JP6778222B2 - Optical filter and camera module - Google Patents

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Description

本発明は、光学フィルタに関する。 The present invention relates to an optical filter.

CCD(Charge Coupled Device)又はCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等の撮像素子を用いた撮像装置において、良好な色再現性を有する画像を得るために様々な光学フィルタが撮像素子の前面に配置されている。一般的に、撮像素子は紫外線領域から赤外線領域に至る広い波長範囲で分光感度を有する。一方、人間の視感度は可視光の領域にのみに存在する。このため、撮像装置における撮像素子の分光感度を人間の視感度に近づけるために、撮像素子の前面に赤外線又は紫外線を遮蔽する光学フィルタを配置する技術が知られている。 In an image pickup device using an image sensor such as a CCD (Charge Coupled Device) or CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor), various optical filters are arranged in front of the image sensor in order to obtain an image having good color reproducibility. There is. Generally, the image sensor has spectral sensitivity in a wide wavelength range from the ultraviolet region to the infrared region. On the other hand, human luminosity factor exists only in the visible light region. Therefore, in order to bring the spectral sensitivity of the image sensor in the image sensor closer to the human visual sensitivity, there is known a technique of arranging an optical filter that shields infrared rays or ultraviolet rays in front of the image sensor.

光学フィルタとしては、誘電体多層膜を有する光学フィルタのように光の反射を利用する光学フィルタと、所定の波長の光を吸収可能な光吸収剤を含有している膜を有する光学フィルタのように光の吸収を利用する光学フィルタとがある。後者は、入射光の入射角度に対して変動しにくい分光特性を有する点で望ましい。 The optical filter includes an optical filter that utilizes light reflection, such as an optical filter having a dielectric multilayer film, and an optical filter that has a film containing a light absorber capable of absorbing light of a predetermined wavelength. There is an optical filter that utilizes light absorption. The latter is desirable in that it has a spectral characteristic that does not easily fluctuate with respect to the incident angle of the incident light.

例えば、特許文献1には、近赤外線吸収剤及び樹脂から形成される近赤外線吸収フィルタが記載されている。近赤外線吸収剤は、所定のホスホン酸化合物と、所定のリン酸エステル化合物と、銅塩とから得られる。所定のホスホン酸化合物は、リン原子Pに結合した−CH2CH2−R11で表される一価の基R1を有する。R11は水素原子、炭素数1〜20
のアルキル基、又は炭素数1〜20のフッ素化アルキル基である。
For example, Patent Document 1 describes a near-infrared absorbing filter formed of a near-infrared absorbing agent and a resin. The near-infrared absorber is obtained from a predetermined phosphonic acid compound, a predetermined phosphoric acid ester compound, and a copper salt. A given phosphonic acid compound has a monovalent group R 1 represented by −CH 2 CH 2 −R 11 attached to the phosphorus atom P. R 11 is a hydrogen atom with 1 to 20 carbon atoms
Alkyl group, or fluorinated alkyl group having 1 to 20 carbon atoms.

特開2011−203467号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-203467

特許文献1に記載の近赤外線吸収フィルタは、波長800nm〜1200nmにおける光を有効に吸収できているものの、波長350nm〜400nm及び波長650nm〜800nmにおいて望ましい光吸収特性を有しているとは言い難い。そこで、本発明は、特許文献1に記載の近赤外線吸収フィルタのみでは実現困難な所望の光学性能を簡素な構成で発揮できる光学フィルタを提供する。 Although the near-infrared absorption filter described in Patent Document 1 can effectively absorb light at a wavelength of 800 nm to 1200 nm, it cannot be said that it has desirable light absorption characteristics at a wavelength of 350 nm to 400 nm and a wavelength of 650 nm to 800 nm. .. Therefore, the present invention provides an optical filter capable of exhibiting desired optical performance that is difficult to achieve only with the near-infrared absorbing filter described in Patent Document 1 in a simple configuration.

本発明は、
赤外線及び紫外線の一部の光を吸収可能なUV‐IR吸収層を備え、
0°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに、
波長450nm〜600nmにおいて78%以上の平均透過率を有し、
波長600nm〜750nmにおいて波長の増加に伴い減少する分光透過率を有するとともに、波長600nm〜750nmにおいて分光透過率が50%を示す第一IRカットオフ波長が波長620nm〜680nmの範囲内に存在し、
波長350nm〜450nmにおいて波長の増加に伴い増加する分光透過率を有するとともに、波長350nm〜450nmにおいて分光透過率が50%を示す第一UVカットオフ波長が波長380nm〜430nmの範囲内に存在し、
40°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに波長600nm〜750nmにおいて分光透過率が50%を示す第二IRカットオフ波長と、前記第一IRカットオフ波長との差の絶対値が10nm以下であり、
40°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに波長350nm〜450nmにおいて分光透過率が50%を示す第二UVカットオフ波長と、前記第一UVカットオフ波長との差の絶対値が10nm以下である、
光学フィルタを提供する。
The present invention
It has a UV-IR absorption layer that can absorb some infrared rays and ultraviolet rays.
When light with a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 0 °,
It has an average transmittance of 78% or more at wavelengths of 450 nm to 600 nm.
The first IR cutoff wavelength, which has a spectral transmittance that decreases with increasing wavelength at a wavelength of 600 nm to 750 nm and exhibits a spectral transmittance of 50% at a wavelength of 600 nm to 750 nm, exists in the wavelength range of 620 nm to 680 nm.
The first UV cutoff wavelength, which has a spectral transmittance that increases with an increase in wavelength at a wavelength of 350 nm to 450 nm and exhibits a spectral transmittance of 50% at a wavelength of 350 nm to 450 nm, exists in the wavelength range of 380 nm to 430 nm.
The difference between the second IR cutoff wavelength, which shows a spectral transmittance of 50% at a wavelength of 600 nm to 750 nm, and the first IR cutoff wavelength when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 40 °. The absolute value is 10 nm or less,
The difference between the second UV cutoff wavelength, which shows 50% spectral transmission at a wavelength of 350 nm to 450 nm when light with a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 40 °, and the first UV cutoff wavelength. Absolute value is 10 nm or less,
An optical filter is provided.

上記の光学フィルタは、所望の光学性能を簡素な構成で発揮できる。 The above optical filter can exhibit desired optical performance in a simple configuration.

図1Aは、本発明の光学フィルタの一例を示す断面図である。FIG. 1A is a cross-sectional view showing an example of the optical filter of the present invention. 図1Bは、本発明の光学フィルタの別の一例を示す断面図である。FIG. 1B is a cross-sectional view showing another example of the optical filter of the present invention. 図1Cは、本発明の光学フィルタのさらに別の一例を示す断面図である。FIG. 1C is a cross-sectional view showing still another example of the optical filter of the present invention. 図1Dは、本発明の光学フィルタのさらに別の一例を示す断面図である。FIG. 1D is a cross-sectional view showing still another example of the optical filter of the present invention. 図1Eは、本発明の光学フィルタのさらに別の一例を示す断面図である。FIG. 1E is a cross-sectional view showing still another example of the optical filter of the present invention. 図1Fは、本発明の光学フィルタのさらに別の一例を示す断面図である。FIG. 1F is a cross-sectional view showing still another example of the optical filter of the present invention. 図2は、本発明の光学フィルタを備えたカメラモジュールの一例を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing an example of a camera module provided with the optical filter of the present invention. 図3は、実施例1に係る光学フィルタの透過率スペクトルである。FIG. 3 is a transmittance spectrum of the optical filter according to the first embodiment. 図4は、実施例2に係る光学フィルタの透過率スペクトルである。FIG. 4 is a transmittance spectrum of the optical filter according to the second embodiment. 図5は、実施例16に係る光学フィルタの透過率スペクトルである。FIG. 5 is a transmittance spectrum of the optical filter according to Example 16. 図6は、実施例17に係る光学フィルタの透過率スペクトルである。FIG. 6 is a transmittance spectrum of the optical filter according to Example 17. 図7は、実施例18に係る光学フィルタの透過率スペクトルである。FIG. 7 is a transmittance spectrum of the optical filter according to Example 18. 図8Aは、実施例21で用いた赤外線吸収ガラス基板の透過率スペクトルである。FIG. 8A is a transmission spectrum of the infrared absorbing glass substrate used in Example 21. 図8Bは、実施例21に係る光学フィルタの透過率スペクトルである。FIG. 8B is a transmission spectrum of the optical filter according to the twenty-first embodiment. 図9は、実施例22に係る光学フィルタの透過率スペクトルである。FIG. 9 is a transmittance spectrum of the optical filter according to the 22nd embodiment. 図10は、実施例23に係る光学フィルタの透過率スペクトルである。FIG. 10 is a transmittance spectrum of the optical filter according to the 23rd embodiment. 図11は、実施例24に係る光学フィルタの透過率スペクトルである。FIG. 11 is a transmittance spectrum of the optical filter according to the 24th embodiment. 図12は、実施例38に係る光学フィルタの透過率スペクトルである。FIG. 12 is a transmittance spectrum of the optical filter according to the 38th embodiment.

以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。なお、以下の説明は、本発明の一例に関するものであり、本発明はこれらによって限定されるものではない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. The following description relates to an example of the present invention, and the present invention is not limited thereto.

光学フィルタは、波長450nm〜600nmの光を透過させ、かつ、波長300nm〜400nm及び波長650nm〜1100nmの光をカットする特性を有することが望ましい場合がある。しかし、例えば、特許文献1に記載の光学フィルタは、波長350nm〜400nm及び波長650nm〜800nmにおいて十分な光吸収特性を有しておらず、波長350nm〜400nmの光及び波長650nm〜800nmの光をカットするために、別の光吸収層又は光反射膜を必要とする。このように、簡素な構成(例えば、単一の層)で上記の望ましい特性を有する光学フィルタを実現することは容易なことではない。実際に、本発明者は、簡素な構成で上記の望ましい特性を有する光学フィルタを実現するために試行錯誤を何度も重ねた。その結果、本発明者は、ついに本発明に係る光学フィルタを案出した。 It may be desirable that the optical filter has a property of transmitting light having a wavelength of 450 nm to 600 nm and cutting light having a wavelength of 300 nm to 400 nm and a wavelength of 650 nm to 1100 nm. However, for example, the optical filter described in Patent Document 1 does not have sufficient light absorption characteristics at a wavelength of 350 nm to 400 nm and a wavelength of 650 nm to 800 nm, and emits light having a wavelength of 350 nm to 400 nm and light having a wavelength of 650 nm to 800 nm. A separate light absorbing layer or light reflecting film is required to cut. As described above, it is not easy to realize an optical filter having the above-mentioned desirable characteristics with a simple structure (for example, a single layer). In fact, the present inventor has repeated trial and error in order to realize an optical filter having the above-mentioned desired characteristics with a simple configuration. As a result, the present inventor has finally devised an optical filter according to the present invention.

図1Aに示す通り、光学フィルタ1aは、UV‐IR吸収層10を備えている。UV‐IR吸収層10は、赤外線及び紫外線を吸収可能な層である。光学フィルタ1aは、0°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに、下記(i)〜(v)の光学性能を発揮する。
(i)波長450nm〜600nmにおいて78%以上の平均透過率
(ii)波長750nm〜1080nmにおいて1%以下の分光透過率
(iii)波長300nm〜350nmにおいて1%以下の分光透過率
(iv)波長600nm〜750nmにおいて波長の増加に伴い減少する分光透過率及び波長620nm〜680nmの範囲内に存在する第一IRカットオフ波長
(v)波長350nm〜450nmにおいて波長の増加に伴い増加する分光透過率及び波長380nm〜430nmの範囲内に存在する第一UVカットオフ波長
As shown in FIG. 1A, the optical filter 1a includes a UV-IR absorption layer 10. The UV-IR absorption layer 10 is a layer capable of absorbing infrared rays and ultraviolet rays. The optical filter 1a exhibits the following optical performances (i) to (v) when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 0 °.
(I) Average transmission rate of 78% or more at wavelengths of 450 nm to 600 nm (ii) Spectral transmission rate of 1% or less at wavelengths of 750 nm to 1080 nm (iii) Spectral transmission rate of 1% or less at wavelengths of 300 nm to 350 nm (iv) Spectrum 600 nm Spectral transmission that decreases with increasing wavelength at ~ 750 nm and first IR cutoff wavelength (v) existing in the range of 620 nm to 680 nm Spectral transmission and wavelength that increases with increasing wavelength at wavelength 350 nm to 450 nm First UV cutoff wavelength in the range of 380 nm to 430 nm

本明細書において、「分光透過率」とは、特定の波長の入射光が試料等の物体に入射するときの透過率であり、「平均透過率」とは、所定の波長範囲内の分光透過率の平均値であり、「最大透過率」とは、所定の波長範囲内の分光透過率の最大値である。また、本明細書において、「透過率スペクトル」とは所定の波長範囲内の各波長における分光透過率を波長の順に並べたものである。 In the present specification, the "spectral transmission rate" is the transmission rate when incident light of a specific wavelength is incident on an object such as a sample, and the "average transmission rate" is the spectral transmission within a predetermined wavelength range. It is an average value of the rate, and the "maximum transmission rate" is the maximum value of the spectral transmission rate within a predetermined wavelength range. Further, in the present specification, the "transmittance spectrum" is a spectrum in which the spectral transmittances at each wavelength within a predetermined wavelength range are arranged in the order of wavelength.

本明細書において、「IRカットオフ波長」とは、光学フィルタに波長300nm〜1200nmの光を、所定の入射角度で入射させたときに、600nm以上の波長範囲において50%の分光透過率を示す波長を意味する。「第一IRカットオフ波長」は、0°の入射角度で光学フィルタに光を入射させたときのIRカットオフ波長である。また、「UVカットオフ波長」とは、光学フィルタに波長300nm〜1200nmの光を、所定の入射角度で入射させたときに、450nm以下の波長範囲において、50%の分光透過率を示す波長を意味する。「第一UVカットオフ波長」は、0°の入射角度で光学フィルタに光を入射させたときのUVカットオフ波長である。 In the present specification, the "IR cutoff wavelength" indicates a spectral transmittance of 50% in a wavelength range of 600 nm or more when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident on an optical filter at a predetermined incident angle. Means wavelength. The "first IR cutoff wavelength" is the IR cutoff wavelength when light is incident on the optical filter at an incident angle of 0 °. The "UV cutoff wavelength" is a wavelength that exhibits 50% spectral transmission in a wavelength range of 450 nm or less when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident on an optical filter at a predetermined incident angle. means. The "first UV cutoff wavelength" is the UV cutoff wavelength when light is incident on the optical filter at an incident angle of 0 °.

光学フィルタ1aが上記の(i)〜(v)の光学性能を発揮することにより、光学フィルタ1aにおいて波長450nm〜600nmの光の透過量が多く、かつ、波長300nm〜400nm及び波長650nm〜1100nmの光を効果的にカットできる。このため、光学フィルタ1aの透過スペクトルは、特許文献1に記載の近赤外線吸収フィルタの透過スペクトルに比べて、人間の視感度により適合している。しかも、光学フィルタ1aは、UV‐IR吸収層10以外の層を備えていなくても、上記の(i)〜(v)の光学性能を発揮できる。 Since the optical filter 1a exhibits the above optical performances (i) to (v), the optical filter 1a transmits a large amount of light having a wavelength of 450 nm to 600 nm, and has a wavelength of 300 nm to 400 nm and a wavelength of 650 nm to 1100 nm. Can cut light effectively. Therefore, the transmission spectrum of the optical filter 1a is more suitable for human visual sensitivity than the transmission spectrum of the near-infrared absorption filter described in Patent Document 1. Moreover, the optical filter 1a can exhibit the above optical performances (i) to (v) even if it does not include a layer other than the UV-IR absorbing layer 10.

上記(i)に関し、光学フィルタ1aは、波長450nm〜600nmにおいて、望ましくは80%以上の平均透過率を有し、より望ましくは82%以上の平均透過率を有する。 With respect to the above (i), the optical filter 1a preferably has an average transmittance of 80% or more, and more preferably 82% or more, at a wavelength of 450 nm to 600 nm.

上記(iii)に関し、光学フィルタ1aは、望ましくは、波長300nm〜360nm
において1%以下の分光透過率を有する。これにより、光学フィルタ1aは、紫外線領域の光をより効果的にカットできる。
With respect to (iii) above, the optical filter 1a preferably has a wavelength of 300 nm to 360 nm.
Has a spectral transmittance of 1% or less. As a result, the optical filter 1a can cut light in the ultraviolet region more effectively.

上記(iv)に関し、第一IRカットオフ波長(50%の分光透過率を示す波長)は、望ましくは、波長630nm〜650nmの範囲内に存在する。これにより、光学フィルタ1aの透過スペクトルが人間の視感度により適合する。 With respect to (iv) above, the first IR cutoff wavelength (a wavelength exhibiting a spectral transmission of 50%) preferably exists in the wavelength range of 630 nm to 650 nm. As a result, the transmission spectrum of the optical filter 1a is more suitable for human visual sensitivity.

上記(v)に関し、第一UVカットオフ波長(50%の分光透過率を示す波長)は、望ましくは、波長390nm〜420nmの範囲内に存在する。これにより、光学フィルタ1aの透過スペクトルが人間の視感度により適合する。 With respect to (v) above, the first UV cutoff wavelength (wavelength exhibiting 50% spectral transmittance) preferably exists in the wavelength range of 390 nm to 420 nm. As a result, the transmission spectrum of the optical filter 1a is more suitable for human visual sensitivity.

光学フィルタ1aは、望ましくは、0°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに、下記(vi)の光学性能を発揮する。これにより、比較的長い波長(波長1000〜1100nm)を有する赤外線を遮蔽することができる。従来、この波長の光をカットするためには誘電体多層膜からなる光反射膜が用いられることが多い。しかし、光学フィルタ1aによれば、このような誘電体多層膜を用いなくともこの波長の光を効果的にカットできる。誘電体多層膜からなる光反射膜が必要であったとしても、光反
射膜に要求される反射性能のレベルを低くできるので、光反射膜における誘電体の積層数を低減でき、光反射膜の形成に要するコストを低減できる。
(vi)波長1000〜1100nmにおいて3%以下の分光透過率
The optical filter 1a preferably exhibits the following optical performance (vi) when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 0 °. This makes it possible to block infrared rays having a relatively long wavelength (wavelength 1000 to 1100 nm). Conventionally, a light reflecting film made of a dielectric multilayer film is often used to cut light of this wavelength. However, according to the optical filter 1a, light of this wavelength can be effectively cut without using such a dielectric multilayer film. Even if a light-reflecting film made of a dielectric multilayer film is required, the level of reflection performance required for the light-reflecting film can be lowered, so that the number of laminated dielectrics in the light-reflecting film can be reduced, and the light-reflecting film can be used. The cost required for formation can be reduced.
(Vi) Spectral transmission of 3% or less at wavelengths of 1000 to 1100 nm

光学フィルタ1aは、望ましくは、0°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに、下記(vii)の光学性能を発揮する。この場合、より長い波長(
1100〜1200nm)を有する赤外線をカットできる。これにより、誘電体多層膜を用いなくとも又は誘電体多層膜における誘電体の積層数が少なくても、光学フィルタ1aがこの波長の光を効果的にカットできる。
(vii)波長1100〜1200nmにおいて15%以下の分光透過率
The optical filter 1a preferably exhibits the following optical performance (vii) when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 0 °. In this case, the longer wavelength (
It can cut infrared rays having (1100 to 1200 nm). As a result, the optical filter 1a can effectively cut light of this wavelength even if the dielectric multilayer film is not used or the number of laminated dielectrics in the dielectric multilayer film is small.
(Vii) Spectral transmittance of 15% or less at wavelengths of 1100 to 1200 nm

例えば、光学フィルタ1aにおいて、第二IRカットオフ波長と、第一IRカットオフ波長との差の絶対値が10nm以下である(光学性能(viii))。第二IRカットオフ波長は、光学フィルタ1aに40°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときのIRカットオフ波長である。この場合、光学フィルタ1aの第一IRカットオフ波長付近の透過率特性は、光学フィルタ1aに入射する光の入射角度に対して変動しにくい。その結果、光学フィルタ1aが撮像素子の前方に配置された撮像装置によって得られた画像の中心部及び周辺部において異なる色味が発生することを抑制できる。 For example, in the optical filter 1a, the absolute value of the difference between the second IR cutoff wavelength and the first IR cutoff wavelength is 10 nm or less (optical performance (viii)). The second IR cutoff wavelength is the IR cutoff wavelength when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident on the optical filter 1a at an incident angle of 40 °. In this case, the transmittance characteristic of the optical filter 1a near the first IR cutoff wavelength is unlikely to fluctuate with respect to the incident angle of the light incident on the optical filter 1a. As a result, it is possible to suppress the generation of different colors in the central portion and the peripheral portion of the image obtained by the imaging device in which the optical filter 1a is arranged in front of the imaging element.

光学フィルタ1aにおいて、第二IRカットオフ波長と、第一IRカットオフ波長との差の絶対値は、望ましくは5nm以下である。 In the optical filter 1a, the absolute value of the difference between the second IR cutoff wavelength and the first IR cutoff wavelength is preferably 5 nm or less.

例えば、光学フィルタ1aにおいて、第三IRカットオフ波長と、第一IRカットオフ波長との差の絶対値が15nm以下である(光学性能(ix))。第三IRカットオフ波長は、光学フィルタ1aに50°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときのIRカットオフ波長である。この場合、光学フィルタ1aに入射する光の入射角度が大きく変化しても、光学フィルタ1aの第一IRカットオフ波長付近の透過率特性の変化を抑制できる。その結果、広い画角で撮像可能な撮像装置の撮像素子の前方に光学フィルタ1aを配置しても、良質な画像が得られやすい。 For example, in the optical filter 1a, the absolute value of the difference between the third IR cutoff wavelength and the first IR cutoff wavelength is 15 nm or less (optical performance (ix)). The third IR cutoff wavelength is the IR cutoff wavelength when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident on the optical filter 1a at an incident angle of 50 °. In this case, even if the incident angle of the light incident on the optical filter 1a changes significantly, the change in the transmittance characteristic near the first IR cutoff wavelength of the optical filter 1a can be suppressed. As a result, even if the optical filter 1a is arranged in front of the image pickup device of the image pickup device capable of taking an image with a wide angle of view, a good quality image can be easily obtained.

例えば、光学フィルタ1aにおいて、第四IRカットオフ波長と、第一IRカットオフ波長との差の絶対値が20nm以下である。第四IRカットオフ波長は、光学フィルタ1aに60°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときのIRカットオフ波長である。この場合、広い画角で撮像可能な撮像装置の撮像素子の前方に光学フィルタ1aを配置しても、良質な画像が得られやすい。 For example, in the optical filter 1a, the absolute value of the difference between the fourth IR cutoff wavelength and the first IR cutoff wavelength is 20 nm or less. The fourth IR cutoff wavelength is the IR cutoff wavelength when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident on the optical filter 1a at an incident angle of 60 °. In this case, even if the optical filter 1a is arranged in front of the image pickup device of the image pickup device capable of taking an image with a wide angle of view, a good quality image can be easily obtained.

例えば、光学フィルタ1aにおいて、第二UVカットオフ波長と、第一UVカットオフ波長との差の絶対値が10nm以下である(光学性能(x))。第二UVカットオフ波長は、光学フィルタ1aに40°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときのUVカットオフ波長である。この場合、光学フィルタ1aの第一UVカットオフ波長付近の透過率特性は、光学フィルタ1aに入射する光の入射角度に対して変動しにくい。その結果、光学フィルタ1aが撮像素子の前方に配置された撮像装置によって得られた画像の中心部及び周辺部において異なる色味が発生することを抑制できる。 For example, in the optical filter 1a, the absolute value of the difference between the second UV cutoff wavelength and the first UV cutoff wavelength is 10 nm or less (optical performance (x)). The second UV cutoff wavelength is a UV cutoff wavelength when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident on the optical filter 1a at an incident angle of 40 °. In this case, the transmittance characteristic of the optical filter 1a near the first UV cutoff wavelength is unlikely to fluctuate with respect to the incident angle of the light incident on the optical filter 1a. As a result, it is possible to suppress the generation of different colors in the central portion and the peripheral portion of the image obtained by the image pickup device in which the optical filter 1a is arranged in front of the image pickup element.

光学フィルタ1aにおいて、第二UVカットオフ波長と、第一UVカットオフ波長との差の絶対値は、望ましくは5nm以下である。 In the optical filter 1a, the absolute value of the difference between the second UV cutoff wavelength and the first UV cutoff wavelength is preferably 5 nm or less.

例えば、光学フィルタ1aにおいて、第三UVカットオフ波長と、第一UVカットオフ波長との差の絶対値が15nm以下である(光学性能(xi))。第三UVカットオフ波長は、光学フィルタ1aに50°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射さ
せたときのUVカットオフ波長である。この場合、光学フィルタ1aに入射する光の入射角度が大きく変化しても、光学フィルタ1aの第一UVカットオフ波長付近の透過率特性の変化を抑制できる。その結果、広い画角で撮像可能な撮像装置の撮像素子の前方に光学フィルタ1aを配置しても、良質な画像が得られやすい。
For example, in the optical filter 1a, the absolute value of the difference between the third UV cutoff wavelength and the first UV cutoff wavelength is 15 nm or less (optical performance (xi)). The third UV cutoff wavelength is a UV cutoff wavelength when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident on the optical filter 1a at an incident angle of 50 °. In this case, even if the incident angle of the light incident on the optical filter 1a changes significantly, the change in the transmittance characteristic near the first UV cutoff wavelength of the optical filter 1a can be suppressed. As a result, even if the optical filter 1a is arranged in front of the image pickup device of the image pickup device capable of taking an image with a wide angle of view, a good quality image can be easily obtained.

例えば、光学フィルタ1aにおいて、第四UVカットオフ波長と、第一UVカットオフ波長との差の絶対値が20nm以下である。第四UVカットオフ波長は、光学フィルタ1aに60°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときのUVカットオフ波長である。この場合、広い画角で撮像可能な撮像装置の撮像素子の前方に光学フィルタ1aを配置しても、良質な画像が得られやすい。 For example, in the optical filter 1a, the absolute value of the difference between the fourth UV cutoff wavelength and the first UV cutoff wavelength is 20 nm or less. The fourth UV cutoff wavelength is a UV cutoff wavelength when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident on the optical filter 1a at an incident angle of 60 °. In this case, even if the optical filter 1a is arranged in front of the image pickup device of the image pickup device capable of taking an image with a wide angle of view, a good quality image can be easily obtained.

光学フィルタ1aは、望ましくは、0°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに、下記(xii)の光学性能を発揮する。
(xii)波長800〜950nmにおいて0.5%以下の分光透過率、より望ましくは0.1%以下の分光透過率
The optical filter 1a preferably exhibits the following optical performance (xii) when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 0 °.
(Xii) Spectral transmittance of 0.5% or less, more preferably 0.1% or less at wavelengths of 800 to 950 nm.

光学フィルタ1aは、望ましくは、0°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに、下記(xiii)の光学性能をさらに発揮する。
(xiii)波長800〜1000nmにおいて0.5%以下の分光透過率、より望ましくは
0.1%以下の分光透過率
The optical filter 1a preferably further exhibits the following optical performance (xiii) when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 0 °.
(Xiii) Spectral transmittance of 0.5% or less, more preferably 0.1% or less at a wavelength of 800 to 1000 nm.

撮像装置に使用されているRGBに対応した各カラーフィルタは、各RGBに対応した波長範囲の光を透過させるだけではなく波長800nm以上の光をも透過させることがある。このため、撮像装置に用いられる赤外線カットフィルタの上記の波長範囲における分光透過率がある程度低くないと、上記の波長範囲の光が撮像素子の画素に入射し、その画素から信号が出力されてしまう。このような撮像装置を用いてデジタル画像を取得した場合に、可視光領域の光量が十分に強いときは、低光量の赤外線がカラーフィルタを透過して撮像素子の画素が受光しても得られたデジタル画像に大きな影響は出ない。しかし、可視光領域の光量が小さいとき又は画像の暗部においては、そのような赤外線の影響を受けやすくなり、ときには青系又は赤系などの色味がそれらの画像に混ざることがある。 Each RGB-compatible color filter used in the image pickup apparatus not only transmits light in the wavelength range corresponding to each RGB, but may also transmit light having a wavelength of 800 nm or more. Therefore, if the spectral transmittance of the infrared cut filter used in the image pickup device in the above wavelength range is not low to some extent, light in the above wavelength range is incident on the pixels of the image sensor, and a signal is output from the pixels. .. When a digital image is acquired using such an image sensor, if the amount of light in the visible light region is sufficiently strong, it can be obtained even if a low amount of infrared rays pass through the color filter and are received by the pixels of the image sensor. There is no significant effect on the digital image. However, when the amount of light in the visible light region is small or in a dark part of an image, it becomes easily affected by such infrared rays, and sometimes a tint such as bluish or reddish may be mixed in those images.

このように、CMOS及びCCDなどの撮像素子とともに用いられているカラーフィルタは、波長800〜950nmまたは800〜1000nmの範囲における光を透過させる場合がある。光学フィルタ1aが上記の(xii)及び(xiii)の光学性能を有すること
により、このような画像の不具合を防止できる。
As described above, the color filter used together with the image pickup element such as CMOS and CCD may transmit light in the wavelength range of 800 to 950 nm or 800 to 1000 nm. When the optical filter 1a has the above-mentioned optical performances (xii) and (xiii), such image defects can be prevented.

UV‐IR吸収層10は、上記(i)〜(v)の光学性能を光学フィルタ1aが発揮できるように、赤外線及び紫外線を吸収する限り特に制限されないが、例えば、ホスホン酸と銅イオンとによって形成されたUV‐IR吸収剤を含んでいる。 The UV-IR absorption layer 10 is not particularly limited as long as it absorbs infrared rays and ultraviolet rays so that the optical filter 1a can exhibit the optical performances (i) to (v) above, but for example, phosphonic acid and copper ions can be used. Contains the formed UV-IR absorber.

UV‐IR吸収層10がホスホン酸と銅イオンとによって形成されたUV‐IR吸収剤を含む場合、そのホスホン酸は、例えば、アリール基を有する第一ホスホン酸を含む。第一ホスホン酸においてアリール基はリン原子に結合している。これにより、光学フィルタ1aが上記(i)〜(v)の光学性能を発揮しやすい。 When the UV-IR absorption layer 10 contains a UV-IR absorber formed by phosphonic acid and copper ions, the phosphonic acid includes, for example, a primary phosphonic acid having an aryl group. In the first phosphonic acid, the aryl group is attached to the phosphorus atom. As a result, the optical filter 1a can easily exhibit the optical performances (i) to (v) described above.

第一ホスホン酸が有するアリール基は、例えば、フェニル基、ベンジル基、トルイル基、ニトロフェニル基、ヒドロキシフェニル基、フェニル基における少なくとも1つの水素原子がハロゲン原子に置換されているハロゲン化フェニル基、又はベンジル基のベンゼン環における少なくとも1つの水素原子がハロゲン原子に置換されているハロゲン化ベンジル基である。望ましくは、第一ホスホン酸は、その一部において、ハロゲン化フェニル基
を有する。この場合、より確実に、光学フィルタ1aが上記(i)〜(v)の光学性能を発揮しやすい。
The aryl group contained in the primary phosphonic acid is, for example, a phenyl group, a benzyl group, a toluyl group, a nitrophenyl group, a hydroxyphenyl group, a halogenated phenyl group in which at least one hydrogen atom in the phenyl group is replaced with a halogen atom. Alternatively, it is a halogenated benzyl group in which at least one hydrogen atom in the benzene ring of the benzyl group is substituted with a halogen atom. Desirably, the primary phosphonic acid has a phenyl halide group in part thereof. In this case, the optical filter 1a is more likely to exhibit the above optical performances (i) to (v) more reliably.

UV‐IR吸収層10がホスホン酸と銅イオンとによって形成されたUV‐IR吸収剤を含む場合、そのホスホン酸は、望ましくは、アルキル基を有する第二ホスホン酸をさらに含む。第二ホスホン酸において、アルキル基はリン原子に結合している。 When the UV-IR absorption layer 10 contains a UV-IR absorber formed by phosphonic acid and copper ions, the phosphonic acid preferably further contains a second phosphonic acid having an alkyl group. In the second phosphonic acid, the alkyl group is attached to the phosphorus atom.

第二ホスホン酸が有するアルキル基は、例えば、6個以下の炭素原子を有するアルキル基である。このアルキル基は、直鎖及び分岐鎖のいずれを有していてもよい。 The alkyl group contained in the second phosphonic acid is, for example, an alkyl group having 6 or less carbon atoms. This alkyl group may have either a straight chain or a branched chain.

UV‐IR吸収層10がホスホン酸と銅イオンとによって形成されたUV‐IR吸収剤を含む場合、UV‐IR吸収層10は、望ましくは、UV‐IR吸収剤を分散させるリン酸エステルと、マトリクス樹脂とをさらに含む。 When the UV-IR absorption layer 10 contains a UV-IR absorber formed by phosphonic acid and copper ions, the UV-IR absorption layer 10 preferably contains a phosphate ester that disperses the UV-IR absorber. Further includes a matrix resin.

UV‐IR吸収層10に含有されているリン酸エステルは、UV‐IR吸収剤を適切に分散できる限り特に制限されないが、例えば、下記式(c1)で表されるリン酸ジエステル及び下記式(c2)で表されるリン酸モノエステルの少なくとも一方を含む。下記式(c1)及び下記式(c2)において、R21、R22、及びR3は、それぞれ、−(CH2CH2O)n4で表される1価の官能基であり、nは、1〜25の整数であり、R4は、炭素数6〜25のアルキル基を示す。R21、R22、及びR3は、互いに同一又は異なる種類の官
能基である。

Figure 0006778222
The phosphoric acid ester contained in the UV-IR absorbing layer 10 is not particularly limited as long as the UV-IR absorbing agent can be appropriately dispersed. For example, the phosphoric acid diester represented by the following formula (c1) and the following formula (c1) It contains at least one of the phosphoric acid monoesters represented by c2). In the following formula (c1) and the following formula (c2), R 21 , R 22 , and R 3 are monovalent functional groups represented by − (CH 2 CH 2 O) n R 4 , respectively, and n. Is an integer of 1 to 25, and R 4 represents an alkyl group having 6 to 25 carbon atoms. R 21 , R 22 , and R 3 are functional groups of the same or different types from each other.
Figure 0006778222

リン酸エステルは、特に制限されないが、例えば、プライサーフA208N:ポリオキシエチレンアルキル(C12、C13)エーテルリン酸エステル、プライサーフA208F:ポリオキシエチレンアルキル(C8)エーテルリン酸エステル、プライサーフA208B:ポリオキシエチレンラウリルエーテルリン酸エステル、プライサーフA219B:ポリオキシエチレンラウリルエーテルリン酸エステル、プライサーフAL:ポリオキシエチレンスチレン化フェニルエーテルリン酸エステル、プライサーフA212C:ポリオキシエチレントリデシルエーテルリン酸エステル、又はプライサーフA215C:ポリオキシエチレントリデシルエーテルリン酸エステルであり得る。これらはいずれも第一工業製薬社製の製品である。また、リン酸エステルは、NIKKOL DDP−2:ポリオキシエチレンアルキルエーテルリン酸エステル、NIKKOL DDP−4:ポリオキシエチレンアルキルエーテルリン酸エステル、又はNIKKOL DDP−6:ポリオキシエチレンアルキルエーテルリン酸エステルであり得る。これらは、いずれも日光ケミカルズ社製の製品である。 The phosphoric acid ester is not particularly limited, and for example, Prysurf A208N: polyoxyethylene alkyl (C12, C13) ether phosphoric acid ester, Plysurf A208F: polyoxyethylene alkyl (C8) ether phosphoric acid ester, Plysurf A208B: Polyoxyethylene lauryl ether phosphate, Plysurf A219B: Polyoxyethylene lauryl ether phosphate, Plysurf AL: Polyoxyethylene styrenated phenyl ether phosphate, Plysurf A212C: Polyoxyethylene tridecyl ether phosphate , Or Prysurf A215C: polyoxyethylene tridecyl ether phosphate. All of these are products manufactured by Dai-ichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd. The phosphate ester is NIKKOL DDP-2: polyoxyethylene alkyl ether phosphoric acid ester, NIKKOL DDP-4: polyoxyethylene alkyl ether phosphoric acid ester, or NIKKOL DDP-6: polyoxyethylene alkyl ether phosphoric acid ester. possible. All of these are products manufactured by Nikko Chemicals.

UV‐IR吸収層10に含まれるマトリクス樹脂は、例えば、UV‐IR吸収剤を分散
させることができ、熱硬化又は紫外線硬化が可能な樹脂である。さらに、マトリクス樹脂として、その樹脂によって0.1mmの樹脂層を形成した場合に、その樹脂層の波長350nm〜900nmに対する透過率が例えば70%以上であり、望ましくは75%以上であり、より望ましくは80%以上である樹脂を用いることができる。ホスホン酸の含有量は、例えば、マトリクス樹脂100質量部に対して3〜180質量部である。
The matrix resin contained in the UV-IR absorbing layer 10 is, for example, a resin capable of dispersing a UV-IR absorber and being heat-curable or ultraviolet-curable. Further, when a 0.1 mm resin layer is formed from the resin as the matrix resin, the transmittance of the resin layer with respect to a wavelength of 350 nm to 900 nm is, for example, 70% or more, preferably 75% or more, which is more desirable. A resin having a value of 80% or more can be used. The content of phosphonic acid is, for example, 3 to 180 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the matrix resin.

UV‐IR吸収層10に含まれるマトリクス樹脂は、上記の特性を満足する限り特に限定されないが、例えば(ポリ)オレフィン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリアミド樹脂、ポリサルホン樹脂、ポリエーテルサルホン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、(変性)アクリル樹脂、エポキシ樹脂、又はシリコーン樹脂である。マトリクス樹脂は、フェニル基等のアリール基を含んでいてもよく、望ましくはフェニル基等のアリール基を含んでいるシリコーン樹脂である。UV‐IR吸収層10が硬い(リジッドである)と、そのUV‐IR吸収層10の厚みが増すにつれて、光学フィルタ1aの製造工程中に硬化収縮によりクラックが生じやすい。マトリクス樹脂がアリール基を含むシリコーン樹脂であるとUV‐IR吸収層10が良好な耐クラック性を有しやすい。また、アリール基を含むシリコーン樹脂を用いると、上記のホスホン酸と銅イオンとによって形成されたUV‐IR吸収剤を含有する場合にUV‐IR吸収剤が凝集しにくい。さらに、UV‐IR吸収層10のマトリクス樹脂がアリール基を含むシリコーン樹脂である場合に、UV‐IR吸収層10に含まれるリン酸エステルが式(c1)又は式(c2)で表されるリン酸エステルのようにオキシアルキル基等の柔軟性を有する直鎖有機官能基を有することが望ましい。なぜなら、上記のホスホン酸と、アリール基を含むシリコーン樹脂と、オキシアルキル基等の直鎖有機官能基を有するリン酸エステルとの組合せに基づく相互作用により、UV‐IR吸収剤が凝集しにくく、かつ、UV‐IR吸収層に良好な剛性及び良好な柔軟性をもたらすことができるからである。マトリクス樹脂として使用されるシリコーン樹脂の具体例としては、KR−255、KR−300、KR−2621−1、KR−211、KR−311、KR−216、KR−212、及びKR−251を挙げることができる。これらはいずれも信越化学工業社製のシリコーン樹脂である。 The matrix resin contained in the UV-IR absorbing layer 10 is not particularly limited as long as the above characteristics are satisfied, but for example, (poly) olefin resin, polyimide resin, polyvinyl butyral resin, polycarbonate resin, polyamide resin, polysulfone resin, polyether. It is a sulfone resin, a polyamideimide resin, a (modified) acrylic resin, an epoxy resin, or a silicone resin. The matrix resin may contain an aryl group such as a phenyl group, and is preferably a silicone resin containing an aryl group such as a phenyl group. If the UV-IR absorbing layer 10 is hard (rigid), cracks are likely to occur due to curing shrinkage during the manufacturing process of the optical filter 1a as the thickness of the UV-IR absorbing layer 10 increases. When the matrix resin is a silicone resin containing an aryl group, the UV-IR absorption layer 10 tends to have good crack resistance. Further, when a silicone resin containing an aryl group is used, the UV-IR absorber is less likely to aggregate when the UV-IR absorber formed by the above phosphonic acid and copper ions is contained. Further, when the matrix resin of the UV-IR absorbing layer 10 is a silicone resin containing an aryl group, the phosphoric acid ester contained in the UV-IR absorbing layer 10 is phosphorus represented by the formula (c1) or the formula (c2). It is desirable to have a linear organic functional group having flexibility such as an oxyalkyl group such as an acid ester. This is because the UV-IR absorber is less likely to aggregate due to the interaction based on the combination of the above phosphonic acid, the silicone resin containing an aryl group, and the phosphoric acid ester having a linear organic functional group such as an oxyalkyl group. Moreover, it is possible to provide good rigidity and good flexibility to the UV-IR absorbing layer. Specific examples of the silicone resin used as the matrix resin include KR-255, KR-300, KR-2621-1, KR-211, KR-311, KR-216, KR-212, and KR-251. be able to. All of these are silicone resins manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.

図1Aに示す通り、光学フィルタ1aは、例えば透明誘電体基板20をさらに備え、透明誘電体基板20の一方の主面の少なくとも一部がUV‐IR吸収層10によって覆われている。透明誘電体基板20は、450nm〜600nmにおいて高い平均透過率(例えば、80%以上)を有する誘電体基板である限り、特に制限されない。場合によっては、透明誘電体基板20は、紫外線領域又は赤外線領域に吸収能を有していてもよい。 As shown in FIG. 1A, the optical filter 1a further includes, for example, a transparent dielectric substrate 20, and at least a part of one main surface of the transparent dielectric substrate 20 is covered with a UV-IR absorbing layer 10. The transparent dielectric substrate 20 is not particularly limited as long as it is a dielectric substrate having a high average transmittance (for example, 80% or more) in 450 nm to 600 nm. In some cases, the transparent dielectric substrate 20 may have an absorbing ability in an ultraviolet region or an infrared region.

透明誘電体基板20は、例えば、ガラス製又は樹脂製である。透明誘電体基板20がガラス製である場合、そのガラスは、例えば、D263等のホウケイ酸ガラス、ソーダ石灰ガラス(青板)、B270等の白板ガラス、無アルカリガラス、又は銅を含有しているリン酸塩ガラス若しくは銅を含有しているフツリン酸塩ガラス等の赤外線吸収性ガラスである。透明誘電体基板20が、銅を含有しているリン酸塩ガラス又は銅を含有しているフツリン酸塩ガラス等の赤外線吸収性ガラスである場合、透明誘電体基板20が有する赤外線吸収性能とUV‐IR吸収層10が有する赤外線吸収性能との組み合わせによって光学フィルタ1aに必要な赤外線吸収性能を実現できる。このため、UV‐IR吸収層10に要求される赤外線吸収性能のレベルを下げることができる。このような赤外線吸収性ガラスは、例えば、ショット社製のBG−60、BG−61、BG−62、BG−63、若しくはBG−67であり、日本電気硝子社製の500EXLであり、又はHOYA社製のCM5000、CM500、C5000、若しくはC500Sである。また、赤外線吸収性ガラスは紫外線吸収特性を有していてもよい。 The transparent dielectric substrate 20 is made of, for example, glass or resin. When the transparent dielectric substrate 20 is made of glass, the glass contains, for example, borosilicate glass such as D263, soda lime glass (blue plate), white plate glass such as B270, non-alkali glass, or copper. It is an infrared absorbing glass such as a phosphate glass or a borosilicate glass containing copper. When the transparent dielectric substrate 20 is an infrared absorbing glass such as a phosphate glass containing copper or a futh phosphate glass containing copper, the infrared absorbing performance and UV of the transparent dielectric substrate 20 -The infrared absorption performance required for the optical filter 1a can be realized by combining with the infrared absorption performance of the IR absorption layer 10. Therefore, the level of infrared absorption performance required for the UV-IR absorption layer 10 can be lowered. Such infrared absorbing glass is, for example, BG-60, BG-61, BG-62, BG-63, or BG-67 manufactured by Shot Co., Ltd., 500EXL manufactured by Nippon Denki Glass Co., Ltd., or HOYA. CM5000, CM500, C5000, or C500S manufactured by the same company. Further, the infrared absorbing glass may have an ultraviolet absorbing property.

透明誘電体基板20は、酸化マグネシウム、サファイア、又は石英などの透明性を有す
る結晶性の基板であってもよい。例えば、サファイアは高硬度であるので、傷がつきにくい。このため、板状のサファイアは、耐擦傷性の保護材料(プロテクトフィルタ)として、スマートフォン及び携帯電話等の携帯端末に備えられているカメラモジュール又はレンズの前面に配置される場合がある。このような板状のサファイア上にUV‐IR吸収層10が形成されることにより、カメラモジュール及びレンズの保護とともに、紫外線又は赤外線を遮蔽できる。これにより、紫外線又は赤外線の遮蔽性を備える光学フィルタをCCDやCMOSなどの撮像素子の周辺又はカメラモジュールの内部に配置する必要がなくなる。このため、板状のサファイア上にUV‐IR吸収層10を形成すれば、カメラモジュールの低背位化に貢献できる。
The transparent dielectric substrate 20 may be a transparent crystalline substrate such as magnesium oxide, sapphire, or quartz. For example, sapphire has a high hardness, so it is not easily scratched. Therefore, the plate-shaped sapphire may be arranged in front of a camera module or lens provided in a mobile terminal such as a smartphone or a mobile phone as a scratch-resistant protective material (protect filter). By forming the UV-IR absorbing layer 10 on such a plate-shaped sapphire, it is possible to protect the camera module and the lens and shield ultraviolet rays or infrared rays. This eliminates the need to dispose an optical filter having an ultraviolet ray or infrared ray shielding property around an image sensor such as a CCD or CMOS or inside a camera module. Therefore, if the UV-IR absorption layer 10 is formed on the plate-shaped sapphire, it can contribute to lowering the height of the camera module.

透明誘電体基板20が、樹脂製である場合、その樹脂は、例えば、(ポリ)オレフィン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリアミド樹脂、ポリサルホン樹脂、ポリエーテルサルホン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、(変性)アクリル樹脂、エポキシ樹脂、又はシリコーン樹脂である。 When the transparent dielectric substrate 20 is made of resin, the resin is, for example, (poly) olefin resin, polyimide resin, polyvinyl butyral resin, polycarbonate resin, polyamide resin, polysulfone resin, polyether sulfone resin, polyamideimide resin. , (Modified) acrylic resin, epoxy resin, or silicone resin.

図1Aに示す通り、光学フィルタ1aにおいて、例えば、UV‐IR吸収層10は、単一の層として形成されている。この場合、光学フィルタ1aの構造が簡素である。 As shown in FIG. 1A, in the optical filter 1a, for example, the UV-IR absorption layer 10 is formed as a single layer. In this case, the structure of the optical filter 1a is simple.

光学フィルタ1aは、例えば、UV‐IR吸収層10を形成するための組成物(UV‐IR吸収性組成物)を透明誘電体基板20の一方の主面に塗布して塗膜を形成し、その塗膜を乾燥させることによって製造できる。UV‐IR吸収層10が、ホスホン酸と銅イオンとによって形成されたUV‐IR吸収剤を含む場合を例に、UV‐IR吸収性組成物の調製方法及び光学フィルタ1aの製造方法を説明する。 In the optical filter 1a, for example, a composition for forming the UV-IR absorbing layer 10 (UV-IR absorbing composition) is applied to one main surface of the transparent dielectric substrate 20 to form a coating film. It can be produced by drying the coating film. A method for preparing a UV-IR absorbing composition and a method for producing an optical filter 1a will be described by taking as an example a case where the UV-IR absorbing layer 10 contains a UV-IR absorbing agent formed of phosphonic acid and copper ions. ..

まず、UV‐IR吸収性組成物の調製方法の一例を説明する。酢酸銅一水和物などの銅塩をテトラヒドロフラン(THF)などの所定の溶媒に添加して撹拌し、銅塩の溶液を得る。次に、この銅塩の溶液に、式(c1)で表されるリン酸ジエステル又は式(c2)で表されるリン酸モノエステルなどのリン酸エステル化合物を加えて撹拌し、A液を調製する。また、第一ホスホン酸をTHFなどの所定の溶媒に加えて撹拌し、B液を調製する。第一ホスホン酸として複数種類のホスホン酸を用いる場合、ホスホン酸をTHFなどの所定の溶媒に加えたうえで撹拌して、ホスホン酸の種類ごとに調製した複数の予備液を混合してB液を調製してもよい。望ましくは、B液の調製においてアルコキシシランモノマーが加えられる。 First, an example of a method for preparing a UV-IR absorbent composition will be described. A copper salt such as copper acetate monohydrate is added to a predetermined solvent such as tetrahydrofuran (THF) and stirred to obtain a solution of the copper salt. Next, a phosphoric acid ester compound such as a phosphoric acid diester represented by the formula (c1) or a phosphoric acid monoester represented by the formula (c2) is added to the solution of the copper salt and stirred to prepare a solution A. To do. Further, the first phosphonic acid is added to a predetermined solvent such as THF and stirred to prepare solution B. When a plurality of types of phosphonic acids are used as the primary phosphonic acid, the phosphonic acid is added to a predetermined solvent such as THF and then stirred, and a plurality of preliminary solutions prepared for each type of phosphonic acid are mixed and the solution B is used. May be prepared. Desirably, an alkoxysilane monomer is added in the preparation of Liquid B.

UV‐IR吸収性組成物にアルコキシシランモノマーが加えられると、UV‐IR吸収剤の粒子同士が凝集することを防止できるので、リン酸エステルの含有量を低減しても、UV‐IR吸収性組成物においてUV‐IR吸収剤が良好に分散する。また、UV‐IR吸収性組成物を用いて光学フィルタ1aを製造する場合に、アルコキシシランモノマーの加水分解反応及び縮重合反応が十分に起こるように処理することにより、シロキサン結合(−Si−O−Si−)が形成され、光学フィルタ1aが良好な耐湿性を有する。加えて、光学フィルタ1aが良好な耐熱性を有する。なぜなら、シロキサン結合は、−C−C−結合及び−C−O−結合等の結合よりも結合エネルギーが高く化学的に安定しており、耐熱性及び耐湿性に優れているからである。 When the alkoxysilane monomer is added to the UV-IR absorbent composition, it is possible to prevent the particles of the UV-IR absorbent from aggregating with each other. Therefore, even if the content of the phosphoric acid ester is reduced, the UV-IR absorbent is absorbed. The UV-IR absorber disperses well in the composition. Further, when the optical filter 1a is produced using the UV-IR absorbing composition, a siloxane bond (-Si-O) is formed by treating the optical silane monomer so that the hydrolysis reaction and the polycondensation reaction sufficiently occur. −Si−) is formed, and the optical filter 1a has good moisture resistance. In addition, the optical filter 1a has good heat resistance. This is because the siloxane bond has a higher bond energy than bonds such as -C-C- bond and -C-O- bond, is chemically stable, and is excellent in heat resistance and moisture resistance.

次に、A液を撹拌しながら、A液にB液を加えて所定時間撹拌する。次に、この溶液にトルエンなどの所定の溶媒を加えて撹拌し、C液を得る。次に、C液を加温しながら所定時間脱溶媒処理を行って、D液を得る。これにより、THFなどの溶媒及び酢酸(沸点:約118℃)などの銅塩の解離により発生する成分が除去され、第一ホスホン酸と銅イオンとによってUV‐IR吸収剤が生成される。C液を加温する温度は、銅塩から解離した除去されるべき成分の沸点に基づいて定められている。なお、脱溶媒処理においては、C
液を得るために用いたトルエン(沸点:約110℃)などの溶媒も揮発する。この溶媒は、UV‐IR吸収性組成物においてある程度残留していることが望ましいので、この観点から溶媒の添加量及び脱溶媒処理の時間が定められているとよい。なお、C液を得るためにトルエンに代えてo‐キシレン(沸点:約144℃)を用いることもできる。この場合、o‐キシレンの沸点はトルエンの沸点よりも高いので、添加量をトルエンの添加量の4分の1程度に低減できる。
Next, while stirring the solution A, the solution B is added to the solution A and stirred for a predetermined time. Next, a predetermined solvent such as toluene is added to this solution and stirred to obtain a solution C. Next, the solution C is heated and desolvated for a predetermined time to obtain the solution D. As a result, components generated by dissociation of a solvent such as THF and a copper salt such as acetic acid (boiling point: about 118 ° C.) are removed, and a UV-IR absorber is produced by the primary phosphonic acid and copper ions. The temperature at which the liquid C is heated is determined based on the boiling point of the component to be removed dissociated from the copper salt. In the desolvation treatment, C
Solvents such as toluene (boiling point: about 110 ° C.) used to obtain the liquid also volatilize. Since it is desirable that this solvent remains to some extent in the UV-IR absorbent composition, it is preferable that the amount of the solvent added and the time of the desolvent treatment are determined from this viewpoint. In addition, o-xylene (boiling point: about 144 ° C.) can be used instead of toluene to obtain the C solution. In this case, since the boiling point of o-xylene is higher than the boiling point of toluene, the amount of addition can be reduced to about one-fourth of the amount of toluene added.

UV‐IR吸収性組成物が第二ホスホン酸をさらに含んでいる場合、例えば、以下のようにしてH液がさらに調製される。まず、酢酸銅一水和物などの銅塩をテトラヒドロフラン(THF)などの所定の溶媒に添加して撹拌し、銅塩の溶液を得る。次に、この銅塩の溶液に、式(c1)で表されるリン酸ジエステル又は式(c2)で表されるリン酸モノエステルなどのリン酸エステル化合物を加えて撹拌し、E液を調製する。また、第二ホスホン酸をTHFなどの所定の溶媒に加えて撹拌し、F液を調製する。第二ホスホン酸として複数種類のホスホン酸を用いる場合、第二ホスホン酸をTHFなどの所定の溶媒に加えたうえで撹拌して第二ホスホン酸の種類ごとに調製した複数の予備液を混合してF液を調製してもよい。E液を撹拌しながら、E液にF液を加えて所定時間撹拌する。次に、この溶液にトルエンなどの所定の溶媒を加えて撹拌し、G液を得る。次に、G液を加温しながら所定時間脱溶媒処理を行って、H液を得る。これにより、THFなどの溶媒及び酢酸などの銅塩の解離により発生する成分が除去され、第二ホスホン酸と銅イオンとによって別のUV‐IR吸収剤が生成される。G液を加温する温度はC液と同様に決定され、G液を得るための溶媒もC液と同様に決定される。 When the UV-IR absorbing composition further contains a secondary phosphonic acid, the H solution is further prepared, for example, as follows. First, a copper salt such as copper acetate monohydrate is added to a predetermined solvent such as tetrahydrofuran (THF) and stirred to obtain a solution of the copper salt. Next, a phosphoric acid ester compound such as a phosphoric acid diester represented by the formula (c1) or a phosphoric acid monoester represented by the formula (c2) is added to the solution of the copper salt and stirred to prepare a liquid E. To do. Further, the second phosphonic acid is added to a predetermined solvent such as THF and stirred to prepare a liquid F. When multiple types of phosphonic acid are used as the secondary phosphonic acid, the secondary phosphonic acid is added to a predetermined solvent such as THF and then stirred to mix a plurality of preliminary solutions prepared for each type of secondary phosphonic acid. F solution may be prepared. While stirring the E solution, the F solution is added to the E solution and stirred for a predetermined time. Next, a predetermined solvent such as toluene is added to this solution and stirred to obtain a G solution. Next, the solvent removal treatment is performed for a predetermined time while heating the G solution to obtain the H solution. As a result, the components generated by the dissociation of the solvent such as THF and the copper salt such as acetic acid are removed, and another UV-IR absorber is produced by the secondary phosphonic acid and the copper ion. The temperature at which the G solution is heated is determined in the same manner as in the C solution, and the solvent for obtaining the G solution is also determined in the same manner as in the C solution.

D液にシリコーン樹脂等のマトリクス樹脂を加えて撹拌してUV‐IR吸収性組成物を調製できる。また、UV‐IR吸収性組成物が第二ホスホン酸と銅イオンとによって形成されたUV‐IR吸収剤を含有している場合、D液にシリコーン樹脂等のマトリクス樹脂を加えて撹拌して得られたI液に、さらにH液を加えて撹拌することにより、UV‐IR吸収性組成物を調製できる。 A UV-IR absorbent composition can be prepared by adding a matrix resin such as a silicone resin to the liquid D and stirring the mixture. When the UV-IR absorbent composition contains a UV-IR absorber formed by a second phosphonic acid and copper ions, a matrix resin such as a silicone resin is added to the D solution and stirred. A UV-IR absorbing composition can be prepared by further adding solution H to the solution I and stirring the mixture.

UV‐IR吸収性組成物を透明誘電体基板20の一方の主面に塗布して塗膜を形成する。例えば、液状のUV‐IR吸収性組成物をスピンコーティング又はディスペンサによる塗布により、透明誘電体基板20の一方の主面に塗布して塗膜を形成する。次に、この塗膜に対して所定の加熱処理を行って塗膜を硬化させる。例えば、50℃〜200℃の温度の環境にこの塗膜を曝す。必要に応じて、UV‐IR吸収性組成物に含有されているアルコキシシランモノマーを十分に加水分解させるために塗膜に加湿処理を施す。例えば、40℃〜100℃の温度及び40%〜100%の相対湿度の環境に硬化後の塗膜を曝す。これにより、シロキサン結合のくり返し構造(Si−O)nが形成される。このようにして、
光学フィルタ1aを製造できる。なお、一般的にはモノマーを含むアルコキシシランの加水分解及び縮重合反応においては、アルコキシシランと水とを液状組成物内に併存させてこれらの反応を行わせる場合がある。しかし、光学フィルタを作製するときに予めUV‐IR吸収性組成物に水を添加しておくと、UV‐IR吸収層の形成の過程でリン酸エステル又はUV‐IR吸収剤が劣化してしまい、UV‐IR吸収性能が低下したり、光学フィルタの耐久性を損ねたりする可能性がある。このため、所定の加熱処理により塗膜を硬化させた後に加湿処理を行うことが望ましい。
The UV-IR absorbent composition is applied to one main surface of the transparent dielectric substrate 20 to form a coating film. For example, a liquid UV-IR absorbent composition is applied to one main surface of the transparent dielectric substrate 20 by spin coating or application with a dispenser to form a coating film. Next, the coating film is subjected to a predetermined heat treatment to cure the coating film. For example, the coating film is exposed to an environment having a temperature of 50 ° C. to 200 ° C. If necessary, the coating film is humidified in order to sufficiently hydrolyze the alkoxysilane monomer contained in the UV-IR absorbent composition. For example, the cured coating film is exposed to an environment having a temperature of 40 ° C. to 100 ° C. and a relative humidity of 40% to 100%. As a result, a repeating structure (Si—O) n of siloxane bond is formed. In this way
The optical filter 1a can be manufactured. Generally, in the hydrolysis and contraction reaction of alkoxysilane containing a monomer, alkoxysilane and water may coexist in the liquid composition to carry out these reactions. However, if water is added to the UV-IR absorbing composition in advance when the optical filter is manufactured, the phosphate ester or UV-IR absorber deteriorates in the process of forming the UV-IR absorbing layer. , UV-IR absorption performance may be reduced and the durability of the optical filter may be impaired. Therefore, it is desirable to perform the humidification treatment after curing the coating film by a predetermined heat treatment.

透明誘電体基板20がガラス基板である場合、透明誘電体基板20とUV‐IR吸収層10との付着性を向上させるために、シランカップリング剤を含む樹脂層を透明誘電体基板20とUV‐IR吸収層10との間に形成してもよい。 When the transparent dielectric substrate 20 is a glass substrate, in order to improve the adhesiveness between the transparent dielectric substrate 20 and the UV-IR absorption layer 10, a resin layer containing a silane coupling agent is added to the transparent dielectric substrate 20 and UV. -May be formed between the IR absorption layer 10.

<変形例>
光学フィルタ1aは、様々な観点から変更可能である。例えば、光学フィルタ1aは、
図1B〜図1Fに示す光学フィルタ1b〜1fにそれぞれ変更されてもよい。光学フィルタ1b〜1fは、特に説明する場合を除き、光学フィルタ1aと同様に構成されている。光学フィルタ1aの構成要素と同一又は対応する光学フィルタ1b〜1fの構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。光学フィルタ1aに関する説明は、技術的に矛盾しない限り光学フィルタ1b〜1fにも当てはまる。
<Modification example>
The optical filter 1a can be changed from various viewpoints. For example, the optical filter 1a
The optical filters 1b to 1f shown in FIGS. 1B to 1F may be changed, respectively. The optical filters 1b to 1f are configured in the same manner as the optical filters 1a, unless otherwise specified. The components of the optical filters 1b to 1f that are the same as or correspond to the components of the optical filter 1a are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. The description of the optical filter 1a also applies to the optical filters 1b to 1f unless technically inconsistent.

図1Bに示す通り、本発明の別の一例に係る光学フィルタ1bは、透明誘電体基板20の両方の主面上にUV‐IR吸収層10が形成されている。これにより、1つのUV‐IR吸収層10によってではなく、2つのUV‐IR吸収層10によって、光学フィルタ1bが上記の(i)〜(v)の光学性能を発揮できる。透明誘電体基板20の両方の主面上におけるUV‐IR吸収層10の厚みは同一であってもよいし、異なっていてもよい。すなわち、光学フィルタ1bが所望の光学特性を得るために必要なUV‐IR吸収層10の厚みが均等に又は不均等に分配されるように、透明誘電体基板20の両方の主面上にUV‐IR吸収層10が形成されている。これにより、透明誘電体基板20の両方の主面上に形成された各UV‐IR吸収層10の厚みが比較的小さい。これにより、塗膜の内部圧力が低くクラックの発生を防止できる。また、液状のUV‐IR吸収性組成物を塗布する時間を短縮でき、UV‐IR吸収性組成物の塗膜を硬化させるための時間を短縮できる。透明誘電体基板20が薄い場合、透明誘電体基板20の一方の主面上のみにUV‐IR吸収層10を形成すると、UV‐IR吸収性組成物からUV‐IR吸収層10を形成する場合に生じる収縮に伴う応力によって、光学フィルタが反る可能性がある。しかし、透明誘電体基板20の両方の主面上にUV‐IR吸収層10が形成されていることにより、透明誘電体基板20が薄い場合でも、光学フィルタ1bにおいて反りが抑制される。この場合も、透明誘電体基板20とUV‐IR吸収層10との付着性を向上させるために、シランカップリング剤を含む樹脂層を透明誘電体基板20とUV‐IR吸収層10との間に形成してもよい。 As shown in FIG. 1B, in the optical filter 1b according to another example of the present invention, the UV-IR absorption layer 10 is formed on both main surfaces of the transparent dielectric substrate 20. As a result, the optical filter 1b can exhibit the above-mentioned optical performances (i) to (v) not by one UV-IR absorbing layer 10 but by two UV-IR absorbing layers 10. The thickness of the UV-IR absorbing layer 10 on both main surfaces of the transparent dielectric substrate 20 may be the same or different. That is, UV on both main surfaces of the transparent dielectric substrate 20 so that the thickness of the UV-IR absorbing layer 10 required for the optical filter 1b to obtain the desired optical properties is evenly or unevenly distributed. -The IR absorption layer 10 is formed. As a result, the thickness of each UV-IR absorbing layer 10 formed on both main surfaces of the transparent dielectric substrate 20 is relatively small. As a result, the internal pressure of the coating film is low and the occurrence of cracks can be prevented. Further, the time for applying the liquid UV-IR absorbing composition can be shortened, and the time for curing the coating film of the UV-IR absorbing composition can be shortened. When the transparent dielectric substrate 20 is thin, when the UV-IR absorbing layer 10 is formed only on one main surface of the transparent dielectric substrate 20, the UV-IR absorbing layer 10 is formed from the UV-IR absorbing composition. The optical filter may warp due to the stress associated with the shrinkage that occurs in. However, since the UV-IR absorption layers 10 are formed on both main surfaces of the transparent dielectric substrate 20, warpage is suppressed in the optical filter 1b even when the transparent dielectric substrate 20 is thin. Also in this case, in order to improve the adhesion between the transparent dielectric substrate 20 and the UV-IR absorbing layer 10, a resin layer containing a silane coupling agent is placed between the transparent dielectric substrate 20 and the UV-IR absorbing layer 10. May be formed in.

図1Cに示す通り、本発明の別の一例に係る光学フィルタ1cは、反射防止膜30を備えている。反射防止膜30は、光学フィルタ1cと空気との界面をなすように形成された、可視光領域の光の反射を低減するための膜である。反射防止膜30は、例えば、樹脂、酸化物、及びフッ化物等の誘電体によって形成された膜である。反射防止膜30は、屈折率の異なる二種類以上の誘電体を積層して形成された多層膜であってもよい。特に、反射防止膜30は、SiO2等の低屈折率材料とTiO2又はTa25等の高屈折率材料とからなる誘電体多層膜であってもよい。この場合、光学フィルタ1cと空気との界面におけるフレネル反射が低減され、光学フィルタ1cの可視光領域の光量を増大させることができる。この場合も、透明誘電体基板20とUV‐IR吸収層10との付着性を向上させるために、シランカップリング剤を含む樹脂層を透明誘電体基板20とUV‐IR吸収層10との間に形成してもよい。場合によっては、反射防止膜30の付着性を向上させるために、シランカップリング剤を含む樹脂層をUV‐IR吸収層10と反射防止膜30との間に形成してもよい。反射防止膜30は、光学フィルタ1cの両方の主面に配置されていてもよいし、片方の主面にのみ配置されていてもよい。 As shown in FIG. 1C, the optical filter 1c according to another example of the present invention includes an antireflection film 30. The antireflection film 30 is a film formed so as to form an interface between the optical filter 1c and air to reduce the reflection of light in the visible light region. The antireflection film 30 is a film formed of a dielectric material such as a resin, an oxide, and a fluoride. The antireflection film 30 may be a multilayer film formed by laminating two or more types of dielectrics having different refractive indexes. In particular, the antireflection film 30 may be a dielectric multilayer film composed of a low refractive index material such as SiO 2 and a high refractive index material such as TiO 2 or Ta 2 O 5 . In this case, Fresnel reflection at the interface between the optical filter 1c and air is reduced, and the amount of light in the visible light region of the optical filter 1c can be increased. Also in this case, in order to improve the adhesion between the transparent dielectric substrate 20 and the UV-IR absorbing layer 10, a resin layer containing a silane coupling agent is placed between the transparent dielectric substrate 20 and the UV-IR absorbing layer 10. May be formed in. In some cases, in order to improve the adhesiveness of the antireflection film 30, a resin layer containing a silane coupling agent may be formed between the UV-IR absorption layer 10 and the antireflection film 30. The antireflection film 30 may be arranged on both main surfaces of the optical filter 1c, or may be arranged only on one main surface.

図1Dに示す通り、本発明の別の一例に係る光学フィルタ1dは、UV‐IR吸収層10のみによって構成されている。光学フィルタ1dは、例えば、ガラス基板、樹脂基板、金属基板(例えば、スチール基板又はステンレス基板)等の所定の基板にUV‐IR吸収性組成物を塗布して塗膜を形成し、この塗膜を硬化させた後に基板から剥離させることによって製造できる。光学フィルタ1dは、溶融成形法によって製造されてもよい。光学フィルタ1dは、透明誘電体基板20を備えていないので薄い。このため、光学フィルタ1dは、撮像素子及び光学系の低背位化に貢献できる。 As shown in FIG. 1D, the optical filter 1d according to another example of the present invention is composed of only the UV-IR absorption layer 10. The optical filter 1d is formed by applying a UV-IR absorbing composition to a predetermined substrate such as a glass substrate, a resin substrate, a metal substrate (for example, a steel substrate or a stainless steel substrate) to form a coating film, and the coating film is formed. Can be manufactured by peeling from the substrate after curing. The optical filter 1d may be manufactured by a melt molding method. The optical filter 1d is thin because it does not include the transparent dielectric substrate 20. Therefore, the optical filter 1d can contribute to lowering the profile of the image sensor and the optical system.

図1Eに示す通り、本発明の別の一例に係る光学フィルタ1eは、UV‐IR吸収層1
0と、その両面に配置された一対の反射防止膜30とを備えている。この場合、光学フィルタ1eは、撮像素子及び光学系の低背位化に貢献でき、かつ、光学フィルタ1dに比べて可視光領域の光量を増大させることができる。
As shown in FIG. 1E, the optical filter 1e according to another example of the present invention is the UV-IR absorption layer 1.
0 and a pair of antireflection films 30 arranged on both sides thereof are provided. In this case, the optical filter 1e can contribute to lowering the height of the image sensor and the optical system, and can increase the amount of light in the visible light region as compared with the optical filter 1d.

図1Fに示す通り、本発明の別の一例に係る光学フィルタ1fは、UV‐IR吸収層10と、その一方の主面に配置された、赤外線及び/又は紫外線を反射する反射膜40とを備えている。反射膜40は、例えば、アルミニウム等の金属を蒸着することにより形成された膜、又は、高屈折率材料からなる層と低屈折率材料からなる層とが交互に積層された誘電体多層膜である。高屈折率材料としてはTiO2、ZrO2、Ta25、Nb25、ZnO、及びIn23等の1.7〜2.5の屈折率を有する材料が用いられる。低屈折率材料としては、SiO2、Al23、及びMgF2等の1.2〜1.6の屈折率を有する材料が用いられる。誘電体多層膜を形成する方法は、例えば、化学気相成長(CVD)法、スパッタ法、又は真空蒸着法である。また、このような反射膜が光学フィルタの両方の主面をなすように形成されてもよい(図示省略)。光学フィルタの両方の主面に反射膜が形成されていると、光学フィルタの表裏両面で応力がバランスし、光学フィルタが反りにくいというメリットが得られる。 As shown in FIG. 1F, the optical filter 1f according to another example of the present invention comprises a UV-IR absorbing layer 10 and a reflective film 40 that reflects infrared rays and / or ultraviolet rays arranged on one of the main surfaces thereof. I have. The reflective film 40 is, for example, a film formed by depositing a metal such as aluminum, or a dielectric multilayer film in which layers made of a high refractive index material and layers made of a low refractive index material are alternately laminated. is there. As the high refractive index material, a material having a refractive index of 1.7 to 2.5 such as TiO 2 , ZrO 2 , Ta 2 O 5 , Nb 2 O 5 , ZnO, and In 2 O 3 is used. As the low refractive index material, a material having a refractive index of 1.2 to 1.6 such as SiO 2 , Al 2 O 3 , and Mg F 2 is used. The method for forming the dielectric multilayer film is, for example, a chemical vapor deposition (CVD) method, a sputtering method, or a vacuum vapor deposition method. Further, such a reflective film may be formed so as to form both main surfaces of the optical filter (not shown). When the reflective film is formed on both main surfaces of the optical filter, the stress is balanced on both the front and back surfaces of the optical filter, and there is an advantage that the optical filter is less likely to warp.

光学フィルタ1a〜1fは、それぞれ、必要に応じて、UV‐IR吸収層10とは別に、赤外線吸収膜(図示省略)を備えるように変更されてもよい。赤外線吸収膜は、例えば、シアニン系、フタロシアニン系、スクアリリウム系、ジインモニウム系、及びアゾ系等の有機系の赤外線吸収剤又は金属錯体からなる赤外線吸収剤を含有している。赤外線吸収膜は、例えば、これらの赤外線吸収剤から選ばれる1つ又は複数の赤外線吸収剤を含有している。この有機系の赤外線吸収剤は、吸収可能な光の波長範囲(吸収バンド)が小さく、特定の範囲の波長の光を吸収するのに適している。 The optical filters 1a to 1f may be modified to include an infrared absorbing film (not shown) separately from the UV-IR absorbing layer 10, if necessary. The infrared absorbing film contains, for example, an organic infrared absorber such as cyanine-based, phthalocyanine-based, squarylium-based, diimmonium-based, and azo-based infrared absorbers or an infrared absorber composed of a metal complex. The infrared absorber film contains, for example, one or more infrared absorbers selected from these infrared absorbers. This organic infrared absorber has a small wavelength range (absorption band) of light that can be absorbed, and is suitable for absorbing light having a wavelength in a specific range.

光学フィルタ1a〜1fは、それぞれ、必要に応じて、UV‐IR吸収層10とは別に、紫外線吸収膜(図示省略)を備えるように変更されてもよい。紫外線吸収膜は、例えば、ベンゾフェノン系、トリアジン系、インドール系、メロシアニン系、及びオキサゾール系等の紫外線吸収剤を含有している。紫外線吸収膜は、例えば、これらの紫外線吸収剤から選ばれる1つ又は複数の紫外線吸収剤を含有している。これらの紫外線吸収剤は、例えば300nm〜340nm付近の紫外線を吸収し、吸収した波長よりも長い波長の光(蛍光)を発し、蛍光剤又は蛍光増白剤として機能するものも含まれうるが、紫外線吸収膜により、樹脂等の光学フィルタに使用されている材料の劣化をもたらす紫外線の入射を低減できる。 Each of the optical filters 1a to 1f may be modified to include an ultraviolet absorbing film (not shown) in addition to the UV-IR absorbing layer 10, if necessary. The UV absorbing film contains, for example, a benzophenone-based, triazine-based, indole-based, merocyanine-based, and oxazole-based UV absorber. The UV absorbing film contains, for example, one or more UV absorbers selected from these UV absorbers. These ultraviolet absorbers may include those that absorb ultraviolet rays in the vicinity of, for example, 300 nm to 340 nm, emit light (fluorescence) having a wavelength longer than the absorbed wavelength, and function as a fluorescent agent or a fluorescent whitening agent. The ultraviolet absorbing film can reduce the incident of ultraviolet rays that cause deterioration of the material used for the optical filter such as resin.

上記の赤外線吸収剤又は紫外線吸収剤は、樹脂製の透明誘電体基板20に予め含有させてもよい。赤外線吸収膜や紫外線吸収膜は、例えば、赤外線吸収剤又は紫外線吸収剤を含有している樹脂を成膜することによって形成できる。この場合、樹脂は、赤外線吸収剤又は紫外線吸収剤を適切に溶解又は分散させることができ、かつ、透明であることが必要である。このような樹脂として、(ポリ)オレフィン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリアミド樹脂、ポリサルホン樹脂、ポリエーテルサルホン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、(変性)アクリル樹脂、エポキシ樹脂、及びシリコーン樹脂を例示できる。 The above-mentioned infrared absorber or ultraviolet absorber may be contained in the transparent dielectric substrate 20 made of resin in advance. The infrared absorbing film or the ultraviolet absorbing film can be formed, for example, by forming a film containing an infrared absorbing agent or an ultraviolet absorbing agent. In this case, the resin needs to be able to appropriately dissolve or disperse the infrared absorber or the ultraviolet absorber, and to be transparent. Such resins include (poly) olefin resin, polyimide resin, polyvinyl butyral resin, polycarbonate resin, polyamide resin, polysulfone resin, polyether sulfone resin, polyamideimide resin, (modified) acrylic resin, epoxy resin, and silicone resin. Can be exemplified.

光学フィルタ1a〜1fは、それぞれ、必要に応じて、赤外線及び/又は紫外線を反射する反射膜をさらに備えるように変更されてもよい。このような反射膜としては、例えば、アルミニウム等の金属を蒸着することにより形成された膜、又は、高屈折率材料からなる層と低屈折率材料からなる層とが交互に積層された誘電体多層膜を用いることができる。このような反射膜は光学フィルタの両方の主面をなすように形成されてもよく、光学フィルタの片方の主面をなすように形成されてもよい。前者のように反射膜が形成されてい
ると、光学フィルタの表裏両面で応力がバランスし、光学フィルタが反りにくい。反射膜が誘電体多層膜である場合、例えば、高屈折率材料としてはTiO2、ZrO2、Ta25、Nb25、ZnO、及びIn23等の1.7〜2.5の屈折率を有する材料が用いられ、低屈折率材料としてはSiO2、Al23、及びMgF2等の1.2〜1.6の屈折率を有する材料が用いられる。誘電体多層膜を形成する方法は、例えば、化学気相成長(CVD)法、スパッタ法、又は真空蒸着法である。
The optical filters 1a to 1f may be modified to further include a reflective film that reflects infrared rays and / or ultraviolet rays, if necessary. As such a reflective film, for example, a film formed by depositing a metal such as aluminum, or a dielectric in which layers made of a high refractive index material and layers made of a low refractive index material are alternately laminated. A multilayer film can be used. Such a reflective film may be formed so as to form both main surfaces of the optical filter, or may be formed so as to form one main surface of the optical filter. When the reflective film is formed as in the former case, the stress is balanced on both the front and back sides of the optical filter, and the optical filter is less likely to warp. When the reflective film is a dielectric multilayer film, for example, 1.7 to 2. High refractive index materials such as TiO 2 , ZrO 2 , Ta 2 O 5 , Nb 2 O 5 , ZnO, and In 2 O 3 . A material having a refractive index of 5 is used, and as a low refractive index material, a material having a refractive index of 1.2 to 1.6 such as SiO 2 , Al 2 O 3 , and Mg F 2 is used. The method for forming the dielectric multilayer film is, for example, a chemical vapor phase growth (CVD) method, a sputtering method, or a vacuum vapor deposition method.

光学フィルタ1a〜1fは、例えば、撮像装置における撮像素子の分光感度を人間の視感度に近づけるために、撮像装置の内部のCCD又はCMOS等の撮像素子の前面(被写体に近い側)に配置される。 The optical filters 1a to 1f are arranged on the front surface (closer to the subject) of the image pickup device such as CCD or CMOS inside the image pickup device, for example, in order to bring the spectral sensitivity of the image pickup device in the image pickup device closer to the human visual sensitivity. To.

また、図2に示す通り、例えば、光学フィルタ1aを用いたカメラモジュール100を提供できる。カメラモジュール100は、光学フィルタ1aに加え、例えば、レンズ系2、ローパスフィルタ3、撮像素子4、回路基板5、光学フィルタ支持筐体7、及び光学系筐体8を備えている。光学フィルタ1aの周縁は、例えば、光学フィルタ支持筐体7の中央に形成された開口に接する環状の凹部に嵌められている。光学フィルタ支持筐体7は、光学系筐体8に固定されている。光学系筐体8の内部には、レンズ系2、ローパスフィルタ3、及び撮像素子4が光軸に沿ってこの順番で配置されている。撮像素子4は、例えば、CCD又はCMOSである。被写体からの光は、光学フィルタ1aによって、紫外線及び赤外線がカットされた後、レンズ系2によって集光され、さらにローパスフィルタ3を通過して撮像素子4に入る。撮像素子4によって生成された電気信号は回路基板5によってカメラモジュール100の外部に送られる。 Further, as shown in FIG. 2, for example, a camera module 100 using an optical filter 1a can be provided. In addition to the optical filter 1a, the camera module 100 includes, for example, a lens system 2, a low-pass filter 3, an image pickup element 4, a circuit board 5, an optical filter support housing 7, and an optical system housing 8. The peripheral edge of the optical filter 1a is fitted, for example, in an annular recess in contact with an opening formed in the center of the optical filter support housing 7. The optical filter support housing 7 is fixed to the optical system housing 8. Inside the optical system housing 8, the lens system 2, the low-pass filter 3, and the image sensor 4 are arranged in this order along the optical axis. The image sensor 4 is, for example, CCD or CMOS. The light from the subject is collected by the lens system 2 after the ultraviolet rays and infrared rays are cut by the optical filter 1a, and further passes through the low-pass filter 3 and enters the image sensor 4. The electric signal generated by the image sensor 4 is sent to the outside of the camera module 100 by the circuit board 5.

カメラモジュール100において、光学フィルタ1aはレンズ系2を保護するカバー(プロテクトフィルタ)としての機能も果たしている。この場合、望ましくは、光学フィルタ1aにおける透明誘電体基板20としてサファイア基板が使用される。サファイア基板は高い耐擦傷性を有するので、例えばサファイア基板が外側(撮像素子4の側とは反対側)に配置されることが望ましい。これにより、光学フィルタ1aは、外部からの接触等に対して高い耐擦傷性を有するとともに上記(i)〜(v)の光学性能(望ましくはさらに(vi)〜(xiii)の光学性能)を有する。これにより、撮像素子4の近くに赤外線又は紫外線をカットするための光学フィルタを配置する必要がなくなり、カメラモジュール100を低背位化しやすい。なお、図2に示すカメラモジュール100は、各部品の配置等を例示するための概略図であり、光学フィルタ1aがプロテクトフィルタとして用いられる態様を説明するものである。光学フィルタ1aがプロテクトフィルタとしての機能を果たす限り、光学フィルタ1aを用いたカメラモジュールは、図2で表したものに限定されず、必要に応じて、ローパスフィルタ3は省略されてもよいし、他のフィルタを備えていてもよい。 In the camera module 100, the optical filter 1a also functions as a cover (protection filter) for protecting the lens system 2. In this case, preferably, a sapphire substrate is used as the transparent dielectric substrate 20 in the optical filter 1a. Since the sapphire substrate has high scratch resistance, it is desirable that the sapphire substrate is arranged on the outside (the side opposite to the side of the image sensor 4), for example. As a result, the optical filter 1a has high scratch resistance against contact from the outside and the like, and at the same time, the optical performances (i) to (v) (preferably, the optical performances of (vi) to (xiii)) are improved. Have. As a result, it is not necessary to arrange an optical filter for cutting infrared rays or ultraviolet rays near the image sensor 4, and the camera module 100 can be easily lowered. The camera module 100 shown in FIG. 2 is a schematic view for exemplifying the arrangement and the like of each component, and describes an embodiment in which the optical filter 1a is used as a protect filter. As long as the optical filter 1a functions as a protect filter, the camera module using the optical filter 1a is not limited to the one shown in FIG. 2, and the low-pass filter 3 may be omitted if necessary. Other filters may be provided.

実施例により、本発明をより詳細に説明する。なお、本発明は以下の実施例に限定されない。まず、実施例及び比較例に係る光学フィルタの評価方法を説明する。 The present invention will be described in more detail by way of examples. The present invention is not limited to the following examples. First, an evaluation method of an optical filter according to an example and a comparative example will be described.

<光学フィルタの透過率スペクトル測定>
波長300nm〜1200nmの光を実施例及び比較例に係る光学フィルタに入射させたときの透過率スペクトルを、紫外線可視分光光度計(日本分光社製、製品名:V−670)を用いて測定した。光学フィルタに対する入射光の入射角度を0°から65°まで5°刻みで変化させてそれぞれの角度における透過率スペクトルを測定した。
<Measurement of transmittance spectrum of optical filter>
The transmittance spectrum when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm was incident on the optical filters according to Examples and Comparative Examples was measured using an ultraviolet visible spectrophotometer (manufactured by JASCO Corporation, product name: V-670). .. The angle of incidence of the incident light on the optical filter was changed from 0 ° to 65 ° in 5 ° increments, and the transmittance spectrum at each angle was measured.

<UV‐IR吸収層の厚みの測定>
実施例及び比較例に係る光学フィルタの厚みをデジタルマイクロメータで測定した。実
施例及び比較例に係る光学フィルタのうちガラス等の透明誘電体基板を有する光学フィルタについては、デジタルマイクロメータで測定した光学フィルタの厚みからガラス基板の厚みを差し引いて光学フィルタにおけるUV‐IR吸収層の厚みを決定した。
<Measurement of UV-IR absorption layer thickness>
The thickness of the optical filter according to the examples and the comparative examples was measured with a digital micrometer. Among the optical filters according to Examples and Comparative Examples, for an optical filter having a transparent dielectric substrate such as glass, the thickness of the glass substrate is subtracted from the thickness of the optical filter measured by a digital micrometer to absorb UV-IR in the optical filter. The thickness of the layer was determined.

<実施例1>
酢酸銅一水和物((CH3COO)2Cu・H2O)1.125gとテトラヒドロフラン
(THF)60gとを混合して、3時間撹拌し酢酸銅溶液を得た。次に、得られた酢酸銅溶液に、リン酸エステル化合物であるプライサーフA208N(第一工業製薬社製)を0.412g加えて30分間撹拌し、A液を得た。フェニルホスホン酸(C65PO(OH)2)(日産化学工業社製)0.441gにTHF10gを加えて30分間撹拌し、B−
1液を得た。4‐ブロモフェニルホスホン酸(C64BrPO(OH)2)(東京化成工
業社製)0.661gにTHF10gを加えて30分間撹拌し、B−2液を得た。次に、B−1液とB−2液とを混ぜて1分間撹拌し、メチルトリエトキシシラン(MTES:CH3Si(OC253)(信越化学工業社製)1.934gとテトラエトキシシラン(TEOS:Si(OC254)(キシダ化学社製 特級)0.634gを加えてさらに1
分間撹拌し、B液を得た。A液を撹拌しながらA液にB液を加え、室温で1分間撹拌した。次に、この溶液にトルエン25gを加えた後、室温で1分間撹拌し、C液を得た。このC液をフラスコに入れてオイルバス(東京理化器械社製、型式:OSB−2100)で加温しながら、ロータリーエバポレータ(東京理化器械社製、型式:N−1110SF)によって、脱溶媒処理を行った。オイルバスの設定温度は、105℃に調整した。その後、フラスコの中から脱溶媒処理後のD液を取り出した。フェニルホスホン酸銅及び4‐ブロモフェニルホスホン酸銅を含むフェニル系ホスホン酸銅(吸収剤)の微粒子の分散液であるD液は透明であり、微粒子が良好に分散していた。
<Example 1>
1.125 g of copper acetate monohydrate ((CH 3 COO) 2 Cu · H 2 O) and 60 g of tetrahydrofuran (THF) were mixed and stirred for 3 hours to obtain a copper acetate solution. Next, 0.412 g of Prysurf A208N (manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.), which is a phosphoric acid ester compound, was added to the obtained cupric acetate solution and stirred for 30 minutes to obtain a solution A. Add 10 g of THF to 0.441 g of phenylphosphonic acid (C 6 H 5 PO (OH) 2 ) (manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.), stir for 30 minutes, and stir B-
One liquid was obtained. To 0.661 g of 4-bromophenylphosphonic acid (C 6 H 4 BrPO (OH) 2 ) (manufactured by Tokyo Kasei Kogyo Co., Ltd.), 10 g of THF was added and stirred for 30 minutes to obtain a B-2 solution. Next, the B-1 solution and the B-2 solution were mixed and stirred for 1 minute to obtain 1.934 g of methyltriethoxysilane (METES: CH 3 Si (OC 2 H 5 ) 3 ) (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.). Add 0.634 g of tetraethoxysilane (TEOS: Si (OC 2 H 5 ) 4 ) (special grade manufactured by Kishida Chemical Co., Ltd.) and add 1 more.
The mixture was stirred for 1 minute to obtain solution B. Solution B was added to solution A while stirring solution A, and the mixture was stirred at room temperature for 1 minute. Next, 25 g of toluene was added to this solution, and the mixture was stirred at room temperature for 1 minute to obtain Solution C. This liquid C is placed in a flask and heated in an oil bath (manufactured by Tokyo Rika Kikai Co., Ltd., model: OSB-2100) while being desolvated by a rotary evaporator (manufactured by Tokyo Rika Kikai Co., Ltd., model: N-1110SF). went. The set temperature of the oil bath was adjusted to 105 ° C. Then, the desolvent-treated liquid D was taken out from the flask. Liquid D, which is a dispersion of fine particles of phenyl-based copper phosphonate (absorbent) containing copper phenylphosphonate and copper 4-bromophenylphosphonate, was transparent, and the fine particles were well dispersed.

酢酸銅一水和物0.225gとTHF36gとを混合して3時間撹拌し酢酸銅溶液を得た。次に、得られた酢酸銅溶液に、リン酸エステル化合物であるプライサーフA208Nを0.129g加えて30分間撹拌し、E液を得た。また、n‐ブチルホスホン酸(C4
9PO(OH)2)(日本化学工業社製)0.144gにTHF10gを加えて30分間撹拌し、F液を得た。E液を撹拌しながらE液にF液を加え、室温で1分間撹拌した。次に、この溶液にトルエン25gを加えた後、室温で1分間撹拌し、G液を得た。このG液をフラスコに入れてオイルバスで加温しながら、ロータリーエバポレータによって、脱溶媒処理を行った。オイルバスの設定温度は、105℃に調整した。その後、フラスコの中から脱溶媒処理後のH液を取り出した。ブチルホスホン酸銅の微粒子の分散液であるH液は透明であり、微粒子が良好に分散していた。
0.225 g of copper acetate monohydrate and 36 g of THF were mixed and stirred for 3 hours to obtain a copper acetate solution. Next, 0.129 g of Plysurf A208N, which is a phosphoric acid ester compound, was added to the obtained cupric acetate solution and stirred for 30 minutes to obtain a solution E. Also, n-butylphosphonic acid (C 4)
H 9 PO (OH) 2 ) (manufactured by Nippon Kagaku Kogyo Co., Ltd.) 0.144 g was added with 10 g of THF and stirred for 30 minutes to obtain a liquid F. Solution F was added to solution E while stirring solution E, and the mixture was stirred at room temperature for 1 minute. Next, 25 g of toluene was added to this solution, and the mixture was stirred at room temperature for 1 minute to obtain a G solution. This G solution was placed in a flask and heated in an oil bath while being desolvated by a rotary evaporator. The set temperature of the oil bath was adjusted to 105 ° C. Then, the desolvent-treated H solution was taken out from the flask. Liquid H, which is a dispersion of fine particles of copper butylphosphonate, was transparent, and the fine particles were well dispersed.

D液にシリコーン樹脂(信越化学工業社製、製品名:KR−300)を2.200g添加し30分間撹拌して、I液を得た。H液をI液に加えて30分間撹拌し、実施例1に係るUV‐IR吸収性組成物(J液)を得た。実施例1に係るUV‐IR吸収性組成物(J液)について、各成分の質量基準の含有量を表1に示し、各成分の物質量基準の含有量及び各ホスホン酸の物質量基準の含有率を表2に示す。各ホスホン酸の含有率は、小数第2位を四捨五入して求めているため、合計が100mol%にならない場合がある。 2.200 g of silicone resin (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., product name: KR-300) was added to solution D and stirred for 30 minutes to obtain solution I. Solution H was added to solution I and stirred for 30 minutes to obtain the UV-IR absorbent composition (solution J) according to Example 1. Regarding the UV-IR absorbent composition (Liquid J) according to Example 1, the mass-based content of each component is shown in Table 1, and the content of each component based on the substance amount and the content of each phosphonic acid based on the substance amount are shown in Table 1. The content rate is shown in Table 2. Since the content of each phosphonic acid is obtained by rounding off the second decimal place, the total may not be 100 mol%.

76mm×76mm×0.21mmの寸法を有するホウケイ酸ガラスでできた透明ガラス基板(SCHOTT社製、製品名:D263)の一方の主面の中心部の30mm×30mmの範囲にディスペンサを用いて実施例1に係るUV‐IR吸収性組成物を塗布して塗膜を形成した。光学フィルタの波長700〜730nmにおける平均透過率が約1%になるように試行錯誤を行って塗膜の厚みを決定した。UV‐IR吸収性組成物を透明ガラス基板に塗布するときに塗布液が流れ出さないように、塗布液の塗布範囲に相当する開口を有する枠を透明ガラス基板上に置いて塗布液をせき止めた。塗布液の量を調節することで、目標の厚みの塗膜を得た。次に、未乾燥の塗膜を有する透明ガラス基板をオーブンに入
れて、85℃で6時間加熱処理を行い、塗膜を硬化させた。その後、温度85℃及び相対湿度85%に設定された恒温恒湿槽内に、上記の塗膜が形成された透明ガラス基板を20時間置いて加湿処理を行い、透明ガラス基板上にUV‐IR吸収層が形成された実施例1に係る光学フィルタを得た。加湿処理は、透明ガラス基板上に塗布されたUV‐IR吸収性組成物に含まれるアルコキシシランの加水分解及び縮重合を促進させ、UV‐IR吸収層において硬質で緻密なマトリクスを形成するために行った。実施例1に係る光学フィルタのUV‐IR吸収層の厚みは170μmであった。実施例1に係る光学フィルタの、入射角度が0°〜65°における透過率スペクトルを測定した。入射角度が0°、40°、50°、及び60°における透過率スペクトルを図3に示す。実施例1に係る光学フィルタの、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取した結果を表7及び表8に示す。表8における「透過率78%以上の波長範囲」は、波長400nm〜600nmにおいて78%以上の分光透過率を示す波長範囲である。表8における赤外線領域特性に関する「透過率1%以下の波長範囲」は、波長700nm〜1200nmにおいて1%以下の分光透過率を示す波長範囲である。表8における赤外線領域特性に関する「透過率0.1%以下の波長範囲」は、波長700nm〜1200nmにおいて0.1%以下の分光透過率を示す波長範囲である。表8における紫外線領域特性に関する「透過率1%以下の波長範囲」は、波長300nm〜400nmにおいて1%以下の分光透過率を示す波長範囲である。表8における紫外線領域特性に関する「透過率0.1%以下の波長範囲」は、波長300nm〜400nmにおいて0.1%以下の分光透過率を示す波長範囲である。このことは、表10、表12、表14、表16、表18、及び表20においても当てはまる。さらに、実施例1に係る光学フィルタの、入射角度が0°、30°〜65°(5°刻み)における透過率スペクトルから看取した結果(入射角度:0°〜65°)を表11及び表12に示す。
Conducted using a dispenser in a range of 30 mm x 30 mm at the center of one main surface of a transparent glass substrate (manufactured by SCHOTT, product name: D263) made of borosilicate glass having a size of 76 mm x 76 mm x 0.21 mm. The UV-IR absorbing composition according to Example 1 was applied to form a coating film. The thickness of the coating film was determined by trial and error so that the average transmittance of the optical filter at a wavelength of 700 to 730 nm was about 1%. A frame having an opening corresponding to the coating range of the coating liquid was placed on the transparent glass substrate to dam the coating liquid so that the coating liquid would not flow out when the UV-IR absorbent composition was applied to the transparent glass substrate. .. By adjusting the amount of the coating liquid, a coating film having a target thickness was obtained. Next, a transparent glass substrate having an undried coating film was placed in an oven and heat-treated at 85 ° C. for 6 hours to cure the coating film. After that, a transparent glass substrate on which the above coating film was formed was placed in a constant temperature and humidity chamber set at a temperature of 85 ° C. and a relative humidity of 85% for 20 hours to perform a humidification treatment, and UV-IR was performed on the transparent glass substrate. An optical filter according to Example 1 in which an absorption layer was formed was obtained. The humidification treatment promotes the hydrolysis and contraction polymerization of the alkoxysilane contained in the UV-IR absorbing composition coated on the transparent glass substrate, and forms a hard and dense matrix in the UV-IR absorbing layer. went. The thickness of the UV-IR absorption layer of the optical filter according to Example 1 was 170 μm. The transmission spectrum of the optical filter according to Example 1 was measured at an incident angle of 0 ° to 65 °. The transmittance spectra at incident angles of 0 °, 40 °, 50 °, and 60 ° are shown in FIG. Tables 7 and 8 show the results of the optical filter according to Example 1 taken from the transmittance spectrum when the incident angle is 0 °. The “wavelength range with a transmittance of 78% or more” in Table 8 is a wavelength range showing a spectral transmission rate of 78% or more at a wavelength of 400 nm to 600 nm. The “wavelength range with a transmittance of 1% or less” regarding the infrared region characteristics in Table 8 is a wavelength range showing a spectral transmittance of 1% or less at a wavelength of 700 nm to 1200 nm. The “wavelength range with a transmittance of 0.1% or less” regarding the infrared region characteristics in Table 8 is a wavelength range showing a spectral transmittance of 0.1% or less at a wavelength of 700 nm to 1200 nm. The “wavelength range with a transmittance of 1% or less” regarding the ultraviolet region characteristics in Table 8 is a wavelength range showing a spectral transmittance of 1% or less at a wavelength of 300 nm to 400 nm. The “wavelength range with a transmittance of 0.1% or less” regarding the ultraviolet region characteristics in Table 8 is a wavelength range showing a spectral transmittance of 0.1% or less at a wavelength of 300 nm to 400 nm. This also applies to Table 10, Table 12, Table 14, Table 16, Table 18, and Table 20. Further, Table 11 and Table 11 show the results (incident angle: 0 ° to 65 °) of the optical filter according to Example 1 taken from the transmittance spectrum when the incident angle is 0 ° and 30 ° to 65 ° (in 5 ° increments). It is shown in Table 12.

<実施例2〜15>
各化合物の添加量を表1に示す通りに調節した以外は、実施例1と同様にして、実施例2〜15に係るUV‐IR吸収性組成物を調製した。実施例1に係るUV‐IR吸収性組成物の代わりに、実施例2〜15に係るUV‐IR吸収性組成物を用いて、UV‐IR吸収層の厚みを表1に示す通りに調節した以外は、実施例1と同様にして、それぞれ、実施例2〜15に係る光学フィルタを作製した。各ホスホン酸の物質量基準の含有量及び含有率を表2に示す。各ホスホン酸の含有率は、小数第2位を四捨五入して求めているため、合計が100mol%にならない場合がある。実施例2に係る光学フィルタの、入射角度が0°〜65°における透過率スペクトルを測定した。入射角度が0°、40°、50°及び60°における透過率スペクトルを図4に示す。実施例2に係る光学フィルタの、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取した結果を表7及び表8に示す。さらに、実施例2に係る光学フィルタの、入射角度が0°、30°〜65°(5°刻み)における透過率スペクトルから看取した結果を表13及び表14に示す。また、実施例3〜15に係る光学フィルタの、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取した結果を表7及び表8に示す。
<Examples 2 to 15>
The UV-IR absorbing compositions according to Examples 2 to 15 were prepared in the same manner as in Example 1 except that the amount of each compound added was adjusted as shown in Table 1. The thickness of the UV-IR absorbing layer was adjusted as shown in Table 1 by using the UV-IR absorbing composition according to Examples 2 to 15 instead of the UV-IR absorbing composition according to Example 1. The optical filters according to Examples 2 to 15 were produced in the same manner as in Example 1 except for the above. Table 2 shows the content and content of each phosphonic acid based on the amount of substance. Since the content of each phosphonic acid is obtained by rounding off the second fraction, the total may not be 100 mol%. The transmittance spectrum of the optical filter according to Example 2 at an incident angle of 0 ° to 65 ° was measured. The transmission spectra at the incident angles of 0 °, 40 °, 50 ° and 60 ° are shown in FIG. Tables 7 and 8 show the results of the optical filter according to the second embodiment, which were taken from the transmission spectrum when the incident angle was 0 °. Further, Tables 13 and 14 show the results of the optical filter according to Example 2 taken from the transmittance spectra at an incident angle of 0 ° and 30 ° to 65 ° (in 5 ° increments). Tables 7 and 8 show the results of the optical filters according to Examples 3 to 15 taken from the transmittance spectrum when the incident angle is 0 °.

<実施例16>
76mm×76mm×0.21mmの寸法を有するホウケイ酸ガラスでできた透明ガラス基板(SCHOTT社製、製品名:D263)の一方の主面の中心部の30mm×30mmの範囲にディスペンサを用いて実施例2に係るUV‐IR吸収性組成物を塗布して所定の厚みの塗膜を形成した。UV‐IR吸収性組成物を透明ガラス基板に塗布するときに塗布液が流れ出さないように、塗布液の塗布範囲に相当する開口を有する枠を透明ガラス基板上に置いて塗布液をせき止めた。次に、未乾燥の塗膜を有する透明ガラス基板をオーブンに入れて、85℃で6時間加熱処理を行い、塗膜を硬化させた。その後、この塗膜を透明ガラス基板から剥離させた。温度85℃及び相対湿度85%に設定された恒温恒湿槽内に、剥離させた塗膜を20時間置いて加湿処理を行い、UV‐IR吸収層のみから構成
された実施例16に係る光学フィルタを得た。デジタルマイクロメータによる計測は、光吸収層のみの厚みを測定した。その結果、実施例16に係る光学フィルタの厚みは132μmであった。実施例16に係る光学フィルタの、入射角度が0°〜65°における透過率スペクトルを測定した。入射角度が0°、40°、50°、及び60°における透過率スペクトルを図5に示す。実施例16に係る光学フィルタの、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取した結果を表7及び表8に示す。さらに、実施例16に係る光学フィルタの、入射角度が0°、30°〜65°(5°刻み)における透過率スペクトルから看取した結果を表15及び表16に示す。
<Example 16>
Conducted using a dispenser in a range of 30 mm x 30 mm at the center of one main surface of a transparent glass substrate (manufactured by SCHOTT, product name: D263) made of borosilicate glass having dimensions of 76 mm x 76 mm x 0.21 mm. The UV-IR absorbent composition according to Example 2 was applied to form a coating film having a predetermined thickness. A frame having an opening corresponding to the coating range of the coating liquid was placed on the transparent glass substrate to dam the coating liquid so that the coating liquid would not flow out when the UV-IR absorbent composition was applied to the transparent glass substrate. .. Next, a transparent glass substrate having an undried coating film was placed in an oven and heat-treated at 85 ° C. for 6 hours to cure the coating film. Then, this coating film was peeled off from the transparent glass substrate. The optics according to Example 16 composed of only the UV-IR absorption layer was subjected to a humidification treatment by placing the peeled coating film in a constant temperature and humidity chamber set at a temperature of 85 ° C. and a relative humidity of 85% for 20 hours. I got a filter. In the measurement with a digital micrometer, the thickness of only the light absorbing layer was measured. As a result, the thickness of the optical filter according to Example 16 was 132 μm. The transmittance spectrum of the optical filter according to Example 16 at an incident angle of 0 ° to 65 ° was measured. The transmission spectra at the incident angles of 0 °, 40 °, 50 °, and 60 ° are shown in FIG. Tables 7 and 8 show the results of the optical filter according to Example 16 taken from the transmittance spectrum when the incident angle is 0 °. Further, Tables 15 and 16 show the results of the optical filter according to Example 16 taken from the transmission spectrum at an incident angle of 0 ° and 30 ° to 65 ° (in 5 ° increments).

<実施例17>
76mm×76mm×0.21mmの寸法を有するホウケイ酸ガラスでできた透明ガラス基板(SCHOTT社製、製品名:D263)の一方の主面の中心部の30mm×30mmの範囲にディスペンサを用いて実施例2に係るUV‐IR吸収性組成物を塗布し、実施例2における塗膜の厚みの約半分の厚みの塗膜を形成した。UV‐IR吸収性組成物を透明ガラス基板に塗布するときに塗布液が流れ出さないように、塗布液の塗布範囲に相当する開口を有する枠を透明ガラス基板上に置いて塗布液をせき止めた。次に、未乾燥の塗膜を有する透明ガラス基板をオーブンに入れて、85℃で6時間加熱処理を行い、塗膜を硬化させた。次に、透明ガラス基板の他方の主面の中心部の30mm×30mmの範囲にディスペンサを用いて実施例2に係るUV‐IR吸収性組成物を塗布し、実施例2における塗膜の厚みの約半分の厚みの塗膜を形成した。UV‐IR吸収性組成物を透明ガラス基板に塗布するときに塗布液が流れ出さないように、塗布液の塗布範囲に相当する開口を有する枠を透明ガラス基板上に置いて塗布液をせき止めた。次に、未乾燥の塗膜を有する透明ガラス基板をオーブンに入れて、85℃で6時間加熱処理を行い、塗膜を硬化させた。次に、温度85℃及び相対湿度85%に設定された恒温恒湿槽内に、両主面に上記の塗膜が形成された透明ガラス基板を20時間置いて加湿処理を行い、透明ガラス基板の両面にUV‐IR吸収層が形成された実施例17に係る光学フィルタを得た。透明ガラス基板の両面に形成されたUV‐IR吸収層の合計の厚みは193μmであった。実施例17に係る光学フィルタの、入射角度が0°〜65°における透過率スペクトルを測定した。入射角度が0°、40°、50°及び60°における透過率スペクトルを図6に示す。実施例17に係る光学フィルタの、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取した結果を表7及び表8に示す。実施例17に係る光学フィルタの、入射角度が0°、30°〜65°(5°刻み)における透過率スペクトルから看取した結果を表17及び表18に示す。
<Example 17>
Conducted using a dispenser in a range of 30 mm x 30 mm at the center of one main surface of a transparent glass substrate (manufactured by SCHOTT, product name: D263) made of borosilicate glass having dimensions of 76 mm x 76 mm x 0.21 mm. The UV-IR absorbent composition according to Example 2 was applied to form a coating film having a thickness of about half the thickness of the coating film in Example 2. A frame having an opening corresponding to the coating range of the coating liquid was placed on the transparent glass substrate to dam the coating liquid so that the coating liquid would not flow out when the UV-IR absorbent composition was applied to the transparent glass substrate. .. Next, a transparent glass substrate having an undried coating film was placed in an oven and heat-treated at 85 ° C. for 6 hours to cure the coating film. Next, the UV-IR absorbent composition according to Example 2 was applied to an area of 30 mm × 30 mm at the center of the other main surface of the transparent glass substrate using a dispenser to determine the thickness of the coating film in Example 2. A coating film having a thickness of about half was formed. A frame having an opening corresponding to the coating range of the coating liquid was placed on the transparent glass substrate to dam the coating liquid so that the coating liquid would not flow out when the UV-IR absorbent composition was applied to the transparent glass substrate. .. Next, a transparent glass substrate having an undried coating film was placed in an oven and heat-treated at 85 ° C. for 6 hours to cure the coating film. Next, a transparent glass substrate having the above coating film formed on both main surfaces was placed in a constant temperature and humidity chamber set at a temperature of 85 ° C. and a relative humidity of 85% for 20 hours to perform humidification treatment, and the transparent glass substrate was subjected to humidification treatment. An optical filter according to Example 17 in which UV-IR absorbing layers were formed on both sides of the glass was obtained. The total thickness of the UV-IR absorbing layers formed on both sides of the transparent glass substrate was 193 μm. The transmission spectrum of the optical filter according to Example 17 at an incident angle of 0 ° to 65 ° was measured. The transmittance spectra at the incident angles of 0 °, 40 °, 50 ° and 60 ° are shown in FIG. Tables 7 and 8 show the results of the optical filter according to Example 17 taken from the transmittance spectrum when the incident angle is 0 °. Tables 17 and 18 show the results of the optical filter according to Example 17 taken from the transmittance spectra at an incident angle of 0 ° and 30 ° to 65 ° (in 5 ° increments).

<実施例18>
実施例17で用いた透明ガラス基板の代わりに、0.07mmの厚みを有する実施例17で用いた透明ガラス基板と同一種類の透明ガラス基板を用いた以外は、実施例17と同様にして、透明ガラス基板の両面にUV‐IR吸収層が形成された実施例18に係る光学フィルタを作製した。透明ガラス基板の両面に形成されたUV‐IR吸収層の合計の厚みは183μmであった。実施例18に係る光学フィルタの、入射角度が0°〜65°における透過率スペクトルを測定した。入射角度が0°、40°、50°及び60°における透過率スペクトルを図7に示す。実施例18に係る光学フィルタの、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取した結果を表7及び表8に示す。実施例18に係る光学フィルタの、入射角度が0°、30°〜65°(5°刻み)における透過率スペクトルから看取した結果を表19及び表20に示す。
<Example 18>
In the same manner as in Example 17, a transparent glass substrate of the same type as the transparent glass substrate used in Example 17 having a thickness of 0.07 mm was used instead of the transparent glass substrate used in Example 17. An optical filter according to Example 18 in which UV-IR absorbing layers were formed on both sides of a transparent glass substrate was produced. The total thickness of the UV-IR absorbing layers formed on both sides of the transparent glass substrate was 183 μm. The transmittance spectrum of the optical filter according to Example 18 at an incident angle of 0 ° to 65 ° was measured. The transmittance spectra at the incident angles of 0 °, 40 °, 50 ° and 60 ° are shown in FIG. Tables 7 and 8 show the results of the optical filter according to Example 18 as seen from the transmission spectrum when the incident angle is 0 °. Tables 19 and 20 show the results of the optical filter according to Example 18 taken from the transmittance spectra at an incident angle of 0 ° and 30 ° to 65 ° (in 5 ° increments).

<実施例19>
リン酸エステル化合物として、プライサーフA208Nの代わりに、プライサーフA208F(第一工業製薬社製)を用い、各化合物の添加量を表1に示す通りに調節した以外は、実施例1と同様にして、実施例19に係るUV‐IR吸収性組成物を調製した。実施
例1に係るUV‐IR吸収性組成物の代わりに、実施例19に係るUV‐IR吸収性組成物を用い、UV‐IR吸収層の厚みを198μmに調節した以外は、実施例1と同様にして、実施例19に係る光学フィルタを作製した。実施例19に係る光学フィルタの透過率スペクトルを測定し、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取した結果を表7及び表8に示す。
<Example 19>
As the phosphoric acid ester compound, Plysurf A208F (manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.) was used instead of Plysurf A208N, and the addition amount of each compound was adjusted as shown in Table 1 in the same manner as in Example 1. The UV-IR absorbing composition according to Example 19 was prepared. Example 1 and Example 1 except that the UV-IR absorbing composition according to Example 19 was used instead of the UV-IR absorbing composition according to Example 1 and the thickness of the UV-IR absorbing layer was adjusted to 198 μm. Similarly, the optical filter according to Example 19 was produced. Tables 7 and 8 show the results obtained by measuring the transmission spectrum of the optical filter according to Example 19 and observing the transmission spectrum when the incident angle is 0 °.

<実施例20>
4‐ブロモフェニルホスホン酸の代わりに、4‐フルオロフェニルホスホン酸(C64FPO(OH)2)(東京化成工業社製)を用い、各化合物の添加量を表1に示す通り調
節した以外は、実施例1と同様にして、実施例20に係るUV‐IR吸収性組成物を調製した。実施例1に係るUV‐IR吸収性組成物の代わりに、実施例20に係るUV‐IR吸収性組成物を用い、UV‐IR吸収層の厚みを168μmに調節した以外は、実施例1と同様にして、実施例20に係る光学フィルタを作製した。実施例20に係る光学フィルタの透過率スペクトルを測定し、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取した結果を表7及び表8に示す。
<Example 20>
Instead of 4-bromophenyl phosphonic acid, 4-fluorophenyl acid (C 6 H 4 FPO (OH ) 2) (manufactured by Tokyo Kasei Kogyo Co., Ltd.), the amount of each compound was adjusted as shown in Table 1 A UV-IR absorbing composition according to Example 20 was prepared in the same manner as in Example 1 except for the above. Example 1 and Example 1 except that the UV-IR absorbing composition according to Example 20 was used instead of the UV-IR absorbing composition according to Example 1 and the thickness of the UV-IR absorbing layer was adjusted to 168 μm. Similarly, the optical filter according to Example 20 was produced. Tables 7 and 8 show the results obtained by measuring the transmittance spectrum of the optical filter according to Example 20 and observing from the transmittance spectrum when the incident angle is 0 °.

<実施例21>
実施例2で用いた透明ガラス基板の代わりに、100μmの厚みを有する赤外線吸収ガラス基板を用い、UV‐IR吸収層の厚みを76μmに調節した以外は、実施例2と同様にして実施例21に係る光学フィルタを作製した。この赤外線吸収ガラス基板は銅を含有しており、図8Aに示す透過率スペクトルを有していた。実施例21に係る光学フィルタの、入射角度が0°における透過率スペクトルを測定した。その結果を図8Bに示す。また、実施例21に係る光学フィルタの、入射角度が0°における透過率スペクトルから看取した結果を表7及び表8に示す。
<Example 21>
Example 21 was the same as in Example 2 except that an infrared absorbing glass substrate having a thickness of 100 μm was used instead of the transparent glass substrate used in Example 2 and the thickness of the UV-IR absorbing layer was adjusted to 76 μm. The optical filter according to the above was produced. This infrared absorbing glass substrate contained copper and had the transmittance spectrum shown in FIG. 8A. The transmission spectrum of the optical filter according to Example 21 at an incident angle of 0 ° was measured. The result is shown in FIG. 8B. Tables 7 and 8 show the results of the optical filter according to Example 21 as seen from the transmission spectrum at an incident angle of 0 °.

<実施例22〜実施例37>
乾燥された塗膜の加湿処理の条件を表3に示す通りに変更し、UV‐IR吸収層の厚みを表3に示す通りに調節した以外は、実施例2と同様にして、実施例22〜37に係る光学フィルタをそれぞれ作製した。実施例22〜24に係る光学フィルタの、入射角度が0°における透過率スペクトルを測定した。その結果をそれぞれ図9〜図11に示す。また、実施例22〜24に係る光学フィルタの、入射角度が0°における透過率スペクトルから看取した結果を表7及び表8に示す。実施例25〜37に係る光学フィルタの透過率スペクトルを測定し、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取した結果を表7及び表8に示す。
<Examples 22 to 37>
Example 22 in the same manner as in Example 2 except that the conditions for the humidification treatment of the dried coating film were changed as shown in Table 3 and the thickness of the UV-IR absorbing layer was adjusted as shown in Table 3. Optical filters according to ~ 37 were produced. The transmittance spectrum of the optical filter according to Examples 22 to 24 at an incident angle of 0 ° was measured. The results are shown in FIGS. 9 to 11, respectively. Tables 7 and 8 show the results of the optical filters according to Examples 22 to 24, which were taken from the transmission spectrum when the incident angle was 0 °. Tables 7 and 8 show the results obtained by measuring the transmittance spectra of the optical filters according to Examples 25 to 37 and recognizing them from the transmittance spectra when the incident angle is 0 °.

<実施例38>
実施例2で用いた透明ガラス基板の代わりに、0.3mmの厚みを有するサファイア基板を用い、UV‐IR吸収層の厚みを168μmに調節した以外は、実施例2と同様にして実施例38に係る光学フィルタを作製した。実施例38に係る光学フィルタの、入射角度が0°における透過率スペクトルを測定した。その結果を図12に示す。実施例38に係る光学フィルタの、入射角度が0°における透過率スペクトルから看取した結果を表7及び表8に示す。
<Example 38>
Example 38 in the same manner as in Example 2 except that a sapphire substrate having a thickness of 0.3 mm was used instead of the transparent glass substrate used in Example 2 and the thickness of the UV-IR absorption layer was adjusted to 168 μm. The optical filter according to the above was produced. The transmittance spectrum of the optical filter according to Example 38 at an incident angle of 0 ° was measured. The result is shown in FIG. Tables 7 and 8 show the results of the optical filter according to Example 38 taken from the transmittance spectrum when the incident angle is 0 °.

<比較例1>
各化合物の添加量を表4及び表5に示す通りに調節した以外は、実施例1と同様にして、比較例1に係るD液(フェニル系ホスホン酸銅の微粒子の分散液)を調製した。比較例1に係るD液にシリコーン樹脂(信越化学工業社製、製品名:KR−300)を2.200g添加し30分間撹拌して、比較例1に係るUV‐IR吸収性組成物を得た。実施例1に係るUV‐IR吸収性組成物の代わりに、比較例1に係るUV‐IR吸収性組成物を用いて、UV‐IR吸収層の厚みを126μmに調節した以外は、実施例1と同様にして比
較例1に係る光学フィルタを作製した。比較例1に係る光学フィルタの透過率スペクトルを測定し、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取できる結果を表9及び表10に示す。また、比較例1に係る光学フィルタの、入射角度が0°のときの透過率スペクトル測定の結果に基づいて、比較例1に係る光学フィルタのUV‐IR吸収層の厚みを200μmに変化させた場合の透過率スペクトルを計算し、この透過率スペクトルから看取できる結果を表9及び表10に比較計算例1として示す。
<Comparative example 1>
Liquid D (dispersion of fine particles of phenylphosphonate) according to Comparative Example 1 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amount of each compound added was adjusted as shown in Tables 4 and 5. .. 2.200 g of silicone resin (manufactured by Shinetsu Chemical Industry Co., Ltd., product name: KR-300) was added to the D solution according to Comparative Example 1 and stirred for 30 minutes to obtain a UV-IR absorbent composition according to Comparative Example 1. It was. Example 1 except that the thickness of the UV-IR absorbing layer was adjusted to 126 μm by using the UV-IR absorbing composition according to Comparative Example 1 instead of the UV-IR absorbing composition according to Example 1. The optical filter according to Comparative Example 1 was produced in the same manner as in the above. Tables 9 and 10 show the results obtained by measuring the transmittance spectrum of the optical filter according to Comparative Example 1 and recognizing it from the transmittance spectrum when the incident angle is 0 °. Further, the thickness of the UV-IR absorption layer of the optical filter according to Comparative Example 1 was changed to 200 μm based on the result of the transmittance spectrum measurement when the incident angle was 0 ° of the optical filter according to Comparative Example 1. The transmittance spectrum of the case is calculated, and the results that can be seen from the transmittance spectrum are shown in Tables 9 and 10 as Comparative Calculation Example 1.

<比較例2>
各化合物の添加量を表4及び表5に示す通りに調節した以外は、実施例1と同様にして、比較例2に係るD液(フェニル系ホスホン酸銅の微粒子の分散液)をそれぞれ調製した。比較例2に係るD液にシリコーン樹脂(信越化学工業社製、製品名:KR−300)を4.400g添加し30分間撹拌して、比較例2に係るUV‐IR吸収性組成物を得た。実施例1に係るUV‐IR吸収性組成物の代わりに、比較例2に係るUV‐IR吸収性組成物を用いて、UV‐IR吸収層の厚みを217μmに調節し、塗膜を硬化させるための加熱処理及び加湿処理の条件を表6に示す通りに変更した以外は、実施例1と同様にして比較例2に係る光学フィルタを作製した。比較例2に係る光学フィルタの透過率スペクトルを測定し、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取できる結果を表9及び表10に示す。また、比較例2に係る光学フィルタの、入射角度が0°のときの透過率スペクトル測定の結果に基づいて、比較例2に係る光学フィルタのUV‐IR吸収層の厚みを347μmに変化させた場合の透過率スペクトルを計算し、この透過率スペクトルから看取できる結果を表9及び表10に比較計算例2として示す。
<Comparative example 2>
Liquid D (dispersion of fine particles of phenylphosphonate) according to Comparative Example 2 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amount of each compound added was adjusted as shown in Tables 4 and 5. did. 4.400 g of a silicone resin (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., product name: KR-300) was added to the D solution according to Comparative Example 2 and stirred for 30 minutes to obtain a UV-IR absorbent composition according to Comparative Example 2. It was. Using the UV-IR absorbing composition according to Comparative Example 2 instead of the UV-IR absorbing composition according to Example 1, the thickness of the UV-IR absorbing layer is adjusted to 217 μm, and the coating film is cured. An optical filter according to Comparative Example 2 was produced in the same manner as in Example 1 except that the conditions for the heat treatment and the humidification treatment were changed as shown in Table 6. Tables 9 and 10 show the results that can be seen from the transmission spectrum when the incident angle is 0 ° by measuring the transmission spectrum of the optical filter according to Comparative Example 2. Further, the thickness of the UV-IR absorption layer of the optical filter according to Comparative Example 2 was changed to 347 μm based on the result of the transmission spectrum measurement when the incident angle was 0 ° of the optical filter according to Comparative Example 2. The transmission spectrum of the case is calculated, and the results that can be seen from the transmission spectrum are shown in Tables 9 and 10 as Comparative Calculation Example 2.

<比較例3>
酢酸銅一水和物1.125gとTHF60gとを混合して、3時間撹拌し酢酸銅溶液を得た。次に、得られた酢酸銅溶液に、プライサーフA208F(第一工業製薬社製)を0.624g加えて30分間撹拌し、A液を得た。フェニルホスホン酸(日産化学工業社製)0.832gにTHF10gを加えて30分間撹拌し、B−1液を得た。B−1液に、MTES(信越化学工業社製)1.274gとTEOS(キシダ化学社製 特級)1.012gを加えてさらに1分間撹拌し、B液を得た。A液を撹拌しながらA液にB液を加え、室温で1分間撹拌した。次に、この溶液にトルエン25gを加えた後、室温で1分間撹拌し、C液を得た。このC液をフラスコに入れてオイルバス(東京理化器械社製、型式:OSB−2100)で加温しながら、ロータリーエバポレータ(東京理化器械社製、型式:N−1110SF)によって、脱溶媒処理を行った。オイルバスの設定温度は、105℃に調整した。その後、フラスコの中から脱溶媒処理後の比較例3に係るD液を取り出した。比較例3に係るD液(フェニルホスホン酸銅の微粒子の分散液)は透明であり、微粒子が良好に分散していた。
<Comparative example 3>
1.125 g of copper acetate monohydrate and 60 g of THF were mixed and stirred for 3 hours to obtain a copper acetate solution. Next, 0.624 g of Prysurf A208F (manufactured by Dai-ichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.) was added to the obtained copper acetate solution and stirred for 30 minutes to obtain a solution A. 10 g of THF was added to 0.832 g of phenylphosphonic acid (manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.) and stirred for 30 minutes to obtain a B-1 solution. 1.274 g of MTES (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and 1.012 g of TEOS (special grade manufactured by Kishida Chemical Co., Ltd.) were added to the B-1 solution and stirred for another 1 minute to obtain the B solution. Solution B was added to solution A while stirring solution A, and the mixture was stirred at room temperature for 1 minute. Next, 25 g of toluene was added to this solution, and the mixture was stirred at room temperature for 1 minute to obtain Solution C. This liquid C is placed in a flask and heated with an oil bath (manufactured by Tokyo Rika Kikai Co., Ltd., model: OSB-2100) while being desolvated by a rotary evaporator (manufactured by Tokyo Rika Kikai Co., Ltd., model: N-1110SF). went. The set temperature of the oil bath was adjusted to 105 ° C. Then, the liquid D according to Comparative Example 3 after the desolvation treatment was taken out from the flask. The liquid D (dispersion of fine particles of copper phenylphosphonate) according to Comparative Example 3 was transparent, and the fine particles were well dispersed.

比較例3に係るD液にシリコーン樹脂(信越化学工業社製、製品名:KR−300)を4.400g添加し30分間撹拌して、比較例3に係るUV‐IR吸収性組成物を得た。実施例1に係るUV‐IR吸収性組成物の代わりに、比較例3に係るUV‐IR吸収性組成物を用いて、UV‐IR吸収層の厚みを198μmに調節し、塗膜を硬化させるための加熱処理の条件を表6に示す通りに調節した以外は、実施例1と同様にして比較例3に係る光学フィルタを作製した。比較例3に係る光学フィルタの透過率スペクトルを測定し、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取した結果を表9及び表10に示す。また、比較例3に係る光学フィルタの透過率スペクトル測定の結果に基づいて、比較例3に係る光学フィルタのUV‐IR吸収層の厚みを303μmに変化させた場合の透過率スペクトルを計算し、この透過率スペクトルから看取できる結果を表9及び表10に比較計算例3として示す。 4.400 g of a silicone resin (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., product name: KR-300) was added to the D solution according to Comparative Example 3 and stirred for 30 minutes to obtain a UV-IR absorbent composition according to Comparative Example 3. It was. Using the UV-IR absorbing composition according to Comparative Example 3 instead of the UV-IR absorbing composition according to Example 1, the thickness of the UV-IR absorbing layer is adjusted to 198 μm, and the coating film is cured. An optical filter according to Comparative Example 3 was produced in the same manner as in Example 1 except that the conditions for the heat treatment for the purpose were adjusted as shown in Table 6. Tables 9 and 10 show the results obtained by measuring the transmittance spectrum of the optical filter according to Comparative Example 3 and observing the transmittance spectrum when the incident angle is 0 °. Further, based on the result of the transmittance spectrum measurement of the optical filter according to Comparative Example 3, the transmittance spectrum when the thickness of the UV-IR absorption layer of the optical filter according to Comparative Example 3 was changed to 303 μm was calculated. The results that can be seen from this transmittance spectrum are shown in Tables 9 and 10 as Comparative Calculation Example 3.

<比較例4>
酢酸銅一水和物1.125gとTHF60gとを混合して3時間撹拌し酢酸銅溶液を得た。次に、得られた酢酸銅溶液に、リン酸エステル化合物であるプライサーフA208Fを0.891g加えて30分間撹拌し、E液を得た。また、n‐ブチルホスホン酸(日本化学工業社製)0.670gにTHF10gを加えて30分間撹拌し、F液を得た。E液を撹拌しながらE液にF液を加え、室温で1分間撹拌した。次に、この溶液にトルエン25gを加えた後、室温で1分間撹拌し、G液を得た。このG液をフラスコに入れてオイルバスで加温しながら、ロータリーエバポレータによって、脱溶媒処理を行った。オイルバスの設定温度は、105℃に調整した。その後、フラスコの中から脱溶媒処理後の比較例4に係るH液を取り出した。ブチルホスホン酸銅の微粒子の分散液であるH液は透明であり、微粒子が良好に分散していた。
<Comparative example 4>
1.125 g of copper acetate monohydrate and 60 g of THF were mixed and stirred for 3 hours to obtain a copper acetate solution. Next, 0.891 g of Prysurf A208F, which is a phosphoric acid ester compound, was added to the obtained copper acetate solution and stirred for 30 minutes to obtain a liquid E. Further, 10 g of THF was added to 0.670 g of n-butylphosphonic acid (manufactured by Nippon Chemical Industrial Co., Ltd.) and stirred for 30 minutes to obtain a liquid F. Solution F was added to solution E while stirring solution E, and the mixture was stirred at room temperature for 1 minute. Next, 25 g of toluene was added to this solution, and the mixture was stirred at room temperature for 1 minute to obtain a G solution. This G solution was placed in a flask and heated in an oil bath while being desolvated by a rotary evaporator. The set temperature of the oil bath was adjusted to 105 ° C. Then, the liquid H according to Comparative Example 4 after the desolvation treatment was taken out from the flask. Liquid H, which is a dispersion of fine particles of copper butylphosphonate, was transparent, and the fine particles were well dispersed.

比較例4に係るH液にシリコーン樹脂(信越化学工業社製、製品名:KR−300)を4.400g添加し30分間撹拌して、比較例4に係るUV‐IR吸収性組成物を得た。比較例2に係るUV‐IR吸収性組成物の代わりに、比較例4に係るUV‐IR吸収性組成物を用いて、UV‐IR吸収層の厚みを1002μmに調節し、塗膜の加湿処理を行わなかった以外は、比較例2と同様にして比較例4に係る光学フィルタを作製した。比較例4に係る光学フィルタの透過率スペクトルを測定し、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取できる結果を表9及び表10に示す。また、比較例4に係る光学フィルタの、入射角度が0°のときの透過率スペクトル測定の結果に基づいて、比較例4に係る光学フィルタのUV‐IR吸収層の厚みを1216μm及び385μmに変化させた場合の透過率スペクトルをそれぞれ計算し、これらの透過率スペクトルから看取できる結果を表9及び表10に比較計算例4−A及び比較計算例4−Bとしてそれぞれ示す。 4.400 g of silicone resin (manufactured by Shinetsu Chemical Industry Co., Ltd., product name: KR-300) was added to the H solution according to Comparative Example 4 and stirred for 30 minutes to obtain a UV-IR absorbent composition according to Comparative Example 4. It was. Using the UV-IR absorbing composition according to Comparative Example 4 instead of the UV-IR absorbing composition according to Comparative Example 2, the thickness of the UV-IR absorbing layer was adjusted to 1002 μm, and the coating film was humidified. The optical filter according to Comparative Example 4 was produced in the same manner as in Comparative Example 2 except that the above was not performed. Tables 9 and 10 show the results obtained by measuring the transmittance spectrum of the optical filter according to Comparative Example 4 and recognizing it from the transmittance spectrum when the incident angle is 0 °. Further, the thickness of the UV-IR absorption layer of the optical filter according to Comparative Example 4 was changed to 1216 μm and 385 μm based on the result of the transmittance spectrum measurement when the incident angle was 0 ° of the optical filter according to Comparative Example 4. The transmittance spectra are calculated respectively, and the results that can be seen from these transmittance spectra are shown in Tables 9 and 10 as Comparative Calculation Example 4-A and Comparative Calculation Example 4-B, respectively.

<比較例5>
UV‐IR吸収層の厚みを191μmに調節し、塗膜の加湿処理を行わなかった以外は、実施例2と同様にして比較例5に係る光学フィルタを作製した。比較例5に係る光学フィルタの透過率スペクトルを測定し、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取できる結果を表9及び表10に示す。比較例5に係る光学フィルタの、入射角度が0°のときの透過率スペクトル測定の結果に基づいて、比較例5に係る光学フィルタのUV‐IR吸収層の厚みを148μmに変化させた場合の透過率スペクトルを計算し、この透過率スペクトルから看取できる結果を表9及び表10に比較計算例5として示す。
<Comparative example 5>
The optical filter according to Comparative Example 5 was produced in the same manner as in Example 2 except that the thickness of the UV-IR absorbing layer was adjusted to 191 μm and the coating film was not humidified. Tables 9 and 10 show the results that can be seen from the transmission spectrum when the incident angle is 0 ° by measuring the transmission spectrum of the optical filter according to Comparative Example 5. When the thickness of the UV-IR absorption layer of the optical filter according to Comparative Example 5 is changed to 148 μm based on the result of the transmittance spectrum measurement of the optical filter according to Comparative Example 5 when the incident angle is 0 °. The transmittance spectrum is calculated, and the results that can be seen from the transmittance spectrum are shown in Tables 9 and 10 as Comparative Calculation Example 5.

<比較例6及び7>
UV‐IR吸収層の厚みを表9に示す通りに調節し、塗膜の加湿処理を表6に示す通り調節した以外は、実施例2と同様にして比較例6及び7に係る光学フィルタを作製した。比較例6及び7に係る光学フィルタの透過率スペクトルを測定し、入射角度が0°のときの透過率スペクトルから看取した結果を表9及び表10に示す。比較例6に係る光学フィルタの、入射角度が0°のときの透過率スペクトル測定の結果に基づいて、比較例6に係る光学フィルタのUV‐IR吸収層の厚みを155μmに変化させた場合の透過率スペクトルを計算し、この透過率スペクトルから看取できる結果を表9及び表10に比較計算例6として示す。また、比較例7に係る光学フィルタの、入射角度が0°のときの透過率スペクトル測定の結果に基づいて、比較例7に係る光学フィルタのUV‐IR吸収層の厚みを161μmに変化させた場合の透過率スペクトルを計算し、この透過率スペクトルから看取できる結果を表9及び表10に比較計算例7として示す。
<Comparative Examples 6 and 7>
The optical filters according to Comparative Examples 6 and 7 were used in the same manner as in Example 2 except that the thickness of the UV-IR absorbing layer was adjusted as shown in Table 9 and the humidification treatment of the coating film was adjusted as shown in Table 6. Made. Tables 9 and 10 show the results obtained by measuring the transmittance spectra of the optical filters according to Comparative Examples 6 and 7 and observing them from the transmittance spectra when the incident angle is 0 °. When the thickness of the UV-IR absorption layer of the optical filter according to Comparative Example 6 is changed to 155 μm based on the result of the transmittance spectrum measurement of the optical filter according to Comparative Example 6 when the incident angle is 0 °. The transmittance spectrum is calculated, and the results that can be seen from the transmittance spectrum are shown in Tables 9 and 10 as Comparative Calculation Example 6. Further, the thickness of the UV-IR absorption layer of the optical filter according to Comparative Example 7 was changed to 161 μm based on the result of the transmission spectrum measurement when the incident angle was 0 ° of the optical filter according to Comparative Example 7. The transmission spectrum of the case is calculated, and the results that can be seen from the transmission spectrum are shown in Tables 9 and 10 as Comparative Calculation Example 7.

<比較例8>
比較例1と同様にして、比較例8に係るD液(フェニル系ホスホン酸銅の微粒子の分散液)を調製した。酢酸銅一水和物0.225gとTHF36gとを混合して3時間撹拌し酢酸銅溶液を得た。次に、得られた酢酸銅溶液に、リン酸エステル化合物であるプライサーフA208F(第一工業製薬社製)を0.178g加えて30分間撹拌し、E液を得た
。また、n‐ブチルホスホン酸(日本化学工業社製)0.134gにTHF10gを加えて30分間撹拌し、F液を得た。E液を撹拌しながらE液にF液を加え、室温で1分間撹拌した。次に、この溶液にトルエン25gを加えた後、室温で1分間撹拌し、G液を得た。このG液をフラスコに入れてオイルバスで加温しながら、ロータリーエバポレータによって、脱溶媒処理を行った。オイルバスの設定温度は、105℃に調整した。その後、フラスコの中から脱溶媒処理後の比較例8に係るH液を取り出した。比較例8に係るD液にシリコーン樹脂(信越化学工業社製、製品名:KR−300)を2.200g添加し30分間撹拌して、比較例8に係るI液を得た。比較例8に係るH液を比較例8に係るI液に加えて撹拌したが、ホスホン酸銅粒子の凝集が生じ、高い透明性を有するUV‐IR吸収性組成物を得ることはできなかった。
<Comparative Example 8>
In the same manner as in Comparative Example 1, the solution D (dispersion of fine particles of phenyl phosphonate) according to Comparative Example 8 was prepared. 0.225 g of copper acetate monohydrate and 36 g of THF were mixed and stirred for 3 hours to obtain a copper acetate solution. Next, 0.178 g of Prysurf A208F (manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.), which is a phosphate ester compound, was added to the obtained copper acetate solution and stirred for 30 minutes to obtain a solution E. Further, 10 g of THF was added to 0.134 g of n-butylphosphonic acid (manufactured by Nippon Chemical Industrial Co., Ltd.) and stirred for 30 minutes to obtain a liquid F. Solution F was added to solution E while stirring solution E, and the mixture was stirred at room temperature for 1 minute. Next, 25 g of toluene was added to this solution, and the mixture was stirred at room temperature for 1 minute to obtain a G solution. This G solution was placed in a flask and heated in an oil bath while being desolvated by a rotary evaporator. The set temperature of the oil bath was adjusted to 105 ° C. Then, the liquid H according to Comparative Example 8 after the desolving treatment was taken out from the flask. 2.200 g of a silicone resin (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., product name: KR-300) was added to the D solution according to Comparative Example 8 and stirred for 30 minutes to obtain the I solution according to Comparative Example 8. The solution H according to Comparative Example 8 was added to the solution I according to Comparative Example 8 and stirred, but agglomeration of copper phosphonate particles occurred, and a highly transparent UV-IR absorbing composition could not be obtained. ..

<比較例9>
表4に示す分量でホスホン酸としてn‐ブチルホスホン酸のみを含み、アルコキシシランモノマーを含まないUV‐IR吸収性組成物の調製を試みたが、ホスホン酸銅粒子の凝集が生じてしまい、高い透明性を有する均質なUV‐IR吸収性組成物を得ることはできなかった。
<Comparative Example 9>
An attempt was made to prepare a UV-IR absorbent composition containing only n-butylphosphonic acid as the phosphonic acid and not containing the alkoxysilane monomer in the amount shown in Table 4, but the copper phosphonate particles agglomerated, which was high. It was not possible to obtain a transparent and homogeneous UV-IR absorbent composition.

表7によれば、実施例1〜38に係る光学フィルタは、上記(i)〜(vii)の光学性
能を有していた。また、表11、表13、表15、表17、及び表19によれば、実施例1、2、16〜18に係る光学フィルタは、上記(viii)〜(xi)の光学性能をさらに有していた。また、実施例3〜15及び実施例19〜38に係る光学フィルタに関する透過率スペクトル測定の別の結果(入射角度:0°〜65°、図示省略)によれば、これらの実施例に係る光学フィルタも上記(viii)〜(xi)の光学性能をさらに有していた。
According to Table 7, the optical filters according to Examples 1 to 38 had the optical performances (i) to (vii) described above. Further, according to Table 11, Table 13, Table 15, Table 17, and Table 19, the optical filters according to Examples 1, 2, 16 to 18 further have the optical performances (viii) to (xi) described above. Was. Further, according to another result of the transmittance spectrum measurement regarding the optical filters according to Examples 3 to 15 and Examples 19 to 38 (incident angle: 0 ° to 65 °, not shown), the optics according to these examples. The filter also had the above-mentioned optical performances (viii) to (xi).

表9によれば、比較例1に係る光学フィルタは、上記(ii)、(vi)、及び(vii)の
光学性能を有しておらず、赤外線領域において所望の特性を有していなかった。また、比較計算例1によれば、UV‐IR吸収層の厚みを大きくすることにより、赤外線領域における特性を向上させることができるものの、第一IRカットオフ波長が短くなって(iv)の光学性能を実現できないことが示唆された。このように、比較例1に係るUV‐IR吸収性組成物を用いても、上記(i)〜(v)のすべての光学性能を有する光学フィルタを作製できないことが示唆された。同様に、表9における比較例2及び比較計算例2並びに比較例3及び比較計算例3の結果によれば、比較例2及び3に係るUV‐IR吸収性組成物を用いても、上記(i)〜(v)のすべての光学性能を有する光学フィルタを作製できないことが示唆された。
According to Table 9, the optical filter according to Comparative Example 1 did not have the optical performances (ii), (vi), and (vii) described above, and did not have the desired characteristics in the infrared region. .. Further, according to Comparative Calculation Example 1, by increasing the thickness of the UV-IR absorption layer, the characteristics in the infrared region can be improved, but the first IR cutoff wavelength is shortened (iv). It was suggested that performance could not be achieved. As described above, it was suggested that even if the UV-IR absorbing composition according to Comparative Example 1 was used, an optical filter having all the optical performances (i) to (v) above could not be produced. Similarly, according to the results of Comparative Example 2 and Comparative Calculation Example 2 and Comparative Example 3 and Comparative Calculation Example 3 in Table 9, even if the UV-IR absorbing composition according to Comparative Examples 2 and 3 is used, the above ( It was suggested that an optical filter having all the optical performances of i) to (v) could not be produced.

表9によれば、比較例4に係る光学フィルタは、上記(iii)及び(v)の光学性能を
有しておらず、紫外線領域において所望の特性を有していなかった。また、比較計算例4−Aによれば、UV‐IR吸収層の厚みを大きくすることにより、上記(iii)及び(v
)の光学性能を実現できるものの、上記(i)の光学性能を実現することが難しいことが示唆された。また、比較計算例4−Bによれば、UV‐IR吸収層の厚みを小さくすることにより、上記(i)の光学性能は向上するものの、上記(iii)及び(v)の光学性能
がさらに悪化し、加えて、波長750〜1080nmにおける最大透過率も増加することが示唆された。このため、比較例4に係るUV‐IR吸収性組成物を用いても、上記(i)〜(v)のすべての光学性能を有する光学フィルタを作製できないことが示唆された。
According to Table 9, the optical filter according to Comparative Example 4 did not have the optical performances (iii) and (v) above, and did not have the desired characteristics in the ultraviolet region. Further, according to Comparative Calculation Example 4-A, by increasing the thickness of the UV-IR absorption layer, the above (iii) and (v) are obtained.
It was suggested that although the optical performance of ()) can be realized, it is difficult to realize the optical performance of (i) above. Further, according to Comparative Calculation Example 4-B, by reducing the thickness of the UV-IR absorbing layer, the optical performance of the above (i) is improved, but the optical performance of the above (iii) and (v) is further improved. In addition, it was suggested that the maximum transmittance at wavelengths of 750 to 180 nm also increased. Therefore, it was suggested that an optical filter having all the optical performances (i) to (v) above could not be produced even by using the UV-IR absorbing composition according to Comparative Example 4.

表9によれば、比較例5に係る光学フィルタは、上記(i)及び(iv)の光学性能を有していなかった。比較計算例5によれば、UV‐IR吸収層の厚みを小さくすることにより、波長450〜600nmにおける平均透過率は高まるものの、IRカットオフ波長はほとんど変化せず、波長750〜1080nmにおける最大透過率も増加することが示唆された。このため、比較例5に係る光学フィルタの作製方法では、上記(i)〜(v)の
すべての光学性能を有する光学フィルタを作製できないことが示唆された。UV‐IR吸収性組成物に含まれるアルコキシシランモノマーの加水分解及び縮重合が加湿処理により促進され、UV‐IR吸収層の硬化が進むことに加えて、加湿処理が光学フィルタの透過率スペクトルにも影響を及ぼすことが示唆された。
According to Table 9, the optical filter according to Comparative Example 5 did not have the optical performances of (i) and (iv) above. According to Comparative Calculation Example 5, by reducing the thickness of the UV-IR absorbing layer, the average transmission rate at a wavelength of 450 to 600 nm is increased, but the IR cutoff wavelength hardly changes, and the maximum transmission at a wavelength of 750 to 80 nm. It was suggested that the rate would also increase. Therefore, it was suggested that the method for producing an optical filter according to Comparative Example 5 could not produce an optical filter having all the optical performances (i) to (v) above. Hydrolysis and polycondensation of the alkoxysilane monomer contained in the UV-IR absorbing composition are promoted by the humidification treatment, and in addition to the curing of the UV-IR absorbing layer, the humidification treatment shows the transmittance spectrum of the optical filter. Was also suggested to have an effect.

表9によれば、比較例6に係る光学フィルタは、上記(iv)の光学性能を有していなかった。比較計算例6によれば、UV‐IR吸収層の厚みを小さくすることにより、IRカットオフ波長が増加するものの、波長750〜1080nmにおける最大透過率も増加することが示唆された。このため、比較例6に係る光学フィルタの作製方法では、上記(i)〜(v)のすべての光学性能を有する光学フィルタを作製できないことが示唆された。特に、比較例6における加湿処理の条件が十分でないことが示唆された。 According to Table 9, the optical filter according to Comparative Example 6 did not have the optical performance described in (iv) above. According to Comparative Calculation Example 6, it was suggested that by reducing the thickness of the UV-IR absorbing layer, the IR cutoff wavelength was increased, but the maximum transmittance at a wavelength of 750 to 80 nm was also increased. Therefore, it was suggested that the method for producing an optical filter according to Comparative Example 6 could not produce an optical filter having all the optical performances (i) to (v) above. In particular, it was suggested that the conditions of the humidification treatment in Comparative Example 6 were not sufficient.

表9によれば、比較例7に係る光学フィルタは、上記(i)及び(iv)の光学性能を有していなかった。比較計算例7によれば、UV‐IR吸収層の厚みを小さくすることにより、IRカットオフ波長が増加するものの、波長750〜1080nmにおける最大透過率も増加することが示唆された。このため、比較例7に係る光学フィルタの作製方法では、上記(i)〜(v)のすべての光学性能を有する光学フィルタを作製できないことが示唆された。特に、比較例7における加湿処理の条件が十分でないことが示唆された。 According to Table 9, the optical filter according to Comparative Example 7 did not have the optical performances of (i) and (iv) above. According to Comparative Calculation Example 7, it was suggested that by reducing the thickness of the UV-IR absorbing layer, the IR cutoff wavelength was increased, but the maximum transmittance at a wavelength of 750 to 80 nm was also increased. Therefore, it was suggested that the method for producing an optical filter according to Comparative Example 7 could not produce an optical filter having all the optical performances (i) to (v) above. In particular, it was suggested that the conditions of the humidification treatment in Comparative Example 7 were not sufficient.

表2に示す通り、実施例3〜5に係るUV‐IR吸収性組成物において、実施例3に係るUV‐IR吸収性組成物のn‐ブチルホスホン酸の含有率が最も高く、実施例5に係るUV‐IR吸収性組成物のn‐ブチルホスホン酸の含有率が最も低い。このことと、表8によれば、UV‐IR吸収性組成物におけるアルキル系ホスホン酸の含有率が高くなると、波長700〜1200nmにおいて分光透過率が1%以下である波長範囲及び分光透過率が0.1%以下である波長範囲が長波長側に向けて拡大することが示唆された。実施例
6〜8、実施例9及び実施例10、並びに実施例11〜15においても同じことがいえた。
As shown in Table 2, among the UV-IR absorbing compositions according to Examples 3 to 5, the content of n-butylphosphonic acid in the UV-IR absorbing composition according to Example 3 is the highest, and Example 5 The content of n-butylphosphonic acid in the UV-IR absorbing composition according to the above is the lowest. According to this and Table 8, when the content of alkyl-based phosphonic acid in the UV-IR absorbing composition is high, the wavelength range and the spectral transmittance in which the spectral transmittance is 1% or less at a wavelength of 700 to 1200 nm are increased. It was suggested that the wavelength range of 0.1% or less expands toward the long wavelength side. The same can be said for Examples 6 to 8, 9 and 10, and 11 to 15.

表2に示す通り、実施例11〜15に係るUV‐IR吸収性組成物において、実施例11に係るUV‐IR吸収性組成物のn‐ブチルホスホン酸の含有率が最も高く、実施例12に係るUV‐IR吸収性組成物のn‐ブチルホスホン酸の含有率が二番目に高く、実施例13に係るUV‐IR吸収性組成物のn‐ブチルホスホン酸の含有率が三番目に高く、実施例15に係るUV‐IR吸収性組成物のn‐ブチルホスホン酸の含有率が最も低い。表7における実施例11〜15の結果によれば、光学フィルタの波長1000〜1100nmにおける最大透過率及び光学フィルタの波長1100〜1200nmにおける最大透過率は、実施例11において最も低く、実施例12において2番目に低く、実施例13において3番目に低く、実施例15において最も高い。これにより、UV‐IR吸収性組成物において所定の範囲でアルキル系スルホン酸の含有率を高めることにより、赤外線領域の波長の遮蔽性が向上することが示唆された。 As shown in Table 2, among the UV-IR absorbing compositions according to Examples 11 to 15, the content of n-butylphosphonic acid in the UV-IR absorbing composition according to Example 11 was the highest, and Example 12 The content of n-butylphosphonic acid in the UV-IR absorbing composition according to Example 13 is the second highest, and the content of n-butylphosphonic acid in the UV-IR absorbing composition according to Example 13 is the third highest. , The content of n-butylphosphonic acid in the UV-IR absorbing composition according to Example 15 is the lowest. According to the results of Examples 11 to 15 in Table 7, the maximum transmittance of the optical filter at wavelengths of 1000 to 1100 nm and the maximum transmittance of the optical filter at wavelengths of 1100 to 1200 nm are the lowest in Example 11, and in Example 12. It is the second lowest, the third lowest in Example 13, and the highest in Example 15. This suggests that increasing the content of alkyl sulfonic acid in a predetermined range in the UV-IR absorbing composition improves the shielding property of the wavelength in the infrared region.

表2に示す通り、実施例7、10、及び13に係るUV‐IR吸収性組成物において、実施例7に係るUV‐IR吸収性組成物の4‐ブロモフェニルホスホン酸の含有率が最も高く、実施例13に係るUV‐IR吸収性組成物の4‐ブロモフェニルホスホン酸の含有率が最も低い。表7における実施例7、10、及び13の結果によれば、UV‐IR吸収性組成物の4‐ブロモフェニルホスホン酸の含有率が高いほどUVカットオフ波長が大きくなっている。これにより、UV‐IR吸収性組成物の4‐ブロモフェニルホスホン酸の含有率を調節することにより、光学フィルタの光学性能の最適化が可能であることが示唆された。 As shown in Table 2, among the UV-IR absorbing compositions according to Examples 7, 10 and 13, the content of 4-bromophenylphosphonic acid in the UV-IR absorbing composition according to Example 7 is the highest. , The content of 4-bromophenylphosphonic acid in the UV-IR absorbing composition according to Example 13 is the lowest. According to the results of Examples 7, 10 and 13 in Table 7, the higher the content of 4-bromophenylphosphonic acid in the UV-IR absorbing composition, the larger the UV cutoff wavelength. This suggests that the optical performance of the optical filter can be optimized by adjusting the content of 4-bromophenylphosphonic acid in the UV-IR absorbing composition.

実施例22〜37並びに比較例5〜7に係る光学フィルタを作製するためのUV‐IR
吸収性組成物は、実施例2に係るUV‐IR吸収性組成物と同様に調製されているものの、表7〜表10に示す通り、これらの実施例及びこれらの比較例に係る光学フィルタは、実施例2に係る光学フィルタとは異なる光学性能を有していた。上記の通り、UV‐IR吸収性組成物に含まれる、アルコキシシランの加水分解及び縮重合を促進させる目的で加湿処理が行われてはいるが、加湿処理の態様により、これらの実施例及びこれらの比較例に係る光学フィルタにおいて、波長450〜600nmにおける平均透過率及びIRカットオフ波長について差異が生じた。
UV-IR for producing optical filters according to Examples 22 to 37 and Comparative Examples 5 to 7.
Although the absorbent composition is prepared in the same manner as the UV-IR absorbent composition according to Example 2, as shown in Tables 7 to 10, the optical filters according to these Examples and these Comparative Examples are , It had different optical performance from the optical filter according to Example 2. As described above, the humidification treatment is carried out for the purpose of promoting the hydrolysis and contraction polymerization of the alkoxysilane contained in the UV-IR absorbing composition, but depending on the mode of the humidification treatment, these examples and these In the optical filter according to the comparative example of No. 1, there was a difference in the average transmittance and the IR cutoff wavelength at a wavelength of 450 to 600 nm.

表9における比較計算例5〜7の結果によれば、UV‐IR吸収層の厚みを変えることでUVカットオフ波長を調節できるものの、比較例5〜7に係る光学フィルタの作製方法によれば、(i)〜(xi)の他の光学性能を満たしながら、IRカットオフ波長を所望の範囲に収めることは困難である。そこで、各実施例及び一部の比較例の加湿処理において被処理物品が晒される環境における水蒸気量(曝露水蒸気量)を下記の通り求めた。結果を表3及び表6に示す。温度t[℃]の時の飽和水蒸気圧e[hPa]を、Tetensの近似式:e=6.11×10(7.5t/(t+237.3))により求めた。飽和水蒸気圧e[hPa]と相対湿度φ[%]から、水蒸気密度ρv[g/m3]をρv=217×e×φ/(t+273.15)の式より求めた。水蒸気量×時間[mol/m3・時間]を曝露水蒸気量として
定義した。表3及び表6に示す通り、加湿処理において、温度が60℃以上の場合、相対湿度は70%以上で処理時間1時間以上のときに良好な光学性能が得られることが示唆された。この処理条件は、5.0[mol/m3・時間]以上の曝露水蒸気量の条件に相当
するが、加湿処理での温度が40℃と低く相対湿度が70%である場合、及び、加湿処理での温度が60℃で相対湿度が40%と低い場合でも、処理時間を延ばして同程度の曝露水蒸気量とすることで良好な光学性能が得られることが示唆された。これらの結果から、60℃以上の温度及び70%以上の相対湿度の環境において短時間の加湿処理を行うことが、良好な光学性能を効率良く光学フィルタにもたらす観点から望ましいことが示唆された。
According to the results of Comparative Calculation Examples 5 to 7 in Table 9, the UV cutoff wavelength can be adjusted by changing the thickness of the UV-IR absorbing layer, but according to the method for producing the optical filter according to Comparative Examples 5 to 7. , (I)-(xi), it is difficult to keep the IR cutoff wavelength within a desired range while satisfying the other optical performances. Therefore, the amount of water vapor (exposed water vapor amount) in the environment to which the article to be treated is exposed in the humidification treatment of each example and some of the comparative examples was determined as follows. The results are shown in Tables 3 and 6. The saturated water vapor pressure e [hPa] at the temperature t [° C.] was determined by the approximate expression of Tetens: e = 6.11 × 10 (7.5t / (t + 237.3)) . From the saturated water vapor pressure e [hPa] and the relative humidity φ [%], the water vapor density ρv [g / m 3 ] was calculated from the formula ρv = 217 × e × φ / (t + 273.15). The amount of water vapor x time [mol / m 3 · hour] was defined as the amount of exposed water vapor. As shown in Tables 3 and 6, it was suggested that in the humidification treatment, good optical performance can be obtained when the temperature is 60 ° C. or higher, the relative humidity is 70% or higher, and the treatment time is 1 hour or longer. This treatment condition corresponds to the condition of the amount of exposed water vapor of 5.0 [mol / m 3 hours] or more, but when the temperature in the humidification treatment is as low as 40 ° C. and the relative humidity is 70%, and when the humidity is humidified. It was suggested that even when the temperature in the treatment is 60 ° C. and the relative humidity is as low as 40%, good optical performance can be obtained by extending the treatment time to the same amount of exposed water vapor. From these results, it was suggested that it is desirable to perform the humidification treatment for a short time in an environment of a temperature of 60 ° C. or higher and a relative humidity of 70% or higher from the viewpoint of efficiently bringing good optical performance to the optical filter.

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1a〜1f 光学フィルタ
2 レンズ系
3 ローパスフィルタ
4 撮像素子
5 回路基板
7 光学フィルタ支持筐体
8 光学系筐体
10 UV‐IR吸収層
20 透明誘電体基板
30 反射防止膜
40 反射膜
100 カメラモジュール
1a to 1f Optical filter 2 Lens system 3 Low-pass filter 4 Imaging element 5 Circuit board 7 Optical filter support housing 8 Optical system housing 10 UV-IR absorption layer 20 Transparent dielectric substrate 30 Antireflection film 40 Antireflection film 100 Camera module

Claims (9)

赤外線及び紫外線の一部の光を吸収可能なUV‐IR吸収層を備え、
0°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに、
波長450nm〜600nmにおいて78%以上の平均透過率を有し、
波長600nm〜750nmにおいて波長の増加に伴い減少する分光透過率を有するとともに、波長600nm〜750nmにおいて分光透過率が50%を示す第一IRカットオフ波長が波長620nm〜680nmの範囲内に存在し、
波長350nm〜450nmにおいて波長の増加に伴い増加する分光透過率を有するとともに、波長350nm〜450nmにおいて分光透過率が50%を示す第一UVカットオフ波長が波長380nm〜430nmの範囲内に存在し、
波長1000nm〜1100nmにおける透過率の最大値が3%以下であり、
入射角度が40°であるときに波長1100nm〜1200nmにおける透過率の最大値は、入射角度が0°であるときに波長1100nm〜1200nmにおける透過率の最大値より小さく、
前記第一UVカットオフ波長は、40°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに波長350nm〜450nmにおいて分光透過率が50%を示す第二UVカットオフ波長より小さい、
光学フィルタ。
It has a UV-IR absorption layer that can absorb some infrared rays and ultraviolet rays.
When light with a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 0 °,
It has an average transmittance of 78% or more at wavelengths of 450 nm to 600 nm.
The first IR cutoff wavelength, which has a spectral transmittance that decreases with increasing wavelength at a wavelength of 600 nm to 750 nm and exhibits a spectral transmittance of 50% at a wavelength of 600 nm to 750 nm, exists in the wavelength range of 620 nm to 680 nm.
The first UV cutoff wavelength, which has a spectral transmittance that increases with an increase in wavelength at a wavelength of 350 nm to 450 nm and exhibits a spectral transmittance of 50% at a wavelength of 350 nm to 450 nm, exists in the wavelength range of 380 nm to 430 nm.
The maximum value of transmittance at wavelengths of 1000 nm to 1100 nm is 3% or less.
The maximum value of the transmittance at a wavelength 1100nm~1200nm when the incident angle is 40 ° is rather smaller than the maximum value of the transmittance at a wavelength 1100nm~1200nm when the incident angle is 0 °,
The first UV cutoff wavelength is smaller than the second UV cutoff wavelength, which shows 50% spectral transmittance at a wavelength of 350 nm to 450 nm when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 40 °.
Optical filter.
40°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに波長600nm〜750nmにおいて分光透過率が50%を示す第二IRカットオフ波長と、前記第一IRカットオフ波長との差の絶対値が10nm以下であり、
前記第二UVカットオフ波長と、前記第一UVカットオフ波長との差の絶対値が10nm以下である、
請求項1に記載の光学フィルタ。
The difference between the second IR cutoff wavelength, which shows a spectral transmittance of 50% at a wavelength of 600 nm to 750 nm, and the first IR cutoff wavelength when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 40 °. The absolute value is 10 nm or less,
Said second UV cutoff wavelength, the absolute value of the difference between the first UV cutoff wavelength of 10nm or less,
The optical filter according to claim 1.
前記第一IRカットオフ波長は、40°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに波長600nm〜750nmにおいて分光透過率が50%を示す第二IRカットオフ波長より大きい、請求項1又は2に記載の光学フィルタ。 The first IR cutoff wavelength, has a spectral transmittance at a wavelength 600nm~750nm is greater than the second IR cutoff wavelength showing 50% when applying a light having a wavelength 300nm~1200nm at an angle of incidence of 40 °, the optical filter according toMotomeko 1 or 2. 入射角度が0°であるときに、波長1100nm〜1200nmにおける透過率の最大値が15%以下である、請求項1〜のいずれか1項に記載の光学フィルタ。 The optical filter according to any one of claims 1 to 3 , wherein the maximum value of the transmittance at a wavelength of 1100 nm to 1200 nm is 15% or less when the incident angle is 0 °. 50°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに波長600nm〜750nmにおいて分光透過率が50%を示す第三IRカットオフ波長と、前記第一IRカットオフ波長との差の絶対値が15nm以下であり、
50°の入射角度で波長300nm〜1200nmの光を入射させたときに波長350nm〜450nmにおいて分光透過率が50%を示す第三UVカットオフ波長と、前記第一UVカットオフ波長との差の絶対値が15nm以下である、
請求項1〜のいずれか1項に記載の光学フィルタ。
The difference between the third IR cutoff wavelength, which shows a spectral transmittance of 50% at a wavelength of 600 nm to 750 nm, and the first IR cutoff wavelength when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 50 °. Absolute value is 15 nm or less,
The difference between the third UV cutoff wavelength, which shows 50% spectral transmittance at a wavelength of 350 nm to 450 nm when light having a wavelength of 300 nm to 1200 nm is incident at an incident angle of 50 °, and the first UV cutoff wavelength. Absolute value is 15 nm or less,
The optical filter according to any one of claims 1 to 4 .
0°〜65°の入射角度において、入射角度の増加に伴い、波長1100nm〜1200nmにおける透過率の最大値が小さくなる、請求項1〜のいずれか1項に記載の光学フィルタ。 The optical filter according to any one of claims 1 to 5 , wherein at an incident angle of 0 ° to 65 °, the maximum value of the transmittance at a wavelength of 1100 nm to 1200 nm decreases as the incident angle increases. 前記UV‐IR吸収層は、132μm〜215μmの厚みを有する、請求項1〜のいずれか1項に記載の光学フィルタ。 The optical filter according to any one of claims 1 to 6 , wherein the UV-IR absorbing layer has a thickness of 132 μm to 215 μm. 透明誘電体基板をさらに備えた、請求項1〜のいずれか1項に記載の光学フィルタ。 The optical filter according to any one of claims 1 to 7 , further comprising a transparent dielectric substrate. 請求項1〜のいずれか1項に記載の光学フィルタを備えた、カメラモジュール。 A camera module comprising the optical filter according to any one of claims 1 to 8 .
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