JP6983966B1 - Thickness measuring device - Google Patents
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Abstract
【課題】厚み測定装置において、自己診断の実行後にユーザからメーカに提供すべき一連のデータを集約する。【解決手段】実施形態の厚み測定装置は、測定対象物に放射線を放射する放射線源と、放射線を検出する検出部と、測定対象物の厚みを測定する測定部と、複数種類の自己診断の少なくともいずれかを実行する自己診断部と、測定部による測定結果と自己診断部による自己診断結果を含む測定関係情報を記憶するとともに、複数種類の自己診断それぞれに対して、取得するデータの種類と期間とが対応付けられた対応情報を記憶する記憶部と、自己診断部によって自己診断が実行された場合に、対応情報を参照し、当該自己診断に対応づけられた種類のデータを対応付けられた期間の分だけ記憶部に記憶されている測定関係情報から取得する取得部と、取得部によって取得されたデータを集約したファイルデータを生成する集約部と、を備える。【選択図】図8PROBLEM TO BE SOLVED: To aggregate a series of data to be provided from a user to a manufacturer after executing a self-diagnosis in a thickness measuring device. SOLUTION: The thickness measuring apparatus of the embodiment has a radiation source that radiates radiation to a measurement object, a detection unit that detects the radiation, a measurement unit that measures the thickness of the measurement object, and a plurality of types of self-diagnosis. The self-diagnosis unit that executes at least one, the measurement-related information including the measurement result by the measurement unit and the self-diagnosis result by the self-diagnosis unit are stored, and the type of data to be acquired for each of multiple types of self-diagnosis. When the self-diagnosis is executed by the self-diagnosis unit, the correspondence information is referred to and the type of data associated with the self-diagnosis can be associated with the storage unit that stores the correspondence information associated with the period. It includes an acquisition unit that acquires measurement-related information stored in the storage unit for a certain period of time, and an aggregation unit that generates file data that aggregates the data acquired by the acquisition unit. [Selection diagram] FIG. 8
Description
本発明の実施形態は、厚み測定装置に関する。 Embodiments of the present invention relate to a thickness measuring device.
従来から、例えば、様々な鋼板の製造ラインにおいて、測定対象物である鋼板の板厚を、放射線(X線等)を用いて測定する厚み測定装置がある。 Conventionally, for example, in various steel sheet production lines, there is a thickness measuring device that measures the thickness of a steel sheet to be measured by using radiation (X-rays or the like).
また、厚み測定装置には、自装置の異常について診断する自己診断機能が搭載されている場合がある。厚み測定装置に異常が発生した場合、ユーザは、厚み測定装置のメーカに、厚み測定装置の異常発生を伝えるとともに、自己診断結果等のデータを提供することが望ましい。 Further, the thickness measuring device may be equipped with a self-diagnosis function for diagnosing an abnormality of the own device. When an abnormality occurs in the thickness measuring device, it is desirable that the user informs the manufacturer of the thickness measuring device of the occurrence of the abnormality in the thickness measuring device and provides data such as a self-diagnosis result.
しかしながら、厚み測定装置に異常が発生した場合にユーザがメーカに提供すべきデータとしての自己診断コード、板厚測定データ、データログなどは別々に管理されている。したがって、ユーザがメーカにとって必要なすべてのデータを見つけて保存等してメーカに提供するのは容易ではない。 However, the self-diagnosis code, the plate thickness measurement data, the data log, etc. as data that the user should provide to the manufacturer when an abnormality occurs in the thickness measuring device are managed separately. Therefore, it is not easy for the user to find all the data necessary for the manufacturer, save it, and provide it to the manufacturer.
そこで、本発明の実施形態の課題は、自己診断の実行後にユーザからメーカに提供すべき一連のデータを集約することができる厚み測定装置を提供することである。 Therefore, an object of the embodiment of the present invention is to provide a thickness measuring device capable of aggregating a series of data to be provided from a user to a manufacturer after performing a self-diagnosis.
実施形態の厚み測定装置は、測定対象物に放射線を放射する放射線源と、前記放射線源から放射され前記測定対象物を透過した前記放射線を検出し、放射線検出信号を出力する検出部と、前記検出部によって出力された前記放射線検出信号に基づいて前記測定対象物の厚みを測定する測定部と、自装置の異常について診断する複数種類の自己診断の少なくともいずれかを実行する自己診断部と、前記測定部による測定結果と前記自己診断部による自己診断結果を含む測定関係情報を記憶するとともに、複数種類の前記自己診断それぞれに対して、取得するデータの種類と期間とが対応付けられた対応情報を記憶する記憶部と、前記自己診断部によって前記自己診断が実行された場合に、前記対応情報を参照し、当該自己診断に対応づけられた種類のデータを対応付けられた期間の分だけ前記記憶部に記憶されている前記測定関係情報から取得する取得部と、前記取得部によって取得されたデータを集約したファイルデータを生成する集約部と、を備える。 The thickness measuring apparatus of the embodiment includes a radiation source that radiates radiation to the object to be measured, a detection unit that detects the radiation emitted from the radiation source and transmitted through the object to be measured, and outputs a radiation detection signal. A measuring unit that measures the thickness of the object to be measured based on the radiation detection signal output by the detection unit, and a self-diagnosis unit that executes at least one of a plurality of types of self-diagnosis for diagnosing an abnormality in the own device. The measurement-related information including the measurement result by the measurement unit and the self-diagnosis result by the self-diagnosis unit is stored, and the type and period of the data to be acquired are associated with each of the plurality of types of self-diagnosis. When the self-diagnosis is executed by the self-diagnosis unit and the storage unit that stores the information, the corresponding information is referred to and the type of data associated with the self-diagnosis is associated with the data for the corresponding period. It includes an acquisition unit that acquires from the measurement-related information stored in the storage unit, and an aggregation unit that generates file data that aggregates the data acquired by the acquisition unit.
以下、本発明の厚み測定装置の実施形態について、図面を参照して説明する。図1は、実施形態の厚み測定装置1の全体構成の例を示す概略図である。厚み測定装置1は、厚み測定部2によって測定対象物6(例えば鋼板)の厚みを測定したり、制御装置3によって厚み測定部2の自己診断を制御したりする。
Hereinafter, embodiments of the thickness measuring device of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic view showing an example of the overall configuration of the thickness measuring
厚み測定装置1は、2台の厚み測定部2と、制御装置3と、操作用PC4と、を備える。なお、厚み測定部2は、2台に限定されず、1台や3台以上であってもよい。
The thickness measuring
厚み測定部2は、主な構成として、X線発生器21(放射線源)と、検出器22(検出部)と、X線コントローラ23(測定部)と、を備える。X線発生器21は、測定対象物6にX線(放射線)を放射する。
The
検出器22は、測定対象物6を挟んでX線発生器21と対向する位置に配置されており、X線発生器21から放射され測定対象物6を透過したX線を検出し、放射線検出信号を出力する。
The
X線コントローラ23は、検出器22によって出力された放射線検出信号に基づいて測定対象物6の厚みを測定する。つまり、X線が測定対象物6を透過する際に減衰する原理を利用し、測定対象物6の厚みを測定できる。X線コントローラ23は、厚み測定部2の制御全般を司り、例えば、CPU(Central Processing Unit)やGPU(Graphics Processing Unit)等のハードウェアプロセッサを備え、種々の演算処理を実行する。
The
また、X線コントローラ23は、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、HDD(Hard Disk Drive)等の記憶装置を備え、各種プログラム、各種設定データ、各種測定データ等を記憶する。なお、X線コントローラ23の全部または一部は、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)やFPGA(Field Programmable Gate Array)などのハードウェアによって実現されてもよい。
Further, the
制御装置3は、伝送路7で厚み測定部2と接続され、伝送路9で上位計算機5と接続される。また、操作用PC4は、伝送路8で制御装置3と接続される。なお、伝送路7、8は、例えば、厚み測定部2、制御装置3および操作用PC4を互いに情報送受信可能に接続するLAN(Local Area Network)等である。また、伝送路9は、例えば、制御装置3と上位計算機5をTCP/IP(Transmission Control Protocol /Internet Protocol)等の通信規格に従って情報送受信可能に接続するインターネット等のネットワークである。
The
以下、図2も併せて参照する。図2は、実施形態の制御装置3の機能構成の例を示すブロック図である。制御装置3は、処理部31と、記憶部32と、通信インタフェース33と、を備える。
Hereinafter, FIG. 2 will also be referred to. FIG. 2 is a block diagram showing an example of the functional configuration of the
記憶部32は、例えば、ROM、RAM、HDD等の記憶装置を備え、各種情報を記憶する。記憶部32は、例えば、測定データ321、ログデータ322、自己診断用データ323、自己診断結果データ324などを記憶する。なお、データ321〜324は測定関係情報である。
The
測定データ321は、厚み測定部2から取得した測定対象物6の厚みの測定結果のデータであり、測定時の日時情報を含む。
The
ログデータ322は、厚み測定装置1における通信ログや操作ログのデータである。ログデータ322は、例えば、図4の分類2データの通信ログに対応する。
The
自己診断用データ323は、自己診断のための各種データである。
The self-
自己診断結果データ324は、自己診断部313によって実行された自己診断の結果のデータである。
The self-diagnosis result data 324 is the data of the result of the self-diagnosis performed by the self-
処理部31は、制御装置3の制御全般を司り、例えば、CPUやGPU等のハードウェアプロセッサを備え、種々の演算処理を実行する。なお、処理部31の全部または一部は、ASICやFPGAなどのハードウェアによって実現されてもよい。処理部31は、機能構成として、取得部311と、測定制御部312と、自己診断部313と、を備える。
The
取得部311は、厚み測定部2、操作用PC4、上位計算機5から各種情報を取得する。取得部311は、例えば、厚み測定部2から測定データを取得して記憶部32の測定データ321として記憶させる。また。取得部311は、例えば、自己診断部313によって厚み測定部2の自己診断が実行(制御)された場合に、厚み測定部2から自己診断結果データを取得し、記憶部32の自己診断結果データ324として記憶させる。
The
測定制御部312は、厚み測定部2による測定対象物6の厚みの測定の動作を制御する。また、測定制御部312は、厚み測定装置1の異常や自己診断の実行の必要の有無を所定のアルゴリズムに基づいて判定する。
The
自己診断部313は、測定制御部312によって厚み測定装置1の自己診断の実行の必要があると判定された場合に、該当する自己診断を実行(制御)する。
The self-
通信インタフェース33は、2つの厚み測定部2、操作用PC、上位計算機5と通信するためのインタフェースである。なお、通信インタフェース33は、例えば、通信対象の数だけ設けられるが、図2では図示を簡潔にするために1つだけ示している。
The
次に、図3を参照して、操作用PC4について説明する。図3は、実施形態の操作用PC4の機能構成の例を示すブロック図である。操作用PC4は、厚み測定部2のユーザ(メンテナンス担当者等を含む。)がログデータ322を確認したりデータ収集を行ったりするために使用するコンピュータ装置である。操作用PC4は、例えば、HMI(Human Machine Interface)である。
Next, the operation PC 4 will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a block diagram showing an example of the functional configuration of the
操作用PC4は、処理部41と、記憶部42と、表示部43と、入力部44と、入出力インタフェース45と、通信インタフェース46と、を備える。
The
記憶部42は、例えば、ROM、RAM、HDD等の記憶装置を備え、各種情報を記憶する。記憶部42は、例えば、制御装置3から取得したデータや、対応情報421や、集約部412が生成したファイルデータ422等を記憶する。
The
図4は、実施形態の対応情報421の例を示す図である。対応情報421は、厚み測定部2の異常について診断する複数種類の自己診断(図4の自己診断名)それぞれに対して、取得するデータの種類(図4の分類1データ、分類2データ)と期間(図4の必要データ期間)とが対応付けられた情報である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of correspondence information 421 of the embodiment. Correspondence information 421 is the type of data to be acquired (
図4に示すように、対応情報421における情報は、左から順に、自己診断名、日時、分類1データ(ステータスデータ(自己診断実行時))、分類2データ(集める必要のあるデータ)、必要データ期間である。
As shown in FIG. 4, the information in the correspondence information 421 is, in order from the left, the self-diagnosis name, the date and time, the
自己診断名は、複数種類の自己診断のうちの実行した自己診断の名称である。自己診断名として、ここでは、全校正要求、全校正データ長期変動大、Ethernet(登録商標)通信異常を示している。日時は、自己診断を実行した日付と時間の情報である。 The self-diagnosis name is the name of the self-diagnosis performed among the plurality of types of self-diagnosis. As the self-diagnosis name, all calibration requests, all calibration data long-term fluctuations, and Ethernet (registered trademark) communication abnormality are shown here. The date and time is information on the date and time when the self-diagnosis was performed.
分類1データは、自己診断実行時のステータスデータであり、例えば、自己診断結果データ324に記憶される。分類1データとして、ここでは、Data1〜4を示している。Data1〜4の内容は、自己診断名に応じて異なる。例えば、自己診断名が全校正要求の場合、Data1は校正点板厚(単位はμm)であり、自己診断実行時に測定した板厚を示す。また、Data2は校正点測定時のドリフト量(単位はμm)である。
The
また、自己診断名が全校正データ長期変動大の場合、Data1とData2は、自己診断名が全校正要求のときと同様である。Data3は、前回の全校正実施からの時間間隔である全校正時間間隔(単位は分)である。 Further, when the self-diagnosis name has a large long-term fluctuation of all calibration data, Data1 and Data2 are the same as when the self-diagnosis name is all calibration request. Data3 is a total calibration time interval (in minutes), which is a time interval from the previous total calibration implementation.
また、自己診断名がEthernet通信異常の場合、Data1は実行中処理区分であり、例えば「Send」であれば制御装置3から上位計算機5への送信処理において異常が発生したことを示す。
Further, when the self-diagnosis name is Ethernet communication abnormality, Data1 is an execution processing category, and for example, if it is "Send", it indicates that an abnormality has occurred in the transmission processing from the
分類2データは、ファイルデータ422(図3)を作成するために集める必要のあるデータ、つまり、自己診断結果を分析するために必要なデータであり、元は厚み測定部2に保存されているデータである。分類2データとして、ここでは、自己診断履歴、スタートアップデータ、全校正データ、基準線量履歴、通信ログを示している。それらのうち、例えば、自己診断履歴、スタートアップデータ、全校正データ、基準線量履歴は自己診断結果データ324に記憶され、通信ログはログデータ322に記憶される。
The
自己診断履歴は、発生した自己診断のリストと詳細である。スタートアップデータは、最初からの全校正データ、または、厚み測定部2の一部(X線発生器21、検出器22等)を交換した後の最初の全校正データである。スタートアップデータは、厚み測定部2で板厚測定を行うために用いる検量線作成に必要なデータであり、各校正点板厚における測定値である。また、スタートアップデータの収集は厚み測定部2の初回立ち上げ時や、主要部品交換時に行う。
The self-diagnosis history is a list and details of the self-diagnosis that has occurred. The start-up data is all calibration data from the beginning or the first all calibration data after exchanging a part of the thickness measuring unit 2 (X-ray generator 21,
全校正データは、スタートアップデータと同種のデータであるが、測定中のドリフト量をキャンセルするために数時間毎に行う校正でのデータである。通信ログは、制御装置3と上位計算機5の間の通信データの履歴である。
All calibration data is the same type of data as the startup data, but is data in calibration performed every few hours to cancel the drift amount during measurement. The communication log is a history of communication data between the
例えば、自己診断名が全校正データ長期変動大の場合、分類1データのステータスデータ(Data1、Data2、Data3)に加え、分類2データとしての自己診断履歴、スタートアップデータ、全校正データ、基準線量履歴が必要なデータである。
For example, when the self-diagnosis name has a large long-term fluctuation of all calibration data, in addition to the status data (Data1, Data2, Data3) of the
必要データ期間は、実行された自己診断に対して予め定義された、データを集める対象の期間である。具体的には、必要データ期間は、分類2データをいつまで遡って収集する必要があるか(つまり、厚み測定部2の異常を究明するためにどれだけ前までのデータを見たいか)を定義したものである。例えば、自己診断名が全校正要求の場合、必要データ期間は自己診断が発生した時から1週間前までである。また、自己診断名が全校正データ長期変動大の場合、必要データ期間は自己診断が発生した時から<DATA3>前まである。また、自己診断名がEthernet通信異常の場合、必要データ期間は自己診断が発生した時からリミット(収集できる限界)まである。
The required data period is the period for which data is collected, which is predefined for the self-diagnosis performed. Specifically, the required data period defines how long the
図5は、実施形態の自己診断結果データ324の一部を示す図である。図5に示すように、ここでは、自己診断結果データ324として、日時ごとに、校正点板厚(μm)、校正点測定時のドリフト量(μm)、全校正時間間隔(分)が保存されている。 FIG. 5 is a diagram showing a part of the self-diagnosis result data 324 of the embodiment. As shown in FIG. 5, here, as the self-diagnosis result data 324, the calibration point plate thickness (μm), the drift amount at the time of calibration point measurement (μm), and the total calibration time interval (minutes) are saved for each date and time. ing.
これらのうち、例えば、校正点板厚(μm)は、自己診断名が全校正要求の場合と全校正データ長期変動大の場合におけるData1(図4)のデータである。 Of these, for example, the calibration point plate thickness (μm) is the data of Data 1 (FIG. 4) when the self-diagnosis name is all calibration request and when all calibration data has a large long-term fluctuation.
また、校正点測定時のドリフト量(単位はμm)は、自己診断名が全校正要求の場合と全校正データ長期変動大の場合におけるData2のデータである。 The drift amount (unit: μm) at the time of measuring the calibration point is the data of Data2 when the self-diagnosis name is all calibration request and when the long-term fluctuation of all calibration data is large.
また、全校正時間間隔(分)は、自己診断名が全校正データ長期変動大の場合におけるData3のデータである。 Further, the total calibration time interval (minutes) is the data of Data3 when the self-diagnosis name is the total calibration data with a large long-term fluctuation.
図3に戻り、処理部41は、操作用PC4の制御全般を司り、例えば、CPUやGPU等のハードウェアプロセッサを備え、種々の演算処理を実行する。なお、処理部41の全部または一部は、ASICやFPGAを含む回路等のハードウェアによって実現されてもよい。処理部41は、機能構成として、取得部411と、集約部412と、表示制御部413と、入出力制御部414と、を備える。
Returning to FIG. 3, the processing unit 41 controls the overall control of the
取得部411は、制御装置3から各種情報を取得する。取得部411は、例えば、制御装置3の自己診断部313によって厚み測定部2の自己診断が実行(制御)された場合に、記憶部42に記憶された対応情報421を参照し、当該自己診断(図4の自己診断名)に対応づけられた種類(図4の分類1データ、分類2データ)のデータを、対応付けられた期間(図4の必要データ期間)の分だけ、制御装置3の記憶部32から取得する。
The
例えば、自己診断部313によって全校正要求(図4の自己診断名)の自己診断が実行された場合に、取得部411は、対応情報421を参照し、対応づけられた種類のデータとして図4の分類1データにおけるDATA1と、図4のDATA2のデータと分類2データの自己診断履歴、スタートアップデータ、全校正データ、基準線量履歴(図4で丸印の付いているデータ)のデータを、対応付けられた期間として図4の必要データ期間に示されている「発生した時から、1週間前まで」の分だけ、制御装置3の記憶部32から取得する。
For example, when the self-
また、取得部411は、自己診断部313が複数種類の自己診断を実行する場合に、複数種類の自己診断それぞれの少なくともいずれかに対応付けられた種類のデータのすべてを、対応付けられた期間のうちの最長の期間の分だけ取得するようにしてもよい。そうすれば、メーカにとって必要なデータをより確実に取得することができる。
Further, when the self-
集約部412は、取得部411によって取得されたデータを集約したファイルデータ422を生成し、例えば、記憶部42に保存する。
The
表示制御部413は、表示部43に各種情報を表示させる。表示制御部413は、表示部43に、例えば、ファイルデータ422のうちの少なくとも一部のデータを表示する。また、表示制御部413は、例えば、表示部43に、自己診断結果などのデータに加えて、ファイルデータ422のうちの少なくとも一部のデータを外部記憶装置に保存させるための操作ボタン(図7の保存ボタンB1)を表示させる。
The
入出力制御部414は、入出力インタフェース45を用いたデータの入出力を制御する。
The input / output control unit 414 controls the input / output of data using the input /
表示部43は、情報を表示する手段であり、例えば、LCD(Liquid Crystal Display)、タッチパネル等である。 The display unit 43 is a means for displaying information, and is, for example, an LCD (Liquid Crystal Display), a touch panel, or the like.
入力部44は、ユーザが情報を入力するための手段であり、例えば、キーボード、マウス、タッチパネル等である。 The input unit 44 is a means for the user to input information, and is, for example, a keyboard, a mouse, a touch panel, or the like.
入出力インタフェース45は、USB(Universal Serial Bus)メモリスティック等の外部記憶装置に対して情報を入出力するためのインタフェースである。
The input /
通信インタフェース46は、制御装置3と通信するためのインタフェースである。
The
次に、図6を参照して、ファイルデータ422の作成について説明する。図6は、実施形態の厚み測定装置1におけるファイルデータ422の作成を模式的に示す図である。図6の例では、自己診断名が全校正データ長期変動大の自己診断を実行した際に収集するデータの期間として、自己診断が発生した時から、<DATA3>前までとして、前回全校正を行った1756分前までが定義されている。操作用PC4の取得部411は、その自己診断の発生後に、対応情報421で必要と定義されている各データ(DATA1、DATA2、DATA3、自己診断履歴、スタートアップデータ、全校正データ、基準線量履歴)を対象期間分だけ制御装置3の記憶部32から取得し、集約部412がそれらのデータを集約したファイルデータ422を生成して記憶部42に保存する。
Next, the creation of the
次に、図7を参照して、自己診断履歴の表示画面の例について説明する。図7は、実施形態の厚み測定装置1における自己診断履歴の表示画面の例を示す図である。操作用PC4の表示制御部413は、ファイルデータ422のうちの少なくとも一部のデータ(ここでは自己診断履歴の一部)をユーザ操作に応じて選択し、表示部43に、選択したデータ、および、選択したデータに基づいて生成した2次元コードを表示させる。
Next, an example of a self-diagnosis history display screen will be described with reference to FIG. 7. FIG. 7 is a diagram showing an example of a self-diagnosis history display screen in the
図7において、領域R2には、ファイルデータ422の一部としての自己診断履歴の一部が表示されている。また、領域R1には、領域R2に表示する自己診断履歴の切り替えボタンG1、G2、S1、S2が表示されている。
In FIG. 7, a part of the self-diagnosis history as a part of the
また、データ期間決定ボタンB2を操作すると、データの対象期間を入力するための画面が表示され、ユーザはその画面を用いてデータの対象期間を入力することができる。 Further, when the data period determination button B2 is operated, a screen for inputting the target period of data is displayed, and the user can input the target period of data using the screen.
また、保存ボタンB1を操作すると、例えば、集約部412によってそのときに画面表示されている情報が集約され、例えば、その集約された情報が入出力制御部414によって通信ポートPに接続されている外部記憶装置(USBメモリスティック等)に保存される。なお、保存ボタンB1を操作した場合に、画面表示されていない情報も併せて集約して外部記憶装置に保存してもよい。
Further, when the save button B1 is operated, for example, the information displayed on the screen at that time is aggregated by the
また、2次元コード生成ボタンB3を操作すると、表示制御部413は、そのときに画面表示されている情報に基づいて2次元コードを生成し、領域R3に表示させる。2次元コードには、例えば、数値のみのデータであれば約7000文字、英数字データであれば約4000文字の情報を埋め込むことができる。
Further, when the two-dimensional code generation button B3 is operated, the
次に、図8を参照して、厚み測定装置1における自己診断時の処理について説明する。図8は、実施形態の厚み測定装置1における自己診断時の処理を示すフローチャートである。
Next, with reference to FIG. 8, the processing at the time of self-diagnosis in the
制御装置3において、測定制御部312(図2)によって厚み測定装置1の自己診断の実行の必要があると判定された場合、ステップS1において、自己診断部313は、該当する自己診断を実行(制御)する。
When it is determined by the measurement control unit 312 (FIG. 2) that the self-diagnosis of the
次に、ステップS2において、操作用PC4の取得部411(図3)は、記憶部42に記憶された対応情報421を参照し、自己診断に関するデータとして、当該自己診断(図4の自己診断名)に対応づけられた種類(図4の分類1データ、分類2データ)のデータを、対応付けられた期間(図4の必要データ期間)の分だけ、制御装置3の記憶部32から取得する。
Next, in step S2, the acquisition unit 411 (FIG. 3) of the
次に、ステップS3において、操作用PC4の集約部412(図3)は、ステップS2で取得されたデータを集約したファイルデータ422を生成し(図6)、例えば、記憶部42に保存する。
Next, in step S3, the aggregation unit 412 (FIG. 3) of the
次に、ステップS4において、操作用PC4の表示制御部413(図3)は、ユーザによる操作に応じて、表示部43に、ステップS3で作成したファイルデータ422のうちの少なくとも一部のデータを表示する(図7)。
Next, in step S4, the display control unit 413 (FIG. 3) of the
次に、ステップS5において、操作用PC4の表示制御部413(図3)は、2次元コード生成ボタンB3(図7)がユーザによって操作されたか否かを判定し、Yesの場合はステップS6に進み、Noの場合はステップS7に進む。
Next, in step S5, the display control unit 413 (FIG. 3) of the
ステップS6において、操作用PC4の表示制御部413(図3)は、そのときに画面表示されている情報に基づいて2次元コードを生成し、領域R3(図7)に表示させる。
In step S6, the display control unit 413 (FIG. 3) of the
ステップS7において、操作用PC4の表示制御部413(図3)は、ユーザによって表示終了の操作が行われたか否かを判定し、Yesの場合は処理を終了し、Noの場合はステップS4に戻る。
In step S7, the display control unit 413 (FIG. 3) of the
このように、実施形態の厚み測定装置1によれば、厚み測定部2の自己診断を実行した場合に、当該自己診断に対応づけられた種類のデータを、対応付けられた期間の分だけ取得し、その取得されたデータを集約したファイルデータ422を生成することができる。つまり、厚み測定部2の自己診断の実行後にユーザからメーカに提供すべき一連のデータを集約することができる。そして、ユーザがメーカにそのファイルデータ422を渡すことによって、メーカは厚み測定部2の自己診断結果を分析するために必要なデータを取得することができる。
As described above, according to the
また、図7の保存ボタンB1によって、そのときに画面表示されている情報の保存を容易に実行できる。また、図7の2次元コード生成ボタンB3によって、画面表示されている情報に対応する2次元コードを生成し、領域R3に表示させることができる。これにより、例えば、ユーザは、この2次元コードを携帯電話(スマートフォン等)で撮影し、その撮影画面を厚み測定装置1のメーカの担当者に送信することができる。そうすれば、メーカの担当者は、その2次元コードに埋め込まれた情報を取得し、その情報を厚み測定部2の異常発生の原因究明等に活用することができる。
Further, the save button B1 of FIG. 7 can easily save the information displayed on the screen at that time. Further, the two-dimensional code generation button B3 of FIG. 7 can generate a two-dimensional code corresponding to the information displayed on the screen and display it in the area R3. Thereby, for example, the user can photograph the two-dimensional code with a mobile phone (smartphone or the like) and transmit the photographed screen to the person in charge of the manufacturer of the
従来技術では、ユーザがメーカに自己診断に関するデータの一部しか送らない背景には、ユーザがメーカにとって必要なすべてのデータを見つけて保存等するのが容易でなかったことのほかに、以下の事情もある。例えば、厚み測定装置へのコンピュータウイルス汚染を防ぐことを目的として、厚み測定装置に対して、USBメモリスティック等の外部記憶装置の接続やインターネットへの接続に関して制限を課している場合がある。 In the conventional technology, in the background that the user sends only a part of the data related to the self-diagnosis to the manufacturer, in addition to the fact that it is not easy for the user to find and save all the data necessary for the manufacturer, the following There are also circumstances. For example, in order to prevent computer virus contamination of the thickness measuring device, the thickness measuring device may be restricted with respect to the connection of an external storage device such as a USB memory stick or the connection to the Internet.
それらの制限があったとしても、本実施形態の厚み測定装置1によれば、上述の2次元コード表示によって、ユーザは、USBメモリスティック等の外部記憶装置の接続やインターネットへの接続をすることなく、例えば、2次元コードを携帯電話等で撮影してその撮影画像をメーカに送ることで、メーカに必要な情報を容易に渡すことができる。
Even if there are these restrictions, according to the
本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。この新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。この実施形態は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。 Although embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. This novel embodiment can be implemented in various other embodiments, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the gist of the invention. This embodiment is included in the scope and gist of the invention, and is also included in the scope of the invention described in the claims and the equivalent scope thereof.
例えば、ファイルデータ422の少なくとも一部を保存する外部記憶装置は、USBメモリスティックに限定されず、CD-ROM(Compact Disc-Read Only Memory)等の他の外部記憶装置であってもよい。
For example, the external storage device that stores at least a part of the
また、図7に示す画面は、ファイルデータ422の作成後でなく、ファイルデータ422の作成前に表示してもよい。
Further, the screen shown in FIG. 7 may be displayed before the
また、制御装置3の記憶部32に記憶されている測定データ321、ログデータ322、自己診断用データ323、自己診断結果データ324のうちの少なくとも一部を、操作用PC4側で記憶するようにしてもよい。
Further, at least a part of the
また、制御装置3と操作用PC4の機能を1つの情報処理装置で実現してもよい。
Further, the functions of the
1…厚み測定装置、2…厚み測定部、3…制御装置、4…操作用PC、5…上位計算機、6…測定対象物、7、8、9…伝送路、21…X線発生器、22…検出器、23…X線コントローラ、31…処理部、32…記憶部、41…処理部、42…記憶部、43…表示部、44…入力部、45…入出力インタフェース、311…取得部、312…測定制御部、313…自己診断部、411…取得部、412…集約部、413…表示制御部、414…入出力制御部 1 ... Thickness measuring device, 2 ... Thickness measuring unit, 3 ... Control device, 4 ... Operating PC, 5 ... High-level computer, 6 ... Measuring object, 7, 8, 9 ... Transmission line, 21 ... X-ray generator, 22 ... detector, 23 ... X-ray controller, 31 ... processing unit, 32 ... storage unit, 41 ... processing unit, 42 ... storage unit, 43 ... display unit, 44 ... input unit, 45 ... input / output interface, 311 ... acquisition Unit, 312 ... Measurement control unit, 313 ... Self-diagnosis unit, 411 ... Acquisition unit, 412 ... Aggregation unit, 413 ... Display control unit, 414 ... Input / output control unit
Claims (4)
前記放射線源から放射され前記測定対象物を透過した前記放射線を検出し、放射線検出信号を出力する検出部と、
前記検出部によって出力された前記放射線検出信号に基づいて前記測定対象物の厚みを測定する測定部と、
自装置の異常について診断する複数種類の自己診断の少なくともいずれかを実行する自己診断部と、
前記測定部による測定結果と前記自己診断部による自己診断結果を含む測定関係情報を記憶するとともに、複数種類の前記自己診断それぞれに対して、取得するデータの種類と期間とが対応付けられた対応情報を記憶する記憶部と、
前記自己診断部によって前記自己診断が実行された場合に、前記対応情報を参照し、当該自己診断に対応づけられた種類のデータを対応付けられた期間の分だけ前記記憶部に記憶されている前記測定関係情報から取得する取得部と、
前記取得部によって取得されたデータを集約したファイルデータを生成する集約部と、
を備える厚み測定装置。 A radiation source that radiates radiation to the object to be measured,
A detection unit that detects the radiation emitted from the radiation source and transmitted through the object to be measured and outputs a radiation detection signal.
A measuring unit that measures the thickness of the object to be measured based on the radiation detection signal output by the detection unit, and a measuring unit.
A self-diagnosis unit that performs at least one of multiple types of self-diagnosis to diagnose abnormalities in its own device,
The measurement-related information including the measurement result by the measurement unit and the self-diagnosis result by the self-diagnosis unit is stored, and the type and period of the data to be acquired are associated with each of the plurality of types of self-diagnosis. A storage unit that stores information and
When the self-diagnosis is executed by the self-diagnosis unit, the correspondence information is referred to, and the data of the type associated with the self-diagnosis is stored in the storage unit for the associated period. The acquisition unit acquired from the measurement-related information and
An aggregation unit that generates file data that aggregates the data acquired by the acquisition unit, and
A thickness measuring device.
前記取得部は、複数種類の前記自己診断それぞれの少なくともいずれかに対応付けられた種類のデータのすべてを、対応付けられた期間のうちの最長の期間の分だけ取得する、請求項1に記載の厚み測定装置。 When the self-diagnosis unit executes a plurality of types of the self-diagnosis,
The first aspect of the present invention, wherein the acquisition unit acquires all of the types of data associated with at least one of the plurality of types of self-diagnosis for the longest period of the associated periods. Thickness measuring device.
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6244616A (en) * | 1985-08-22 | 1987-02-26 | Toshiba Corp | Abnormality detector for shutter |
JP2007171063A (en) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Hitachi Ltd | Computer tomographic imaging device, computer tomographic imaging device for in-line inspection, computer tomography for in-line inspection, and method of computer tomography |
JP2012238416A (en) * | 2011-05-10 | 2012-12-06 | Shimadzu Corp | X-ray controller |
US20170097231A1 (en) * | 2015-10-02 | 2017-04-06 | Honeywell International Inc. | Monitoring thickness uniformity |
WO2019230010A1 (en) * | 2018-06-01 | 2019-12-05 | 株式会社東芝 | Prediction data server and x-ray thickness measurement system |
JP2020095011A (en) * | 2018-11-28 | 2020-06-18 | Jfeスチール株式会社 | Radiation-type thickness meter with abnormality monitoring function and method for monitoring abnormality in radiation-type thickness meter |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2755782B2 (en) * | 1990-04-24 | 1998-05-25 | 新日本製鐵株式会社 | Rolling line diagnostic system |
JPH0599628A (en) * | 1991-10-14 | 1993-04-23 | Fuji Electric Co Ltd | Thickness measuring apparatus |
JP4568216B2 (en) * | 2003-09-08 | 2010-10-27 | 株式会社東芝 | Semiconductor device manufacturing system |
TWI280603B (en) * | 2003-09-08 | 2007-05-01 | Toshiba Corp | Manufacturing system of semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device |
JP4712628B2 (en) | 2006-07-19 | 2011-06-29 | アンリツ産機システム株式会社 | Inspection equipment |
JP2008093054A (en) | 2006-10-06 | 2008-04-24 | Aruze Corp | Data collecting and managing system |
WO2012118550A1 (en) * | 2011-03-02 | 2012-09-07 | Carrier Corporation | Spm fault detection and diagnostics algorithm |
JP6585325B1 (en) | 2018-06-01 | 2019-10-02 | 株式会社東芝 | Predictive data server and X-ray thickness measurement system |
-
2020
- 2020-09-16 JP JP2020155796A patent/JP6983966B1/en active Active
-
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6244616A (en) * | 1985-08-22 | 1987-02-26 | Toshiba Corp | Abnormality detector for shutter |
JP2007171063A (en) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Hitachi Ltd | Computer tomographic imaging device, computer tomographic imaging device for in-line inspection, computer tomography for in-line inspection, and method of computer tomography |
JP2012238416A (en) * | 2011-05-10 | 2012-12-06 | Shimadzu Corp | X-ray controller |
US20170097231A1 (en) * | 2015-10-02 | 2017-04-06 | Honeywell International Inc. | Monitoring thickness uniformity |
WO2019230010A1 (en) * | 2018-06-01 | 2019-12-05 | 株式会社東芝 | Prediction data server and x-ray thickness measurement system |
JP2020095011A (en) * | 2018-11-28 | 2020-06-18 | Jfeスチール株式会社 | Radiation-type thickness meter with abnormality monitoring function and method for monitoring abnormality in radiation-type thickness meter |
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