JP6900204B2 - 試料の分析的検査のための試験要素分析システム - Google Patents
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Description
a)回路基板を提供すること;
b)カメラ担持要素を提供すること;
c)カメラをカメラ担持要素に接続すること;
d)カメラ担持要素を回路基板の後面側に接続すること
を含む。
− 少なくとも1つの回路基板であって、バーコードの方を向く前面側及びバーコードから離れる方を向く少なくとも1つの後面側を有し、ここでは、バーコードリーダの少なくとも1つの電子制御要素が回路基板に配置され、またここでは、回路基板が回路基板を通る少なくとも1つのキャビティを備える、少なくとも1つの回路基板と;
− 回路基板の後面側に配置される少なくとも1つのカメラ担持要素と;
− 少なくとも1つのカメラであって、カメラ担持要素に電気的に接続され、カメラ担持要素及びカメラが、キャビティを通してカメラによりバーコードを観測するように、配置される、少なくとも1つのカメラと
を備える。
実施形態1:特には体液である、試料の分析的検査のための試験要素分析システムであって、
− 試料を含む少なくとも1つの試験要素を位置決めするための少なくとも1つの試験要素ホルダ、及び、試験要素の測定ゾーンの変化を測定するための少なくとも1つの測定デバイス、を備える少なくとも1つの評価デバイスであって、この変化が、被分析物の、又は、試料のパラメータの、特性を示すものである、少なくとも1つの評価デバイスと;
− 試験要素上の少なくとも1つのバーコードを読み取るための少なくとも1つのバーコードリーダであって、
少なくとも1つの回路基板であって、試験要素ホルダ内に配置される試験要素のバーコードの方を向く前面側、及び、試験要素から離れる方を向く少なくとも1つの後面側を有し、バーコードリーダの少なくとも1つの電子制御要素が回路基板に配置され、回路基板が回路基板を通る少なくとも1つのキャビティを備える、少なくとも1つの回路基板;
回路基板の後面側に配置される少なくとも1つのカメラ担持要素;
少なくとも1つのカメラであって、カメラ担持要素に電気的に接続され、カメラ担持要素及びカメラが、キャビティを通してカメラによりバーコードを観測するような形で、配置される、少なくとも1つのカメラ
を備える、少なくとも1つのバーコードリーダと、
を備える、試験要素分析システム。
実施形態6:カメラ担持要素がカメラ担持要素キャビティを備え、カメラ担持要素が、完全に又は部分的にカメラ担持要素キャビティをキャビティの内部に位置させるか又は回路基板のキャビティに重ね合わせるような形で位置させるように、配置され、カメラがカメラ担持要素キャビティの内部に設置される、実施形態1から5のいずれか1つに記載の試験要素分析システム。
実施形態8:カメラ担持要素が、カメラ担持要素キャビティの内部に少なくとも1つの電気接点パッドを備え、カメラが電気接点パッドに電気的に接着される、実施形態5から7のいずれか1つに記載の試験要素分析システム。
実施形態12:試験要素ホルダが、試験要素の接触面と試験要素ホルダの接触面との間の電気接触を可能にする接触面を備える接触要素を含有する、実施形態1から11のいずれか1つに記載の試験要素分析システム。
実施形態15:試験要素分析システムが、被分析物又はパラメータの特徴を表すものである少なくとも1つの変化を呈することができる少なくとも1つの測定ゾーンを有する少なくとも1つの試験要素をさらに備え、試験要素が少なくとも1つのバーコードをさらに有する、実施形態1から14のいずれか1つに記載の試験要素分析システム。
実施形態17:バーコードが、試験の種類;バッチ番号又はロット番号;製造日付;有効期限;較正に関する情報、からなる群から選択される少なくとも1つの光学情報を担持する、実施形態15又は16に記載の試験要素分析システム。
実施形態19:試験要素が、体液の成分の凝固を活性化するように構成される少なくとも1つの試薬を含む、実施形態15から18のいずれか1つに記載の試験要素分析システム。
実施形態23:カメラ担持要素がカメラに電気的に接続される電気接点を備える、実施形態1から22のいずれか1つに記載の試験要素分析システム。
実施形態25:回路基板の電気接点が回路基板の後面側に位置し、回路基板が、前面側に配置される少なくとも1つの電子制御要素に回路基板の電気接点を電気的に接続する少なくとも1つのバイアを備える、実施形態24に記載の試験要素分析システム。
a)回路基板を提供すること;
b)カメラ担持要素を提供すること;
c)カメラをカメラ担持要素に接続すること;
d)カメラ担持要素を回路基板の後面側に接続すること
を含む、方法。
実施形態28:カメラ担持要素が回路基板の後面側に接着される、実施形態26又は27に記載の方法。
実施形態30:少なくとも1つのバーコードを読み取るためのバーコードリーダであって、
− 少なくとも1つの回路基板であって、バーコードの方を向く前面側と、バーコードから離れる方を向く少なくとも1つの後面側とを有し、ここでは、バーコードリーダの少なくとも1つの電子制御要素が回路基板に配置され、またここでは、回路基板が回路基板を通る少なくとも1つのキャビティを備える、少なくとも1つの回路基板と;
− 回路基板の後面側に配置される少なくとも1つのカメラ担持要素と;
− 少なくとも1つのカメラであって、カメラ担持要素に電気的に接続され、カメラ担持要素及びカメラが、キャビティを通してカメラによりバーコードを観測するように、配置される、少なくとも1つのカメラと
を備える、バーコードリーダ。
好適には従属請求項と併せた、好適な実施形態の以下の説明で、本発明の別の任意選択の特徴及び実施形態がより詳細に開示される。ここでは、当業者には理解されるように、それぞれの任意選択の特徴は単独でさらには任意の実現可能な組合せで実現され得る。本発明の範囲は好適な実施形態によって限定されない。実施形態が図に概略的に描かれる。ここでは、これらの図の同一の参照符号は同一の要素又は機能的に同等の要素を示す。
112 ストリップ形状の試験要素
114 試験ストリップ
116 電気化学試験要素
118 測定ゾーン
120 接触面
122 導電性経路
124 毛細管
126 入口
128 通気開口部
130 バーコード
132 二次元バーコード
134 データマトリックスコード
136 モジュール
138 カメラ担持要素
140 プリント回路基板
142 カメラ担持要素キャビティ
144 ブラインド孔
146 開口部
148 電気接点パッド
150 バーコードリーダ
152 回路基板
154 カメラ
156 前面側
158 後面側
160 試験要素ホルダ
162 キャビティ
164 貫通孔
166 電子制御要素
167 バーコード評価デバイス
168 集積カメラチップ
170 CCDカメラ
172 前面
174 試験要素分析システム
176 評価デバイス
178 測定デバイス
180 入れ物
182 接触要素
184 接触面
186 測定・評価電子機器
188 プリント回路基板
190 集積回路
Claims (15)
- 試料の分析的検査のための試験要素分析システム(174)であって、
前記試料を含む少なくとも1つの試験要素(110)を位置決めするための少なくとも1つの試験要素ホルダ(160)、及び、前記試験要素(110)の測定ゾーン(118)の変化を測定するための少なくとも1つの測定デバイス(178)、を備える少なくとも1つの評価デバイス(176)であって、前記変化が、被分析物の、又は、前記試料のパラメータの、特性を示すものである、少なくとも1つの評価デバイス(176)と、
前記試験要素(110)上の少なくとも1つのバーコード(130)を読み取るための少なくとも1つのバーコードリーダ(150)であって、
少なくとも1つの回路基板(152)であって、前記試験要素ホルダ(160)内に配置される前記試験要素(110)の前記バーコード(130)の方を向く前面側(156)、及び、前記試験要素(110)から離れる方を向く少なくとも1つの後面側(158)を有し、前記バーコードリーダ(150)の少なくとも1つの電子制御要素(166)が前記回路基板(152)に配置され、前記回路基板(152)が前記回路基板(152)を通る少なくとも1つのキャビティ(162)を備える、少なくとも1つの回路基板(152)、
前記回路基板(152)の前記後面側(158)に配置される少なくとも1つのカメラ担持要素(138)、並びに、
前記カメラ担持要素(138)に電気的に接続される、少なくとも1つのカメラ(154)
を備え、
前記カメラ担持要素(138)及び前記カメラ(154)が、前記キャビティ(162)を通して前記カメラ(154)により前記バーコード(130)を観測するような形で、配置される、少なくとも1つのバーコードリーダ(150)と
を備える、試験要素分析システム(174)。 - 前記カメラ担持要素(138)が、前記回路基板(152)の前記後面側(158)に接着されるか、前記回路基板(152)の前記後面側(158)に一体化されるか、又は、少なくとも1つのプラグ接続を介して前記回路基板(152)の前記後面側(158)に接続されるかのうちの1つである、請求項1に記載の試験要素分析システム(174)。
- 前記カメラ担持要素(138)が、前記カメラ(154)が電気的に接着される少なくとも1つの電気接点パッド(148)を有する少なくとも1つのプリント回路基板(140)を備える、請求項1又は2に記載の試験要素分析システム(174)。
- 前記回路基板(152)及び前記カメラ担持要素(138)がプリント回路基板であり、前記カメラ担持要素(138)の前記プリント回路基板(140)が前記回路基板(152)の前記後面側(158)に接着される、請求項1から3のいずれか一項に記載の試験要素分析システム(174)。
- 前記キャビティ(162)が前記回路基板(152)内にある貫通孔(164)である、請求項1から4のいずれか一項に記載の試験要素分析システム(174)。
- 前記カメラ担持要素(138)がカメラ担持要素キャビティ(142)を備え、前記カメラ担持要素(138)が、完全に又は部分的に前記カメラ担持要素キャビティ(142)を前記回路基板(152)の前記キャビティ(162)に重ね合わせるような形で位置させるように、配置され、前記カメラ(154)が前記カメラ担持要素キャビティ(142)の内部に設置される、請求項1から5のいずれか一項に記載の試験要素分析システム(174)。
- 前記カメラ担持要素(138)が、前記カメラ担持要素キャビティ(142)の内部に少なくとも1つの電気接点パッドを備え、前記カメラ(154)が前記カメラ担持要素(138)の前記電気接点パッド(148)に電気的に接着される、請求項6に記載の試験要素分析システム(174)。
- 前記カメラ(154)が前面(172)を備え、前記試験要素ホルダ(160)の内部にある前記試験要素(110)の前記バーコード(130)と前記回路基板(152)の前記前面側(156)との間の距離が、前記バーコード(130)と前記カメラ(154)の前記前面(172)との間の距離より小さい、請求項1から7のいずれか一項に記載の試験要素分析システム(174)。
- 前記バーコード(130)と前記カメラ(154)の前記前面(172)との間の距離が、少なくとも前記回路基板(152)の厚さの分だけ、前記バーコード(130)と前記回路基板(152)の前記前面側(156)との間の距離を超える、請求項8に記載の試験要素分析システム(174)。
- 前記試験要素ホルダ(160)が、前記試験要素を受け取るように構成される少なくとも1つの入れ物(180)を備え、前記バーコードリーダ(150)及び前記測定デバイス(178)が前記入れ物(180)の対向する側に位置する、請求項1から9のいずれか一項に記載の試験要素分析システム(174)。
- 前記被分析物の、又は、前記試料の前記パラメータの、特性を示すものである少なくとも1つの変化を呈することができる少なくとも1つの測定ゾーン(118)を有する少なくとも1つの試験要素(110)をさらに備え、前記試験要素(110)が少なくとも1つのバーコード(130)をさらに有する、請求項1から10のいずれか一項に記載の試験要素分析システム(174)。
- 前記バーコード(130)が、試験の種類、バッチ番号、ロット番号、製造日付、有効期限、較正に関する情報、からなる群から選択される少なくとも1つの光学情報を担持する、請求項11に記載の試験要素分析システム(174)。
- 前記バーコードリーダ(150)が、前記カメラ(154)によって提供される光学情報の、記録、記憶、評価、監視、のうちの少なくとも1つを行うように構成される少なくとも1つのバーコード評価デバイス(167)を備える、請求項1から12のいずれか一項に記載の試験要素分析システム(174)。
- 前記カメラ担持要素(138)が前記カメラ(154)に電気的に接続される電気接点を備え、前記カメラ担持要素(138)の電気接点が前記回路基板(152)の少なくとも1つの電気接点に電気的に接続され、前記回路基板(152)の前記電気接点が前記回路基板(152)の前記後面側(158)に位置し、前記回路基板(152)が、前記前面側(156)に配置される前記少なくとも1つの電子制御要素(166)に前記回路基板(152)の前記電気接点を電気的に接続する少なくとも1つのバイアを備える、請求項1から13のいずれか一項に記載の試験要素分析システム(174)。
- 請求項1から14のいずれか一項に記載の試験要素分析システム(174)を製造するための方法であって、
a)前記回路基板(152)を提供するステップと、
b)前記カメラ担持要素(138)を提供するステップと、
c)前記カメラ(154)を前記カメラ担持要素(138)に接続するステップと、
d)前記カメラ担持要素(138)を前記回路基板(152)の前記後面側(158)に接続するステップと
を含む、方法。
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