JP6815678B1 - Electronic component sintering equipment and methods - Google Patents

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Abstract

【課題】耐熱性が高く、低温で接合可能であり、かつ、熱伝導率が高い銀ナノ粒子を用いた銀ナノペーストなどの接合材を用いて、シンタリング法により電子部品を効率良く接合することが可能な電子部品のシンタリング装置および方法の提供。【解決手段】シンタリングプレス部4においてシンタリング処理された電子部品11を、不活性ガスを供給する第1不活性ガス供給路を有する第2搬送部8により、シンタリングプレス部4から冷却部5へ電子部品11をトレイ12ごと搬送するに際し、第1不活性ガス供給路から供給される不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆ったままの状態でシンタリングプレス部4から冷却部5へ搬送し、冷却部5において、第2搬送部8により搬送される電子部品11をトレイ12ごと第2搬送部8との間で挟み込み、不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆ったままの状態で冷却する。【選択図】図1PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently bond electronic components by a sintering method using a bonding material such as silver nanopaste using silver nanoparticles having high heat resistance, capable of bonding at a low temperature, and high thermal conductivity. Providing capable electronic component sintering devices and methods. SOLUTION: An electronic component 11 which has been sintered in a sintering press unit 4 is cooled from a sintering press unit 4 by a second transport unit 8 having a first inert gas supply path for supplying an inert gas. When the electronic component 11 is transported to the tray 12 together with the tray 12, the retarding press unit 4 cools the electronic component 11 while the electronic component 11 in the tray 12 is covered with the inert gas supplied from the first inert gas supply path. In the cooling unit 5, the electronic component 11 transported by the second transport unit 8 is sandwiched between the tray 12 and the second transport unit 8, and the electronic component 11 in the tray 12 is covered with the inert gas. Cool as it is. [Selection diagram] Fig. 1

Description

本発明は、銀ナノペーストなどの接合材を用いてシンタリング(焼結法)により電子部品を接合する電子部品のシンタリング装置および方法に関する。 The present invention relates to a sintering apparatus and method for electronic components that join electronic components by sintering (sintering method) using a bonding material such as silver nanopaste.

エアーコンディショナー、エレベーター、ハイブリット自動車や電気自動車などの電動機器では、電源電圧と駆動電圧とが異なることが多い。そのため、これらの電動機器には、インバーターやコンバーターなどの電力変換装置が搭載されている。これらの中でパワー半導体を用いて電力を変換する機器をパワーモジュールと呼ぶ。一般的に、パワー半導体は絶縁基板に半田接合されている。 In electric devices such as air conditioners, elevators, hybrid vehicles and electric vehicles, the power supply voltage and the drive voltage are often different. Therefore, these electric devices are equipped with power conversion devices such as inverters and converters. Among these, a device that converts electric power using a power semiconductor is called a power module. Generally, power semiconductors are solder-bonded to an insulating substrate.

パワー半導体を絶縁基板に半田接合させる方法として、例えば、特許文献1には、インテリジェントパワーモジュールなどの半導体装置の自動化組立において、あらかじめ金属ベース板にパワー回路、制御回路ブロックを搭載した回路組立体を主チャンバーに送り込む搬送途上でその接合面が半田溶融点より30〜50℃高い温度となるように予熱し、この予熱された回路組立体の上に端子一体型の外囲樹脂ケースをドッキングして重ね合わせ、この状態で外部導出端子と主回路、制御回路ブロックとの間のはんだ付け、および樹脂ケースと金属ベース板との間の接着を同時に行うことが記載されている。 As a method of soldering a power semiconductor to an insulating substrate, for example, in Patent Document 1, in automatic assembly of a semiconductor device such as an intelligent power module, a circuit assembly in which a power circuit and a control circuit block are mounted on a metal base plate in advance is provided. During the transfer to the main chamber, the joint surface is preheated to a temperature 30 to 50 ° C higher than the solder melting point, and the terminal-integrated outer resin case is docked on this preheated circuit assembly. It is described that the external lead-out terminal and the main circuit, the control circuit block are soldered, and the resin case and the metal base plate are bonded at the same time in this state.

特開平10−233484号公報JP-A-10-233484

パワー半導体は、10mm角程度の小さなチップ1枚当たりに50Aから家庭数世帯分に相当する数百A程度の電流が流れるため、動作中はチップから多くの熱が発生する。現行のSiパワー半導体の動作温度の上限は175℃程度である。この温度を越えないようにするため、チップから発生した熱は、チップ裏面から半田接合された基板を経由し、ヒートシンクを通じて速やかに排出される必要がある。したがって、パワー半導体チップと絶縁基板とを接合するダイボンド部には、熱伝導率の高い材料を用いることが望ましい。 In a power semiconductor, a current of about 50 A to several hundred A, which is equivalent to that of several households, flows per small chip of about 10 mm square, so that a large amount of heat is generated from the chip during operation. The upper limit of the operating temperature of the current Si power semiconductor is about 175 ° C. In order not to exceed this temperature, the heat generated from the chip needs to be quickly discharged from the back surface of the chip through the solder-bonded substrate and the heat sink. Therefore, it is desirable to use a material having high thermal conductivity for the die bond portion that joins the power semiconductor chip and the insulating substrate.

近年、200℃以上の高温動作が可能なSiCパワー半導体の開発と製品化が進められている。しかし、現在ダイボンド部に多く用いられている錫−銀(Sn−Ag)系や錫−銅(Sn−Cu)系の鉛(Pb)フリー半田は220℃近傍に融点を持つため、SiCパワー半導体の特徴を生かすことができない。また、Pbを多く含む半田は290℃以上の高い融点を持つが、環境への影響を考慮した場合、適用は避けるべきである。さらに、周辺部材の耐熱性や冷却時の残留応力の観点から、接合温度は300℃以下が望ましい。 In recent years, the development and commercialization of SiC power semiconductors capable of operating at a high temperature of 200 ° C. or higher have been promoted. However, tin-silver (Sn-Ag) -based and tin-copper (Sn-Cu) -based lead (Pb) -free solders, which are currently widely used in die-bonded parts, have a melting point near 220 ° C., and therefore are SiC power semiconductors. Cannot take advantage of the characteristics of. In addition, solder containing a large amount of Pb has a high melting point of 290 ° C. or higher, but its application should be avoided in consideration of the impact on the environment. Further, from the viewpoint of heat resistance of peripheral members and residual stress during cooling, the joining temperature is preferably 300 ° C. or lower.

そこで、本発明においては、耐熱性が高く、低温で接合可能であり、かつ、熱伝導率が高い銀ナノ粒子を用いた銀ナノペーストなどの接合材を用いて、シンタリング法により電子部品を効率良く接合することが可能なシンタリング装置および方法を提供することを目的とする。 Therefore, in the present invention, an electronic component is made by a sintering method using a bonding material such as silver nanopaste using silver nanoparticles having high heat resistance, bonding at a low temperature, and high thermal conductivity. It is an object of the present invention to provide a sintering device and a method capable of efficiently joining.

本発明のシンタリング装置は、基板上に接合材を介して半導体チップが載置された電子部品をトレイ内に載置した状態で予熱する予熱部と、予熱部において予熱された電子部品を加熱、加圧してシンタリング処理するシンタリングプレス部と、シンタリングプレス部においてシンタリング処理された電子部品を冷却する冷却部と、電子部品をトレイごと保持し、予熱部からシンタリングプレス部へ搬送する第1搬送部と、シンタリングプレス部から冷却部へ電子部品をトレイごと搬送する第2搬送部とを含み、第2搬送部は、不活性ガスを供給する第1不活性ガス供給路を有し、第1不活性ガス供給路から供給される不活性ガスによりトレイ内の電子部品を覆ったままの状態でシンタリングプレス部から冷却部へ搬送するものであり、冷却部は、第2搬送部により搬送される電子部品をトレイごと第2搬送部との間で挟み込み、不活性ガスにより電子部品を覆ったままの状態で冷却するものである。 The syntering device of the present invention heats a preheating part that preheats an electronic component on which a semiconductor chip is placed on a substrate via a bonding material in a tray, and an electronic component that is preheated in the preheating part. , A syntaring press unit that pressurizes and performs syntaring processing, a cooling unit that cools electronic components that have been sintered in the syntering press unit, and an electronic component that is held together with the tray and transported from the preheating unit to the syntering press unit. The second transport section includes a first transport section for transporting electronic components together with a tray from the syntering press section to the cooling section, and the second transport section provides a first inert gas supply path for supplying the inert gas. The electronic components in the tray are transported from the sinking press section to the cooling section while being covered with the inert gas supplied from the first inert gas supply path, and the cooling section is the second. The electronic component transported by the transport unit is sandwiched between the tray and the second transport unit, and the electronic component is cooled while being covered with the inert gas.

本発明のシンタリング方法は、基板上に接合材を介して半導体チップが載置された電子部品をトレイ内に載置した状態で予熱部において予熱し、予熱部において予熱された電子部品をシンタリングプレス部において加熱、加圧してシンタリング処理し、シンタリングプレス部においてシンタリング処理された電子部品を冷却部において冷却するシンタリング方法であって、予熱部において予熱された電子部品を第1搬送部によりトレイごと保持し、予熱部からシンタリングプレス部へ搬送すること、シンタリングプレス部においてシンタリング処理された電子部品を、不活性ガスを供給する第1不活性ガス供給路を有する第2搬送部により、シンタリングプレス部から冷却部へ電子部品をトレイごと搬送するに際し、第1不活性ガス供給路から供給される不活性ガスによりトレイ内の電子部品を覆ったままの状態でシンタリングプレス部から冷却部へ搬送すること、冷却部において、第2搬送部により搬送される電子部品をトレイごと第2搬送部との間で挟み込み、不活性ガスによりトレイ内の電子部品を覆ったままの状態で冷却することを含むことを特徴とする。 In the sintering method of the present invention, an electronic component on which a semiconductor chip is mounted on a substrate via a bonding material is placed in a tray and preheated in a preheating section, and the electronic component preheated in the preheating section is sintered. This is a sintering method in which the ring press unit heats and pressurizes and performs a syntering process, and the sintering press unit cools the electronic components that have been sintered in the cooling unit. The preheated electronic components in the preheating unit are first. A first inert gas supply path for holding the entire tray by the transport section and transporting the electronic components from the preheating section to the sintering press section and supplying the inert gas to the electronic components subjected to the syntering in the sintering press section. 2 When the electronic components are transported from the sinking press section to the cooling section by the transport section together with the tray, the synth is in a state where the electronic components in the tray are covered with the inert gas supplied from the first inert gas supply path. Transporting from the ring press section to the cooling section, in the cooling section, the electronic components transported by the second transport section were sandwiched between the tray and the second transport section, and the electronic components in the tray were covered with an inert gas. It is characterized by including cooling as it is.

これらの発明によれば、基板上に接合材を介して半導体チップが載置された電子部品をトレイ内に載置した状態で予熱し、接合材の水分や溶媒等を除去した後、シンタリングプレス部においてシンタリング処理されたトレイ内の電子部品を不活性ガスにより覆った状態として冷却部へ搬送し、さらに不活性ガスにより覆ったままの状態で冷却することで、シンタリング処理により高温となって酸化しやすくなっている部材の酸化を防止することができる。 According to these inventions, an electronic component on which a semiconductor chip is mounted on a substrate via a bonding material is preheated in a state of being placed in a tray to remove water, a solvent, etc. of the bonding material, and then sintered. The electronic components in the tray that have been sintered in the press section are transported to the cooling section as if they were covered with an inert gas, and then cooled while being covered with the inert gas, so that the temperature rises due to the sintering process. It is possible to prevent the oxidation of the member which is easily oxidized.

シンタリングプレス部は、電子部品をトレイごと挟み込む上型および下型と、上型および下型のそれぞれに設けられたシンタリングプレス部加熱手段と、上型および下型の少なくとも一方に設けられ、不活性ガスを供給する第2不活性ガス供給路とを有し、電子部品をトレイごと上型と下型とで挟み込み、第2不活性ガス供給路から供給され、シンタリングプレス部加熱手段により加熱される不活性ガスによりトレイ内の電子部品を覆った状態でシンタリングプレス部加熱手段により加熱してシンタリング処理するものであることが望ましい。これにより、基板上に接合材を介して半導体チップが載置された電子部品をトレイ内に載置した状態で予熱し、接合材の水分や溶媒等を除去した後、シンタリングプレス部においてトレイごと上型と下型とで挟み込み、加熱された不活性ガスにより電子部品を覆った状態で加熱してシンタリング処理し、このシンタリング処理後のトレイ内の電子部品を不活性ガスにより覆った状態として冷却部へ搬送し、さらに不活性ガスにより覆ったままの状態で冷却することで、シンタリング処理により高温となって酸化しやすくなっている部材の酸化を防止することができる。 The sintering press unit is provided on at least one of the upper mold and the lower mold that sandwich the electronic parts together with the tray, the sintering press unit heating means provided in each of the upper mold and the lower mold, and the upper mold and the lower mold. It has a second inert gas supply path for supplying the inert gas, and the electronic parts are sandwiched between the upper mold and the lower mold together with the tray, and is supplied from the second inert gas supply path by the sintering press unit heating means. It is desirable that the electronic parts in the tray are covered with the inert gas to be heated and then heated by the sintering press unit heating means to perform the sintering treatment. As a result, the electronic component on which the semiconductor chip is placed on the substrate via the bonding material is preheated in a state of being placed in the tray to remove water, solvent, etc. of the bonding material, and then the tray is placed in the syntering press section. The whole was sandwiched between the upper mold and the lower mold, and the electronic parts were covered with the heated inert gas and then subjected to the sintering treatment. The electronic parts in the tray after the sintering treatment were covered with the inert gas. By transporting the components to the cooling unit as a state and then cooling the components while covering them with an inert gas, it is possible to prevent oxidation of the members that are easily oxidized due to the high temperature due to the sintering treatment.

冷却部は、当該冷却部を加熱する冷却部加熱手段と、当該冷却部を冷却する冷却部冷却手段と、当該冷却部の温度を検知する冷却部温度検知手段とを有し、冷却部温度検知手段により検知した温度に基づいて冷却部加熱手段および冷却部冷却手段を制御して、電子部品を所定の冷却時間で所定の温度まで冷却するものであることが望ましい。これにより、冷却部の温度を検知した結果に基づいて冷却部を加熱および冷却することで、シンタリング後の電子部品が急激な冷却によりクラック発生などの品質不良を起こさないように適正な冷却時間をかけて所定の温度まで冷却することができる。 The cooling unit includes a cooling unit heating means for heating the cooling unit, a cooling unit cooling means for cooling the cooling unit, and a cooling unit temperature detecting means for detecting the temperature of the cooling unit, and the cooling unit temperature detection. It is desirable that the cooling unit heating means and the cooling unit cooling means are controlled based on the temperature detected by the means to cool the electronic component to a predetermined temperature in a predetermined cooling time. As a result, the cooling unit is heated and cooled based on the result of detecting the temperature of the cooling unit, so that the electronic components after syntaring do not cause quality defects such as cracks due to rapid cooling. Can be cooled to a predetermined temperature.

冷却部は、さらに、トレイの温度を検知するトレイ温度検知手段を有し、冷却部温度検知手段により検知した温度およびトレイ温度検知手段により検知した温度に基づいて冷却部加熱手段および冷却部冷却手段を制御するものであることが望ましい。これにより、冷却部の温度に加えてトレイの温度を検知し、検知した冷却部の温度およびトレイの温度に基づいて冷却部をよりさらに高精度に制御して加熱および冷却することで、シンタリング後の電子部品が急激な冷却によりクラック発生などの品質不良を起こさないように、より適正な冷却時間をかけて所定の温度まで冷却することができる。 The cooling unit further has a tray temperature detecting means for detecting the temperature of the tray, and the cooling unit heating means and the cooling unit cooling means based on the temperature detected by the cooling unit temperature detecting means and the temperature detected by the tray temperature detecting means. It is desirable to control. As a result, the temperature of the tray is detected in addition to the temperature of the cooling unit, and the cooling unit is controlled with higher accuracy based on the detected temperature of the cooling unit and the temperature of the tray to heat and cool the cooling unit. It is possible to cool the subsequent electronic parts to a predetermined temperature over a more appropriate cooling time so as not to cause quality defects such as cracks due to rapid cooling.

冷却部は、冷却部加熱手段が冷却部冷却手段よりも電子部品に近い位置に配置されたものであることが望ましい。この構成により、冷却部全体の冷却を冷却部冷却手段で行い、冷却部の温度制御は、電子部品に近い位置に配置され、レスポンス良く制御しやすい冷却部加熱手段により行うことで、冷却部の高精度な冷却管理を行うことが可能となる。 It is desirable that the cooling unit has the cooling unit heating means arranged at a position closer to the electronic component than the cooling unit cooling means. With this configuration, the entire cooling unit is cooled by the cooling unit cooling means, and the temperature of the cooling unit is controlled by the cooling unit heating means, which is located close to the electronic components and is easy to control with good response. It is possible to perform highly accurate cooling management.

予熱部は、不活性ガスを供給する第3不活性ガス供給路と、当該予熱部を加熱する予熱部加熱手段と、当該予熱部の温度を検知する予熱部温度検知手段とを有し、電子部品をトレイごと第1搬送部との間で挟み込み、第3不活性ガス供給路から供給する不活性ガスによりトレイ内の電子部品を覆い、予熱部温度検知手段により検知した温度に基づいて予熱部加熱手段を制御して、電子部品を所定の予熱温度で所定時間予熱するものであることが望ましい。これにより、予熱時に電子部品を不活性ガスにより覆った状態で、予熱部の温度を検知した結果に基づいて予熱部により加熱することで、予熱温度で酸化しやすい部材であっても酸化を防止することができる。 The preheating unit has a third inert gas supply path for supplying an inert gas, a preheating unit heating means for heating the preheating unit, and a preheating unit temperature detecting means for detecting the temperature of the preheating unit. The parts are sandwiched between the tray and the first transport section, the electronic parts in the tray are covered with the inert gas supplied from the third inert gas supply path, and the preheating section is based on the temperature detected by the temperature detecting means. It is desirable that the heating means is controlled to preheat the electronic component at a predetermined preheating temperature for a predetermined time. As a result, the electronic components are covered with an inert gas during preheating, and the preheating section heats the components based on the result of detecting the temperature of the preheating section, thereby preventing oxidation of the member even if it is easily oxidized at the preheating temperature. can do.

第1搬送部は、不活性ガスを供給する第4不活性ガス供給路を有し、第4不活性ガス供給路から供給される不活性ガスにより電子部品を覆ったままの状態で予熱部からシンタリングプレス部へ搬送するものであることが望ましい。これにより、予熱後の電子部品を不活性ガスにより覆ったままシンタリングプレス部へ搬送することで、予熱温度で酸化しやすい部材であっても酸化を防止してシンタリング処理することができる。 The first transport section has a fourth inert gas supply path for supplying the inert gas, and the preheating section keeps the electronic components covered with the inert gas supplied from the fourth inert gas supply path. It is desirable that the gas be transported to the sinking press section. As a result, by transporting the preheated electronic component to the sintering press unit while covering it with the inert gas, it is possible to prevent oxidation and perform the sintering process even for a member that is easily oxidized at the preheating temperature.

第1搬送部は、当該第1搬送部を加熱する搬送部加熱手段と、当該第1搬送部の温度を検知する搬送部温度検知手段とを有し、搬送部温度検知手段により検知した温度に基づいて搬送部加熱手段を制御して、電子部品の搬送中、電子部品を所定温度に保持するものであることが望ましい。これにより、予熱部からシンタリングプレス部までの搬送に時間がかかる場合であっても、搬送中に電子部品を所定温度に保持し、シンタリングプレス部において効率良くシンタリング処理することができる。 The first transport unit has a transport unit heating means for heating the first transport unit and a transport unit temperature detecting means for detecting the temperature of the first transport unit, and the temperature detected by the transport unit temperature detecting means is reached. It is desirable that the heating means of the transport unit is controlled based on the above to keep the electronic component at a predetermined temperature during the transport of the electronic component. As a result, even if it takes time to transport the electronic components from the preheating section to the sintering press section, the electronic components can be kept at a predetermined temperature during the transport, and the sintering press section can efficiently perform the sintering process.

トレイは、不活性ガスが上下に通過する貫通孔を有するものであることが望ましい。これにより、トレイの上下の一方から不活性ガスを供給すると、貫通孔を通じて不活性ガスがトレイの上下に供給されるので、トレイ内の電子部品全体が上下より不活性ガスで覆われるようになる。 It is desirable that the tray has through holes through which the inert gas passes up and down. As a result, when the inert gas is supplied from one of the upper and lower sides of the tray, the inert gas is supplied to the upper and lower sides of the tray through the through holes, so that the entire electronic component in the tray is covered with the inert gas from above and below. ..

(1)本発明によれば、基板上に接合材を介して半導体チップが載置された電子部品をトレイ内に載置した状態で予熱し、接合材の水分や溶媒等を除去した後、シンタリングプレス部においてシンタリング処理することにより、シンタリング処理を安定させることができ、さらにシンタリング処理後の冷却部への搬送および冷却部における冷却処理までの間、電子部品を不活性ガスにより覆ったままとすることで、シンタリング処理により高温となって酸化しやすくなる部材の酸化を防止することができ、品質を低下させることなく、電子部品を効率良く接合して、電子部品の品質を向上させることができる。 (1) According to the present invention, an electronic component on which a semiconductor chip is mounted on a substrate via a bonding material is preheated in a state of being placed in a tray to remove water, a solvent, etc. of the bonding material, and then By performing the sintering process in the sintering press section, the sintering process can be stabilized, and the electronic components are subjected to the inert gas until the transfer to the cooling section after the sintering process and the cooling process in the cooling section. By leaving it covered, it is possible to prevent the oxidation of parts that become hot due to the syntering process and easily oxidize, and efficiently join the electronic components without degrading the quality, and the quality of the electronic components. Can be improved.

(2)基板上に接合材を介して半導体チップが載置された電子部品をトレイ内に載置した状態で予熱し、接合材の水分や溶媒等を除去した後、シンタリングプレス部においてトレイごと上型と下型とで挟み込み、加熱された不活性ガスにより電子部品を覆った状態で加熱してシンタリング処理し、このシンタリング処理後のトレイ内の電子部品を不活性ガスにより覆った状態として冷却部へ搬送し、さらに不活性ガスにより覆ったままの状態で冷却する構成により、シンタリング処理を安定させることができ、さらにこのシンタリングプレス部におけるシンタリング処理からその後の冷却部への搬送および冷却部における冷却処理までの間、電子部品を不活性ガスにより覆ったままとすることで、シンタリング処理により高温となって酸化しやすくなる部材の酸化を防止することができ、品質を低下させることなく、電子部品を効率良く接合して、電子部品の品質を向上させることができる。 (2) An electronic component on which a semiconductor chip is placed on a substrate via a bonding material is preheated in a state of being placed in a tray to remove water, a solvent, etc. of the bonding material, and then the tray is placed in a syntering press section. The whole was sandwiched between the upper mold and the lower mold, and the electronic parts were covered with the heated inert gas and then subjected to the syntaring treatment. The electronic parts in the tray after the sintering treatment were covered with the inert gas. The sintering process can be stabilized by transporting the components to the cooling section as a state and then cooling the components while being covered with an inert gas, and further, from the sintering process in this sintering press section to the subsequent cooling section. By leaving the electronic components covered with an inert gas until the transportation of the components and the cooling process in the cooling section, it is possible to prevent the oxidation of the members that tend to oxidize due to the high temperature due to the sintering process. It is possible to improve the quality of electronic components by efficiently joining electronic components without deteriorating.

(3)冷却部が、当該冷却部を加熱する冷却部加熱手段と、当該冷却部を冷却する冷却部冷却手段と、当該冷却部の温度を検知する冷却部温度検知手段とを有し、冷却部温度検知手段により検知した温度に基づいて冷却部加熱手段および冷却部冷却手段を制御して、電子部品を所定の冷却時間で所定の温度まで冷却するものであることにより、クラック発生などの品質不良を防止して、より電子部品の品質を向上させることができる。 (3) The cooling unit has a cooling unit heating means for heating the cooling unit, a cooling unit cooling means for cooling the cooling unit, and a cooling unit temperature detecting means for detecting the temperature of the cooling unit for cooling. By controlling the cooling unit heating means and the cooling unit cooling means based on the temperature detected by the unit temperature detecting means to cool the electronic parts to a predetermined temperature in a predetermined cooling time, quality such as crack generation occurs. It is possible to prevent defects and further improve the quality of electronic parts.

(4)冷却部が、さらに、トレイの温度を検知するトレイ温度検知手段を有し、冷却部温度検知手段により検知した温度およびトレイ温度検知手段により検知した温度に基づいて冷却部加熱手段および冷却部冷却手段を制御するものであることにより、クラック発生などの品質不良をさらに防止して、さらに電子部品の品質を向上させることができる。 (4) The cooling unit further has a tray temperature detecting means for detecting the temperature of the tray, and the cooling unit heating means and cooling are based on the temperature detected by the cooling unit temperature detecting means and the temperature detected by the tray temperature detecting means. By controlling the part cooling means, it is possible to further prevent quality defects such as cracks and further improve the quality of electronic parts.

(5)冷却部は、冷却部加熱手段が冷却部冷却手段よりも電子部品に近い位置に配置されたものであることにより、冷却部の高精度な冷却管理を行うことが可能となり、クラック発生などの品質不良をさらに効率良く防止して、さらに電子部品の品質を向上させることができる。 (5) Since the cooling unit heating means is arranged at a position closer to the electronic component than the cooling unit cooling means, it is possible to perform highly accurate cooling control of the cooling unit and cracks occur. It is possible to more efficiently prevent such quality defects and further improve the quality of electronic components.

(6)予熱部が、不活性ガスを供給する第3不活性ガス供給路と、当該予熱部を加熱する予熱部加熱手段と、当該予熱部の温度を検知する予熱部温度検知手段とを有し、電子部品をトレイごと第1搬送部との間で挟み込み、第3不活性ガス供給路から供給する不活性ガスによりトレイ内の電子部品を覆い、予熱部温度検知手段により検知した温度に基づいて予熱部加熱手段を制御して、電子部品を所定の予熱温度で所定時間予熱するものであることにより、予熱温度で酸化しやすい部材であっても酸化を防止することができ、品質を低下させることなく、電子部品を効率良く接合して、電子部品の品質を向上させることができる。 (6) The preheating unit has a third inert gas supply path for supplying an inert gas, a preheating unit heating means for heating the preheating unit, and a preheating unit temperature detecting means for detecting the temperature of the preheating unit. Then, the electronic component is sandwiched between the tray and the first transport section, the electronic component in the tray is covered with the inert gas supplied from the third inert gas supply path, and the temperature is based on the temperature detected by the preheating section temperature detecting means. By controlling the heating means of the preheating section to preheat the electronic component at a predetermined preheating temperature for a predetermined time, it is possible to prevent oxidation of a member that is easily oxidized at the preheating temperature, and the quality is deteriorated. It is possible to efficiently join the electronic parts and improve the quality of the electronic parts without causing the trouble.

(7)搬送部が、不活性ガスを供給する第4不活性ガス供給路を有し、第4不活性ガス供給路から供給される不活性ガスにより電子部品を覆ったままの状態で予熱部からシンタリングプレス部へ搬送するものであることにより、予熱温度で酸化しやすい部材であっても酸化を防止してシンタリング処理することができ、品質を低下させることなく、電子部品をより効率良く接合して、電子部品の品質をさらに向上させることができる。 (7) The transport section has a fourth inert gas supply path for supplying the inert gas, and the preheating section is in a state where the electronic components are covered with the inert gas supplied from the fourth inert gas supply path. By transporting the material from the to the syntering press section, even a member that easily oxidizes at the preheating temperature can be subjected to the syntaring process by preventing oxidation, and the electronic parts can be made more efficient without degrading the quality. It can be joined well to further improve the quality of electronic components.

(8)第1搬送部が、当該第1搬送部を加熱する搬送部加熱手段と、当該第1搬送部の温度を検知する搬送部温度検知手段とを有し、搬送部温度検知手段により検知した温度に基づいて搬送部加熱手段を制御して、電子部品の搬送中、電子部品を所定温度に保持するものであることにより、複数のシンタリングプレス部を備えるなどして予熱部からシンタリングプレス部までの搬送に時間がかかる場合であっても、搬送中に電子部品を所定温度に保持し、シンタリングプレス部において効率良くシンタリング処理することができる。 (8) The first transport unit has a transport unit heating means for heating the first transport unit and a transport unit temperature detecting means for detecting the temperature of the first transport unit, and is detected by the transport unit temperature detecting means. By controlling the heating means of the transport unit based on the temperature of the transfer unit to keep the electronic component at a predetermined temperature during the transfer of the electronic component, it is possible to provide a plurality of sintering press sections for sintering from the preheating section. Even if it takes a long time to transfer to the press section, the electronic component can be held at a predetermined temperature during transfer, and the sintering press section can efficiently perform the sintering process.

(9)トレイが、不活性ガスが上下に通過する貫通孔を有するものであることにより、簡単な構成で電子部品全体を不活性ガスにより覆うことができ、酸化を防止して、電子部品の品質を向上させることができる。 (9) Since the tray has through holes through which the inert gas passes up and down, the entire electronic component can be covered with the inert gas with a simple configuration, oxidation is prevented, and the electronic component The quality can be improved.

本発明の実施の形態における電子部品のシンタリング装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the sintering apparatus of the electronic component in embodiment of this invention. 予熱部および第1搬送部の詳細を示す図であって、(A)は電子部品を予熱部と第1搬送部とで挟み込む前の状態を示す縦断面図、(B)は電子部品を予熱部と第1搬送部とで挟み込んだ状態を示す縦断面図、(C)は予熱後の電子部品を第1搬送部によって保持した状態を示す縦断面図である。It is a figure which shows the details of a preheating part and a 1st transport part, (A) is a vertical sectional view which shows the state before sandwiching an electronic component between a preheating part and a 1st transport part, (B) is a figure which preheats an electronic component. A vertical cross-sectional view showing a state of being sandwiched between the portion and the first transport portion, (C) is a vertical cross-sectional view showing a state in which the preheated electronic component is held by the first transport portion. シンタリングプレス部の詳細を示す図であって、(A)は型を開いた状態を示す縦断面図、(B)は型を締めた状態を示す縦断面図である。It is a figure which shows the detail of the sintering press part, (A) is the vertical sectional view which shows the state which opened the mold, (B) is the vertical sectional view which shows the state which the mold was closed. 第2搬送部および冷却部の詳細を示す図であって、(A)は電子部品を第2搬送部と冷却部とで挟み込む前の状態を示す縦断面図、(B)は電子部品を第2搬送部と冷却部とで挟み込んだ状態を示す縦断面図である。It is a figure which shows the detail of the 2nd transport part and the cooling part, (A) is the vertical sectional view which shows the state before sandwiching an electronic component between 2nd transport part and a cooling part, (B) is the electronic component | 2 It is a vertical cross-sectional view which shows the state which sandwiched between a transport part and a cooling part. 第3不活性ガス供給路から供給される不活性ガスの流れを示す図であって、(A)は図2(B)のトレイの一部を平面視した図、(B)は(A)のA−A断面図、(C)は(A)のB−B断面図である。It is a figure which shows the flow of the inert gas supplied from the third inert gas supply passage, (A) is the figure which made the part of the tray of FIG. 2 (B) a plan view, (B) is (A). A cross-sectional view of AA, (C) is a cross-sectional view of BB of (A). 第3不活性ガス供給路の別の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows another example of the 3rd inert gas supply path. シンタリングプレス部の押圧機構を説明する縦断面図である。It is a vertical cross-sectional view explaining the pressing mechanism of a sintering press part. 冷却部の温度制御の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the temperature control of a cooling part. 冷却部の例を示す図であって、(A)は冷却部加熱手段を示す横断面図、(B)は冷却部冷却手段を示す横断面図である。It is a figure which shows the example of a cooling part, (A) is the cross-sectional view which shows the cooling part heating means, (B) is the cross-sectional view which shows the cooling part cooling means. 冷却部の別の例を示す図である。It is a figure which shows another example of a cooling part. 本発明のシンタリング装置の別の実施形態を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows another Embodiment of the sintering apparatus of this invention. 本発明のシンタリング装置のさらに別の実施形態を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows still another Embodiment of the sintering apparatus of this invention.

図1は本発明の実施の形態における電子部品のシンタリング装置の概略構成図、図2は予熱部および第1搬送部の詳細を示す図であって、(A)は電子部品を予熱部と第1搬送部とで挟み込む前の状態を示す縦断面図、(B)は電子部品を予熱部と第1搬送部とで挟み込んだ状態を示す縦断面図、(C)は予熱後の電子部品を第1搬送部によって保持した状態を示す縦断面図、図3はシンタリングプレス部の詳細を示す図であって、(A)は型を開いた状態を示す縦断面図、(B)は型を締めた状態を示す縦断面図、図4は第2搬送部および冷却部の詳細を示す図であって、(A)は電子部品を第2搬送部と冷却部とで挟み込む前の状態を示す縦断面図、(B)は電子部品を第2搬送部と冷却部とで挟み込んだ状態を示す縦断面図である。 FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an electronic component syntering device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing details of a preheating section and a first transport section, and FIG. 2A shows an electronic component as a preheating section. A vertical cross-sectional view showing a state before being sandwiched between the first transport section, (B) is a vertical cross-sectional view showing a state in which an electronic component is sandwiched between a preheating section and the first transport section, and (C) is an electronic component after preheating. 3 is a vertical cross-sectional view showing a state in which is held by the first transport section, FIG. 3 is a view showing details of a syntering press section, (A) is a vertical cross-sectional view showing a state in which the mold is opened, and (B) is a vertical cross-sectional view. A vertical sectional view showing a state in which the mold is tightened, FIG. 4 is a view showing details of the second transport portion and the cooling portion, and FIG. 4A is a state before the electronic component is sandwiched between the second transport portion and the cooling portion. (B) is a vertical cross-sectional view showing a state in which an electronic component is sandwiched between a second transport portion and a cooling portion.

図1において、本発明の実施の形態における電子部品のシンタリング装置1は、電子部品11を供給する供給部2と、供給部2により供給される電子部品11を予熱する予熱部3と、予熱部3による予熱後の電子部品11をシンタリング処理するシンタリングプレス部4と、シンタリングプレス部4によるシンタリング処理後の電子部品を冷却する冷却部5と、冷却部5による冷却後の電子部品を収納する収納部6と、電子部品11を予熱部3からシンタリングプレス部4へ搬送する第1搬送部7と、電子部品をシンタリングプレス部4から冷却部5へ搬送する第2搬送部8と、窒素ガス等の不活性ガスを供給する不活性ガス供給部9と、予熱部3、シンタリングプレス部4や冷却部5等の温度を制御する温度制御部10とを有する。 In FIG. 1, the electronic component syntering device 1 according to the embodiment of the present invention includes a supply unit 2 for supplying the electronic component 11, a preheating unit 3 for preheating the electronic component 11 supplied by the supply unit 2, and a preheating unit 3. A sintering press unit 4 that sinters the electronic component 11 after preheating by the unit 3, a cooling unit 5 that cools the electronic component after the sintering process by the sintering press unit 4, and an electron after cooling by the cooling unit 5. A storage unit 6 for storing parts, a first transport unit 7 for transporting electronic components 11 from a preheating unit 3 to a sinking press unit 4, and a second transport unit 7 for transporting electronic components from a syntering press unit 4 to a cooling unit 5. It has a unit 8, an inert gas supply unit 9 that supplies an inert gas such as nitrogen gas, and a temperature control unit 10 that controls the temperature of the preheating unit 3, the syntering press unit 4, the cooling unit 5, and the like.

電子部品11は、図2に示すように、絶縁基板等の基板11B上に接合材(図示せず。)を介して半導体チップ11Aが載置されたものである。接合材は、耐熱性が高く、低温で接合可能であり、かつ、熱伝導率が高い銀ナノ粒子を用いた銀ナノペーストなどのシンタリング(焼結法)用接合材である。半導体チップは、パワーモジュールに用いられるパワー半導体チップである。電子部品11は、1つまたは複数個がトレイ12内に載置された状態のまま、トレイ12ごとシンタリング装置1内を搬送される。トレイ12は、電子部品11を1つずつ収容する収容部12Aを有する。収容部12Aは、トレイ12を上下に貫通する開孔12Bを有する。 As shown in FIG. 2, the electronic component 11 is a semiconductor chip 11A mounted on a substrate 11B such as an insulating substrate via a bonding material (not shown). The bonding material is a bonding material for sintering (sintering method) such as silver nanopaste using silver nanoparticles having high heat resistance, capable of bonding at a low temperature, and high thermal conductivity. The semiconductor chip is a power semiconductor chip used in a power module. The electronic component 11 is conveyed in the sintering device 1 together with the tray 12 while one or a plurality of the electronic components 11 are placed in the tray 12. The tray 12 has an accommodating portion 12A for accommodating electronic components 11 one by one. The accommodating portion 12A has an opening 12B that penetrates the tray 12 up and down.

予熱部3は、シンタリングプレス部4の前段に配設されている。予熱部3では、電子部品11を第1予熱温度で予熱する。第1予熱温度は、シンタリング処理温度よりも低い温度である。第1予熱温度は、接合材が銀ナノペーストの場合、100℃前後(好ましくは、80〜120℃)である。予熱部3は、図2に示すように、不活性ガスを供給する第3不活性ガス供給路31と、予熱部3を加熱する予熱部加熱手段32と、予熱部3の温度を検知する予熱部温度検知手段33とを有する。 The preheating section 3 is arranged in front of the sintering press section 4. The preheating unit 3 preheats the electronic component 11 at the first preheating temperature. The first preheating temperature is a temperature lower than the sintering treatment temperature. The first preheating temperature is around 100 ° C. (preferably 80 to 120 ° C.) when the bonding material is silver nanopaste. As shown in FIG. 2, the preheating section 3 includes a third inert gas supply path 31 for supplying the inert gas, a preheating section heating means 32 for heating the preheating section 3, and preheating for detecting the temperature of the preheating section 3. It has a unit temperature detecting means 33.

予熱部3では、第1搬送部7により供給部2から搬送された電子部品11を、図2(B)に示すように、トレイ12ごと第1搬送部7との間で挟み込み、第1予熱温度まで予熱する。このとき、予熱部3では、不活性ガス供給部9から第3不活性ガス供給路31を通じて供給する不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆い、温度制御部10が予熱部温度検知手段33により検知した温度に基づいて予熱部加熱手段32を制御して、電子部品11を所定の第1予熱温度で所定時間予熱する。 In the preheating unit 3, as shown in FIG. 2B, the electronic component 11 transported from the supply unit 2 by the first transport unit 7 is sandwiched between the tray 12 and the first transport unit 7, and the first preheat unit 3 is used. Preheat to temperature. At this time, in the preheating unit 3, the electronic component 11 in the tray 12 is covered with the inert gas supplied from the inert gas supply unit 9 through the third inert gas supply path 31, and the temperature control unit 10 covers the temperature detecting means of the preheating unit. The preheating unit heating means 32 is controlled based on the temperature detected by 33 to preheat the electronic component 11 at a predetermined first preheating temperature for a predetermined time.

図5は第3不活性ガス供給路31から供給される不活性ガスの流れを示す図であって、(A)は図2(B)のトレイ12の一部を平面視した図、(B)は(A)のA−A断面図、(C)は(A)のB−B断面図である。 FIG. 5 is a diagram showing the flow of the inert gas supplied from the third inert gas supply path 31, and FIG. 5A is a plan view of a part of the tray 12 of FIG. 2B, (B). ) Is a cross-sectional view taken along the line AA of (A), and (C) is a cross-sectional view taken along the line BB of (A).

図5に示すように、第3不活性ガス供給路31は、各収容部12Aの下方まで不活性ガスを供給する第1流路31Aと、第1流路31Aに接続され、各収容部12Aへ向かって開孔された第2流路31Bと、第2流路31Bに接続され、各収容部12Aの開孔12Bへ向かって開孔された第3流路31Cとを備える。トレイ12の開孔12Bは、各電子部品11を収容する収容部12Aの中心部に、平面視で電子部品11(基板11B)よりも若干小さく形成されている。また、収容部12Aの四隅には、収容部12Aの電子部品11上の空間と第2流路31Bとを接続する開孔12Cが設けられている。 As shown in FIG. 5, the third inert gas supply path 31 is connected to the first flow path 31A for supplying the inert gas to the lower part of each accommodation unit 12A and the first flow path 31A, and is connected to each accommodation unit 12A. It includes a second flow path 31B that is opened toward the opening and a third flow path 31C that is connected to the second flow path 31B and is opened toward the opening 12B of each accommodating portion 12A. The opening 12B of the tray 12 is formed in the central portion of the accommodating portion 12A accommodating each electronic component 11 so as to be slightly smaller than the electronic component 11 (board 11B) in a plan view. Further, at the four corners of the accommodating portion 12A, openings 12C for connecting the space on the electronic component 11 of the accommodating portion 12A and the second flow path 31B are provided.

トレイ12の開孔12Bは、収容部12Aに電子部品11が収容された際に、この収容された電子部品11によって閉塞されるが、第3不活性ガス供給路31から供給される不活性ガスは、第1流路31A、第2流路31Bおよび開孔12Cを通じて収容部12Aの電子部品11上の空間へ供給される。一方、収容部12Aの下の開孔12Bに対しては、不活性ガスは第1流路31A、第2流路31Bおよび第3流路31Cを通じて供給される。 The opening 12B of the tray 12 is closed by the accommodated electronic component 11 when the electronic component 11 is accommodated in the accommodating portion 12A, but the inert gas supplied from the third inert gas supply path 31 Is supplied to the space on the electronic component 11 of the accommodating portion 12A through the first flow path 31A, the second flow path 31B, and the opening 12C. On the other hand, the inert gas is supplied to the opening 12B below the accommodating portion 12A through the first flow path 31A, the second flow path 31B, and the third flow path 31C.

図6は第3不活性ガス供給路31の別の例を示している。図6に示す例では、トレイ12の下面に第2流路31Bと開孔12Bとに接続される供給路12Dを設けている。これにより、収容部12Aの下の開孔12Bに対して、不活性ガスは第1流路31A、第2流路31Bおよび供給路12Dを通じて供給される。 FIG. 6 shows another example of the third inert gas supply path 31. In the example shown in FIG. 6, a supply path 12D connected to the second flow path 31B and the opening 12B is provided on the lower surface of the tray 12. As a result, the inert gas is supplied to the opening 12B under the accommodating portion 12A through the first flow path 31A, the second flow path 31B, and the supply path 12D.

すなわち、本実施形態におけるトレイ12では、開孔12B,12Cによりトレイ12の上下の空間が通じているので、予熱部3と第1搬送部7との間で挟み込んだ電子部品11に対して上下の空間のいずれか一方から不活性ガスを供給すると、この開孔12B,12Cを通してトレイ12内の電子部品11の全体が不活性ガスにより覆われる。 That is, in the tray 12 of the present embodiment, since the spaces above and below the tray 12 are communicated by the openings 12B and 12C, the tray 12 is moved up and down with respect to the electronic component 11 sandwiched between the preheating unit 3 and the first transport unit 7. When the inert gas is supplied from any one of the spaces, the entire electronic component 11 in the tray 12 is covered with the inert gas through the openings 12B and 12C.

第1搬送部7は、不活性ガスを供給する第4不活性ガス供給路71と、第1搬送部7を加熱する搬送部加熱手段72と、第1搬送部7の温度を検知する搬送部温度検知手段73とを有する。第1搬送部7は、図2(C)に示すように、予熱後の電子部品11を下側に保持し、予熱部3からシンタリングプレス部4へ搬送する。このとき、第1搬送部7は、不活性ガス供給部9から第4不活性ガス供給路71を通じて供給する不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆ったままの状態で搬送する。この電子部品11の搬送中、第1搬送部7は、温度制御部10が搬送部温度検知手段73により検知した温度に基づいて搬送部加熱手段72を制御して、電子部品11を所定の第2予熱温度に保持する。第2予熱温度は、シンタリング処理温度よりも低い温度である。第2予熱温度は、接合材が銀ナノペーストの場合、100℃前後(好ましくは、80〜120℃)である。 The first transport unit 7 includes a fourth inert gas supply path 71 for supplying the inert gas, a transport unit heating means 72 for heating the first transport unit 7, and a transport unit for detecting the temperature of the first transport unit 7. It has a temperature detecting means 73. As shown in FIG. 2C, the first transport unit 7 holds the preheated electronic component 11 on the lower side and transports it from the preheat unit 3 to the sintering press unit 4. At this time, the first transport unit 7 transports the electronic component 11 in the tray 12 while being covered with the inert gas supplied from the inert gas supply unit 9 through the fourth inert gas supply path 71. During the transfer of the electronic component 11, the first transfer unit 7 controls the transfer unit heating means 72 based on the temperature detected by the temperature control unit 10 by the transfer unit temperature detecting means 73 to control the electronic component 11 to a predetermined number. 2 Keep at preheating temperature. The second preheating temperature is a temperature lower than the sintering treatment temperature. The second preheating temperature is around 100 ° C. (preferably 80 to 120 ° C.) when the bonding material is silver nanopaste.

シンタリングプレス部4は、図3に示すように、電子部品11をトレイ12ごと挟み込む上型40Aおよび下型40Bと、不活性ガスを供給する第2不活性ガス供給路41と、上型40Aおよび下型40Bのそれぞれに設けられたシンタリングプレス部加熱手段42A,42Bと、上型40Aと下型40Bとを型締めする型締め機構43とを有する。また、上型40Aには、トレイ12内の電子部品11をそれぞれ上側から押圧する押圧部材44を備える。一方、下型40Bには、この押圧部材44により押圧される電子部品11を下側からトレイ12の開孔12Bを通じて支持する受け部材45を備える。 As shown in FIG. 3, the sintering press unit 4 includes an upper die 40A and a lower die 40B that sandwich the electronic component 11 together with the tray 12, a second inert gas supply path 41 that supplies the inert gas, and the upper die 40A. Each of the lower mold 40B has a sintering press portion heating means 42A and 42B, and a mold clamping mechanism 43 for molding the upper mold 40A and the lower mold 40B. Further, the upper die 40A includes a pressing member 44 that presses the electronic component 11 in the tray 12 from above. On the other hand, the lower mold 40B is provided with a receiving member 45 that supports the electronic component 11 pressed by the pressing member 44 from below through the opening 12B of the tray 12.

なお、図示例では、第2不活性ガス供給路41が下型40Bに設けられた構成であるが、第2不活性ガス供給路41は上型40Aおよび下型40Bの少なくとも一方に設けられていれば良い。また、押圧部材44および受け部材45は上下逆に配置された構成としても良い。 In the illustrated example, the second inert gas supply path 41 is provided in the lower die 40B, but the second inert gas supply path 41 is provided in at least one of the upper die 40A and the lower die 40B. Just do it. Further, the pressing member 44 and the receiving member 45 may be arranged upside down.

図7はシンタリングプレス部4の押圧機構を説明する縦断面図である。図7に示すように、下型40Bには、受け部材45から延びるロッド46Aの先に接続されたピストン46Bが上下に摺動するシリンダ空間46Cが形成されている。シリンダ空間46Cのピストン46Bよりも下の空間には、油圧機構47が接続されている。これにより、上型40Aと下型40Bとを型締め機構43により型締めした際、押圧部材44により電子部品11が受け部材45に対して押圧され、余分圧力がロッド46Aおよびピストン46Bを通じてシリンダ空間46C内の圧油を通じて油圧機構47へ逃がされる。 FIG. 7 is a vertical cross-sectional view illustrating the pressing mechanism of the sintering press unit 4. As shown in FIG. 7, the lower mold 40B is formed with a cylinder space 46C in which the piston 46B connected to the tip of the rod 46A extending from the receiving member 45 slides up and down. The hydraulic mechanism 47 is connected to the space below the piston 46B of the cylinder space 46C. As a result, when the upper mold 40A and the lower mold 40B are molded by the mold clamping mechanism 43, the electronic component 11 is pressed against the receiving member 45 by the pressing member 44, and the excess pressure is applied to the cylinder space through the rod 46A and the piston 46B. It is released to the hydraulic mechanism 47 through the pressure oil in 46C.

なお、押圧部材44と電子部品11との間に弾性部材48を介在させる構成とすることも可能である。押圧部材44が電子部品11を押圧する際、この弾性部材48を介して押圧することにより、電子部品11の破損を防止することができる。弾性部材48は、弾性シートや樹脂フィルムなどである。この弾性部材48は、複数回使用することもできる。 It is also possible to have an elastic member 48 interposed between the pressing member 44 and the electronic component 11. When the pressing member 44 presses the electronic component 11, the electronic component 11 can be prevented from being damaged by pressing through the elastic member 48. The elastic member 48 is an elastic sheet, a resin film, or the like. The elastic member 48 can be used a plurality of times.

シンタリングプレス部4では、予熱部3において予熱された電子部品11をトレイ12ごと上型40Aと下型40Bとで挟み込み、型締め機構43により型締めした後、接合材の融点よりも低いシンタリング処理温度で加熱、加圧してシンタリング処理する。このとき、シンタリングプレス部4では、不活性ガス供給部9から第2不活性ガス供給路41を通じて供給され、シンタリングプレス部加熱手段42Bにより加熱された不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11が覆われる。シンタリングプレス部4では、このようにトレイ12内の電子部品11を不活性ガスにより覆った状態でシンタリング処理する。接合材が銀ナノペーストの場合、シンタリング処理温度250〜300℃で加熱し、5〜20MPaの圧力で加圧する。 In the sintering press unit 4, the electronic component 11 preheated in the preheating unit 3 is sandwiched between the upper mold 40A and the lower mold 40B together with the tray 12, and after molding is performed by the mold clamping mechanism 43, the sintered material is lower than the melting point of the bonding material. Heat and pressurize at the ring processing temperature for sintering processing. At this time, in the sintering press section 4, the electronic components in the tray 12 are supplied from the inert gas supply section 9 through the second inert gas supply path 41 and are heated by the sintering press section heating means 42B. 11 is covered. The sintering press unit 4 performs the sintering process in a state where the electronic component 11 in the tray 12 is covered with the inert gas in this way. When the bonding material is silver nanopaste, it is heated at a sintering treatment temperature of 250 to 300 ° C. and pressurized at a pressure of 5 to 20 MPa.

第2搬送部8は、不活性ガスを供給する第1不活性ガス供給路81を有する。図4に示すように、第2搬送部8は、シンタリング処理後の電子部品11をトレイ12ごと下側に保持して、シンタリングプレス部4から冷却部5へ搬送する。このとき、第2搬送部8は、不活性ガス供給部9から第1不活性ガス供給路81を通じて供給する不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆った状態で搬送する。 The second transport unit 8 has a first inert gas supply path 81 for supplying the inert gas. As shown in FIG. 4, the second transport unit 8 holds the electronic component 11 after the sintering process together with the tray 12 on the lower side, and transports the electronic component 11 from the sintering press unit 4 to the cooling unit 5. At this time, the second transport unit 8 transports the electronic component 11 in the tray 12 in a state of being covered with the inert gas supplied from the inert gas supply unit 9 through the first inert gas supply path 81.

冷却部5は、シンタリングプレス部4の後段に配設されている。冷却部5では、電子部品11をシンタリング処理温度よりも低い冷却温度まで冷却する。冷却温度は100℃前後(好ましくは、80〜120℃)以下とする。冷却部5は、図4に示すように、冷却部5を加熱する冷却部加熱手段51と、冷却部5を冷却する冷却部冷却手段52と、冷却部5の温度を検知する冷却部温度検知手段53とを有する。冷却部加熱手段51は、冷却部冷却手段52よりも電子部品11に近い位置に配置されている。 The cooling unit 5 is arranged after the sintering press unit 4. The cooling unit 5 cools the electronic component 11 to a cooling temperature lower than the sintering processing temperature. The cooling temperature is about 100 ° C. (preferably 80 to 120 ° C.) or less. As shown in FIG. 4, the cooling unit 5 includes a cooling unit heating means 51 that heats the cooling unit 5, a cooling unit cooling means 52 that cools the cooling unit 5, and a cooling unit temperature detection that detects the temperature of the cooling unit 5. It has means 53. The cooling unit heating means 51 is arranged at a position closer to the electronic component 11 than the cooling unit cooling means 52.

冷却部5では、第2搬送部8によりシンタリングプレス部4から搬送された電子部品11をトレイ12ごと第2搬送部8との間で挟み込み、冷却温度まで冷却する。このとき、冷却部5では、不活性ガス供給部9から第2搬送部8の第1不活性ガス供給路81を通じて供給される不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆い、温度制御部10が冷却部温度検知手段53により検知した温度に基づいて冷却部加熱手段51および冷却部冷却手段52を制御して、電子部品11を所定の冷却時間で所定の温度まで冷却する。 In the cooling unit 5, the electronic component 11 transported from the sintering press unit 4 by the second transport unit 8 is sandwiched between the tray 12 and the second transport unit 8 and cooled to the cooling temperature. At this time, in the cooling unit 5, the electronic component 11 in the tray 12 is covered with the inert gas supplied from the inert gas supply unit 9 through the first inert gas supply path 81 of the second transport unit 8, and the temperature control unit 5 is used. The cooling unit heating means 51 and the cooling unit cooling means 52 are controlled based on the temperature detected by the cooling unit temperature detecting means 53 to cool the electronic component 11 to a predetermined temperature in a predetermined cooling time.

図8は冷却部5の温度制御の例を示している。図8に示す例では、冷却部温度検知手段53により検知する温度は、冷却部5にトレイ12を載置したところから300℃まで上昇する。温度制御部10は、冷却部温度検知手段53により検知する温度が、トレイ12の載置から取り出すまでの90秒間で80℃まで下降するように、冷却部加熱手段51および冷却部冷却手段52を制御する。 FIG. 8 shows an example of temperature control of the cooling unit 5. In the example shown in FIG. 8, the temperature detected by the cooling unit temperature detecting means 53 rises to 300 ° C. from the place where the tray 12 is placed on the cooling unit 5. The temperature control unit 10 sets the cooling unit heating means 51 and the cooling unit cooling means 52 so that the temperature detected by the cooling unit temperature detecting means 53 drops to 80 ° C. in 90 seconds from the placement of the tray 12 to the removal of the tray 12. Control.

また、冷却部5は、さらにトレイ12の温度を検知するトレイ温度検知手段54を備えた構成とすることができる。トレイ温度検知手段54は、例えば赤外線を利用した非接触式温度計を使用することができる。これにより、温度制御部10は、上記の冷却部温度検知手段53により検知した温度に加え、トレイ温度検知手段54により検知した温度に基づいて冷却部加熱手段51および冷却部冷却手段52を制御してさらに高精度に温度制御することができる。 Further, the cooling unit 5 may be further provided with the tray temperature detecting means 54 for detecting the temperature of the tray 12. As the tray temperature detecting means 54, for example, a non-contact thermometer using infrared rays can be used. As a result, the temperature control unit 10 controls the cooling unit heating means 51 and the cooling unit cooling means 52 based on the temperature detected by the tray temperature detecting means 54 in addition to the temperature detected by the cooling unit temperature detecting means 53. The temperature can be controlled with even higher precision.

図9は冷却部5の例を示す図であって、(A)は冷却部加熱手段51を示す横断面図、(B)は冷却部冷却手段52を示す横断面図である。図9(A)に示す冷却部加熱手段51は、冷却部5の上部に埋め込まれた水平方向に延びる複数の棒状の電熱式のヒーターである。図9(B)に示す冷却部冷却手段52は、冷却部5の下部を水平方向に蛇行する流路であり、この流路を冷却圧縮空気等の冷媒が通過することにより冷却部5が冷却される。 9A and 9B are views showing an example of the cooling unit 5, in which FIG. 9A is a cross-sectional view showing the cooling unit heating means 51, and FIG. 9B is a cross-sectional view showing the cooling unit cooling means 52. The cooling unit heating means 51 shown in FIG. 9A is a plurality of rod-shaped electric heating type heaters embedded in the upper part of the cooling unit 5 and extending in the horizontal direction. The cooling unit cooling means 52 shown in FIG. 9B is a flow path that meanders in the lower portion of the cooling unit 5 in the horizontal direction, and the cooling unit 5 is cooled by passing a refrigerant such as cooling compressed air through this flow path. Will be done.

図10は冷却部5の別の例を示す図である。図10に示す例では、冷却部冷却手段52は冷却部5の下面に設けられた放熱フィンである。この放熱フィンに対し、冷風を吹き付けることで、冷却部5が冷却される。 FIG. 10 is a diagram showing another example of the cooling unit 5. In the example shown in FIG. 10, the cooling unit cooling means 52 is a heat radiation fin provided on the lower surface of the cooling unit 5. The cooling unit 5 is cooled by blowing cold air onto the radiating fins.

上記構成のシンタリング装置1では、基板11B上に接合材を介して半導体チップ11Aが載置された電子部品11が供給部2から予熱部3に搬送される。予熱部3では、第1搬送部7により供給部2から搬送された電子部品11をトレイ12ごと第1搬送部7との間で挟み込み、不活性ガス供給部9から第3不活性ガス供給路31を通じて供給する不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆い、電子部品11を所定の第1予熱温度で所定時間予熱する。第1予熱温度は、接合材の融点よりも低いシンタリング処理温度よりもさらに低い温度であり、接合材の焼結が進むことなく、接合材の水分や溶媒等が除去される。 In the sintering device 1 having the above configuration, the electronic component 11 on which the semiconductor chip 11A is placed on the substrate 11B via the bonding material is conveyed from the supply unit 2 to the preheating unit 3. In the preheating section 3, the electronic component 11 transported from the supply section 2 by the first transport section 7 is sandwiched between the tray 12 and the first transport section 7, and the inert gas supply section 9 to the third inert gas supply path. The electronic component 11 in the tray 12 is covered with the inert gas supplied through 31 and the electronic component 11 is preheated at a predetermined first preheating temperature for a predetermined time. The first preheating temperature is a temperature even lower than the sintering treatment temperature, which is lower than the melting point of the bonding material, and the water content, solvent, and the like of the bonding material are removed without the sintering of the bonding material proceeding.

予熱部3により予熱された電子部品11は第1搬送部7によってシンタリングプレス部4に搬送される。このとき、第1搬送部7は、不活性ガス供給部9から第4不活性ガス供給路71を通じて供給する不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆ったままの状態で搬送する。この電子部品11の搬送中、第1搬送部7は搬送部加熱手段72を制御して、電子部品11を所定の第2予熱温度に維持して、電子部品11の温度が低下するのを防止する。 The electronic component 11 preheated by the preheating unit 3 is conveyed to the sintering press unit 4 by the first conveying unit 7. At this time, the first transport unit 7 transports the electronic component 11 in the tray 12 while being covered with the inert gas supplied from the inert gas supply unit 9 through the fourth inert gas supply path 71. During the transfer of the electronic component 11, the first transfer unit 7 controls the transfer unit heating means 72 to maintain the electronic component 11 at a predetermined second preheating temperature and prevent the temperature of the electronic component 11 from dropping. To do.

シンタリングプレス部4では、予熱部3において予熱された電子部品11をトレイ12ごと上型40Aと下型40Bとで挟み込み、型締め機構43により型締めした後、接合材の融点よりも低いシンタリング処理温度で加熱、加圧してシンタリング処理する。このとき、シンタリングプレス部4では、不活性ガス供給部9から第2不活性ガス供給路41を通じて供給され、シンタリングプレス部加熱手段42Bにより加熱された不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆った状態でシンタリング処理する。 In the sintering press unit 4, the electronic component 11 preheated in the preheating unit 3 is sandwiched between the upper mold 40A and the lower mold 40B together with the tray 12, and after molding is performed by the mold clamping mechanism 43, the sintered material is lower than the melting point of the bonding material. Heat and pressurize at the ring processing temperature for sintering processing. At this time, in the sintering press section 4, the electronic components in the tray 12 are supplied from the inert gas supply section 9 through the second inert gas supply path 41 and are heated by the sintering press section heating means 42B. The syntaring process is performed with the 11 covered.

シンタリングプレス部4によりシンタリング処理された電子部品11は第2搬送部8によって冷却部5に搬送される。このとき、第2搬送部8は、不活性ガス供給部9から第1不活性ガス供給路81を通じて供給する不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆った状態で搬送する。 The electronic component 11 that has been sintered by the sintering press unit 4 is conveyed to the cooling unit 5 by the second conveying unit 8. At this time, the second transport unit 8 transports the electronic component 11 in the tray 12 in a state of being covered with the inert gas supplied from the inert gas supply unit 9 through the first inert gas supply path 81.

冷却部5では、第2搬送部8によりシンタリングプレス部4から搬送された電子部品11をトレイ12ごと第2搬送部8との間で挟み込み、冷却温度まで冷却する。このとき、冷却部5では、不活性ガス供給部9から第2搬送部8の第1不活性ガス供給路81を通じて供給される不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆った状態で所定の冷却時間で所定の温度まで冷却する。冷却部5で冷却された電子部品11はトレイ12ごと収納部6へ搬送され、収納される。 In the cooling unit 5, the electronic component 11 transported from the sintering press unit 4 by the second transport unit 8 is sandwiched between the tray 12 and the second transport unit 8 and cooled to the cooling temperature. At this time, in the cooling unit 5, the electronic component 11 in the tray 12 is covered with the inert gas supplied from the inert gas supply unit 9 through the first inert gas supply path 81 of the second transport unit 8. Cool to a predetermined temperature within the cooling time of. The electronic component 11 cooled by the cooling unit 5 is conveyed to the storage unit 6 together with the tray 12 and stored.

以上のように、本実施形態におけるシンタリング装置1によれば、基板上に接合材を介して半導体チップが載置された電子部品11を、トレイ12内に載置した状態で予熱し、接合材の水分や溶媒等を除去した後、シンタリングプレス部4においてシンタリング処理されたトレイ12内の電子部品11を不活性ガスにより覆った状態として冷却部5へ搬送し、さらに不活性ガスにより覆ったままの状態で冷却することで、シンタリング処理により高温となって酸化しやすくなっている部材の酸化を防止することができ、品質を低下させることなく、電子部品11を効率良く接合して、電子部品11の品質を向上させることができる。 As described above, according to the solvent ring device 1 in the present embodiment, the electronic component 11 on which the semiconductor chip is mounted on the substrate via the bonding material is preheated and bonded in a state of being placed in the tray 12. After removing water, solvent, etc. from the material, the electronic component 11 in the tray 12 that has been sintered in the syntering press unit 4 is conveyed to the cooling unit 5 in a state of being covered with an inert gas, and further, the inert gas is used. By cooling the components while they are covered, it is possible to prevent the oxidation of the members that are easily oxidized due to the high temperature due to the solvent treatment, and the electronic components 11 are efficiently joined without degrading the quality. Therefore, the quality of the electronic component 11 can be improved.

また、本実施形態におけるシンタリング装置1では、シンタリングプレス部4に第2不活性ガス供給路41およびシンタリングプレス部加熱手段42A,42Bを備えており、第2不活性ガス供給路41から供給される不活性ガスをシンタリングプレス部加熱手段42Bにより加熱し、この不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆った状態でシンタリングプレス部加熱手段42A,42Bにより加熱してシンタリング処理するので、さらにシンタリング処理中に高温となって酸化しやすくなっている部材の酸化を防止することができる。 Further, in the sintering device 1 of the present embodiment, the sintering press section 4 is provided with the second inert gas supply path 41 and the sintering press section heating means 42A and 42B, and is provided from the second inert gas supply path 41. The supplied inert gas is heated by the sintering press unit heating means 42B, and the electronic parts 11 in the tray 12 are covered with the inert gas and then heated by the sintering press unit heating means 42A and 42B for sintering. Since the treatment is performed, it is possible to prevent the member from being easily oxidized due to a high temperature during the sintering treatment.

また、本実施形態におけるシンタリング装置1では、冷却部5において、冷却部温度検知手段53により検知した温度に基づいて冷却部加熱手段51および冷却部冷却手段52を制御して、電子部品11を適正な冷却時間をかけて所定の温度まで冷却することができ、シンタリング後の電子部品11が急激な冷却によりクラック発生などの品質不良を起こさないようにすることができる。これにより、クラック発生などの品質不良を防止して、より電子部品の品質を向上させることができる。 Further, in the syntering device 1 of the present embodiment, the cooling unit 5 controls the cooling unit heating means 51 and the cooling unit cooling means 52 based on the temperature detected by the cooling unit temperature detecting means 53 to control the electronic component 11. It can be cooled to a predetermined temperature over an appropriate cooling time, and the electronic component 11 after syntaring can be prevented from causing quality defects such as cracks due to rapid cooling. As a result, quality defects such as cracks can be prevented, and the quality of electronic components can be further improved.

さらに、この冷却部5は、トレイ12の温度を検知するトレイ温度検知手段54を有するものとして、冷却部温度検知手段53により検知した温度およびトレイ温度検知手段54により検知した温度に基づいて冷却部加熱手段51および冷却部冷却手段52を制御するものとすることで、シンタリング後の電子部品11が急激な冷却によりクラック発生などの品質不良を起こさないように、より適正な冷却時間をかけて所定の温度まで冷却することができる。 Further, the cooling unit 5 is assumed to have the tray temperature detecting means 54 for detecting the temperature of the tray 12, and is based on the temperature detected by the cooling unit temperature detecting means 53 and the temperature detected by the tray temperature detecting means 54. By controlling the heating means 51 and the cooling unit cooling means 52, a more appropriate cooling time is taken so that the electronic component 11 after syntaring does not cause quality defects such as cracks due to rapid cooling. It can be cooled to a predetermined temperature.

また、本実施形態における冷却部5では、冷却部加熱手段51が冷却部冷却手段52よりも電子部品11に近い位置に配置されているため、冷却部5全体の冷却を冷却部冷却手段52で行い、冷却部5の温度制御は、電子部品に近い位置に配置され、レスポンス良く制御しやすい冷却部加熱手段51により行うことが可能であり、冷却部5の高精度な冷却管理を行うことが可能となっている。 Further, in the cooling unit 5 of the present embodiment, since the cooling unit heating means 51 is arranged at a position closer to the electronic component 11 than the cooling unit cooling means 52, the cooling unit cooling means 52 cools the entire cooling unit 5. The temperature of the cooling unit 5 can be controlled by the cooling unit heating means 51, which is arranged close to the electronic components and is easy to control with good response, and can perform highly accurate cooling management of the cooling unit 5. It is possible.

なお、冷却部冷却手段52が電子部品11に近く、冷却部加熱手段51が遠い位置に配置されている場合、冷却部5の電子部品11に接する面(載置部表面)が冷えすぎたときに、冷却部加熱手段51の熱は冷却部冷却手段52の冷気に遮られてしまい、載置部表面に伝わりにくく温度制御が困難となる。一方、本実施形態における冷却部5のように冷却部加熱手段51が電子部品11に近い位置に配置されている場合、冷却部冷却手段52が冷却部加熱手段51を含めて冷却部5の全体を冷却し、温度の制御は主に載置部表面に近い冷却部加熱手段51の温度を必要に応じて上下制御することで温度管理が容易となる。 When the cooling unit cooling means 52 is close to the electronic component 11 and the cooling unit heating means 51 is arranged at a distant position, when the surface of the cooling unit 5 in contact with the electronic component 11 (the surface of the mounting portion) is too cold. In addition, the heat of the cooling unit heating means 51 is blocked by the cold air of the cooling unit cooling means 52, and is difficult to be transmitted to the surface of the mounting portion, making temperature control difficult. On the other hand, when the cooling unit heating means 51 is arranged at a position close to the electronic component 11 as in the cooling unit 5 in the present embodiment, the cooling unit cooling means 52 includes the cooling unit heating means 51 as a whole of the cooling unit 5. The temperature can be easily controlled by controlling the temperature of the cooling unit heating means 51 near the surface of the mounting unit up and down as needed.

特に、本実施形態における冷却部5では、冷却部冷却手段52は、冷却圧縮空気等の冷媒の流量制御で行うため、流量制御による温度変化はレスポンスが悪く、細かい制御が困難であるが、冷却部加熱手段51が電熱式のヒーターであるため、温度管理は電気制御によりレスポンス良く制御しやすく、上記のように冷却部加熱手段51を電子部品11に近い位置に配置することで、温度管理が容易となっている。 In particular, in the cooling unit 5 of the present embodiment, since the cooling unit cooling means 52 controls the flow rate of the refrigerant such as cooling compressed air, the temperature change due to the flow rate control has a poor response and fine control is difficult. Since the part heating means 51 is an electric heater, temperature control can be easily controlled with good response by electric control. By arranging the cooling part heating means 51 at a position close to the electronic component 11 as described above, temperature control can be performed. It's easy.

また、本実施形態における予熱部3は、不活性ガスを供給する第3不活性ガス供給路31と、当該予熱部3を加熱する予熱部加熱手段32と、当該予熱部3の温度を検知する予熱部温度検知手段33とを有し、電子部品11をトレイ12ごと第1搬送部7との間で挟み込み、第3不活性ガス供給路31から供給する不活性ガスによりトレイ12内の電子部品11を覆い、予熱部温度検知手段33により検知した温度に基づいて予熱部加熱手段32を制御して、電子部品11を所定の予熱温度で所定時間予熱するので、予熱温度で酸化しやすい部材であっても酸化を防止することができる。 Further, the preheating section 3 in the present embodiment detects the temperature of the third inert gas supply path 31 for supplying the inert gas, the preheating section heating means 32 for heating the preheating section 3, and the temperature of the preheating section 3. It has a preheating unit temperature detecting means 33, sandwiches the electronic component 11 together with the tray 12 between the first transport section 7, and the electronic component in the tray 12 by the inert gas supplied from the third inert gas supply path 31. 11 is covered, and the preheating unit heating means 32 is controlled based on the temperature detected by the preheating unit temperature detecting means 33 to preheat the electronic component 11 at a predetermined preheating temperature for a predetermined time, so that the member easily oxidizes at the preheating temperature. Even if there is, oxidation can be prevented.

また、本実施形態におけるシンタリング装置1では、第1搬送部7が、不活性ガスを供給する第4不活性ガス供給路71を有し、第4不活性ガス供給路71から供給される不活性ガスにより電子部品11を覆ったままの状態で予熱部3からシンタリングプレス部4へ搬送するので、予熱温度で酸化しやすい部材であっても酸化を防止してシンタリング処理することができる。 Further, in the sintering device 1 in the present embodiment, the first transport unit 7 has a fourth inert gas supply path 71 for supplying the inert gas, and is supplied from the fourth inert gas supply path 71. Since the electronic component 11 is conveyed from the preheating section 3 to the syntering press section 4 while being covered with the active gas, even a member that easily oxidizes at the preheating temperature can be prevented from oxidizing and subjected to the syntaring process. ..

また、第1搬送部7は、当該第1搬送部7を加熱する搬送部加熱手段72と、当該第1搬送部7の温度を検知する搬送部温度検知手段73とを有し、搬送部温度検知手段73により検知した温度に基づいて搬送部加熱手段72を制御して、電子部品11の搬送中、電子部品11を所定温度に保持するため、予熱部3からシンタリングプレス部4までの搬送に時間がかかる場合であっても、搬送中に電子部品11を所定温度に保持し、シンタリングプレス部4において効率良くシンタリング処理することが可能となっている。 Further, the first transport unit 7 has a transport unit heating means 72 for heating the first transport unit 7 and a transport unit temperature detecting means 73 for detecting the temperature of the first transport unit 7, and the transport unit temperature. In order to control the transport unit heating means 72 based on the temperature detected by the detection means 73 and keep the electronic component 11 at a predetermined temperature during the transport of the electronic component 11, the transport from the preheating section 3 to the sintering press section 4 Even if it takes a long time, the electronic component 11 can be held at a predetermined temperature during transportation, and the sintering press unit 4 can efficiently perform the sintering process.

図11は本発明の別の実施形態を示すシンタリング装置1Aの概略構成図である。図11に示すシンタリング装置1Aは、複数のシンタリングプレス部4A,4Bを備えている。このシンタリング装置1Aでは、第1搬送部7が予熱部3からそれぞれのシンタリングプレス部4A,4Bまで電子部品11を搬送する。このとき、予熱部3に近いシンタリングプレス部4Aまでの搬送時間よりも予熱部3から遠いシンタリングプレス部4Bまでの搬送時間は長いが、この電子部品11の搬送中、第1搬送部7により所定温度に保持することで、シンタリングプレス部4Bにおいても効率良くシンタリング処理することが可能となる。 FIG. 11 is a schematic configuration diagram of a sintering device 1A showing another embodiment of the present invention. The sintering device 1A shown in FIG. 11 includes a plurality of sintering press units 4A and 4B. In this sintering device 1A, the first conveying section 7 conveys the electronic component 11 from the preheating section 3 to the respective sintering press sections 4A and 4B. At this time, the transport time from the preheating section 3 to the sintering press section 4B, which is farther from the preheating section 3, is longer than the transport time to the sintering press section 4A near the preheating section 3, but during the transporting of the electronic component 11, the first transport section 7 By keeping the temperature at a predetermined temperature, the sintering press unit 4B can also perform the sintering process efficiently.

図12は本発明のさらに別の実施形態を示すシンタリング装置1Bの概略構成図である。図12に示すシンタリング装置1Bは、複数のシンタリングプレス部4A,4B,4C,4Dを備えている。また、冷却部5および収納部6に加えて、第2冷却部5Aおよび第2収納部6Aを備えている。このシンタリング装置1Bでは、第1搬送部7は予熱部3から各シンタリングプレス部4A〜4Dまで電子部品11を搬送する。また、第2搬送部8は、各シンタリングプレス部4A〜4Dによってシンタリング処理された電子部品11を各シンタリングプレス部4A〜4Dから冷却部5まで搬送する。 FIG. 12 is a schematic configuration diagram of a sintering device 1B showing still another embodiment of the present invention. The sintering device 1B shown in FIG. 12 includes a plurality of sintering press units 4A, 4B, 4C, and 4D. Further, in addition to the cooling unit 5 and the storage unit 6, a second cooling unit 5A and a second storage unit 6A are provided. In this sintering device 1B, the first conveying section 7 conveys the electronic component 11 from the preheating section 3 to the sintering press sections 4A to 4D. In addition, the second transport unit 8 transports the electronic components 11 sintered by the sintering press units 4A to 4D from the sintering press units 4A to 4D to the cooling unit 5.

第2冷却部5Aは、冷却部5において第1の所定の温度としての中途温度まで冷却した後、さらに第2の所定の温度としての目標温度まで冷却する。中途温度は目標温度よりも高い温度(例えば、150〜200℃)である。各シンタリングプレス部4A〜4Dにおいて250〜300℃のシンタリング処理温度でシンタリング処理された電子部品11を目標温度まで急激に冷却すると電子部品11の内部に破損が発生する可能性があるため、できるだけゆっくりと冷却(徐冷)したいが、冷却時間を長くすると生産効率が低下する。 The second cooling unit 5A cools the cooling unit 5 to an intermediate temperature as a first predetermined temperature, and then further cools to a target temperature as a second predetermined temperature. The intermediate temperature is a temperature higher than the target temperature (for example, 150 to 200 ° C.). If the electronic component 11 that has been sintered at the sintering processing temperature of 250 to 300 ° C. in each of the sintering press units 4A to 4D is rapidly cooled to the target temperature, the inside of the electronic component 11 may be damaged. I want to cool (slowly cool) as slowly as possible, but if the cooling time is lengthened, the production efficiency will decrease.

そこで、本実施形態におけるシンタリング装置1Bでは、冷却部5において電子部品11を中途温度まで一旦冷却した後、さらに目標温度まで冷却、すなわち2段階に分けて冷却する構成としたものである。これにより、冷却部5および第2冷却部5Aにより同時に冷却処理を分担して進めることが可能となるため、冷却時間を短縮でき、電子部品11の生産時間を短縮することができる。 Therefore, in the syntering device 1B of the present embodiment, the electronic component 11 is once cooled to the intermediate temperature in the cooling unit 5, and then further cooled to the target temperature, that is, cooled in two stages. As a result, the cooling unit 5 and the second cooling unit 5A can simultaneously share and proceed with the cooling process, so that the cooling time can be shortened and the production time of the electronic component 11 can be shortened.

また、図示しないが、第2冷却部5Aはさらに複数の冷却部とすることも可能である。これにより、冷却部5により所定の中途温度まで冷却した後、さらに段階的に冷却、すなわち複数の冷却部により分担して冷却することが可能となる。なお、複数の冷却部間の電子部品11の移動は第2搬送部8により行うことが可能であるが、別の搬送部を設けることでさらに生産効率を上げることも可能となる。 Further, although not shown, the second cooling unit 5A can be further formed into a plurality of cooling units. As a result, after being cooled to a predetermined intermediate temperature by the cooling unit 5, it is possible to further gradually cool, that is, to share the cooling with the plurality of cooling units. Although the electronic components 11 can be moved between the plurality of cooling units by the second transport unit 8, it is also possible to further improve the production efficiency by providing another transport unit.

あるいは、電子部品11の冷却を冷却部5や第2冷却部5A等の複数の冷却部にそれぞれ振り分けて冷却する構成とすることも可能である。これにより、それぞれの冷却部における冷却時間を長くしても全体として冷却時間を短縮することが可能となる。また、図12に示す第2収納部6Aのように複数の冷却部に対応して複数の収納部を備える構成とすることにより、さらに電子部品11の生産時間を短縮することが可能となる。 Alternatively, the cooling of the electronic component 11 may be distributed to a plurality of cooling units such as the cooling unit 5 and the second cooling unit 5A for cooling. As a result, even if the cooling time in each cooling unit is lengthened, the cooling time can be shortened as a whole. Further, the production time of the electronic component 11 can be further shortened by providing a plurality of storage units corresponding to the plurality of cooling units as in the second storage unit 6A shown in FIG.

本発明のシンタリング装置および方法は、耐熱性が高く、低温で接合可能であり、かつ、熱伝導率が高い銀ナノ粒子を用いた銀ナノペーストなどの接合材を用いて、シンタリング法により電子部品を効率良く接合することが可能な装置および方法として有用である。 The sintering apparatus and method of the present invention uses a bonding material such as silver nanopaste using silver nanoparticles having high heat resistance, bonding at a low temperature, and high thermal conductivity by a sintering method. It is useful as a device and method capable of efficiently joining electronic parts.

1,1A,1B シンタリング装置
2 供給部
3 予熱部
31 第3不活性ガス供給路
32 予熱部加熱手段
33 予熱部温度検知手段
4,4A,4B,4C,4D シンタリングプレス部
40A 上型
40B 下型
41 第2不活性ガス供給路
42A,42B シンタリングプレス部加熱手段
43 型締め機構
44 押圧部材
45 受け部材
46A ロッド
46B ピストン
46C シリンダ空間
47 油圧機構
48 弾性部材
5 冷却部
51 冷却部加熱手段
52 冷却部冷却手段
53 冷却部温度検知手段
54 トレイ温度検知手段
5A 第2冷却部
6 収納部
6A 第2収納部
7 第1搬送部
71 第4不活性ガス供給路
72 搬送部加熱手段
73 搬送部温度検知手段
8 第2搬送部
81 第1不活性ガス供給路
9 不活性ガス供給部
10 温度制御部
11 電子部品
11A 半導体チップ
11B 基板
12 トレイ
12A 収容部
12B,12C 開孔
12D 供給路
1,1A, 1B Sintering device 2 Supply part 3 Preheating part 31 Third inert gas supply path 32 Preheating part Heating means 33 Preheating part Temperature detection means 4,4A, 4B, 4C, 4D Sintering press part 40A Upper type 40B Lower mold 41 Second inert gas supply path 42A, 42B Sintering press part Heating means 43 Mold tightening mechanism 44 Pressing member 45 Receiving member 46A Rod 46B Piston 46C Cylinder space 47 Hydraulic mechanism 48 Elastic member 5 Cooling part 51 Cooling part Heating means 52 Cooling unit Cooling means 53 Cooling unit temperature detecting means 54 Tray temperature detecting means 5A 2nd cooling unit 6 Storage unit 6A 2nd storage unit 7 1st transport unit 71 4th inert gas supply path 72 Transport unit heating means 73 Transport unit Temperature detection means 8 2nd transport section 81 1st inert gas supply path 9 Inert gas supply section 10 Temperature control section 11 Electronic parts 11A Semiconductor chip 11B Substrate 12 Tray 12A Storage section 12B, 12C Open hole 12D Supply path

Claims (14)

基板上に接合材を介して半導体チップが載置された電子部品をトレイ内に載置した状態で予熱する予熱部と、
前記予熱部において予熱された前記電子部品を加熱、加圧してシンタリング処理するシンタリングプレス部と、
前記シンタリングプレス部においてシンタリング処理された前記電子部品を冷却する冷却部と、
前記電子部品を前記トレイごと保持し、前記予熱部から前記シンタリングプレス部へ搬送する第1搬送部と、
前記シンタリングプレス部から前記冷却部へ前記電子部品を前記トレイごと搬送する第2搬送部と
を含み、
前記第2搬送部は、不活性ガスを供給する第1不活性ガス供給路を有し、前記第1不活性ガス供給路から供給される不活性ガスにより前記トレイ内の前記電子部品を覆ったままの状態で前記シンタリングプレス部から前記冷却部へ搬送するものであり、
前記冷却部は、前記第2搬送部により搬送される前記電子部品を前記トレイごと前記第2搬送部との間で挟み込み、不活性ガスにより前記トレイ内の前記電子部品を覆ったままの状態で冷却するものである
シンタリング装置。
A preheating unit that preheats an electronic component on which a semiconductor chip is placed on a substrate via a bonding material in a tray.
A sintering press unit that heats and pressurizes the electronic component preheated in the preheating unit to perform a sintering process, and a sintering press unit.
A cooling unit that cools the electronic components that have been sintered in the sintering press unit,
A first transport unit that holds the electronic components together with the tray and transports the electronic components from the preheating unit to the sintering press unit.
Includes a second transport unit that transports the electronic components together with the tray from the sintering press unit to the cooling unit.
The second transport section has a first inert gas supply path for supplying the inert gas, and the electronic component in the tray is covered with the inert gas supplied from the first inert gas supply path. It is transported from the syntering press section to the cooling section in the same state.
The cooling unit sandwiches the electronic component transported by the second transport unit together with the tray between the second transport unit and the electronic component in the tray while being covered with the inert gas. A sintering device that cools.
前記シンタリングプレス部は、前記電子部品を前記トレイごと挟み込む上型および下型と、前記上型および前記下型のそれぞれに設けられたシンタリングプレス部加熱手段と、前記上型および前記下型の少なくとも一方に設けられ、不活性ガスを供給する第2不活性ガス供給路とを有し、前記電子部品を前記トレイごと前記上型と前記下型とで挟み込み、前記第2不活性ガス供給路から供給され、前記シンタリングプレス部加熱手段により加熱される不活性ガスにより前記トレイ内の前記電子部品を覆った状態で前記シンタリングプレス部加熱手段により加熱してシンタリング処理するものである請求項1記載のシンタリング装置。 The sintering press unit includes an upper mold and a lower mold that sandwich the electronic component together with the tray, a sintering press unit heating means provided in each of the upper mold and the lower mold, and the upper mold and the lower mold. A second inert gas supply path for supplying an inert gas is provided on at least one of the above, and the electronic component is sandwiched between the upper mold and the lower mold together with the tray to supply the second inert gas. The sintering process is performed by heating with the sintering press section heating means in a state where the electronic parts in the tray are covered with the inert gas supplied from the path and heated by the sintering press section heating means. The sintering device according to claim 1. 前記冷却部は、当該冷却部を加熱する冷却部加熱手段と、当該冷却部を冷却する冷却部冷却手段と、当該冷却部の温度を検知する冷却部温度検知手段とを有し、前記冷却部温度検知手段により検知した温度に基づいて前記冷却部加熱手段および前記冷却部冷却手段を制御して、前記電子部品を所定の冷却時間で所定の温度まで冷却するものである請求項1または2に記載のシンタリング装置。 The cooling unit includes a cooling unit heating means for heating the cooling unit, a cooling unit cooling means for cooling the cooling unit, and a cooling unit temperature detecting means for detecting the temperature of the cooling unit. According to claim 1 or 2, the cooling unit heating means and the cooling unit cooling means are controlled based on the temperature detected by the temperature detecting means to cool the electronic component to a predetermined temperature in a predetermined cooling time. The described sintering device. 前記冷却部は、さらに、前記トレイの温度を検知するトレイ温度検知手段を有し、前記冷却部温度検知手段により検知した温度および前記トレイ温度検知手段により検知した温度に基づいて前記冷却部加熱手段および前記冷却部冷却手段を制御するものである請求項3記載のシンタリング装置。 The cooling unit further includes a tray temperature detecting means for detecting the temperature of the tray, and the cooling unit heating means based on the temperature detected by the cooling unit temperature detecting means and the temperature detected by the tray temperature detecting means. The sintering device according to claim 3, wherein the cooling unit is controlled. 前記冷却部は、前記冷却部加熱手段が前記冷却部冷却手段よりも前記電子部品に近い位置に配置されたものである請求項3または4に記載のシンタリング装置。 The sintering device according to claim 3 or 4, wherein the cooling unit is a cooling unit heating means arranged at a position closer to the electronic component than the cooling unit cooling means. 前記予熱部は、不活性ガスを供給する第3不活性ガス供給路と、当該予熱部を加熱する予熱部加熱手段と、当該予熱部の温度を検知する予熱部温度検知手段とを有し、前記電子部品を前記トレイごと前記第1搬送部との間で挟み込み、前記第3不活性ガス供給路から供給する不活性ガスにより前記トレイ内の前記電子部品を覆い、前記予熱部温度検知手段により検知した温度に基づいて前記予熱部加熱手段を制御して、前記電子部品を所定の予熱温度で所定時間予熱するものである請求項1から5のいずれか1項に記載のシンタリング装置。 The preheating unit has a third inert gas supply path for supplying an inert gas, a preheating unit heating means for heating the preheating unit, and a preheating unit temperature detecting means for detecting the temperature of the preheating unit. The electronic component is sandwiched between the tray and the first transport section, the electronic component in the tray is covered with the inert gas supplied from the third inert gas supply path, and the temperature detecting means of the preheating section is used. The sintering device according to any one of claims 1 to 5, wherein the preheating unit heating means is controlled based on the detected temperature to preheat the electronic component at a predetermined preheating temperature for a predetermined time. 前記第1搬送部は、不活性ガスを供給する第4不活性ガス供給路を有し、前記第4不活性ガス供給路から供給される不活性ガスにより前記電子部品を覆ったままの状態で前記予熱部から前記シンタリングプレス部へ搬送するものである請求項1から6のいずれか1項に記載のシンタリング装置。 The first transport section has a fourth inert gas supply path for supplying the inert gas, and the electronic component is covered with the inert gas supplied from the fourth inert gas supply path. The sintering device according to any one of claims 1 to 6, which is transported from the preheating section to the sintering press section. 前記第1搬送部は、当該第1搬送部を加熱する搬送部加熱手段と、当該第1搬送部の温度を検知する搬送部温度検知手段とを有し、前記搬送部温度検知手段により検知した温度に基づいて前記搬送部加熱手段を制御して、前記電子部品の搬送中、前記電子部品を所定温度に保持するものである請求項1から7のいずれか1項に記載のシンタリング装置。 The first transport unit has a transport unit heating means for heating the first transport unit and a transport unit temperature detecting means for detecting the temperature of the first transport unit, and is detected by the transport unit temperature detecting means. The sintered device according to any one of claims 1 to 7, wherein the conveying unit heating means is controlled based on the temperature to hold the electronic component at a predetermined temperature during the transfer of the electronic component. 前記トレイは、不活性ガスが上下に通過する貫通孔を有するものである請求項1から8のいずれか1項に記載のシンタリング装置。 The sintering device according to any one of claims 1 to 8, wherein the tray has a through hole through which the inert gas passes up and down. 前記シンタリングプレス部においてシンタリング処理された前記電子部品を冷却する複数の冷却部を有する請求項1から9のいずれか1項に記載のシンタリング装置。 The sintered device according to any one of claims 1 to 9, further comprising a plurality of cooling units for cooling the electronic component subjected to the sintering process in the sintering press unit. 前記複数の冷却部は、前記冷却部において所定の温度まで冷却した後、さらに段階的に冷却するものである請求項10記載のシンタリング装置。 The sintering device according to claim 10, wherein the plurality of cooling units are cooled to a predetermined temperature in the cooling unit and then cooled in a stepwise manner. 前記シンタリングプレス部および前記冷却部をそれぞれ複数有し、
前記複数の冷却部は、前記複数のシンタリングプレス部でシンタリング処理された前記電子部品がそれぞれ振り分けられて冷却するものである請求項1から9のいずれか1項に記載のシンタリング装置。
It has a plurality of the sintering press unit and the cooling unit, respectively.
The sintering device according to any one of claims 1 to 9, wherein the plurality of cooling units are those in which the electronic components subjected to sintering processing by the plurality of sintering press units are distributed and cooled.
基板上に接合材を介して半導体チップが載置された電子部品をトレイ内に載置した状態で予熱部において予熱し、前記予熱部において予熱された前記電子部品をシンタリングプレス部において加熱、加圧してシンタリング処理し、前記シンタリングプレス部においてシンタリング処理された前記電子部品を冷却部において冷却するシンタリング方法であって、
前記予熱部において予熱された前記電子部品を第1搬送部により前記トレイごと保持し、前記予熱部から前記シンタリングプレス部へ搬送すること、
前記シンタリングプレス部においてシンタリング処理された前記電子部品を、不活性ガスを供給する第1不活性ガス供給路を有する第2搬送部により、前記シンタリングプレス部から前記冷却部へ前記電子部品を前記トレイごと搬送するに際し、前記第1不活性ガス供給路から供給される不活性ガスにより前記トレイ内の前記電子部品を覆ったままの状態で前記シンタリングプレス部から前記冷却部へ搬送すること、
前記冷却部において、前記第2搬送部により搬送される前記電子部品を前記トレイごと前記第2搬送部との間で挟み込み、不活性ガスにより前記トレイ内の前記電子部品を覆ったままの状態で冷却すること
を含むシンタリング方法。
An electronic component on which a semiconductor chip is placed on a substrate via a bonding material is preheated in a preheating section while being placed in a tray, and the electronic component preheated in the preheating section is heated in a sintering press section. A sintering method in which the electronic components that have been sintered in the sintering press section are cooled in the cooling section by pressurizing and sintering the electronic components.
The electronic component preheated in the preheating section is held by the first transport section together with the tray, and is transported from the preheating section to the sintering press section.
The electronic component that has been sintered in the sintering press section is transferred from the sintering press section to the cooling section by a second transport section having a first inert gas supply path for supplying the inert gas. Is transported from the sinking press unit to the cooling unit while the electronic components in the tray are covered with the inert gas supplied from the first inert gas supply path. thing,
In the cooling unit, the electronic component transported by the second transport unit is sandwiched between the tray and the second transport unit, and the electronic component in the tray is covered with the inert gas. Sintering methods that include cooling.
前記シンタリングプレス部において前記電子部品を前記トレイごと上と下型とで挟み込み、前記上型および前記下型の少なくとも一方に設けられた第1不活性ガス供給路から供給される不活性ガスであり、前記上型および前記下型のそれぞれに設けられたシンタリングプレス部加熱手段により加熱される不活性ガスにより前記トレイ内の前記電子部品を覆った状態で前記シンタリングプレス部加熱手段により加熱してシンタリング処理すること
を含む請求項13記載のシンタリング方法。
The pinch sintering the electronic component in the press section between the tray your upper mold and the lower mold, the upper mold and the first inert supplied from the inert gas supply passage provided on at least one of the lower die The sintering press unit heating means in a state where the electronic parts in the tray are covered with an inert gas which is a gas and is heated by the sintering press unit heating means provided in each of the upper mold and the lower mold. 13. The sintering method according to claim 13, which comprises heating with a sinter.
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