JP6935024B2 - 3d印刷工程のための適合された制御命令の生成 - Google Patents
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Description
・前記後処理工程のための後処理制御命令を生成すること、
・ここで、前記製造工程のシミュレーションを時間的に実行することは、さらに以下を含む、
・MEシミュレーション結果と前記後処理制御命令を使用して、前記後処理工程のシミュレーションを実行する。
・ME工程をシミュレートした後、さらにアニーリング工程をシミュレートし、シミュレーション中にアニーリング手順を最適化し、アニーリング温度、アニーリング時間、および残留応力の間でより良い最適値を取得すること、
・ツールパスが印刷されるさまざまな順序をシミュレートし、最適な順序を選択すること、
・ME工程によって誘発された熱をより良い方法で分散するために、層の印刷コースを変更すること、
・印刷速度または堆積速度を局所的に変更すること。
101a、101b 柱
101a’、101b’ 変形した柱
102 クロスビーム
102’ 変形したクロスビーム
103 ベース
104 変形オブジェクト
105a、105b エレファントフット
106a、106b 柱の、熱中心線
107a、107b くぼみ
108 凸状の変形形状
200 軌道
201 プリントヘッド
202 湾曲した矢印
203 印刷される3Dオブジェクト
204、204’ プリントヘッド位置
205 ノズル
X0 開始点
X1 終点
300a、300b、300c、300d、300e 本発明による方法の例示的な実施形態
301 3次元モデルの取得
302a、302b、302c、302d 制御命令の生成
303 工程パラメーター
304a 制御命令
304b 電子ツールパス
304c 電子スライス
304d アニーリング命令
305a、305b、305c、305d 3Dモデルからのメッシュモデルの生成
306a、306b、306c、306d メッシュモデルを使用した制御命令のシミュレーション
307a、307b、307c、307d 適合の適用
308a 適合
308b、308c 空間補正ベクトル場
308d アニーリング工程への適合
309 電子3Dモデル
310 メッシュモデル
311a 適合された制御命令
311b 空間的に補正されたツールパス
311c 空間的に補正されたツールパス、または、スライス
311d 適合されたアニーリング命令
312 次の反復ための決定
313 偏差
314 テスト
400 3Dオブジェクトのメッシュモデル
400’ 変形した3Dオブジェクトのメッシュモデル
400’’ 補正した3Dオブジェクトのメッシュモデル
401a、401b 柱
401a’、401b’ 内側に傾斜した柱
401a’’、401b’’ 外側に傾斜した柱
402 クロスビーム
402’ 凹状に変形したクロスビーム
402’’ 湾曲したクロスビーム
403 ベース
404 プリントヘッド
405a、405b エレファントフット
405a’’、405b’’ 収縮部
406 完成したメッシュ要素
407a、407b くぼみ
407a’’、407b’’ 膨張部
408 凸状の変形
409 完成していないメッシュ要素
500 変形したメッシュモデル
500’ 空間的に補正されたメッシュモデル
501 ノード
502 空間変形ベクトル
503 変形ノード
504 非変形要素の境界
505 空間補正ベクトル
506 オリジナルの電子ツールパス
507 空間的に補正された電子ツールパス
508 シミュレーションで得られた変形要素の形状
509 補正されたメッシュモデルのノード
600 3Dモデル
601 バルコニー
602 支持構造
603 シミュレーションされたバルコニーの形状
d 偏差
700 3Dオブジェクト製造のためのMEシステム
701 位置決めシステム
702 プリントヘッド
703 原材料供給部
704 ノズル
705 ベースプレート
706 制御ユニット
707 印刷中の3Dオブジェクト
800 3D印刷ME工程を用いた3Dオブジェクトを製造するためのシステム
801 電子3Dモデル
802 適合された制御命令を生成するためのシステム
803 適合された制御命令
Claims (19)
- 3Dオブジェクトの製造工程に含まれる材料押出(ME)のために適合された制御命令を生成する方法であって、適合された制御命令は、空間的に補正された電子ツールパス、空間的に補正された電子スライス、および、他命令のうちの少なくとも1つを含み、
制御装置または制御ユニットが、原材料の堆積から製造された3Dオブジェクトのアニーリングを含む後処理まで、の3Dオブジェクトの製造を実行するためにMEシステムを制御することを可能にし、
前記方法は、以下を含むことを特徴とする方法。
・ 製造される3Dオブジェクトの電子3Dモデルを取得すること、
・ 前記電子3Dモデルおよび前記製造工程の工程パラメーターに基づいて制御命令を生成し、前記工程パラメーターは、ME工程に関連するME工程パラメーターおよび3Dオブジェクトの後処理に関連する工程パラメーターを含むこと、
・ 前記電子3Dモデルを表すメッシュモデルを決定することであって、前記メッシュモデルは、前記ME工程パラメーターに基づく数学的関係を使用して相互作用する連結されたメッシュ要素を含み、各メッシュ要素は、前記3Dオブジェクトの少なくとも1つの物理的特性に関連し、前記少なくとも一つの特性は、前記ME工程パラメーターの少なくとも一つによって数学的影響を受けることを有すること、
・ 前記制御命令、前記メッシュモデル、および前記工程パラメーターを使用して、前記製造工程のシミュレーションを時間的に実行すること、前記実行は、以下を含む、
・ 前記メッシュモデルの各要素について、基準に対する前記少なくとも1つの特性の偏差を確立すること、ここで、前記偏差は、前記工程パラメーターの少なくとも1つによって誘発され、
・ 前記偏差を補正するために、前記メッシュモデルの前記各要素の前記少なくとも1つの特性に対する適合を決定すること、
・ 前記制御命令に前記適合を適用して、前記製造工程の終了時に少なくとも1回室温まで冷却した後、および前記3Dオブジェクトの使用に関する仕様に従って印刷された前記3Dオブジェクトの使用中に、前記電子3Dモデルに対して忠実な前記3Dオブジェクトの製造を可能とする、少なくとも1つの適合された制御命令を取得すること。 - 前記制御命令の生成は、少なくとも1つの電子ツールパスを生成することを含み、以下を含む請求項1に記載の方法。
・ 前記電子3Dモデルに基づいて、前記ME工程のための、少なくとも1つの原材料の堆積シーケンスを生成すること、
・ 製造される3Dオブジェクトの層を表す少なくとも1つの電子スライスを決定すること、
・ 前記少なくとも1つの電子スライスの各々に対して前記少なくとも1つの電子ツールパスを決定すること、及び、
・ 前記少なくとも1つの電子スライスの決定、および、前記少なくとも1つの電子ツールパスの決定が、前記堆積シーケンスに従って実行されること。 - 前記製造工程のシミュレーションを時間的に実行することは、前記ME工程のシミュレーションを含み、以下を含む請求項2に記載の方法。
・ 前記少なくとも1つの堆積シーケンスに対応するメッシュモデルの要素の少なくとも1つの活性化シーケンスを決定すること、
・ MEシミュレーションの結果を得るために、前記活性化シーケンスに従って前記ME工程の前記シミュレーションを実行すること。 - 前記活性化シーケンスを決定することは、以下の1つを含む請求項3に記載の方法。
・ 前記少なくとも1つの電子ツールパスを前記メッシュモデルの要素上に空間的にマッピングすること、
・ 前記少なくとも1つの電子スライスを前記メッシュモデルの要素上に空間的にマッピングすること。 - 前記少なくとも1つの堆積シーケンスを生成することは、複数の相互に異なる堆積シーケンスを生成することを含み、前記ME工程の前記シミュレーションを実行することは、以下を含む請求項3または請求項4に記載の方法。
・ 前記偏差が第1の所定の閾値を下回るまで繰り返すこと、
i.各繰り返しに対して、複数の相互に異なる堆積シーケンスのうちの1つを使用して、前記少なくとも1つの電子ツールパスを生成する、及び、
ii.各繰り返しに対して、ME工程の前記シミュレーションが、前記1つの堆積シーケンスに対応する活性化シーケンスを使用する、
・前記偏差が前記第1の所定の閾値を下回ることを確立すると、前記複数の相互に異なる堆積シーケンスから1つ選択して、好ましい堆積シーケンスを取得すること。 - 前記製造工程のシミュレーションを時間的に実行することは、以下を含む請求項3に記載の方法。
・ 前記少なくとも1つの工程パラメーターと、前記少なくとも1つの特性との間の関係を示す、少なくとも1つの係数を使用すること。 - 請求項6に記載の方法。
・ 前記少なくとも1つの係数は、時間依存性、異方性、および温度依存性のうちの少なくとも1つであること。 - 前記偏差に基づいて、前記メッシュモデルの前記各要素に対する前記少なくとも1つの特性に対する適合を決定することは、以下を含む請求項6または請求項7に記載の方法。
・ 前記メッシュモデルの前記各要素に対して、以下の1つを実行することにより、前記適合を決定すること。
・ 前記偏差を符号反転する、
・ 前記少なくとも1つの係数の符号反転することと、前記少なくとも1つの係数を逆転する、及び、
・ 前記適合を決定するために、前記活性化シーケンスを使用して前記ME工程の前記シミュレーションを逆順に実行するためのシミュレーション結果を記憶し、前記記憶されたシミュレーション結果を使用して、前記逆順のシミュレーションの結果として生じる前記偏差を前記適合に割り当てる。 - 前記基準は、電子3Dモデルの3D寸法を含み、前記偏差は、電子3Dモデルの3D寸法に対するメッシュモデルの3D寸法の空間的変形を含み、及び、メッシュモデルの各要素に対する前記適合は、空間的補正を含み、前記制御命令の生成のために、前記適合を適用することは、以下を含む請求項8に記載の方法。
・ 前記空間的補正を前記少なくとも1つの電子ツールパスに適用して、前記少なくとも1つの空間的補正された電子ツールパスを得ること、
・ 前記少なくとも1つの空間的補正された電子ツールパスを含んだ、前記少なくとも1つの適合された制御命令を確立すること。 - 前記空間的補正を前記少なくとも1つの電子ツールパスに適用することは、以下を含む請求項9に記載の方法。
・ 前記少なくとも1つの電子ツールパスのそれぞれに前記MEシミュレーション結果を用いた座標変換を適用すること。 - 前記空間的補正を前記少なくとも1つの電子ツールパスに適用することは、以下を含む請求項9に記載の方法。
・ 前記MEシミュレーションの結果を使用して、座標変換を少なくとも1つの電子スライスのそれぞれに適用して、少なくとも1つの空間的補正された電子スライスを取得すること、
・ 前記少なくとも1つの空間的補正された電子スライスのそれぞれを使用して、少なくとも1つの電子ツールパスを決定すること(304)を実行すること。 - 前記制御命令の生成は、以下を含む請求項3から請求項11のいずれかに記載の方法。
・ 活性化および不活性化可能なオプションの電子ツールパスの少なくとも1つのグループを生成すること、及び、
ME工程の前記シミュレーションを実行することは、以下を含む、
・ オプションの電子ツールパスの前記少なくとも1つのグループに対して、
・ 不活性化されたそれぞれのグループを取得するために、前記オプションの電子ツールパスの前記それぞれのグループを不活性化すること、
・ ME工程のシミュレーションを実行すること、
・ ME工程の前記シミュレーションの前記偏差が第2の所定の閾値よりも高いかどうかを確立すること、
・ 前記偏差が前記第2の所定の閾値よりも高いことを確立すると、前記不活性化されたそれぞれのグループを活性化すること。 - 前記ME工程のシミュレーションが、有限要素法を使用する熱機械シミュレーションを含む、請求項3から請求項12のいずれかに記載の方法。
- 前記製造工程は、ME工程に続く後処理工程をさらに含み、前記電子3Dモデルおよび前記製造工程の工程パラメーターに基づく前記制御命令の生成は、以下を含む請求項3から請求項13のいずれかに記載の方法。
・ 前記後処理工程のための後処理制御命令を生成すること、及び、
・ 時間的に前記製造工程のシミュレーションを実行することが、さらに、以下を含む、
・ MEシミュレーション結果と前記後処理制御命令を使用して、前記後処理工程のシミュレーションを実行すること。 - 前記後処理制御命令がアニーリング工程制御命令を含む、請求項14に記載の方法。
- 前記後処理工程のシミュレーションを実行することは、以下を含む請求項14または請求項15に記載の方法。
・ 複数の相互に異なる後処理命令のセットを確立すること、
・ 前記偏差が第3の所定の閾値を下回るまで繰り返すこと、
i.各繰り返しに対して、前記複数の相互に異なる後処理命令のセットの1つのセットを使用して、後処理工程の前記シミュレーションを実行する、
・ 前記偏差が前記第3の所定の閾値を下回ることを確立すると、好ましい後処理命令のセットを取得するために、前記1つの後処理命令のそれぞれのセットを選択すること、
・ 前記好ましい後処理命令のセットを含む前記少なくとも1つの適合された制御命令を確立すること。 - 時間的に前記製造工程のシミュレーションを実行することは、以下を含む請求項1から請求項16のいずれかに記載の方法。
・ 前記少なくとも1つの特性の前記偏差が第4の所定の閾値以下になるまで、以下を実行する、
i.前記シミュレーションからの前記適合された制御命令を使用して、少なくとも1回の反復サイクルにおける前記製造工程の前記シミュレーション、
ii.前記反復サイクルから前記適合を前記制御命令に適用すること。 - 3次元(3D)オブジェクトの製造工程に含まれる材料押出(ME)工程ために適合させた制御命令を生成するためのシステムであって、以下を含むシステム。
・ メモリおよびプログラム命令を備えたプロセッサ、
前記プロセッサは、
・ 請求項1から請求項17のいずれかに記載の方法のステップを実行するために配置される。 - 3D印刷材料押出(ME)工程を使用して3次元(3D)オブジェクトを製造するためのシステムであって、前記システムは、以下を含むシステム。
・ 3Dオブジェクトを作成するために、原材料を堆積させるための少なくとも1つのプリントヘッド、
・ 前記プリントヘッドに接続され、前記プリントヘッドを前記3Dオブジェクトに対して相対的に位置決めするように配置された、位置決めシステム、
・ 制御命令を取得し、前記制御命令を使用して前記位置決めシステムを制御するように構成された制御装置、
・ 前記システムは、請求項18に記載の3Dオブジェクトの製造工程に含まれる材料押出(ME)工程のために適合された制御命令を生成するためのシステム、をさらに含むこと、
・ 前記制御装置が、前記適合された制御命令を生成するための前記システムから適合された制御命令を取得するように構成されること。
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