JP6861300B2 - Lighting equipment and its diagnostic method - Google Patents
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- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 title claims description 61
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 279
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 52
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 28
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 17
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 5
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 3
- 230000035939 shock Effects 0.000 claims 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 36
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 27
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 21
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 16
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 description 11
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 10
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 10
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 9
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 7
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 7
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000001839 endoscopy Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000006386 memory function Effects 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
Images
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-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B1/00—Instruments for performing medical examinations of the interior of cavities or tubes of the body by visual or photographical inspection, e.g. endoscopes; Illuminating arrangements therefor
- A61B1/06—Instruments for performing medical examinations of the interior of cavities or tubes of the body by visual or photographical inspection, e.g. endoscopes; Illuminating arrangements therefor with illuminating arrangements
- A61B1/0655—Control therefor
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B1/00—Instruments for performing medical examinations of the interior of cavities or tubes of the body by visual or photographical inspection, e.g. endoscopes; Illuminating arrangements therefor
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B1/00—Instruments for performing medical examinations of the interior of cavities or tubes of the body by visual or photographical inspection, e.g. endoscopes; Illuminating arrangements therefor
- A61B1/06—Instruments for performing medical examinations of the interior of cavities or tubes of the body by visual or photographical inspection, e.g. endoscopes; Illuminating arrangements therefor with illuminating arrangements
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21S—NON-PORTABLE LIGHTING DEVICES; SYSTEMS THEREOF; VEHICLE LIGHTING DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR VEHICLE EXTERIORS
- F21S2/00—Systems of lighting devices, not provided for in main groups F21S4/00 - F21S10/00 or F21S19/00, e.g. of modular construction
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Description
本発明は、照明装置に関する。 The present invention relates to a lighting device.
例えば日本国特許第4732783号は、ライトガイドと、ライトガイドの先端側に配置された蛍光体と、蛍光体を励起する励起光を射出する半導体レーザ光源と、励起光をライトガイドの後端へ集光する集光レンズとを備えた内視鏡用照明装置を開示している。 For example, Japanese Patent No. 4732783 describes a light guide, a phosphor arranged on the tip side of the light guide, a semiconductor laser light source that emits excitation light that excites the phosphor, and the excitation light to the rear end of the light guide. A lighting device for an endoscope provided with a condensing lens for condensing light is disclosed.
同文献はまた、内視鏡用照明装置を内蔵した内視鏡を有する内視鏡システムを開示している。 The document also discloses an endoscopic system having an endoscope with a built-in endoscopic illuminator.
本発明の目的は、故障の有無を診断する診断テストを効率良く行う照明装置および診断方法を提供することである。 An object of the present invention is to provide a lighting device and a diagnostic method for efficiently performing a diagnostic test for diagnosing the presence or absence of a failure.
本発明による照明装置は、照明光を出射する照明系と、衝撃を検知する衝撃センサと、前記衝撃センサにより検知された衝撃の情報を記憶するメモリと、前記メモリに記憶されている衝撃の情報に基づいて、前記照明系の故障の有無を診断する診断テストを行う光源コントローラとを有する。 The lighting device according to the present invention includes a lighting system that emits illumination light, an impact sensor that detects an impact, a memory that stores impact information detected by the impact sensor, and impact information stored in the memory. Based on the above, it has a light source controller that performs a diagnostic test for diagnosing the presence or absence of a failure of the lighting system.
本発明による診断方法は、照明光を出射する照明系と、衝撃を検知する衝撃センサと、前記衝撃センサにより検知された衝撃の情報を記憶するメモリとを有する照明装置の診断方法であり、前記メモリに記憶されている衝撃の情報に基づいて、前記照明系の故障の有無を診断する診断テストを行う。 The diagnostic method according to the present invention is a diagnostic method for a lighting device having an illumination system that emits illumination light, an impact sensor that detects an impact, and a memory that stores information on the impact detected by the impact sensor. Based on the impact information stored in the memory, a diagnostic test for diagnosing the presence or absence of a failure of the lighting system is performed.
本発明によれば、故障の有無を診断する診断テストを効率良く行う照明装置および診断方法が提供される。 According to the present invention, there is provided a lighting device and a diagnostic method for efficiently performing a diagnostic test for diagnosing the presence or absence of a failure.
図1は、実施形態に係る内視鏡システム100を示している。内視鏡システム100は、観察対象物を撮像する内視鏡110と、内視鏡110によって撮像された画像の処理等を行う制御装置160と、内視鏡110によって撮像された画像を表示するモニタ180を有している。
FIG. 1 shows the
内視鏡110は、ワイヤレス内視鏡で構成されており、内視鏡110と制御装置160の間の信号の送受信は無線で行われる。
The
内視鏡110は、観察対象物の管腔や管路等の空所に挿入される中空の細長い挿入部130と、挿入部130の基端側に連結された操作部120とを有している。
The
挿入部130は、先端に位置する先端硬質部132と、先端硬質部132の基端側に連結された湾曲部134と、湾曲部134の基端側に連結された可撓管部136とを有している。湾曲部134は、操作部120を操作することにより所望の方向に湾曲可能に構成されている。可撓管部136は、湾曲自在であり、例えば、観察対象物の管腔や管路等の形状に倣って湾曲可能である。
The
操作部120は、湾曲部134を湾曲させるための操作ダイヤル122を有している。操作部120には、内視鏡110の内部の電気部品(例えば、後述する照明装置200や撮像素子272、送信機274)に電力を供給するバッテリー124が装着される。
The
通常、バッテリー124は、内視鏡110が使用されていない間は、操作部120から外されており、次回の使用時に、操作部120に装着される。従って、内視鏡110が使用されていない間、内視鏡110には電力が供給されない。
Normally, the
ワイヤレスの内視鏡110は、ユニバーサルコードがないため、ユニバーサルコードに引っ張られることなく内視鏡110の姿勢や位置を変えることができることなどから、利便性に優れている。
Since the
図2は、図1に示された内視鏡システム100の機能ブロックを示している。図2に示されるように、内視鏡システム100は、前述したように、内視鏡110と制御装置160とモニタ180を有している。
FIG. 2 shows the functional blocks of the
内視鏡110は、照明装置200を内蔵している。照明装置200は、観察対象物を照明するための照明系210を有している。照明系210は、光源212と、結合レンズ214と、導光部材である光ファイバ216と、入射する光を照明光に変換する光変換素子218を有している。
The
光源212と結合レンズ214は、操作部120の内部に配置されている。光ファイバ216は、挿入部130の中を通って延びている。光変換素子218は、挿入部130の先端硬質部132の内部に配置されている。
The
光源212は、これに限らないが、本実施形態では、レーザ光源、例えばレーザダイオードで構成されている。結合レンズ214は、光源212から発せられた光を光ファイバ216に結合する。光ファイバ216は、入射した光を光変換素子218まで導光する。光変換素子218は、光ファイバ216から入射した光を、所望の品質を有する照明光に変換する。
The
所望の品質を有する照明光は、好ましくは、配光が広く、ほぼ一定した強度分布を有する光である。光変換素子218は、例えば、入射した光を拡散させる拡散体で構成される。光変換素子218はまた、入射した光を吸収して、入射した光の波長とは異なる波長の光を発する蛍光体で構成されてもよい。
The illumination light having the desired quality is preferably light having a wide light distribution and a substantially constant intensity distribution. The
内視鏡システム100は、観察対象物を撮像するための撮像系270を有している。撮像系270は、観察対象物からの光を受光して観察対象物の光学像の画像信号を出力する撮像素子272と、撮像素子272から出力される画像信号を無線で送信する送信機274と、送信機274から送信された画像信号を受信する受信機276と、受信機276によって受信された画像信号を処理する画像処理回路278を有している。
The
撮像素子272は、挿入部130の先端硬質部132の内部に配置されている。送信機274は、操作部120の内部に配置されている。受信機276と画像処理回路278は、制御装置160の内部に配置されている。ここでは、画像処理回路278が制御装置160の内部に配置されているが、画像処理回路278の一部が内視鏡110の内部に配置されてもよい。
The
内視鏡110の使用後から次回の使用時までの間に、例えば、内視鏡110の洗浄時等の非使用時に、作業者が取り扱いを誤って、内視鏡110を落下させて床に激突させたり、他の物体に衝突させたりしたために、内視鏡110が衝撃を受けた場合、照明装置200の照明系210が損傷することが考えられる。照明系210の光ファイバ216や光変換素子218が破損した場合、次回の使用時に、所望の品質を有する照明光が出射されない等の不具合が生じるおそれがある。
Between the use of the
これは、ワイヤレスの内視鏡110に限った話ではなく、ユニバーサルコードを有する通常の内視鏡においても言えることである。
This is not limited to the
所望の品質を有する照明光が出射されない等の事態を避けるため、照明装置200は、内視鏡システム100の起動時に、照明系210の故障の有無を診断し、照明系210に損傷がないことを確認した後に駆動するように構成されている。作業者が誤って内視鏡から手を離してしまった場合、ユニバーサルコードが無いワイヤレス内視鏡は、そのまま地面に落ちることがある。従って、ワイヤレス内視鏡は、照明系に損傷がないことを確認した後に駆動することがより重要である。
In order to avoid a situation in which illumination light having a desired quality is not emitted, the
照明装置200は、さらに、内視鏡110の非使用時の間に、言い換えれば、照明装置200が駆動されていない間に、内視鏡110が受けた衝撃を検知し、その検知結果に基づいて、照明系210の故障の有無を診断する診断テストの内容を変更するように構成されている。なお、照明装置200が駆動されていない間は、照明装置200に対する電力供給がない状態と言い換えてもよい。
The illuminating
このため、照明装置200は、衝撃を検知する衝撃センサ222と、衝撃センサ222によって検知された衝撃を記憶するメモリ224を有している。
Therefore, the
衝撃センサ222とメモリ224は、繰り返し使用できるように構成されている。衝撃センサ222とメモリ224は、例えば線材の断線のように部材の破損によって衝撃を検知したり情報を記憶したりする形態は含まない。
The
衝撃センサ222は、照明装置200が駆動されていない間に、言い換えれば、照明装置200が電力供給を受けていない間に、衝撃を検知するように構成されている。衝撃センサ222は、照明装置200が駆動されている間も、衝撃を検知するように構成されていてもよい。
The
衝撃センサ222は、例えば、光変換素子218の近くに配置されている。光変換素子218が破損したり脱落したりした場合、光ファイバ216から出射したレーザ光が、光変換素子218によって適切に変換されず、例えば、光変換素子218が拡散体である場合に、拡散体によって十分に拡散されず、そのために、所望の品質から外れたレーザ光が内視鏡110の挿入部130の先端から出射する可能性がある。つまり、光変換素子218は、所望の品質を有する照明光の出射にとって、重要な光学部品である。従って、光変換素子218の近くは、衝撃センサ222の配置個所として、適当と考えられる候補の一つである。
The
衝撃センサ222は、例えば、光ファイバ216の近くに配置されている。光ファイバ216が破損した場合、光ファイバ216から出射したレーザ光が、適切に導光されなくなり、場合によっては、内視鏡110の挿入部130の先端から出射する可能性がある。このように、光ファイバ216もまた、所望の品質を有する照明光の出射にとって、重要な光学部品である。従って、光ファイバ216の近くもまた、衝撃センサ222の配置個所として、適当と考えられる候補の一つである。
The
衝撃センサ222は、例えば、先端硬質部132の内部に配置されている。先端硬質部132は、内視鏡110の非使用時に、床や他の物体等に衝突することが多いと考えられる個所でもあり、また、衝突した場合に強い衝撃を受けやすいと考えられる個所である。従って、先端硬質部132の内部もまた、衝撃センサ222の配置個所として、適当と考えられる候補の一つである。
The
衝撃センサ222は、例えば、操作部120の内部に配置されている。操作部120は、内視鏡110が床に落下した場合に、強い衝撃を受けやすいと考えられる個所である。従って、操作部120の内部もまた、衝撃センサ222の配置個所として、適当と考えられる候補の一つである。
The
衝撃センサ222は、ここに述べた個所に限らず、安全な強度のレーザ光の出射にとって重要である他の光学部品の近くや強い衝撃を受けやすいと考えられる他の個所に配置されてもよい。
The
照明装置200は、ただ1つの衝撃センサ222を有していてもよいし、複数の衝撃センサ222を有していてもよい。複数の衝撃センサ222は、ここに述べた個所および/または他の個所に配置されてもよい。
The
衝撃センサ222は、例えば、単一の衝撃センシング素子で構成されている。単一の衝撃センシング素子は、例えば、複数軸たとえば3軸に沿った衝撃を検知するように構成されている。
The
あるいは、衝撃センサ222は、複数の衝撃センシング素子の複合体で構成されていてもよい。各衝撃センシング素子は、例えば、1軸に沿った衝撃を検知するように構成されている。この場合、衝撃センサ222は、互いに異なる軸に沿った衝撃を検知する3個の衝撃センシング素子を含んでいるとよい。あるいは、各衝撃センシング素子は、1方向の衝撃を検知するように構成されていてもよい。この場合、衝撃センサ222は、好ましくは、互いに異なる方向の衝撃を検知する6個の衝撃センシング素子を含んでいるとよい。
Alternatively, the
衝撃センサ222は、例えば、感度の異なる複数の衝撃センシング素子を有していてもよい。この場合、メモリ224は、複数の衝撃センシング素子によって検知された衝撃をそれぞれ記憶する複数の記憶素子を有している。
The
例えば、衝撃センサ222とメモリ224は共に、機械的素子によって構成されている。ここにおいて、機械的素子は、電気を利用することなく、機能する素子を意味している。すなわち、衝撃センサ222とメモリ224は、電気を利用することなく機能するように構成されている。すなわち、衝撃センサ222は、機械的なセンサで構成されている。また、メモリ224は、機械的なメモリで構成されている。
For example, both the
例えば、衝撃センサ222は、所定の大きさを超える衝撃を検知するように構成されている。これに応じて、メモリ224は、衝撃センサ222により検知された衝撃の履歴を記憶するように構成されている。
For example, the
衝撃センサ222とメモリ224は、例えば、一体に構成されている。言い換えれば、衝撃センサ222とメモリ224は、単一の機械的素子によって構成されている。このような機械的素子の具体例については、図8〜図12を参照しながら後述する。
The
あるいは、衝撃センサ222は、機械的素子で構成されており、メモリ224は、電気的素子によって構成されていてもよい。ここにおいて、電気的素子は、電気を利用して機能する素子を意味している。その具体例については、図13〜図20を参照しながら後述する。
Alternatively, the
照明装置200はまた、光源212を制御する光源コントローラ226を有している。光源コントローラ226は、例えば、予めプログラムされたソフトウェアに従って動作を行うマイコンや集積回路等によって構成されてよい。光源コントローラ226は、各種の駆動モードに従って光源212を制御するように構成されている。
The
駆動モードは、例えば、内視鏡システム100による観察対象物の観察のための照明光を出射する通常モードと、内視鏡システム100の起動時に照明系210の故障の有無を診断する診断テストのための照明光を出射する診断モードを含んでいる。
The drive mode is, for example, a normal mode in which illumination light for observing an object to be observed by the
光源コントローラ226は、例えば、安全のため、診断モードにおいては、通常モードにおいて光源212から発せられる光よりも弱い光である診断テストのための照明光が光源212から発せられるように、光源212を制御する。
For safety, for example, the
診断モードは、診断テストのために用意された複数のテスト項目に関して、診断テストにおいて実施または省略されるテスト項目に応じて、複数のテストモードを含んでいる。 The diagnostic mode includes a plurality of test modes for a plurality of test items prepared for the diagnostic test, depending on the test items performed or omitted in the diagnostic test.
複数のテストモードは、診断テストのために用意された複数のテスト項目に関して、すべてのテスト項目が実施される完全テストモードと、完全テストモードとは異なる非完全テストモードとに分けられる。非完全テストモードによる診断テストは、完全テストモードよる診断テストと比べて短時間で実施可能である。 The plurality of test modes are divided into a complete test mode in which all the test items are carried out with respect to a plurality of test items prepared for the diagnostic test, and a non-complete test mode different from the complete test mode. The diagnostic test in the non-complete test mode can be performed in a shorter time than the diagnostic test in the complete test mode.
非完全テストモードは、複数のテスト項目中の少なくともひとつのテスト項目の実施が省略され、複数のテスト項目中の残りのテスト項目が実施される簡易テストモードと、複数のテスト項目のいずれも実施されないテスト省略モードとを含んでいる。 The non-complete test mode omits the execution of at least one test item in multiple test items, and executes both the simple test mode in which the remaining test items in the multiple test items are executed and the multiple test items. Includes test skip mode and not.
簡易テストモードは、実施が省略されるテスト項目に応じて、様々なモードを含んでいる。 The simple test mode includes various modes depending on the test items for which implementation is omitted.
光源コントローラ226は、診断モードにおいては、メモリ224に記憶されている衝撃の情報に基づいて、複数のテストモードの中から1つのテストモードを選択し、選択したテストモードに従って光源212を駆動するように構成されている。
In the diagnostic mode, the
光源コントローラ226はまた、診断モードにおいては、撮像素子272から出力される画像信号に基づいて、照明系210の故障の有無を診断するように構成されている。
In the diagnostic mode, the
診断モードにおいては、照明系210から出射された照明光が、シャッタ242によって反射された後に撮像素子272に入射するようにするため、内視鏡110の挿入部130の先端にシャッタ242が設けられる。シャッタ242は、例えば、ホワイトバランスキャップで構成される。シャッタ242は、適度な反射率を有してさえいれば、どんな部材で構成されてもよい。
In the diagnostic mode, a
[内視鏡システム起動時の光源装置の動作]
次に、本実施形態に係る照明装置200の動作について説明する。図3は、内視鏡システム100の起動と、それに伴う照明装置200における処理のフローチャートを示している。図3の処理は、光源コントローラ226が主体となっておこなわれる。[Operation of the light source device when the endoscope system is started]
Next, the operation of the
図3のフローチャートは、内視鏡システム100の起動前の状態から、内視鏡システム100の起動時の診断を経て、照明装置200が、通常モードによる光源212の駆動に移るか、照明系210の故障を通知するまでを表している。
In the flowchart of FIG. 3, the
ステップS1において、内視鏡システム100が起動された後、ステップS2において、光源コントローラ226は、メモリ224に記憶されている衝撃の情報をチェックする。例えば、衝撃センサ222は、所定の大きさを超える衝撃を検知するように構成されており、メモリ224は、衝撃センサ222により検知された衝撃の履歴(衝撃が検知されたこと)を記憶するように構成されている。この場合、メモリ224に記憶されている衝撃の情報は、衝撃センサ222により検知された衝撃の履歴である。
After the
ステップS3において、光源コントローラ226は、メモリ224に記憶されている衝撃の履歴が、衝撃センサ222が衝撃を検知したことを示すか否かを判定する。衝撃の履歴が、衝撃センサ222が衝撃を検知したことを示すと判定された場合、処理はステップS4に移行する。反対に、衝撃の履歴が、衝撃センサ222が衝撃を検知しなかったことを示すと判定された場合、処理はステップS8に移行する。
In step S3, the
ステップS3において、衝撃の履歴が、衝撃センサ222が衝撃を検知したことを示すと判定された場合、ステップS4において、光源コントローラ226は、完全テストモードを選択し、完全テストモードに従って光源212を駆動するとともに、撮像素子272から出力される画像信号に基づいて、照明系210の故障の有無を診断する。完全テストモードによる診断を、便宜上、完全チェックと称する。
If the impact history is determined in step S3 to indicate that the
光源コントローラ226はまた、診断を行っている間、完全テストモードによる診断を行っていることを通知する。例えば、光源コントローラ226は、完全テストモードによる診断を行っていることを示すメッセージをモニタ180に表示させる。その後、処理はステップS5に移行する。
The
ステップS5において、光源コントローラ226は、照明系210に故障があるか否かを判定する。照明系210に故障がないと判定された場合、処理はステップS6に移行する。反対に、照明系210に故障があると判定された場合、処理はステップS10に移行する。
In step S5, the
ステップS5において、照明系210に故障がないと判定された場合、ステップS6において、光源コントローラ226は、メモリ224に記憶されている衝撃の情報、例えば、衝撃の履歴をリセットする。その後、処理はステップS7に移行する。
If it is determined in step S5 that there is no failure in the
ステップS7において、光源コントローラ226は、通常モードで光源212を駆動する。
In step S7, the
ステップS3において、衝撃の履歴が、衝撃センサ222が衝撃を検知しなかったことを示すと判定された場合、ステップS8において、光源コントローラ226は、非完全テストモードを選択し、非完全テストモードに従って光源212を駆動するとともに、撮像素子272から出力される画像信号に基づいて、照明系210の故障の有無を診断する。ここでは、光源コントローラ226は、非完全テストモードとして、簡易テストモードを選択して、照明系210の故障の有無を診断するものとする。簡易テストモードによる診断を、便宜上、簡易チェックと称する。
If the impact history is determined in step S3 to indicate that the
光源コントローラ226はまた、診断を行っている間、簡易テストモードによる診断を行っていることを通知する。例えば、光源コントローラ226は、簡易テストモードによる診断を行っていることを示すメッセージをモニタ180に表示させる。その後、処理はステップS9に移行する。
The
ステップS9において、光源コントローラ226は、照明系210に故障があるか否かを判定する。照明系210に故障がないと判定された場合、処理はステップS7に移行する。反対に、照明系210に故障があると判定された場合、処理はステップS10に移行する。
In step S9, the
ステップS5またはステップS9において、照明系210に故障があると判定された場合、ステップS10において、光源コントローラ226は、照明系210に故障があることを通知する。例えば、光源コントローラ226は、照明系210に故障があることを示すメッセージをモニタ180に表示させる。
If it is determined in step S5 or step S9 that the
[診断テストのテスト項目の一例]
図4は、完全テストモードによる診断において実施されるテスト項目の測定結果を示したグラフである。また、図5は、簡易テストモードによる診断において実施されるテスト項目の測定結果を示したグラフである。これらのグラフにおいて、横軸は、光源212に供給する電流の大きさを示しており、縦軸は、照明系210から出射する光の強度(輝度)、詳しくは、光変換素子218から放出されシャッタ242で反射され撮像素子272に入射する光の強度を示している。[Example of test items for diagnostic test]
FIG. 4 is a graph showing the measurement results of the test items performed in the diagnosis in the complete test mode. Further, FIG. 5 is a graph showing the measurement results of the test items performed in the diagnosis in the simple test mode. In these graphs, the horizontal axis represents the magnitude of the current supplied to the
完全テストモードにおいては、光源コントローラ226は、先ず、電流値I1の電流を光源212に供給し、撮像素子272から出力される画像信号に基づいて、電流値I1に対する光強度値P1を測定する。光強度値P1は、例えば、撮像素子272の各画素の出力信号の総和であってよい。次に、光源コントローラ226は、光源212に供給する電流の大きさを電流値I2に変更し、電流値I2に対する光強度値P2を測定する。以下、同様にして、光源コントローラ226は、電流値I3,I4,I5の電流の供給と、光強度値P3,P4,P5の測定を行う。In the complete test mode, the
その結果、図4に示されるように、5つの電流値I1〜I5のそれぞれに対する光強度値P1〜P5が得られる。光源コントローラ226は、5つの電流値I1〜I5に対する5つの光強度値P1〜P5のすべてが、それぞれの規格範囲S1〜S5内に納まっている場合、照明系210に故障はないと判断する。光源コントローラ226は、5つの電流値I1〜I5に対する5つの光強度値P1〜P5のいずれか1つでも、それぞれの規格範囲S1〜S5から外れている場合、照明系210に故障があると判断する。As a result, as shown in FIG. 4, light intensity values P 1 to P 5 for each of the five current values I 1 to I 5 are obtained. The
ここでは、便宜上、5つの電流値I1〜I5のすべてについて光強度値P1〜P5を測定した後に、5つの光強度値P1〜P5が、それぞれの規格範囲S1〜S5内に納まっているか否かを判定するとして説明したが、1つの電流値について光強度値を測定した時点で、測定した光強度値が規格範囲内に納まっているか否かを判定するようにしてもよい。この場合、測定した光強度値が規格範囲内に納まっていないことが判明した時点で、照明系210に故障があることを通知し、残りの電流値に対する光強度値の測定を省略してよい。このようにすることにより、照明系210に故障がある場合に、診断テストの所要時間の短縮が見込める。Here, for convenience, after measuring the light intensity values P 1 to P 5 for all of the five current values I 1 to I 5, the five light intensity values P 1 to P 5 are in the respective standard ranges S 1 to S. Although it was explained as determining whether or not it is within the range of 5, when the light intensity value is measured for one current value, it is determined whether or not the measured light intensity value is within the standard range. You may. In this case, when it is found that the measured light intensity value is not within the standard range, the
一方、簡易テストモードにおいては、光源コントローラ226は、電流値I5の電流を光源212に供給し、撮像素子272から出力される画像信号に基づいて、電流値I5に対する光強度値P5を測定する。その結果、図5に示されるように、1つの電流値I5に対する光強度値P5が得られる。光源コントローラ226は、光強度値P5が規格範囲S5内に納まっている場合、照明系210に故障はないと判断する。光源コントローラ226は、光強度値P5が規格範囲S5から外れている場合、照明系210に故障があると判断する。On the other hand, in the simple test mode, the
ここでは、簡易テストモードおいて、最も高い電流値I5に対する光強度値P5が測定されているが、電流値(確認点)は、これに限定されない。他の電流値I1〜I4のいずれかに対する光強度値が測定されてもよい。Here, keep simple test mode, the light intensity values P 5 for the highest current value I 5 are measured, the current value (check point) is not limited thereto. The light intensity value for any of the other current values I 1 to I 4 may be measured.
ここにおいて、1つの電流値に対する光強度値の測定と、測定した光強度値に基づく照明系210の故障の有無の判断を、1つのテスト項目とする。完全テストモードにおいては、5つのテスト項目を行い、簡易テストモードにおいては、1つのテスト項目を行う。
Here, the measurement of the light intensity value for one current value and the determination of the presence or absence of failure of the
これまでの説明から分かるように、本実施形態に係る照明装置200においては、内視鏡110が所定の大きさを超える衝撃を受けた、従って、照明系210に故障が生じたおそれがある場合には、すべてのテスト項目を実施する完全テストモードによる診断テスト、言い換えれば、照明系210の故障の有無を入念にチェックする診断テストが行われ、反対に、内視鏡110が所定の大きさを超える衝撃を受けていない、従って、照明系210に故障が生じたおそれが実質的にない場合には、少なくとも1つのテスト項目を省略してテスト項目を実施する簡易テストモードによる診断テスト、言い換えれば、所要時間の短い診断テスト、または、テスト項目をまったく実施しないテスト省略モードによる診断テスト、言い換えれば、診断テストそのものの省略が行われる。
As can be seen from the above description, in the
これにより、照明系210の故障の有無を診断する診断テストが効率良く行われる。つまり、内視鏡110が使用されていない間に、照明系210に故障が生じたおそれが実質的にない場合には、少なくとも1つのテスト項目の実施またはすべてのテスト項目の実施が省略されるため、診断テストに要する時間が短くて済む。
As a result, a diagnostic test for diagnosing the presence or absence of failure of the
ここに説明した、光源212に供給する電流に対する光変換素子218から放出される照明光の光強度(輝度)の測定は、テスト項目のほんの一例に過ぎない。また、完全テストモードと簡易テストモードの違いは、電流値の数の違いに限定されない。
The measurement of the light intensity (luminance) of the illumination light emitted from the
テスト項目は、例えば、(α)光源212に供給する電流に対する光変換素子218から放出される照明光の光強度(輝度)の測定、(β)光変換素子218から放出される照明光の色調の測定、(γ)光変換素子218から放出される照明光の輝度ムラの測定を含んでいる。
The test items are, for example, measurement of the light intensity (brightness) of the illumination light emitted from the
テスト項目(α)では、前述したように、光源212に供給する電流に対する光変換素子218から放出される照明光の強度(輝度)が測定される。輝度の測定は、撮像素子272から出力される画像信号に基づいて行われる。照明系210の故障の有無は、測定した輝度が予め定めた輝度の範囲(規格範囲)内に入っているか否かで判断される。
In the test item (α), as described above, the intensity (luminance) of the illumination light emitted from the
テスト項目(β)では、光変換素子218から放出される照明光の色調が測定される。色調の測定は、撮像素子272から出力される画像信号に基づいて行われる。照明系210の故障の有無は、測定した色調が予め定めた色調の範囲内に入っているか否かで判断される。
In the test item (β), the color tone of the illumination light emitted from the
テスト項目(γ)では、光変換素子218から放出される照明光の輝度ムラが測定される。輝度ムラの測定は、撮像素子272から出力される画像信号に基づいて行われる。照明系210の故障の有無は、測定した輝度ムラが予め定めた輝度ムラの範囲内に入っているか否かで判断される。
In the test item (γ), the brightness unevenness of the illumination light emitted from the
以下に、完全テストモードにおいて実施されるテスト項目と、簡易テストモードにおいて実施されるテスト項目の組み合わせ例を示す。 The following is an example of a combination of the test items carried out in the complete test mode and the test items carried out in the simple test mode.
[診断テストのテスト項目の例1]
完全テストモードにおいては、5つの電流値について、テスト項目(α)を行う。簡易テストモードにおいては、1つの電流値について、テスト項目(α)を行う。[Example of test items of diagnostic test 1]
In the complete test mode, the test item (α) is performed for the five current values. In the simple test mode, the test item (α) is performed for one current value.
1つの電流値についてのテスト項目(α)を1つのテスト項目とする。すなわち、完全テストモードにおいては、5つのテスト項目(α)を行い、簡易テストモードにおいては、1つのテスト項目(α)を行う。尚、テスト項目(α)の数は例示に過ぎず、完全テストモードのテスト項目(α)の数が簡易テストモードのテスト項目(α)の数より多ければよい。 Let the test item (α) for one current value be one test item. That is, in the complete test mode, five test items (α) are performed, and in the simple test mode, one test item (α) is performed. The number of test items (α) is merely an example, and it is sufficient that the number of test items (α) in the complete test mode is larger than the number of test items (α) in the simple test mode.
[診断テストのテスト項目の例2]
完全テストモードと簡易テストモードのいずれにおいても、テスト項目(α)を行う。完全テストモードにおける規格範囲と簡易テストモードにおける規格範囲は異なっている。詳しくは、簡易テストモードにおける規格範囲は、完全テストモードにおける規格範囲よりも広い。[Example 2 of test items of diagnostic test]
The test item (α) is performed in both the complete test mode and the simple test mode. The standard range in the complete test mode and the standard range in the simple test mode are different. Specifically, the standard range in the simple test mode is wider than the standard range in the complete test mode.
テスト項目(α)は、例えば1つの電流値について行う。もちろん、テスト項目(α)は、複数の電流値について行ってもよい。 The test item (α) is performed for, for example, one current value. Of course, the test item (α) may be performed for a plurality of current values.
[診断テストのテスト項目の例3]
完全テストモードにおいては、テスト項目(α)とテスト項目(β)を順に行う。簡易テストモードにおいては、テスト項目(α)だけを行う。[Example 3 of test items of diagnostic test]
In the complete test mode, the test item (α) and the test item (β) are performed in order. In the simple test mode, only the test item (α) is performed.
テスト項目(α)は、完全テストモードと簡易テストモードのいずれにおいても、例えば1つの電流値について行う。もちろん、テスト項目(α)は、複数の電流値について行ってもよい。さらには、完全テストモードにおいては、簡易テストモードにおける電流値よりも多くの電流値についてテスト項目(α)を行ってもよい。 The test item (α) is performed for, for example, one current value in both the complete test mode and the simple test mode. Of course, the test item (α) may be performed for a plurality of current values. Further, in the complete test mode, the test item (α) may be performed for a current value larger than the current value in the simple test mode.
完全テストモードにおいて、照明系210に故障があるか否かの判定は、テスト項目が完了する度に行う。テスト項目(α)を完了した時点で、照明系に故障があると判定された場合は、残りのテスト項目(β)を行うことなく、照明系210に故障があることを通知し、診断テストを終了する。
In the complete test mode, it is determined whether or not the
[診断テストのテスト項目の例4]
完全テストモードにおいては、テスト項目(α)とテスト項目(β)を順に行う。簡易テストモードにおいては、テスト項目(β)だけを行う。[Example 4 of test items of diagnostic test]
In the complete test mode, the test item (α) and the test item (β) are performed in order. In the simple test mode, only the test item (β) is performed.
テスト項目(α)は、例えば1つの電流値について行う。もちろん、テスト項目(α)は、複数の電流値について行ってもよい。 The test item (α) is performed for, for example, one current value. Of course, the test item (α) may be performed for a plurality of current values.
完全テストモードにおいて、照明系210に故障があるか否かの判定は、テスト項目が完了する度に行う。テスト項目(α)を完了した時点で、照明系に故障があると判定された場合は、テスト項目(β)を行うことなく、照明系210に故障があることを通知し、診断テストを終了する。
In the complete test mode, it is determined whether or not the
[診断テストのテスト項目の例5]
完全テストモードにおいては、テスト項目(α)とテスト項目(β)を順に行う。簡易テストモードにおいては、テスト項目(γ)を行う。[Example 5 of test items of diagnostic test]
In the complete test mode, the test item (α) and the test item (β) are performed in order. In the simple test mode, the test item (γ) is performed.
テスト項目(α)は、例えば1つの電流値について行う。もちろん、テスト項目(α)は、複数の電流値について行ってもよい。 The test item (α) is performed for, for example, one current value. Of course, the test item (α) may be performed for a plurality of current values.
完全テストモードにおいて、照明系210に故障があるか否かの判定は、テスト項目が完了する度に行う。テスト項目(α)を完了した時点で、照明系に故障があると判定された場合は、テスト項目(β)を行うことなく、照明系210に故障があることを通知し、診断テストを終了する。
In the complete test mode, it is determined whether or not the
[診断テストのテスト項目の例6]
完全テストモードにおいては、テスト項目(α)とテスト項目(γ)を順に行う。簡易テストモードにおいては、テスト項目(γ)だけを行う。[Example of test items of diagnostic test 6]
In the complete test mode, the test item (α) and the test item (γ) are performed in order. In the simple test mode, only the test item (γ) is performed.
テスト項目(α)は、例えば1つの電流値について行う。もちろん、テスト項目(α)は、複数の電流値について行ってもよい。 The test item (α) is performed for, for example, one current value. Of course, the test item (α) may be performed for a plurality of current values.
完全テストモードにおいて、照明系210に故障があるか否かの判定は、テスト項目が完了する度に行う。テスト項目(α)を完了した時点で、照明系に故障があると判定された場合は、テスト項目(γ)を行うことなく、照明系210に故障があることを通知し、診断テストを終了する。
In the complete test mode, it is determined whether or not the
[診断テストのテスト項目の例7]
テスト項目(β)の所要時間は、テスト項目(α)の所要時間よりも短いと仮定した場合について述べる。[Example of test items of diagnostic test 7]
The case where the time required for the test item (β) is assumed to be shorter than the time required for the test item (α) will be described.
完全テストモードにおいては、テスト項目(β)とテスト項目(α)を順に行う。簡易テストモードにおいては、テスト項目(α)又はテスト項目(β)の一方だけを行う。尚、簡易テストモードではテスト項目(β)を実施した方が、簡易チェックの所要時間をより短縮する観点では好ましい。 In the complete test mode, the test item (β) and the test item (α) are performed in order. In the simple test mode, only one of the test item (α) or the test item (β) is performed. In the simple test mode, it is preferable to carry out the test item (β) from the viewpoint of further shortening the time required for the simple check.
テスト項目(α)は、例えば1つの電流値について行う。もちろん、テスト項目(α)は、複数の電流値について行ってもよい。 The test item (α) is performed for, for example, one current value. Of course, the test item (α) may be performed for a plurality of current values.
完全テストモードにおいて、照明系210に故障があるか否かの判定は、テスト項目が完了する度に行う。テスト項目(β)を完了した時点で、照明系210に故障があると判定された場合は、テスト項目(α)を行うことなく、照明系210に故障があることを通知し、診断テストを終了する。これにより、照明系210に故障がある場合に、そのことをより早く通知し、診断テストをより早く終了できる。
In the complete test mode, it is determined whether or not the
[診断テストのテスト項目の例8]
テスト項目(α)の所要時間は、テスト項目(β)の所要時間よりも短いと仮定した場合について述べる。[Example of test items of diagnostic test 8]
The case where the time required for the test item (α) is assumed to be shorter than the time required for the test item (β) will be described.
完全テストモードにおいては、テスト項目(α)とテスト項目(β)を順に行う。簡易テストモードにおいては、テスト項目(α)又はテスト項目(β)の一方だけを行う。尚、簡易テストモードではテスト項目(α)を実施した方が、簡易チェックの所要時間をより短縮する観点では好ましい。 In the complete test mode, the test item (α) and the test item (β) are performed in order. In the simple test mode, only one of the test item (α) or the test item (β) is performed. In the simple test mode, it is preferable to carry out the test item (α) from the viewpoint of further shortening the time required for the simple check.
テスト項目(α)は、例えば1つの電流値について行う。もちろん、テスト項目(β)は、複数の電流値について行ってもよい。 The test item (α) is performed for, for example, one current value. Of course, the test item (β) may be performed for a plurality of current values.
完全テストモードにおいて、照明系210に故障があるか否かの判定は、テスト項目が完了する度に行う。テスト項目(α)を完了した時点で、照明系に故障があると判定された場合は、テスト項目(β)を行うことなく、照明系210に故障があることを通知し、診断テストを終了する。これにより、照明系210に故障がある場合に、そのことをより早く通知し、診断テストをより早く終了できる。
In the complete test mode, it is determined whether or not the
[診断テストのテスト項目の例9]
衝撃センサ222は、高感度の第1の衝撃センシング素子と、低感度の第2の衝撃センシング素子を有している。メモリ224は、第1の衝撃センシング素子によって検知された衝撃を記憶する第1の記憶素子と、第2の衝撃センシング素子によって検知された衝撃を記憶する第2の記憶素子を有している。簡易テストモードは、第1の簡易テストモードと第2の簡易テストモードを有している。[Example of test items of diagnostic test 9]
The
光源コントローラ226は、第1の記憶素子と第2の記憶素子に記憶されている衝撃の情報に基づいてテストモードを選択する。例えば、光源コントローラ226は、第1の記憶素子に記憶されている衝撃の情報が、第1の衝撃センシング素子が衝撃を検知したことを示し、かつ、第2の記憶素子に記憶されている衝撃の情報が、第2の衝撃センシング素子が衝撃を検知したことを示す場合、完全テストモードを選択する。
The
また、光源コントローラ226は、第1の記憶素子に記憶されている衝撃の情報が、第1の衝撃センシング素子が衝撃を検知したことを示し、かつ、第2の記憶素子に記憶されている衝撃の情報が、第2の衝撃センシング素子が衝撃を検知しなかったことを示す場合、第1の簡易テストモードを選択する。
Further, the
また、光源コントローラ226は、第1の記憶素子に記憶されている衝撃の情報が、第1の衝撃センシング素子が衝撃を検知しなかったことを示し、かつ、第2の記憶素子に記憶されている衝撃の情報が、第2の衝撃センシング素子が衝撃を検知しなかったことを示す場合、第2の簡易テストモードを選択する。
Further, the
完全テストモードにおいては、5つの電流値について、テスト項目(α)を行う。言い換えれば、完全テストモードにおいては、電流値を変えて、5つのテスト項目(α)を行う。第1の簡易テストモードにおいては、3つの電流値について、テスト項目(α)を行う。言い換えれば、第1の簡易テストモードにおいては、電流値を変えて、3つのテスト項目(α)を行う。第2の簡易テストモードにおいては、1つの電流値について、テスト項目(α)を行う。言い換えれば、第2の簡易テストモードにおいては、1つのテスト項目(α)を行う。 In the complete test mode, the test item (α) is performed for the five current values. In other words, in the complete test mode, five test items (α) are performed by changing the current value. In the first simple test mode, a test item (α) is performed for three current values. In other words, in the first simple test mode, three test items (α) are performed by changing the current value. In the second simple test mode, the test item (α) is performed for one current value. In other words, in the second simple test mode, one test item (α) is performed.
[診断テストのテスト項目の例10]
簡易テストモードは、第1の簡易テストモードと第2の簡易テストモードを有している。衝撃センサ222とメモリ224の構成は、例9の場合と同様である。第1の簡易テストモードと第2の簡易テストモードの選択の仕方も、例9の場合と同様である。[Example 10 of test items of diagnostic test]
The simple test mode has a first simple test mode and a second simple test mode. The configuration of the
完全テストモードにおいては、テスト項目(β)とテスト項目(α)とテスト項目(γ)を順に行う。第1の簡易テストモードにおいては、テスト項目(α)とテスト項目(γ)を順に行う。第2の簡易テストモードにおいては、テスト項目(α)だけ行う。 In the complete test mode, the test item (β), the test item (α), and the test item (γ) are performed in order. In the first simple test mode, the test item (α) and the test item (γ) are performed in order. In the second simple test mode, only the test item (α) is performed.
テスト項目(β)の所要時間は、テスト項目(α)の所要時間よりも短い。テスト項目(α)の所要時間は、テスト項目(γ)の所要時間よりも短い。つまり、完全テストモードと第1の簡易テストモードにおいては、所要時間の短いテスト項目を先に行い、所要時間の長いテスト項目を後で行う。 The time required for the test item (β) is shorter than the time required for the test item (α). The time required for the test item (α) is shorter than the time required for the test item (γ). That is, in the complete test mode and the first simple test mode, the test item having a short required time is performed first, and the test item having a long required time is performed later.
テスト項目(α)は、例えば1つの電流値について行う。もちろん、テスト項目(β)は、複数の電流値について行ってもよい。 The test item (α) is performed for, for example, one current value. Of course, the test item (β) may be performed for a plurality of current values.
完全テストモードにおいて、テスト項目(β)を完了した時点で、照明系に故障があると判定された場合は、残りのテスト項目(α)とテスト項目(γ)を行うことなく、照明系210に故障があることを通知し、診断テストを終了する。また、完全テストモードと第1の簡易テストモードにおいて、テスト項目(α)を完了した時点で、照明系に故障があると判定された場合は、残りのテスト項目(γ)を行うことなく、照明系210に故障があることを通知し、診断テストを終了する。
In the complete test mode, if it is determined that there is a failure in the lighting system when the test item (β) is completed, the
[診断テストのテスト項目の例11]
簡易テストモードにおけるテスト項目(α)において、照明系210の故障の有無は、測定した輝度が予め定めた輝度の範囲(規格範囲)内に入っているか否かで判断される代わりに、内視鏡110の前回の使用時に測定した輝度と比較することにより判断されてもよい。[Example of test items of diagnostic test 11]
In the test item (α) in the simple test mode, the presence or absence of failure of the
図6と図7は、図5と同様のグラフであり、このような簡易テストモードにおいて、光源212に供給する電流に対する照明系210から出射する照明光の輝度を測定するテスト項目(α)を示したグラフである。グラフにおいて、Ppは、前回測定した輝度値を示し、Pnは、今回測定した輝度値を示し、Saは、輝度値Pp,Pnに対する規格範囲を示し、Sbは、輝度値Pp,Pnの差分(Pn−Pp)に対する規格範囲を示し、Scは、輝度値Pp,Pnに対する最低規格範囲を示している。6 and 7 are graphs similar to FIG. 5, and in such a simple test mode, a test item (α) for measuring the brightness of the illumination light emitted from the
光源コントローラ226は、前回測定した輝度値を記憶している。光源コントローラ226は、光源212に電流を供給し、撮像素子272から出力される画像信号に基づいて、その電流値に対する輝度値Pnを測定する。次に、光源コントローラ226は、今回測定した輝度値Pnと前回測定した輝度値Ppの差分(Pn−Pp)を求める。続いて、光源コントローラ226は、差分(Pn−Pp)を規格範囲Sbと比較する。The
図6に示されるように、今回測定した輝度値Pnが、規格範囲Saから外れている場合であっても、差分(Pn−Pp)が、規格範囲Sb内に納まっている場合には、光源コントローラ226は、照明系210に故障はないと判断する。反対に、差分(Pn−Pp)が、規格範囲Sbから外れている場合には、光源コントローラ226は、照明系210に故障があると判断する。As shown in FIG. 6, even when the luminance value P n measured this time is out of the standard range S a , the difference (P n − P p ) is within the standard range S b. In this case, the
しかし、図7に示されるように、今回測定した輝度値Pnは、規格範囲Saから外れているが、差分(Pn−Pp)は、規格範囲Sb内に納まっている場合であっても、今回測定した輝度値Pnが、最低規格範囲Scから外れている場合には、光源コントローラ226は、照明系210に故障があると判断する。なお、最低規格範囲Scは、照明系210から出射する照明光の輝度が最低限満たしていなければならない規格範囲である。However, as shown in FIG. 7, the luminance value P n measured this time is out of the standard range S a, but the difference (P n − P p ) is within the standard range S b. even, the brightness value P n measured this time, if they deviate from the lowest standard range S c, the
[衝撃センサ222とメモリ224の構成例1]
衝撃センサ222とメモリ224のひとつの構成例について図8〜図10を参照しながら説明する。図8は、衝撃センサ222の機能とメモリ224の機能とを有する複合衝撃センサ300を示している。図9は、図8に示された衝撃センシング素子310を分解して示している。図10は、衝撃を受ける前後における図8に示された衝撃センシング素子310の断面を示している。[Structure example 1 of
An example of one configuration of the
複合衝撃センサ300は、1方向の衝撃を感知して記憶する衝撃センシング素子310を有している。衝撃センシング素子310は、機械的素子で構成されている。衝撃センシング素子310は、固定子312と、可動子314を有している。固定子312と可動子314は共に、絶縁体で構成されている。固定子312は、衝撃センシング素子310が内視鏡110に設置された状態において、内視鏡110に固定されている。可動子314は、固定子312の端部に装着されている。以下では、可動子314が装着された側の端部を先端部、その反対側の端部を基端部と称する。
The
例えば、固定子312は円筒形状に形作られており、可動子314は有底円筒形状に形作られている。言い換えれば、可動子314は凹部を有している。固定子312と可動子314を有する衝撃センシング素子310は、これに限らないが、例えば、100μm程度の直径を有し、数mm程度の長さを有している。固定子312と可動子314の形状は単なる一例であり、これに限定されるものではなく、ここに述べている機能を有してさえいれば、他の形状に形作られていても一向に構わない。
For example, the
固定子312と可動子314は、互いに嵌め合わさるように形成されている。可動子314は、固定子312に対して適度な摩擦抵抗をもって、固定子312に保持されており、固定子312の軸に沿って、より詳しくは、先端部から基端部の方向に、固定子312が所定の大きさを超える衝撃を受けたときに、固定子312に対して移動するように構成されている。
The
固定子312と可動子314は、好ましくは、可動子314が固定子312から完全に抜けないように構成されている。また、固定子312と可動子314は、好ましくは、固定子312から離れる方向に比べて固定子312に近づく方向には可動子314が移動し難いように構成されている。このような調整は、例えば、固定子312と可動子314が互いに接する面に対する表面加工によって行われる。
The
固定子312は、一対の固定子電極322を有している。一対の固定子電極322は、先端部の端面に、互いに離して設けられている。一対の固定子電極322には一対の配線324がそれぞれ接続されている。配線324は、固定子312の内部空間を通って、基端部から延びている。配線324は、検出回路328に接続されている。検出回路328は、一対の配線324の間に電圧を印加し、配線324に流れる電流を検知するように構成されている。検出回路328は、光源コントローラ226に含まれている。言い換えれば、光源コントローラ226は、検出回路328を含んでいる。
The
可動子314は、可動子電極326を有している。可動子電極326は、リング形状に形作られている。可動子電極326は、可動子314が固定子312に装着されたときに固定子312の端面に向かい合うように、可動子314の凹部の底面に設けられている。
The
可動子314には、ワイヤ342の一方の端部が連結されている。ワイヤ342は、固定子312の内部空間を通って、基端部から延びている。ワイヤ342の他方の端部は、ワイヤ巻き取り器344に連結されている。ワイヤ巻き取り器344は、必要に応じて、ワイヤ342を巻き取れるように構成されている。ワイヤ巻き取り器344によるワイヤ342の巻き取りは、可動子314を固定子312に近づける力を可動子314に与える。ワイヤ巻き取り器344は、これに限らないが、例えば、操作部120の内部に設けられている。ワイヤ342は、内視鏡110との親和性が良い。
One end of the
内視鏡110の使用終了後、ワイヤ巻き取り器344によってワイヤ342が適度な力で巻き取られる。これにより、固定子312に向かう方向の力が可動子314に与えられる。可動子314が固定子312から離れている場合には、可動子314が固定子312に近づき、図10の左側に示されるように、可動子314が固定子312に当接する。
After the use of the
ここで、適度な力は、可動子314を移動させるに十分な大きさを有しているが、可動子314とワイヤ342の構造体に損傷を与えるほどの大きさは有していない力を意味している。また、可動子314が固定子312に当接するとは、より正確には、可動子314の凹部の底面に設けられた可動子電極326が、固定子312の先端部の端面に設けられた固定子電極322に当接することを意味している。また、可動子314が固定子312から離れているとは、可動子314の凹部の底面に設けられた可動子電極326と、固定子312の先端部の端面に設けられた固定子電極322との間に隙間があることを意味している。
Here, the moderate force has a force sufficient to move the
ワイヤ巻き取り器344によるワイヤ342の巻き取りは、例えば、照明装置200の駆動終了時に、光源コントローラ226がワイヤ巻き取り器344を駆動させることにより行われる。
Winding of the
その後、ワイヤ巻き取り器344によってワイヤ342が送り出されて、ワイヤ342が緩められる。ワイヤ342が緩められた状態では、可動子314は固定子312に保持された状態に維持され、衝撃による固定子312に対する可動子314の移動はワイヤ342によって妨げられない。言い換えれば、ワイヤ342は、衝撃による可動子314の移動を妨げない程度に緩められる。
After that, the
可動子314が固定子312に当接した状態では、固定子312の一対の固定子電極322は、可動子314の可動子電極326を介して、互いに電気的に接続されている。従って、一対の固定子電極322に接続された一対の配線324は、互いに導通している。
In a state where the
固定子312を保持している内視鏡110が、固定子312の先端部から基端部の方向に、衝撃を受けた場合、固定子312は内視鏡110と一緒に移動するが、可動子314は慣性によって元の位置に留まろうとする。その結果、図10の右側に示されるように、可動子314が固定子312から離れる。可動子314が固定子312から離れている状態では、固定子312の一対の固定子電極322が、可動子314の可動子電極326から離れているため、一対の配線324は、互いに導通していない。
When the
内視鏡110の使用に先立ち、例えば、照明装置200の駆動開始時に、光源コントローラ226内の検出回路328は、一対の配線324の間に電圧を印加し、配線324に流れる電流を調べる。可動子314が固定子312に当接した状態であれば、検出回路328は配線324に流れる電流を検知し、可動子314が固定子312から離れている状態であれば、検出回路328は配線324に流れる電流を検知しない。
Prior to the use of the
このような検出回路328の検知結果に基づき、光源コントローラ226は、検出回路328が電流を検知した場合には、内視鏡110の非使用時の間に、衝撃センシング素子310、ひいては内視鏡110は、所定の大きさを超える衝撃を受けなかったと判断し、反対に、検出回路328が電流を検知しなかった場合には、内視鏡110の非使用時の間に、衝撃センシング素子310、ひいては内視鏡110は、所定の大きさを超える衝撃を受けたと判断する。続いて、光源コントローラ226は、この判断結果に基づいて、診断モードのテストモードを選択する。
Based on the detection result of such a
このように、衝撃センシング素子310は、固定子312に対する可動子314の移動というかたちで衝撃を機械的に感知し、固定子312と可動子314が当接状態にあるか否かというかたちで衝撃の有無を機械的に記憶している。
In this way, the
衝撃センシング素子310の感度は、言い換えれば、固定子312に対する可動子314の移動を誘発する最小の衝撃すなわち前述した所定の大きさの衝撃は、例えば、可動子314の質量や、固定子312と可動子314の間の摩擦抵抗、可動子314が固定子312に当接した際に可動子314が固定子312に重なる部分の長さL等を設計することによって調整される。
The sensitivity of the
前述した[診断テストのテスト項目の例9]における高感度の第1の衝撃センシング素子と低感度の第2の衝撃センシング素子は、例えば、可動子314の質量や、固定子312と可動子314の間の摩擦抵抗、固定子312に当接した可動子314が固定子312に重なる部分の長さL等を変えて、衝撃センシング素子310を作製することにより提供される。
The high-sensitivity first impact sensing element and the low-sensitivity second impact sensing element in the above-mentioned [Example 9 of test items of the diagnostic test] are, for example, the mass of the
衝撃センシング素子310は、例えば、内視鏡110の洗浄時等に誤って衝撃を与えてしまうおそれが高い部分に、衝撃を受ける可能性の高い方向に固定子312の向きを合わせて設置されるとよい。
The
あるいは、複数の衝撃センシング素子310が、互いに異なる方向に向けて、設置されてもよい。例えば、6個の衝撃センシング素子310が、互いに直交する3本の軸に沿って、正方向と負方向に合わせて設置されてよい。
Alternatively, the plurality of
[衝撃センサ222とメモリ224の構成例2]
衝撃センサ222とメモリ224の別の構成例について図11と図12を参照しながら説明する。図11は、衝撃センサ222の機能とメモリ224の機能とを有する衝撃センシング素子410を示している。図12は、衝撃を受ける前後における図11に示された弾性部材442と弾性部材444と可動子452を示している。[Structure example 2 of
Another configuration example of the
衝撃センシング素子410は、1軸に沿った衝撃を感知して記憶する機械的素子である。衝撃センシング素子410は、箱状の固定子420を有している。箱状の固定子420は、これに限らないが、例えば、20mm×20mm×10mmの大きさを有している。固定子420は、衝撃センシング素子410が内視鏡110に設置された状態において、内視鏡110に固定されている。
The
固定子420は、底板422と天板424と側板426と側板428と裏板430と前板432を有している。ここで、「底板」、「天板」、「側板」、「裏板」、「前板」との名称は、図11に示された姿勢に従って便宜的に称したものであり、特別な意味を有してはいない。
The
底板422と天板424は、側板426と側板428によって、間隔をおいて連結されている。裏板430と前板432は、底板422と天板424と側板426と側板428によって形成された枠状の構造体の開口を塞いでいる。底板422と天板424と側板426と側板428と裏板430と前板432は、外部から遮断された内部空間を規定している。
The
固定子420は、直方体の箱状に形作られているが、直方体の箱状は、単なる一例であり、固定子420は、これに限定されるものではなく、他の形状に形作られていても一向に構わない。
The
底板422には、弾性部材442が固定されており、天板424には、弾性部材444が固定されている。弾性部材442は、底板422から内側に向かって延びており、弾性部材444は、天板424から内側に向かって延びている。弾性部材442と弾性部材444は、1本の軸に沿って延びており、互いに当接し、互いに押し合っている。
An
弾性部材442と弾性部材444は共に、導電性を有している。弾性部材442と弾性部材444は、検出回路446に接続されている。検出回路446は、弾性部材442と弾性部材444の間に電圧を印加し、弾性部材442と弾性部材444に流れる電流を検知するように構成されている。検出回路446は、光源コントローラ226に含まれている。言い換えれば、光源コントローラ226は、検出回路446を含んでいる。
Both the
衝撃センシング素子410はまた、固定子420の内部に配置された可動子452を有している。可動子452は、可動子支持棒454の一方の端部に固定されている。可動子支持棒454の他方の端部は、回転棒456に固定されている。回転棒456は、底板422と天板424の間に延びており、回転可能に支持されている。回転棒456の一方の端部は、回転アクチュエータ458に連結されている。回転アクチュエータ458は、必要に応じて、回転棒456を正逆方向に回転させられるように構成されている。回転アクチュエータ458による回転棒456の回転は、回転棒456を軸として、可動子支持棒454を旋回させ、これにより、可動子452を円弧に沿って移動させる。
The
可動子452は、絶縁体で構成されている。可動子452は、衝撃の検知の準備段階において、例えば、内視鏡110の使用終了後に、回転アクチュエータ458によって、図12の左側に示されるように、弾性部材442と弾性部材444の間に配置される。
The
可動子452が弾性部材442と弾性部材444の間に配置されていない場合、回転アクチュエータ458によって可動子支持棒454が旋回されて、可動子452が移動され、可動子452は、弾性部材442と弾性部材444の復元力に抗して弾性部材442と弾性部材444を変形させて、弾性部材442と弾性部材444の間に挿入され配置される。
When the
弾性部材442と弾性部材444の間への可動子452の配置は、例えば、照明装置200の駆動終了時に、光源コントローラ226が回転アクチュエータ458を駆動させることにより行われる。回転アクチュエータ458は、例えば、エンコーダを内蔵していて、回転棒456の回転角度を検知する角度検知機能を有しており、この角度検知機能を利用して、弾性部材442と弾性部材444の間への可動子452の配置の制御が行われる。
The arrangement of the
弾性部材442と弾性部材444の間に可動子452の配置された状態では、導電性の弾性部材442と弾性部材444の電気的接続は、絶縁性の可動子452によって遮断されている。従って、弾性部材442と弾性部材444は、互いに導通していない。
In the state where the
固定子420を保持している内視鏡110が、例えば、弾性部材442と弾性部材444の軸と可動子支持棒454の軸の両方に直交した軸に沿って、衝撃を受けた場合、固定子420は内視鏡110と一緒に移動するが、可動子452は慣性によって元の位置に留まろうとする。その結果、図12の右側に示されるように、可動子452が弾性部材442と弾性部材444の間から外れる。可動子452が弾性部材442と弾性部材444の間から外れた状態では、弾性部材442と弾性部材444は、互いに当接しており、互いに導通している。
When the
内視鏡110の使用に先立ち、例えば、照明装置200の駆動開始時に、光源コントローラ226内の検出回路446は、弾性部材442と弾性部材444の間に電圧を印加し、弾性部材442と弾性部材444に流れる電流を調べる。弾性部材442と弾性部材444の間に可動子452が配置されている状態であれば、検出回路446は、弾性部材442と弾性部材444に流れる電流を検知せず、弾性部材442と弾性部材444の間から可動子452が外れた状態であれば、検出回路446は、弾性部材442と弾性部材444に流れる電流を検知する。
Prior to the use of the
このような検出回路446の検知結果に基づき、光源コントローラ226は、検出回路446が電流を検知しなかった場合には、内視鏡110の非使用時の間に、衝撃センシング素子410、ひいては内視鏡110は、所定の大きさを超える衝撃を受けなかったと判断し、反対に、検出回路446が電流を検知した場合には、内視鏡110の非使用時の間に、衝撃センシング素子410、ひいては内視鏡110は、所定の大きさを超える衝撃を受けたと判断する。続いて、光源コントローラ226は、この判断結果に基づいて、診断モードのテストモードを選択する。
Based on the detection result of the
このように、衝撃センシング素子410は、弾性部材442と弾性部材444の間からの可動子452の外れというかたちで衝撃を機械的に感知し、弾性部材442と弾性部材444が当接状態にあるか否かというかたちで衝撃の有無を機械的に記憶している。
In this way, the
衝撃センシング素子410の感度は、言い換えれば、弾性部材442と弾性部材444の間からの可動子452の外れを誘発する最小の衝撃すなわち前述した所定の大きさの衝撃は、例えば、弾性部材442と弾性部材444と可動子452の材質や寸法等を設計することによって調整される。
In other words, the sensitivity of the
前述した[診断テストのテスト項目の例9]における高感度の第1の衝撃センシング素子と低感度の第2の衝撃センシング素子は、例えば、弾性部材442と弾性部材444の少なくとも一方の弾性率を変えて、衝撃センシング素子410を作製することにより提供される。弾性部材442と弾性部材444の総合的な弾性率が大きい衝撃センシング素子410は、弾性部材442と弾性部材444の総合的な弾性率が小さい衝撃センシング素子410よりも高い感度を有する。
The high-sensitivity first impact sensing element and the low-sensitivity second impact sensing element in the above-mentioned [Example 9 of test items of the diagnostic test] have, for example, the elastic modulus of at least one of the
衝撃センシング素子410は、例えば、内視鏡110の洗浄時等に誤って衝撃を与えてしまうおそれが高い部分に、衝撃を受ける可能性の高い方向に、可動子452の移動方向を合わせて設置されるとよい。
The
あるいは、複数の衝撃センシング素子410が、互いに異なる方向に向けて、設置されてもよい。例えば、3個の衝撃センシング素子410が、互いに直交する3本の軸に沿って、可動子452の移動方向を合わせて設置されてよい。
Alternatively, the plurality of
ここに説明した衝撃センシング素子410は、弾性部材442と弾性部材444が共に導電性を有している構成であるが、弾性部材442と弾性部材444が共に導電性を有している代わりに、弾性部材442と弾性部材444の互いに対向する面に電極がそれぞれ設けられた構成であってもよい。
The
[衝撃センサ222とメモリ224の構成例3]
衝撃センサ222とメモリ224のまた別の構成例について図13を参照しながら説明する。図13は、衝撃センサ222の機能とメモリ224の機能とを有する衝撃センシング素子510を模式的に示している。[Structure example 3 of
Another configuration example of the
衝撃センシング素子510は、1軸に沿った衝撃を感知して記憶する素子である。衝撃センシング素子510は、1軸に沿った衝撃を感知する衝撃センシング部510aと、衝撃センシング部510aによって検知された衝撃を記憶する記憶部510bを有している。衝撃センシング部510aは、機械的素子で構成されている。記憶部510bは、電気的素子で構成されている。
The
衝撃センシング部510aは、可動電極512と、可動電極512を支持している弾性支持体514と、固定電極516を有している。可動電極512は球形状に形作られている。弾性支持体514は、固定電極516から間隔をおいて可動電極512を支持している。弾性支持体514は、例えば、ばねで構成されている。衝撃センシング部510aは、所定の大きさを超える衝撃を受けたときに、可動電極512が固定電極516に接触するように構成されている。可動電極512と弾性支持体514と固定電極516はいずれも導電性を有している。弾性支持体514と固定電極516は、衝撃センシング素子510が内視鏡110に設置された状態において、互いに絶縁されて、内視鏡110に固定されている。
The
記憶部510bは、コンデンサ522と電気抵抗524を有している。コンデンサ522と電気抵抗524は直列に接続されている。コンデンサ522の一端は弾性支持体514と電気的に接続され、他端は電気抵抗524と電気的に接続されている。電気抵抗524の一端は固定電極516と電気的に接続され、他端はコンデンサ522と電気的に接続されている。
The
内視鏡110の使用終了後、例えば、照明装置200の駆動終了時に、図13の左側に示されるように、コンデンサ522は、電圧源526と電気的に接続される。これにより、コンデンサ522は蓄電される。電圧源526は、例えば、内視鏡110の内部の照明装置200や撮像素子272、送信機274等に電力を供給するバッテリー124であってよい。コンデンサ522の蓄電は、例えば、光源コントローラ226によって制御されてよい。
After the end of use of the
弾性支持体514と固定電極516を保持している内視鏡110が、可動電極512と固定電極516の離間方向に、衝撃を受けた場合、固定電極516と弾性支持体514は内視鏡110と一緒に移動するが、可動電極512は慣性によって元の位置に留まろうとする。その結果、固定電極516に対して可動電極512は移動する。可動電極512は、その後、弾性支持体514の復元力により反対方向に移動する。つまり、可動電極512は振動する。可動電極512の振動の振幅は衝撃の大きさに比例する。衝撃の大きさが所定の大きさよりも大きい場合、可動電極512は、図13の中央に示されるように、固定電極516に接触する。その結果、コンデンサ522は放電する。
When the
内視鏡110の使用に先立ち、例えば、照明装置200の駆動開始時に、図13の右側に示されるように、コンデンサ522は、検出回路528と電気的に接続される。検出回路528は、コンデンサ522の蓄電の有無を検知する。例えば、検出回路528は、コンデンサ522を強制的に放電させ、その際に流れる電流を測定し、その電流値を所定の値と比較することにより、蓄電の有無を判定する。検出回路528は、光源コントローラ226に含まれている。
Prior to the use of the
このような検出回路528の検知結果に基づき、光源コントローラ226は、検出回路528がコンデンサ522の蓄電を検知した場合には、内視鏡110の非使用時の間に、衝撃センシング素子510、ひいては内視鏡110は、所定の大きさを超える衝撃を受けなかったと判断し、反対に、検出回路528がコンデンサ522の蓄電を検知しなかった場合には、内視鏡110の非使用時の間に、衝撃センシング素子510、ひいては内視鏡110は、所定の大きさを超える衝撃を受けたと判断する。続いて、光源コントローラ226は、この判断結果に基づいて、診断モードのテストモードを選択する。
Based on the detection result of the
このように、衝撃センシング素子510は、可動電極512と固定電極516の接触というかたちで衝撃を機械的に感知し、コンデンサ522の蓄電というかたちで衝撃の有無を電気的に記憶している。
In this way, the
衝撃センシング素子510の感度は、言い換えれば、可動電極512と固定電極516の接触を誘発する最小の衝撃すなわち前述した所定の大きさの衝撃は、例えば、可動電極512の質量や、可動電極512と固定電極516の間の距離、弾性支持体514の弾性率等を設計することによって調整される。
The sensitivity of the
前述した[診断テストのテスト項目の例9]における高感度の第1の衝撃センシング素子と低感度の第2の衝撃センシング素子は、例えば、可動電極512と固定電極516の間の距離や、弾性支持体514の弾性率を変えて、衝撃センシング素子510を作製することにより提供される。可動電極512と固定電極516の間の距離が短い衝撃センシング素子510は、可動電極512と固定電極516の間の距離が長い衝撃センシング素子510よりも高い感度を有する。また、弾性支持体514の弾性率が小さい衝撃センシング素子510は、弾性支持体514の弾性率が大きい衝撃センシング素子510よりも高い感度を有する。
The high-sensitivity first impact sensing element and the low-sensitivity second impact sensing element in the above-mentioned [Example 9 of test items of the diagnostic test] are, for example, the distance between the
内視鏡110が長期間にわたって使用されなかった場合、内視鏡110が衝撃を受けていなくても、コンデンサ522の蓄電は自然放電によって失われる。この場合、実際の衝撃の有無とは関係なく、光源コントローラ226は、所定の大きさを超える衝撃を内視鏡110が受けた場合と同様に、完全テストモードによる診断テストを行う。
If the
[衝撃センシング素子510の変形例1]
図13に示された衝撃センシング素子510の変形例について図14〜図17を参照しながら説明する。図14は、本変形例に係る衝撃センシング素子540を模式的に示している。図15は、図14に示された衝撃センシング素子540の衝撃センシング部540aの斜視図である。図16は、横方向に衝撃を受けた衝撃センシング部540aを模式的に示している。図17は、縦軸に沿って衝撃を受けた衝撃センシング部540aを模式的に示している。[
A modified example of the
本変形例に係る衝撃センシング素子540は、3軸に沿った衝撃を感知して記憶する素子である。衝撃センシング素子540は、3軸に沿った衝撃を感知する衝撃センシング部540aと、衝撃センシング部540aによって検知された衝撃を記憶する記憶部540bを有している。衝撃センシング部540aは、機械的素子で構成されている。記憶部540bは、電気的素子で構成されている。記憶部540bの構成は、衝撃センシング素子510の記憶部510bの構成と同じである。
The
衝撃センシング部540aは、可動電極542と、可動電極542を支持している弾性支持棒544と、弾性支持棒544を支持している弾性支持体546と、固定電極548を有している。可動電極542と弾性支持棒544と弾性支持体546と固定電極548はいずれも導電性を有している。可動電極542は球形状に形作られている。固定電極548は有底円筒形状に形作られている。
The
弾性支持棒544は、弾性変形可能であり、可動電極542を横方向に移動可能に支持している。ここで、横方向は、非変形状態の弾性支持棒544の軸に直交する方向である。横方向は、弾性支持棒544の軸に直交する2本の軸に沿った成分に分解可能である。また、弾性支持体546は、弾性変形可能であり、可動電極542と弾性支持棒544を縦軸に沿って移動可能に支持している。ここで、縦軸は、非変形状態の弾性支持棒544の軸に平行な軸である。つまり、弾性支持棒544と弾性支持体546の複合体は、可動電極542を3軸に沿って移動可能に支持している。
The
可動電極542は、弾性支持棒544と弾性支持体546によって、固定電極548の内部に支持されている。可動電極542は、固定電極548の周壁と底壁から間隔をおいて配置されている。好ましくは、可動電極542は、有底円筒形状の固定電極548の中心軸上に配置されている。弾性支持体546と固定電極548は互いに絶縁されている。例えば、弾性支持体546は、絶縁体を介して、固定電極548の開口端に固定されている。固定電極548は、コンデンサ522の一端と電気的に接続されている。コンデンサ522の他端は、電気抵抗524の一端と電気的に接続されている。電気抵抗524の他端は、弾性支持体546と電気的に接続されている。
The
固定電極548と弾性支持体546は、衝撃センシング素子540が内視鏡110に設置された状態において、内視鏡110に固定されている。
The fixed
内視鏡110の使用終了後、例えば、照明装置200の駆動終了時に、コンデンサ522は蓄電される。
After the end of use of the
固定電極548と弾性支持体546を保持している内視鏡110が、横方向に衝撃を受けた場合、可動電極542は、横方向に振動する。衝撃の大きさが所定の大きさよりも大きい場合、図16に示されるように、可動電極542は、固定電極548の周壁に接触する。その結果、コンデンサ522は放電する。
When the
また、内視鏡110が、縦軸に沿った衝撃を受けた場合、可動電極542は、縦軸に沿って振動する。衝撃の大きさが所定の大きさよりも大きい場合、図17に示されるように、可動電極542は、固定電極548の底壁に接触する。その結果、コンデンサ522は放電する。
Further, when the
内視鏡110の使用に先立ち、例えば、照明装置200の駆動開始時に、コンデンサ522の蓄電の有無が検知される。その検知結果に基づき、光源コントローラ226は、診断モードのテストモードを選択する。
Prior to the use of the
[衝撃センシング素子510の変形例2]
図13に示された衝撃センシング素子510の別の変形例について図18〜図20を参照しながら説明する。図18は、本変形例に係る衝撃センシング素子560を模式的に示している。図19は、横方向に衝撃を受けた衝撃センシング部560aを模式的に示している。図20は、縦軸に沿って衝撃を受けた衝撃センシング部560aを模式的に示している。[Modification 2 of Impact Sensing Element 510]
Another modification of the
本変形例に係る衝撃センシング素子560は、変形例1に係る衝撃センシング素子540と同様、3軸に沿った衝撃を感知して記憶する素子である。衝撃センシング素子560は、3軸に沿った衝撃を感知する衝撃センシング部560aと、衝撃センシング部560aによって検知された衝撃を記憶する記憶部560bを有している。記憶部560bの構成は、衝撃センシング素子510の記憶部510bの構成と同じである。
The
衝撃センシング部560aは、可動電極562と、可動電極562を支持している弾性支持体564と、固定電極566を有している。可動電極562と弾性支持体564と固定電極566はいずれも導電性を有している。可動電極562は球形状に形作られている。固定電極566は有底円筒形状に形作られている。
The
弾性支持体564は、弾性変形可能であり、可動電極562を3軸に沿って移動可能に支持している。可動電極562は、弾性支持体564によって、固定電極566の周壁と底壁から間隔をおいて、固定電極566の内部に支持されている。
The
弾性支持体564と固定電極566は互いに絶縁されている。固定電極566は、コンデンサ522の一端と電気的に接続されている。コンデンサ522の他端は、電気抵抗524の一端と電気的に接続されている。電気抵抗524の他端は、弾性支持体564と電気的に接続されている。
The
固定電極566と弾性支持体564は、衝撃センシング素子560が内視鏡110に設置された状態において、内視鏡110に固定されている。
The fixed
内視鏡110の使用終了後、例えば、照明装置200の駆動終了時に、コンデンサ522は蓄電される。
After the end of use of the
固定電極566と弾性支持体564を保持している内視鏡110が、横方向に衝撃を受けた場合、可動電極562は、横方向に振動する。衝撃の大きさが所定の大きさよりも大きい場合、図19に示されるように、可動電極562は、固定電極566の周壁に接触する。その結果、コンデンサ522は放電する。
When the
また、内視鏡110が、縦軸に沿った衝撃を受けた場合、可動電極562は、縦軸に沿って振動する。衝撃の大きさが所定の大きさよりも大きい場合、図20に示されるように、可動電極562は、固定電極566の底壁に接触する。その結果、コンデンサ522は放電する。
Further, when the
内視鏡110の使用に先立ち、例えば、照明装置200の駆動開始時に、コンデンサ522の蓄電の有無が検知される。その検知結果に基づき、光源コントローラ226は、診断モードのテストモードを選択する。
Prior to the use of the
[衝撃センサ222とメモリ224の他の構成例]
衝撃センサ222とメモリ224が共に、電気的素子によって構成されていてもよい。また、衝撃センサ222は、衝撃の大きさを検知するように構成されていてもよい。この場合、メモリ224は、衝撃センサ222により検知された衝撃の大きさを記憶するように構成されている。そのような衝撃センサ222は、例えば加速度センサで構成される。また、メモリ224は、例えば半導体メモリで構成される。この場合、加速度センサと半導体メモリは共に電力供給を必要とする電気的素子であるため、バッテリー124とは別に、衝撃センサ222とメモリ224に電力を供給するバッテリーが、衝撃センサ222とメモリ224と共に内視鏡110の内部に設けられる。[Other configuration examples of
Both the
[その他の構成例]
実施形態では、照明装置200が駆動されていない間に内視鏡110が受けた衝撃を衝撃センサ222が検知し、その衝撃の情報をメモリ224が記憶し、内視鏡システム100の起動時に光源コントローラ226が衝撃の情報を取得する例が説明されたが、照明装置200の駆動中に内視鏡110が受けた衝撃を、衝撃センサ222とメモリ224に利用して、照明装置200の駆動中に光源コントローラ226が衝撃の情報を取得する構成としてもよい。[Other configuration examples]
In the embodiment, the
Claims (20)
衝撃を検知する衝撃センサと、
前記衝撃センサにより検知された衝撃の情報を記憶するメモリと、
前記メモリに記憶されている衝撃の情報に基づいて、前記照明系の故障の有無を診断する診断テストを行う光源コントローラとを有する照明装置。 A lighting system that emits illumination light and
An impact sensor that detects impact and
A memory that stores impact information detected by the impact sensor, and
A lighting device including a light source controller that performs a diagnostic test for diagnosing the presence or absence of a failure of the lighting system based on the impact information stored in the memory.
前記固定子と前記可動子は、互いに嵌め合わさるように形成されており、前記固定子と前記可動子は共に、絶縁体で構成されており、前記固定子と前記可動子は、それぞれ、前記固定子と前記可動子が互いに嵌め合わされたときに、互いに接触する固定子電極と可動子電極を有している、請求項1に記載の照明装置。 The impact sensor and the memory have a stator and a mover attached to the stator.
The stator and the mover are formed so as to be fitted to each other, the stator and the mover are both made of an insulator, and the stator and the mover are fixed to each other. when the child and the movable element is fitted to one another, and a stator electrode and the movable electrode in contact with each other, the lighting device according to claim 1.
前記ワイヤ巻き取り器は、前記ワイヤを巻き取るように構成されており、前記ワイヤ巻き取り器による前記ワイヤの巻き取りにより、前記可動子が前記固定子に嵌め合わさる、請求項13に記載の照明装置。 The impact sensor and the memory further include a wire having one end connected to the mover and a wire winder having the other end of the wire connected to the mover.
The illumination according to claim 13 , wherein the wire winder is configured to wind the wire, and the mover is fitted to the stator by winding the wire by the wire winder. apparatus.
前記2つの弾性部材は、導電性を有しており、互いに当接しており、
前記可動子は、絶縁体で構成されており、前記2つの弾性部材の間に挿入可能に支持されており、
前記2つの弾性部材は、両者の間に挿入された前記可動子を保持し、所定の大きさを超える衝撃を受けたときに、前記可動子が外れるように構成されている、請求項1に記載の照明装置。 The impact sensor and the memory have two elastic members fixed to the stator and a mover movably supported by the stator.
The two elastic members are conductive and are in contact with each other.
The mover is made of an insulator and is supportably inserted between the two elastic members.
The two elastic members, holding said movable element which is inserted between the two, when impacted above a predetermined magnitude, the mover is configured to disengage, in claim 1 The luminaire described.
前記可動子は、前記可動子支持棒に固定されており、前記回転アクチュエータによる前記可動子支持棒の旋回により、前記2つの弾性部材の間に挿入される、請求項15に記載の照明装置。 The impact sensor and the memory further include a mover support rod rotatably supported with respect to the stator and a rotary actuator for turning the mover support rod.
The lighting device according to claim 15 , wherein the mover is fixed to the mover support rod and is inserted between the two elastic members by turning the mover support rod by the rotary actuator.
前記メモリは、一端が前記可動電極と電気的に接続され、他端が前記固定電極と電気的に接続されたコンデンサとを有している、請求項1に記載の照明装置。 The impact sensor has a movable electrode, an elastic support that supports the movable electrode, and a fixed electrode, and the movable electrode is attached to the fixed electrode when an impact exceeding a predetermined size is received. It is configured to be in contact and
The lighting device according to claim 1 , wherein the memory has a capacitor having one end electrically connected to the movable electrode and the other end electrically connected to the fixed electrode.
前記照明装置は、
照明光を出射する照明系と、
衝撃を検知する衝撃センサと、
前記衝撃センサにより検知された衝撃の情報を記憶するメモリと、
前記メモリに記憶されている衝撃の情報に基づいて、前記照明系の故障の有無を診断する診断テストを行う光源コントローラとを有する内視鏡システム。 Equipped with an endoscope with a built-in lighting device
The lighting device is
A lighting system that emits illumination light and
An impact sensor that detects impact and
A memory that stores impact information detected by the impact sensor, and
An endoscope system including a light source controller that performs a diagnostic test for diagnosing the presence or absence of a failure of the lighting system based on the impact information stored in the memory.
前記メモリに記憶されている衝撃の情報に基づいて、前記照明系の故障の有無を診断する診断テストを行う照明装置の診断方法。 It is a diagnostic method of a lighting device having a lighting system that emits illumination light, an impact sensor that detects an impact, and a memory that stores information on the impact detected by the impact sensor.
A method of diagnosing a lighting device that performs a diagnostic test for diagnosing the presence or absence of a failure of the lighting system based on the impact information stored in the memory.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2017/047006 WO2019130491A1 (en) | 2017-12-27 | 2017-12-27 | Illuminating device and method for diagnosing same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019130491A1 JPWO2019130491A1 (en) | 2020-12-03 |
JP6861300B2 true JP6861300B2 (en) | 2021-04-21 |
Family
ID=67066840
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019561482A Active JP6861300B2 (en) | 2017-12-27 | 2017-12-27 | Lighting equipment and its diagnostic method |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6861300B2 (en) |
WO (1) | WO2019130491A1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102505737B1 (en) * | 2020-04-02 | 2023-04-04 | 주식회사 도원조명 | System of Inspection of Lighting Apparatus |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050129108A1 (en) * | 2003-01-29 | 2005-06-16 | Everest Vit, Inc. | Remote video inspection system |
WO2017145336A1 (en) * | 2016-02-25 | 2017-08-31 | オリンパス株式会社 | Endoscope system |
-
2017
- 2017-12-27 JP JP2019561482A patent/JP6861300B2/en active Active
- 2017-12-27 WO PCT/JP2017/047006 patent/WO2019130491A1/en active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2019130491A1 (en) | 2019-07-04 |
JPWO2019130491A1 (en) | 2020-12-03 |
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