JP6836321B2 - 移動物体からのスペクトル情報の取得 - Google Patents

移動物体からのスペクトル情報の取得 Download PDF

Info

Publication number
JP6836321B2
JP6836321B2 JP2015242330A JP2015242330A JP6836321B2 JP 6836321 B2 JP6836321 B2 JP 6836321B2 JP 2015242330 A JP2015242330 A JP 2015242330A JP 2015242330 A JP2015242330 A JP 2015242330A JP 6836321 B2 JP6836321 B2 JP 6836321B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
time
object image
polarization
along
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015242330A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016186485A5 (ja
JP2016186485A (ja
Inventor
アレックス・ヘギー
ジョエル・マルティーニ
ピーター・キーゼル
デイヴィッド・ケイ・ビーゲルセン
Original Assignee
パロ アルト リサーチ センター インコーポレイテッド
パロ アルト リサーチ センター インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US14/576,155 external-priority patent/US10048192B2/en
Application filed by パロ アルト リサーチ センター インコーポレイテッド, パロ アルト リサーチ センター インコーポレイテッド filed Critical パロ アルト リサーチ センター インコーポレイテッド
Publication of JP2016186485A publication Critical patent/JP2016186485A/ja
Publication of JP2016186485A5 publication Critical patent/JP2016186485A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6836321B2 publication Critical patent/JP6836321B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0289Field-of-view determination; Aiming or pointing of a spectrometer; Adjusting alignment; Encoding angular position; Size of measurement area; Position tracking
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/447Polarisation spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0224Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using polarising or depolarising elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0229Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using masks, aperture plates, spatial light modulators or spatial filters, e.g. reflective filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2823Imaging spectrometer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry
    • G01J3/453Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
    • G01J3/4531Devices without moving parts
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/28Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising
    • G02B27/283Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising used for beam splitting or combining
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/28Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising
    • G02B27/286Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising for controlling or changing the state of polarisation, e.g. transforming one polarisation state into another
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/04Prisms
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/30Polarising elements
    • G02B5/3083Birefringent or phase retarding elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • G01J2003/2806Array and filter array

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)

Description

本開示は一般的にスペクトルイメージングのための装置、システム、および方法に関する。
ハイパースペクトルイメージングを含むスペクトルイメージングは物体の1つ以上の点からスペクトル情報を提供できる。ハイパースペクトルイメージングは空間イメージングと分光法を組み合わせることができる。ハイパースペクトルイメージャは、物体の各座標位置につき、多数の、例えば10超の、または100超の、スペクトル帯で、光強度を取得する。ハイパースペクトル画像内の全ての位置は、対応する物体位置における光のスペクトルを含む。ハイパースペクトル画像データを利用することで、物体の特徴を精密且つ詳細につかむことができる。スペクトルイメージングは、農業、天文学、および生物医学イメージングを含む数多くの分野に応用されている。
ここで説明するいくつかの実施形態は、軌道沿いに動く物体から発散する光を受け取るよう配置された第1の偏光子を含む光学装置を対象とする。第1の偏光子は物体から発散する光を第1の偏光方向沿いに偏光させる。波長板は第1の偏光子から光を受け取るよう配置され、波長板は軌道方向沿いの位置に応じて変化する光位相差を有し、且つ第1の偏光方向に対し第1の角度を成す、例えば約45度の角度を成す、遅軸を有する。第2の偏光子は波長板から光を受け取るよう配置される。第2の偏光子は波長板から受け取る光を第2の偏光方向沿いに偏光させ、第2の偏光方向は、第1の偏光方向に対しほぼ平行であってよく、あるいはほぼ直角であってよい。1つ以上の検出素子を備える検出器は第2の偏光子から光を受け取るよう配置される。それぞれの検出素子は第2の偏光子から受け取る光の強度変化に応じて電気出力信号を生成する。検出器と波長板は、それぞれの検出素子と波長板の少なくとも1つの特定の位相差との間に一定の対応が成立するよう配置される。
いくつかの実施形態には、光学装置と、光学装置の電気出力へ結合された処理回路とを含む、システムが関わる。光学装置は、軌道沿いに光学装置に対し相対的に動いている物体または物体像から光を受け取るよう構成された第1の偏光子を含む。第1の偏光子はその光を第1の偏光方向沿いに偏光させる。波長板は第1の偏光子から光を受け取るよう光学的に結合される。波長板は軌道方向沿いの位置に応じて変化する光位相差を有し、且つ第1の偏光方向に対し第1の角度を成す遅軸を有する。第2の偏光子は波長板から光を受け取るよう光学的に結合される。第2の偏光子は波長板から受け取る光を第2の偏光方向沿いに偏光させ、第2の偏光方向は、第1の偏光方向に対しほぼ平行であってよく、あるいはほぼ直角であってよい。複数の検出素子を備える検出器アレイは第2の偏光子から光を受け取るよう光学的に結合される。検出器アレイのそれぞれの検出素子は、第2の偏光子から受け取る光の強度に応じて時間の経過に沿って変化する電気出力信号を提供する。光の強度は物体または物体像と光学装置との相対運動の関数である。処理回路は検出素子の電気出力信号を処理し、電気出力信号に基づいて物体に関する波長情報を判断する。
いくつかの実施形態は、光を発散する物体から位置およびスペクトル情報を取得する方法を対象とする。方法は物体または物体像を波長板に対し相対的に動かすことを含む。物体または物体像の1つ以上の点(ここでは物体点/物体像点と呼ばれる)につき、物体に関する位置情報が同時に検出され、さらに物体または物体像が波長板に対し相対的に動く過程で発散光から位置依存偏光インターフェログラムが取得される。所与物体点/物体像点から記録された位置依存偏光インターフェログラムから、当該物体点/物体像点に対応するスペクトル情報が判断される。
図1Aは、いくつかの実施形態によるイメージングシステムのブロック図である。 図1Bは、いくつかの実施形態による、物体からスペクトル情報を取得するよう構成されたシステムのブロック図である。 図2は、いくつかの実施形態による、検出器出力から周波数領域信号への変換を例示するものである。 図3は、いくつかの実施形態による、空間フィルタを含む光学装置を図示するものである。 図4は、いくつかの実施形態による、偏光ビームスプリッタと複数の検出器とを含む光学装置を図示するものである。 図5は、いくつかの実施形態による方法を例示する流れ図である。 図6は、複数の検出素子を有する検出器アレイを含むイメージングシステムのブロック図である。 図7Aは、スペクトルエンコーダと、スペクトルエンコーダにわたって物体の像を動かす光学部品とを備える、イメージングシステムのブロック図である。 図7Bは、スペクトルエンコーダと、物体とスペクトルエンコーダとの相対運動を引き起こすよう構成された移動装置とを備える、イメージングシステムのブロック図を例示するものである。 図8Aは、第1および第2の半片を備えるウォラストンプリズムを図示するものである。 図8Bは、光学的等方性材から成る基板に接着された第1および第2の半片を備えるウォラストンプリズムを図示するものである。 図9Aは、プリズム半片と、スペクトルエンコーダの結像軸沿いに配置された追加的複屈折材層とを含む、ウォラストンプリズムを図示するものである。 図9Bは、プリズム半片と、スペクトルエンコーダの結像軸沿いに配置された追加的複屈折材層とを含む、ウォラストンプリズムを図示するものである。 図10Aは、複屈折勾配を各々有する第1および第2の膜から成る波長板の図である。 図10Bは、複屈折勾配を各々有する第1および第2の膜から成る波長板の図である。 図10Cは、複屈折勾配を各々有する第1および第2の膜から成る波長板の図である。 図10Dは、偏光子の間に挟まれた図10A〜10Cの波長板を備えるスペクトルエンコーダを例示するものである。 図11は、ウォラストンプリズムの縞局在化を補償するため一定の角度で傾けられた検出器を有するスペクトルエンコーダを図示するものである。
これらの図は必ずしも一定の縮尺で描かれていない。これらの図で使われている類似する番号は類似する構成要素を指している。ただし或る1つの図で或る1つの構成要素を指すため或る1つの番号が使用されていても、別の図で同じ番号が付された構成要素が限定されないことは理解されるであろう。
ここで説明する実施形態には、顕微鏡でしか見えない微視的サイズから肉眼で見える巨視的サイズに至る物体のスペクトルイメージングのための装置、システム、および方法が関わる。例えばいくつかの実施形態は、小さい物体の、例えば生体細胞やその他の小さい粒子の、スペクトル情報を取得することを対象とする。別の実施形態は、大きい物体の、例えば地球上の地勢や地球外の地勢の、スペクトルイメージングを対象とする。ここで説明する手法には、或る1つの物体(または複数の物体)からスペクトル情報を取得するよう構成された光学装置(スペクトルエンコーダとも呼ばれる)が関わり、物体はスペクトルエンコーダに対し相対的に動く。ここで説明するいくつかの手法には、一空間次元または多空間次元による物体または物体像のスペクトル像を取得するよう構成されたスペクトルエンコーダが関わり、物体または物体像はスペクトルエンコーダに対し相対的に動く。後ほど詳述するように、物体または物体像と光学装置との相対運動から位置依存偏光を引き起こすことにより、光学的処理能力やスペクトル帯域幅を低減させることなく、高スペクトル分解能でスペクトル情報を取得できる。
以下に説明する実施形態において、スペクトルエンコーダは物体または物体像から発散する光の光信号を電気信号に変換し、電気信号では物体または物体像の複数の点のスペクトル情報が符号化される。いくつかの実施形態では、物体そのものがスペクトルエンコーダに対し相対的に動いてよい。いくつかの実施形態では、物体の像がスペクトルエンコーダに対し相対的に動いてよい。例えば物体そのものはスペクトルエンコーダに対し静止してよく、その一方で可動鏡が動かされることにより、物体の像がスペクトルエンコーダに対し相対的に動く。いくつかの実施形態において、可動鏡は一次元の、または二次元の、可動鏡アレイを成してよい。スペクトルエンコーダによって生成された電気信号を、ここで処理器と呼ばれる電気回路で処理することで、スペクトル情報を抽出できる。スペクトル情報の抽出にあたっては、物体点/物体像点に対応する電気信号の時間領域から周波数領域への変換をともなう場合があり、例えば1つ以上の所定関心周波数で電気信号の完全フーリエ変換や電気信号の部分フーリエ変換を実行する。
図1Aは、物体191に関するスペクトル情報を含む電気信号195を提供するよう構成された光学装置193(スペクトルエンコーダ)を備えるシステムを例示するものである。一般的に、物体191のサイズは微視的サイズから巨視的サイズにまでおよび得る。微視的物体はスペクトルエンコーダによって単一の物体点/物体像点として撮像され得る。巨視的物体は複数の物体点/物体像点として撮像され得る。物体191そのものは、あるいは物体の像は、スペクトルエンコーダ193に対し相対的に動く。矢印181は物体191とスペクトルエンコーダ193との相対運動を示している。光105は物体191から発散する。例えば発散光105は、散乱光、反射光、蛍光、リン光、化学発光、生物発光等であってよく、あるいは散乱光、反射光、蛍光、リン光、化学発光、生物発光等から成る。物体191から発散する光105の少なくとも一部はスペクトルエンコーダ193によって(直接的に、あるいは例えば可動鏡による方向転換後に)受け取られる。
発散光105は第1の偏光子131を通過し、第1の偏光子131は光を第1の偏光方向沿いに偏光させる。第1の偏光方向沿いに偏光された光は、第1の偏光子131と第2の偏光子132との間に挟まれた波長板140によって、例えばマルチオーダー(高次)波長板によって、受け取られる。波長板140は、物体または物体像191(ここでは「物体/物体像」と総称される)とスペクトルエンコーダ193との相対運動の方向181沿いの位置に応じて変化する光位相差を有する。いくつかの構成において、位相差は、物体/物体像191とスペクトルエンコーダ193との相対運動181の軌道沿いの位置に応じて単調に、または直線的に、変化する。
図1Aに図示された第2の偏光子132は1つ以上の第2の偏光子に相当する。第1および第2の偏光子131、132の偏光軸は、例えば平行に、または直角に、配置されてよい。いくつかの実装において、第1および第2の偏光子131、132は交差偏光子であり、第1の偏光子131は第2の偏光子132の偏光軸から約90度の偏光軸を有する。波長板140の遅軸は、第1および第2の偏光子131、132の偏光軸に対し第1の角度を、例えば約45度の角度を、成す。
波長板140の位置依存光位相差に対する物体/物体像191の動きは、物体の各点につき、且つ物体点/物体像点から発散する光の各波長につき、偏光の時間依存変化を引き起こす。光の可変偏光は第2の偏光子によって光の可変強度に変換され、所与の物体/物体像位置における全波長の強度の合計によって時間依存インターフェログラムが形成される。いくつかの実施形態において、検出器190は物体/物体像の単一の点から発散する光を検出するよう構成された単一の検出素子であってよい。いくつかの実施形態において、検出器190は物体/物体像の複数の物体点/物体像点から発散する光を検出するよう構成された複数の検出素子を含んでよい。例えば、マルチ素子検出器の複数の検出素子は一次元または二次元の検出器アレイに配置されてよい。
検出器190の位置は波長板140に対し固定されるため、検出器190の各検出素子と波長板140の1つ以上の特定の位相差との間には一定の対応が成立する。検出器190の各検出素子は第2の偏光子から光を受け取り、検出器190の出力195にて、光の時変強度を時変電気出力信号に、例えば時変電圧に、変換する。検出器190の各検出素子によって検出される光の強度は、物体/物体像191の1点と光学装置193との相対位置の関数である。物体/物体像191から発散する狭帯域光の場合、光強度の時間変化は振動性であってよく、振動周期は狭帯域光の中心波長に依存する。ここで振動性とは、光強度で振動数Nを明瞭に見ることができることを意味し、狭帯域光とは、光の中心波長をスペクトル帯域幅で割ったものが凡そN以上であることを意味する。グラフ161は、狭波長帯の光を発散しながら軌道181沿いに光学装置193に対し相対的に動く物体/物体像の1点に対応する検出器190の1検出素子の時変出力信号の一例を例示するものである。出力信号195は、物体/物体像191の各物体点から発散する光のスペクトルに関する情報を含んでいる。電子回路によって、例えば処理器197によって、出力信号195を解析することで、物体/物体像191の各点から発散する光のスペクトルを抽出できる。
処理器197は、検出素子と波長板位置の位相差との所定の対応に基づいて、物体/物体像の各点からの光のスペクトルを判断するようプログラムできる。波長板140と検出器190との間に結像光学素子が配置される場合のように、検出器が複数の素子を有する実施形態では、検出素子と特定の位相差に対応する波長板140上の点との間に1対1の対応が成立し得る。いくつかの実施形態において、検出素子のいずれか1つは波長板上の複数の位相差(複数の位置)に対応する。
いくつかの実施形態において、波長板の位相差と検出素子との対応は、波長板と検出器アレイの固定位置によって設定されてよい。いくつかの実施形態では、固定位置による対応とは異なる検出素子と波長板位相差との対応を提供するため、スペクトルエンコーダの主光軸沿いの任意の位置にマイクロミラーアレイが配置されてよい。例えば一実施形態では、まずは物体点/物体像点から発散する光が第1の結像光学部品によって波長板上に結像され、波長板からの光はマイクロミラーアレイを含む第2の結像光学部品によってマルチ素子検出器上に結像されるため、検出素子と波長板位相差との対応はマイクロミラーアレイによって成立する。
ここで説明するスペクトルエンコーダには数多くの用途がある。とりわけ興味深い用途はフローサイトメトリーにおけるスペクトルエンコーダの使用である。図1B〜5はフローサイトメーター等の用途に配備されるスペクトルエンコーダを例示するものであり、スペクトルエンコーダは、軌道沿いにスペクトルエンコーダに対し相対的に動く小さな物体や微視的物体を観察するよう構成される。これらの手法ではシングル素子検出器(シングルピクセル検出器とも呼ばれる)を用いて物体を単一の物体点/物体像点として観察する場合もあれば、マルチピクセル検出器を用いて複数の小さな粒子や微視的粒子を観察する場合もある。マルチ素子検出器(マルチピクセル検出器とも呼ばれる)を使用するフローサイトメーターでは、例えばフローサイトメーターの流路で互いに重なり合う小さな粒子を分解するようスペクトルエンコーダが構成されてよい。図1B〜5との関係で説明する技法は、シングルまたはマルチピクセル検出器を使用するスペクトルエンコーダに当てはめることができる。マルチピクセル型スペクトルエンコーダは巨視的物体からスペクトル情報を取得するよう構成でき、この場合、物体はスペクトルエンコーダによって複数の物体点/物体像点として観察される。
図1Bは、動く物体の特性に関する情報を含む電気信号を提供するよう構成された光学装置103(ここではスペクトルエンコーダとも呼ばれる)を備えるシステムを例示するものである。図1Bは流れの進路110に沿って軌道111を動く1つ以上の移動物体101を図示している。いくつかの実装において、流れの進路は流路113を形成する流路壁112の間に位置してよく、流路113の流路壁112は物体の動きを軌道111に制限する。図1Bには図示されていないが、いくつかの実施形態では、例えば1つ以上のポンプおよび/または1つ以上の弁を備える流体移動装置が流路壁112間の流路内の流体へ結合されてよく、流体移動装置は物体101を軌道111沿いに動かすよう構成される。光105はそれぞれの物体101から発散する。光学装置103は、物体101と相互作用する入力光を提供するよう構成された光源102を任意に含んでよい。物体は入力光に応じて光を発散する。例えば発散光105は、散乱光、反射光、蛍光、リン光、化学発光、生物発光等であってよく、あるいは散乱光、反射光、蛍光、リン光、化学発光、生物発光等から成る。
流路壁を含む実施形態において、少なくとも1つの壁は入力光に対し光学的に透明であってよく、少なくとも1つの壁は発散光105に対し光学的に透明であってよい。光学装置103は、この例で第1の偏光子131として表示されている、1つ以上の第1の偏光子を含む。第1の偏光子131は物体101から発散する光105を受け取るよう構成される。物体と第1の偏光子131との間にはレンズ120が任意に配置されてよく、レンズ120は、例えば波長板140の表面間の中ほどで発散光105を集束させる。代わりに、物体の軌道111によって物体101は波長板140に十分に接近し得るため、レンズは必要ない。レンズを含む実施形態では、あらゆる周波数の光が波長板140の表面間の中ほどで概ね集束されるようにするため、レンズを彩色的に適切に構成できる。
発散光105は第1の偏光子131を通過し、第1の偏光子131は光を第1の偏光方向沿いに偏光させる。第1の偏光方向沿いに偏光された光は、第1の偏光子131と第2の偏光子132との間に挟まれた波長板140によって、例えばマルチオーダー(高次)波長板によって、受け取られる。波長板140は、物体101の軌道方向111沿いの位置に応じて変化する光位相差を有する。いくつかの構成において、位相差は、物体101の軌道方向111沿いの位置に応じて単調に、または直線的に、変化する。いくつかの構成において、波長板はウォラストンプリズムやその他の光位相差装置であってよく、物体が検出器の視野のほぼ中心に位置する場合に、光が波長板を伝播した後に2つの偏光の光位相差がほぼゼロとなるよう配置される。これは、記録されるインターフェログラムがそのゼロ次縞の概ね中心となることを保証する。
図1Bに図示された第2の偏光子132は1つ以上の第2の偏光子に相当する。第1および第2の偏光子131、132の偏光軸は、平行に、または直角に、配置されてよい。いくつかの実装において、第1および第2の偏光子131、132は交差偏光子であり、第1の偏光子131は第2の偏光子132の偏光軸から約90度の偏光軸を有する。波長板140の遅軸は、第1および第2の偏光子131、132の偏光軸に対し第1の角度を、例えば約45度の角度を、成す。
波長板140の位置依存光位相差に対する物体の動きは、光の光スペクトルに依存する発散光の時間依存偏光変化を引き起こす。光の可変偏光は第2の偏光子132によって可変強度に変換される。検出器150は、例えばシングルピクセル検出器は、検出器150の出力151にて、光の時変強度を時変電気出力信号に、例えば時変電圧に、変換する。狭帯域光の場合、光強度の時間変化は振動性であってよく、振動周期は帯域の中心波長に依存する。グラフ160は、狭波長帯の光を発散しながら軌道111沿いに動く1物体に対応する検出器の時変出力信号の一例を例示するものである。出力信号は、物体から発散する光のスペクトル等、物体101に関する情報を含んでいる。
光学装置103は1つ以上の光フィルタ145を任意に含む。例えば種々の実施形態において、光フィルタは物体101と検出器150との間の光路沿いの任意の場所に配置されてよく、例えば図1Bに図示されているように第2の偏光子132と検出器150との間に配置されてよい。光フィルタ145は検出器150に入射する光の帯域幅を関心帯域幅範囲に制限でき、これにより信号処理は簡素化される。場合によっては、インターフェログラムによって生成される電気信号がナイキスト限界より下でサンプリングされる場合でも(最短検出波長で1干渉縞当たり2サンプル)、検出器で受け取られる光の帯域幅を制限することで、物体の動きによって生じる光インターフェログラムからスペクトル情報を完全に回収することが可能となる。
図1Bに図示されたシステムは、検出器150から電気出力信号を受信する形に結合された処理器180を含んでいる。処理器180は、プログラムされた命令を実行し、出力信号を処理して物体101に関するスペクトル情報を抽出するよう構成された計算処理器等の回路を含む。尚、物体のサイズが、または物体の像のサイズが、波長板140の位相差の位置変化に対して小さい場合は、物体/物体像の各点によって生じる光干渉縞は、検出器150の単一のピクセルまたは素子によって検出されるときに、概ね同相である。例えば物体/物体像が波長板を横断する過程でN個の干渉縞が記録され、軌道方向111沿いの位置に応じて位相差が直線的に増加する場合は、干渉縞を分解するため、軌道方向111沿いの物体/物体像101のサイズは軌道方向111沿いの波長板140の長さの約1/2N以下になり得る。
検出器の出力を、例えばフーリエ変換やその他の時間領域・周波数領域変換等によって処理することで、物体から発散する光の光スペクトルを判断できる。図2に図示されているように、変換された出力信号170は低周波成分170aと高周波成分170bとを含み得る。低周波成分170aは信号160のエンベロープに関連しており、高周波成分170bは発散光の光スペクトルに対応している。
一例において、波長板はウェッジ角度αを有するウォラストンプリズムであり、ここでウェッジ角度は、スペクトルエンコーダの主光軸に対し垂直なプリズムの前面とプリズムの2つの半片が接合される内面とが成す角度と定義される。プリズムの遅軸は偏光子の偏光軸に対し約45度に向けることができる。プリズムのウェッジ方向は、プリズムの前面に対し平行な面でプリズムの2つの半片の厚さが最速をトレードオフする方向と定義される。プリズムのウェッジ方向は物体の軌道に揃えるのが望ましく、遅軸はウェッジ方向に対し45度に揃えるのが望ましい。波長λにおける所望スペクトル分解能がλ/Nなら、物体が視野を横切る過程でN個の縞が記録されなければならない。物体または物体像の移動距離が複屈折Δnを有するウォラストンプリズムのウェッジ方向沿いにLなら、ウォラストンのウェッジ角度はα≒Nλ/2LΔnとするべきである。最大スペクトル帯域幅は検出器信号のサンプルレートによって制限され、サンプルレートは観察対象の縞を記録するにあたって十分に速くなければならない。スペクトル帯域幅は物体のサイズによっても制限される。物体の直径がdなら、検出器で記録できる最大縞数は約L/2dであり、最小検出可能波長はλ≒4αdΔnとなる。
ここで説明する手法によると、物体の動きをもとにして少なくとも1つのシングルピクセル検出器の時変信号でスペクトル情報を符号化する。これらの手法を採用することで、1つのシングルピクセル検出器と1つの信号から発散光のスペクトルを取得でき、従来の分光法のようにスペクトル分解能の増大にともない光学的処理能力が大幅に損なわれることはない。いくつかの実装では、2つ以上のシングルピクセル検出器の出力が結合され、結合された信号の信号対ノイズ比が高められる。
図3は、図1Bのいくつかの点で光学装置103に類似する光学装置305を図示するものである。光学装置305は第1および第2の偏光子131、132の間に挟まれた波長板140を含んでいる。軌道111沿いに動く物体101から発散する光105は第1の偏光子131を通過し、第1の偏光子131は光を第1の偏光方向沿いに偏光させる。第1の偏光子によって偏光された光は、軌道方向111沿いの位置に応じて変化する光位相差を有する波長板140によって受け取られる。
それぞれの波長で波長板140によって発散光に導入される2つの偏光の光位相差は、波長に依存する可変偏光を引き起こす。光の可変偏光は第2の偏光子132によって光の可変強度に変換される。光は第2の偏光子から検出器150に当たる。いくつかの構成では、第2の偏光子132と検出器150との間の光路に配置された任意の光フィルタ145によって光がフィルタされる。
光学装置305は空間マスク320を追加で含んでおり、空間マスク320は、発散光に対し光学的に透明ないくつかの、例えば3、4、5以上の、マスクフィーチャと、3、4、5以上の光学的に不透明なマスクフィーチャとを含んでいる。物体から発散する光105の一部は空間マスク320で結像されてよい。空間マスク320は物体101から発散する光105と相互作用し、この相互作用から時変光が生じ、検出器150に入射される。軌道沿いの物体101の動きが検出器150の出力152にて時間多重化信号を提供し得ることは理解されるであろう。検出器150の出力152における時間多重化信号は、第2の偏光子132からの可変光強度に対応する第1の時間多重化部分と、発散光105と空間マスク320との相互作用によって生じる時変光に対応する第2の時間多重化部分とを含む。出力信号152の第1の部分が空間マスク320からの時変光に対応し、第2の部分が第2の偏光子132の出力における可変強度に対応するよう光学装置305を任意に配置し得ることは理解されるであろう。第2の偏光子からの可変強度光に対応する信号の第1の時間部分が処理され、物体に関する第1の情報が、例えば物体から発散する光の光スペクトルが、抽出されてよい。発散光と空間マスクとの相互作用によって生じる時変光に対応する信号の第2の部分が処理され、物体に関する第2の情報が、例えば物体の速度および/またはサイズが、抽出されてよい。第2の情報を用いて第1の情報に補正をかけてよく、例えば物体の速度情報を用いて光スペクトルの波長目盛を較正してよい。
いくつかの実装によると、信号152を第1および第2の部分に時間逆多重化せずに出力信号を解析できる。このような状況は、物体101から発散する光105の光帯域幅が一定の範囲を超過しないことが分かっていて、検出器で検出されるインターフェログラムの縞も一定の帯域幅内におさまる場合に起こり得る。この場合は、空間マスクを図示されたように波長板の近くに配置し、例えば図示されているように発散光の半分は空間マスクに当たり、同時に発散光の半分は第1の偏光子に当たるようにすることで、発散光の一部は空間マスクで結像できる。空間マスクによって生じる強度変化は偏光子/波長板/偏光子構造によるインターフェログラム縞の周波数範囲外である。偏光子/波長板/偏光子構造に当たる光と空間マスクに当たる光は同一の検出器150上で結合できる。出力信号152で偏光子/波長板/偏光子構造に対応する電気出力信号成分と空間マスクによって変調された光に対応する信号成分は、ソフトウェアで分離できる。偏光子/波長板/偏光子構造からの光は空間マスクからの空間変調光に対し概ね直角な周波数範囲内にあるため、この分離は可能である。
いくつかの実施形態では、第1および第2の偏光子を偏光ビームスプリッタに任意に差し替えることができる。いくつかの実施形態では、2つ(または2つ以上)のシングルピクセル検出器を使って異なる偏光を有する光を検出できる。図4は、図3に図示された第2の偏光子の代わりに偏光ビームスプリッタ406を含む光学装置405を例示するものである。第1の偏光子131は物体101から発散する光105を第1の偏光方向沿いに偏光させる。偏光ビームスプリッタ406は、波長板140からの光を第2の偏光方向沿いに偏光された光411と第3の偏光方向沿いに偏光された光412とに分割する。例えば、第1の偏光子131の偏光方向に対し平行に延びる偏光軸として、偏光ビームスプリッタ406の偏光軸のいずれか一方を選択できる。検出器150は、この第2の方向沿いに偏光された光411を検出するよう配置される。検出器420は、第2の偏光方向に対し垂直な第3の偏光方向沿いに偏光された光412を検出するよう配置される。偏光ビームスプリッタ406と検出器150との間の光路には、および/または偏光ビームスプリッタ406と検出器420との間の光路には、任意の部品145、410がそれぞれ配置されてよい。いくつかの実施形態において、任意の部品145、410は光411および412を光学的にフィルタする光フィルタを備える。いくつかの実施形態において、部品145および/または部品410は空間マスクであってよく、あるいは空間マスクを備える。部品145、410はさらに、物体または物体像から発散する光を空間フィルタに結像する光学素子を含んでよい。検出器150、420の出力153、421はいずれも処理器400へ結合される。処理器400は、出力を解析し、光学装置の信号対ノイズ比と光学的処理能力を高める形に構成されてよい。
部品145および/または410が空間マスクを備える実施形態において、処理器400は、空間マスクによって生じる電気信号の時間変化に基づいて、物体に関する追加的情報を、例えば物体の速度および/またはサイズを、抽出できる。発散光と空間マスクとの相互作用によって検出器150、420の電気出力信号153、421に生じる周波数成分は、時間依存偏光変化によって生じる可変光強度に起因する周波数成分から区別できる。
図5は、ここで説明する光検出器および処理器を操作する方法の流れ図である。光は軌道沿いに動く1つ以上の物体から発散する510。発散光は第1の偏光方向沿いに偏光される520。物体の軌道沿いに可変位相差を有する波長板によって光の可変偏光が引き起こされる530。可変偏光は時変光強度に変換される540。時変光強度に応じて時変電気信号が生成される550。時変電気信号は物体の1つ以上の特性に関する情報を含む。例えば情報は物体から発散する光の蛍光スペクトルに符号化されてよい。物体から発散する光のスペクトルに関する情報を抽出するため、時変電気信号は解析される560。
フローサイトメトリー等のいくつかの実装では、個々のチャネルで比較的広い光帯域幅範囲にわたって光を検出する能力を設けると有益である。これは従来、光学式バンドパスフィルタを使用し、ハードウェアによって固定される個々の蛍光チャネルを規定することによって達成されてきた。別の技法ではプリズムを使って光を分散させ、光電子増倍管アレイを使って分散した光を検出してきた。さらに別の技法では、線形可変フィルタによってチャネルに分解される発散光の空間変調を使用し、フィルタ沿いの各位置はそれぞれ異なる光帯域を伝送する。これらの技法の欠点として、ハードウェア限界による柔軟性の欠如、高価な検出器アレイ、および/またはスペクトル分解能および/または光学的処理能力の損失等がある。ここで説明する手法はこれらの要因の軽減に役立てることができる。
ここで説明する手法は、1つ以上の動く物体から発散する光のスペクトルを高スペクトル分解能で検出することを可能にする。これらの手法は僅か1ピクセルを有する検出器を使用し、従来の分光法で問題となる光学的処理能力とスペクトル分解能のトレードオフを解消する。これらの手法では物体の動きからインターフェログラムを生成し、僅か1ピクセルを有する検出器を用いてインターフェログラムを電気信号に変換する。いくつかの実装ではただ1つの検出器が使用されるが、場合によっては複数のピクセル検出器が使用される。発散光のスペクトル情報は電気信号で符号化され、例えば電気信号の周波数領域で符号化される。スペクトル情報が周波数領域で符号化される場合は、フーリエ変換等の時間領域・周波数領域変換を用いて検出器の出力信号からスペクトル情報を抽出できる。他のフーリエ分光法と同様、あらゆる波長の光が同時に記録されるため、スペクトル分解能と光学的処理能力のトレードオフは解消する。
種々の実施形態において、例えば図1B〜5に図示され説明される光学装置および/または処理器はフローサイトメーターで実装でき、物体を、および/または試料中の物体に付着した検体を、解析するよう構成できる。これらの実施形態で処理器は1つまたは複数の処理チャネルを使って電気信号を処理する能力を有し得、それぞれの処理チャネルはフローサイトメーターの特定の蛍光チャネルに対応する。処理チャネルは電気的ハードウェアチャネルであってよく、および/または再構成可能ソフトウェアチャネルであってよい。例えばいくつかの実装では、フローサイトメーターの流路を動く物体から発散する光が検出され、電気信号に変換され、サンプリングされ、蓄積される。電気信号を1つ以上のアナログおよび/またはデジタル電子フィルタに通すことにより、それぞれの処理チャネルから情報が抽出され得る。例えば、それぞれの処理チャネルは電気信号のスペクトルスライス(周波数範囲)に対応し得る。いくつかの実装では、電気信号の期待および/または観測スペクトル成分に基づいて、使用すべき処理チャネルを、例えば光信号にとって最適なチャネルの数および/または周波数範囲を、自動的に判断するよう処理器をプログラムできる。いくつかの実施形態において、処理器はチャネルフィルタの最適なフィルタ係数および/または構成を判断し得る。チャネルフィルタは、フローサイトメーターの作動前および/または作動中に、例えば手作業で、または自動的に、変更できる。
いくつかの実施形態において、処理器は、クラスタリングアルゴリズムを用いて処理チャネルの最適数を、および/または処理チャネルの最適周波数範囲を、判断するよう構成できる。いくつかの実装によると、処理器は、最適なチャネルを判断するため、電気信号を解析し、スペクトル情報に基づいてクラスタ化される異なる物体の集団のグループを特定する。その後、これらのクラスタ化されたグループに基づいて処理チャネルの最適数および/または周波数範囲が判断される。いくつかの実装において、電子フィルタは作動中に手作業で、または自動的に、変更できる。いくつかの実装において、処理器チャネルは他の処理器チャネルの組み合わせから成り得る。
既に述べたように、いくつかの実装では2つ以上の検出器が使用されてよく、それぞれの検出器は発散光の偏光を別々に検出する。1つ以上の物体から発散する光のスペクトルを解析するため、それぞれの検出器からの電気信号が、および/またはこれらの信号の時間領域・周波数領域変換が、蓄積され、結合され、および/または使用されてよい。直交偏光の光信号が同じ検出器によって検出された場合は、一方の偏光で測定されたインターフェログラムが直交偏光で測定されたインターフェログラムとは反対の位相を有するため、反対方向に偏光された光信号は互いを相殺する傾向がある。2つの検出器を使用すると、それぞれの検出器からの信号は結合される前に処理できるため、それらの信号は同相となり、減法ではなく加法となる。例えば、いずれか一方の検出器からの時変信号は位相反転されてよく、あるいは両方の検出器からの信号は結合に先立ち時間領域から周波数領域に変換されてよい。2つの信号の結合は1つの信号に比べて光学装置の光学的処理能力を向上させることができるため、結合された信号の信号対ノイズ比も向上する。場合によっては第1および第2の偏光子の代わりに偏光ビームスプリッタが使用される。この場合は第1の偏光ビームスプリッタの後ろに2つの波長板かウォラストンプリズムを置く必要があり、第1の偏光ビームスプリッタから出る偏光ごとに波長板が1つずつ存在することとなる。それぞれの波長板またはウォラストンは、遅軸がビームスプリッタの偏光軸に対し約45度となるように向けるべきである。波長板またはウォラストンのウェッジ軸は、すなわち光位相差が変化する波長板またはウォラストンの厚さ方向を横切る方向は、物体の軌道とほぼ平行にするべきである。それぞれの波長板の後ろには偏光ビームスプリッタと一対の検出器が置かれ、偏光方向は第1の偏光ビームスプリッタのいずれか一方の偏光方向に対し平行となる。全部で3つの偏光ビームスプリッタと4つの検出器が置かれることとなり、それぞれの検出器は第2または第3の偏光ビームスプリッタによって生成される2つの偏光ビームのいずれか一方を検出するよう配置される。4つの検出器で全ての偏光を検出するこの構成は、シングルピクセル検出器構成の4倍の光学的処理能力を有する。いくつかの実施形態では、1位相の2つのインターフェログラムが一方の検出器で結合され、逆位相の2つのインターフェログラムが他方の検出器で結合されるため、必要な検出器は全部で2つとなる。
いくつかの実施形態において、処理器は最初に流れの進路で物体の存在を検出し、電気信号の特性に基づいて、例えば電気信号の振幅が閾値を上回るか否かに基づいて、トリガーしてよい。ことによるとトリガー前サンプルとトリガー後サンプルを含む、トリガーされた信号部分は、さらなる処理のため、例えば周波数領域への変換のため、選択されてよい。各検出された物体のスペクトル情報は電気信号の周波数成分で符号化される。処理器は、様々な種類の物体から発散する光の光スペクトルに対応する周波数成分が異なる場合に、電気信号の変換に基づいて物体の種類を区別できる。
いくつかの実施形態において、解析は、広い周波数範囲にわたる全面的な変換ではなく、電気信号の特定の周波数範囲または部分の変換のみを含んでよい。これらの実施形態では、時間領域・周波数領域変換を行う前に信号で関心の対象とならない周波数成分を除去または低減するために、検出器の前に光フィルタが置かれてよく、あるいは処理器がソフトウェアおよび/またはハードウェアデジタルおよび/またはアナログフィルタを使用してよい。場合によっては、処理器は、電気信号で関心の対象となる周波数成分を直接的に摘出する手段として、ソフトウェアおよび/またはハードウェアデジタルおよび/またはアナログフィルタを使用してよく、これによりさらなる変換は不要となる。
ここで説明する手法には柔軟性があり、電気信号の全周波数範囲を処理できるほか、電気信号で関心の対象となる色(光スペクトル範囲)に対応する周波数範囲(周波数スライス)の指定部分だけを処理でき、関心の対象とはならない他の周波数範囲を処理する必要はない。いくつかの実施形態では適応フィルタを処理に利用する。適応フィルタのパラメータは処理器によって自動的に調整でき、および/またはユーザーからの何らかの入力に基づいて半自動的に調整できる。例えば或る1つのシナリオでは、処理器が電気信号にある周波数成分がどれなのかを判断でき、使用するフィルタの数および周波数範囲を判断できる。別のシナリオでは、ユーザーが電気信号の期待周波数範囲(または関心周波数範囲)に関する情報を入力でき、処理器は最初にそれらの周波数範囲を使ってフィルタを設定でき、自動的に調整を行うことができる。
処理器は電気信号で関心の対象となる光スペクトルに対応する周波数範囲(複数可)を判断できる。この場合、処理器はクラスタリングアルゴリズムを使用し、物体集団の周波数または周波数範囲をグループ分けし、これらの周波数範囲の変化に基づいてサンプルに存在する物体の種類の最高忠実度分類を判断する。いくつかの実施形態において、クラスタリングアルゴリズムは電気信号の主成分解析であってよく、あるいは電気信号の主成分解析から成る。例えば、クラスタリングアルゴリズムが電気信号のM個の主成分とM個の光スペクトルに対応するM通りの物体種類を識別するシナリオを考えてみる。処理器は、M個の主成分の各々と時間領域の電気信号とのドット積を行うことによって、関心対象のM個の光スペクトルのいずれかを有する物体の種類を検出できる。ドット積の結果は細分されたM次元空間にベクトルを成し、その空間の1領域におけるベクトルの存在は或る特定の種類の物体が検出されたことを意味し得る。この技法を用いる場合は電気信号のフーリエ変換は不要であり得る。
いくつかの実施形態において、処理器は光学装置の波長板および/またはその他光学部品の物理的特性によって生じる誤差を補正できる。例えば縞の数が波長と複屈折Δnに依存すると考える。ただし光学分散のため複屈折も波長に依存するため、電気信号の周波数を物体の光スペクトルに正確に関係付ける補正率が必要となる。さもないと、電気信号の或る1つの周波数(フーリエ成分)における較正は、他の周波数/フーリエ成分に当てはまらなくなる。この補正率は、例えば複屈折の既知波長依存性を用いて決定され、処理器に適用されてよい。
通常、物体/物体像点から波長板に入射する光は概ね平行になる。ただし、物体/物体像点から発散する主光線の角度の関数としての光位相差の差を計上するには、ソフトウェア補正も必要となり得る。物体が、または物体の像が、波長板の表面を横切って動くときの物体の位置の変化によって角度の変化が生じる。
図6は、地理的景色等の巨視的物体のスペクトルイメージングに役立つスペクトルエンコーダ603を備えるシステムを例示するものである。スペクトルエンコーダは、多数の小さな物体や微視的物体のスペクトルイメージングに、例えばサイトメーターの流路の中を動く多数の粒子のスペクトルイメージングに、役立てることもできる。
図6は、スペクトルエンコーダ603に対し相対的に動く、巨視的物体または物体像を、例えば地理的景色601を、示している。巨視的物体/物体像601は、ここで「物体点/物体像点」と呼ばれる複数の領域601aに分割できる。物体/物体像601と波長板640との相対運動は、それぞれの物体点/物体像点601aと波長板の光位相差との間に時間依存関係を生じさせる。光605は、例えば反射光、蛍光、リン光、化学発光、生物発光等は、それぞれの物体点/物体像点601aから発散する。光学装置603は、この例で第1の偏光子631として表示されている、少なくとも第1の偏光子を含む。第1の偏光子631は物体/物体像601から発散する光605を受け取るよう構成される。物体/物体像601と第1の偏光子631との間には、あるいは第1の偏光子と波長板との間には、レンズ611やその他の光学部品が任意に配置されてよく、その場合、レンズ611は波長板640で発散光を集束させ、例えば破線605aおよび605bで示されているように、波長板640の表面640a−1、640b−1間の中ほどで集束させる。レンズを含む実施形態では、あらゆる周波数の光が波長板の表面間の中ほどで概ね集束されるようにするため、レンズを彩色的に適切に構成できる。いくつかの実装において、レンズはテレセントリックレンズであってよい。
光学的設定(例えばこの第1のレンズ611の焦点の調整)は、物体/物体像とスペクトルエンコーダとの相対運動の進路沿いの物体/物体像の各位置につき、所与の物体点/物体像点601aに対応する全ての光線が波長板640の同一位置で結像され、同じ位相差を経験するよう徹底することを含む場合がある。さもなくばインターフェログラムがコントラストを失う可能性がある。この場合の「同一位置」とは、所与の波長で、「同一位置」に相当するとみなされる位置領域を横切る光線の位相変化の差が約π/2ラジアン以下となることを意味する。
いくつかの実施形態では、例えばレンズ611またはレンズ612の位置に、コーデッドアパーチャマスクが使用されてよい。処理器は、コーデッドマスクの符号化パターンの情報を検出器アレイによって取得される信号の変換に取り入れることにより、スペクトル情報と位置情報を含む物体のスペクトル像を計算的に再構成する。
発散光605は第1の偏光子631を通過し、第1の偏光子は光を第1の偏光方向沿いに偏光させる。第1の偏光方向沿いに偏光された光は、第1の偏光子631と第2の偏光子632との間に挟まれた波長板640によって、例えばマルチオーダー波長板によって、受け取られる。波長板640は、物体/物体像601とスペクトルエンコーダ603との相対運動の軌道沿いの位置に応じて変化する光位相差を有する。いくつかの構成において、波長板640の位相差は、相対運動の軌道沿いの位置に応じて単調に、または直線的に、変化する。図6に図示された第2の偏光子632は1つ以上の第2の偏光子に相当する。第1および第2の偏光子631、632の偏光軸は、互いに平行に、または直角に、配置されてよい。いくつかの実装において、第1および第2の偏光子631、632は交差偏光子であり、第1の偏光子631は第2の偏光子632の偏光軸から約90度の偏光軸を有する。いくつかの実施形態において、波長板640の遅軸は、第1および第2の偏光子631、632の偏光軸に対し第1の角度を、例えば約45度の角度を、成す。
図6に図示されているように、波長板640はウォラストンプリズムを備えてよく、第1の半片640aは第1の光軸または遅軸を有し、第2の半片640bは第2の光軸または遅軸を有し、ウォラストンプリズムの第1および第2の光軸は相互に直角であり、ウォラストンの入射面と出射面に対し平行である。ウォラストンプリズム半片等の一軸複屈折層の光軸または遅軸は、光がその偏光に関わりなく同じ速度で進む軸である。光が光軸以外の方向に沿って一軸複屈折層を通ると、光は2つの光線に屈折され、それぞれの光線は互いに直角の振動方向で偏光され、異なる速度で進む。例えばいくつかの実施形態において、ウォラストンプリズムの第1の半片640aの光軸はプリズム半片640aのウェッジ方向に対し平行であってよく、ウォラストンプリズムの第2の半片640bの光軸は第1の半片640aの光軸に対し垂直であってよい。いくつかの実施形態において、第1および第2の偏光子の偏光方向は互いに直交にしてよく、図6に示されているように、第1の偏光子の偏光方向はウォラストンプリズムの第1の半片640aの光軸に対し45度の角度に向けてよく、第2の偏光子の偏光方向はウォラストンプリズムの第1の半片640aの光軸に対し135度の角度に向けてよい。いくつかの実施形態において、ウォラストンプリズムの光軸はプリズムのウェッジ方向に対し±45°に配置されてよい。
波長板640の位置依存光位相差に対する物体/物体像の各物体点/物体像点601aの動きは、物体点/物体像点から発散する光の時間依存偏光変化を生じさせる。この時間依存偏光変化は発散光の光スペクトルに依存する。光の可変偏光は第2の偏光子632によって可変強度に変換される。検出器650は、例えば複数の検出素子650aを備える空間分解または撮像検出器は、検出器650の出力651にて、物体点/物体像点601aからの光の時変強度を位置および時間に応じて変化する電気出力信号に、例えば位置および時間に応じて変化する電圧に、変換する。ここで説明するスペクトルエンコーダは、複数の物体点/物体像点のスペクトル情報と空間情報の両方を同時に取得するよう構成される。波長板に対し相対的に物体/物体像を走査することで、各物体点/物体像点について各物体点/物体像点のスペクトル情報を含む位置依存偏光インターフェログラムが生成される。所与の物体点/物体像点から記録された位置依存偏光インターフェログラムから、当該物体点/物体像点に対応するスペクトル情報が判断される。
いくつかの実施形態では、位置依存偏光インターフェログラムを時変電気信号に変換するため、各時点における物体点/物体像点の位置に対応する検出器アレイの位置をサンプリングする。つまり、検出器650の位置および時間に応じて変化する電気出力信号651は検出素子位置ごとの時変電気出力を提供する。1つの物体点/物体像点によって生じる位置依存偏光インターフェログラムは別々の時間に別々の検出素子を横切る。1つの物体点/物体像点から発散してスペクトルエンコーダを通過する光が連続検出素子に到達する過程で、1つの物体点/物体像点から生じる連続検出素子の信号を時間的に繋ぎ合わせることにより、1つの物体点/物体像点によって生じる位置および時間に応じて変化する電気信号を時変電気信号に変えることができる。以下、これを数学的に説明する。物体点/物体像点のスペクトル情報を抽出するため、時変電気信号は、例えば時間領域・周波数領域変換によって処理できる。
スペクトルエンコーダと物体/物体像との相対運動を既知と仮定する。このスペクトルエンコーダと物体/物体像との相対運動により、位置x(t)にある所与物体点/物体像点601aは多素子空間分解検出器を横切る。像空間Xにおける所与点と時間tにおける所与点での検出器の応答はI(X,t)である。fが物体を検出器に結像する関数なら、X=f(x(t))である。所与物体点/物体像点が時間t∈(0,T)に検出器を横切る場合、その物体点/物体像点のインターフェログラムSはt∈(0,T)によりS(t)=I(f(x(t)),t)によって与えることができる。像空間Xにおける各点と時間tにおける各点は既知位相差Γ=g(X)=g(f(x(t)))に対応する。この情報をもとに、例えば処理器による計算で、あるいはスペクトルエンコーダが取り付けられた他のホストシステムによる計算で、位相差S(Γ)=I(g−1(Γ),x−1(f−1(g−1(Γ))))の関数としてのインターフェログラムを得ることができる。位相差に関しフーリエ変換を行うことで、所与物体点/物体像点から記録される光の光スペクトルが得られる。
物体/物体像の複数の物体点/物体像点から取得される空間およびスペクトル情報は、処理器により、例えば軸x(1つの空間次元、軌道方向沿い)およびλ(波長)を有するハイパースペクトルデータスクエアを成すデータセットに、または軸x、y(2つの空間次元、一方は軌道方向沿い、他方は軌道方向に対し直角)、およびλ(波長)を有するハイパースペクトルデータキューブを成すデータセットに、配置できる。グラフ660は、狭波長帯の光を発散しながらスペクトルエンコーダ603に対し相対的に動く物体/物体像601の1物体点/物体像点601aに対応する検出器650の時変出力信号の一例を例示するものである。電気出力信号651は、物体点/物体像点601aから発散する光のスペクトルを含んでいる。検出器は少なくとも、軌道方向沿いに検出器650の瞬時視野内で分解すべき物体点/物体像点と同数の素子650aを軌道方向沿いに含まなければならない。例えばフローサイトメトリーの場合に、N個の粒子が発散する光が検出器に同時に到達すると見込まれるなら、検出器は、検出器で撮像される粒子の軌道方向沿いに少なくともN個の分解素子を有するべきであり、これにより粒子信号の曖昧さを排除できる。
スペクトルエンコーダ603は、例えば第2の偏光子632と検出器650との間に、あるいは波長板と第2の偏光子との間に、配置された第2のレンズ612を任意に含んでよい。破線605bで示されているように、レンズ612は波長板からの光605bを検出器650で結像するよう構成される。
スペクトルエンコーダ603は、図6に図示されていない1つ以上の光フィルタを任意に含む。例えば種々の実施形態において、光フィルタは物体/物体像601と検出器650との間の光路沿いの任意の場所に配置されてよく、例えば第2の偏光子632と検出器650との間に配置されてよい。光フィルタは検出器650に入射する光の帯域幅を関心帯域幅範囲に制限でき、これにより信号処理は簡素化される。場合によっては、インターフェログラムによって生成される電気信号がナイキスト限界より下でサンプリングされる場合でも(1干渉縞当たり2サンプル)、検出器で受け取られる光の帯域幅を制限することで、物体の動きによって生じる光インターフェログラムからスペクトル情報を完全に回収することが可能となる。
既に述べたように、一例において、波長板は2つのプリズム半片から成るウォラストンプリズムである。ウォラストンプリズムの各半片はウェッジ角度αを有し、ウェッジ角度は、スペクトルエンコーダの主光軸に対し垂直に通常配置されるプリズム半片の前面とプリズムの2つの半片が接合される内面とが成す角度と定義される。ウォラストンプリズムの遅軸は偏光子の軸に対し約45度に向けることができる。プリズムのウェッジ方向は、プリズムの前面に対し平行な面でプリズムの2つの半片の厚さが最速をトレードオフする方向と定義される。プリズムのウェッジ方向は物体/物体像601とスペクトルエンコーダ603との相対運動の軌道に揃えるのが望ましく、プリズムの遅軸はウェッジ方向に対し±45°に揃えるのが望ましい。波長λにおける所望スペクトル分解能がλ/Nなら、物体点/物体像点601aがスペクトルエンコーダの視野を横切る過程でN個の縞が記録されなければならない。ウォラストンプリズムのウェッジ方向沿いの物体点/物体像点の移動距離がLであり、プリズム材が複屈折Δnを有するなら、ウォラストンプリズムのウェッジ角度はα≒Nλ/2LΔnとするべきである。最大スペクトル帯域幅は検出器信号のサンプルレートによって制限され、サンプルレートは観察対象の縞を記録するにあたって十分に速くなければならない。スペクトル帯域幅は軌道方向沿いの検出器ピクセルのサイズによっても制限される。軌道方向沿いの検出器ピクセルのサイズがdなら、軌道方向沿いにサイズDの検出器で記録できる最大縞数は約D/2dである。したがって、最大記録可能縞数に相当するこの数D/2dが、検出される最小波長で見込まれる最大数を上回ることが大切である。ここで説明するスペクトルエンコーダは、位置依存偏光インターフェログラムを生じさせる偏光子・波長板・偏光子から成るサンドイッチ構造を内蔵している。第1の偏光子は到来する光を偏光させ、波長板は軌道沿いの物体の位置に依存する2つの直交偏光成分の位相差(波長依存位相シフト)を誘発し、第2の偏光子は波長依存偏光状態を波長依存強度に変える。軌道沿いの様々な位置で物体/物体像の物体点/物体像点から発散する光は様々な位相差を経験してインターフェログラムを生じさせ、このインターフェログラムをフーリエ変換することで光スペクトルを提供できる。
検出器650の各検出素子650aから電気出力信号651を受信する形に処理器(図6に図示せず、図1Aに図示)を結合できる。いくつかの実施形態では、処理器へ別々の並列出力信号を提供する形に検出器650の各検出素子650aが結合されてよい。代わりに、複数の検出素子650aからの出力信号651は多重化されてよい。処理器は検出器の出力信号(複数可)を処理して物体/物体像601に関する情報を抽出する。物体601の動きによって生じ検出器650によって検出される光干渉縞は、処理器によって分解できる。検出素子の出力を結合することで、単一の物体点/物体像点に対応する時変インターフェログラムを形成できる。この時変インターフェログラムを、例えばフーリエ関数やその他の関数によって処理することで、物体点/物体像点から発散する光の光スペクトルを判断できる。
既に述べたように、ここで開示する手法は物体/物体像とスペクトルエンコーダとの相対運動に頼っている。図7Aは、スペクトルエンコーダ703と、スペクトルエンコーダ703にわたって物体701の像702を動かす光学部品721とを、例えば可動鏡やその他の装置とを、備えるシステムを例示するものである。この状況で、物体701そのものはスペクトルエンコーダ703に対し静止してよい。スペクトルエンコーダ703は、物体/物体像701から発散して光学部品721によってスペクトルエンコーダ703へ方向転換される光705のスペクトル情報を判断するよう構成される。
図7Bは、スペクトルエンコーダ703と、物体701とスペクトルエンコーダ703との相対運動を引き起こすよう構成された台、乗物(例えば自動車または航空機)、またはその他の移動機構722とを備える、別のシステムを例示するものである。図7Bの実施形態は航空機としての移動装置722を示している。スペクトルエンコーダ703は、ここで説明するように、物体/物体像701とスペクトルエンコーダ703との相対運動に基づいて、物体/物体像701から発散する光705のスペクトル情報を取得するよう構成される。
いくつかの実装において、ここで説明するスペクトルエンコーダを含むイメージングシステムのコンパクトさは、高開口数レンズを使用して物体/物体像から発散する光を波長板で結像することによって高めることができる。波長板の各点の位相差は、波長板のその点に入射する光の角度に依存する。入射光の角度は高開口数イメージングシステムの或る1つの検出素子によって検出される光線ごとに変化するため、位相差もその検出素子によって検出される光線ごとに変化し、記録される時変インターフェログラムのコントラストや変調度の損失に結び付く。いくつかの実装では、或る1つの検出素子に集束される光線の角度の変化に対する波長板の位相差の感度を落とすことが望まれる場合がある。この角感度は数通りの手法で低減できる。波長板として使用され、ウェッジ形部材沿いの位置に応じて変化する位相差を有するウォラストンプリズムの場合を検討する。図8Aは、第1および第2の半片801a、801bを備えるウォラストンプリズム801を図示するものである。第1の半片801aの光軸はx方向沿いに向けられており、第2の半片801bの光軸はy方向沿いに向けられており、スペクトルエンコーダ801の結像軸890はz軸沿いに向けられている。プリズム801は、プリズム半片801a、801bのウェッジ形状のためx軸沿いに位置依存位相差を有し、且つz軸に対する入力光の角度θに基づく固有依存性を有する。プリズム半片801a、801bのウェッジ形部分だけが位置依存位相差に寄与する。破線898、899で示されているように、プリズム801のそれぞれの半片801a、801bは長方形の固体801a−1、801b−1と三角形のウェッジ801a−2、801b−2とで構成されている。プリズム801の位置依存性はそれぞれの半片801a、801bの三角形ウェッジ801a−2、801b−2のみに起因し得、角度依存性は長方形部分801a−1、801b−1を含むプリズム801全体に起因し得る。
いくつかの実装において、スペクトルエンコーダに使われるウォラストンプリズムの角度依存性は、プリズム半片を薄くすることによって、例えば図8Aおよび8Bに例示されているように長方形部分801a−1、801b−1を除去または縮小することによって、低減できる。いくつかの実施形態では、ウェッジを形成するにあたって必要な材料だけを残してプリズム半片を薄くする。図8Bは、長方形部分を実質的に省いた第1および第2の半片802a、802bを備えるウォラストンプリズム802を例示するものである。種々の実施形態において、プリズム半片の最も薄い部分の厚さt(図8A参照)は、プリズム半片の最も厚い部分の厚さtの90%未満、75%未満、50%未満、または25%未満であってよい。いくつかの実装において、tとtとの差はミクロン単位であってよく、例えば1μm〜500μmであってよい。そのように薄いプリズムの取り扱いを容易にするため、図8Bに図示されているように光学的等方性材から成る基板803に半片802a、802bのいずれか一方または両方を接着する必要があるかもしれない。
いくつかの実装では、図9Aおよび9Bに例示されているように、ウォラストンプリズムの片側または両側に近接して配置された1つ以上の追加的複屈折材層で角度依存性を部分的に補償することにより、ウォラストンプリズムの角感度を低減できる。図9Aおよび9Bに図示し説明する技法は、図8Aおよび8Bで説明した手法に加えて採用でき、あるいは図8Aおよび8Bで説明した手法の代わりに採用できる。
図9Aは、プリズム半片901、902と、スペクトルエンコーダの結像軸999沿いに配置された追加的複屈折材層903とを含む、ウォラストンプリズム900を図示するものである。この例で、ウォラストンプリズム900の第1の半片901の光軸はx軸沿いに向けられており、ウォラストンプリズム900の第2の半片902の光軸はy軸沿いに向けられており、第3の層903の光軸はスペクトルエンコーダの結像軸999(図9Aのz軸)沿いに向けられている。追加的複屈折材層903はウォラストンプリズム半片901、902と同じ材料で作られてよい。いくつかの実施形態において、第3の層903は、概ね一定であり、且つ破線998で示された中間点でウォラストンプリズム半片901、902のいずれか一方に概ね等しい、厚さを有してよい。第3の層903の厚さはウォラストンプリズム半片901、902のいずれか一方の平均厚さに概ね等しくてよい。
第3の層903はウォラストンプリズム900の角度依存性を部分的に補償する。これは、xz面でz軸に対し角度θを成し、x軸沿いに光軸を有する一軸複屈折媒質を通過する光線の異常光線(x方向に偏光)の屈折率の角度依存性を検討することによって理解できる。異常光線の屈折率は
によって与えられ、nおよびnは複屈折媒質の異常および常屈折率である。z軸沿いに光軸を有する同じ厚さの媒質を光線が通過し、異常光線の屈折率が
によって与えられる場合、異常光線の平均屈折率は
ではなく
である。ほぼθ=0で角度依存性は当初の角度依存性の
まで低減され、これは複屈折媒質方解石を使用する場合に当初の角度依存性の約28%と算出される。
図9Bはウォラストンプリズムの角感度を低減する別の技法を例示するものである。図9Bは、プリズム半片901、902と、スペクトルエンコーダの結像軸999沿いに配置された追加的複屈折材層911、912とを含む、ウォラストンプリズムを図示している。追加的層911、912はウォラストンプリズム900の角度依存性を部分的に補償するために配置されている。それぞれの層911、912は、概ね一定であり、且つ一方のプリズム半片901、902の平均厚さに概ね等しい、厚さを有する。ウォラストンプリズム半片の中間点(スペクトルエンコーダの中間点)で、それぞれのプリズム半片901、902とそれぞれの追加的層911、912の厚さは概ね等しくてよい。この例で、スペクトルエンコーダの結像軸999はz軸沿いに向けられており、ウォラストンプリズム900の第1の半片901の光軸はx軸沿いに向けられており、ウォラストンプリズム900の第2の半片902の光軸はy軸沿いに向けられている。層911はウォラストンプリズム半片901と大きさが等しく符号が反対の複屈折を有し、x軸沿いに向けられた光軸を有する。層912はウォラストンプリズム半片902と大きさが等しく符号が反対の複屈折を有し、y軸沿いに向けられた光軸を有する。この配置で、ウォラストンプリズムの第1の半片901によって導入される角感度は層911によって補償され、ウォラストンプリズムの第2の半片902によって導入される角感度は層912によって補償される。角感度は、全ての層の厚さが等しくなるプリズムの中間点で完全に解消される。
いくつかの構成では、ウェッジ方向に対するウォラストンプリズム半片の光軸の向きを検討すると有益である。場合によっては、図6に示されているように、ウォラストンプリズムの一方の半片の結晶方向をウェッジ方向に対し平行にし、ウォラストンの他方の半片の方向をウェッジ方向に対し直角にすると有利であり得る。別の実装では、両方のウォラストンプリズム半片の結晶方向をウェッジ方向に対し45度(ただし互いに直角)にすると有利であり得る。
いくつかの実装において、波長板は、1つ以上の軸方向配向複屈折層で作られてよく、例えば二軸延伸ポリエチレンテレフタレート(boPET)等のポリマーまたはポリエステル膜やその他の軸方向配向膜で作られてよく、膜には複屈折勾配を設けることができる。これらの実装では、位相差の位置依存性に寄与する複屈折材の量に対して、位相差の角度依存性に寄与する余分な複屈折材の量は減らされる。例えば図10A〜10Cに図示されているように、波長板は2枚の膜を備えてよく、それぞれの膜は複屈折勾配を有する。例えば膜を伸ばすことにより、膜で所定の複屈折勾配を得ることができる。図10Aは第1および第2の膜1001、1002から成る波長板1000の断面図を図示しており、ここでそれぞれの膜1001、1002は複屈折勾配を有する。図10Bは軸1099沿いの正面図であり、第1の層1001の多数の点で複屈折を示しており、図10Cは軸1099沿いの正面図であり、第2の層1002の多数の点で複屈折を示しており、矢印1091および1092は複屈折の大きさと遅軸のアラインメントを示しており、矢印が長いほど複屈折は大きい。2つの層1001、1002は共に接着されており、図10Bおよび10Cに示されているように、一方の層1001、1002の遅軸は他方の層1002、1001の遅軸に対し概ね直角に向けられている。2つの層1001、1002によって形成された波長板では、ゼロ位相差点が波長板の中央になるよう調整できる。ゼロ位相差点とは、同じ幾何学的進路を進む光の2つの直交偏光が、波長板を通過する過程で同じ光路長さを経験する点である。
図10Dは、物体/物体像1011に対し相対的に配置され、偏光子131、132間に挟まれた2つの層1001、1002から成る波長板1000を備える、スペクトルエンコーダを例示するものである。図10Dに例示されたスペクトルエンコーダは、方解石や他の結晶を基礎とする波長板に比べて廉価であり得、および/または製造が容易であり得る。いくつかの実施形態において、波長板は単一の複屈折材層であってよく、あるいは単一の複屈折材層から成り、物体/物体像の軌道方向沿いに一定の複屈折勾配とゼロ位相差点を有するよう形成される。
もう1つの検討事項は、干渉する2つの偏光によって生じる縞面の局在化である。図11を参照する。縞面はウォラストンプリズムの内側、(例えば)2つの半片1141、1142の境界面1149の近く、角度β=a(n+n)/2nに、局所化される。したがって、検出器の受光面がスペクトルエンコーダの主光軸1199に対し概ね垂直である場合は、検出器と縞面との間に僅かな傾斜が生じ得、これは上で計算したβに等しい。僅かな傾斜には、(例えば)ウォラストンプリズム半片の境界面が検出器の受光面に対し概ね平行になるように検出器を傾けることによって対処できる。あるいは当技術で周知の他の手段で、例えば縞局在面を変えるウォラストンプリズムの組み合わせで、これを打ち消すこともできる。図11は偏光子131、132の間に置かれたウォラストンプリズム1140を図示している。検出器1190が角度βで傾けられているため、検出器1190の受光面1191はウォラストンプリズム1140の縞局在面に対し概ね平行となっている。代わりに、検出器をスペクトルエンコーダの主光軸1199に対し概ね垂直となる向きにし、例えば縞局在面が検出器の受光面に対し概ね水平となるようにウォラストンプリズムを傾けることもできる。
ここで説明する実施形態によるスペクトルエンコーダを含むハイパースペクトルイメージングシステムに用いるイメージング機構および/またはレンズについては、検討すべき事柄がいくつかあり得る。第一に、イメージング機構および/またはレンズの色収差を補正しなければならない。結像される物体が、例えば地理的景色が、スペクトルエンコーダに対しフラットに現れる場合は理想的である。これは、スペクトルエンコーダから景色までの距離が景色の高さの格差に比べて十分に大きい場合に達成できる。波長板で地理的風景(またはその他の物体)を結像する最初の結像素子としてテレセントリックレンズを使用することによってこれを達成することもできる。物体が十分にフラットでなければ、スペクトルエンコーダに対し同じ線速度で動く物体点/物体像点は異なる倍率を有し、波長板にわたって異なる速度で動く。この現象を補正するため、例えば二次カメラやLiDaRシステムを用いて物体点/物体像点の高さを推測でき、オルソ補正を実行できる。スペクトル情報は所与物体点/物体像点から取得された部分的インターフェログラムデータから計算できる。尚、所与物体点/物体像点の完全インターフェログラムを取得できない場合もあることに注意されたい。遠い物体点/物体像点は近い物体点/物体像点によって不明瞭になることがあるため、フーリエ変換に先立ち遠い物体点/物体像点に対応するインターフェログラムを切り取り、近い物体点/物体像点による不明瞭化で計算スペクトルにアーチファクトが生じないようにする必要があるかもしれない。
空間分解検出器で波長板を結像するため第2のレンズが含まれず、代わりに(例えば)波長板の真後ろに検出器が置かれる場合は、スペクトル分解(例えばウォラストンのウェッジ境界面で集束)と空間分解(検出器で集束)のため最適化された状態間で第1のレンズをディザーすると有利であり得る。
先に述べたように、フローサイトメトリー用途に使われる空間分解検出器は、イメージングシステムで重なり合う粒子を分離することを可能にする。ここで開示するスペクトルエンコーダの実施形態では、光の全ての直交偏光を維持するため、偏光子をビームスプリッタに差し替えることができる。システムをコンパクトにするため、これらのビームスプリッタはサバール板(パラレルパスビームスプリッタ)であってよい。代わりに、ビームスプリッタはウォラストンプリズムやその他の偏光ビームスプリッタを成してよい。
種々の実施形態において、光学装置および/または処理器の一部または全部は光学および/または電子ハードウェアで実装されてよい。いくつかの例示的実施形態において、処理器の機能は、ファームウェア、マイクロコントローラやその他の装置で実行するソフトウェア、またはハードウェア、ソフトウェア、およびファームウェアの組み合わせで実装されてよい。
種々実施形態の上記説明は制限ではなく例示と説明の目的で提示されている。開示された実施形態は網羅的ではなく、実装の可能性を開示された実施形態に限定するものではない。上記の教示を踏まえれば数多くの修正やバリエーションが可能である。

Claims (19)

  1. 方法であって、
    スペクトルエンコーダの波長板に対する軌道に沿って動く物体又は物体の像(物体/物体像)からの発散光を受けるステップであって、前記物体/物体像が、前記スペクトルエンコーダの視野内の前記軌道に沿って距離Lを横切り、前記物体/物体像の直径である、ステップと、
    前記物体/物体像の動きに基づいてN個の干渉縞を生成することを含む、前記発散光から位置依存偏光インターフェログラムを生成することにより、物体/物体像点についてのスペクトル情報を得るステップと、
    を含み、前記N個の干渉縞が前記物体/物体像から発散する波長λの光から生成され、前記物体/物体像が前記軌道に沿って距離L動き、Lが2dN以上であり、前記N個の干渉縞を生成することは、
    前記軌道に沿って動く前記物体/物体像から発散する光を第1の偏光方向に沿って偏光するステップと、
    前記光を第1の偏光方向に沿って偏光するステップの後、前記軌道に沿った前記光の光学スペクトル及び前記物体/物体像の動きに依存する光の偏光における時間依存変化を引き起こすステップであって、光の偏光の前記時間依存変化が、前記軌道に沿った位置の関数として変化する光学的遅延特性と前記第1の偏光方向に対する所定の角度の遅軸とを有する波長板によって提供される、ステップと、
    第2の偏光方向に沿って前記波長板から受けた光を偏光することによって、前記光の偏光の前記時間依存変化を前記光の時変強度に変換するステップとを有し、
    スペクトル情報を得ることは、前記光の時変強度を検出し、前記光の時変強度に応じて時変電気信号を生成することを含み、前記時変電気信号は、波長λで約λ/Nのスペクトル分解能を有する前記物体/物体の像についてのスペクトル情報を符号化
    前記直径dは、前記軌道沿いの前記波長板の長さの約1/2N以下である、方法。
  2. 請求項1に記載の方法において、
    前記時変電気信号を時間領域信号から周波数領域信号に変換し、前記周波数領域信号から前記物体/物体像についての信号を抽出するステップをさらに含む、方法。
  3. 請求項1に記載の方法において、
    前記物体/物体像から前記波長板上で発散する光を撮像するステップをさらに含む、方法。
  4. 請求項1に記載の方法において、
    前記物体/物体像から発散する前記光の一部を空間的に変調するステップをさらに含む、方法。
  5. 請求項4に記載の方法において、
    空間的に変調された、前記物体/物体像から発散する前記光の一部に基づいて、前記物体の速度を判定するステップをさらに含む、方法。
  6. 請求項1に記載の方法において、
    前記時変電気信号を処理するステップと、
    前記時変電気信号に基づいて、前記物体についての情報を判定するステップと、
    を含む、方法。
  7. 請求項1に記載の方法において、
    前記時変電気信号に基づいて、前記物体/物体像から発散する前記光の光学的スペクトルを判定するステップをさらに含む、方法。
  8. 請求項1に記載の方法において、
    前記時変電気信号に基づいて、物体の種類を識別するステップをさらに含む、方法。
  9. 請求項1に記載の方法において、
    前記時変電気信号を生成することは、特定の光の偏光に応じて複数の時変電気信号を生成することと、
    前記時変電気信号を組み合わせ、組み合わせた出力信号を生成することと、
    前記組み合わせた出力信号を処理し、前記物体/物体像についての情報を判定するステップとを含む、方法。
  10. システムであって、
    物体又は物体の像(物体/物体像)からの発散光を受けるよう構成されたスペクトルエンコーダであって、前記物体/物体像が前記スペクトルエンコーダの波長板に対する軌道に沿って動く、スペクトルエンコーダを備え、前記スペクトルエンコーダは、
    前記スペクトルエンコーダによって受ける光を第1の偏光方向に沿って偏光するように構成された第1の偏光子と、
    前記軌道に沿った光学スペクトル及び前記物体/物体像の動きに依存する光の偏光における時間依存変化を引き起こし、前記軌道に沿った位置の関数として変化する光学的遅延特性と前記第1の偏光方向に対する所定の角度の遅軸とを有する前記波長板と、
    第2の偏光方向に沿って前記波長板から受けた光を偏光することによって、前記光の偏光の前記時間依存変化を前記光の時変強度に変換する第2の偏光子とを含み、
    前記スペクトルエンコーダは、前記物体/物体像の動きに基づくN個の干渉縞を含む位置依存偏光インターフェログラムを生成し、前記N個の干渉縞は、前記物体/物体像から発散する波長λの光から生成され、前記物体/物体像は、前記スペクトルエンコーダの視野内で距離L動き、前記物体/物体像は、前記物体/物体像の直径であり、Lは、2dN以上であり、
    システムは、さらに、
    回路を備え、前記回路は、
    前記光の時変強度に応じて時変電気出力信号を生成するように構成されており前記時変電気出力信号が波長λで約λ/Nのスペクトル分解能を有する前記物体/物体像についてのスペクトル情報を符号化し、
    前記直径dは、前記軌道沿いの前記波長板の長さの約1/2N以下である、システム。
  11. 請求項10に記載のシステムであって、
    光学装置及びプロセッサを備え、
    前記光学装置及びプロセッサは、フローサイトメータのコンポーネントであり、
    前記プロセッサは、
    前記時変電気出力信号に基づいて、物体及び対象の一又は二以上の存在及び/又は量を判定するように構成されている、システム。
  12. 請求項11に記載のシステムであって、
    前記プロセッサは、複数のデジタルフィルタを備え、各デジタルフィルタは、前記フローサイトメータのチャネルに関連する、システム。
  13. 請求項10に記載のシステムであって、
    前記回路は、複数の検出器を備え、各検出器は、特定の光の偏光に応じて時変電気出力信号を生成し、
    前記回路は、さらに、前記複数の検出器の前記時変電気出力信号を組み合わせ、組み合わせた出力信号を処理するように構成されている、システム。
  14. 請求項10に記載のシステムであって、
    空間マスクを備え、前記物体/物体像から発散する前記光の一部は前記空間マスクにより空間的に変調され、前記回路は空間的に変調された前記光を受けるように配置されている、システム。
  15. 請求項10に記載のシステムであって、
    前記回路は、前記時変電気出力信号に基づいて、前記物体/物体像から発散する前記光の光学的スペクトルを判定するように構成されたプロセッサを備える、システム。
  16. 請求項10に記載のシステムであって、
    前記回路は、前記時変電気出力信号に基づいて、前記物体/物体像の種類を識別するように構成されたプロセッサを備える、システム。
  17. 請求項10に記載のシステムであって、
    前記回路は、前記物体/物体像から発散する前記光の一部に基づいて、前記物体の速度を判定するように構成されたプロセッサを備える、システム。
  18. 請求項10に記載のシステムであって、
    前記回路は、前記時変電気出力信号を時間領域信号から周波数領域信号に変換し、前記周波数領域信号から前記物体/物体像についての信号を抽出するように構成されたプロセッサを備える、システム。
  19. 請求項10に記載のシステムであって、
    前記回路は、前記時変電気出力信号を処理し、スペクトルエンコーダの一又は二以上のコンポーネントの空間的特性について訂正を行うように構成されている、システム。
JP2015242330A 2014-12-18 2015-12-11 移動物体からのスペクトル情報の取得 Active JP6836321B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/576,155 US10048192B2 (en) 2014-12-18 2014-12-18 Obtaining spectral information from moving objects
US14/576,155 2014-12-18
US14/944,446 US10302494B2 (en) 2014-12-18 2015-11-18 Obtaining spectral information from a moving object
US14/944,446 2015-11-18

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2016186485A JP2016186485A (ja) 2016-10-27
JP2016186485A5 JP2016186485A5 (ja) 2019-01-31
JP6836321B2 true JP6836321B2 (ja) 2021-02-24

Family

ID=55023852

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015242330A Active JP6836321B2 (ja) 2014-12-18 2015-12-11 移動物体からのスペクトル情報の取得

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10302494B2 (ja)
EP (1) EP3035013B1 (ja)
JP (1) JP6836321B2 (ja)
KR (1) KR102331392B1 (ja)
CN (1) CN106017683B (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10663346B2 (en) * 2017-12-29 2020-05-26 Palo Alto Research Center Incorporated Method and apparatus for transforming uniformly or non-uniformly sampled interferograms to produce spectral data
CN110579278A (zh) * 2018-06-08 2019-12-17 福州高意通讯有限公司 一种复合型傅立叶变换光谱仪
EP3588057A1 (en) * 2018-06-29 2020-01-01 Koninklijke Philips N.V. Method of reducing false-positive particle counts of an interference particle sensor module
US11359966B2 (en) * 2019-04-17 2022-06-14 Westboro Photonics Inc. System, method and apparatus for wide wavelength range imaging with focus and image correction
US11467660B2 (en) * 2020-02-06 2022-10-11 Valve Corporation Position tracking system for head-mounted display systems
US11503225B2 (en) * 2020-09-15 2022-11-15 Micron Technology, Inc. Stacked polarizer hyperspectral imaging
US11009595B1 (en) * 2020-11-13 2021-05-18 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Continuously variable optical beam splitter
US11002956B1 (en) 2020-11-19 2021-05-11 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Refractive laser communication beam director with dispersion compensation
EP4337933A1 (en) * 2021-05-14 2024-03-20 Becton, Dickinson and Company Systems for detecting light by spectral discrimination and methods for using same

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1262322A (en) 1968-05-27 1972-02-02 Douglas Graham Mitchell Apparatus for spectroscopic analysis
FR2300998A2 (fr) 1975-02-11 1976-09-10 Anvar Dispositif pour la spectrometrie interferentielle a modulation selective
US4009962A (en) 1975-10-03 1977-03-01 Sun Oil Company Of Pennsylvania Emission spectroscopic system having compensation for background radiation
US4136954A (en) 1976-12-29 1979-01-30 Jamieson John A Imaging apparatus including spatial-spectral interferometer
US4711573A (en) * 1983-03-07 1987-12-08 Beckman Instruments, Inc. Dynamic mirror alignment control
US4542295A (en) 1983-09-29 1985-09-17 Mattson David R Spectrometer with selectable area detector
US4661913A (en) 1984-09-11 1987-04-28 Becton, Dickinson And Company Apparatus and method for the detection and classification of articles using flow cytometry techniques
FR2595820B1 (fr) * 1986-03-13 1990-01-05 Bertin & Cie Dispositif a fibres optiques pour la detection a distance d'une grandeur physique, en particulier de la temperature
US4986659A (en) * 1988-02-29 1991-01-22 Aerometrics, Inc. Method for measuring the size and velocity of spherical particles using the phase and intensity of scattered light
US4905169A (en) * 1988-06-02 1990-02-27 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Method and apparatus for simultaneously measuring a plurality of spectral wavelengths present in electromagnetic radiation
JPH02147840A (ja) * 1988-11-29 1990-06-06 Res Dev Corp Of Japan 多波長螢光・燐光分析方法および装置
US5674679A (en) 1991-09-27 1997-10-07 Amersham Life Science, Inc. DNA cycle sequencing
GB9314302D0 (en) 1993-07-10 1993-08-25 Univ Court Of The University O Improved spectrometer
GB9409064D0 (en) * 1994-05-06 1994-06-22 Perkin Elmer Ltd Improvements in or relating to optical interferometers
US5654797A (en) 1996-02-22 1997-08-05 National Research Council Of Canada Method and apparatus for monitoring the diameter of thermally sprayed particles
ATA84696A (de) * 1996-05-14 1998-03-15 Adolf Friedrich Dr Fercher Verfahren und anordnungen zur kontrastanhebung in der optischen kohärenztomographie
CA2297672A1 (en) * 1997-07-28 1999-02-04 Hinds Instruments, Inc. Measurement of waveplate retardation using a photoelastic modulator
CN1265738A (zh) * 1997-07-29 2000-09-06 威廉·布拉德肖·阿莫斯 用于光学成像傅里叶谱仪的光学设备及其操作方法
EP0939323A1 (en) 1998-02-28 1999-09-01 C.S.E.M. Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique Sa Wollaston prism and use of it in a fourier-transform spectrometer
US6421131B1 (en) 1999-07-02 2002-07-16 Cambridge Research & Instrumentation Inc. Birefringent interferometer
US6490530B1 (en) 2000-05-23 2002-12-03 Wyatt Technology Corporation Aerosol hazard characterization and early warning network
US7471394B2 (en) 2000-08-02 2008-12-30 Honeywell International Inc. Optical detection system with polarizing beamsplitter
US20060072109A1 (en) 2004-09-03 2006-04-06 Andrew Bodkin Hyperspectral imaging systems
GB0215248D0 (en) * 2002-07-02 2002-08-14 Qinetiq Ltd Imaging apparatus
US7106435B2 (en) * 2003-03-17 2006-09-12 Drs Sensors & Targeting Systems, Inc. Hyperspectral scene generator and method of use
WO2005010799A2 (en) * 2003-07-16 2005-02-03 Shrenik Deliwala Optical encoding and reconstruction
US20140226158A1 (en) * 2004-03-06 2014-08-14 Michael Trainer Methods and apparatus for determining particle characteristics
US7358476B2 (en) 2005-12-22 2008-04-15 Palo Alto Research Center Incorporated Sensing photons from objects in channels
US8821799B2 (en) 2007-01-26 2014-09-02 Palo Alto Research Center Incorporated Method and system implementing spatially modulated excitation or emission for particle characterization with enhanced sensitivity
US9164037B2 (en) 2007-01-26 2015-10-20 Palo Alto Research Center Incorporated Method and system for evaluation of signals received from spatially modulated excitation and emission to accurately determine particle positions and distances
US8526002B2 (en) * 2007-09-07 2013-09-03 Massachusetts Institute Of Technology Two-dimensional fourier transform spectrometer
US7701580B2 (en) 2008-02-01 2010-04-20 Palo Alto Research Center Incorporated Transmitting/reflecting emanating light with time variation
US7894068B2 (en) 2008-02-04 2011-02-22 Palo Alto Research Center Incorporated Producing filters with combined transmission and/or reflection functions
US8373860B2 (en) 2008-02-01 2013-02-12 Palo Alto Research Center Incorporated Transmitting/reflecting emanating light with time variation
RU2591735C2 (ru) * 2011-09-20 2016-07-20 Халлибертон Энерджи Сервисез, Инк. Система и устройство для обнаружения запрещенных или опасных веществ
GB2506687B (en) 2012-10-08 2018-02-07 Bae Systems Plc Hyperspectral imaging of a moving scene

Also Published As

Publication number Publication date
US20170038258A1 (en) 2017-02-09
US10302494B2 (en) 2019-05-28
KR20160074412A (ko) 2016-06-28
CN106017683A (zh) 2016-10-12
EP3035013A1 (en) 2016-06-22
EP3035013B1 (en) 2019-08-28
JP2016186485A (ja) 2016-10-27
KR102331392B1 (ko) 2021-11-29
CN106017683B (zh) 2019-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6836321B2 (ja) 移動物体からのスペクトル情報の取得
CN107111118B (zh) 用于厚样本的epi照明傅立叶重叠关联成像
US20180307017A1 (en) Aperture scanning fourier ptychographic imaging
US9239263B2 (en) Image mapped spectropolarimetry
WO2008128024A1 (en) Compact snapshot polarimetry camera
CN109856058B (zh) 一种高分辨率实时偏振光谱分析装置及方法
Sattar et al. Review of spectral and polarization imaging systems
CN111433590B (zh) 分光分析装置
US11573428B2 (en) Imaging method and apparatus using circularly polarized light
EP2902796B1 (en) Two axis interferometric tracking device and methods
EP3877734B1 (en) Method and system for polarimetry using static geometric polarization manipulation
US11530953B2 (en) Snapshot Mueller matrix polarimeter
US7023546B1 (en) Real-time imaging spectropolarimeter based on an optical modulator
WO2020039283A2 (en) Fourier-transform hyperspectral imaging system
CN103197403A (zh) 一种用于偏振成像仪的分孔径光学镜头
CN111954841A (zh) 宽场3d光谱显微镜
Saito et al. Wide field snapshot imaging polarimeter using modified Savart plates
Wong et al. A novel snapshot polarimetric imager
US11204234B1 (en) High speed wide field autocollimator
US10048192B2 (en) Obtaining spectral information from moving objects

Legal Events

Date Code Title Description
RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20160125

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20160126

AA79 Non-delivery of priority document

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A24379

Effective date: 20160425

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181211

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181211

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20191016

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20191024

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200716

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20200928

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201106

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210106

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210205

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6836321

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150