JP7114207B2 - 距離測定データの取得 - Google Patents
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Description
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- 監視領域(20)内の物体の距離測定データをスキャン法を用いて取得するための光電センサ(10)であって、前記監視領域(20)へ発射光(16)を複数の角度で送出するための発光器(12)と前記監視領域(20)から複数の角度で入射する受信光(22)から受光信号を生成するための受光器(26)とを備える測定ユニット、並びに、光伝播時間法で前記受光信号を評価することにより距離測定データを取得するように構成された制御及び評価ユニット(36)を備え、前記距離測定データが、角度を変化させながらスキャンが行われることにより角度解像度を有すると共に、連続する時点においてスキャンが反復されることにより時間解像度を有する、光電センサ(10)において、
前記制御及び評価ユニット(36)が更に、前記距離測定データを配列することで、距離値を含む画素が、変化するスキャン角度に対応する角度の次元と、スキャンが反復される連続する時点に対応する時間の次元にわたって配列された画像(46)を作成し、該画像(46)を機械学習の画像分類処理(48)で評価することで前記画素にそれぞれ妨害物の影響と物体という2つのクラスのいずれかを割り当てるように構成されていることを特徴とする光電センサ(10)。 - 前記画像分類処理(48)が、環境の影響による妨害物から物体を区別するものであることを特徴とする請求項1に記載のセンサ(10)。
- 前記妨害物が、塵埃、しぶき、霧、雨又は雪によるものであることを特徴とする請求項2に記載のセンサ(10)。
- 前記制御及び評価ユニット(36)が、妨害物として分類された画素における距離測定データを拒絶するように構成されていることを特徴とする請求項2又は3に記載のセンサ(10)。
- 前記制御及び評価ユニット(36)が画素に対して距離値に加えて強度値を特定するように構成されていることを特徴とする請求項1~4のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 前記制御及び評価ユニット(36)が画素に対して複数の距離を特定するように構成されていることを特徴とする請求項1~5のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 前記制御及び評価ユニット(36)が、画像(46)への配列のため、画素に対する距離測定データを内挿することで、元々測定が行われなかった角度及び/又は時間にも距離値を定めるように構成されていることを特徴とする請求項1~6のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 前記制御及び評価ユニット(36)が、光伝播時間が測定された角度及び/又は時間における距離測定データを前記画像(46)から逆算し、その距離測定データにそれぞれの角度及び/又はそれぞれの時間に隣接する一又は複数の画素からそれぞれのクラスを割り当てるように構成されていることを特徴とする請求項1~7のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 前記画像分類処理(48)が、ある一定の時間にある画素にのみクラスを割り当てることを特徴とする請求項1~8のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 前記画像分類処理(48)がディープニューラルネットワークを備えていることを特徴とする請求項1~9のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 前記画像分類処理(48)が、各画素におけるクラスが既知である画像(46)を用いて予め訓練されていることを特徴とする請求項1~10のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 既知の前記クラスが、前記監視領域(20)の特定の部分領域にある狙い定めた妨害物により予め定められていることを特徴とする請求項11に記載のセンサ(10)。
- 前記画像分類処理(48)が、特定のクラスについての誤差が小さくなるように最適化されていることを特徴とする請求項1~12のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 2次元レーザスキャナとして構成されていることを特徴とする請求項1~13のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 監視領域(20)内の物体の距離測定データをスキャン法を用いて取得する方法であって、前記監視領域(20)へ発射光(16)を複数の角度で送出し、前記監視領域(20)から複数の角度で入射する受信光(22)から受光信号を生成し、光伝播時間法で前記受光信号を評価することにより距離測定データを取得し、該距離測定データが、角度を変化させながらスキャンが行われることにより角度解像度を有すると共に、連続する時点においてスキャンが反復されることにより時間解像度を有する、方法において、
前記距離測定データを配列することで、距離値を含む画素が、変化するスキャン角度に対応する角度の次元と、スキャンが反復される連続する時点に対応する時間の次元にわたって配列された画像(46)を作成し、該画像(46)を機械学習の画像分類処理(48)で評価することで前記画素にそれぞれ妨害物の影響と物体という2つのクラスのいずれかを割り当てることを特徴とする方法。
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