JP6936954B2 - Glass substrate for microchannel devices - Google Patents
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Description
本発明は、マイクロ流路デバイス用ガラス基板に関する。 The present invention relates to a glass substrate for a microchannel device.
マイクロ流路デバイスは、反応、分離、精製、検出など様々な化学操作を極微量試料の取扱いで行うことができるデバイスである。バイオや化学分析がマイクロスケール化されるため、環境負荷、時間、コストの低減や高い反応効率、省スペース化が可能になるなど、医療、バイオ分野において様々な応用が期待されている。マイクロ流路デバイスは、流路が形成された基板とそれをカバーする基板とを接合することにより作製される。マイクロ流路デバイス用基板として、石英ガラスの使用が検討されている。(例えば特許文献1参照) A microchannel device is a device capable of performing various chemical operations such as reaction, separation, purification, and detection by handling a very small amount of sample. Since biotechnology and chemical analysis are microscaled, various applications are expected in the medical and biotechnology fields, such as reduction of environmental load, time, and cost, high reaction efficiency, and space saving. The microchannel device is manufactured by joining a substrate on which a channel is formed and a substrate that covers the substrate. The use of quartz glass as a substrate for microchannel devices is being studied. (See, for example, Patent Document 1)
しかしながら、石英ガラスは軟化点が高いため、石英ガラス同士を高温で接合する必要があり、作製時間が長く、コストが高いという問題があった。 However, since quartz glass has a high softening point, it is necessary to join the quartz glass to each other at a high temperature, which causes a problem that the production time is long and the cost is high.
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、マイクロ流路デバイスの作製時間を短縮し、低コスト化が可能なマイクロ流路デバイス用ガラス基板を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such a situation, and an object of the present invention is to provide a glass substrate for a microchannel device, which can shorten the manufacturing time of the microchannel device and reduce the cost.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、ガラス組成として、質量%で、SiO2 50〜85%、Al2O3 0〜20%、B2O3 0〜17%、MgO 0〜10%、CaO 0〜15%、SrO 0〜15%、BaO 0〜10%、R2O(RはLi、Na及びKから選択される少なくとも1種) 0.1〜10%を含有することを特徴とする。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention has a glass composition of SiO 2 50 to 85%, Al 2 O 30 to 20%, B 2 O 30 to 17%, MgO 0 to 10% in mass%. , CaO 0 to 15%, SrO 0 to 15%, BaO 0 to 10%, R 2 O (R is at least one selected from Li, Na and K) 0.1 to 10%. And.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、多成分系であり、また、R2Oを必須成分として含有させているため、軟化点を低下することが可能である。軟化点が低いため、ガラス基板同士を低温で接合することができる。それゆえ、短時間かつ容易に、しかも低コストでマイクロ流路デバイスを製造することができる。 A glass substrate for the microchannel device of the present invention is a multi-component, addition, since the contain a R 2 O as an essential component, it is possible to lower the softening point. Since the softening point is low, the glass substrates can be joined at a low temperature. Therefore, the microchannel device can be manufactured in a short time, easily, and at low cost.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、軟化点が900℃以下であることが好ましい。このようにすれば、ガラス基板同士を低温で接合することができるため、コストダウンにつながりやすい。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention preferably has a softening point of 900 ° C. or lower. In this way, the glass substrates can be joined at a low temperature, which tends to lead to cost reduction.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、熱膨脹係数(30〜380℃)が80×10−7/℃以下であることが好ましい。このようにすれば、ガラス基板同士を接合するための熱処理を行った後にガラスを急冷する際に、ガラスの破損が起こりにくい。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention preferably has a coefficient of thermal expansion (30 to 380 ° C.) of 80 × 10-7 / ° C. or less. In this way, the glass is less likely to be damaged when the glass is rapidly cooled after the heat treatment for joining the glass substrates is performed.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、歪点が500℃以上であることが好ましい。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention preferably has a strain point of 500 ° C. or higher.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、液相粘度が104.0dPa・s以上であることが好ましい。 A glass substrate for the microchannel device of the present invention, it is preferable liquidus viscosity of 10 4.0 dPa · s or more.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、表面粗さRaが100Å以下であることが好ましい。このようにすれば、基板同士を接合しやすくなる。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention preferably has a surface roughness Ra of 100 Å or less. In this way, the substrates can be easily joined to each other.
本発明のガラス基板を用いれば、マイクロ流路デバイスの作製時間を短縮できることから、マイクロ流路デバイスを低コストで提供することができる。 By using the glass substrate of the present invention, the manufacturing time of the microchannel device can be shortened, so that the microchannel device can be provided at low cost.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板において、ガラス組成を上記のように限定した理由を以下に示す。なお、以下の各成分の説明において、特に断りのない限り、「%」は「質量%」を意味する。 The reasons for limiting the glass composition as described above in the glass substrate for the microchannel device of the present invention are shown below. In the following description of each component, "%" means "mass%" unless otherwise specified.
SiO2は、ガラス化範囲を拡げてガラス化しやすくするとともに、化学的耐久性を向上させる成分である。SiO2の含有量は、50〜85%であり、55〜82%、60〜79%、65〜76%、特に68〜73%が好ましい。SiO2の含有量が少な過ぎると、ガラス網目構造を形成し難くなって、ガラス化が困難になりやすくなり、また、クラックの発生率が高くなったり、化学的耐久性が低下しやすくなる。一方、SiO2の含有量が多過ぎると、溶融性、成形性が低下しやすくなる。 SiO 2 is a component that expands the vitrification range to facilitate vitrification and improves chemical durability. The content of SiO 2 is 50 to 85%, preferably 55 to 82%, 60 to 79%, 65 to 76%, and particularly preferably 68 to 73%. If the content of SiO 2 is too small, it becomes difficult to form a glass network structure, vitrification tends to be difficult, the crack occurrence rate tends to increase, and the chemical durability tends to decrease. On the other hand, if the content of SiO 2 is too large, the meltability and moldability tend to decrease.
Al2O3は、化学的耐久性を向上させ、ヤング率、歪点を高める成分である。Al2O3の含有量は、0〜20%であり、1〜15%、2〜12%、3〜10%、特に5〜8%が好ましい。Al2O3の含有量が多過ぎると、ガラス中に失透結晶が析出して、液相粘度が低下しやすくなる。 Al 2 O 3 is a component that improves chemical durability and enhances Young's modulus and strain point. The content of Al 2 O 3 is 0 to 20%, preferably 1 to 15%, 2 to 12%, 3 to 10%, and particularly preferably 5 to 8%. If the content of Al 2 O 3 is too large, devitrified crystals are precipitated in the glass, and the liquidus viscosity tends to decrease.
B2O3は、軟化点、液相温度、密度を低下させる成分である。B2O3の含有量は、0〜17%であり、2〜15%、3〜13%、5〜13%、8〜13%、10〜13%、10.5〜13%、特に12〜13%が好ましい。B2O3の含有量が多過ぎると、歪点、ヤング率、耐酸性が低下しやすくなる。 B 2 O 3 is a component that lowers the softening point, liquid phase temperature, and density. The content of B 2 O 3 is 0 to 17%, 2 to 15%, 3 to 13%, 5 to 13%, 8 to 13%, 10 to 13%, 10.5 to 13%, especially 12 ~ 13% is preferable. If the content of B 2 O 3 is too large, the strain point, Young's modulus, and acid resistance tend to decrease.
R2O(RはLi、Na及びKから選択される少なくとも1種)は、軟化点、液相温度を低下させる成分である。R2Oの含有量(Li2O、Na2O及びK2Oの合量)は、0.1〜10%であり、0.5〜10%、1〜8%、2〜7%、3〜7%、特に4〜7%が好ましい。R2Oの含有量が少なすぎると、上記効果が得られにくくなる。一方、R2Oの含有量が多すぎると、高温粘性が高くなり、ガラス中に泡等が発生しやすくなる。 R 2 O (R is at least one selected from Li, Na and K) is a component that lowers the softening point and the liquidus temperature. The content of R 2 O (total amount of Li 2 O, Na 2 O and K 2 O) is 0.1 to 10%, 0.5 to 10%, 1 to 8%, 2 to 7%, 3 to 7%, particularly 4 to 7% is preferable. When the content of R 2 O is too small, the effect is difficult to obtain. On the other hand, when the content of R 2 O is too large, the high temperature viscosity becomes higher, bubbles or the like are likely to occur in the glass.
なお、R2Oの各成分の含有量は以下の通りとすることが好ましい。 The content of each component of R 2 O is preferably as follows.
Li2Oの含有量は、0〜10%、0〜5%、0〜3%、0〜1%、特に0〜0.2%が好ましい。Li2Oの含有量が多すぎると、アルカリ溶出が多くなりすぎたり、密度や熱膨張係数が高くなったり、失透傾向が強くなる。 The content of Li 2 O is preferably 0 to 10%, 0 to 5%, 0 to 3%, 0 to 1%, and particularly preferably 0 to 0.2%. If the content of Li 2 O is too large, the alkali elution becomes too large, the density and the coefficient of thermal expansion become high, and the devitrification tendency becomes strong.
Na2Oは、軟化点、液相温度を低下させる成分である。Na2Oの含有量は0.1〜10%、0.5〜8%、1〜7%、2〜7%、3〜7%、特に4〜7%が好ましい。Na2Oの含有量が少なすぎると、上記効果が得られにくくなる。一方、Na2Oの含有量が多すぎると、アルカリ溶出が多くなりすぎたり、密度や熱膨張係数が高くなる。 Na 2 O is a component that lowers the softening point and liquid phase temperature. The Na2O content is preferably 0.1 to 10%, 0.5 to 8%, 1 to 7%, 2 to 7%, 3 to 7%, and particularly preferably 4 to 7%. If the content of Na 2 O is too small, it becomes difficult to obtain the above effect. On the other hand, if the content of Na 2 O is too large, the alkali elution becomes too large, and the density and the coefficient of thermal expansion become high.
K2Oの含有量は、0〜10%、0〜5%、0〜3%、0〜1%、特に0〜0.2%が好ましい。K2Oの含有量が多すぎると、アルカリ溶出が多くなりすぎたり、密度や熱膨張係数が高くなる。 The content of K 2 O is preferably 0 to 10%, 0 to 5%, 0 to 3%, 0 to 1%, and particularly preferably 0 to 0.2%. If the K 2 O content is too high, the alkali elution will be too high, and the density and coefficient of thermal expansion will be high.
MgOは、ヤング率、歪点を高めると共に、高温粘度、クラック発生率を低下させる成分である。MgOの含有量は、0〜10%であり、0〜5%、0〜3%、0〜2%、0〜1.5%、0〜1%、特に0〜0.5%が好ましい。MgOの含有量が多すぎると、液相温度が上昇して、耐失透性が低下しやすくなる。 MgO is a component that increases Young's modulus and strain point, and lowers high-temperature viscosity and crack generation rate. The content of MgO is 0 to 10%, preferably 0 to 5%, 0 to 3%, 0 to 2%, 0 to 1.5%, 0 to 1%, and particularly 0 to 0.5%. If the content of MgO is too large, the liquidus temperature rises and the devitrification resistance tends to decrease.
CaOは、ヤング率、歪点を高めると共に、高温粘度、クラック発生率を低下させる成分である。CaOの含有量は、0〜15%であり、0.5〜12%、1〜10%、1〜9%、特に1〜8.5%が好ましい。CaOの含有量が多すぎると、密度、熱膨張係数が高くなりやすい。 CaO is a component that increases Young's modulus and strain point, and lowers high-temperature viscosity and crack generation rate. The CaO content is 0 to 15%, preferably 0.5 to 12%, 1 to 10%, 1 to 9%, and particularly preferably 1 to 8.5%. If the CaO content is too high, the density and coefficient of thermal expansion tend to increase.
SrOは、ヤング率、歪点を高めると共に、高温粘度、クラック発生率を低下させる成分である。SrOの含有量は0〜15%であり、0〜12%、0〜8%、0〜5%、0〜3%、特に0〜1%が好ましい。SrOの含有量が多すぎると、密度、熱膨張係数が高くなりやすい。 SrO is a component that increases Young's modulus and strain point, and lowers high-temperature viscosity and crack generation rate. The content of SrO is 0 to 15%, preferably 0 to 12%, 0 to 8%, 0 to 5%, 0 to 3%, and particularly preferably 0 to 1%. If the content of SrO is too large, the density and coefficient of thermal expansion tend to increase.
BaOは、化学的耐久性を向上させる成分である。BaOの含有量は、0〜10%、0.1〜7%、0.5〜5%、0.5〜3%、特に0.5〜2%が好ましい。BaOの含有量が多過ぎると、密度、熱膨張係数が高くなりやすい。 BaO is a component that improves chemical durability. The content of BaO is preferably 0 to 10%, 0.1 to 7%, 0.5 to 5%, 0.5 to 3%, and particularly preferably 0.5 to 2%. If the BaO content is too high, the density and coefficient of thermal expansion tend to increase.
MgO、CaO、SrO、BaOの各成分を複数導入すると、液相温度が低下して、ガラス中に結晶異物が発生し難くなる。これらの成分の合量は、0.1〜30%、0.5〜15%、1〜8%、特に1〜5%が好ましい。これらの成分の合量が少な過ぎると、上記効果が得られにくくなる。一方、これらの成分の合量が多すぎると、密度が上昇し、ガラスの軽量化が図り難くなることに加えて、クラック発生率が高くなりやすい。 When a plurality of each component of MgO, CaO, SrO, and BaO is introduced, the liquidus temperature is lowered and crystalline foreign substances are less likely to be generated in the glass. The total amount of these components is preferably 0.1 to 30%, 0.5 to 15%, 1 to 8%, and particularly preferably 1 to 5%. If the total amount of these components is too small, it becomes difficult to obtain the above effect. On the other hand, if the total amount of these components is too large, the density increases, it becomes difficult to reduce the weight of the glass, and the crack occurrence rate tends to increase.
本発明を構成するガラスには、上記成分以外にも以下の成分を含有させることができる。 The glass constituting the present invention may contain the following components in addition to the above components.
Fe2O3の含有量は、300ppm以下、200ppm以下、150ppm以下、100ppm以下、80ppm以下、50ppm以下、特に30ppm以下が好ましい。Fe2O3の含有量が少ない程、透過率が高くなるため、マイクロ流路内の液体の観察を行いやすくなる。なお、Fe2O3の含有量を低減するためには、高純度の原料を使用することが好ましい。Fe2O3の含有量の下限は特に限定されないが、現実的には、5ppm以上、さらには10ppm以上である。 The content of Fe 2 O 3 is preferably 300 ppm or less, 200 ppm or less, 150 ppm or less, 100 ppm or less, 80 ppm or less, 50 ppm or less, and particularly preferably 30 ppm or less. The smaller the content of Fe 2 O 3, the higher the transmittance, which makes it easier to observe the liquid in the microchannel. In order to reduce the content of Fe 2 O 3 , it is preferable to use a high-purity raw material. The lower limit of the content of Fe 2 O 3 is not particularly limited, but in reality, it is 5 ppm or more, and further 10 ppm or more.
Y2O3、Nb2O3、La2O3は、歪点、ヤング率等を高める成分である。しかし、これらの成分の含有量が多すぎると、密度が高くなり易い。よって、Y2O3、Nb2O3、La2O3の含有量は、それぞれ3%以下が好ましい。 Y 2 O 3 , Nb 2 O 3 , and La 2 O 3 are components that increase the strain point, Young's modulus, and the like. However, if the content of these components is too large, the density tends to be high. Therefore, the content of Y 2 O 3 , Nb 2 O 3 , and La 2 O 3 is preferably 3% or less, respectively.
清澄剤として、As2O3、Sb2O3、CeO2、SnO2、F、Cl、SO3の群から選択された一種又は二種以上を0〜3%添加してもよい。但し、As2O3、Sb2O3及びF、特にAs2O3及びSb2O3は、環境的観点から、その使用を極力控えることが好ましく、各々の含有量を0.1%未満に制限することが好ましい。好ましい清澄剤は、SnO2、SO3及びClである。SnO2の含有量は、好ましくは0〜1%、0.01〜0.5%、特に0.05〜0.4%である。また、SnO2+SO3+Cl(SnO2、SO3及びClの合量)の含有量は、好ましくは0.001〜1%、0.01〜0.5%、特に0.01〜0.3%である。 As the clarifying agent, 0 to 3% of one or more selected from the group of As 2 O 3 , Sb 2 O 3 , CeO 2 , SnO 2 , F, Cl and SO 3 may be added. However, it is preferable to refrain from using As 2 O 3 , Sb 2 O 3 and F, especially As 2 O 3 and Sb 2 O 3, from an environmental point of view, and the content of each is less than 0.1%. It is preferable to limit to. Preferred clarifiers are SnO 2 , SO 3 and Cl. The SnO 2 content is preferably 0 to 1%, 0.01 to 0.5%, and particularly 0.05 to 0.4%. The content of SnO 2 + SO 3 + Cl (the total amount of SnO 2 , SO 3 and Cl) is preferably 0.001 to 1%, 0.01 to 0.5%, and particularly 0.01 to 0.3. %.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、軟化点が900℃以下、880℃以下、860℃以下、840℃以下、特に820℃以下であることが好ましい。軟化点が高すぎると、ガラス基板同士を接合する温度が上昇するため、マイクロ流路デバイスを安価で作製しにくくなる。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention preferably has a softening point of 900 ° C. or lower, 880 ° C. or lower, 860 ° C. or lower, 840 ° C. or lower, and particularly preferably 820 ° C. or lower. If the softening point is too high, the temperature at which the glass substrates are joined rises, making it difficult to manufacture a microchannel device at low cost.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、熱膨張係数(30〜380℃)が80×10−7/℃以下、75×10−7/℃以下、70×10−7/℃以下、特に68×10−7/℃以下であることが好ましい。熱膨張係数が高すぎると、ガラス基板同士を接合するための熱処理を行った後に急冷する際に、ガラス基板の破損が起こりやすい。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention has a coefficient of thermal expansion (30 to 380 ° C.) of 80 × 10-7 / ° C. or less, 75 × 10-7 / ° C. or less, 70 × 10-7 / ° C. or less, particularly. It is preferably 68 × 10 -7 / ° C. or lower. If the coefficient of thermal expansion is too high, the glass substrates are likely to be damaged when the glass substrates are rapidly cooled after the heat treatment for joining them.
また、複数のガラス基板を張り合わせる際、張り合わせる各ガラス基板の熱膨張係数の差は5×10−7/℃以下、3×10−7/℃以下、2×10−7/℃以下、1×10−7/℃以下、特に0.5×10−7/℃以下であることが好ましい。熱膨張係数の差が大きすぎると接合し冷却する際にガラス基板の破損が起りやすく、また、ガラス基板の反りが大きくなりやすい。 When a plurality of glass substrates are bonded together, the difference in the coefficient of thermal expansion of each glass substrate to be bonded is 5 × 10 -7 / ° C or less, 3 × 10 -7 / ° C or less, and 2 × 10 -7 / ° C or less. It is preferably 1 × 10 -7 / ° C or less, particularly preferably 0.5 × 10 -7 / ° C or less. If the difference in the coefficient of thermal expansion is too large, the glass substrate is likely to be damaged during joining and cooling, and the glass substrate is likely to be warped.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、歪点が、500℃以上、特に520℃以上であることが好ましい。歪点が低すぎると、耐熱性が低下しやすく、各種溶剤を用いた実験を行った後、再利用するための熱処理を高温で行ったとしてもガラス基板の変形や変質が起こりにくいため、再利用が行いやすくなる。高温で処理することにより、流路内に残存する有機物をほぼ0にすることが可能となる。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention preferably has a strain point of 500 ° C. or higher, particularly 520 ° C. or higher. If the strain point is too low, the heat resistance tends to decrease, and even if the heat treatment for reuse is performed at a high temperature after conducting an experiment using various solvents, the glass substrate is unlikely to be deformed or deteriorated. It will be easier to use. By treating at a high temperature, the amount of organic matter remaining in the flow path can be reduced to almost zero.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、液相粘度が、104.0dPa・s以上、105.0dPa・s以上、105.6dPa・s以上、105.8dPa・s以上、特に106.0dPa・s以上であることが好ましい。また、液相温度が、1200℃以下、1150℃以下、1130℃以下、1110℃以下、1090℃以下、特に1070℃以下であることが好ましい。液相粘度が低すぎ、液相温度が高すぎると、成形時にガラスが失透しやすくなる。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention has a liquid phase viscosity of 10 4.0 dPa · s or more, 10 5.0 dPa · s or more, 10 5.6 dPa · s or more, and 10 5.8 dPa ·. It is preferably s or more, particularly 106.0 dPa · s or more. Further, the liquid phase temperature is preferably 1200 ° C. or lower, 1150 ° C. or lower, 1130 ° C. or lower, 1110 ° C. or lower, 1090 ° C. or lower, particularly 1070 ° C. or lower. If the liquidus viscosity is too low and the liquidus temperature is too high, the glass tends to devitrify during molding.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、クラック発生率が70%以下、50%以下、40%以下、30%以下、特に20%以下であることが好ましい。クラック発生率が高すぎると、ガラス基板が破損しやすくなる。ここで、「クラック発生率」は、湿度30%、温度25℃に保持された恒温恒湿槽内において、荷重1000gに設定したビッカース圧子をガラス表面(光学研磨相当面)に15秒間打ち込み、その15秒後に圧痕の4隅から発生するクラックの数をカウント(1つの圧痕につき最大4とする)し、この操作を20回繰り返し(即ち、圧子を20回打ち込み)、総クラック数を計数した後、(総クラック発生数/80)×100(%)にて得られた値を指す。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention preferably has a crack generation rate of 70% or less, 50% or less, 40% or less, 30% or less, and particularly preferably 20% or less. If the crack occurrence rate is too high, the glass substrate is liable to be damaged. Here, the "crack generation rate" is determined by driving a Vickers indenter set to a load of 1000 g into a glass surface (optically polished surface) for 15 seconds in a constant temperature and humidity chamber maintained at a humidity of 30% and a temperature of 25 ° C. After 15 seconds, the number of cracks generated from the four corners of the indentation is counted (maximum of 4 per indentation), this operation is repeated 20 times (that is, the indenter is driven 20 times), and the total number of cracks is counted. , (Total number of cracks generated / 80) × 100 (%).
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、ヤング率が65GPa以上、67GPa以上、68GPa以上、69GPa以上、70GPa以上、71GPa以上、72GPa以上、特に75GPa以上であることが好ましい。ヤング率が低すぎると、ガラス基板が反りやすくなり、破損等の問題が生じやすくなる。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention preferably has a Young's modulus of 65 GPa or more, 67 GPa or more, 68 GPa or more, 69 GPa or more, 70 GPa or more, 71 GPa or more, 72 GPa or more, and particularly 75 GPa or more. If the Young's modulus is too low, the glass substrate tends to warp, and problems such as breakage tend to occur.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、密度が2.7g/cm3以下、2.6g/cm3以下、2.5g/cm3以下、特に2.4g/cm3以下であることが好ましい。密度が高すぎると、マイクロ流路デバイスの軽量化を図りにくくなる。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention has a density of 2.7 g / cm 3 or less, 2.6 g / cm 3 or less, 2.5 g / cm 3 or less, and particularly 2.4 g / cm 3 or less. preferable. If the density is too high, it will be difficult to reduce the weight of the microchannel device.
本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板は、厚み500μmにおいて、波長300nmの透過率が30%以上、50%以上、70%以上、80%以上、85%以上、特に89%以上であることが好ましい。また、波長350nmの透過率が50%以上、70%以上、80%以上、85%以上、89%以上、90%以上、特に91%以上であることが好ましい。さらに、波長550nmの透過率が85%以上、89%以上、90%以上、特に91%以上であることが好ましい。透過率が低すぎると、流路中を流れる液体の観察時に鮮明な像が得られにくい。 The glass substrate for a microchannel device of the present invention has a transmittance of 30% or more, 50% or more, 70% or more, 80% or more, 85% or more, particularly 89% or more at a wavelength of 300 nm at a thickness of 500 μm. preferable. Further, the transmittance at a wavelength of 350 nm is preferably 50% or more, 70% or more, 80% or more, 85% or more, 89% or more, 90% or more, particularly 91% or more. Further, the transmittance at a wavelength of 550 nm is preferably 85% or more, 89% or more, 90% or more, particularly 91% or more. If the transmittance is too low, it is difficult to obtain a clear image when observing the liquid flowing in the flow path.
次に、本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板を製造する方法を説明する。 Next, a method for manufacturing the glass substrate for the microchannel device of the present invention will be described.
まず、所望の組成を有するガラスとなるように調合したガラス原料を加熱溶融して、ガラス融液を得る。次に、得られたガラス融液を板引き成形し、マイクロデバイス用ガラス基板を得る。板引き成形の方法に制限はないが、オーバーフローダウンドロー法で成形されてなることが好ましい。この方法で作製されたガラス基板は、表面品位に優れており、研磨を必要としない。オーバーフローダウンドロー法で成形されたガラス基板が表面品位に優れる理由は、ガラス基板の表面となるべき面が樋状耐火物に接触せず、自由表面の状態で成形されるからである。ここで、オーバーフローダウンドロー法は、溶融ガラスを耐熱性の樋状構造物の両側から溢れさせて、溢れた溶融ガラスを樋状構造物の下端で合流させながら、下方に延伸成形してガラス基板を製造する方法である。樋状構造物の構造や材質は、ガラス基板の寸法や表面精度を所望の状態とし、ガラス基板に使用できる品位を実現できるものであれば、特に限定されない。また、下方への延伸成形を行うために、ガラスに対してどのような方法で力を印加するものであってもよい。例えば、充分に大きい幅を有する耐熱性ロールをガラスに接触させた状態で回転させて延伸する方法を採用してもよいし、複数の対になった耐熱性ロールをガラスの端面近傍のみに接触させて延伸する方法を採用してもよい。なお、オーバーフローダウンドロー法以外にも、例えば、スロットダウン法、リドロー法等の成形方法を採用することもできる。 First, a glass raw material prepared so as to have a desired composition is heated and melted to obtain a glass melt. Next, the obtained glass melt is plate-molded to obtain a glass substrate for a microdevice. The method of plate drawing is not limited, but it is preferably formed by the overflow down draw method. The glass substrate produced by this method has excellent surface quality and does not require polishing. The reason why the glass substrate formed by the overflow down draw method is excellent in surface quality is that the surface to be the surface of the glass substrate does not come into contact with the gutter-shaped refractory and is formed in a free surface state. Here, in the overflow down draw method, the molten glass is overflowed from both sides of the heat-resistant gutter-shaped structure, and the overflowed molten glass is stretched downward while being merged at the lower end of the gutter-shaped structure to form a glass substrate. Is a method of manufacturing. The structure and material of the gutter-shaped structure are not particularly limited as long as the dimensions and surface accuracy of the glass substrate are in a desired state and the quality that can be used for the glass substrate can be realized. In addition, a force may be applied to the glass in any way in order to perform downward stretching molding. For example, a method of rotating and stretching a heat-resistant roll having a sufficiently large width in contact with the glass may be adopted, or a plurality of pairs of heat-resistant rolls may be brought into contact with only the vicinity of the end face of the glass. You may adopt the method of letting and stretching. In addition to the overflow down draw method, for example, a molding method such as a slot down method or a redraw method can also be adopted.
得られたガラス基板は、未研磨の表面を有することが好ましい。ガラスの理論強度は、本来、非常に高いが、理論強度よりも遥かに低い応力でも破壊に至ることが多い。これは、ガラス基板の表面にグリフィスフローと呼ばれる小さな欠陥がガラスの成形後の工程、例えば研磨工程等で生じるからである。よって、ガラス基板の表面を未研磨とすれば、本来の機械的強度を損ない難くなり、ガラス基板が破壊し難くなる。また、研磨工程を省略し得るため、ガラス基板の製造コストを低下することができる。なお、両表面の有効面全体を未研磨の表面とすれば、ガラス基板が更に破壊し難くなる。 The obtained glass substrate preferably has an unpolished surface. The theoretical strength of glass is originally very high, but stress far lower than the theoretical strength often leads to fracture. This is because a small defect called Griffith flow occurs on the surface of the glass substrate in a process after molding the glass, for example, a polishing process. Therefore, if the surface of the glass substrate is unpolished, the original mechanical strength is less likely to be impaired, and the glass substrate is less likely to be broken. Moreover, since the polishing step can be omitted, the manufacturing cost of the glass substrate can be reduced. If the entire effective surface of both surfaces is an unpolished surface, the glass substrate is more difficult to break.
得られたガラス基板の表面粗さRaは、100Å以下、50Å以下、10Å以下、8Å以下、4Å以下、3Å以下、特に2Å以下であることが好ましい。ガラス基板の表面の表面粗さRaが大きすぎると、基板同士を接合しにくくなる。ガラス基板の端面の表面粗さRaは、100Å以下、50Å以下、10Å以下、8Å以下、4Å以下、3Å以下、特に2Å以下であることが好ましい。ガラス基板の端面の表面粗さRaが大きすぎると、ガラス基板が破損しやすくなる。また、ガラス基板のうねりは、1μm以下、0.08μm以下、0.05μm以下、0.03μm以下、0.02μm以下、特に0.01μm以下であることが好ましい。ガラス基板のうねりが大きすぎると、基板同士を接合しにくくなる。
さらに、ガラス基板の最大厚みと最小厚みの差が10μm以下、5μm以下、2μm以下、特に1μm以下であることが好ましい。この差が大きすぎると、基板同士を接合しにくくなる。
The surface roughness Ra of the obtained glass substrate is preferably 100 Å or less, 50 Å or less, 10 Å or less, 8 Å or less, 4 Å or less, 3 Å or less, and particularly preferably 2 Å or less. If the surface roughness Ra of the surface of the glass substrate is too large, it becomes difficult to bond the substrates to each other. The surface roughness Ra of the end face of the glass substrate is preferably 100 Å or less, 50 Å or less, 10 Å or less, 8 Å or less, 4 Å or less, 3 Å or less, and particularly preferably 2 Å or less. If the surface roughness Ra of the end face of the glass substrate is too large, the glass substrate is liable to be damaged. The waviness of the glass substrate is preferably 1 μm or less, 0.08 μm or less, 0.05 μm or less, 0.03 μm or less, 0.02 μm or less, and particularly preferably 0.01 μm or less. If the swell of the glass substrate is too large, it becomes difficult to join the substrates.
Further, the difference between the maximum thickness and the minimum thickness of the glass substrate is preferably 10 μm or less, 5 μm or less, 2 μm or less, and particularly preferably 1 μm or less. If this difference is too large, it becomes difficult to join the substrates.
マイクロ流路用ガラス基板の幅寸法は、500mm以上、600mm以上、800mm以上、1000mm以上、1200mm以上、1500mm以上、特に2000mm以上であることが好ましい。このようにすれば、大型のガラス基板にフォトリソグラフィーあるいはレーザーにより流路を書き込み、カバーガラスを張り合わせたのちに切断することで一度に大量のマイクロ流路デバイスを作製することが可能になる。 The width dimension of the glass substrate for the microchannel is preferably 500 mm or more, 600 mm or more, 800 mm or more, 1000 mm or more, 1200 mm or more, 1500 mm or more, and particularly preferably 2000 mm or more. In this way, it is possible to manufacture a large number of microchannel devices at one time by writing a flow path on a large glass substrate by photolithography or a laser, laminating the cover glass, and then cutting the flow path.
次に、本発明のマイクロ流路デバイス用ガラス基板を用いてマイクロ流路デバイスを製造する方法を説明する。なお、マイクロ流路デバイスは、流路形成用基板と、その基板をカバーするガラス基板(以下、カバー用ガラス基板)からなり、本発明のガラス基板は、流路形成用基板及びカバー用ガラス基板のどちらにも用いることができる。 Next, a method of manufacturing a microchannel device using the glass substrate for a microchannel device of the present invention will be described. The microchannel device is composed of a flow path forming substrate and a glass substrate covering the substrate (hereinafter referred to as a cover glass substrate), and the glass substrate of the present invention is a flow path forming substrate and a cover glass substrate. It can be used for both.
流路形成用ガラス基板とカバー用ガラス基板を上記の方法で作製する。流路形成用ガラス基板の厚みは30〜3000μm、50〜2800μm、100〜2000μm、200〜1800μm、200〜1500μm、200〜1200μm、200〜1000μm、200〜800μm、200〜700μm、200〜500μm、特に200〜300μmであることが好ましい。厚みが小さすぎると、デバイス全体の剛性が不足し、取扱時に破損しやすくなる。一方、厚みが大きすぎると、流路デバイスが軽量化されにくくなる。また、カバー用ガラス基板の厚みは、1000μm以下、700μm以下、600μm以下、400μm以下、300μm以下、200μm以下、100μm以下、特に50μm以下であることが好ましい。なお、厚みの下限値は特に限定されないが、現実的には、5μm以上である。厚みが大きすぎると、流路形成用ガラス基板の上に、カバー用ガラス基板を湾曲させながら張り合わせることができにくくなり、張り合わせたガラスの間に空気を巻き込みやすくなる。 A glass substrate for forming a flow path and a glass substrate for a cover are produced by the above method. The thickness of the glass substrate for forming a flow path is 30 to 3000 μm, 50 to 2800 μm, 100 to 2000 μm, 200 to 1800 μm, 200 to 1500 μm, 200 to 1200 μm, 200 to 1000 μm, 200 to 800 μm, 200 to 700 μm, 200 to 500 μm, in particular. It is preferably 200 to 300 μm. If the thickness is too small, the rigidity of the entire device will be insufficient and it will be easily damaged during handling. On the other hand, if the thickness is too large, it becomes difficult to reduce the weight of the flow path device. The thickness of the glass substrate for the cover is preferably 1000 μm or less, 700 μm or less, 600 μm or less, 400 μm or less, 300 μm or less, 200 μm or less, 100 μm or less, and particularly preferably 50 μm or less. The lower limit of the thickness is not particularly limited, but in reality, it is 5 μm or more. If the thickness is too large, it becomes difficult to attach the cover glass substrate onto the flow path forming glass substrate while bending it, and it becomes easy for air to be entrained between the laminated glasses.
次に、流路形成用ガラス基板に流路を形成する。流路の形成には、フォトリソグラフィー、レーザー等を使用できる。流路を形成した流路形成用ガラス基板とカバー用ガラス基板を500〜900℃で熱融着させ、マイクロ流路デバイスを得る。ここで熱融着する温度が高すぎると、流路パターンが溶融しやすくなる。一方、低すぎると基板同士が融着しづらくなる。 Next, a flow path is formed on the flow path forming glass substrate. Photolithography, laser, or the like can be used to form the flow path. A flow path forming glass substrate and a cover glass substrate on which a flow path is formed are heat-sealed at 500 to 900 ° C. to obtain a micro flow path device. If the heat fusion temperature is too high here, the flow path pattern tends to melt. On the other hand, if it is too low, it becomes difficult for the substrates to fuse with each other.
なお、流路形成用ガラス基板に貫通孔からなる流路を形成しても構わない。この場合は、カバー用ガラス基板を流路形成用ガラス基板の両面に接合する。この場合、流路形成用ガラス基板の厚みは500μm以下、300μm以下、100μm以下、70μm以下、50μm以下、特に30μm以下であることが好ましい。厚みが大きすぎると、フォトリソグラフィー、レーザー等により貫通孔を作製する際に、タクトタイムが上昇するため、製造コストが上がりやすい。また、カバー用ガラス基板の厚みは2000μm以下、1800μm以下、1500μm以下、1200μm以下、1000μm以下、800μm以下、700μm以下、500μm以下、特に300μm以下であることが好ましい。なお、厚みの下限値は特に限定されないが、現実的には、5μm以上である。厚みが大きすぎると、流路デバイスが軽量化されにくくなる。 A flow path formed of through holes may be formed on the flow path forming glass substrate. In this case, the glass substrate for the cover is joined to both sides of the glass substrate for forming the flow path. In this case, the thickness of the flow path forming glass substrate is preferably 500 μm or less, 300 μm or less, 100 μm or less, 70 μm or less, 50 μm or less, and particularly preferably 30 μm or less. If the thickness is too large, the tact time increases when the through hole is produced by photolithography, laser, or the like, so that the manufacturing cost tends to increase. The thickness of the glass substrate for the cover is preferably 2000 μm or less, 1800 μm or less, 1500 μm or less, 1200 μm or less, 1000 μm or less, 800 μm or less, 700 μm or less, 500 μm or less, and particularly preferably 300 μm or less. The lower limit of the thickness is not particularly limited, but in reality, it is 5 μm or more. If the thickness is too large, it becomes difficult to reduce the weight of the flow path device.
以下に、本発明で使用するガラス基板の好適な例を説明する。但し、以下の例は単なる例示である。本発明で使用するガラス基板は、以下の例に何ら限定されない。 A suitable example of the glass substrate used in the present invention will be described below. However, the following examples are merely examples. The glass substrate used in the present invention is not limited to the following examples.
表1は、ガラス基板(試料No.1〜3)のガラス組成と特性を示している。 Table 1 shows the glass composition and characteristics of the glass substrate (Samples Nos. 1 to 3).
まず表1に記載のガラス組成になるように、ガラス原料を調合し、得られたガラス原料をガラス溶融炉に供給して1500〜1600℃で溶融した。次いで、得られた溶融ガラスをオーバーフローダウンドロー法により、表中の厚み、幅寸法1500mmになるように成形した。続いて、成形直後のガラス基板を徐冷エリアに移動させ、冷却し、流路形成用ガラス基板及びカバー用ガラス基板を得た。その際に、1012〜1014dPa・sにおける温度での冷却速度が20℃/分になるように、徐冷エリアの温度と基板引き出し速度を調整した。得られた流路形成用ガラス基板にレーザーにて流路を形成した。その後、流路形成用ガラス基板とカバー用ガラス基板を500〜900℃で熱融着し、マイクロ流路デバイスを作製した。 First, glass raw materials were prepared so as to have the glass composition shown in Table 1, and the obtained glass raw materials were supplied to a glass melting furnace and melted at 1500 to 1600 ° C. Next, the obtained molten glass was formed by an overflow down draw method so as to have a thickness and a width dimension of 1500 mm in the table. Subsequently, the glass substrate immediately after molding was moved to a slow cooling area and cooled to obtain a flow path forming glass substrate and a cover glass substrate. At that time, the temperature of the slow cooling area and the substrate withdrawal speed were adjusted so that the cooling rate at the temperature of 10 12 to 14 dPa · s was 20 ° C./min. A flow path was formed on the obtained glass substrate for forming a flow path by a laser. Then, the glass substrate for forming the flow path and the glass substrate for the cover were heat-sealed at 500 to 900 ° C. to prepare a micro flow path device.
表1から明らかなように、試料No.1〜3は、軟化点が740〜792℃と低かったため熱融着する温度が低かった。また、試料No.1〜3は、厚みが小さく、表面精度が良好であった。そのため、コストアップを招来させることなく、マイクロ流路デバイスを作製することができた。 As is clear from Table 1, the sample No. In Nos. 1 to 3, the softening point was as low as 740 to 792 ° C., so that the heat fusion temperature was low. In addition, sample No. Nos. 1 to 3 had a small thickness and good surface accuracy. Therefore, it was possible to manufacture the microchannel device without causing an increase in cost.
密度は、周知のアルキメデス法により測定した値である。 The density is a value measured by the well-known Archimedes method.
歪点は、ASTM C336−71の方法に基づいて測定した値である。 The strain point is a value measured based on the method of ASTM C336-71.
ガラス転移温度は、熱膨張曲線からJIS R3103−3の方法に基づいて測定した値である。 The glass transition temperature is a value measured from the thermal expansion curve based on the method of JIS R3103-3.
軟化点は ASTM C338−93の方法に基づいて測定した値である。 The softening point is a value measured based on the method of ASTM C338-93.
104.0、103.0、102.5dPa・sにおける温度は、白金球引き上げ法で測定した値である。この温度が低い程、溶融性に優れていることになる。 The temperature at 10 4.0 , 10 3.0 , and 10 2.5 dPa · s is a value measured by the platinum ball pulling method. The lower this temperature, the better the meltability.
ヤング率は、共振法により測定した値である。 Young's modulus is a value measured by the resonance method.
熱膨張係数は、ディラトメーターを用いて、30〜380℃における平均熱膨張係数を測定したものである。熱膨張係数の測定用試料として、端面にR加工を施したφ5mm×20mmの円柱状の試料を用いた。 The coefficient of thermal expansion is a measurement of the average coefficient of thermal expansion at 30 to 380 ° C. using a dilatometer. As a sample for measuring the coefficient of thermal expansion, a cylindrical sample having a diameter of 5 mm × 20 mm with an R-processed end face was used.
液相温度は、標準篩30メッシュ(500μm)を通過し、50メッシュ(300μm)に残るガラス粉末を白金ボートに入れ、温度勾配炉中に24時間保持して、結晶の析出する温度を測定したものである。液相粘度は、液相温度におけるガラスの粘度を白金球引き上げ法で測定した値である。 The liquidus temperature was measured by passing through a standard sieve of 30 mesh (500 μm), placing the glass powder remaining in 50 mesh (300 μm) in a platinum boat, and holding it in a temperature gradient furnace for 24 hours to measure the temperature at which crystals precipitate. It is a thing. The liquidus viscosity is a value obtained by measuring the viscosity of glass at the liquidus temperature by the platinum ball pulling method.
化学的耐久性については下記の方法により確認した。耐水性についてはISO719および、JISR3502、耐アルカリ性についてはISO695、耐酸性についてはDIN12116に準拠して確認した。 The chemical durability was confirmed by the following method. The water resistance was confirmed in accordance with ISO719 and JISR3502, the alkali resistance was confirmed in accordance with ISO695, and the acid resistance was confirmed in accordance with DIN12116.
表面の表面粗さRaは、JIS B0601:2001に準拠した方法で測定した値である。 The surface roughness Ra of the surface is a value measured by a method according to JIS B0601: 2001.
端面の表面粗さRaは、JIS B0601:2001に準拠した方法で測定した値である。 The surface roughness Ra of the end face is a value measured by a method according to JIS B0601: 2001.
うねりは、触針式の表面形状測定装置を用いて、JIS B0601:2001に記載のWCA(ろ波中心線うねり)を測定した値であり、この測定は、SEMI STD D15−1296「FPDガラス板の表面うねりの測定方法」に準拠した方法で測定し、測定時のカットオフは0.8〜8mm、ガラス基板の引き出し方向に対して垂直な方向に300mmの長さで測定した値である。 The swell is a value obtained by measuring WCA (perpendicular center line swell) described in JIS B0601: 2001 using a stylus type surface shape measuring device, and this measurement is SEMI STD D15-1296 "FPD glass plate". The cutoff at the time of measurement is 0.8 to 8 mm, and the length is 300 mm in the direction perpendicular to the pull-out direction of the glass substrate.
ガラス基板の最大厚みと最小厚みの差は、レーザー式厚み測定装置を用いて、ガラス基板の任意の一辺に厚み方向からレーザーを走査することにより、ガラス基板の最大厚みと最小厚みを測定した上で、最大厚みの値から最小厚みの値を減じた値である。 The difference between the maximum thickness and the minimum thickness of the glass substrate is determined by measuring the maximum thickness and the minimum thickness of the glass substrate by scanning the laser from the thickness direction on any one side of the glass substrate using a laser type thickness measuring device. Is the value obtained by subtracting the minimum thickness value from the maximum thickness value.
透過率は、UV−3100PCを使用し、スリット幅:2.0nm、スキャン速度:中速、サンプリングピッチ:0.5nmの条件で測定した。 The transmittance was measured using a UV-3100PC under the conditions of slit width: 2.0 nm, scanning speed: medium speed, and sampling pitch: 0.5 nm.
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