JP7049848B2 - How to grind the holding surface - Google Patents
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Description
本発明は、保持テーブルの保持面を研削する研削方法に関する。 The present invention relates to a grinding method for grinding a holding surface of a holding table.
ウェーハを研削する研削装置は、ウェーハを保持する保持テーブルと、保持テーブルに保持されたウェーハに研削を施す研削砥石が固着された研削ホイールが回転可能に装着された研削手段とを備え、ウェーハを所定の厚みに研削することができる。研削装置において、研削ホイールや保持テーブルを交換等した後は、保持テーブルの保持面と研削砥石の研削面とを平行にするため、研削砥石で保持面を研削するセルフグラインドを実施している(例えば、下記の特許文献1を参照)。
A grinding device for grinding a wafer includes a holding table for holding the wafer and a grinding means for rotatably mounting a grinding wheel to which a grinding wheel for grinding the wafer held on the holding table is fixed. It can be ground to a predetermined thickness. After replacing the grinding wheel or holding table in the grinding device, self-grinding is performed to grind the holding surface with the grinding wheel in order to make the holding surface of the holding table parallel to the grinding surface of the grinding wheel (). For example, see
上記のセルフグラインドでは、保持テーブルの半径範囲に研削砥石の研削面を接触させて研削を行っていることから、保持テーブルの保持面が円錐形状に形成される。保持テーブルによって保持されるウェーハが厚い場合、ウェーハが保持面の形状にならわずに保持面の円錐面の頂点付近で保持面とウェーハの中央下面とに隙間が生じ、ウェーハの中央が研削され過ぎて薄くなるという問題がある。 In the above self-grinding, since the grinding surface of the grinding wheel is brought into contact with the radius range of the holding table for grinding, the holding surface of the holding table is formed in a conical shape. When the wafer held by the holding table is thick, the wafer does not follow the shape of the holding surface, and a gap is created between the holding surface and the lower center of the wafer near the apex of the conical surface of the holding surface, and the center of the wafer is ground. There is a problem that it becomes too thin.
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、研削後のウェーハの中央が薄くなりすぎないように保持テーブルを保持できるようにすることを目的としている The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to be able to hold a holding table so that the center of the wafer after grinding does not become too thin.
本発明は、環状に研削砥石を配設した研削ホイールの中心を軸に回転させる研削手段と、ウェーハを保持する保持面の中心を軸に保持テーブルを回転させる保持手段とを備えた研削装置を用いて、該保持面の中心を通過する該研削砥石で該保持面を研削する保持面の研削方法であって、該研削砥石は、ビトリファイドボンドとダイヤモンド砥粒とを混合させ焼結させて固形化し研削面に気孔を有するビトリファイド砥石であり、該研削面に隙間を備えず環状に形成され、該保持テーブルを回転させ、該保持面の半径領域に該研削面を接触させ、該半径領域の外周から中心に向かって該研削砥石を移動させているときに該気孔に該ダイヤモンド砥粒を進入させ、該保持面の中心を通過した該研削面の該気孔から該ダイヤモンド砥粒を押し出し該保持面の中央部分を研削して平坦な凹み部を形成し該保持面を研削する。 The present invention provides a grinding device including a grinding means for rotating a grinding wheel in which a grinding wheel is arranged in an annular shape around the center of a grinding wheel and a holding means for rotating a holding table around the center of a holding surface for holding a wafer. It is a method of grinding a holding surface by grinding the holding surface with the grinding wheel passing through the center of the holding surface. The grinding wheel is a solid body obtained by mixing and sintering a vitrified bond and diamond abrasive grains. It is a vitrified grindstone having pores on the ground surface, which is formed in an annular shape without a gap on the ground surface, and the holding table is rotated to bring the ground surface into contact with the radial region of the holding surface . When the grinding wheel is being moved from the outer periphery toward the center, the diamond abrasive grains are allowed to enter the pores, and the diamond abrasive grains are extruded from the pores of the grinding surface that have passed through the center of the holding surface to hold the diamond abrasive grains. The central portion of the surface is ground to form a flat recess and the holding surface is ground.
上記ダイヤモンド砥粒は、粒度600を用いることが好ましい。 It is preferable to use a grain size of 600 for the diamond abrasive grains.
本発明に係る保持面の研削方法では、使用される研削砥石が、ビトリファイドボンドとダイヤモンド砥粒とを混合させ焼結させて固形化し研削面に気孔を有するビトリファイド砥石であり、研削面に隙間を備えず環状に形成され、保持テーブルを回転させ、保持面の半径領域に研削面を接触させ保持面を研削するように構成したため、半径領域では、研削面の複数の気孔内にダイヤモンド砥粒を埋め込ませながら保持面を研削できるとともに、保持面の中心を通過して研削面と保持面との間に隙間が生じると、研削面の気孔から押し出されたダイヤモンド砥粒で保持面の中央に平坦な凹み部を形成することができる。これにより、例えば厚みのあるウェーハを保持テーブルで保持する場合、中央に凹み部が形成された保持面でウェーハを隙間無く保持できるため、ウェーハの中央が過度に研削されるのを防ぐことができ、ウェーハを均等の厚さに研削することが可能となる。 In the method for grinding a holding surface according to the present invention, the grinding wheel used is a vitrified grindstone in which a vitrified bond and diamond abrasive grains are mixed and sintered to solidify and have pores on the grinding surface, and a gap is formed in the grinding surface. It is formed in an annular shape without any provision, and the holding table is rotated so that the grinding surface is brought into contact with the radial area of the holding surface to grind the holding surface. The holding surface can be ground while being embedded, and when a gap is created between the grinding surface and the holding surface after passing through the center of the holding surface, the diamond abrasive grains extruded from the pores of the ground surface flatten the center of the holding surface. A dented portion can be formed. As a result, for example, when a thick wafer is held on a holding table, the wafer can be held without a gap on the holding surface having a recess formed in the center, so that the center of the wafer can be prevented from being excessively ground. , The wafer can be ground to a uniform thickness.
上記ダイヤモンド砥粒として、粒度600を用いることにより、保持面の表面粗さを良好に仕上げることができる。 By using the grain size 600 as the diamond abrasive grains, the surface roughness of the holding surface can be satisfactorily finished.
図1は、本発明に係る保持面の研削方法に用いられる研削装置1の一例である。研削装置1は、研削ホイール13の中心を通る回転軸100を軸に回転させる研削手段10と、ウェーハを保持する保持面24aの中心を通る回転軸200を軸に保持テーブル21を回転させる保持手段20とを少なくとも備えている。
FIG. 1 is an example of a
研削手段10は、鉛直方向の軸心を有するスピンドル11と、マウント12を介してスピンドル11の下端に装着された研削ホイール13と、研削ホイール13の下部に環状の研削砥石14とを備えている。研削手段20には、研削手段20を鉛直方向に昇降させる昇降手段18と、スピンドル11を回転させるモータ(図示せず)とが接続されている。
The grinding means 10 includes a
研削砥石14は、ビトリファイドボンド15とダイヤモンド砥粒16とを混合して焼結させて固形化したビトリファイド砥石である。研削砥石14の下面は、被研削物と接触する研削面14aとなっている。また、研削砥石14は、研削面14aに複数の気孔17を有し、かつ、研削面14aに隙間を備えず環状に形成されている。複数の気孔17は、研削砥石14の研削面14aと保持面24aとが実際に接触する研削領域においてダイヤモンド砥粒16を逃がすためのチップポケットとして機能する。本実施形態に示す研削砥石14は、環状に一体的に形成されているため、該研削領域で研削面14aと保持面24aとの間に隙間ができず、通常であれば、研削面14aから自生発刃して表出したダイヤモンド砥粒16の逃げ場がなくなるが、本発明によれば、研削面14aの複数の気孔17にダイヤモンド砥粒16が埋まり込むため、保持面24aの面粗さを良好に形成することが可能となる。研削砥石14は、例えば、ビトリファイドボンド15にダイヤモンド砥粒16を混入し、所定の型枠において混入したダイヤモンド砥粒16にプレス加工を施し、その後、所定の温度で所定時間焼結することにより直方体形状に固形化されて製造される。
The
本実施形態に示す研削砥石14では、ダイヤモンド砥粒16を固めるボンド材としてビトリファイドボンド15を利用していることから、他のボンド材(例えばレジンボンドやメタルボンド)と比べて比較的硬く、研削砥石14で保持面24aを研削すると、保持面24aの面状態を良好に仕上げることが可能となる。また、ボンド材としてビトリファイドボンド15を用いることでダイヤモンド砥粒16を強固に保持でき、研削効率が向上して研削砥石14の寿命も長くなる。したがって、研削砥石14の交換頻度が少なくて済むため、有用である。
In the
ダイヤモンド砥粒16の粒度は、例えば粒度600(平均粒径20μm)を用いることが好ましい。ダイヤモンド砥粒16の粒径が小さすぎると、研削砥石14で保持面24aを研削する際にダイヤモンド砥粒16が研削面14aから表出されず、保持面24aを所望の面状態に仕上げることができないし、ダイヤモンド砥粒16の粒径が大きすぎると、研削面14aからのダイヤモンド砥粒16の突き出し量が大きくなって保持面24aの表面粗さが悪化する。したがって、ダイヤモンド砥粒16の粒度としては、上記した粒度600が最も好適であり、かかるダイヤモンド砥粒16によれば、保持面24aの表面粗さを良好に仕上げることができる。
As the particle size of the diamond
保持手段20は、ウェーハを吸引保持する保持テーブル21と、保持テーブル21の回転軸200を回転させるモータ22とを少なくとも備えている。保持テーブル21は、中央に凹状の嵌合溝230を有する枠体23と、枠体23に収容されるポーラス部材24とを備えている。枠体23は、例えばセラミックス等によって構成されている。ポーラス部材24が枠体23の嵌合溝230に嵌め込まれることにより、保持テーブル21として構成される。
The holding means 20 includes at least a holding table 21 for sucking and holding the wafer, and a
ポーラス部材24は、円盤状に形成されており、ポーラスセラミックス等の多孔質部材によって構成されている。ポーラス部材24の上面がウェーハを保持する保持面24aである。保持面24aは、例えば直径300mmに形成されている。また、ポーラス部材24の保持面24aは、保持面24aの中心Cから保持面24aの外周Eにかけて傾斜した略円錐面となっており、図示に示す中心Cは略円錐面の頂点となっている。保持面24aの中心Cと外周Eの高さ差は、例えば30μm程度に形成されている。なお、図示していないが、保持手段20には、保持テーブル21の傾きを調整するための傾き調整手段が配設されている。
The
次に、研削装置1を用いて、保持テーブル21の保持面24aを研削する保持面の研削方法について詳述する。本実施形態では、厚みのあるウェーハを保持テーブル21の保持面24aで保持するために、予め保持面24aを研削するものとする。
Next, a method for grinding the
研削を開始する際には、傾き調整手段によって、図2に示すように、例えば保持テーブル21の外周右側を上げることにより、研削砥石14の中心の回転軸100と保持テーブル21の中心の回転軸200とを相対的に所定角度だけ傾けて、研削砥石14の研削面14aを保持面24aの円錐面の頂点(中心C)から外周Eに至る面に対して平行となるように調整する。
When starting grinding, as shown in FIG. 2, for example, by raising the outer peripheral right side of the holding table 21, the
次いで、モータ22によって保持テーブル21を例えば矢印A方向に回転させる。昇降手段18により研削手段10を下降させつつ、研削手段10は、スピンドル11を回転させることにより、研削ホイール13を例えば矢印A方向に回転させ、研削砥石14で保持面24aを押圧しながら研削する。
Next, the holding table 21 is rotated by the
ここで、図3に示すように、矢印A方向に回転する研削砥石14の回転軌跡のうち、研削砥石14が実際に保持面24aに接触して研削を行う円弧状の半径領域(点線で図示)が研削領域P1となっている。保持面24aの研削中、研削砥石14は常に保持面24aの中心Cを通過しながら、研削領域P1において研削砥石14の研削面14aが保持面24aに接触して保持面24aを研削する。
Here, as shown in FIG. 3, among the rotation loci of the
図4に示すように、研削砥石14の研削面14aが保持面24aに接触しているときは、研削面14aから表出したダイヤモンド砥粒16に研削荷重をかけつつ保持面24aの外周Eから保持面24aの中心Cに向かって研削を行うことができる。すなわち、研削荷重がダイヤモンド砥粒16に作用すると、研削砥石14の研削面14aから表出しているダイヤモンド砥粒16が複数の気孔17内に埋まり込み、ダイヤモンド砥粒16の突き出し量を小さくして保持面24aを研削できるため、表面粗さを良好に仕上げることができる。研削砥石14は、環状に形成され研削面14aに隙間がないことから、図3に示した研削領域P1では、研削面14aと保持面24aとの間に隙間が生じず、複数の気孔17内にダイヤモンド砥粒16が埋まった状態が維持される。
As shown in FIG. 4, when the grinding
一方、図3に示した研削砥石14が保持面24aの中心Cを通過すると、中心Cを通過した研削砥石14の研削面14aと保持面24aとが非接触の状態となる。すなわち、研削砥石14の研削面14aが保持面24aに接触していないときは、図5に示すように、研削面14aと保持面24aとの間に隙間が生じるため、保持面24aの中心Cを通過した研削面14aの研削荷重を受けていないダイヤモンド砥粒16が複数の気孔17から外側へ押し出された状態となる。複数の気孔17から押し出されたダイヤモンド砥粒16によって保持面24aの中心Cから径方向外側のわずかな領域(例えば図3に示す中央研削領域P2)を研削することで、図6に示すように、保持面24aの中央に平坦な凹み部25を形成する。このように、研削砥石14と保持テーブル21との傾き関係を調整することなく、厚みのあるウェーハに対応可能な保持面24aを形成することが可能となる。凹み部25の矢印で示す径は、例えば直径30mmである。保持面24aの研削が完了したら、ウェーハを保持テーブル21で保持し、ウェーハに対して研削を施す。
On the other hand, when the grinding
以上のとおり、本発明に係る保持面の研削方法では、使用される研削砥石14が、ビトリファイドボンド15とダイヤモンド砥粒16とを混合させ焼結させて固形化し研削面14aに気孔17を有するビトリファイド砥石であり、研削面14aに隙間を備えず環状に形成され、保持テーブル21を回転させ、保持面24aの半径領域である研削領域P1に研削面14aを接触させ保持面24aを研削するように構成したため、研削領域P1では、研削面14aの複数の気孔17内にダイヤモンド砥粒16を埋め込ませながら保持面24aを研削できるとともに、保持面24aの中心Cを通過して研削面14aと保持面24aとの間に隙間が生じると、研削面14aの気孔17から押し出されたダイヤモンド砥粒16で保持面24aの中央に平坦な凹み部25を形成することができる。
保持面24aの中央に凹み部25が形成された保持テーブル21では、例えば厚みのあるウェーハを吸引保持する際、凹み部25にならってウェーハの中央部分も吸引保持できるため、保持面24aの中央とウェーハの中央部分との間に隙間が生じることはなくなる。したがって、保持面24aでウェーハを隙間無く保持できるため、ウェーハの中央が過度に研削されるのを防ぐことができ、ウェーハを均等の厚さに研削することが可能となる。
As described above, in the method for grinding the holding surface according to the present invention, the grinding
In the holding table 21 in which the recessed
1:研削装置
10:研削手段 11:スピンドル 12:マウント 13:研削ホイール
14:研削砥石 15:ビトリファイドボンド 16:ダイヤモンド砥粒
17:気孔 18:昇降手段
20:保持手段 21:保持テーブル 22:モータ 23:枠体
24:ポーラス部材 25:凹み部
1: Grinding device 10: Grinding means 11: Spindle 12: Mount 13: Grinding wheel 14: Grinding wheel 15: Vitrified bond 16: Diamond abrasive grains 17: Pore 18: Elevating means 20: Holding means 21: Holding table 22: Motor 23 : Frame body 24: Porous member 25: Recessed part
Claims (2)
該研削砥石は、ビトリファイドボンドとダイヤモンド砥粒とを混合させ焼結させて固形化し研削面に気孔を有するビトリファイド砥石であり、該研削面に隙間を備えず環状に形成され、
該保持テーブルを回転させ、該保持面の半径領域に該研削面を接触させ、該半径領域の外周から中心に向かって該研削砥石を移動させているときに該気孔に該ダイヤモンド砥粒を進入させ、該保持面の中心を通過した該研削面の該気孔から該ダイヤモンド砥粒を押し出し該保持面の中央部分を研削して平坦な凹み部を形成し該保持面を研削する保持面の研削方法。 Using a grinding device provided with a grinding means for rotating the center of the grinding wheel in which the grinding wheels are arranged in an annular shape around the center of the grinding wheel and a holding means for rotating the holding table around the center of the holding surface for holding the wafer. A method for grinding a holding surface by grinding the holding surface with the grinding wheel that passes through the center of the holding surface.
The grinding wheel is a vitrified grindstone in which a vitrified bond and diamond abrasive grains are mixed and sintered to solidify and have pores on the grinding surface, and the grinding wheel is formed in an annular shape without a gap.
The diamond abrasive grains enter the pores when the holding table is rotated, the grinding surface is brought into contact with the radial region of the holding surface, and the grinding wheel is moved from the outer periphery of the radial region toward the center. Then, the diamond abrasive grains are extruded from the pores of the grinding surface that have passed through the center of the holding surface, and the central portion of the holding surface is ground to form a flat recessed portion, and the holding surface is ground. Method.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018020937A JP7049848B2 (en) | 2018-02-08 | 2018-02-08 | How to grind the holding surface |
TW108103795A TWI782178B (en) | 2018-02-08 | 2019-01-31 | Grinding method of holding surface |
CN201910103280.1A CN110125731B (en) | 2018-02-08 | 2019-02-01 | Method for grinding holding surface |
KR1020190013429A KR102662484B1 (en) | 2018-02-08 | 2019-02-01 | Holding surface grinding method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018020937A JP7049848B2 (en) | 2018-02-08 | 2018-02-08 | How to grind the holding surface |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019136806A JP2019136806A (en) | 2019-08-22 |
JP7049848B2 true JP7049848B2 (en) | 2022-04-07 |
Family
ID=67568546
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018020937A Active JP7049848B2 (en) | 2018-02-08 | 2018-02-08 | How to grind the holding surface |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7049848B2 (en) |
KR (1) | KR102662484B1 (en) |
CN (1) | CN110125731B (en) |
TW (1) | TWI782178B (en) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110315425B (en) * | 2019-07-10 | 2020-08-28 | 衢州学院 | Grinding equipment for free abrasive of sapphire wafer |
JP7504537B2 (en) | 2019-09-10 | 2024-06-24 | 株式会社ディスコ | Wafer grinding method |
JP7466622B2 (en) * | 2020-02-17 | 2024-04-12 | 東京エレクトロン株式会社 | Processing method and processing device |
JP7413103B2 (en) * | 2020-03-17 | 2024-01-15 | 株式会社ディスコ | Wafer grinding method |
JP7479767B2 (en) | 2020-09-09 | 2024-05-09 | 株式会社ディスコ | Grinding Method |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003136410A (en) | 2001-10-31 | 2003-05-14 | Allied Material Corp | Super-abrasive grains vitrified bond grinding wheel |
JP2015131354A (en) | 2014-01-10 | 2015-07-23 | 株式会社ディスコ | Chuck table and grinding device |
JP2016132071A (en) | 2015-01-21 | 2016-07-25 | 株式会社ディスコ | Grinding device |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4734041B2 (en) * | 2005-06-15 | 2011-07-27 | 株式会社ディスコ | Vitrified bond grinding wheel manufacturing method |
CN100429047C (en) * | 2006-11-08 | 2008-10-29 | 大连理工大学 | Superfine grinding wheel for hard and crisp crystal substrate |
JP2009094326A (en) * | 2007-10-10 | 2009-04-30 | Disco Abrasive Syst Ltd | Method of grinding wafer |
JP5149020B2 (en) * | 2008-01-23 | 2013-02-20 | 株式会社ディスコ | Wafer grinding method |
JP5295731B2 (en) * | 2008-11-21 | 2013-09-18 | 株式会社ディスコ | Wafer grinding method |
JP5508120B2 (en) * | 2010-04-28 | 2014-05-28 | 株式会社ディスコ | Hard substrate processing method |
JP2012174987A (en) * | 2011-02-23 | 2012-09-10 | Disco Abrasive Syst Ltd | Method for grinding single crystal substrate |
JP2013193156A (en) * | 2012-03-19 | 2013-09-30 | Disco Corp | Grinding device, and grinding method |
JP5640100B2 (en) * | 2012-06-05 | 2014-12-10 | 株式会社アライドマテリアル | Vitrified bond superabrasive wheel and wafer manufacturing method using the same |
JP5640064B2 (en) * | 2012-08-29 | 2014-12-10 | 株式会社アライドマテリアル | Vitrified bond superabrasive wheel and method of grinding a wafer using the same |
JP6157229B2 (en) * | 2013-06-10 | 2017-07-05 | 株式会社ディスコ | Grinding apparatus and grinding method |
JP6336772B2 (en) * | 2014-02-14 | 2018-06-06 | 株式会社ディスコ | Grinding and polishing equipment |
JP6292958B2 (en) * | 2014-04-18 | 2018-03-14 | 株式会社ディスコ | Grinding equipment |
JP2016047561A (en) * | 2014-08-27 | 2016-04-07 | 株式会社ディスコ | Grinding device |
JP6475518B2 (en) * | 2015-03-03 | 2019-02-27 | 株式会社ディスコ | Wafer processing method |
JP6574373B2 (en) * | 2015-11-17 | 2019-09-11 | 株式会社ディスコ | Disc-shaped workpiece grinding method |
JP2017185575A (en) * | 2016-04-04 | 2017-10-12 | クレトイシ株式会社 | Vitrified superabrasive grain wheel |
-
2018
- 2018-02-08 JP JP2018020937A patent/JP7049848B2/en active Active
-
2019
- 2019-01-31 TW TW108103795A patent/TWI782178B/en active
- 2019-02-01 KR KR1020190013429A patent/KR102662484B1/en active IP Right Grant
- 2019-02-01 CN CN201910103280.1A patent/CN110125731B/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003136410A (en) | 2001-10-31 | 2003-05-14 | Allied Material Corp | Super-abrasive grains vitrified bond grinding wheel |
JP2015131354A (en) | 2014-01-10 | 2015-07-23 | 株式会社ディスコ | Chuck table and grinding device |
JP2016132071A (en) | 2015-01-21 | 2016-07-25 | 株式会社ディスコ | Grinding device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102662484B1 (en) | 2024-04-30 |
JP2019136806A (en) | 2019-08-22 |
TWI782178B (en) | 2022-11-01 |
TW201934262A (en) | 2019-09-01 |
KR20190096289A (en) | 2019-08-19 |
CN110125731B (en) | 2022-12-16 |
CN110125731A (en) | 2019-08-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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