JP7096653B2 - 試験測定装置及び測定を提案するための試験測定装置をトレーニングする方法 - Google Patents
試験測定装置及び測定を提案するための試験測定装置をトレーニングする方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7096653B2 JP7096653B2 JP2017173708A JP2017173708A JP7096653B2 JP 7096653 B2 JP7096653 B2 JP 7096653B2 JP 2017173708 A JP2017173708 A JP 2017173708A JP 2017173708 A JP2017173708 A JP 2017173708A JP 7096653 B2 JP7096653 B2 JP 7096653B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- classification
- classifier
- waveform
- classifiers
- measuring device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N20/00—Machine learning
- G06N20/20—Ensemble learning
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/20—Analysing
- G06F18/21—Design or setup of recognition systems or techniques; Extraction of features in feature space; Blind source separation
- G06F18/214—Generating training patterns; Bootstrap methods, e.g. bagging or boosting
- G06F18/2148—Generating training patterns; Bootstrap methods, e.g. bagging or boosting characterised by the process organisation or structure, e.g. boosting cascade
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/20—Analysing
- G06F18/24—Classification techniques
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N20/00—Machine learning
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N7/00—Computing arrangements based on specific mathematical models
- G06N7/01—Probabilistic graphical models, e.g. probabilistic networks
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Evolutionary Biology (AREA)
- Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
- Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Probability & Statistics with Applications (AREA)
- Algebra (AREA)
- Computational Mathematics (AREA)
- Mathematical Analysis (AREA)
- Mathematical Optimization (AREA)
- Pure & Applied Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Description
測定データを受けるよう構成された入力ポートと、
該入力ポートと結合され、
複数の分類子を上記測定データに適用して、上記測定データに関する分類を決定し、
上記分類に対応し、1つ以上の提案される測定に対応するモデルを選択し、
上記入力ポートを通じて受ける波形を捕捉するときに、選択された上記モデルに対応する提案される上記測定を使用するように上記試験測定装置を設定する
よう構成されるプロセッサと
を具えている。
波形及び対応する既知の分類を含むトレーニング・データを入力ポートを介して受ける処理と、
プロセッサにより、
分類子の夫々を上記トレーニング・データの上記波形の夫々に繰り返し適用して、対応する予測波形分類を取得する処理と、
上記予測波形分類を上記既知の分類と比較する処理と、
対応する上記波形に関する上記既知の分類と一致しない予測波形分類を出力する上記分類子の夫々について修正する処理とにより、上記トレーニング・データについての複数の分類子をトレーニングする処理と
を具えている。
測定される波形又はバス入力に対応する測定データを受ける処理と、
上記分類子の夫々を上記測定データに適用して、測定された上記波形の分類を決定する処理と、
決定された上記分類を返答する上記分類子に対応するとともに、上記分類子に関する1つ以上の提案される測定に対応するモデルを選択する処理と、
測定される上記波形を捕捉するときに、選択された上記モデルに対応する提案された上記測定を利用するように上記試験測定装置を設定する処理と
を具えている。
110 オシロスコープ
111 表示部
113 操作部
115 ポート
121 被試験デバイス(DUT)1
123 バス
125 測定データ
200 オシロスコープ
211 表示部
212 プロセッサ
213 ユーザ操作部
214 信号分析回路
215 入力ポート
216 機械学習モジュール
217 メモリ
300 試験測定システム
331 トレーニング・データ
333 機械学習モジュール
335 分類子
336 モデル
337 捕捉された波形測定値/デバイス状態
338 レコメンダ
339 出力部
400 機械学習オブジェクトs
435 分類子
436 モデル
441 決定フォレスト
443 決定木
444 決定フォレスト
445 信頼しきい値
446 提案されたアクション
447 信頼値
Claims (5)
- 波形及び対応する既知の分類を含むトレーニング・データを受けるよう構成された入力ポートと、
該入力ポートと結合され、
分類子の夫々を上記トレーニング・データの上記波形の夫々に繰り返し適用して、対応する予測波形分類を取得する処理と、
上記予測波形分類を上記既知の分類と比較する処理と、
対応する上記波形に関する上記既知の分類と一致しない予測波形分類を出力する上記分類子の夫々について修正する処理とにより、上記トレーニング・データについて複数の上記分類子をトレーニングする処理と
を実行するよう構成されるプロセッサと
を具える試験測定装置。 - 上記入力ポートが、波形を含む測定データを受けるよう更に構成され、
上記プロセッサが、
トレーニングされた複数の分類子を上記測定データに適用する処理と、
上記測定データに関する分類を決定する処理と、
上記分類に対応し、1つ以上の提案される測定に対応するモデルを選択する処理と、
上記入力ポートを通じて受ける上記波形を捕捉するときに、選択された上記モデルに対応する提案される上記測定を使用するように上記試験測定装置を設定する処理と
を更に実行するよう構成される請求項1の試験測定装置。 - 試験測定装置であって、
波形を含む測定データを受けるよう構成された入力ポートと、
該入力ポートと結合され、
トレーニングされた複数の分類子を上記測定データに適用して、トレーニングされた複数の上記分類子夫々の信頼値を生成する処理と、
トレーニングされた複数の上記分類子夫々の上記信頼値が信頼しきい値を超えたか判断する処理と、
上記信頼しきい値を超える上記信頼値を生成した上記分類子が1つだけの場合に、上記信頼しきい値を超える上記信頼値を生成した上記分類子に対応する分類を上記測定データに関する分類として決定する処理と、
上記分類に対応し、1つ以上の提案される測定に対応するモデルを選択する処理と、
上記入力ポートを通じて受ける上記波形を捕捉するときに、選択された上記モデルに対応する提案される上記測定を使用するように上記試験測定装置を設定する処理と
を実行するよう構成されるプロセッサと
を具える試験測定装置。 - 測定を提案するよう試験測定装置をトレーニングする方法であって、
波形及び対応する既知の分類を含むトレーニング・データを入力ポートを介して受ける処理と、
プロセッサにより、
分類子の夫々を上記トレーニング・データの上記波形の夫々に繰り返し適用して、対応する予測波形分類を取得する処理と、
上記予測波形分類を上記既知の分類と比較する処理と、
対応する上記波形に関する上記既知の分類と一致しない予測波形分類を出力する上記分類子の夫々について修正する処理とにより、上記トレーニング・データについて複数の上記分類子をトレーニングする処理と
を具える試験測定装置をトレーニングする方法。 - 測定される波形又はバス入力に対応する測定データを受ける処理と、
上記分類子の夫々を上記測定データに適用して、測定された上記波形の分類を決定する処理と、
決定された上記分類を返答する上記分類子に対応するとともに、上記分類子に関する1つ以上の提案される測定に対応するモデルを選択する処理と、
測定される上記波形を捕捉するときに、選択された上記モデルに対応する提案された上記測定を利用するように上記試験測定装置を設定する処理と
を更に具える請求項4の試験測定装置をトレーニングする方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/262,406 US10585121B2 (en) | 2016-09-12 | 2016-09-12 | Recommending measurements based on detected waveform type |
US15/262406 | 2016-09-12 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018059912A JP2018059912A (ja) | 2018-04-12 |
JP7096653B2 true JP7096653B2 (ja) | 2022-07-06 |
Family
ID=59858596
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017173708A Active JP7096653B2 (ja) | 2016-09-12 | 2017-09-11 | 試験測定装置及び測定を提案するための試験測定装置をトレーニングする方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US10585121B2 (ja) |
EP (2) | EP4109113B1 (ja) |
JP (1) | JP7096653B2 (ja) |
CN (1) | CN107818331A (ja) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11531930B2 (en) * | 2018-03-12 | 2022-12-20 | Royal Bank Of Canada | System and method for monitoring machine learning models |
US11137323B2 (en) * | 2018-11-12 | 2021-10-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method of detecting anomalies in waveforms, and system thereof |
US11181552B2 (en) * | 2018-11-28 | 2021-11-23 | Tektronix, Inc. | Categorization of acquired data based on explicit and implicit means |
CN109547102B (zh) * | 2018-12-17 | 2020-05-29 | 北京邮电大学 | 一种光性能监测方法、装置、电子设备及可读存储介质 |
US10852323B2 (en) * | 2018-12-28 | 2020-12-01 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measurement apparatus and method for analyzing a waveform of a signal |
US11640523B2 (en) | 2019-01-02 | 2023-05-02 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Method for training a neural network, method for automatically characterizing a measurement signal, measurement apparatus and method for analyzing |
US11481667B2 (en) * | 2019-01-24 | 2022-10-25 | International Business Machines Corporation | Classifier confidence as a means for identifying data drift |
US11580382B2 (en) | 2019-04-26 | 2023-02-14 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Method and apparatus providing a trained signal classification neural network |
US11138477B2 (en) * | 2019-08-15 | 2021-10-05 | Collibra Nv | Classification of data using aggregated information from multiple classification modules |
US10749618B1 (en) * | 2019-10-22 | 2020-08-18 | Raytheon Company | Methods of closed-loop control of a radio frequency (RF) test environment based on machine learning |
US11798618B2 (en) * | 2019-11-15 | 2023-10-24 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Signal analyzer and method of processing data from an input signal |
US11481584B2 (en) * | 2020-01-15 | 2022-10-25 | Vmware, Inc. | Efficient machine learning (ML) model for classification |
CN115667947A (zh) * | 2020-06-11 | 2023-01-31 | 特克特朗尼克公司 | 用于测量和机器学习的多电平信号循环环路图像表示的系统和方法 |
US11526785B2 (en) | 2020-06-22 | 2022-12-13 | Vmware, Inc. | Predictability-driven compression of training data sets |
US11316542B2 (en) | 2020-08-10 | 2022-04-26 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Signal analysis method and signal analysis module |
US11867725B2 (en) | 2020-11-06 | 2024-01-09 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measurement instrument |
US20220247648A1 (en) * | 2021-02-03 | 2022-08-04 | Tektronix, Inc. | Eye classes separator with overlay, and composite, and dynamic eye-trigger for humans and machine learning |
JP2022136931A (ja) * | 2021-03-08 | 2022-09-21 | 株式会社豊田中央研究所 | 状態判断装置および車両 |
US11923896B2 (en) | 2021-03-24 | 2024-03-05 | Tektronix, Inc. | Optical transceiver tuning using machine learning |
US11923895B2 (en) | 2021-03-24 | 2024-03-05 | Tektronix, Inc. | Optical transmitter tuning using machine learning and reference parameters |
US11940889B2 (en) | 2021-08-12 | 2024-03-26 | Tektronix, Inc. | Combined TDECQ measurement and transmitter tuning using machine learning |
US11907090B2 (en) | 2021-08-12 | 2024-02-20 | Tektronix, Inc. | Machine learning for taps to accelerate TDECQ and other measurements |
US20230057479A1 (en) * | 2021-08-20 | 2023-02-23 | Tektronix, Inc. | Digital twin with machine learning waveform generation including parameter control for device under test emulation |
US20230386584A1 (en) * | 2022-05-27 | 2023-11-30 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods of correcting errors in unmatched memory devices |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000314750A (ja) | 1999-04-20 | 2000-11-14 | Tektronix Inc | デジタル・オシロスコープの動作制御方法 |
JP2000321307A (ja) | 1999-04-20 | 2000-11-24 | Tektronix Inc | オシロスコープの動作方法 |
JP2002162419A (ja) | 2000-10-11 | 2002-06-07 | Agilent Technol Inc | 信号測定システムで捕捉された信号の各パルス毎に、パルス特性のデータベースを生成するためのシステム及び方法 |
US20090281981A1 (en) | 2008-05-06 | 2009-11-12 | Chen Barry Y | Discriminant Forest Classification Method and System |
JP2016050830A (ja) | 2014-08-29 | 2016-04-11 | 日置電機株式会社 | 波形記録装置 |
US20160125218A1 (en) | 2014-10-30 | 2016-05-05 | Datalogic IP Tech, S.r.l. | Systems, methods and articles for reading highly blurred machine-readable symbols |
US20160341766A1 (en) | 2015-05-18 | 2016-11-24 | Fluke Precision Measurement Limited | Method and apparatus for classifying a signal waveform under test |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5092343A (en) * | 1988-02-17 | 1992-03-03 | Wayne State University | Waveform analysis apparatus and method using neural network techniques |
JPH05126859A (ja) * | 1991-11-08 | 1993-05-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | オシロスコープ |
GB9604315D0 (en) * | 1996-02-29 | 1996-05-01 | British Telecomm | Training process |
US6993440B2 (en) | 2002-04-22 | 2006-01-31 | Harris Corporation | System and method for waveform classification and characterization using multidimensional higher-order statistics |
EP1531478A1 (en) * | 2003-11-12 | 2005-05-18 | Sony International (Europe) GmbH | Apparatus and method for classifying an audio signal |
US7477999B2 (en) | 2006-10-26 | 2009-01-13 | Samplify Systems, Inc. | Data compression for a waveform data analyzer |
US8025425B2 (en) | 2007-06-06 | 2011-09-27 | Trex Enterprises Corp | Beaconless adaptive optics system |
AU2012225196B2 (en) * | 2011-03-04 | 2015-05-14 | Lbt Innovations Limited | Method and software for analysing microbial growth |
US20160012521A1 (en) | 2014-07-11 | 2016-01-14 | BidAway, Inc. | System and Method for Online Bidding |
US20170231519A1 (en) | 2014-08-19 | 2017-08-17 | The General Hospital Corporation | System and method for annotating and analyzing eeg waveforms |
-
2016
- 2016-09-12 US US15/262,406 patent/US10585121B2/en active Active
-
2017
- 2017-09-11 JP JP2017173708A patent/JP7096653B2/ja active Active
- 2017-09-12 CN CN201710816657.9A patent/CN107818331A/zh active Pending
- 2017-09-12 EP EP22190041.8A patent/EP4109113B1/en active Active
- 2017-09-12 EP EP17190691.0A patent/EP3293528B1/en active Active
-
2020
- 2020-03-06 US US16/811,753 patent/US11181553B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000314750A (ja) | 1999-04-20 | 2000-11-14 | Tektronix Inc | デジタル・オシロスコープの動作制御方法 |
JP2000321307A (ja) | 1999-04-20 | 2000-11-24 | Tektronix Inc | オシロスコープの動作方法 |
JP2002162419A (ja) | 2000-10-11 | 2002-06-07 | Agilent Technol Inc | 信号測定システムで捕捉された信号の各パルス毎に、パルス特性のデータベースを生成するためのシステム及び方法 |
US20090281981A1 (en) | 2008-05-06 | 2009-11-12 | Chen Barry Y | Discriminant Forest Classification Method and System |
JP2016050830A (ja) | 2014-08-29 | 2016-04-11 | 日置電機株式会社 | 波形記録装置 |
US20160125218A1 (en) | 2014-10-30 | 2016-05-05 | Datalogic IP Tech, S.r.l. | Systems, methods and articles for reading highly blurred machine-readable symbols |
US20160341766A1 (en) | 2015-05-18 | 2016-11-24 | Fluke Precision Measurement Limited | Method and apparatus for classifying a signal waveform under test |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11181553B2 (en) | 2021-11-23 |
EP3293528B1 (en) | 2022-11-23 |
JP2018059912A (ja) | 2018-04-12 |
US10585121B2 (en) | 2020-03-10 |
CN107818331A (zh) | 2018-03-20 |
EP3293528A3 (en) | 2018-07-18 |
US20180074096A1 (en) | 2018-03-15 |
EP4109113B1 (en) | 2024-05-01 |
US20200209282A1 (en) | 2020-07-02 |
EP4109113A1 (en) | 2022-12-28 |
EP3293528A2 (en) | 2018-03-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7096653B2 (ja) | 試験測定装置及び測定を提案するための試験測定装置をトレーニングする方法 | |
US11595415B2 (en) | Root cause analysis in multivariate unsupervised anomaly detection | |
US20200166546A1 (en) | Categorization of acquired data based on explicit and implicit means | |
US20230050162A1 (en) | Machine learning for taps to accelerate tdecq and other measurements | |
US11923895B2 (en) | Optical transmitter tuning using machine learning and reference parameters | |
US11263479B2 (en) | Training apparatus, training method, and non-transitory computer-readable recording medium | |
CN111340233B (zh) | 机器学习模型的训练方法及装置、样本处理方法及装置 | |
JP2022179459A (ja) | 測定方法及び試験測定システム | |
CN109729546A (zh) | 波形模型 | |
JP2024506293A (ja) | 人間と機械学習のためのオーバーレイ、コンポジット、ダイナミック・アイ・トリガを備えたアイのクラス・セパレータ | |
US20210406727A1 (en) | Managing defects in a model training pipeline using synthetic data sets associated with defect types | |
WO2022121544A1 (en) | Normalizing oct image data | |
US20200242412A1 (en) | Training apparatus, training method, and non-transitory computer-readable recording medium | |
US9289976B2 (en) | Automated high performance waveform design by evolutionary algorithm | |
US11698849B2 (en) | Automated application testing of mutable interfaces | |
CN112988566B (zh) | 测试覆盖率提高方法、装置、计算机设备及存储介质 | |
CN115730205A (zh) | 一种配置决策装置的方法、装置及相关设备 | |
Vakilipoor et al. | Poster: Hybrid Deep Learning-based Feature-augmented Detection For Molecular Communication Systems | |
US20230384084A1 (en) | Method and device for determining an optimized parameter set to perform a measurement | |
CN115757123B (zh) | 一种测试用例生成方法、装置、设备及介质 | |
TW202413960A (zh) | 使用提取自波形的線性回應之用於測量的機器學習 | |
CN117273164A (zh) | 用于使用从波形提取的线性响应进行测量的机器学习 | |
US20230408558A1 (en) | Machine learning for measurement using linear response extracted from waveform | |
Schäffer et al. | Spike Sorting Parameter Optimisation Framework Using Genetic Algorithm | |
CN116451738A (zh) | 使用去噪声数据的机器学习模型训练和具有噪声校正的模型预测 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A625 | Written request for application examination (by other person) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625 Effective date: 20200903 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210831 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20211005 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20211228 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20220201 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20220201 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20220307 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220405 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220419 |
|
R155 | Notification before disposition of declining of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R155 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220624 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7096653 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |