JP6717107B2 - Cross-linking evaluation method for polymer materials - Google Patents

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本発明は、ポリマー材料の架橋状態を評価する架橋評価方法に関する。 The present invention relates to a cross-linking evaluation method for evaluating the cross-linked state of a polymer material.

従来から複数の高分子材料を混合して構成されるポリマー材料の相分離状態の測定方法および評価方法に関する発明が知られている(下記特許文献1を参照)。また、従来から原子間力顕微鏡を用いたポリマーの解析処理装置に関する発明が知られている(下記特許文献2を参照)。 BACKGROUND ART Conventionally, an invention relating to a method for measuring and evaluating a phase separation state of a polymer material formed by mixing a plurality of polymer materials is known (see Patent Document 1 below). Further, conventionally, an invention relating to a polymer analysis processing apparatus using an atomic force microscope is known (see Patent Document 2 below).

特許文献1に記載された従来の測定方法は、高分子材料でポリマー試験片を形成し、該ポリマー試験片をガス状あるいは水溶液状の電子染色剤に曝露して該ポリマー試験片に電子染色層を形成する。さらに、曝露時間に対応して変化した電子染色層厚さが計測されて曝露時間に対する電子染色層厚さがデータ化される。そして、データ化された曝露時間に対する電子染色層厚さに基づき導き出されたポリマー材料の相分離傾向の相関線によりポリマー材料の層分離状態を測定する(同文献、請求項1等を参照)。 In the conventional measuring method described in Patent Document 1, a polymer test piece is formed of a polymer material, and the polymer test piece is exposed to an electronic dyeing agent in the form of a gas or an aqueous solution to form an electronic dyeing layer on the polymer test piece. To form. Further, the thickness of the electronically dyed layer that has changed corresponding to the exposure time is measured and the thickness of the electronically dyed layer with respect to the exposure time is converted into data. Then, the layer separation state of the polymer material is measured by the correlation line of the phase separation tendency of the polymer material derived based on the electronically dyed layer thickness with respect to the exposure time which is made into data (see the same document, claim 1, etc.).

特許文献2に記載された従来の装置は、原子間力顕微鏡を用いた装置であって、データ取得部とデータ処理部と解析部とを有している。データ取得部は、原子間力顕微鏡の非接触モードを用いて得られるポリマーの位相データを取得する。データ処理部は、前記位相データからつくられる位相画像の中で、注目する基準部位を設定し、位相画像の各部分の位相データから前記注目する基準部位の位相データを差し引いて、相対的位相データを算出する。解析部は、前記相対的位相データを用いて、ポリマーの解析を行う(同文献、請求項1等を参照)。 The conventional apparatus described in Patent Document 2 is an apparatus that uses an atomic force microscope and has a data acquisition unit, a data processing unit, and an analysis unit. The data acquisition unit acquires the phase data of the polymer obtained by using the non-contact mode of the atomic force microscope. The data processing unit sets a reference part of interest in the phase image created from the phase data, subtracts the phase data of the reference part of interest from the phase data of each part of the phase image, and obtains the relative phase data. To calculate. The analysis unit analyzes the polymer using the relative phase data (see the same document, claim 1, etc.).

この従来の装置によれば、試料表面の形状や温度等の測定条件の微妙な変化が生じても、正確な解析結果を得ることができ、ガラス転移温度や融点の温度や結晶化温度を精度良く求めることができる(同文献、段落0014等を参照)。 According to this conventional apparatus, even if there are subtle changes in the measurement conditions such as the shape and temperature of the sample surface, accurate analysis results can be obtained, and the glass transition temperature, melting point temperature, and crystallization temperature can be accurately measured. It can be obtained well (see the same document, paragraph 0014, etc.).

特開2011−169763号公報JP, 2011-169763, A 特開2010−032255号公報JP, 2010-032255, A

たとえばシラン化合物を用いたポリマー材料の架橋は、水分との接触によって緩やかに進行するため、多湿環境において比較的に長時間に亘って徐々に進行させることができる。このように、架橋反応が緩やかに進行するポリマー材料では、架橋の完了時期の見極めや、架橋分布の均一性などを評価する架橋評価方法が必要になる。 For example, the cross-linking of the polymer material using the silane compound proceeds slowly due to contact with moisture, and therefore can be gradually promoted over a relatively long time in a humid environment. As described above, in the case of the polymer material in which the crosslinking reaction proceeds slowly, a crosslinking evaluation method for determining the completion time of crosslinking and the uniformity of the distribution of crosslinking is required.

前記特許文献1には、試料を走査型プローブ顕微鏡(SPM)位相差像で観察し、SPM位相差像により相分散構造を評価することが記載されている。しかし、SPM位相差像には試料表面の凹凸によるコントラストも重畳しており、この2次元像から定量的なパラメータを抽出することは容易ではない(同文献、段落0052から0056等を参照)。 Patent Document 1 describes that a sample is observed by a scanning probe microscope (SPM) phase difference image and the phase dispersion structure is evaluated by the SPM phase difference image. However, the contrast due to the unevenness of the sample surface is also superimposed on the SPM phase difference image, and it is not easy to extract quantitative parameters from this two-dimensional image (see the same document, paragraphs 0052 to 0056, etc.).

また、前記特許文献2に記載された従来の装置では、架橋反応が緩やかに進行するポリマー材料において、架橋の完了時期の見極めや、架橋分布の均一性などを評価することはできない。 Further, in the conventional apparatus described in Patent Document 2, it is not possible to determine the completion time of cross-linking or the uniformity of cross-linking distribution in the polymer material in which the cross-linking reaction proceeds slowly.

本発明は、前記課題に鑑みてなされたものであり、たとえば架橋反応が緩やかに進行するポリマー材料において、架橋の完了時期の見極めや架橋分布の均一性などを評価することができるポリマー材料の架橋評価方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and for example, in a polymer material in which a crosslinking reaction proceeds slowly, it is possible to evaluate the completion time of crosslinking and the uniformity of crosslinking distribution, etc. The purpose is to provide an evaluation method.

前記目的を達成すべく、本発明は、ポリマー材料の架橋状態を評価する架橋評価方法であって、前記ポリマー材料の位相データからヒストグラムを作成するヒストグラム作成工程と、前記ヒストグラムに基づいて前記ポリマー材料の架橋状態を評価する架橋評価工程と、を有することを特徴とする。 In order to achieve the above-mentioned object, the present invention is a cross-linking evaluation method for evaluating the cross-linking state of a polymer material, comprising a histogram creating step of creating a histogram from phase data of the polymer material, and the polymer material based on the histogram. And a cross-linking evaluation step of evaluating the cross-linking state of.

本発明によれば、ポリマー材料の位相データからヒストグラムを作成することで、ポリマー材料の架橋分布を直接観察することができる。さらに、そのヒストグラムに基づいてポリマー材料の架橋状態を評価することで、たとえば架橋反応が緩やかに進行するポリマー材料において、架橋の完了時期の見極め、架橋分布の均一性、およびポリマー材料の分子同士が架橋する副反応の発生などを評価することができる。 According to the present invention, a cross-linking distribution of a polymer material can be directly observed by creating a histogram from phase data of the polymer material. Furthermore, by evaluating the cross-linking state of the polymer material based on the histogram, for example, in the polymer material in which the cross-linking reaction proceeds slowly, it is possible to determine the completion time of cross-linking, the uniformity of cross-linking distribution, and the molecules of the polymer material The occurrence of side reactions such as crosslinking can be evaluated.

本発明の一実施形態に係るポリマー材料の架橋評価方法のフロー図。1 is a flow chart of a method for evaluating cross-linking of a polymer material according to an embodiment of the present invention. 絶縁被覆としてポリマー材料を備えるケーブルの一例を示す断面図。Sectional drawing which shows an example of the cable which comprises a polymer material as an insulation coating. 絶縁被覆としてポリマー材料を備えるケーブルの一例を示す断面図。Sectional drawing which shows an example of the cable which comprises a polymer material as an insulation coating. 図1に示すポリマー材料の架橋評価方法の変形例を示すフロー図。The flowchart which shows the modification of the crosslinking evaluation method of the polymer material shown in FIG. 位相データ取得工程に用いる原子間力顕微鏡の一例を示す概略構成図。The schematic block diagram which shows an example of the atomic force microscope used for a phase data acquisition process. 位相データ取得工程で取得された位相データの一例を示す図。The figure which shows an example of the phase data acquired by the phase data acquisition process. ヒストグラム作成工程で作製されたヒストグラムの一例を示す図。The figure which shows an example of the histogram produced by the histogram production process. 位相データ取得工程で取得された位相データの一例を示す図。The figure which shows an example of the phase data acquired by the phase data acquisition process. 位相データ取得工程で取得された位相データの一例を示す図。The figure which shows an example of the phase data acquired by the phase data acquisition process. 図8に示す位相データから作成されたヒストグラムを示す図。The figure which shows the histogram created from the phase data shown in FIG. 図9に示す位相データから作成されたヒストグラムを示す図。The figure which shows the histogram created from the phase data shown in FIG. 図1に示すポリマー材料の架橋評価方法の変形例を示すフロー図。The flowchart which shows the modification of the crosslinking evaluation method of the polymer material shown in FIG. ポリマー材料の形状データの一例を示す図。The figure which shows an example of the shape data of a polymer material. ポリマー材料の位相データの一例を示す図。The figure which shows an example of the phase data of a polymer material. 図14に示す位相データから作成されたヒストグラムを示す図。The figure which shows the histogram created from the phase data shown in FIG. ヒストグラムから得られる波形のしきい値θaの一例を示す図。The figure which shows an example of the threshold-value (theta)a of the waveform obtained from a histogram. ヒストグラムから得られる波形のしきい値θbの一例を示す図。The figure which shows an example of the threshold-value (theta)b of the waveform obtained from a histogram. しきい値θaよりも位相遅れが大きい位相データを示す図。The figure which shows the phase data whose phase delay is larger than threshold value (theta)a. しきい値θbよりも位相遅れが小さい位相データを示す図。The figure which shows the phase data whose phase delay is smaller than threshold value (theta)b.

以下、図面を参照して本発明のポリマー材料の架橋評価方法の一実施形態を説明する。 Hereinafter, an embodiment of a method for evaluating cross-linking of a polymer material of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明の一実施形態に係るポリマー材料の架橋評価方法S100のフロー図である。図2および図3は、絶縁被覆11としてポリマー材料を備えるケーブル10A,10Bの一例を示す断面図である。 FIG. 1 is a flow chart of a cross-linking evaluation method S100 of a polymer material according to an embodiment of the present invention. 2 and 3 are cross-sectional views showing an example of the cables 10A and 10B provided with a polymer material as the insulating coating 11.

本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100は、たとえば電線やケーブル10Aの絶縁被覆11や、絶縁被覆11を有する複数の電線やケーブル10Aを覆う外層被覆13の材料として用いられる架橋ゴム等のポリマー材料の架橋状態を評価する方法である。架橋ゴムとしては、たとえば、エチレンプロピレンゴム、クロロプレンゴム、天然ゴム、アクリルゴム、ブチルゴム、シリコーンゴム、フッ素ゴム、アクリロニトリル・ブタジエンゴム、スチレン・ブタジエンゴム、塩素化ポリエチレン等を例示することができる。 The cross-linking evaluation method S100 of the polymer material according to the present embodiment is a polymer such as a cross-linked rubber used as a material for the insulation coating 11 of the electric wire or cable 10A, or the outer layer coating 13 for covering the plurality of electric wires or cables 10A having the insulation coating 11. This is a method for evaluating the cross-linked state of a material. Examples of the crosslinked rubber include ethylene propylene rubber, chloroprene rubber, natural rubber, acrylic rubber, butyl rubber, silicone rubber, fluororubber, acrylonitrile/butadiene rubber, styrene/butadiene rubber, chlorinated polyethylene and the like.

これらのポリマー材料は、たとえば、過酸化物、硫黄、金属酸化物等によって架橋されるが、いずれの方式も架橋するために加熱処理が必要となる。たとえば、ケーブル10Aの絶縁被覆11として用いられる架橋ゴムは、押出機から押し出されてケーブル10Aを被覆した後、高温高圧蒸気や高温溶融金属塩を用いて、100℃以上の温度で架橋が行われる。しかし、このような加熱による架橋は、多くのエネルギーを必要とし、高価な加熱装置を必要する。 These polymer materials are cross-linked by, for example, peroxides, sulfur, metal oxides and the like, and heat treatment is required for cross-linking in any method. For example, the crosslinked rubber used as the insulating coating 11 of the cable 10A is extruded from the extruder to cover the cable 10A, and then crosslinked at a temperature of 100° C. or higher using high temperature high pressure steam or high temperature molten metal salt. .. However, such heating cross-linking requires a lot of energy and requires an expensive heating device.

一方、ポリマー構造中にシランカップリング剤が導入された湿気硬化型ポリマー材料は、架橋反応を常温、常圧下で行うことができる。たとえば、エチレンプロピレンゴムにシラン化合物と遊離ラジカル発生剤を導入してグラフトし、シラングラフトゴムを作製する。このシラングラフトゴムを、シラノール縮合触媒の存在下で電線やケーブルに対して押出被覆を行い、水分と接触させて架橋させることができる。シラン架橋基を含む化合物としては、たとえば、ビニルトリメトキシシラン等を挙げることができる On the other hand, the moisture-curable polymer material in which the silane coupling agent is introduced into the polymer structure can carry out the crosslinking reaction at room temperature and atmospheric pressure. For example, a silane compound and a free radical generator are introduced into ethylene propylene rubber and grafted to produce a silane graft rubber. This silane-grafted rubber can be extrusion-coated on an electric wire or cable in the presence of a silanol condensation catalyst and brought into contact with water to crosslink. Examples of the compound containing a silane crosslinking group include vinyltrimethoxysilane and the like.

また、クロロプレンゴムと有機シラン化合物を混練することで、シラングラフトクロロプレンゴムを作製する。このシラングラフトクロロプレンゴムを用いて、シラノール縮合触媒をクロロプレンゴムに添加したマスターバッチとともに電線やケーブル10A,10Bに対して押出被覆を行い、室温の水中に浸漬して架橋させる。また、塩素化ポリエチレンに有機シラン化合物をパーオキサイド存在下で反応させてシラングラフトゴムを作製する。このシラングラフトゴムを用いて、シラノール縮合触媒存在下で電線やケーブル10A,10Bに対して押出被覆を行い、水分に晒すことによって架橋させることができる。 Further, a silane-grafted chloroprene rubber is produced by kneading the chloroprene rubber and the organic silane compound. Using this silane-grafted chloroprene rubber, the electric wires and cables 10A and 10B are extrusion-coated with a masterbatch in which a silanol condensation catalyst is added to chloroprene rubber, and immersed in water at room temperature for crosslinking. In addition, a silane-grafted rubber is produced by reacting chlorinated polyethylene with an organic silane compound in the presence of peroxide. By using this silane-grafted rubber, the electric wires and the cables 10A and 10B are extrusion-coated in the presence of a silanol condensation catalyst, and exposed to water to be crosslinked.

このように、シラン架橋ゴム等、ポリマー構造中にシランカップリング剤が導入された湿気硬化型ポリマー材料は、水分との接触によって架橋が緩やかに進行する。湿気硬化型ポリマー材料は、水中に浸漬させなくとも、多湿環境でも時間をかければ架橋がゆっくりと進行する。そのため、このようなポリマー材料では、架橋の完了時期の見極めや、架橋分布の均一性などを評価するための評価方法が重要になる。 As described above, in a moisture-curable polymer material in which a silane coupling agent is introduced into the polymer structure, such as a silane crosslinked rubber, crosslinking gradually progresses due to contact with water. Moisture-curable polymer materials undergo slow crosslinking even in a humid environment without being immersed in water. Therefore, in such a polymer material, an evaluation method for determining the completion time of cross-linking and evaluating the uniformity of cross-linking distribution is important.

特に、ポリマー構造中にシランカップリング剤が導入された湿気硬化型ポリマーでは、シラン架橋とは異なる反応である副反応が発生する場合がある。たとえば、ゴム分子同士が架橋する副反応が進行すると、その部分の硬度が上昇し、ポリマー材料に外観不良が発生するなどの不具合を生じる。そのため、副反応の発生率を定量的に評価する評価方法が必要となる。本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100は、前述の加熱による架橋を行う架橋ゴムの架橋状態だけでなく、前述のようにポリマー構造中にシランカップリング剤が導入された湿気硬化型ポリマー材料の架橋状態を評価するのに特に有効である。 Particularly, in a moisture-curable polymer in which a silane coupling agent is introduced into the polymer structure, a side reaction which is a reaction different from silane crosslinking may occur. For example, when a side reaction in which rubber molecules are cross-linked progresses, the hardness of that portion increases, which causes problems such as poor appearance of the polymer material. Therefore, an evaluation method for quantitatively evaluating the incidence of side reactions is required. The cross-linking evaluation method S100 of the polymer material of the present embodiment is not limited to the cross-linked state of the cross-linked rubber that is cross-linked by heating as described above, but the moisture-curable polymer material in which the silane coupling agent is introduced into the polymer structure as described above. It is particularly effective for evaluating the crosslinked state of.

本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100は、前述のようなポリマー材料の架橋状態を評価する架橋評価方法であって、図1に示すように、主に、ヒストグラム作成工程S10と、架橋評価工程S20とを有している。ヒストグラム作成工程S10は、予め入手された評価対象のポリマー材料の位相データからヒストグラムを作成する工程である。架橋評価工程S20は、ヒストグラム作成工程S10で作成されたヒストグラムに基づいて、測定対象のポリマー材料の架橋状態を評価する工程である。 The cross-linking evaluation method S100 of the polymer material of the present embodiment is a cross-linking evaluation method for evaluating the cross-linking state of the polymer material as described above, and as shown in FIG. And step S20. The histogram creating step S10 is a step of creating a histogram from the phase data of the polymer material to be evaluated, which is obtained in advance. The crosslinking evaluation step S20 is a step of evaluating the crosslinking state of the polymer material to be measured based on the histogram created in the histogram creation step S10.

図4は、図1に示す本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100の変形例を示すフロー図である。たとえば評価対象のポリマー材料の位相データを予め入手できない場合に、ポリマー材料の架橋評価方法S100は、ヒストグラム作成工程S10の前に、原子間力顕微鏡の位相モードで位相データを取得する位相データ取得工程S30を有することができる。以下では、まず、この位相データ取得工程S30について説明し、次に、位相データを用いたヒストグラム作成工程S10および架橋評価工程S20について説明する。 FIG. 4 is a flow chart showing a modified example of the cross-linking evaluation method S100 of the polymer material of the present embodiment shown in FIG. For example, when the phase data of the polymer material to be evaluated cannot be obtained in advance, the cross-linking evaluation method S100 of the polymer material includes a phase data acquisition step of acquiring phase data in the phase mode of the atomic force microscope before the histogram creation step S10. S30 may be included. Hereinafter, the phase data acquisition step S30 will be described first, and then the histogram creation step S10 and the bridge evaluation step S20 using the phase data will be described.

(位相データ取得工程)
図5は、位相データ取得工程S30に用いることができる原子間力顕微鏡装置100の一例を示す概略構成図である。原子間力顕微鏡装置100は、たとえば、カンチレバー1と、このカンチレバー1を所定の振動数で上下に振動させる振動子2と、カンチレバー1にレーザ光Lを照射するレーザ光源3と、このレーザ光源3から照射されてカンチレバー1で反射されたレーザ光Lを受光する受光部4とを備えている。
(Phase data acquisition process)
FIG. 5: is a schematic block diagram which shows an example of the atomic force microscope apparatus 100 which can be used for the phase data acquisition process S30. The atomic force microscope apparatus 100 includes, for example, a cantilever 1, a vibrator 2 that vibrates the cantilever 1 up and down at a predetermined frequency, a laser light source 3 that irradiates the cantilever 1 with a laser beam L, and a laser light source 3 of the cantilever 1. And a light receiving section 4 for receiving the laser light L emitted from the cantilever 1 and reflected by the cantilever 1.

また、原子間力顕微鏡装置100は、たとえば、振動子2および受光部4に接続された解析用パーソナルコンピュータ(PC)5と、試料Pを収容するチャンバー6と、該チャンバー6内で試料Pを支持してカンチレバー1に近づけるスキャナ7を備えることができる。スキャナ7は、たとえば、圧電素子によって構成することができる。 In addition, the atomic force microscope apparatus 100 includes, for example, an analysis personal computer (PC) 5 connected to the oscillator 2 and the light receiving unit 4, a chamber 6 for containing the sample P, and a sample P in the chamber 6. A scanner 7 can be provided that supports and approaches the cantilever 1. The scanner 7 can be composed of, for example, a piezoelectric element.

また、原子間力顕微鏡装置100は、チャンバー6に真空ライン8aを介して接続され、チャンバー6内の圧力を制御するロータリーポンプ8と、チャンバー6に冷却ライン9aを介して接続され、チャンバー6内の試料Pを冷却する冷却装置9とを備えることができる。また、原子間力顕微鏡装置100は、たとえば、チャンバー6内の試料Pの温度を制御するための調温器10を備えることができる。調温器10は、たとえばチャンバー6内の試料Pの温度を測定する温度センサ10aと、チャンバー6内の試料を加熱するヒータ10bとを有することができる。 Further, the atomic force microscope apparatus 100 is connected to the chamber 6 via a vacuum line 8a, is connected to the rotary pump 8 for controlling the pressure in the chamber 6, and is connected to the chamber 6 via a cooling line 9a. And a cooling device 9 for cooling the sample P. Further, the atomic force microscope apparatus 100 can include, for example, the temperature controller 10 for controlling the temperature of the sample P in the chamber 6. The temperature controller 10 may include, for example, a temperature sensor 10a that measures the temperature of the sample P in the chamber 6 and a heater 10b that heats the sample in the chamber 6.

原子間力顕微鏡装置100は、解析用PC5の制御の下、振動子2によってカンチレバー1を上下に振動させながら、スキャナ7によって試料Pの表面をカンチレバー1に数ナノメートルの距離まで近づけ、カンチレバー1と試料Pとの間に作用する原子間力を検知する。そして、原子間力顕微鏡装置100は、カンチレバー1の振動の振幅が一定になるように、スキャナ7によって試料Pの表面とカンチレバー1との間の距離を制御することで、試料Pの表面の凹凸形状を測定することができる。 Under the control of the analyzing PC 5, the atomic force microscope apparatus 100 causes the surface of the sample P to approach the cantilever 1 by the scanner 7 to a distance of several nanometers while vibrating the cantilever 1 up and down by the oscillator 2. The atomic force acting between the sample and the sample P is detected. Then, the atomic force microscope apparatus 100 controls the distance between the surface of the sample P and the cantilever 1 by the scanner 7 so that the amplitude of the vibration of the cantilever 1 becomes constant, so that the surface roughness of the sample P becomes uneven. The shape can be measured.

位相データ取得工程S30では、試料Pの測定エリアを決定し、原子間力顕微鏡装置100の位相モードによって試料Pの位相データを取得する。より詳細には、カンチレバー1と試料Pの表面との間に作用する原子間力の作用でカンチレバー1の位相が変化する。具体的には、試料Pの表面に対して原子間力が作用する微小な距離を有して振動しているカンチレバー1に対し、レーザ光源3からレーザ光Lを照射し、その反射光を受光部4によって受光し、受光部4に接続された解析用PC5によってカンチレバー1の振動を計測する。 In the phase data acquisition step S30, the measurement area of the sample P is determined, and the phase data of the sample P is acquired according to the phase mode of the atomic force microscope apparatus 100. More specifically, the phase of the cantilever 1 is changed by the action of the atomic force acting between the cantilever 1 and the surface of the sample P. Specifically, laser light L is emitted from the laser light source 3 to the cantilever 1 vibrating with a small distance where an atomic force acts on the surface of the sample P, and the reflected light is received. The light is received by the unit 4, and the vibration of the cantilever 1 is measured by the analyzing PC 5 connected to the light receiving unit 4.

カンチレバー1の振動は、カンチレバー1による試料の測定箇所の硬さに依存して、振動子2の振動に対する位相が変化する。振動子2の振動に対するカンチレバー1の振動の位相の遅れは、試料Pの測定箇所が硬い場合に小さくなり、試料Pの測定箇所が軟らかい場合に大きくなる。すなわち、原子間力顕微鏡装置100は、解析用PC5によって、試料Pの測定箇所の硬さに依存する位相の遅れの情報を含む位相データを取得することができる。 The vibration of the cantilever 1 changes in phase with respect to the vibration of the vibrator 2 depending on the hardness of the measurement site of the sample by the cantilever 1. The phase delay of the vibration of the cantilever 1 with respect to the vibration of the oscillator 2 is small when the measurement point of the sample P is hard, and is large when the measurement point of the sample P is soft. That is, the atomic force microscope apparatus 100 can acquire the phase data including the information on the phase delay depending on the hardness of the measurement point of the sample P by the analysis PC 5.

なお、位相データ取得工程S30は、チャンバー6内の環境を、試料Pであるポリマー材料の融点よりも10℃から150℃低い温度環境でかつ10Paから10−1Paの範囲の低真空環境にして、その環境に置かれた試料Pを用いて行うことができる。具体的には、調温器10および冷却装置9を用いて試料Pの環境温度を制御するとともに、ロータリーポンプ8を作動させてチャンバー6内の圧力を制御する。 In the phase data acquisition step S30, the environment inside the chamber 6 is set to a temperature environment that is 10° C. to 150° C. lower than the melting point of the polymer material that is the sample P and a low vacuum environment in the range of 10 4 Pa to 10 −1 Pa. Then, it can be performed using the sample P placed in the environment. Specifically, the temperature controller 10 and the cooling device 9 are used to control the environmental temperature of the sample P, and the rotary pump 8 is operated to control the pressure in the chamber 6.

上記のような温度環境に置かれた試料Pを用いて位相データ取得工程S30を行うことで、試料Pであるポリマー材料が熔融して位相データが取得できなくなるのを防止できる。また、ポリマー材料の融点との温度差を確保することができ、ポリマー材料の結晶化点やガラス転移点に対して敏感になることがなく、目的とする架橋構造を見極めるのが容易になる。 By performing the phase data acquisition step S30 using the sample P placed in the temperature environment as described above, it is possible to prevent the polymer material that is the sample P from melting and being unable to acquire the phase data. In addition, a temperature difference from the melting point of the polymer material can be secured, and the polymer material does not become sensitive to the crystallization point or glass transition point of the polymer material, making it easy to identify the target crosslinked structure.

また、上記のような低真空環境に置かれた試料Pを用いて位相データ取得工程S30を行うことで、カンチレバー1の振動振幅を大きくすることができ、位相データの測定感度を向上させることができる。なお、10−1Paまでの低真空環境であれば問題はないが、10−2Paを超えるような中真空から高真空環境になると、ポリマー材料に添加された添加物が試料Pの表面に移動して、目的とする架橋構造を見極めるのが困難になる。したがって、位相データ取得工程S30は、10Paから10−1Paの範囲の低真空環境で行うことが好ましい。 Further, by performing the phase data acquisition step S30 using the sample P placed in the low vacuum environment as described above, the vibration amplitude of the cantilever 1 can be increased, and the measurement sensitivity of the phase data can be improved. it can. It should be noted that there is no problem in a low vacuum environment of up to 10 −1 Pa, but when the medium vacuum to high vacuum environment exceeding 10 −2 Pa is reached, the additive added to the polymer material is transferred to the surface of the sample P. It is difficult to move and identify the desired crosslinked structure. Therefore, the phase data acquisition step S30 is preferably performed in a low vacuum environment in the range of 10 4 Pa to 10 −1 Pa.

図6は、位相データ取得工程S30で取得された位相データの一例を示す図である。図6は、縦5μm、横10μmの試料Pの測定エリアにおいて、位相の遅れを白黒の濃淡でマッピングして表している。図6において、淡色で白色に近い部分ほど位相の遅れが大きく、濃色で黒色に近い部分ほど位相の遅れが小さいことを示している。 FIG. 6 is a diagram showing an example of the phase data acquired in the phase data acquisition step S30. FIG. 6 shows a phase delay in the measurement area of the sample P having a length of 5 μm and a width of 10 μm by mapping in black and white shading. In FIG. 6, it is shown that the lighter and closer to white the part has a larger phase delay, and the darker and closer to the black part has a smaller phase delay.

(ヒストグラム作成工程)
図1に示すポリマー材料の架橋評価方法S100では、前述の位相データ取得工程S30と同様の方法によって予め取得されたポリマー材料の位相データを用いて、ヒストグラム作成工程S10を実施する。また、図4に示すポリマー材料の架橋評価方法S100では、前述の位相データ取得工程S30によって取得されたポリマー材料の位相データを用いてヒストグラム作成工程S10を実施する。ヒストグラム作成工程S10では、ポリマー材料の位相データを用いてヒストグラムを作成する。
(Histogram creation process)
In the cross-linking evaluation method S100 of the polymer material shown in FIG. 1, the histogram creating step S10 is performed using the phase data of the polymer material previously acquired by the same method as the above-described phase data acquiring step S30. Further, in the polymer material cross-linking evaluation method S100 shown in FIG. 4, the histogram creation step S10 is performed using the phase data of the polymer material acquired in the phase data acquisition step S30 described above. In the histogram creating step S10, a histogram is created using the phase data of the polymer material.

図7は、ヒストグラム作成工程S10で作成されたヒストグラムの一例を示す図である。図7において、横軸は位相の遅れ[deg]であり、縦軸は強度(頻度)である。図7に示すヒストグラムは、試料であるポリマー材料の架橋が終了していない状態で、位相データ取得工程S30を行って取得された位相データに基づいて作成されたものである。ヒストグラム作成工程S10の終了後は、図1および図4に示すように、架橋評価工程S20を実施する。 FIG. 7 is a diagram showing an example of the histogram created in the histogram creating step S10. In FIG. 7, the horizontal axis is the phase delay [deg], and the vertical axis is the intensity (frequency). The histogram shown in FIG. 7 is created based on the phase data acquired by performing the phase data acquisition step S30 in a state where the crosslinking of the polymer material as the sample is not completed. After the completion of the histogram creation step S10, a crosslinking evaluation step S20 is carried out as shown in FIGS.

(架橋評価工程)
架橋評価工程S20は、前述のヒストグラム作成工程S10で作成されたヒストグラムに基づいてポリマー材料の架橋状態、すなわちポリマー材料の品質を評価する工程である。より具体的には、図7に示すように、位相データのヒストグラムから表される波形を複数に分離して、位相が遅れている波形の情報に基づき試料の品質を評価することができる。
(Crosslink evaluation process)
The cross-linking evaluation step S20 is a step of evaluating the cross-linked state of the polymer material, that is, the quality of the polymer material, based on the histogram created in the histogram creation step S10. More specifically, as shown in FIG. 7, the waveform represented by the histogram of the phase data can be separated into a plurality of waveforms, and the quality of the sample can be evaluated based on the information of the waveforms whose phases are delayed.

架橋評価工程S20では、ヒストグラムから得られた波形において、複数のピークP1,P2,P3を特定し、各ピークP1,P2,P3における位相の遅れと強度を抽出する。たとえば、図7に示す例において、ヒストグラムから得られた波形のピークP1,P2,P3の位相の遅れは、それぞれ、θ1=−275[deg]、θ2=−248[deg]、θ3=−238[deg]であり、強度は、それぞれ、I1=100、I2=40、I3=25である。 In the cross-linking evaluation step S20, a plurality of peaks P1, P2, P3 are identified in the waveform obtained from the histogram, and the phase delay and intensity at each peak P1, P2, P3 are extracted. For example, in the example shown in FIG. 7, the phase delays of the peaks P1, P2, and P3 of the waveform obtained from the histogram are θ1=−275 [deg], θ2=−248 [deg], and θ3=−238, respectively. [Deg], and the intensities are I1=100, I2=40, and I3=25, respectively.

ヒストグラムから得られた波形において、波形の本数、すなわち特定されたピークP1,P2,P3の数が多いほど、架橋分布が不均一であることを示している。たとえば、図5に示す解析用PC5を用いて、このような解析を行うことができる。そして、特定されたピークP1,P2,P3の数が複数である場合に、たとえば、図7に示すように、解析用PC5のモニタにポリマー材料の架橋分布が不均一であることを表示させるようにしてもよい。 In the waveform obtained from the histogram, the larger the number of waveforms, that is, the larger the number of identified peaks P1, P2, P3, the more uneven the cross-linking distribution. For example, such an analysis can be performed using the analysis PC 5 shown in FIG. Then, when the number of identified peaks P1, P2, P3 is plural, for example, as shown in FIG. 7, a monitor of the analysis PC 5 displays that the cross-linking distribution of the polymer material is non-uniform. You may

たとえば、図7に示すヒストグラムの波形において、複数のピークP1,P2,P3に対応する波形のうち、位相の遅れが小さい波形の面積が大きいほど、ポリマー材料に硬い部分が多く副反応の発生率が高いことを示している。たとえば、図5に示す解析用PC5を用いてこのような解析を行い、解析中のポリマー材料において副反応が発生していること、副反応の発生率等を、たとえば図7に示すように、モニタに表示させるようにしてもよい。 For example, in the waveform of the histogram shown in FIG. 7, among the waveforms corresponding to the plurality of peaks P1, P2, and P3, the larger the area of the waveform having the smaller phase delay, the more the polymer material has the hard portion, and the occurrence rate of the side reaction. Is high. For example, the analysis PC5 shown in FIG. 5 is used to perform such an analysis, and the fact that a side reaction occurs in the polymer material under analysis, the occurrence rate of the side reaction, etc. are shown in FIG. You may make it display on a monitor.

図8および図9は、位相データ取得工程S30で取得された位相データの一例を示す図である。図8および図9は、図6と同様に、縦5μm、横10μmの試料の測定エリアにおいて、位相の遅れを白黒の濃淡でマッピングして表している。なお、図9に示す位相データは、図8に示す位相データが取得された時点から所定の時間が経過した後に取得された位相データを示している。 8 and 9 are diagrams showing an example of the phase data acquired in the phase data acquisition step S30. Similar to FIG. 6, FIGS. 8 and 9 show phase delays in black and white shading in the measurement area of the sample having a length of 5 μm and a width of 10 μm. The phase data shown in FIG. 9 represents the phase data acquired after a predetermined time has elapsed from the time when the phase data shown in FIG. 8 was acquired.

図10および図11は、それぞれ、図8および図9に示す位相データからヒストグラム作成工程S10で作成されたヒストグラムを示す図である。すなわち、図11に示すヒストグラムの波形は、図10に示すヒストグラムの波形が所定時間の経過後に変化した状態を示している。 10 and 11 are diagrams showing histograms created in the histogram creating step S10 from the phase data shown in FIGS. 8 and 9, respectively. That is, the waveform of the histogram shown in FIG. 11 shows a state in which the waveform of the histogram shown in FIG. 10 has changed after the elapse of a predetermined time.

架橋評価工程S20では、ヒストグラムから得られる波形のピークが複数から単数に変化した時点を架橋終了時と判定することができる。具体的には、たとえば、図10に示すようにヒストグラムの波形において複数のピークが特定できる状態から、図11に示すようにヒストグラムの波形において1つのピークが特定できる状態に変化した時点を架橋終了時と判断することができる。この場合、図7に示す例と同様に、解析用PC5のモニタに架橋が完了したことを表示することができる。 In the cross-linking evaluation step S20, the time when the peak of the waveform obtained from the histogram changes from plural to singular can be determined to be the end of cross-linking. Specifically, for example, when the plurality of peaks can be identified in the waveform of the histogram as shown in FIG. 10 and the state in which one peak can be identified in the waveform of the histogram as shown in FIG. It can be judged as time. In this case, similar to the example shown in FIG. 7, it is possible to display on the monitor of the analyzing PC 5 that the crosslinking has been completed.

また、架橋評価工程S20では、ヒストグラムの波形において最大のピークにおける位相の遅れを所定の時間間隔で比較し、所定時間経過前の位相の遅れと所定時間経過後の位相の遅れが等しくなった時点を架橋終了時と判定することができる。具体的には、まず、図10に示すように、ヒストグラムの波形において最大のピークP0を特定し、そのピークP0の位相の遅れθ0を抽出する。 In the bridge evaluation step S20, the phase delay at the maximum peak in the waveform of the histogram is compared at a predetermined time interval, and when the phase delay before the elapse of the predetermined time and the phase delay after the elapse of the predetermined time become equal. Can be determined to be the end of crosslinking. Specifically, first, as shown in FIG. 10, the maximum peak P0 is specified in the waveform of the histogram, and the phase delay θ0 of the peak P0 is extracted.

次に、図11に示すように、所定時間経過後のヒストグラムの波形において最大のピークP1を特定し、そのピークP1の位相の遅れθ1を抽出し、抽出した位相の遅れθ1と所定時間経過前に抽出した位相の遅れθ0とを比較する。そして、不等式:|θ0|>|θ1|を満たす場合に、架橋が進行中であることを判定し、θ0=θ1の場合に架橋が終了したことを判定する。その後、たとえば図7に示す例と同様に、解析用PC5のモニタに架橋が進行中であること、または架橋が完了したことを表示することができる。 Next, as shown in FIG. 11, the maximum peak P1 is specified in the waveform of the histogram after a predetermined time has elapsed, the phase delay θ1 of the peak P1 is extracted, and the extracted phase delay θ1 and the predetermined time before the predetermined time elapses. The phase delay θ0 extracted in step 1 is compared. Then, when the inequality: |θ0|>|θ1| is satisfied, it is determined that the crosslinking is in progress, and when θ0=θ1, it is determined that the crosslinking is completed. Then, similar to the example shown in FIG. 7, for example, it is possible to display on the monitor of the analysis PC 5 that the crosslinking is in progress or that the crosslinking is completed.

また、架橋評価工程S20では、ヒストグラムから得られる波形の最大ピークの半値幅Hnが15[deg]以下になった時点を架橋終了時と判定することができる。なお、最大ピークの半値幅Hnが10±5[deg]以下となった時点を架橋終了時と判定してもよい。具体的には、図11に示す位相データのヒストグラムから最大のピークP1を有する波形の半値幅Hnを抽出する。 In addition, in the cross-linking evaluation step S20, the time point when the half-value width Hn of the maximum peak of the waveform obtained from the histogram becomes 15 [deg] or less can be determined to be the end of cross-linking. The half-width Hn of the maximum peak may be determined to be 10±5 [deg] or less when the crosslinking is completed. Specifically, the half width Hn of the waveform having the maximum peak P1 is extracted from the histogram of the phase data shown in FIG.

そして、半値幅Hnが10±5[deg]よりも大きい場合(Hn>10±5[deg])、架橋が進行中であることを判定し、半値幅Hnが10±5[deg]以下である場合(Hn≦10±5[deg])、架橋が完了したことを判定する。その後、たとえば図7に示す例と同様に、解析用PC5のモニタに架橋が進行中であること、または完了したことを表示することができる。 When the half width Hn is larger than 10±5 [deg] (Hn>10±5 [deg]), it is determined that the crosslinking is in progress, and the half width Hn is 10±5 [deg] or less. If there is (Hn≦10±5 [deg]), it is determined that the crosslinking is completed. Then, similar to the example shown in FIG. 7, for example, it is possible to display on the monitor of the analysis PC 5 that the crosslinking is in progress or has been completed.

図12は、図1に示すポリマー材料の架橋評価方法S100の変形例を示すフロー図である。架橋評価工程S20は、たとえば、波形分離工程S21と架橋度判定工程S22とを有することができる。なお、図4に示す架橋評価工程S20も図12に示す架橋評価工程S20と同様の工程を含むことができる。以下、図12に示すポリマー材料の架橋評価方法S100の変形例において架橋評価工程S20に含まれる波形分離工程S21と架橋度判定工程S22について詳細に説明する。 FIG. 12 is a flowchart showing a modified example of the method S100 for evaluating cross-linking of the polymer material shown in FIG. The crosslinking evaluation step S20 can include, for example, a waveform separation step S21 and a crosslinking degree determination step S22. The cross-linking evaluation step S20 shown in FIG. 4 can also include the same step as the cross-linking evaluation step S20 shown in FIG. Hereinafter, the waveform separation step S21 and the crosslinking degree determination step S22 included in the crosslinking evaluation step S20 in the modified example of the crosslinking evaluation method S100 of the polymer material shown in FIG. 12 will be described in detail.

(波形分離工程)
図13は、ポリマー材料の形状データの一例を示す図である。図14は、ポリマー材料の位相データの一例を示す図である。図14は、図6と同様に、縦5μm、横10μmの試料の測定エリアにおいて、位相の遅れを白黒の濃淡でマッピングして表している。図15は、図14に示す位相データからヒストグラム作成工程S10で作成されたヒストグラムを示す図である。
(Wave separation process)
FIG. 13: is a figure which shows an example of the shape data of a polymer material. FIG. 14 is a diagram showing an example of phase data of a polymer material. Similar to FIG. 6, FIG. 14 shows the phase delay mapped in black and white shading in the measurement area of the sample having a length of 5 μm and a width of 10 μm. FIG. 15 is a diagram showing a histogram created in the histogram creating step S10 from the phase data shown in FIG.

波形分離工程S21は、ヒストグラム作成工程S10で作成されたヒストグラムの波形から複数のピーク波形を分離する工程である。具体的には、位相データのヒストグラムの波形のピークの形状に着目し、ヒストグラムの波形を複数のピークに対応する複数の波形に波形分離する。 The waveform separating step S21 is a step of separating a plurality of peak waveforms from the waveform of the histogram created in the histogram creating step S10. Specifically, paying attention to the shape of the peak of the waveform of the histogram of the phase data, the waveform of the histogram is separated into a plurality of waveforms corresponding to the plurality of peaks.

たとえば、波形分離工程S21において、ヒストグラムから得られる波形の2つの変曲点に基づいて、この波形を3つのピーク波形に分離することができる。換言すると、位相データのヒストグラムの波形を3つのピークに対応する3本のピーク波形の合成波として波形分離することができる。 For example, in the waveform separating step S21, this waveform can be separated into three peak waveforms based on the two inflection points of the waveform obtained from the histogram. In other words, the waveform of the phase data histogram can be separated as a composite wave of three peak waveforms corresponding to the three peaks.

(架橋度判定工程)
架橋度判定工程S22は、複数のピーク波形のうち最も位相の遅れが大きいピーク波形の情報に基づいて架橋状態を評価する工程である。具体的には、架橋度判定工程S22において、複数のピーク波形のうち最も位相の遅れが大きいピーク波形の面積と、波形分離前の元の波形の面積との差分を求める。そして、波形分離前の元の波形の面積に対するこの差分の比率を、ポリマー材料の架橋反応の発生率、すなわち架橋度[%]と判定することができる。
(Crosslinking degree determination process)
The crosslinking degree determining step S22 is a step of evaluating the crosslinking state based on the information of the peak waveform having the largest phase delay among the plurality of peak waveforms. Specifically, in the crosslinking degree determination step S22, the difference between the area of the peak waveform having the largest phase delay among the plurality of peak waveforms and the area of the original waveform before the waveform separation is obtained. Then, the ratio of this difference to the area of the original waveform before the waveform separation can be determined as the occurrence rate of the crosslinking reaction of the polymer material, that is, the degree of crosslinking [%].

この場合、複数のピーク波形のうち最も位相の遅れが大きいピーク波形の面積が、元の波形の面積に占める割合、すなわちピーク面積率S1[%]を求めてもよい。そして、元の波形の面積を100[%]として、100[%]−ピーク面積率S1[%]によって、ポリマー材料の架橋反応の発生率、すなわち架橋度[%]を求めることができる。ピーク面積率S1[%]および架橋度[%]は、たとえば図5に示す解析用PC5によって求めることができ、求めた値は、たとえば図15に示すように、解析用PC5のモニタに表示することができる。 In this case, the ratio of the area of the peak waveform having the largest phase delay among the plurality of peak waveforms to the area of the original waveform, that is, the peak area ratio S1 [%] may be obtained. Then, assuming that the area of the original waveform is 100%, the occurrence rate of the crosslinking reaction of the polymer material, that is, the degree of crosslinking [%] can be obtained from 100[%]-peak area ratio S1[%]. The peak area ratio S1 [%] and the degree of crosslinking [%] can be obtained, for example, by the analysis PC 5 shown in FIG. 5, and the obtained values are displayed on the monitor of the analysis PC 5, as shown in FIG. 15, for example. be able to.

また、架橋度判定工程S22では、複数のピーク波形のうち最も位相の遅れが小さいピーク波形の面積の元の波形の面積に対する比率を、たとえばポリマー材料の分子同士が架橋する副反応の発生率[%]と判定することができる。 In addition, in the crosslinking degree determination step S22, the ratio of the area of the peak waveform having the smallest phase delay among the plurality of peak waveforms to the area of the original waveform is determined by, for example, the rate of occurrence of a side reaction in which molecules of the polymer material are crosslinked [ %] can be determined.

具体的には、波形分離後の複数のピーク波形のうち、位相の遅れが最も小さいピーク波形の面積の元の波形の面積に対する比率、すなわちピーク面積率S2[%]を求める。そして、求めたピーク面積率S2[%]を副反応の発生率[%]と判定する。これらは、たとえば図5に示す解析用PC5によって求めることができ、求めた値は、たとえば図15に示すように、解析用PC5のモニタに表示することができる。 Specifically, of the plurality of peak waveforms after the waveform separation, the ratio of the area of the peak waveform having the smallest phase delay to the area of the original waveform, that is, the peak area ratio S2 [%] is obtained. Then, the obtained peak area ratio S2 [%] is determined as the side reaction occurrence rate [%]. These can be obtained, for example, by the analysis PC 5 shown in FIG. 5, and the obtained values can be displayed on the monitor of the analysis PC 5, as shown in FIG. 15, for example.

波形分離工程S21において、ヒストグラムから得られる波形の2つの変曲点に基づいて、この波形を3つのピーク波形に分離した場合には、架橋度判定工程S22において以下のように架橋度および副反応の発生率を求めることができる。 In the waveform separating step S21, when this waveform is separated into three peak waveforms based on the two inflection points of the waveform obtained from the histogram, in the crosslinking degree determining step S22, the crosslinking degree and the side reaction are as follows. It is possible to obtain the occurrence rate of.

図16および図17は、ヒストグラムから得られる波形のしきい値θa,θbの一例を示す図である。まず、図16に示すように、ヒストグラムから得られる波形の2つの変曲点のうち、位相の遅れが大きい方の変曲点をしきい値θaとして、そのしきい値θaよりも位相遅れが大きい部分の波形の面積の比率Sa[%]を求める。 16 and 17 are diagrams showing an example of the threshold values θa and θb of the waveform obtained from the histogram. First, as shown in FIG. 16, of the two inflection points of the waveform obtained from the histogram, the inflection point with the larger phase delay is set as the threshold value θa, and the phase delay is greater than the threshold value θa. The ratio Sa [%] of the waveform area of the large portion is obtained.

図16に示す例において、位相の遅れのしきい値θaは、−189[deg]であり、しきい値θaよりも位相遅れが大きい部分の波形の面積の比率Saは、21.6[%]である。また、架橋反応の発生率すなわち架橋度[%]は、100−Sa=78.4[%]として算出することができる。これらは、たとえば図5に示す解析用PC5によって求めることができ、求めた値は、たとえば図16に示すように、解析用PC5のモニタに表示することができる。 In the example shown in FIG. 16, the phase delay threshold θa is −189 [deg], and the area ratio Sa of the waveform of the portion where the phase delay is larger than the threshold θa is 21.6 [%]. ]. The rate of occurrence of the crosslinking reaction, that is, the degree of crosslinking [%] can be calculated as 100−Sa=78.4[%]. These can be obtained by the analyzing PC 5 shown in FIG. 5, for example, and the obtained values can be displayed on the monitor of the analyzing PC 5 as shown in FIG. 16, for example.

次に、図17に示すように、ヒストグラムから得られる波形の2つの変曲点のうち、位相の遅れが小さい方の変曲点をしきい値θbとして、そのしきい値θbよりも位相の遅れが小さい部分の波形の面積の比率Sbを求める。図17に示す例において、位相の遅れのしきい値θbは、−166[deg]であり、しきい値θbよりも位相遅れが小さい部分の波形の面積の比率Sbは、15.1[%]である。また、求めた面積の比率Sb[%]は、副反応の発生率[%]と判定することができる。これらは、たとえば図5に示す解析用PC5によって求めることができ、求めた値は、たとえば図17に示すように、解析用PC5のモニタに表示することができる。 Next, as shown in FIG. 17, of the two inflection points of the waveform obtained from the histogram, the inflection point with the smaller phase delay is set as the threshold value θb, and the phase that is greater than the threshold value θb. The ratio Sb of the waveform areas of the portion where the delay is small is calculated. In the example shown in FIG. 17, the phase delay threshold θb is −166 [deg], and the waveform area ratio Sb of the portion where the phase delay is smaller than the threshold θb is 15.1%. ]. The obtained area ratio Sb [%] can be determined as the side reaction occurrence rate [%]. These can be obtained, for example, by the analysis PC 5 shown in FIG. 5, and the obtained values can be displayed on the monitor of the analysis PC 5, as shown in FIG. 17, for example.

図18は、図16に示すしきい値θaよりも位相遅れが大きい位相データを示す図である。図19は、図17に示すしきい値θbよりも位相遅れが小さい位相データを示す図である。図18に示す位相データは、全体的に白黒の濃淡が白色に近い淡色であるのに対し、図19に示す位相データは、全体的に白黒の濃淡が黒色に近い濃色である。すなわち、ヒストグラムの位相の遅れのしきい値θaよりも位相遅れが大きい部分は、位相の遅れのしきい値θbよりも位相遅れが小さい部分よりも、ポリマー材料が軟らかいことを示している。 FIG. 18 is a diagram showing phase data having a larger phase delay than the threshold value θa shown in FIG. FIG. 19 is a diagram showing phase data having a smaller phase delay than the threshold value θb shown in FIG. In the phase data shown in FIG. 18, black and white shading is a light color close to white as a whole, whereas in the phase data shown in FIG. 19, black and white shading is a color close to black as a whole. That is, it is indicated that the polymer material is softer in the portion where the phase delay is larger than the phase delay threshold θa in the histogram than in the portion where the phase delay is smaller than the phase delay threshold θb.

以上説明したように、本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100は、ポリマー材料の架橋状態を評価する方法であって、ポリマー材料の位相データからヒストグラムを作成するヒストグラム作成工程S10と、ヒストグラムに基づいてポリマー材料の架橋状態を評価する架橋評価工程S20と、を有している。 As described above, the cross-linking evaluation method S100 of the polymer material of the present embodiment is a method of evaluating the cross-linking state of the polymer material, and includes a histogram creation step S10 of creating a histogram from phase data of the polymer material, and a histogram creation step S10. And a cross-linking evaluation step S20 for evaluating the cross-linked state of the polymer material based on the above.

これにより、ポリマー材料の位相データからヒストグラムを作成し、ポリマー材料の架橋分布を直接観察することができる。さらに、そのヒストグラムに基づいてポリマー材料の架橋状態を評価することで、たとえば架橋反応が緩やかに進行するポリマー材料において、架橋の完了時期の見極め、架橋分布の均一性、およびポリマー材料の分子同士が架橋する副反応の発生などを評価することができる。 Thereby, a histogram can be created from the phase data of the polymer material, and the cross-linking distribution of the polymer material can be directly observed. Furthermore, by evaluating the cross-linking state of the polymer material based on the histogram, for example, in the polymer material in which the cross-linking reaction proceeds slowly, it is possible to determine the completion time of cross-linking, the uniformity of cross-linking distribution, and the molecules of the polymer material The occurrence of side reactions such as crosslinking can be evaluated.

また、本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100において、架橋評価工程S20は、ヒストグラムから得られる波形から複数のピーク波形を分離する波形分離工程S21を有することができる。また、架橋評価工程S20は、複数のピーク波形のうち最も位相の遅れが大きいピーク波形の情報に基づいて架橋状態を評価する架橋度判定工程S22を有することができる。 In addition, in the cross-linking evaluation method S100 of the polymer material of the present embodiment, the cross-linking evaluation step S20 can include a waveform separation step S21 that separates a plurality of peak waveforms from the waveform obtained from the histogram. Further, the crosslinking evaluation step S20 may include a crosslinking degree determination step S22 that evaluates the crosslinking state based on the information of the peak waveform having the largest phase delay among the plurality of peak waveforms.

これにより、架橋反応が進行していない初期段階から架橋反応が完了するまでの複数のピークを有する複雑な形状のヒストグラムの波形から、架橋の発生率や副反応の発生率を特定するために必要な情報を得ることができる。 Therefore, it is necessary to identify the incidence of cross-linking and the incidence of side reactions from the waveform of a complex-shaped histogram that has multiple peaks from the initial stage when the cross-linking reaction is not proceeding to the completion of the cross-linking reaction Information can be obtained.

また、本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100では、波形分離工程S21において、ヒストグラムから得られる波形の2つの変曲点に基づいて該波形を3つのピーク波形に分離することができる。そして、架橋度判定工程S22において、3つのピーク波形のうち最も位相の遅れが大きいピーク波形の面積と前記波形の面積との差分を求め、該波形の面積に対する前記差分の比率をポリマー材料の架橋反応の発生率と判定することができる。これにより、ポリマー材料の架橋の発生率及び副反応の発生率を特定するのが容易になる。 Further, in the polymer material crosslinking evaluation method S100 of the present embodiment, in the waveform separating step S21, the waveform can be separated into three peak waveforms based on the two inflection points of the waveform obtained from the histogram. Then, in the crosslinking degree determining step S22, the difference between the area of the peak waveform having the largest phase delay among the three peak waveforms and the area of the waveform is obtained, and the ratio of the difference to the area of the waveform is determined by crosslinking the polymer material. It can be determined as the incidence of reaction. This facilitates identifying the rate of cross-linking and side reactions of the polymeric material.

また、本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100では、架橋度判定工程S22において、3つのピーク波形のうち最も位相の遅れが小さいピーク波形の面積の前記波形の面積に対する比率をポリマー材料の分子同士が架橋する副反応の発生率と判定することができる。これにより、ポリマー材料の副反応の発生率を特定するのが容易になる。 Further, in the cross-linking evaluation method S100 of the present embodiment, in the cross-linking degree determining step S22, the ratio of the area of the peak waveform having the smallest phase delay among the three peak waveforms to the area of the waveform is defined as the molecular weight of the polymer material. It can be determined as the rate of occurrence of a side reaction in which the two crosslink each other. This facilitates the identification of the side reaction occurrence rate of the polymer material.

また、本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100では、架橋評価工程S20において、ヒストグラムから得られる波形のピークが複数から単数に変化した時点を架橋終了時と判定することができる。これにより、ポリマー材料の架橋の終了時を特定するのが容易になる。 Further, in the cross-linking evaluation method S100 of the present embodiment, in the cross-linking evaluation step S20, the time when the peak of the waveform obtained from the histogram changes from plural to singular can be determined to be the end of cross-linking. This makes it easy to identify when the crosslinking of the polymeric material has ended.

また、本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100では、架橋評価工程S20において、ヒストグラムから得られる波形の最大ピークの半値幅が15[deg]以下になった時点を架橋終了時と判定することができる。これにより、ポリマー材料の架橋の終了時を特定するのが容易になる。 Further, in the cross-linking evaluation method S100 of the present embodiment, in the cross-linking evaluation step S20, it is determined that the half-width of the maximum peak of the waveform obtained from the histogram is 15 [deg] or less as the end of cross-linking. You can This makes it easy to identify when the crosslinking of the polymeric material has ended.

また、本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100では、ヒストグラム作成工程S10の前に、原子間力顕微鏡の位相モードで位相データを取得する位相データ取得工程S30を有することができる。これにより、予めポリマー材料の位相データを入手することができない場合でも、位相データ取得工程S30によってポリマー材料の位相データを取得することができる。 In addition, the polymer material crosslinking evaluation method S100 of the present embodiment may include a phase data acquisition step S30 that acquires phase data in the phase mode of the atomic force microscope before the histogram creation step S10. Thereby, even if the phase data of the polymer material cannot be obtained in advance, the phase data of the polymer material can be acquired by the phase data acquisition step S30.

また、本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100において、位相データ取得工程S30は、ポリマー材料の融点よりも10℃から150℃低い温度環境でかつ10Paから10−1Paの範囲の低真空環境に置かれたポリマー材料を用いて行うことができる。これにより、位相データの測定感度を向上させるとともに、ポリマー材料に添加された添加物が試料表面に移動するのを防止して、目的とする架橋構造を見極めるのを容易にすることができる。 In addition, in the cross-linking evaluation method S100 of the polymer material of the present embodiment, the phase data acquisition step S30 is performed in a temperature environment of 10° C. to 150° C. lower than the melting point of the polymer material and in the range of 10 4 Pa to 10 −1 Pa. It can be done with a polymeric material placed in a vacuum environment. This can improve the measurement sensitivity of the phase data, prevent the additive added to the polymer material from moving to the sample surface, and make it easy to identify the target crosslinked structure.

また、本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100によって評価されるポリマー材料は、ポリマー構造中にシランカップリング剤が導入された湿気硬化型ポリマー材料であることが好適である。湿気硬化型ポリマー材料は、副反応が発生すると外観不良が発生するなどの不具合を生じるおそれがあるため、本実施形態のポリマー材料の架橋評価方法S100による評価が特に有効である。 The polymer material evaluated by the polymer material crosslinking evaluation method S100 of the present embodiment is preferably a moisture-curable polymer material in which a silane coupling agent is introduced into the polymer structure. Since the moisture-curable polymer material may cause a defect such as a poor appearance when a side reaction occurs, the evaluation by the polymer material crosslinking evaluation method S100 of the present embodiment is particularly effective.

以上、図面を用いて本発明の実施の形態を詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲における設計変更等があっても、それらは本発明に含まれるものである。 The embodiment of the present invention has been described in detail above with reference to the drawings, but the specific configuration is not limited to this embodiment, and there are design changes and the like within the scope not departing from the gist of the present invention. However, they are included in the present invention.

(実施例)
まず、ジクミルパーオキサイドを0.5重量部、ビニルトリメトキシシランを4重量部、塩素化ポリエチレンを100重量部、エポキシ化大豆油を10重量部、ジブチルスズジラウレートを1重量部、それぞれ秤量した。そして、ジクミルパーオキサイドとビニルトリメトキシシランを除いてこれらを配合し、その配合剤を温度120〜130℃に設定した150mm直径のゴム用ロールで15分間混練し、シート状に成形した。
(Example)
First, 0.5 part by weight of dicumyl peroxide, 4 parts by weight of vinyltrimethoxysilane, 100 parts by weight of chlorinated polyethylene, 10 parts by weight of epoxidized soybean oil, and 1 part by weight of dibutyltin dilaurate were weighed. Then, dicumyl peroxide and vinyltrimethoxysilane were removed, and these were compounded, and the compounding agent was kneaded for 15 minutes with a rubber roll having a diameter of 150 mm set to a temperature of 120 to 130° C. to form a sheet.

次に、この成形したシートを常温にて粉砕機で粉砕し、温度60℃の密閉系内でジクミルパーオキサイドとビニルトリメトキシシランを含浸後、ヘッドを180℃、第1のシリンダーを180℃、第2のシリンダーを130℃に設定し、スクリュー回転数を10rpmに設定した40m/m押出機(L/D=22)を用いてグラフト反応を行った。 Next, the formed sheet is crushed by a crusher at room temperature, impregnated with dicumyl peroxide and vinyltrimethoxysilane in a closed system at a temperature of 60° C., the head is 180° C., and the first cylinder is 180° C. The second cylinder was set to 130° C., and the graft reaction was performed using a 40 m/m extruder (L/D=22) in which the screw rotation speed was set to 10 rpm.

次に、ケーブル導体に架橋ポリエチレンを被覆した4本の芯線の周りに、先のシラン架橋塩素化ポリエチレンを被覆して外層を形成し、ケーブルを作製した。押出条件はヘッドが150℃、第1のシリンダーが150℃、第2のシリンダーが130℃の各温度であり、スクリュー回転数が20rpmであった。その後、ケーブルを巻き取り機で巻き取り、室温で2週間放置して、自然に架橋を入れた。また、一定の間隔で外層被覆をサンプリングして架橋の入りを観察した。 Next, a cable was produced by forming the outer layer by coating the above silane crosslinked chlorinated polyethylene around the four core wires obtained by coating the cable conductor with the crosslinked polyethylene. The extrusion conditions were 150° C. for the head, 150° C. for the first cylinder, and 130° C. for the second cylinder, and the screw rotation speed was 20 rpm. Then, the cable was wound with a winder and left at room temperature for 2 weeks to spontaneously crosslink. Further, the outer layer coating was sampled at regular intervals to observe the occurrence of crosslinking.

作製したケーブルの外層被覆の一部を、カミソリを用いて5mm×5mm×1mmの大きさに切断し、これを原子間力顕微鏡の試料台に固定した。プローブ顕微鏡はエスアイアイ・ナノテクノロジー(株)製、E−sweep/Nano Naviステーションを使用した。本装置は主として以下の構成から成り立っている。試料を一定環境下で測定するための環境制御チャンバー、チャンバー内の温度を制御するための温度コントローラ、チャンバー内を真空制御するためのロータリーポンプ、試料を三次元に微小移動させるスキャナ、取り込んだデータを画像処理するための制御パソコンである。 A part of the outer layer coating of the produced cable was cut into a size of 5 mm×5 mm×1 mm using a razor, and this was fixed to a sample stand of an atomic force microscope. As the probe microscope, an E-sweep/Nano Navi station manufactured by SII Nano Technology Co., Ltd. was used. This device mainly has the following configuration. Environmental control chamber for measuring the sample under a constant environment, temperature controller for controlling the temperature in the chamber, rotary pump for vacuum control in the chamber, scanner for three-dimensionally moving the sample minutely, data captured It is a control personal computer for image processing.

環境制御チャンバーは除振台の上に配置され、周囲の電気的ノイズを除去するためにシールドボックス内に収められている。スキャナは最大150μm×150μmの走査が可能なワイドスキャナを使用した。カンチレバーはバネ定数が15/m、共振周波数が150kHzのSi製のSI−DF20(エスアイアイ・ナノテクノロジー(株))を使用した。 The environmental control chamber is placed on the vibration isolation table and is housed in a shield box to remove electric noise from the surroundings. As the scanner, a wide scanner capable of scanning up to 150 μm×150 μm was used. As the cantilever, SI-DF20 (SII Nano Technology Co., Ltd.) made of Si having a spring constant of 15/m and a resonance frequency of 150 kHz was used.

チャンバー内の試料台には熱伝導性の高いCu板を使用し、高温用Agペーストを用いて試料を固定した。あらかじめ、作製したケーブルの外層部の融点をDSC(Differential Scanning Calorimetry)で測定したところ、100℃〜130℃であった。そこで、130℃よりも80℃低い温度、すなわち50℃に温調器の温度を設定し、試料温度が50℃になるまで一定時間放置した。また、試料を入れたチャンバー内を低真空状態とするため、ロータリーポンプを用いて真空引きした。形状、並びに位相の測定はDynamic Force Mode(DFM)を使用した。 A Cu plate having high thermal conductivity was used for the sample table in the chamber, and the sample was fixed using Ag paste for high temperature. The melting point of the outer layer portion of the produced cable was measured in advance by DSC (Differential Scanning Calorimetry), and was 100°C to 130°C. Therefore, the temperature of the temperature controller was set to a temperature 80° C. lower than 130° C., that is, 50° C., and the sample was allowed to stand for a certain time until the sample temperature reached 50° C. Further, in order to bring the inside of the chamber containing the sample into a low vacuum state, a vacuum was drawn using a rotary pump. Dynamic Force Mode (DFM) was used for the measurement of the shape and the phase.

その後、前述の実施形態で説明したポリマー材料の架橋評価方法によってケーブルの外層被覆を評価した。その結果、シラン架橋塩素化ポリエチレンの位相データからヒストグラムを作成することで、シラン架橋塩素化ポリエチレンの架橋分布を直接観察することができた。さらに、そのヒストグラムに基づいてシラン架橋塩素化ポリエチレンの架橋状態を評価することで、架橋反応が緩やかに進行するシラン架橋塩素化ポリエチレンにおいて、架橋の完了時期の見極め、架橋分布の均一性、およびシラン架橋塩素化ポリエチレンの分子同士が架橋する副反応の発生などを評価することができた。 Thereafter, the outer layer coating of the cable was evaluated by the cross-linking evaluation method of the polymer material described in the above embodiment. As a result, it was possible to directly observe the cross-linking distribution of the silane-crosslinked chlorinated polyethylene by creating a histogram from the phase data of the silane-crosslinked chlorinated polyethylene. Furthermore, by evaluating the cross-linking state of the silane-crosslinked chlorinated polyethylene based on the histogram, in the silane-crosslinked chlorinated polyethylene in which the crosslinking reaction proceeds slowly, determination of the completion time of crosslinking, uniformity of cross-linking distribution, and silane It was possible to evaluate the occurrence of a side reaction in which the molecules of the crosslinked chlorinated polyethylene were crosslinked with each other.

S10 ヒストグラム作成工程
S20 架橋評価工程
S21 波形分離工程
S22 架橋度判定工程
S30 位相データ取得工程
S100 架橋評価方法
S10 Histogram creating step S20 Crosslinking evaluation step S21 Waveform separation step S22 Crosslinking degree determination step S30 Phase data acquisition step S100 Crosslinking evaluation method

Claims (10)

ポリマー材料の架橋状態を評価する架橋評価方法であって、
前記ポリマー材料の位相データからヒストグラムを作成するヒストグラム作成工程と、
前記ヒストグラムに基づいて前記ポリマー材料の架橋状態を評価する架橋評価工程と、を有し、
前記架橋評価工程は、
前記ヒストグラムから得られる波形から複数のピーク波形を分離する波形分離工程と、
前記複数のピーク波形のうち最も位相の遅れが大きいピーク波形の情報に基づいて前記架橋状態を評価する架橋度判定工程と、を有することを特徴とするポリマー材料の架橋評価方法。
A cross-linking evaluation method for evaluating the cross-linking state of a polymer material,
A histogram creation step of creating a histogram from the phase data of the polymer material,
Have a, a crosslinking evaluation step of evaluating the crosslinked state of the polymer material based on said histogram,
The crosslinking evaluation step,
A waveform separation step of separating a plurality of peak waveforms from the waveform obtained from the histogram,
Most phase bridge evaluation method of a polymer material characterized by a delay based on the information of the large peak waveform to have a, a crosslinking degree determination step of evaluating the crosslinked state of the plurality of peak waveform.
前記波形分離工程において、前記ヒストグラムから得られる波形の2つの変曲点に基づいて該波形を3つのピーク波形に分離し、
前記架橋度判定工程において、前記3つのピーク波形のうち最も位相の遅れが大きいピーク波形の面積と前記波形の面積との差分を求め、該波形の面積に対する前記差分の比率を前記ポリマー材料の架橋反応の発生率と判定することを特徴とする請求項に記載のポリマー材料の架橋評価方法。
In the waveform separation step, the waveform is separated into three peak waveforms based on the two inflection points of the waveform obtained from the histogram,
In the step of determining the degree of crosslinking, the difference between the area of the peak waveform having the largest phase delay among the three peak waveforms and the area of the waveform is obtained, and the ratio of the difference to the area of the waveform is determined by crosslinking the polymer material. The method for evaluating cross-linking of a polymer material according to claim 1 , wherein the rate of occurrence of reaction is determined.
前記架橋度判定工程において、前記3つのピーク波形のうち最も位相の遅れが小さいピーク波形の面積の前記波形の面積に対する比率を前記ポリマー材料の分子同士が架橋する副反応の発生率と判定することを特徴とする請求項に記載のポリマー材料の架橋評価方法。 In the step of determining the degree of cross-linking, determining the ratio of the area of the peak waveform having the smallest phase delay among the three peak waveforms to the area of the waveform as the incidence of a side reaction in which molecules of the polymer material cross-link. The cross-linking evaluation method for a polymer material according to claim 2 . 前記架橋評価工程において、前記ヒストグラムから得られる波形のピークが複数から単数に変化した時点を架橋終了時と判定することを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載のポリマー材料の架橋評価方法。 The polymer according to any one of claims 1 to 3 , wherein in the crosslinking evaluation step, a time point at which the peak of the waveform obtained from the histogram changes from a plurality to a single number is determined to be the end time of the crosslinking. Evaluation method for cross-linking of materials. 前記架橋評価工程において、前記ヒストグラムから得られる波形の最大ピークの半値幅が15[deg]以下になった時点を架橋終了時と判定することを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載のポリマー材料の架橋評価方法。 In the crosslinking evaluation step, any one of claims 1 to 3 in which the half-value width of the maximum peak of the waveform obtained from the histogram and judging a 15 [deg] when the time crosslinking termination becomes less The method for evaluating cross-linking of a polymer material according to the item 1. ポリマー材料の架橋状態を評価する架橋評価方法であって、A cross-linking evaluation method for evaluating the cross-linking state of a polymer material,
前記ポリマー材料の位相データからヒストグラムを作成するヒストグラム作成工程と、A histogram creation step of creating a histogram from the phase data of the polymer material,
前記ヒストグラムに基づいて前記ポリマー材料の架橋状態を評価する架橋評価工程と、を有し、A cross-linking evaluation step of evaluating the cross-linked state of the polymer material based on the histogram,
前記架橋評価工程において、前記ヒストグラムから得られる波形のピークが複数から単数に変化した時点を架橋終了時と判定することを特徴とするポリマー材料の架橋評価方法。In the cross-linking evaluation step, the cross-linking evaluation method for a polymer material is characterized in that the time point at which the peak of the waveform obtained from the histogram changes from plural to singular is judged to be the end time of cross-linking.
ポリマー材料の架橋状態を評価する架橋評価方法であって、A cross-linking evaluation method for evaluating the cross-linking state of a polymer material,
前記ポリマー材料の位相データからヒストグラムを作成するヒストグラム作成工程と、A histogram creation step of creating a histogram from the phase data of the polymer material,
前記ヒストグラムに基づいて前記ポリマー材料の架橋状態を評価する架橋評価工程と、を有し、A cross-linking evaluation step of evaluating the cross-linked state of the polymer material based on the histogram,
前記架橋評価工程において、前記ヒストグラムから得られる波形の最大ピークの半値幅が15[deg]以下になった時点を架橋終了時と判定することを特徴とするポリマー材料の架橋評価方法。In the cross-linking evaluation step, the cross-linking evaluation method for a polymer material is characterized in that the time point when the half-value width of the maximum peak of the waveform obtained from the histogram becomes 15 [deg] or less is determined as the end time of cross-linking.
前記ヒストグラム作成工程の前に、原子間力顕微鏡の位相モードで前記位相データを取得する位相データ取得工程を有することを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載のポリマー材料の架橋評価方法。 Before the histogram creation step, polymeric material as claimed in any one of claims 1 to 7, characterized in that it comprises a phase data obtaining step of obtaining the phase data by a phase mode of an atomic force microscope Cross-linking evaluation method. 前記位相データ取得工程は、前記ポリマー材料の融点よりも10℃から150℃低い温度環境でかつ10Paから10−1Paの範囲の低真空環境に置かれた前記ポリマー材料を用いて行うことを特徴とする請求項に記載のポリマー材料の架橋評価方法。 The phase data acquisition step is performed using the polymer material placed in a low-vacuum environment in the range of 10 4 Pa to 10 −1 Pa in a temperature environment 10° C. to 150° C. lower than the melting point of the polymer material. 9. The method for evaluating cross-linking of a polymer material according to claim 8 . 前記ポリマー材料は、ポリマー構造中にシランカップリング剤が導入された湿気硬化型ポリマー材料であることを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載のポリマー材料の架橋評価方法。 The method for crosslinking evaluation of a polymer material according to any one of claims 1 to 9 , wherein the polymer material is a moisture-curable polymer material in which a silane coupling agent is introduced in a polymer structure. ..
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