JP6890819B2 - マッピング方法および測定装置 - Google Patents
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Description
または、本発明に係るマッピング方法は、ある物理量を1つ以上のパラメータからなるパラメータ空間上の各点座標の条件で測定し、前記物理量の前記パラメータ空間上での分布を得るマッピング測定において、マッピング測定の途中に、コンピュータを利用して、それまでに測定した点の座標と物理量とを解析して前記物理量の分布を近似する応答曲面を取得した後、前記応答曲面の近似精度がより高まるように以降に測定する点の座標を決め、同一の対象に対して別に測定された別の物理量のマッピング測定データを利用して、前記応答曲面または前記測定する点の座標の少なくとも一方の補正を行なった後、測定を行なうことを特徴とする。
本発明の効果の検証は、太陽電池用シリコン結晶表面でのキャリアライフタイムのマッピング測定を例にとり、次の方法で行なった。すなわち本実施例では、シリコン結晶表面上の2次元空間座標をパラメータにとり、キャリアライフタイムを計測する物理量とした。
Claims (10)
- ある物理量を1つ以上のパラメータからなるパラメータ空間上の各点座標の条件で測定し、前記物理量の前記パラメータ空間上での分布を得るマッピング測定において、マッピング測定の途中に、コンピュータを利用して、それまでに測定した点の座標と物理量とを解析して前記物理量の分布を近似する応答曲面を取得した後、前記応答曲面の近似精度がより高まるように以降に測定する点の座標を決め、分布を求める物理量と同一座標で同時に測定される別の物理量とを利用して、前記応答曲面または前記測定する点の座標の少なくとも一方の補正を行なった後、測定を行なうことを特徴とするマッピング方法。
- ある物理量を1つ以上のパラメータからなるパラメータ空間上の各点座標の条件で測定し、前記物理量の前記パラメータ空間上での分布を得るマッピング測定において、マッピング測定の途中に、コンピュータを利用して、それまでに測定した点の座標と物理量とを解析して前記物理量の分布を近似する応答曲面を取得した後、前記応答曲面の近似精度がより高まるように以降に測定する点の座標を決め、同一の対象に対して別に測定された別の物理量のマッピング測定データを利用して、前記応答曲面または前記測定する点の座標の少なくとも一方の補正を行なった後、測定を行なうことを特徴とするマッピング方法。
- 前記応答曲面の取得に、次の群の少なくともひとつの方法を用いることを特徴とする請求項1または2記載のマッピング方法:
多項式近似、Radial Basis Function法、スプライン補間、ガウス過程回帰、Kriging法、ロジスティック回帰。 - 前記測定する点の座標の決定に、次の群のうち少なくともひとつを指標に用いることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のマッピング方法:
前記応答曲面上の物理量、前記応答曲面上の物理量の分散、前記応答曲面上の物理量の勾配、前記応答曲面上の物理量の曲率、測定点の座標間の距離、計測を行なう順番が連続する測定点の座標間の距離、前記物理量の目標値、異なる方法で取得した複数の応答曲面間の推定値の差。 - 前記測定する点の座標として、一度に複数の座標を求めることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載のマッピング方法。
- 前記物理量の計測、前記応答曲面の取得、前記測定する点の座標の決定を繰り返し、結果を逐次フィードバックすることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載のマッピング方法。
- あらかじめ測定してある別の対象の同じ物理量のマッピングデータをもとに、前記応答曲面または前記測定する点の座標の少なくとも一方の補正を行なうことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載のマッピング方法。
- 前記物理量が、次の群のいずれかであることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載のマッピング方法:
温度、湿度、濃度、風向、風速、圧力、カウント数、発生確率、密度、スペクトル、周波数、振幅、寿命、重量、サイズ、色、組成、流速、流量、粘度、硬度、弾性率、誘電率、磁場の強さ、電圧、電流、X線強度、電子線強度、拡散長、反射率、透過率、電気抵抗率、試料表面高さ、試料表面粗さ。 - 前記パラメータ空間を定義する座標軸の少なくともひとつが、次の群に含まれることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載のマッピング方法:
実空間軸、逆格子空間軸、エネルギー軸、運動量軸、温度軸、時間軸、周波数軸。 - 請求項1乃至9のいずれか1項に記載のマッピング方法を実行可能に構成されていることを特徴とする測定装置。
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JP2017032950A JP6890819B2 (ja) | 2017-02-24 | 2017-02-24 | マッピング方法および測定装置 |
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JP2017032950A JP6890819B2 (ja) | 2017-02-24 | 2017-02-24 | マッピング方法および測定装置 |
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