JP7053338B2 - Laser Machining Equipment and How to Adjust Laser Machining Equipment - Google Patents
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本発明は、レーザ加工装置およびレーザ加工装置の調整方法に関する。 The present invention relates to a laser processing apparatus and a method for adjusting a laser processing apparatus.
レーザ加工装置は、加工ヘッドに設けられているノズルの中心をレーザ光が通るようにするための芯出しと称される調整が行われることがある。従来、作業者の目視によって被加工物の加工領域を確認しながら被加工物の加工を行い、加工ヘッドに設けられている光学系を構成するレンズあるいはミラーといった光学素子の位置を調整することによって、芯出しが行われることがある。目視による判断には作業者による経験または作業者の試行錯誤が必要となるため、芯出しの作業には手間と時間とを要することがある。 The laser machining apparatus may perform an adjustment called centering to allow the laser beam to pass through the center of the nozzle provided in the machining head. Conventionally, the work piece is processed while visually confirming the work area of the work piece, and the position of an optical element such as a lens or a mirror constituting the optical system provided in the processing head is adjusted. , Centering may be performed. Since visual judgment requires experience by the operator or trial and error by the operator, the centering work may take time and effort.
特許文献1には、レーザ光の光路への挿入とレーザ光の光路からの退避とが可能とされた反射鏡を使用して、光路へ挿入された反射鏡を介してカメラによってノズルの開口部と加工穴とを撮像することにより、ノズル内におけるレーザ光の位置を調整する技術が提案されている。 In Patent Document 1, a reflecting mirror capable of inserting a laser beam into an optical path and retracting the laser beam from the optical path is used, and an opening of a nozzle is opened by a camera through a reflecting mirror inserted into the optical path. A technique for adjusting the position of the laser beam in the nozzle has been proposed by taking an image of the machined hole and the machined hole.
特許文献1の技術では、反射鏡の挿入によって、レーザ光による加工が行われるときの光路とは異なる光路が形成されて、開口部と加工穴とが観察される。レーザ光の位置の高精度な調整を可能とするには、カメラによって取り込まれる開口部の像の位置が常に一定となるように、反射鏡の高精度な位置決めが必要となる。光路内と光路外との移動が必要な反射鏡について、高精度な位置決めを可能とすることは困難である。このように、特許文献1の技術では、レーザ光による加工が行われるときの光路とは異なる光路が反射鏡の挿入によって形成されるために、ノズルにおけるレーザ光の位置の高精度な調整を行うことが困難であるという問題があった。 In the technique of Patent Document 1, by inserting a reflecting mirror, an optical path different from the optical path when processing by laser light is formed, and an opening and a processed hole are observed. In order to enable highly accurate adjustment of the position of the laser beam, it is necessary to position the reflector with high accuracy so that the position of the image of the opening captured by the camera is always constant. It is difficult to enable highly accurate positioning of a reflector that requires movement between the inside and outside of the optical path. As described above, in the technique of Patent Document 1, since an optical path different from the optical path when processing by the laser beam is formed by inserting the reflecting mirror, the position of the laser beam in the nozzle is adjusted with high accuracy. There was the problem that it was difficult.
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、ノズルにおけるレーザ光の位置の高精度な調整を可能とするレーザ加工装置を得ることを目的とする。 The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to obtain a laser processing apparatus capable of highly accurate adjustment of the position of a laser beam in a nozzle.
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかるレーザ加工装置は、レーザ光を発振するレーザ発振器と、レーザ発振器からのレーザ光を平行化させるコリメート光学系と、レーザ光を集光する集光光学系と、集光光学系を通過したレーザ光を被加工物へ向けて出射する開口部を有するノズルと、開口部と、被加工物におけるレーザ光の照射領域とを撮像する撮像部と、レーザ発振器から入射される第1の入射光を被加工物へ向けて反射させ、かつ被加工物から入射される第2の入射光を透過させて撮像部へ入射させる光分岐素子と、開口部と照射領域との撮像によって得られた画像データを基に、開口部の中心とレーザ光の中心とのずれを補正するための調整を行う調整部と、を備える。調整部は、コリメート光学系の移動によって調整を行う。 In order to solve the above-mentioned problems and achieve the object, the laser processing apparatus according to the present invention uses a laser oscillator that oscillates a laser beam, a collimated optical system that parallelizes the laser beam from the laser oscillator, and a laser beam. An image is taken of a condensing optical system that collects light, a nozzle having an opening that emits laser light that has passed through the condensing optical system toward the work piece, the opening, and an irradiation area of the laser light in the work piece. Light branching that reflects the first incident light incident from the laser oscillator toward the workpiece and transmits the second incident light incident from the workpiece to be incident on the image pickup unit. It is provided with an element and an adjusting unit for making adjustments for correcting a deviation between the center of the opening and the center of the laser beam based on the image data obtained by imaging the opening and the irradiation region. The adjusting unit adjusts by moving the collimating optical system.
本発明によれば、ノズルにおけるレーザ光の位置の高精度な調整が可能となるという効果を奏する。 According to the present invention, there is an effect that the position of the laser beam in the nozzle can be adjusted with high accuracy.
以下に、本発明の実施の形態にかかるレーザ加工装置およびレーザ加工装置の調整方法を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。 Hereinafter, the laser processing apparatus and the adjustment method of the laser processing apparatus according to the embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited to this embodiment.
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1にかかるレーザ加工装置100の構成を示す図である。レーザ加工装置100は、レーザ光の照射によって被加工物に穴を形成する穴加工を行う装置である。レーザ加工装置100は、穴加工以外のレーザ加工を行う装置であっても良い。レーザ加工装置100は、加工ヘッド14に設けられているノズル19の中心をレーザ光が通るようにするための調整である芯出しを行う。
Embodiment 1.
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a
図1において、X軸とY軸とは、水平方向に平行、かつ互いに垂直な軸とする。Z軸は、鉛直方向に平行、かつX軸とY軸とに垂直な軸とする。被加工物20は、テーブル21においてX軸とY軸とに平行な面に載置される。なお、X軸方向のうち図中矢印で示す方向をプラスX方向、プラスX方向とは逆の方向をマイナスX方向とする。Y軸方向のうち紙面の手前へ向かう方向をプラスY方向、プラスY方向とは逆の方向をマイナスY方向とする。Z軸方向のうち図中矢印で示す方向をプラスZ方向、プラスZ方向とは逆の方向をマイナスZ方向とする。
In FIG. 1, the X-axis and the Y-axis are axes parallel to each other in the horizontal direction and perpendicular to each other. The Z-axis is an axis parallel to the vertical direction and perpendicular to the X-axis and the Y-axis. The
レーザ加工装置100は、レーザ光を発振するレーザ発振器10と、レーザ光を集光する集光光学系である集光レンズ17が収容されている加工ヘッド14と、レーザ発振器10と加工ヘッド14との間に繋げられておりレーザ光が伝搬するファイバーケーブル11と、を備える。図1では、加工ヘッド14の内部に設けられている要素を模式的に示している。ファイバーケーブル11のうちレーザ光が出射する出射端11aが加工ヘッド14のうちプラスX方向側の端部14aに挿入されて、ファイバーケーブル11は、加工ヘッド14に接続されている。
The
レーザ加工装置100は、コリメート光学系であるコリメータユニット12を備える。コリメータユニット12は、出射端11aよりもマイナスX方向側に設けられている。コリメータユニット12は、レーザ発振器10およびファイバーケーブル11から加工ヘッド14へ入射したレーザ光を平行化させる。コリメータユニット12は、ホルダの内部に収容されている。図1では、コリメータユニット12が収容されているホルダの図示を省略している。コリメータユニット12の焦点は、ファイバーケーブル11の出射端11aに一致する。コリメータユニット12は、加工ヘッド14の内部にて出射端11aから発散されたレーザ光を平行化させる。
The
レーザ加工装置100は、光分岐素子であるビームスプリッタ15を備える。ビームスプリッタ15は、入射光の主光線と入射面とがなす角度と、出射光の主光線と出射面とがなす角度とが、どちらも45度となるように配置されたプレート型のビームスプリッタである。ビームスプリッタ15を構成する透明材料の板には、波長特性を備える光学薄膜が形成されている。ビームスプリッタ15は、レーザ発振器10から入射される入射光である第1の入射光を被加工物20へ向けて反射させ、かつ被加工物20から入射される入射光である第2の入射光を透過させてカメラ23へ入射させる。
The
ビームスプリッタ15は、レーザ発振器10と集光レンズ17との間の光路である第1の光路と、後述するカメラ23と集光レンズ17との間の光路である第2の光路とを分岐する。ビームスプリッタ15の波長特性については後述する。ビームスプリッタ15は、1つの方向からの光を2つの方向へ進行させるとともに、2つの方向からの光を1つの方向へ進行させることができる。なお、ビームスプリッタ15は、2つの直角プリズムにより構成されたキューブ型のビームスプリッタであっても良い。
The beam splitter 15 splits a first optical path, which is an optical path between the
集光レンズ17は、ホルダ16の内部に収容されている。ノズル19は、加工ヘッド14のうちマイナスZ方向側の端部に設けられている。ノズル19は、集光レンズ17を通過したレーザ光を被加工物20へ向けて出射する開口部19aを有する。
The
レーザ加工装置100は、撮像部であるカメラ23と、ノズル19の内部に照明光を照射する照明部24とを備える。カメラ23は、開口部19aと、被加工物20におけるレーザ光の照射領域とを撮像する。カメラ23は、被写体からの光を取り込む撮像レンズと、被写体像を撮像するイメージセンサであるCCD(Charge Coupled Device)とを有する。イメージセンサは、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサであっても良い。カメラ23は、加工ヘッド14の内部においてマイナスZ方向へ撮像レンズを向けて配置されている。図1では、撮像レンズとイメージセンサとの図示を省略している。
The
照明部24は、撮像レンズと並べられて設けられている。照明部24は、カメラ23の位置からマイナスZ方向へ向けて照明光を出射することにより、ノズル19の内部に照明光を照射する。
The
加工ヘッド14には、Z軸方向においてホルダ16を移動させるレンズ駆動部18が設けられている。レンズ駆動部18は、ホルダ16を移動させることにより、集光レンズ17の焦点の位置を変化させる。レンズ駆動部18は、モータと、モータの回転運動を直線運動へ変換させる機構とを含む。図1では、モータおよび機構の図示を省略している。
The
レーザ加工装置100は、X軸方向とY軸方向とにおいてテーブル21を移動させるテーブル駆動部22が設けられている。レーザ加工装置100は、テーブル駆動部22によりX軸方向とY軸方向とにおいてテーブル21を移動させることにより、被加工物20におけるレーザ光の照射位置をX軸方向とY軸方向とへ変化させる。
The
レーザ加工装置100は、開口部19aの像と照射領域の像との撮像によって得られた画像データを基に、開口部19aの中心とレーザ光の中心とのずれを補正するための調整である芯出しを行う調整部であるレンズ駆動部13を備える。レーザ加工装置100は、カメラ23での撮像によって得られた画像信号を処理する画像処理装置25と、レーザ加工装置100の全体を制御する制御装置26とを備える。
The
実施の形態1において、レーザ発振器10は、レンズ駆動部13による調整が行われる際に発振する調整用レーザ光と、被加工物20への加工が行われる際に発振する加工用レーザ光との2つを発振可能とする。加工用レーザ光は、被加工物20を加工可能なレーザ光である第1のレーザ光である。調整用レーザ光は、被加工物20を加工可能なレーザ光以外のレーザ光である第2のレーザ光である。
In the first embodiment, the
図2は、図1に示すレーザ加工装置100のブロック図である。制御装置26は、画像処理装置25を制御する機能部である撮像制御部31と、レンズ駆動部18を制御する機能部である集光制御部32と、レンズ駆動部13を制御する機能部である調整制御部33と、レーザ発振器10を制御する機能部であるレーザ発振制御部34と、テーブル駆動部22を制御する機能部であるテーブル制御部35とを有する。調整制御部33は、開口部19aの像と照射領域の像との撮像によって得られた画像データを基に、開口部19aの中心とレーザ光の中心とのずれを補正するための調整を行う調整部である。
FIG. 2 is a block diagram of the
画像処理装置25は、撮像制御部31による制御に基づいて、カメラ23を動作させるとともに、カメラ23を介して照明部24を動作させる。また、画像処理装置25は、カメラ23から画像信号を取得して、画像信号を処理する。画像処理装置25は、画像信号の処理によって得られたデータである画像データを撮像制御部31へ送る。なお、照明部24は、カメラ23を介して制御されるものに限られず、カメラ23を介さずに画像処理装置25によって制御されるものであっても良い。
The
レーザ発振器10は、レーザ発振制御部34による制御にしたがって、調整用レーザ光と加工用レーザ光とを切り換えて発振可能とする。加工用レーザ光は、可視領域以外の範囲に含まれる波長のレーザ光であって、かつ被加工物20を加工可能な強度で出力される。レーザ発振制御部34は、加工用レーザについて、発振周波数、パルス幅および強度といった発振条件を調整可能とする。
The
調整用レーザ光は、可視領域の範囲に含まれる波長のレーザ光であって、かつ加工用レーザよりも低い強度で出力される。調整用レーザ光の強度は、カメラ23を損傷しない程度の強度とされる。レーザ発振器10は、可視領域の範囲に含まれる第1波長の調整用レーザ光を発振する。照明部24は、可視領域の範囲に含まれる波長であって第1波長とは異なる波長である第2波長の照明光を出射する。カメラ23は、第1波長の光と第2波長の光とについて感度を有している。なお、加工用レーザ光の波長を、第3波長とする。第3波長は、可視領域以外の範囲に含まれる波長である。
The adjustment laser beam is a laser beam having a wavelength included in the visible region and is output with a lower intensity than that of the processing laser. The intensity of the adjusting laser beam is set to such an intensity that the
ビームスプリッタ15は、入射した第3波長の光の99.9%以上を反射する波長特性を有する。また、ビームスプリッタ15は、入射した第1波長の光の一部を反射するとともに他の一部を透過する波長特性を有する。例を挙げると、ビームスプリッタ15は、入射した第1波長の光の50%程度を反射し、それ以外の50%程度を透過する。また、ビームスプリッタ15は、入射した第2波長の光の90%以上を透過する波長特性を有する。ビームスプリッタ15の波長特性は、実施の形態1にて説明する波長特性に限られず、適宜変更しても良い。ビームスプリッタ15の反射率と透過率とは、実施の形態1にて示すものに限られず任意であるものとする。
The
加工ヘッド14の内部において、出射端11aから出射されるレーザ光の主光線は、X軸方向に平行である。レーザ光は、出射端11aからY軸方向およびZ軸方向において拡散しながら、マイナスX方向へ進行する。レーザ光は、コリメータユニット12においてX軸方向に平行な平行光となるように平行化される。
Inside the
被加工物20の加工の際に、コリメータユニット12からビームスプリッタ15へ入射した第1の入射光である加工用レーザ光の進行方向は、ビームスプリッタ15での反射によって、マイナスX方向からマイナスZ方向へ折り曲げられる。加工ヘッド14は、被加工物20へ向けて加工用レーザ光を出射する。
During the machining of the
レンズ駆動部13による調整が行われる際において、調整用レーザ光が発振されると、コリメータユニット12からビームスプリッタ15へ入射した調整用レーザ光のうちの50%程度は、ビームスプリッタ15で反射する。ビームスプリッタ15で反射した調整用レーザ光は、加工用レーザ光の場合と同様に、被加工物20へ向けて進行する。調整用レーザ光は、被加工物20での反射により、加工ヘッド14内をプラスZ方向へ進行する。
被加工物20からの第2の入射光である調整用レーザ光は、ビームスプリッタ15へ入射する。ビームスプリッタ15へ入射した調整用レーザ光のうちの50%程度は、ビームスプリッタ15を透過する。カメラ23は、ビームスプリッタ15を透過した調整用レーザ光を取り込む。
When the adjustment laser beam is oscillated by the
The adjustment laser beam, which is the second incident light from the
レンズ駆動部13による調整が行われる際において、照明光が出射されると、ビームスプリッタ15へ入射した照明光の90%以上は、ビームスプリッタ15を透過する。ビームスプリッタ15を透過した照明光は、加工用レーザ光および調整用レーザ光の場合と同様に、被加工物20へ向けて進行する。被加工物20での反射により加工ヘッド14内をプラスZ方向へ進行した照明光は、ビームスプリッタ15へ入射する。ビームスプリッタ15へ入射した照明光のうちの90%以上は、ビームスプリッタ15を透過する。カメラ23は、ビームスプリッタ15を透過した照明光を取り込む。
When the illumination light is emitted when the adjustment is performed by the
レンズ駆動部18は、集光制御部32の制御により、集光レンズ17の焦点を被加工物20の位置に合わせるホルダ16の移動と、集光レンズ17の焦点を開口部19aの位置に合わせるホルダ16の移動とを可能とする。
Under the control of the condensing control unit 32, the
レンズ駆動部13は、コリメータユニット12が収容されているホルダをY軸方向とZ軸方向とにおいて移動可能とする。レンズ駆動部13は、Y軸方向においてホルダを移動させることにより、ノズル19でのY軸方向におけるレーザ光の位置を調整する。レンズ駆動部13は、Z軸方向においてホルダを移動させることにより、ノズル19でのX軸方向におけるレーザ光の位置を調整する。レンズ駆動部13は、Y軸方向においてホルダの位置を調整可能な調整ネジと、Z軸方向においてホルダの位置を調整可能な調整ネジとを有する。2つの調整ネジの各々には、調整ネジを回転するモータが設けられている。調整制御部33は、モータの駆動を制御することにより、Y軸方向におけるホルダの位置とZ軸方向におけるホルダの位置との調整を行う。なお、図1および図2では、調整ネジとモータとの図示を省略している。
The
集光レンズ17は、Z軸に平行な軸に中心を合わせて配置されている。コリメータユニット12の中心軸は、Z軸に平行である。コリメータユニット12の中心軸は、集光レンズ17の中心軸をビームスプリッタ15での45度の折り曲げを経て延伸させたものと一致する。カメラ23の中心軸は、Z軸に平行である。カメラ23の中心軸は、集光レンズ17の中心軸を、ビームスプリッタ15を通して延伸させたものと一致する。集光レンズ17の中心軸と、コリメータユニット12の中心軸と、カメラ23の中心軸とを、加工ヘッド14の光軸と称する。集光レンズ17と、コリメータユニット12と、カメラ23とは、加工ヘッド14の光軸に中心を合わせて配置されている。すなわち、集光レンズ17と、コリメータユニット12と、カメラ23とは、同じ光軸上に配置されている。
The
制御装置26の機能は、処理回路により実現される。処理回路は、実施の形態1にかかるレーザ加工装置100に専用のハードウェアであっても良く、メモリに格納されるプログラムを実行するプロセッサであっても良い。
The function of the
図3は、実施の形態1にかかるレーザ加工装置100が有する制御装置26の機能が専用のハードウェアにより実現される場合のハードウェア構成を示す図である。専用のハードウェアである処理回路51は、単一回路、複合回路、プログラム化されたプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、FPGA(Field-Programmable Gate Array)、又はこれらの組み合わせである。
FIG. 3 is a diagram showing a hardware configuration when the function of the
図4は、実施の形態1にかかるレーザ加工装置100が有する制御装置26の機能が、メモリに格納されるプログラムを実行するプロセッサにより実現される場合のハードウェア構成を示す図である。プロセッサ53およびメモリ54は、相互に通信可能に接続されている。
FIG. 4 is a diagram showing a hardware configuration when the function of the
プロセッサ53は、CPU(Central Processing Unit)、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、又はDSP(Digital Signal Processor)である。制御装置26の機能は、プロセッサ53と、ソフトウェア、ファームウェア、又はソフトウェアとファームウェアとの組み合わせにより実現される。ソフトウェア又はファームウェアは、プログラムとして記述され、メモリ54に格納される。メモリ54は、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、フラッシュメモリ、EPROM(Erasable Programmable Read Only Memory)、EEPROM(登録商標)(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)等の不揮発性もしくは揮発性の半導体メモリ等の内蔵メモリである。
The processor 53 is a CPU (Central Processing Unit), a processing unit, an arithmetic unit, a microprocessor, a microcomputer, or a DSP (Digital Signal Processor). The function of the
制御装置26の機能の一部が専用のハードウェアにより実現され、制御装置26の機能のその他の部分がソフトウェアあるいはファームウェアにより実現されても良い。このように、制御装置26の機能は、ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、又はこれらの組み合わせによって実現することができる。
Some of the functions of the
なお、画像処理装置25の機能は、制御装置26の機能と同様に、処理回路により実現される。図3に示すハードウェア構成と図4に示すハードウェア構成とは、画像処理装置25に適用されても良い。図4に示すハードウェア構成の場合、画像処理装置25の処理機能は、プロセッサ53と、ソフトウェア、ファームウェア、又はソフトウェアとファームウェアとの組み合わせにより実現される。
The function of the
次に、レーザ加工装置100の動作について説明する。図5は、図1に示すレーザ加工装置100による動作の手順を示すフローチャートである。図5には、レーザ加工装置100がノズル19におけるレーザ光の位置を調整するときにおける動作の手順を示している。
Next, the operation of the
ステップS1において、レンズ駆動部18は、集光レンズ17を移動させる。レンズ駆動部18は、集光制御部32による制御にしたがってホルダ16を移動させることにより、集光レンズ17の焦点を開口部19aの位置に合わせる調整を行う。
In step S1, the
ステップS2において、照明部24は、照明光を出射する。照明部24は、撮像制御部31による制御にしたがって点灯する。照明部24から出射した照明光は、ビームスプリッタ15と集光レンズ17とを透過して、開口部19aに到達する。開口部19aで反射した照明光は、集光レンズ17とビームスプリッタ15とを透過して、カメラ23に到達する。
In step S2, the
ステップS3において、カメラ23は、開口部19aを撮像する。カメラ23は、開口部19aで反射した照明光を取り込んで、撮像制御部31による制御にしたがって開口部19aの像を撮像する。カメラ23は、撮像によって得られた画像信号を出力する。ステップS4において、照明部24は、照明光の出射を停止する。
In step S3, the
図6は、図1に示すレーザ加工装置100が有するカメラ23によって取り込まれた開口部19aの像40の例を示す図である。開口部19aに対する像40の倍率は、カメラ23の撮像レンズの焦点距離と集光レンズ17の焦点距離との比率によって決定される。倍率は、開口部19aのサイズに倍率が掛け合わされて決定される像40のサイズが撮像範囲に入るように設定される。
FIG. 6 is a diagram showing an example of an
画像処理装置25は、カメラ23によって出力された画像信号を基に、像40の中心位置C1のxy座標を求める。図6に示すx軸は、図1に示すX軸に対応する軸とする。図6に示すy軸は、図1に示すY軸に対応する軸とする。画像処理装置25は、撮像によって取得された画像信号に二値化処理を施してから、円近似、エッジ検出、またはHough変換といった画像処理を利用して、中心位置C1のxy座標を算出する。なお、画像処理装置25は、かかる手法以外の手法によって中心位置C1のxy座標を算出しても良い。画像処理装置25は、画像信号の処理によって、中心位置C1を示すxy座標である画像データを出力する。撮像制御部31は、画像処理装置25から出力された画像データを取得する。
The
ステップS5において、レンズ駆動部18は、集光レンズ17を移動させる。レンズ駆動部18は、集光制御部32による制御にしたがってホルダ16を移動させることにより、集光レンズ17の焦点を被加工物20に合わせる調整を行う。なお、ステップS5のときに、テーブル駆動部22は、テーブル制御部35による制御にしたがって、被加工物20が載置されているテーブル21を開口部19aのマイナスZ方向側の位置に移動する。
In step S5, the
ステップS6において、レーザ発振器10は、調整用レーザ光を発振する。レーザ発振器10は、レーザ発振制御部34による制御にしたがって、調整用レーザ光を発振する。レーザ発振器10によって発振された調整用レーザ光は、ファイバーケーブル11を経て、加工ヘッド14へ入射する。調整用レーザ光は、コリメータユニット12を通過してから、ビームスプリッタ15に入射する。ビームスプリッタ15にて反射した調整用レーザ光は、集光レンズ17を透過してから開口部19aを通過して、被加工物20へ入射する。被加工物20で反射した調整用レーザ光は、開口部19aを通過してから集光レンズ17を透過して、ビームスプリッタ15に入射する。ビームスプリッタ15を透過した調整用レーザ光は、カメラ23に到達する。
In step S6, the
ステップS7において、カメラ23は、被加工物20における調整用レーザ光の照射領域を撮像する。カメラ23は、被加工物20で反射した調整用レーザ光を取り込んで、撮像制御部31による制御にしたがって照射領域の像を撮像する。カメラ23は、撮像によって得られた画像信号を出力する。カメラ23による撮像の後に、レーザ発振器10は、調整用レーザ光の発振を停止する。
In step S7, the
図7は、図1に示すレーザ加工装置100が有するカメラ23によって取り込まれた照射領域の像41の例を示す図である。図7では、図6に示す開口部19aの像40に照射領域の像41を重ね合わせて示している。画像処理装置25は、カメラ23によって出力された画像信号を基に、像41の中心位置C2のxy座標を求める。画像処理装置25は、中心位置C1のxy座標と同様の手法によって、中心位置C2のxy座標を算出する。画像処理装置25は、画像信号の処理によって、中心位置C2を示すxy座標である画像データを出力する。撮像制御部31は、画像処理装置25から出力された画像データを取得する。
FIG. 7 is a diagram showing an example of an
Z軸方向におけるテーブル21の位置は、カメラ23による撮像によって観察される照射領域が開口部19aからできるだけ近くなるように調整されても良い。Z軸方向において、被加工物20のうち調整用レーザ光が照射する面の高さは、開口部19aの高さに合わせられても良い。これにより、レーザ加工装置100は、開口部19aにできるだけ近い位置における調整用レーザ光の中心位置を観察可能とし、ノズル19におけるレーザ光の位置の高精度な調整を行うことができる。撮像される照射領域の形状は、円である場合に限られず、楕円であっても良い。カメラ23は、Z軸方向において焦点とはずれた位置における照射領域の像を撮像しても良い。
The position of the table 21 in the Z-axis direction may be adjusted so that the irradiation region observed by the image pickup by the
ステップS8において、撮像制御部31は、開口部19aの中心位置からの調整用レーザ光の照射領域の中心位置のずれ量を算出する。撮像制御部31は、画像処理装置25から取得された画像データに基づいて、中心位置C1と中心位置C2との間の距離を算出する。撮像制御部31は、算出された距離を上記の倍率によって除算することにより、中心位置同士の間のずれ量を算出する。
In step S8, the image
ステップS9において、撮像制御部31は、ステップS8にて算出されたずれ量があらかじめ設定された閾値未満であるか否かを判断する。算出されたずれ量が閾値未満である場合(ステップS9,Yes)、調整制御部33は、開口部19aの中心とレーザ光の中心とのずれが解消されていると判断する。これにより、レーザ加工装置100は、図5に示す動作による調整を終了する。
In step S9, the image
算出されたずれ量が閾値以上である場合(ステップS9,No)、調整制御部33は、開口部19aの中心とレーザ光の中心とのずれが解消されていないと判断する。ステップS10において、調整制御部33は、コリメータユニット12の移動量を算出する。調整制御部33は、ステップS9にて算出されたずれ量を相殺可能とする移動量を算出する。図7に示すように、中心位置C1に対して中心位置C2がマイナスx方向およびマイナスy方向にずれていた場合、調整制御部33は、ずれ量に相当する距離分、プラスX方向とプラスY方向とへコリメータユニット12を移動させる移動量を算出する。
When the calculated deviation amount is equal to or greater than the threshold value (steps S9, No), the adjustment control unit 33 determines that the deviation between the center of the
ステップS11において、レンズ駆動部13は、調整制御部33による制御にしたがって、コリメータユニット12を移動する。レンズ駆動部13は、ステップS10にて算出された移動量の分、コリメータユニット12を移動する。このようにして、レンズ駆動部13は、開口部19aの像と照射領域の像との撮像によって得られた画像データを基に、開口部19aの中心とレーザ光の中心とのずれを補正するための調整を行う。
In step S11, the
ステップS11の手順を終えると、レーザ加工装置100は、ステップS1からの手順を繰り返す。ステップS1からステップS11までの手順の後において、レーザ加工装置100は、ステップS1からステップS4までの手順を省略しても良い。レーザ加工装置100は、ステップS8では、既に撮像された開口部19aの像40を利用してずれ量を算出しても良い。
When the procedure of step S11 is completed, the
レーザ加工装置100は、ステップS9でのずれ量と閾値との比較により、開口部19aの中心とレーザ光の中心とのずれが解消されたか否かを判断する。これにより、ユーザの主観によらずレーザ加工装置100の処理により、開口部19aの中心にレーザ光の中心がどの程度近くなれば調整を終了しても良いか否かの判断が可能となる。
The
なお、レーザ加工装置100は、図5に示す各ステップの順序を適宜入れ換えても良いものとする。例を挙げると、レーザ加工装置100は、調整用レーザ光の照射領域の像41を撮像した後に、開口部19aの像40を撮像しても良い。
The
実施の形態1では、加工ヘッド14の光軸上に、集光レンズ17と、コリメータユニット12と、カメラ23とが配置されていることにより、カメラ23は、常に一定の位置における開口部19aの像40を取得することができる。レーザ加工装置100は、光路への挿入と光路からの退避とが可能とされた光学素子の使用によって、レーザ光による加工が行われるときの光路とは異なる光路が形成される場合に比べて、ノズル19におけるレーザ光の位置の高精度な調整を容易に行うことができる。
In the first embodiment, the
レーザ加工装置100は、コリメータユニット12の位置調整によってノズル19におけるレーザ光の位置を調整可能としたことで、レーザ光の位置の調整のための光学素子が別途設けられる場合と比較して、レーザ光のビームモードへの影響を少なくすることができる。また、レーザ加工装置100は、ノズル19の中心からのレーザ光の中心が大幅にずれている場合であっても、かかるずれをコリメータユニット12の位置調整によって容易に補正することができる。
Since the
実施の形態1によると、レーザ加工装置100は、第1の光路と第2の光路とが分岐する位置にビームスプリッタ15が設けられていることで、集光レンズ17と、コリメータユニット12と、カメラ23とを同じ光軸上に配置可能とする。レーザ加工装置100は、常に一定の位置における開口部19aの像40を取得することができることで、ノズル19におけるレーザ光の位置の高精度な調整を容易に行うことができる。レーザ加工装置100は、レーザ光の位置の調整を自動で行うことにより、作業者の経験に関わらず高精度な調整を行うことができるとともに、作業者の試行錯誤によらずに高精度な調整を容易に行うことができる。これにより、レーザ加工装置100は、ノズル19におけるレーザ光の位置の高精度な調整が可能となるという効果を奏する。
According to the first embodiment, the
実施の形態2.
図8は、本発明の実施の形態2にかかるレーザ加工装置101の構成を示す図である。実施の形態2にかかるレーザ加工装置101は、実施の形態1にかかる調整用レーザ光に代えて、加工用レーザ光を使用して、レーザ光の位置を調整可能とする。実施の形態2では、上記の実施の形態1と同一の構成要素には同一の符号を付し、実施の形態1とは異なる構成について主に説明する。
Embodiment 2.
FIG. 8 is a diagram showing the configuration of the
実施の形態2にかかるレーザ加工装置101には、実施の形態1にかかるレーザ加工装置100が有する各部に加えて、切り換え部60が設けられている。切り換え部60は、レーザ光の位置の調整において使用されるレーザ光を、加工用レーザ光である第1のレーザ光と調整用レーザ光である第2のレーザ光とに切り換える。調整に使用される加工用レーザ光には、レーザ加工装置101での加工に使用される加工用レーザ光の強度範囲の中で低強度のレーザ光が使用される。低強度のレーザ光とは、レーザエネルギーによる加工が容易とされるアクリルといった材料を加工可能な強度のレーザ光とする。実施の形態2では、レーザ光の位置の調整において、アクリルといった材料からなる被加工物20が使用される。
The
次に、レーザ加工装置101の動作について説明する。図9は、図8に示すレーザ加工装置101による動作の手順を示すフローチャートである。図9には、レーザ加工装置101がノズル19におけるレーザ光の位置を調整するときにおける動作の手順を示している。
Next, the operation of the
ステップS21において、レーザ加工装置101は、調整において使用するレーザ光を、調整用レーザ光と加工用レーザ光の2つから選択する。レーザ光は、ユーザによる切り換え部60への操作に基づいて選択される。図9では、ステップS21において加工用レーザ光が選択された場合の動作を説明する。なお、ステップS21において加工用レーザ光が選択された場合の動作は、実施の形態1の場合の動作と同様である。
In step S21, the
ステップS22において、レンズ駆動部18は、集光レンズ17を移動させる。レンズ駆動部18は、集光制御部32による制御にしたがってホルダ16を移動させることにより、集光レンズ17の焦点を開口部19aの位置に合わせる調整を行う。ステップS23において、照明部24は、照明光を出射する。ステップS24において、カメラ23は、開口部19aを撮像する。画像処理装置25は、開口部19aの像の中心位置を示すxy座標を求める。
In step S22, the
ステップS25において、レーザ発振制御部34は、レーザ光の発振条件を設定する。レーザ発振制御部34は、ステップS21にて加工用レーザ光が選択されたことにしたがって、発振されるレーザ光が上記の低強度のレーザ光となるように、発振条件を設定する。ステップS26において、レンズ駆動部18は、集光レンズ17を移動させる。テーブル駆動部22は、テーブル21を移動させる。レンズ駆動部18は、集光制御部32による制御にしたがってホルダ16を移動させることにより、集光レンズ17の焦点を被加工物20に合わせる調整を行う。
In step S25, the laser oscillation control unit 34 sets the oscillation conditions of the laser beam. The laser oscillation control unit 34 sets the oscillation conditions so that the oscillated laser beam becomes the above-mentioned low-intensity laser beam according to the selection of the processing laser beam in step S21. In step S26, the
ステップS27において、レーザ発振器10は、加工用レーザ光を発振する。レーザ発振制御部34は、ステップS25において設定された発振条件にしたがって、レーザ発振器10を制御する。被加工物20は、加工用レーザ光が照射されることにより加工される。被加工物20に加工が施されると、レーザ発振器10は、レーザ発振制御部34による制御にしたがって、加工用レーザ光の発振を停止する。
In step S27, the
ステップS28において、カメラ23は、被加工物20に形成された加工領域を撮像する。加工領域には、照明部24から出射されている照明光が照射している。カメラ23は、被加工物20で反射した照明光を取り込んで、加工領域の像を撮像する。このように、ステップS27では、カメラ23は、被加工物20へ加工用レーザ光が入射しているときにおける加工用レーザ光の照射領域に相当する加工領域を撮像する。画像処理装置25は、カメラ23によって出力された画像信号を基に、加工領域の像の中心位置を示すxy座標を求める。
In step S28, the
ステップS29において、撮像制御部31は、開口部19aの中心位置からの加工領域の中心位置のずれ量を算出する。ステップS30において、撮像制御部31は、ステップS29にて算出されたずれ量があらかじめ設定された閾値未満であるか否かを判断する。算出されたずれ量が閾値未満である場合(ステップS30,Yes)、調整制御部33は、開口部19aの中心とレーザ光の中心とのずれが解消されていると判断する。これにより、レーザ加工装置100は、図9に示す動作による調整を終了する。
In step S29, the image
算出されたずれ量が閾値以上である場合(ステップS30,No)、調整制御部33は、開口部19aの中心とレーザ光の中心とのずれが解消されていないと判断する。調整制御部33は、コリメータユニット12の移動量を算出する。ステップS31において、調整制御部33は、ステップS29にて算出されたずれ量を相殺可能とする移動量を算出する。
When the calculated deviation amount is equal to or greater than the threshold value (steps S30, No), the adjustment control unit 33 determines that the deviation between the center of the
ステップS32において、レンズ駆動部13は、調整制御部33による制御にしたがって、コリメータユニット12を移動する。レンズ駆動部13は、ステップS31にて算出された移動量の分、コリメータユニット12を移動する。ステップS32の手順を終えると、レーザ加工装置101は、ステップS21からの手順を繰り返す。ステップS21からステップS32までの手順の後において、レーザ加工装置101は、ステップS21からステップS25までの手順を省略しても良い。レーザ加工装置101は、ステップS29では、既に撮像された開口部19aの像を利用してずれ量を算出しても良い。
In step S32, the
実施の形態2においても、レーザ加工装置101は、実施の形態1と同様に、ノズル19におけるレーザ光の位置の高精度な調整が可能となるという効果を奏する。なお、レーザ加工装置101は、切り換え部60が省略された構成であっても良い。レーザ加工装置101は、レーザ光の位置の調整において、加工用レーザ光のみを使用可能とするものであっても良い。
Also in the second embodiment, the
以上の実施の形態に示した構成は、本発明の内容の一例を示すものであり、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省略、変更することも可能である。 The configuration shown in the above-described embodiment shows an example of the content of the present invention, can be combined with another known technique, and is one of the configurations as long as it does not deviate from the gist of the present invention. It is also possible to omit or change the part.
10 レーザ発振器、11 ファイバーケーブル、11a 出射端、12 コリメータユニット、13,18 レンズ駆動部、14 加工ヘッド、14a 端部、15 ビームスプリッタ、16 ホルダ、17 集光レンズ、19 ノズル、19a 開口部、20 被加工物、21 テーブル、22 テーブル駆動部、23 カメラ、24 照明部、25 画像処理装置、26 制御装置、31 撮像制御部、32 集光制御部、33 調整制御部、34 レーザ発振制御部、35 テーブル制御部、40,41 像、51 処理回路、53 プロセッサ、54 メモリ、60 切り換え部、100,101 レーザ加工装置。 10 laser oscillator, 11 fiber cable, 11a exit end, 12 collimator unit, 13,18 lens drive, 14 processing head, 14a end, 15 beam splitter, 16 holder, 17 condenser lens, 19 nozzle, 19a opening, 20 Work piece, 21 table, 22 table drive unit, 23 camera, 24 lighting unit, 25 image processing unit, 26 control unit, 31 imaging control unit, 32 focusing control unit, 33 adjustment control unit, 34 laser oscillation control unit , 35 table control unit, 40, 41 image, 51 processing circuit, 53 processor, 54 memory, 60 switching unit, 100, 101 laser processing device.
Claims (8)
前記レーザ発振器からの前記レーザ光を平行化させるコリメート光学系と、
前記レーザ光を集光する集光光学系と、
前記集光光学系を通過した前記レーザ光を被加工物へ向けて出射する開口部を有するノズルと、
前記開口部と、前記被加工物における前記レーザ光の照射領域とを撮像する撮像部と、
前記レーザ発振器から入射される第1の入射光を前記被加工物へ向けて反射させ、かつ前記被加工物から入射される第2の入射光を透過させて前記撮像部へ入射させる光分岐素子と、
前記開口部と前記照射領域との撮像によって得られた画像データを基に、前記開口部の中心と前記レーザ光の中心とのずれを補正するための調整を行う調整部と、
を備え、
前記調整部は、前記コリメート光学系の移動によって前記調整を行うことを特徴とするレーザ加工装置。 A laser oscillator that oscillates laser light and
A collimating optical system that parallelizes the laser beam from the laser oscillator,
The condensing optical system that collects the laser beam and
A nozzle having an opening that emits the laser beam that has passed through the condensing optical system toward the workpiece, and a nozzle.
An image pickup unit that captures an image of the opening and an irradiation region of the laser beam in the work piece.
An optical branching element that reflects the first incident light incident from the laser oscillator toward the workpiece and transmits the second incident light incident from the workpiece to be incident on the imaging unit. When,
Based on the image data obtained by imaging the opening and the irradiation area, an adjustment unit that makes adjustments for correcting the deviation between the center of the opening and the center of the laser beam, and an adjustment unit.
Equipped with
The adjusting unit is a laser processing apparatus characterized in that the adjustment is performed by moving the collimating optical system .
前記撮像部は、前記照明光が照射されているときにおける前記開口部を撮像することを特徴とする請求項1に記載のレーザ加工装置。 A lighting unit that irradiates the illumination light is provided inside the nozzle.
The laser processing apparatus according to claim 1, wherein the imaging unit captures an image of the opening when the illumination light is irradiated.
前記照明部は、第2波長の前記照明光を出射し、
前記光分岐素子は、前記第1波長の前記レーザ光の一部を反射するとともに他の一部を透過し、かつ前記第2波長の前記照明光を透過することを特徴とする請求項2に記載のレーザ加工装置。 The laser oscillator oscillates the laser beam having the first wavelength.
The illuminating unit emits the illuminating light having a second wavelength.
The second aspect of the present invention is characterized in that the optical branching element reflects a part of the laser beam having the first wavelength, transmits another part thereof, and transmits the illumination light having the second wavelength. The laser processing device described.
前記撮像部は、前記被加工物へ前記第1のレーザ光が入射しているときにおける前記第1のレーザ光の照射領域に相当する加工領域を撮像することを特徴とする請求項1から3のいずれか1つに記載のレーザ加工装置。 The laser oscillator oscillates a first laser beam which is a laser beam capable of processing the workpiece.
Claims 1 to 3 are characterized in that the imaging unit captures a processed region corresponding to an irradiation region of the first laser beam when the first laser beam is incident on the workpiece. The laser processing apparatus according to any one of the above.
前記撮像部は、前記被加工物へ前記第2のレーザ光が照射しているときにおける前記第2のレーザ光の照射領域を撮像することを特徴とする請求項1から3のいずれか1つに記載のレーザ加工装置。 The laser oscillator oscillates a second laser beam which is a laser beam other than the laser beam capable of processing the workpiece.
One of claims 1 to 3 , wherein the imaging unit captures an irradiation region of the second laser beam when the workpiece is irradiated with the second laser beam. The laser processing apparatus described in.
前記調整制御部は、前記開口部の中心と前記レーザ光の中心とのずれ量が閾値未満となった場合に、前記調整部による前記調整を終了することを特徴とする請求項1から5のいずれか1つに記載のレーザ加工装置。 An adjustment control unit for controlling the adjustment by the adjustment unit is provided.
The adjustment control unit is characterized in that the adjustment by the adjustment unit is terminated when the deviation amount between the center of the opening and the center of the laser beam is less than the threshold value. The laser processing apparatus according to any one.
前記レーザ光を集光する集光光学系と、 The condensing optical system that collects the laser beam and
前記集光光学系を通過した前記レーザ光を被加工物へ向けて出射する開口部を有するノズルと、 A nozzle having an opening that emits the laser beam that has passed through the condensing optical system toward the workpiece, and a nozzle.
前記開口部と、前記被加工物における前記レーザ光の照射領域とを撮像する撮像部と、 An image pickup unit that captures an image of the opening and an irradiation region of the laser beam in the work piece.
前記レーザ発振器から入射される第1の入射光を前記被加工物へ向けて反射させ、かつ前記被加工物から入射される第2の入射光を透過させて前記撮像部へ入射させる光分岐素子と、 An optical branching element that reflects the first incident light incident from the laser oscillator toward the workpiece and transmits the second incident light incident from the workpiece to be incident on the imaging unit. When,
前記ノズルの内部に照明光を照射する照明部と、 A lighting unit that irradiates the inside of the nozzle with illumination light,
前記開口部と前記照射領域との撮像によって得られた画像データを基に、前記開口部の中心と前記レーザ光の中心とのずれを補正するための調整を行う調整部と、 Based on the image data obtained by imaging the opening and the irradiation area, an adjustment unit that makes adjustments for correcting the deviation between the center of the opening and the center of the laser beam, and an adjustment unit.
を備え、 Equipped with
前記撮像部は、前記照明光が照射されているときにおける前記開口部を撮像することを特徴とするレーザ加工装置。 The image pickup unit is a laser processing apparatus characterized in that an image pickup is performed on the opening portion when the illumination light is irradiated.
前記レーザ発振器から第1の光路を進行した前記レーザ光を集光する集光光学系と、
前記集光光学系を通過した前記レーザ光を被加工物へ向けて出射する開口部を有するノズルと、を備えるレーザ加工装置の調整方法であって、
前記ノズルの内部に照明光を照射して、前記第1の光路とは分岐された第2の光路に設けられた撮像部によって前記開口部を撮像する工程と、
前記撮像部によって、前記被加工物における前記レーザ光の照射領域を撮像する工程と、
前記開口部と前記照射領域との撮像によって得られた画像データを基に、前記開口部の中心と前記レーザ光の中心とのずれを補正するための調整を行う工程と、
を含むことを特徴とするレーザ加工装置の調整方法。 A laser oscillator that oscillates laser light and
A condensing optical system that collects the laser beam that has traveled through the first optical path from the laser oscillator and
A method for adjusting a laser processing apparatus including a nozzle having an opening that emits the laser light that has passed through the condensing optical system toward a work piece.
A step of irradiating the inside of the nozzle with illumination light and imaging the opening by an imaging unit provided in a second optical path branched from the first optical path.
The step of imaging the irradiation region of the laser beam on the workpiece by the imaging unit, and
Based on the image data obtained by imaging the opening and the irradiation region, an adjustment step for correcting the deviation between the center of the opening and the center of the laser beam is performed.
A method for adjusting a laser processing apparatus, which comprises.
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