JP7101383B2 - 三酸化タングステンの製造方法 - Google Patents
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Description
一方、三酸化タングステンの準安定構造であるHexagonal-WO3(六方晶WO3、以下「h―WO3」とも記載する。)は、内部のOpen Channelに起因したインターカレーション(intercalation)反応を示すことから注目を集めている。
被処理物である、タングステン源を含む溶液の液滴を形成する液滴形成工程と、
前記被処理物を、1000℃まで昇温する昇温工程と、
前記被処理物を、1000℃以上で10秒以上熱処理する熱処理工程と、を有し、
前記昇温工程に単位時間あたりに供給される前記タングステン源を含む溶液の液滴の合計した体積が0.3mL/min以下であり、
かつ前記昇温工程に供給される、前記タングステン源を含む溶液の液滴の個数密度が6×10 12 個/m 3 以下である三酸化タングステンの製造方法を提供する。
酸化物ナノ粒子の合成方法として従来から噴霧熱分解法が知られている。噴霧熱分解法では、酸化物の原料溶液を液滴化し、この液滴を原料の熱分解温度以上の領域にガス流とともに供給して、溶媒の蒸発、溶質の熱分解を経て、目的物である酸化物ナノ粒子を製造することができる。
(液滴形成工程)
液滴形成工程では、被処理物である、すなわち原料である、タングステン源を含む溶液の液滴を形成することができる。
液滴形成工程で形成した液滴は、例えばキャリアガスにより搬送し、昇温工程、熱処理工程に供することができる。
液滴形成工程で形成し、昇温工程に供給される、タングステン源を含む溶液の液滴、すなわち被処理物の個数密度は特に限定されないが、液滴の個数密度は6×1012個/m3以下であることが好ましい。昇温工程に供給される該液滴の個数密度が6×1012個/m3より大きい場合、昇温工程や熱処理工程で用いる炉体内の液滴の個数密度が過度に高くなるため炉体(ヒーター)からの輻射による伝熱が阻害され、炉体の外壁に近い液滴は炉体からの輻射熱を受けるが炉体の中心軸を通過する液滴は炉体からの輻射熱を十分に得られないことがある。また、液滴同士の衝突頻度が増加して粗大な液滴を生成する場合がある。
一方、該液滴の個数密度が6×1012個/m3以下の場合、全ての液滴について、より確実に炉体からの輻射熱を均一、かつ十分に得ることが可能になる。また、液滴同士の衝突、凝集を抑制できるため、粗大な液滴が生成することを特に抑制できる。
本発明の発明者らの研究によると液滴の個数密度は以下の(1)式により算出できる。
本発明の発明者らが検討を行った三酸化タングステンの製造装置においては、キャリアガス流量Qcが3L/minのとき、Qdropletは1.5mL/minであった。また、キャリアガス流量Qcが1L/minのとき、Qdropletは0.277mL/minであった。
液滴の平均粒子径Dは、タングステン源を含む溶液に超音波を照射して液滴を形成する場合には、照射する超音波の条件に依存し、キャリアガス流量Qcには依存しない。また、既述のスプレーノズル等により液滴を形成する場合も同様に、液滴の平均粒子径はキャリアガス流量Qcに依存しない。
液滴の平均粒子径Dの測定方法は特に限定されないが、例えば液滴の供給経路上にレーザー光を照射しておき、複数の液滴が該レーザー光を通過する時に散乱した光のパターンから、液滴の粒度分布や平均粒子径を測定することができる。係るレーザー光を用いた液滴の平均粒子径等を測定するためのシステムとしては、例えば英国Malvern Panalytical社のSpray particle analyzer systemを用いることができる。
例えば、液滴の平均粒子径Dを4.5μm、キャリアガス流量Qcを3L/minとした場合、本発明の発明者らが用いた製造装置では上述のようにQdropletは1.5mL/minとなることから、式(1)より、液滴の個数密度nunitは1.0×1013個/m3であった。
また、液滴の平均粒子径Dを4.5μm、キャリアガス流量Qcを1L/minとした場合、本発明の発明者らが用いた製造装置では上述のようにQdropletは0.277mL/minとなることから、式(1)より、液滴の個数密度nunitは5.8×1012個/m3であった。
本発明の発明者らの検討によれば、昇温工程に単位時間あたりに供給されるタングステン源を含む溶液の液滴の合計した体積Qdropletは、0.3mL/min以下であることが好ましい。これは、昇温工程に単位時間あたりに供給されるタングステン源を含む溶液の液滴の合計した体積Qdropletを0.3mL/min以下とすることで液滴形成工程で形成し、昇温工程に供給されるタングステン源を含む溶液の液滴の個数密度をより確実に所望の範囲とすることができるからである。
(昇温工程)
昇温工程では、被処理物である、液滴形成工程で形成した液滴を1000℃まで加熱、昇温することができる。
(熱処理工程)
昇温工程で1000℃まで加熱、昇温した後、熱処理工程では被処理物について、1000℃以上の熱処理温度で10秒以上保持することが好ましい。
[実施例1]
図1に示した三酸化タングステン製造装置10を用いて、三酸化タングステンの製造を行い、評価を行った。以下、具体的な条件について説明する。
液滴形成工程における液滴の個数密度を既述の式(1)を用いて算出した。
上述のように、キャリアガス流量を1L/minとしたところ、用いた三酸化タングステン酸化物製造装置では、既述の式(1)内の昇温工程に単位時間あたりに供給されるタングステン源を含む溶液の液滴の合計した体積Qdropletは0.277mL/minであった。液滴の平均粒子径Dを英国Malvern Panalytical社のSpray particle analyzer systemを用いて測定したところ4.5μmであった。
上述の数値を用いて既述の式(1)により液滴の個数密度nunitを計算すると5.8×1012個/m3であった。液滴の形成速度が遅いため、その個数密度が低く、液滴同士は衝突しにくいと推察される。このため、液滴は溶媒の蒸発等が生じるまでその平均粒子径を4.5μmに維持したまま炉体内に設置した配管131内部において昇温工程、熱処理工程を経ることができる。供給した液滴の個数密度が低いため、全ての粒子が他の粒子に妨害されずに炉体からの輻射熱を受けることが可能となり、昇温工程で生じた全ての三酸化タングステンを熱処理工程において昇華することができた。
(1)粉末X線回折
得られた三酸化タングステンについて、粉末X線回折装置(ブルカー社製 型式:D2 PHASER)を用い、粉末X線回折パターン(XRDパターン)の測定を行った。なお、線源としてはCuKα線(波長λ=1.54Å)を用い、管電圧40kV、管電流30mAとし、ScanStepを0.02°として粉末X線回折パターンの測定を行った。
(2)SEM像観察
得られた三酸化タングステンの粒子について、電界放出形走査型電子顕微鏡(FE-SEM:Field Emission-Scanning Electron Microscope 日立ハイテクノロジーズ製 型式:S-5200)を用いて観察を行った。観察は印加電圧を5~20kVとして行った。
(3)TEM像観察
得られた三酸化タングステンの粒子について、透過型電子顕微鏡(TEM:Transmission Electron Microscope 日本電子株式会社製 型式:JEM-3000F)を用いて観察を行った。観察は印加電圧を297kVとして行った。
(4)窒素吸脱着曲線、CO2吸着曲線
得られた三酸化タングステンの比表面積を測定するため、窒素吸脱着曲線の測定を行った。窒素吸脱着曲線は、高精度表面積/細孔分布測定装置(日本ベル株式会社製 型式:BELSORP-28SA)を用いて測定を行った。
[比較例1]
キャリアガスの流量を3L/minとした点以外は実施例1と同様にして三酸化タングステンの合成を行った。
本比較例の液滴形成工程における液滴の個数密度を既述の式(1)を用いて算出した。
上述のように、キャリアガス流量を3L/minとしたところ、用いた三酸化タングステン酸化物製造装置では、式(1)内の昇温工程に単位時間あたりに供給されるタングステン源を含む溶液の液滴の合計した体積Qdropletは1.5mL/minであった。液滴の平均粒子径Dを英国Malvern Panalytical社のSpray particle analyzer systemを用いて測定したところ4.5μmであった。
上述の数値を用いて既述の式(1)により液滴の個数密度nunitを計算すると1.0×1013個/m3であった。液滴形成工程での液滴の形成速度が速いため、液滴は昇温工程開始前や、昇温工程において互いに衝突しやすく、液滴は昇温工程において溶媒の蒸発が開始される直前において平均粒子径が4.5μm以上となり、粗大な液滴が生成している可能性がある。また、炉体内に設置した配管131内の液滴の個数密度が多いため、昇温工程で生じた三酸化タングステンに対して、熱処理工程では炉体からの輻射熱を十分に供給することができずに昇華が不十分になることがあると考えられる。
(1)粉末X線回折
三酸化タングステンについて、粉末X線回折パターン(XRDパターン)の測定を行った。
(2)SEM像観察
得られた三酸化タングステンの粒子のSEM像を図8に示す。
(3)TEM像観察
得られた三酸化タングステンの粒子のTEM像を図9に示す。
(4)窒素吸脱着曲線、CO2吸着曲線
得られた三酸化タングステンの窒素吸脱着曲線、及びCO2吸着曲線を図7(A)、図7(B)にそれぞれ示す。
[比較例2]
キャリアガスの流量を2L/minとした点以外は実施例1と同様にして三酸化タングステンの合成を行った。
(1)粉末X線回折
三酸化タングステンについて、粉末X線回折パターン(XRDパターン)の測定を行った。
(2)SEM像観察
得られた三酸化タングステンの粒子のSEM像を図10に示す。
Claims (3)
- 被処理物である、タングステン源を含む溶液の液滴を形成する液滴形成工程と、
前記被処理物を、1000℃まで昇温する昇温工程と、
前記被処理物を、1000℃以上で10秒以上熱処理する熱処理工程と、を有し、
前記昇温工程に単位時間あたりに供給される前記タングステン源を含む溶液の液滴の合計した体積が0.3mL/min以下であり、
かつ前記昇温工程に供給される、前記タングステン源を含む溶液の液滴の個数密度が6×10 12 個/m 3 以下である三酸化タングステンの製造方法。 - 前記タングステン源を含む溶液が、パラタングステン酸アンモニウム水溶液である請求項1に記載の三酸化タングステンの製造方法。
- 前記熱処理工程後に得られる三酸化タングステンが、粒子径が200nm以下の粒子を含む請求項1または請求項2に記載の三酸化タングステンの製造方法。
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