JP7027212B2 - Inspection method for connection terminals and semiconductor devices - Google Patents

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本発明は、接続端子および半導体装置の検査方法に関する。 The present invention relates to a connection terminal and a method for inspecting a semiconductor device.

半導体基板などに形成された半導体装置は、所定の電気的特性を有するか否かの電気的試験が実施され、所定の電気的特性を有する半導体装置が選別され出荷される。このような試験は通常、配線基板と半導体基板上の半導体装置の電極に接触させるための接続端子を備えた半導体検査装置を用いて、接続端子を電極に押圧してそれらの間で電気信号のやりとりを行い、その電気信号を配線基板に伝送することで行われる。接続端子の電極への押圧による電極の損傷を緩和するために、接続端子は、弾性バネの弾性力を利用したポゴピンが広く利用されている。 A semiconductor device formed on a semiconductor substrate or the like is subjected to an electrical test as to whether or not it has a predetermined electrical characteristic, and the semiconductor device having a predetermined electrical characteristic is selected and shipped. Such tests are usually performed using a semiconductor inspection device equipped with a connection terminal for contacting the wiring substrate and the electrode of the semiconductor device on the semiconductor substrate, and pressing the connection terminal against the electrode to obtain an electrical signal between them. It is performed by exchanging and transmitting the electric signal to the wiring board. Pogo pins that utilize the elastic force of elastic springs are widely used as the connection terminals in order to alleviate damage to the electrodes due to pressing of the connection terminals against the electrodes.

特許文献1には、半導体検査装置を用いた半導体基板の電気的試験において電気的な接続性を向上させるために、ポゴピンの下端部が半導体装置の電極に当接した状態としない状態とで弾性力を変化させることができるポゴピンの構成が開示されている。 Patent Document 1 states that in order to improve electrical connectivity in an electrical test of a semiconductor substrate using a semiconductor inspection device, the lower end of the pogo pin is elastic with and without contact with the electrode of the semiconductor device. The composition of pogo pins that can change the force is disclosed.

特開2016-142644号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-142644

しかしながら、特許文献1に示されるポゴピンの構成では、ポゴピン先端部の磨耗などの劣化による電気的な接続性の低下を検知することが困難である。従って、このようなポゴピンなどの接続端子の劣化により電気的な接続性が悪化した場合の接続歩留まりの低下や誤測定を抑制することが困難である。 However, with the pogo pin configuration shown in Patent Document 1, it is difficult to detect a decrease in electrical connectivity due to deterioration such as wear of the tip of the pogo pin. Therefore, it is difficult to suppress a decrease in connection yield and erroneous measurement when electrical connectivity deteriorates due to deterioration of connection terminals such as pogo pins.

本発明は、上記の点に鑑み、接続端子の先端部の劣化により電気的な接続性が悪化した場合の接続歩留まりの低下や誤測定、及びそれに伴う低品質の半導体製品の出荷を抑制接続端子および半導体装置の検査方法を提供することを目的とする。 In view of the above points, the present invention suppresses the decrease in connection yield and erroneous measurement when the electrical connectivity deteriorates due to the deterioration of the tip of the connection terminal, and the accompanying shipment of low-quality semiconductor products. And to provide a method for inspecting semiconductor devices.

上記の課題を解決するために、本発明は以下のような接続端子および半導体装置の検査方法とする。 In order to solve the above problems, the present invention uses the following connection terminal and semiconductor device inspection methods.

すなわち、被測定基板に接触し電気的接続を得るための接続端子であって、一方の端部から他方の端部までを貫通する流体排出管を内部に有するプランジャーピンと、前記プランジャーピンの前記一方の端部の第1の排出口を塞ぐように設けられ、前記被測定基板に接触可能な接触子と、外側面と、内側に内側面と天井面含む空洞を有し、前記内側面において前記プランジャーピンの一部と接して覆い、前記プランジャーピンに電気的に接続されたシェルケースと、前記天井面と前記プランジャーピンとの間に設けられ、前記プランジャーピンの前記他方の端部に接続された開口部を有する、常圧を越える圧力で流体物が封入された流体封入容器と、を備えることを特徴とする接続端子とする。 That is, a plunger pin having a fluid discharge pipe inside which is a connection terminal for contacting the substrate to be measured and obtaining an electrical connection and penetrating from one end to the other end, and the plunger pin. The inner side surface is provided so as to close the first discharge port at the one end portion, and has a contactor that can contact the substrate to be measured, an outer surface, and a cavity including an inner surface surface and a ceiling surface inside. A shell case that is in contact with and covers a part of the plunger pin and is electrically connected to the plunger pin, and is provided between the ceiling surface and the plunger pin in the other of the plunger pin. The connection terminal comprises a fluid-filled container having an opening connected to the end and filled with a fluid at a pressure exceeding normal pressure.

また、前記接続端子を被測定基板に接触させて検査を行う半導体装置の検査方法であって、前記接触子が前記検査における前記被測定基板との接触によって削れ、前記第1の排出口が露出して前記流体物が排出されることをもって、前記接触子の劣化を検知し、前記接続端子を交換することを特徴とする、半導体装置の検査方法とする。 Further, it is an inspection method of a semiconductor device in which the connection terminal is brought into contact with a substrate to be inspected, and the contactor is scraped by the contact with the substrate to be measured in the inspection, and the first discharge port is exposed. A method for inspecting a semiconductor device is characterized in that deterioration of the contact is detected and the connection terminal is replaced when the fluid is discharged.

本発明によれば、接続端子の先端部の劣化を検知し接続端子の交換を促すことで、接続端子を被測定基板に接触させて行う電気的試験における接続歩留まりの低下や誤測定、及びそれに伴う低品質の半導体製品の出荷を抑制することができる。 According to the present invention, by detecting the deterioration of the tip of the connection terminal and prompting the replacement of the connection terminal, the connection yield is lowered or erroneously measured in the electrical test performed by bringing the connection terminal into contact with the substrate to be measured, and the measurement thereof. It is possible to suppress the accompanying shipment of low-quality semiconductor products.

本発明の第1の実施形態に係る接続端子が設けられた検査装置によって、被測定基板の電気的検査を行う様子を表す模式断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows the state of performing the electrical inspection of the substrate to be measured by the inspection apparatus provided with the connection terminal which concerns on 1st Embodiment of this invention. 第1の実施形態に係る接続端子の模式断面図である。It is a schematic cross-sectional view of the connection terminal which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係る接続端子において、接触子が消失した直後の状態を表す模式断面図である。FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a state immediately after the contact disappears in the connection terminal according to the first embodiment. 第1の実施形態に係る接続端子において、流体封入容器が収縮したときの状態を表す模式断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows the state when the fluid-filled container is contracted in the connection terminal which concerns on 1st Embodiment. 本発明の第2の実施形態に係る接続端子が設けられた検査装置によって、被測定基板の電気的検査を行う様子を表す模式断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows the state of performing the electrical inspection of the substrate to be measured by the inspection apparatus provided with the connection terminal which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 第2の実施形態に係る接続端子の模式断面図である。It is a schematic cross-sectional view of the connection terminal which concerns on 2nd Embodiment. 第2の実施形態に係る接続端子において、流体封入容器が収縮したときの状態を表す模式断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows the state when the fluid-filled container is contracted in the connection terminal which concerns on 2nd Embodiment.

以下、本発明の実施形態を、図面を適宜参照しながら詳細に説明する。以下の説明で用いる図面は、本発明の特徴を分かりやすくするために、便宜上特徴となる部分を一部透視して示している場合がある。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings as appropriate. In the drawings used in the following description, in order to make the features of the present invention easy to understand, some of the featured portions may be seen through.

図1は、本発明の理解を容易にするために、第1の実施形態の接続端子が設置された検査装置によって被測定基板の電気的検査を行う様子を示した検査装置の模式断面図である。但し接続端子は断面ではなくその外観を示している。 FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of an inspection device showing a state in which an inspection device provided with a connection terminal of the first embodiment performs an electrical inspection of a substrate to be measured in order to facilitate understanding of the present invention. be. However, the connection terminal shows its appearance, not its cross section.

図1に示す検査装置10は、電極610を有する被測定基板600の電気的検査を行うための装置であって、配線基板700と、ランド部710を介して配線基板700に電気的に接続された第1の実施形態の接続端子100と、接続端子100を支える保持基板400及び支持基板500と、保持基板400及び支持基板500とを接続するホルダ300とを備える。 The inspection device 10 shown in FIG. 1 is a device for electrically inspecting the substrate 600 to be measured having the electrode 610, and is electrically connected to the wiring board 700 via the wiring board 700 and the land portion 710. Further, the connection terminal 100 of the first embodiment, the holding board 400 and the support board 500 for supporting the connection terminal 100, and the holder 300 for connecting the holding board 400 and the support board 500 are provided.

電気的検査を行う場合は、検査装置10は、図1の状態から被測定基板600の方向に移動し、被測定基板600上の電極610に接続端子100を接触させ、被測定基板600と電気信号のやり取りを行う。 When performing an electrical inspection, the inspection device 10 moves from the state shown in FIG. 1 in the direction of the substrate 600 to be measured, brings the connection terminal 100 into contact with the electrode 610 on the substrate 600 to be measured, and makes electricity with the substrate 600 to be measured. Exchange signals.

配線基板700は、接続端子100を介して被測定基板600から伝送される電気信号を処理するための、配線を備えた基板で、接続端子100と電気的に接続するランド部710を備える。 The wiring board 700 is a board provided with wiring for processing an electric signal transmitted from the measured board 600 via the connection terminal 100, and includes a land portion 710 that is electrically connected to the connection terminal 100.

支持基板500は、配線基板700の、被測定基板600に対向する面に設置され、接続端子100を支持する。支持基板500の、ランド部710が位置する部分には板厚方向に貫通する貫通孔510が設けられ、この部分が接続端子100を支える。 The support board 500 is installed on the surface of the wiring board 700 facing the measured board 600 and supports the connection terminal 100. A through hole 510 penetrating in the plate thickness direction is provided in a portion of the support substrate 500 where the land portion 710 is located, and this portion supports the connection terminal 100.

保持基板400は、支持基板500から被測定基板600の方向にはなれた位置に設置され、接続端子100を保持する。保持基板400も、板厚方向に貫通する貫通孔410が設けられ、この部分が接続端子100を支える。 The holding substrate 400 is installed at a position away from the supporting substrate 500 in the direction of the substrate 600 to be measured, and holds the connection terminal 100. The holding substrate 400 is also provided with a through hole 410 penetrating in the plate thickness direction, and this portion supports the connection terminal 100.

ホルダ300は、検査装置10の外周領域において、保持基板400と支持基板500との間に設置される。ホルダ300は、接続端子100を支える保持基板400を固定する。 The holder 300 is installed between the holding substrate 400 and the supporting substrate 500 in the outer peripheral region of the inspection device 10. The holder 300 fixes the holding board 400 that supports the connection terminal 100.

接続端子100は、一方の端部が被測定基板600上に形成された電極610と接触したときに、被測定基板600との電気信号のやりとりを行い、他方の端部が接続されたランド部710にその電気信号を伝送するための端子である。この接続端子100は、貫通孔410、510に支持され、電極610に対応するように多数設けられている。 When one end of the connection terminal 100 comes into contact with the electrode 610 formed on the substrate 600 to be measured, the connection terminal 100 exchanges an electric signal with the substrate 600 to be measured, and the land portion to which the other end is connected. It is a terminal for transmitting the electric signal to the 710. The connection terminals 100 are supported by through holes 410 and 510, and are provided in large numbers so as to correspond to the electrodes 610.

図2は、本発明の第1の実施形態に係る接続端子100の模式断面図である。接続端子100は、被測定基板600上の電極610と、配線基板700内のランド部710の間で電気信号の送やりとりを行うための導電性を備える。また、接続端子100は、検査装置10から被測定基板600への押圧に対し、プランジャーピン111がシェルケース102を上下に移動することで一方の端部から他方の端部までの長さを可変できる弾力性を備える。 FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the connection terminal 100 according to the first embodiment of the present invention. The connection terminal 100 has conductivity for exchanging electric signals between the electrode 610 on the substrate 600 to be measured and the land portion 710 in the wiring board 700. Further, the connection terminal 100 has a length from one end to the other by moving the shell case 102 up and down by the plunger pin 111 in response to the pressure from the inspection device 10 to the substrate 600 to be measured. It has variable elasticity.

プランジャーピン111は、シェルケース102と被測定基板600との間で電気信号をやり取りするために導電性を備える。プランジャーピン111の内部には、被測定基板600に対向する一方の端部から、配線基板700に対向する他方の端部へ貫通する円筒形の流体排出管112が設けられている。これは、シェルケース102内部からプランジャーピン排出口108を通して流れ込んだ流体物がプランジャーピン排出口103から排出されるようにするためである。プランジャーピン111の一方の端部には、導電性を備え、被測定基板600上の電極610と接触可能な接触子119が設けられている。 The plunger pin 111 is conductive for exchanging electrical signals between the shell case 102 and the substrate 600 to be measured. Inside the plunger pin 111, a cylindrical fluid discharge pipe 112 is provided that penetrates from one end facing the substrate 600 to be measured to the other end facing the wiring board 700. This is so that the fluid that has flowed from the inside of the shell case 102 through the plunger pin discharge port 108 is discharged from the plunger pin discharge port 103. One end of the plunger pin 111 is provided with a contactor 119 which is conductive and can come into contact with the electrode 610 on the substrate 600 to be measured.

接触子119は、三角錐の形状をなし、電極610に接触する電極接触点114から、プランジャーピン111に接続される磨耗限界点113までの長さを有し、プランジャーピン排出口103を塞ぐように設置されている。接触子119は、電極610との度重なる接触によって生じる磨耗が電極接触点114から磨耗限界点113に達したときにプランジャーピン排出口103を露出し、シェルケース102内部の流体物を排出する機能を有する。 The contactor 119 has a triangular pyramid shape and has a length from the electrode contact point 114 in contact with the electrode 610 to the wear limit point 113 connected to the plunger pin 111, and has a plunger pin discharge port 103. It is installed so as to block it. The contactor 119 exposes the plunger pin discharge port 103 when the wear caused by the repeated contact with the electrode 610 reaches the wear limit point 113 from the electrode contact point 114, and discharges the fluid inside the shell case 102. Has a function.

プランジャーピン111の外周の側面の一部は、シェルケース102で覆われ、その部分においてプランジャーピン111を囲むように圧縮リング110とオイルリング109が設けられている。圧縮リング110とオイルリング109は、シェルケース102に接して圧縮され、シェルケース102とプランジャーピン111との間の気密性を保持する。 A part of the outer peripheral side surface of the plunger pin 111 is covered with a shell case 102, and a compression ring 110 and an oil ring 109 are provided in the portion so as to surround the plunger pin 111. The compression ring 110 and the oil ring 109 are compressed in contact with the shell case 102 to maintain the airtightness between the shell case 102 and the plunger pin 111.

シェルケース102は、外側面120と、その内側に内側面121と天井面122を含む空洞を有し、内側面121においてプランジャーピン111の外周の一部を覆う。また、シェルケース102は導電性を有し、プランジャーピン111を覆う部分において、プランジャーピン111と接し、プランジャーピン111からの電気信号を、実装接触面115を介してランド部710に伝える。 The shell case 102 has an outer surface 120 and a cavity inside the outer surface 121 including an inner surface 121 and a ceiling surface 122, and covers a part of the outer periphery of the plunger pin 111 on the inner surface 121. Further, the shell case 102 has conductivity, is in contact with the plunger pin 111 at a portion covering the plunger pin 111, and transmits an electric signal from the plunger pin 111 to the land portion 710 via the mounting contact surface 115. ..

シェルケース102のプランジャーピン111と接しない他の部分においては、プランジャーピン111が上下に移動できる領域を確保するためのシェルケースインナー部118が設けられている。シェルケースインナー部118の内側面121上方には、広がり段差104設けられている。この広がり段差104は、後に説明するように、オイルリング109が広がり段差104に達したときに、オイルリング109がそこから下に戻ることを抑制するストッパーの役割を果たす。 In other portions of the shell case 102 that do not come into contact with the plunger pin 111, a shell case inner portion 118 is provided to secure an area in which the plunger pin 111 can move up and down. A spread step 104 is provided above the inner side surface 121 of the shell case inner portion 118. As will be described later, the spread step 104 serves as a stopper that prevents the oil ring 109 from returning downward from the spread step 104 when the oil ring 109 reaches the spread step 104.

シェルケースインナー部118内には、流体封入容器105が、シェルケースインナー部118の天井面122及びプランジャーピン111の間に設置されている。流体封入容器105は、ゴムなどのような伸縮可能な弾性体で構成されており、内部には、不活性ガスなどの流体物が常圧より高い圧力で封入されている。また、流体封入容器105のプランジャーピン排出口108に接する部分は、開口部が設けられている。そのため、流体封入容器105内の流体物は、プランジャーピン排出口108を介して流体排出管112内にも満たされている。 In the shell case inner portion 118, a fluid filling container 105 is installed between the ceiling surface 122 of the shell case inner portion 118 and the plunger pin 111. The fluid-filled container 105 is made of a stretchable elastic body such as rubber, and a fluid substance such as an inert gas is sealed inside at a pressure higher than normal pressure. Further, an opening is provided in a portion of the fluid filling container 105 in contact with the plunger pin discharge port 108. Therefore, the fluid substance in the fluid filling container 105 is also filled in the fluid discharge pipe 112 via the plunger pin discharge port 108.

シェルケースインナー部118内において流体封入容器105がシェルケースインナー部118の内壁と接する部分には、潤滑油107が封入されている。潤滑油107は、流体封入容器105とシェルケースインナー部118の内壁との接触による磨耗を抑制する機能を果たす。 Lubricating oil 107 is sealed in a portion of the shell case inner portion 118 in which the fluid filling container 105 is in contact with the inner wall of the shell case inner portion 118. The lubricating oil 107 functions to suppress wear due to contact between the fluid-filled container 105 and the inner wall of the shell case inner portion 118.

以上の構成を備えた接続端子100は、通常検査時と接続端子劣化時において以下のような働きを行う。 The connection terminal 100 having the above configuration performs the following functions at the time of normal inspection and at the time of deterioration of the connection terminal.

第1に通常検査時においては、図1の状態から検査装置10が被測定基板600の方向に移動し、被測定基板600上の電極610に接続端子100を接触させる。検査装置10は、接続端子100が電極610に接触した後も、接触性を高め接触抵抗を低減するために、さらに下側に押圧する。このとき、図2に示す接続端子100を構成するプランジャーピン111は、印加される押圧に従って圧縮される流体封入容器105の弾性力を受けながらシェルケースインナー部118内を上側に移動する。そして、接続端子100は、接触子119の押圧による電極610の損傷を緩和し、安定的な電気特性を得る。このとき、流体封入容器105は、従来技術におけるポゴピンの弾性バネに対応し、内部の流体物の漏れが発生しない限り一定の弾性力を発生させる。 First, during normal inspection, the inspection device 10 moves from the state shown in FIG. 1 in the direction of the substrate 600 to be measured, and the connection terminal 100 is brought into contact with the electrode 610 on the substrate 600 to be measured. Even after the connection terminal 100 comes into contact with the electrode 610, the inspection device 10 further presses it downward in order to improve the contact property and reduce the contact resistance. At this time, the plunger pin 111 constituting the connection terminal 100 shown in FIG. 2 moves upward in the shell case inner portion 118 while receiving the elastic force of the fluid-filled container 105 compressed by the applied pressure. Then, the connection terminal 100 alleviates damage to the electrode 610 due to the pressing of the contactor 119, and obtains stable electrical characteristics. At this time, the fluid-filled container 105 corresponds to the elastic spring of the pogo pin in the prior art, and generates a constant elastic force as long as the fluid inside does not leak.

第2に、接触子119と電極610との度重なる接触によって接触子119が削れるような、接続端子劣化時の場合について説明する。接触子119が過剰に削れたまま電気的検査を続けると、接触子119と電極610との間の電気的な接続性が悪化し、接続歩留まりの低下や誤測定が発生する。接続歩留まりが低下すると、再測定に伴う、スループットの低下が発生する。また、誤測定が発生すると、所定の電気的特性から外れた半導体装置が良品として選別され、低品質の半導体製品を出荷する恐れがある。 Secondly, a case where the contact terminal is deteriorated such that the contact 119 is scraped by repeated contact between the contact 119 and the electrode 610 will be described. If the electrical inspection is continued with the contact 119 excessively scraped, the electrical connectivity between the contact 119 and the electrode 610 deteriorates, resulting in a decrease in connection yield and erroneous measurement. When the connection yield decreases, the throughput decreases due to the remeasurement. Further, if an erroneous measurement occurs, a semiconductor device deviating from a predetermined electrical characteristic may be selected as a non-defective product and a low-quality semiconductor product may be shipped.

図3に示すように、第1の実施形態においては、接触子119が電極610との磨耗などで削れ、その削れが電極接触点114から磨耗限界点113に達すると、プランジャーピン排出口103が露出される。プランジャーピン排出口103が露出されると、流体排出管112内及び流体排出管112に接続された流体封入容器105内の流体物がプランジャーピン排出口103から排出され、常圧を越える圧力となっていた流体封入容器105内部の圧力が低下し、流体封入容器105がその弾性力に従って収縮する。 As shown in FIG. 3, in the first embodiment, when the contact 119 is scraped by wear with the electrode 610 and the scraping reaches the wear limit point 113 from the electrode contact point 114, the plunger pin discharge port 103 Is exposed. When the plunger pin discharge port 103 is exposed, the fluid in the fluid discharge pipe 112 and the fluid filling container 105 connected to the fluid discharge pipe 112 is discharged from the plunger pin discharge port 103, and the pressure exceeds the normal pressure. The pressure inside the fluid-filled container 105 is reduced, and the fluid-filled container 105 contracts according to its elastic force.

そして、図4に示すように、流体封入容器105とプランジャーピン排出口108を介して接続されていたプランジャーピン111が、流体封入容器105の収縮によって、シェルケース102の空洞内部へ引き込まれる。プランジャーピン111がシェルケース102の空洞内部へ引き込まれ、オイルリング109が広がり段差104に達すると、その空間の広がりによって広がり段差104の内側に接するまでオイルリング109の圧縮が開放される。そのため、この広がり段差104が、オイルリング109の下への移動に対するストッパーとなり、プランジャーピン111は、図4の状態から下への移動が妨げられる。 Then, as shown in FIG. 4, the plunger pin 111 connected to the fluid filling container 105 via the plunger pin discharge port 108 is pulled into the cavity of the shell case 102 by the contraction of the fluid filling container 105. .. When the plunger pin 111 is pulled into the cavity of the shell case 102 and the oil ring 109 expands and reaches the step 104, the expansion of the space releases the compression of the oil ring 109 until it touches the inside of the expansion step 104. Therefore, the spread step 104 serves as a stopper for the downward movement of the oil ring 109, and the plunger pin 111 is prevented from moving downward from the state shown in FIG.

以上のような働きによって、接続端子100が電極610からはなれ非接触状態が保たれるので、電気的検査が不可能となり、接触子119の削れによる接続端子100の劣化が検知される。接続端子100の劣化の検知を受けて、この劣化した接続端子を新しい接続端子に交換し、電気的検査を再開することで、電気的な接続性が悪化した場合の接続歩留まりの低下や誤測定が抑制される。 By the above-mentioned function, the connection terminal 100 is separated from the electrode 610 and the non-contact state is maintained, so that the electrical inspection becomes impossible and the deterioration of the connection terminal 100 due to the scraping of the contact 119 is detected. Upon receiving the detection of deterioration of the connection terminal 100, the deteriorated connection terminal is replaced with a new connection terminal, and the electrical inspection is restarted. Is suppressed.

次に、本発明の第2の実施形態に係る接続端子について説明する。図5は、第2の実施形態の接続端子が設置された検査装置によって被測定基板の電気的検査を行う様子を示した検査装置の模式断面図である。但し、接続端子は断面ではなくその外観を示している。 Next, the connection terminal according to the second embodiment of the present invention will be described. FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of the inspection device showing how the inspection device provided with the connection terminal of the second embodiment performs an electrical inspection of the substrate to be measured. However, the connection terminal shows the appearance, not the cross section.

図5に示すように、被測定基板600の電気的試験を行う検査装置20は、配線基板700と、ランド部710を介して配線基板700に電気的に接続された第2の実施形態の接続端子200と、接続端子200を支える保持基板400及び支持基板500と、保持基板400及び支持基板500とを接続するホルダ300とを備える。第2の実施形態の接続端子200は、第1の実施形態に対し、シェルケース排出口223を新たに設けている。このシェルケース排出口223は、支持基板500内に設けられた溝(不図示)などによって、シェルケース内の流体物を検査装置20の外部へ排出可能となっている。 As shown in FIG. 5, the inspection device 20 that performs an electrical test of the substrate 600 to be measured is a connection between the wiring board 700 and the second embodiment electrically connected to the wiring board 700 via the land portion 710. It includes a terminal 200, a holding board 400 and a supporting board 500 that support the connection terminal 200, and a holder 300 that connects the holding board 400 and the supporting board 500. The connection terminal 200 of the second embodiment is newly provided with a shell case discharge port 223 with respect to the first embodiment. The shell case discharge port 223 is capable of discharging a fluid substance in the shell case to the outside of the inspection device 20 by a groove (not shown) provided in the support substrate 500.

電気的検査を行う場合は、検査装置20は、図5の状態から被測定基板600の方向に移動し、被測定基板600上の電極610に接続端子200を接触させ、被測定基板600と電気信号のやり取りを行う。 When performing an electrical inspection, the inspection device 20 moves from the state shown in FIG. 5 in the direction of the substrate 600 to be measured, brings the connection terminal 200 into contact with the electrode 610 on the substrate 600 to be measured, and makes electricity with the substrate 600 to be measured. Exchange signals.

図6は、本発明の第2の実施形態に係る接続端子200の模式断面図である。接続端子200は、一方の端部において電極610と接して被測定基板600と電気信号のやり取りをし、他方の端部が接続されたランド部710にその電気信号を伝送する導電性を備えることは第1の実施形態と同様である。また、接続端子200は、被測定基板600への押圧に対し、プランジャーピン211がシェルケース202を上下に移動することで一方の端部から他方の端部までの長さを可変できる弾力性を備える。 FIG. 6 is a schematic cross-sectional view of the connection terminal 200 according to the second embodiment of the present invention. The connection terminal 200 has conductivity in which it contacts the electrode 610 at one end and exchanges an electric signal with the substrate 600 to be measured, and transmits the electric signal to the land portion 710 to which the other end is connected. Is the same as in the first embodiment. Further, the connection terminal 200 has elasticity that allows the length from one end to the other end to be changed by the plunger pin 211 moving up and down the shell case 202 in response to the pressure on the substrate 600 to be measured. To prepare for.

プランジャーピン211は、導電性を備え、内部に一方の端部から、他方の端部へ貫通する円筒形の流体排出管212を有している。これは、シェルケース202内部からプランジャーピン排出口208を通して流体物がプランジャーピン排出口203から排出されるようにするためである。通常検査時は、接触子219がプランジャーピン排出口203を塞ぐように設置されるが、使用中の磨耗が電極接触点214から磨耗限界点213に達したときにはプランジャーピン排出口203が露出され、シェルケース202内部の流体物が排出される。 The plunger pin 211 is conductive and has an internal cylindrical fluid discharge pipe 212 that penetrates from one end to the other. This is to allow the fluid to be discharged from the plunger pin discharge port 203 from the inside of the shell case 202 through the plunger pin discharge port 208. During normal inspection, the contactor 219 is installed so as to block the plunger pin discharge port 203, but when the wear during use reaches the wear limit point 213 from the electrode contact point 214, the plunger pin discharge port 203 is exposed. Then, the fluid inside the shell case 202 is discharged.

プランジャーピン211の外周の側面の一部は、シェルケース202で覆われ、その部分においてプランジャーピン211の外周を囲むようにオイルリング209と圧縮リング210が設けられている。オイルリング209と圧縮リング210は、シェルケース202に接して圧縮され、シェルケース202とプランジャーピン211との間の気密性を保持する。 A part of the side surface of the outer periphery of the plunger pin 211 is covered with a shell case 202, and an oil ring 209 and a compression ring 210 are provided at that portion so as to surround the outer periphery of the plunger pin 211. The oil ring 209 and the compression ring 210 are compressed in contact with the shell case 202 to maintain the airtightness between the shell case 202 and the plunger pin 211.

導電性を有するシェルケース202は、外側面220と、その内側に内側面221と天井面222を含む空洞を有し、内側面221においてプランジャーピン211の一部を覆う。また、シェルケース202は、プランジャーピン211と接し、プランジャーピン211からの電気信号を、実装接触面215を介してランド部710に伝える。 The conductive shell case 202 has an outer surface 220 and a cavity inside the outer surface 220 including an inner surface 221 and a ceiling surface 222, and covers a part of the plunger pin 211 on the inner surface 221. Further, the shell case 202 is in contact with the plunger pin 211, and an electric signal from the plunger pin 211 is transmitted to the land portion 710 via the mounting contact surface 215.

シェルケース202のプランジャーピン211と接しない他の部分においては、プランジャーピン211が上下に移動できる領域を確保するためのシェルケースインナー部218が設けられ、その内側面221上方には、広がり段差204設けられている。この広がり段差204は、オイルリング209が広がり段差204に達したときに、オイルリング209がそこから下に戻ることを抑制するストッパーの役割を果たす。 In other parts of the shell case 202 that do not come into contact with the plunger pin 211, a shell case inner portion 218 is provided to secure an area in which the plunger pin 211 can move up and down, and the shell case inner portion 218 is provided above the inner side surface 221 thereof. Step 204 is provided. The spread step 204 serves as a stopper that prevents the oil ring 209 from returning downward from the spread step 204 when the oil ring 209 spreads and reaches the step 204.

シェルケースインナー部218内には、ゴムなどのような伸縮可能な弾性体で構成された流体封入容器205が設置され、その内部には、不活性ガスなどの流体物が常圧より高い圧力で封入されている。また、流体封入容器205のプランジャーピン211に接する部分には、プランジャーピン排出口208を介して流体排出管212に接続される開口部が設けられている。そのため、流体封入容器205内の流体物は、プランジャーピン排出口208を介して流体排出管212内にも満たされている。 A fluid-filled container 205 made of a stretchable elastic body such as rubber is installed in the inner part 218 of the shell case, and a fluid substance such as an inert gas is placed inside the container at a pressure higher than normal pressure. It is enclosed. Further, an opening connected to the fluid discharge pipe 212 via the plunger pin discharge port 208 is provided at a portion of the fluid filling container 205 in contact with the plunger pin 211. Therefore, the fluid substance in the fluid filling container 205 is also filled in the fluid discharge pipe 212 via the plunger pin discharge port 208.

シェルケースインナー部218内において流体封入容器205がシェルケースインナー部218の内壁と接する部分には、潤滑油207が封入され、流体封入容器205とシェルケースインナー部218の内壁との接触による磨耗を抑制する。 Lubricating oil 207 is sealed in the portion of the shell case inner portion 218 where the fluid-filled container 205 is in contact with the inner wall of the shell case inner portion 218, and wear due to contact between the fluid-filled container 205 and the inner wall of the shell case inner portion 218 is caused. Suppress.

以上は第1の実施形態と同様であり、通常検査時においては第2の実施形態は第1の実施形態と同様な働きを行う。一方、接続端子劣化時においては、第1の実施形態に加えてシェルケース排出口223を備えた第2の実施形態は、以下のような働きを行う。 The above is the same as the first embodiment, and the second embodiment performs the same function as the first embodiment at the time of normal inspection. On the other hand, when the connection terminal is deteriorated, the second embodiment provided with the shell case discharge port 223 in addition to the first embodiment performs the following functions.

図7に示すように、このシェルケース排出口223は、流体封入容器205が破損し、内部の流体物が流出した場合にその流体物をシェルケース202の外部へ排出し、流体封入容器205を収縮させる。このようにすることで、第2の実施形態は、接触子219の磨耗による劣化以外の、接続端子200の弾性力に関わる劣化の検知を可能としている。 As shown in FIG. 7, in the shell case discharge port 223, when the fluid filling container 205 is damaged and the fluid inside flows out, the fluid is discharged to the outside of the shell case 202, and the fluid filling container 205 is discharged. Shrink. By doing so, the second embodiment makes it possible to detect deterioration related to the elastic force of the connection terminal 200 other than deterioration due to wear of the contactor 219.

流体封入容器205は、ポゴピンの弾性バネと同様に弾性体であるので、度重なる圧縮により磨耗し、劣化することがありうる。また、流体封入容器205がシェルケースインナー部218の内壁と接する部分に、潤滑油207が封入されているとはいえ磨耗によって破損することが考えられる。 Since the fluid-filled container 205 is an elastic body like the elastic spring of the pogo pin, it may be worn and deteriorated by repeated compression. Further, although the lubricating oil 207 is sealed in the portion where the fluid-filled container 205 is in contact with the inner wall of the inner wall of the shell case 218, it is considered that the fluid-filled container 205 is damaged by wear.

第2の実施形態においては、シェルケース202にシェルケース排出口223を設けることで、流体封入容器205が破損した際に、流体封入容器205内部の常圧より高い圧力で封入されていた流体物がシェルケース202外へ排出される。そして、流体封入容器205がその弾性力に従って収縮すると同時にプランジャーピン211がシェルケース202内へ引き込まれ、プランジャーピン211側面に設置されたオイルリング209が広がり段差204から下へ移動することが妨げられる。そのような働きによって、接続端子200が電極610からはなれ非接触状態となるので、電気的検査が不可能となり、流体封入容器205の破損による接続端子200の劣化が検知される。 In the second embodiment, the shell case 202 is provided with the shell case discharge port 223, so that when the fluid-filled container 205 is damaged, the fluid is sealed at a pressure higher than the normal pressure inside the fluid-filled container 205. Is discharged to the outside of the shell case 202. Then, at the same time that the fluid filling container 205 contracts according to its elastic force, the plunger pin 211 is pulled into the shell case 202, and the oil ring 209 installed on the side surface of the plunger pin 211 expands and moves downward from the step 204. Be hindered. Due to such an action, the connection terminal 200 is separated from the electrode 610 and becomes a non-contact state, so that an electrical inspection becomes impossible and deterioration of the connection terminal 200 due to damage of the fluid filling container 205 is detected.

すなわち、第2の実施形態の接続端子200は、接触子219の劣化とともに、流体封入容器205の破損に基づく劣化を検出し、新しい接続端子への交換を促すことで、接続歩留まりの低下や誤測定を抑制することができる。 That is, the connection terminal 200 of the second embodiment detects the deterioration of the contact 219 and the deterioration due to the breakage of the fluid filling container 205, and prompts the replacement with a new connection terminal, so that the connection yield is lowered or erroneous. The measurement can be suppressed.

本発明については、上記実施形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能であることは言うまでもない。 Needless to say, the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

これまで述べた第1、2実施形態における接続端子の劣化は、接続端子が被測定基板上の電極からはなれ非接触状態となり、電気的検査が不可能となることを以って検知されるとしたが、検知する方法はこれに限られるものではない。例えば、流体封入容器が収縮し、プランジャーピンがシェルケース内へ引き込まれた際にプランジャーピンがランド部に接触するなどして電気的な信号を発生させ、その信号を検出することで接続端子の劣化を検知する方法でも構わない。 Deterioration of the connection terminals in the first and second embodiments described above is detected by the fact that the connection terminals are separated from the electrodes on the substrate to be measured and become non-contact state, which makes electrical inspection impossible. However, the method of detection is not limited to this. For example, when the fluid-filled container contracts and the plunger pin is pulled into the shell case, the plunger pin comes into contact with the land portion to generate an electrical signal, and the connection is made by detecting the signal. A method of detecting the deterioration of the terminal may be used.

また、流体封入容器に封入する流体物を、マーキング用のインクなどとし、インクの付着を後の外観検査で検出することで、接続端子の劣化を検知する方法でもよい。 Further, a method of detecting deterioration of the connection terminal may be performed by using a fluid substance to be sealed in the fluid filling container as ink for marking or the like and detecting the adhesion of the ink in a later visual inspection.

さらに、流体封入容器105のプランジャーピン排出口108側の開口部に弁を設け、接触子119の磨耗による削れと同時に流体封入容器105の弁が開き、内部の流体物が排出される構成としてもよい。そのために例えば、流体排出管112内の内壁に沿って円筒形の流体排出筒を設ける。そのようにすることで、接触子119とプランジャーピン111先端の磨耗による消失によって流体排出筒の先端がシェルケース102側に押され、流体封入容器105の弁が押し開かれ、流体封入容器105内の流体物の排出が可能となる。 Further, a valve is provided at the opening on the plunger pin discharge port 108 side of the fluid filling container 105, and the valve of the fluid filling container 105 opens at the same time as the contact 119 is scraped due to wear, and the fluid inside is discharged. May be good. For this purpose, for example, a cylindrical fluid discharge cylinder is provided along the inner wall in the fluid discharge pipe 112. By doing so, the tip of the fluid discharge cylinder is pushed toward the shell case 102 due to disappearance due to wear of the contact 119 and the tip of the plunger pin 111, the valve of the fluid filling container 105 is pushed open, and the fluid filling container 105 is pushed open. The fluid inside can be discharged.

10、20 検査装置
100、200 接続端子
102、202 シェルケース
103、108、203、208 プランジャーピン排出口
104、204 広がり段差
105、205 流体封入容器
107、207 潤滑油
109、209 オイルリング
110、210 圧縮リング
111、211 プランジャーピン
112、212 流体排出管
113、213 磨耗限界点
114、214 電極接触点
115、215 実装接触面
118、218 シェルケースインナー部
119、219 接触子
120、220 外側面
121,221 内側面
122、222 天井面
223 シェルケース排出口
300 ホルダ
400 保持基板
500 支持基板
410、510 貫通孔
600 被測定基板
610 電極
700 配線基板
710 ランド部
10, 20 Inspection device 100, 200 Connection terminal 102, 202 Shell case 103, 108, 203, 208 Plunger pin discharge port 104, 204 Spread step 105, 205 Fluid filling container 107, 207 Lubricating oil 109, 209 Oil ring 110, 210 Compression ring 111, 211 Plunger pin 112, 212 Fluid discharge pipe 113, 213 Wear limit point 114, 214 Electrode contact point 115, 215 Mounting contact surface 118, 218 Shell case inner part 119, 219 Outer side surface 121,221 Inner side surface 122,222 Ceiling surface 223 Shell case Discharge port 300 Holder 400 Holding board 500 Support board 410, 510 Through hole 600 Measured board 610 Electrode 700 Wiring board 710 Land part

Claims (5)

被測定基板に接触し電気的接続を得るための接続端子であって、
一方の端部から他方の端部までを貫通する流体排出管を内部に有するとともに、前記他方の端部の外周に径方向に付勢するリングを有するプランジャーピンと、
前記プランジャーピンの前記一方の端部の第1の排出口を塞ぐように設けられ、前記被測定基板に接触して摩耗すると前記第1の排出口を露出させる接触子と、
外側面と、内側に前記プランジャーピンの前記他方の端部及び前記リングを摺動可能に収容する第1の内側面、内径が前記第1の内側面よりも大きい第2の内側面、及び天井面を含む空洞を有し、前記プランジャーピンに電気的に接続されたシェルケースと、
前記空洞における前記天井面と前記プランジャーピンとの間に設けられ、前記プランジャーピンの前記流体排出管に接続された開口部を有、常圧を越える圧力で封入されている流体物が前記開口部から前記流体排出管を通じて前記第1の排出口から排出されると収縮し、前記リングを前記第1の内側面から前記第2の内側面のほうに摺動可能にする流体封入容器と、を備えることを特徴とする接続端子。
It is a connection terminal for contacting the substrate to be measured and obtaining an electrical connection.
A plunger pin having a fluid discharge pipe that penetrates from one end to the other end and having a ring that urges in the radial direction on the outer circumference of the other end .
A contact that is provided so as to close the first discharge port at the one end of the plunger pin and exposes the first discharge port when it comes into contact with the substrate to be measured and wears .
An outer surface, a first inner surface that slidably accommodates the other end of the plunger pin and the ring inside, a second inner surface having an inner diameter larger than that of the first inner surface, and an inner surface. A shell case that has a cavity including the ceiling surface and is electrically connected to the plunger pin.
The fluid material provided between the ceiling surface and the plunger pin in the cavity , having an opening connected to the fluid discharge pipe of the plunger pin, and being sealed at a pressure exceeding normal pressure is said . With a fluid-filled container that contracts when discharged from the first discharge port through the fluid discharge pipe through the opening and makes the ring slidable from the first inner surface to the second inner surface. A connection terminal characterized by being provided with.
前記流体封入容器が弾性体であることを特徴とする請求項1に記載の接続端子。 The connection terminal according to claim 1, wherein the fluid-filled container is an elastic body. 前記シェルケースの一部に前記内側面から前記外側面までを貫通する第2の排出口を備えることを特徴とする請求項1または2に記載の接続端子。 The connection terminal according to claim 1 or 2, wherein a part of the shell case is provided with a second discharge port penetrating from the inner side surface to the outer side surface. 請求項1乃至3のいずれか一項に記載の前記接続端子を前記被測定基板に接触させて検査を行う半導体装置の検査方法であって、
前記接触子が前記検査における前記被測定基板との接触によって削れ、前記第1の排出口が露出して前記流体物が排出されると、前記流体封入容器の収縮によって前記リングが前記第2の内側面に摺動した際に広がった前記リングが前記第1の内側面と前記第2の内側面との段差で係止され、前記接触子が前記被測定基板に接触できず前記被測定基板の検査ができないことをもって、前記接触子の劣化を検知し、
前記接続端子を交換することを特徴とする、半導体装置の検査方法。
A method for inspecting a semiconductor device, wherein the connection terminal according to any one of claims 1 to 3 is brought into contact with the substrate to be inspected for inspection.
When the contact is scraped by contact with the substrate to be measured in the inspection and the first discharge port is exposed and the fluid is discharged , the ring is brought into the second by the contraction of the fluid-filled container. The ring that spreads when sliding on the inner side surface is locked by a step between the first inner side surface and the second inner side surface, and the contactor cannot contact the measured substrate and the measured substrate cannot be contacted. The deterioration of the contact is detected by the inability to inspect the contact.
A method for inspecting a semiconductor device, which comprises replacing the connection terminal.
前記接続端子が前記シェルケースの一部に前記内側面から前記外側面までを貫通する第2の排出口を更に備え、
前記第2の排出口から前記流体物が排出されることを特徴とする、請求項4記載の半導体装置の検査方法。
The connection terminal further comprises a second outlet that penetrates from the inner surface to the outer surface in a part of the shell case.
The method for inspecting a semiconductor device according to claim 4, wherein the fluid is discharged from the second discharge port.
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