ部分から前記読み出しデータを抽出し、前記読み出し応答パケットの所定のユーザデータフィールドから前記第2のタイプのエラーコードを抽出するためのレシーバ及びデパケタイザを備える、PHYをさらに備える、
請求項8のデータ処理システム。 - 前記メモリは、パーシステントストレージを有する不揮発性デュアルインラインメモリモジュール(NVDIMM-P)を備え、
前記メモリチャネルは、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)及び前記NVDIMM-Pにインターフェースするように構成された異種メモリチャネルであり、
前記メモリコントローラは、メモリアクセス要求を受信するための入力と、前記メモリアクセス要求に応じて復号化されたコマンドを提供するための出力と、を有する復号器を備え、
前記復号化されたコマンドは、前記メモリアクセス要求が前記NVDIMM-Pへの要求であるか否かを示す復号化された信号を含む、
請求項8のデータ処理システム。 - データプロセッサからメモリチャネル上のメモリデバイスにデータを書き込む方法であって、
前記データプロセッサのメモリコントローラが、書き込み要求を受信することと、
前記メモリコントローラが、前記書き込み要求に従って、第1のタイプのエラーコードを生成することと、
前記メモリコントローラが、前記書き込み要求に従って、前記第1のタイプのエラーコードとは異なる第2のタイプのエラーコードを生成することと、
対応するアドレスビットと、対応するデータビットと、所定のエラー訂正コード(ECC)フィールド内の前記第1のタイプのエラーコードの対応する第1のエラーコードビットと、所定のユーザビットフィールド内の前記第2のタイプのエラーコードの対応する第2のエラーコードビットと、を有する書き込みパケットを形成することと、
前記書き込みパケットを、前記メモリチャネルを介して前記データプロセッサから前記メモリデバイスに転送することと、を含む、
方法。 - 前記書き込みパケットが前記メモリチャネルを介して正しく受信されたか否かを、前記第1のタイプのエラーコードを使用して判別し、前記書き込みパケットが前記メモリチャネルを介して正しく受信されなかった場合にエラー応答を提供することと、
前記第2のタイプのエラーコードを前記メモリデバイスに格納することと、をさらに含む、
請求項11の方法。 - 前記書き込み要求に従って、前記第1のタイプのエラーコードを生成することは、前記書き込み要求の書き込みアドレスと、書き込みデータと、所定のメタデータビットと、に従って前記第1のタイプのエラーコードを生成することを含む、
請求項11の方法。 - 前記書き込みパケットを形成することは、
前記メモリデバイスがパーシステントストレージを備える不揮発性デュアルインラインメモリモジュール(NVDIMM-P)である場合に、前記対応するアドレスビットと、前記対応するデータビットと、前記所定のECCフィールド内の前記対応する第1のエラーコードビットと、前記所定のユーザビットフィールド内の前記対応する第2のエラーコードビットと、を有する前記書き込みパケットを選択的に形成することを含む、
請求項11の方法。 - 前記メモリデバイスから読み出し応答パケットを受信することと、
前記読み出し応答パケットの読み出しデータに応じて前記第1のタイプのエラーコードを生成し、前記第1のタイプのエラーコードと、前記読み出し応答パケット内の第1のエラーコードとを比較し、前記比較に応じて第1のタイプのエラー信号を選択的に生成することと、
前記読み出し応答パケットの前記読み出しデータ及びアドレスに応じて前記第2のタイプのエラーコードを生成し、前記第2のタイプのエラーコードと、前記読み出し応答パケット内の第2のエラーコードとを比較し、前記比較に応じて第2のタイプのエラー信号を選択的に生成することと、をさらに含む、
請求項11の方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022125240A JP2022153654A (ja) | 2019-08-12 | 2022-08-05 | パーシステントメモリシステム等のデータ完全性 |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IN201911032592 | 2019-08-12 | ||
IN201911032592 | 2019-08-12 | ||
US16/705,913 US11200106B2 (en) | 2019-08-12 | 2019-12-06 | Data integrity for persistent memory systems and the like |
US16/705,913 | 2019-12-06 | ||
PCT/US2020/042608 WO2021030007A1 (en) | 2019-08-12 | 2020-07-17 | Data integrity for persistent memory systems and the like |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022125240A Division JP2022153654A (ja) | 2019-08-12 | 2022-08-05 | パーシステントメモリシステム等のデータ完全性 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP7121875B1 true JP7121875B1 (ja) | 2022-08-18 |
JP2022537464A JP2022537464A (ja) | 2022-08-25 |
Family
ID=74566841
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022508745A Active JP7121875B1 (ja) | 2019-08-12 | 2020-07-17 | パーシステントメモリシステム等のデータ完全性 |
JP2022125240A Pending JP2022153654A (ja) | 2019-08-12 | 2022-08-05 | パーシステントメモリシステム等のデータ完全性 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022125240A Pending JP2022153654A (ja) | 2019-08-12 | 2022-08-05 | パーシステントメモリシステム等のデータ完全性 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11200106B2 (ja) |
EP (1) | EP4014146A4 (ja) |
JP (2) | JP7121875B1 (ja) |
KR (1) | KR102426619B1 (ja) |
CN (1) | CN114245891A (ja) |
WO (1) | WO2021030007A1 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2020-07-17 KR KR1020227007301A patent/KR102426619B1/ko active IP Right Grant
- 2020-07-17 WO PCT/US2020/042608 patent/WO2021030007A1/en unknown
- 2020-07-17 JP JP2022508745A patent/JP7121875B1/ja active Active
- 2020-07-17 CN CN202080056875.7A patent/CN114245891A/zh active Pending
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WO2018013584A1 (en) | 2016-07-15 | 2018-01-18 | Advanced Micro Devices, Inc. | Ddr memory error recovery |
JP2019527424A (ja) | 2016-07-15 | 2019-09-26 | アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッドAdvanced Micro Devices Incorporated | Ddrメモリエラーリカバリ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP4014146A4 (en) | 2022-10-12 |
CN114245891A (zh) | 2022-03-25 |
US20210049062A1 (en) | 2021-02-18 |
WO2021030007A1 (en) | 2021-02-18 |
JP2022537464A (ja) | 2022-08-25 |
US11200106B2 (en) | 2021-12-14 |
US11704183B2 (en) | 2023-07-18 |
KR102426619B1 (ko) | 2022-07-28 |
US20220091921A1 (en) | 2022-03-24 |
KR20220037518A (ko) | 2022-03-24 |
JP2022153654A (ja) | 2022-10-12 |
EP4014146A1 (en) | 2022-06-22 |
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