JP6680110B2 - Image reading apparatus and image forming apparatus - Google Patents

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本発明は、画像読取装置及び画像形成装置に関する。   The present invention relates to an image reading device and an image forming device.

画像読取装置においては、読取光学系の主走査方向における光源の光量ばらつきやセンサチップの画素毎の感度のばらつきを補正するために、濃度基準部材を読み取ったシェーディングデータが用いられる。このシェーディングデータを生成する場合、濃度基準部材の汚れの影響を低減するために、従来は、イメージセンサと濃度基準部材の相対的な位置を変える可動機構が設けられていた。   In the image reading apparatus, shading data obtained by reading the density reference member is used in order to correct the variation in the light amount of the light source in the main scanning direction of the reading optical system and the variation in the sensitivity of each pixel of the sensor chip. In the case of generating this shading data, in order to reduce the influence of dirt on the density reference member, conventionally, a movable mechanism for changing the relative positions of the image sensor and the density reference member has been provided.

しかしながら、原稿を読み取るための密着型イメージセンサ(CIS:Contact Image Sensor)等の読取モジュールは、ADF(Auto Document Feeder)装置内の小スペースに設けられることが多く、可動式に変更されるとADFの複雑化・大型化・コスト高を招いてしまう。   However, a reading module such as a contact image sensor (CIS) for reading a document is often provided in a small space in an ADF (Auto Document Feeder) device, and when it is movably changed to the ADF, This leads to increased complexity, larger size, and higher cost.

そこで、可動機構が設けられなくても濃度基準部材の汚れの影響を低減する技術として、例えば特許文献1には、予め不揮発性のメモリに製品製造時の清浄な濃度基準部材で取得した初期のシェーディングデータを格納しておき、原稿を読取る直前に取得した汚れが付着した原稿読取時シェーディングデータを、汚れのない初期のシェーディングデータに置き換える際に、初期データのレンズピッチムラを、現在データのレンズピッチムラの位相に合うように補正するシェーディング補正装置が開示されている。   Therefore, as a technique for reducing the influence of stains on the concentration reference member even if no movable mechanism is provided, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-242, there is an initial method of acquiring a non-volatile memory with a clean concentration reference member at the time of product manufacturing. When shading data is stored and the original reading shading data that was acquired immediately before reading the original is attached to the original shading data without dirt, the lens pitch unevenness of the initial data can be adjusted to the lens of the current data. A shading correction device that corrects so as to match the phase of pitch unevenness is disclosed.

また、製品製造時に取得する初期のシェーディングデータが異物の影響を受けていると、シェーディングデータの正常な補正ができない可能性があるため、特許文献2には、白基準部材からの反射光を読取デバイスに受光させ、当該読取デバイスから出力された画素列のデータを、白基準データとして取得するデータ取得処理と、その白基準データに基づき、画素列の各画素を対象画素とし、対象画素と、当該対象画素からレンズの配列間隔の整数倍だけ離れた受光素子に対応する対比画素との画素値の差の絶対値が、閾値を超える場合に異常画素であると判定する異常判定処理を実行する画像読取装置が開示されている。   Further, if the initial shading data acquired at the time of manufacturing the product is affected by the foreign matter, it may not be possible to correct the shading data normally. Therefore, in Patent Document 2, the reflected light from the white reference member is read. Data is received by the device, and the data of the pixel row output from the reading device is acquired as white reference data, and based on the white reference data, each pixel of the pixel row is the target pixel, and the target pixel, If the absolute value of the difference in pixel value from the contrast pixel corresponding to the light receiving element that is away from the target pixel by an integer multiple of the lens array interval exceeds a threshold value, an abnormality determination process for determining an abnormal pixel is executed. An image reading device is disclosed.

しかしながら、注目画素からロッドレンズの配列間隔の整数倍だけ離れた位置に近い受光素子に対応する画素を比較画素として異常画素を判定する従来の方法では、ロッドレンズ配列間隔が完全に整数画素間隔と一致しないことから、高精度な異物検知ができないという問題があった。   However, in the conventional method of determining an abnormal pixel by using a pixel corresponding to a light receiving element close to a position distant from the pixel of interest by an integral multiple of the array interval of the rod lens as a comparison pixel, the rod lens array interval is a complete integer pixel interval. Since they do not match, there is a problem that highly accurate foreign matter detection cannot be performed.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、光を光電変換素子に結像する複数のレンズの配列間隔が光電変換素子における複数の画素の配列間隔の整数倍になっていなくても、高精度に濃度基準部材及びガラスの異物を検知することができる画像読取装置及び画像形成装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above, and even if the arrangement interval of the plurality of lenses that image light on the photoelectric conversion element is not an integral multiple of the arrangement interval of the plurality of pixels in the photoelectric conversion element. An object of the present invention is to provide an image reading apparatus and an image forming apparatus that can detect foreign matters on the density reference member and glass with high accuracy.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、一方向に延びて光を照射する照射部と、前記照射部が照射する光の反射光又は透過光を配列された複数の画素ごとに光電変換し、複数の画素それぞれの画素値を出力する光電変換素子と、前記照射部が照射する光の反射光又は透過光を前記光電変換素子に結像する同じ直径の配列された複数のレンズと、前記照射部が濃度基準部材に照射した光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に前記光電変換素子が出力した複数の画素値を用いて、注目画素から前記レンズの配列間隔分離れた位置の画素値を比較画素の画素値として生成する比較画素生成部と、前記照射部が濃度基準部材に照射する光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に前記光電変換素子が出力した注目画素の画素値と、前記比較画素生成部が生成した比較画素の画素値とを比較する比較部と、前記比較部が比較した結果と所定の閾値とに基づいて、前記比較部が比較した注目画素の画素値が異物の影響を受けた画素値であるか否かを判定する異物判定部と、を有し、前記比較画素生成部は、前記照射部が濃度基準部材に照射した光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に前記光電変換素子が出力した注目画素の周囲の複数の画素値を用いて補間を行うことにより、比較画素の画素値を生成するIn order to solve the above-mentioned problems and to achieve the object, the present invention has a plurality of irradiation units that are arranged to irradiate light that extends in one direction, and reflected or transmitted light of the light that the irradiation unit irradiates. photoelectrically converted for each pixel, a plurality of pixels and photoelectric conversion element which outputs the respective pixel values, wherein the irradiation unit is arranged in the same diameter you imaging the reflected or transmitted light into the photoelectric conversion element of light to be irradiated And a plurality of pixel values output by the photoelectric conversion element when each of the lenses forms an image of the reflected light of the light irradiated on the density reference member by the irradiation unit on the photoelectric conversion element. A comparison pixel generation unit that generates a pixel value at a position separated from the target pixel by the arrangement interval of the lenses as a pixel value of a comparison pixel; Imaged on the photoelectric conversion element When the pixel value of the pixel of interest output by the photoelectric conversion element and the pixel value of the comparison pixel generated by the comparison pixel generation unit, and a comparison result and a predetermined threshold value by the comparison unit based on, it has a, a foreign matter determination unit that determines whether the pixel value of the pixel of interest the comparison unit is compared is the pixel value affected by foreign matter, the comparative pixel generation unit, the irradiation unit By performing the interpolation using the plurality of pixel values around the pixel of interest output by the photoelectric conversion element when the reflected light of the light applied to the density reference member is imaged on the photoelectric conversion element by each of the lenses. , Generate the pixel value of the comparison pixel .

本発明によれば、光を光電変換素子に結像する複数のレンズの配列間隔が光電変換素子における複数の画素の配列間隔の整数倍になっていなくても、高精度に濃度基準部材及びガラスの異物を検知することができるという効果を奏する。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, even if the arrangement | sequence spacing of the several lens which images light on a photoelectric conversion element is not the integral multiple of the arrangement | sequence spacing of the several pixel in a photoelectric conversion element, a density | concentration reference member and glass are highly accurate. It is possible to detect the foreign matter.

図1は、実施形態にかかる画像読取装置の構成を例示する断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating the configuration of the image reading apparatus according to the embodiment. 図2は、画像読取装置を制御するコントローラ及びその周辺の概要を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing an outline of a controller that controls the image reading apparatus and its peripherals. 図3は、第2読取部の電気回路の要部を例示するブロック図である。FIG. 3 is a block diagram illustrating a main part of an electric circuit of the second reading unit. 図4は、ADFがシェーディングデータを生成する動作の概要を示すフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart showing an outline of the operation of the ADF for generating shading data. 図5は、第2読取部及びその周辺の構成と、第2読取部の出力レベルとの関係を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing the relationship between the configuration of the second reading unit and its surroundings and the output level of the second reading unit. 図6は、ADFが異物を検出するために有する機能の概要を示すブロック図である。FIG. 6 is a block diagram showing an outline of the function of the ADF for detecting a foreign substance. 図7は、ADFがシェーディングデータにおける異物の有無を判定する処理例を示すフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart showing a processing example in which the ADF determines the presence / absence of a foreign matter in shading data. 図8は、注目画素位置からロッドレンズの配列間隔であるD+d離れた位置における最も近い4画素の位置を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing the positions of the four closest pixels at a position away from the target pixel position by D + d which is the arrangement interval of the rod lenses. 図9は、補正係数を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing the correction coefficient. 図10は、主走査方向に配列された複数のセンサの出力レベルを模式的に示す図である。FIG. 10 is a diagram schematically showing output levels of a plurality of sensors arranged in the main scanning direction. 図11は、ADFが異物を検出するために有する機能の第1変形例を示すブロック図である。FIG. 11 is a block diagram showing a first modification of the function of the ADF for detecting foreign matter. 図12は、ADFが異物を検出するために有する機能の第2変形例を示すブロック図である。FIG. 12 is a block diagram showing a second modified example of the function of the ADF for detecting foreign matter. 図13は、異物判定機能の第2変形例における画素値を生成する位置を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing positions where pixel values are generated in the second modification of the foreign matter determination function. 図14は、異物判定機能の第2変形例が異物の有無を判定する処理を示すフローチャートである。FIG. 14 is a flowchart showing a process for determining the presence / absence of a foreign substance in the second modified example of the foreign substance determination function. 図15は、比較画素生成部が行う処理を示すフローチャートである。FIG. 15 is a flowchart showing the processing performed by the comparison pixel generation unit. 図16は、ADFが異物を検出するために有する機能の第3変形例を示すブロック図である。FIG. 16 is a block diagram showing a third modified example of the function of the ADF for detecting foreign matter. 図17は、異物判定機能の第3変形例における画素値を生成する位置を示す図である。FIG. 17 is a diagram showing positions where pixel values are generated in the third modification of the foreign matter determination function. 図18は、センサの軸とロッドレンズアレイの中心軸を示す図である。FIG. 18 is a diagram showing the axis of the sensor and the central axis of the rod lens array. 図19は、シェーディングデータを主走査方向に分割した状態を示す図である。FIG. 19 is a diagram showing a state in which the shading data is divided in the main scanning direction. 図20は、ADFがシェーディングデータにおける異物の有無を判定する処理例を示すフローチャートである。FIG. 20 is a flowchart showing a processing example in which the ADF determines the presence / absence of a foreign matter in shading data. 図21は、複数のセンサの出力レベルを例示する図である。FIG. 21 is a diagram illustrating output levels of a plurality of sensors. 図22は、注目画素が位置する範囲を示す図である。FIG. 22 is a diagram showing a range in which the pixel of interest is located. 図23は、注目画素と比較画素の位置を示す図である。FIG. 23 is a diagram showing the positions of the target pixel and the comparison pixel. 図24は、注目画素と比較画素の位置を示す図である。FIG. 24 is a diagram showing the positions of the target pixel and the comparison pixel. 図25は、センサ端部の画素値がその他画素値に比べて低い場合を例示する図である。FIG. 25 is a diagram illustrating a case where the pixel value at the sensor end is lower than the other pixel values. 図26は、閾値変更範囲を示す図である。FIG. 26 is a diagram showing a threshold change range. 図27は、閾値を例示する図である。FIG. 27 is a diagram illustrating the threshold value. 図28は、ADFの他の動作例を示すフローチャートである。FIG. 28 is a flowchart showing another operation example of the ADF. 図29は、ADFを有する画像形成装置の構成を示す図である。FIG. 29 is a diagram showing the configuration of an image forming apparatus having an ADF.

以下に添付図面を参照して、画像読取装置の実施形態を詳細に説明する。図1は、実施形態にかかる画像読取装置10の構成を例示する断面図である。実施形態にかかる画像読取装置10は、例えば画像形成装置300(図29参照)の上部に設けられて画像を読み取る機能を備えた自動原稿搬送装置(ADF:Auto Document Feeder)である。また、図2は、画像読取装置10を制御するコントローラ11及びその周辺の概要を示すブロック図である。以下、画像読取装置10をADF10と記して説明する。   Embodiments of an image reading apparatus will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating the configuration of the image reading device 10 according to the embodiment. The image reading apparatus 10 according to the embodiment is, for example, an automatic document feeder (ADF: Auto Document Feeder) provided on the upper part of the image forming apparatus 300 (see FIG. 29) and having a function of reading an image. Further, FIG. 2 is a block diagram showing an outline of the controller 11 that controls the image reading apparatus 10 and its periphery. Hereinafter, the image reading device 10 will be described as ADF 10.

ADF10は、被読取原稿を固定された読取装置部に搬送し、所定の速度で搬送しながら画像読取を行う。コントローラ11は、例えばCPU及びメモリを備え、ADF10を構成する各部を制御する。   The ADF 10 conveys a document to be read to a fixed reading device unit, and performs image reading while conveying the document at a predetermined speed. The controller 11 includes, for example, a CPU and a memory, and controls each unit included in the ADF 10.

ADF10は、原稿セット部A、分離給送部B、レジスト部C、ターン部D、第1読取搬送部E、第2読取搬送部F、排紙部G、及びスタック部Hを有する。原稿セット部Aは、読取原稿束をセットする。分離給送部Bは、セットされた原稿束から一枚毎に原稿を分離して給送する。レジスト部Cは、給送された原稿を一次突当整合する働きと、整合後の原稿を引き出し搬送する働きを有する。ターン部Dは、搬送される原稿をターンさせて、原稿面を読取り側(下方)に向けて搬送する。第1読取搬送部Eは、原稿の表面画像を、コンタクトガラスの下方より読取を行わせる。第2読取搬送部Fは、読取後の原稿の裏面画像を読み取る。排紙部Gは、表裏の読取が完了した原稿を機外に排出する。スタック部Hは、読取完了後の原稿を積載保持する。   The ADF 10 includes a document setting section A, a separation / feeding section B, a registration section C, a turn section D, a first reading / conveying section E, a second reading / conveying section F, a sheet discharging section G, and a stack section H. The document setting unit A sets a read document bundle. The separating / feeding unit B separates and feeds the originals one by one from the set bundle of originals. The registration section C has a function of performing primary abutting alignment of the fed original document and a function of pulling out and transporting the aligned original document. The turn section D turns the conveyed document and conveys the document surface toward the reading side (downward). The first reading / conveying unit E causes the front surface image of the document to be read from below the contact glass. The second reading / conveying unit F reads the back side image of the document after reading. The paper discharge unit G discharges the document whose front and back sides have been read out of the machine. The stack unit H stacks and holds the documents after the reading is completed.

読取を行う原稿束130をセットするのは、可動原稿テーブル131を含む原稿テーブル132上で、原稿面を上向きの状態でセットする。更に原稿束130の幅方向をサイドガイドによって搬送方向と直行する方向の位置決めを行う。原稿のセットはセットフィラー133、原稿セットセンサ100により検知され、I/F114により本体制御部122に送信される。   The document stack 130 to be read is set on the document table 132 including the movable document table 131 with the document surface facing upward. Further, the width direction of the document stack 130 is positioned by a side guide in a direction orthogonal to the conveying direction. The setting of the document is detected by the set filler 133 and the document setting sensor 100, and is transmitted to the main body control unit 122 by the I / F 114.

更に原稿テーブル132面に設けられた原稿長さ検知センサ134又は135(反射型センサ又は、原稿1枚も検知可能なアクチュエーター・タイプのセンサが用いられる)により原稿の搬送方向長さの概略が判定される。   Further, a document length detection sensor 134 or 135 (a reflection type sensor or an actuator type sensor capable of detecting even one document) provided on the surface of the document table 132 is used to roughly determine the length of the document in the conveyance direction. To be done.

可動原稿テーブル131は、底板上昇モータ112により図に示すa、b方向に上下動可能な構成になっていて、原稿がセットされた事をセットフィラー133、原稿セットセンサ100により検知すると底板上昇モータ112を正転させて原稿束130の最上面がピックアップローラー148と接触するように可動原稿テーブル131を上昇させる。ピックアップローラー148は、ピックアップモータ108によりカム機構で図に示すc、d方向に動作すると共に、可動原稿テーブル131が上昇し可動原稿テーブル131上の原稿上面により押されてc方向に上がり給紙適正位置センサ102により上限を検知可能となっている。   The movable original table 131 is configured to be movable up and down in the directions a and b shown in the figure by the bottom plate lifting motor 112, and when it is detected by the set filler 133 and the document setting sensor 100 that the bottom plate lifting motor 112 is set. 112 is rotated in the normal direction and the movable document table 131 is raised so that the uppermost surface of the document stack 130 comes into contact with the pickup roller 148. The pickup roller 148 is operated by a cam mechanism in the c and d directions shown in the figure by the pickup motor 108, and the movable original table 131 is raised and pushed by the upper surface of the original on the movable original table 131 to be raised in the c direction and proper feeding is performed. The position sensor 102 can detect the upper limit.

操作部121よりプリントキーが押下され、本体制御部122からI/F114を介してコントローラ11に原稿給紙信号が送信されると、ピックアップローラー148は給紙モータ109の正転によりコロが回転駆動し、原稿テーブル132上の数枚(理想的には1枚)の原稿をピックアップする。回転方向は、最上位の原稿を給紙口に搬送する方向である。なお、操作部121は、ユーザによる入力に応じて、ADF10に対する設定それぞれを行う設定部としての機能と、ユーザに対する表示を行う表示部(出力部)としての機能とを備えている。   When the print key is pressed by the operation unit 121 and a document feed signal is transmitted from the main body control unit 122 to the controller 11 via the I / F 114, the pickup roller 148 drives the roller to rotate by the forward rotation of the feed motor 109. Then, several original documents (ideally one original document) on the original document table 132 are picked up. The rotation direction is the direction in which the uppermost document is conveyed to the paper feed port. The operation unit 121 has a function as a setting unit that performs each setting for the ADF 10 according to an input by the user, and a function as a display unit (output unit) that performs a display for the user.

給紙ベルト136は、給紙モータ109の正転により給紙方向に駆動され、リバースローラー137は給紙モータ109の正転により給紙と逆方向に回転駆動され、最上位の原稿とその下の原稿を分離して、最上位の原稿のみを給紙できる構成となっている。さらに詳しく説明すると、リバースローラー137は給紙ベルト136と所定圧で接し、給紙ベルト136と直接接している時、又は原稿1枚を介して接している状態では給紙ベルト136の回転につられて反時計方向に連れ回りし、原稿が2枚以上給紙ベルト136とリバースローラー137の間に侵入した時は連れ回り力がトルクリミッターのトルクよりも低くなるように設定されており、リバースローラー137は本来の駆動方向である時計方向に回転し、余分な原稿を押し戻す働きをし、重送が防止される。   The paper feed belt 136 is driven in the paper feed direction by the normal rotation of the paper feed motor 109, and the reverse roller 137 is rotationally driven in the direction opposite to the paper feed by the normal rotation of the paper feed motor 109, and the uppermost document and the lower part thereof are driven. The originals are separated and only the uppermost original can be fed. More specifically, the reverse roller 137 contacts the paper feed belt 136 at a predetermined pressure, and when the reverse roller 137 is in direct contact with the paper feed belt 136 or is in contact with one original, the paper feed belt 136 is rotated. Is rotated counterclockwise, and when two or more originals enter between the paper feed belt 136 and the reverse roller 137, the follow-up force is set to be lower than the torque of the torque limiter. 137 rotates in the clockwise direction, which is the original driving direction, works to push back an extra document, and prevents double feeding.

給紙ベルト136とリバースローラー137との作用により1枚に分離された原稿は給紙ベルト136によって更に送られ、突き当てセンサ105によって先端が検知され更に進んで停止しているプルアウトローラー138に突き当たる。その後突き当てセンサ105の検知から所定量定められた距離送られ、結果的には、プルアウトローラー138に所定量撓みを持って押し当てられた状態で給紙モータ109を停止させることにより、給紙ベルト136の駆動が停止する。この時、ピックアップモータ108を回転させることでピックアップローラー148を原稿上面から退避させ原稿を給紙ベルト136の搬送力のみで送ることにより、原稿先端は、プルアウトローラー138の上下ローラー対のニップに進入し、先端の整合(スキュー補正)が行われる。   The original separated into one sheet by the action of the paper feed belt 136 and the reverse roller 137 is further fed by the paper feed belt 136, the leading edge of which is detected by the abutment sensor 105 and further abuts the pull-out roller 138 which is stopped. . After that, the paper is fed by a predetermined distance from the detection of the abutment sensor 105, and as a result, the paper feed motor 109 is stopped in a state where the pull-out roller 138 is pressed with a predetermined amount of flexure to feed the paper. The driving of the belt 136 is stopped. At this time, by rotating the pickup motor 108, the pickup roller 148 is retracted from the upper surface of the original document and the original document is sent only by the conveying force of the paper feed belt 136, so that the front end of the original document enters the nip of the pair of upper and lower rollers of the pullout roller 138. Then, the tip alignment (skew correction) is performed.

プルアウトローラー138は、スキュー補正機能を有すると共に、分離後にスキュー補正された原稿を中間ローラー139まで搬送するためのローラーで、給紙モータ109の逆転により駆動される。またこの時(給紙モータ109逆転時)、プルアウトローラー138と中間ローラー139は駆動されるが、ピックアップローラー148と給紙ベルト136は駆動されていない。   The pull-out roller 138 has a skew correction function and is a roller for conveying the skew-corrected original document to the intermediate roller 139 after separation, and is driven by the reverse rotation of the paper feed motor 109. Further, at this time (when the paper feeding motor 109 rotates in the reverse direction), the pull-out roller 138 and the intermediate roller 139 are driven, but the pickup roller 148 and the paper feeding belt 136 are not driven.

原稿幅センサ104は奥行き方向に複数個並べられ、プルアウトローラー138により搬送された原稿の搬送方向に直行する幅方向のサイズを検知する。また、原稿の搬送方向の長さは原稿の先端後端を突き当てセンサ105で読取ることによりモータパルスから原稿の長さを検知する。   A plurality of document width sensors 104 are arranged in the depth direction and detect the size of the document conveyed by the pull-out roller 138 in the width direction orthogonal to the conveyance direction. Further, the length of the document in the conveying direction is detected by a motor pulse by reading the front end and the rear end of the document with the abutment sensor 105.

プルアウトローラー138及び中間ローラー139の駆動によりレジスト部Cからターン部Dに原稿が搬送される際には、レジスト部Cでの搬送速度を第1読取搬送部Eでの搬送速度よりも高速に設定して原稿を読取部へ送り込む処理時間の短縮が図られている。原稿先端が読取入口センサ103により検出されると、読取入口ローラー140の上下ローラー対のニップに原稿先端が進入前に、原稿搬送速度を読取搬送速度と同速にする為に減速を開始すると同時に、読取モータ110を正転駆動して読取入口ローラー140、読取出口ローラー141、CIS出口ローラー142を駆動する。原稿の先端をレジストセンサ107にて検知すると、所定の搬送距離をかけて減速し、読取位置143の手前で一時停止すると共に、本体制御部122にI/F114を介してレジスト停止信号を送信する。   When a document is conveyed from the registration section C to the turn section D by driving the pull-out roller 138 and the intermediate roller 139, the conveyance speed in the registration section C is set to be higher than the conveyance speed in the first reading conveyance section E. The processing time for sending the original to the reading unit is shortened. When the leading edge of the original is detected by the reading entrance sensor 103, deceleration is started at the same time as the leading edge of the original enters the nip of the pair of upper and lower rollers of the reading entrance roller 140 so that the original feeding speed becomes the same as the reading feeding speed. The reading motor 110 is driven in the normal direction to drive the reading entrance roller 140, the reading exit roller 141, and the CIS exit roller 142. When the leading edge of the document is detected by the registration sensor 107, the registration sensor 107 decelerates over a predetermined transport distance, pauses before the reading position 143, and transmits a registration stop signal to the main body control unit 122 via the I / F 114. .

続いて本体制御部122より読取り開始信号を受信すると、レジスト停止していた原稿は、読取位置に原稿先端が到達するまでに所定の搬送速度に立上がるように増速されて搬送される。読取モータ110のパルスカウントにより検出された原稿先端が読取部に到達するタイミングで、本体制御部122に対して第1面の副走査方向の有効画像領域を示すゲート信号が、第1読取部を原稿後端が抜けるまで送信される。   Subsequently, when the reading start signal is received from the main body control unit 122, the original whose registration is stopped is accelerated and conveyed so as to rise to a predetermined conveying speed before the leading edge of the original reaches the reading position. At the timing when the leading edge of the document detected by the pulse count of the reading motor 110 reaches the reading unit, a gate signal indicating an effective image area of the first surface in the sub-scanning direction is sent to the main body control unit 122 by the first reading unit. It is sent until the trailing edge of the original is removed.

片面原稿読取りの場合には、第1読取搬送部Eを通過した原稿は第2読取部113を経て排紙部Gへ搬送される。この際、排紙センサ106により原稿の先端を検知すると、排紙モータ111を正転駆動して排紙ローラー144を反時計方向に回転させる。また、排紙センサ106による原稿の先端検知からの排紙モータパルスカウントにより、原稿後端が排紙ローラー144の上下ローラー対のニップから抜ける直前に排紙モータ駆動速度を減速させて、排紙トレイ145上に排出される原稿が飛び出さない様に制御される。   In the case of single-sided original reading, the original that has passed through the first reading / conveying section E is conveyed to the sheet discharging section G via the second reading section 113. At this time, when the leading edge of the document is detected by the paper ejection sensor 106, the paper ejection motor 111 is driven in the normal direction to rotate the paper ejection roller 144 counterclockwise. Further, the discharge motor pulse count is detected from the detection of the leading edge of the document by the discharge sensor 106, and the discharge motor drive speed is reduced immediately before the trailing edge of the document comes out of the nip of the pair of upper and lower rollers of the discharge roller 144 to discharge the sheet. The documents discharged onto the tray 145 are controlled so as not to jump out.

両面原稿読取りの場合には、排紙センサ106にて原稿先端を検知してから読取モータ110のパルスカウントにより第2読取部113に原稿先端が到達するタイミングで第2読取部113に対してコントローラ11から副走査方向の有効画像領域を示すゲート信号が第2読取部113を原稿後端が抜けるまで送信される。第2読取部113に対向する濃度基準部材146は、第2読取部113における原稿の浮きを抑えると同時に、第2読取部113におけるシェーディングデータを取得する為の固定された板状の基準白部である。   In the case of double-sided document reading, the controller controls the second reading unit 113 at the timing when the leading end of the document reaches the second reading unit 113 by the pulse count of the reading motor 110 after the document discharge sensor 106 detects the leading end of the document. A gate signal indicating the effective image area in the sub-scanning direction is transmitted from 11 through the second reading unit 113 until the trailing edge of the document passes. The density reference member 146 facing the second reading unit 113 suppresses the floating of the document in the second reading unit 113, and at the same time, is a fixed plate-shaped reference white portion for acquiring the shading data in the second reading unit 113. Is.

図3は、第2読取部113の電気回路の要部を例示するブロック図である。図3に示すように、第2読取部113は、LED、蛍光灯、又は冷陰極管などからなる光源部500を有する。なお、光源部500は、図5に示した光源部40及び導光体41に相当し、導光体などと共に光を主走査方向に照射する照射部を構成する。また、図3に示した第2読取部113を構成する各部は、コントローラ11の制御によって動作する。   FIG. 3 is a block diagram illustrating a main part of an electric circuit of the second reading unit 113. As shown in FIG. 3, the second reading unit 113 has a light source unit 500 including an LED, a fluorescent lamp, a cold cathode tube, or the like. The light source unit 500 corresponds to the light source unit 40 and the light guide body 41 shown in FIG. 5, and constitutes an irradiation unit that emits light in the main scanning direction together with the light guide body and the like. In addition, each unit forming the second reading unit 113 illustrated in FIG. 3 operates under the control of the controller 11.

また、第2読取部113は、主走査方向(原稿幅方向に対応する方向)に並ぶ複数のセンサ(センサチップ:光電変換素子)43、それぞれのセンサ43に個別に接続された複数のアンプ回路502、それぞれのアンプ回路502に個別に接続された複数のA/D変換部503も有している。A/D変換部503の出力信号には、信号成分以外に黒レベルオフセットがある。第2読取部113は、黒レベルオフセットを除去する黒補正部504を有している。黒補正部504の出力信号に対し、光源部500のムラやセンサ43の感度不均一による画像データへの影響の除去をする白補正を白補正部505が行う。また、白補正部505は、濃度基準部材146を読み取り、この濃度基準部材146の読み取り結果と過去の濃度基準部材146の読み取り結果との比較に基づいて光量低下の度合い(補正係数)を求め、シェーディング補正データによる補正結果にさらに補正する機能も搭載していてもよい。更に、第2読取部113は、画像処理部506、フレームメモリ507、出力制御回路508、I/F回路509なども有している。   The second reading unit 113 includes a plurality of sensors (sensor chips: photoelectric conversion elements) 43 arranged in the main scanning direction (direction corresponding to the document width direction), and a plurality of amplifier circuits individually connected to each sensor 43. 502, and also has a plurality of A / D conversion units 503 individually connected to the respective amplifier circuits 502. The output signal of the A / D converter 503 has a black level offset in addition to the signal component. The second reading unit 113 has a black correction unit 504 that removes the black level offset. The white correction unit 505 performs white correction on the output signal of the black correction unit 504 to remove the influence on the image data due to the unevenness of the light source unit 500 and the uneven sensitivity of the sensor 43. Further, the white correction unit 505 reads the density reference member 146, and obtains the degree of light amount reduction (correction coefficient) based on the comparison between the read result of the density reference member 146 and the read result of the past density reference member 146, A function of further correcting the correction result based on the shading correction data may be installed. The second reading unit 113 also includes an image processing unit 506, a frame memory 507, an output control circuit 508, an I / F circuit 509, and the like.

センサ43は、例えば等倍密着イメージセンサ(CIS)と称される光電変換素子と集光レンズ(ロッドレンズ)とを具備する。第2読取部113による読取位置に原稿が進入するのに先立って、コントローラ11から光源部500に点灯ON信号が送られる。これにより、光源部500が点灯し、その光を原稿に向けて照射する。   The sensor 43 includes, for example, a photoelectric conversion element called a 1: 1 contact image sensor (CIS) and a condenser lens (rod lens). A lighting ON signal is sent from the controller 11 to the light source unit 500 before the document enters the reading position by the second reading unit 113. As a result, the light source unit 500 is turned on and the light is emitted toward the document.

原稿で反射した反射光は、複数のセンサ43において、集光レンズによって光電変換素子に集光されて画像情報として読み取られる。それぞれのセンサ43で読み取られた画像情報は、アンプ回路502によって増幅された後、A/D変換部503によってデジタル画像情報(複数の画素それぞれの画素値)に変換される。デジタル画像情報は、例えば8bitで示される場合には、黒の画素値が0となり、白の画素値が255となる。   The reflected light reflected by the document is condensed on the photoelectric conversion element by the condenser lenses in the plurality of sensors 43 and read as image information. The image information read by each sensor 43 is amplified by the amplifier circuit 502 and then converted into digital image information (pixel value of each of a plurality of pixels) by the A / D conversion unit 503. When the digital image information is represented by 8 bits, for example, the black pixel value becomes 0 and the white pixel value becomes 255.

これらデジタル画像情報は、黒補正部504によりオフセット成分を除去(黒補正)され、白補正部505により補正され、画像処理部506に入力されてライン間補正などが施された後、フレームメモリ507に一時記憶される。   The offset components of these digital image information are removed by the black correction unit 504 (black correction), corrected by the white correction unit 505, input to the image processing unit 506 and subjected to line-to-line correction, and then the frame memory 507. Is temporarily stored in.

その後、デジタル画像情報は、出力制御回路508によって本体制御部122に受入可能なデータ形式に変換された後、I/F回路509を経由して本体制御部122に出力される。なお、コントローラ11からは原稿の先端が第2読取部113による読取位置に到達するタイミング(そのタイミング以降の画像データが有効データとして扱われる)を知らせるためのタイミング信号や光源の点灯信号、電源等が出力されるようになっている。   Thereafter, the digital image information is converted by the output control circuit 508 into a data format that can be received by the main body control unit 122, and then output to the main body control unit 122 via the I / F circuit 509. It should be noted that from the controller 11, a timing signal for notifying the timing at which the leading edge of the document reaches the reading position by the second reading unit 113 (image data after that timing is treated as valid data), a light source lighting signal, a power source, etc. Is output.

図4は、ADF10がシェーディングデータを生成する動作の概要を示すフローチャートである。ADF10は、センサ43がもつオフセット成分を除去するために、光源部500を消灯させてセンサ43が読取ったデータを画素毎の黒レベルデータとして取得する(S100)。次に、ADF10は、光源部500を点灯させ(S102)、センサ43が濃度基準部材146を読み取って(S104)、読取ったデータから黒レベルデータを減算して(黒補正を行い)、シェーディングデータを生成する(S106)。   FIG. 4 is a flowchart showing an outline of the operation of the ADF 10 for generating shading data. In order to remove the offset component of the sensor 43, the ADF 10 turns off the light source unit 500 and acquires the data read by the sensor 43 as black level data for each pixel (S100). Next, the ADF 10 turns on the light source unit 500 (S102), the sensor 43 reads the density reference member 146 (S104), subtracts black level data from the read data (performs black correction), and shading data. Is generated (S106).

次に、ADF10が生成するシェーディングデータについて詳述する。図5は、第2読取部113及びその周辺の構成と、第2読取部113の出力レベルとの関係を示す図である。第2読取部113は、例えば一方向に延びるロッドレンズアレイを用いた密着型イメージセンサ(CIS:Contact Image Sensor)である読取モジュールとなっている。   Next, the shading data generated by the ADF 10 will be described in detail. FIG. 5 is a diagram showing the relationship between the configuration of the second reading unit 113 and its surroundings and the output level of the second reading unit 113. The second reading unit 113 is a reading module which is, for example, a contact image sensor (CIS) using a rod lens array extending in one direction.

第2読取部113においては、例えばLEDなどの光源部40が主走査方向に延びる導光体41の端部(両端)に設けられている。導光体41、ロッドレンズアレイ42及びセンサ43は、それぞれ略平行に配置されている。光源部40及び導光体41は、一方向に延びて光を照射する照射部(光源部500:図3)となっている。ロッドレンズアレイ42は、主走査方向に配列された略同じ直径の複数のロッドレンズ420を有する。なお、略同じとは、差分が所定の閾値以下であることをいう。センサ43には、複数の画素430が主走査方向に配列されている。ロッドレンズアレイ42は、照射部が照射した光の原稿や濃度基準部材146による反射光(又は透過光)をセンサ43へ結像する。各センサ430は、ロッドレンズアレイ42により結像された光の光量を、主走査方向に配列された複数の画素430の電気信号に変換する。   In the second reading section 113, a light source section 40 such as an LED is provided at an end (both ends) of a light guide body 41 extending in the main scanning direction. The light guide body 41, the rod lens array 42, and the sensor 43 are arranged substantially parallel to each other. The light source section 40 and the light guide body 41 are irradiation sections (light source section 500: FIG. 3) that extend in one direction and emit light. The rod lens array 42 has a plurality of rod lenses 420 arranged in the main scanning direction and having substantially the same diameter. Note that “substantially the same” means that the difference is less than or equal to a predetermined threshold. A plurality of pixels 430 are arranged on the sensor 43 in the main scanning direction. The rod lens array 42 forms an image of the light emitted by the irradiating section on the original or the reflected light (or transmitted light) from the density reference member 146 on the sensor 43. Each sensor 430 converts the amount of light imaged by the rod lens array 42 into an electric signal of a plurality of pixels 430 arranged in the main scanning direction.

ロッドレンズ420は、中心付近では光を集光し易く出力レベルが高いが、端部においては出力レベルが低下する。そのため、ロッドレンズアレイ42は、ロッドレンズ420の配列間隔に応じて出力レベルの高い位置と低い位置が周期的に発生する。また、ロッドレンズ420の配列間隔が例えば0.3mmである場合、画素解像度600dpiに換算すると、ロッドレンズ420の配列間隔当たりの画素数は、7.09画素となり、必ずしも整数画素とはならない。つまり、ある注目画素での画素値と、注目画素からロッドレンズ420の配列間隔だけ離れた位置に近い比較画素の画素値との差分を求めて、差分が所定の閾値を超えているか否かを判定しても、濃度基準部材146に異物などが付着しているか否かを正確に検知することはできない。   The rod lens 420 easily collects light near the center and has a high output level, but the output level decreases at the ends. Therefore, in the rod lens array 42, a high output level and a low output level are periodically generated according to the arrangement interval of the rod lenses 420. Further, when the arrangement interval of the rod lenses 420 is, for example, 0.3 mm, when converted into a pixel resolution of 600 dpi, the number of pixels per arrangement interval of the rod lenses 420 is 7.09 pixels, which is not necessarily an integer pixel. That is, the difference between the pixel value of a certain pixel of interest and the pixel value of the comparison pixel close to the position spaced by the array distance of the rod lens 420 from the pixel of interest is calculated, and it is determined whether the difference exceeds a predetermined threshold value. Even if the determination is made, it is not possible to accurately detect whether or not a foreign substance is attached to the density reference member 146.

そこで、ADF10は、以下に示す処理を行って濃度基準部材146に異物などが付着しているか否かを判定し、異物などの影響を低減させたシェーディングデータを生成することにより、画像読取精度を向上させている。まず、図6〜図9を用いて、ADF10が異物を検出(有無を判定)する処理例について説明する。   Therefore, the ADF 10 performs the following processing to determine whether or not a foreign substance or the like is attached to the density reference member 146, and generates shading data in which the influence of the foreign substance or the like is reduced to improve the image reading accuracy. Is improving. First, a processing example in which the ADF 10 detects a foreign substance (determines the presence or absence) will be described with reference to FIGS. 6 to 9.

図6は、ADF10が異物を検出(有無を判定)するために有する機能(異物判定機能)の概要を示すブロック図である。図7は、ADF10がシェーディングデータにおける異物の有無を判定する処理例を示すフローチャートである。図6に示すように、ADF10は、第1記憶部60、第2記憶部61、比較画素生成部62、比較部63及び異物判定部64を有する。比較画素生成部62、比較部63及び異物判定部64は、例えばコントローラ11が備えるCPUが実行するプログラム、又はハードウェアによって一部又は全部が構成される。第1記憶部60及び第2記憶部61は、例えばコントローラ11が備えるメモリによって構成される。   FIG. 6 is a block diagram showing an outline of a function (foreign matter determination function) that the ADF 10 has for detecting a foreign matter (determining presence / absence). FIG. 7 is a flowchart showing a processing example in which the ADF 10 determines the presence / absence of a foreign matter in shading data. As shown in FIG. 6, the ADF 10 includes a first storage unit 60, a second storage unit 61, a comparison pixel generation unit 62, a comparison unit 63, and a foreign matter determination unit 64. The comparison pixel generation unit 62, the comparison unit 63, and the foreign matter determination unit 64 are partially or wholly configured by a program executed by a CPU included in the controller 11 or hardware. The 1st memory | storage part 60 and the 2nd memory | storage part 61 are comprised by the memory with which the controller 11 is equipped, for example.

まず、コントローラ11は、シェーディングデータを揮発性メモリである第1記憶部60に格納し、注目画素となる画素位置のポインタPを初期化する(S200)。上述したように、ロッドレンズ420の配列間隔を所定解像度における画素数に換算すると整数にはならないため、ここでは画素数(画素幅)の整数部をD、小数部をdと定義し、決定する(S202)。   First, the controller 11 stores the shading data in the first storage unit 60, which is a volatile memory, and initializes the pointer P of the pixel position of the pixel of interest (S200). As described above, when the arrangement interval of the rod lenses 420 is converted into the number of pixels in the predetermined resolution, it does not become an integer. Therefore, here, the integer part of the number of pixels (pixel width) is defined as D, and the decimal part is defined as d. (S202).

例えば、ロッドレンズ420の配列間隔が0.3mmの場合、ロッドレンズ420の配列間隔は、600dpiの画素数に換算すると7.09画素になるので、この場合はD=7、d=0.09となる。後述する補間演算は、このDとdの値に基づいて行われる。このD及びdのパラメータは、ロッドレンズ420の直径の製造上の個体ばらつきや密着型イメージセンサ(CIS:Contact Image Sensor)の組立時のばらつきによって一定ではないため、操作部121が受入れる操作入力に応じて変更可能にされてもよい。この場合には、操作部121が配列間隔設定部となって操作入力が比較画素生成部62に対して入力される。   For example, when the array interval of the rod lenses 420 is 0.3 mm, the array interval of the rod lenses 420 is 7.09 pixels when converted into the number of pixels of 600 dpi. In this case, D = 7 and d = 0.09. Becomes The interpolation calculation described later is performed based on the values of D and d. The parameters D and d are not constant due to individual variations in the diameter of the rod lens 420 during manufacturing and variations in the assembly of a contact image sensor (CIS), so that the operation unit 121 accepts an operation input. It may be changeable accordingly. In this case, the operation unit 121 serves as the arrangement interval setting unit, and the operation input is input to the comparison pixel generation unit 62.

コントローラ11は、ポインタP、P+D−1、P+D、P+D+1、P+D+2の画素値を読み出す(S204)。ここで、ポインタPの画素位置における画素値をS(P)とする。また、ポインタPは、注目画素位置を示しており、P+D−1、P+D、P+D+1、P+D+2の4点については、図8に示すように、注目画素位置Pからロッドレンズ420の配列間隔であるD+d離れた位置における最も近い4画素の位置を示している。   The controller 11 reads out the pixel values of the pointers P, P + D-1, P + D, P + D + 1, and P + D + 2 (S204). Here, the pixel value at the pixel position of the pointer P is S (P). Further, the pointer P indicates the target pixel position, and the four points P + D-1, P + D, P + D + 1, and P + D + 2 are D + d, which is the array interval of the rod lenses 420 from the target pixel position P, as shown in FIG. The position of the closest four pixels in the distant position is shown.

比較画素生成部62は、ポインタP+D−1、P+D、P+D+1、P+D+2の位置における画素値計4点を用いて、仮想の画素位置における画素値(これを比較画素値と呼ぶ)を生成(算出)する(S206)。この画素値をS(P+D+d)と呼ぶ。比較画素値は、注目画素からロッドレンズ420の配列間隔(D+d)離れた位置における画素値である。   The comparison pixel generation unit 62 generates (calculates) a pixel value at a virtual pixel position (this is referred to as a comparison pixel value) by using the pixel value total of 4 points at the positions of the pointers P + D-1, P + D, P + D + 1, and P + D + 2. Yes (S206). This pixel value is called S (P + D + d). The comparison pixel value is a pixel value at a position distant from the pixel of interest by the arrangement interval (D + d) of the rod lenses 420.

比較部63は、S204及びS206の処理で求めた2つの画素値を比較、例えば差分を取り、これをΔS(=S(P)−S(P+D+d))とする(S208)。このとき、S(P)とS(P+D+d)は、ロッドレンズ420の配列間隔(D+d)離れた位置の画素値であるため、センサ43の出力値は同等となるが、濃度基準部材146に異物があると差が生じる。   The comparison unit 63 compares the two pixel values obtained in the processing of S204 and S206, for example, takes a difference and sets this as ΔS (= S (P) −S (P + D + d)) (S208). At this time, since S (P) and S (P + D + d) are pixel values at positions apart from the arrangement interval (D + d) of the rod lenses 420, the output values of the sensor 43 are equal, but the density reference member 146 is not contaminated by foreign matter. Makes a difference.

コントローラ11は、S208の処理で算出したΔSが所定の閾値を超えていた場合、異物があると判定して処理を終了し(S210:Yes)、閾値を超えていなければ正常と判定してS212の処理に進む(S210:No)。   When ΔS calculated in the process of S208 exceeds a predetermined threshold value, the controller 11 determines that there is a foreign substance and terminates the process (S210: Yes), and when it does not exceed the threshold value, determines normal and determines S212. The process proceeds to (S210: No).

コントローラ11は、ポインタPが最終画素位置でない場合は(S212:No)、ポインタPの値を1インクリメントし(S216)、S204の処理に戻り、主走査方向の次の画素について、異物の有無の判定を行う。また、コントローラ11は、ポインタPが最終画素位置である場合は(S212:Yes)、この時点でシェーディングデータに異物の影響がなかったことになるので、第1記憶部60に格納されているシェーディングデータを不揮発性メモリである第2記憶部61に格納し、処理を終了する(S214)。   When the pointer P is not at the final pixel position (S212: No), the controller 11 increments the value of the pointer P by 1 (S216), returns to the processing of S204, and determines whether there is a foreign substance in the next pixel in the main scanning direction. Make a decision. Further, when the pointer P is at the final pixel position (S212: Yes), it means that the shading data is not affected by the foreign matter at this time, so the shading stored in the first storage unit 60 is performed. The data is stored in the second storage unit 61, which is a non-volatile memory, and the process ends (S214).

なお、比較画素生成部62は、例えばバイキュービック法(3次関数コンボリューション法)を用いて注目画素からロッドレンズ420の配列間隔(D+d)離れた位置(図8に白丸で示した比較画素位置)における画素値を求める。例えば、ポインタP+D−1、P+D、P+D+1、P+D+2が示す画素位置における画素値をそれぞれ、S(P+D−1)、S(P+D)、S(P+D+1)、S(P+D+2)とすると、求める比較画素位置における画素値S(P+D+d)は、下式1によって表される。   The comparison pixel generation unit 62 uses, for example, a bicubic method (third-order function convolution method) to separate the array distance (D + d) of the rod lenses 420 from the pixel of interest (the comparison pixel position shown by a white circle in FIG. 8). ) Pixel value is obtained. For example, if the pixel values at the pixel positions indicated by the pointers P + D-1, P + D, P + D + 1, and P + D + 2 are S (P + D-1), S (P + D), S (P + D + 1), and S (P + D + 2), the comparison pixel position to be obtained. The pixel value S (P + D + d) in is expressed by the following Expression 1.

S(P+D+d)= W1・S(P+D−1)+W2・S(P+D)
+W3・S(P+D+1)+W4・S(P+D+2) ・・・(1)
S (P + D + d) = W1 · S (P + D-1) + W2 · S (P + D)
+ W3 · S (P + D + 1) + W4 · S (P + D + 2) ・ ・ ・ (1)

ここで、W1〜W4は補正係数である。画素数の小数部dに対して、1/32画素(≒0.031画素)までの分解能に対応可能にする場合、補正係数W1〜W4はの図9に示されたようになる。   Here, W1 to W4 are correction coefficients. When it is possible to correspond to the resolution up to 1/32 pixel (≈0.031 pixel) with respect to the decimal part d of the number of pixels, the correction coefficients W1 to W4 are as shown in FIG.

ロッドレンズ420の配列間隔に対応する画素数の小数部dは、正の値だけでなく、負の値となることがある。例えば、ロッドレンズ420の配列間隔が6.9画素分である場合、D=7、d=−0.1とすることがある。dが負の値の場合、図8に示した比較画素位置は、P+Dの画素位置よりも図中の左側になる。よって、バイキュービック法で用いる画素位置は図8の例の画素位置から1画素分ずれたP+D−2、P+D−1、P+D、P+D+1の4点となる。   The fractional part d of the number of pixels corresponding to the arrangement interval of the rod lenses 420 may be a negative value as well as a positive value. For example, if the array interval of the rod lenses 420 is 6.9 pixels, D = 7 and d = -0.1 may be set. When d is a negative value, the comparison pixel position shown in FIG. 8 is on the left side of the pixel position of P + D in the drawing. Therefore, the pixel positions used in the bicubic method are four points P + D-2, P + D-1, P + D, and P + D + 1, which are shifted by one pixel from the pixel positions in the example of FIG.

また、ここでは比較部63が注目画素と比較画素との差を取っているが、注目画素と比較画素との比をとることによっても、同様の方法で異物検知をすることが可能である。   Further, although the comparison unit 63 takes the difference between the target pixel and the comparison pixel here, foreign matter can be detected by the same method by taking the ratio between the target pixel and the comparison pixel.

このように、ADF10は、注目画素からロッドレンズ420の配列間隔だけ離れた位置における画素値を生成し、注目画素との比較対象にすることにより、ロッドレンズ420に対して配列間隔離れた位置関係の画素値を比較でき、高精度に濃度基準部材146及び読取位置のガラス面の異物を検出可能である。   As described above, the ADF 10 generates a pixel value at a position distant from the pixel of interest by the array distance of the rod lens 420, and sets the pixel value as a comparison target with the pixel of interest, and thereby the positional relationship apart from the rod lens 420 by the array interval. The pixel values can be compared, and the foreign substance on the density reference member 146 and the glass surface at the reading position can be detected with high accuracy.

次に、ADF10が異物を検出するために有する機能(異物判定機能)の第1変形例について説明する。図10は、主走査方向に配列された複数のセンサ43の出力レベル(シェーディングデータ)を模式的に示す図である。   Next, a first modification of the function (foreign matter determination function) that the ADF 10 has for detecting foreign matter will be described. FIG. 10 is a diagram schematically showing output levels (shading data) of the plurality of sensors 43 arranged in the main scanning direction.

シェーディングデータは、ロッドレンズアレイ42の構造に起因する比較的高周波な変動成分の他に、導光体41を含む光源部500の構造に起因する照明ムラなどの影響によって、主走査方向に比較的緩やかな変動(低周波成分)を持つことが知られている。特に、主走査方向の両端部では、図10(a)に示すように、出力レベルが低下する。   The shading data is comparatively high in the main scanning direction due to the influence of the unevenness of illumination caused by the structure of the light source unit 500 including the light guide 41 in addition to the relatively high-frequency fluctuation component caused by the structure of the rod lens array 42. It is known to have a gentle fluctuation (low frequency component). In particular, at both ends in the main scanning direction, the output level decreases as shown in FIG.

このシェーディングデータの変動が考慮されなければ、異物がない範囲でも注目画素値と比較画素値の差が大きくなり、異物があると誤検出が発生する可能性がある。そこで、ADF10は、図10(a)に示したシェーディングデータから、図10(a)に示したシェーディングデータを平滑化したデータ、すなわち図10(b)に示した変動成分(低周波成分)を減算して除去する。この結果、図10(c)に示したように、ロッドレンズアレイ42による変動成分と異物による変動成分を含むデータが抽出される。   If the fluctuation of the shading data is not taken into consideration, the difference between the pixel value of interest and the comparison pixel value becomes large even in the range where there is no foreign substance, and erroneous detection may occur if there is a foreign substance. Therefore, the ADF 10 smoothes the shading data shown in FIG. 10A from the shading data shown in FIG. 10A, that is, the fluctuation component (low frequency component) shown in FIG. 10B. Subtract and remove. As a result, as shown in FIG. 10C, data including the fluctuation component due to the rod lens array 42 and the fluctuation component due to the foreign matter is extracted.

図11は、ADF10が異物を検出(有無を判定)するために有する機能の第1変形例を示すブロック図である。なお、ADF10が有する機能であって実質的に同一のものには、同一の符号が付してある。図11に示すように、異物判定機能の第1変形例では、ADF10は、第1記憶部60、第2記憶部61、比較画素生成部62、比較部63、異物判定部64及び高周波成分抽出部65を有する。   FIG. 11 is a block diagram showing a first modified example of the function of the ADF 10 for detecting a foreign substance (determining presence / absence). Note that the functions that the ADF 10 has and that are substantially the same have the same reference numerals. As shown in FIG. 11, in the first modification of the foreign matter determination function, the ADF 10 includes a first storage unit 60, a second storage unit 61, a comparison pixel generation unit 62, a comparison unit 63, a foreign matter determination unit 64, and a high frequency component extraction. It has a part 65.

高周波成分抽出部65は、平滑部650及び減算部652を有する。平滑部650は、シェーディングデータを平滑化する。減算部652は、平滑部650が平滑化したデータをシェーディングデータから減算する。つまり、コントローラ11は、第1記憶部60からシェーディングデータを読み出し、高周波成分抽出部65においてシェーディングデータの低周波成分を除去した後、上述した異物判定を行う。   The high frequency component extraction unit 65 has a smoothing unit 650 and a subtraction unit 652. The smoothing unit 650 smoothes the shading data. The subtraction unit 652 subtracts the data smoothed by the smoothing unit 650 from the shading data. That is, the controller 11 reads the shading data from the first storage unit 60, removes the low frequency components of the shading data in the high frequency component extraction unit 65, and then performs the above-described foreign matter determination.

次に、ADF10が異物を検出(有無を判定)するために有する機能(異物判定機能)の第2変形例について説明する。図12は、ADF10が異物を検出(有無を判定)するために有する機能の第2変形例を示すブロック図である。図12に示すように、異物判定機能の第2変形例では、ADF10は、第1記憶部60、第2記憶部61、比較画素生成部62−1〜62−2n、比較部63、異物判定部64、比較画素数設定部66及び平均化部(第1平均化部)67を有する。   Next, a second modified example of the function (foreign matter determination function) that the ADF 10 has for detecting (determining presence / absence) of foreign matter will be described. FIG. 12 is a block diagram showing a second modified example of the function of the ADF 10 for detecting a foreign substance (determining presence / absence). As shown in FIG. 12, in the second modified example of the foreign matter determination function, the ADF 10 includes the first storage unit 60, the second storage unit 61, the comparison pixel generation units 62-1 to 62-2n, the comparison unit 63, and the foreign matter determination. It includes a unit 64, a comparison pixel number setting unit 66, and an averaging unit (first averaging unit) 67.

また、図13は、異物判定機能の第2変形例における画素値を生成する位置を示す図である。図14は、異物判定機能の第2変形例が異物の有無を判定する処理を示すフローチャートである。シェーディングデータは、各ロッドレンズ420の主走査方向の同じ位置における各画素値を比べると、センサ43のランダムノイズの影響などにより、完全に画素値が一致するわけではない。そこで、異物判定機能の第2変形例では、注目画素に対する比較画素を数点取得し、その数点の比較画素を平均化して、注目画素と比較する。   Further, FIG. 13 is a diagram showing positions where pixel values are generated in the second modification of the foreign matter determination function. FIG. 14 is a flowchart showing a process for determining the presence / absence of a foreign substance in the second modified example of the foreign substance determination function. In the shading data, when the pixel values at the same position in the main scanning direction of the rod lenses 420 are compared, the pixel values do not match completely due to the influence of random noise of the sensor 43 and the like. Therefore, in the second modified example of the foreign matter determination function, several comparison pixels for the target pixel are acquired, and the comparison pixels of the several points are averaged and compared with the target pixel.

図14に示すように、コントローラ11は、シェーディングデータを揮発性メモリである第1記憶部60に格納し、注目画素となる画素位置のポインタPを初期化する(S300)。次に、コントローラ11は、ロッドレンズ420の配列間隔(D+d)の画素数(画素幅)の整数部をD、小数部をdと定義し、注目画素からの平均化範囲nを決定する(S302)。nは、注目画素の周り何周期までを比較画素の対象とするかを示すパラメータであり、例えばn=2であれば、注目画素位置Pから周り2周期までを比較画素の対象とするため、比較画素生成部62−1〜62−2nが生成する比較画素はそれぞれ計4点となる。パラメータnは、比較画素数設定部66が設定する。   As shown in FIG. 14, the controller 11 stores the shading data in the first storage unit 60, which is a volatile memory, and initializes the pointer P of the pixel position of the pixel of interest (S300). Next, the controller 11 defines the integer part of the number of pixels (pixel width) of the array interval (D + d) of the rod lenses 420 as D and the decimal part as d, and determines the averaging range n from the pixel of interest (S302). ). n is a parameter indicating how many cycles around the pixel of interest are the target of comparison pixels. For example, if n = 2, the target pixel position P and the surrounding two cycles are targets of comparison pixels. The total number of comparison pixels generated by the comparison pixel generation units 62-1 to 62-2n is four. The parameter n is set by the comparison pixel number setting unit 66.

比較画素生成部62−1〜62−2nは、各比較画素を生成する処理を行う(S40)。ここで、比較画素生成部62−1〜62−2nが行うS40の処理については、図15を用いて詳述する。図15は、比較画素生成部62−1〜62−2nが行う処理を示すフローチャートである。   The comparison pixel generation units 62-1 to 62-2n perform a process of generating each comparison pixel (S40). Here, the process of S40 performed by the comparison pixel generation units 62-1 to 62-2n will be described in detail with reference to FIG. FIG. 15 is a flowchart showing processing performed by the comparison pixel generation units 62-1 to 62-2n.

まず、コントローラ11は、パラメータkの値を−nに決定する(S400)。パラメータkとは、注目画素に対してどこの周期の比較画素値を生成するかを示す。例えばn=2の場合、k=−2となり、図13に示したように、注目画素位置Pからセンサ(センサチップ)43の先端側(図13の左側)2周期離れた位置における画素値を生成することを示す。   First, the controller 11 determines the value of the parameter k to be -n (S400). The parameter k indicates which cycle the comparison pixel value is generated for the target pixel. For example, when n = 2, k = -2, and as shown in FIG. 13, the pixel value at a position two cycles away from the target pixel position P on the front end side (left side in FIG. 13) of the sensor (sensor chip) 43. Indicates to generate.

次に、コントローラ11は、その時のkの正負を判断する(S402)。ここでは、図8に示したバイキュービック法を使用しており、求める比較画素位置の画素値を周りの4点の画素値を使用して生成するが、注目画素からセンサ43の先端側(図13の左側)の画素値を生成するか、センサ43の後端側(図13の右側)の画素値を生成するかで、生成に使用する4点の画素位置を示すポインタがそれぞれ異なるため、kの正負を判断している。   Next, the controller 11 determines the positive / negative of k at that time (S402). Here, the bicubic method shown in FIG. 8 is used, and the pixel value at the comparison pixel position to be obtained is generated by using the pixel values of the surrounding four points. Whether the pixel value of the left side of 13 or the pixel value of the rear end side (right side of FIG. 13) of the sensor 43 is generated, since the pointers indicating the four pixel positions used for generation are different, The sign of k is judged.

S404及びS422の処理では、画素数の小数部dの整数倍が1画素を超えていないかを判断する。1画素以上を超えている場合は、超えている整数画素分(Cとする:S416、S428)だけ画素値の生成に使用する4点の画素位置を示すポインタがずれるため、S404及びS422の判定が必要となる。   In the processing of S404 and S422, it is determined whether the integer multiple of the decimal part d of the number of pixels exceeds 1 pixel. If the number of pixels exceeds one pixel, the pointers indicating the pixel positions of the four points used to generate the pixel value are shifted by the integer pixel (C: S416, S428) that exceeds the number of pixels, so the determination in S404 and S422 is made. Is required.

コントローラ11は、ポインタが示す比較画素周りの4画素の画素値を読み出す(S406、S418、S424、S430)。   The controller 11 reads out pixel values of four pixels around the comparison pixel indicated by the pointer (S406, S418, S424, S430).

コントローラ11は、その4つの画素値から仮想の画素値(比較画素値)を図12の比較画素生成部にて生成する(S408、S420、S426、S432)。   The controller 11 generates a virtual pixel value (comparison pixel value) from the four pixel values in the comparison pixel generation unit of FIG. 12 (S408, S420, S426, S432).

そして、コントローラ11は、k=nであるか否かを判定する(S410)。コントローラ11は、k=nでなければ(S410:No)、kをインクリメントし(S412)、再び隣の周期の比較画素値を生成する(図13の場合は、次に隣のk=−1の画素値を生成)。   Then, the controller 11 determines whether or not k = n (S410). If k = n is not satisfied (S410: No), the controller 11 increments k (S412), and again generates the comparison pixel value of the next cycle (in the case of FIG. 13, next k = −1). Pixel value of).

コントローラ11は、kが0ではないことを判定する(S414)。コントローラ11は、k=0である場合、それは注目画素位置を示しており、画素値を生成する必要はないため、再びS412の処理に進んでkをインクリメントする(S414:No)。また、コントローラ11は、k≠0である場合、S402の処理に進む。   The controller 11 determines that k is not 0 (S414). When k = 0, the controller 11 indicates the target pixel position and does not need to generate a pixel value. Therefore, the controller 11 again proceeds to the processing of S412 and increments k (S414: No). If k ≠ 0, the controller 11 proceeds to the process of S402.

また、コントローラ11は、k=nであると判定した場合(すべての比較画素値を生成した場合)、S304の処理に進む。   When the controller 11 determines that k = n (when all comparison pixel values have been generated), the controller 11 proceeds to the process of S304.

そして、コントローラ11は、S40の処理で生成した画素値の平均値S(Ave)を平均化部67に算出させる(図14:S304)。   Then, the controller 11 causes the averaging unit 67 to calculate the average value S (Ave) of the pixel values generated in the process of S40 (FIG. 14: S304).

コントローラ11は、ポインタPの画素位置における画素値S(P)を算出する(S306)。比較部63は、2つの画素値の差分を取り、ΔS=S(P)−S(Ave)を算出する(S308)。   The controller 11 calculates the pixel value S (P) at the pixel position of the pointer P (S306). The comparison unit 63 takes the difference between the two pixel values and calculates ΔS = S (P) −S (Ave) (S308).

コントローラ11は、S308の処理で算出したΔSが所定の閾値を超えていた場合、異物があると判定して処理を終了し(S310:Yes)、閾値を超えていなければ正常と判定してS312の処理に進む(S310:No)。   When ΔS calculated in the process of S308 exceeds a predetermined threshold value, the controller 11 determines that there is a foreign substance and terminates the process (S310: Yes), and when it does not exceed the threshold value, determines that it is normal and determines S312. The process proceeds to (S310: No).

コントローラ11は、ポインタPが最終画素位置でない場合は(S312:No)、ポインタPの値を1インクリメントし(S316)、S40の処理に戻り、主走査方向の次の画素について、異物の有無の判定を行う。また、コントローラ11は、ポインタPが最終画素位置である場合は(S312:Yes)、この時点でシェーディングデータに異物の影響がなかったことになるので、第1記憶部60に格納されているシェーディングデータを不揮発性メモリである第2記憶部61に格納し、処理を終了する(S314)。   When the pointer P is not at the final pixel position (S312: No), the controller 11 increments the value of the pointer P by 1 (S316), returns to the processing of S40, and determines whether there is a foreign substance in the next pixel in the main scanning direction. Make a decision. Further, when the pointer P is at the final pixel position (S312: Yes), it means that the shading data is not affected by the foreign matter at this time, so the shading stored in the first storage unit 60 is determined. The data is stored in the second storage unit 61, which is a non-volatile memory, and the process ends (S314).

なお、ADF10は、シェーディングデータを複数回(数ライン分)取得し、画素毎に平均化した後に、異物判定機能の第2変形例による処理を行ってもよい。この場合、例えば第1記憶部60に入力される入力データを平均化するライン平均化部が設けられてもよい。ADF10は、シェーディングデータを平均化した後に、異物判定を行うことにより、センサ43のランダムノイズや光源部500の光量の経時変化の影響を軽減してさらに精度の高い異物判定(異物検知)を行うことが可能となる。   Note that the ADF 10 may acquire the shading data a plurality of times (several lines) and average each pixel, and then perform the process according to the second modification of the foreign matter determination function. In this case, for example, a line averaging unit that averages the input data input to the first storage unit 60 may be provided. The ADF 10 performs foreign object determination after averaging the shading data, thereby reducing the influence of random noise of the sensor 43 and the temporal change of the light amount of the light source unit 500, and performs more accurate foreign object determination (foreign object detection). It becomes possible.

次に、ADF10が異物を検出(有無を判定)するために有する機能(異物判定機能)の第3変形例について説明する。図16は、ADF10が異物を検出(有無を判定)するために有する機能の第3変形例を示すブロック図である。図17は、異物判定機能の第3変形例における画素値を生成する位置を示す図である。図16に示すように、異物判定機能の第3変形例では、ADF10は、第1記憶部60、第2記憶部61、比較画素生成部62−1〜62−n’、比較部63、異物判定部64、比較画素数設定部66、平均化部67及び平均化部(第2平均化部)67aを有する。   Next, a third modified example of the function (foreign matter determination function) that the ADF 10 has for detecting (determining the presence or absence) of a foreign matter will be described. FIG. 16 is a block diagram showing a third modification of the function of the ADF 10 for detecting a foreign substance (determining the presence / absence). FIG. 17 is a diagram showing positions where pixel values are generated in the third modification of the foreign matter determination function. As shown in FIG. 16, in the third modification of the foreign matter determination function, the ADF 10 includes a first storage unit 60, a second storage unit 61, comparison pixel generation units 62-1 to 62-n ′, a comparison unit 63, and a foreign matter. It includes a determination unit 64, a comparison pixel number setting unit 66, an averaging unit 67, and an averaging unit (second averaging unit) 67a.

異物判定機能の第2変形例では、注目画素に対する比較画素について平均値をとることによってノイズの影響を抑え、異物検知精度を上げたが、異物判定機能の第3変形例では、注目画素の平均値を算出することによって注目画素自体のノイズの影響を低減する。   In the second modification of the foreign matter determination function, the influence of noise is suppressed by taking the average value of the comparison pixels with respect to the target pixel, and the foreign matter detection accuracy is improved. By calculating the value, the influence of noise of the pixel of interest itself is reduced.

具体的には、異物判定機能の第3変形例では、コントローラ11は、注目画素Aに対して、周りの画素B・画素Cを用いて注目画素平均値を求め、画素A、B、Cに対してロッドレンズ420の配列間隔分離れた位置における画素A’、B’、C’の画素値をバイキュービック法で生成する。そして、コントローラ11は、それらの平均値(比較画素平均値)を算出した後、平均化部67aが算出した注目画素平均値と、平均化部67が算出した比較画素平均値の差分を比較部63が算出し、異物判定部64が異物判定を行う。   Specifically, in the third modification example of the foreign matter determination function, the controller 11 obtains the target pixel average value for the target pixel A by using the surrounding pixels B and C, and determines the target pixels A, B, and C as pixels. On the other hand, the pixel values of the pixels A ′, B ′, and C ′ at the positions separated by the array distance of the rod lens 420 are generated by the bicubic method. Then, the controller 11 calculates the average value (comparison pixel average value) thereof, and then compares the difference between the target pixel average value calculated by the averaging unit 67a and the comparison pixel average value calculated by the averaging unit 67. 63, and the foreign matter determination unit 64 performs foreign matter determination.

なお、注目画素及び比較画素をそれぞれ何点取得し平均化するかは、比較画素数設定部66がパラメータn’を設定することによって決める。例えば、図17に示した画素A,B,Cの画素値の平均値と画素A’、B’、C’の画素値の平均値を比較する場合、n’=3である。   The number of target pixels and the number of comparison pixels to be acquired and averaged is determined by the comparison pixel number setting unit 66 by setting the parameter n ′. For example, when comparing the average value of the pixel values of the pixels A, B, and C shown in FIG. 17 with the average value of the pixel values of the pixels A ′, B ′, and C ′, n ′ = 3.

なお、ここでは注目画素・比較画素をそれぞれ3点の画素値で平均化したが(n’=3)、n’が大きすぎると異物の影響も平均化され異物検知精度が下がるので最大ロッドレンズ1周期間隔分が妥当である。   Note that the target pixel and the comparison pixel are averaged by the pixel values of three points respectively (n '= 3), but if n'is too large, the influence of foreign matter is averaged and the foreign matter detection accuracy decreases, so the maximum rod lens One cycle interval is appropriate.

また、ADF10は、第2読取部113の密着型イメージセンサの組立時において、ロッドレンズアレイ42がたわんで配置される場合がある。例えば、図18に示すように、ロッドレンズアレイ42のたわみにより、センサ43の軸に対して、ロッドレンズアレイ42の中心軸がずれていることがある。   Further, in the ADF 10, the rod lens array 42 may be flexibly arranged when the contact image sensor of the second reading unit 113 is assembled. For example, as shown in FIG. 18, the center axis of the rod lens array 42 may deviate from the axis of the sensor 43 due to the deflection of the rod lens array 42.

図18に示されたように、ロッドレンズ420の幅に対応する画素数が場所によって異なる。ロッドレンズアレイ42端部側の画素数aとロッドレンズアレイ42中央側の画素数bとでは差異(a<b)が生じている。つまり、場所によって画素数の小数部を表すパラメータdに差異が生じ、異物検知に影響を与えうる。   As shown in FIG. 18, the number of pixels corresponding to the width of the rod lens 420 varies depending on the location. A difference (a <b) occurs between the number a of pixels on the end side of the rod lens array 42 and the number b of pixels on the center side of the rod lens array 42. That is, the parameter d representing the fractional part of the number of pixels varies depending on the location, which may affect foreign matter detection.

そこで、ADF10は、図19に示したように、シェーディングデータを主走査方向にZブロックに分割し、各々のブロックでロッドレンズ420の配列間隔(D+d)の整数部D、小数部dを任意に設定可能にされてもよい。例えば、1ブロックはD1,d1、2ブロックはD2,d2、・・・、ZブロックはDZ,dZのように、ブロックごとに整数部D,小数部dが個別に設定されてもよい。   Therefore, as shown in FIG. 19, the ADF 10 divides the shading data into Z blocks in the main scanning direction, and arbitrarily sets the integer part D and the decimal part d of the array interval (D + d) of the rod lenses 420 in each block. It may be configurable. For example, the integer part D and the decimal part d may be individually set for each block, such as 1 block has D1, d1, 2 blocks has D2, d2, ..., and Z block has DZ, dZ.

この場合、コントローラ11は、図20に示した処理を行う。つまり、コントローラ11は、シェーディングデータを揮発性メモリである第1記憶部60に格納し、注目画素となる画素位置のポインタPを初期化し(S500)、ブロック分割数Z、及び画素数(画素幅)の整数部D、小数部dをブロックごとに定義し、決定する(S502)。   In this case, the controller 11 performs the processing shown in FIG. That is, the controller 11 stores the shading data in the first storage unit 60 that is a volatile memory, initializes the pointer P of the pixel position that is the target pixel (S500), and determines the block division number Z and the pixel number (pixel width). ), The integer part D and the decimal part d are defined for each block and determined (S502).

コントローラ11は、ポインタP、P+D−1、P+D、P+D+1、P+D+2の画素値を読み出し、ポインタPの画素位置における画素値をS(P)とする(S504)。   The controller 11 reads the pixel values of the pointers P, P + D-1, P + D, P + D + 1, and P + D + 2, and sets the pixel value at the pixel position of the pointer P to S (P) (S504).

比較画素生成部62は、ポインタP+D−1、P+D、P+D+1、P+D+2の位置における画素値計4点を用いて、仮想の画素位置における画素値S(P+D+d)を生成(算出)する(S506)。   The comparison pixel generation unit 62 generates (calculates) the pixel value S (P + D + d) at the virtual pixel position by using the four pixel value totals at the positions of the pointers P + D-1, P + D, P + D + 1, and P + D + 2 (S506).

比較部63は、S504及びS506の処理で求めた2つの画素値を比較、例えば差分を取り、これをΔS(=S(P)−S(P+D+d))とする(S508)。このとき、S(P)とS(P+D+d)は、ロッドレンズ420の配列間隔(D+d)離れた位置の画素値であるため、センサ43の出力値は同等となるが、濃度基準部材146に異物があると差が生じる。   The comparison unit 63 compares the two pixel values obtained in the processing of S504 and S506, for example, takes a difference and sets this as ΔS (= S (P) −S (P + D + d)) (S508). At this time, since S (P) and S (P + D + d) are pixel values at positions apart from the arrangement interval (D + d) of the rod lenses 420, the output values of the sensor 43 are equal, but the density reference member 146 is not contaminated by foreign matter. Makes a difference.

コントローラ11は、S508の処理で算出したΔSが所定の閾値を超えていた場合、異物があると判定して処理を終了し(S510:Yes)、閾値を超えていなければ正常と判定してS512の処理に進む(S510:No)。   If ΔS calculated in the process of S508 exceeds the predetermined threshold value, the controller 11 determines that there is a foreign substance and terminates the process (S510: Yes), and if it does not exceed the threshold value, determines that it is normal and determines S512. (S510: No).

コントローラ11は、ポインタPが最終画素位置でない場合(S512:No)、S516の処理に進む。コントローラ11は、分割した各ブロックの最終画素であるか否かを判定し(S516)、最終画素であれば(S516:Yes)、S518の処理でZをインクリメントし、隣のブロックの異物判定を開始する。また、コントローラ11は、最終画素でなければ(S516:No)、ポインタPの値を1インクリメントし(S520)、S504の処理に戻り、主走査方向の次の画素について、異物の有無の判定を行う。   When the pointer P is not at the final pixel position (S512: No), the controller 11 proceeds to the process of S516. The controller 11 determines whether or not it is the final pixel of each divided block (S516), and if it is the final pixel (S516: Yes), increments Z in the process of S518 to determine the foreign substance in the adjacent block. Start. If it is not the final pixel (S516: No), the controller 11 increments the value of the pointer P by 1 (S520), returns to the process of S504, and determines the presence / absence of foreign matter in the next pixel in the main scanning direction. To do.

また、コントローラ11は、ポインタPが最終画素位置である場合は(S512:Yes)、この時点でシェーディングデータに異物の影響がなかったことになるので、第1記憶部60に格納されているシェーディングデータを不揮発性メモリである第2記憶部61に格納し、処理を終了する(S514)。   If the pointer P is at the final pixel position (S512: Yes), it means that the shading data is not affected by the foreign matter at this point, and thus the shading stored in the first storage unit 60 is not detected. The data is stored in the second storage unit 61, which is a non-volatile memory, and the process ends (S514).

また、第2読取部113の密着型イメージセンサは、複数の画素430を有するセンサ(チップ)43が複数個、主走査方向に配列された構成であるため、センサ43ごとの感度差(ばらつき)により、入射光量が均一であったとしても、図21に示したように隣り合うセンサ43同士で画素値が相違する場合がある。   Further, since the contact-type image sensor of the second reading unit 113 has a configuration in which a plurality of sensors (chips) 43 having a plurality of pixels 430 are arranged in the main scanning direction, the sensitivity difference (variation) between the sensors 43. Therefore, even if the incident light amount is uniform, the pixel values may be different between the adjacent sensors 43 as shown in FIG.

さらに、図21に示したように、センサ43のつなぎ目には物理的に例えば1画素分の間隙が存在する。そのため、注目画素や比較画素同士でセンサ43間を跨がる場合、センサ43同士の感度差の影響や1画素分の間隙による画素間隔のずれの影響が含まれてしまうため、異物検知には避ける必要がある。そこで、ADF10は、センサ43を跨がずに異物判定をするようにされている。   Further, as shown in FIG. 21, a gap for one pixel physically exists at the joint of the sensor 43. Therefore, when the target pixel or the comparison pixel straddles the sensors 43, the influence of the sensitivity difference between the sensors 43 and the influence of the shift of the pixel interval due to the gap of one pixel are included, and therefore the foreign matter detection is performed. Must be avoided. Therefore, the ADF 10 does not straddle the sensor 43 and makes a foreign matter determination.

ここでは、注目画素周り1周期までを比較画素の対象とする場合(n=1)を例に説明する。上述したようにロッドレンズ420の配列間隔をD+d(D:整数部、d:画素小数点部)とし、センサ43あたりX画素あるとすると、図22の灰色で示す範囲に注目画素の位置を示すポインタPがある場合は各センサ43中央側から比較画素値を生成することによって、センサ43ごとの感度差の影響を回避することができる。   Here, a case (n = 1) in which up to one cycle around the pixel of interest is the target of comparison pixels will be described as an example. As described above, assuming that the array interval of the rod lenses 420 is D + d (D: integer part, d: pixel decimal part) and there are X pixels per sensor 43, a pointer indicating the position of the pixel of interest in the range shown in gray in FIG. When there is P, the influence of the sensitivity difference for each sensor 43 can be avoided by generating the comparison pixel value from the center side of each sensor 43.

具体的には、図22に示すように、センサ43のNチップ目に対する適応範囲は、注目画素位置を示すポインタPが下式2のときは、センサ43の先端側(図22のチップの左側)から比較画素を生成しない。   Specifically, as shown in FIG. 22, the adaptive range for the N-th chip of the sensor 43 is such that when the pointer P indicating the target pixel position is the following Expression 2, the tip end side of the sensor 43 (the left side of the chip in FIG. 22). ) Does not generate comparison pixels.

(N−1)・X+1≦ P ≦(N−1)・X+D ・・・(2)   (N-1) · X + 1 ≦ P ≦ (N−1) · X + D (2)

また、注目画素位置を示すポインタPが下式3のときは、センサ43の後端側(図22のチップの右側)から比較画素を生成しない(図23参照)。   In addition, when the pointer P indicating the position of the pixel of interest is the following Expression 3, the comparison pixel is not generated from the rear end side of the sensor 43 (right side of the chip in FIG. 22) (see FIG. 23).

N・X−D+1≦ P ≦N・X ・・・(3)   N · X−D + 1 ≦ P ≦ N · X (3)

ここでは、注目画素周り1周期までを比較画素の対象とする場合(n=1)を示しているが、注目画素周り数周期(n≧2)の範囲を比較画素の対象とする場合は、ポインタPが下式4又は5のときすべてに対して、センサ43中央側の比較画素値を生成するのではなく、図24に示したように可能な限りセンサ43端部側の画素値を生成するようにすればより比較データが増えて検知精度が上がる。   Here, the case where one cycle around the target pixel is set as the target of the comparison pixel (n = 1) is shown, but when the range of several cycles around the target pixel (n ≧ 2) is set as the target of the comparison pixel, For all of the cases where the pointer P is the expression 4 or 5, the comparison pixel value on the center side of the sensor 43 is not generated, but the pixel value on the end side of the sensor 43 is generated as much as possible as shown in FIG. By doing so, the comparison data increases and the detection accuracy increases.

(N−1)・X+1≦ P ≦(N−1)・X+nD ・・・(4)
N・X−nD+1≦ P ≦N・X ・・・(5)
(ただし、n・dが1画素を超えないとき)
(N−1) · X + 1 ≦ P ≦ (N−1) · X + nD (4)
N · X−nD + 1 ≦ P ≦ N · X (5)
(However, when n · d does not exceed 1 pixel)

さらに、ADF10は、以下のように異物判定を行う場合の閾値を変更するようにされてもよい。例えば、センサ43の内部回路構成に起因して、センサ43内の所定の画素領域が、その他画素群とは異なるリニアリティ特性を示す場合がある。図25は、センサ43端部の画素値がその他画素値に比べて低い場合を例示する図である。   Furthermore, the ADF 10 may change the threshold value when performing the foreign matter determination as follows. For example, due to the internal circuit configuration of the sensor 43, a predetermined pixel region in the sensor 43 may exhibit linearity characteristics different from those of other pixel groups. FIG. 25 is a diagram illustrating a case where the pixel value at the end of the sensor 43 is lower than the other pixel values.

図25に示したように、注目画素又は比較画素が、画素値が低下する範囲(以下、減少範囲と呼ぶ)にある場合、比較結果が大きく出てしまい、異物の誤検知をする可能性がある。そこで、ADF10は、減少範囲において異物判定の閾値を変更するように構成されている。異物検知の閾値変更範囲は、図26にも示したように、減少範囲をa画素分とすると、画素位置P’が下式6又は7によって示される範囲である。   As shown in FIG. 25, if the pixel of interest or the comparison pixel is in a range where the pixel value decreases (hereinafter referred to as a decrease range), the comparison result will be large and the foreign substance may be erroneously detected. is there. Therefore, the ADF 10 is configured to change the threshold value for foreign matter determination in the decreasing range. As shown in FIG. 26, the foreign matter detection threshold value changing range is a range in which the pixel position P ′ is represented by the following equation 6 or 7 when the decreasing range is a pixels.

(N−1)・X+1≦ P’ ≦(N−1)・X+a ・・・(6)
N・X−a+1≦ P’ ≦N・X ・・・(7)
(N−1) · X + 1 ≦ P ′ ≦ (N−1) · X + a (6)
N · X−a + 1 ≦ P ′ ≦ N · X (7)

より具体的には、図27に示したように、通常は異物検知の閾値を0±1digitとしていても、注目画素が減少範囲に含まれている場合には異物検知の閾値を−5±1digitとする。   More specifically, as shown in FIG. 27, even if the foreign substance detection threshold is normally set to 0 ± 1 digit, the foreign substance detection threshold is set to −5 ± 1 digit when the target pixel is included in the decrease range. And

また、ADF10は、比較画素が減少範囲に含まれる場合も同様に異物検知の閾値を変化させられてもよい。また、比較画素生成時に用いる画素値が減少範囲にどれほど含まれているかによって、比較結果(図27のΔS)が変動するため、減少範囲はマスク(比較画素を生成するための画素値として対象から除外)されてもよい。   Further, the ADF 10 may also change the threshold value for foreign matter detection when the comparison pixel is included in the decrease range. Further, the comparison result (ΔS in FIG. 27) varies depending on how much the pixel value used when generating the comparison pixel is included in the decrease range. Therefore, the decrease range is masked (from the target as the pixel value for generating the comparison pixel). May be excluded).

次に、ADF10の他の動作例について説明する。図28は、ADF10の他の動作例を示すフローチャートである。コントローラ11は、シェーディングデータを揮発性メモリである第1記憶部60に格納し、注目画素となる画素位置のポインタPを初期化し(S600)、画素数(画素幅)の整数部をD、小数部をdと定義し、決定する(S602)。   Next, another operation example of the ADF 10 will be described. FIG. 28 is a flowchart showing another operation example of the ADF 10. The controller 11 stores the shading data in the first storage unit 60, which is a volatile memory, initializes the pointer P of the pixel position that is the target pixel (S600), and sets the integer part of the number of pixels (pixel width) to D and the decimal. The part is defined as d and is determined (S602).

コントローラ11は、ポインタP、P+D−1、P+D、P+D+1、P+D+2の画素値を読み出し、ポインタPの画素位置における画素値をS(P)とする(S604)。   The controller 11 reads out the pixel values of the pointers P, P + D-1, P + D, P + D + 1, and P + D + 2, and sets the pixel value at the pixel position of the pointer P to S (P) (S604).

比較画素生成部62は、ポインタP+D−1、P+D、P+D+1、P+D+2の位置における画素値計4点を用いて、仮想の画素位置における比較画素値S(P+D+d)を生成(算出)する(S606)。   The comparison pixel generation unit 62 generates (calculates) the comparison pixel value S (P + D + d) at the virtual pixel position using the four pixel value totals at the positions of the pointers P + D-1, P + D, P + D + 1, and P + D + 2 (S606). .

比較部63は、S604及びS606の処理で求めた2つの画素値を比較、例えば差分を取り、これをΔS(=S(P)−S(P+D+d))とする(S608)。   The comparing unit 63 compares the two pixel values obtained in the processing of S604 and S606, for example, takes a difference and sets this as ΔS (= S (P) −S (P + D + d)) (S608).

コントローラ11は、S608の処理で算出したΔSが所定の閾値を超えていた場合(S610:Yes)、異物があると判定してS618の処理に進む。コントローラ11は、S618の処理において、異物を検知したこと及びその位置を操作部121に表示させる。また、コントローラ11は、S608の処理で算出したΔSが所定の閾値を超えていなければ正常と判定してS612の処理に進む(S610:No)。   When ΔS calculated in the process of S608 exceeds the predetermined threshold value (S610: Yes), the controller 11 determines that there is a foreign substance and proceeds to the process of S618. In the processing of S618, the controller 11 causes the operation unit 121 to display that the foreign matter is detected and its position. If the ΔS calculated in the process of S608 does not exceed the predetermined threshold value, the controller 11 determines that it is normal and proceeds to the process of S612 (S610: No).

コントローラ11は、ポインタPが最終画素位置でない場合は(S612:No)、ポインタPの値を1インクリメントし(S616)、S604の処理に戻り、主走査方向の次の画素について、異物の有無の判定を行う。また、コントローラ11は、ポインタPが最終画素位置である場合は(S612:Yes)、この時点でシェーディングデータに異物の影響がなかったことになるので、第1記憶部60に格納されているシェーディングデータを不揮発性メモリである第2記憶部61に格納し、処理を終了する(S614)。   When the pointer P is not at the final pixel position (S612: No), the controller 11 increments the value of the pointer P by 1 (S616), returns to the processing of S604, and determines whether there is a foreign substance in the next pixel in the main scanning direction. Make a decision. Further, when the pointer P is at the final pixel position (S612: Yes), it means that the shading data is not affected by the foreign matter at this time, so the shading stored in the first storage unit 60 is performed. The data is stored in the second storage unit 61, which is a non-volatile memory, and the process ends (S614).

このように、ADF10は、注目画素と比較画素との比較結果が閾値を超え、異物が検知された場合、操作部121に異物を検知したこと及びその位置を表示することにより、異物を検知したことをユーザに知らせることができる。   As described above, when the comparison result between the target pixel and the comparison pixel exceeds the threshold value and the foreign matter is detected, the ADF 10 detects the foreign matter on the operation unit 121 and displays the position thereof to detect the foreign matter. The user can be informed of this.

次に、ADF10を有する画像形成装置300について説明する。図29は、ADF10を有する画像形成装置300の構成を示す図である。画像形成装置300は、給紙部303、画像形成装置本体304、スキャナ(画像読取装置)200及びADF10を有する。   Next, the image forming apparatus 300 having the ADF 10 will be described. FIG. 29 is a diagram showing the configuration of the image forming apparatus 300 having the ADF 10. The image forming apparatus 300 includes a sheet feeding unit 303, an image forming apparatus main body 304, a scanner (image reading apparatus) 200, and an ADF 10.

画像形成装置本体304内には、タンデム方式の作像部305とこの作像部305に給紙部303から搬送路307を介して記録紙を供給するレジストローラ308と、光書き込み装置309と、定着、搬送部310と、両面トレイ311とを備えている。   In the image forming apparatus main body 304, a tandem type image forming unit 305, a resist roller 308 that supplies recording paper from the paper feeding unit 303 to the image forming unit 305 via a conveyance path 307, an optical writing device 309, The fixing / conveying unit 310 and the double-sided tray 311 are provided.

作像部305には、YMCK4色に対応して4本の感光体ドラム312が並設され、各感光体ドラム312の回りは帯電器、現像器306、転写器、クリーナ、及び除電器を含む作像要素が配置されている。   In the image forming unit 305, four photoconductor drums 312 corresponding to four colors of YMCK are arranged side by side, and each photoconductor drum 312 is surrounded by a charging device, a developing device 306, a transfer device, a cleaner, and a neutralizer. Image forming elements are arranged.

また、転写器と感光体ドラム312との間には両者のニップに挟持された状態で駆動ローラと従動ローラとの間に張架された中間転写ベルト313が配置されている。   Further, an intermediate transfer belt 313, which is stretched between a driving roller and a driven roller while being sandwiched between the nip of the transfer device and the photosensitive drum 312, is arranged.

このように構成されたタンデム方式の画像形成装置300では、YMCKの各色毎に各色に対応する感光体ドラム312に光書き込みを行い、現像器306で各色のトナー毎に現像し、中間転写ベルト313上に例えばY,M,C,Kの順で1次転写する。   In the tandem-type image forming apparatus 300 configured as described above, optical writing is performed on the photoconductor drums 312 corresponding to each color of YMCK, the developing device 306 develops for each color toner, and the intermediate transfer belt 313. For example, primary transfer is performed in the order of Y, M, C, K on top.

そして、1次転写により4色重畳されたフルカラーの画像を記録紙に2次転写した後、定着して排紙することによりフルカラーの画像を記録紙上に形成する。   Then, the full-color image in which the four colors are superposed by the primary transfer is secondarily transferred to the recording paper, and then fixed and discharged to form the full-color image on the recording paper.

以上説明したように、ADF10は、例えば製品製造時、第2読取部113及び濃度基準部材146の交換時などにおいて、シェーディングデータの注目画素からロッドレンズ420の配列間隔だけ離れた位置における画素値を生成し注目画素との比較対象にすることにより、高精度に濃度基準部材146及びガラス面上に異物が付着していたか否かを検出することができる。   As described above, the ADF 10 determines the pixel value at the position apart from the pixel of interest of the shading data by the arrangement interval of the rod lenses 420, for example, when manufacturing the product or when the second reading unit 113 and the density reference member 146 are replaced. By generating and comparing with the pixel of interest, it is possible to highly accurately detect whether or not the foreign matter is attached to the density reference member 146 and the glass surface.

10 ADF(画像読取装置)
11 コントローラ
42 ロッドレンズアレイ
43 センサ
60 第1記憶部
61 第2記憶部
62 比較画素生成部
62−1〜62−2n 比較画素生成部
62−1〜62−n’ 比較画素生成部
63 比較部
64 異物判定部
65 高周波成分抽出部
66 比較画素数設定部
67 平均化部
67a 平均化部
113 第2読取部
121 操作部
146 濃度基準部材
300 画像形成装置
420 ロッドレンズ
430 画素
500 光源部
650 平滑部
652 減算部
10 ADF (image reading device)
11 controller 42 rod lens array 43 sensor 60 first storage unit 61 second storage unit 62 comparison pixel generation units 62-1 to 62-2n comparison pixel generation units 62-1 to 62-n 'comparison pixel generation unit 63 comparison unit 64 Foreign matter determination unit 65 High frequency component extraction unit 66 Comparison pixel number setting unit 67 Averaging unit 67a Averaging unit 113 Second reading unit 121 Operation unit 146 Density reference member 300 Image forming device 420 Rod lens 430 Pixel 500 Light source unit 650 Smoothing unit 652 Subtraction unit

特開2016−039416号公報JP, 2016-039416, A 特開2013−157922号公報JP, 2013-157922, A

Claims (14)

一方向に延びて光を照射する照射部と、
前記照射部が照射する光の反射光又は透過光を配列された複数の画素ごとに光電変換し、複数の画素それぞれの画素値を出力する光電変換素子と、
前記照射部が照射する光の反射光又は透過光を前記光電変換素子に結像する同じ直径の配列された複数のレンズと、
前記照射部が濃度基準部材に照射した光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に前記光電変換素子が出力した複数の画素値を用いて、注目画素から前記レンズの配列間隔分離れた位置の画素値を比較画素の画素値として生成する比較画素生成部と、
前記照射部が濃度基準部材に照射する光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に前記光電変換素子が出力した注目画素の画素値と、前記比較画素生成部が生成した比較画素の画素値とを比較する比較部と、
前記比較部が比較した結果と所定の閾値とに基づいて、前記比較部が比較した注目画素の画素値が異物の影響を受けた画素値であるか否かを判定する異物判定部と、
を有し、
前記比較画素生成部は、
前記照射部が濃度基準部材に照射した光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に前記光電変換素子が出力した注目画素の周囲の複数の画素値を用いて補間を行うことにより、比較画素の画素値を生成する、
ことを特徴とする画像読取装置。
An irradiation unit that extends in one direction and emits light,
A photoelectric conversion element that photoelectrically converts reflected light or transmitted light of light emitted by the irradiation unit for each of a plurality of arranged pixels, and outputs a pixel value of each of the plurality of pixels,
A plurality of lenses the irradiation unit are arranged in the same diameter you imaging the reflected or transmitted light into the photoelectric conversion element of light irradiation,
Using a plurality of pixel values output by the photoelectric conversion element when each of the lenses forms an image of the reflected light of the light that the irradiation unit irradiates on the density reference member, from the pixel of interest to the lens A comparison pixel generation unit that generates pixel values at positions separated by the array interval as pixel values of comparison pixels;
The pixel value of the pixel of interest output by the photoelectric conversion element when each of the lenses forms an image of the reflected light of the light that the irradiation section irradiates on the density reference member, and the comparison pixel generation section generates A comparison unit for comparing the pixel value of the compared pixel,
Based on the result of comparison by the comparison unit and a predetermined threshold value, a foreign matter determination unit that determines whether or not the pixel value of the target pixel compared by the comparison unit is a pixel value affected by a foreign matter,
Have a,
The comparison pixel generation unit,
Interpolation is performed using a plurality of pixel values around the pixel of interest output by the photoelectric conversion element when each of the lenses forms an image of the reflected light of the irradiation of the density reference member by the irradiation unit on the photoelectric conversion element. Generate a pixel value for the comparison pixel by doing
An image reading device characterized by the above.
前記照射部が濃度基準部材に照射した光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に、前記光電変換素子が出力した複数の画素値を平滑化する平滑部と、
前記平滑部が平滑化した複数の画素値を、前記照射部が濃度基準部材に照射した光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に前記光電変換素子が出力した複数の画素値から減算する減算部と、
をさらに有し、
前記比較画素生成部は、
前記減算部が減算した複数の画素値を用いて、比較画素の画素値を生成し、
前記比較部は、
前記減算部が減算した注目画素の画素値と、前記比較画素生成部が生成した比較画素の画素値とを比較すること
を特徴とする請求項1に記載の画像読取装置。
A smoothing unit that smoothes a plurality of pixel values output by the photoelectric conversion element when each of the lenses forms an image on the photoelectric conversion element by reflected light of the light that the irradiation unit irradiates on the density reference member,
A plurality of pixel values output by the photoelectric conversion element when the plurality of pixel values smoothed by the smoothing unit are reflected by the irradiation unit and the reflected light of the light applied to the density reference member is imaged on the photoelectric conversion element by each of the lenses. A subtraction unit that subtracts from the pixel value of
Further has
The comparison pixel generation unit,
Using the plurality of pixel values subtracted by the subtraction unit to generate a pixel value of a comparison pixel,
The comparison unit is
The image reading apparatus according to claim 1, wherein the pixel value of the target pixel subtracted by the subtraction unit is compared with the pixel value of the comparison pixel generated by the comparison pixel generation unit.
注目画素に結像させる前記レンズの周囲の他の前記レンズが結像させて前記光電変換素子が出力した複数の画素値を用いて、注目画素から前記レンズの配列間隔の整数倍分離れた位置の画素値を比較画素の画素値として生成する他の比較画素生成部と、
前記比較画素生成部及び前記他の比較画素生成部が生成した複数の比較画素の画素値を平均化する第1平均化部と、
をさらに有し、
前記比較部は、
前記照射部が濃度基準部材に照射する光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に前記光電変換素子が出力した注目画素の画素値と、前記第1平均化部が平均化した画素値とを比較すること
を特徴とする請求項1または2に記載の画像読取装置。
A position separated from the target pixel by an integer multiple of the arrangement interval of the lenses, using a plurality of pixel values output by the photoelectric conversion element that are imaged by the other lens around the lens to be focused on the target pixel Other comparison pixel generation unit that generates the pixel value of as the pixel value of the comparison pixel,
A first averaging unit that averages pixel values of a plurality of comparison pixels generated by the comparison pixel generation unit and the other comparison pixel generation unit;
Further has
The comparison unit is
The pixel value of the pixel of interest output by the photoelectric conversion element when each of the lenses forms an image of the reflected light of the light that the irradiation section irradiates on the density reference member, and the first averaging section the image reading apparatus according to claim 1 or 2, characterized in that comparing the pixel values averaged.
注目画素の周囲の画素値も複数の注目画素とみなして平均化する第2平均化部をさらに有し、
前記比較画素生成部及び前記他の比較画素生成部は、
注目画素の周囲の画素値も複数の注目画素とみなして、比較画素の画素値を生成し、
前記比較部は、
前記第1平均化部が平均化した画素値と、前記第2平均化部が平均化した画素値とを比較すること
を特徴とする請求項に記載の画像読取装置。
A second averaging unit that averages the pixel values around the pixel of interest as a plurality of pixels of interest;
The comparison pixel generation unit and the other comparison pixel generation unit,
The pixel values around the pixel of interest are also regarded as multiple pixels of interest, and the pixel value of the comparison pixel is generated.
The comparison unit is
The image reading device according to claim 3 , wherein the pixel value averaged by the first averaging unit is compared with the pixel value averaged by the second averaging unit.
前記レンズ当たりの画素数を表す整数部及び小数部を設定する設定部をさらに有し、
前記比較画素生成部は、
前記設定部が設定した整数部及び小数部に基づいて、注目画素から前記レンズの配列間隔分離れた位置の画素値を比較画素の画素値として生成すること
を特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の画像読取装置。
Further comprising a setting unit for setting an integer part and a decimal part representing the number of pixels per lens,
The comparison pixel generation unit,
Based on the integer part and the fractional part the setting unit has set, from the pixel of interest according to claim 1, wherein the generating a pixel value of the comparison pixel the pixel values of the array interval fraction away of the lens The image reading device according to any one of items.
前記設定部は、
複数のブロックに分割された複数の画素ごとに前記レンズ当たりの画素数を表す整数部及び小数部を設定すること
を特徴とする請求項に記載の画像読取装置。
The setting unit,
The image reading apparatus according to claim 5 , wherein an integer part and a decimal part that represent the number of pixels per lens are set for each of a plurality of pixels divided into a plurality of blocks.
前記光電変換素子は、
前記照射部が延びる方向に群をなして複数配列されており、
前記設定部は、
前記比較画素生成部が用いる複数の画素値の取得範囲が複数の前記光電変換素子の群同士を跨がないように設定すること
を特徴とする請求項5または6に記載の画像読取装置。
The photoelectric conversion element,
A plurality of the irradiation units are arranged in a group in the extending direction,
The setting unit,
The image reading apparatus according to claim 5 , wherein the acquisition range of the plurality of pixel values used by the comparison pixel generation unit is set so as not to cross the groups of the plurality of photoelectric conversion elements.
前記設定部は、
前記異物判定部の閾値を所定の領域ごとに異ならせるように設定すること
を特徴とする請求項乃至のいずれか1項に記載の画像読取装置。
The setting unit,
The image reading apparatus according to any one of claims 5 to 7, characterized in that to set so as to vary the threshold value of the foreign substance determination unit for each predetermined region.
前記設定部は、
前記光電変換素子の所定の画素を前記異物判定部が判定する画素値の対象外とする設定を行うこと
を特徴とする請求項乃至のいずれか1項に記載の画像読取装置。
The setting unit,
The image reading apparatus according to any one of claims 5 to 8, characterized in that the setting to exclude the foreign matter determination unit determines a pixel value a predetermined pixel of the photoelectric conversion element.
前記比較画素生成部は、
前記照射部が濃度基準部材に照射した光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に複数回結像した場合に前記光電変換素子が複数回出力した複数ライン分のシェーディングデータを、画素毎に平均化するライン平均化部を備えること
を特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の画像読取装置。
The comparison pixel generation unit,
Shading data for a plurality of lines output by the photoelectric conversion element a plurality of times when each of the lenses images the reflected light of the light applied to the density reference member on the photoelectric conversion element for each pixel, the image reading apparatus according to any one of claims 1 to 9, characterized in that it comprises a line averaging unit for averaging the.
前記比較部は、
前記照射部が濃度基準部材に照射する光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に前記光電変換素子が出力した注目画素の画素値と、前記比較画素生成部が生成した比較画素の画素値とを、差分を算出することによって比較すること
を特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の画像読取装置。
The comparison unit is
The pixel value of the pixel of interest output by the photoelectric conversion element when each of the lenses forms an image of the reflected light of the light that the irradiation section irradiates on the density reference member, and the comparison pixel generation section generates the image reading apparatus according to any one of claims 1 to 10 and a pixel value of the comparison pixels, and comparing by calculating the difference.
前記比較部は、
前記照射部が濃度基準部材に照射する光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に前記光電変換素子が出力した注目画素の画素値と、前記比較画素生成部が生成した比較画素の画素値とを、比を算出することによって比較すること
を特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の画像読取装置。
The comparison unit is
The pixel value of the pixel of interest output by the photoelectric conversion element when each of the lenses forms an image of the reflected light of the light that the irradiation section irradiates on the density reference member, and the comparison pixel generation section generates the image reading apparatus according to any one of claims 1 to 10 and the pixel values of the comparison pixels, and comparing by calculating the ratio.
前記異物判定部が判定した結果を表示する表示部をさらに有すること
を特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記載の画像読取装置。
The image reading apparatus according to any one of claims 1 to 12, further comprising a display unit for displaying the result the foreign substance determination unit determines.
請求項1乃至13のいずれか1項に記載の画像読取装置を有する画像形成装置。 An image forming apparatus having an image reading apparatus according to any one of claims 1 to 13.
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