JP7077593B2 - Temporary stocker - Google Patents

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Description

本発明は、OHTの走行レールに併設される、ウエハ搬送容器の仮置きストッカに関する。 The present invention relates to a temporary storage stocker for a wafer transfer container, which is attached to an OHT traveling rail.

半導体工場では、各処理装置に対して、処理対象となるウエハを自動搬送するための搬送システムが用いられており、その一つとして、OHT(Overhead Hoist Transfer、天井走行式無人搬送車)を用いるシステムが挙げられる。OHTを用いる搬送システムでは、半導体工場の天井に設けられる走行レールを、多数のOHTが走行することにより、ウエハを収容したウエハ搬送容器を、ストッカから処理装置へ、処理装置から処理装置へ、処理装置からストッカへ、あるいはストッカからストッカへ移動させることができる。 In semiconductor factories, a transfer system for automatically transporting wafers to be processed is used for each processing device, and OHT (Overhead Hoist Transfer, automated guided vehicle) is used as one of them. The system is mentioned. In a transfer system using OHT, a large number of OHTs travel on a traveling rail provided on the ceiling of a semiconductor factory to process a wafer transfer container containing wafers from a stocker to a processing device and from a processing device to a processing device. It can be moved from the device to the stocker or from the stocker to the stocker.

OHTを用いる搬送システムでは、特定のウエハ搬送容器を迅速に処理装置やストッカへ移動させるために、OHTの走行レールに併設される仮置きストッカを有するものが提案されている。このような仮置きストッカは、所定のウエハ搬送容器を、他のウエハ搬送容器の移動を妨げないように一時的に走行レールから外すことができるため、ウエハ搬送容器の搬送効率を上昇させることができる。また、仮置きストッカにウエハ搬送容器を一時的に配置することにより、所定の処理装置で処理の終わったウエハ搬送容器を、集積位置であるストッカまで移動させることなく、次の処理装置へ搬送させることができる。 In a transfer system using OHT, in order to quickly move a specific wafer transfer container to a processing device or a stocker, a transfer system having a temporary storage stocker attached to a traveling rail of OHT has been proposed. In such a temporary storage stocker, the predetermined wafer transfer container can be temporarily removed from the traveling rail so as not to interfere with the movement of the other wafer transfer containers, so that the transfer efficiency of the wafer transfer container can be improved. can. Further, by temporarily arranging the wafer transfer container in the temporary storage stocker, the wafer transfer container that has been processed by the predetermined processing device is transferred to the next processing device without moving to the stocker, which is the accumulation position. be able to.

また、仮置きストッカを備える搬送システムでは、仮置きストッカに配置されたウエハ搬送容器内のウエハの酸化等を防止する目的から、仮置き中のウエハ搬送容器内に清浄化ガスを供給する技術が提案されている。 In addition, in a transfer system equipped with a temporary storage stocker, a technique for supplying cleaning gas into the wafer transfer container during temporary storage is used for the purpose of preventing oxidation of the wafer in the wafer transfer container placed in the temporary storage container. Proposed.

国際公開第2016/047260号International Publication No. 2016/047260

しかしながら、仮置きストッカのウエハ搬送容器内に清浄化ガスを供給する場合、供給する清浄化ガスやストッカ内のガスが、ウエハ搬送容器の周辺に漏洩する場合があり、工場内における局所的な酸素濃度低下を引き起こす恐れがある。また、従来の装置は、清浄化ガスの漏洩を抑制するために清浄化ガスの流入速度を抑制する必要が生じるため、仮置きストッカにおけるウエハ搬送容器の迅速な清浄化に支障があった。 However, when the cleaning gas is supplied into the wafer transport container of the temporary storage stocker, the supplied cleaning gas or the gas in the stocker may leak to the vicinity of the wafer transport container, and local oxygen in the factory may occur. May cause a decrease in concentration. Further, in the conventional device, it is necessary to suppress the inflow rate of the cleaning gas in order to suppress the leakage of the cleaning gas, which hinders the rapid cleaning of the wafer transport container in the temporary storage stocker.

本発明は、このような実情に鑑みてなされ、その目的は、仮置きされたウエハ搬送容器内からのガス流出等による局所的な酸素濃度低下などの問題を防止できる仮置きストッカを提供することである。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a temporary storage stocker capable of preventing problems such as a local decrease in oxygen concentration due to gas outflow from the temporarily placed wafer transfer container. Is.

上記目的を達成するために、本発明に係る仮置きストッカは、
半導体工場内でウエハ搬送容器を移送するOHTの走行レールに併設される前記ウエハ搬送容器の仮置きストッカであって、
前記ウエハ搬送容器を載置する載置棚と、
前記載置棚に載置された前記ウエハ搬送容器の内部に接続し、清浄化ガスを流入させるガス供給部と、
前記載置棚に載置された前記ウエハ搬送容器の周辺空間のガスを回収するコレクタと、を有する。
In order to achieve the above object, the temporary storage stocker according to the present invention is
It is a temporary storage stocker for the wafer transfer container attached to the running rail of the OHT that transfers the wafer transfer container in the semiconductor factory.
A mounting shelf on which the wafer transport container is placed, and
A gas supply unit that is connected to the inside of the wafer transfer container placed on the above-mentioned shelf and allows the cleaning gas to flow in, and a gas supply unit.
It has a collector for recovering gas in the space around the wafer transfer container placed on the above-mentioned storage rack.

本発明に係る仮置きストッカは、載置棚に載置されたウエハ搬送容器の周辺空間のガスを回収するコレクタを有するため、仮置きされたウエハ搬送容器内やガス供給部の接続部分からのガス漏出による局所的な酸素濃度低下を防止できる。また、たとえ仮置きストッカからガスが流出してもコレクタにより回収することが可能であるため、ガス供給部によるウエハ搬送容器内への清浄化ガスの流入速度を上昇させ、効率的な清浄化を行うことが可能である。 Since the temporary storage stocker according to the present invention has a collector that collects gas in the space around the wafer transfer container placed on the mounting shelf, it is provided from the inside of the temporarily placed wafer transfer container or the connection portion of the gas supply unit. It is possible to prevent a local decrease in oxygen concentration due to gas leakage. In addition, even if the gas flows out from the temporary storage stocker, it can be recovered by the collector, so the inflow rate of the cleaning gas into the wafer transfer container by the gas supply unit is increased, and efficient cleaning is achieved. It is possible to do.

また、例えば、前記コレクタは、前記周辺空間のガスが流入する流入開口部を有し、
前記流入開口部は、前記載置棚に載置されており蓋で閉止された前記ウエハ搬送容器の主開口に隣接して設けられていてもよい。
Further, for example, the collector has an inflow opening through which gas in the surrounding space flows.
The inflow opening may be provided adjacent to the main opening of the wafer transfer container which is placed on the above-mentioned shelf and is closed by a lid.

コレクタの流入開口部を、ウエハ搬送容器の主開口に隣接して設けることにより、蓋で閉止した主開口から漏出したガスを、コレクタによって効率的に回収することができる。 By providing the inflow opening of the collector adjacent to the main opening of the wafer transfer container, the gas leaking from the main opening closed by the lid can be efficiently recovered by the collector.

また、例えば、前記コレクタは、前記周辺空間のガスが流入する流入開口部を有し、
前記コレクタは、前記載置棚に載置された前記ウエハ搬送容器の下方に設けられていてもよい。
Further, for example, the collector has an inflow opening through which gas in the surrounding space flows.
The collector may be provided below the wafer transfer container placed on the above-mentioned storage rack.

また、例えば、前記コレクタは、前記周辺空間のガスが流入する流入開口部を有し、
前記流入開口部は上向きに開口していてもよい。
Further, for example, the collector has an inflow opening through which gas in the surrounding space flows.
The inflow opening may be open upward.

このようなコレクタは、天井近くの仮置きストッカから、半導体工場内で人が通過する可能性のある床の近くへ、窒素などの清浄化ガスや、ウエハ搬送容器から漏出したガスが流れることを効果的に防止できる。 Such collectors prevent the flow of cleaning gas such as nitrogen and gas leaked from the wafer transfer container from the temporary stocker near the ceiling to near the floor where people may pass in the semiconductor factory. Can be effectively prevented.

また、例えば、前記コレクタは、前記周辺空間のガスが流入する流入開口部を有し、
前記流入開口部は前記ウエハ搬送容器の蓋を向くように開口してもよい。
Further, for example, the collector has an inflow opening through which gas in the surrounding space flows.
The inflow opening may be opened so as to face the lid of the wafer transfer container.

コレクタの流入開口部を、ウエハ搬送容器の蓋を向くように開口させることにより、蓋で閉止した主開口から漏出したガスを、コレクタによって効率的に回収することができる。 By opening the inflow opening of the collector so as to face the lid of the wafer transfer container, the gas leaked from the main opening closed by the lid can be efficiently recovered by the collector.

また、例えば、前記載置棚は、複数の前記ウエハ搬送容器を載置可能であり、
前記コレクタは、前記載置棚に載置される前記複数の前記ウエハ搬送容器の前記周辺空間のガスを回収してもよい。
Further, for example, the above-mentioned storage rack can mount a plurality of the wafer transport containers.
The collector may recover the gas in the peripheral space of the plurality of wafer transfer containers placed on the above-mentioned storage rack.

載置棚に複数のウエハ搬送容器が仮置きされると、ガスの漏出量が大きくなる傾向があるが、上述のようなコレクタを有する仮置きストッカは、仮置きされたウエハ搬送容器内やガス供給部の接続部分からのガス漏出による局所的な酸素濃度低下を防止できる。 When a plurality of wafer transport containers are temporarily placed on the mounting shelf, the amount of gas leakage tends to increase. However, the temporary stocker having a collector as described above is used in the temporarily placed wafer transport container or gas. It is possible to prevent a local decrease in oxygen concentration due to gas leakage from the connection portion of the supply unit.

また、例えば、本発明に係る仮置きストッカは、前記コレクタによる前記周辺空間のガスの回収を開始及び停止させる制御部を有してもよい。 Further, for example, the temporary storage stocker according to the present invention may have a control unit for starting and stopping the recovery of gas in the surrounding space by the collector.

このような制御部を有する仮置きストッカは、例えば載置棚にウエハ搬送容器が載置されてない場合や、ガス供給部からの清浄化ガスの供給が行われていない場合などに、コレクタによる周辺空間のガスの回収を停止させることができる。 The temporary storage stocker having such a control unit is provided by the collector, for example, when the wafer transfer container is not placed on the mounting shelf or when the cleaning gas is not supplied from the gas supply unit. It is possible to stop the collection of gas in the surrounding space.

また、例えば、本発明に係る仮置きストッカは、前記載置棚に載置された前記ウエハ搬送容器の内部に接続し、前記ウエハ搬送容器内からガスを流出させるガス排出部を有してもよい。 Further, for example, the temporary storage stocker according to the present invention may have a gas discharging unit that is connected to the inside of the wafer transport container placed on the above-mentioned shelf and allows gas to flow out from the wafer transport container. good.

ガス排出部を有することにより、ウエハ搬送容器からのガスの漏出量を抑制するとともに、ガス供給部からウエハ搬送容器内へ、効率的に清浄化ガスを導入することが可能となる。 By having the gas discharge unit, it is possible to suppress the amount of gas leaking from the wafer transfer container and efficiently introduce the cleaning gas from the gas supply unit into the wafer transfer container.

図1は、本発明の一実施形態に係る仮置きストッカを備える半導体工場の概念図である。FIG. 1 is a conceptual diagram of a semiconductor factory provided with a temporary storage stocker according to an embodiment of the present invention. 図2は、本発明の一実施形態に係る仮置きストッカを上方から見た概念図である。FIG. 2 is a conceptual diagram of a temporary stocker according to an embodiment of the present invention as viewed from above. 図3は、図1に示す仮置きストッカへのウエハ搬送容器の載置動作に関する一状態を表す概念図である。FIG. 3 is a conceptual diagram showing one state regarding the operation of placing the wafer transfer container on the temporary storage container shown in FIG. 1. 図4は、図1に示す仮置きストッカへのウエハ搬送容器の載置動作に関する他の一状態を表す概念図である。FIG. 4 is a conceptual diagram showing another state regarding the operation of placing the wafer transfer container on the temporary storage container shown in FIG. 1. 図5は、図1に示す仮置きストッカが有するコレクタの拡大斜視図である。FIG. 5 is an enlarged perspective view of a collector included in the temporary stocker shown in FIG.

図1は、本発明の一実施形態に係る仮置きストッカ20を備える半導体工場100の概念図である。図1に示すように、半導体工場100において、処理対象であるウエハは、処理装置96等の内部を除き、フープ(FOUP)80などのウエハ搬送容器に収容された状態で搬送される。半導体工場100内には、フープ80を保管するストッカ94や、ウエハに対して処理を行う処理装置96が備えられている。 FIG. 1 is a conceptual diagram of a semiconductor factory 100 including a temporary storage stocker 20 according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, in the semiconductor factory 100, the wafer to be processed is conveyed in a state of being housed in a wafer transfer container such as a hoop (FOUP) 80, except for the inside of the processing device 96 and the like. The semiconductor factory 100 is provided with a stocker 94 for storing the hoop 80 and a processing device 96 for processing the wafer.

図1では、1つのストッカ94と一つの処理装置96のみが表示されているが、半導体工場100内には、通常、より多くの処理装置96及びストッカ94が備えられており、フープ80は、ウエハを自動搬送するための搬送システム90によって、これらの処理装置96及びストッカ94の間で搬送される。 In FIG. 1, only one stocker 94 and one processing device 96 are displayed, but the semiconductor factory 100 is usually provided with more processing devices 96 and stocker 94, and the hoop 80 is a hoop 80. Wafers are transported between the processing device 96 and the stocker 94 by a transport system 90 for automatically transporting wafers.

図1に示すように、搬送システム90は、走行レール92と、走行レール92上を移動するOHT93とを有している。走行レール92は、半導体工場100の天井付近に設けられており、OHT93は、走行レール92に沿って半導体工場100内を移動する。たとえば、OHT93は、ストッカ94に保管されており、処理前のウエハが収容されるフープ80を、ストッカ94から処理装置96に備えられるロードポート装置98まで搬送する。さらに、OHT93は、処理済みのウエハが収容されたフープ80を、処理装置96のロードポート装置98から、ストッカ94まで搬送する。 As shown in FIG. 1, the transport system 90 has a traveling rail 92 and an OHT 93 moving on the traveling rail 92. The traveling rail 92 is provided near the ceiling of the semiconductor factory 100, and the OHT 93 moves in the semiconductor factory 100 along the traveling rail 92. For example, the OHT 93 is stored in the stocker 94 and transports the hoop 80 containing the wafer before processing from the stocker 94 to the load port device 98 provided in the processing device 96. Further, the OHT 93 conveys the hoop 80 containing the processed wafer from the load port device 98 of the processing device 96 to the stocker 94.

OHT93は、走行レール92に沿って移動することに加え、フープ80を昇降移動させる図示しない昇降装置や、フープ80を走行レール92の側方(走行方向に直交する方向)に移動させる横送り装置(図2、3参照)を有している。OHT93は、走行レール92に沿って移動しながら、昇降装置や横送り装置を用いることにより、ウエハ84(図4参照)を収容したフープ80を、半導体工場100内の所定の位置から他の所定の位置まで移動させることができる。図1では、1つのOHT93のみが表示されているが、半導体工場100内では、通常複数のOHT93が用いられる。 In addition to moving along the traveling rail 92, the OHT 93 includes an elevating device (not shown) that moves the hoop 80 up and down, and a lateral feed device that moves the hoop 80 to the side of the traveling rail 92 (in a direction orthogonal to the traveling direction). (See FIGS. 2 and 3). The OHT 93 moves the hoop 80 containing the wafer 84 (see FIG. 4) from a predetermined position in the semiconductor factory 100 by using an elevating device or a lateral feed device while moving along the traveling rail 92. Can be moved to the position of. In FIG. 1, only one OHT93 is displayed, but in the semiconductor factory 100, a plurality of OHT93s are usually used.

図1に示すように、半導体工場100には、仮置きストッカ20が備えられている。仮置きストッカ20は、半導体工場100内でフープ80を移送するOHT93の走行レール92に併設される。仮置きストッカ20は、処理装置96の周辺における走行レール92に併設されており、仮置きストッカ20の載置棚22は、半導体工場100の天井100a付近に設けられる。 As shown in FIG. 1, the semiconductor factory 100 is provided with a temporary storage stocker 20. The temporary storage stocker 20 is attached to the traveling rail 92 of the OHT 93 that transfers the hoop 80 in the semiconductor factory 100. The temporary storage stocker 20 is attached to the traveling rail 92 around the processing device 96, and the mounting shelf 22 of the temporary storage stocker 20 is provided near the ceiling 100a of the semiconductor factory 100.

仮置きストッカ20の載置棚22は、処理装置96(もしくはこれに併設されるEFEM)にアクセスするロードポート装置98の載置台より走行レール92に近く、ロードポート装置98の載置台より高い位置であって、処理装置96へのフープ80の移送を妨げない位置に設けられることが好ましい。載置棚22は、半導体工場100の天井100a(図3参照)から吊り下げられる形で設置することが好ましいが、仮置きストッカ20を支えることができる態様であれば、載置棚22の設置態様は特に限定されない。 The mounting shelf 22 of the temporary storage stocker 20 is closer to the traveling rail 92 than the mounting table of the load port device 98 that accesses the processing device 96 (or EFEM attached thereto), and is located higher than the mounting table of the load port device 98. Therefore, it is preferable that the hoop 80 is provided at a position that does not interfere with the transfer of the hoop 80 to the processing device 96. The mounting shelf 22 is preferably installed so as to be suspended from the ceiling 100a (see FIG. 3) of the semiconductor factory 100, but if the temporary storage stocker 20 can be supported, the mounting shelf 22 is installed. The embodiment is not particularly limited.

仮置きストッカ20は、処理装置96における処理前後のウエハ84を収容するフープ80を、ストッカ94に近い位置で一時的に保管することにより、半導体工場100内でのフープ80の移送を効率的に行わせることができる。また、後述するように、仮置きストッカ20は、フープ80の内部に清浄化ガスを流入させるガス供給部24を有しているため、処理装置96における処理前後のウエハ84を収容するフープ80内を清浄化することができる。仮置きストッカ20においてフープ80内の清浄化を行うことにより、フープ80内に収容されたウエハ84が、仮置きストッカ20に載置されている間に酸化する問題を防止できるとともに、ロードポート装置98などで行うフープ80の清浄化処理を、仮置きストッカ20が代替することにより、ロードポート装置98による処理時間を短縮することができる。 The temporary storage stocker 20 efficiently transfers the hoop 80 in the semiconductor factory 100 by temporarily storing the hoop 80 accommodating the wafer 84 before and after processing in the processing apparatus 96 at a position close to the stocker 94. Can be done. Further, as will be described later, since the temporary storage stocker 20 has a gas supply unit 24 for inflowing the cleaning gas into the hoop 80, the inside of the hoop 80 accommodating the wafer 84 before and after the processing in the processing device 96. Can be cleaned. By cleaning the inside of the hoop 80 in the temporary storage stocker 20, it is possible to prevent the problem that the wafer 84 housed in the hoop 80 is oxidized while being placed on the temporary storage stocker 20, and the load port device. By substituting the temporary storage stocker 20 for the cleaning process of the hoop 80 performed by the 98 or the like, the processing time by the load port device 98 can be shortened.

仮置きストッカ20の載置棚22には、1つのフープ80のみが載置可能であってもよいが、図1に示すように、複数のウエハ搬送容器としてフープ80が載置可能であってもよい。仮置きストッカ20は、載置棚22に載置されるフープ80を覆う筐体(カバー)を有していない。したがって、仮置きストッカ20の載置棚22に載置されたフープ80は、ストッカ94に保管されるフープ80とは異なり、半導体工場100内の環境に露出している。ただし、仮置きストッカ20は、載置されるフープ80を覆うカバーを有していてもよい。 Only one hoop 80 may be placed on the mounting shelf 22 of the temporary storage stocker 20, but as shown in FIG. 1, the hoop 80 can be placed as a plurality of wafer transfer containers. May be good. The temporary storage stocker 20 does not have a housing (cover) for covering the hoop 80 mounted on the mounting shelf 22. Therefore, unlike the hoop 80 stored in the stocker 94, the hoop 80 placed on the mounting shelf 22 of the temporary stocker 20 is exposed to the environment in the semiconductor factory 100. However, the temporary storage stocker 20 may have a cover that covers the hoop 80 to be placed.

図2は、図1に示す仮置きストッカ20を上方(天井側)から見た概念図である。図2に示す例では、OHT93の走行レール92の左側に、2つの仮置きストッカ20が連続して併設されている。仮置きストッカ20は、図1に示すように、走行レール92を挟んで両側に設けられていてもよく、図2に示すように、走行レール92の片側に、複数の仮置きストッカ20が、並んで配置されていてもよい。 FIG. 2 is a conceptual diagram of the temporary storage stocker 20 shown in FIG. 1 as viewed from above (ceiling side). In the example shown in FIG. 2, two temporary storage stockers 20 are continuously arranged on the left side of the traveling rail 92 of the OHT 93. As shown in FIG. 1, the temporary storage stockers 20 may be provided on both sides of the traveling rail 92, and as shown in FIG. 2, a plurality of temporary storage stockers 20 are provided on one side of the traveling rail 92. They may be arranged side by side.

図2に示すように、仮置きストッカ20は、フープ80を載置する載置棚22と、載置棚22に載置されたフープ80の周辺空間のガスを回収するコレクタ30とを有する。また、仮置きストッカ20は、載置棚22に載置されたフープ80の内部に接続し、フープ80の内部に清浄化ガスを流入させるガス供給部24と、載置棚22に載置されたフープ80の内部に接続し、フープ80内からガスを流出させるガス排出部26とを有する。 As shown in FIG. 2, the temporary storage stocker 20 has a mounting shelf 22 on which the hoop 80 is placed, and a collector 30 for recovering gas in the space around the hoop 80 mounted on the mounting shelf 22. Further, the temporary storage stocker 20 is connected to the inside of the hoop 80 mounted on the mounting shelf 22, and is mounted on the mounting shelf 22 and the gas supply unit 24 for allowing the cleaning gas to flow into the inside of the hoop 80. It has a gas discharge unit 26 that is connected to the inside of the hoop 80 and allows gas to flow out from the inside of the hoop 80.

図2に示すように、載置棚22は、それぞれ1つのフープ80を載置できる第1載置部22a、第2載置部22b、第3載置部22cを有しており、1つの仮置きストッカ20の載置棚22には、最大3つのフープ80を載置することができる。図2下方の第2載置部22bに示すように、OHT93で移送されるフープ80は、OHT93の横送り装置93aにより、走行レール92の直下から、走行レール92に併設される載置棚22に受け渡される。 As shown in FIG. 2, each of the mounting shelves 22 has a first mounting portion 22a, a second mounting portion 22b, and a third mounting portion 22c on which one hoop 80 can be placed. A maximum of three hoops 80 can be placed on the mounting shelf 22 of the temporary storage stocker 20. As shown in the second mounting portion 22b at the bottom of FIG. 2, the hoop 80 transferred by the OHT 93 is mounted on the mounting shelf 22 attached to the traveling rail 92 from directly below the traveling rail 92 by the lateral feed device 93a of the OHT 93. Handed over to.

載置棚22の第1載置部22a~第3載置部22cには、それぞれ、ガス供給部24の一部であるガス供給ノズルと、ガス排出部26の一部である排出ノズルとが、2つずつ設けられている。ガス供給部24のガス供給ノズルは、載置棚22に載置されたフープ80の底部に形成された導入孔(不図示)に接続する。ガス供給ノズルには窒素などの清浄化ガスが供給されるため、載置棚22に載置されたフープ80の内部には、フープ80の導入孔を介して清浄化ガスを導入することができる。 The first mounting section 22a to the third mounting section 22c of the mounting shelf 22 have a gas supply nozzle that is a part of the gas supply section 24 and a discharge nozzle that is a part of the gas discharge section 26, respectively. Two are provided. The gas supply nozzle of the gas supply unit 24 is connected to an introduction hole (not shown) formed at the bottom of the hoop 80 mounted on the mounting shelf 22. Since the cleaning gas such as nitrogen is supplied to the gas supply nozzle, the cleaning gas can be introduced into the hoop 80 mounted on the mounting shelf 22 through the introduction hole of the hoop 80. ..

これに対して、ガス排出部26のガス排出ノズルは、載置棚22に載置されたフープ80の底部に形成された排出孔(不図示)に接続する。排出ノズルはフープ80内より圧力の低い排出流路に接続されており、ガス排出部26は、載置棚22に載置されたフープ80内からガスを流出させることができる。また、仮置きストッカは、載置棚22に載置されたフープ80に対して、ガス供給部24からフープ80内に清浄化ガスを導入するとともに、ガス排出部26からフープ80内のガスを排出することにより、効率的にフープ80内を清浄化することができる。 On the other hand, the gas discharge nozzle of the gas discharge unit 26 is connected to a discharge hole (not shown) formed at the bottom of the hoop 80 mounted on the mounting shelf 22. The discharge nozzle is connected to a discharge flow path having a lower pressure than the inside of the hoop 80, and the gas discharge unit 26 can discharge gas from the inside of the hoop 80 mounted on the mounting shelf 22. Further, the temporary storage stocker introduces the cleaning gas into the hoop 80 from the gas supply unit 24 to the hoop 80 placed on the mounting shelf 22, and also introduces the gas in the hoop 80 from the gas discharge unit 26. By discharging the gas, the inside of the hoop 80 can be efficiently cleaned.

図2に示すように、仮置きストッカ20が有するコレクタ30は、周辺空間のガスが流入する流入開口部32を有している。仮置きストッカ20のコレクタ30は、3つの流入開口部32を有しており、それぞれの流入開口部32は、載置棚22の各第1~第3載置部22a~22cに対応して設けられている。コレクタ30は、載置棚22に載置される複数のフープ80の周辺空間のガスを回収する。 As shown in FIG. 2, the collector 30 included in the temporary storage stocker 20 has an inflow opening 32 into which gas in the surrounding space flows. The collector 30 of the temporary storage stocker 20 has three inflow openings 32, and each inflow opening 32 corresponds to each of the first to third mounting portions 22a to 22c of the mounting shelf 22. It is provided. The collector 30 recovers the gas in the surrounding space of the plurality of hoops 80 mounted on the mounting shelf 22.

図5は、図2に示す流入開口部32を拡大して表示したものである。コレクタ30の流入開口部32は、上面が開口面32aとなっている中空の略直方形状を有しており、流入開口部32は上向きに開口している。流入開口部32の下面には、半導体工場100内より圧力の低い排出ダクト(不図示)に繋がる排出経路36が接続しており、コレクタ30は、流入開口部32を介して半導体工場100の空気を吸い込むことができる。 FIG. 5 is an enlarged display of the inflow opening 32 shown in FIG. The inflow opening 32 of the collector 30 has a hollow substantially rectangular shape whose upper surface is an opening surface 32a, and the inflow opening 32 opens upward. A discharge path 36 connected to a discharge duct (not shown) having a lower pressure than the inside of the semiconductor factory 100 is connected to the lower surface of the inflow opening 32, and the collector 30 passes the air of the semiconductor factory 100 through the inflow opening 32. Can be inhaled.

図3は、図2に示す仮置きストッカ20を走行レール92に沿う方向から観察した概念図である。図3は、OHT93が、OHT93によって保持されるフープ80を、仮置きストッカ20に受け渡すために、仮置きストッカ20の側方に停止した状態を表している(図2の上方に示されるOHT93を参照)。図3に示すように、仮置きストッカ20の載置棚22は、高さ方向に関して、載置棚22の上面が、走行レール92を走行中のOHT93に保持されるフープ80の底面と略同じ高さになるように配置される。 FIG. 3 is a conceptual diagram of the temporarily placed stocker 20 shown in FIG. 2 observed from a direction along the traveling rail 92. FIG. 3 shows a state in which the OHT 93 is stopped laterally of the temporary stocker 20 in order to deliver the hoop 80 held by the OHT 93 to the temporary stocker 20 (OHT93 shown in the upper part of FIG. 2). See). As shown in FIG. 3, in the mounting shelf 22 of the temporary storage stocker 20, the upper surface of the mounting shelf 22 is substantially the same as the bottom surface of the hoop 80 held by the OHT 93 traveling on the traveling rail 92 in the height direction. Arranged to be at a height.

図4は、図3と同様に、仮置きストッカ20を走行レール92に沿う方向から観察した概念図である。図4は、仮置きストッカ20の側方に停止したOHT93が、保持するフープ80を、仮置きストッカ20に受け渡している状態を表している(図2の下方に示されるOHT93を参照)。図4に示すように、OHT93は、横送り装置93aを用いて、保持するフープ80を走行レールの延びる方向とは直交する方向に移動させ、走行レール92に併設される仮置きストッカの棚に、フープ80を載置する。 FIG. 4 is a conceptual diagram of the temporarily placed stocker 20 observed from the direction along the traveling rail 92, as in FIG. FIG. 4 shows a state in which the OHT93 stopped on the side of the temporary storage stocker 20 delivers the hoop 80 to be held to the temporary storage stocker 20 (see OHT93 shown at the bottom of FIG. 2). As shown in FIG. 4, the OHT 93 uses the lateral feed device 93a to move the hoop 80 to be held in a direction orthogonal to the extending direction of the traveling rail, and puts the hoop 80 on the shelf of the temporary storage stocker attached to the traveling rail 92. , Place the hoop 80.

図4に示すように、OHT93は、蓋82で閉止されたフープ80の主開口80aが、走行レール92とは反対側を向くように、載置棚22に対してフープ80を載置する。また、載置棚22に載置されるフープ80は、主開口80a側の端部が載置棚22に対して水平方向にはみ出すように載置される。 As shown in FIG. 4, the OHT 93 mounts the hoop 80 on the mounting shelf 22 so that the main opening 80a of the hoop 80 closed by the lid 82 faces the side opposite to the traveling rail 92. Further, the hoop 80 mounted on the mounting shelf 22 is mounted so that the end portion on the main opening 80a side protrudes horizontally with respect to the mounting shelf 22.

図4に示すように、コレクタ30の流入開口部32は、載置棚22に載置されており蓋82で閉止されたフープ80の主開口80aに隣接して設けられる。また、コレクタ30の流入開口部32は、その開口面32aが載置棚22の上面と略同じ高さになるように配置されており、載置棚22からはみ出したフープ80の一部が、開口面32aの直上に位置するようになっている。 As shown in FIG. 4, the inflow opening 32 of the collector 30 is provided adjacent to the main opening 80a of the hoop 80 mounted on the mounting shelf 22 and closed by the lid 82. Further, the inflow opening 32 of the collector 30 is arranged so that the opening surface 32a is substantially the same height as the upper surface of the mounting shelf 22, and a part of the hoop 80 protruding from the mounting shelf 22 is formed. It is located directly above the opening surface 32a.

図4に示すように、コレクタ30の流入開口部32は、排出経路36を介して排気ダクトに接続されており、排出経路36には、制御部60によって開閉を切替可能な弁34が備えられる。排気経路36の構造は、直管を接手で連結したものであってもよく、蛇腹の配管であってもよく、半導体工場100の天井100aに設置可能な構造であれば、特に限定されない。 As shown in FIG. 4, the inflow opening 32 of the collector 30 is connected to the exhaust duct via the discharge path 36, and the discharge path 36 is provided with a valve 34 that can be switched between opening and closing by the control unit 60. .. The structure of the exhaust path 36 may be a straight pipe connected by a hand, a bellows pipe, and is not particularly limited as long as it can be installed on the ceiling 100a of the semiconductor factory 100.

制御部60は、排出経路36の弁34の開閉を切り替えることにより、コレクタ30によるフープ80の周辺空間のガスの回収を、開始及び停止させることができる。排出経路36及び弁34は、コレクタ30の流入開口部32毎に設けられており、制御部60は、流入開口部32毎に、ガス回収の開始及び停止を制御できる。 The control unit 60 can start and stop the gas recovery in the space around the hoop 80 by the collector 30 by switching the opening and closing of the valve 34 of the discharge path 36. The discharge path 36 and the valve 34 are provided for each inflow opening 32 of the collector 30, and the control unit 60 can control the start and stop of gas recovery for each inflow opening 32.

制御部60は、半導体工場100が稼働中は常に、コレクタ30によるガスの回収を続けてもよいが、仮置きストッカ20や排気ダクトの状態に応じて、コレクタ30によるガス回収の開始及び停止を制御してもよい。たとえば、制御部60は、図2の上方に示す仮置きストッカ20の第3載置部22c(図4参照)のように、フープ80が載置されている載置部22cに対応する流入開口部32からは周辺空間のガス回収を行い、フープ80が載置されていない載置部については、ガスの回収を停止することができる。 The control unit 60 may continue to collect gas by the collector 30 while the semiconductor factory 100 is in operation, but the control unit 60 may start and stop gas recovery by the collector 30 according to the state of the temporary storage stocker 20 and the exhaust duct. You may control it. For example, the control unit 60 has an inflow opening corresponding to the mounting unit 22c on which the hoop 80 is mounted, as in the third mounting unit 22c (see FIG. 4) of the temporary storage stocker 20 shown above in FIG. Gas recovery in the surrounding space can be performed from the section 32, and gas recovery can be stopped at the mounting section on which the hoop 80 is not mounted.

また、制御部60は、図4に示すガス供給部24によるフープ80内への清浄化ガスの導入に同期して、コレクタ30によるガス回収の開始及び停止を制御してもよい。たとえば、制御部60は、ガス供給部24からフープ80内に清浄化ガスを導入している間はコレクタ30による周辺空間のガス回収を行い、ガス供給部24からフープ80内に清浄化ガスが導入されていない場合は、コレクタ30によるガスの回収を停止することができる。フープ80に清浄化ガスを供給している間は、フープ80内の内圧が高まる傾向にあり、フープ80からのガスの漏洩が多くなる傾向があるためである。 Further, the control unit 60 may control the start and stop of gas recovery by the collector 30 in synchronization with the introduction of the purified gas into the hoop 80 by the gas supply unit 24 shown in FIG. For example, the control unit 60 recovers the gas in the surrounding space by the collector 30 while the cleaning gas is introduced into the hoop 80 from the gas supply unit 24, and the cleaning gas is discharged from the gas supply unit 24 into the hoop 80. If it has not been introduced, the collection of gas by the collector 30 can be stopped. This is because the internal pressure in the hoop 80 tends to increase while the cleaning gas is being supplied to the hoop 80, and the gas leaks from the hoop 80 tends to increase.

さらに、制御部60は、ガス供給部24によるフープ80内への清浄化ガス導入流量を変更可能であってもよく、この場合、制御部60は、フープ80内への清浄化ガス導入流量に応じて、コレクタ30によるガス回収の開始及び停止を制御してもよい。たとえば、制御部60は、ガス供給部24によるフープ80内へのガス流量が所定値以上である場合にはコレクタ30による周辺空間のガス回収を行い、フープ80内へのガス流量が所定値未満である場合にはコレクタ30によるガス回収を停止する。フープ80へ導入するガスの流量が多いと、フープ80からのガスの漏洩が多くなる傾向があるためである。 Further, the control unit 60 may be able to change the flow rate of cleaning gas introduced into the hoop 80 by the gas supply unit 24, and in this case, the control unit 60 may change the flow rate of cleaning gas introduced into the hoop 80. Accordingly, the start and stop of gas recovery by the collector 30 may be controlled. For example, when the gas flow rate into the hoop 80 by the gas supply unit 24 is equal to or higher than a predetermined value, the control unit 60 recovers the gas in the surrounding space by the collector 30, and the gas flow rate into the hoop 80 is less than the predetermined value. If this is the case, the gas recovery by the collector 30 is stopped. This is because when the flow rate of the gas introduced into the hoop 80 is large, the leakage of gas from the hoop 80 tends to increase.

また、制御部60は、工場内のコレクタ30によるガスの単位時間における回収量を、半導体工場100内におけるダウンフローの形成に影響を与えないように、所定の範囲に制限してもよい。このような場合において、半導体工場100内にある全ての仮置きストッカ20の制御部60は、半導体工場100のHOSTコンピュータに対して、コレクタ30によるガスの回収状態に関するデータを通信し、さらに、HOSTコンピュータから受信した指令に基づき、コレクタ30によるガス回収動作を制御することができる。 Further, the control unit 60 may limit the amount of gas recovered by the collector 30 in the factory in a unit time to a predetermined range so as not to affect the formation of downflow in the semiconductor factory 100. In such a case, the control unit 60 of all the temporary storage stockers 20 in the semiconductor factory 100 communicates the data regarding the gas recovery state by the collector 30 to the HOST computer of the semiconductor factory 100, and further, the HOST. The gas recovery operation by the collector 30 can be controlled based on the command received from the computer.

上述の実施形態で示したように、図1~図5に示す仮置きストッカ20は、載置棚22に載置されたフープ80の周辺空間のガスを回収するコレクタ30を有するため、仮置きされたフープ80やガス供給部24の接続部分等からのガス漏出による、局所的な酸素濃度低下を防止できる。また、たとえ仮置きストッカ20に載置されたフープ80の内部等からガスが流出しても、コレクタ30により漏出したガスを回収することが可能であるため、仮置きストッカ20は、ガス供給部24によるフープ80内への清浄化ガスの流入速度を上昇させることが可能であり、フープ80の清浄化を効率的に行うことが可能である。 As shown in the above-described embodiment, the temporary storage stocker 20 shown in FIGS. 1 to 5 has a collector 30 for recovering gas in the space around the hoop 80 mounted on the mounting shelf 22, and thus is temporarily placed. It is possible to prevent a local decrease in oxygen concentration due to gas leakage from the hoop 80 or the connection portion of the gas supply unit 24. Further, even if the gas flows out from the inside of the hoop 80 placed on the temporary storage stocker 20, the gas leaked by the collector 30 can be recovered, so that the temporary storage stocker 20 is a gas supply unit. It is possible to increase the inflow rate of the cleaning gas into the hoop 80 by 24, and it is possible to efficiently clean the hoop 80.

コレクタ30の流入開口部32は、ガス供給部24によるフープ80内への清浄化ガスの導入時等において、フープ80内のガスが漏出する可能性がある主開口80aの近くに設けることが、フープ80から漏出したガスを効率的に回収する観点から好ましい。また、流入開口部32の開口方向は、同様の理由から、フープ80の主開口80aや蓋82を向くように配置してもよい。さらに、流入開口部32を載置棚22の下方に配置し、流入開口部32の開口方向を上向きとすることにより、半導体工場100の床100b側へ、フープ80から漏出したガスが流れる問題を、効果的に防止できる。 The inflow opening 32 of the collector 30 may be provided near the main opening 80a where the gas in the hoop 80 may leak when the cleaning gas is introduced into the hoop 80 by the gas supply unit 24. It is preferable from the viewpoint of efficiently recovering the gas leaked from the hoop 80. Further, the opening direction of the inflow opening 32 may be arranged so as to face the main opening 80a of the hoop 80 or the lid 82 for the same reason. Further, by arranging the inflow opening 32 below the mounting shelf 22 and pointing the opening direction of the inflow opening 32 upward, there is a problem that the gas leaked from the hoop 80 flows to the floor 100b side of the semiconductor factory 100. , Can be effectively prevented.

以上のように、実施形態を挙げて仮置きストッカ20を説明したが、本発明に係る仮置きストッカは、上述した実施形態のみに限定されるものではなく、他の多くの変形例を含むことは言うまでもない。たとえば、図5に示す流入開口部32の開口面32aの形状は四角形に限定されず、円形、楕円形、スリット状、多孔形状その他の形状であってもよい。 As described above, the temporary storage stocker 20 has been described with reference to the embodiments, but the temporary storage stocker according to the present invention is not limited to the above-described embodiment and includes many other modified examples. Needless to say. For example, the shape of the opening surface 32a of the inflow opening 32 shown in FIG. 5 is not limited to a quadrangle, and may be a circular shape, an elliptical shape, a slit shape, a porous shape, or any other shape.

また、図3及び図4に示すように、流入開口部32が上向きに開口する状態には、開口面32aが直上を向く態様だけでなく、開口面32aが斜め上方向を向く態様も含まれる。また、流入開口部32は、水平方向に開口していてもよい。 Further, as shown in FIGS. 3 and 4, the state in which the inflow opening 32 opens upward includes not only a mode in which the opening surface 32a faces directly upward but also a mode in which the opening surface 32a faces diagonally upward. .. Further, the inflow opening 32 may be opened in the horizontal direction.

また、図2に示すように、コレクタ30は、各載置部22a~22cに対応する流入開口部32を有していてもよいが、変形例に係る仮置きストッカでは、流入開口部は連続していてもよく、コレクタは、仮置きストッカ20に含まれる載置部22a~22cに対して共通の流路開口部を有していてもよい。また、図2に示すように、コレクタ30は、載置棚22に載置される複数のフープ80の漏出ガスを回収してもよいが、コレクタ自体が、各載置部22a~22c毎に、1つずつ設けられていてもよい。 Further, as shown in FIG. 2, the collector 30 may have an inflow opening 32 corresponding to each of the mounting portions 22a to 22c, but in the temporary storage stocker according to the modified example, the inflow opening is continuous. The collector may have a common flow path opening with respect to the mounting portions 22a to 22c included in the temporary storage stocker 20. Further, as shown in FIG. 2, the collector 30 may collect the leaked gas of the plurality of hoops 80 mounted on the mounting shelves 22, but the collector itself may collect the leaked gas for each of the mounting portions 22a to 22c. It may be provided one by one.

20…仮置きストッカ
22…載置棚
24…ガス供給部
26…ガス排出部
30…コレクタ
32…流入開口部
32a…開口面
34…弁
36…排気流路
60…制御部
80…フープ
80a…主開口
82…蓋
84…ウエハ
90…搬送システム
92…走行レール
93…OHT
93a…横送り装置
94…ストッカ
96…処理装置
98…ロードポート装置
100…半導体工場
100a…天井
100b…床
20 ... Temporary storage stocker 22 ... Mounting shelf 24 ... Gas supply unit 26 ... Gas discharge unit 30 ... Collector 32 ... Inflow opening 32a ... Opening surface 34 ... Valve 36 ... Exhaust flow path 60 ... Control unit 80 ... Hoop 80a ... Main Aperture 82 ... Cover 84 ... Wafer 90 ... Conveyance system 92 ... Travel rail 93 ... OHT
93a ... Horizontal feed device 94 ... Stocker 96 ... Processing device 98 ... Load port device 100 ... Semiconductor factory 100a ... Ceiling 100b ... Floor

Claims (5)

半導体工場内でウエハ搬送容器を移送するOHTの走行レールに併設される前記ウエハ搬送容器の仮置きストッカであって、
前記ウエハ搬送容器を載置する載置棚と、
前記載置棚に載置された前記ウエハ搬送容器の内部に接続し、清浄化ガスを流入させるガス供給部と、
前記載置棚に載置された前記ウエハ搬送容器の周辺空間のガスを回収するコレクタと、
を有し、
前記コレクタは、前記載置棚に載置された前記ウエハ搬送容器の下方に設けられ、前記周辺空間のガスが流入する流入開口部を有し、
前記流入開口部は、上向きに開口しており、
前記流入開口部は、前記載置棚に載置されており蓋で閉止された前記ウエハ搬送容器の主開口に隣接して設けられており、
前記流入開口部の開口面は、前記載置棚の上面と略同じ高さになるように配置されており、
前記流入開口部の開口面は、前記載置棚からはみ出した前記ウエハ搬送容器の一部が、前記開口面の直上に位置するように配置されている
仮置きストッカ。
It is a temporary storage stocker for the wafer transfer container attached to the running rail of the OHT that transfers the wafer transfer container in the semiconductor factory.
A mounting shelf on which the wafer transport container is placed, and
A gas supply unit that is connected to the inside of the wafer transfer container placed on the above-mentioned shelf and allows the cleaning gas to flow in, and a gas supply unit.
A collector that collects gas in the space around the wafer transfer container placed on the above-mentioned storage rack, and
Have,
The collector is provided below the wafer transfer container placed on the above-mentioned storage shelf, and has an inflow opening through which gas in the peripheral space flows.
The inflow opening is open upward and
The inflow opening is provided adjacent to the main opening of the wafer transfer container which is placed on the above-mentioned shelf and is closed by a lid.
The opening surface of the inflow opening is arranged so as to be substantially the same height as the upper surface of the above-mentioned storage rack.
The opening surface of the inflow opening is arranged so that a part of the wafer transport container protruding from the above-mentioned shelf is located directly above the opening surface.
Temporary stocker.
前記コレクタは、前記周辺空間のガスが流入する流入開口部を有し、
前記流入開口部は前記ウエハ搬送容器の蓋を向くように開口していることを特徴とする請求項に記載の仮置きストッカ。
The collector has an inflow opening through which gas in the surrounding space flows.
The temporary storage stocker according to claim 1 , wherein the inflow opening is opened so as to face the lid of the wafer transport container.
前記載置棚は、複数の前記ウエハ搬送容器を載置可能であり、
前記コレクタは、前記載置棚に載置される前記複数の前記ウエハ搬送容器の前記周辺空間のガスを回収する請求項1または請求項2に記載の仮置きストッカ。
The above-mentioned storage rack can mount a plurality of the wafer transport containers.
The temporary storage stocker according to claim 1 or 2 , wherein the collector recovers gas in the peripheral space of the plurality of wafer transfer containers placed on the above-mentioned storage rack.
前記コレクタによる前記周辺空間のガスの回収を開始及び停止させる制御部を有する請求項1から請求項までのいずれかに記載の仮置きストッカ。 The temporary storage stocker according to any one of claims 1 to 3 , further comprising a control unit for starting and stopping gas recovery in the surrounding space by the collector. 前記載置棚に載置された前記ウエハ搬送容器の内部に接続し、前記ウエハ搬送容器内からガスを流出させるガス排出部を有する請求項1から請求項までのいずれかに記載の仮置きストッカ。
The temporary placement according to any one of claims 1 to 4 , which is connected to the inside of the wafer transfer container placed on the above-mentioned storage shelf and has a gas discharge unit for discharging gas from the wafer transfer container. Stocker.
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