JP6840007B2 - Intaglio manufacturing method and intaglio manufacturing equipment - Google Patents

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Description

この発明は、平坦部に開口する複数の凹部を有する凹版の製造方法および製造装置に関するものである。 The present invention relates to an intaglio manufacturing method and a manufacturing apparatus having a plurality of recesses that open in a flat portion.

導電性インクなどの印刷材料で形成されたパターンを平板状の凹版から平板状の印刷媒体(ガラス、樹脂フィルム等)に転写して印刷する印刷技術が知られている。このような印刷技術に用いられる凹版としては、例えば金属またはガラスなどの平板に凹部が刻設されたものが用いられる。凹部を形成する工程では、フォトリソグラフィ、エッチング、めっき、蒸着などの手法が用いられている。このような製造方法では、大掛かりな製造設備が必要となるため製造コストが高く、また製造に要する時間も長い。また、多品種少量生産に対応することが難しい。 A printing technique is known in which a pattern formed of a printing material such as conductive ink is transferred from a flat plate-shaped intaglio to a flat plate-shaped printing medium (glass, resin film, etc.) and printed. As the intaglio used in such a printing technique, for example, a flat plate made of metal or glass in which a recess is engraved is used. In the step of forming the recess, techniques such as photolithography, etching, plating, and vapor deposition are used. Such a manufacturing method requires a large-scale manufacturing equipment, so that the manufacturing cost is high and the time required for manufacturing is long. In addition, it is difficult to handle high-mix low-volume production.

このような問題を解消するために、感光性樹脂を露光することで凹版を作製する技術も提案されている。凹版を用いた印刷における印刷特性を考慮すると、一般的に開口サイズの小さい凹部は深く、大きい凹部は浅くなっていることが望ましい。しかしながら、単一条件の露光では開口サイズの異なる凹部の深さをそれぞれ個別に制御することが困難である。 In order to solve such a problem, a technique for producing an intaglio by exposing a photosensitive resin has also been proposed. Considering the printing characteristics in printing using an intaglio, it is generally desirable that the recesses having a small opening size are deep and the recesses having a large opening size are shallow. However, in exposure under a single condition, it is difficult to individually control the depth of recesses having different aperture sizes.

露光により形成される凹部の深さを制御する技術としては、例えば特許文献1に記載されたものがある。この技術では、感光性樹脂層の塗布、露光、ベーキングの一連の工程で形成される層を積層することで、深さが異なる複数の凹部を形成している。 As a technique for controlling the depth of the recess formed by exposure, for example, there is one described in Patent Document 1. In this technique, a plurality of recesses having different depths are formed by laminating layers formed in a series of steps of coating, exposing, and baking a photosensitive resin layer.

特開2016−188926号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-188926

上記従来技術では、凹部の深さを精度よくコントロールすることが可能である反面、塗布、露光、ベーキングを含む一連の工程が繰り返されるため、作製に要する時間は比較的長くなってしまう。このため、製造工程をより簡単なものとして短時間で凹版を作製することのできる技術の確立が望まれている。 In the above-mentioned conventional technique, although it is possible to accurately control the depth of the recess, a series of steps including coating, exposure, and baking are repeated, so that the time required for production becomes relatively long. Therefore, it is desired to establish a technique capable of producing an intaglio in a short time by simplifying the manufacturing process.

この発明は上記課題に鑑みなされたものであり、感光性材料を露光することで凹版を製造する技術において、凹部の深さを開口サイズごとに個別に制御することができ、しかも製造に要する時間を短縮することのできる技術を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and in a technique for producing a concave plate by exposing a photosensitive material, the depth of the concave portion can be individually controlled for each opening size, and the time required for production. The purpose is to provide a technology that can shorten the time.

この発明の一の態様は、平坦部と前記平坦部に開口する複数の凹部とを有する凹版の製造方法であって、上記目的を達成するため、光硬化性材料により形成された感光層のうち前記平坦部となる領域を、前記凹部のうち開口サイズが最も小さい第1サイズであるものを目標深さとするために必要な第1の露光量で露光して硬化させる第1工程と、前記感光層のうち前記第1サイズを有する前記凹部となる第1領域を露光させることなく、前記感光層のうち開口サイズが前記第1サイズより大きい第2サイズである前記凹部となる第2領域を第2の露光量で露光する第2工程とを備えている。 One aspect of the present invention is a method for producing a concave plate having a flat portion and a plurality of recesses opening in the flat portion, and among the photosensitive layers formed of a photocurable material in order to achieve the above object. The first step of exposing and curing the flat region with the first exposure amount required to set the first size of the recesses having the smallest opening size as the target depth, and the exposure. Without exposing the first region of the layer to be the recess having the first size, the second region of the photosensitive layer to be the recess having an opening size larger than the first size is exposed. It includes a second step of exposing with an exposure amount of 2.

また、この発明の他の態様は、平坦部と前記平坦部に開口する複数の凹部とを有する凹版を製造する凹版製造装置であって、上記目的を達成するため、基材の表面に光硬化性材料による感光層が形成されたワークを保持する保持部と、前記ワークに光を照射して前記光硬化性材料を露光させる照射部と、前記照射部から前記ワークへの光の入射パターンを制御する制御部とを備え、前記制御部は、前記感光層のうち前記平坦部となる領域を、前記凹部のうち開口サイズが最も小さい第1サイズであるものを目標深さとするために必要な第1の露光量で露光して硬化させ、前記感光層のうち前記第1サイズを有する前記凹部となる第1領域を露光させることなく、前記光硬化性材料層のうち開口サイズが前記第1サイズより大きい第2サイズである前記凹部となる第2領域を第2の露光量で露光させる。 Another aspect of the present invention is a concave plate manufacturing apparatus for manufacturing a concave plate having a flat portion and a plurality of concave portions opened in the flat portion, and is photocured on the surface of a base material in order to achieve the above object. A holding portion that holds the work on which the photosensitive layer formed of the sex material is formed, an irradiation portion that irradiates the work with light to expose the photocurable material, and an incident pattern of light from the irradiation portion to the work. The control unit includes a control unit for controlling, and the control unit is necessary to set a region of the photosensitive layer to be the flat portion as a target depth of the recess having the smallest opening size of the first size. The first region of the photocurable material layer has an opening size without exposing the first region of the photosensitive layer, which is the recess having the first size, by exposing and curing the first exposure amount. The second region, which is the second size larger than the size and is the recess, is exposed with the second exposure amount.

このように構成された発明では、光硬化性材料を露光して部分的に硬化させることで、硬化部位が平坦部、未硬化部位が凹部となる凹版を製造する。凹部としては種々の開口サイズを有するものが混在し得るが、凹版印刷における印刷特性を考えると、開口サイズの小さい凹部は深く、開口サイズが大きい凹部は浅くなっていることが好ましい。しかしながら、詳しくは後述するが、露光されていない未硬化部位を凹部として利用する態様においては、単一の露光条件では開口サイズの大きい凹部ほど深くなるという特徴がある。 In the invention configured as described above, by exposing the photocurable material and partially curing it, an intaglio plate in which the cured portion is a flat portion and the uncured portion is a recess is manufactured. As the recesses, those having various opening sizes can be mixed, but considering the printing characteristics in intaglio printing, it is preferable that the recesses having a small opening size are deep and the recesses having a large opening size are shallow. However, as will be described in detail later, in the embodiment in which the unexposed uncured portion is used as the recess, there is a feature that the recess having a larger opening size becomes deeper under a single exposure condition.

そこで、この発明では、まず最も開口サイズが小さい第1サイズの凹部が目標深さとなるような露光条件、すなわち第1の露光量で、感光層のうち平坦部となる領域が露光される。露光により光硬化性材料が硬化することで、第1領域においては所望の開口サイズおよび深さの凹部が形成される。一方、より大きい開口サイズの凹部となるべき第2領域においては、この時点では第1サイズの凹部よりも深い凹部が形成されている。そこで、このような第2領域については追加的に第2の露光量で露光を行うことでその深さが調整される。このとき、既に所望の深さとなっている第1領域についてはそれ以上に露光されないようにすることで、第2の露光量については任意に設定することができる。したがって、第2領域に形成される凹部の深さを自在に調節することが可能である。 Therefore, in the present invention, first, the flat region of the photosensitive layer is exposed under the exposure condition that the recess of the first size having the smallest aperture size becomes the target depth, that is, the first exposure amount. By curing the photocurable material by exposure, recesses of a desired opening size and depth are formed in the first region. On the other hand, in the second region, which should be a recess having a larger opening size, a recess deeper than the recess of the first size is formed at this point. Therefore, the depth of such a second region is adjusted by additionally exposing with a second exposure amount. At this time, the second exposure amount can be arbitrarily set by preventing the first region, which has already reached the desired depth, from being exposed further. Therefore, it is possible to freely adjust the depth of the recess formed in the second region.

この発明では、未硬化の光硬化性材料を追加的に露光し硬化させることで凹部の深さを調節する。そのため、第1の露光量での露光の後、露光条件を変更して直ちに第2の露光量での露光を行うことができ、その間に感光層の塗布やベーキングを必要としない。したがって、従来よりも短時間で凹版を製造することが可能となる。 In the present invention, the depth of the recess is adjusted by additionally exposing and curing an uncured photocurable material. Therefore, after the exposure with the first exposure amount, the exposure conditions can be changed and the exposure with the second exposure amount can be performed immediately, and the coating or baking of the photosensitive layer is not required during that time. Therefore, it is possible to manufacture the intaglio in a shorter time than before.

なお、形成すべき凹部の開口サイズが3種類以上ある場合には、そのうち最も小さいものを「第1サイズ」とみなして第1の露光量での露光を行い、より大きい開口サイズのものをそれぞれ個別に「第2サイズ」とみなして第2の露光量で露光を行うようにすればよい。こうすることで、開口サイズごとに深さを個別に制御しつつ凹版を製造することが可能となる。 When there are three or more types of opening sizes of the recesses to be formed, the smallest one is regarded as the "first size" and the exposure is performed with the first exposure amount, and the larger opening size is regarded as the "first size". It suffices to individually consider it as a "second size" and perform exposure with a second exposure amount. By doing so, it becomes possible to manufacture the intaglio while individually controlling the depth for each opening size.

以上のように、本発明によれば、開口サイズに応じて凹部の深さを個別に制御することができ、しかも短時間で凹版を製造することができる。 As described above, according to the present invention, the depth of the recess can be individually controlled according to the opening size, and the intaglio can be manufactured in a short time.

本発明に係る凹版製造装置の2つの態様を示す図である。It is a figure which shows two aspects of the intaglio manufacturing apparatus which concerns on this invention. 感光層に入射する光の広がりを模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the spread of the light incident on a photosensitive layer. 凹部の深さを調節する方法の原理を示す図である。It is a figure which shows the principle of the method of adjusting the depth of a recess. 露光パターンの第1の態様を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the 1st aspect of the exposure pattern. 露光パターンの第2の態様を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the 2nd aspect of the exposure pattern. 露光パターンの第3の態様を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the 3rd aspect of the exposure pattern. この実施形態における凹版の製造方法の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the manufacturing method of the intaglio in this embodiment. 露光パターンを作成するための処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process for creating an exposure pattern. 凹部の配置と露光パターンとの関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the arrangement of the concave part and the exposure pattern.

図1は本発明に係る凹版製造装置の2つの態様を示す図である。より詳しくは、図1(a)は本発明に係る凹版製造装置の第1実施形態の概略構成を示す図であり、図1(b)は本発明に係る凹版製造装置の第2実施形態の概略構成を示す図である。これらの凹版製造装置1,2は、本発明に係る凹版の製造方法を実行可能な装置である。例えばガラス板、金属板、樹脂板等の平坦な基材32の表面に光硬化性樹脂材料による均一な感光層31が例えば塗布により形成されたワーク3を露光して、凹版を製造する目的に使用される。光硬化性樹脂材料としては、例えば、プリンタイト(登録商標)、PGプレート、SU−8などを使用可能である。 FIG. 1 is a diagram showing two aspects of the intaglio manufacturing apparatus according to the present invention. More specifically, FIG. 1A is a diagram showing a schematic configuration of a first embodiment of the intaglio manufacturing apparatus according to the present invention, and FIG. 1B is a diagram showing a second embodiment of the intaglio manufacturing apparatus according to the present invention. It is a figure which shows the schematic structure. These intaglio manufacturing devices 1 and 2 are devices capable of executing the intaglio manufacturing method according to the present invention. For example, for the purpose of producing a concave plate by exposing a work 3 in which a uniform photosensitive layer 31 made of a photocurable resin material is formed by coating, for example, on the surface of a flat base material 32 such as a glass plate, a metal plate, or a resin plate. used. As the photocurable resin material, for example, Printite (registered trademark), PG plate, SU-8 and the like can be used.

図1(a)に示す第1実施形態の凹版製造装置1は、露光装置10と制御ユニット100とを備えている。露光装置10は、光発生部11と、光路調整部12と、光走査部13と、ワーク保持部14とを備えている。ワーク保持部14は上面が水平なステージ面141となっており、該ステージ面141に感光層31を上向きにして載置されるワーク3を保持する。ワーク保持部14は制御ユニット100に設けられた駆動機構105により、水平方向に移動可能となっている。 The intaglio manufacturing apparatus 1 of the first embodiment shown in FIG. 1A includes an exposure apparatus 10 and a control unit 100. The exposure device 10 includes a light generating unit 11, an optical path adjusting unit 12, an optical scanning unit 13, and a work holding unit 14. The work holding portion 14 has a stage surface 141 whose upper surface is horizontal, and holds the work 3 placed on the stage surface 141 with the photosensitive layer 31 facing upward. The work holding portion 14 can be moved in the horizontal direction by the drive mechanism 105 provided in the control unit 100.

光発生部11は例えば半導体レーザー、ガスレーザーのような光源を有し、制御ユニット100に設けられた点灯制御部101からの制御指令に応じて点灯し光ビームL1を出射する。光ビームL1としては、感光層31に用いられる光硬化性樹脂材料を硬化させるために必要なエネルギーを有するものが用いられる。例えば光硬化性樹脂材料が紫外線硬化型のものである場合、光ビームL1としては紫外線が用いられる。 The light generating unit 11 has a light source such as a semiconductor laser or a gas laser, and lights up in response to a control command from the lighting control unit 101 provided in the control unit 100 to emit a light beam L1. As the light beam L1, a beam having energy required for curing the photocurable resin material used for the photosensitive layer 31 is used. For example, when the photocurable resin material is an ultraviolet curable type, ultraviolet rays are used as the light beam L1.

光路調整部12は光発生部11から出射される光を光走査部13に案内する機能を有し、例えば反射ミラーを含んで構成される。光走査部13は、光路調整部12を介して光発生部11から入射する光ビームL1の光路を、制御ユニット100に設けられた走査制御部102からの制御指令に応じて変化させる。これにより、ワーク保持部14に保持されるワーク3への光ビームL1の入射位置が刻々と変化し、ワーク3上面の感光層31が走査露光される。露光装置10としては、公知の一般的な構成を有する露光装置を適用可能である。このため、露光装置10の各構成についての詳細な説明を省略する。 The optical path adjusting unit 12 has a function of guiding the light emitted from the light generating unit 11 to the optical scanning unit 13, and includes, for example, a reflection mirror. The optical scanning unit 13 changes the optical path of the light beam L1 incident from the light generating unit 11 via the optical path adjusting unit 12 in response to a control command from the scanning control unit 102 provided in the control unit 100. As a result, the incident position of the light beam L1 on the work 3 held by the work holding portion 14 changes every moment, and the photosensitive layer 31 on the upper surface of the work 3 is subjected to scanning exposure. As the exposure device 10, an exposure device having a known general configuration can be applied. Therefore, detailed description of each configuration of the exposure apparatus 10 will be omitted.

制御ユニット100はさらに、凹版製造装置1の各部を制御して所定の動作を実行させるための制御プログラムを実行するプロセッサであるCPU(Central Prosessing Unit)103と、制御プログラムや各種のデータを記憶するためのメモリ104とを備えている。また、図示を省略しているが、制御ユニット100は上記の他に、ユーザや外部装置との間での情報交換を担うインターフェース部を備えている。 The control unit 100 further stores a CPU (Central Prosessing Unit) 103, which is a processor that executes a control program for controlling each part of the recess plate manufacturing apparatus 1 to execute a predetermined operation, and stores the control program and various data. A memory 104 for the purpose is provided. Further, although not shown, the control unit 100 includes an interface unit for exchanging information with a user and an external device in addition to the above.

メモリ104は、ワーク3を露光して形成すべき凹版のパターンを表すパターンデータを記憶している。CPU103は、メモリ104に記憶された露光データに基づき点灯制御部101および走査制御部102を制御して、ワーク3の感光層31を露光データに対応するパターンに露光させる。具体的には、走査制御部102により感光層31への光ビームL1の入射位置を順次変化させながら、露光データに応じた点灯パターンで光発生部11から断続的に光ビームL1を出射させることで、ワーク3の感光層31を選択的に走査露光する。なお、光源が連続的に発生する光ビームをパターンデータに応じて作動するシャッタにより開閉する構成でもよい。 The memory 104 stores pattern data representing an intaglio pattern to be formed by exposing the work 3. The CPU 103 controls the lighting control unit 101 and the scanning control unit 102 based on the exposure data stored in the memory 104 to expose the photosensitive layer 31 of the work 3 to a pattern corresponding to the exposure data. Specifically, the scanning control unit 102 sequentially changes the incident position of the light beam L1 on the photosensitive layer 31, and intermittently emits the light beam L1 from the light generating unit 11 in a lighting pattern according to the exposure data. Then, the photosensitive layer 31 of the work 3 is selectively scanned and exposed. The light beam continuously generated by the light source may be opened and closed by a shutter that operates according to the pattern data.

一方、図1(b)に示す第2実施形態の凹版製造装置2は、露光装置20と制御ユニット200とを備えている。露光装置20は、光発生部21と、光路調整部22と、光走査部23と、ワーク保持部24とを備えている。ワーク保持部24は上面が水平なステージ面241となっており、該ステージ面241に感光層31を上向きにして載置されるワーク3を保持する。ワーク保持部24は制御ユニット200に設けられた駆動機構205により、水平方向に移動可能となっている。 On the other hand, the intaglio manufacturing apparatus 2 of the second embodiment shown in FIG. 1B includes an exposure apparatus 20 and a control unit 200. The exposure device 20 includes a light generating unit 21, an optical path adjusting unit 22, an optical scanning unit 23, and a work holding unit 24. The work holding portion 24 has a stage surface 241 whose upper surface is horizontal, and holds the work 3 placed on the stage surface 241 with the photosensitive layer 31 facing upward. The work holding portion 24 can be moved in the horizontal direction by the drive mechanism 205 provided in the control unit 200.

光発生部21は例えば半導体レーザー、ガスレーザーのような光源を有し、制御ユニット200に設けられた点灯制御部201からの制御指令に応じて点灯し光ビームL2を出射する。光路調整部22は光発生部21から出射される光を光走査部23に案内する機能を有し、例えば反射ミラーを含んで構成される。光走査部23は、光路調整部22を介して光発生部21から入射する光ビームL2の光路を、制御ユニット200に設けられた走査制御部202からの制御指令に応じて変化させる。これにより、ワーク保持部24に保持されるワーク3への光ビームL2の入射位置が刻々と変化し、ワーク3上面の感光層31が走査露光される。 The light generation unit 21 has a light source such as a semiconductor laser or a gas laser, and lights up in response to a control command from the lighting control unit 201 provided in the control unit 200 to emit a light beam L2. The optical path adjusting unit 22 has a function of guiding the light emitted from the light generating unit 21 to the optical scanning unit 23, and includes, for example, a reflection mirror. The optical scanning unit 23 changes the optical path of the light beam L2 incident from the light generating unit 21 via the optical path adjusting unit 22 in response to a control command from the scanning control unit 202 provided in the control unit 200. As a result, the incident position of the light beam L2 on the work 3 held by the work holding portion 24 changes every moment, and the photosensitive layer 31 on the upper surface of the work 3 is subjected to scanning exposure.

光走査部23とワーク保持部24に保持されるワーク3との間にはマスク25が配置される。具体的には、光走査部23とワーク保持部24との間にマスク保持部26が設けられており、ワーク3を露光して形成すべき凹版のパターンに対応したマスク25がマスク保持部26に載置される。これにより、光走査部23からワーク3へ向かう光ビームL2が部分的に遮蔽され、ワーク3の感光層31がマスク25からのマスクパターンに応じて露光される。なお、レーザー光ビームのような光ビームL2を走査する態様に代えて、より広い断面積を有する光束を出射する光源からの光をマスク25全体に入射させて、感光層31を一括露光する構成であってもよい。 A mask 25 is arranged between the optical scanning unit 23 and the work 3 held by the work holding unit 24. Specifically, a mask holding portion 26 is provided between the optical scanning portion 23 and the work holding portion 24, and the mask 25 corresponding to the intaglio pattern to be formed by exposing the work 3 is the mask holding portion 26. It is placed in. As a result, the light beam L2 from the light scanning unit 23 toward the work 3 is partially shielded, and the photosensitive layer 31 of the work 3 is exposed according to the mask pattern from the mask 25. Instead of scanning the light beam L2 such as a laser light beam, light from a light source that emits a light flux having a wider cross-sectional area is incident on the entire mask 25 to collectively expose the photosensitive layer 31. It may be.

制御ユニット200はさらに、凹版製造装置2の各部を制御して所定の動作を実行させるための制御プログラムを実行するプロセッサであるCPU203と、制御プログラムや各種のデータを記憶するためのメモリ204とを備えている。また、図示を省略しているが、制御ユニット200は上記の他に、ユーザや外部装置との間での情報交換を担うインターフェース部を備えている。 The control unit 200 further includes a CPU 203, which is a processor that executes a control program for controlling each part of the recess plate manufacturing apparatus 2 to execute a predetermined operation, and a memory 204 for storing the control program and various data. I have. Further, although not shown, the control unit 200 includes an interface unit for exchanging information with a user and an external device in addition to the above.

また、後述するように、この凹版製造装置2による凹版製造方法では、複数種のマスク25が使用される。このため、マスクパターンの異なる複数のマスク25が予め用意されており、制御ユニット200に設けられたマスク切替部206が、複数のマスク25を選択的にマスク保持部26に載置する。このようにして複数のマスク25が切り替えられる。 Further, as will be described later, in the intaglio manufacturing method by the intaglio manufacturing apparatus 2, a plurality of types of masks 25 are used. Therefore, a plurality of masks 25 having different mask patterns are prepared in advance, and the mask switching unit 206 provided in the control unit 200 selectively mounts the plurality of masks 25 on the mask holding unit 26. In this way, the plurality of masks 25 can be switched.

これらの凹版製造装置1,2の間では、感光層31に入射する光のパターンを決定するための具体的手段が異なっているものの、いずれの装置も、感光層31を所定のパターンで部分的に露光することができるものである。このため、以下に説明する方法による凹版の製造は、凹版製造装置1,2のいずれを用いても実行可能である。そこで、以下の説明では、特に必要のない限り、使用される装置がいずれであるかを限定しない。 Although the specific means for determining the pattern of light incident on the photosensitive layer 31 is different between these intaglio plate manufacturing devices 1 and 2, each device partially forms the photosensitive layer 31 with a predetermined pattern. Can be exposed to light. Therefore, the production of the intaglio by the method described below can be performed by using any of the intaglio production devices 1 and 2. Therefore, the following description does not limit which device is used unless otherwise required.

次に、本発明に係る凹版の製造方法について説明する。前記したように、凹版は、ワーク3に形成された感光層31を凹版のパターンに応じて露光することにより形成される。感光層31は光硬化性材料により形成されている。したがって、感光層31の露光された部分が硬化して平坦部として残る一方、露光されなかった部分は硬化せず、最終的に除去されることにより凹部となる。言い換えれば、感光層31の露光は、平坦部として残すべき領域を露光して硬化させ、凹部となるべき領域を露光せず除去する、いわゆるネガ露光型となる。 Next, a method for manufacturing the intaglio according to the present invention will be described. As described above, the intaglio is formed by exposing the photosensitive layer 31 formed on the work 3 according to the pattern of the intaglio. The photosensitive layer 31 is made of a photocurable material. Therefore, while the exposed portion of the photosensitive layer 31 is cured and remains as a flat portion, the unexposed portion is not cured and is finally removed to form a recess. In other words, the exposure of the photosensitive layer 31 is a so-called negative exposure type in which a region to be left as a flat portion is exposed and cured, and a region to be a recess is removed without being exposed.

まず本願発明をなすに至った発明者らの知見について説明する。なお、以下では説明の便宜のため、ワーク3に形成された感光層31のうち光が入射する側の面を「表面」と称して図では符号31aを付す一方、これと反対側で基材32に接する側の面を「裏面」と称し符号31bを付すこととする。 First, the findings of the inventors who have made the invention of the present application will be described. In the following, for convenience of explanation, the surface of the photosensitive layer 31 formed on the work 3 on the side where light is incident is referred to as a “surface” and is designated by reference numeral 31a in the drawing, while the base material is on the opposite side. The surface on the side in contact with 32 is referred to as the "back surface" and is designated by reference numeral 31b.

図2は感光層に入射する光の広がりを模式的に示す図である。図2(a)に示すように、感光層31に断面積の小さいビーム状の光Lが入射する場合を考える。感光層31の表面31aに入射した光Lは、感光層31の内部で散乱され、さらに感光層31の裏面31bで反射、散乱される。そのため、感光層31の内部において光が到達する範囲は、ハッチングを付して示すように表面31a側から裏面31b側に向けて次第に広がってゆく。こうして光が到達する範囲のうち、光強度と照射時間との積で表される露光量が感光層31をなす光硬化性材料によって決まる閾値以上となった領域が露光されて硬化する。 FIG. 2 is a diagram schematically showing the spread of light incident on the photosensitive layer. As shown in FIG. 2A, consider a case where a beam-shaped light L having a small cross-sectional area is incident on the photosensitive layer 31. The light L incident on the front surface 31a of the photosensitive layer 31 is scattered inside the photosensitive layer 31, and further reflected and scattered on the back surface 31b of the photosensitive layer 31. Therefore, the range of light reaching inside the photosensitive layer 31 gradually expands from the front surface 31a side to the back surface 31b side as shown by hatching. In this way, within the range where the light reaches, the region where the exposure amount represented by the product of the light intensity and the irradiation time is equal to or more than the threshold value determined by the photocurable material forming the photosensitive layer 31 is exposed and cured.

硬化は光が入射する表面31a側からというよりむしろ裏面31b側から始まり表面31a側に向けて進行するという現象が観測されている。感光層31の裏面31b付近では表面31a側から入射する光と裏面31bで反射される光とが重畳されることで局所的に光強度が高くなることが、その理由と考えられる。また、感光層表面31aへの光照射がなされていない領域でも、その周囲領域に入射した光の回り込みによって間接的に露光され、感光層31の裏面31b側から硬化が進行することになる。 It has been observed that the curing starts from the back surface 31b side rather than from the front surface 31a side where the light is incident and progresses toward the front surface 31a side. It is considered that the reason is that the light intensity is locally increased by superimposing the light incident from the front surface 31a side and the light reflected by the back surface 31b in the vicinity of the back surface 31b of the photosensitive layer 31. Further, even in a region where the surface of the photosensitive layer 31a is not irradiated with light, it is indirectly exposed by the wraparound of the light incident on the surrounding region, and the curing proceeds from the back surface 31b side of the photosensitive layer 31.

図2(b)および図2(c)に示すように、所定の幅Daを有する領域を挟むようにその両側に光Lを照射した場合について考える。両図において光Lを表す矢印の密度は露光量の違いを模式的に示したものである。すなわち、矢印の密度が高い図2(b)の例は、矢印の密度がより低い図2(c)の例よりも露光量が大きいことを示している。これらの図に示すように、露光量が大きいほど感光層31内での光の広がりも大きくなる。 As shown in FIGS. 2 (b) and 2 (c), a case where light L is irradiated on both sides of a region having a predetermined width Da is considered. In both figures, the densities of the arrows representing the light L schematically show the difference in the exposure amount. That is, the example of FIG. 2 (b) having a high density of arrows shows that the exposure amount is larger than the example of FIG. 2 (c) having a lower density of arrows. As shown in these figures, the larger the exposure amount, the larger the spread of light in the photosensitive layer 31.

感光層31のうち上記のように直接的または間接的に露光された領域の露光量が光硬化性材料を硬化させるのに十分な大きさであればこれらの領域が硬化する一方、これらの領域で囲まれた図2(b)における領域Raおよび図2(c)における領域Rbは硬化せず、この部分の未硬化の光硬化性材料が除去されることにより凹部となる。図からわかるように、こうして形成される凹部は露光量が多いほど浅くなる。 If the exposure amount of the directly or indirectly exposed regions of the photosensitive layer 31 is large enough to cure the photocurable material, these regions will be cured, while these regions will be cured. The region Ra in FIG. 2 (b) and the region Rb in FIG. 2 (c) surrounded by are not cured, and the uncured photocurable material in this portion is removed to form a recess. As can be seen from the figure, the recess formed in this way becomes shallower as the exposure amount increases.

また、露光量が一定であっても、光が照射される領域に挟まれた領域の幅によっても、当該領域に形成される凹部の深さが異なる。すなわち、図2(d)に示すように、光が照射される領域の間隔Daが比較的大きい場合に比べて、間隔Dbが小さい場合には、裏面側に回り込む光で露光されることにより、形成される凹部の深さはより小さくなる。 Further, even if the exposure amount is constant, the depth of the recess formed in the region varies depending on the width of the region sandwiched between the regions irradiated with light. That is, as shown in FIG. 2D, when the interval Db is small as compared with the case where the interval Da of the region irradiated with light is relatively large, the light is exposed by the light wrapping around to the back surface side. The depth of the recesses formed is smaller.

以上より、露光された領域が硬化して平坦部となるネガ露光においては、露光量が大きいほど凹部が浅くなり、また露光量が同じでも凹部の開口サイズが小さければ凹部が浅くなることがわかる。つまり、一定の露光条件の下では、凹部の開口サイズが大きいほど凹部は深く、小さいほど浅くなるということができる。このように、形成される凹部の深さが開口サイズに依存するため、凹部の開口サイズと深さとを独立に制御することが困難である。 From the above, it can be seen that in the negative exposure in which the exposed area is hardened to become a flat portion, the larger the exposure amount, the shallower the recess, and even if the exposure amount is the same, the smaller the opening size of the recess, the shallower the recess. .. That is, under certain exposure conditions, it can be said that the larger the opening size of the recess, the deeper the recess, and the smaller the aperture size, the shallower the recess. As described above, since the depth of the formed recess depends on the opening size, it is difficult to independently control the opening size and the depth of the recess.

凹版による印刷を良好に行うためには、上記とは反対に、開口サイズの小さい凹部を深く、大きい凹部を浅くすることが好ましい。これを可能とするためには、露光条件を異ならせた複数回の露光が必要となる。 In order to perform good printing with the intaglio, it is preferable to make the recess having a small opening size deep and the recess having a large opening shallow, contrary to the above. In order to make this possible, it is necessary to perform a plurality of exposures with different exposure conditions.

図3は凹部の深さを調節する方法の原理を示す図である。図3(a)は平坦部311に開口する凹部312の望ましい断面プロファイルを示しており、開口サイズの小さい凹部は深く、大きい凹部はより浅くなっている。これを作製するために、例えば図3(b)に示すように、感光層31のうち平坦部311として残したい領域を一定の露光量で露光すると、各凹部の深さはその開口サイズに応じたものとなり、図3(a)に示す望ましいプロファイルとは異なる。なお、以後の各図では、凹部の断面プロファイルを倒立台形により近似的に表すこととする。 FIG. 3 is a diagram showing the principle of a method of adjusting the depth of the recess. FIG. 3A shows a desirable cross-sectional profile of the recess 312 that opens into the flat portion 311, with the recesses having a smaller opening size being deeper and the recesses having a larger opening size being shallower. In order to produce this, for example, as shown in FIG. 3B, when the region of the photosensitive layer 31 that is desired to be left as the flat portion 311 is exposed with a constant exposure amount, the depth of each recess depends on the opening size. This is different from the desired profile shown in FIG. 3 (a). In each of the following figures, the cross-sectional profile of the recess is approximately represented by an inverted trapezoid.

露光直後の感光層31では、露光により硬化した部位(図3(b)下図において斜線を付した部位)で囲まれる凹部に未硬化の光硬化性材料が担持された状態となっている。したがって、図3(c)に示すように、このような未硬化の光硬化性材料を追加的に露光して硬化させれば、凹部の深さを調節することができる。必要な深さに応じて個別に露光条件を変更することで、複数の凹部をそれぞれ所望の深さとすることが可能となる。 Immediately after the exposure, the photosensitive layer 31 is in a state in which the uncured photocurable material is supported in the concave portion surrounded by the portion cured by the exposure (the portion shaded in the lower figure of FIG. 3B). Therefore, as shown in FIG. 3C, the depth of the recess can be adjusted by additionally exposing and curing such an uncured photocurable material. By individually changing the exposure conditions according to the required depth, it is possible to set each of the plurality of recesses to a desired depth.

なお、不可逆の光硬化反応においてはいったん硬化した部位を未硬化の状態に戻すことはできないから、浅く形成された凹部を深くすることはできない。当初は深く形成された凹部を追加的な露光により浅くすることができるだけである。このことから、当初の露光条件は、最も深さを必要とする、つまり開口サイズが最も小さい凹部に合わせたものとする必要がある。 In the irreversible photocuring reaction, the once cured portion cannot be returned to the uncured state, so that the shallowly formed recess cannot be deepened. Initially deeply formed recesses can only be made shallower by additional exposure. For this reason, the initial exposure conditions need to be adapted to the recesses that require the deepest aperture, that is, the smallest aperture size.

前記したように、同じ露光条件でも開口サイズが小さいほど凹部は浅くなるから、最も開口サイズが小さい凹部の深さが当該凹部に設定された目標深さとなるように露光を行えば、より開口サイズの大きい凹部はより深いものとなる。そのような凹部については、追加的な露光により個別に深さを調節することで、それぞれの目標深さを実現することが可能となる。 As described above, even under the same exposure conditions, the smaller the aperture size, the shallower the recess. Therefore, if the exposure is performed so that the depth of the recess having the smallest aperture size becomes the target depth set for the recess, the aperture size becomes larger. Larger recesses will be deeper. By individually adjusting the depth of such recesses by additional exposure, it is possible to achieve the respective target depths.

上記原理に基づき各凹部の深さを目標深さとするための具体的な露光プロセスについて、以下に3つの態様を順に説明する。ここでは開口サイズが異なる2種類の凹部を形成する例について説明するが、後述するように、この考え方は開口サイズが3種類以上の場合にも拡張することが可能である。また、感光層31に対する選択的な露光の状態をわかりやすく可視化するために、マスクを用いて所定の露光パターンを実現する例を示す。つまり図1(b)に示す第2実施形態の凹版製造装置2を用いた例である。しかしながら、マスクを用いず光源の点灯タイミングを制御することで露光パターンを実現する、図1(a)に示す第1実施形態の凹版製造装置1を用いた場合も同様に考えることができる。 A specific exposure process for setting the depth of each recess to the target depth based on the above principle will be described below in order of three modes. Here, an example of forming two types of recesses having different opening sizes will be described, but as will be described later, this idea can be extended even when there are three or more types of opening sizes. Further, an example in which a predetermined exposure pattern is realized by using a mask is shown in order to visualize the state of selective exposure to the photosensitive layer 31 in an easy-to-understand manner. That is, it is an example using the intaglio manufacturing apparatus 2 of the second embodiment shown in FIG. 1 (b). However, the same can be considered when the intaglio manufacturing apparatus 1 of the first embodiment shown in FIG. 1A, which realizes an exposure pattern by controlling the lighting timing of the light source without using a mask, is used.

図4は露光パターンの第1の態様を模式的に示す図である。図4(a)は製造しようとする凹版の望ましい断面プロファイルであり、感光層31の表面がなす平坦部311に、比較的開口サイズは小さいが深い凹部313と、より開口サイズが大きく浅い凹部314とが設けられる。以下では、感光層31のうち最終的に光硬化性材料が除去されて凹部313となるべき領域を「第1領域R1」、凹部314となるべき領域を「第2領域R2」と称することとする。また、凹部313の開口サイズを「第1サイズS1」、凹部314の開口サイズを「第2サイズS2」と称する。また、凹部313および凹部314の目標深さをそれぞれ符号D1および符号D2により表す。 FIG. 4 is a diagram schematically showing the first aspect of the exposure pattern. FIG. 4A shows a desirable cross-sectional profile of the intaglio to be manufactured, in which the flat portion 311 formed by the surface of the photosensitive layer 31 has a recess 313 having a relatively small opening size but being deep, and a recess 314 having a larger opening size and being shallower. And are provided. In the following, the region of the photosensitive layer 31 where the photocurable material is finally removed to become the recess 313 will be referred to as "first region R1", and the region to become the recess 314 will be referred to as "second region R2". To do. Further, the opening size of the recess 313 is referred to as "first size S1", and the opening size of the recess 314 is referred to as "second size S2". Further, the target depths of the recess 313 and the recess 314 are represented by reference numerals D1 and D2, respectively.

なお、ここでは凹版印刷の印刷特性の観点から凹部の開口サイズが小さいほど深くなるようにしているが、開口サイズと深さとの間の望ましい関係はこれに限定されるものではない。例えば開口サイズによらず凹部の深さが一定となるような断面プロファイルが目標とされてもよく、また特定の開口サイズの凹部が他と違う深さを有するような断面プロファイルが目標とされてもよい。いずれの場合にも開口サイズと深さとを独立に設定することが可能となる点が、本技術の大きな特徴となっている。 Here, from the viewpoint of the printing characteristics of intaglio printing, the smaller the opening size of the recess, the deeper it is, but the desirable relationship between the opening size and the depth is not limited to this. For example, a cross-sectional profile in which the depth of the recess is constant regardless of the opening size may be targeted, and a cross-sectional profile in which a recess having a specific opening size has a different depth is targeted. May be good. In either case, the opening size and depth can be set independently, which is a major feature of this technology.

最初に、図4(b)に示すように、第1回の露光として、凹部313,314に対応する領域を遮蔽するマスク251を用いることにより、感光層31のうち平坦部311となる領域のみに選択的に光Lが照射される。このときの露光量は、開口サイズが第1サイズS1である凹部313の深さを目標深さD1とするのに必要な露光量とされる。このときの露光量を「第1の露光量」と称する。未露光の感光層31を露光して、開口サイズが第1サイズS1で深さが目標深さD1となるような露光量、つまり第1の露光量については、予め実験的に求めておくことが可能である。 First, as shown in FIG. 4B, by using the mask 251 that shields the region corresponding to the recesses 313 and 314 as the first exposure, only the region of the photosensitive layer 31 that becomes the flat portion 311 is used. Is selectively irradiated with light L. The exposure amount at this time is the exposure amount required to set the depth of the recess 313 whose opening size is the first size S1 to the target depth D1. The exposure amount at this time is referred to as a "first exposure amount". The unexposed photosensitive layer 31 is exposed, and the exposure amount such that the aperture size is the first size S1 and the depth is the target depth D1, that is, the first exposure amount is experimentally obtained in advance. Is possible.

このような露光条件で露光を行うことにより、感光層31のうち平坦部311となるべき領域は、露光により光硬化性材料が硬化した「硬化領域」となる。一方、凹部313,314となるべき第1領域R1および第2領域R2の中央部は、光が入射せず実質的に全く露光されていない「未露光領域」となっている。そして、硬化領域と未露光領域との間には、ある程度の光が入射したものの、光硬化性材料が硬化するのに十分な露光量には達していない「未硬化領域」が形成されている。なお、実際には、硬化領域、未硬化領域および未露光領域の間の境界はこのように明確なものではなく、未露光領域から硬化領域に向けて露光量は連続的に増加し、露光量が所定の閾値を超えた部分が硬化領域となっている。 By performing exposure under such exposure conditions, the region of the photosensitive layer 31 that should be the flat portion 311 becomes a "cured region" in which the photocurable material is cured by exposure. On the other hand, the central portion of the first region R1 and the second region R2, which should be the recesses 313 and 314, is an "unexposed region" in which light is not incident and substantially not exposed at all. Then, between the cured region and the unexposed region, an "uncured region" is formed in which a certain amount of light is incident, but the exposure amount does not reach a sufficient amount for curing the photocurable material. .. In reality, the boundary between the cured region, the uncured region and the unexposed region is not so clear, and the exposure amount continuously increases from the unexposed region to the cured region, and the exposure amount is increased. The portion where is exceeded a predetermined threshold is the curing region.

第1の露光量で露光されたことにより、凹部313に対応する第1領域R1においては表面31aから硬化領域までの深さがほぼ目標深さD1となっている。一方、凹部314に対応する第2領域R2においては、表面から硬化領域までの深さが目標深さD2より大きくなっている。ただし、その底部付近には、ある程度露光されたが硬化には至っていない未硬化領域が生じている。 Since the exposure was performed with the first exposure amount, the depth from the surface 31a to the cured region is substantially the target depth D1 in the first region R1 corresponding to the recess 313. On the other hand, in the second region R2 corresponding to the recess 314, the depth from the surface to the cured region is larger than the target depth D2. However, in the vicinity of the bottom portion, there is an uncured region that has been exposed to some extent but has not been cured.

次に、図4(c)に示すように、凹部314に対応する第2領域R2だけに光を入射させるマスク252を用いて追加的な露光(第2回の露光)を行う。このときの露光量は、第1の露光量より小さく、未露光の感光層31を硬化させるために必要な露光量よりも小さな値とされる。このため、第1回の露光後において未露光の状態にあった第2領域R2中央部は、第2回の露光によって露光されるが、露光量が不足するため硬化しない「未硬化領域」となる。一方、第1回の露光によって未硬化領域となっていた領域は、さらなる露光を受けることにより累積の露光量が増加し、その値が光硬化性材料を硬化させるのに十分なものであれば硬化する。これにより、凹部314の深さが小さくなり、このときの露光量を適切に設定することで、凹部314の深さを目標深さD2とすることができる。 Next, as shown in FIG. 4C, additional exposure (second exposure) is performed using the mask 252 that injects light only into the second region R2 corresponding to the recess 314. The exposure amount at this time is smaller than the first exposure amount and is smaller than the exposure amount required to cure the unexposed photosensitive layer 31. Therefore, the central portion of the second region R2, which was in an unexposed state after the first exposure, is exposed by the second exposure, but is not cured due to insufficient exposure. Become. On the other hand, if the area that was uncured by the first exposure increases the cumulative exposure amount by receiving further exposure and the value is sufficient to cure the photocurable material. Hardens. As a result, the depth of the recess 314 is reduced, and the depth of the recess 314 can be set to the target depth D2 by appropriately setting the exposure amount at this time.

目標深さを得るための露光量については、例えば次のようにして求めることができる。未露光の状態から直接的に凹部を形成する場合における露光量と凹部の深さとの関係については、光硬化性材料の種類やその厚さ、照射光の波長等から、凹部のサイズごとに予め求めておくことが可能である。この関係から、未露光の状態から直接的に凹部314を形成する場合に凹部314を目標深さD2とするために必要な露光量を求めることができる。 The exposure amount for obtaining the target depth can be obtained, for example, as follows. Regarding the relationship between the exposure amount and the depth of the recess when the recess is directly formed from the unexposed state, the relationship between the exposure amount and the depth of the recess is determined in advance for each size of the recess from the type and thickness of the photocurable material, the wavelength of the irradiation light, etc. It is possible to ask for it. From this relationship, when the concave portion 314 is directly formed from the unexposed state, the exposure amount required to set the concave portion 314 to the target depth D2 can be obtained.

実際の処理において凹部314の深さが調節される際には、そのための露光に先立って第1回の露光が行われており、その際に第2領域R2も他の領域から回り込んでくる光によってある程度の露光を受けている。したがって、第1回の露光で第2領域R2が受ける露光量を、未露光の状態から凹部314を形成する際に必要な露光量から差し引いたものが、第2回の露光において必要な露光量となる。言い換えれば、2回の露光で受ける露光量の合計が凹部314を目標深さD2とするために必要な露光量となるようにすることで、凹部314を所望の深さにすることができる。例えば、予め試験的に第1回の露光を行い、そのときの第2領域R2における硬化領域までの深さを計測して露光量を見積もることが可能である。 When the depth of the recess 314 is adjusted in the actual processing, the first exposure is performed prior to the exposure for that purpose, and at that time, the second region R2 also wraps around from the other region. It has been exposed to some extent by light. Therefore, the exposure amount received by the second region R2 in the first exposure is subtracted from the exposure amount required for forming the concave portion 314 from the unexposed state, and the exposure amount required in the second exposure is obtained. It becomes. In other words, the recess 314 can be made to a desired depth by making the total amount of exposure received in the two exposures the exposure amount required to make the recess 314 the target depth D2. For example, it is possible to perform the first exposure on a trial basis in advance and measure the depth to the cured region in the second region R2 at that time to estimate the exposure amount.

凹部313に対応する第1領域R1への光入射はマスク252により規制されている。そのため、凹部313の深さは変わらず目標深さD1のままである。未露光領域および未硬化領域の光硬化性材料は流動性を保った状態であり、これを除去することにより、図4(d)に示すように、望ましい断面プロファイルに近い断面プロファイルを有する凹版を形成することができる。 Light incident on the first region R1 corresponding to the recess 313 is regulated by the mask 252. Therefore, the depth of the recess 313 does not change and remains the target depth D1. The photocurable material in the unexposed region and the uncured region is in a state of maintaining fluidity, and by removing this, an intaglio having a cross-sectional profile close to the desired cross-sectional profile is obtained as shown in FIG. 4 (d). Can be formed.

図5は露光パターンの第2の態様を模式的に示す図である。図5(a)および図5(b)に示すように、凹部313,314に対応する領域を遮蔽するマスク251を用い、第1の露光量で露光を行うところまでは第1の態様と同じである。これにより、第1領域R1に目標深さD1の凹部313が形成される。一方、凹部314に対応する第2領域R2への追加的な露光(第2回の露光)に際しては、図5(c)に示すように、凹部314の開口サイズS2よりも大きな開口サイズS3の開口を有するマスク253が用いられる。このため、第2回の露光では、凹部314に対応する第2領域R2と、第2領域R2を取り囲む周囲領域に対して光が照射される。この場合も、露光量は未露光の感光層31を硬化させない程度の小さな値に設定される。 FIG. 5 is a diagram schematically showing a second aspect of the exposure pattern. As shown in FIGS. 5 (a) and 5 (b), the same as the first aspect up to the point where the mask 251 that shields the area corresponding to the recesses 313 and 314 is used and the exposure is performed with the first exposure amount. Is. As a result, a recess 313 having a target depth D1 is formed in the first region R1. On the other hand, at the time of additional exposure (second exposure) to the second region R2 corresponding to the concave portion 314, as shown in FIG. 5C, the opening size S3 larger than the opening size S2 of the concave portion 314. A mask 253 with an opening is used. Therefore, in the second exposure, light is applied to the second region R2 corresponding to the recess 314 and the surrounding region surrounding the second region R2. Also in this case, the exposure amount is set to a small value that does not cure the unexposed photosensitive layer 31.

感光層31のうち凹部314となるべき部分とその周辺部分との境界では、感光層31の表面に入射する光が感光層31内で散乱されることにより露光量が不安定となりやすい。特に図5(c)において長円で囲んだ部分、つまり凹部314の側壁面や底面の隅部分において、露光量が不安定となって凹部314の断面形状がばらつくことがあり得る。第2の態様では、凹部314となるべき部分とその外側の部分との境界付近を第2回の露光で追加的に露光して確実に硬化させることで、このような形状の不安定さを解消することが可能となる。 At the boundary between the portion of the photosensitive layer 31 that should be the recess 314 and the peripheral portion thereof, the light incident on the surface of the photosensitive layer 31 is scattered in the photosensitive layer 31, so that the exposure amount tends to be unstable. In particular, in the portion surrounded by an oval in FIG. 5C, that is, the side wall surface of the recess 314 or the corner portion of the bottom surface, the exposure amount may become unstable and the cross-sectional shape of the recess 314 may vary. In the second aspect, the instability of such a shape is prevented by additionally exposing the vicinity of the boundary between the portion to be the concave portion 314 and the outer portion thereof in the second exposure and surely curing the concave portion 314. It becomes possible to eliminate it.

例えば図4に示す第1の態様では、第2領域R2の近傍においては第1回の露光と第2回の露光との間でマスクパターンがちょうど反転した状態となっている。そのため、両マスクの僅かな位置ずれによっても境界部分での露光量が変動し、結果として凹部314の断面形状のばらつきを生じることがあり得る。一方、図5に示す例では、第2回の露光範囲に第2領域R2の周囲領域を含ませることで、ある程度のマスク間の位置ずれを許容することが可能になる。なお、既に硬化領域となった部分にさらなる光照射が行われても、当該領域には何ら変化は生じない。すなわち、第2回の露光範囲を第2領域R2よりも外側まで広げることによるデメリットはない。ただし、既に目標深さとなった他の凹部にさらなる露光を生じさせることは避ける必要がある。この点に関しては後に再度触れる。 For example, in the first aspect shown in FIG. 4, in the vicinity of the second region R2, the mask pattern is just inverted between the first exposure and the second exposure. Therefore, even a slight positional deviation between the two masks may cause the exposure amount at the boundary portion to fluctuate, and as a result, the cross-sectional shape of the recess 314 may vary. On the other hand, in the example shown in FIG. 5, by including the peripheral region of the second region R2 in the second exposure range, it is possible to allow a certain degree of misalignment between the masks. Even if the portion that has already become the cured region is further irradiated with light, no change occurs in the region. That is, there is no demerit by extending the second exposure range to the outside of the second region R2. However, it is necessary to avoid causing further exposure to other recesses that have already reached the target depth. This point will be touched upon later.

このように、第2の露光態様においても、図5(d)に示すように、図4に示す第1の態様と同様、望ましい断面プロファイルに近い断面プロファイルを有する凹版を形成することができる。凹部の形状を安定させることができるという点において、第2の態様は第1の態様を改良したものと位置付けることもできる。 As described above, also in the second exposure mode, as shown in FIG. 5D, it is possible to form an intaglio having a cross-sectional profile close to the desired cross-sectional profile, as in the first aspect shown in FIG. The second aspect can also be regarded as an improvement of the first aspect in that the shape of the recess can be stabilized.

図6は露光パターンの第3の態様を模式的に示す図である。図6(a)および図6(b)に示すように、凹部313,314に対応する領域を遮蔽するマスク251を用い、第1の露光量で露光を行うところまでは第1および第2の態様と同じである。これにより、第1領域R1に目標深さD1の凹部313が形成される。 FIG. 6 is a diagram schematically showing a third aspect of the exposure pattern. As shown in FIGS. 6A and 6B, the masks 251 that shield the regions corresponding to the recesses 313 and 314 are used, and the first and second exposures are performed up to the point where the exposure is performed with the first exposure amount. It is the same as the aspect. As a result, a recess 313 having a target depth D1 is formed in the first region R1.

一方、凹部314に対応する第2領域R2への追加的な露光に際しては、図6(c)に示すように、凹部314に対応する第2領域R2への光入射はマスク254によりマスクされ、その周囲領域のみに光が照射される。このような構成によっても、第2の露光態様と同様に、凹部314の側壁面や底面の隅部分に対応する部位の露光量を選択的に増大させることで、凹部314の断面形状の安定化を図ることができる。この場合、凹部314となる第2領域R2への光照射はマスク254により防止されているので、第2回の露光で第2領域R2の中央部が硬化することはない。そのため、第2回の露光における露光量、すなわち「第2の露光量」の設定については、第1および第2の露光態様におけるものより自由度が高くなる。 On the other hand, upon additional exposure to the second region R2 corresponding to the recess 314, as shown in FIG. 6C, the light incident on the second region R2 corresponding to the recess 314 is masked by the mask 254. Light is applied only to the surrounding area. Even with such a configuration, as in the second exposure mode, the cross-sectional shape of the recess 314 is stabilized by selectively increasing the exposure amount of the portion corresponding to the side wall surface and the corner portion of the bottom surface of the recess 314. Can be planned. In this case, since the light irradiation of the second region R2, which is the recess 314, is prevented by the mask 254, the central portion of the second region R2 is not cured by the second exposure. Therefore, the degree of freedom in setting the exposure amount in the second exposure, that is, the "second exposure amount" is higher than that in the first and second exposure modes.

このように、第3の露光態様においても、図6(d)に示すように、図4に示す第1の態様および図5に示す第2の態様と同様、望ましい断面プロファイルに近い断面プロファイルを有する凹版を形成することができる。凹部の形状を安定させることができるという点において、第3の態様も、第1の態様を改良したものと位置付けることができる。 As described above, also in the third exposure mode, as shown in FIG. 6D, as in the first aspect shown in FIG. 4 and the second aspect shown in FIG. 5, a cross-sectional profile close to the desired cross-sectional profile is obtained. It is possible to form an intaglio plate to have. The third aspect can also be regarded as an improvement of the first aspect in that the shape of the recess can be stabilized.

この例からわかるように、第2回の露光による第2領域R2への追加的な露光は、対象となる領域に直接光を入射させる態様に限定されるものではなく、その周囲領域に光を照射することで、光の回り込みにより間接的に第2領域R2を露光させるものであってもよい。なお、図6(c)から明らかなように、この態様におけるマスク254のマスクパターンは、第1回の露光におけるマスク251と図5(c)に示す第2の態様におけるマスク253とを重ね合わせたものと等価である。 As can be seen from this example, the additional exposure to the second region R2 by the second exposure is not limited to the mode in which the light is directly incident on the target region, and the light is applied to the surrounding region. By irradiating, the second region R2 may be indirectly exposed by the wraparound of light. As is clear from FIG. 6 (c), the mask pattern of the mask 254 in this aspect is a superposition of the mask 251 in the first exposure and the mask 253 in the second aspect shown in FIG. 5 (c). Is equivalent to the mask.

ここでは、開口サイズの異なる2種類の凹部を形成する場合の露光態様について説明した。しかしながら、凹部の開口サイズが3種類以上ある場合でも考え方は同じである。すなわち、第1の露光量で第1回の露光を行った後、最小の第1サイズよりも大きい開口サイズを有する凹部については、それぞれの開口サイズを「第2サイズ」とみなして個別に第2回の露光を行うことで、それぞれを目標深さで形成することが可能となる。 Here, an exposure mode in the case of forming two types of recesses having different aperture sizes has been described. However, the idea is the same even when there are three or more types of recess opening sizes. That is, after the first exposure is performed with the first exposure amount, for the recesses having an aperture size larger than the minimum first size, each opening size is regarded as a "second size" and is individually seconded. By performing two exposures, it is possible to form each at a target depth.

具体的には、例えば、互いに開口サイズの異なる凹部A、凹部B、および凹部Cの3種類があり、このうち凹部Aが最も開口サイズの小さいものであるとする。この場合、最初に、凹部Aをその目標深さとするために必要な露光量を「第1の露光量」に設定して、凹部A,B,C以外の平坦部に光を照射する第1回の露光を行う。次に、凹部Bおよび/またはその周囲領域への第2回の露光として、凹部Bをその目標深さとするために必要な露光量を「第2の露光量」に設定した露光を行う。このとき、凹部A,Cについては露光されないようにする対策(例えばマスクによる遮蔽)がなされる。これにより、凹部Bの深さが調節される。 Specifically, for example, there are three types of recesses A, recesses B, and recesses C having different opening sizes, and it is assumed that the recess A has the smallest opening size. In this case, first, the exposure amount required to set the recess A as the target depth is set to the "first exposure amount", and the flat portion other than the recesses A, B, and C is irradiated with light. Perform multiple exposures. Next, as the second exposure to the recess B and / or the surrounding region, an exposure is performed in which the exposure amount required to make the recess B the target depth is set to the "second exposure amount". At this time, measures are taken to prevent the recesses A and C from being exposed (for example, shielding with a mask). As a result, the depth of the recess B is adjusted.

さらに、凹部Cおよび/またはその周囲領域への第2回の露光として、凹部Cをその目標深さとするために必要な露光量を「第2の露光量」に設定した露光を行う。このとき、凹部A,Bについては露光されないようにする対策がなされる。これにより、凹部Cの深さが調節される。こうして凹部A,B,Cがそれぞれ目標深さに調節される。開口サイズが4種類以上である場合も同様である。 Further, as the second exposure to the concave portion C and / or the surrounding region thereof, the exposure amount required to set the concave portion C as the target depth is set to the "second exposure amount". At this time, measures are taken to prevent the recesses A and B from being exposed. As a result, the depth of the recess C is adjusted. In this way, the recesses A, B, and C are adjusted to the target depths, respectively. The same applies when the opening size is 4 or more.

なお、同一サイズ、同一深さの凹部が複数ある場合には、それらの凹部は同タイミングの露光により一括形成されてもよい。この場合、一括形成される複数の凹部のサイズは厳密に同じである必要はない。すなわち、互いのサイズの差異が小さい複数の凹部については実質的に同サイズとみなし、それらの凹部について同タイミングで露光がなされてもよい。このことから、凹版に配置される複数の凹部をその開口サイズに応じて複数のグループに区分し、同一グループ内の凹部については同じタイミングで露光を行うことで深さが調節されるようにしてもよい。 When there are a plurality of recesses of the same size and the same depth, these recesses may be collectively formed by exposure at the same timing. In this case, the sizes of the plurality of recesses that are collectively formed do not have to be exactly the same. That is, a plurality of recesses having a small difference in size may be regarded as substantially the same size, and the recesses may be exposed at the same timing. For this reason, the plurality of recesses arranged in the intaglio are divided into a plurality of groups according to the opening size, and the depth of the recesses in the same group is adjusted by exposing them at the same timing. May be good.

図7はこの実施形態における凹版の製造方法の流れを示すフローチャートである。この処理は、第1実施形態の凹版製造装置1においてはCPU103、第2実施形態の凹版製造装置2においてはCPU203が予め用意された制御プログラムを実行し装置各部に所定の動作をさせることにより実現される。前記したように、第1実施形態と第2実施形態とでは露光パターンの生成方法が異なるものの、基本的な処理の流れは共通である。 FIG. 7 is a flowchart showing the flow of the intaglio manufacturing method in this embodiment. This processing is realized by executing a control program prepared in advance by the CPU 103 in the intaglio manufacturing apparatus 1 of the first embodiment and the CPU 203 in the intaglio manufacturing apparatus 2 of the second embodiment to cause each part of the apparatus to perform a predetermined operation. Will be done. As described above, although the exposure pattern generation method is different between the first embodiment and the second embodiment, the basic processing flow is the same.

最初に、CPU103(203)はワーク3を露光するための露光レシピをメモリ104(204)から取得する(ステップS101)。なお、露光レシピは外部装置あるいはユーザの設定操作により取得される態様でもよい。第1実施形態の凹版製造装置1における露光レシピは、各回の露光における露光パターンを表す露光データと露光量とを規定したものとなる。第2回の露光における露光パターンは、上記した3つの態様のいずれかとすることができる。また、第2実施形態の凹版製造装置2における露光レシピは、各回の露光において使用されるマスク25と露光量とを規定したものとなる。この場合も、第2回の露光における露光パターンは上記した3つの態様のいずれかとすることができる。 First, the CPU 103 (203) acquires an exposure recipe for exposing the work 3 from the memory 104 (204) (step S101). The exposure recipe may be obtained by an external device or a user setting operation. The exposure recipe in the recessed plate manufacturing apparatus 1 of the first embodiment defines exposure data and an exposure amount representing an exposure pattern in each exposure. The exposure pattern in the second exposure can be any of the above three modes. Further, the exposure recipe in the intaglio manufacturing apparatus 2 of the second embodiment defines the mask 25 and the exposure amount used in each exposure. In this case as well, the exposure pattern in the second exposure can be any of the above three modes.

次いで、基材32の表面に光硬化性材料による感光層31が形成されたワーク3が装置に搬入され、ワーク保持部14(24)に載置される(ステップS102)。なお、基材32のみが搬入され装置内で感光層31が塗布形成される態様でもよい。そして、露光レシピで規定された第1の露光量および第1の露光パターンで感光層31が露光される(ステップS103)。 Next, the work 3 in which the photosensitive layer 31 made of a photocurable material is formed on the surface of the base material 32 is carried into the apparatus and placed on the work holding portion 14 (24) (step S102). In addition, only the base material 32 may be carried in and the photosensitive layer 31 may be coated and formed in the apparatus. Then, the photosensitive layer 31 is exposed with the first exposure amount and the first exposure pattern specified in the exposure recipe (step S103).

形成すべき凹部の開口サイズが全て同じであればこの時点で各凹部は目標深さとなっており、追加的な露光は不要である。一方、異なる開口サイズの凹部がある場合、露光パターンを変更して第2回以降の追加的な露光が必要となる。そこで、CPU103は、露光レシピに追加的な露光が規定されている場合には(ステップS104においてYES)、露光レシピに従って露光量および露光パターンを変更設定し(ステップS105)、追加的な露光を実行する(ステップS106)。凹部の開口サイズが3種類以上ある場合には、必要な回数だけ追加露光が実行される。 If the opening sizes of the recesses to be formed are all the same, each recess has reached the target depth at this point, and no additional exposure is required. On the other hand, when there are recesses having different aperture sizes, it is necessary to change the exposure pattern and perform additional exposure from the second time onward. Therefore, when the exposure recipe specifies additional exposure (YES in step S104), the CPU 103 changes and sets the exposure amount and the exposure pattern according to the exposure recipe (step S105), and executes the additional exposure. (Step S106). When there are three or more types of recess opening sizes, additional exposure is performed as many times as necessary.

各凹部について深さの調節が終了していれば、追加露光は不要である(ステップS104においてNO)。この場合には、露光済みのワーク3が装置から搬出され(ステップS107)、外部の装置で感光層31のうち未硬化の部分を除去する処理が行われる(ステップS108)。このとき、感光層31のうち硬化領域が残留し、未硬化領域および未露光領域が除去される。これにより、所定の開口サイズおよび深さを有する凹部が所定の位置に配置された凹版が完成する。未硬化部分の除去については、例えば処理液による洗浄処理、ベーキング、液体成分の吸引除去等によって行うことが可能である。またこの処理は当該凹版製造装置内で行われてもよい。 If the depth adjustment for each recess is completed, no additional exposure is required (NO in step S104). In this case, the exposed work 3 is carried out from the apparatus (step S107), and a process of removing the uncured portion of the photosensitive layer 31 is performed by an external apparatus (step S108). At this time, the cured region of the photosensitive layer 31 remains, and the uncured region and the unexposed region are removed. This completes an intaglio in which recesses having a predetermined opening size and depth are arranged at predetermined positions. The uncured portion can be removed by, for example, a cleaning treatment with a treatment liquid, baking, suction removal of a liquid component, or the like. Further, this process may be performed in the intaglio manufacturing apparatus.

図8は露光パターンを作成するための処理を示すフローチャートである。この処理はCPU103(203)が実行してもよいが、凹版製造装置とは別体のデータ処理装置、例えばパーソナルコンピュータやワークステーションにより事前に実行されて露光パターンが作成されてもよい。第1実施形態の凹版製造装置1に対しては、露光パターンは制御ユニット100が露光装置10を制御するための描画データ(露光データ)として作成される。また、第2実施形態の凹版製造装置2に対しては、露光パターンはマスク25または当該マスクを作製するための加工データとして作成される。 FIG. 8 is a flowchart showing a process for creating an exposure pattern. This process may be executed by the CPU 103 (203), but may be executed in advance by a data processing device separate from the concave plate manufacturing device, for example, a personal computer or a workstation to create an exposure pattern. For the intaglio manufacturing apparatus 1 of the first embodiment, the exposure pattern is created as drawing data (exposure data) for the control unit 100 to control the exposure apparatus 10. Further, for the intaglio manufacturing apparatus 2 of the second embodiment, the exposure pattern is created as the mask 25 or processing data for manufacturing the mask.

最初に、製造すべき凹版における凹部のサイズと配置とを特定した設計パターンデータが取得される(ステップS201)。この設計パターンデータに基づき、第1の露光パターンが作成される(ステップS202)。第1の露光パターンは、例えば図4(b)に示したように、感光層31のうち平坦部となるべき領域に光を入射させ、凹部となるべき領域には光を入射させないためのネガパターンである。こうして第1回の露光において使用される第1の露光パターンが準備される。 First, design pattern data that specifies the size and arrangement of the recesses in the intaglio to be manufactured is acquired (step S201). A first exposure pattern is created based on this design pattern data (step S202). The first exposure pattern is, for example, as shown in FIG. 4B, a negative for injecting light into a region of the photosensitive layer 31 that should be a flat portion and not incident light in a region that should be a recess. It is a pattern. In this way, the first exposure pattern used in the first exposure is prepared.

次に、第1の露光パターンを反転させたポジパターンに対応するデータが作成される(ステップS203)。こうして形成されるポジデータは後の処理に使用するための中間データであり実際に露光に使用されるものではない。仮にこのパターンで露光を行った場合、第1の露光パターンとは逆に、感光層31のうち平坦部となるべき領域に光が入射せず、凹部となるべき領域に光が入射することになる。 Next, data corresponding to the positive pattern in which the first exposure pattern is inverted is created (step S203). The positive data formed in this way is intermediate data for use in subsequent processing and is not actually used for exposure. If the exposure is performed with this pattern, contrary to the first exposure pattern, the light is not incident on the region of the photosensitive layer 31 that should be the flat portion, but the light is incident on the region that should be the concave portion. Become.

ネガパターンのデータでは凹部を取り囲む平坦部の占める領域が指定されているため、各凹部の開口サイズをデータから直接的に把握することが難しい。これに対して、ポジデータは互いに孤立した凹部が占める領域を特定するものであるから、各凹部の開口サイズや配置を容易に導出することができる。また、ポジデータはネガパターンを単純に反転させたパターンとして容易に作成することが可能である。このように中間データとしてポジデータを作成しておくことで、以後の演算処理が簡単になる。 Since the area occupied by the flat portion surrounding the recess is specified in the negative pattern data, it is difficult to directly grasp the opening size of each recess from the data. On the other hand, since the positive data specifies the area occupied by the recesses isolated from each other, the opening size and arrangement of the recesses can be easily derived. In addition, the positive data can be easily created as a pattern in which the negative pattern is simply inverted. By creating positive data as intermediate data in this way, subsequent arithmetic processing becomes easy.

ポジデータで表される凹部の開口サイズのうち最小サイズ(前記した第1サイズ)の凹部については、第1の露光パターンでの露光により所望の深さに形成することができる。一方、これより開口サイズの大きい他の凹部については、深さを調節するための追加露光が必要であり、そのための露光パターンを求める必要がある。 The smallest size (first size described above) of the opening sizes of the recesses represented by the positive data can be formed to a desired depth by exposure with the first exposure pattern. On the other hand, for other recesses having a larger opening size than this, additional exposure for adjusting the depth is required, and it is necessary to obtain an exposure pattern for that purpose.

この目的のために、まず第1サイズより大きい開口サイズのうち1つが選択される(ステップS204)。このときに選択されるサイズは単一の値でもよく、ある程度の幅を有する数値範囲で表されてもよい。そして、ポジデータで表される凹部のうち選択されたサイズに該当するものが抽出され(ステップS205)、抽出された凹部に対し、前記した第1ないし第3の露光態様で第2回の露光を行うための露光パターンが作成される(ステップS206)。このとき、抽出された凹部以外の凹部については光が照射されないように露光パターンが決定される。 For this purpose, one of the aperture sizes larger than the first size is first selected (step S204). The size selected at this time may be a single value or may be represented by a numerical range having a certain width. Then, among the recesses represented by the positive data, those corresponding to the selected size are extracted (step S205), and the extracted recesses are subjected to the second exposure in the first to third exposure modes described above. An exposure pattern for this is created (step S206). At this time, the exposure pattern is determined so that the recesses other than the extracted recesses are not irradiated with light.

第1の露光態様を用いる場合、ポジデータが表すパターンのうち上記で抽出された凹部のみを残したものを露光パターンとすることができる。また第2の露光態様では、ポジデータが表すパターンのうち上記で抽出された凹部のみを残し、こうして残された凹部を一定のルールで拡張させたものを露光パターンとすることができる。また第3の露光態様では、上記の第2の露光態様のための露光パターンとネガパターンである第1の露光パターンとを合成したものを露光パターンとすることができる。 When the first exposure mode is used, the pattern represented by the positive data, in which only the recesses extracted above are left, can be used as the exposure pattern. Further, in the second exposure mode, among the patterns represented by the positive data, only the recesses extracted above are left, and the recesses thus left are expanded according to a certain rule to be an exposure pattern. Further, in the third exposure mode, the exposure pattern can be a combination of the exposure pattern for the second exposure mode and the first exposure pattern which is a negative pattern.

他の開口サイズの凹部がある場合には(ステップS207においてYES)、当該サイズに対してステップS204ないしS206が実行され露光パターンが作成される。このようにして、各開口サイズに対応する露光パターンがそれぞれ作成される。 If there is a recess of another aperture size (YES in step S207), steps S204 to S206 are executed for that size to create an exposure pattern. In this way, an exposure pattern corresponding to each aperture size is created.

こうして作成された露光パターンのそれぞれを用いて複数回の露光プロセスが実行される。各開口サイズに対応する露光パターンでは、当該サイズに該当するもの以外の凹部に対応する領域が露光されないようになっている。したがって、最も小さい第1サイズの凹部については、第1回の露光においてのみ露光され、以後の露光プロセスではさらなる露光を受けない。また、より大きい開口サイズを有する凹部についても、第1回の露光プロセスと、当該凹部のサイズに対応する露光プロセスでのみ露光を受け、それ以外の露光プロセスでは露光されない。これにより、多数種の開口サイズの凹部が混在する場合でも、サイズごとに凹部の深さを適切に調節することが可能である。 A plurality of exposure processes are executed using each of the exposure patterns thus created. In the exposure pattern corresponding to each aperture size, the area corresponding to the recess other than the one corresponding to the size is not exposed. Therefore, the smallest first size recess is exposed only in the first exposure and is not exposed further in the subsequent exposure process. Further, the recess having a larger opening size is also exposed only in the first exposure process and the exposure process corresponding to the size of the recess, and is not exposed in other exposure processes. This makes it possible to appropriately adjust the depth of the recesses for each size even when a large number of recesses having different opening sizes are mixed.

なお、上記した3つの露光態様のうち第2および第3の態様では、第2回の露光プロセスにおいて対象となる凹部の周囲領域に光が照射される。この周囲領域の外縁をどこまで拡張することができるかについて、その考え方を次に説明する。 In the second and third aspects of the above three exposure modes, the peripheral region of the concave portion to be targeted in the second exposure process is irradiated with light. The idea of how far the outer edge of this surrounding area can be extended will be described below.

図9は凹部の配置と露光パターンとの関係を示す図である。これまでの説明と同様、ここでは理解を容易にするために露光パターンをマスクにより実現する例を用いて説明するが、マスクを用いない場合でも考え方は同じである。図9(a)に示すように、4つの凹部315〜318が並べて配置されるケースを考える。ここで、中央の2つの凹部316,317は互いに開口サイズが等しい。これに対し、隣接する凹部315と凹部316とは開口サイズが異なり、また凹部317と凹部318も開口サイズが異なるものとする。 FIG. 9 is a diagram showing the relationship between the arrangement of the recesses and the exposure pattern. Similar to the above description, here, an example in which an exposure pattern is realized by a mask will be used for easy understanding, but the idea is the same even when a mask is not used. As shown in FIG. 9A, consider a case where four recesses 315 to 318 are arranged side by side. Here, the two central recesses 316 and 317 have the same opening size. On the other hand, it is assumed that the adjacent recesses 315 and 316 have different opening sizes, and the recesses 317 and 318 also have different opening sizes.

第2の露光態様において、特に凹部316を十分に浅くする必要がある場合には、第2回の露光で周囲からの光の回り込みによる深さ調節を有効に機能させるために、マスクを通過する光が入射する、図9(b)に示す周囲領域Rpをできるだけ広くすることが好ましい。周囲領域Rpは第1回の露光により既に硬化した平坦部となっているので、ここへの光照射は平坦部には影響を与えない。 In the second exposure mode, especially when it is necessary to make the recess 316 sufficiently shallow, the second exposure passes through a mask in order to effectively function the depth adjustment due to the wraparound of light from the surroundings. It is preferable to make the peripheral region Rp shown in FIG. 9B, where light is incident, as wide as possible. Since the peripheral region Rp is a flat portion that has already been cured by the first exposure, light irradiation there does not affect the flat portion.

一方、凹部315と凹部316とは互いに開口サイズが異なっているため、深さ調整のための露光は個別に行われる必要がある。したがって、凹部316に対して第2回の露光が実行される場合、凹部315は露光されないようにする必要がある。特に、既に深さが調節された凹部をさらに露光することで深さが変化することは避けなければならない。この意味からは、凹部316について設定される周囲領域Rpの外縁は他の凹部315からできるだけ離れていることが望ましい。これらを両立させるためには、図9(b)に示すマスク255のように、周囲領域Rpの外縁については最大でも隣接する凹部との中間点までとするのが好ましい。この条件が満たされる限り、周囲領域Rpの外縁の形状も特に限定されず任意である。凹部317と凹部318との間についても同様である。 On the other hand, since the recesses 315 and the recesses 316 have different aperture sizes, the exposure for adjusting the depth needs to be performed individually. Therefore, when the second exposure is performed on the recess 316, it is necessary to prevent the recess 315 from being exposed. In particular, it must be avoided that the depth changes due to further exposure of the recesses whose depth has already been adjusted. From this meaning, it is desirable that the outer edge of the peripheral region Rp set for the recess 316 is as far away as possible from the other recesses 315. In order to achieve both of these, it is preferable that the outer edge of the peripheral region Rp is at most the midpoint between the adjacent recesses, as in the mask 255 shown in FIG. 9B. As long as this condition is satisfied, the shape of the outer edge of the surrounding region Rp is not particularly limited and is arbitrary. The same applies to the space between the recess 317 and the recess 318.

ここで、凹部316と凹部317とは開口サイズが同じである。そのため、これらの間では、同じタイミングで第2回の露光を行うことが可能である。この場合、両凹部間の平坦部がさらに露光されることは問題とならないので、図9(c)に示すように、互いの周囲領域が連続したパターンのマスク256とすることも可能である。なお、もし凹部の開口サイズが2種類のみである場合には、開口サイズが小さい方の凹部に対応する領域への露光が防止されればよいので、マスクパターンとしては例えば開口サイズが小さい方の凹部およびその周囲領域のみをマスクするものを用いることも可能である。 Here, the recess 316 and the recess 317 have the same opening size. Therefore, it is possible to perform the second exposure at the same timing between them. In this case, it does not matter that the flat portion between the two recesses is further exposed. Therefore, as shown in FIG. 9C, it is possible to use a mask 256 having a pattern in which peripheral regions of each other are continuous. If there are only two types of opening sizes of the recesses, it is sufficient to prevent exposure to the area corresponding to the recesses having the smaller opening size. Therefore, as a mask pattern, for example, the one having the smaller opening size It is also possible to use one that masks only the recess and its surrounding area.

第3の露光態様においても同様である。すなわち、図9(d)に示すマスク257のように、例えば図9(c)に示されるマスク256に凹部316,317に対応する領域を遮蔽するパターンを加えたものを、第3の露光態様に用いられるマスクとしてもよい。 The same applies to the third exposure mode. That is, like the mask 257 shown in FIG. 9 (d), for example, the mask 256 shown in FIG. 9 (c) plus a pattern for shielding the region corresponding to the recesses 316 and 317 is the third exposure mode. It may be used as a mask used for.

以上のように、上記実施形態の凹版製造装置1,2は、光硬化性材料により形成された感光層を部分的に露光し、未硬化部分を除去することにより、平坦部とそれに開口する凹部とを有する凹版を製造するプロセスに用いられる装置である。これらの装置では、凹部の開口サイズとは独立にその深さを調節するために、次のような露光プロセスが採られる。 As described above, the intaglio manufacturing apparatus 1 and 2 of the above embodiment partially expose the photosensitive layer formed of the photocurable material and remove the uncured portion to form a flat portion and a recess opened therein. It is an apparatus used in the process of manufacturing an intaglio having a. In these devices, the following exposure process is adopted to adjust the depth of the recess independently of the opening size of the recess.

最初に、感光層のうち凹部以外の領域、つまり平坦部となるべき領域が広く露光される。光が照射された部分の感光層は硬化して平坦部を形成し、また感光層内部での光の散乱や反射により、凹部となるべき領域の底部も部分的に硬化する。このときの露光条件が、開口サイズが最も小さい凹部が目標深さとなるような露光量に設定されることで、当該凹部については目標深さに形成することができる。次に、より開口サイズの大きい凹部については、開口サイズごとに個別に追加的な露光が行われて未硬化の材料が硬化することにより、それぞれ所望の深さに調節される。 First, a region of the photosensitive layer other than the recess, that is, a region to be a flat portion is widely exposed. The photosensitive layer of the portion irradiated with light is cured to form a flat portion, and the bottom of the region to be a recess is also partially cured due to scattering and reflection of light inside the photosensitive layer. By setting the exposure condition at this time to an exposure amount such that the concave portion having the smallest opening size has the target depth, the concave portion can be formed at the target depth. Next, the recesses having a larger opening size are adjusted to a desired depth by performing additional exposure individually for each opening size and curing the uncured material.

こうして第1回の露光および第2回以降の追加的な露光の実行後に未硬化の部分が除去されることで、開口サイズおよび深さがそれぞれ目標値に調整された複数の凹部を有する凹版が作製される。単一の露光条件では形成される凹部の深さは開口サイズに依存するが、本実施形態では追加的な露光によって凹部の深さを開口サイズごとに個別に調節することができるので、異なる開口サイズの凹部をそれぞれ目標深さに形成することが可能である。また、未硬化の感光層を残したまま繰り返し露光を行い、その後に未硬化部分が除去されるので、複数回の露光プロセスの間に感光層の再塗付や未硬化部分の除去を必要としない。そのため、短時間で凹版を製造することが可能である。また、ガラス板や金属板等の基材表面を直接加工して凹部を形成するよりも低コストで凹版を製造することができる。 In this way, the uncured portion is removed after the first exposure and the second and subsequent additional exposures, so that the intaglio having a plurality of recesses whose aperture size and depth are each adjusted to the target values is obtained. It is made. The depth of the recess formed under a single exposure condition depends on the aperture size, but in the present embodiment, the depth of the recess can be individually adjusted for each aperture size by additional exposure, so that different apertures are used. It is possible to form recesses of each size to the target depth. In addition, repeated exposure is performed while leaving the uncured photosensitive layer, and then the uncured portion is removed. Therefore, it is necessary to reapply the photosensitive layer or remove the uncured portion during a plurality of exposure processes. do not do. Therefore, it is possible to manufacture an intaglio in a short time. Further, the intaglio can be manufactured at a lower cost than directly processing the surface of a base material such as a glass plate or a metal plate to form a recess.

なお、本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて上述したもの以外に種々の変更を行うことが可能である。例えば上記の説明では、凹部の深さが開口サイズに応じて設定され、同一サイズの凹部は同一深さとすることが前提とされている。しかしながら、例えば同一の開口サイズを有する複数の凹部の間で目標深さが異なっている場合にも、上記プロセスを一部改変することで対応可能である。すなわち、上記の例では開口サイズが同じである複数の凹部に対して1つの露光パターンが設定されるが、開口サイズが同じでも目標深さの異なる凹部を区別してそれぞれに対応する露光パターンおよび露光量を設定し、それに基づき追加露光を行うことで、同一の開口サイズでも深さの異なる凹部を形成することが可能である。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications other than those described above can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, in the above description, it is assumed that the depth of the recess is set according to the opening size, and that the recesses of the same size have the same depth. However, even when the target depth is different among a plurality of recesses having the same opening size, for example, it can be dealt with by partially modifying the above process. That is, in the above example, one exposure pattern is set for a plurality of recesses having the same aperture size, but the exposure patterns and exposures corresponding to each of the recesses having the same aperture size but different target depths are distinguished. By setting the amount and performing additional exposure based on the amount, it is possible to form recesses having different depths even with the same aperture size.

また、上記の説明では凹部の開口サイズを1つの断面における幅によって表している。しかしながら、開口サイズを表す指標としては、これ以外に、例えば開口面積を用いることも可能である。断面における幅が同じ凹部でも、奥行き方向の長さが異なれば同一の露光条件で形成される凹部の深さが互いに異なることもあり得る。また、同じ開口面積の凹部でも、その開口形状によって、同一の露光条件で形成される凹部の深さが互いに異なることもあり得る。これらのことから、開口サイズを表す指標として何を用いるかについては、凹版の版面に配置される凹部がどのような形状のものであるかに応じて選択されることが好ましい。 Further, in the above description, the opening size of the recess is represented by the width in one cross section. However, as an index representing the opening size, for example, the opening area can be used. Even if the recesses have the same width in the cross section, the depths of the recesses formed under the same exposure conditions may differ from each other if the lengths in the depth direction are different. Further, even in the recesses having the same opening area, the depths of the recesses formed under the same exposure conditions may differ from each other depending on the opening shape. From these facts, it is preferable to select what is used as an index indicating the opening size according to the shape of the recesses arranged on the plate surface of the intaglio plate.

より厳密には、幅または面積の一方が同一であることのみを以って「同一サイズ」とせず、両者が開口形状まで含めて同一または実質的に同一であるものを「同一サイズ」として取り扱うようにすることで、個々の凹部の深さ調節をより精度よく行うことが可能となる。この場合にも、具体的な露光プロセスについては上記した考え方を適用することができる。 Strictly speaking, "same size" is not defined only because one of the width or area is the same, and the same or substantially the same size including the opening shape is treated as "same size". By doing so, it becomes possible to adjust the depth of each recess more accurately. In this case as well, the above-mentioned concept can be applied to the specific exposure process.

以上説明したように、上記実施形態の凹版製造装置1,2においては、ワーク保持部14,24が本発明の「保持部」として機能する。また、光発生部11、光路調整部12および光走査部13が一体的に、また光発生部21、光路調整部22および光走査部23が一体的に、それぞれ本発明の「照射部」として機能している。また、制御ユニット100,200が本発明の「制御部」として機能している。 As described above, in the intaglio manufacturing apparatus 1 and 2 of the above-described embodiment, the work holding portions 14 and 24 function as the "holding portion" of the present invention. Further, the light generating unit 11, the optical path adjusting unit 12, and the optical scanning unit 13 are integrated, and the light generating unit 21, the optical path adjusting unit 22, and the optical scanning unit 23 are integrally as the "irradiating unit" of the present invention. It is functioning. Further, the control units 100 and 200 function as the "control unit" of the present invention.

また、図7に示す凹版製造プロセスにおいては、ステップS103が本発明の「第1工程」に相当し、ステップS106が本発明の「第2工程」に相当している。また、ステップS108が、本発明の「第3工程」に相当している。 Further, in the intaglio manufacturing process shown in FIG. 7, step S103 corresponds to the "first step" of the present invention, and step S106 corresponds to the "second step" of the present invention. Further, step S108 corresponds to the "third step" of the present invention.

以上、具体的な実施形態を例示して説明してきたように、本発明に係る凹版の製造方法は、例えば、第2工程では第2領域に光を照射するように構成されてもよい。本願発明者らの知見によれば、照射された光が感光層の内部で散乱することに起因して、硬化は光が入射する表面とは反対の裏面側から進行する。このため、第1工程である程度の露光を受けた第2領域の底部に光を入射させることは、第2領域に形成される凹部の深さを小さくするように作用する。このときの露光量を適切に設定することで、第2領域に形成される凹部の深さを所望の値に調節することが可能となる。例えば、第2の露光量は、未露光の感光層を硬化させるために必要な露光量より小さいことが好ましい。こうすることで、第2領域の全体が硬化してしまうことが回避される。 As described above by exemplifying a specific embodiment, the intaglio manufacturing method according to the present invention may be configured to irradiate the second region with light in the second step, for example. According to the findings of the inventors of the present application, the curing proceeds from the back surface side opposite to the front surface on which the light is incident because the irradiated light is scattered inside the photosensitive layer. Therefore, injecting light into the bottom of the second region that has been exposed to some extent in the first step acts to reduce the depth of the recess formed in the second region. By appropriately setting the exposure amount at this time, it is possible to adjust the depth of the recess formed in the second region to a desired value. For example, the second exposure amount is preferably smaller than the exposure amount required to cure the unexposed photosensitive layer. By doing so, it is possible to prevent the entire second region from being cured.

また、第2工程では、第2領域の周囲領域に光を照射するように構成されてもよい。このような構成によれば、第1工程において露光された領域と露光されていない領域との境界部分に追加的な露光がなされるので、形成される凹部の断面形状を安定したものとすることができる。 Further, in the second step, it may be configured to irradiate the peripheral region of the second region with light. According to such a configuration, additional exposure is applied to the boundary portion between the exposed region and the unexposed region in the first step, so that the cross-sectional shape of the formed recess is stabilized. Can be done.

具体的には、例えば第2領域および周囲領域の両方に光を照射してもよく、この場合、第2の露光量は、未露光の感光層を硬化させるために必要な露光量より小さいことが好ましい。こうすることで、第2領域に形成される凹部の深さを調節しつつ、その断面形状も安定したものとすることができる。 Specifically, for example, both the second region and the surrounding region may be irradiated with light, in which case the second exposure amount is smaller than the exposure amount required to cure the unexposed photosensitive layer. Is preferable. By doing so, it is possible to adjust the depth of the concave portion formed in the second region and to stabilize the cross-sectional shape thereof.

あるいは例えば、第2工程は、第2領域に光を照射せず周囲領域に光を照射するように構成されてもよい。このような構成によれば、第2工程における露光光が直接第2領域に入射して露光させてしまうことがないため、第2の露光量の設定の自由度が高くなる。 Alternatively, for example, the second step may be configured to irradiate the surrounding region with light without irradiating the second region with light. According to such a configuration, since the exposure light in the second step is not directly incident on the second region and exposed, the degree of freedom in setting the second exposure amount is increased.

また、第2の露光量は、第2サイズの凹部を当該凹部に対応して設定された目標深さとするために必要な露光量とされることが好ましい。このような構成によれば、第2工程を実行することで第2領域に形成される凹部の深さを目標深さにすることができる。この場合、未露光の感光層を目標深さで硬化させるための露光量ではなく、当該露光量から、第1工程において第2領域が受ける露光量を差し引いたものを第2の露光量とするのが望ましい。 Further, it is preferable that the second exposure amount is an exposure amount required to make the concave portion of the second size a target depth set corresponding to the concave portion. According to such a configuration, the depth of the recess formed in the second region can be set to the target depth by executing the second step. In this case, the second exposure amount is not the exposure amount for curing the unexposed photosensitive layer at the target depth, but the exposure amount obtained by subtracting the exposure amount received by the second region in the first step from the exposure amount. Is desirable.

また例えば、複数の凹部のうち開口サイズが互いに同一であるものについては、一括して第2工程が実行されてもよい。このような構成によれば、同一の露光条件で露光することのできる領域をまとめて露光することで、必要な露光の回数を少なくして処理時間を短縮することができる。 Further, for example, the second step may be collectively executed for a plurality of recesses having the same opening size. According to such a configuration, the number of necessary exposures can be reduced and the processing time can be shortened by collectively exposing the regions that can be exposed under the same exposure conditions.

また例えば、第1工程および第2工程の後に、感光層のうち露光により硬化した部位以外の未硬化部位を除去する第3工程がさらに備えられてもよい。このような構成とすることで、所望の開口サイズおよび深さの複数の凹部を有する凹版を製造することができる。 Further, for example, after the first step and the second step, a third step of removing the uncured portion other than the portion cured by exposure in the photosensitive layer may be further provided. With such a configuration, it is possible to manufacture an intaglio having a plurality of recesses having a desired opening size and depth.

また、本発明に係る凹版製造装置は、照射部がワークに対し入射位置を変更しながら所定の点灯パターンで断続的に光ビームを出射することで感光層を走査露光し、制御部がその点灯パターンを制御するものであってもよい。このような構成によれば、所定の露光パターンを実現するのにマスクを使用する必要がない。このため、特に小ロットの凹版を製造する目的に好適である。 Further, in the intaglio manufacturing apparatus according to the present invention, the irradiation unit intermittently emits a light beam in a predetermined lighting pattern while changing the incident position with respect to the work, thereby scanning and exposing the photosensitive layer, and the control unit lights the photosensitive layer. It may control the pattern. With such a configuration, it is not necessary to use a mask to realize a predetermined exposure pattern. Therefore, it is particularly suitable for the purpose of manufacturing small lot intaglios.

この発明は、凹版印刷技術に用いられる各種の凹版の製造に適用可能であり、印刷の目的や対象物は限定されないが、特に小ロットの印刷に供される凹版の製造に好適である。 The present invention can be applied to the production of various intaglio plates used in intaglio printing technology, and the purpose and object of printing are not limited, but the invention is particularly suitable for the production of intaglio plates used for printing small lots.

1,2 凹版製造装置
3 ワーク
11,21 光発生部(照射部)
12,22 光路調整部(照射部)
13,23 光走査部(照射部)
14,24 ワーク保持部(保持部)
31 感光層
32 基材
100,200 制御ユニット(制御部)
R1 第1領域
R2 第2領域
Rp 周囲領域
S103 第1工程
S106 第2工程
S108 第3工程
1,2 Intaglio manufacturing equipment 3 Work 11,21 Light generator (irradiation part)
12, 22 Optical path adjustment part (irradiation part)
13,23 Optical scanning unit (irradiation unit)
14,24 Work holding part (holding part)
31 Photosensitive layer 32 Base material 100,200 Control unit (control unit)
R1 1st area R2 2nd area Rp peripheral area S103 1st process S106 2nd process S108 3rd process

Claims (11)

平坦部と前記平坦部に開口する複数の凹部とを有する凹版の製造方法において、
光硬化性材料により形成された感光層のうち前記平坦部となる領域を、前記凹部のうち開口サイズが最も小さい第1サイズであるものを目標深さとするために必要な第1の露光量で露光して硬化させる第1工程と、
前記感光層のうち前記第1サイズを有する前記凹部となる第1領域を露光させることなく、前記感光層のうち開口サイズが前記第1サイズより大きい第2サイズである前記凹部となる第2領域を第2の露光量で露光する第2工程と
を備える凹版の製造方法。
In a method for manufacturing an intaglio having a flat portion and a plurality of recesses opening in the flat portion,
With the first exposure amount required to set the region to be the flat portion of the photosensitive layer formed of the photocurable material to the first size of the recesses having the smallest opening size as the target depth. The first step of exposure and curing,
The second region of the photosensitive layer, which is the second size of the photosensitive layer and has an opening size larger than the first size, without exposing the first region of the photosensitive layer, which is the recess of the first size. A method for producing an intaglio plate, comprising a second step of exposing the intaglio with a second exposure amount.
前記第2工程では、前記第2領域に光を照射する請求項1に記載の凹版の製造方法。 The method for manufacturing an intaglio according to claim 1, wherein in the second step, the second region is irradiated with light. 前記第2の露光量は、未露光の前記感光層を硬化させるために必要な露光量より小さい請求項2に記載の凹版の製造方法。 The method for producing an intaglio according to claim 2, wherein the second exposure amount is smaller than the exposure amount required to cure the unexposed photosensitive layer. 前記第2工程では、前記第2領域の周囲領域に光を照射する請求項1に記載の凹版の製造方法。 The method for manufacturing an intaglio according to claim 1, wherein in the second step, the peripheral region of the second region is irradiated with light. 前記第2工程では、前記第2領域および前記周囲領域に光を照射し、前記第2の露光量は、未露光の前記感光層を硬化させるために必要な露光量より小さい請求項4に記載の凹版の製造方法。 The second step is claimed in claim 4, wherein the second region and the surrounding region are irradiated with light, and the second exposure amount is smaller than the exposure amount required to cure the unexposed photosensitive layer. Intaglio manufacturing method. 前記第2工程では、前記第2領域に光を照射せず前記周囲領域に光を照射する請求項4に記載の凹版の製造方法。 The method for producing an intaglio according to claim 4, wherein in the second step, the second region is not irradiated with light and the surrounding region is irradiated with light. 前記第2の露光量は、前記第2サイズの前記凹部を当該凹部に対応して設定された目標深さとするために必要な露光量である請求項1ないし6のいずれかに記載の凹版の製造方法。 The recessed plate according to any one of claims 1 to 6, wherein the second exposure amount is an exposure amount required to make the recess of the second size a target depth set corresponding to the recess. Production method. 前記複数の凹部のうち開口サイズが互いに同一であるものについて、一括して前記第2工程を実行する請求項1ないし7のいずれかに記載の凹版の製造方法。 The method for manufacturing an intaglio according to any one of claims 1 to 7, wherein the second step is collectively executed for the plurality of recesses having the same opening size. 前記第1工程および前記第2工程の後に、前記感光層のうち露光により硬化した部位以外の未硬化部位を除去する第3工程を備える請求項1ないし8のいずれかに記載の凹版の製造方法。 The method for producing an intaglio according to any one of claims 1 to 8, further comprising a third step of removing the uncured portion of the photosensitive layer other than the portion cured by exposure after the first step and the second step. .. 平坦部と前記平坦部に開口する複数の凹部とを有する凹版を製造する凹版製造装置において、
基材の表面に光硬化性材料による感光層が形成されたワークを保持する保持部と、
前記ワークに光を照射して前記光硬化性材料を露光させる照射部と、
前記照射部から前記ワークへの光の入射パターンを制御する制御部と
を備え、前記制御部は、
前記感光層のうち前記平坦部となる領域を、前記凹部のうち開口サイズが最も小さい第1サイズであるものを目標深さとするために必要な第1の露光量で露光して硬化させ、
前記感光層のうち前記第1サイズを有する前記凹部となる第1領域を露光させることなく、前記光硬化性材料層のうち開口サイズが前記第1サイズより大きい第2サイズである前記凹部となる第2領域を第2の露光量で露光させる、凹版製造装置。
In an intaglio manufacturing apparatus that manufactures an intaglio plate having a flat portion and a plurality of recesses opened in the flat portion.
A holding part for holding a work in which a photosensitive layer made of a photocurable material is formed on the surface of a base material,
An irradiation unit that irradiates the work with light to expose the photocurable material, and an irradiation unit.
The control unit includes a control unit that controls the incident pattern of light from the irradiation unit to the work.
The flat region of the photosensitive layer is exposed and cured with the first exposure amount required to set the first size of the recesses having the smallest opening size as the target depth.
The concave portion of the photocurable material layer having an opening size larger than the first size without exposing the first region of the photosensitive layer, which is the concave portion having the first size. An intaglio manufacturing apparatus that exposes a second region with a second exposure amount.
前記照射部が、前記ワークに対し入射位置を変更しながら所定の点灯パターンで断続的に光ビームを出射することで前記感光層を走査露光し、
前記制御部が、前記点灯パターンを制御する請求項10に記載の凹版製造装置。
The irradiation unit intermittently emits a light beam in a predetermined lighting pattern while changing the incident position with respect to the work, thereby scanning and exposing the photosensitive layer.
The intaglio manufacturing apparatus according to claim 10, wherein the control unit controls the lighting pattern.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004264380A (en) * 2003-02-28 2004-09-24 Tdk Corp Method for forming resist pattern and resist pattern forming apparatus
JP2005066474A (en) * 2003-08-25 2005-03-17 Iseki & Co Ltd Hulling device
JP2005101292A (en) * 2003-09-25 2005-04-14 Semiconductor Leading Edge Technologies Inc Charged particle beam projecting exposure device, mask for exposure, method of manufacturing mask for exposure, and charged particle beam projecting exposure system
CN1329189C (en) * 2003-11-27 2007-08-01 株式会社新克 Gravure process
JP2007083526A (en) * 2005-09-21 2007-04-05 Seiko Epson Corp Method for manufacturing board with recessed portion, and board with recessed portion
JP2009170681A (en) * 2008-01-17 2009-07-30 Nikon Corp Exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method
JP2009210598A (en) * 2008-02-29 2009-09-17 Nsk Ltd Glass substrate, and proximity scan exposure apparatus, and proximity scan exposure method
JP6427452B2 (en) 2015-03-30 2018-11-21 株式会社Screenホールディングス Exposure data generation method, manufacturing method, exposure data generation device, exposure data generation program, and manufacturing system

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