JP6688361B2 - Substrate transfer method - Google Patents

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本発明は、基板搬送方法に関する。   The present invention relates to a substrate transfer method.

基板に処理を施す基板処理装置は各種存在する。例えば、特許文献1の基板処理装置は、未処理基板および処理済み基板を集積するインデクサブロックと、基板に洗浄等の処理を行う処理ブロックとを、基板反転ユニットおよび基板載置部を介して接続した構成となっている。インデクサブロックおよび処理ブロックのそれぞれには、各ブロック専用の搬送ロボットが配置される。   There are various substrate processing apparatuses that process a substrate. For example, in the substrate processing apparatus of Patent Document 1, an indexer block that accumulates unprocessed substrates and processed substrates is connected to a processing block that performs processing such as cleaning on the substrate via a substrate reversing unit and a substrate placement unit. It has been configured. A transfer robot dedicated to each block is arranged in each of the indexer block and the processing block.

特許文献1には独立に進退駆動する2本のアームを備えたインデクサブロック用搬送ロボット(メインロボット)が開示されている。また、当該2本のアームのそれぞれの先端には基板保持ハンドが設けられており、当該基板保持ハンドは2枚の基板を保持可能な構成となっているため、合計4枚の基板を搬送することが可能である。   Patent Document 1 discloses an indexer block transfer robot (main robot) including two arms that are independently driven to move forward and backward. In addition, a substrate holding hand is provided at each tip of the two arms, and the substrate holding hand is configured to hold two substrates, so that a total of four substrates are transferred. It is possible.

特開2010−45214号公報JP, 2010-45214, A

しかし、本文献には、一連の基板の処理にあたって、メインロボットがどの処理ユニットにどのタイミングでアクセスすべきかについて何ら開示されていない。このため、一連の基板の処理にあたって、状況に応じて各基板の搬送スケジュールを適切に設定することができない。   However, this document does not disclose what processing unit the main robot should access at what timing in processing a series of substrates. Therefore, in processing a series of substrates, the transfer schedule of each substrate cannot be appropriately set according to the situation.

本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、一連の基板の処理にあたって、状況に応じて各基板の搬送スケジュールを適切に設定することによって、基板処理装置のスループットを向上させることができる技術の提供を目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and in processing a series of substrates, it is possible to improve the throughput of the substrate processing apparatus by appropriately setting the transfer schedule of each substrate according to the situation. The purpose is to provide technology that can.

上記の課題を解決するため、第1の態様に係る基板搬送方法は、中継部と、該中継部からの基板の搬出または該中継部への基板の搬入が可能なセンターロボットと、該センターロボットが基板を搬入および搬出することが可能な複数の処理ユニットと、を有する基板処理装置における基板搬送方法であって、工程(a)から工程(e)を有する。前記工程(a)では、前記中継部が同時に保持することのできる基板の枚数を特定する。前記工程(b)では、前記センターロボットが同時に搬送することのできる基板の枚数を決定する。前記工程(c)では、前記基板処理装置の内部での個々の基板の搬送内容を決定するフローレシピの情報に基づいて、前記複数の処理ユニットのうちの並行した処理が可能な処理ユニットの数を決定する。前記工程(d)では、前記工程(a)で特定された基板の枚数と、前記工程(b)で決定された基板の枚数と、前記工程(c)で決定された処理ユニットの数と、に基づいて、前記センターロボットによる基板搬送サイクルと、前記工程(c)で決定された数の処理ユニットにおける基板処理の開始のタイミングのサイクルと、が同期して進行するように、前記センターロボットの動作スケジュールと、各前記処理ユニットでの基板処理スケジュールと、を統合したスケジュールデータを作成する。前記工程(e)では、前記スケジュールデータに従って、前記中継部および前記複数の処理ユニットと前記センターロボットとの基板の受け渡し動作、および前記基板処理装置の全体を通しての基板処理動作を行う。前記基板搬送サイクルは、前記工程(b)において決定された基板の枚数よりも少ない枚数の基板を前記センターロボットが前記複数の処理ユニットに向けて搬送する第1の動作を含む。前記基板搬送サイクルにおいて、前記第1の動作が繰り返し実行される。 In order to solve the above problems, a substrate transfer method according to a first aspect is directed to a relay unit, a center robot capable of unloading a substrate from the relay unit or loading a substrate into the relay unit, and the center robot. Is a substrate transfer method in a substrate processing apparatus having a plurality of processing units capable of loading and unloading substrates, the method including steps (a) to (e). In the step (a), the number of substrates that can be simultaneously held by the relay unit is specified. In the step (b), the number of substrates that can be simultaneously transferred by the center robot is determined. In the step (c), the number of processing units capable of performing parallel processing among the plurality of processing units based on the information of the flow recipe that determines the transfer content of each substrate inside the substrate processing apparatus. To decide. In the step (d), the number of substrates specified in the step (a), the number of substrates determined in the step (b), and the number of processing units determined in the step (c), On the basis of the above, the substrate transfer cycle of the center robot and the cycle of the substrate processing start timing in the number of processing units determined in the step (c) proceed in synchronization with each other. Schedule data that integrates the operation schedule and the substrate processing schedule in each of the processing units is created. In the step (e), the substrate transfer operation between the relay unit and the plurality of processing units and the center robot, and the substrate processing operation through the entire substrate processing apparatus are performed according to the schedule data. The substrate transfer cycle includes a first operation in which the central robot transfers a smaller number of substrates to the plurality of processing units than the number of substrates determined in the step (b). In the substrate transfer cycle, the first operation is repeatedly executed.

第1の態様に係る基板搬送方法によれば、複数枚の基板を搬送する際のスケジュール作成において、時間効率の良いスケジュールを作成できる。すなわち、一連の基板の処理にあたって、状況に応じて各基板の搬送スケジュールを適切に設定することによって、基板処理装置のスループットを向上させることができる。   According to the substrate transfer method of the first aspect, it is possible to create a time-efficient schedule when creating a schedule for transferring a plurality of substrates. That is, in processing a series of substrates, the throughput of the substrate processing apparatus can be improved by appropriately setting the transfer schedule of each substrate according to the situation.

第2の態様に係る基板搬送方法は、第1の態様に係る基板搬送方法であって、前記中継部は、複数の基板載置部を含む中継ユニット、反転ユニットおよび反転受渡ユニットを含む。   A substrate transfer method according to a second aspect is the substrate transfer method according to the first aspect, wherein the relay section includes a relay unit including a plurality of substrate mounting sections, a reversing unit, and a reversing and delivering unit.

第3の態様に係る基板搬送方法は、第1または第2の態様に係る基板搬送方法であって、前記工程(b)において決定された基板の枚数よりも少ない枚数の基板が前記中継部に載置されているときに、前記センターロボットは、前記中継部から基板を取り出す。   A substrate transfer method according to a third aspect is the substrate transfer method according to the first or second aspect, wherein a number of substrates less than the number of substrates determined in the step (b) is transferred to the relay section. When placed, the center robot takes out the substrate from the relay section.

第4の態様に係る基板搬送方法は、第1または第2の態様に係る基板搬送方法であって、前記基板搬送サイクルは、前記工程(b)において決定された基板の枚数の基板を前記センターロボットが前記複数の処理ユニットに向けて搬送する動作をさらに含むSubstrate transfer method according to the fourth aspect is a substrate transfer method according to the first or second aspect, the substrate transfer cycle, said number of sheets of substrates of the substrate determined in the step (b) The center robot further includes an operation of transporting the center robot toward the plurality of processing units.

第5の態様に係る基板搬送方法は、第4の態様に係る基板搬送方法であって、前記基板搬送サイクルは、前記工程(b)において複数枚の基板を前記センターロボットが同時に搬送することができると決定された場合において、1枚の基板を前記センターロボットが前記複数の処理ユニットに向けて繰り返し搬送する動作を含む。 A substrate transfer method according to a fifth aspect is the substrate transfer method according to the fourth aspect, wherein in the substrate transfer cycle, the central robot simultaneously transfers a plurality of substrates in the step (b). When it is determined that the processing is possible, the center robot repeatedly conveys one substrate toward the plurality of processing units .

第6の態様に係る基板搬送方法は、中継部と、該中継部からの基板の搬出または該中継部への基板の搬入が可能なセンターロボットと、該センターロボットが基板を搬入および搬出することが可能な複数の処理ユニットと、を有する基板処理装置における基板搬送方法であって、工程(a)から工程(e)を有する。前記工程(a)では、前記中継部が同時に保持することのできる基板の枚数を特定する。前記工程(b)では、前記センターロボットが同時に搬送することのできる基板の枚数を決定する。前記工程(c)では、前記基板処理装置の内部での個々の基板の搬送内容を決定するフローレシピの情報に基づいて、前記複数の処理ユニットのうちの並行した処理が可能な処理ユニットの数を決定する。前記工程(d)では、前記工程(a)で特定された基板の枚数と、前記工程(b)で決定された基板の枚数と、前記工程(c)で決定された処理ユニットの数と、に基づいて、前記センターロボットによる基板搬送サイクルと、前記工程(c)で決定された数の処理ユニットにおける基板処理の開始のタイミングのサイクルと、が同期して進行するように、前記センターロボットの動作スケジュールと、各前記処理ユニットでの基板処理スケジュールと、を統合したスケジュールデータを作成する。前記工程(e)では、前記スケジュールデータに従って、前記中継部および前記複数の処理ユニットと前記センターロボットとの基板の受け渡し動作、および前記基板処理装置の全体を通しての基板処理動作を行う。前記センターロボットによる前記基板搬送サイクルと、前記工程(c)で決定された数の処理ユニットにおける基板処理の開始のタイミングのサイクルと、が同期して進行する際に、前記センターロボットによる1回の基板搬送サイクルに要する時間が前記複数の処理ユニットのうちの1つの処理ユニットでの処理時間よりも長いために該1つの処理ユニットの側で待ち時間が生じている搬送律速の状態と、前記センターロボットによる1回の前記基板搬送サイクルに要する時間が前記1つの処理ユニットでの処理時間よりも短くて前記センターロボットの側で待ち時間が発生するプロセス律速の状態と、が両方とも発生することが生じない。 A substrate transfer method according to a sixth aspect is a relay unit, a center robot capable of unloading a substrate from the relay unit or loading a substrate into the relay unit, and loading and unloading a substrate by the center robot. A substrate transfer method in a substrate processing apparatus having a plurality of processing units capable of performing the steps (a) to (e). In the step (a), the number of substrates that can be simultaneously held by the relay unit is specified. In the step (b), the number of substrates that can be simultaneously transferred by the center robot is determined. In the step (c), the number of processing units capable of performing parallel processing among the plurality of processing units based on the information of the flow recipe that determines the transfer content of each substrate inside the substrate processing apparatus. To decide. In the step (d), the number of substrates specified in the step (a), the number of substrates determined in the step (b), and the number of processing units determined in the step (c), On the basis of the above, the substrate transfer cycle of the center robot and the cycle of the substrate processing start timing in the number of processing units determined in the step (c) proceed in synchronization with each other. Schedule data that integrates the operation schedule and the substrate processing schedule in each of the processing units is created. In the step (e), the substrate transfer operation between the relay unit and the plurality of processing units and the center robot, and the substrate processing operation through the entire substrate processing apparatus are performed according to the schedule data. When the substrate transfer cycle by the central robot and the cycle of the timing of starting the substrate processing in the number of processing units determined in the step (c) proceed in synchronization, one cycle by the central robot is performed. Since the time required for the substrate transfer cycle is longer than the processing time in one processing unit of the plurality of processing units, a waiting time is generated on the side of the one processing unit, and a transfer rate-controlled state, and the center Both the process-controlled state in which the time required for one substrate transfer cycle by the robot is shorter than the processing time in the one processing unit and a waiting time occurs on the side of the central robot may occur. Does not happen.

第7の態様に係る基板搬送方法は、インデクサロボットと、該インデクサロボットによって基板の受け渡しが行われる中継部と、該中継部からの基板の搬出または該中継部への基板の搬入が可能なセンターロボットと、該センターロボットが基板を搬入および搬出することが可能な複数の処理ユニットと、を有する基板処理装置における基板搬送方法であって、工程(a)から工程(f)を有する。前記工程(a)では、前記インデクサロボットが同時に搬送することのできる基板の枚数を特定する。前記工程(b)では、前記中継部が同時に保持することのできる基板の枚数を特定する。前記工程(c)では、前記センターロボットが同時に搬送することのできる基板の枚数を決定する。前記工程(d)では、前記基板処理装置の内部での個々の基板の搬送内容を決定するフローレシピの情報に基づいて、前記複数の処理ユニットのうちの並行した処理が可能な処理ユニットの数を決定する。前記工程(e)では、前記工程(a)で特定された基板の枚数と、前記工程(b)で特定された基板の枚数と、前記工程(c)で決定された基板の枚数と、前記工程(d)で決定された処理ユニットの数と、に基づいて、前記センターロボットによる基板搬送サイクルと前記工程(d)で決定された数の処理ユニットにおける基板処理の開始のタイミングのサイクルとが同期して進行するように、前記インデクサロボットおよび前記センターロボットの動作スケジュールと、各前記処理ユニットでの基板処理スケジュールと、を統合したスケジュールデータを作成する。前記工程(f)では、前記スケジュールデータに従って、前記中継部と前記インデクサロボットとの基板の受け渡し動作、前記中継部および前記複数の処理ユニットと前記センターロボットとの基板の受け渡し動作、および前記基板処理装置の全体を通しての基板処理動作を行う。前記センターロボットによる前記基板搬送サイクルと、前記工程(d)で決定された数の処理ユニットにおける基板処理の開始のタイミングのサイクルと、が同期して進行する際に、前記センターロボットによる1回の基板搬送サイクルに要する時間が前記複数の処理ユニットのうちの1つの処理ユニットでの処理時間よりも長いために該1つの処理ユニットの側で待ち時間が生じている搬送律速の状態と、前記センターロボットによる1回の前記基板搬送サイクルに要する時間が前記1つの処理ユニットでの処理時間よりも短くて前記センターロボットの側で待ち時間が発生するプロセス律速の状態と、が両方とも発生することが生じない。 A substrate transfer method according to a seventh aspect is an indexer robot, a relay unit for transferring a substrate by the indexer robot, and a center capable of unloading a substrate from the relay unit or loading a substrate into the relay unit. A substrate transfer method in a substrate processing apparatus having a robot and a plurality of processing units capable of loading and unloading substrates by the center robot, the method including steps (a) to (f). In the step (a), the number of substrates that the indexer robot can simultaneously carry is specified. In the step (b), the number of substrates that the relay section can hold simultaneously is specified. In the step (c), the number of substrates that can be simultaneously transferred by the center robot is determined. In the step (d), the number of processing units capable of performing parallel processing among the plurality of processing units based on the information of the flow recipe that determines the transfer content of each substrate inside the substrate processing apparatus. To decide. In the step (e), the number of substrates specified in the step (a), the number of substrates specified in the step (b), the number of substrates determined in the step (c), Based on the number of processing units determined in step (d), the substrate transfer cycle by the central robot and the cycle of the timing of starting the substrate processing in the number of processing units determined in step (d) are Schedule data that integrates the operation schedules of the indexer robot and the center robot and the substrate processing schedule in each of the processing units is created so as to proceed in synchronization. In the step (f), according to the schedule data, the substrate transfer operation between the relay section and the indexer robot, the substrate transfer operation between the relay section and the plurality of processing units and the center robot, and the substrate processing. Perform substrate processing operations throughout the apparatus. When the substrate transfer cycle by the center robot and the cycle of the timing of starting the substrate processing in the number of processing units determined in the step (d) proceed in synchronization with each other, one cycle is performed by the center robot. Since the time required for the substrate transfer cycle is longer than the processing time in one processing unit of the plurality of processing units, a waiting time is generated on the side of the one processing unit, and a transfer rate-controlled state, and the center Both the process-controlled state in which the time required for one substrate transfer cycle by the robot is shorter than the processing time in the one processing unit and a waiting time occurs on the side of the central robot may occur. Does not happen.

第7の態様に係る基板搬送方法によれば、複数枚の基板を搬送する際のスケジュール作成において、時間効率の良いスケジュールを作成できる。すなわち、一連の基板の処理にあたって、状況に応じて各基板の搬送スケジュールを適切に設定することによって、基板処理装置のスループットを向上させることができる。   According to the substrate transfer method of the seventh aspect, it is possible to create a time-efficient schedule when creating a schedule for transferring a plurality of substrates. That is, in processing a series of substrates, the throughput of the substrate processing apparatus can be improved by appropriately setting the transfer schedule of each substrate according to the situation.

第8の態様に係る基板搬送方法は、第7の態様に係る基板搬送方法であって、前記中継部は、複数の基板載置部を含む中継ユニット、反転ユニットおよび反転受渡ユニットを含む。   A substrate transfer method according to an eighth aspect is the substrate transfer method according to the seventh aspect, wherein the relay section includes a relay unit including a plurality of substrate mounting sections, a reversing unit, and a reversing and passing unit.

第9の態様に係る基板搬送方法は、第7または第8の態様に係る基板搬送方法であって、前記インデクサロボットは、前記工程(c)において決定された基板の枚数よりも少ない枚数の基板を前記中継部に載置し、前記センターロボットは、前記工程(c)において決定された基板の枚数よりも少ない枚数の基板が前記中継部に載置されているときに、前記中継部から基板を取り出す。   A substrate transfer method according to a ninth aspect is the substrate transfer method according to the seventh or eighth aspect, wherein the indexer robot has a smaller number of substrates than the number of substrates determined in the step (c). Are mounted on the relay section, and the center robot is configured to transfer the substrate from the relay section when the number of the boards is smaller than the number of the boards determined in the step (c). Take out.

第10の態様に係る基板搬送方法は、第7または第8の態様に係る基板搬送方法であって、前記基板搬送サイクルは、前記工程(c)において決定された基板の枚数よりも少ない枚数の基板を前記センターロボットが前記複数の処理ユニットに向けて搬送する第1の動作を含み、前記基板搬送サイクルにおいて、前記第1の動作が繰り返し実行される。 A substrate transfer method according to a tenth aspect is the substrate transfer method according to the seventh or eighth aspect, wherein the substrate transfer cycle is performed with a number of substrates smaller than the number of substrates determined in the step (c). In the substrate transfer cycle , the first operation is repeatedly executed, including a first operation in which the center robot transfers the substrate toward the plurality of processing units.

第11の態様に係る基板搬送方法は、インデクサロボットと、該インデクサロボットによって基板の受け渡しが行われる中継部と、該中継部からの基板の搬出または該中継部への基板の搬入が可能なセンターロボットと、該センターロボットが基板を搬入および搬出することが可能な複数の処理ユニットと、を有する基板処理装置における基板搬送方法であって、工程(a)から工程(f)を有する。前記工程(a)では、前記インデクサロボットが同時に搬送することのできる基板の枚数を特定する。前記工程(b)では、前記中継部が同時に保持することのできる基板の枚数を特定する。前記工程(c)では、前記センターロボットが同時に搬送することのできる基板の枚数を決定する。前記工程(d)では、前記基板処理装置の内部での個々の基板の搬送内容を決定するフローレシピの情報に基づいて、前記複数の処理ユニットのうちの並行した処理が可能な処理ユニットの数を決定する。前記工程(e)では、前記工程(a)で特定された基板の枚数と、前記工程(b)で特定された基板の枚数と、前記工程(c)で決定された基板の枚数と、前記工程(d)で決定された処理ユニットの数と、に基づいて、前記センターロボットによる基板搬送サイクルと前記工程(d)で決定された数の処理ユニットにおける基板処理の開始のタイミングのサイクルとが同期して進行するように、前記インデクサロボットおよび前記センターロボットの動作スケジュールと、各前記処理ユニットでの基板処理スケジュールと、を統合したスケジュールデータを作成する。前記工程(f)では、前記スケジュールデータに従って、前記中継部と前記インデクサロボットとの基板の受け渡し動作、前記中継部および前記複数の処理ユニットと前記センターロボットとの基板の受け渡し動作、および前記基板処理装置の全体を通しての基板処理動作を行う。前記基板搬送サイクルは、前記工程()において定された基板の枚数よりも少ない枚数の基板が前記インデクサロボットによって前記中継部に載置される第2の動作を含む。前記基板搬送サイクルにおいて、前記第2の動作が繰り返し実行される。 A substrate transfer method according to an eleventh aspect is an indexer robot, a relay unit for transferring a substrate by the indexer robot, and a center capable of unloading a substrate from the relay unit or loading a substrate into the relay unit. A substrate transfer method in a substrate processing apparatus having a robot and a plurality of processing units capable of loading and unloading substrates by the center robot, the method including steps (a) to (f). In the step (a), the number of substrates that the indexer robot can simultaneously carry is specified. In the step (b), the number of substrates that the relay section can hold simultaneously is specified. In the step (c), the number of substrates that can be simultaneously transferred by the center robot is determined. In the step (d), the number of processing units capable of performing parallel processing among the plurality of processing units based on the information of the flow recipe that determines the transfer content of each substrate inside the substrate processing apparatus. To decide. In the step (e), the number of substrates specified in the step (a), the number of substrates specified in the step (b), the number of substrates determined in the step (c), Based on the number of processing units determined in step (d), the substrate transfer cycle by the central robot and the cycle of the timing of starting the substrate processing in the number of processing units determined in step (d) are Schedule data that integrates the operation schedules of the indexer robot and the center robot and the substrate processing schedule in each of the processing units is created so as to proceed in synchronization. In the step (f), according to the schedule data, the substrate transfer operation between the relay section and the indexer robot, the substrate transfer operation between the relay section and the plurality of processing units and the center robot, and the substrate processing. Perform substrate processing operations throughout the apparatus. The substrate transfer cycle includes a second operation in which the substrate of the number smaller than the number of substrates that are specific in the step (a) is placed on the relay portion by the indexer robot. In the substrate transfer cycle, the second operation is repeatedly executed.

第1実施形態に係る基板処理装置1の全体構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the whole structure of the substrate processing apparatus 1 which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る処理区画3の側面図である。It is a side view of the processing division 3 which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る処理区画3の側面図である。It is a side view of the processing division 3 which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るインデクサロボットIRの構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the indexer robot IR which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る洗浄処理ユニットの構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the cleaning processing unit which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る反転処理ユニットRTの構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the inversion processing unit RT which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るセンターロボットCRの構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the center robot CR which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る中継ユニット50aの側面図である。It is a side view of relay unit 50a concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係る中継ユニット50aの上面図である。It is a top view of the relay unit 50a which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る基板処理装置1の系統ブロック図である。It is a system block diagram of the substrate processing apparatus 1 which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る制御部60が備える構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure with which the control part 60 which concerns on 1st Embodiment is equipped. 第1実施形態に係るセンターロボットCRと洗浄処理ユニットとにおける基板受渡し動作を説明する概念図である。It is a conceptual diagram explaining the substrate delivery operation in the central robot CR and the cleaning processing unit according to the first embodiment. 第1実施形態に係るセンターロボットCRと洗浄処理ユニットとにおける基板受渡し動作を説明する概念図である。It is a conceptual diagram explaining the substrate delivery operation in the central robot CR and the cleaning processing unit according to the first embodiment. 第1実施形態に係るセンターロボットCRと中継ユニット50aとにおける基板受渡し動作を説明する概念図である。It is a conceptual diagram explaining the board | substrate delivery operation in the central robot CR and relay unit 50a which concern on 1st Embodiment. 本基板処理装置1で実施可能な基板搬送パターンの例を示す表である。9 is a table showing an example of a substrate transfer pattern that can be implemented by the present substrate processing apparatus 1. 第1実施形態に係るスケジュールデータ作成方法を説明するためのフローチャートである。6 is a flowchart for explaining a schedule data creating method according to the first embodiment. 第1実施形態において「裏3並行」のパターンで基板を搬送する際の基板の流れを説明する模式図である。It is a schematic diagram explaining the flow of a board | substrate when a board | substrate is conveyed by the pattern of "back 3 parallel" in 1st Embodiment. 第1実施形態において「裏3並行−表6並行」のパターンで基板を搬送する際の基板の流れを説明する模式図である。It is a schematic diagram explaining the flow of a board | substrate when a board | substrate is conveyed by the pattern of "back 3 parallel-front 6 parallel" in 1st Embodiment. 第1実施形態に係る計画ロジックで作成されたスケジュール例を示すタイムチャートである。It is a time chart which shows the example of a schedule created by the planning logic concerning a 1st embodiment. 第1実施形態に係る計画ロジックで作成されたスケジュール例を示すタイムチャートである。It is a time chart which shows the example of a schedule created by the planning logic concerning a 1st embodiment.

以下では、この発明の実施の形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。   Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

{第1実施形態}
<1.基板処理装置1の概略構成>
図1は、この発明の第1実施形態に係る基板処理装置1のレイアウトを示す平面図である。また、図2は、図1におけるA−A断面から矢印a方向に見た基板処理装置1の側面図である。また、図3は、図1におけるA−A断面から矢印bの方向に見た基板処理装置1の側面図である。なお、この明細書に添付した図において、X方向およびY方向は水平面を規定する2次元座標軸であり、Z方向はXY面に垂直な鉛直方向を規定している。
{First embodiment}
<1. Schematic configuration of the substrate processing apparatus 1>
FIG. 1 is a plan view showing a layout of a substrate processing apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention. In addition, FIG. 2 is a side view of the substrate processing apparatus 1 viewed in the direction of arrow a from the AA cross section in FIG. Further, FIG. 3 is a side view of the substrate processing apparatus 1 seen from the AA cross section in FIG. 1 in the direction of arrow b. In the drawings attached to this specification, the X and Y directions are two-dimensional coordinate axes that define a horizontal plane, and the Z direction is a vertical direction that is perpendicular to the XY plane.

この基板処理装置1は、半導体ウエハ等の基板Wを1枚ずつ処理する枚葉型の基板洗浄装置である。図1に示すように、基板処理装置1は、インデクサ区画2と、このインデクサ区画2に結合された処理区画3とを備えており、インデクサ区画2と処理区画3との境界部分には、中継部50が配置されている。中継部50は、インデクサロボットIRとセンターロボットCRとの間で基板Wの受け渡しを行うための中継ユニット50a、センターロボットCRとの間で基板Wの反転を行う反転ユニット(RT1)、基板Wを反転しつつインデクサロボットIRとセンターロボットCRとの間で基板Wの受渡を行うための反転受渡ユニット(RT2)とからなる。図2に示すように、中継部50は中継ユニット50aの上方に反転ユニットRT1を配置し、中継ユニット50aの下方に反転受渡ユニットRT2を配置した積層構造を有している。   The substrate processing apparatus 1 is a single-wafer type substrate cleaning apparatus that processes substrates W such as semiconductor wafers one by one. As shown in FIG. 1, the substrate processing apparatus 1 includes an indexer section 2 and a processing section 3 connected to the indexer section 2, and a relay is provided at a boundary portion between the indexer section 2 and the processing section 3. The part 50 is arranged. The relay unit 50 includes a relay unit 50a for transferring the substrate W between the indexer robot IR and the center robot CR, a reversing unit (RT1) for reversing the substrate W between the center robot CR, and the substrate W. The reverse transfer unit (RT2) is provided for transferring the substrate W between the indexer robot IR and the center robot CR while reversing. As shown in FIG. 2, the relay section 50 has a laminated structure in which the reversing unit RT1 is arranged above the relay unit 50a, and the reversal delivery unit RT2 is arranged below the relay unit 50a.

また、基板処理装置1には、基板処理装置1における各装置の動作を制御するための制御部60が備えられている。処理区画3は、後述するスクラブ洗浄処理等の基板処理を行う区画であり、基板処理装置1全体として枚葉型の基板洗浄装置となっている。制御部60は、基板処理装置1の外部に置かれたホストコンピュータとLANを介して接続されている。ホストコンピュータから制御部60へは各基板Wの表面洗浄処理ユニットSSあるいは裏面洗浄処理ユニットSSRでの基板処理内容を決定するプロセスレシピPRが送信される。また、ホストコンピュータから制御部60へは、基板処理装置1内部での個々の基板Wの搬送内容を決定するフローレシピFRが送信される。制御部60は受信したフローレシピFRを参照して基板処理装置1内部での各基板Wの搬送スケジュールを作成する。この第1実施形態の記録媒体処理装置1においては、各基板の処理や搬送のスケジュールをデジタルデータの形式で作成するためのコンピュータプログラムが、制御部60にあらかじめ記憶されている。そして、制御部60のコンピュータがこのコンピュータプログラムを実行することにより、この制御部60のひとつの機能として、スケジュール作成装置が実現される。これらの詳細については後述する。   Further, the substrate processing apparatus 1 is provided with a control unit 60 for controlling the operation of each device in the substrate processing apparatus 1. The processing section 3 is a section for performing substrate processing such as scrub cleaning processing described later, and the substrate processing apparatus 1 as a whole is a single-wafer type substrate cleaning apparatus. The control unit 60 is connected to a host computer placed outside the substrate processing apparatus 1 via a LAN. From the host computer to the control unit 60, a process recipe PR that determines the substrate processing content of the front surface cleaning processing unit SS or the back surface cleaning processing unit SSR of each substrate W is transmitted. In addition, the host computer transmits to the control unit 60 a flow recipe FR that determines the transport content of each substrate W inside the substrate processing apparatus 1. The control unit 60 refers to the received flow recipe FR to create a transfer schedule of each substrate W inside the substrate processing apparatus 1. In the recording medium processing apparatus 1 according to the first embodiment, the control unit 60 stores in advance a computer program for creating a schedule for processing or carrying each substrate in the form of digital data. Then, the computer of the control unit 60 executes the computer program, so that the schedule creating device is realized as one function of the control unit 60. Details of these will be described later.

<1.1 インデクサ区画>
インデクサ区画2は、基板処理装置1の外部から受け取った基板W(未処理基板W)を処理区画3に渡すとともに、処理区画3から受け取った基板W(処理済み基板W)を基板処理装置1の外部に搬出するための区画である。インデクサ区画2は、複数枚の基板Wを収容できるキャリアCを保持することができるキャリア保持部4と、基板の搬送手段(基板搬送部とも言う)であるインデクサロボットIRと、インデクサロボットIRを水平に移動させるインデクサロボット移動機構5(以下では、「IR移動機構5」という)とを備えている。
<1.1 Indexer section>
The indexer section 2 transfers the substrate W (unprocessed substrate W) received from the outside of the substrate processing apparatus 1 to the processing section 3 and transfers the substrate W (processed substrate W) received from the processing section 3 to the substrate processing apparatus 1. It is a compartment for carrying out. The indexer section 2 includes a carrier holding unit 4 capable of holding a carrier C capable of accommodating a plurality of substrates W, an indexer robot IR that is a substrate transfer unit (also referred to as a substrate transfer unit), and an indexer robot IR that is horizontal. And an indexer robot moving mechanism 5 (hereinafter, referred to as “IR moving mechanism 5”).

キャリアCは、たとえば複数枚の基板Wを上下に一定の間隔を空けて水平に保持できるものであり、表面(2つの主面のうち電子デバイスを形成する主面)を上に向けて複数枚の基板Wを保持している。複数のキャリアCは、所定の配列方向(第1実施形態においては、Y方向)に沿って配列された状態で、キャリア保持部4に保持されている。IR移動機構5は、Y方向に沿ってインデクサロボットIRを水平に移動させることができる。   The carrier C can hold, for example, a plurality of substrates W horizontally with a certain space vertically, and a plurality of the substrates W with the surface (the main surface forming the electronic device of the two main surfaces) facing upward. Holds the substrate W. The plurality of carriers C are held by the carrier holding portion 4 in a state of being arranged along a predetermined arrangement direction (Y direction in the first embodiment). The IR moving mechanism 5 can horizontally move the indexer robot IR along the Y direction.

各キャリア保持部4に対しては、未処理基板Wを収納したキャリアCが、装置外部から、OHT(Overhead Hoist Transfer)、AGV(Automated Guided Vehicle)等によって搬入されて載置される。また、処理区画3でのスクラブ洗浄処理等の基板処理が終了した処理済み基板Wは、センターロボットCRから中継部50を介してインデクサロボットIRに受け渡され、キャリア保持部4に載置されたキャリアCに再度格納される。処理済み基板Wを格納したキャリアCは、OHT等によって装置外部に搬出される。すなわち、キャリア保持部4は、未処理基板Wおよび処理済み基板Wを集積する基板集積部として機能する。   The carrier C accommodating the unprocessed substrate W is carried into each carrier holding unit 4 from the outside of the apparatus by OHT (Overhead Hoist Transfer), AGV (Automated Guided Vehicle) or the like and placed. Further, the processed substrate W, which has been subjected to the substrate processing such as the scrub cleaning processing in the processing section 3, is transferred from the central robot CR to the indexer robot IR via the relay section 50 and placed on the carrier holding section 4. Stored again in carrier C. The carrier C storing the processed substrate W is carried out of the apparatus by OHT or the like. That is, the carrier holding unit 4 functions as a substrate stacking unit that stacks the unprocessed substrate W and the processed substrate W.

本実施形態におけるIR移動機構5の構成について説明する。インデクサロボットIRには可動台が固設されており、この可動台はキャリアCの並びと平行にY方向に沿って延びるボールネジに螺合されるとともに、ガイドレールに対して摺動自在に設けられている。よって、回転モータによってボールネジが回転すると、可動台と固設されたインデクサロボットIRの全体がY軸方向に沿って水平移動する(いずれも図示省略)。このように、インデクサロボットIRはY方向に沿って自在に移動可能であるので、各キャリアCに、または、中継部50に基板の搬入出(以下、基板の搬入出のことを「アクセス」と称する場合がある。)可能な位置まで移動することができる。   The configuration of the IR moving mechanism 5 in this embodiment will be described. The indexer robot IR has a movable base fixed thereto. The movable base is screwed into a ball screw extending in the Y direction in parallel with the arrangement of the carriers C and is slidably provided on the guide rail. ing. Therefore, when the ball screw is rotated by the rotation motor, the entire indexer robot IR fixed to the movable base horizontally moves along the Y-axis direction (all are not shown). As described above, since the indexer robot IR can move freely along the Y direction, the loading / unloading of the substrate to each carrier C or the relay unit 50 (hereinafter, loading / unloading of the substrate is referred to as “access”). It may be called.) It is possible to move to a possible position.

図4は、インデクサロボットIRの図解的な側面図である。図4の各要素に付された参照記号のうち、カッコ内に示す参照符号は、インデクサロボットIRとほぼ同じ自由度を有するロボット機構をセンターロボットCRとしても用いる場合についての、センターロボットCRでの要素の参照符号である。したがって、ここでのインデクサロボットIRの構成説明においては、カッコ外にある参照符号を参照する。   FIG. 4 is a schematic side view of the indexer robot IR. Among the reference symbols given to the respective elements in FIG. 4, reference symbols shown in parentheses indicate that the center robot CR uses a robot mechanism having substantially the same degree of freedom as the indexer robot IR as the center robot CR. The reference symbol for the element. Therefore, in the description of the structure of the indexer robot IR, reference numerals outside the parentheses are referred to.

インデクサロボットIRは、基台部18を有している。アーム6aおよびアーム7aの一端は基台部18に取り付けられており、各々のアームの他端にはハンド6b,6cおよびハンド7b,7cが、互いに干渉しないように上下方向に高さをずらして配置されている(図1では、ハンド6b,6cおよびハンド7b,7cが上下に重なり合っている。)。したがって、ハンド6b,6cは、アーム6aを介して基台部18に保持されている。   The indexer robot IR has a base portion 18. One ends of the arms 6a and 7a are attached to the base portion 18, and the hands 6b, 6c and the hands 7b, 7c are vertically staggered at the other ends of the arms so as not to interfere with each other. They are arranged (in FIG. 1, the hands 6b and 6c and the hands 7b and 7c are vertically overlapped with each other). Therefore, the hands 6b and 6c are held by the base portion 18 via the arm 6a.

また、ハンド7b,7cは、アーム7aを介して基台部18に保持されている。各ハンド6b,6c,7b,7cの先端は、いずれも一対のフィンガ部を有している。すなわち、各ハンド6b、6c、7b、7cの先端は、上面視にて二股のフォーク状に形成されており、基板Wの下面を下方から支持することにより1枚の基板Wを水平に保持することができる。また、本実施形態においては、ハンド7b,7cは洗浄処理を行う前の未処理基板を搬送する際にのみ用い、ハンド6b,6cは洗浄処理後の処理済基板を搬送する場合にのみ用いる。なお、各ハンドの一対のフィンガ部の外寸は、中継部50(図9)に対向配置された一対の支持部材54の間隔よりもよりも小さい。このため、後述する基板搬入および搬出作業において、各ハンド6b、6c、7b、7cはこの支持部材54に干渉することなく基板Wを中継部50に搬入出することができる。   The hands 7b and 7c are held by the base portion 18 via the arm 7a. The tips of the hands 6b, 6c, 7b, 7c each have a pair of finger portions. That is, the tips of the respective hands 6b, 6c, 7b, 7c are formed in a forked shape in a top view, and hold one substrate W horizontally by supporting the lower surface of the substrate W from below. be able to. Further, in the present embodiment, the hands 7b and 7c are used only when the unprocessed substrate before the cleaning process is carried, and the hands 6b and 6c are used only when the processed substrate after the cleaning process is carried. The outer size of the pair of finger portions of each hand is smaller than the distance between the pair of support members 54 arranged to face the relay portion 50 (FIG. 9). Therefore, in the substrate loading and unloading operations described later, the hands 6b, 6c, 7b, 7c can load and unload the substrate W into the relay unit 50 without interfering with the supporting member 54.

また、各ハンド6b、6c、7b、7cの一対のフィンガ部の外寸は基板Wの直径よりも小さい。このため基板Wを安定して保持することができる。したがって、このインデクサロボットIRは4つのハンド6b,6c,7b,7cを有しているものの、未処理基板の同時搬送としては最大2枚の基板が可能であり、処理済基板の同時搬送としても最大2枚の基板が可能なロボット機構となっている。アーム6aおよびアーム7aは、いずれも多関節型の屈伸式アームである。インデクサロボットIRは、進退駆動機構8により、アーム6aおよびアーム7aを個別に伸縮させることができる。したがって、当該アーム6a,7aに対応するハンド6b,6cおよび7b,7cを別々に水平に進退させることができる。   The outer dimensions of the pair of fingers of each hand 6b, 6c, 7b, 7c are smaller than the diameter of the substrate W. Therefore, the substrate W can be stably held. Therefore, although this indexer robot IR has four hands 6b, 6c, 7b, 7c, it is possible to simultaneously transfer unprocessed substrates up to two substrates, and also to simultaneously transfer processed substrates. It is a robot mechanism that can handle up to two substrates. Both the arm 6a and the arm 7a are articulated bending / extending arms. The indexer robot IR can extend and retract the arms 6a and 7a individually by the advancing / retreating drive mechanism 8. Therefore, the hands 6b and 6c and 7b and 7c corresponding to the arms 6a and 7a can be horizontally moved separately.

また、基台部18には、基台部18を鉛直軸線まわりに回転させるための旋回機構9と、基台部18を鉛直方向に昇降させるための昇降駆動機構10とが内蔵されている。以上の構成となっているため、インデクサロボットIRは、IR移動機構5によってY方向に沿って自在に移動可能である。また、インデクサロボットIRは、旋回機構9および昇降駆動機構10によって、水平面における各ハンドの角度、および、鉛直方向における各ハンドの高さを調節することができる。そのため、インデクサロボットIRは、各ハンド6b,6cおよびハンド7b,7cをキャリアCや中継部50に対向させることができる。インデクサロボットIRは、ハンド6b,6cおよびハンド7b,7cがキャリアCに対向した状態で、アーム6aまたはアーム7aを伸長させることにより、当該アーム6a,7aに対応するハンド6b,6cおよびハンド7b,7cを当該キャリアCや中継部50にアクセスさせることができる。   Further, the base portion 18 has a built-in swivel mechanism 9 for rotating the base portion 18 around a vertical axis, and a lift drive mechanism 10 for raising and lowering the base portion 18 in the vertical direction. With the above configuration, the indexer robot IR can be freely moved along the Y direction by the IR moving mechanism 5. Further, the indexer robot IR can adjust the angle of each hand in the horizontal plane and the height of each hand in the vertical direction by the turning mechanism 9 and the lifting drive mechanism 10. Therefore, the indexer robot IR can make the hands 6b, 6c and the hands 7b, 7c face the carrier C and the relay section 50. The indexer robot IR extends the arm 6a or the arm 7a in a state where the hands 6b and 6c and the hands 7b and 7c face the carrier C, so that the hands 6b and 6c and the hands 7b and 7b corresponding to the arms 6a and 7a. 7c can access the carrier C and the relay unit 50.

<1.2 処理区画>
処理区画3は、インデクサ区画2より搬送された未処理の基板Wに洗浄処理を施し、当該洗浄処理を施した処理済基板Wを再びインデクサ区画2へと搬送する区画である。
<1.2 processing section>
The processing section 3 is a section in which the unprocessed substrate W transported from the indexer section 2 is subjected to cleaning processing, and the processed substrate W subjected to the cleaning processing is transported to the indexer section 2 again.

処理区画3は、基板の表面に一枚ずつ洗浄処理を施す表面洗浄処理部11と、基板の裏面に一枚ずつ洗浄処理を施す裏面洗浄処理部12と、基板の搬送手段(基板搬送部とも言う)であるセンターロボットCRと、センターロボットCRを水平に移動させるセンターロボット移動機構17(以下では、「CR移動機構17」という)とを備えている。以下、処理区画3における各装置の構成を説明する。   The processing section 3 includes a front surface cleaning processing unit 11 that performs cleaning processing on the front surface of the substrate one by one, a back surface cleaning processing unit 12 that performs cleaning processing on the back surface of the substrate one by one, and a substrate transport unit (both substrate transport unit). A center robot CR, which is a so-called), and a center robot moving mechanism 17 (hereinafter, referred to as “CR moving mechanism 17”) for horizontally moving the center robot CR. The configuration of each device in the processing section 3 will be described below.

図1〜3に示すとおり、洗浄処理部11は、それぞれの組が上下方向に積み重ねられて4段構成とされた2組の表面洗浄処理ユニットSS1〜SS4、SS5〜SS8を備えており、また洗浄処理部11,12は、それぞれの組が上下方向に積み重ねられて4段構成とされた2組の裏面洗浄処理ユニットSSR1〜SSR4、SSR5〜SSR8を備えた構成である。図1に示すように、表面洗浄処理部11および裏面洗浄処理部12は、Y方向に所定距離離隔した状態で並んで配置されている。センターロボットCRは、表面洗浄処理部11と裏面洗浄処理部12との間に配置されている。   As shown in FIGS. 1 to 3, the cleaning processing section 11 includes two sets of surface cleaning processing units SS1 to SS4 and SS5 to SS8 each of which is vertically stacked and has a four-stage configuration. The cleaning processing units 11 and 12 are configured to include two sets of back surface cleaning processing units SSR1 to SSR4 and SSR5 to SSR8, each of which is stacked in the vertical direction to form a four-stage structure. As shown in FIG. 1, the front surface cleaning processing unit 11 and the back surface cleaning processing unit 12 are arranged side by side in the Y direction with a predetermined distance therebetween. The center robot CR is arranged between the front surface cleaning processing section 11 and the back surface cleaning processing section 12.

図5は、表面洗浄処理部11の各洗浄処理ユニットSS1〜SS8における、基板W表面のスクラブ洗浄処理の様子を示した図である。洗浄処理ユニットSS1〜SS8は、表面が上側を向く基板Wを水平姿勢で保持して鉛直方向に沿った軸心周りで回転させるスピンチャック111、スピンチャック111上に保持された基板Wの表面に当接または近接してスクラブ洗浄を行う洗浄ブラシ112、基板Wの表面に洗浄液(例えば純水)を吐出するノズル113、スピンチャック111を回転駆動させるスピン回転支持部114、および、スピンチャック111上に保持された基板Wの周囲を囲繞するカップ(図示省略)等、およびこれらの部材を格納するユニットケース115を備えている。ユニットケース115には基板Wを搬入および搬出するためのスライド開閉可能なスリット116が配設されたゲート117が形成されている。   FIG. 5 is a diagram showing a state of scrub cleaning processing on the surface of the substrate W in each of the cleaning processing units SS1 to SS8 of the surface cleaning processing section 11. The cleaning processing units SS1 to SS8 include a spin chuck 111 that holds a substrate W whose surface faces upward and rotates the substrate W around an axis along the vertical direction, and a surface of the substrate W held on the spin chuck 111. A cleaning brush 112 for performing scrub cleaning in contact with or in close proximity to the nozzle W, a nozzle 113 for ejecting a cleaning liquid (for example, pure water) onto the surface of the substrate W, a spin rotation support 114 for rotating the spin chuck 111, and on the spin chuck 111. A cup (not shown) that surrounds the substrate W held by, and a unit case 115 that stores these members are provided. The unit case 115 is formed with a gate 117 in which a slit 116 that can be slid and opened for loading and unloading the substrate W is arranged.

裏面洗浄処理部12では、基板Wの裏面のスクラブ洗浄処理を行う。裏面洗浄処理ユニットSSR1〜SSR8も、表面洗浄処理ユニットSS1〜SS8と同様に、スピンチャック、洗浄ブラシ、ノズル、スピンモータ、カップ、およびこれらの部材を格納するユニットケースを備えている。また、ユニットケースには基板Wを搬入および搬出するための開閉可能なスリットが配設されたゲートが形成されている(いずれも図示省略)。   The back surface cleaning processing unit 12 performs a scrub cleaning processing on the back surface of the substrate W. Like the front surface cleaning processing units SS1 to SS8, the back surface cleaning processing units SSR1 to SSR8 also include a spin chuck, a cleaning brush, a nozzle, a spin motor, a cup, and a unit case for storing these members. Further, the unit case is formed with a gate provided with an openable / closable slit for loading and unloading the substrate W (both not shown).

なお、表面洗浄処理ユニットSS1〜SS8のスピンチャック111は、基板Wを裏面側から保持するため真空吸着方式のものであってもよいが、裏面洗浄処理ユニットSSR1〜SSR8のスピンチャックは、基板Wの表面側から保持するため基板端縁部を機械的に把持する形式のものが好ましい。   The spin chuck 111 of the front surface cleaning processing units SS1 to SS8 may be of a vacuum adsorption type in order to hold the substrate W from the back surface side, but the spin chucks of the back surface cleaning processing units SSR1 to SSR8 are the substrate W. In order to hold the substrate from the surface side, the edge of the substrate is preferably mechanically gripped.

洗浄ブラシ112によって基板Wの表面を洗浄するときには、図示しないブラシ移動機構によって、表面を上に向けてスピンチャック111に保持された基板Wの上方に洗浄ブラシ112を移動させる。そして、スピンチャック111によって基板Wを回転させつつノズル113から基板Wの上面に処理液(たとえば純水(脱イオン水))を供給させ、洗浄ブラシ112を基板Wの上面に接触させる。さらに、洗浄ブラシ112を基板Wの上面に接触させた状態で、当該洗浄ブラシ112を基板Wの上面に沿って移動させる。これにより、洗浄ブラシ112によって基板Wの上面をスキャンして、基板Wの表面全域をスクラブ洗浄することができる。このようにして、基板Wの表面に対する処理が行われる。基板の裏面洗浄についても同様である。   When the surface of the substrate W is cleaned by the cleaning brush 112, the cleaning brush 112 is moved to the upper side of the substrate W held by the spin chuck 111 with the surface facing upward by a brush moving mechanism (not shown). Then, while rotating the substrate W by the spin chuck 111, a processing liquid (for example, pure water (deionized water)) is supplied from the nozzle 113 to the upper surface of the substrate W, and the cleaning brush 112 is brought into contact with the upper surface of the substrate W. Further, with the cleaning brush 112 in contact with the upper surface of the substrate W, the cleaning brush 112 is moved along the upper surface of the substrate W. This allows the cleaning brush 112 to scan the upper surface of the substrate W to scrub and clean the entire surface of the substrate W. In this way, the surface of the substrate W is processed. The same applies to the backside cleaning of the substrate.

なお、本実施形態では、洗浄処理部11、12内の洗浄処理ユニットSS1〜SS8およびSSR1〜SSR8を基板Wへのスクラブ洗浄を行う装置として説明している。しかし、洗浄処理部11、12内の洗浄処理ユニットSS1〜SS8およびSSR1〜SSR8が行う基板処理は当該スクラブ洗浄に限定されるものではない。例えば、ブラシ洗浄を行わず、基板の表面または裏面に対向するノズル等から吐出される処理液(洗浄液やリンス液等)またはガス等の流体によって基板Wの枚葉洗浄を行う洗浄処理ユニットであってもよい。   In this embodiment, the cleaning processing units SS1 to SS8 and SSR1 to SSR8 in the cleaning processing units 11 and 12 are described as an apparatus for scrub cleaning the substrate W. However, the substrate processing performed by the cleaning processing units SS1 to SS8 and SSR1 to SSR8 in the cleaning processing units 11 and 12 is not limited to the scrub cleaning. For example, a cleaning processing unit that performs single-wafer cleaning of the substrate W with a fluid such as a processing liquid (cleaning liquid, rinse liquid, or the like) or gas discharged from a nozzle or the like facing the front surface or the back surface of the substrate without brush cleaning. May be.

図6は、反転ユニットRT1および反転受渡ユニットRT2の図解的な側面図である。   FIG. 6 is a schematic side view of the reversing unit RT1 and the reversing delivery unit RT2.

反転ユニットRT1と反転受渡ユニットRT2とは、前者がセンターロボットCRのみからアクセス可能であるのに対して、後者はセンターロボットCRからだけでなくインデクサロボットIRからもアクセス可能である点のみで異なるため、同じ図6を用いて説明する。反転ユニットRT1はセンターロボットCRにより搬入された基板Wに反転処理を施す処理ユニットであり、反転ユニットRT1により基板Wが反転されると、センターロボットCRが当該基板を反転ユニットRT1から搬出する。反転受渡ユニットRT2はインデクサロボットIRおよびセンターロボットCRの両方からアクセス可能とされている。   The reversing unit RT1 and the reversing delivery unit RT2 are different in that the former is accessible only by the center robot CR, whereas the latter is accessible not only by the center robot CR but also by the indexer robot IR. , The same FIG. 6 will be described. The reversing unit RT1 is a processing unit that performs a reversing process on the substrate W carried in by the center robot CR, and when the substrate W is reversed by the reversing unit RT1, the center robot CR carries out the substrate from the reversing unit RT1. The reverse delivery unit RT2 is accessible from both the indexer robot IR and the center robot CR.

インデクサロボットIRにより反転受渡ユニットRT2に基板Wが搬入されると、反転受渡ユニットRT2は当該基板Wを反転する。その後、センターロボットCRは当該基板を反転受渡ユニットRT2から搬出する。また、センターロボットCRにより反転受渡ユニットRT2に基板Wが搬入されると、反転受渡ユニットRT2は当該基板Wを反転する。   When the substrate W is carried into the reverse delivery unit RT2 by the indexer robot IR, the reverse delivery unit RT2 reverses the substrate W. After that, the central robot CR carries out the substrate from the reverse delivery unit RT2. Further, when the substrate W is carried into the reverse delivery unit RT2 by the central robot CR, the reverse delivery unit RT2 reverses the substrate W.

その後、インデクサロボットIRは当該基板を反転受渡ユニットRT2から搬出する。   After that, the indexer robot IR carries out the substrate from the reverse delivery unit RT2.

第1実施形態における基板処理装置1において、表面洗浄処理部11および裏面洗浄処理部12の各洗浄処理ユニットSS1〜SS8、SSR1〜SSR8では、基板の上面(基板の表裏とは無関係であり、その時点での鉛直方向上側が上面、鉛直方向下側が下面)に洗浄処理が施される。そのため、基板の両面の洗浄処理を行う場合などは、洗浄処理とは別に基板Wの反転処理を行う必要があり、その際に用いられるのが反転ユニットRT1および反転受渡ユニットRT2である。   In the substrate processing apparatus 1 according to the first embodiment, in each of the cleaning processing units SS1 to SS8 and SSR1 to SSR8 of the front surface cleaning processing unit 11 and the back surface cleaning processing unit 12, the upper surface of the substrate (irrespective of the front and back of the substrate, The upper side in the vertical direction at the time point is the upper surface, and the lower side in the vertical direction is the lower surface). Therefore, when performing the cleaning process on both sides of the substrate, it is necessary to perform the reversing process of the substrate W separately from the cleaning process, and the reversing unit RT1 and the reversing transfer unit RT2 are used at that time.

図6に示すように、反転ユニットRT1は、水平に配置された固定板33と、固定板33を上下に挟んで水平に配置された4枚の可動板34とを有している。固定板33および4枚の可動板34は、それぞれ、矩形状であり平面視において重なり合うように配置されている。固定板33は、支持板35に水平状態で固定されており、各可動板34は、鉛直方向に延びるガイド36を介して、水平状態で支持板35に取り付けられている。各可動板34は、支持板35に対して鉛直方向に移動可能となっている。各可動板34は、エアーシリンダなどの図示しないアクチュエータによって鉛直方向に移動させられる。また、支持板35には、回転アクチュエータ37が取り付けられている。固定板33および4枚の可動板34は、回転アクチュエータ37によって、支持板35とともに水平な回転軸線まわりに一体的に回転させられる。回転アクチュエータ37は、支持板35を水平な回転軸線まわりに180度回転させることにより、固定板33および4枚の可動板34の上下を反転させることができる。   As shown in FIG. 6, the reversing unit RT1 has a fixed plate 33 arranged horizontally and four movable plates 34 arranged horizontally with the fixed plate 33 sandwiched vertically. The fixed plate 33 and the four movable plates 34 each have a rectangular shape and are arranged so as to overlap each other in a plan view. The fixed plate 33 is fixed to the support plate 35 in a horizontal state, and each movable plate 34 is attached to the support plate 35 in a horizontal state via a guide 36 extending in the vertical direction. Each movable plate 34 is movable in the vertical direction with respect to the support plate 35. Each movable plate 34 is moved in the vertical direction by an actuator (not shown) such as an air cylinder. A rotary actuator 37 is attached to the support plate 35. The fixed plate 33 and the four movable plates 34 are rotated together with the support plate 35 by a rotary actuator 37 about a horizontal rotation axis. The rotation actuator 37 can turn the support plate 35 180 degrees around a horizontal rotation axis to turn the fixed plate 33 and the four movable plates 34 upside down.

また、固定板33および4枚の可動板34において、互いに対向する面(たとえば、上側の可動板34の下面と固定板33の上面)には、それぞれ複数本の支持ピン38が取り付けられている。複数本の支持ピン38は、それぞれの面において、基板Wの外周形状に対応する円周上で適当な間隔を空けて配置されている。各支持ピン38の高さ(基端から先端までの長さ)は、一定とされており、ハンド6b、6c、ハンド7b、7c、およびハンド13b〜16bの厚み(鉛直方向への長さ)よりも大きくされている。   Further, in the fixed plate 33 and the four movable plates 34, a plurality of support pins 38 are attached to the surfaces facing each other (for example, the lower surface of the upper movable plate 34 and the upper surface of the fixed plate 33). . The plurality of support pins 38 are arranged on each surface at appropriate intervals on the circumference corresponding to the outer peripheral shape of the substrate W. The height (the length from the base end to the tip) of each support pin 38 is constant, and the thickness of the hands 6b, 6c, the hands 7b, 7c, and the hands 13b to 16b (the length in the vertical direction). Has been made larger than.

固定板33は、複数本の支持ピン38を介して、その上方で一枚の基板Wを水平に支持することができる。また、4枚の可動板34は、それぞれ、下側に位置しているときに、複数本の支持ピン38を介して、その上方で一枚の基板Wを水平に支持することができる。固定板33による基板支持位置と可動板34による基板支持位置との鉛直方向の間隔は、インデクサロボットIRの各ハンド6b、6c、ハンド7b、7cにより保持される二枚の基板Wの鉛直方向への間隔、およびセンターロボットCRの各ハンド13b〜16bにより保持される二枚の基板Wの鉛直方向への間隔と等しくなるように設定されている。   The fixing plate 33 can horizontally support one substrate W above the fixing plate 33 via the plurality of supporting pins 38. Further, each of the four movable plates 34 can horizontally support one substrate W above the four movable plates 34 via the plurality of support pins 38 when positioned on the lower side. The vertical distance between the substrate support position by the fixed plate 33 and the substrate support position by the movable plate 34 is set to the vertical direction of the two substrates W held by the respective hands 6b and 6c and the hands 7b and 7c of the indexer robot IR. And the distance in the vertical direction between the two substrates W held by the hands 13b to 16b of the center robot CR are set to be equal to each other.

反転ユニットRT1が以上のような構成となっているため、センターロボットCRは、各ハンド13b〜16bにより保持される基板Wを反転ユニットRT1にアクセス(搬入出)させることができる。また、反転受渡ユニットRT2が以上のような構成となっているため、インデクサロボットIRおよびセンターロボットCR(以下、インデクサロボットIRおよびセンターロボットCRを総称して「ロボットIRおよびCR」ということがある。)は、各ハンド6b、6c、ハンド7b、7c、および各ハンド13b〜16bにより保持される基板Wを反転受渡ユニットRT2にアクセス(搬入出)させることができる。   Since the reversing unit RT1 is configured as described above, the center robot CR can access (carry in / out) the substrate W held by each of the hands 13b to 16b. Further, since the reversing / delivering unit RT2 is configured as described above, the indexer robot IR and the center robot CR (hereinafter, the indexer robot IR and the center robot CR may be collectively referred to as “robot IR and CR”). ) Can access (load / unload) the substrate W held by each of the hands 6b and 6c, the hands 7b and 7c, and the hands 13b to 16b to the reversal transfer unit RT2.

なお、詳細な基板Wの受け渡し動作については後述する。   The detailed transfer operation of the substrate W will be described later.

インデクサロボットIRまたはセンターロボットCRは、固定板33とその直上の可動板34との隙間に1枚目の基板Wを、当該可動板34とさらに上方の可動板34との隙間に2枚目の基板Wを挿入する。この状態でこれら2枚の可動板34を固定板33に向けて移動させることでこれら2枚の基板Wを反転ユニットRT1または反転受渡ユニットRT2に保持させることができる。   The indexer robot IR or the center robot CR places the first substrate W in the gap between the fixed plate 33 and the movable plate 34 immediately above it, and the second substrate W in the gap between the movable plate 34 and the movable plate 34 further above. The substrate W is inserted. By moving these two movable plates 34 toward the fixed plate 33 in this state, these two substrates W can be held by the reversing unit RT1 or the reversing and delivering unit RT2.

同様に、固定板33とその直下の可動板34との隙間に1枚目の基板Wを、当該可動板34とさらにその下方の可動板34との隙間に2枚目の基板Wを保持することができる。   Similarly, the first substrate W is held in the gap between the fixed plate 33 and the movable plate 34 immediately below it, and the second substrate W is held in the gap between the movable plate 34 and the movable plate 34 below it. be able to.

そして、反転ユニットRT1内に基板Wが保持された状態で、回転アクチュエータ37によって支持板35を水平な回転軸線まわりに回転させることにより、保持された2枚の基板Wの上下を反転させることができる。   Then, while the substrate W is held in the reversing unit RT1, the rotation actuator 37 rotates the support plate 35 around the horizontal rotation axis, so that the two held substrates W can be turned upside down. it can.

以上説明したように、反転ユニットRT1および反転受渡ユニットRT2は、複数枚(この第1実施形態では、2枚)の基板Wを水平に保持し、保持した基板Wの上下を反転させることできる。本実施形態におけるCR移動機構17の構成は、既述のIR移動機構5の構成と同様である。つまり、CR移動機構17は、図示しない可動台、X方向に長尺なボールネジやガイドレール、および、ボールねじを回転させる回転モータによって構成される。ボールネジが回転すると、可動台と固設されたセンターロボットCRの全体が、表面洗浄処理部11と裏面洗浄処理部12との間を横切って処理区画3の内部をX方向に水平移動する。   As described above, the reversing unit RT1 and the reversing / transferring unit RT2 can hold a plurality of (two in the first embodiment) substrates W horizontally and turn the held substrates W upside down. The structure of the CR moving mechanism 17 in this embodiment is the same as the structure of the IR moving mechanism 5 described above. That is, the CR moving mechanism 17 is composed of a movable base (not shown), a ball screw or guide rail that is long in the X direction, and a rotation motor that rotates the ball screw. When the ball screw rotates, the entire movable robot and the central robot CR fixedly move horizontally between the front surface cleaning processing section 11 and the back surface cleaning processing section 12 in the processing section 3 in the X direction.

このように、センターロボットCRはX方向に沿って自在に移動可能であるので、各洗浄処理ユニットSS1〜SS8、SSR1〜SSR8にアクセス(搬入出)可能な位置まで移動することができる。また、同様に、中継部50にアクセス(搬入出)可能な位置まで移動することもできる。センターロボットCRは、図4のインデクサロボットIRと実質的に同様の構成、すなわち相対固定された2段ハンドを、独立して進退駆動可能に上下に2組構成としたロボット機構(以下、「アーム2組ハンド4個」の意味で「2A4H機構」と呼ぶ)を用いることもできるし、他の構成を用いることもできる。インデクサロボットIRとして2A4H機構のロボットを用いる場合の各構成要素は、図4においてインデクサロボットIRについて説明したものと同様であるため、ここでの重複説明は省略する。   In this way, the center robot CR can move freely along the X direction, so that it can move to a position where it can access (carry in / out) each of the cleaning processing units SS1 to SS8 and SSR1 to SSR8. In addition, similarly, it is possible to move to a position where the relay unit 50 can be accessed (loaded and unloaded). The center robot CR has a configuration substantially similar to that of the indexer robot IR shown in FIG. 4, that is, a robot mechanism (hereinafter, referred to as an "arm") in which two relatively fixed two-stage hands are vertically movable to independently move forward and backward. A “2A4H mechanism” can be used to mean “two pairs of four hands”, or another configuration can be used. Since the respective constituent elements in the case of using the robot of the 2A4H mechanism as the indexer robot IR are the same as those described for the indexer robot IR in FIG. 4, duplicate description will be omitted here.

図7(a)は、4つのハンド13b〜16bのそれぞれを4つのアーム13a〜16aで独立して進退駆動可能な形式(以下「4A4H機構」と言う)で構成した場合のセンターロボットCRの図解的な側面図である。また、図7(b)は、後述する基板の搬入作業および搬出作業においてセンターロボットCRが洗浄処理ユニットSS(SSR)にアクセスする様子を示す図解的な上面図である。図7(a)に示すように、4A4H機構とした場合のこのセンターロボットCRは、基台部28を有している。各アーム13a〜16aの一端は基台部28に取り付けられ、各アーム13a〜16aの他端には各ハンド13b〜16bが取り付けられている。したがって、各ハンド13b〜16bは、それぞれ、各アーム13a〜16aを介して基台部28に保持されている。また、ハンド13b〜16bは隣接するハンド13b〜16bに対して互いに干渉しないように上下方向に高さをずらして(鉛直方向に互いに同一距離h1で隔離して)配置されている。さらに、各ハンド13b〜16bの先端は、いずれも一対のフィンガ部を有している。すなわち、各ハンド13b〜16bの先端は、上面視において二股のフォーク状に形成されており、各ハンド13b〜16bは、基板Wの下面を下方から支持することにより1枚の基板Wを水平に保持することができる。本実施形態においては、ハンド15b,16bは洗浄処理を行う前の未処理基板を搬送する際にのみ用い、ハンド13b,14bは洗浄処理後の処理済基板を搬送する場合にのみ用いる。   FIG. 7A is an illustration of the central robot CR in the case where each of the four hands 13b to 16b is configured to be independently advanceable and retractable by the four arms 13a to 16a (hereinafter referred to as "4A4H mechanism"). FIG. Further, FIG. 7B is a schematic top view showing how the central robot CR accesses the cleaning processing unit SS (SSR) in the substrate loading and unloading operations described later. As shown in FIG. 7A, this center robot CR having a 4A4H mechanism has a base 28. One end of each arm 13a to 16a is attached to the base portion 28, and each hand 13b to 16b is attached to the other end of each arm 13a to 16a. Therefore, the hands 13b to 16b are held by the base portion 28 via the arms 13a to 16a, respectively. Further, the hands 13b to 16b are arranged with their heights vertically shifted (separated from each other by the same distance h1 in the vertical direction) so as not to interfere with the adjacent hands 13b to 16b. Further, the tips of the hands 13b to 16b each have a pair of finger portions. That is, the tips of the respective hands 13b to 16b are formed in a forked shape in a top view, and each of the hands 13b to 16b horizontally supports one substrate W by supporting the lower surface of the substrate W from below. Can be held. In the present embodiment, the hands 15b and 16b are used only when the unprocessed substrate before the cleaning process is carried, and the hands 13b and 14b are used only when the processed substrate after the cleaning process is carried.

なお、各ハンド13b〜16bの一対のフィンガ部の外寸は中継部50における一対の対向する支持ピン55の間隔よりも小さい。このため、後述する基板搬入および搬出作業において、各ハンド13b〜16bが中継部50の支持部材54に干渉することが防止されている。さらに、各ハンド13b〜16bの一対のフィンガ部の間には部材通過領域が形成されている。当該領域は基板洗浄ユニットSS(SSR)のスピンチャック111よりも大きい。このため、後述する基板搬入および搬出作業において、各ハンド13b〜16bがスピンチャック111に干渉することが防止されている(図7(b)参照)。また、各ハンド13bの厚みはスピンチャック111の上面と回転支持部114の上面との間隔よりも小さい大きさとされている。また、アーム13a〜16aは、いずれも多関節型の屈伸式アームである。センターロボットCRは、各アーム13a〜16aを進退駆動機構29により個別に伸縮させ、当該アームに対応するハンド13b〜16bを別々に水平に移動させることができる。   The outer dimensions of the pair of finger portions of the hands 13b to 16b are smaller than the distance between the pair of opposing support pins 55 in the relay portion 50. Therefore, it is possible to prevent the hands 13b to 16b from interfering with the support member 54 of the relay section 50 in the substrate loading and unloading operations described later. Further, a member passing area is formed between the pair of finger portions of the hands 13b to 16b. The area is larger than the spin chuck 111 of the substrate cleaning unit SS (SSR). Therefore, the hands 13b to 16b are prevented from interfering with the spin chuck 111 in the substrate loading and unloading operations described later (see FIG. 7B). The thickness of each hand 13b is smaller than the distance between the upper surface of the spin chuck 111 and the upper surface of the rotation support portion 114. The arms 13a to 16a are all articulated bending / extending arms. The center robot CR can individually extend and retract each arm 13a to 16a by the advancing / retreating drive mechanism 29, and separately move the hands 13b to 16b corresponding to the arm horizontally.

また、基台部28には、基台部28を鉛直軸線まわりに回転させるための旋回機構31と、基台部28を鉛直方向に昇降させるための昇降駆動機構32とが内蔵されている。   Further, the base unit 28 has a built-in swivel mechanism 31 for rotating the base unit 28 about a vertical axis and a lift drive mechanism 32 for vertically moving the base unit 28.

CR移動機構17によって、各洗浄処理ユニットSS1〜SS8、SSR1〜SSR8にアクセス可能な位置までセンターロボットCRを移動させた後、旋回機構31により基台部28を回転させて各ハンド13b〜16bを所定の鉛直軸線まわりに回転させるとともに、昇降駆動機構32により基台部28を鉛直方向に昇降させることにより、これらの任意のハンド13b〜16bを所望の洗浄処理ユニットSS1〜SS8、SSR1〜SSR8に対向させることができる。そして、ハンド13b〜16bが洗浄処理ユニットに対向した状態で、アーム13a〜16aを伸長させることにより、当該アームに対応するハンド13b〜16bを当該洗浄処理ユニットにアクセスさせることができる。同様に、センターロボットCRは、任意のハンド13b〜16bを中継部50へアクセスさせることができる。   After moving the central robot CR by the CR moving mechanism 17 to a position where the cleaning processing units SS1 to SS8 and SSR1 to SSR8 can be accessed, the rotating mechanism 31 rotates the base 28 to move the hands 13b to 16b. These arbitrary hands 13b to 16b are moved to desired cleaning processing units SS1 to SS8 and SSR1 to SSR8 by rotating them around a predetermined vertical axis and moving the base section 28 up and down by the lifting drive mechanism 32 in the vertical direction. They can face each other. Then, by extending the arms 13a to 16a with the hands 13b to 16b facing the cleaning processing unit, the hands 13b to 16b corresponding to the arm can be made to access the cleaning processing unit. Similarly, the center robot CR can access any of the hands 13b to 16b to the relay section 50.

センターロボットCRとして2A4H機構を採用した場合も、4A4H機構を採用した場合も、中継部50から処理ユニットSS1〜SS8、SSR1〜SSR8へ一括搬送(同時搬送)できる未処理基板は最大で2枚であり、処理ユニットSS1〜SS8、SSR1〜SSR8から中継部50へと一括搬送できる処理済基板は最大で2枚となっている。   Whether the 2A4H mechanism or the 4A4H mechanism is used as the center robot CR, the maximum number of unprocessed substrates that can be collectively transferred (simultaneous transfer) from the relay section 50 to the processing units SS1 to SS8 and SSR1 to SSR8 is two. There is a maximum of two processed substrates that can be collectively transported from the processing units SS1 to SS8 and SSR1 to SSR8 to the relay section 50.

したがって、一括搬送可能な基板の最大枚数はいずれも同一であるため、以下では、説明の便宜上、4A4H機構として構成されたセンターロボットCRについて説明するが、センターロボットCRとして2A4H機構を用いた場合についても、インデクサロボットIRのアーム動作から類推することにより、センターロボットCRについての個々のアーム動作は理解可能である。なお、上記ではCR移動機構17を併用することによりセンターロボットCRの各ハンド13b〜16bを処理ユニットSS、SSR、および中継部50にアクセス可能とした形態について説明した。しかし、CR移動機構17を用いずにセンターロボットCRの旋回機構31、昇降駆動機構32および進退駆動機構29のみによってセンターロボットCRの各ハンド13b〜16bを処理ユニットSS、SSR、および中継部50にアクセス可能とすることももちろん可能である。   Therefore, since the maximum number of substrates that can be collectively transported is the same, the center robot CR configured as the 4A4H mechanism will be described below for convenience of description. However, the case where the 2A4H mechanism is used as the center robot CR will be described. Also, by analogy with the arm motion of the indexer robot IR, the individual arm motions of the center robot CR can be understood. In the above description, the mode in which the hands 13b to 16b of the central robot CR can be accessed to the processing units SS and SSR and the relay section 50 by using the CR moving mechanism 17 together has been described. However, the hands 13b to 16b of the center robot CR are transferred to the processing units SS, SSR, and the relay section 50 only by the turning mechanism 31, the lifting drive mechanism 32, and the advancing / retreating drive mechanism 29 of the center robot CR without using the CR moving mechanism 17. Of course, it is possible to make it accessible.

<1.3 中継ユニット50a>
インデクサ区画2と処理区画3との境界部分には、インデクサロボットIRとセンターロボットCRとの間で基板Wの受け渡しを行うための中継ユニット50aが配置されている。中継ユニット50aは基板載置部PASS1〜PASS4を備える筐体であり、インデクサロボットIRとセンターロボットCRとの間で基板Wの受け渡しが行われる際には、基板載置部PASS1〜PASS4内に基板Wが一時的に載置される。
<1.3 Relay unit 50a>
A relay unit 50 a for transferring the substrate W between the indexer robot IR and the center robot CR is arranged at the boundary between the indexer section 2 and the processing section 3. The relay unit 50a is a housing including the substrate rests PASS1 to PASS4, and when the substrate W is transferred between the indexer robot IR and the center robot CR, the substrates are placed in the substrate rests PASS1 to PASS4. W is temporarily placed.

図8は、第1実施形態における中継ユニット50aの側面図である。また、図9は図8におけるA−A断面の矢印方向からみた上面図である。中継ユニット50aの筐体の側壁の、インデクサロボットIRに対向する一側壁には、基板Wを搬入出するための開口部51が設けられている。また、上記一側壁に対向する、センターロボットCR側に位置する他側壁にも、同様の開口部52が設けられている。   FIG. 8 is a side view of the relay unit 50a in the first embodiment. FIG. 9 is a top view of the AA cross section in FIG. 8 as seen from the direction of the arrow. An opening 51 for loading and unloading the substrate W is provided on one side wall of the casing of the relay unit 50a facing the indexer robot IR. A similar opening 52 is also provided on the other side wall located on the side of the central robot CR facing the one side wall.

筐体内の開口部51,52に対向する部位には、上記基板Wを略水平に保持する基板載置部PASS1〜PASS4が設けられている。このため、インデクサロボットIRおよびセンターロボットCRは、それぞれ、開口部51,52より、基板載置部PASS1〜PASS4にアクセス可能となっている。なお、本実施形態においては、上側の基板載置部PASS1、PASS2は、処理済基板Wを処理区画3からインデクサ区画2へ搬送する際に用いられ、下側の基板載置部PASS3、PSS4は、未処理基板Wをインデクサ区画2から処理区画3へ搬送する際に用いられる。   Substrate platforms PASS1 to PASS4 for holding the substrate W in a substantially horizontal state are provided at portions of the housing that face the openings 51 and 52. Therefore, the indexer robot IR and the center robot CR can access the substrate rests PASS1 to PASS4 through the openings 51 and 52, respectively. In the present embodiment, the upper substrate rests PASS1 and PASS2 are used when the processed substrate W is transported from the processing section 3 to the indexer section 2, and the lower substrate rests PASS3 and PSS4 are , Is used when the unprocessed substrate W is transported from the indexer section 2 to the processing section 3.

図8,9に示すように、基板載置部PASS1〜PASS4は、筐体内部の側壁に固設される一対の支持部材54と、当該支持部材54上面の両端部に2本一組で設けられる合計4本の支持ピン55とから構成される。また、支持部材54は、開口部51,52が形成された側壁と異なる一対の側壁に固設されている。支持ピン55の上端は円錐状に形成されている。そのため、一対の支持ピン55には、基板Wが周縁部の4箇所を係合させて着脱可能に保持される。   As shown in FIGS. 8 and 9, the substrate rests PASS1 to PASS4 are provided as a set of a pair of support members 54 fixed to the side walls inside the housing and two end portions on the upper surface of the support member 54. 4 support pins 55 in total. The support member 54 is fixed to a pair of side walls different from the side walls in which the openings 51 and 52 are formed. The upper end of the support pin 55 is formed in a conical shape. Therefore, the substrate W is detachably held by the pair of support pins 55 by engaging the peripheral portion at four positions.

ここで、PASS1−PASS2間、PASS2−PASS3間、およびPASS3−PASS4間における各支持ピン55は、鉛直方向に同一距離h2で隔離して設けられている(図8参照)。この距離h2は、前記したセンターロボットCRのハンド13b〜16bの鉛直方向の間隔h1と等しい。このため、センターロボットCRが中継ユニット50aに対向させた状態で、センターロボットCRのハンド15b、16bを進退駆動機構29により同時に伸長させることにより、中継ユニット50aの基板載置部PASS3、PASS4から2枚の未処理基板Wを同時に受け取ることができる。同様に、センターロボットCRのハンド13b、14bを進退駆動機構29により同時に伸長させることにより、これらのハンド13b、14bに保持されている2枚の処理済基板Wを、中継ユニット50aの基板載置部PASS1、PASS2に同時に引き渡すことができる。   Here, the support pins 55 between PASS1 and PASS2, between PASS2 and PASS3, and between PASS3 and PASS4 are provided at the same distance h2 in the vertical direction (see FIG. 8). This distance h2 is equal to the vertical interval h1 between the hands 13b to 16b of the central robot CR described above. Therefore, while the center robot CR faces the relay unit 50a, the hands 15b and 16b of the center robot CR are simultaneously extended by the advancing / retreating drive mechanism 29, so that the substrate rest portions PASS3 and PASS4 to 2 of the relay unit 50a can be extended. The unprocessed substrates W can be received at the same time. Similarly, the hands 13b and 14b of the center robot CR are simultaneously extended by the advancing / retreating drive mechanism 29, so that the two processed substrates W held by these hands 13b and 14b are placed on the substrate of the relay unit 50a. It can be delivered to the parts PASS1 and PASS2 at the same time.

<1.4 制御部60>
図10は、基板処理装置1の電気的構成を説明するためのブロック図である。また、図11は、制御部60の内部構成を説明するためのブロック図である。
<1.4 Control unit 60>
FIG. 10 is a block diagram for explaining the electrical configuration of the substrate processing apparatus 1. Further, FIG. 11 is a block diagram for explaining the internal configuration of the control unit 60.

制御部60は、図11に示されるように、例えば、CPU61、ROM62、RAM63、記憶装置64等が、バスライン65を介して相互接続された一般的なコンピュータによって構成される。ROM62は基本プログラム等を格納しており、RAM63はCPU61が所定の処理を行う際の作業領域として供される。記憶装置64は、フラッシュメモリ、あるいは、ハードディスク装置等の不揮発性の記憶装置によって構成される。記憶装置64には、処理プログラムP0およびスケジュール作成プログラムP1が格納されている。スケジュール作成プログラムP1に記述された手順に従って、CPU61が後述する演算処理を行うことにより、処理対象となる各基板Wのスケジュールデータ(以下、「SD」とする。)が時系列順に配列したテーブル形式などで作成される。なお、作成されたスケジュールデータSDは、記憶装置64に格納される。また、処理プログラムP0に記述された手順に従って、CPU61が演算処理を行うことにより基板処理装置1の各種機能が実現され、上記スケジュールデータSDに従って対象基板Wに所定の洗浄処理が施される。   As shown in FIG. 11, the control unit 60 is composed of, for example, a general computer in which a CPU 61, a ROM 62, a RAM 63, a storage device 64, and the like are interconnected via a bus line 65. The ROM 62 stores basic programs and the like, and the RAM 63 serves as a work area when the CPU 61 performs a predetermined process. The storage device 64 is composed of a flash memory or a non-volatile storage device such as a hard disk device. The storage device 64 stores a processing program P0 and a schedule creation program P1. A table format in which schedule data (hereinafter, referred to as “SD”) of each substrate W to be processed is arranged in chronological order by the CPU 61 performing arithmetic processing described later according to the procedure described in the schedule creation program P1. It is created by. The created schedule data SD is stored in the storage device 64. Further, according to the procedure described in the processing program P0, the CPU 61 performs the arithmetic processing to realize various functions of the substrate processing apparatus 1, and the target substrate W is subjected to the predetermined cleaning processing according to the schedule data SD.

また、制御部60では、入力部66、表示部67、通信部68もバスライン65に接続されている。入力部66では、各種スイッチ、タッチパネル等により構成されており、オペレータから処理レシピ等の各種の入力設定指示を受ける。表示部67は、液晶表示装置、ランプ等により構成されており、CPU61による制御のもと各種の情報を表示する。   Further, in the control unit 60, the input unit 66, the display unit 67, and the communication unit 68 are also connected to the bus line 65. The input unit 66 includes various switches, a touch panel, and the like, and receives various input setting instructions such as a processing recipe from the operator. The display unit 67 includes a liquid crystal display device, a lamp, and the like, and displays various information under the control of the CPU 61.

通信部68は、LAN等を介したデータ通信機能を有する。   The communication unit 68 has a data communication function via a LAN or the like.

制御部60には、インデクサロボットIR、センターロボットCR、IR移動機構5、CR移動機構17、表面洗浄処理部11、裏面洗浄処理部12、反転ユニットRT1、および反転受渡ユニットRT2が制御対象として接続されている。なお、スケジュール作成プログラムP1に関する詳細な説明は、基板処理装置1の動作に関する説明の後に行う。   To the control unit 60, the indexer robot IR, the center robot CR, the IR moving mechanism 5, the CR moving mechanism 17, the front surface cleaning processing unit 11, the back surface cleaning processing unit 12, the reversing unit RT1, and the reversing and delivering unit RT2 are connected as control targets. Has been done. A detailed description of the schedule creation program P1 will be given after the description of the operation of the substrate processing apparatus 1.

<2. 基板処理装置1の動作>
これまで、基板処理装置1における各装置の構成、および、各装置内での動作(洗浄処理や反転処理等)について説明を行った。
<2. Operation of Substrate Processing Apparatus 1>
So far, the configuration of each device in the substrate processing apparatus 1 and the operation (cleaning process, reversing process, etc.) in each device have been described.

以下、基板処理装置1内部の各装置(基板載置部PASS、反転ユニットRT1、反転受渡ユニットRT2、洗浄処理ユニットSS(SSR)等)とインデクサロボットIRやセンターロボットCRとの基板Wの受渡し動作、および、基板処理装置1全体を通しての基板処理動作について説明する。これらの動作はスケジュール作成プログラムP1によって作成されたスケジュールデータSDに従って行われるが、以下ではまず、個々の動作について説明し、スケジュールデータSDの生成原理およびそれに基づく総合的なタイミング制御については後に詳述する。   Hereinafter, the transfer operation of the substrate W between the respective devices (the substrate platform PASS, the reversing unit RT1, the reversing transfer unit RT2, the cleaning processing unit SS (SSR), etc.) inside the substrate processing apparatus 1 and the indexer robot IR or the center robot CR. , And the substrate processing operation throughout the substrate processing apparatus 1 will be described. These operations are performed according to the schedule data SD created by the schedule creating program P1. First, each operation will be described below, and the principle of generation of the schedule data SD and the overall timing control based on the operation will be described in detail later. To do.

<2.1 基板Wの受渡し動作>
既述したとおり、インデクサロボットIRおよびセンターロボットCRには、移動機構、旋回機構、昇降駆動機構、進退駆動機構が設けられており、当該ロボットの各ハンドを基板処理装置1内部の各要素にアクセスさせることが可能である。
<2.1 Transfer of Substrate W>
As described above, the indexer robot IR and the center robot CR are provided with a moving mechanism, a turning mechanism, a lifting drive mechanism, and a forward / backward drive mechanism, and each hand of the robot accesses each element inside the substrate processing apparatus 1. It is possible to

この際の基板の受渡し動作について、センターロボットCRが表面洗浄処理ユニットSSにアクセスした場合と、センターロボットCRが中継部50にアクセスした場合とを例に挙げて説明する。図12および図13は、センターロボットCRと表面洗浄処理ユニットSSとの間の基板受渡し動作の一例を示した模式図である。また、図14は、センターロボットCRとPASS(中継部50)との間の基板受渡し動作を示した模式図であり、理解を容易にするため、基板Wと、基板載置部PASS1〜PASS4の支持部材54と、ハンド13b〜16bとのみで基板受渡し動作を簡易的に表現している。   The substrate transfer operation at this time will be described by taking a case where the center robot CR accesses the surface cleaning processing unit SS and a case where the center robot CR accesses the relay section 50 as an example. 12 and 13 are schematic diagrams showing an example of the substrate transfer operation between the central robot CR and the surface cleaning processing unit SS. Further, FIG. 14 is a schematic diagram showing the substrate transfer operation between the center robot CR and the PASS (relay unit 50). For easy understanding, the substrate W and the substrate rests PASS1 to PASS4 are shown. The substrate transfer operation is simply represented by only the support member 54 and the hands 13b to 16b.

[センターロボットCRと処理ユニットとのアクセス]
図12(a)に示す通り、処理ユニットSSのスピンチャック111上には処理済基板W1が載置されている。また、処理ユニットSSのスリット116がスライドしてゲート117が開放されている。
[Access between central robot CR and processing unit]
As shown in FIG. 12A, the processed substrate W1 is placed on the spin chuck 111 of the processing unit SS. Further, the slit 116 of the processing unit SS slides to open the gate 117.

センターロボットCRがこのような表面洗浄処理ユニットSSから処理済基板W1を搬出するときは、まず、制御部60が旋回機構31を制御して、ハンド13bを当該表面洗浄処理ユニットSSに対向させる。同時に、制御部60は昇降駆動機構32を制御して、ハンド13bの上面がスピンチャック111の上面よりも下であって、ハンド13bの下面が回転支持部114の上面よりも上になる高さ位置にする(図12(a)参照)。   When the central robot CR carries out the processed substrate W1 from the surface cleaning processing unit SS, the control unit 60 first controls the turning mechanism 31 to make the hand 13b face the surface cleaning processing unit SS. At the same time, the control unit 60 controls the elevation drive mechanism 32 so that the upper surface of the hand 13b is below the upper surface of the spin chuck 111 and the lower surface of the hand 13b is above the upper surface of the rotation support unit 114. The position (see FIG. 12 (a)).

次に、制御部60が進退駆動機構29を制御して、アーム13aを伸長させる。これにより、ハンド13bが水平移動して表面洗浄処理ユニットSSの内部に入り込み、ハンド13b先端の部材通過領域がスピンチャック111を通過し、図12(b)に示すように、ハンド13bがスピンチャック111に保持された基板W1の下方に配置される。本実施形態の各ハンド13b〜16bは個別に伸縮可能であるため、基板の搬入出作業に必要なハンド(ここではハンド13b)のみを表面洗浄処理ユニットSSのユニットケース115の中に進入させることができる。これによりハンド13b〜16bがユニットケース115内に持ち込むおそれのあるパーティクルの量を最小限にすることができる。また、スピンチャック111と回転支持部114とのスペースを1本のハンド13b〜16bのみが進入可能な程度の上下幅に狭めることができる。   Next, the controller 60 controls the advancing / retreating drive mechanism 29 to extend the arm 13a. As a result, the hand 13b horizontally moves into the inside of the surface cleaning processing unit SS, the member passing area at the tip of the hand 13b passes through the spin chuck 111, and as shown in FIG. It is arranged below the substrate W1 held by 111. Since each of the hands 13b to 16b of the present embodiment can be individually expanded and contracted, only the hand (here, the hand 13b) necessary for loading and unloading the substrate is allowed to enter the unit case 115 of the surface cleaning processing unit SS. You can This can minimize the amount of particles that may be brought into the unit case 115 by the hands 13b to 16b. Further, the space between the spin chuck 111 and the rotation support portion 114 can be narrowed to a vertical width such that only one hand 13b to 16b can enter.

その後、制御部60が昇降駆動機構32を制御して、ハンド13bを上昇させる。これにより、図12(c)に示すように、スピンチャック111上に載置されていた基板W1がハンド13bの上側に渡される。続いて、制御部60が進退駆動機構29を制御して、アーム13aを収縮させる。これにより、図12(d)に示すように、ハンド13bが表面洗浄処理ユニットSSから退避していく。また、前述の一連の動作では、ハンド13bを用いて何れかの表面洗浄処理ユニットSSから一枚の基板Wを搬出する場合について説明したが、他の基板保持ハンド14b〜16bを用いるときにおいても、前述の1枚搬出と同条件となるように昇降駆動機構32によりハンドの高さを変更すれば、同様の搬出動作を行うことができる。   After that, the control unit 60 controls the elevation drive mechanism 32 to raise the hand 13b. As a result, as shown in FIG. 12C, the substrate W1 placed on the spin chuck 111 is transferred to the upper side of the hand 13b. Then, the controller 60 controls the advancing / retreating drive mechanism 29 to contract the arm 13a. As a result, the hand 13b is retracted from the surface cleaning processing unit SS as shown in FIG. Further, in the series of operations described above, the case where one substrate W is carried out from any of the surface cleaning processing units SS using the hand 13b has been described, but also when using the other substrate holding hands 14b to 16b. The same carry-out operation can be performed by changing the height of the hand by the elevating and lowering drive mechanism 32 so that the same condition as the above-described one-sheet carry-out can be obtained.

続いて、基板の搬入動作について説明する。制御部60は昇降駆動機構32を制御して、ハンド15bの上面に保持された未処理基板W2がスピンチャック111の上方となる高さまでアーム15aを上昇させる(図13(a))。   Next, the substrate loading operation will be described. The control unit 60 controls the elevation drive mechanism 32 to raise the arm 15a to a height where the unprocessed substrate W2 held on the upper surface of the hand 15b is above the spin chuck 111 (FIG. 13A).

次に、制御部60が進退駆動機構29を制御して、アーム15aを伸長させる。これにより、ハンド15bが水平移動して表面洗浄処理ユニットSSの内部に入り込み、図13(b)に示すように、ハンド15bの上側に保持された基板W2が、スピンチャック111の上方に配置される。   Next, the controller 60 controls the advancing / retreating drive mechanism 29 to extend the arm 15a. As a result, the hand 15b horizontally moves into the surface cleaning processing unit SS, and the substrate W2 held on the upper side of the hand 15b is arranged above the spin chuck 111, as shown in FIG. 13B. It

その後、制御部60が昇降駆動機構32を制御して、ハンド15bを下降させる。これにより、図13(c)に示すように、ハンド15bに保持されていた基板W2がスピンチャック111に渡される。そして、制御部60が進退駆動機構29を制御して、アーム15aを収縮させる。これにより、図13(d)に示すように、ハンド15bが表面洗浄処理ユニットSSから退避していく。また、前述の一連の動作では、ハンド15bを用いて表面洗浄処理ユニットSSに基板Wを一枚搬入する場合について説明したが、この1枚搬入動作は、裏面洗浄ユニットSSRに基板Wを一枚搬入する場合についても同様である。   After that, the control unit 60 controls the up-and-down drive mechanism 32 to lower the hand 15b. Thus, as shown in FIG. 13C, the substrate W2 held by the hand 15b is transferred to the spin chuck 111. Then, the control unit 60 controls the forward / backward drive mechanism 29 to contract the arm 15a. As a result, as shown in FIG. 13D, the hand 15b retracts from the surface cleaning processing unit SS. Further, in the series of operations described above, the case where one substrate W is loaded into the front surface cleaning processing unit SS by using the hand 15b has been described, but this one-sheet loading operation is performed with one substrate W in the back surface cleaning unit SSR. The same applies when carrying in.

なお、ハンド15bを降下させるとき、図13(b),13(c)に示されるように、ハンド15bは、側面視において(水平方向から見て)スピンチャック111と重なり合うタイミングがある。しかし、既述したようにハンド15bが二股のフォーク状にされているので、このとき、スピンチャック111は、基板保持ハンド15bの内側に入り込み、ハンド15bと干渉することはない。同様に、基板載置部PASSや反転ユニットRT1における支持ピンと各ハンドとの基板受渡し動作においても、側面視において(水平方向から見て)支持ピンと各ハンドとが重なり合うタイミングはあるが、干渉することがないように設計されている。   When the hand 15b is lowered, as shown in FIGS. 13B and 13C, the hand 15b has a timing at which the hand 15b overlaps with the spin chuck 111 in a side view (viewed from the horizontal direction). However, as described above, since the hand 15b is formed into a bifurcated fork shape, at this time, the spin chuck 111 does not enter the inside of the substrate holding hand 15b and does not interfere with the hand 15b. Similarly, in the substrate transfer operation between the support pins in the substrate platform PASS or the reversing unit RT1 and the respective hands, there is a timing at which the support pins and the respective hands overlap each other in a side view (when viewed from the horizontal direction), but interference occurs. Is designed to be free.

[センターロボットCRの中継部50へのアクセス]
図14は、センターロボットCRによって基板載置部PASS1,PASS2に基板Wを2枚同時に搬入するときの動作の一例を説明するための模式図である。
[Access to the relay unit 50 of the central robot CR]
FIG. 14 is a schematic diagram for explaining an example of an operation when two substrates W are simultaneously loaded into the substrate platforms PASS1 and PASS2 by the central robot CR.

センターロボットCRによって基板載置部PASS1,PASS2に基板Wを2枚同時に搬入するときは、たとえば、ハンド13b、14bに基板Wを1枚ずつ保持させた状態で、2枚の基板Wを基板載置部PASS1,PASS2に同時に搬入する(2枚搬入動作)。具体的には、制御部60が、旋回機構9および昇降駆動機構10を制御して、ハンド13b,14bを基板載置部PASS1,PASS2に対向させる。このとき、ハンド13b、14bは、図14(a)に示すように、ハンド13b、14bに保持された2枚の基板Wが、それぞれ、基板載置部PASS1,PASS2よりも上方となる高さまで上昇または下降されている。   When two substrates W are simultaneously loaded into the substrate rests PASS1 and PASS2 by the central robot CR, for example, the two substrates W are placed on the hands 13b and 14b one by one. The sheets are simultaneously loaded into the storage sections PASS1 and PASS2 (two-sheet loading operation). Specifically, the control unit 60 controls the turning mechanism 9 and the elevating / lowering drive mechanism 10 to make the hands 13b and 14b face the substrate platforms PASS1 and PASS2. At this time, as shown in FIG. 14A, the hands 13b and 14b have a height such that the two substrates W held by the hands 13b and 14b are above the substrate platforms PASS1 and PASS2, respectively. It is going up or down.

前述のように、基板載置部PASS1〜PASS4における上下の基板支持位置の鉛直方向の間隔が、センターロボットCRの各ハンド13b、14bにより保持される2枚の基板Wの鉛直方向への間隔と等しくなるように設定されている。したがって、昇降駆動機構10によってハンド13bが保持する基板Wが基板載置部PASS1の上方にくるように配置すれば、その他のハンド14bについても、それぞれ、基板載置部PASS2の上方に配置させることができる。   As described above, the vertical distance between the upper and lower substrate supporting positions in the substrate rests PASS1 to PASS4 is equal to the vertical distance between the two substrates W held by the hands 13b and 14b of the central robot CR. It is set to be equal. Therefore, if the substrate W held by the hand 13b is arranged so as to be above the substrate platform PASS1 by the elevating and lowering drive mechanism 10, the other hands 14b are also respectively arranged above the substrate platform PASS2. You can

次に、制御部60が進退駆動機構8を制御してアーム13aおよびアーム14aを同時に伸長させる。これにより、ハンド13b,14bが基板載置部PASS1,PASS2の内部に入り込み、図14(b)に示すように、ハンド13b、14bにそれぞれ保持された2枚の基板Wが、それぞれ、基板載置部PASS1,PASS2の上方に配置される。   Next, the control unit 60 controls the forward / backward drive mechanism 8 to extend the arms 13a and 14a at the same time. As a result, the hands 13b and 14b enter the inside of the substrate rests PASS1 and PASS2, and as shown in FIG. 14B, the two substrates W respectively held by the hands 13b and 14b are placed on the substrates. It is arranged above the placing parts PASS1 and PASS2.

その後、制御部60が、昇降駆動機構10を制御して、当該2枚の基板WがPASS1、PASS2に支持されるまで、ハンド13b、14bを降下させる。これにより、図14(c)に示すように、PASS1,PASS2の図示しない支持ピン55上に基板Wが同時に載置され、センターロボットCRから基板載置部PASS1,PASS2に2枚の基板Wが同時に渡される。そして、制御部60が進退駆動機構29を制御してアーム13aおよびアーム14aを同時に収縮させる。これにより、ハンド13b、14bが基板載置部PASS3,PASS4から退避していく(2枚搬入動作)。図を用いた説明は省略するが、センターロボットCRが基板載置部PASS3,PASS4から2枚の未処理基板Wを同時に搬出するときは、前述の一連の動作を逆に行う。つまり、ハンド15b,16bを基板載置部PASS3,PASS4の下方に伸長させる。次に、当該ハンド15b、16bcを上昇させ、続いてアーム15aおよびアーム16aを同時に収縮させることにより、ハンド15b、16bを用いて基板載置部PASS1,PASS2から2枚の基板Wを同時に搬出することができる(2枚搬出動作)。   After that, the control unit 60 controls the elevation drive mechanism 10 to lower the hands 13b and 14b until the two substrates W are supported by the PASS1 and PASS2. As a result, as shown in FIG. 14C, the substrates W are simultaneously placed on the support pins 55 (not shown) of the PASS1 and PASS2, and the two substrates W are placed on the substrate rests PASS1 and PASS2 from the central robot CR. Passed at the same time. Then, the control unit 60 controls the forward / backward drive mechanism 29 to contract the arms 13a and 14a at the same time. As a result, the hands 13b and 14b are retracted from the substrate platforms PASS3 and PASS4 (two-sheet loading operation). Although not described with reference to the drawings, when the central robot CR simultaneously carries out two unprocessed substrates W from the substrate platform PASS3, PASS4, the series of operations described above is reversed. That is, the hands 15b and 16b are extended below the substrate rests PASS3 and PASS4. Next, the hands 15b and 16bc are raised, and then the arms 15a and 16a are simultaneously contracted to simultaneously carry out the two substrates W from the substrate platforms PASS1 and PASS2 using the hands 15b and 16b. It is possible (two-sheet unloading operation).

ここまで、センターロボットCRとPASSとにおける基板Wの2枚搬入動作および2枚搬出動作について説明したが、この一連の動作はセンターロボットCRと他のユニット間での基板の受渡しについても同様である。具体的には、センターロボットCRと反転ユニットRT1とにおける基板の受渡し、インデクサロボットIRまたはセンターロボットCRと反転受渡ユニットRT2とにおける基板の受渡し、インデクサロボットIRと基板載置部PASSとにおける基板の受渡し、および、インデクサロボットIRとキャリアCとにおける基板の受渡しにおいて、既述した2枚搬入動作および2枚搬出動作を行うことができる。   Up to this point, the two-substrate loading and unloading operations of the substrate W in the central robot CR and the PASS have been described, but this series of operations is the same for the transfer of substrates between the central robot CR and other units. . Specifically, the substrate transfer between the center robot CR and the reversing unit RT1, the substrate transfer between the indexer robot IR or the center robot CR and the reversing transfer unit RT2, the substrate transfer between the indexer robot IR and the substrate platform PASS. , And in the transfer of the substrate between the indexer robot IR and the carrier C, the above-described two-sheet loading operation and two-sheet unloading operation can be performed.

なお、本実施形態における各ロボット(CRまたはIR)の各ハンドでは、保持される基板Wが洗浄処理前の未処理基板であるか洗浄処理済みの処理済基板であるか、という使い分けがなされている。そのため、未処理基板用のハンドであるハンド7b,7c、およびハンド15b,16bで処理済み基板Wの搬入や搬出を行うことは既述の搬入動作および搬出動作の原理としては可能ではあるが、本実施形態の中では実施しない。処理済み基板用のハンドであるハンド6b,6c、およびハンド13b,14bにおいても同様である。   In each hand of each robot (CR or IR) in the present embodiment, it is properly used whether the held substrate W is an unprocessed substrate before the cleaning process or a cleaned processed substrate. There is. Therefore, it is possible to carry in and carry out the processed substrate W with the hands 7b and 7c, which are the hands for unprocessed substrates, and the hands 15b and 16b, as a principle of the carry-in operation and carry-out operation described above. It is not implemented in this embodiment. The same applies to the hands 6b and 6c and the hands 13b and 14b, which are hands for processed substrates.

なお、センターロボットCRが複数枚の基板Wを保持している場合、複数の洗浄処理ユニットSS(またはSSR)に基板Wを1枚ずつ順番に搬入していくことがある。同様に、センタ−ロボットCRが複数の洗浄処理ユニットSS(SSR)から基板Wを1枚ずつ搬出していくことがある。これらの場合、個別の処理ユニットSS(SSR)とセンターロボットCRとの関係性だけに着目すれば1枚搬入動作または1枚搬出動作を行っているが、複数の洗浄処理ユニットSS(SSR)の総体である洗浄処理部11(または12)とセンターロボットCRとの関係においては2枚搬入動作または2枚搬出動作を行っているとみなすことができる。したがって、本明細書では、複数の基板Wを保持したセンターロボットCRが複数の洗浄処理ユニットSS(SSR)に順番搬入するケースや複数の洗浄処理ユニットSS(SSR)から複数の基板Wを順番搬出して別のセグメントに移動するケースも、センターロボットCRが中継部50とアクセスして2枚搬入(または搬出)動作を行うケースと同様に、2枚搬入(または搬出)動作を行っていると同じものとして説明を行う。   In addition, when the center robot CR holds a plurality of substrates W, the substrates W may be sequentially carried into the plurality of cleaning processing units SS (or SSR) one by one. Similarly, the center robot CR may carry out the substrates W one by one from the plurality of cleaning processing units SS (SSR). In these cases, if attention is paid only to the relationship between the individual processing unit SS (SSR) and the central robot CR, the one-sheet loading operation or the one-sheet loading operation is performed, but the plurality of cleaning processing units SS (SSR) In the relationship between the cleaning processing unit 11 (or 12) as a whole and the central robot CR, it can be considered that a two-sheet loading operation or a two-sheet loading operation is performed. Therefore, in this specification, the case where the central robot CR holding a plurality of substrates W sequentially carries in the plurality of cleaning processing units SS (SSR) or the plurality of substrates W is sequentially carried out from the plurality of cleaning processing units SS (SSR). Also in the case of moving to another segment, as in the case where the central robot CR accesses the relay unit 50 and carries out the two-sheet loading (or unloading) operation, the two-sheet loading (or unloading) operation is performed. The same description will be made.

<2.2 基板処理のパターン>
ここで、本基板処理装置1において実施可能な基板処理のパターンについて説明する。
<2.2 Substrate processing pattern>
Here, a pattern of substrate processing that can be performed in the present substrate processing apparatus 1 will be described.

本基板処理装置1では、「表面洗浄のみ」、「裏面洗浄のみ」、および「両面洗浄(裏面→表面)」「両面洗浄(表面→裏面)」等のさまざまな基板処理パターンを基板Wに対して選択的に施すことが可能である。   In this substrate processing apparatus 1, various substrate processing patterns such as “front surface cleaning only”, “back surface cleaning only”, “double-sided cleaning (back surface → front surface)”, “double-sided cleaning (front surface → back surface)”, etc. are applied to the substrate W. Can be selectively applied.

「表面洗浄のみ」のパターンでは、基板WをキャリアCから搬出した後、基板Wの表裏を反転することなく、基板Wの表面の洗浄処理を行う。洗浄処理後は基板Wの表裏を反転することなく、キャリアCに返却する。「裏面洗浄のみ」のパターンでは、基板WをキャリアCから搬出した後、基板Wの表裏を反転した上で基板Wの裏面の洗浄処理を行う。洗浄処理後は、基板Wの表裏を反転した上で、キャリアCに返却する。「両面洗浄(裏面→表面)」のパターンでは、基板WをキャリアCから搬出した後、基板Wの表裏を反転した上で、基板Wの裏面の洗浄処理を行う。その後、基板Wの表裏を反転して、基板Wの表面が上を向いた状態にして、基板Wの表面の洗浄処理を行う。その後、基板Wの表裏を反転することなく、キャリアCに基板を返却する。「両面洗浄(表面→裏面)」のパターンでは、基板WをキャリアCから搬出した後、基板Wの表裏を反転することなく、基板Wの表面の洗浄処理を行う。その後、基板Wの表裏を反転して、基板Wの裏面が上を向いた状態にして、基板Wの裏面の洗浄処理を行う。その後、基板Wの表裏を反転した上で、キャリアCに返却する。   In the “only surface cleaning” pattern, after the substrate W is unloaded from the carrier C, the surface of the substrate W is cleaned without inverting the front and back of the substrate W. After the cleaning process, the substrate W is returned to the carrier C without being turned upside down. In the “back surface cleaning only” pattern, after the substrate W is unloaded from the carrier C, the front surface and the back surface of the substrate W are inverted, and then the back surface of the substrate W is cleaned. After the cleaning process, the substrate W is turned upside down and returned to the carrier C. In the “double-sided cleaning (back surface → front surface)” pattern, after the substrate W is unloaded from the carrier C, the front surface and the back surface of the substrate W are inverted, and then the rear surface of the substrate W is cleaned. After that, the front and back of the substrate W are turned over so that the surface of the substrate W faces upward, and the surface of the substrate W is cleaned. After that, the substrate W is returned to the carrier C without inverting the front and back of the substrate W. In the “double-sided cleaning (front surface → back surface)” pattern, after the substrate W is unloaded from the carrier C, the front surface of the substrate W is cleaned without inversion. Then, the front and back of the substrate W are turned over so that the back surface of the substrate W faces upward, and the back surface of the substrate W is cleaned. After that, the substrate W is turned upside down and returned to the carrier C.

本基板処理装置1で基板Wに対して施される一連の処理は、図15に示すように複数のセグメントS1〜S13に分割することができる。   A series of processes performed on the substrate W by the substrate processing apparatus 1 can be divided into a plurality of segments S1 to S13 as shown in FIG.

セグメントS1およびS13は、基板WがキャリアCに格納されている段階に対応している。セグメントS2およびS12は、インデクサロボットIRにより基板Wをインデクサ区画2内で搬送する段階に対応している。セグメントS3、S7、およびS11は、基板Wを中継部50に格納した段階に対応している。セグメントS5、S9は、基板Wを処理区画3で処理する段階に対応している。セグメントS4、S6、S8、およびS10は、センターロボットCRにより基板Wを処理区画3内で搬送する段階に対応している。   The segments S1 and S13 correspond to the stage where the substrate W is stored in the carrier C. The segments S2 and S12 correspond to the stage where the substrate W is transported in the indexer section 2 by the indexer robot IR. The segments S3, S7, and S11 correspond to the stage where the substrate W is stored in the relay section 50. The segments S5 and S9 correspond to the stage of processing the substrate W in the processing section 3. The segments S4, S6, S8, and S10 correspond to the stage where the substrate W is transported in the processing section 3 by the central robot CR.

図15に示すように、各セグメントでの基板Wの搬送先は基板Wの搬送パターンに応じて異なることがある。例えば、セグメントS3では、「表面洗浄のみ」「両面洗浄(表面→裏面)」のパターンの場合であれば基板Wを中継処理ユニット50aの基板載置部PASSに基板Wを搬送する。「裏面洗浄のみ」「両面洗浄(裏面→表面)」の場合であれば反転受渡ユニットRT2に基板Wを搬送する。セグメントS5では、「表面洗浄のみ」「両面洗浄(表面→裏面)」のパターンの場合であれば基板Wを表面洗浄処理ユニットSS1〜SS8のいずれかに搬送する。「裏面洗浄のみ」「両面洗浄(裏面→表面)」のパターンの場合であれば裏面洗浄処理ユニットSSR1〜SSR8のいずれかに基板Wを搬送する。セグメントS7では、「両面洗浄(裏面→表面)」「両面洗浄(表面→裏面)」のパターンの場合であれば基板Wを反転処理ユニットRT1に搬送する。セグメントS9では、「両面洗浄(裏面→表面)」のパターンであれば基板Wを表面洗浄処理ユニットSS1〜SS8のいずれかに搬送する。一方、「両面洗浄(表面→裏面)」のパターンの場合であれば基板Wを裏面洗浄処理ユニットSSR1〜SSR8のいずれかに搬送する。セグメントS11では、「表面洗浄のみ」「両面洗浄(裏面→表面)」のパターンの場合であれば、基板Wを中継処理ユニット50aのいずれかの基板載置部PASSに基板Wを搬送する。「裏面洗浄のみ」「両面洗浄(表面→裏面)」のパターンの場合であれば、反転受渡ユニットRT2に基板Wを搬送する。   As shown in FIG. 15, the transfer destination of the substrate W in each segment may differ depending on the transfer pattern of the substrate W. For example, in the segment S3, the substrate W is transferred to the substrate platform PASS of the relay processing unit 50a in the case of the pattern of “only front surface cleaning” and “double-sided cleaning (front surface → back surface)”. In the case of “only backside cleaning” and “double-sided cleaning (backside → frontside)”, the substrate W is transported to the reverse delivery unit RT2. In the segment S5, the substrate W is transported to any of the front surface cleaning processing units SS1 to SS8 in the case of the pattern of “only front surface cleaning” or “double-sided cleaning (front surface → back surface)”. In the case of the pattern of “only backside cleaning” and “double-sided cleaning (backside → frontside)”, the substrate W is transported to one of the backside cleaning processing units SSR1 to SSR8. In the segment S7, if the pattern is “double-sided cleaning (back surface → front surface)” or “double-sided cleaning (front surface → back surface)”, the substrate W is transported to the reversal processing unit RT1. In the segment S9, if the pattern is “double-sided cleaning (back surface → front surface)”, the substrate W is transported to any of the front surface cleaning processing units SS1 to SS8. On the other hand, in the case of the “double-sided cleaning (front surface → back surface)” pattern, the substrate W is transported to one of the back surface cleaning processing units SSR1 to SSR8. In the segment S11, in the case of the pattern of “only front surface cleaning” and “double-sided cleaning (back surface → front surface)”, the substrate W is transferred to one of the substrate platform PASS of the relay processing unit 50a. In the case of the “back surface cleaning only” and “double-sided cleaning (front surface → back surface)” pattern, the substrate W is transported to the reversal transfer unit RT2.

また、図15中、網掛けされたセグメント(S1、S3、S5、S7、S9、S11、S13)における基板Wの取り扱い方は、フローレシピFRの中で規定されている。   Further, in FIG. 15, how to handle the substrate W in the shaded segments (S1, S3, S5, S7, S9, S11, S13) is specified in the flow recipe FR.

具体的には以下の通りである。   Specifically, it is as follows.

セグメントS1およびS13に関して、フローレシピFRは基板Wを格納するキャリアCのスロット位置を規定している。セグメントS3およびS11に関して、フローレシピFRは、処理対象の基板Wを中継部50中の中継ユニット50a、反転ユニットRT1、反転受渡ユニットRT2のいずれに搬送するかを規定している。セグメントS5、S7およびS9に関して、フローレシピFRは、処理対象の基板Wを表面洗浄処理ユニットSS1〜SS8および裏面洗浄処理ユニットSSR1〜SSR8のいずれに搬送するかを規定している。   With respect to the segments S1 and S13, the flow recipe FR defines the slot position of the carrier C that stores the substrate W. Regarding the segments S3 and S11, the flow recipe FR defines which of the relay unit 50a in the relay unit 50, the reversing unit RT1, and the reversal transfer unit RT2 to transfer the substrate W to be processed. Regarding the segments S5, S7 and S9, the flow recipe FR defines which of the front surface cleaning processing units SS1 to SS8 and the back surface cleaning processing units SSR1 to SSR8 the substrate W to be processed is transported.

<3. スケジュール作成プログラムP1>
これより、スケジュール作成プログラムP1について説明する。
<3. Schedule creation program P1>
The schedule creation program P1 will be described below.

図11に示すように、スケジュール作成プログラムP1は、制御部60内の記憶装置64に格納されているプログラムである。スケジュール作成プログラムP1は、各種演算処理を行うCPU61によって実行されることにより、処理対象となる各基板のスケジュールデータSDを作成するプログラムであり、こうして作成されたスケジュールデータSDは記憶装置64に格納される。また、処理プログラムP0に記述された手順に従ってCPU61が演算処理を行うことにより基板処理装置1の各種機能が実現され、上記スケジュールデータSDに従って対象基板Wに所定の洗浄処理が施される。   As shown in FIG. 11, the schedule creation program P1 is a program stored in the storage device 64 in the control unit 60. The schedule creation program P1 is a program that is executed by the CPU 61 that performs various arithmetic processes to create schedule data SD of each board to be processed. The schedule data SD created in this way is stored in the storage device 64. It Further, various functions of the substrate processing apparatus 1 are realized by the CPU 61 performing arithmetic processing in accordance with the procedure described in the processing program P0, and the target substrate W is subjected to predetermined cleaning processing according to the schedule data SD.

<3.1 スケジュール作成における計画ロジック>
図16は、本発明の第1実施形態におけるスケジュール作成プログラムP1によるスケジュールデータSDの作成の流れを示すフロー図である。まず、複数枚(例えば1ロット分)の基板WについてフローレシピFRがスケジュール作成プログラムP1に与えられる(ステップST1)。スケジュール作成プログラムP1は、フローレシピFRに基づいて、1回目の洗浄処理セグメントS5および2回目の洗浄処理セグメントS9において並行した処理(並行処理とも言う)が可能な処理ユニットの数(並行処理ユニット数とも言う)を決定する(ステップST2)。
<3.1 Planning logic in schedule creation>
FIG. 16 is a flowchart showing the flow of creating the schedule data SD by the schedule creating program P1 in the first embodiment of the present invention. First, the flow recipe FR is given to the schedule creation program P1 for a plurality of (for example, one lot) substrates W (step ST1). The schedule creation program P1 uses the flow recipe FR to determine the number of processing units that can perform parallel processing (also referred to as parallel processing) in the first cleaning processing segment S5 and the second cleaning processing segment S9 (the number of parallel processing units). (Also called) (step ST2).

既述したとおり、フローレシピFRはセグメントS5およびS9において表面洗浄処理ユニットSS1〜SS8および裏面洗浄処理ユニットSSR1〜SSR8のいずれを使用するかを規定している。従って、スケジュール作成プログラムP1はこの情報に基づいて1回目の洗浄処理を行うセグメントS5および2回目の洗浄処理を行うセグメントS9において並行した処理が可能な処理ユニットの数(並行処理ユニット数)を決定することができる。例えば、フローレシピFRが、セグメントS5で使用すべき表面洗浄処理ユニットとして表面洗浄処理ユニットSS1のみを規定しているのであればセグメントS5における並行処理ユニット数は「1」となる。一方、フローレシピFRがセグメントS5ですべての表面洗浄処理ユニットSS1〜SS8を規定しているのであれば、セグメントS5における並行処理ユニット数は「8」となる。同様に、フローレシピFRがセグメントS5に関して特定の裏面洗浄処理ユニットSSR1のみを規定しているのであればセグメントS5における並行処理ユニット数は「1」となる。フローレシピFRがセグメントS5に関してすべての裏面洗浄処理ユニットSSR1〜SSR8を規定しているのであればセグメントS5における並行処理ユニット数は「8」となる。同様の考え方により、2回目の洗浄処理を行うセグメントS9において並行処理が可能な処理ユニットの数(並行処理ユニット数)がフローレシピFRに基づいて決定される。   As described above, the flow recipe FR defines which of the front surface cleaning processing units SS1 to SS8 and the back surface cleaning processing units SSR1 to SSR8 is to be used in the segments S5 and S9. Therefore, the schedule creation program P1 determines the number of processing units (the number of parallel processing units) capable of performing parallel processing in the segment S5 for performing the first cleaning processing and the segment S9 for performing the second cleaning processing based on this information. can do. For example, if the flow recipe FR specifies only the surface cleaning processing unit SS1 as the surface cleaning processing unit to be used in the segment S5, the number of parallel processing units in the segment S5 is “1”. On the other hand, if the flow recipe FR defines all the surface cleaning processing units SS1 to SS8 in the segment S5, the number of parallel processing units in the segment S5 is “8”. Similarly, if the flow recipe FR defines only a specific back surface cleaning processing unit SSR1 for the segment S5, the number of parallel processing units in the segment S5 is “1”. If the flow recipe FR defines all the back surface cleaning processing units SSR1 to SSR8 for the segment S5, the number of parallel processing units in the segment S5 is “8”. From the same idea, the number of processing units that can perform parallel processing (the number of parallel processing units) in the segment S9 in which the second cleaning processing is performed is determined based on the flow recipe FR.

以下の説明では、1回目の洗浄処理において並行処理が可能な処理ユニットの数をM(両面洗浄を行う場合はM1)という。また、2回目の洗浄処理において並行処理が可能な処理ユニットの数をM2という。   In the following description, the number of processing units capable of performing parallel processing in the first cleaning process is referred to as M (M1 when performing double-side cleaning). Further, the number of processing units capable of performing parallel processing in the second cleaning processing is referred to as M2.

スケジュール作成プログラムP1は、上記に基づいて基板搬送の流れを以下のように決定する(ステップST3)。なお、以下では、セグメントS5で並行処理される処理ユニットの種類と数、並びにセグメントS9で並行処理される処理ユニットの種類と数を、「裏3並行−表4並行」のように併記することで、基板搬送の流れを表現する。また、セグメントS5で洗浄処理のみを行いセグメントS9で洗浄処理を行わない場合、「裏8並行」のように、セグメントS5で並行処理される処理ユニットの種類と数とで基板搬送の流れを表現する。   The schedule creation program P1 determines the flow of substrate transportation based on the above (step ST3). In the following, the type and number of processing units to be processed in parallel in the segment S5, and the type and number of processing units to be processed in parallel in the segment S9 will be written together as in "back 3 parallel-table 4 parallel". Here, the flow of substrate transfer is expressed. Further, when only the cleaning process is performed in the segment S5 and the cleaning process is not performed in the segment S9, the flow of the substrate transfer is expressed by the type and the number of the processing units processed in parallel in the segment S5, such as “back 8 parallel”. To do.

既述の「裏面洗浄のみ」パターンにおいて、「裏3並行」で洗浄処理ユニットを稼働させる場合、基板Wは図17のように搬送される。キャリアCから反転受渡ユニットRT2に向かってインデクサロボットIRによって複数枚の基板Wが順次搬送される(セグメントS2)。インデクサロボットIRによって反転受渡ユニットRT2に搬送された基板Wは、センターロボットCRによって3個の裏面洗浄処理ユニットSSR1〜SSR3に順次搬送される(セグメントS4)。裏面洗浄処理ユニットSSR1〜SSR3は3枚の基板Wを並行して洗浄処理する(セグメントS5)。裏面洗浄処理ユニットSSR1〜SSR3での洗浄処理が終了した基板WはセンターロボットCRによって反転受渡ユニットRT2に向けて順次搬送される(セグメントS6)。反転受渡ユニットRT2に搬送された基板WはインデクサロボットIRによって反転受渡ユニットRT2からキャリアCに向けて順次搬送される(セグメントS12)。   When the cleaning processing unit is operated in "back 3 parallel" in the above-mentioned "back surface cleaning only" pattern, the substrate W is transported as shown in FIG. A plurality of substrates W are sequentially transported from the carrier C to the reverse delivery unit RT2 by the indexer robot IR (segment S2). The substrate W transferred to the reverse delivery unit RT2 by the indexer robot IR is sequentially transferred to the three back surface cleaning processing units SSR1 to SSR3 by the center robot CR (segment S4). The back surface cleaning processing units SSR1 to SSR3 clean the three substrates W in parallel (segment S5). The substrate W, which has undergone the cleaning processing in the back surface cleaning processing units SSR1 to SSR3, is sequentially transported by the central robot CR toward the reverse delivery unit RT2 (segment S6). The substrate W transferred to the reverse transfer unit RT2 is sequentially transferred from the reverse transfer unit RT2 to the carrier C by the indexer robot IR (segment S12).

また、既述の「両面洗浄(裏面→表面)」パターンにおいて、「裏3並行−表6並行」で処理ユニットを稼働させる場合、基板Wは図18のように搬送される。セグメントS2からセグメントS5までは「裏面洗浄のみ」と同じであるので説明を省略する。   Further, in the above-described “double-sided cleaning (back surface → front surface)” pattern, when the processing units are operated in “back side 3 parallel-table 6 parallel”, the substrate W is transported as shown in FIG. 18. The description from the segment S2 to the segment S5 is omitted because it is the same as "only backside cleaning".

裏面洗浄処理ユニットSS1〜SSRでの洗浄処理が終了した基板WはセンターロボットCRによって反転ユニットRT1に向けて順次搬送される(セグメントS6)。反転ユニットRT1に搬送された基板Wは反転処理が行われた後、センターロボットCRによって、6個の表面洗浄処理ユニットSS1〜SS6に向けて順次搬送される(セグメントS8)。表面洗浄処理ユニットSS1〜SS6は6枚の基板Wを並行して洗浄処理する(セグメントS9)。表面洗浄処理ユニットSS1〜SS6での洗浄処理が終了した基板Wは、センターロボットCRによって中継ユニット50aの基板載置部PASSに向けて順次搬送される(セグメントS10)。基板載置部PASSに載置された基板Wは、インデクサロボットIRによってキャリアCに向けて順次搬送される(セグメントS12)。   The substrate W that has undergone the cleaning processing in the back surface cleaning processing units SS1 to SSR is sequentially transported by the central robot CR toward the reversing unit RT1 (segment S6). The substrate W transported to the reversing unit RT1 is subjected to the reversing process, and then sequentially transported to the six surface cleaning processing units SS1 to SS6 by the central robot CR (segment S8). The surface cleaning processing units SS1 to SS6 clean the six substrates W in parallel (segment S9). The substrates W that have been cleaned by the surface cleaning processing units SS1 to SS6 are sequentially transported by the central robot CR toward the substrate platform PASS of the relay unit 50a (segment S10). The substrate W placed on the substrate platform PASS is sequentially transported toward the carrier C by the indexer robot IR (segment S12).

このように、「裏3並行」におけるセグメントS2、S4、S6およびS12では3枚の基板Wを順次搬送する必要がある。また、「裏3並行−表6並行」におけるセグメントS2、S4およびS6では3枚の基板Wを、セグメントS8、S10およびS12では6枚の基板Wを、それぞれ順次搬送する必要がある。しかし、インデクサロボットIRおよびセンターロボットCRが同時に搬送できる未処理基板Wは2枚にすぎない。同様に、反転ユニットRT1、反転受渡ユニットRT2および基板載置部PASSが同時に保持することのできる未処理基板Wは2枚にすぎない。したがって、これらのセグメントにおける、インデクサロボットIRおよびセンターロボットCRの動かし方が重要になる。   In this way, in the segments S2, S4, S6 and S12 in the "back 3 parallel", it is necessary to sequentially transport the three substrates W. Further, it is necessary to sequentially transport three substrates W in the segments S2, S4, and S6 and six substrates W in the segments S8, S10, and S12 in "back 3 parallel-front 6 parallel". However, the indexer robot IR and the center robot CR can simultaneously transfer only two unprocessed substrates W. Similarly, the reversing unit RT1, the reversing transfer unit RT2, and the substrate platform PASS can simultaneously hold only two unprocessed substrates W. Therefore, how to move the indexer robot IR and the center robot CR in these segments is important.

図16の説明に戻る。以上のようにして基板搬送の流れが決定されると(ステップST3)、センターロボットCRが同時に搬送することのできる基板Wの枚数が決定される(ステップST4)。上記の通り、センターロボットCRが同時に搬送することのできる基板Wの枚数は「2」であるためステップST4では通常は「2」が指定される。しかし、センターロボットCRの故障等によりセンターロボットCRの一部のハンド13が使用できないことが考えられる。このため、ステップST4では「1」または「2」が同時搬送可能な基板Wの枚数として特定される可能性がある。一般化すると、センターロボットCRがX枚(Xは1以上)以下の基板Wを同時に搬送可能な仕様であれば、ステップST4では、X枚以下の自然数が特定される可能性がある。また、本実施形態では、センターロボットCRの4本のハンド13b〜16bのうち、ハンド13bおよび14bは未処理基板用、ハンド15bおよび16bは処理済基板用のように使い分けられているためセンターロボットCRが同時搬送可能な未処理基板Wまたは処理済基板Wの枚数は「1」または「2」であるが、ハンド13b〜16bをこのように使い分けしない場合にはセンターロボットCRが同時搬送可能な未処理基板Wまたは処理済基板Wの枚数は「1」「2」「3」または「4」になる。同様の考え方により、インデクサロボットIRが同時に搬送することのできる基板Wの枚数が特定される(ステップST5)。   Returning to the description of FIG. When the flow of substrate transport is determined as described above (step ST3), the number of substrates W that can be simultaneously transported by the central robot CR is determined (step ST4). As described above, since the number of substrates W that can be simultaneously transferred by the central robot CR is "2", "2" is usually designated in step ST4. However, it is considered that some hands 13 of the center robot CR cannot be used due to a failure of the center robot CR. Therefore, in step ST4, "1" or "2" may be specified as the number of substrates W that can be simultaneously transported. As a generalization, if the center robot CR has a specification capable of simultaneously carrying X or less (X is 1 or more) substrates W, a natural number of X or less may be specified in step ST4. Further, in the present embodiment, among the four hands 13b to 16b of the central robot CR, the hands 13b and 14b are used for unprocessed substrates and the hands 15b and 16b are used for processed substrates, so that the central robot is used. The number of unprocessed substrates W or processed substrates W to which CRs can be simultaneously transferred is “1” or “2”, but if the hands 13b to 16b are not used in this way, the central robot CR can be simultaneously transferred. The number of unprocessed substrates W or processed substrates W is “1”, “2”, “3”, or “4”. From the same idea, the number of substrates W that can be simultaneously transported by the indexer robot IR is specified (step ST5).

次に、反転ユニットRT1、反転受渡ユニットRT2および基板載置部PASSが同時に保持することのできる基板Wの枚数が特定される(ステップST6)。先述の通り、反転ユニットRT1、反転受渡ユニットRT2および基板載置部PASSが同時に保持することのできる基板Wの枚数は「2」であるためステップST6では通常は「2」が指定される。しかし、反転ユニットRT1、反転受渡RT2または基板載置部PASSの故障等により1枚の基板Wしか保持できないことが考えられる。そのため、ステップST6では「1」または「2」が同時保持可能な基板Wの枚数として特定される可能性がある。一般化すると、反転ユニットRT1、反転受渡ユニットRT2および基板載置部PASSがY枚(Yは1以上)以下の基板Wを同時に搬送可能な仕様であれば、ステップST6ではY枚以下の自然数が特定される可能性がある。   Next, the number of substrates W that can be simultaneously held by the reversing unit RT1, the reversing transfer unit RT2, and the substrate platform PASS is specified (step ST6). As described above, the number of substrates W that can be simultaneously held by the reversing unit RT1, the reversing / transferring unit RT2, and the substrate platform PASS is “2”, so that “2” is normally designated in step ST6. However, it is conceivable that only one substrate W can be held due to a failure of the reversing unit RT1, the reversing delivery RT2, or the substrate platform PASS. Therefore, in step ST6, “1” or “2” may be specified as the number of substrates W that can be simultaneously held. As a generalization, if the reversing unit RT1, the reversing / delivering unit RT2, and the substrate platform PASS are capable of simultaneously carrying Y or less (Y is 1 or more) substrates W, a natural number of Y or less in step ST6. May be identified.

次に、スケジュール作成プログラムP1は、セグメントS2およびS12におけるインデクサロボットIRの動作スケジュール、並びにセグメントS4、S6、S8およびS10におけるセンターロボットCRの動作スケジュールを作成する(ステップST7)。スケジュール作成プログラムP1は、ステップST7のサブステップであるステップST7a〜ST7eに従ってセグメントS2およびS12におけるインデクサロボットIRの動作スケジュール、並びにセグメントS4、S6、S8およびS10におけるセンターロボットCRの動作スケジュールを作成する。   Next, the schedule creation program P1 creates an operation schedule of the indexer robot IR in the segments S2 and S12 and an operation schedule of the center robot CR in the segments S4, S6, S8 and S10 (step ST7). The schedule creation program P1 creates an operation schedule of the indexer robot IR in the segments S2 and S12 and an operation schedule of the center robot CR in the segments S4, S6, S8 and S10 according to steps ST7a to ST7e which are substeps of step ST7.

ステップST7aでは、インデクサロボットIRまたはセンターロボットCRの搬送先における並行処理ユニットの数M(両面洗浄を行う場合は、M1およびM2)が、ロボットIRまたはCRで同時搬送可能な基板Wの枚数Nで割り切れるかの判断がされる。換言すれば、ステップST7aでは、N枚が並行処理ユニット数であるM(両面洗浄を行う場合はM1およびM2)の約数になっているか否かの判断をされている。ステップST7aで「Yes」と判断された場合には、インデクサロボットIRまたはセンターロボットCRはN枚の基板Wを処理ユニットSSまたはSSRに同時に搬送する(ステップST7b)。一方、ステップST7aで「No」と判断された場合には、ステップST7cに進み、実行しようとする基板搬送のパターンが「表面洗浄のみ」または「裏面洗浄のみ」であるか判断される。そして、ステップST7cで「Yes」と判断された場合には以下の計画ロジック1に従ってインデクサロボットIRまたはセンターロボットCRの動作スケジュールを決定する(ステップST7d)。一方、ステップST7cで「No」と判断された場合には以下の計画ロジック2に従ってセンターロボットCRの動作スケジュールを決定する(ステップST7e)。   In step ST7a, the number M of parallel processing units at the transfer destination of the indexer robot IR or the center robot CR (M1 and M2 when performing double-sided cleaning) is the number N of substrates W that can be simultaneously transferred by the robot IR or CR. A decision is made as to whether it is divisible. In other words, in step ST7a, it is determined whether or not N sheets is a divisor of M, which is the number of parallel processing units (M1 and M2 when double-sided cleaning is performed). When it is determined “Yes” in step ST7a, the indexer robot IR or the center robot CR simultaneously transfers N substrates W to the processing unit SS or SSR (step ST7b). On the other hand, if "No" is determined in step ST7a, the process proceeds to step ST7c, and it is determined whether the pattern of substrate transfer to be executed is "front surface cleaning only" or "back surface cleaning only". Then, if "Yes" is determined in step ST7c, the operation schedule of the indexer robot IR or the center robot CR is determined according to the following planning logic 1 (step ST7d). On the other hand, if it is determined "No" in step ST7c, the operation schedule of the central robot CR is determined according to the following planning logic 2 (step ST7e).

[計画ロジック1] センターロボットCRが基板Wを2個のセグメント間で搬送する場合、以下のステップSS11とSS12とからなるサイクルが繰り返されるようにセンターロボットCRの動作スケジュールを作成する。 [Planning Logic 1] When the central robot CR conveys the substrate W between the two segments, the operation schedule of the central robot CR is created so that the cycle including the following steps SS11 and SS12 is repeated.

SS11:センターロボットCRは基板WのN枚の同時搬送を、MをNで割った商の回数だけ、実行する。   SS11: The center robot CR executes the simultaneous transfer of N substrates W by the number of quotients obtained by dividing M by N.

SS12:センターロボットCRは、「「MをNで割った商の回数」+1」回目の基板搬送では、MをNで割った余りの枚数の基板Wを同時に搬送する。   SS12: The center robot CR simultaneously carries the surplus number of substrates W obtained by dividing M by N in the ““ number of quotients obtained by dividing M by N ”+1” times.

但し、MはセンターロボットCRの基板搬送先における並行処理ユニット数あるいは同時に基板Wを保持することが可能な枚数(同時基板保持枚数とも言う)である。NはセンターロボットCRにより同時搬送可能な基板Wの枚数である。   However, M is the number of parallel processing units at the substrate transfer destination of the central robot CR or the number of substrates that can simultaneously hold the substrates W (also referred to as the simultaneous substrate holding number). N is the number of substrates W that can be simultaneously transported by the central robot CR.

[計画ロジック2] センターロボットCRが、「裏3並行−表6並行」の場合のように、1枚の基板Wを複数の処理ユニットに順番に搬送する場合は、以下のサブステップSS21とSS22とからなるサイクルが繰り返されるようにセンターロボットCRの動作スケジュールを作成する。 [Planning Logic 2] When the central robot CR sequentially transfers one substrate W to a plurality of processing units as in the case of “back 3 parallel-front 6 parallel”, the following sub-steps SS21 and SS22 are performed. The operation schedule of the central robot CR is created so that the cycle consisting of and is repeated.

SS21:センターロボットCRは、基板WのN枚の同時搬送を、M1とM2の最大公約数をNで割った商の回数(M3とする)だけ、実行する。   SS21: The center robot CR executes the simultaneous transfer of N substrates W by the number of quotients (M3) obtained by dividing the greatest common divisor of M1 and M2 by N.

SS22:センターロボットCRは、「M3+1」回目の基板搬送では、「M1とM2の最大公約数」をNで割った余り」の枚数の基板Wを同時に搬送する。   SS22: In the “M3 + 1” th substrate transport, the center robot CR simultaneously transports the number of substrates W equal to “a remainder obtained by dividing the greatest common divisor of M1 and M2 by N”.

但し、M1は1回目の洗浄処理において並行処理を行う処理ユニットの数、M2は2回目の洗浄処理において並行処理を行う処理ユニットの数、NはセンターロボットCRによって同時に搬送可能な基板Wの枚数である。   Here, M1 is the number of processing units performing parallel processing in the first cleaning processing, M2 is the number of processing units performing parallel processing in the second cleaning processing, and N is the number of substrates W that can be simultaneously transferred by the central robot CR. Is.

以上のようにして、スケジュール作成プログラムP1によって、セグメントS4、S6、S8、S10におけるセンターロボットCRの動作スケジュールが決定される。その後、センターロボットCRの動作スケジュールに合わせてインデクサロボットIRの動作スケジュールが作成される。最後に、スケジュール作成プログラムP1は各ロボットによる基板搬送スケジュールと、各洗浄処理ユニットSSおよびSSRでの基板処理スケジュール、反転ユニットRT1および反転受渡ユニットRT2での基板反転スケジュール等を統合して、最終的なスケジュールデータSDを生成する(ステップST8)。   As described above, the schedule creation program P1 determines the operation schedule of the center robot CR in the segments S4, S6, S8, and S10. After that, the operation schedule of the indexer robot IR is created in accordance with the operation schedule of the center robot CR. Finally, the schedule creation program P1 integrates the substrate transfer schedule by each robot, the substrate processing schedule in each cleaning processing unit SS and SSR, the substrate reversal schedule in the reversing unit RT1 and the reversing transfer unit RT2, and the like. Schedule data SD is generated (step ST8).

<3.2 計画ロジック1の適用例>
以下では、計画ロジック1に基づいて作成した搬送スケジュールの一例を説明する。
<3.2 Application Example of Planning Logic 1>
Below, an example of the transportation schedule created based on the planning logic 1 will be described.

計画ロジック1を「裏3並行」パターン(図17参照)でのセグメントS4におけるセンターロボットCRの動きに適用した場合、センターロボットCRは以下のサブステップSS11とSS12とからなるサイクルを繰り返し実行することになる。   When the planning logic 1 is applied to the movement of the center robot CR in the segment S4 in the “back 3 parallel” pattern (see FIG. 17), the center robot CR repeatedly executes the cycle including the following substeps SS11 and SS12. become.

(サブステップSS11) センターロボットCRは基板Wの2枚(すなわち、N枚)の同時搬送を、反転受渡ユニットRT2から2つの裏面洗浄処理ユニットSSRに向けて、1回(すなわち、3を2で割った商の回数)だけ実行する。 (Sub-step SS11) The central robot CR transfers the two (that is, N) substrates W at the same time from the reverse transfer unit RT2 to the two back surface cleaning processing units SSR once (that is, 3 in 2). Execute only the number of divided quotients.

(サブステップSS12) センターロボットCRは2回目(すなわち、3を2で割った商に1を加えた回)の基板搬送では、1枚(すなわち、3を2で割った余りの枚数)の基板Wを搬送する。 (Sub-step SS12) In the second time (ie, the number of quotients obtained by dividing 3 by 2 and adding 1), the central robot CR uses one substrate (that is, the remainder number obtained by dividing 3 by 2). Transport W.

これにより、例えば図19に示すようなスケジュールが作成される。図19は「裏3並行」パターンでのセグメントS4およびセグメントS5におけるセンターロボットCRおよび裏面洗浄ユニットSSR1〜SSR3のタイミングチャートである。実際には、センターロボットCRは裏面洗浄ユニットSSR1〜SSR3からの処理済基板Wの搬出も行うが、図19では反転受渡ユニットRT2から裏面洗浄ユニットSSR1〜SSR3への未処理基板Wの搬送サイクルに集中して説明するため、処理済基板Wの裏面洗浄ユニットSSR1〜SSR3からの搬出作業が行われないものと仮想して説明する。   Thereby, for example, a schedule as shown in FIG. 19 is created. FIG. 19 is a timing chart of the center robot CR and the back surface cleaning units SSR1 to SSR3 in the segments S4 and S5 in the “back 3 parallel” pattern. In reality, the center robot CR also carries out the processed substrate W from the back surface cleaning units SSR1 to SSR3, but in FIG. For the purpose of intensive description, it is assumed that the unloading work of the processed substrate W from the back surface cleaning units SSR1 to SSR3 is not performed.

時刻t0までに2枚の未処理基板W1、W2がインデクサロボットIRによって反転受渡ユニットRT2に載置される。これらの基板W1、W2は時刻t1までに反転受渡ユニットRT2によって反転される。センターロボットCRは時刻t1に2枚の未処理基板W1、W2を反転受渡ユニットRT2から同時に搬出する。センターロボットCRは時刻t1からt2までの期間に、2枚の未処理基板W1、W2を保持しつつ裏面搬送処理ユニットSSR1に対向する位置まで移動する。センターロボットCRは、時刻t2に未処理基板W1を裏面洗浄処理ユニットSSR1に搬入する。その後、裏面洗浄処理ユニットSSR1は未処理基板W1に対する裏面洗浄処理を開始する。次に、センターロボットCRは裏面洗浄処理ユニットSSR2に対向する位置まで移動する。そして、時刻t2から若干遅れたタイミングで裏面洗浄処理ユニットSSR2に未処理基板W2を搬入する。裏面洗浄処理ユニットSSR2は未処理基板W2に対する裏面洗浄処理を開始する。   By time t0, the two unprocessed substrates W1 and W2 are placed on the reverse delivery unit RT2 by the indexer robot IR. These substrates W1 and W2 are reversed by the reverse transfer unit RT2 by time t1. The central robot CR simultaneously carries out the two unprocessed substrates W1 and W2 from the reverse transfer unit RT2 at time t1. The central robot CR moves to a position facing the back surface transport processing unit SSR1 while holding the two unprocessed substrates W1 and W2 during a period from time t1 to time t2. The central robot CR carries the unprocessed substrate W1 into the back surface cleaning processing unit SSR1 at time t2. Then, the back surface cleaning processing unit SSR1 starts the back surface cleaning processing on the unprocessed substrate W1. Next, the central robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR2. Then, the unprocessed substrate W2 is carried into the back surface cleaning processing unit SSR2 at a timing slightly delayed from the time t2. The back surface cleaning processing unit SSR2 starts the back surface cleaning processing on the unprocessed substrate W2.

なお、図19では簡単のため、センターロボットCRが同じ時刻t2に裏面洗浄処理ユニットSSR1およびSSR2に2枚の未処理基板W1、W2を同時搬入するように図示している(以下、同じ)。   Note that, for simplicity, FIG. 19 illustrates that the central robot CR simultaneously carries in two unprocessed substrates W1 and W2 to the back surface cleaning processing units SSR1 and SSR2 at the same time t2 (hereinafter the same).

その後、センターロボットCRは時刻t3までの期間で反転受渡ユニットRT2に対向する位置まで移動する。時刻t3までにインデクサロボットIRによって3枚目の未処理基板W3が反転受渡ユニットRT2に載置され、また反転受渡ユニットRT2での反転を完了している。センターロボットCRは時刻t3に反転受渡ユニットRT2から3枚目の未処理基板W3を取り出す。   After that, the central robot CR moves to a position facing the reverse delivery unit RT2 in a period until time t3. By time t3, the third unprocessed substrate W3 is placed on the reversing and delivering unit RT2 by the indexer robot IR, and reversing at the reversing and delivering unit RT2 is completed. The central robot CR takes out the third unprocessed substrate W3 from the reverse delivery unit RT2 at time t3.

その後、センターロボットCRは時刻t3から時刻t4までの期間で1枚の基板W3を保持しつつ裏面洗浄処理ユニットSSR3に対向する位置まで移動する。次に、センターロボットCRは時刻t4に裏面洗浄処理ユニットSSR3に1枚の未処理基板W3を搬入する。裏面洗浄処理ユニットSSR3は未処理基板W3に対する裏面洗浄処理を開始する。   After that, the central robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR3 while holding one substrate W3 during a period from time t3 to time t4. Next, the central robot CR carries in one unprocessed substrate W3 into the back surface cleaning processing unit SSR3 at time t4. The back surface cleaning processing unit SSR3 starts the back surface cleaning processing on the unprocessed substrate W3.

その後、センターロボットCRは時刻t4から時刻t5までの期間に反転受渡ユニットRT2に対向する位置まで移動する。時刻t5までにインデクサロボットIRによって2枚の未処理基板W4、W5が反転受渡ユニットRT2に載置され、また反転受渡ユニットRT2での反転を完了している。   After that, the central robot CR moves to a position facing the reverse delivery unit RT2 during the period from time t4 to time t5. By time t5, two unprocessed substrates W4 and W5 have been placed on the reversing and delivering unit RT2 by the indexer robot IR, and reversing at the reversing and delivering unit RT2 has been completed.

センターロボットCRは時刻t5に未処理基板W4、W5を反転受渡ユニットRT2から取り出す。続いて、センターロボットCRは時刻t5から時刻t6までの期間に裏面洗浄処理ユニットSSR1に対向する位置まで移動する。センターロボットCRは未処理基板W4を裏面洗浄処理ユニットSSR1に搬入する。裏面洗浄処理ユニットSSR1は未処理基板W4に対する裏面洗浄処理を開始する。センターロボットCRは裏面洗浄処理ユニットSSR2に対向する位置まで移動し、時刻t6から若干遅れた時刻に裏面洗浄処理ユニットSSR2に搬入する。裏面洗浄処理ユニットSSR2は未処理基板W5に対する裏面洗浄処理を開始する。   The central robot CR takes out the unprocessed substrates W4 and W5 from the reverse delivery unit RT2 at time t5. Subsequently, the center robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR1 during a period from time t5 to time t6. The center robot CR carries the unprocessed substrate W4 into the back surface cleaning processing unit SSR1. The back surface cleaning processing unit SSR1 starts the back surface cleaning processing on the unprocessed substrate W4. The central robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR2, and carries it into the back surface cleaning processing unit SSR2 at a time slightly delayed from time t6. The back surface cleaning processing unit SSR2 starts the back surface cleaning processing on the unprocessed substrate W5.

その後、センターロボットCRは時刻t7までの期間で反転受渡ユニットRT2に対向する位置まで移動する。時刻t7までにインデクサロボットIRによって6枚目の未処理基板W6が載置され、また反転受渡ユニットRT2による基板W6の反転を完了している。センターロボットCRは時刻t7に反転受渡ユニットRT2から6枚目の未処理基板W6を取り出す。   After that, the central robot CR moves to a position facing the reverse delivery unit RT2 in a period until time t7. By the time t7, the sixth unprocessed substrate W6 has been placed by the indexer robot IR, and the reversal of the substrate W6 by the reversal transfer unit RT2 has been completed. The central robot CR takes out the sixth unprocessed substrate W6 from the reverse delivery unit RT2 at time t7.

その後、センターロボットCRは時刻t7から時刻t8までの期間で1枚の基板W6を保持した状態で裏面洗浄処理ユニットSSR3に対向する位置まで移動する。次に、センターロボットCRは時刻t8に裏面洗浄処理ユニットSSR3に1枚の未処理基板W6を搬入する。裏面洗浄処理ユニットSSR3は未処理基板W6に対する裏面洗浄処理を開始する。   After that, the central robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR3 while holding one substrate W6 during a period from time t7 to time t8. Next, the central robot CR carries in one unprocessed substrate W6 into the back surface cleaning processing unit SSR3 at time t8. The back surface cleaning processing unit SSR3 starts the back surface cleaning processing on the unprocessed substrate W6.

以上のように、センターロボットCRは反転受渡ユニットRT2から3つの裏面洗浄処理ユニットSR1〜SR3に向けて、2枚搬送→1枚搬送→2枚搬送→1枚搬送…と言ったリズムで未処理基板Wの搬送を行っている。基板搬送のサイクルは、時刻t1から時刻t4まで(時刻t5から時刻8まで)が1サイクルである。   As described above, the center robot CR performs unprocessed from the reverse delivery unit RT2 to the three back surface cleaning processing units SR1 to SR3 in the rhythm of carrying two sheets → one sheet → two sheets → one sheet. The substrate W is being transported. One cycle of substrate transfer is from time t1 to time t4 (from time t5 to time 8).

なお、図19の例では、1サイクルの基板搬送に要する時間が1つの基板処理ユニットでの処理時間よりも長いため、基板処理ユニットの側で待ち時間が生じている。このような状態を「搬送律速」という。一方、1サイクルの基板搬送に要する時間が1つの基板処理ユニットでの処理時間よりも短くなると、センターロボットCRの側で待ち時間が発生する。このような状態を「プロセス律速」という。センターロボットCRから複数のハンド13b、14b(または15b、16b)を用いて処理ユニットSSまたはSSRに向けて複数の基板Wを順次搬送する動作スケジュールを作成すると、搬送時間と処理ユニットでの基板処理時間との大小関係に応じて、搬送律速の状態、プロセス律速の状態、またはセンターロボットCRと処理ユニットとが完全に同期した状態のいずれかが発生する。   In the example of FIG. 19, since the time required for carrying one cycle of the substrate is longer than the processing time in one substrate processing unit, a waiting time occurs on the substrate processing unit side. Such a state is called "conveyance-controlled". On the other hand, when the time required for carrying one cycle of the substrate is shorter than the processing time in one substrate processing unit, a waiting time occurs on the side of the central robot CR. Such a state is called "process rate limiting". When an operation schedule for sequentially transporting a plurality of substrates W toward the processing unit SS or SSR using the plurality of hands 13b, 14b (or 15b, 16b) from the central robot CR is created, the transfer time and the substrate processing in the processing unit are performed. Depending on the magnitude relationship with time, either a transport rate-controlled state, a process rate-controlled state, or a state in which the central robot CR and the processing unit are completely synchronized occurs.

しかし、計画ロジック1に従ってロボットIRまたはCRの動作スケジュールを作成すると、「搬送律速」と「プロセス律速」の一方のみが発生し、「搬送律速」と「プロセス律速」とが入り乱れて発生することがない。   However, when the operation schedule of the robot IR or CR is created in accordance with the planning logic 1, only one of "transport limiting rate" and "process limiting rate" occurs, and "transport limiting rate" and "process limiting rate" are confused and occur. Absent.

また、図19に示すように、センターロボットCRが1回の基板搬送サイクルを実行する期間(例えば時刻t1から時刻t4までの期間、時刻t5から時刻t8までの期間、または時刻t9から時刻t12までの期間)または当該期間の整数倍の期間内に、全ての並行処理ユニットSSR1〜SSR3に基板Wが搬送されている。この結果、センターロボットCRによる1搬送サイクル(または当該期間のその整数倍)の期間内に、全ての並行処理ユニットSSR1〜SSR3での基板処理を開始することができるようになる。   Further, as shown in FIG. 19, a period during which the central robot CR executes one substrate transfer cycle (for example, a period from time t1 to time t4, a period from time t5 to time t8, or a period from time t9 to time t12). During the period) or a period that is an integral multiple of the period, the substrate W is transferred to all the parallel processing units SSR1 to SSR3. As a result, it becomes possible to start the substrate processing in all the parallel processing units SSR1 to SSR3 within a period of one transfer cycle (or an integral multiple of the period) by the central robot CR.

これにより、センターロボットCRによる基板搬送の周期と並行処理ユニットでの基板処理開始タイミングの周期とが同期して進行する。基板搬送の周期と基板処理を開始する周期とが同期進行することで基板搬送と基板処理が一定のリズムで進行するようになり、安定した基板処理が可能になる。したがって、このような動作スケジュールを実行するセグメントと当該セグメントの前または後のセグメントの動作スケジュールとを円滑に連結することが可能になる。   As a result, the cycle of substrate transfer by the central robot CR and the cycle of substrate processing start timing in the parallel processing unit proceed in synchronization. Since the substrate transfer cycle and the substrate processing start cycle proceed in synchronization, the substrate transfer and the substrate processing proceed at a constant rhythm, and stable substrate processing becomes possible. Therefore, it becomes possible to smoothly connect a segment that executes such an operation schedule and an operation schedule of a segment before or after the segment.

<3.3 計画ロジック2の適用例>
以下では、計画ロジック2に基づいて作成した搬送スケジュールの一例を説明する。計画ロジック2を、図18を用いて既述の「裏3並行−表6並行」パターンでのセグメントS4、S6およびS8におけるセンターロボットCRの動きに適用すると、センターロボットCRは以下のサブステップSS21とSS22とからなるサイクルを繰り返し実行することになる。
<3.3 Application example of planning logic 2>
Below, an example of the transportation schedule created based on the planning logic 2 will be described. When the planning logic 2 is applied to the movement of the center robot CR in the segments S4, S6, and S8 in the "back 3 parallel-front 6 parallel" pattern described above with reference to FIG. 18, the center robot CR performs the following sub-step SS21. And SS22 will be repeatedly executed.

(サブステップSS21)
センターロボットCRは基板Wの2枚(すなわち、N枚)の同時搬送を、反転受渡ユニットRT2から2つの裏面洗浄処理ユニットSSRに向けて、1回(すなわち、(M1とM2の最大公約数をNで割った商)の回数)実行する。
(Sub-step SS21)
The central robot CR transfers the two (ie, N) substrates W at the same time from the reverse transfer unit RT2 to the two back surface cleaning processing units SSR once (ie, (the greatest common divisor of M1 and M2 is (Quotient divided by N) times).

(サブステップSS22)
センターロボットCRは2回目(すなわち、((M1とM2の最大公約数をNで割った商)+1)回目)の基板搬送では、1枚(すなわち、(M1とM2の最大公約数)/Nの余り)枚)の基板Wを搬送する。
(Sub-step SS22)
The center robot CR transfers one substrate (that is, (the greatest common divisor of M1 and M2) / N in the second (that is, ((the greatest common divisor of M1 and M2 divided by N) +1) th) substrate transport. (The remainder) sheets W are transported.

これにより、図20に示すようなスケジュールが作成される。図20は「裏3並行−表6並行」パターンにおいて複数の基板Wを順次搬送した場合において、反転受渡ユニットRT2、センターロボットCR、裏面洗浄処理ユニットSSR、および表面洗浄処理ユニットSSの各タイミングでの基板Wの保持状態を示す模式図である。なお、図20では、センターロボットCRによる裏面洗浄処理ユニットSSRからの基板Wの搬出工程も説明している。   As a result, a schedule as shown in FIG. 20 is created. FIG. 20 shows the reverse transfer unit RT2, the center robot CR, the back surface cleaning processing unit SSR, and the front surface cleaning processing unit SS at the respective timings when a plurality of substrates W are sequentially transferred in the "back 3 parallel-front 6 parallel" pattern. It is a schematic diagram which shows the holding state of the board | substrate W of FIG. Note that FIG. 20 also illustrates the process of unloading the substrate W from the back surface cleaning processing unit SSR by the center robot CR.

時刻t0までにインデクサロボットIRによって2枚の未処理基板W1、W2が反転受渡ユニットRT2に載置される。そして、時刻t1までに基板W1、W2が反転受渡ユニットRT2により反転される。時刻t1に2枚の基板W1、W2が反転受渡ユニットRT2からセンターロボットCRに同時に受け渡される。時刻t1からt2にかけて基板W1、W2を保持したセンターロボットCRが裏面洗浄処理ユニットSSR1に対向する位置まで移動する。時刻t2に基板W1がセンターロボットCRから裏面洗浄処理ユニットSSR1に受け渡される。その後、裏面洗浄処理ユニットSSR1によって基板W1の裏面の洗浄処理が開始される。また、センターロボットCRが裏面洗浄処理ユニットSSR2に対向する位置まで移動する。そして、基板W2がセンターロボットCRから裏面洗浄処理ユニットSSR2に受け渡される。その後、裏面洗浄処理ユニットSSR2によって基板W2の裏面の洗浄処理が開始される。なお、センターロボットCRから裏面洗浄処理ユニットSSRに受け渡されるタイミングは、基板W2のほうが基板W1よりも若干遅い。しかし、図20では、簡単のため、基板W1と基板W2が同じ時刻t2に、センターロボットCRから裏面洗浄処理ユニットSSRに受け渡されるように図示している。   By time t0, the indexer robot IR places the two unprocessed substrates W1 and W2 on the reverse delivery unit RT2. Then, by the time t1, the substrates W1 and W2 are reversed by the reverse transfer unit RT2. At time t1, the two substrates W1 and W2 are simultaneously transferred from the reverse transfer unit RT2 to the central robot CR. From time t1 to t2, the center robot CR holding the substrates W1 and W2 moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR1. At time t2, the substrate W1 is transferred from the central robot CR to the back surface cleaning processing unit SSR1. Then, the back surface cleaning processing unit SSR1 starts the back surface cleaning processing of the substrate W1. Further, the center robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR2. Then, the substrate W2 is transferred from the central robot CR to the back surface cleaning processing unit SSR2. Then, the back surface cleaning processing unit SSR2 starts the back surface cleaning processing of the substrate W2. The timing of the transfer from the central robot CR to the back surface cleaning processing unit SSR is slightly later for the substrate W2 than for the substrate W1. However, in FIG. 20, for simplification, the substrate W1 and the substrate W2 are illustrated as being transferred from the central robot CR to the back surface cleaning processing unit SSR at the same time t2.

時刻t2からt3にかけてセンターロボットCRが反転受渡ユニットRT2に対向する位置まで移動する。時刻t3までに3枚目の基板W3がインデクサロボットIRにより反転受渡ユニットRT2に載置され、そして、反転受渡ユニットRT2によって反転される。時刻t3に3枚目の基板W3が反転受渡ユニットRT2からセンターロボットCRに受け渡される。時刻t3からt4にかけて、基板W3を保持したセンターロボットCRが裏面洗浄処理ユニットSSR3に対向する位置まで移動する。時刻t4に基板W3がセンターロボットCRから裏面洗浄処理ユニットSSR3に受け渡される。そして、裏面洗浄処理ユニットSSR3によって、基板W3の裏面の洗浄処理が開始される。   From time t2 to time t3, the central robot CR moves to a position facing the reverse delivery unit RT2. By the time t3, the third substrate W3 is placed on the reverse delivery unit RT2 by the indexer robot IR, and then inverted by the reverse delivery unit RT2. At time t3, the third substrate W3 is transferred from the reverse transfer unit RT2 to the central robot CR. From time t3 to t4, the central robot CR holding the substrate W3 moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR3. At time t4, the substrate W3 is transferred from the central robot CR to the back surface cleaning processing unit SSR3. Then, the back surface cleaning processing unit SSR3 starts the cleaning processing of the back surface of the substrate W3.

時刻t4から時刻t5にかけてセンターロボットCRが裏面洗浄処理ユニットSSR1に対向する位置まで移動する。時刻t5に基板W1が裏面洗浄処理ユニットSSR1からセンターロボットCRに受け渡される。次に、センターロボットCRが裏面洗浄処理ユニットSSR2に対向する位置まで移動した後、基板W2が裏面洗浄処理ユニットSSR2からセンターロボットCRに受け渡される。時刻t5からt6にかけて基板W1、W2を保持したセンターロボットCRが反転ユニットRT1に対向する位置まで移動する。時刻t6に基板W1、W2がセンターロボットCRから反転ユニットRT1に同時に受け渡される。時刻t6からt7にかけて反転ユニットRT1が基板W1およびW2を同時に反転させる。時刻t7に基板W1、W2が反転ユニットRT1からセンターロボットCRに同時に受け渡される。時刻t7からt8にかけて基板W1、W2を保持したセンターロボットCRが表面洗浄処理ユニットSS1に対向する位置まで移動する。時刻t8に基板W1がセンターロボットCRから表面洗浄処理ユニットSS1に受け渡される。その後、表面洗浄処理ユニットSS1によって基板W1の表面の洗浄処理が開始される。また、センターロボットCRが表面洗浄処理ユニットSS2に対向する位置まで移動する。そして、基板W2がセンターロボットCRから表面洗浄処理ユニットSS2に受け渡される。その後、表面洗浄処理ユニットSS2によって基板W2の裏面の洗浄処理が開始される。   From time t4 to time t5, the center robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR1. At time t5, the substrate W1 is transferred from the back surface cleaning processing unit SSR1 to the central robot CR. Next, after the center robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR2, the substrate W2 is transferred from the back surface cleaning processing unit SSR2 to the center robot CR. From time t5 to time t6, the central robot CR holding the substrates W1 and W2 moves to a position facing the reversing unit RT1. At time t6, the substrates W1 and W2 are simultaneously transferred from the central robot CR to the reversing unit RT1. From time t6 to t7, the reversing unit RT1 reverses the substrates W1 and W2 at the same time. At time t7, the substrates W1 and W2 are simultaneously transferred from the reversing unit RT1 to the central robot CR. From time t7 to time t8, the central robot CR holding the substrates W1 and W2 moves to a position facing the surface cleaning processing unit SS1. At time t8, the substrate W1 is transferred from the central robot CR to the surface cleaning processing unit SS1. Then, the surface cleaning processing unit SS1 starts the cleaning processing of the surface of the substrate W1. Further, the central robot CR moves to a position facing the surface cleaning processing unit SS2. Then, the substrate W2 is transferred from the central robot CR to the surface cleaning processing unit SS2. After that, the front surface cleaning processing unit SS2 starts the cleaning processing of the back surface of the substrate W2.

時刻t8からt9にかけてセンターロボットCRが裏面洗浄処理ユニットSSR3に対向する位置まで移動する。時刻t9に裏面洗浄処理ユニットSSR3からセンターロボットCRに基板W3が受け渡される。時刻t9からt10にかけて基板W3を保持したセンターロボットCRが反転ユニットRT1に対向する位置まで移動する。時刻t10に基板W3がセンターロボットCRから反転ユニットRT1に受け渡される。時刻t10からt11にかけて反転ユニットRT1が基板W3を反転させる。時刻t11に基板W3が反転ユニットRT1からセンターロボットCRに受け渡される。時刻t11からt12にかけて基板W3を保持したセンターロボットCRが表面洗浄処理ユニットSS3に対向する位置まで移動する。時刻t12に基板W3がセンターロボットCRから表面洗浄処理ユニットSS3に受け渡される。その後、表面洗浄処理ユニットSS3により基板W3の表面洗浄処理が開始される。   From time t8 to time t9, the central robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR3. At time t9, the substrate W3 is transferred from the back surface cleaning processing unit SSR3 to the central robot CR. From time t9 to time t10, the central robot CR holding the substrate W3 moves to a position facing the reversing unit RT1. At time t10, the substrate W3 is transferred from the central robot CR to the reversing unit RT1. The reversing unit RT1 reverses the substrate W3 from time t10 to time t11. At time t11, the substrate W3 is transferred from the reversing unit RT1 to the central robot CR. From time t11 to t12, the central robot CR holding the substrate W3 moves to a position facing the surface cleaning processing unit SS3. At time t12, the substrate W3 is transferred from the central robot CR to the surface cleaning processing unit SS3. Then, the surface cleaning processing unit SS3 starts the surface cleaning processing of the substrate W3.

時刻t12からt13にかけてセンターロボットCRが反転受渡ユニットRT2に対向する位置まで移動する。時刻t13までに4枚目、5枚目の基板W4、W5がインデクサロボットIRによって反転受渡ユニットRT2に載置されて、反転受渡ユニットRT2によって反転される。時刻t13に基板W4、W5が反転受渡ユニットRT2からセンターロボットCRに同時に受け渡される。時刻t13からt14にかけて基板W4、W5を保持したセンターロボットCRが裏面洗浄処理ユニットSSR1に対向する位置まで移動する。時刻t14に基板W4がセンターロボットCRから裏面洗浄処理ユニットSSR1に受け渡される。その後、裏面洗浄処理ユニットSSR1によって基板W4の裏面の洗浄処理が開始される。また、センターロボットCRが裏面洗浄処理ユニットSSR2に対向する位置まで移動する。そして、基板W5がセンターロボットCRから裏面洗浄処理ユニットSSR2に受け渡される。その後、裏面洗浄処理ユニットSSR2によって基板W5の裏面の洗浄処理が開始される。なお、センターロボットCRから裏面洗浄処理ユニットSSRに受け渡されるタイミングは、基板W5のほうが基板W4よりも若干遅い。しかし、図20では、簡単のため、基板W4と基板W5が同じ時刻t14に、センターロボットCRから裏面洗浄処理ユニットSSRに受け渡されるように図示している。   From time t12 to t13, the central robot CR moves to a position facing the reverse delivery unit RT2. By time t13, the fourth and fifth substrates W4 and W5 are placed on the reverse delivery unit RT2 by the indexer robot IR and inverted by the reverse delivery unit RT2. At time t13, the substrates W4 and W5 are simultaneously transferred from the reverse transfer unit RT2 to the central robot CR. From time t13 to time t14, the central robot CR holding the substrates W4 and W5 moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR1. At time t14, the substrate W4 is transferred from the central robot CR to the back surface cleaning processing unit SSR1. Then, the back surface cleaning processing unit SSR1 starts the back surface cleaning processing of the substrate W4. Further, the center robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR2. Then, the substrate W5 is transferred from the central robot CR to the back surface cleaning processing unit SSR2. After that, the back surface cleaning processing unit SSR2 starts the back surface cleaning processing of the substrate W5. The substrate W5 is slightly later than the substrate W4 when it is transferred from the central robot CR to the back surface cleaning processing unit SSR. However, in FIG. 20, for simplification, the substrate W4 and the substrate W5 are illustrated as being transferred from the central robot CR to the back surface cleaning processing unit SSR at the same time t14.

時刻t14からt15にかけてセンターロボットCRが反転受渡ユニットRT2に対向する位置まで移動する。時刻t15までに6枚目の基板W6がインデクサロボットIRにより反転受渡ユニットRT2に載置され、反転受渡ユニットRT2によって反転されている。時刻t15に6枚目の基板W6が反転受渡ユニットRT2からセンターロボットCRに受け渡される。時刻t15からt16にかけて、基板W6を保持したセンターロボットCRが裏面洗浄処理ユニットSSR3に対向する位置まで移動する。時刻t16に基板W6がセンターロボットCRから裏面洗浄処理ユニットSSR3に受け渡される。そして、裏面洗浄処理ユニットSSR3によって、基板W6の裏面の洗浄処理が開始される。   From time t14 to time t15, the central robot CR moves to a position facing the reverse delivery unit RT2. By time t15, the sixth substrate W6 is placed on the reversing and delivering unit RT2 by the indexer robot IR, and is reversed by the reversing and delivering unit RT2. At time t15, the sixth substrate W6 is transferred from the reverse transfer unit RT2 to the central robot CR. From time t15 to t16, the central robot CR holding the substrate W6 moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR3. At time t16, the substrate W6 is transferred from the central robot CR to the back surface cleaning processing unit SSR3. Then, the back surface cleaning processing unit SSR3 starts the back surface cleaning processing of the substrate W6.

時刻t16から時刻t17にかけてセンターロボットCRが裏面洗浄処理ユニットSSR1に対向する位置まで移動する。時刻t17に基板W4が裏面洗浄処理ユニットSSR1からセンターロボットCRに受け渡される。次に、センターロボットCRが裏面洗浄処理ユニットSSR2に対向する位置まで移動した後、基板W5が裏面洗浄処理ユニットSSR2からセンターロボットCRに受け渡される。時刻t17からt18にかけて基板W4、W5を保持したセンターロボットCRが反転ユニットRT1に対向する位置まで移動する。時刻t18に基板W4、W5がセンターロボットCRから反転ユニットRT1に同時に受け渡される。時刻t18からt19にかけて反転ユニットRT1が基板W4およびW5を同時に反転させる。時刻t19に基板W4、W5が反転ユニットRT1からセンターロボットCRに同時に受け渡される。時刻t19からt20にかけて基板W4、W5を保持したセンターロボットCRが表面洗浄処理ユニットSS4に対向する位置まで移動する。時刻t20に基板W4がセンターロボットCRから表面洗浄処理ユニットSS4に受け渡される。その後、表面洗浄処理ユニットSS4によって基板W4の表面の洗浄処理が開始される。また、センターロボットCRが表面洗浄処理ユニットSS5に対向する位置まで移動する。そして、基板W5がセンターロボットCRから表面洗浄処理ユニットSS5に受け渡される。その後、表面洗浄処理ユニットSS5によって基板W5の表面の洗浄処理が開始される。   From time t16 to time t17, the central robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR1. At time t17, the substrate W4 is transferred from the back surface cleaning processing unit SSR1 to the central robot CR. Next, after the center robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR2, the substrate W5 is transferred from the back surface cleaning processing unit SSR2 to the center robot CR. From time t17 to time t18, the center robot CR holding the substrates W4 and W5 moves to a position facing the reversing unit RT1. At time t18, the substrates W4 and W5 are simultaneously transferred from the central robot CR to the reversing unit RT1. From time t18 to time t19, the reversing unit RT1 reverses the substrates W4 and W5 at the same time. At time t19, the substrates W4 and W5 are simultaneously transferred from the reversing unit RT1 to the central robot CR. From time t19 to time t20, the central robot CR holding the substrates W4 and W5 moves to a position facing the surface cleaning processing unit SS4. At time t20, the substrate W4 is transferred from the central robot CR to the surface cleaning processing unit SS4. Then, the surface cleaning processing unit SS4 starts the cleaning processing of the surface of the substrate W4. Further, the central robot CR moves to a position facing the surface cleaning processing unit SS5. Then, the substrate W5 is transferred from the central robot CR to the surface cleaning processing unit SS5. Then, the surface cleaning processing unit SS5 starts the cleaning processing of the surface of the substrate W5.

時刻t20からt21にかけてセンターロボットCRが裏面洗浄処理ユニットSSR3に対向する位置まで移動する。時刻t21に裏面洗浄処理ユニットSSR3からセンターロボットCRに基板W6が受け渡される。時刻t21からt22にかけて基板W6を保持したセンターロボットCRが反転ユニットRT1に対向する位置まで移動する。時刻t22に基板W6がセンターロボットCRから反転ユニットRT1に受け渡される。時刻t22からt23にかけて反転ユニットRT1が基板W6を反転させる。時刻t23に基板W6が反転ユニットRT1からセンターロボットCRに受け渡される。時刻t23からt24にかけて基板W6を保持したセンターロボットCRが表面洗浄処理ユニットSS6に対向する位置まで移動する。時刻t24に基板W6がセンターロボットCRから表面洗浄処理ユニットSS6に受け渡される。その後、表面洗浄処理ユニットSS6により基板W6の表面の洗浄処理が開始される。   From time t20 to time t21, the central robot CR moves to a position facing the back surface cleaning processing unit SSR3. At time t21, the substrate W6 is transferred from the back surface cleaning processing unit SSR3 to the central robot CR. From time t21 to time t22, the central robot CR holding the substrate W6 moves to a position facing the reversing unit RT1. At time t22, the substrate W6 is transferred from the central robot CR to the reversing unit RT1. The reversing unit RT1 reverses the substrate W6 from time t22 to time t23. At time t23, the substrate W6 is transferred from the reversing unit RT1 to the central robot CR. From time t23 to time t24, the central robot CR holding the substrate W6 moves to a position facing the surface cleaning processing unit SS6. At time t24, the substrate W6 is transferred from the central robot CR to the surface cleaning processing unit SS6. Then, the surface cleaning processing unit SS6 starts the cleaning processing of the surface of the substrate W6.

このように、センターロボットCRは、反転受渡ユニットRT2(セグメントS2)から、3つの裏面洗浄処理ユニットSSRが並行処理を実行する裏面洗浄部12(セグメントS5)に向けて、2枚→1枚→2枚→1枚…のリズムで基板Wを搬送している。   In this way, the center robot CR moves from the reverse delivery unit RT2 (segment S2) to the back surface cleaning unit 12 (segment S5) in which the three back surface cleaning processing units SSR perform the parallel processing. The substrate W is transported at a rhythm of 2 sheets → 1 sheet.

同様に、センターロボットCRは、裏面洗浄処理部12から反転ユニットRT1(セグメントS7)に向けて、2枚→1枚→2枚→1枚…のリズムで基板Wを搬送している。センターロボットCRは、反転ユニットRT1から、6つの表面洗浄処理ユニットSSが並行処理を実行する表面洗浄部11(セグメントS9)に向けて、2枚→1枚→2枚→1枚…のリズムで基板Wを搬送している。   Similarly, the center robot CR conveys the substrate W from the back surface cleaning processing section 12 toward the reversing unit RT1 (segment S7) at a rhythm of 2 sheets → 1 sheet → 2 sheets → 1 sheet. The center robot CR moves from the reversing unit RT1 toward the front surface cleaning unit 11 (segment S9) where the six front surface cleaning processing units SS perform parallel processing at a rhythm of 2 sheets → 1 sheet → 2 sheets → 1 sheet ... The substrate W is being transported.

<3.4 本発明の一般化>
ここで本発明の内容を一般化しておく。本発明の目的は、複数枚(M枚。)の基板Wを同時に保持する1以上のセグメント(キャリアC、反転ユニットRT1、反転受渡ユニットRT2。並行処理が可能な複数の表面洗浄処理ユニットSSを有する表面洗浄処理部11、および並行処理が可能な複数の裏面洗浄処理ユニットSSRを有する裏面洗浄処理部12など)に向けて、あるいは該セグメントから、複数枚(N枚。NはMの約数でない)の基板を同時に搬送可能な基板搬送部(インデクサロボットIRまたはセンターロボットCR)によって、リズミカルに基板Wの搬送を実行することにある。
<3.4 Generalization of the present invention>
Here, the contents of the present invention will be generalized. An object of the present invention is to provide one or more segments (carrier C, reversal unit RT1, reversal delivery unit RT2) that simultaneously hold a plurality of (M) substrates W. A plurality of surface cleaning processing units SS capable of parallel processing. A plurality of sheets (N sheets, N is a divisor of M) toward or from the front surface cleaning processing section 11 and the back surface cleaning processing section 12 having a plurality of back surface cleaning processing units SSR capable of parallel processing. The substrate W is rhythmically transported by the substrate transport unit (indexer robot IR or center robot CR) capable of simultaneously transporting the (not) substrate.

まず、1つのセグメントに向けての、あるいは1つのセグメントからの、基板搬送部による基板搬送処理に着目する。MがNで割り切れるときは、N枚の基板Wの同時搬送を繰り返し行う。MがNで割り切れないときには、以下の式1を満足するような変数i1,i2,…iNを設定する。そして、変数i1,i2,…iNが代入された式1を参照して、基板搬送部の動作スケジュールを設定する。   First, attention is paid to the substrate transfer processing performed by the substrate transfer unit toward or from one segment. When M is divisible by N, the simultaneous transfer of N substrates W is repeated. When M is not divisible by N, variables i1, i2, ... iN that satisfy the following expression 1 are set. Then, the operation schedule of the substrate transfer unit is set with reference to the equation 1 in which the variables i1, i2, ...

M=N×i1+(N−1)×i2+(N−2)×i3+…+1×iN・・・式1
但し、i1,i2,i3,…iNは、いずれも0以上、(M/N)以下の任意の整数である。
M = N * i1 + (N-1) * i2 + (N-2) * i3 + ... + 1 * iN ... Formula 1
However, i1, i2, i3, ... iN are all arbitrary integers of 0 or more and (M / N) or less.

つまり、次の第1工程と、第2工程と、第3工程と、・・・第N工程とからなる基板搬送サイクルが、繰り返し実行される。   In other words, the substrate transfer cycle including the following first step, second step, third step, ... Nth step is repeatedly executed.

[第1工程]N枚の基板Wを、1つのセグメントから、または当該1つのセグメントに向けて基板搬送部によって同時に搬送する基板搬送ステップがi1回だけ実行される。   [First Step] The substrate transfer step of simultaneously transferring the N substrates W from or to one segment by the substrate transfer unit is executed only i1 times.

[第2工程](N−1)枚の基板Wを、1つのセグメントから、または当該1つのセグメントに向けて基板搬送部によって同時に搬送する基板搬送ステップがi2回だけ実行される。   [Second Step] The substrate transfer step of simultaneously transferring (N-1) substrates W from or to one segment by the substrate transfer unit is executed i2 times.

[第3工程](N−2)枚の基板Wを、1つのセグメントから、または当該1つのセグメントに向けて基板搬送部によって同時に搬送する基板搬送ステップがi3回だけ実行される。   [Third Process] The substrate transfer step of simultaneously transferring (N−2) substrates W from one segment or toward the one segment by the substrate transfer unit is performed i3 times.

[第N工程]1枚の基板Wを、1つのセグメントから、または当該1つのセグメントに向けて基板搬送部によって同時に搬送する基板搬送ステップがiN回だけ実行される。   [Nth Step] The substrate transfer step of simultaneously transferring one substrate W from or to one segment by the substrate transfer unit is executed iN times.

なお、基板搬送サイクルでは、第1工程から第N工程が、この順番に行われる態様だけに限られず、例えば、第1工程から第N工程が、任意の順番で行われても良い。また、第1工程から第N工程が、任意の順番で時間順次に行われるだけに限られず、例えば、第1工程から第N工程のうちの2以上の工程の少なくとも一部が並行して実行されても良い。   It should be noted that in the substrate transfer cycle, the first step to the Nth step are not limited to the mode performed in this order, and for example, the first step to the Nth step may be performed in any order. Further, the first process to the Nth process are not limited to be sequentially performed in an arbitrary order in a time sequence. For example, at least a part of two or more processes of the first process to the Nth process is performed in parallel. May be done.

換言すれば、M枚(Mは2以上の整数)の基板Wを同時に保持することが可能な1つのセグメントから、または当該1つのセグメントに向けて、N枚(NはMの約数ではない2以上の整数)の基板Wを同時に搬送することが可能な基板搬送部によって、次の基板搬送サイクルが繰り返し実行される。但し、ここでは、N個の変数ik(kは1〜Nの整数)が、それぞれ0以上で且つ(M/N)以下の任意の整数であるとともに下式2を満たす。そして、基板搬送サイクルでは、1つのセグメントから、または1つのセグメントに向けて、(N−k+1)枚の基板Wを基板搬送部によって同時に搬送する基板搬送ステップをik回行う搬送工程が、N個の変数ikのうちの自然数である各変数によって基板搬送ステップの回数が規定される搬送工程について行われる。   In other words, N pieces (N is not a divisor of M) from or toward one segment capable of simultaneously holding M pieces (M is an integer of 2 or more) of substrates W. The next substrate transfer cycle is repeatedly executed by the substrate transfer unit capable of transferring (integral number of 2 or more) substrates W at the same time. However, here, each of the N variables ik (k is an integer of 1 to N) is an arbitrary integer of 0 or more and (M / N) or less, and the following expression 2 is satisfied. Then, in the substrate transfer cycle, N transfer steps are performed ik times of the substrate transfer step of simultaneously transferring (N−k + 1) substrates W by the substrate transfer unit from or toward one segment. Is carried out for the transfer process in which the number of substrate transfer steps is defined by each variable which is a natural number among the variables ik.

Figure 0006688361
Figure 0006688361

そして、i1が自然数であれば、基板搬送サイクルには、1つのセグメントから、または当該1つのセグメントに向けて、N枚の基板を基板搬送部によって同時に搬送する基板搬送ステップをi1回行う搬送工程が含まれる。これにより、基板処理装置におけるスループットが向上する。   Then, if i1 is a natural number, in the substrate transfer cycle, a substrate transfer step of simultaneously transferring N substrates from or to one segment by the substrate transfer unit is performed i1 times. Is included. This improves the throughput of the substrate processing apparatus.

ここで、具体的に、「裏10枚並行」で3枚の同時搬送(M=10、N=3)の場合を例にとって説明する。   Here, a case where three sheets are simultaneously conveyed (M = 10, N = 3) in “10 sheets parallel to the back” will be specifically described.

この場合、式1および式2を満たす変数i1,i2,i3,…iNの組み合わせとしては以下のものを例示することができる。   In this case, the following can be exemplified as the combinations of the variables i1, i2, i3, ... iN that satisfy the expressions 1 and 2.

10=3×3+2×0+1×1
(この場合、i1=3、i2=0、iN=1) ・・・・[1]
10=3×2+2×2+1×0
(この場合、i1=2、i2=2、iN=0) ・・・・[2]
10=3×2+2×1+1×2
(この場合、i1=2、i2=1、iN=2) ・・・・[3]
10=3×2+2×0+1×4
(この場合、i1=2、i2=0、iN=4) ・・・・[4]
10=3×1+2×3+1×1
(この場合、i1=1、i2=3、iN=1) ・・・・[5]
[1]は前記した計画ロジック1に対応するものであり、3枚の同時搬送を3回繰り返した後、1枚搬送を1回行うサイクルの繰り返しで基板Wの搬送を行う動作スケジュールである。[2]は、3枚の同時搬送を2回繰り返した後、2枚の同時搬送を2回行うサイクルの繰り返しで基板Wの搬送を行う動作スケジュールである。[3]は、3枚の同時搬送を2回繰り返した後、2枚の同時搬送を1回、1枚搬送を2回行うサイクルの繰り返しで基板Wの搬送を行う動作スケジュールである。[4]は、3枚の同時搬送を2回繰り返した後、1枚搬送を4回行うサイクルの繰り返しで基板Wの搬送を行う動作スケジュールである。[5]は、3枚の同時搬送を1回行った後、2枚の同時搬送を3回、1枚搬送を1回行うサイクルの繰り返しで基板Wの搬送を行う動作スケジュールである。[1]〜[5]のいずれの場合においても、基板搬送部が1回の基板搬送サイクルを完了する間に、セグメントに向けての、あるいはセグメントからの、基板搬送部によるM枚の基板Wの搬送が実行される。
10 = 3 × 3 + 2 × 0 + 1 × 1
(In this case, i1 = 3, i2 = 0, iN = 1) ... [1]
10 = 3 × 2 + 2 × 2 + 1 × 0
(In this case, i1 = 2, i2 = 2, iN = 0) ... [2]
10 = 3 × 2 + 2 × 1 + 1 × 2
(In this case, i1 = 2, i2 = 1, iN = 2) ... [3]
10 = 3 × 2 + 2 × 0 + 1 × 4
(In this case, i1 = 2, i2 = 0, iN = 4) ... [4]
10 = 3 × 1 + 2 × 3 + 1 × 1
(In this case, i1 = 1, i2 = 3, iN = 1) ... [5]
[1] corresponds to the planning logic 1 described above, and is an operation schedule in which the substrate W is transported by repeating a cycle in which three substrates are simultaneously transported three times and then one substrate is transported once. [2] is an operation schedule for carrying the substrate W by repeating a cycle of carrying out simultaneous carrying of two sheets twice after carrying out simultaneous carrying of three sheets twice. [3] is an operation schedule in which the substrate W is transferred by repeating a cycle in which the simultaneous transfer of three sheets is repeated twice and the simultaneous transfer of two sheets is performed once and the single sheet is transferred twice. [4] is an operation schedule in which the substrate W is transferred by repeating a cycle of performing one transfer four times after repeating three simultaneous transfer. [5] is an operation schedule in which the substrate W is transported by repeating a cycle in which three substrates are simultaneously transported once, two substrates are simultaneously transported three times, and one substrate is once transported. In any of [1] to [5], while the substrate transfer unit completes one substrate transfer cycle, M substrates W to or from the segment are transferred by the substrate transfer unit. Is carried out.

次に、基板搬送部が、複数のセグメント(M1枚の基板を同時に保持することが可能な第1セグメントR1およびM2枚の基板Wを同時に保持することが可能な第2セグメントR2)の間で基板Wを順番に搬送する場合の基板搬送処理を検討する。まず、M1枚とM2枚の両方がNで割り切れないときは、M1とM2の最大公約数であるM3を求める。そして、以下の式3を満足するような変数i1,i2,…iNを設定する。そして、変数i1,i2,…iNが代入された式3を参照して、基板搬送部の動作スケジュールを設定する。   Next, the substrate transfer unit is arranged between the plurality of segments (the first segment R1 capable of simultaneously holding M1 substrates and the second segment R2 capable of simultaneously holding M2 substrates W). A substrate transfer process in the case of sequentially transferring the substrates W will be considered. First, when both M1 and M2 are not divisible by N, M3, which is the greatest common divisor of M1 and M2, is obtained. Then, variables i1, i2, ... iN that satisfy the following Expression 3 are set. Then, the operation schedule of the substrate transfer unit is set with reference to the equation 3 in which the variables i1, i2, ...

M3=N×i1+(N−1)×i2+(N−2)×i3+…+1×iN・・・式3
(但し、i1〜iNは、いずれも0以上、(M/N)以下の任意の整数)
ここでは、第1セグメントと、第2セグメントと、第1セグメントおよび第2セグメントに対して基板Wを順番に搬送すると共に複数枚(N枚。但し、NはM1およびM2の少なくとも一方の約数でない)の基板Wを保持可能な基板搬送部と、が用いられる。
M3 = N * i1 + (N-1) * i2 + (N-2) * i3 + ... + 1 * iN ... Formula 3
(However, i1 to iN are all integers of 0 or more and (M / N) or less)
Here, the first segment, the second segment, the substrate W are sequentially transported to the first segment and the second segment, and a plurality of substrates (N sheets, where N is a divisor of at least one of M1 and M2). Substrate transporting part capable of holding the substrate W (not).

つまり、次の第1工程と、第2工程と、第3工程と、・・・第N工程とからなる基板搬送サイクルが、繰り返し実行される。   In other words, the substrate transfer cycle including the following first step, second step, third step, ... Nth step is repeatedly executed.

[第1工程]第1セグメントに同時に搬送し、次に当該N枚の基板Wを第1セグメントから搬出し、次に第2セグメントに同時に搬送する基板搬送がi1回だけ実行される。   [First Step] Substrate transport is performed i1 times, in which the N substrates W are simultaneously transported to the first segment, then the N substrates W are unloaded from the first segment, and then simultaneously transported to the second segment.

[第2工程](N−1)枚の基板を、第1セグメントに同時に搬送し、次に当該(N−1)枚の基板Wを第1セグメントから搬出し、次に第2セグメントに同時に搬送する基板搬送がi2回だけ実行される。   [Second step] (N-1) substrates are simultaneously transferred to the first segment, then the (N-1) substrates W are unloaded from the first segment, and then simultaneously transferred to the second segment. Substrate transportation is performed i2 times.

[第3工程](N−2)枚の基板を、第1セグメントに同時に搬送し、次に当該(N−2)枚の基板Wを第1セグメントから搬出し、次に第2セグメントに同時に搬送する基板搬送がi3回だけ実行される。   [Third step] (N-2) substrates are simultaneously transferred to the first segment, then the (N-2) substrates W are unloaded from the first segment, and then simultaneously transferred to the second segment. Substrate transportation is carried out i3 times.

[第N工程]1枚の基板を第1セグメントに搬送し、次に当該1枚の基板を第1セグメントから搬出し、次に第2セグメントに搬送する基板搬送がiN回だけ実行される。   [Nth Step] One substrate is transported to the first segment, then the one substrate is unloaded from the first segment, and then the substrate is transported to the second segment only iN times.

なお、基板搬送サイクルでは、第1工程から第N工程が、この順番に行われる態様だけに限られず、例えば、第1工程から第N工程が、任意の順番で行われても良い。また、第1工程から第N工程が、任意の順番で時間順次に行われるだけに限られず、例えば、第1工程から第N工程のうちの2以上の工程の少なくとも一部が並行して実行されても良い。   It should be noted that in the substrate transfer cycle, the first step to the Nth step are not limited to the mode performed in this order, and for example, the first step to the Nth step may be performed in any order. Further, the first process to the Nth process are not limited to be sequentially performed in an arbitrary order in a time sequence. For example, at least a part of two or more processes of the first process to the Nth process is performed in parallel. May be done.

換言すれば、M1枚(M1は2以上の整数)の基板を同時に保持することが可能な第1セグメントと、M2枚(M2は2以上の整数)の基板を同時に保持することが可能な第2セグメントと、第1セグメントおよび第2セグメントに対して基板を順番に搬送するとともにN枚(NはM1およびM2の少なくとも一方の約数ではない2以上の整数)の基板を保持することが可能な基板搬送部によって、次の基板搬送サイクルが繰り返し実行される。但し、ここでは、M1とM2の最大公約数がM3であり、N個の変数ik(kは1〜Nの整数)が、それぞれ0以上で且つ(M3/N)以下の任意の整数であるとともに下式4を満たす。そして、基板搬送サイクルでは、(N−k+1)枚の基板を第1セグメントに向けて同時に搬送し、次に当該(N−k+1)枚の基板を第1セグメントから搬出し、次に当該(N−k+1)枚の基板を第2セグメントに向けて同時に搬送する基板搬送ステップをik回行う搬送工程が、N個の変数ikのうちの自然数である各変数によって基板搬送ステップの回数が規定される搬送工程について行われる。   In other words, the first segment capable of simultaneously holding M1 sheets (M1 is an integer of 2 or more) and the first segment capable of simultaneously holding M2 sheets (M2 is an integer of 2 or more). It is possible to transfer two segments and substrates sequentially to the first segment and the second segment, and hold N sheets (N is an integer of 2 or more that is not a divisor of at least one of M1 and M2). The next substrate transfer cycle is repeatedly executed by the different substrate transfer unit. However, here, the greatest common divisor of M1 and M2 is M3, and N variables ik (k is an integer of 1 to N) are arbitrary integers of 0 or more and (M3 / N) or less. And the following expression 4 is satisfied. Then, in the substrate transport cycle, (N−k + 1) substrates are simultaneously transported toward the first segment, then the (N−k + 1) substrates are unloaded from the first segment, and then the (N -K + 1) In the transfer process of performing ik substrate transfer steps of simultaneously transferring the substrates toward the second segment, the number of substrate transfer steps is defined by each variable that is a natural number among the N variables ik. It is performed about a conveyance process.

Figure 0006688361
Figure 0006688361

そして、i1が自然数であれば、基板搬送サイクルには、基板搬送部によって、N枚の基板を、第1セグメントに向けて同時に搬送する動作、当該N枚の基板を第1セグメントから搬出する動作、および当該N枚の基板を第2セグメントに向けて同時に搬送する動作を順次に実行する基板搬送ステップをi1回行う搬送工程が含まれる。これにより、基板処理装置におけるスループットが向上する。   If i1 is a natural number, in the substrate transfer cycle, the substrate transfer unit simultaneously transfers N substrates toward the first segment, and the operation of unloading the N substrates from the first segment. , And a carrying step of carrying out the board carrying step of carrying out the operation of carrying simultaneously the N substrates toward the second segment at the same time i1 times. This improves the throughput of the substrate processing apparatus.

ここで、具体的に、「裏3枚並行−表6枚並行」で2枚の同時搬送を行う場合(M1枚=3枚、M2枚=6枚、N枚=2枚)を例にとって説明する。   Here, a specific description will be given of a case where two sheets are simultaneously conveyed in “back three sheets parallel−front six sheets parallel” (M1 sheet = 3 sheets, M2 sheet = 6 sheets, N sheet = 2 sheets). To do.

M1枚とM2枚の最大公約数M3枚は「3」となる。したがって、式3および式4を満たすi1、i2の組み合わせはi1=1、i2=1であり、以下の式が得られる。   The greatest common denominator of M1 and M2 is M3, which is “3”. Therefore, the combination of i1 and i2 satisfying the expressions 3 and 4 is i1 = 1 and i2 = 1, and the following expressions are obtained.

3=2×1+1×1 ・・・・・・[6]。   3 = 2 × 1 + 1 × 1 [6].

[6]は前記した計画ロジック2に対応するものであり、2枚の同時搬送を1回行った後、1枚搬送を1回行うサイクルの繰り返しで複数の基板Wを順次第1セグメントR1に搬送し、次に第1セグメントR1から搬出した基板を第2セグメントR2に搬送する。この場合、リズム搬送を実現される。   [6] corresponds to the planning logic 2 described above. A plurality of substrates W are sequentially transferred to the first segment R1 by repeating a cycle in which two sheets are simultaneously conveyed once and then one sheet is conveyed once. The substrate that has been transported and then unloaded from the first segment R1 is transported to the second segment R2. In this case, rhythm conveyance is realized.

なお、第1実施形態では、センターロボットCRと中継部50、表面洗浄処理部11および裏面洗浄処理部12との基板Wの受渡を中心に説明した。しかし、本発明は、インデクサロボットIRが、キャリアCまたは中継部50と基板Wを受け渡す場合にも適用可能である。また、第1実施形態では、スケジュール作成プログラムP1によりインデクサロボットIRやセンターロボットCRの動作スケジュールおよびスケジュールデータSDが作成されたが、スケジュール作成プログラムP1と同様の機能を有する制御回路によってこれらが作成されてもよい。   In the first embodiment, the delivery of the substrate W between the central robot CR, the relay unit 50, the front surface cleaning processing unit 11, and the back surface cleaning processing unit 12 has been mainly described. However, the present invention is also applicable to the case where the indexer robot IR transfers the carrier C or the relay unit 50 and the substrate W. Further, in the first embodiment, the schedule creation program P1 creates the operation schedules of the indexer robot IR and the center robot CR and the schedule data SD, but these are created by the control circuit having the same function as the schedule creation program P1. May be.

第1実施形態において、基板処理装置1としてスクラブ洗浄処理装置を例にスケジュールを作成する構成を説明したが、本発明における基板処理装置1はスクラブ洗浄処理装置に限られるものではく、ブラシ洗浄を伴わない枚葉基板洗浄装置や、冷却処理装置や乾燥処理装置など種々の基板処理装置に用いることが可能である。   In the first embodiment, the scrub cleaning processing apparatus is used as an example of the substrate processing apparatus 1 to describe the configuration for creating a schedule. However, the substrate processing apparatus 1 according to the present invention is not limited to the scrub cleaning processing apparatus, and brush cleaning may be performed. It can be used for various substrate processing apparatuses such as a single-wafer substrate cleaning apparatus, a cooling processing apparatus, and a drying processing apparatus which are not accompanied by this.

1 基板処理装置
2 インデクサ区画
3 処理区画(処理部)
4 キャリア保持部
6b,6c,7b,7c,13b,14b,15b,16b ハンド
11 表面洗浄処理部
12 裏面洗浄処理部
60 制御部(スケジュール作成装置)
CR センターロボット(搬送手段)
P0 処理プログラム
P1 スケジュール作成プログラム
PASS 基板載置部
RT1 反転ユニット
RT2 反転受渡ユニット
SS(SS1〜SS8) 表面洗浄処理ユニット
SSR(SSR1〜SSR8) 裏面洗浄処理ユニット
1 substrate processing apparatus 2 indexer section 3 processing section (processing section)
4 carrier holding section 6b, 6c, 7b, 7c, 13b, 14b, 15b, 16b hand 11 front surface cleaning processing section 12 back surface cleaning processing section 60 control section (schedule creation device)
CR center robot (transportation means)
P0 processing program P1 schedule creation program PASS substrate platform RT1 reversing unit RT2 reversing delivery unit SS (SS1 to SS8) front surface cleaning processing unit SSR (SSR1 to SSR8) back surface cleaning processing unit

Claims (11)

中継部と、該中継部からの基板の搬出または該中継部への基板の搬入が可能なセンターロボットと、該センターロボットが基板を搬入および搬出することが可能な複数の処理ユニットと、を有する基板処理装置における基板搬送方法であって、
(a)前記中継部が同時に保持することのできる基板の枚数を特定する工程と、
(b)前記センターロボットが同時に搬送することのできる基板の枚数を決定する工程と、
(c)前記基板処理装置の内部での個々の基板の搬送内容を決定するフローレシピの情報に基づいて、前記複数の処理ユニットのうちの並行した処理が可能な処理ユニットの数を決定する工程と、
(d)前記工程(a)で特定された基板の枚数と、前記工程(b)で決定された基板の枚数と、前記工程(c)で決定された処理ユニットの数と、に基づいて、前記センターロボットによる基板搬送サイクルと、前記工程(c)で決定された数の処理ユニットにおける基板処理の開始のタイミングのサイクルと、が同期して進行するように、前記センターロボットの動作スケジュールと、各前記処理ユニットでの基板処理スケジュールと、を統合したスケジュールデータを作成する工程と、
(e)前記スケジュールデータに従って、前記中継部および前記複数の処理ユニットと前記センターロボットとの基板の受け渡し動作、および前記基板処理装置の全体を通しての基板処理動作を行う工程と、を有し、
前記基板搬送サイクルは、前記工程(b)において決定された基板の枚数よりも少ない枚数の基板を前記センターロボットが前記複数の処理ユニットに向けて搬送する第1の動作を含み、
前記基板搬送サイクルにおいて、前記第1の動作が繰り返し実行される、基板搬送方法。
A relay unit, a center robot capable of unloading a substrate from the relay unit or loading a substrate into the relay unit, and a plurality of processing units capable of loading and unloading the substrate by the center robot. A substrate transfer method in a substrate processing apparatus, comprising:
(a) a step of specifying the number of substrates that the relay section can simultaneously hold,
(b) determining the number of substrates that the center robot can transfer simultaneously,
(c) Determining the number of processing units that can perform parallel processing among the plurality of processing units based on information of a flow recipe that determines the transport content of each substrate inside the substrate processing apparatus When,
(d) Based on the number of substrates specified in the step (a), the number of substrates determined in the step (b), and the number of processing units determined in the step (c), An operation schedule of the center robot so that the substrate transfer cycle by the center robot and the cycle of the timing of starting the substrate processing in the number of processing units determined in the step (c) proceed in synchronization with each other; Creating a schedule data integrating the substrate processing schedule in each of the processing units;
(e) according to said schedule data, have a, and performing a substrate processing operation throughout delivery operation, and the substrate processing apparatus of the substrate and the center robot and the relay unit and the plurality of processing units,
The substrate transfer cycle includes a first operation in which the center robot transfers a smaller number of substrates to the plurality of processing units than the number of substrates determined in the step (b).
A substrate transfer method , wherein the first operation is repeatedly executed in the substrate transfer cycle .
前記中継部は、複数の基板載置部を含む中継ユニット、反転ユニットおよび反転受渡ユニットを含む、請求項1に記載の基板搬送方法。   The substrate transfer method according to claim 1, wherein the relay unit includes a relay unit including a plurality of substrate mounting units, a reversal unit, and a reversal transfer unit. 前記工程(b)において決定された基板の枚数よりも少ない枚数の基板が前記中継部に載置されているときに、前記センターロボットは、前記中継部から基板を取り出す、請求項1または請求項2に記載の基板搬送方法。   The center robot takes out the substrates from the relay unit when a number of substrates less than the number of substrates determined in the step (b) are placed on the relay unit. 2. The substrate transfer method described in 2. 前記基板搬送サイクルは、前記工程(b)において決定された基板の枚数の基板を前記センターロボットが前記複数の処理ユニットに向けて搬送する動作をさらに含む、請求項1または請求項2に記載の基板搬送方法。 The substrate transfer cycle, further comprising the operation of a number of sheets of substrates of the substrate determined in the step (b) is the center robot conveys the plurality of processing units, according to claim 1 or claim 2 Substrate transfer method. 前記基板搬送サイクルは、前記工程(b)において複数枚の基板を前記センターロボットが同時に搬送することができると決定された場合において、1枚の基板を前記センターロボットが前記複数の処理ユニットに向けて繰り返し搬送する動作を含む、請求項4に記載の基板搬送方法。 In the substrate transfer cycle, when it is determined in the step (b) that the center robot can transfer a plurality of substrates at the same time , one substrate is directed by the center robot to the plurality of processing units. The substrate transfer method according to claim 4, including an operation of repeatedly transferring the substrate. 中継部と、該中継部からの基板の搬出または該中継部への基板の搬入が可能なセンターロボットと、該センターロボットが基板を搬入および搬出することが可能な複数の処理ユニットと、を有する基板処理装置における基板搬送方法であって、
(a)前記中継部が同時に保持することのできる基板の枚数を特定する工程と、
(b)前記センターロボットが同時に搬送することのできる基板の枚数を決定する工程と、
(c)前記基板処理装置の内部での個々の基板の搬送内容を決定するフローレシピの情報に基づいて、前記複数の処理ユニットのうちの並行した処理が可能な処理ユニットの数を決定する工程と、
(d)前記工程(a)で特定された基板の枚数と、前記工程(b)で決定された基板の枚数と、前記工程(c)で決定された処理ユニットの数と、に基づいて、前記センターロボットによる基板搬送サイクルと、前記工程(c)で決定された数の処理ユニットにおける基板処理の開始のタイミングのサイクルと、が同期して進行するように、前記センターロボットの動作スケジュールと、各前記処理ユニットでの基板処理スケジュールと、を統合したスケジュールデータを作成する工程と、
(e)前記スケジュールデータに従って、前記中継部および前記複数の処理ユニットと前記センターロボットとの基板の受け渡し動作、および前記基板処理装置の全体を通しての基板処理動作を行う工程と、を有し、
前記センターロボットによる前記基板搬送サイクルと、前記工程(c)で決定された数の処理ユニットにおける基板処理の開始のタイミングのサイクルと、が同期して進行する際に、前記センターロボットによる1回の基板搬送サイクルに要する時間が前記複数の処理ユニットのうちの1つの処理ユニットでの処理時間よりも長いために該1つの処理ユニットの側で待ち時間が生じている搬送律速の状態と、前記センターロボットによる1回の前記基板搬送サイクルに要する時間が前記1つの処理ユニットでの処理時間よりも短くて前記センターロボットの側で待ち時間が発生するプロセス律速の状態と、が両方とも発生することが生じない、基板搬送方法。
A relay unit, a center robot capable of unloading a substrate from the relay unit or loading a substrate into the relay unit, and a plurality of processing units capable of loading and unloading the substrate by the center robot. A substrate transfer method in a substrate processing apparatus, comprising:
(a) a step of specifying the number of substrates that the relay section can simultaneously hold,
(b) determining the number of substrates that the center robot can transfer simultaneously,
(c) Determining the number of processing units that can perform parallel processing among the plurality of processing units based on information of a flow recipe that determines the transport content of each substrate inside the substrate processing apparatus When,
(d) Based on the number of substrates specified in the step (a), the number of substrates determined in the step (b), and the number of processing units determined in the step (c), An operation schedule of the center robot so that the substrate transfer cycle by the center robot and the cycle of the timing of starting the substrate processing in the number of processing units determined in the step (c) proceed in synchronization with each other; Creating a schedule data integrating the substrate processing schedule in each of the processing units;
(e) a step of performing a substrate transfer operation between the relay unit and the plurality of processing units and the center robot according to the schedule data, and a substrate processing operation through the entire substrate processing apparatus,
When the substrate transfer cycle by the central robot and the cycle of the timing of starting the substrate processing in the number of processing units determined in the step (c) proceed in synchronization, one cycle by the central robot is performed. Since the time required for the substrate transfer cycle is longer than the processing time in one processing unit of the plurality of processing units, a waiting time is generated on the side of the one processing unit, and a transfer rate-controlled state, and the center Both the process-controlled state in which the time required for one substrate transfer cycle by the robot is shorter than the processing time in the one processing unit and a waiting time occurs on the side of the central robot may occur. It occurs not, board transfer method.
インデクサロボットと、該インデクサロボットによって基板の受け渡しが行われる中継部と、該中継部からの基板の搬出または該中継部への基板の搬入が可能なセンターロボットと、該センターロボットが基板を搬入および搬出することが可能な複数の処理ユニットと、を有する基板処理装置における基板搬送方法であって、
(a)前記インデクサロボットが同時に搬送することのできる基板の枚数を特定する工程と、
(b)前記中継部が同時に保持することのできる基板の枚数を特定する工程と、
(c)前記センターロボットが同時に搬送することのできる基板の枚数を決定する工程と、
(d)前記基板処理装置の内部での個々の基板の搬送内容を決定するフローレシピの情報に基づいて、前記複数の処理ユニットのうちの並行した処理が可能な処理ユニットの数を決定する工程と、
(e)前記工程(a)で特定された基板の枚数と、前記工程(b)で特定された基板の枚数と、前記工程(c)で決定された基板の枚数と、前記工程(d)で決定された処理ユニットの数と、に基づいて、前記センターロボットによる基板搬送サイクルと前記工程(d)で決定された数の処理ユニットにおける基板処理の開始のタイミングのサイクルとが同期して進行するように、前記インデクサロボットおよび前記センターロボットの動作スケジュールと、各前記処理ユニットでの基板処理スケジュールと、を統合したスケジュールデータを作成する工程と、
(f)前記スケジュールデータに従って、前記中継部と前記インデクサロボットとの基板の受け渡し動作、前記中継部および前記複数の処理ユニットと前記センターロボットとの基板の受け渡し動作、および前記基板処理装置の全体を通しての基板処理動作を行う工程と、を有し、
前記センターロボットによる前記基板搬送サイクルと、前記工程(d)で決定された数の処理ユニットにおける基板処理の開始のタイミングのサイクルと、が同期して進行する際に、前記センターロボットによる1回の基板搬送サイクルに要する時間が前記複数の処理ユニットのうちの1つの処理ユニットでの処理時間よりも長いために該1つの処理ユニットの側で待ち時間が生じている搬送律速の状態と、前記センターロボットによる1回の前記基板搬送サイクルに要する時間が前記1つの処理ユニットでの処理時間よりも短くて前記センターロボットの側で待ち時間が発生するプロセス律速の状態と、が両方とも発生することが生じない、基板搬送方法。
The indexer robot, a relay unit for transferring the substrate by the indexer robot, a center robot capable of unloading the substrate from the relay unit or loading the substrate into the relay unit, and the center robot loading and unloading the substrate. A substrate transfer method in a substrate processing apparatus having a plurality of processing units capable of being carried out,
(a) a step of specifying the number of substrates that the indexer robot can simultaneously carry,
(b) a step of specifying the number of substrates that can be simultaneously held by the relay section,
(c) determining the number of substrates that the center robot can transfer at the same time;
(d) Determining the number of processing units that can perform parallel processing among the plurality of processing units based on information of a flow recipe that determines the transport content of each substrate inside the substrate processing apparatus When,
(e) the number of substrates identified in step (a), the number of substrates identified in step (b), the number of substrates determined in step (c), and the step (d) On the basis of the number of processing units determined in step 1, the substrate transfer cycle by the center robot and the cycle of the timing of starting the substrate processing in the number of processing units determined in step (d) proceed in synchronization. As described above, a step of creating schedule data in which the operation schedules of the indexer robot and the center robot and the substrate processing schedule in each of the processing units are integrated,
(f) According to the schedule data, the substrate transfer operation between the relay section and the indexer robot, the substrate transfer operation between the relay section and the plurality of processing units and the center robot, and the entire substrate processing apparatus. possess and performing a substrate processing operation, and
When the substrate transfer cycle by the center robot and the cycle of the timing of starting the substrate processing in the number of processing units determined in the step (d) proceed in synchronization with each other, one cycle is performed by the center robot. Since the time required for the substrate transfer cycle is longer than the processing time in one processing unit of the plurality of processing units, a waiting time is generated on the side of the one processing unit, and a transfer rate-controlled state, and the center Both the process-controlled state in which the time required for one substrate transfer cycle by the robot is shorter than the processing time in the one processing unit and a waiting time occurs on the side of the central robot may occur. A substrate transfer method that does not occur .
前記中継部は、複数の基板載置部を含む中継ユニット、反転ユニットおよび反転受渡ユニットを含む請求項7に記載の基板搬送方法。   The substrate transfer method according to claim 7, wherein the relay unit includes a relay unit including a plurality of substrate mounting units, a reversal unit, and a reversal transfer unit. 前記インデクサロボットは、前記工程(c)において決定された基板の枚数よりも少ない枚数の基板を前記中継部に載置し、
前記センターロボットは、前記工程(c)において決定された基板の枚数よりも少ない枚数の基板が前記中継部に載置されているときに、前記中継部から基板を取り出す、請求項7または請求項8に記載の基板搬送方法。
The indexer robot places a smaller number of substrates on the relay unit than the number of substrates determined in the step (c).
8. The center robot takes out the substrates from the relay unit when a number of substrates less than the number of substrates determined in the step (c) are placed on the relay unit. 8. The substrate transfer method according to item 8.
前記基板搬送サイクルは、前記工程(c)において決定された基板の枚数よりも少ない枚数の基板を前記センターロボットが前記複数の処理ユニットに向けて搬送する第1の動作を含み、
前記基板搬送サイクルにおいて、前記第1の動作が繰り返し実行される、請求項7または請求項8に記載の基板搬送方法。
The substrate transfer cycle includes a first operation in which the center robot transfers a smaller number of substrates than the number of substrates determined in the step (c) toward the plurality of processing units,
The substrate transfer method according to claim 7 , wherein the first operation is repeatedly executed in the substrate transfer cycle.
インデクサロボットと、該インデクサロボットによって基板の受け渡しが行われる中継部と、該中継部からの基板の搬出または該中継部への基板の搬入が可能なセンターロボットと、該センターロボットが基板を搬入および搬出することが可能な複数の処理ユニットと、を有する基板処理装置における基板搬送方法であって、
(a)前記インデクサロボットが同時に搬送することのできる基板の枚数を特定する工程と、
(b)前記中継部が同時に保持することのできる基板の枚数を特定する工程と、
(c)前記センターロボットが同時に搬送することのできる基板の枚数を決定する工程と、
(d)前記基板処理装置の内部での個々の基板の搬送内容を決定するフローレシピの情報に基づいて、前記複数の処理ユニットのうちの並行した処理が可能な処理ユニットの数を決定する工程と、
(e)前記工程(a)で特定された基板の枚数と、前記工程(b)で特定された基板の枚数と、前記工程(c)で決定された基板の枚数と、前記工程(d)で決定された処理ユニットの数と、に基づいて、前記センターロボットによる基板搬送サイクルと前記工程(d)で決定された数の処理ユニットにおける基板処理の開始のタイミングのサイクルとが同期して進行するように、前記インデクサロボットおよび前記センターロボットの動作スケジュールと、各前記処理ユニットでの基板処理スケジュールと、を統合したスケジュールデータを作成する工程と、
(f)前記スケジュールデータに従って、前記中継部と前記インデクサロボットとの基板の受け渡し動作、前記中継部および前記複数の処理ユニットと前記センターロボットとの基板の受け渡し動作、および前記基板処理装置の全体を通しての基板処理動作を行う工程と、を有し、
前記基板搬送サイクルは、前記工程()において定された基板の枚数よりも少ない枚数の基板が前記インデクサロボットによって前記中継部に載置される第2の動作を含み、
前記基板搬送サイクルにおいて、前記第2の動作が繰り返し実行される、基板搬送方法。
The indexer robot, a relay unit for transferring the substrate by the indexer robot, a center robot capable of unloading the substrate from the relay unit or loading the substrate into the relay unit, and the center robot loading and unloading the substrate. A substrate transfer method in a substrate processing apparatus having a plurality of processing units capable of being carried out,
(a) a step of specifying the number of substrates that the indexer robot can simultaneously carry,
(b) a step of specifying the number of substrates that can be simultaneously held by the relay section,
(c) determining the number of substrates that the center robot can transfer at the same time;
(d) Determining the number of processing units that can perform parallel processing among the plurality of processing units based on information of a flow recipe that determines the transport content of each substrate inside the substrate processing apparatus When,
(e) the number of substrates identified in step (a), the number of substrates identified in step (b), the number of substrates determined in step (c), and the step (d) On the basis of the number of processing units determined in step 1, the substrate transfer cycle by the center robot and the cycle of the timing of starting the substrate processing in the number of processing units determined in step (d) proceed in synchronization. As described above, a step of creating schedule data in which the operation schedules of the indexer robot and the center robot and the substrate processing schedule in each of the processing units are integrated,
(f) According to the schedule data, the substrate transfer operation between the relay section and the indexer robot, the substrate transfer operation between the relay section and the plurality of processing units and the center robot, and the entire substrate processing apparatus. And a step of performing the substrate processing operation of
The substrate transfer cycle, seen including a second operation in which the substrate of the number smaller than the number of substrates that are specific in the step (a) is placed on the relay portion by the indexer robot,
A substrate transfer method , wherein the second operation is repeatedly executed in the substrate transfer cycle .
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