JP6780542B2 - Manufacturing method of power converter - Google Patents

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Description

本明細書が開示する技術は、電力変換装置の製造方法に関する。 The techniques disclosed herein relate to methods of manufacturing power converters.

電力変換装置は、大電流が流れる半導体素子(電力変換用の半導体素子)を多数用いている。一つ当たりの半導体素子の負荷を低減すべく、同じ仕様の半導体素子を並列に接続し、その並列接続をあたかも一つの半導体素子として使うことがある(例えば特許文献1)。 The power conversion device uses a large number of semiconductor elements (semiconductor elements for power conversion) through which a large current flows. In order to reduce the load on each semiconductor element, semiconductor elements having the same specifications may be connected in parallel, and the parallel connection may be used as if it were one semiconductor element (for example, Patent Document 1).

特開2016−163396号公報JP-A-2016-163396

同じ仕様の半導体素子であっても、製造誤差によりわずかながら電圧特性(抵抗特性)が相違する。電圧特性とは、例えば、半導体素子がダイオードであれば電圧降下であり、半導体素子がトランジスタの場合はオン電圧である。2個の半導体素子を並列に接続したとき、電圧特性がわずかでも相違すれば、一方の半導体素子に多くの電流が流れてしまう。それゆえ、2個の半導体素子を並列に接続しても全ての半導体素子の負荷が単純に半減するものではない。並列に接続された2個の半導体素子の電圧特性の相違が大きいと、2個の半導体素子に流れる電流の偏りが大きくなり、一方の半導体素子の負荷が期待したほどには小さくならない。2個の半導体素子の並列接続を備える電力変換装置において並列に接続された2個の半導体素子を流れる電流の偏りを小さくする技術が望まれている。 Even semiconductor devices with the same specifications have slightly different voltage characteristics (resistance characteristics) due to manufacturing errors. The voltage characteristic is, for example, a voltage drop when the semiconductor element is a diode, and an on-voltage when the semiconductor element is a transistor. When two semiconductor elements are connected in parallel, if the voltage characteristics are slightly different, a large amount of current will flow through one of the semiconductor elements. Therefore, even if two semiconductor elements are connected in parallel, the load of all the semiconductor elements is not simply halved. If the difference in voltage characteristics between the two semiconductor elements connected in parallel is large, the bias of the current flowing through the two semiconductor elements becomes large, and the load of one semiconductor element does not become as small as expected. In a power conversion device including parallel connection of two semiconductor elements, a technique for reducing the bias of the current flowing through the two semiconductor elements connected in parallel is desired.

本明細書は、2個の半導体素子の並列接続を複数セット備える電力変換装置の製造方法を開示する。その製造方法は、仕分工程と抽出工程と接続工程を備える。仕分工程では、電力変換用の複数の半導体素子を、半導体素子の電圧特性が設計値を含む所定範囲内に収まっている第1グループと、電圧特性が所定範囲より大きい第2グループと、電圧特性が所定範囲よりも小さい第3グループに仕分けする。抽出工程では、少なくも1個の半導体素子を第1グループから抽出し、残りを第2グループと第3グループの中から抽出して合計で所定の偶数個の半導体素子を集める。電力変換用の半導体素子の総数は、1個の電力変換装置に必要とされる半導体素子の総数である。別言すれば、2個1組であたかも1個の素子のように用いる半導体素子の総数である。接続工程は、抽出工程で集められた半導体素子を2個1組で並列接続する工程である。より具体的には、接続工程では、第2グループの半導体素子は第2グループの別の半導体素子又は第1グループの半導体素子と並列に接続する。第3グループの半導体素子は第3グループの別の半導体素子又は第1グループの半導体素子と並列に接続する。上記の製造方法によれば、電圧特性の最も大きいグループ(第2グループ)に属する半導体素子と、電圧特性の最も小さいグループ(第3グループ)に属する半導体素子が並列に接続されることがない。よって、並列に接続された2個の半導体素子において電流の偏りを小さくすることができる。なお、抽出工程において、「残りを第2グループと第3グループの中から抽出して合計で所定の偶数個の半導体素子を集める」とは、残りの半導体素子の全てを第2グループから(あるいは第3グループから)抽出してもよい。 The present specification discloses a method of manufacturing a power conversion device including a plurality of sets of parallel connections of two semiconductor elements. The manufacturing method includes a sorting step, an extraction step, and a connecting step. In the sorting process, a plurality of semiconductor elements for power conversion are divided into a first group in which the voltage characteristics of the semiconductor elements are within a predetermined range including a design value, a second group in which the voltage characteristics are larger than a predetermined range, and a voltage characteristic. Is sorted into a third group smaller than a predetermined range. In the extraction step, at least one semiconductor element is extracted from the first group, and the rest is extracted from the second group and the third group to collect a predetermined even number of semiconductor elements in total. The total number of semiconductor elements for power conversion is the total number of semiconductor elements required for one power conversion device. In other words, it is the total number of semiconductor elements used as if they were one element in a set of two. The connection step is a step of connecting two semiconductor elements collected in the extraction step in parallel. More specifically, in the connection step, the semiconductor element of the second group is connected in parallel with another semiconductor element of the second group or the semiconductor element of the first group. The semiconductor element of the third group is connected in parallel with another semiconductor element of the third group or the semiconductor element of the first group. According to the above manufacturing method, the semiconductor element belonging to the group having the largest voltage characteristic (second group) and the semiconductor element belonging to the group having the smallest voltage characteristic (third group) are not connected in parallel. Therefore, the current bias can be reduced in the two semiconductor elements connected in parallel. In the extraction step, "extracting the rest from the second group and the third group and collecting a predetermined even number of semiconductor elements in total" means that all the remaining semiconductor elements are extracted from the second group (or It may be extracted (from the third group).

本明細書が開示する技術の詳細とさらなる改良は以下の「発明を実施するための形態」にて説明する。 Details of the techniques disclosed herein and further improvements will be described in the "Modes for Carrying Out the Invention" below.

電力変換装置の一例の回路図である。It is a circuit diagram of an example of a power conversion device. 半導体モジュールの斜視図である。It is a perspective view of a semiconductor module. 電力変換装置の平面図である。It is a top view of the power conversion device. 仕分工程を説明する模式図である。It is a schematic diagram explaining the sorting process. 抽出工程を説明する図である。It is a figure explaining the extraction process. 接続工程を説明する図である。It is a figure explaining the connection process. 半導体モジュールの別の組み合わせの例を説明する平面図である。It is a top view explaining the example of another combination of semiconductor modules. 別の組み合わせの半導体モジュールで構成した電力変換装置の平面図である。It is a top view of the power conversion apparatus composed of the semiconductor modules of another combination. 半導体モジュールのさらに別の組み合わせの例を説明する平面図である。It is a top view explaining the example of still another combination of semiconductor modules.

図面を参照して実施例の製造方法を説明する。まず、実施例の製造方法の対象となる電力変換装置について説明する。図1に、電力変換装置2の回路図を示す。電力変換装置2は、バッテリ80の直流電力をモータ83の駆動に適した三相交流電力に変換するインバータである。インバータは、合計12個のトランジスタ6と、12個のダイオード7を備える。トランジスタ6は例えばIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)であり、電力変換用の半導体である。12個のトランジスタ6は、同じ仕様である。12個のダイオード7も同じ仕様である。電力変換装置2は、図示したトランジスタ6とダイオード7のほか、トランジスタ6の駆動信号を生成する制御回路を備えるが、その図示は省略している。 The manufacturing method of the Example will be described with reference to the drawings. First, the power conversion device that is the target of the manufacturing method of the embodiment will be described. FIG. 1 shows a circuit diagram of the power conversion device 2. The power conversion device 2 is an inverter that converts the DC power of the battery 80 into three-phase AC power suitable for driving the motor 83. The inverter includes a total of 12 transistors 6 and 12 diodes 7. The transistor 6 is, for example, an IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor), which is a semiconductor for power conversion. The 12 transistors 6 have the same specifications. The 12 diodes 7 have the same specifications. The power conversion device 2 includes the transistor 6 and the diode 7 shown in the drawing, and a control circuit for generating a drive signal of the transistor 6, but the drawing thereof is omitted.

複数のトランジスタ6は、2個1組で各組の2個のトランジスタ6が並列に接続されている。また、各トランジスタ6にダイオード7が逆並列に接続されている。並列に接続された2個のトランジスタ6のゲートには、同じ駆動信号が供給され、2個のトランジスタ6は同じタイミングでオンオフする。並列接続された2個のトランジスタ6は、あたかも1個のトランジスタのように動作する。あたかも1個のトランジスタのように動作する2個のトランジスタ6の並列接続を、説明の便宜上、以下では「並列回路」と称する。 The plurality of transistors 6 are a set of two, and two transistors 6 of each set are connected in parallel. Further, a diode 7 is connected to each transistor 6 in antiparallel. The same drive signal is supplied to the gates of the two transistors 6 connected in parallel, and the two transistors 6 are turned on and off at the same timing. The two transistors 6 connected in parallel operate as if they were one transistor. The parallel connection of two transistors 6 that operate as if they were one transistor is hereinafter referred to as a "parallel circuit" for convenience of explanation.

電力変換装置2では、2組の並列回路が直列に接続されている。並列回路の直列接続が3組、並列に接続されている。3組の直列接続は、正極線81と負極線82の間で並列に接続されている。正極線81がバッテリ80の正極端に接続され、負極線82がバッテリ80の負極端子に接続される。正極線81の側のトランジスタ(並列回路)は上アームと呼ばれ、負極線82の側のトランジスタ(並列回路)は下アームと呼ばれる。3組の直列接続の夫々の中点から交流が出力される。3組の直列接続の中点からは、位相が120度ずれた交流が出力される。即ち、3組の直列接続の中点から三相交流が出力される。生成された三相交流がモータ83に供給される。 In the power conversion device 2, two sets of parallel circuits are connected in series. Three sets of series connections of the parallel circuit are connected in parallel. The three sets of series connections are connected in parallel between the positive electrode wire 81 and the negative electrode wire 82. The positive electrode wire 81 is connected to the positive electrode end of the battery 80, and the negative electrode wire 82 is connected to the negative electrode terminal of the battery 80. The transistor (parallel circuit) on the positive electrode wire 81 side is called the upper arm, and the transistor (parallel circuit) on the negative electrode wire 82 side is called the lower arm. Alternating current is output from the midpoint of each of the three sets of series connections. From the midpoint of the three sets of series connections, alternating current with a phase shift of 120 degrees is output. That is, three-phase alternating current is output from the midpoint of three sets of series connections. The generated three-phase alternating current is supplied to the motor 83.

1個のトランジスタ6とこれに逆並列に接続されている1個のダイオード7は一つの半導体モジュール3に収容されている。電力変換装置2は、12個の半導体モジュール3で構成される。12個の半導体モジュールの夫々を区別するときには、符号3にa−nの英字を添えて表す。図2に半導体モジュール3の斜視図を示す。半導体モジュール3は、樹脂製のパッケージ14に2個の半導体素子(トランジスタ素子16とダイオード素子17)を封止したデバイスである。トランジスタ素子16が図1のトランジスタ6に対応し、ダイオード素子17が図1のダイオード7に対応する。即ち、トランジスタ素子16は、電力変換用の半導体素子である。 One transistor 6 and one diode 7 connected in antiparallel to the transistor 6 are housed in one semiconductor module 3. The power conversion device 2 is composed of 12 semiconductor modules 3. When distinguishing each of the twelve semiconductor modules, reference numeral 3 is indicated by adding an alphabetic character of an. FIG. 2 shows a perspective view of the semiconductor module 3. The semiconductor module 3 is a device in which two semiconductor elements (transistor element 16 and diode element 17) are sealed in a resin package 14. The transistor element 16 corresponds to the transistor 6 of FIG. 1, and the diode element 17 corresponds to the diode 7 of FIG. That is, the transistor element 16 is a semiconductor element for power conversion.

パッケージ14は直方体である。説明の都合上、図中の座標系のZ軸正方向を上と称する。パッケージ14の上面に2個のパワー端子(正極端子12と負極端子13)が備えられており、パッケージ14の下面に複数の制御端子85が備えられている。トランジスタ素子16とダイオード素子17はパッケージ14の内部で逆並列に接続されており、正極端子12が逆並列接続の高電位側と導通しており、負極端子13が逆並列接続の低電位側と導通している。制御端子85は、トランジスタ素子16のゲートとつながっているゲート端子と、トランジスタ素子16の温度を計測する温度センサ(不図示)とつながっているセンサ信号端子である。図示を省略しているが、パッケージ14は扁平であり、両側の幅広面に、トランジスタ素子16とダイオード素子17の熱を外部へ放出する放熱板が露出している。 Package 14 is a rectangular parallelepiped. For convenience of explanation, the Z-axis positive direction of the coordinate system in the figure is referred to as "upper". Two power terminals (positive electrode terminal 12 and negative electrode terminal 13) are provided on the upper surface of the package 14, and a plurality of control terminals 85 are provided on the lower surface of the package 14. The transistor element 16 and the diode element 17 are connected in antiparallel inside the package 14, the positive electrode terminal 12 is electrically connected to the high potential side of the antiparallel connection, and the negative electrode terminal 13 is connected to the low potential side of the antiparallel connection. It is conducting. The control terminal 85 is a sensor signal terminal connected to a gate terminal connected to the gate of the transistor element 16 and a temperature sensor (not shown) for measuring the temperature of the transistor element 16. Although not shown, the package 14 is flat, and heat radiating plates that release heat from the transistor element 16 and the diode element 17 to the outside are exposed on the wide surfaces on both sides.

電力変換装置2は12個の半導体モジュール3a−3nを備えている。図3に、電力変換装置2の平面図を示す。図3は、電力変換装置2の筐体90のカバーを外した図である。筐体90の一部(図3の左側に相当する部分)は図示を省略した。筐体90には、積層ユニット10が収容されている。積層ユニット10は、複数の半導体モジュール3と複数の冷却器4を積層したデバイスである。図を見やすくするため、図3では半導体モジュール3をグレーで塗りつぶしてある。 The power conversion device 2 includes 12 semiconductor modules 3a-3n. FIG. 3 shows a plan view of the power conversion device 2. FIG. 3 is a view in which the cover of the housing 90 of the power conversion device 2 is removed. A part of the housing 90 (the part corresponding to the left side in FIG. 3) is not shown. The stacking unit 10 is housed in the housing 90. The stacking unit 10 is a device in which a plurality of semiconductor modules 3 and a plurality of coolers 4 are laminated. In FIG. 3, the semiconductor module 3 is painted in gray to make the figure easier to see.

冷却器4は扁平であり、複数の冷却器4は、その幅広面が対向するように平行に並べられている。隣り合う冷却器4の間に2個の半導体モジュール3が挟まれている。7個の冷却器4によって6個の冷却器間空間が形成され、夫々の冷却器空間に2個の半導体モジュール3が挟まれている。2個の半導体モジュール3は、放熱板が露出した夫々の幅広面が冷却器4と接するように挟まれている。複数の冷却器4には2個の冷媒パイプ92、93が通っている。冷却器4の内部は空洞であり、その空洞を液体の冷媒が流れる。冷媒パイプ92、93の一端は筐体90の外に延びている。冷媒パイプ92、93の一端には、不図示の冷媒循環装置が接続されている。一方の冷媒パイプ92を通じて各冷却器4に冷媒が分配される。冷媒は冷却器4を通過する間に冷却器4に隣接する半導体モジュール3から熱を吸収する。熱を吸収した冷媒は他方の冷媒パイプ93を通じて外部へ排出される。外部へ排出された冷媒は冷媒循環装置に戻り、冷却された後に再び積層ユニット10へ送られる。 The cooler 4 is flat, and the plurality of coolers 4 are arranged in parallel so that their wide surfaces face each other. Two semiconductor modules 3 are sandwiched between adjacent coolers 4. Six cooler spaces are formed by the seven coolers 4, and two semiconductor modules 3 are sandwiched in each cooler space. The two semiconductor modules 3 are sandwiched so that their respective wide surfaces on which the heat radiating plate is exposed are in contact with the cooler 4. Two refrigerant pipes 92 and 93 pass through the plurality of coolers 4. The inside of the cooler 4 is a cavity, and a liquid refrigerant flows through the cavity. One end of the refrigerant pipes 92 and 93 extends outside the housing 90. A refrigerant circulation device (not shown) is connected to one end of the refrigerant pipes 92 and 93. Refrigerant is distributed to each cooler 4 through one of the refrigerant pipes 92. The refrigerant absorbs heat from the semiconductor module 3 adjacent to the cooler 4 while passing through the cooler 4. The refrigerant that has absorbed heat is discharged to the outside through the other refrigerant pipe 93. The refrigerant discharged to the outside returns to the refrigerant circulation device, is cooled, and is sent to the stacking unit 10 again.

積層ユニット10の一端と筐体90の側壁の間にバネ91が挿入されており、バネ91が、積層ユニット10を、冷却器4と半導体モジュール3の積層方向に荷重する。バネ91の荷重により冷却器4と半導体モジュール3が密着し、伝熱特性を高めている。 A spring 91 is inserted between one end of the stacking unit 10 and the side wall of the housing 90, and the spring 91 loads the stacking unit 10 in the stacking direction of the cooler 4 and the semiconductor module 3. Due to the load of the spring 91, the cooler 4 and the semiconductor module 3 are in close contact with each other to improve the heat transfer characteristics.

隣り合う冷却器4に挟まれた2個の半導体モジュール3は正極バスバ8a−8fと負極バスバ9a−9fで接続されている。半導体モジュール3aと3bが正極バスバ8aと負極バスバ9aによって並列に接続される。半導体モジュール3bと3c、3dと3e、3eと3f、3gと3h、3jと3k、3mと3nも夫々、対応する正極バスバ8と負極バスバ9によって並列に接続される。 The two semiconductor modules 3 sandwiched between the adjacent coolers 4 are connected by a positive electrode bus bar 8a-8f and a negative electrode bus bar 9a-9f. The semiconductor modules 3a and 3b are connected in parallel by the positive electrode bus bar 8a and the negative electrode bus bar 9a. The semiconductor modules 3b and 3c, 3d and 3e, 3e and 3f, 3g and 3h, 3j and 3k, 3m and 3n are also connected in parallel by the corresponding positive electrode bus bar 8 and negative electrode bus bar 9, respectively.

2個の半導体モジュール3の並列接続が、先に述べた並列回路に相当する。各並列接続(並列回路)に含まれる2個の半導体モジュール3のトランジスタ素子16には同じ駆動信号が供給される。並列回路に含まれる2個の半導体モジュール3のトランジスタ素子16は、同じタイミングでオンオフし、あたかもひとつのトランジスタ素子のように動作する。 The parallel connection of the two semiconductor modules 3 corresponds to the parallel circuit described above. The same drive signal is supplied to the transistor elements 16 of the two semiconductor modules 3 included in each parallel connection (parallel circuit). The transistor elements 16 of the two semiconductor modules 3 included in the parallel circuit are turned on and off at the same timing, and operate as if they were one transistor element.

全てのトランジスタ素子16は同じ仕様である。ただし、製造誤差により、複数のトランジスタ素子16はわずかながら性能が異なる。例えば、複数のトランジスタ素子16はオン電圧が所定の範囲で分布している。オン電圧の分布は、例えば、設計値を中心とする正規分布となる。並列に接続された2個のトランジスタ素子16を同じタイミングでオンオフするとき、オン電圧が異なると、2個のトランジスタ素子16を流れる電流に偏りが生じる。電力変換装置2の許容電流は、その偏りを考慮して定められる。電流の偏りが小さいほど、電力変換装置2の許容電流を大きくすることができる。以下では、2個の半導体モジュール3(2個のトランジスタ素子16)の並列回路を複数備える電力変換装置2の製造方法を説明する。その製造方法は、並列回路における2個のトランジスタ素子16に流れる電流の偏りを小さくすることができる。 All transistor elements 16 have the same specifications. However, due to manufacturing errors, the performance of the plurality of transistor elements 16 is slightly different. For example, the on-voltages of the plurality of transistor elements 16 are distributed in a predetermined range. The on-voltage distribution is, for example, a normal distribution centered on the design value. When two transistor elements 16 connected in parallel are turned on and off at the same timing, if the on-voltages are different, the current flowing through the two transistor elements 16 is biased. The permissible current of the power converter 2 is determined in consideration of the bias. The smaller the current bias, the larger the permissible current of the power converter 2. Hereinafter, a method of manufacturing the power conversion device 2 including a plurality of parallel circuits of the two semiconductor modules 3 (two transistor elements 16) will be described. The manufacturing method can reduce the bias of the current flowing through the two transistor elements 16 in the parallel circuit.

なお、1個の半導体モジュール3に1個のトランジスタ素子16(及び1個のダイオード素子17)が収容されている。以下の製造方法では、複数の半導体モジュール3を3個のグループに仕分けるが、半導体モジュール3を仕分けすることは、トランジスタ素子16を仕分けすることと等価である。 One transistor element 16 (and one diode element 17) is housed in one semiconductor module 3. In the following manufacturing method, a plurality of semiconductor modules 3 are sorted into three groups, but sorting the semiconductor modules 3 is equivalent to sorting the transistor elements 16.

まず、複数の半導体モジュール3を製造する。複数の半導体モジュール3は、既知の方法で製造されるので、説明は割愛する。電力変換装置2の製造方法の主な工程は、仕分工程、抽出工程、接続工程である。 First, a plurality of semiconductor modules 3 are manufactured. Since the plurality of semiconductor modules 3 are manufactured by a known method, the description thereof will be omitted. The main steps of the manufacturing method of the power conversion device 2 are a sorting step, an extraction step, and a connecting step.

(仕分工程)この工程では、複数の半導体モジュール3を、トランジスタ素子16のオン電圧が設計値を含む所定範囲内に収まっている第1グループと、オン電圧が所定範囲より大きい第2グループと、オン電圧が所定範囲よりも小さい第3グループに仕分けする。所定範囲は、オン電圧が正規分布の標準偏差(通称シグマ)の範囲に設定される。図4に仕分工程を説明する模式図を示す。図4の上側の図は、複数の半導体モジュール3の全体グループを表している。この全体グループの一つひとつの半導体モジュール3(トランジスタ素子16)のオン電圧を計測し、各半導体モジュール3(トランジスタ素子16)をオン電圧の大きさによって対応するグループに分ける。図4の下側が、仕分後の半導体モジュールを示している。図4と以降の図では、第1グループに属する半導体モジュールを符号31で表すとともに、半導体モジュールの図形に中濃度グレーのハッチングを施して他のグループと区別する。また、第2グループに属する半導体モジュールを符号32で表すとともに、半導体モジュールの図形に薄いグレーのハッチングを施して他のグループと区別する。また、第3グループに属する半導体モジュールを符号33で表すとともに、半導体モジュールの図形に濃いグレーのハッチングを施して他のグループと区別する。第1グループの複数の半導体モジュール31の夫々を区別する場合には符号31に英字a、b等を付す。第2グループの複数の半導体モジュール32の夫々を区別する場合には符号32に英字a、b等を付す。第3グループの複数の半導体モジュール33の夫々を区別する場合には符号33の英字a、b等を付す。また、第1−第3グループの半導体モジュールを区別なく表すときには従前の通り「半導体モジュール3」と表記する。 (Sorting step) In this step, a plurality of semiconductor modules 3 are divided into a first group in which the on-voltage of the transistor element 16 is within a predetermined range including a design value, and a second group in which the on-voltage is larger than a predetermined range. Sort into a third group whose on-voltage is smaller than a predetermined range. The predetermined range is set within the range of the standard deviation (commonly known as sigma) of the normal distribution of the on-voltage. FIG. 4 shows a schematic diagram illustrating the sorting process. The upper view of FIG. 4 represents the entire group of the plurality of semiconductor modules 3. The on-voltage of each semiconductor module 3 (transistor element 16) of this overall group is measured, and each semiconductor module 3 (transistor element 16) is divided into corresponding groups according to the magnitude of the on-voltage. The lower side of FIG. 4 shows the semiconductor module after sorting. In FIGS. 4 and 4 and subsequent figures, the semiconductor modules belonging to the first group are represented by reference numeral 31, and the figures of the semiconductor modules are hatched in medium density gray to distinguish them from the other groups. Further, the semiconductor module belonging to the second group is represented by reference numeral 32, and the figure of the semiconductor module is hatched in light gray to distinguish it from other groups. Further, the semiconductor module belonging to the third group is represented by reference numeral 33, and the figure of the semiconductor module is hatched in dark gray to distinguish it from other groups. When distinguishing each of the plurality of semiconductor modules 31 of the first group, the letters a, b, etc. are added to the reference numerals 31. When distinguishing each of the plurality of semiconductor modules 32 of the second group, the letters a, b, etc. are added to the reference numerals 32. When distinguishing each of the plurality of semiconductor modules 33 of the third group, the letters a, b, etc. of reference numeral 33 are added. Further, when the semiconductor modules of the 1st to 3rd groups are expressed without distinction, they are referred to as "semiconductor module 3" as before.

(抽出工程)この工程では、一つの電力変換装置に必要な数の半導体モジュール3を、第1−第3グループの中から抽出する。ここで、少なくも1個の半導体モジュール3(トランジスタ素子16)を第1グループから抽出し、残りを第2グループと第3グループの中から抽出して合計で12個の半導体モジュール3(トランジスタ素子16)を集める。本実施例では、第1グループから1個の半導体モジュール31を抽出する。第2グループから5個の半導体モジュール32a−32eを抽出する。第3グループから6個の半導体モジュール33a−33fを抽出する。集めた合計12個の半導体モジュール3で積層ユニット10を組み立てる。図5に、抽出工程で集められた半導体モジュール3が組み込まれた積層ユニット10の平面図を示す。積層ユニット10を組み立てる際、第2グループに属する半導体モジュール32a−32eを積層方向(図中のX方向)の一方の端に集中して配置する。第3グループに属する半導体モジュール33a−33fを積層方向の他方の端に集中して配置する。第1グループに属する半導体モジュール31を第1グループと第2グループの間に配置する。また、隣り合う2個の冷却器4の間に2個の半導体モジュール3が挟まれる。 (Extraction Step) In this step, the number of semiconductor modules 3 required for one power conversion device is extracted from the first to third groups. Here, at least one semiconductor module 3 (transistor element 16) is extracted from the first group, and the rest is extracted from the second group and the third group, for a total of 12 semiconductor modules 3 (transistor elements). 16) Collect. In this embodiment, one semiconductor module 31 is extracted from the first group. Five semiconductor modules 32a-32e are extracted from the second group. Six semiconductor modules 33a-33f are extracted from the third group. The laminated unit 10 is assembled with a total of 12 semiconductor modules 3 collected. FIG. 5 shows a plan view of the laminated unit 10 in which the semiconductor modules 3 collected in the extraction step are incorporated. When assembling the stacking unit 10, the semiconductor modules 32a-32e belonging to the second group are concentrated on one end in the stacking direction (X direction in the drawing). The semiconductor modules 33a-33f belonging to the third group are centrally arranged at the other end in the stacking direction. The semiconductor module 31 belonging to the first group is arranged between the first group and the second group. Further, two semiconductor modules 3 are sandwiched between two adjacent coolers 4.

(接続工程)この工程では、抽出工程で集められた半導体モジュール3を2個1組にして並列に接続する。このとき、第2グループの半導体モジュール32a−32eは第2グループの別の半導体モジュール又は第1グループの半導体モジュール31と並列に接続する。第3グループの半導体モジュール33a−33fは第3グループの別の半導体モジュール又は第1グループの半導体モジュール31と並列に接続する。説明の便宜上、この接続関係を、「偏り低減接続関係」と称する。 (Connecting Step) In this step, the semiconductor modules 3 collected in the extraction step are made into a set of two and connected in parallel. At this time, the semiconductor modules 32a-32e of the second group are connected in parallel with another semiconductor module of the second group or the semiconductor module 31 of the first group. The semiconductor modules 33a-33f of the third group are connected in parallel with another semiconductor module of the third group or the semiconductor module 31 of the first group. For convenience of explanation, this connection relationship is referred to as a "bias reduction connection relationship".

図6に、正極バスバ8a−8f、負極バスバ9a−9fで2個ずつ並列に接続された積層ユニット10を示す。図6は、バスバ8、9を接続した積層ユニット10が筐体90に収容されている状態の平面図である。 FIG. 6 shows a laminated unit 10 in which two positive electrode bus bars 8a-8f and two negative electrode bus bars 9a-9f are connected in parallel. FIG. 6 is a plan view showing a state in which the laminated unit 10 to which the bus bars 8 and 9 are connected is housed in the housing 90.

先に述べたように、第2グループに属する半導体モジュール32a−32eを積層方向の一端側に集中させ、第3グループに属する半導体モジュール33a−33fを積層方向の他端側に集中させ、それらの間に第1グループに属する半導体モジュール31を配置する。そのような配置により、隣り合う冷却器4の間に並ぶ2個の半導体モジュール3を並列に接続することで、上記した偏り低減接続関係が実現する。 As described above, the semiconductor modules 32a-32e belonging to the second group are concentrated on one end side in the stacking direction, and the semiconductor modules 33a-33f belonging to the third group are concentrated on the other end side in the stacking direction. A semiconductor module 31 belonging to the first group is arranged between them. With such an arrangement, the above-mentioned bias reduction connection relationship is realized by connecting the two semiconductor modules 3 arranged between the adjacent coolers 4 in parallel.

第2グループに属する半導体モジュール32aと32bは正極バスバ8aと負極バスバ9aで並列に接続される。第2グループに属する半導体モジュール32cと32dは正極バスバ8bと負極バスバ9bで並列に接続される。第2グループに属する半導体モジュール32eは、第1グループに属する半導体モジュール31と正極バスバ8cと負極バスバ9cで並列に接続される。第3グループに属する半導体モジュール33aと33bは正極バスバ8dと負極バスバ9dで並列に接続される。第3グループに属する半導体モジュール33cと33dは正極バスバ8eと負極バスバ9eで並列に接続される。第3グループに属する半導体モジュール33eと33fは正極バスバ8fと負極バスバ9fで並列に接続される。半導体モジュール32aと32bが先に述べた並列回路を構成する。半導体モジュール32cと32d、32eと31、33aと33b、33cと33d、33eと33fも、夫々、並列回路を構成する。 The semiconductor modules 32a and 32b belonging to the second group are connected in parallel by the positive electrode bus bar 8a and the negative electrode bus bar 9a. The semiconductor modules 32c and 32d belonging to the second group are connected in parallel by the positive electrode bus bar 8b and the negative electrode bus bar 9b. The semiconductor module 32e belonging to the second group is connected in parallel with the semiconductor module 31 belonging to the first group by the positive electrode bus bar 8c and the negative electrode bus bar 9c. The semiconductor modules 33a and 33b belonging to the third group are connected in parallel by the positive electrode bus bar 8d and the negative electrode bus bar 9d. The semiconductor modules 33c and 33d belonging to the third group are connected in parallel by the positive electrode bus bar 8e and the negative electrode bus bar 9e. The semiconductor modules 33e and 33f belonging to the third group are connected in parallel by the positive electrode bus bar 8f and the negative electrode bus bar 9f. The semiconductor modules 32a and 32b form the parallel circuit described above. The semiconductor modules 32c and 32d, 32e and 31, 33a and 33b, 33c and 33d, and 33e and 33f also form a parallel circuit, respectively.

第2グループの半導体モジュール32は、オン電圧が設計値を含む所定範囲よりも大きく、第3グループの半導体モジュール33は、オン電圧が所定範囲よりも小さい。従って第2グループに属する半導体モジュール32と第3グループに属する半導体モジュール33を並列に接続すると、電流の偏りが大きくなる。上記した接続工程では、第2グループに属する半導体モジュール32と第3グループに属する半導体モジュール33が並列に接続されることがない。よって、半導体モジュールをランダムに選んで並列回路を作る場合と比較して、並列回路における電流の偏りを小さくすることができる。 The on-voltage of the semiconductor module 32 of the second group is larger than the predetermined range including the design value, and the on-voltage of the semiconductor module 33 of the third group is smaller than the predetermined range. Therefore, when the semiconductor module 32 belonging to the second group and the semiconductor module 33 belonging to the third group are connected in parallel, the current bias becomes large. In the connection step described above, the semiconductor module 32 belonging to the second group and the semiconductor module 33 belonging to the third group are not connected in parallel. Therefore, the current bias in the parallel circuit can be reduced as compared with the case where the semiconductor module is randomly selected to form the parallel circuit.

(変形例)先の抽出工程では、第1グループから1個の半導体モジュール(トランジスタ素子)を抽出した。第1グループから抽出する半導体モジュール(トランジスタ素子)の数は、いくつでもよい。第1グループから2個の半導体モジュール31a、31bを抽出するケースを説明する。この変形例では、第2グループから5個の半導体モジュール32a−32eを抽出し、第3グループからも5個の半導体モジュール33a−33eを抽出し、合計12個の半導体モジュール3を集めたとする。図7に、12個の半導体モジュール3を使って組み立てた積層ユニット10aの平面図を示す。図7、図8でも、薄いグレー(半導体モジュール32a−32e)が第2グループに属する半導体モジュールであることを示している。濃いグレー(半導体モジュール33a−33e)が第3グループに属する半導体モジュールであることを示している。中間のグレー(半導体モジュール31a、31b)が第1グループに属する半導体モジュールであることを示している。 (Modification Example) In the previous extraction step, one semiconductor module (transistor element) was extracted from the first group. The number of semiconductor modules (transistor elements) extracted from the first group may be any number. A case where two semiconductor modules 31a and 31b are extracted from the first group will be described. In this modification, it is assumed that five semiconductor modules 32a-32e are extracted from the second group, five semiconductor modules 33a-33e are also extracted from the third group, and a total of 12 semiconductor modules 3 are collected. FIG. 7 shows a plan view of the laminated unit 10a assembled by using the 12 semiconductor modules 3. 7 and 8 also show that the light gray (semiconductor module 32a-32e) is a semiconductor module belonging to the second group. Dark gray (semiconductor modules 33a-33e) indicates that the semiconductor modules belong to the third group. The gray in the middle (semiconductor modules 31a, 31b) indicates that the semiconductor modules belong to the first group.

この例では、積層ユニット10aを組み立てる際、第2グループに属する半導体モジュール32a−32eを積層方向(図中のX方向)の一方の端に集中して配置する。第3グループに属する半導体モジュール33a−33eを積層方向の他方の端に集中して配置する。第1グループに属する半導体モジュール31a、31bを第1グループと第2グループの間に配置する。そのように配置することで、前述の偏り低減接続関係を満たすバスバの配索が容易となる。 In this example, when assembling the stacking unit 10a, the semiconductor modules 32a-32e belonging to the second group are concentrated on one end in the stacking direction (X direction in the drawing). The semiconductor modules 33a-33e belonging to the third group are centrally arranged at the other end in the stacking direction. The semiconductor modules 31a and 31b belonging to the first group are arranged between the first group and the second group. By arranging in such a way, it becomes easy to allocate a bus bar that satisfies the above-mentioned bias reduction connection relationship.

接続工程では、第2グループの半導体モジュール32a−32eは第2グループの別の半導体モジュール又は第1グループの半導体モジュール31a、31bと並列に接続する。第3グループの半導体モジュール33a−33eは第3グループの別の半導体モジュール又は第1グループの半導体モジュール31a、31bと並列に接続する。図8に正極バスバ8a−8f、負極バスバ9a−9fで2個ずつ並列に接続された積層ユニット10aの平面図を示す。 In the connection step, the semiconductor modules 32a-32e of the second group are connected in parallel with another semiconductor module of the second group or the semiconductor modules 31a and 31b of the first group. The semiconductor modules 33a-33e of the third group are connected in parallel with another semiconductor module of the third group or the semiconductor modules 31a and 31b of the first group. FIG. 8 shows a plan view of a laminated unit 10a in which two positive electrode bus bars 8a-8f and two negative electrode bus bars 9a-9f are connected in parallel.

積層ユニット10aにおける半導体モジュール3の接続関係は以下の通りである。第2グループに属する半導体モジュール32aと32bは正極バスバ8aと負極バスバ9aで並列に接続される。第2グループに属する半導体モジュール32cと32dは正極バスバ8bと負極バスバ9bで並列に接続される。第2グループに属する半導体モジュール32eは、第1グループに属する半導体モジュール31aと正極バスバ8cと負極バスバ9cで並列に接続される。第3グループに属する半導体モジュール33aは、第1グループに属する半導体モジュール31bと正極バスバ8dと負極バスバ9dで並列に接続される。第3グループに属する半導体モジュール33bと33cは正極バスバ8eと負極バスバ9eで並列に接続される。第3グループに属する半導体モジュール33dと33eは正極バスバ8fと負極バスバ9fで並列に接続される。 The connection relationship of the semiconductor modules 3 in the laminated unit 10a is as follows. The semiconductor modules 32a and 32b belonging to the second group are connected in parallel by the positive electrode bus bar 8a and the negative electrode bus bar 9a. The semiconductor modules 32c and 32d belonging to the second group are connected in parallel by the positive electrode bus bar 8b and the negative electrode bus bar 9b. The semiconductor module 32e belonging to the second group is connected in parallel with the semiconductor module 31a belonging to the first group by the positive electrode bus bar 8c and the negative electrode bus bar 9c. The semiconductor module 33a belonging to the third group is connected in parallel with the semiconductor module 31b belonging to the first group by the positive electrode bus bar 8d and the negative electrode bus bar 9d. The semiconductor modules 33b and 33c belonging to the third group are connected in parallel by the positive electrode bus bar 8e and the negative electrode bus bar 9e. The semiconductor modules 33d and 33e belonging to the third group are connected in parallel by the positive electrode bus bar 8f and the negative electrode bus bar 9f.

図7、図8の例でも、オン電圧が大きい第2グループの半導体モジュール32とオン電圧が小さい第3グループの半導体モジュール33が並列に接続されることがない。よって、2個の半導体モジュール3(トランジスタ素子)の並列回路において電流の偏りが小さくなる。 Also in the examples of FIGS. 7 and 8, the semiconductor module 32 of the second group having a large on-voltage and the semiconductor module 33 of the third group having a small on-voltage are not connected in parallel. Therefore, the current bias becomes small in the parallel circuit of the two semiconductor modules 3 (transistor elements).

図7、図8の例では、第1グループから2個の半導体モジュール31a、31bを抽出し、第2グループと第3グループからはそれぞれ5個(即ち奇数個ずつ)の半導体モジュール3を抽出した。第2グループと第3グループから夫々偶数個ずつ抽出してもよい。例えば、第1グループから2個の半導体モジュール31a、31bを抽出し、第2グループから4個の半導体モジュール32a−32dを抽出し、第3グループから6個の半導体モジュール33a−33fを抽出した場合を想定する。図9に、抽出した12個の半導体モジュール3で構成した積層ユニット10bの平面図を示す。図9でも、薄いグレー(半導体モジュール32a−32d)が第2グループに属する半導体モジュールであることを示している。濃いグレー(半導体モジュール33a−33f)が第3グループに属する半導体モジュールであることを示している。中間のグレー(半導体モジュール31a、31b)が第1グループに属する半導体モジュールであることを示している。 In the examples of FIGS. 7 and 8, two semiconductor modules 31a and 31b were extracted from the first group, and five (that is, odd number) semiconductor modules 3 were extracted from the second group and the third group, respectively. .. An even number of each may be extracted from the second group and the third group. For example, when two semiconductor modules 31a and 31b are extracted from the first group, four semiconductor modules 32a-32d are extracted from the second group, and six semiconductor modules 33a-33f are extracted from the third group. Is assumed. FIG. 9 shows a plan view of the laminated unit 10b composed of the extracted 12 semiconductor modules 3. Also in FIG. 9, light gray (semiconductor modules 32a-32d) indicates that the semiconductor modules belong to the second group. Dark gray (semiconductor modules 33a-33f) indicates that the semiconductor modules belong to the third group. The gray in the middle (semiconductor modules 31a, 31b) indicates that the semiconductor modules belong to the first group.

第2グループの4個の半導体モジュール32a−32dは、隣り合う冷却器4の間に2個ずつ挟まれるとともに夫々の両面が冷却器4に接するように配置される。第3グループの6個の半導体モジュール33a−33fも隣り合う冷却器4の間に2個ずつ挟まれるとともに夫々の両面が冷却器4に接するように配置される。第1グループの2個の半導体モジュール31a、31bも、隣り合う冷却器4の間で夫々の両面が冷却器4に接するように配置される。この場合も、図8に示した正極バスバ8a−8fと負極バスバ9a−9fで接続することによって、第2グループの半導体モジュール32は同じ第2グループの別の半導体モジュール32と並列に接続される。第3グループの半導体モジュール33は同じ第3グループの別の半導体モジュール32と並列に接続される。第1グループの半導体モジュール31aは同じグループの別の半導体モジュール31bと並列に接続される。この例でも、オン電圧が大きい第2グループの半導体モジュール32とオン電圧が小さい第3グループの半導体モジュール33が並列に接続されることがない。よって、2個の半導体モジュール3の並列回路において電流の偏りが小さくなる。 The four semiconductor modules 32a-32d of the second group are arranged so that two of them are sandwiched between adjacent coolers 4 and both sides of each are in contact with the coolers 4. The six semiconductor modules 33a-33f of the third group are also sandwiched between the adjacent coolers 4 by two, and both sides of each are arranged so as to be in contact with the cooler 4. The two semiconductor modules 31a and 31b of the first group are also arranged so that both sides of each of the adjacent coolers 4 are in contact with the cooler 4. Also in this case, the semiconductor module 32 of the second group is connected in parallel with another semiconductor module 32 of the same second group by connecting the positive electrode bus bar 8a-8f and the negative electrode bus bar 9a-9f shown in FIG. .. The semiconductor module 33 of the third group is connected in parallel with another semiconductor module 32 of the same third group. The semiconductor module 31a of the first group is connected in parallel with another semiconductor module 31b of the same group. In this example as well, the semiconductor module 32 of the second group having a large on-voltage and the semiconductor module 33 of the third group having a small on-voltage are not connected in parallel. Therefore, the current bias becomes small in the parallel circuit of the two semiconductor modules 3.

1個の電力変換装置を製造する際、第1グループから少なくとも1個の半導体モジュールを抽出し、残りは第2グループと第3グループから抽出すれば、同様の効果が得られる。残りは全て第2グループから抽出してもよいし、全て第3グループから抽出してもよい。 When manufacturing one power converter, the same effect can be obtained by extracting at least one semiconductor module from the first group and extracting the rest from the second and third groups. All the rest may be extracted from the second group, or all may be extracted from the third group.

実施例で説明した技術に関する留意点を述べる。実施例では、1個の半導体モジュール3に1個のトランジスタ素子16が収容されている。従って、特定のグループの半導体モジュール3を抽出することは、その特定のグループのトランジスタ素子16を抽出することと等価である。1個の半導体モジュールに複数個のトランジスタ素子が収容されていてもよい。1個の半導体モジュールのパッケージから、収容されている複数のトランジスタ素子の夫々の電極端子が延びていればよい。その場合、各トランジスタ素子のオン電圧を計測し、夫々を、前述した第1、第2、第3グループのいずれかに仕分ける。ここでの仕分けは、例えば、各トランジスタ素子の端子に、その属するグループを示す色を付す。物理的に1個のパッケージに収容されている複数のトランジスタ素子であっても、夫々を別々のグループに仕分けることができる。そして、1個の電力変換装置に必要な所定の偶数個のトランジスタ素子を抽出する際、少なくとも1個の半導体モジュールは第1グループに属するトランジスタ素子を含むように半導体モジュールを選択すればよい。 The points to be noted regarding the technique described in the examples will be described. In the embodiment, one transistor element 16 is housed in one semiconductor module 3. Therefore, extracting the semiconductor module 3 of a specific group is equivalent to extracting the transistor element 16 of the specific group. A plurality of transistor elements may be housed in one semiconductor module. It is sufficient that the electrode terminals of the plurality of transistor elements contained therein extend from the package of one semiconductor module. In that case, the on-voltage of each transistor element is measured, and each is classified into one of the first, second, and third groups described above. In the sorting here, for example, the terminals of each transistor element are colored to indicate the group to which they belong. Even a plurality of transistor elements physically contained in one package can be grouped into separate groups. Then, when extracting a predetermined even number of transistor elements required for one power conversion device, the semiconductor module may be selected so that at least one semiconductor module includes the transistor elements belonging to the first group.

実施例と変形例では、積層ユニットを組み立てる際、第2グループに属する半導体モジュール32を積層方向(図中のX方向)の一方の端に集中して配置した。第3グループに属する半導体モジュール33を積層方向の他方の端に集中して配置した。そして、第1グループに属する半導体モジュール31を第1グループと第2グループの間に配置した。そのように配置することで、2個ずつを並列に接続するときのバスバの配索を簡素化できる。しかし、複数の半導体モジュールの配置は上記に限られない。夫々のグループに属する半導体モジュール(トランジスタ素子)は、積層ユニットの中でランダムに配置されてもよい。 In the embodiment and the modification, when assembling the stacking unit, the semiconductor modules 32 belonging to the second group are concentrated on one end in the stacking direction (X direction in the drawing). The semiconductor modules 33 belonging to the third group are concentrated on the other end in the stacking direction. Then, the semiconductor module 31 belonging to the first group is arranged between the first group and the second group. By arranging in such a way, it is possible to simplify the wiring of the bus bar when connecting two in parallel. However, the arrangement of the plurality of semiconductor modules is not limited to the above. Semiconductor modules (transistor elements) belonging to each group may be randomly arranged in the laminated unit.

実施例のトランジスタ素子16が半導体素子の一例に相当する。オン電圧が電圧特性の一例に相当する。半導体素子としてダイオードを選定する場合、着目する電圧特性は順電圧であってよい。 The transistor element 16 of the embodiment corresponds to an example of a semiconductor element. The on-voltage corresponds to an example of voltage characteristics. When selecting a diode as a semiconductor element, the voltage characteristic of interest may be forward voltage.

以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。 Although specific examples of the present invention have been described in detail above, these are merely examples and do not limit the scope of claims. The techniques described in the claims include various modifications and modifications of the specific examples illustrated above. The technical elements described herein or in the drawings exhibit their technical usefulness alone or in various combinations, and are not limited to the combinations described in the claims at the time of filing. In addition, the techniques illustrated in the present specification or drawings can achieve a plurality of purposes at the same time, and achieving one of the purposes itself has technical usefulness.

2:電力変換装置
3、3a−3n:半導体モジュール
4:冷却器
6:トランジスタ
7:ダイオード
8a−8f:正極バスバ
9a−9f:負極バスバ
10、10a、10b:積層ユニット
12:正極端子
13:負極端子
14:パッケージ
16:トランジスタ素子(半導体素子)
17:ダイオード素子
20:積層ユニット
31、31a、31b:半導体モジュール(第1グループ)
32、32a−32e:半導体モジュール(第2グループ)
33、33a−33f:半導体モジュール(第3グループ)
80:バッテリ
81:正極線
82:負極線
83:モータ
85:制御端子
90:筐体
91:バネ
92、93:冷媒パイプ
2: Power converters 3, 3a-3n: Semiconductor module 4: Cooler 6: Transistor 7: Diode 8a-8f: Positive electrode bus bar 9a-9f: Negative electrode bus bar 10, 10a, 10b: Laminated unit 12: Positive electrode terminal 13: Negative electrode Terminal 14: Package 16: Transistor element (semiconductor element)
17: Diode element 20: Laminated units 31, 31a, 31b: Semiconductor module (first group)
32, 32a-32e: Semiconductor module (second group)
33, 33a-33f: Semiconductor module (3rd group)
80: Battery 81: Positive electrode wire 82: Negative electrode wire 83: Motor 85: Control terminal 90: Housing 91: Spring 92, 93: Refrigerant pipe

Claims (1)

電力変換用の複数の半導体素子を、前記半導体素子の電圧特性が設計値を含む所定範囲内に収まっている第1グループと、前記電圧特性が前記所定範囲より大きい第2グループと、前記電圧特性が前記所定範囲よりも小さい第3グループに仕分けする仕分工程と、
少なくとも1個の前記半導体素子を前記第1グループから抽出し、残りを前記第2グループと前記第3グループの中から抽出して合計で所定の偶数個の前記半導体素子を集める抽出工程と、
前記抽出工程で集められた前記半導体素子を2個1組で並列接続する工程であって、前記第2グループの半導体素子は前記第2グループの別の半導体素子又は前記第1グループの半導体素子と並列に接続し、前記第3グループの半導体素子は前記第3グループの別の半導体素子又は前記第1グループの半導体素子と並列に接続する接続工程と、
を備える電力変換装置の製造方法。
A plurality of semiconductor elements for power conversion are included in a first group in which the voltage characteristics of the semiconductor elements are within a predetermined range including a design value, a second group in which the voltage characteristics are larger than the predetermined range, and the voltage characteristics. In the sorting process of sorting into a third group in which is smaller than the predetermined range,
An extraction step of extracting at least one of the semiconductor elements from the first group, extracting the rest from the second group and the third group, and collecting a predetermined even number of the semiconductor elements in total.
In a step of connecting two semiconductor elements collected in the extraction step in parallel, the semiconductor elements of the second group are combined with another semiconductor element of the second group or a semiconductor element of the first group. A connection step of connecting in parallel and connecting the semiconductor element of the third group in parallel with another semiconductor element of the third group or the semiconductor element of the first group.
A method of manufacturing a power converter comprising.
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