JP6698455B2 - Memory diagnostic device - Google Patents

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Description

この発明は、演算リソースの限られたプロセッサ搭載装置等において、プログラム実行の空き時間を使って、メモリ領域の診断を行うメモリ診断装置に関するものである。   The present invention relates to a memory diagnosing device for diagnosing a memory area by using a free time for program execution in a processor-equipped device or the like with limited computing resources.

従来のプロセッサ搭載装置等におけるメモリ診断装置では、演算リソースに余裕のある場合、もしくは処理負荷が可変的であり一時的に演算リソースに余裕ができる場合に限って、演算リソースに余裕のある時にメモリ診断を行うアプローチをとっている。   In the memory diagnostic device in the conventional processor-equipped device, the memory is not available when the computing resources are available only when the computing resources are available or when the processing load is variable and the computing resources are temporarily available. Takes the approach of making a diagnosis.

特開2014−99097号公報JP, 2014-99097, A

従来のメモリ診断装置は以上のような特徴があるので、適用対象のプロセッサ搭載装置の演算リソースの制限が大きく、かつ処理負荷の変動が少ない(常に高負荷である)場合には適用できない問題点があった。   Since the conventional memory diagnostic device has the above features, it cannot be applied when the processor resource of the target processor-equipped device has a large limitation and the fluctuation of the processing load is small (always high load). was there.

この発明は上記のような課題を解決するためになされたものであり、演算リソースの制限が大きく、かつ処理負荷の変動が少ない(常に高負荷である)プロセッサ搭載装置等に対しても、メモリの状態を診断することが可能なメモリ診断装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in order to solve the above problems, and memory for a processor-equipped device or the like in which the calculation resource is largely restricted and the fluctuation of the processing load is small (always high load). It is an object of the present invention to provide a memory diagnostic device capable of diagnosing the above condition.

この発明に係るメモリ診断装置は、
プログラムの実行に用いるプログラム用のメモリを含む実行プログラム、前記メモリの診断に用いる複数の診断処理パラメータ、および前記メモリのビット誤りを訂正するための誤り訂正符号を有し、
前記実行プログラムを参照して制御演算を実行する制御演算実行部と、
前記診断処理パラメータ及び前記誤り訂正符号に基づいて、前記メモリの診断を行うメモリ診断実行部と、
前記プログラムが起動する初回立ち上がりを検出する手段と、
前記制御演算実行部の制御演算の処理時間を計測する手段と、
実施した一定回数の前記制御演算の処理時間の計測値を記憶する手段と、
前記一定回数の処理時間の計測値から処理時間に関する統計値を算出する手段と、
処理時間に関する統計値から前記メモリが分割された複数のメモリ部分領域の最適な領域分割数を自動で算出可能な手段と、
を備え
記複数の診断処理パラメータの中から、前記プログラムの実行に必要な診断処理パラメータを選択して使用することにより、診断箇所を特定した前記メモリ部分領域に対して前記誤り訂正符号を付与するとともに、
前記プログラムの制御演算の空き時間に、特定した前記メモリ部分領域に対して、前記メモリの診断を順次行うことにより、前記プログラムの実行に用いるメモリ全体の診断を行い、前記初回立ち上がりを検出する手段が初回立ち上がりを検出した場合には、誤り訂正符号を自動生成する誤り訂正符号生成処理を行うものである。

The memory diagnostic device according to the present invention is
An execution program including a memory for a program used for executing a program, a plurality of diagnostic processing parameters used for diagnosing the memory, and an error correction code for correcting a bit error of the memory,
A control operation execution unit that executes a control operation by referring to the execution program,
A memory diagnosis execution unit that diagnoses the memory based on the diagnosis processing parameter and the error correction code;
Means for detecting the first time the program starts up,
Means for measuring the processing time of the control calculation of the control calculation execution unit;
A means for storing a measured value of the processing time of the control operation performed a certain number of times,
Means for calculating a statistical value related to the processing time from the measured value of the processing time of the certain number of times,
A means capable of automatically calculating the optimum number of region divisions of a plurality of memory partial regions obtained by dividing the memory from statistical values related to processing time;
Equipped with
From the previous SL multiple diagnostic processing parameters, by selecting and using diagnostic process parameters necessary for the execution of the program, as well as applying the error correction code to the memory portion area identifying the diagnostic portion ,
The idle time of the control operation of the program, to the memory portion area identified by sequentially performing a diagnosis of the memory, have rows diagnosis of the entire memory to be used for execution of the program, to detect the initial rise When the means detects the first rising edge, it performs error correction code generation processing for automatically generating an error correction code .

この発明によれば、メモリ全体について、診断対象を制御処理に影響しない十分小さな単位に分割し、この分割されたメモリに対して、制御処理の空き時間を使って診断を実行するようにしたので、演算リソースの制限が大きく、かつ処理負荷の変動が少ないプロセッサ搭載装置等においても、メモリの状態を診断可能なメモリ診断装置を搭載することが可能になるという効果を奏する。   According to the present invention, the diagnosis target is divided into sufficiently small units that do not affect the control processing for the entire memory, and the diagnosis is executed for the divided memory by using the free time of the control processing. The present invention has an effect that it is possible to mount a memory diagnostic device capable of diagnosing a memory state even in a processor-mounted device or the like in which the limitation of calculation resources is large and the fluctuation of processing load is small.

この発明の実施の形態1に係るメモリ診断装置の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 1 of this invention. この発明の実施の形態1に係るメモリ診断装置の領域分割と診断動作の関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship of the area|region division and diagnostic operation of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 1 of this invention. この発明の実施の形態1に係るメモリ診断装置の診断処理パラメータの詳細を示す図である。It is a figure which shows the detail of the diagnostic processing parameter of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 1 of this invention. この発明の実施の形態1に係るメモリ診断装置のメモリ診断実行部の処理フローを示す図である。It is a figure which shows the process flow of the memory diagnostics execution part of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 1 of this invention. この発明の実施の形態2に係るメモリ診断装置の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 2 of this invention. この発明の実施の形態2に係るメモリ診断装置の誤り訂正符号生成部の動作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating operation|movement of the error correction code production|generation part of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 2 of this invention. この発明の実施の形態2に係るメモリ診断装置の診断処理パラメータの詳細を示す図である。It is a figure which shows the detail of the diagnostic processing parameter of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 2 of this invention. この発明の実施の形態2に係るメモリ診断装置の初期化処理における誤り訂正符号生成部の起動フローを示す図である。It is a figure which shows the starting flow of the error correction code production|generation part in the initialization processing of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 2 of this invention. この発明の実施の形態3に係るメモリ診断装置の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 3 of this invention. この発明の実施の形態3に係るメモリ診断装置の診断処理パラメータの詳細を示す図である。It is a figure which shows the detail of the diagnostic processing parameter of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 3 of this invention. この発明の実施の形態3に係るメモリ診断装置の初期化処理における領域分割数N算出部と誤り訂正符号生成部の起動の処理フローを示す図である。It is a figure which shows the process flow of starting the area division number N calculation part and the error correction code generation part in the initialization processing of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 3 of this invention. この発明の実施の形態3に係るメモリ診断装置の制御動作を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the control operation of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 3 of this invention. この発明の実施の形態3に係るメモリ診断装置の領域分割数N算出部の処理フローを示す図である。It is a figure which shows the processing flow of the area|region division number N calculation part of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 3 of this invention. この発明の実施の形態3に係るメモリ診断装置の領域分割数N算出部で算出する統計値を示す図である。It is a figure which shows the statistical value calculated by the area|region division number N calculation part of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 3 of this invention. この発明の実施の形態4に係るメモリ診断装置の領域分割数N算出部の処理フローを示す図である。It is a figure which shows the process flow of the area|region division number N calculation part of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 4 of this invention. この発明の実施の形態4に係るメモリ診断装置の領域分割数N算出部で算出する統計値を示す図である。It is a figure which shows the statistical value calculated by the area|region division number N calculation part of the memory diagnostic device which concerns on Embodiment 4 of this invention.

実施の形態1.
以下、この発明の実施の形態1を図1〜図4に基づいて説明する。ここで、図1は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の一例を示す図であり、図2は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の領域分割と診断動作の関係を示す図である。また、図3は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の診断処理パラメータの詳細を示す図であり、図4は、本実施の形態に係るメモリ診断装置のメモリ診断実行部の処理フローを示す図である。
Embodiment 1.
The first embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. Here, FIG. 1 is a diagram showing an example of the memory diagnostic device according to the present embodiment, and FIG. 2 is a diagram showing the relationship between the area division and the diagnostic operation of the memory diagnostic device according to the present embodiment. .. Further, FIG. 3 is a diagram showing details of diagnostic processing parameters of the memory diagnostic apparatus according to the present embodiment, and FIG. 4 shows a processing flow of the memory diagnostic execution unit of the memory diagnostic apparatus according to the present embodiment. It is a figure.

まず、図1に、本実施の形態のメモリ診断装置の一例を示す。このメモリ診断装置1は、プログラムのメモリのビット異常を検出するための診断を行うものであって、実行プログラムを制御するための演算を行う制御演算実行部10と、診断処理パラメータ22と誤り訂正符号23に基づいて実行プログラム21において、メモリのビット異常を検出するための診断を実行するメモリ診断実行部11を持つ。なお、図中の矢印は参照先を示し、矩形の右上に黒三角が付されているものは、実際の値を持っているものであることを示す(以下の図でも同様)。   First, FIG. 1 shows an example of the memory diagnostic device according to the present embodiment. The memory diagnostic device 1 is for performing a diagnosis for detecting a bit abnormality in a memory of a program, and includes a control operation execution unit 10 that performs an operation for controlling an execution program, a diagnostic processing parameter 22, and an error correction. The execution program 21 has a memory diagnosis execution unit 11 that executes a diagnosis for detecting a bit abnormality of the memory based on the reference numeral 23. In addition, the arrow in the drawing indicates a reference destination, and the black triangle on the upper right of the rectangle indicates that it has an actual value (the same applies to the following drawings).

次に、図2の内容について説明する。本実施の形態では、実行プログラム21をN個のメモリ部分領域であるP1〜PNにそれぞれ分割する。制御周期Uは、制御動作が実行される時間間隔である。制御動作の処理時間Tは、図1の制御演算実行部10で実施する制
御動作にかかる処理時間である。空き時間Vは、制御周期Uから制御動作の処理時間Tを除いた期間であり、この時間を使ってメモリ診断実行部11の診断処理を実行する。
Next, the contents of FIG. 2 will be described. In the present embodiment, the execution program 21 is divided into N memory partial areas P1 to PN, respectively. The control cycle U is a time interval in which the control operation is executed. The processing time T of the control operation is the processing time required for the control operation performed by the control calculation execution unit 10 of FIG. The free time V is a period obtained by removing the processing time T of the control operation from the control cycle U, and the diagnostic processing of the memory diagnosis execution unit 11 is executed using this time.

ここで、1回のメモリ診断処理は、メモリ部分領域の1つを対象として行う。メモリ部分領域の領域分割数N個分、各領域に対して順番に処理を実施することで、実行プログラム21の全ての領域を診断することができる。この図において、誤り訂正符号23は、本装置つまり、メモリ診断装置のメモリ診断が実行される前に、予め計算され装置に書き込まれている。   Here, one memory diagnostic process is performed for one of the memory partial areas. It is possible to diagnose all the areas of the execution program 21 by sequentially performing the processing on each area by the number N of the area divisions of the memory partial area. In this figure, the error correction code 23 is calculated in advance and written in the device before the memory diagnosis of this device, that is, the memory diagnosis device is executed.

次に、図3、図4に基づいて、1周期分のメモリ診断実行部の処理動作を説明する。
まず図3に示す診断処理パラメータ22aの各要素について説明する。Aは診断対象である実行プログラム21の格納領域の先頭アドレスを示す。Bは診断対象である実行プログラム領域のサイズを示す。
続いて、Cは、行プログラムの領域分割数Nを示す。領域分割数Nは、予め部分領域1つに対する診断処理が、空き時間内で実行可能になるよう、十分大きな値、つまり、この空き時間を1とすると、この空き時間の長さ1に対して1未満の時間(特に、ばらつきを考慮した場合には、0.5程度の時間)を設定しておく。このNの値は、典型的には1000以上に設定される。
続いて、Dは、誤り訂正符号23の格納領域の先頭アドレスを示す。また、Eは、1つの誤り訂正符号の長さを示す。
最後に、Fには、次に処理する分割領域の番号が格納される。Fには、初期値として分割領域の1つ目の番号(今回の説明では1とする)が格納される。
Next, the processing operation of the memory diagnosis execution unit for one cycle will be described based on FIGS. 3 and 4.
First, each element of the diagnostic processing parameter 22a shown in FIG. 3 will be described. A indicates the top address of the storage area of the execution program 21 to be diagnosed. B indicates the size of the execution program area to be diagnosed.
Subsequently, C indicates the number N of area divisions of the row program. The area division number N is a sufficiently large value so that the diagnostic process for one partial area can be executed in advance in the free time, that is, assuming that the free time is 1, for the length 1 of the free time. A time less than 1 (especially, a time of about 0.5 when variation is taken into consideration) is set. The value of N is typically set to 1000 or more.
Subsequently, D indicates the start address of the storage area of the error correction code 23. E indicates the length of one error correction code.
Finally, F stores the number of the divided area to be processed next. In F, the first number of the divided area (1 in this description) is stored as an initial value.

次に、図4のフローを説明する。
まず、ステップS1において、診断処理パラメータのA、B、Cを利用して今回診断を行う実行プログラム部分領域を特定する。特定した領域に対して計算を行い、誤り訂正符号を生成する。
続いて、ステップS2において、診断処理パラメータのD、E、Fを利用して、今回の部分領域に対応する誤り訂正符号領域を特定し、誤り訂正符号を取得する。
続いて、ステップS3において、ステップS1とステップS2でそれぞれ生成、あるいは取得した誤り訂正符号を比較する。
ステップS3の判定結果が一致しなければ、異常が発生したと判断しステップS4の異常処理を実施する。ステップS3の判定結果が一致すれば、処理対象の部分領域においてビット化けエラーは発生していないと判断でき、ステップS5からステップS7の処理対象領域の更新処理を実施する。
ステップS5からステップS7の処理対象領域の更新処理は、ステップS5において部分領域の最後まで診断処理が完了したか判定し、YESであれば、再び先頭の部分領域から診断処理を実施するために、処理対象分割領域カウンタFを初期値(ここでは1)に戻す。NOであれば、処理対象分割領域カウンタFをインクリメントする(1増やす)。
Next, the flow of FIG. 4 will be described.
First, in step S1, the execution program partial area to be diagnosed this time is specified using the diagnosis processing parameters A, B, and C. The error correction code is generated by performing calculation on the specified area.
Then, in step S2, the error correction code area corresponding to the current partial area is specified by using the diagnostic processing parameters D, E, and F, and the error correction code is acquired.
Then, in step S3, the error correction codes generated or acquired in step S1 and step S2 are compared.
If the determination results of step S3 do not match, it is determined that an abnormality has occurred and the abnormality processing of step S4 is performed. If the determination results of step S3 match, it can be determined that no garbled error has occurred in the processing target partial area, and the processing of updating the processing target area of steps S5 to S7 is performed.
The update processing of the processing target area from step S5 to step S7 determines whether the diagnostic processing is completed up to the end of the partial area in step S5, and if YES, in order to execute the diagnostic processing again from the leading partial area, The processing target divided area counter F is returned to the initial value (here, 1). If NO, the processing target divided area counter F is incremented (incremented by 1).

ステップS4の異常処理の内容は、メモリ診断装置に求められる信頼性、または外部との異常通知インターフェイス(I/F)の有無などによって変わってくる。
例えば、訂正可能なエラーが発生した場合には、誤り訂正とログの登録を行なって処理を継続し、訂正不可能なエラーが発生した場合には、LEDを点灯させユーザに通知し、装置を故障モードに落とし、エラーログを登録し、ネットワークを介し接続している他の装置に異常を通知する処理を行うことができる。
The content of the abnormality processing in step S4 varies depending on the reliability required for the memory diagnostic device, the presence/absence of an abnormality notification interface (I/F) with the outside, and the like.
For example, when a correctable error occurs, error correction and log registration are performed to continue the process. When an uncorrectable error occurs, the LED is turned on to notify the user, It is possible to perform processing of dropping to a failure mode, registering an error log, and notifying other devices connected via a network of an abnormality.

上記に説明した1周期分のメモリ診断実行部の処理動作を順次実施することにより、最終的にメモリ全体の領域を診断することが可能になる。順次実施する処理の実現方法としては、プログラムの実行を管理するプログラム(一般的にスケジューラと呼ばれる機能)
に登録することが挙げられる。
By sequentially performing the processing operation of the memory diagnosis execution unit for one cycle described above, it becomes possible to finally diagnose the area of the entire memory. As a method of realizing the processing to be sequentially executed, a program that manages the execution of the program (a function generally called a scheduler)
You can enroll in.

なお、本実施の形態において、診断対象の実行プログラム全体を診断するのに要する時間は「制御周期U×領域分割数N」となり、これが、異常が発生してから検出するまでに要するMAX時間となる。本実施の形態を有効に利用するためには、このMAX時間が装置に求められる信頼性に鑑みて妥当であることを設計者が判断する必要がある。   In the present embodiment, the time required for diagnosing the entire execution program to be diagnosed is “control cycle U×number of area divisions N”, which is the MAX time required for detection after occurrence of an abnormality. Become. In order to effectively use this embodiment, it is necessary for the designer to judge that the MAX time is appropriate in view of the reliability required for the device.

上記の実施の形態1では、診断対象のプログラムメモリを制御処理に影響しない十分小さな単位に分割する、すなわち、メモリ全体を分割して、実際の制御動作の処理時間を1000とすれば、分割されたメモリ1個当たりの処理時間が1〜10程度の処理時間になるようにして、制御処理の空き時間(制御動作の全処理時間を1とすると約0.2〜0.4程度の時間)を使ってメモリの診断を実行するようにしたので、演算リソースの制限が大きく、かつ処理負荷の変動が少ない、言い換えると常に高負荷である、プロセッサ搭載装置等においても、メモリの状態を診断することが可能なメモリ診断装置を搭載することが可能になる。   In the first embodiment, the program memory to be diagnosed is divided into sufficiently small units that do not affect the control processing, that is, if the entire memory is divided and the processing time of the actual control operation is 1000, the program memory is divided. The processing time per memory is set to be about 1 to 10 so that the control processing idle time (about 0.2 to 0.4 time when the total processing time of control operation is 1) Since the memory diagnosis is performed by using, the memory state is diagnosed even in a processor-equipped device, etc., in which the limitation of the calculation resource is large and the fluctuation of the processing load is small, in other words, the load is always high. It is possible to mount a memory diagnostic device capable of performing the above.

実施の形態2.
以下、この発明の実施の形態2を図5〜図8に基づいて説明する。ここで、図5は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の一例であり、図6は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の誤り訂正符号生成部の動作を説明するための図である。また、図7は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の診断処理パラメータの詳細を示す図であり、図8は、本発明の実施の形態に係るメモリ診断装置の初期化処理における誤り訂正符号生成部の起動フローを示す図である。
Embodiment 2.
The second embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. Here, FIG. 5 is an example of the memory diagnostic device according to the present embodiment, and FIG. 6 is a diagram for explaining the operation of the error correction code generation unit of the memory diagnostic device according to the present embodiment. .. 7 is a diagram showing details of the diagnostic processing parameters of the memory diagnostic device according to the present embodiment, and FIG. 8 is an error correction code in the initialization process of the memory diagnostic device according to the embodiment of the present invention. It is a figure which shows the starting flow of a production|generation part.

まず、図5は、図1で示したメモリ診断装置の構成要素に、さらに、誤り訂正符号生成部12が加わったものである。図1をベースに、実行プログラム21と診断処理パラメータ22に基づいて誤り訂正符号23を生成する誤り訂正符号生成部12(図中の矢印は、参照先、あるいは書き込み先を示す)が追加になっている。また、図6は、この誤り訂正符号生成部12と、実行プログラム21、誤り訂正符号生成部12、および誤り訂正符号23の間の動作関係を示している。   First, FIG. 5 shows an addition of the error correction code generation unit 12 to the constituent elements of the memory diagnostic device shown in FIG. Based on FIG. 1, an error correction code generation unit 12 (an arrow in the drawing indicates a reference destination or a writing destination) that generates an error correction code 23 based on the execution program 21 and the diagnostic processing parameter 22 is added. ing. Further, FIG. 6 shows an operation relationship among the error correction code generation unit 12, the execution program 21, the error correction code generation unit 12, and the error correction code 23.

次に、図6に基づいて、誤り訂正符号生成部12の動作概要を示す。誤り訂正符号生成部12は、実行プログラム21のN個のメモリ部分領域であるP1〜PNの全領域に対して、誤り訂正符号を算出し、それぞれと対応する誤り訂正符号である符号Q1から符号QNを、それぞれ書き込む。   Next, an outline of the operation of the error correction code generation unit 12 will be described with reference to FIG. The error correction code generation unit 12 calculates error correction codes for all areas P1 to PN, which are N memory partial areas of the execution program 21, and calculates the codes from the code Q1 that is the error correction code corresponding to each area. Write QN, respectively.

次に、誤り訂正符号生成部の起動処理について、図7、図8を用いて説明する。 図7の診断処理パラメータ22bは、図3の診断処理パラメータ22aに、誤り訂正符号付与フラグGを追加したものである。この誤り訂正符号付与フラグには、装置に実行プログラムが書き込まれる際に、マジックナンバー(識別子として用いられるプログラム中に書かれた数値)が書き込まれている。   Next, the activation process of the error correction code generation unit will be described with reference to FIGS. 7 and 8. The diagnostic processing parameter 22b in FIG. 7 is obtained by adding an error correction code addition flag G to the diagnostic processing parameter 22a in FIG. A magic number (a numerical value written in the program used as an identifier) is written in the error correction code addition flag when the execution program is written in the device.

次に、図8の起動フローについて説明する。まず、ステップS11において誤り訂正符号付与フラグを参照し、マジックナンバーと一致するか判定する。マジックナンバーと一致する場合は、装置の初回起動時であると判断し(ステップS12)、その後、ステップS13で誤り訂正符号生成部を実行する。この誤り訂正符号生成部によって誤り訂正符号が付与されたら、次のステップS14で、誤り訂正符号付与フラグにマジックナンバー以外の値を書き込み、クリアする。
そして、誤り訂正符号生成部12の処理について、実施の形態1で説明したのと同様に診断処理パラメータ22を利用して各領域を特定し、誤り訂正符号生成処理を実施する。
Next, the startup flow of FIG. 8 will be described. First, in step S11, the error correction code addition flag is referred to and it is determined whether or not it matches the magic number. If it matches with the magic number, it is determined that the device is being activated for the first time (step S12), and then the error correction code generation unit is executed in step S13. When the error correction code is added by the error correction code generation unit, a value other than the magic number is written and cleared in the error correction code addition flag in the next step S14.
Then, regarding the processing of the error correction code generation unit 12, each area is specified by using the diagnostic processing parameter 22 and the error correction code generation processing is executed, as in the first embodiment.

なお、上記の実施の形態1では、例えばバッチ処理や専用のパソコンS/Wなどを用いて、予め誤り訂正符号を装置に書き込む必要があったが、本実施の形態においては、装置の初回立ち上がり時に自動で誤り訂正符号を付与するので、人的作業であれば発生する可能性のあるミスが発生する可能性がない。   In the first embodiment described above, it was necessary to write the error correction code into the device in advance by using, for example, batch processing or a dedicated personal computer S/W, but in the present embodiment, the first startup of the device is performed. Since error correction codes are automatically added at times, there is no possibility of making mistakes that may occur in human work.

実施の形態3.
以下、この発明の実施の形態3を図9〜図14に基づいて説明する。ここで、図9は、本実施の形態3に係るメモリ診断装置の一例である。また、図10は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の診断処理パラメータの詳細を示す図であり、図11は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の初期化処理における領域分割数N算出部と誤り訂正符号生成部の起動の処理フローを示す図である。さらに、図12は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の制御動作を示す概念図であり、図13は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の領域分割数N算出部の処理フローを示す図であり、図14は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の領域分割数N算出部で算出する統計値を示す図である。
Embodiment 3.
Hereinafter, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 9 is an example of the memory diagnostic device according to the third embodiment. 10 is a diagram showing the details of the diagnostic processing parameters of the memory diagnostic device according to the present embodiment, and FIG. 11 is a diagram showing the number N of divided regions in the initialization process of the memory diagnostic device according to the present embodiment. It is a figure which shows the process flow of starting the part and the error correction code generation part. Further, FIG. 12 is a conceptual diagram showing the control operation of the memory diagnostic device according to the present embodiment, and FIG. 13 shows a processing flow of the area division number N calculation unit of the memory diagnostic device according to the present embodiment. FIG. 14 is a diagram showing statistical values calculated by the area division number N calculation unit of the memory diagnostic device according to the present embodiment.

まず、図9のメモリ診断装置では、図5の実施の形態2に係るメモリ診断装置に示す構成要素に加え、領域分割数N算出部13と制御処理の計測データ24が追加になっている。領域分割数N算出部13は、制御演算実行部10を実行し処理時間を計測し、計測した処理時間を制御処理の計測データ24に書き込み、この制御処理の計測データに基づいて領域分割数Nを算出し診断処理パラメータ22に書き込む。   First, in the memory diagnostic device of FIG. 9, in addition to the components shown in the memory diagnostic device according to the second embodiment of FIG. 5, a region division number N calculation unit 13 and measurement data 24 of control processing are added. The area division number N calculation unit 13 executes the control calculation execution unit 10, measures the processing time, writes the measured processing time in the measurement data 24 of the control processing, and based on the measurement data of the control processing, the area division number N Is calculated and written in the diagnostic processing parameter 22.

次に、図10、図11に基づいて領域分割数N算出部の起動処理について説明する。 図10は、図7に、領域分割数N最大サイズH、領域分割数N算出フラグI、制御周期計測回数Mを追加した診断処理パラメータ22cである。領域分割数N最大サイズHとしては、異常検出までの時間などから設計者が予め決定した領域分割数の最大値を設定しておく。このHの典型的な値として、4000程度の値が設定される。領域分割数N算出フラグIには、装置に実行プログラムが書き込まれる際にマジックナンバーが書き込まれている。   Next, the activation process of the area division number N calculation unit will be described with reference to FIGS. FIG. 10 shows a diagnostic processing parameter 22c in which the area division number N maximum size H, the area division number N calculation flag I, and the control cycle measurement number M are added to FIG. As the area division number N maximum size H, the maximum value of the area division number predetermined by the designer is set from the time until abnormality detection. As a typical value of this H, a value of about 4000 is set. A magic number is written in the area division number N calculation flag I when the execution program is written in the device.

次に、図11は、図8をベースにして、領域分割数N算出に関する処理であるステップS21からステップS23を追加したものである。領域分割数N算出部において制御動作を模擬する必要があるため、図11の起動処理は初期化処理の最後に行う必要がある。   Next, FIG. 11 is based on FIG. 8 and is obtained by adding steps S21 to S23, which are processes relating to the calculation of the number N of region divisions. Since it is necessary to simulate the control operation in the area division number N calculation unit, the activation process of FIG. 11 needs to be performed at the end of the initialization process.

図11の詳細について以下説明する。まず、ステップS21において領域分割数N算出フラグを参照し、マジックナンバーと一致するか否かを判定する。マジックナンバーと一致する場合は、装置の初回起動時であると判断し、ステップS22で領域分割数N算出部を実行する。領域分割数N算出処理によって誤り訂正符号が付与されたら、ステップS23において領域分割数N算出フラグにマジックナンバー以外の値を書き込み、クリアする。なお、ステップS24からステップS26は、図8のステップS11からステップS13と同様であるので、ここでの詳細説明は省略する。   Details of FIG. 11 will be described below. First, in step S21, the area division number N calculation flag is referred to, and it is determined whether or not it matches the magic number. If it matches the magic number, it is determined that the device is first started, and the area division number N calculation unit is executed in step S22. When the error correction code is added by the area division number N calculation processing, a value other than the magic number is written and cleared in the area division number N calculation flag in step S23. Since steps S24 to S26 are the same as steps S11 to S13 of FIG. 8, detailed description thereof will be omitted here.

次に、図10、図12、図13、図14に基づいて領域分割数N算出部の処理の詳細について説明する。図13に領域分割数N算出部の処理フローを示す。この図のステップS31からステップS33においては、制御周期計測回数M回ループを回し、制御周期計測回数Mの回数分に相当する制御動作の処理時間の計測を制御演算実行部で実行し、制御処理の計測データ24に書き込んで格納する。このステップS31からステップS33の処理内容の詳細を図で表したものが図12である。
図2について説明したのと同様に、K個の制御周期は、それぞれ制御動作と空き時間で構成され、各制御周期の制御動作の処理時間はT1、T2、・・・、TKである。また、
処理時間T1、T2、・・・、TKごとに、処理時間が計測され、計測値1、計測値2、・・・、計測値Kとしてそれぞれ格納される。ここでK=Mである。
Next, details of the processing of the area division number N calculation unit will be described based on FIGS. 10, 12, 13, and 14. FIG. 13 shows a processing flow of the area division number N calculation unit. In step S31 to step S33 of this figure, the control cycle measurement number M times is looped, the control operation execution unit measures the processing time of the control operation corresponding to the number of control cycle measurement times M, and the control processing is executed. The measurement data 24 is written and stored. FIG. 12 is a diagram showing details of the processing contents of steps S31 to S33.
As described with reference to FIG. 2, each of the K control cycles is composed of the control operation and the idle time, and the processing time of the control operation of each control cycle is T1, T2,..., TK. Also,
The processing time is measured for each of the processing times T1, T2,..., TK and stored as the measured value 1, the measured value 2,. Here, K=M.

続いて、ステップS34の処理として、制御処理の計測データ24から統計値の算出を行う。算出する統計値は図14に示している通り、平均値101、標準偏差102である。続いて、ステップS35において、実行プログラム21全体に対して誤り訂正符号生成処理を実施し、処理時間を計測する。ステップS36において「平均値101+(標準偏差102×5)」の計算によってばらつきを考慮して制御動作の処理時間の最大値について想定値を求める。次に、「制御周期U−(制御動作の処理時間の最大値についての)仮の想定値」によって最小の空き時間の想定値を求める。さらに、「ステップS35の測定値×1.1÷最小の空き時間(結果は切り上げ)」によって領域分割数を求める。最後に、求めた領域分割数よりも大きい数のうち、最も小さい2の累乗数を、ステップS36で算出する領域分割数Nとする。   Then, as a process of step S34, a statistical value is calculated from the measurement data 24 of the control process. The calculated statistical values are the average value 101 and the standard deviation 102, as shown in FIG. Succeedingly, in a step S35, an error correction code generation process is executed for the entire execution program 21, and a processing time is measured. In step S36, an estimated value is obtained for the maximum value of the processing time of the control operation by considering the variation by calculating "average value 101+(standard deviation 102×5)". Next, an estimated value of the minimum free time is obtained by "control cycle U-temporary estimated value (for maximum value of processing time of control operation)". Further, the number of area divisions is calculated by “measured value of step S35×1.1/minimum available time (result is rounded up)”. Finally, the smallest power of 2 among the numbers larger than the obtained region division number is set as the region division number N calculated in step S36.

続いて、ステップS37において、算出した領域分割数Nが領域分割数N最大サイズH以下であることを確認する。最大サイズH以下であれば、Nは妥当な値であると判断してステップS38の処理で診断処理パラメータ22に書き込む。最大サイズH以上であれば、ステップS39で異常処理を行う。異常処理の内容としては、ログを残して故障モードに落とすことが挙げられる。   Subsequently, in step S37, it is confirmed that the calculated area division number N is equal to or smaller than the area division number N maximum size H. If the maximum size is equal to or less than H, N is determined to be an appropriate value and written in the diagnostic processing parameter 22 in the processing of step S38. If the size is equal to or larger than the maximum size H, abnormal processing is performed in step S39. An example of the content of the abnormality processing is to leave a log and drop to the failure mode.

なお、上記の実施の形態2では、領域分割数Nを事前に設計して決定しておかなければならなかったが、図9〜14の工夫を実施することで領域分割数Nを自動で算出することができ、設計コストを低減し経済的に優れたメモリ診断装置を得る事ができる。特に、メモリ診断装置のレパートリーが多い場合に大きな効果を得ることができる。   In the above-described second embodiment, the area division number N had to be designed and determined in advance, but the area division number N is automatically calculated by implementing the device of FIGS. Therefore, it is possible to reduce the design cost and obtain an economically excellent memory diagnostic device. In particular, a great effect can be obtained when the memory diagnostic device has a large repertoire.

実施の形態4.
以下、この発明の実施の形態4を図15〜図16に基づいて説明する。ここで、図15は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の領域分割数N算出部の処理フローを示す図であり、図16は、本実施の形態に係るメモリ診断装置の領域分割数N算出部で算出する統計値を示す図である。
Fourth Embodiment
Hereinafter, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 15 is a diagram showing a processing flow of the region division number N calculation unit of the memory diagnostic device according to the present embodiment, and FIG. 16 is a region division number N of the memory diagnostic device according to the present embodiment. It is a figure which shows the statistical value calculated by a calculation part.

まず、図15は、図13の処理フローをベースに、ステップS40の判定処理を追加したものである。また、図16は、ステップS34で算出する統計値の内容を示すものであり、図14と比較して、最大値103が追加されている。そして、最大値103を利用した判定処理をステップS40で実施する。判定結果がNOであれば、異常処理に分岐する。   First, FIG. 15 is based on the process flow of FIG. 13 and additionally includes the determination process of step S40. 16 shows the contents of the statistical value calculated in step S34, and the maximum value 103 is added as compared with FIG. Then, the determination process using the maximum value 103 is performed in step S40. If the determination result is NO, the process branches to the abnormality process.

次に、上記のステップS40の最大値103を利用した判定処理の詳細について説明する。具体的な処理手順は、まず、「制御周期U−最大値103」によって最小の空き時間を求め、次に、この値と「ステップS35の測定値÷領域分割数N」によって求めた1つの部分領域の診断処理にかかる処理時間とを比較し、「1つの部分領域の診断処理にかかる処理時間>最小の空き時間」となっている場合は、ステップS40でNOに分岐し異常処理を行う、となる。   Next, the details of the determination process using the maximum value 103 in step S40 will be described. The specific processing procedure is as follows. First, the minimum free time is calculated by "control cycle U-maximum value 103", and then this value and "one part calculated by the measured value of step S35/area division number N". When the processing time required for the diagnostic processing of the area is compared and “the processing time required for the diagnostic processing of one partial area>the minimum free time” is satisfied, the process branches to NO in step S40 to perform the abnormal processing, Becomes

ここで、具体的数値例を挙げて、上記のステップS40の最大値103を利用した判定処理の詳細について、さらに説明を加える。
例えば、制御周期Uが10ms、制御動作の処理時間Tが20周期を1セットとして、具体的な値が、「(19回2msが続く)→8ms」→「(19回2msが続く)→8ms」→・・・→「(19回2msが続く)→8ms」のように変動する特性の制御動作を考える。この場合、制御動作の処理時間Tの平均値は2.3、標準偏差は1.34、最大
値は8(このとき、最小の空き時間は10−8=2)となる(各数値の単位はms)。こ
のような場合においては、実施の形態3によって算出した領域分割数Nの1つの部分領域の処理時間が3msとなった場合、「1つの部分領域の処理時間(=3)>最小の空き時間(=2)」となり、1つの部分領域の処理時間が最小の空き時間を超えてしまい、制御動作に影響を与えてしまうため、異常と判断する(ステップS40をNOに分岐させる)ことになる。
Here, the details of the determination process using the maximum value 103 in step S40 described above will be further described with reference to specific numerical examples.
For example, assuming that the control cycle U is 10 ms and the processing time T of the control operation is 20 cycles as one set, the specific value is “(19 times 2 ms continues)→8 ms”→“(19 times 2 ms continues)→8 ms Consider a control operation with a characteristic that fluctuates such as “→→→→ ((2 ms continues 19 times)→8 ms”). In this case, the average value of the processing time T of the control operation is 2.3, the standard deviation is 1.34, and the maximum value is 8 (the minimum free time is 10-8=2) (unit of each numerical value). Is ms). In such a case, when the processing time of one partial area of the area division number N calculated according to the third embodiment is 3 ms, "processing time of one partial area (=3)>minimum free time"(=2)", and the processing time of one partial area exceeds the minimum free time, which affects the control operation, so it is determined to be abnormal (step S40 branches to NO). ..

なお、この実施の形態3では、制御動作の処理時間が統計的なばらつきに従うことを仮定しており、この仮定が崩れると妥当な領域分割数Nの値を設定できない。例えば、数周期に一度、処理時間が大きく増えるような特性の制御動作を行っていた場合に、誤って領域分割数Nを小さく設定してしまい、処理時間が大きい周期にメモリ診断処理をするための空き時間が不足し、制御動作に影響を及ぼしてしまうことが考えられる。測定値の最大値を使って自動で算出した領域分割数Nの妥当性をチェックすることで、上述の問題を未然に防止でき、信頼性が向上する。   In addition, in the third embodiment, it is assumed that the processing time of the control operation follows statistical variations, and if this assumption is broken, a proper value of the area division number N cannot be set. For example, when the control operation having the characteristic that the processing time is greatly increased once every several cycles, the number of area divisions N is erroneously set to be small, and the memory diagnosis processing is performed at a cycle with a long processing time. It is conceivable that the free time of will be insufficient and will affect the control operation. By checking the validity of the area division number N automatically calculated using the maximum value of the measured values, the above-mentioned problem can be prevented and reliability is improved.

なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略することができる。   It should be noted that, in the present invention, the respective embodiments can be freely combined, or the respective embodiments can be appropriately modified or omitted within the scope of the invention.

1 メモリ診断装置、10 制御演算実行部、11 メモリ診断実行部、12 誤り訂正符号生成部、13 算出部、21 実行プログラム、22、22a、22b、22c 診断処理パラメータ、23 誤り訂正符号、24 制御処理の計測データ、101 平均値、102 標準偏差、103 最大値、F 処理対象分割領域カウンタ、 H 最大サイズ、I 算出フラグ、 M 制御周期計測回数、N 領域分割数、T 処理時間、U 制御周期、V 空き時間、P1 メモリ部分領域、Q1 誤り訂正符号
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 memory diagnostic device, 10 control calculation execution unit, 11 memory diagnostic execution unit, 12 error correction code generation unit, 13 calculation unit, 21 execution program, 22, 22a, 22b, 22c diagnostic processing parameter, 23 error correction code, 24 control Processing measurement data, 101 average value, 102 standard deviation, 103 maximum value, F processing target divided area counter, H maximum size, I calculation flag, M control cycle measurement count, N area division count, T processing time, U control cycle , V free time, P1 memory partial area, Q1 error correction code

Claims (5)

プログラムの実行に用いるプログラム用のメモリを含む実行プログラム、前記メモリの診断に用いる複数の診断処理パラメータ、および前記メモリのビット誤りを訂正するための誤り訂正符号を有し、
前記実行プログラムを参照して制御演算を実行する制御演算実行部と、
前記診断処理パラメータ及び前記誤り訂正符号に基づいて、前記メモリの診断を行うメモリ診断実行部と、
前記プログラムが起動する初回立ち上がりを検出する手段と、
前記制御演算実行部の制御演算の処理時間を計測する手段と、
実施した一定回数の前記制御演算の処理時間の計測値を記憶する手段と、
前記一定回数の処理時間の計測値から処理時間に関する統計値を算出する手段と、
処理時間に関する統計値から前記メモリが分割された複数のメモリ部分領域の最適な領域分割数を自動で算出可能な手段と、
を備え、
前記複数の診断処理パラメータの中から、前記プログラムの実行に必要な診断処理パラメータを選択して使用することにより、診断箇所を特定した前記メモリ部分領域に対して前記誤り訂正符号を付与するとともに、
前記プログラムの制御演算の空き時間に、特定した前記メモリ部分領域に対して、前記メモリの診断を順次行うことにより、前記プログラムの実行に用いるメモリ全体の診断を行い、前記初回立ち上がりを検出する手段が初回立ち上がりを検出した場合には、誤り訂正符号を自動生成する誤り訂正符号生成処理を行う、
ことを特徴とするメモリ診断装置。
An execution program including a memory for a program used for executing a program, a plurality of diagnostic processing parameters used for diagnosing the memory, and an error correction code for correcting a bit error of the memory,
A control operation execution unit that executes a control operation by referring to the execution program,
A memory diagnosis execution unit that diagnoses the memory based on the diagnosis processing parameter and the error correction code;
Means for detecting the first time the program starts up,
Means for measuring the processing time of the control calculation of the control calculation execution unit;
A means for storing a measured value of the processing time of the control operation performed a certain number of times,
Means for calculating a statistical value related to the processing time from the measured value of the processing time of the certain number of times,
A means capable of automatically calculating the optimum number of area divisions of a plurality of memory partial areas obtained by dividing the memory from statistical values related to processing time;
Equipped with
From the plurality of diagnostic processing parameters, by selecting and using the diagnostic processing parameters necessary for the execution of the program, while giving the error correction code to the memory partial area that specifies the diagnostic location,
Means for diagnosing the entire memory used for executing the program by sequentially diagnosing the memory with respect to the specified memory partial area in the idle time of the control operation of the program, and detecting the first rising edge. When the first rising edge is detected, an error correction code generation process for automatically generating an error correction code is performed,
A memory diagnostic device characterized by the above.
プログラムの実行に用いるプログラム用のメモリを含む実行プログラム、前記メモリの診断に用いる複数の診断処理パラメータ、および前記メモリのビット誤りを訂正するための誤り訂正符号を有し、
前記実行プログラムを参照して制御演算を実行する制御演算実行部と、
前記診断処理パラメータ及び前記誤り訂正符号に基づいて、前記メモリの診断を行うメモリ診断実行部と、
前記プログラムが起動する初回立ち上がりを検出する手段と、
前記制御演算実行部の制御演算の処理時間を計測する手段と、
実施した一定回数の前記制御演算の処理時間の計測値を記憶する手段と、
前記一定回数の処理時間の計測値から処理時間に関する統計値を算出する手段と、
処理時間に関する統計値から前記メモリが分割された複数のメモリ部分領域の最適な領域分割数を自動で算出可能な手段と、
を備え、
分割された1つの前記メモリ部分領域当たりの前記メモリの診断の処理時間は、前記プログラムの制御演算の処理時間に対して1/100〜1/1000の大きさであり、
前記初回立ち上がりを検出した場合には、誤り訂正符号を自動生成する誤り訂正符号生成処理を行い、前記複数の診断処理パラメータの中から、前記プログラムの実行に必要な診断処理パラメータを選択して使用することにより、診断箇所を特定した前記メモリ部分領域に対して前記誤り訂正符号を付与するとともに、
前記プログラムの制御演算の空き時間に、特定した前記メモリ部分領域に対して、前記メモリの診断を順次行うことにより、前記プログラムの実行に用いるメモリ全体の診断を行うことを特徴とするメモリ診断装置。
An execution program including a memory for a program used for executing a program, a plurality of diagnostic processing parameters used for diagnosing the memory, and an error correction code for correcting a bit error of the memory,
A control operation execution unit that executes a control operation by referring to the execution program,
A memory diagnosis execution unit that diagnoses the memory based on the diagnosis processing parameter and the error correction code;
Means for detecting the first time the program starts up ,
Means for measuring the processing time of the control calculation of the control calculation execution unit;
A means for storing a measured value of the processing time of the control operation performed a certain number of times,
Means for calculating a statistical value related to the processing time from the measured value of the processing time of the certain number of times,
A means capable of automatically calculating the optimum number of area divisions of a plurality of memory partial areas obtained by dividing the memory from statistical values related to processing time;
Equipped with
The processing time of the diagnosis of the memory per one divided memory partial area is 1/100 to 1/1000 of the processing time of the control calculation of the program,
When the first rising edge is detected, an error correction code generation process for automatically generating an error correction code is performed, and a diagnostic processing parameter necessary for executing the program is selected from the plurality of diagnostic processing parameters and used. By doing so, while adding the error correction code to the memory partial area that has identified the diagnostic location,
A memory diagnostic device , wherein the entire memory used for executing the program is diagnosed by sequentially diagnosing the memory with respect to the specified memory partial area in the idle time of the control operation of the program. .
前記特定したメモリ部分領域に対して第1の誤り訂正符号を生成するとともに、前記特定したメモリ部分領域に対応する誤り訂正符号領域を特定して、第2の誤り訂正符号を取得した後、前記第1の誤り訂正符号と前記第2の誤り訂正符号とを比較し、結果が一致しない場合、異常が発生したと判断することを特徴とする請求項1に記載のメモリ診断装置。 The first error correction code is generated for the specified memory partial area, the error correction code area corresponding to the specified memory partial area is specified, and the second error correction code is acquired. The memory diagnostic device according to claim 1, wherein a first error correction code is compared with the second error correction code, and when the results do not match, it is determined that an abnormality has occurred. 記制御演算実行部の制御演算の処理時間を計測する手段と、
実施した一定回数の前記制御演算の処理時間の計測値を記憶する手段と、
前記一定回数の処理時間の計測値から処理時間に関する統計値を算出する手段と、
処理時間に関する統計値から前記メモリ部分領域の最適な領域分割数を自動で算出可能な手段と、
を有することを特徴とする請求項3に記載のメモリ診断装置。
Means for measuring a processing time of the control operation of the prior SL control operation performing unit,
A means for storing a measured value of the processing time of the control operation performed a certain number of times,
Means for calculating a statistical value related to the processing time from the measured value of the processing time of the predetermined number of times
Means for automatically calculating the optimum number of area divisions of the memory partial area from a statistical value related to processing time;
Memory diagnostic apparatus according to Motomeko 3 further comprising a.
前記メモリ部分領域の最適な領域分割数を自動で算出する処理において、
処理時間の変動が予め設定した値より大きい場合を検出する手段を有し、当該処理時間の変動が予め設定した値より大きい場合を検出した場合には、ネットワークを介し接続している他の装置に通知することを特徴とする請求項1、2または4のいずれか1項に記載のメモリ診断装置。
In the process of automatically calculating the optimum number of divided areas of the memory partial area,
Having a means for detecting a case where the fluctuation of the processing time is larger than a preset value, and when detecting a case where the fluctuation of the processing time is larger than a preset value, another device connected through the network. 5. The memory diagnostic device according to claim 1 , wherein the memory diagnostic device is notified to the user.
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