JP6730203B2 - 光学分析装置、光学分析システム、および光学分析方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第1実施形態に係る光学分析システムの構成例を示す図である。光学分析システム10は、撹拌槽11と、光学分析装置14とを備える。また、光学分析システム10は、撹拌槽11及び光学分析装置14を制御する制御部(図示せず)を備える。
(1)制御部は、可動部1423を+Y方向に摺動させることにより、試料1を収容領域1422内に取り込む。
(2)制御部は、光源部141から光を出射させるとともに、受光部143に入射される光のスペクトルを取得する。
(3)制御部は、入射光が微弱でスペクトルが取得できない場合(例えばある波長域の光の吸光度が上側閾値(第1の所定基準)を超える場合)は、可動部1426を−Z方向に摺動させ、入射光が強すぎてスペクトルが取得できない場合(例えばある波長域の光の吸光度が下側閾値(第2の所定基準)を下回る場合)は、可動部1426を+Z方向に摺動させる。制御部は、適切な光のスペクトルが取得できた場合は、光学分析を行う。
(4)制御部は、可動部1426を所定の初期位置(例えば、可動部1423の移動を妨げない位置)に戻し、可動部1423を−Y方向に摺動させることにより、試料1を収容領域1422外に排出する。
第2実施形態に係る光学分析システムでは、計測部142が配管に装着される点が第1実施形態と異なる。以下、第1実施形態と異なる点を中心に説明する。
(1)制御部は、可動部1423を−Z方向に摺動させることにより、試料1を収容領域1422内に取り込む。
(2)制御部は、光源部141から光を出射させるとともに、受光部143に入射される光のスペクトルを取得する。
(3)制御部は、入射光が微弱でスペクトルが取得できない場合は、可動部1426を−Y方向に摺動させ、入射光が強すぎてスペクトルが取得できない場合は、可動部1426を+Y方向に摺動させる。制御部は、適切な光のスペクトルが取得できた場合は、光学分析を行う。
(4)制御部は、可動部1426を所定の初期位置に戻し、可動部1423を+Z方向に摺動させることにより、試料1を収容領域1422外に排出する。
第3実施形態に係る光学分析システムでは、計測部142はさらにシャッターを備える。以下、第1実施形態と異なる点を中心に説明する。
(1)制御部は、可動部1423を+Y方向に摺動させることにより、試料1を収容領域1422内に取り込む。
(2)制御部は、シャッター1427を−Z方向に移動させることにより、開口部1420を遮断し、収容領域1422と撹拌槽11を隔離する。
(3)制御部は、光源部141から光を出射させるとともに、受光部143に入射される光のスペクトルを取得する。
(4)制御部は、入射光が微弱でスペクトルが取得できない場合は、可動部1426を−Z方向に摺動させ、入射光が強すぎてスペクトルが取得できない場合は、可動部1426を+Z方向に摺動させる。制御部は、適切な光のスペクトルが取得できた場合は、光学分析を行う。
(5)制御部は、シャッター1427を+Z方向に移動させることにより、開口部1420を開放する。
(6)制御部は、可動部1426を所定の初期位置に戻し、可動部1423を−Y方向に摺動させることにより、試料1を収容領域1422外に排出する。
第4実施形態に係る光学分析システムでは、シャッター1427を備える計測部142が配管に装着される点が第3実施形態と異なる。以下、第3実施形態と異なる点を中心に説明する。
(1)制御部は、可動部1423を−Z方向に摺動させることにより、試料1を収容領域1422内に取り込む。
(2)制御部は、シャッター1427を−Y方向に移動させることにより、開口部1420を遮断し、収容領域1422と配管21を隔離する。
(3)制御部は、光源部141から光を出射させるとともに、受光部143に入射される光のスペクトルを取得する。
(4)制御部は、入射光が微弱でスペクトルが取得できない場合は、可動部1426を−Y方向に摺動させ、入射光が強すぎてスペクトルが取得できない場合は、可動部1426を+Y方向に摺動させる。制御部は、適切な光のスペクトルが取得できた場合は、光学分析を行う。
(5)制御部は、シャッター1427を+Y方向に移動させることにより、開口部1420を開放する。
(6)制御部は、可動部1426を所定の初期位置に戻し、可動部1423を+Z方向に摺動させることにより、試料1を収容領域1422外に排出する。
第5実施形態に係る光学分析システムでは、計測部142の照射部1424及び集光部1425の配置が第1実施形態と異なる。以下、第1実施形態と異なる点を中心に説明する。
(1)制御部は、可動部1423を+Y方向に摺動させることにより、試料1を収容領域1422内に取り込む。
(2)制御部は、光源部141から光を出射させるとともに、受光部143に入射される光のスペクトルを取得する。
(3)制御部は、入射光が微弱でスペクトルが取得できない場合は、可動部1429を−Z方向に摺動させ、入射光が強すぎてスペクトルが取得できない場合は、可動部1429を+Z方向に摺動させる。制御部は、適切な光のスペクトルが取得できた場合は、光学分析を行う。
(4)制御部は、可動部1429を所定の初期位置に戻し、可動部1423を−Y方向に摺動させることにより、試料1を収容領域1422外に排出する。
Claims (14)
- 液体状の試料に光を照射し、前記試料を分析する光学分析装置であって、
前記試料を計測する計測部と、
前記試料に照射する光を出射する光源部と、
前記試料を透過した光を受光する受光部と
を備え、
前記計測部は、
前記試料を流出入するための開口部が設けられた筐体と、
前記開口部に接続され前記筐体内部に設けられた収容領域と、
前記収容領域内部を移動可能に前記収容領域内部に設けられた可動部と、
前記開口部を遮断又は開放するためのシャッターと、
前記光源部から出射された光を受け付け、前記収容領域内部に照射する照射部と、
前記収容領域内部の前記試料を透過した光を集光し、前記受光部に出力する集光部とを備え、
前記シャッターは、前記可動部よりも前記開口部側に設けられている
光学分析装置。 - 液体状の試料に光を照射し、前記試料を分析する光学分析装置であって、
前記試料を計測する計測部と、
前記試料に照射する光を出射する光源部と、
前記試料を透過した光を受光する受光部と
を備え、
前記計測部は、
前記試料を流出入するための開口部が設けられた筐体と、
前記開口部に接続され前記筐体内部に設けられた収容領域と、
前記収容領域内部を移動可能に前記収容領域内部に設けられた可動部と、
前記光源部から出射された光を受け付け、前記収容領域内部に照射する照射部と、
前記照射部から照射された光を反射させる反射部と、
前記収容領域内部の前記試料を透過した光を集光し、前記受光部に出力する集光部とを備え、
前記照射部及び前記集光部は、前記収容領域の内壁面に設けられ、前記反射部と向かい合う位置に配置されている
光学分析装置。 - 請求項1または2に記載の光学分析装置であって、
前記可動部は、前記開口部を開ける方向及び閉じる方向に往復移動可能に、前記収容領域内部に設けられている
光学分析装置。 - 請求項1または2に記載の光学分析装置であって、
前記照射部及び前記集光部の少なくとも一方は、互いの距離を変更できるように移動可能に前記筐体に設けられている
光学分析装置。 - 請求項4に記載の光学分析装置であって、
前記照射部及び前記集光部の少なくとも一方を移動させることによって、前記照射部及び前記集光部の間の光路長を制御する制御部を備え、
前記制御部は、前記試料の濃度、濁度、又は吸光度が第1の所定基準よりも高い場合は、前記光路長が短くなるように制御し、前記試料の濃度、濁度、又は吸光度が第2の所定基準よりも低い場合は、前記光路長が長くなるように制御する
光学分析装置。 - 請求項2に記載の光学分析装置であって、
前記反射部は、前記照射部及び前記集光部に対する距離を変更できるように移動可能に前記筐体に設けられている
光学分析装置。 - 請求項6に記載の光学分析装置であって、
前記反射部を移動させることによって、前記反射部と前記照射部及び前記集光部との間の光路長を制御する制御部を備え、
前記制御部は、前記試料の濃度、濁度、又は吸光度が第1の所定基準よりも高い場合は、前記光路長が短くなるように制御し、前記試料の濃度、濁度、又は吸光度が第2の所定基準よりも低い場合は、前記光路長が長くなるように制御する
光学分析装置。 - 請求項1または2に記載の光学分析装置であって、
前記計測部は、撹拌槽又は配管の外周壁に装着され、前記開口部は、前記外周壁に設けられた開口部に接続される
光学分析装置。 - 光学分析システムであって、
液体状の試料を撹拌する撹拌槽と、
前記撹拌槽の外周壁に装着され、前記試料を計測する計測部と
を備え、
前記計測部は、
前記外周壁に設けられた第1の開口部に接続され前記試料を流出入するための第2の開口部が設けられた筐体と、
前記第2の開口部に接続され前記筐体内部に設けられた収容領域と、
前記収容領域内部を移動可能に前記収容領域内部に設けられた可動部と、
前記開口部を遮断又は開放するためのシャッターと、
前記収容領域内部に光を照射する照射部と、
前記収容領域内部の前記試料を透過した光を集光する集光部とを備え、
前記シャッターは、前記可動部よりも前記開口部側に設けられている
光学分析システム。 - 光学分析システムであって、
液体状の試料を撹拌する撹拌槽と、
前記撹拌槽の外周壁に装着され、前記試料を計測する計測部と
を備え、
前記計測部は、
前記外周壁に設けられた第1の開口部に接続され前記試料を流出入するための第2の開口部が設けられた筐体と、
前記第2の開口部に接続され前記筐体内部に設けられた収容領域と、
前記収容領域内部を移動可能に前記収容領域内部に設けられた可動部と、
前記収容領域内部に光を照射する照射部と、
前記照射部から照射された光を反射させる反射部と、
前記収容領域内部の前記試料を透過した光を集光する集光部とを備え、
前記照射部及び前記集光部は、前記収容領域の内壁面に設けられ、前記反射部と向かい合う位置に配置されている
光学分析システム。 - 光学分析システムであって、
液体状の試料を送液する配管と、
前記配管の外周壁に装着され、前記試料を計測する計測部と
を備え、
前記計測部は、
前記外周壁に設けられた第1の開口部に接続され前記試料を流出入するための第2の開口部が設けられた筐体と、
前記第2の開口部に接続され前記筐体内部に設けられた収容領域と、
前記収容領域内部を移動可能に前記収容領域内部に設けられた可動部と、
前記開口部を遮断又は開放するためのシャッターと、
前記収容領域内部に光を照射する照射部と、
前記収容領域内部の前記試料を透過した光を集光する集光部とを備え、
前記シャッターは、前記可動部よりも前記開口部側に設けられている
光学分析システム。 - 光学分析システムであって、
液体状の試料を送液する配管と、
前記配管の外周壁に装着され、前記試料を計測する計測部と
を備え、
前記計測部は、
前記外周壁に設けられた第1の開口部に接続され前記試料を流出入するための第2の開口部が設けられた筐体と、
前記第2の開口部に接続され前記筐体内部に設けられた収容領域と、
前記収容領域内部を移動可能に前記収容領域内部に設けられた可動部と、
前記収容領域内部に光を照射する照射部と、
前記照射部から照射された光を反射させる反射部と、
前記収容領域内部の前記試料を透過した光を集光する集光部とを備え、
前記照射部及び前記集光部は、前記収容領域の内壁面に設けられ、前記反射部と向かい合う位置に配置されている
光学分析システム。 - 液体状の試料に光を照射し、前記試料を分析する光学分析方法であって、
前記試料を格納する容器又は配管の外周壁に装着され、前記試料を計測する計測部であって、前記外周壁に設けられた第1の開口部に接続され前記試料を流出入するための第2の開口部が設けられた筐体と、前記第2の開口部に接続され前記筐体内部に設けられた収容領域と、前記収容領域内部を移動可能に前記収容領域内部に設けられた可動部と、前記開口部を遮断又は開放するためのシャッターと、前記収容領域内部に光を照射する照射部と、前記収容領域内部の前記試料を透過した光を集光する集光部とを備える計測部を用意し、
前記シャッターにより前記開口部が解放された状態で前記可動部を第一の方向に移動させることで前記収容領域内部に前記試料を取り込む工程と、
前記シャッターにより前記開口部が遮断された状態で、前記照射部により光を照射する工程と、
前記集光部により光を集光する工程と、
前記シャッターにより前記開口部が解放された状態で前記可動部を第二の方向に移動させることで前記収容領域内部から前記試料を排出する
工程と
を含む光学分析方法。 - 液体状の試料に光を照射し、前記試料を分析する光学分析方法であって、
前記試料を格納する容器又は配管の外周壁に装着され、前記試料を計測する計測部であって、前記外周壁に設けられた第1の開口部に接続され前記試料を流出入するための第2の開口部が設けられた筐体と、前記第2の開口部に接続され前記筐体内部に設けられた収容領域と、前記収容領域内部を移動可能に前記収容領域内部に設けられた可動部と、前記収容領域内部に光を照射する照射部と、前記照射部から照射された光を反射させる反射部と、前記収容領域内部の前記試料を透過した光を集光する集光部とを備え、前記照射部及び前記集光部は、前記収容領域の内壁面に設けられ、前記反射部と向かい合う位置に配置されている計測部を用意し、
前記可動部を第一の方向に移動させることで前記収容領域内部に前記試料を取り込む工程と、
前記照射部により光を照射する工程と、
前記照射部により照射された光を前記反射部により反射する工程と、
前記反射部により反射された光を前記集光部により集光する工程と、
前記可動部を第二の方向に移動させることで前記収容領域内部から前記試料を排出する
工程と
を含む光学分析方法。
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