JP6675679B2 - Measuring system and measuring method - Google Patents

Measuring system and measuring method Download PDF

Info

Publication number
JP6675679B2
JP6675679B2 JP2015173223A JP2015173223A JP6675679B2 JP 6675679 B2 JP6675679 B2 JP 6675679B2 JP 2015173223 A JP2015173223 A JP 2015173223A JP 2015173223 A JP2015173223 A JP 2015173223A JP 6675679 B2 JP6675679 B2 JP 6675679B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
measuring device
measuring
side terminal
coaxial cable
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015173223A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2017049148A (en
Inventor
中島 稔
稔 中島
典央 山本
典央 山本
真 平野
真 平野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shiga Prefectural Government.
Qualtec Co Ltd
Original Assignee
Shiga Prefectural Government.
Qualtec Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shiga Prefectural Government. , Qualtec Co Ltd filed Critical Shiga Prefectural Government.
Priority to JP2015173223A priority Critical patent/JP6675679B2/en
Publication of JP2017049148A publication Critical patent/JP2017049148A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6675679B2 publication Critical patent/JP6675679B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

この発明は、測定対象の所定の物理量を測定するための測定システムおよび測定方法に関する。また、この発明は、前記測定システムおよび測定方法での使用に適した切替装置および測定治具に関する。さらに、この発明は、前記測定システムのための制御装置としてコンピュータを動作させるためのコンピュータプログラムに関する。   The present invention relates to a measurement system and a measurement method for measuring a predetermined physical quantity of a measurement target. The present invention also relates to a switching device and a measurement jig suitable for use in the measurement system and the measurement method. Further, the present invention relates to a computer program for operating a computer as a control device for the measurement system.

電気化学分野においてインピーダンス測定器として広く用いられている周波数応答アナライザ(FRA)の一つに、ソーラトロン(Solartron)社の1260型がある。この周波数応答アナライザは、10μHz〜32MHzの周波数レンジでインピーダンスを測定できる仕様を有している。しかし、正確な測定が可能な周波数レンジは、測定器の仕様だけでなく、必要な確度および測定系の構成に依存する。   One type of frequency response analyzer (FRA) widely used as an impedance measuring instrument in the electrochemical field is Model 1260 manufactured by Solartron. This frequency response analyzer has a specification capable of measuring impedance in a frequency range of 10 μHz to 32 MHz. However, the frequency range in which accurate measurement is possible depends not only on the specifications of the measuring instrument but also on the required accuracy and the configuration of the measuring system.

具体的には、本件発明者が、注意深く設計した測定治具を用い、かつ測定器から測定治具までの同軸ケーブル長を限界まで短くした測定系で標準試料(たとえば、チップ抵抗)のインピーダンスを測定したところ、信号周波数が10MHzにおいて200Ω〜2kΩの範囲のチップ抵抗に関してインピーダンス値および位相が確度±5%以内で測定が可能であったが、32MHzにおいて確度±5%を満たす精度で測定可能なインピーダンス範囲は存在しなかった。   Specifically, the present inventor uses a carefully designed measuring jig and reduces the impedance of a standard sample (for example, a chip resistor) in a measuring system in which the coaxial cable length from the measuring instrument to the measuring jig is shortened to the limit. As a result of the measurement, it was possible to measure with an accuracy of ± 5% at an impedance value and phase with respect to a chip resistor in a range of 200Ω to 2kΩ at a signal frequency of 10MHz, but it was possible to measure with an accuracy satisfying an accuracy of ± 5% at 32MHz. There was no impedance range.

特開平10−10170号公報JP-A-10-10170

インピーダンスの測定に限らず、測定器の仕様の全範囲で必要な精度での測定を実現するのは必ずしも容易ではない。また、測定器の仕様の範囲よりも広い範囲での測定が望まれる場合もある。
そこで、この発明の目的は、広い測定範囲を確保するのに有利な測定システムおよび測定方法を提供することである。
It is not always easy to realize the measurement with the required accuracy over the entire range of the specification of the measuring instrument, not limited to the measurement of the impedance. In some cases, measurement in a range wider than the range of the specification of the measuring instrument is desired.
Therefore, an object of the present invention is to provide a measurement system and a measurement method that are advantageous for securing a wide measurement range.

また、この発明の他の目的は、広い測定範囲を確保できる測定システムに適した切替装置および測定治具を提供することである。
この発明のさらに他の目的は、上記のような測定システムの制御装置をコンピュータによって構成するための制御プログラムを提供することである。
Another object of the present invention is to provide a switching device and a measuring jig suitable for a measuring system capable of securing a wide measuring range.
Still another object of the present invention is to provide a control program for configuring a control device of the above-described measurement system by a computer.

この発明は、測定対象に接続すべき第1端子群を有し、第1測定方式に従って前記測定対象の所定の物理量(具体的にはインピーダンス)を測定する第1測定器と、測定対象に接続すべき第2端子群を有し、前記第1測定方式とは異なる第2測定方式に従って前記測定対象の前記所定の物理量を測定する第2測定器と、前記第1端子群に接続される第1測定器側端子群と、前記第2端子群に接続される第2測定器側端子群と、測定対象側端子群と、前記第1測定器側端子群または前記第2測定器側端子群を前記測定対象側端子群に選択的に接続する選択接続ユニットとを含む切替装置と、前記測定対象側端子群に接続され、かつ測定対象に接続される測定ヘッドを有する測定治具と、前記切替装置を制御して前記第1測定器側端子群を前記測定対象側端子群に接続し、前記第1測定器を制御して前記第1測定方式による測定を実行させ、かつ前記第1測定器による測定結果を取得する第1測定制御と、前記切替装置を制御して前記第2測定器側端子群を前記測定対象側端子群に接続し、前記第2測定器を制御して前記第2測定方式による測定を実行させ、かつ前記第2測定器による測定結果を取得する第2測定制御とを実行する制御装置とを含む、測定システムを提供する。 The present invention has a first terminal group to be connected to a measurement object, a first measuring device for measuring a predetermined physical quantity (specifically, impedance) of the measurement object according to a first measurement method, and a connection to the measurement object. A second measuring device for measuring the predetermined physical quantity of the object to be measured according to a second measuring method different from the first measuring method, and a second measuring device connected to the first terminal group. (1) Measuring device side terminal group, second measuring device side terminal group connected to the second terminal group, measurement target side terminal group, the first measuring device side terminal group or the second measuring device side terminal group A switching device including a selective connection unit for selectively connecting the measurement target side terminal group, a measurement jig having a measurement head connected to the measurement target side terminal group, and connected to the measurement target, A switching device is controlled to measure the first measuring device side terminal group. A first measurement control for connecting to the target side terminal group, controlling the first measuring device to execute the measurement by the first measuring method, and acquiring a measurement result by the first measuring device; and the switching device. Controlling the second measuring instrument side terminal group to the measuring object side terminal group, controlling the second measuring instrument to execute the measurement by the second measuring method, and measuring by the second measuring instrument. And a control device for executing a second measurement control for obtaining a result.

この構成によれば、制御装置が切替装置を制御することによって、第1測定器が切替装置を介して測定ヘッドに接続される状態(第1測定制御)と、第2測定器が切替装置を介して測定ヘッドに接続される状態(第2測定制御)とをとることができる。その一方で、制御装置は、第1測定器および第2測定器を一括して制御する。具体的には、制御装置は、第1測定器が測定ヘッドに接続された状態で第1測定器に第1測定方式による測定を実行させ、第2測定器が測定ヘッドに接続された状態で第2測定器に第2測定方式による測定を実行させる。制御装置は、第1測定器および第2測定器から、測定結果を取得する。こうして、制御装置は、切替装置、第1測定器および第2測定器を制御することによって、第1および第2測定器の両方からの測定結果を取得することができる。これにより、第1測定方式が適した測定範囲の測定結果を第1測定器から取得し、第2測定方式が適した測定範囲の測定結果を第2測定器から取得できる。その結果、広い測定範囲において確度の高い測定結果を得ることができる。   According to this configuration, the control device controls the switching device so that the first measuring device is connected to the measuring head via the switching device (first measurement control), and the second measuring device controls the switching device. (Second measurement control) can be established. On the other hand, the control device controls the first measuring device and the second measuring device collectively. Specifically, the control device causes the first measuring device to perform the measurement according to the first measuring method in a state where the first measuring device is connected to the measuring head, and performs the measurement in a state where the second measuring device is connected to the measuring head. The second measuring device is caused to execute the measurement by the second measuring method. The control device acquires a measurement result from the first measuring device and the second measuring device. Thus, the control device can obtain measurement results from both the first and second measuring devices by controlling the switching device, the first measuring device, and the second measuring device. Thereby, the measurement result of the measurement range suitable for the first measurement method can be obtained from the first measurement device, and the measurement result of the measurement range suitable for the second measurement method can be obtained from the second measurement device. As a result, highly accurate measurement results can be obtained in a wide measurement range.

しかも、第1および第2測定器の切り替えは、制御装置によって制御される切替装置において自動で達成されるので、第1または第2測定器と測定ヘッドとの間の接続に誤りが生じない。それにより、広い測定範囲での測定を少ない時間および労力で確実に達成できる。
この発明の一実施形態の測定システムでは、前記第1測定器は第1形式の測定結果データを出力し、前記第2測定器は前記第1形式とは異なる第2形式の測定結果データを出力し、前記制御装置は、前記第1形式の測定結果データおよび前記第2形式の測定結果データの両方を第3形式で出力する手段を含む。
In addition, since the switching between the first and second measuring devices is automatically achieved by the switching device controlled by the control device, no error occurs in the connection between the first or second measuring device and the measuring head. Thereby, measurement in a wide measurement range can be reliably achieved with less time and effort.
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, the first measurement device outputs measurement result data in a first format, and the second measurement device outputs measurement result data in a second format different from the first format. The control device includes means for outputting both the first format measurement result data and the second format measurement result data in a third format.

この構成により、第1測定器および第2測定器の測定結果データを、共通形式である第3形式で出力できる。それにより、第1および第2測定器の測定結果データの取扱いが容易になり、広範囲での測定が容易になる。
前記第3形式は、前記第1形式と同じであってもよいし、前記第2形式と同じであってもよいし、前記第1および第2形式のいずれとも異なる形式であってもよい。
With this configuration, the measurement result data of the first measuring device and the second measuring device can be output in the third format, which is a common format. This facilitates handling of the measurement result data of the first and second measuring devices, and facilitates measurement over a wide range.
The third format may be the same as the first format, may be the same as the second format, or may be a format different from any of the first and second formats.

この発明の一実施形態の測定システムでは、前記制御装置は、前記第1測定器の測定結果データおよび前記第2測定器の測定結果データを統合した単一の出力ファイルを生成する手段を有する。
この構成によれば、第1および第2測定器の測定結果が単一の出力ファイルに統合されるので、第1および第2測定器の個々の測定結果データを区別することなく取り扱うことができる。それにより、広い範囲での測定が一層容易になる。
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, the control device includes a unit that generates a single output file in which measurement result data of the first measurement device and measurement result data of the second measurement device are integrated.
According to this configuration, since the measurement results of the first and second measuring devices are integrated into a single output file, individual measurement result data of the first and second measuring devices can be handled without distinction. . Thereby, measurement over a wide range becomes easier.

この発明の一実施形態の測定システムでは、前記制御装置は、第1測定領域(具体的には第1測定周波数領域)において前記第1測定制御を実行し、前記第1測定領域とは異なる第2測定領域(具体的には第2測定周波数領域)において前記第2測定制御を実行する。
この構成によれば、互いに異なる第1および第2測定領域において、第1測定器による第1測定方式に従う測定と、第2測定器による第2測定方式に従う測定とがそれぞれ行われる。それによって、広い範囲での測定が可能になる。
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, the control device executes the first measurement control in a first measurement region (specifically, a first measurement frequency region) , and executes a first measurement control different from the first measurement region. The second measurement control is performed in two measurement regions (specifically, a second measurement frequency region) .
According to this configuration, in the first and second measurement areas different from each other, measurement according to the first measurement method by the first measurement device and measurement according to the second measurement method by the second measurement device are respectively performed. Thereby, a wide range of measurement is possible.

第1および第2測定領域は、互いに重なり合う重複領域を有していることが好ましい。それにより、連続した測定範囲での測定が可能になる。
この発明の一実施形態の測定システムは、前記第1測定領域および前記第2測定領域を使用者が設定するための測定領域入力手段をさらに含み、前記制御装置は、前記測定領域入力手段による設定に従って前記第1測定領域および前記第2測定領域を定める。
Preferably, the first and second measurement areas have overlapping areas that overlap each other. Thereby, measurement in a continuous measurement range becomes possible.
The measurement system according to one embodiment of the present invention further includes a measurement area input unit for a user to set the first measurement area and the second measurement area, and the control device sets the measurement area by the measurement area input unit. The first measurement area and the second measurement area are determined according to the following.

この構成により、使用者が第1および第2測定領域を設定でき、それに従って、第1および第2測定器による測定が実行される。これにより、使用者が求める広範囲での測定が可能になる。
この発明の一実施形態の測定システムは、前記第1測定器および前記第2測定器における測定点(具体的には測定周波数)の間隔を共通に設定する測定点間隔設定手段をさらに含み、前記制御装置は、前記測定点間隔設定手段によって設定された間隔の複数の測定点を前記第1測定器および前記第2測定器に指示する測定点指示手段を含む。
With this configuration, the user can set the first and second measurement areas, and the measurement by the first and second measurement devices is performed accordingly. This enables a wide range of measurement required by the user.
The measurement system according to an embodiment of the present invention further includes a measurement point interval setting unit that commonly sets an interval between measurement points (specifically, measurement frequencies) in the first measurement device and the second measurement device, The control device includes measurement point indicating means for indicating the plurality of measurement points at intervals set by the measurement point interval setting means to the first measuring device and the second measuring device.

この構成により、第1および第2測定器の測定点の間隔を共通に設定することができ、その設定された間隔の複数の測定点での測定が第1および第2測定器においてそれぞれ実行される。共通の間隔で測定点が設定されることによって、第1および第2測定器の測定結果を利用しやすくなり、たとえば、それぞれの測定結果データの単一ファイルへの統合が容易になる。これにより、広い範囲での測定が容易になる。   With this configuration, the interval between the measurement points of the first and second measuring devices can be set in common, and the measurement at the plurality of measurement points at the set interval is executed in the first and second measuring devices, respectively. You. Setting the measurement points at a common interval makes it easier to use the measurement results of the first and second measuring devices, and for example, facilitates integration of the respective measurement result data into a single file. This facilitates measurement over a wide range.

この発明の一実施形態の測定システムでは、前記所定の物理量が、インピーダンスであり、前記第1測定器が、複数の異なる周波数を複数の測定点として設定し、当該複数の測定点における前記測定対象からの応答を計測し、前記第2測定器が、複数の異なる周波数を複数の測定点として設定し、当該複数の測定点における前記測定対象からの応答を計測する。   In the measurement system according to an embodiment of the present invention, the predetermined physical quantity is impedance, the first measuring device sets a plurality of different frequencies as a plurality of measurement points, and sets the measurement target at the plurality of measurement points. , The second measuring device sets a plurality of different frequencies as a plurality of measurement points, and measures responses from the measurement target at the plurality of measurement points.

この構成により、複数の周波数に対する測定対象からの応答を計測することによって、測定対象のインピーダンスを測定できる。第1および第2測定器を切り替えて用いることによって、広い周波数範囲での周波数応答を計測できるので、広いインピーダンス範囲、広い温度範囲などでのインピーダンス測定が可能になる。
この発明の一実施形態の測定システムでは、前記測定対象が固体電解質である。
With this configuration, the impedance of the measurement target can be measured by measuring responses from the measurement target to a plurality of frequencies. By switching and using the first and second measuring devices, the frequency response in a wide frequency range can be measured, so that impedance measurement in a wide impedance range, a wide temperature range, and the like can be performed.
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, the measurement target is a solid electrolyte.

固体電解質のインピーダンスを正確に測定するためには、広い周波数範囲での測定が必要である。そこで、測定方式の異なる第1および第2測定器を切り替えて用いることによって、固体電解質のインピーダンス測定に利用可能な広周波数範囲での測定が可能になる。
この発明の一実施形態の測定システムでは、前記第1測定器側端子群を構成する複数の第1測定器側端子、前記第2測定器側端子群を構成する複数の第2測定器側端子、および前記測定対象側端子群を構成する複数の測定対象側端子が、共通の配列に従って配列されている。
In order to accurately measure the impedance of a solid electrolyte, measurement in a wide frequency range is required. Therefore, by switching and using the first and second measuring devices having different measurement methods, measurement in a wide frequency range that can be used for impedance measurement of the solid electrolyte can be performed.
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, a plurality of first measuring device-side terminals constituting the first measuring device-side terminal group, and a plurality of second measuring device-side terminals constituting the second measuring device-side terminal group. , And a plurality of measurement target terminals constituting the group of measurement target terminals are arranged according to a common arrangement.

この構成によれば、第1測定器側端子群、第2測定器側端子群および測定対象側端子群が共通の配列を有しているので、複雑な構成を要することなく、測定対象側端子群を第1または第2測定器側端子群に対して確実に接続できる。これにより、比較的簡単な構成で、広い範囲での測定に有利な測定システムを提供できる。
この発明の一実施形態の測定システムでは、前記切替装置が、前記複数の第1測定器側端子をその配列を保って支持する第1測定器側端子支持部材と、前記複数の第2測定器側端子をその配列を保って支持する第2測定器側端子支持部材と、前記複数の測定対象側端子をその配列を保って支持する測定対象側端子支持部材とをさらに含み、前記選択接続ユニットが、前記第1測定器側端子支持部材、前記第2測定器側端子支持部材および前記測定対象側端子支持部材を相対的に移動させ、前記測定対象側端子を前記第1測定器側端子または前記第2測定器側端子に選択的に接触させる相対移動ユニットを含む。
According to this configuration, since the first measuring device side terminal group, the second measuring device side terminal group, and the measurement target side terminal group have a common arrangement, the measurement target side terminal does not require a complicated configuration. The group can be reliably connected to the first or second measuring instrument side terminal group. This makes it possible to provide a measurement system that is advantageous for measurement over a wide range with a relatively simple configuration.
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, the switching device includes a first measuring device side terminal support member that supports the plurality of first measuring device side terminals while maintaining their arrangement, and the plurality of second measuring devices. A second measuring-device-side terminal support member that supports the side terminals while maintaining their arrangement; and a measurement-side terminal support member that supports the plurality of measurement-side terminals while maintaining their arrangement, wherein the selective connection unit The first measuring device side terminal support member, the second measuring device side terminal support member and the measurement target side terminal support member are relatively moved, and the measurement target side terminal is the first measurement device side terminal or A relative moving unit selectively contacting the second measuring device side terminal.

この構成によれば、第1および第2測定器側端子群および測定対象側端子群が共通の配列をそれぞれ保って第1および第2測定器側端子支持部材ならびに測定対象側端子支持部材にそれぞれ支持されている。したがって、これらの支持部材を相対移動させることによって、複数の第1測定器側端子を対応する複数の測定対象側端子にそれぞれ接続する状態と、複数の第2測定器側端子を対応する複数の測定対象側端子にそれぞれ接続する状態とを、達成できる。こうして、支持部材を相対移動させる構成によって、広い範囲での測定に有利な測定システムを提供できる。   According to this configuration, the first and second measuring instrument side terminal groups and the measuring object side terminal group maintain a common arrangement, respectively, and are respectively provided on the first and second measuring instrument side terminal supporting members and the measuring object side terminal supporting member. Supported. Therefore, by moving these support members relative to each other, a plurality of first measuring instrument side terminals are respectively connected to the corresponding plurality of measurement target side terminals, and a plurality of second measuring instrument side terminals are associated with the corresponding plurality of measuring instrument side terminals. And the state of being connected to the terminals to be measured, respectively. In this way, a configuration that moves the support member relatively can provide a measurement system that is advantageous for measurement over a wide range.

この発明の一実施形態の測定システムでは、前記第1測定器側端子支持部材および前記第2測定器側端子支持部材が、共通の支持部材である。
この構成により、共通の支持部材と測定対象側端子支持部材とを相対移動させる構成によって、複数の測定対象側端子を複数の第1または第2測定対象側端子に対して選択的に接続することができる。したがって、より簡単な構成で、広い範囲での測定に有利な測定システムを提供できる。
In the measuring system according to one embodiment of the present invention, the first measuring device side terminal supporting member and the second measuring device side terminal supporting member are common supporting members.
With this configuration, the plurality of measurement target terminals can be selectively connected to the plurality of first or second measurement target terminals by a configuration in which the common support member and the measurement target terminal support member are relatively moved. Can be. Therefore, it is possible to provide a measurement system that is advantageous for measurement over a wide range with a simpler configuration.

この発明の一実施形態の測定システムでは、前記第1測定器側端子、前記第2測定器側端子および前記測定対象側端子の各々が、信号伝達部と、当該信号伝達部を取り囲むシールド部とを含む同軸型端子であり、前記第1測定器側端子支持部材が、前記複数の第1測定器側端子のシールド部を互いに電気的に絶縁した状態で支持する絶縁板を含み、前記第2測定器側端子支持部材が、前記複数の第2測定器側端子のシールド部を互いに電気的に絶縁した状態で支持する絶縁板を含み、前記測定対象側端子支持部材が、前記複数の測定対象側端子のシールド部を互いに電気的に絶縁した状態で支持する絶縁板を含む。   In the measurement system according to one embodiment of the present invention, each of the first measuring device side terminal, the second measuring device side terminal, and the measurement target side terminal includes a signal transmitting unit, and a shield unit surrounding the signal transmitting unit. Wherein the first measuring-apparatus-side terminal support member includes an insulating plate that supports the shield portions of the plurality of first measuring-apparatus-side terminals in a state where they are electrically insulated from each other; The measuring-device-side terminal support member includes an insulating plate that supports the shield portions of the plurality of second measuring-device-side terminals in a state where they are electrically insulated from each other, and the measurement target-side terminal support member includes the plurality of measurement targets. An insulating plate for supporting the shield portions of the side terminals in a state of being electrically insulated from each other is included.

この構成によれば、複数の第1測定器側端子は、第1測定器側端子支持部材上において、信号伝達部のみならずシールド部も互いに絶縁されている。同様に、複数の第2測定器側端子は、第2測定器側端子支持部材上において、信号伝達部のみならずシールド部も互いに絶縁されている。さらに同様に、複数の測定対象側端子は、測定対象側端子支持部材上において、信号伝達部のみならずシールド部も互いに絶縁されている。これにより、複数の信号経路間の干渉を確実に回避できるので、広い測定範囲で確度の高い測定が可能になる。   According to this configuration, the plurality of first measuring device-side terminals are insulated from each other on the first measuring device-side terminal support member, in addition to the signal transmission portion and the shield portion. Similarly, the plurality of second measuring instrument side terminals are insulated from each other on the second measuring instrument side terminal supporting member, not only the signal transmission section but also the shield section. Further, similarly, the plurality of measurement target side terminals are insulated from each other on the measurement target side terminal support member, not only the signal transmission unit but also the shield unit. As a result, interference between a plurality of signal paths can be reliably avoided, and highly accurate measurement can be performed in a wide measurement range.

むろん、第1および第2測定器側端子間についても、第1および第2測定器側端子支持部材上においては、信号伝達部のみならずシールド部も互いに絶縁されているから、切替装置は、信号伝達部の接続だけでなく、シールド部の接続も、第1測定器側と第2測定器側とで切り替える。これにより、第1測定器と第2測定器とが互いに干渉することを回避できる。さらにまた、複数の第1測定器側端子同士、複数の第2測定器側端子同士、および複数の測定対象側端子同士が、それぞれ信号伝達部のみならずシールド部が互いに絶縁されているので、信号経路に対する切替装置の影響を最小化できる。それにより、測定精度を高めることができる。   Of course, also between the first and second measuring instrument side terminals, on the first and second measuring instrument side terminal supporting members, not only the signal transmission section but also the shield section are insulated from each other. Not only the connection of the signal transmission unit but also the connection of the shield unit are switched between the first measuring device side and the second measuring device side. This can prevent the first measuring device and the second measuring device from interfering with each other. Further, since the plurality of first measuring instrument side terminals, the plurality of second measuring instrument side terminals, and the plurality of measurement target side terminals are insulated from each other as well as the signal transmission section as well as the shield section, The influence of the switching device on the signal path can be minimized. Thereby, measurement accuracy can be improved.

第1および第2測定器側端子支持部材を共通の支持部材で構成する場合には、その共通の支持部材を絶縁板で構成することが好ましい。それにより、複数の第1測定器側端子相互間、複数の第2測定器側端子相互間、ならびに第1および第2測定器側端子相互間は、いずれも、信号伝達部のみならずシールド部も互いに絶縁できる。したがって、共通の支持部材を用いる場合でも、信号経路間の干渉および測定器間の干渉をいずれも回避でき、広い測定範囲での確度の高い測定を実現できる。   When the first and second measuring-device-side terminal support members are formed of a common support member, it is preferable that the common support member be formed of an insulating plate. Thereby, not only the signal transmission portion but also the shield portion between the plurality of first measuring device side terminals, between the plurality of second measuring device side terminals, and between the first and second measuring device side terminals. Can also be insulated from each other. Therefore, even when a common support member is used, both interference between signal paths and interference between measuring devices can be avoided, and highly accurate measurement in a wide measurement range can be realized.

この発明の一実施形態の測定システムでは、前記第1測定器側端子および前記第2測定器側端子がプッシュオン型の第1の同軸コネクタであり、前記測定対象側端子が、前記第1の同軸コネクタに嵌合可能なプッシュオン型の第2の同軸コネクタであり、前記相対移動ユニットが、前記第1測定器側端子支持部材および前記第2測定器側端子支持部材と前記測定対象側端子支持部材とを前記第1および第2の同軸コネクタの嵌合方向に沿って相対移動させる。   In the measurement system of one embodiment of the present invention, the first measuring device side terminal and the second measuring device side terminal are push-on type first coaxial connectors, and the measurement target side terminal is the first coaxial connector. A push-on type second coaxial connector that can be fitted to a coaxial connector, wherein the relative movement unit includes the first measuring device side terminal supporting member, the second measuring device side terminal supporting member, and the measurement target side terminal. The support member is relatively moved along the fitting direction of the first and second coaxial connectors.

この構成によれば、第1測定器側端子、第2測定器側端子および測定対象側端子が、プッシュオン型の同軸コネクタであるので、端子支持部材の比較的単純な相対移動、より具体的には並進移動だけで、測定対象側端子群を第1または第2測定器側端子群に選択的に接続できる。すなわち、端子支持部材の回転運動等を必ずしも必要とすることなく、複数の測定対象側端子を複数の第1測定器側端子または複数の第2測定器側端子に対して、一気に、接続または接続解除できる。これにより、比較的簡単な構成で広い測定範囲に対応可能な測定システムを提供できる。   According to this configuration, since the first measuring device side terminal, the second measuring device side terminal, and the measurement target side terminal are push-on type coaxial connectors, a relatively simple relative movement of the terminal support member, more specifically, The terminal group to be measured can be selectively connected to the first or second measuring instrument side terminal only by the translation. That is, a plurality of terminals to be measured are connected or connected to a plurality of first measuring device-side terminals or a plurality of second measuring device-side terminals at a stretch without necessarily requiring a rotational movement or the like of the terminal support member. Can be released. This makes it possible to provide a measurement system that can support a wide measurement range with a relatively simple configuration.

この発明の一実施形態の測定システムでは、前記第1の同軸コネクタおよび前記第2の同軸コネクタの少なくとも一方が、位置ずれ吸収用のフローティング構造を有している。
この構成によれば、同軸コネクタのフローティング構造によって、多少の位置ずれを許容しながら、測定対象側端子群を第1または第2測定器側端子群に選択的にかつ確実に接続できる。それにより、端子支持部材を相対移動させるための構成をより簡素化できるので、広い測定範囲に対応可能な測定システムを提供しやすい。
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, at least one of the first coaxial connector and the second coaxial connector has a floating structure for absorbing a displacement.
According to this configuration, by the floating structure of the coaxial connector, the measurement target side terminal group can be selectively and reliably connected to the first or second measuring instrument side terminal group while allowing some displacement. This makes it possible to further simplify the configuration for relatively moving the terminal support member, so that it is easy to provide a measurement system that can support a wide measurement range.

この発明の一実施形態の測定システムでは、前記測定ヘッドが、測定対象に異なる位置で接触する第1電極リードおよび第2電極リードを含み、前記測定治具が、前記第1電極リードの第1接続位置に芯線が接続される第1同軸ケーブルと、前記第1電極リードの前記第1接続位置よりも測定対象に近い第2接続位置に芯線が接続される第2同軸ケーブルと、前記第2電極リードの第3接続位置に芯線が接続される第3同軸ケーブルと、前記第2電極リードの前記第3接続位置よりも測定対象から遠い第4接続位置に芯線が接続される第4同軸ケーブルと、前記第1同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第2同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部とを直接接続する第1線と、前記第1同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第3同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部とを直接接続する第2線と、前記第2同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第4同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部とを直接接続する第3線と、前記第3同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部と、前記第4同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部とを直接接続する第4線とを含む。   In the measurement system according to one embodiment of the present invention, the measurement head includes a first electrode lead and a second electrode lead that come into contact with a measurement target at different positions, and the measurement jig includes a first electrode lead of the first electrode lead. A first coaxial cable having a core wire connected to the connection position, a second coaxial cable having a core wire connected to a second connection position of the first electrode lead closer to the measurement target than the first connection position, and A third coaxial cable having a core wire connected to a third connection position of the electrode lead, and a fourth coaxial cable having a core wire connected to a fourth connection position farther from the object to be measured than the third connection position of the second electrode lead A first wire for directly connecting an end of the shielded wire of the first coaxial cable on the first electrode lead side and an end of the shielded wire of the second coaxial cable on the first electrode lead side; 1 coaxial cable A second wire for directly connecting the first electrode lead end of the shield wire to the second electrode lead end of the third coaxial cable shield wire, and a second shield wire of the second coaxial cable; A third wire for directly connecting the first electrode lead end to the second electrode lead end of the shield wire of the fourth coaxial cable; and the second electrode lead of the shield wire for the third coaxial cable. And a fourth wire that directly connects the side end and the second electrode lead side end of the shielded wire of the fourth coaxial cable.

「直接接続」とは、この場合、互いに接続される一対の同軸ケーブル以外の他の同軸ケーブルのシールド線を経由することなく接続することを意味している。したがって、たとえば、第1同軸ケーブルのシールド線の第1電極リード側端部に対して接続部品を介して第1線を接続する場合を除外しない。他の接続に関しても同様である。「第1電極リード側端部」とは、第1電極リードに芯線が接続された側の当該同軸ケーブルのシールド線の端部を意味する。   In this case, "direct connection" means that connection is made without passing through a shielded wire of another coaxial cable other than a pair of coaxial cables connected to each other. Therefore, for example, the case where the first wire is connected to the end of the shielded wire of the first coaxial cable on the first electrode lead side via the connection component is not excluded. The same applies to other connections. The “first electrode lead side end” means the end of the shielded wire of the coaxial cable on the side where the core wire is connected to the first electrode lead.

上記の構成の測定治具では、測定対象に第1電極リードおよび第2電極リードを異なる位置で接触させて、測定対象の物理量が測定される。第1電極リードには第1同軸ケーブルおよび第2同軸ケーブルが接続されている。第1同軸ケーブルの接続位置は、第2同軸ケーブルの接続位置よりも、測定対象から遠い位置にある。第2電極リードには第3同軸ケーブルおよび第4同軸ケーブルが接続されている。第4同軸ケーブルの接続位置は、第3同軸ケーブルの接続位置よりも、測定対象から遠い位置ある。第1〜第4線は、第1〜第4同軸ケーブルのシールド線を第1および第2電極リード側の端部で直接接続する。具体的には、第1同軸ケーブルおよび第2同軸ケーブルのシールド線が第1線によってそれぞれの第1電極リード側端部で接続されている。また、第1同軸ケーブルのシールド線の第1電極リード側端部と第3同軸ケーブルのシールド線の第2電極リード側端部とが、第2線によって直接接続されている。さらに、第2同軸ケーブルのシールド線の第1電極リード側端部と第4同軸ケーブルのシールド線の第2電極リード側端部とが、第3線によって直接接続されている。そして、第3同軸ケーブルおよび第4同軸ケーブルのシールド線の第2電極リード側端部同士が第4線によって直接接続されている。   In the measuring jig having the above configuration, the physical quantity of the measurement target is measured by bringing the first electrode lead and the second electrode lead into contact with the measurement target at different positions. A first coaxial cable and a second coaxial cable are connected to the first electrode lead. The connection position of the first coaxial cable is located farther from the measurement target than the connection position of the second coaxial cable. A third coaxial cable and a fourth coaxial cable are connected to the second electrode lead. The connection position of the fourth coaxial cable is located farther from the measurement target than the connection position of the third coaxial cable. The first to fourth wires directly connect the shield wires of the first to fourth coaxial cables at the first and second electrode lead-side ends. Specifically, the shielded wires of the first coaxial cable and the second coaxial cable are connected at the first electrode lead side ends by the first wires. Further, the end of the shielded wire of the first coaxial cable on the first electrode lead side and the end of the shielded wire of the third coaxial cable on the second electrode lead side are directly connected by the second wire. Further, an end of the shield line of the second coaxial cable on the first electrode lead side and an end of the shield line of the fourth coaxial cable on the second electrode lead side are directly connected by a third line. The ends of the shielded wires of the third coaxial cable and the fourth coaxial cable on the second electrode lead side are directly connected to each other by the fourth wire.

この構成は、本件発明者の実験によれば、測定精度を著しく高める。とりわけ、インピーダンスを計測する場合に、高精度でのインピーダンス計測が可能な周波数範囲を広げることができる。それに応じて、高精度での測定が可能なインピーダンスの範囲や測定温度の範囲を広げることができる。
前記測定治具は、前記第2同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第3同軸ケーブルの前記第2電極リード側端部とを直接接続する第5線をさらに含んでいてもよい。
According to the experiments of the present inventor, this configuration significantly increases the measurement accuracy. In particular, when measuring impedance, the frequency range in which impedance measurement can be performed with high accuracy can be expanded. Accordingly, the range of the impedance and the range of the measurement temperature that can be measured with high accuracy can be expanded.
The measurement jig further includes a fifth wire that directly connects an end of the shielded wire of the second coaxial cable on the first electrode lead side and an end of the third coaxial cable on the second electrode lead side. You may go out.

また、前記測定治具は、前記第2同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第3同軸ケーブルの前記第2電極リード側端部とを直接接続する配線を含まなくてもよい。すなわち、第2同軸ケーブルのシールド線の第1電極リード側端部および第3同軸ケーブルのシールド線の第2電極リード端部との間が直接には接続されていなくてもよい。このような配線によって、第2同軸ケーブルのシールド線と第3同軸ケーブルのシールド線との間が、少なくとも、測定対象の近傍で接続されることがなくなる。これにより、測定精度が一層高まり、測定可能な範囲を広げることができる。とくに、インピーダンスの測定に当該測定治具を用いることによって、信号周波数範囲を広げることができ、それに応じて、高精度での測定が可能なインピーダンスの範囲や測定温度の範囲を一層広げることができる。   In addition, the measurement jig does not include a wiring for directly connecting an end of the shield wire of the second coaxial cable on the first electrode lead side and an end of the third coaxial cable on the second electrode lead side. You may. That is, the end of the shielded line of the second coaxial cable on the first electrode lead side and the end of the shielded line of the third coaxial cable on the second electrode lead need not be directly connected. With such a wiring, the shield line of the second coaxial cable and the shield line of the third coaxial cable are not connected at least in the vicinity of the measurement target. Thereby, the measurement accuracy is further improved, and the measurable range can be expanded. In particular, by using the measuring jig for measuring the impedance, the signal frequency range can be expanded, and accordingly, the range of the impedance and the range of the measurement temperature that can be measured with high accuracy can be further expanded. .

この発明の一実施形態の測定システムでは、前記第2線および前記第3線がそれぞれ複数本備えられており、前記複数本の第2線および前記複数本の第3線が、測定対象配置位置を取り囲むように配置されている。
この構成によれば、第1電極リードに接続される第1および第2同軸ケーブルと、第2電極リードに接続される第3および第4同軸ケーブルとの間を接続する第2線および第3線が、測定対象配置位置を取り囲むように配置されている。本件発明者の実験によれば、第1および第2電極リードにそれぞれ接続される同軸ケーブルのシールド線の電極リード側端部同士をいわばたすき掛けに接続する配線によって測定対象を取り囲むことにより、測定精度を向上できることが発見された。それにより、必要な確度で測定できる範囲を広げることができる。とくに、インピーダンスの測定においては、信号周波数範囲を広げることができ、それに応じて、高精度での測定が可能なインピーダンスの範囲および温度範囲を広げることができる。
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, a plurality of the second lines and a plurality of the third lines are provided, and the plurality of the second lines and the plurality of the third lines are arranged at the measurement target arrangement position. Are arranged to surround the.
According to this configuration, the second and third wires connecting between the first and second coaxial cables connected to the first electrode lead and the third and fourth coaxial cables connected to the second electrode lead. The line is arranged so as to surround the measurement target arrangement position. According to the experiment of the present inventor, the measurement object was measured by surrounding the measurement target with wiring that connects the electrode lead side ends of the shielded wires of the coaxial cable connected to the first and second electrode leads to each other so to speak. It has been discovered that accuracy can be improved. Thereby, the range that can be measured with the required accuracy can be expanded. In particular, in the measurement of impedance, the signal frequency range can be widened, and accordingly, the impedance range and temperature range in which high-precision measurement can be performed can be widened.

この発明の一実施形態の測定システムでは、前記測定治具が、測定対象を支持する支持面を有する対象支持部と、対象支持部を取り囲むように配置され、前記支持面に交差する方向に延びた複数の貫通孔とを有する測定対象支持部材をさらに含み、前記複数本の第2線および前記複数本の第3線が、前記複数の貫通孔を通って配索されている。
この構成によれば、対象支持部の支持面に測定対象を配置し、対象支持部の複数の貫通孔を通すように第2線および第3線を配索することで、第2線および第3線が測定対象を取り囲むように配置される。これにより、一定の確度で測定可能な測定範囲を確実に広げることができる。
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, the measurement jig is disposed so as to surround the target support portion and the target support portion having a support surface for supporting the measurement target, and extends in a direction intersecting the support surface. And a plurality of second lines and the plurality of third lines are routed through the plurality of through-holes.
According to this configuration, the measurement target is arranged on the support surface of the target support, and the second line and the third line are routed so as to pass through the plurality of through holes of the target support. The three lines are arranged so as to surround the object to be measured. As a result, the measurement range that can be measured with a certain degree of accuracy can be reliably increased.

この発明の一実施形態の測定システムは、前記測定対象支持部材に取り付けられ、測定対象を加熱するためのヒータをさらに含む。
この構成により、ヒータによって測定対象を加熱した状態で測定を行うことができる。したがって、様々な温度での測定を精度よく行うことができるので、測定範囲を広げることができる。
The measurement system according to one embodiment of the present invention further includes a heater attached to the measurement target support member and configured to heat the measurement target.
With this configuration, the measurement can be performed in a state where the measurement target is heated by the heater. Therefore, measurement at various temperatures can be performed with high accuracy, and the measurement range can be expanded.

前記ヒータは、前記対象支持部に配置されることが好ましい。それにより、測定対象を効率的に加熱でき、かつその温度を正確に制御できる。
この発明の一実施形態の測定システムでは、前記測定治具が、開口を有し、前記測定対象を収容する保持容器と、前記保持容器の開口を閉じる蓋と、前記蓋に固定され、前記第1同軸ケーブル、前記第2同軸ケーブル、前記第3同軸ケーブルおよび前記第4同軸ケーブルをそれぞれ支持する第1フィードスルー、第2フィードスルー、第3フィードスルーおよび第4フィードスルーとをさらに含む。
Preferably, the heater is disposed on the target support. Thereby, the object to be measured can be efficiently heated and its temperature can be accurately controlled.
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, the measurement jig has an opening, a holding container that stores the object to be measured, a lid that closes the opening of the holding container, and is fixed to the lid. It further includes a first feed-through, a second feed-through, a third feed-through, and a fourth feed-through supporting the one coaxial cable, the second coaxial cable, the third coaxial cable, and the fourth coaxial cable, respectively.

この構成により、測定対象を保持容器内に配置し、保持容器を蓋で閉じた状態で測定を行うことができる。それにより、測定対象を安定した環境に置くことができ、一定の確度で測定可能な範囲を拡大できる。
この発明の一実施形態の測定システムでは、前記第1〜第4フィードスルーが、前記第1〜第4同軸ケーブルのシールド線と前記蓋とを電気的に絶縁した状態で前記第1〜第4同軸ケーブルをそれぞれ支持する絶縁型フィードスルーである。
With this configuration, the measurement target can be arranged in the holding container, and the measurement can be performed with the holding container closed with the lid. As a result, the measurement target can be placed in a stable environment, and the range that can be measured with a certain degree of accuracy can be expanded.
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, the first to fourth feed-throughs are electrically insulated from the shield wires of the first to fourth coaxial cables and the lid. It is an insulated feedthrough that supports each coaxial cable.

この構成により、同軸ケーブルのシールド線と蓋とを電気的に絶縁できるので、周囲の環境から受ける影響を一層排除できる。それにより、一定の確度で測定できる範囲を広げることができる。
この発明の一実施形態の測定システムでは、前記測定治具が、前記蓋に結合され、前記保持容器内にガスを導入するガス導入管と、前記蓋に結合され、前記保持容器内のガスを排気する排気管とをさらに含む。
With this configuration, the shield wire and the lid of the coaxial cable can be electrically insulated, so that the influence from the surrounding environment can be further eliminated. Thereby, the range that can be measured with a certain degree of accuracy can be expanded.
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, the measurement jig is coupled to the lid, and a gas introduction pipe that introduces gas into the holding container, and coupled to the lid, and supplies gas in the holding container. An exhaust pipe for exhausting air.

この構成により、測定対象の周囲の雰囲気を制御できる。それにより、一層安定した環境に測定対象を置くことができるので、一定の確度で測定できる範囲を広げることができる。
この発明は、さらに、第1測定器および第2測定器を選択的に測定対象に接続するための切替装置であって、前記第1測定器に接続される第1測定器側端子群と、前記第2測定器に接続される第2測定器側端子群と、前記測定対象に接続される測定対象側端子群と、前記測定対象側端子群を前記第1測定器側端子群または前記第2測定器側端子群に選択的に接続する選択接続ユニットとを含む、切替装置を提供する。
With this configuration, the atmosphere around the measurement target can be controlled. As a result, the measurement target can be placed in a more stable environment, and the range in which measurement can be performed with a certain degree of accuracy can be expanded.
The present invention is further a switching device for selectively connecting a first measuring device and a second measuring device to an object to be measured, wherein a first measuring device side terminal group connected to the first measuring device; A second measuring instrument side terminal group connected to the second measuring instrument, a measuring object side terminal group connected to the measuring object, and the measuring object side terminal group, the first measuring instrument side terminal group or the (2) A switching device including: a selective connection unit selectively connected to a measuring device side terminal group.

この構成によれば、切替装置は、測定対象側端子群を第1測定器側端子群に接続した状態と、測定対象側端子群を第2測定器側端子群に接続した状態とをとることができる。これにより、切替装置を介して測定対象を第1測定器に接続した状態と、切替装置を介して測定対象を第2測定器に接続した状態とを実現できる。この切替装置を用いることによって、測定対象を第1測定器または第2測定器に誤りなく接続できるので、第1測定器および第2測定器を用いた測定を円滑に行うことができる。そして、第1および第2測定器の切り替えを円滑に行えることによって、広い測定範囲での測定を円滑に行うことができる。   According to this configuration, the switching device takes a state in which the measurement target side terminal group is connected to the first measurement device side terminal group and a state in which the measurement target side terminal group is connected to the second measurement device side terminal group. Can be. Thereby, a state where the measurement target is connected to the first measurement device via the switching device and a state where the measurement target is connected to the second measurement device via the switching device can be realized. By using this switching device, the measurement target can be connected to the first measuring device or the second measuring device without error, so that the measurement using the first measuring device and the second measuring device can be performed smoothly. In addition, since the switching between the first and second measuring devices can be performed smoothly, the measurement in a wide measurement range can be performed smoothly.

この発明の一実施形態の切替装置では、前記第1測定器側端子群を構成する複数の第1測定器側端子、前記第2測定器側端子群を構成する複数の第2測定器側端子、および前記測定対象側端子群を構成する複数の測定対象側端子が、共通の配列に従って配列されている。
この発明の一実施形態の切替装置は、前記複数の第1測定器側端子をその配列を保って支持する第1測定器側端子支持部材と、前記複数の第2測定器側端子をその配列を保って支持する第2測定器側端子支持部材と、前記複数の測定対象側端子をその配列を保って支持する測定対象側端子支持部材とをさらに含み、前記選択接続ユニットが、前記第1測定器側端子支持部材、前記第2測定器側端子支持部材および前記測定対象側端子支持部材を相対的に移動させ、前記測定対象側端子を前記第1測定器側端子または前記第2測定器側端子に選択的に接触させる相対移動ユニットを含む。
In the switching device according to one embodiment of the present invention, a plurality of first measuring device side terminals constituting the first measuring device side terminal group and a plurality of second measuring device side terminals constituting the second measuring device side terminal group are provided. , And a plurality of measurement target terminals constituting the group of measurement target terminals are arranged according to a common arrangement.
The switching device according to an embodiment of the present invention includes a first measuring device side terminal supporting member that supports the plurality of first measuring device side terminals while maintaining their arrangement, and an arrangement of the plurality of second measuring device side terminals. A second measuring instrument side terminal supporting member that holds and supports the plurality of measuring object side terminals, and a measuring object side terminal supporting member that supports the plurality of measuring object side terminals while maintaining their arrangement. The measuring device side terminal supporting member, the second measuring device side terminal supporting member, and the measurement object side terminal supporting member are relatively moved, and the measurement object side terminal is the first measuring device side terminal or the second measuring device. A relative moving unit for selectively contacting the side terminal is included.

この発明の一実施形態の切替装置では、前記第1測定器側端子支持部材および前記第2測定器側端子支持部材が、共通の支持部材である。
この発明の一実施形態の切替装置では、前記第1測定器側端子、前記第2測定器側端子および前記測定対象側端子の各々が、信号伝達部と、当該信号伝達部を取り囲むシールド部とを含む同軸型端子であり、前記第1測定器側端子支持部材が、前記複数の第1測定器側端子のシールド部を互いに電気的に絶縁した状態で支持する絶縁板を含み、前記第2測定器側端子支持部材が、前記複数の第2測定器側端子のシールド部を互いに電気的に絶縁した状態で支持する絶縁板を含み、前記測定対象側端子支持部材が、前記複数の測定対象側端子のシールド部を互いに電気的に絶縁した状態で支持する絶縁板を含む。
In the switching device according to one embodiment of the present invention, the first measuring device side terminal supporting member and the second measuring device side terminal supporting member are common supporting members.
In the switching device according to one embodiment of the present invention, each of the first measuring device side terminal, the second measuring device side terminal, and the measurement target side terminal includes a signal transmitting unit, and a shield unit surrounding the signal transmitting unit. Wherein the first measuring device side terminal supporting member includes an insulating plate for supporting the shield portions of the plurality of first measuring device side terminals in a state where they are electrically insulated from each other; The measuring-device-side terminal support member includes an insulating plate that supports the shield portions of the plurality of second measuring-device-side terminals in a state in which they are electrically insulated from each other, and the measurement target-side terminal support member includes the plurality of measurement targets. An insulating plate for supporting the shield portions of the side terminals in a state of being electrically insulated from each other is included.

この発明の一実施形態の切替装置では、前記第1測定器側端子および前記第2測定器側端子がプッシュオン型の第1の同軸コネクタであり、前記測定対象側端子が、前記第1の同軸コネクタに嵌合可能なプッシュオン型の第2の同軸コネクタであり、前記相対移動ユニットが、前記第1測定器側端子支持部材および前記第2測定器側端子支持部材と前記測定対象側端子支持部材とを前記第1および第2の同軸コネクタの嵌合方向に沿って相対移動させる。   In the switching device according to one embodiment of the present invention, the first measuring device side terminal and the second measuring device side terminal are push-on type first coaxial connectors, and the measurement target side terminal is the first coaxial connector. A push-on type second coaxial connector that can be fitted to a coaxial connector, wherein the relative movement unit includes the first measuring device side terminal supporting member, the second measuring device side terminal supporting member, and the measurement target side terminal. The support member is relatively moved along the fitting direction of the first and second coaxial connectors.

この発明の一実施形態の切替装置では、前記第1の同軸コネクタおよび前記第2の同軸コネクタの少なくとも一方が、位置ずれ吸収用のフローティング構造を有している。
この発明は、また、測定対象に異なる位置で接触する第1電極リードおよび第2電極リードと、前記第1電極リードの第1接続位置に芯線が接続される第1同軸ケーブルと、前記第1電極リードの前記第1接続位置よりも測定対象に近い第2接続位置に芯線が接続される第2同軸ケーブルと、前記第2電極リードの第3接続位置に芯線が接続される第3同軸ケーブルと、前記第2電極リードの前記第3接続位置よりも測定対象から遠い第4接続位置に芯線が接続される第4同軸ケーブルと、前記第1同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第2同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部とを直接接続する第1線と、前記第1同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第3同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部とを直接接続する第2線と、前記第2同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第4同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部とを直接接続する第3線と、前記第3同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部と、前記第4同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部とを直接接続する第4線とを含む。
In the switching device according to one embodiment of the present invention, at least one of the first coaxial connector and the second coaxial connector has a floating structure for absorbing displacement.
The present invention also provides a first electrode lead and a second electrode lead that are in contact with the measurement target at different positions, a first coaxial cable having a core wire connected to a first connection position of the first electrode lead, A second coaxial cable having a core wire connected to a second connection position closer to the measurement target than the first connection position of the electrode lead, and a third coaxial cable having a core wire connected to a third connection position of the second electrode lead A fourth coaxial cable having a core wire connected to a fourth connection position of the second electrode lead farther from the measurement target than the third connection position; and a first electrode lead side of a shield wire of the first coaxial cable. An end, a first line directly connecting the end of the shielded line of the second coaxial cable to the end of the first electrode lead, an end of the shielded line of the first coaxial cable on the side of the first electrode lead, The third coaxial cable A second wire that directly connects the end of the shield wire of the second electrode lead to the end of the shield wire of the second coaxial cable; A third wire directly connecting the second electrode lead side end, the second electrode lead side end of the shielded wire of the third coaxial cable, and the second electrode of a shielded wire of the fourth coaxial cable; And a fourth line directly connecting to the lead-side end.

この構成によれば、測定対象に第1電極リードおよび第2電極リードを異なる位置で接触させて、測定対象の物理量が測定される。第1電極リードには第1同軸ケーブルおよび第2同軸ケーブルが接続されている。第1同軸ケーブルの接続位置は、第2同軸ケーブルの接続位置よりも、測定対象から遠い位置にある。第2電極リードには第3同軸ケーブルおよび第4同軸ケーブルが接続されている。第4同軸ケーブルの接続位置は、第3同軸ケーブルの接続位置よりも、測定対象から遠い位置ある。第1〜第4線は、第1〜第4同軸ケーブルのシールド線を第1および第2電極リード側の端部で直接接続する。具体的には、第1同軸ケーブルおよび第2同軸ケーブルのシールド線が第1線によってそれぞれの第1電極リード側端部で接続されている。また、第1同軸ケーブルのシールド線の第1電極リード側端部と第3同軸ケーブルのシールド線の第2電極リード側端部とが、第2線によって直接接続されている。さらに、第2同軸ケーブルのシールド線の第1電極リード側端部と第4同軸ケーブルのシールド線の第2電極リード側端部とが、第3線によって直接接続されている。そして、第3同軸ケーブルおよび第4同軸ケーブルのシールド線の第2電極リード側端部同士が第4線によって直接接続されている。   According to this configuration, the physical quantity of the measurement target is measured by bringing the first electrode lead and the second electrode lead into contact with the measurement target at different positions. A first coaxial cable and a second coaxial cable are connected to the first electrode lead. The connection position of the first coaxial cable is located farther from the measurement target than the connection position of the second coaxial cable. A third coaxial cable and a fourth coaxial cable are connected to the second electrode lead. The connection position of the fourth coaxial cable is located farther from the measurement target than the connection position of the third coaxial cable. The first to fourth wires directly connect the shield wires of the first to fourth coaxial cables at the first and second electrode lead-side ends. Specifically, the shielded wires of the first coaxial cable and the second coaxial cable are connected at the first electrode lead side ends by the first wires. Further, the end of the shielded wire of the first coaxial cable on the first electrode lead side and the end of the shielded wire of the third coaxial cable on the second electrode lead side are directly connected by the second wire. Further, an end of the shield line of the second coaxial cable on the first electrode lead side and an end of the shield line of the fourth coaxial cable on the second electrode lead side are directly connected by a third line. The ends of the shielded wires of the third coaxial cable and the fourth coaxial cable on the second electrode lead side are directly connected to each other by the fourth wire.

この構成は、本件発明者の実験によれば、測定精度を著しく高める。とりわけ、インピーダンスを計測する場合に、高精度でのインピーダンス計測が可能な周波数範囲を広げることができる。それに応じて、高精度での測定が可能なインピーダンスの範囲や測定温度の範囲を広げることができる。
前記測定治具は、前記第2同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第3同軸ケーブルの前記第2電極リード側端部とを直接接続する第5線をさらに含んでいてもよい。
According to the experiments of the present inventor, this configuration significantly increases the measurement accuracy. In particular, when measuring impedance, the frequency range in which impedance measurement can be performed with high accuracy can be expanded. Accordingly, the range of the impedance and the range of the measurement temperature that can be measured with high accuracy can be expanded.
The measurement jig further includes a fifth wire that directly connects an end of the shielded wire of the second coaxial cable on the first electrode lead side and an end of the third coaxial cable on the second electrode lead side. You may go out.

また、前記測定治具は、前記第2同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第3同軸ケーブルの前記第2電極リード側端部とを直接接続する配線を含まなくてもよい。すなわち、第2同軸ケーブルのシールド線の第1電極リード側端部および第3同軸ケーブルのシールド線の第2電極リード端部との間が直接には接続されていなくてもよい。このような配線によって、第2同軸ケーブルのシールド線と第3同軸ケーブルのシールド線との間が、少なくとも、測定対象の近傍で接続されることがなくなる。これにより、測定精度が一層高まり、測定可能な範囲を広げることができる。とくに、インピーダンスの測定に当該測定治具を用いることによって、信号周波数範囲を広げることができ、それに応じて、高精度での測定が可能なインピーダンスの範囲や測定温度の範囲を一層広げることができる。   In addition, the measurement jig does not include a wiring for directly connecting an end of the shield wire of the second coaxial cable on the first electrode lead side and an end of the third coaxial cable on the second electrode lead side. You may. That is, the end of the shielded line of the second coaxial cable on the first electrode lead side and the end of the shielded line of the third coaxial cable on the second electrode lead need not be directly connected. With such a wiring, the shield line of the second coaxial cable and the shield line of the third coaxial cable are not connected at least in the vicinity of the measurement target. Thereby, the measurement accuracy is further improved, and the measurable range can be expanded. In particular, by using the measuring jig for measuring the impedance, the signal frequency range can be expanded, and accordingly, the range of the impedance and the range of the measurement temperature that can be measured with high accuracy can be further expanded. .

この発明の一実施形態の測定治具では、前記第2線および前記第3線がそれぞれ複数本備えられており、前記複数本の第2線および前記複数本の第3線が、測定対象配置位置を取り囲むように配置されている。
この発明の一実施形態の測定治具は、測定対象を支持する支持面を有する対象支持部と、対象支持部を取り囲むように配置され、前記支持面に交差する方向に延びた複数の貫通孔とを有する測定対象支持部材をさらに含み、前記複数本の第2線および前記複数本の第3線が、前記複数の貫通孔を通って配索されている。
In the measuring jig according to one embodiment of the present invention, a plurality of the second lines and a plurality of the third lines are provided, and the plurality of the second lines and the plurality of the third lines are arranged in the measurement target. It is arranged to surround the position.
A measuring jig according to an embodiment of the present invention includes a target support having a support surface for supporting a measurement target, and a plurality of through holes arranged to surround the target support and extending in a direction intersecting the support surface. And the plurality of second lines and the plurality of third lines are routed through the plurality of through-holes.

この発明の一実施形態の測定治具は、前記測定対象支持部材に取り付けられ、測定対象を加熱するためのヒータをさらに含む。
前記ヒータは、前記対象支持部に配置されることが好ましい。それにより、測定対象を効率的に加熱でき、かつその温度を正確に制御できる。
この発明の一実施形態の測定治具は、開口を有し、前記測定対象を収容する保持容器と、前記保持容器の開口を閉じる蓋と、前記蓋に固定され、前記第1同軸ケーブル、前記第2同軸ケーブル、前記第3同軸ケーブルおよび前記第4同軸ケーブルをそれぞれ支持する第1フィードスルー、第2フィードスルー、第3フィードスルーおよび第4フィードスルーとをさらに含む。
The measurement jig of one embodiment of the present invention further includes a heater attached to the measurement target support member and configured to heat the measurement target.
Preferably, the heater is disposed on the target support. Thereby, the object to be measured can be efficiently heated and its temperature can be accurately controlled.
The measuring jig according to one embodiment of the present invention has an opening, a holding container that stores the object to be measured, a lid that closes the opening of the holding container, and is fixed to the lid, the first coaxial cable, It further includes a first feedthrough, a second feedthrough, a third feedthrough, and a fourth feedthrough that support the second coaxial cable, the third coaxial cable, and the fourth coaxial cable, respectively.

この発明の一実施形態の測定治具では、前記第1〜第4フィードスルーが、前記第1〜第4同軸ケーブルのシールドと前記蓋とを電気的に絶縁した状態で前記第1〜第4同軸ケーブルをそれぞれ支持する絶縁型フィードスルーである。
この発明の一実施形態の測定治具は、前記蓋に結合され、前記保持容器内にガスを導入するガス導入管と、前記蓋に結合され、前記保持容器内のガスを排気する排気管とをさらに含む。
In the measuring jig according to one embodiment of the present invention, the first to fourth feed-throughs are electrically insulated from the shields and the lids of the first to fourth coaxial cables. It is an insulated feedthrough that supports each coaxial cable.
A measuring jig of one embodiment of the present invention is a gas introduction pipe coupled to the lid, for introducing gas into the holding container, and an exhaust pipe coupled to the lid, for exhausting gas in the holding container. Further included.

この発明は、また、上記のような特徴を有する測定治具と、前記第1〜第4同軸ケーブルにそれぞれ接続される複数の端子を有し、前記測定対象の所定の物理量(具体的にはインピーダンス)を測定する測定器とを含む、測定システムを提供する。
この構成により、良好な確度で広い測定範囲に亘る測定が可能な測定システムを提供できる。
The present invention also includes a measurement jig having the features described above, a plurality of terminals connected respectively to said first to fourth coaxial cable, predetermined physical quantity of the measurement object (specifically And a measuring device for measuring the impedance) .
With this configuration, a measurement system capable of performing measurement over a wide measurement range with good accuracy can be provided.

この発明の一実施形態の測定システムでは、前記所定の物理量が、インピーダンスであり、前記測定器が、複数の異なる周波数に対する前記測定対象からの応答を計測する。
この発明の一実施形態の測定システムでは、前記測定対象が固体電解質である。
この発明は、また、測定対象の物理量(具体的にはインピーダンス)を測定するための測定システムを制御するためのコンピュータに実行させるための制御プログラムを提供する。前記測定システムは、測定対象に接続すべき第1端子群を有し、第1測定方式に従って前記測定対象の所定の物理量を測定する第1測定器と、測定対象に接続すべき第2端子群を有し、前記第1測定方式とは異なる第2測定方式に従って前記測定対象の前記所定の物理量を測定する第2測定器と、前記第1端子群に接続される第1測定器側端子群と、前記第2端子群に接続される第2測定器側端子群と、測定対象側端子群と、前記第1測定器側端子群または前記第2測定器側端子群を前記測定対象側端子群に選択的に接続する選択接続ユニットとを含む切替装置とを含む。そして、前記制御プログラムは、前記切替装置を制御して前記第1測定器側端子群を前記測定対象側端子群に接続し、前記第1測定器を制御して前記第1測定方式による測定を実行させ、かつ前記第1測定器による測定結果を取得する第1測定制御ステップと、前記切替装置を制御して前記第2測定器側端子群を前記測定対象側端子群に接続し、前記第2測定器を制御して前記第2測定方式による測定を実行させ、かつ前記第2測定器による測定結果を取得する第2測定制御ステップとを前記コンピュータに実行させる。
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, the predetermined physical quantity is impedance, and the measuring device measures responses from the measurement target to a plurality of different frequencies.
In the measurement system according to one embodiment of the present invention, the measurement target is a solid electrolyte.
The present invention also provides a control program for causing a computer for controlling a measurement system for measuring a physical quantity (specifically, impedance) of a measurement target to execute. The measurement system has a first terminal group to be connected to a measurement target, a first measuring device for measuring a predetermined physical quantity of the measurement target according to a first measurement method, and a second terminal group to be connected to the measurement target. A second measuring device for measuring the predetermined physical quantity of the measurement object according to a second measuring method different from the first measuring method, and a first measuring device side terminal group connected to the first terminal group A second measuring instrument side terminal group connected to the second terminal group, a measuring object side terminal group, and the first measuring instrument side terminal group or the second measuring instrument side terminal group. And a switching device including a selective connection unit for selectively connecting to the group. The control program controls the switching device to connect the first measuring device side terminal group to the measurement target side terminal group, and controls the first measuring device to perform the measurement by the first measurement method. Executing, and a first measurement control step of acquiring a measurement result by the first measurement device, controlling the switching device to connect the second measurement device side terminal group to the measurement target side terminal group, Controlling the second measuring device to execute the measurement by the second measuring method, and causing the computer to execute a second measurement control step of acquiring a measurement result by the second measuring device.

この発明の一実施形態では、前記第1測定器は第1形式の測定結果データを出力し、前記第2測定器は前記第1形式とは異なる第2形式の測定結果データを出力し、前記制御プログラムは、前記第1形式の測定結果データおよび前記第2形式の測定結果データの両方を第3形式で出力するステップを前記コンピュータに実行させる。
前記第3形式は、前記第1形式と同じであってもよいし、前記第2形式と同じであってもよいし、前記第1および第2形式のいずれとも異なる形式であってもよい。
In one embodiment of the present invention, the first measuring device outputs measurement result data of a first format, the second measuring device outputs measurement result data of a second format different from the first format, The control program causes the computer to execute a step of outputting both the first format measurement result data and the second format measurement result data in a third format.
The third format may be the same as the first format, may be the same as the second format, or may be a format different from any of the first and second formats.

この発明の一実施形態の制御プログラムは、前記第1測定器の測定結果データおよび前記第2測定器の測定結果データを統合した単一の出力ファイルを生成するステップを前記コンピュータに実行させる。
この発明の一実施形態の制御プログラムは、第1測定領域(具体的には第1測定周波数領域)において前記第1測定制御ステップを前記コンピュータに実行させ、前記第1測定領域とは異なる第2測定領域(具体的には第2測定周波数領域)において前記第2測定制御ステップを前記コンピュータに実行させる。
A control program according to an embodiment of the present invention causes the computer to execute a step of generating a single output file in which measurement result data of the first measurement device and measurement result data of the second measurement device are integrated.
A control program according to an embodiment of the present invention causes the computer to execute the first measurement control step in a first measurement area (specifically, a first measurement frequency area) , and executes a second measurement control step different from the first measurement area. And causing the computer to execute the second measurement control step in a measurement area (specifically, a second measurement frequency area) .

第1および第2測定領域は、互いに重なり合う重複領域を有していることが好ましい。
この発明の一実施形態の制御プログラムは、前記第1測定領域および前記第2測定領域を使用者が設定するための測定領域入力手段を提供し、かつ前記測定領域入力手段からの入力を受け付けるステップと、前記測定領域入力手段による設定に従って前記第1測定領域および前記第2測定領域を定めるステップとを前記コンピュータにさらに実行させる。
Preferably, the first and second measurement areas have overlapping areas that overlap each other.
A control program according to one embodiment of the present invention provides a measurement area input means for a user to set the first measurement area and the second measurement area, and receives an input from the measurement area input means. And determining the first measurement area and the second measurement area in accordance with the settings made by the measurement area input means.

この発明の一実施形態の制御プログラムは、前記第1測定器および前記第2測定器における測定点(具体的には測定周波数)の間隔を共通に設定する測定点間隔設定手段を提供し、かつ前記測定点間隔設定手段からの入力を受け付けるステップと、前記測定点間隔設定手段によって設定された間隔の複数の測定点を前記第1測定器および前記第2測定器に指示するステップとを前記コンピュータにさらに実行させる。 A control program according to an embodiment of the present invention provides a measurement point interval setting means for commonly setting an interval between measurement points (specifically, measurement frequencies) in the first measurement device and the second measurement device, and Receiving the input from the measuring point interval setting means, and instructing the first measuring device and the second measuring device a plurality of measuring points at the intervals set by the measuring point interval setting means. To be executed further.

この発明は、さらに、測定対象に接続すべき第1端子群を有し、第1測定方式に従って前記測定対象の所定の物理量(具体的にはインピーダンス)を測定する第1測定器と、測定対象に接続すべき第2端子群を有し、前記第1測定方式とは異なる第2測定方式に従って前記測定対象の前記所定の物理量を測定する第2測定器と、測定対象に接続される測定ヘッドを有する測定治具とを含む測定システムにおける測定方法であって、前記測定治具を前記第1端子群に接続し、前記第1測定器によって前記第1測定方式による測定を実行する第1測定ステップと、前記測定治具を前記第2端子群に接続し、前記第2測定器によって前記第2測定方式による測定を実行する第2測定ステップとを含む、測定方法を提供する。 The present invention further includes a first measuring device having a first terminal group to be connected to a measurement target, and measuring a predetermined physical quantity (specifically, impedance) of the measurement target according to a first measurement method, A second measuring device that has a second terminal group to be connected to the second measuring device and measures the predetermined physical quantity of the measuring object according to a second measuring method different from the first measuring method; and a measuring head connected to the measuring object. A measurement jig having a measurement jig, wherein the measurement jig is connected to the first terminal group, and the first measurement device performs measurement by the first measurement method. And a second measuring step of connecting the measuring jig to the second terminal group and executing a measurement by the second measuring method using the second measuring method.

この発明の一実施形態の測定方法では、前記第1測定ステップが、切替装置によって前記測定治具を前記第1端子群に接続するステップを含み、前記第2測定ステップが、前記切替装置によって前記測定治具を前記第2端子群に接続するステップを含む。
この発明の一実施形態では、前記第1測定器は第1形式の測定結果データを出力し、前記第2測定器は前記第1形式とは異なる第2形式の測定結果データを出力し、前記測定方法は、前記第1形式の測定結果データおよび前記第2形式の測定結果データの両方を第3形式で出力するステップをさらに含む。
In the measuring method according to an embodiment of the present invention, the first measuring step includes a step of connecting the measuring jig to the first terminal group by a switching device, and the second measuring step is performed by the switching device by the switching device. Connecting a measuring jig to the second terminal group.
In one embodiment of the present invention, the first measuring device outputs measurement result data of a first format, the second measuring device outputs measurement result data of a second format different from the first format, The measurement method further includes the step of outputting both the first format measurement result data and the second format measurement result data in a third format.

前記第3形式は、前記第1形式と同じであってもよいし、前記第2形式と同じであってもよいし、前記第1および第2形式のいずれとも異なる形式であってもよい。
この発明の一実施形態の測定方法は、前記第1測定器の測定結果データおよび前記第2測定器の測定結果データを統合した単一の出力ファイルを生成するステップをさらに含む。
The third format may be the same as the first format, may be the same as the second format, or may be a format different from any of the first and second formats.
The measurement method according to an embodiment of the present invention further includes a step of generating a single output file in which the measurement result data of the first measurement device and the measurement result data of the second measurement device are integrated.

この発明の一実施形態の測定方法では、前記第1測定ステップは、第1測定領域(具体的には第1測定周波数領域)において実行し、前記第2測定ステップは、前記第1測定領域とは異なる第2測定領域(具体的には第2測定周波数領域)において実行する。
第1および第2測定領域は、互いに重なり合う重複領域を有していることが好ましい。
この発明の一実施形態の測定方法では、前記第1測定ステップおよび前記第2測定ステップが、共通の間隔で設定された複数の測定点(具体的には測定周波数)に関してそれぞれ実行される。
In the measurement method according to an embodiment of the present invention, the first measurement step is performed in a first measurement area (specifically, a first measurement frequency area) , and the second measurement step is performed in the first measurement area. Is performed in a different second measurement region (specifically, a second measurement frequency region) .
Preferably, the first and second measurement areas have overlapping areas that overlap each other.
In the measurement method according to one embodiment of the present invention, the first measurement step and the second measurement step are respectively performed on a plurality of measurement points (specifically, measurement frequencies) set at a common interval.

この発明の一実施形態の測定方法では、前記所定の物理量が、インピーダンスであり、前記第1測定器が、複数の異なる周波数を複数の測定点として設定し、当該複数の測定点における前記測定対象からの応答を計測し、前記第2測定器が、複数の異なる周波数を複数の測定点として設定し、当該複数の測定点における前記測定対象からの応答を計測する。   In the measurement method according to an embodiment of the present invention, the predetermined physical quantity is impedance, the first measuring device sets a plurality of different frequencies as a plurality of measurement points, and sets the measurement target at the plurality of measurement points. , The second measuring device sets a plurality of different frequencies as a plurality of measurement points, and measures responses from the measurement target at the plurality of measurement points.

この発明の一実施形態の測定方法では、前記測定対象が固体電解質である。   In one embodiment of the present invention, the object to be measured is a solid electrolyte.

図1は、この発明の第1の実施形態に係る測定システムの構成を図解的に示す図である。FIG. 1 is a diagram schematically illustrating a configuration of a measurement system according to a first embodiment of the present invention. 図2は、前記測定システムの電気的構成を説明するためのブロック図である。FIG. 2 is a block diagram for explaining an electrical configuration of the measurement system. 図3は、前記測定システムが備える第1および第2測定器の測定周波数レンジを示す。FIG. 3 shows a measurement frequency range of the first and second measurement devices provided in the measurement system. 図4Aは、前記測定システムが備える切替装置の原理的な構成を説明するための平面図である。FIG. 4A is a plan view for explaining a principle configuration of a switching device included in the measurement system. 図4Bは、図4Aの構成の左側面図である。FIG. 4B is a left side view of the configuration of FIG. 4A. 図4Cは、前記切替装置の測定器側端子支持板の正面図である。FIG. 4C is a front view of a measuring-device-side terminal support plate of the switching device. 図4Dは、前記切替装置の測定対象側端子支持板の正面図である。FIG. 4D is a front view of the measurement-target-side terminal support plate of the switching device. 図5Aは、前記切替装置の動作例を説明するための図である。FIG. 5A is a diagram for explaining an operation example of the switching device. 図5Bは、前記切替装置の動作例を説明するための図である。FIG. 5B is a diagram for explaining an operation example of the switching device. 図5Cは、前記切替装置の動作例を説明するための図である。FIG. 5C is a diagram for explaining an operation example of the switching device. 図5Dは、前記切替装置の動作例を説明するための図である。FIG. 5D is a diagram for explaining an operation example of the switching device. 図5Eは、前記切替装置の動作例を説明するための図である。FIG. 5E is a diagram for explaining an operation example of the switching device. 図6Aは、前記測定システムが備える測定治具の構成を説明するための平面図である。FIG. 6A is a plan view for explaining a configuration of a measurement jig provided in the measurement system. 図6Bは、前記測定治具の図解的な断面図である。FIG. 6B is an illustrative sectional view of the measuring jig. 図6Cは、測定対象の近傍の具体的な構成例を拡大して示す斜視図である。FIG. 6C is an enlarged perspective view showing a specific configuration example near the measurement target. 図7Aは、測定対象の近傍における配線の構成を説明するための図であり、測定治具を第1測定器に接続した場合を示す。FIG. 7A is a diagram for explaining the configuration of the wiring in the vicinity of the measurement target, and shows a case where the measurement jig is connected to the first measurement device. 図7Bは、測定対象の近傍における配線の構成を説明するための図であり、測定治具を第2測定器に接続した場合を示す。FIG. 7B is a diagram for explaining the configuration of the wiring in the vicinity of the measurement target, and shows a case where the measurement jig is connected to the second measurement device. 図8は、第1および第2測定器および切替装置を制御するために制御装置が実行する制御プログラムの機能を説明するための図である。FIG. 8 is a diagram for explaining functions of a control program executed by the control device to control the first and second measuring devices and the switching device. 図9は、前記制御装置の表示ユニットにおける表示例を示す。FIG. 9 shows a display example on a display unit of the control device. 図10は、前記制御装置の動作の概要を説明するためのフローチャートである。FIG. 10 is a flowchart for explaining the outline of the operation of the control device. 図11Aは、様々な抵抗値のチップ抵抗を試料としてインピーダンスを測定した結果(実施例)を表したBode線図(ゲイン線図)である。FIG. 11A is a Bode diagram (gain diagram) showing results (examples) of measuring impedance using chip resistors having various resistance values as samples. 図11Bは、様々な抵抗値のチップ抵抗を試料としてインピーダンスを測定した結果(実施例)を表したBode線図(位相線図)である。FIG. 11B is a Bode diagram (phase diagram) showing the results (examples) of measuring impedance using chip resistors having various resistance values as samples. 図12は、標準試料を用いた測定結果(実施例)を表すNyquist線図である。FIG. 12 is a Nyquist diagram showing measurement results (examples) using a standard sample. 図13Aは、固体電解質を用いた測定結果(実施例)を示す(試料温度25℃)。FIG. 13A shows a measurement result (example) using a solid electrolyte (sample temperature: 25 ° C.). 図13Bは、固体電解質を用いた測定結果(実施例)を示す(様々な試料温度)。FIG. 13B shows measurement results (examples) using a solid electrolyte (various sample temperatures). 図13Cは、図13Bの低インピーダンス領域を拡大して示す。FIG. 13C shows the low impedance region of FIG. 13B in an enlarged manner. 図14は、この発明の第2の実施形態に係る測定システムの構成を説明するための図である。FIG. 14 is a diagram for explaining the configuration of the measurement system according to the second embodiment of the present invention. 図15Aは、様々な抵抗値のチップ抵抗を試料としてインピーダンスを測定した結果(実施例)を表したBode線図(ゲイン線図)である。FIG. 15A is a Bode diagram (gain diagram) showing the results (examples) of measuring impedance using chip resistors having various resistance values as samples. 図15Bは、様々な抵抗値のチップ抵抗を試料としてインピーダンスを測定した結果(実施例)を表したBode線図(位相線図)である。FIG. 15B is a Bode diagram (phase diagram) showing the results (examples) of measuring impedance using chip resistors having various resistance values as samples. 図16Aは、比較例に係る測定治具を用いて、様々な抵抗値のチップ抵抗を試料としてインピーダンスを測定した結果(比較例)を表したBode線図(ゲイン線図)である。FIG. 16A is a Bode diagram (gain diagram) showing a result of impedance measurement (comparative example) using chip resistors having various resistance values as samples using the measuring jig according to the comparative example. 図16Bは、前記比較例に係る測定治具を用いて、様々な抵抗値のチップ抵抗を試料としてインピーダンスを測定した結果(比較例)を表したBode線図(位相線図)である。FIG. 16B is a Bode diagram (phase diagram) showing the result of impedance measurement (comparative example) using chip resistors of various resistance values as samples using the measuring jig according to the comparative example. 図17は、前記比較例に係る測定治具の構成を説明するための図である。FIG. 17 is a diagram for explaining the configuration of the measuring jig according to the comparative example. 図18は、標準試料を用いた測定結果(実施例)を表すNyquist線図である。FIG. 18 is a Nyquist diagram showing measurement results (examples) using a standard sample. 図19Aは、固体電解質を用いた測定結果(実施例)を示す。FIG. 19A shows a measurement result (example) using a solid electrolyte. 図19Bは、図19Aの低インピーダンス領域を拡大して示す。FIG. 19B shows an enlarged view of the low impedance region of FIG. 19A. 図19Cは、図19Bにおいて試料温度120℃のときの測定結果の低値側の曲線を拡大して示す。FIG. 19C is an enlarged view of the curve on the low value side of the measurement result when the sample temperature is 120 ° C. in FIG.

以下では、この発明の実施の形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1は、この発明の第1の実施形態に係る測定システムの構成を図解的に示す図である。また、図2は、その測定システムの電気的構成を説明するためのブロック図である。
測定システム1は、第1測定器11と、第2測定器12と、切替装置13と、測定治具14と、制御装置10とを含む。この測定システム1は、この実施形態では、測定治具14に保持された測定対象20のインピーダンスを測定する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a diagram schematically illustrating a configuration of a measurement system according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a block diagram for explaining an electrical configuration of the measurement system.
The measurement system 1 includes a first measurement device 11, a second measurement device 12, a switching device 13, a measurement jig 14, and a control device 10. In this embodiment, the measurement system 1 measures the impedance of the measurement target 20 held on the measurement jig 14.

第1測定器11は、この実施形態では、自動平衡ブリッジ法(第1の測定方式)によって測定対象20のインピーダンスを測定するための装置である。第2測定器12は、この実施形態では、周波数応答解析(第2の測定方式)によって測定対象20のインピーダンスを測定するための装置(FRA: Frequency Response Analyzer)である。第1測定器11は、たとえば、キーサイト(Keysight)社のE4990A型または同社の4294A型であってもよく、仕様上の入力信号周波数範囲は、E4990A型では20Hz〜120MHz、4294A型では40Hz〜110MHzである。第2測定器12は、第1測定器11とは異なる入力信号周波数範囲を有している。具体的には、第2測定器12は、たとえば、ソーラトロン社の1260型測定器であってもよく、仕様上の入力信号周波数範囲は、10μHz〜32MHzである。図3に示すように、第1測定器11の測定周波数レンジ11A(入力信号周波数範囲)と第2測定器12の測定周波数レンジ12A(入力信号周波数範囲)とは、互いに異なっているが、それらは重複する領域を有している。   In this embodiment, the first measuring device 11 is a device for measuring the impedance of the measuring object 20 by the automatic balance bridge method (first measuring method). In this embodiment, the second measuring device 12 is a device (FRA: Frequency Response Analyzer) for measuring the impedance of the measurement target 20 by frequency response analysis (second measurement method). The first measuring device 11 may be, for example, Keysight's E4990A type or 4294A's type, and the input signal frequency range in the specification is 20 Hz to 120 MHz for the E4990A type and 40 Hz to 40 Hz for the 4294A type. 110 MHz. The second measuring device 12 has an input signal frequency range different from that of the first measuring device 11. Specifically, the second measuring device 12 may be, for example, a 1260 type measuring device manufactured by Solartron, and the input signal frequency range in the specification is 10 μHz to 32 MHz. As shown in FIG. 3, the measurement frequency range 11A (input signal frequency range) of the first measurement device 11 and the measurement frequency range 12A (input signal frequency range) of the second measurement device 12 are different from each other. Have overlapping areas.

キーサイト社およびソーラトロン社の上記の測定器は、いずれも、四端子対法による測定が可能であり、高周波数から低周波数への掃引が可能であり、かつ測定点毎に複数回測定して平均化することが可能である。したがって、同様の測定条件を設定しやすい。
第1測定器11は、表示部11aと、第1端子群T1とを含む。第1端子群T1は、複数(この実施形態では4個)の第1端子T11〜T14を含む。具体的には、4個の第1端子T11〜T14は、2つの電流端子T11(信号出力端子),T14(電流計測端子)と、2つの電圧端子T12(電圧計測端子),T13(制御端子)とを含む。これらの第1端子T11〜T14は、いずれも、ピン状の信号伝達部を中央に有し、それを取り囲むように円筒状のシールド部を有する同軸端子である。この実施形態では、4個の第1端子T11〜T14は、正面視において、水平方向に沿って直線をなすように等間隔で配列されている。
All of the above instruments from Keysight and Solartron can be measured by the four-terminal-pair method, can sweep from high frequency to low frequency, and perform multiple measurements at each measurement point. Averaging is possible. Therefore, it is easy to set similar measurement conditions.
The first measuring device 11 includes a display unit 11a and a first terminal group T1. The first terminal group T1 includes a plurality of (four in this embodiment) first terminals T11 to T14. Specifically, the four first terminals T11 to T14 include two current terminals T11 (signal output terminals) and T14 (current measurement terminals), and two voltage terminals T12 (voltage measurement terminals) and T13 (control terminals). ). Each of these first terminals T11 to T14 is a coaxial terminal having a pin-shaped signal transmission portion at the center and having a cylindrical shield portion so as to surround it. In this embodiment, the four first terminals T11 to T14 are arranged at regular intervals so as to form a straight line along the horizontal direction when viewed from the front.

第2測定器12は、表示部12aと、第2端子群T2とを含む。第2端子群T2は、複数(この実施形態では4個)の第2端子T21〜T24を含む。具体的には、4個の第2端子T21〜T24は、2つの電流端子T21(信号出力端子),T24(電流計測端子)と、2つの電圧端子T22(高側電圧計測端子),T23(低側電圧計測端子)とを含む。これらの第2端子は、いずれも、ピン状の信号伝達部を中央に有し、それを取り囲むように円筒状のシールド部を有する同軸端子である。この実施形態では、4個の第2端子T21〜T24は、正面視において、矩形の4つの頂点に相当する位置にそれぞれ配置されている。すなわち、第2端子T21〜T24は、第1端子T11〜T14とは異なる配列をなしている。   The second measuring device 12 includes a display unit 12a and a second terminal group T2. The second terminal group T2 includes a plurality of (four in this embodiment) second terminals T21 to T24. Specifically, the four second terminals T21 to T24 include two current terminals T21 (signal output terminals) and T24 (current measurement terminals), and two voltage terminals T22 (high-side voltage measurement terminals) and T23 ( Low-side voltage measurement terminal). Each of these second terminals is a coaxial terminal having a pin-shaped signal transmission portion at the center and having a cylindrical shield portion surrounding the pin-shaped signal transmission portion. In this embodiment, the four second terminals T21 to T24 are arranged at positions corresponding to the four vertices of a rectangle when viewed from the front. That is, the second terminals T21 to T24 have a different arrangement from the first terminals T11 to T14.

第2測定器12から測定治具14までのケーブル長の短縮を図るために、第2測定器12の第2端子群T2に対向するように切替装置13が配置されている。また、第1測定器11の第1端子群T1は、第2測定器12の第2端子群T2のほぼ直上に配置され、第1端子群T1から切替装置13までのケーブル長が、可能な限り短縮されている。
切替装置13は、複数本(たとえば4本)の同軸ケーブル3を介して第1測定器11の第1端子群T1に接続されており、かつ複数本(たとえば4本)の同軸ケーブル4を介して第2測定器12の第2端子群T2に接続されている。また、切替装置13は、複数本(たとえば4本)の同軸ケーブル5を介して、測定治具14に接続されている。切替装置13は、測定治具14を第1測定器11の第1端子群T1または第2測定器12の第2端子群T2に接続する。切替装置13は、切替装置制御ユニット15によって、その動作が制御される。
In order to shorten the cable length from the second measuring device 12 to the measuring jig 14, the switching device 13 is arranged so as to face the second terminal group T <b> 2 of the second measuring device 12. Further, the first terminal group T1 of the first measuring device 11 is disposed almost directly above the second terminal group T2 of the second measuring device 12, and the cable length from the first terminal group T1 to the switching device 13 is possible. As long as it is shortened.
The switching device 13 is connected to the first terminal group T1 of the first measuring instrument 11 via a plurality of (for example, four) coaxial cables 3 and via a plurality of (for example, four) coaxial cables 4. The second measuring device 12 is connected to the second terminal group T2. The switching device 13 is connected to the measuring jig 14 via a plurality (for example, four) of coaxial cables 5. The switching device 13 connects the measuring jig 14 to the first terminal group T1 of the first measuring device 11 or the second terminal group T2 of the second measuring device 12. The operation of the switching device 13 is controlled by the switching device control unit 15.

同軸ケーブル3の長さはたとえば15cm程度、同軸ケーブル4の長さはたとえば5cm程度である。
測定治具14は、内部に測定対象20を収容して保持している保持容器21と、この保持容器21の上部開口21aを閉じる蓋22とを含む。保持容器21の内部には測定対象20が収容されている。保持容器21内には、測定対象20を加熱するためのヒータ23が配置されている。そのヒータ23に対して、リード線24によって電力が供給される。リード線24は、蓋22を通して測定治具14内に引き出され、ヒータ23を制御するための温度調節器16に接続されている。この温度調節器16によるヒータ23の制御のために、保持容器21内には、測定対象20の温度を検出する熱電対25が導入されている。測定対象20の温度はヒータ23の表面温度と同等とみなせるので、熱電対25は、ヒータ23の表面に接触するように配置されてもよい。
The length of the coaxial cable 3 is, for example, about 15 cm, and the length of the coaxial cable 4 is, for example, about 5 cm.
The measurement jig 14 includes a holding container 21 that houses and holds the measurement target 20 therein, and a lid 22 that closes an upper opening 21 a of the holding container 21. The measurement target 20 is accommodated inside the holding container 21. In the holding container 21, a heater 23 for heating the measurement target 20 is arranged. Electric power is supplied to the heater 23 by a lead wire 24. The lead wire 24 is drawn into the measuring jig 14 through the lid 22 and is connected to the temperature controller 16 for controlling the heater 23. A thermocouple 25 for detecting the temperature of the measurement target 20 is introduced into the holding container 21 for controlling the heater 23 by the temperature controller 16. Since the temperature of the measurement target 20 can be regarded as equivalent to the surface temperature of the heater 23, the thermocouple 25 may be arranged so as to be in contact with the surface of the heater 23.

測定治具14は、必要に応じて、冷却装置19によって冷却される。それによって、室温未満の温度での測定が可能になる。測定治具14を冷却装置19で冷却して室温未満の温度での測定を可能とするためには、同軸ケーブル5の長さは、30cm以上とすることが好ましい。冷却装置19は、液体窒素などの冷媒を入れたステンレスデュワーであってもよい。冷却装置19で測定治具14を冷却する一方で、ヒータ23への通電を制御することによって、測定対象20の温度を正確に制御できる。   The measuring jig 14 is cooled by a cooling device 19 as necessary. This allows measurements at temperatures below room temperature. In order to allow the measurement jig 14 to be cooled by the cooling device 19 and to perform measurement at a temperature lower than room temperature, the length of the coaxial cable 5 is preferably 30 cm or more. The cooling device 19 may be a stainless steel dewar containing a refrigerant such as liquid nitrogen. By controlling the energization of the heater 23 while cooling the measuring jig 14 with the cooling device 19, the temperature of the measurement target 20 can be accurately controlled.

制御装置10は、たとえば、パーソナルコンピュータからなる。制御装置10には、第1測定器11、第2測定器12、切替装置制御ユニット15および温度調節器16が接続されている。制御装置10は、これらを制御することにより、第1測定器11によって測定対象20を測定させながら第1測定器11が出力する測定結果データを取得する第1測定制御と、第2測定器12によって測定対象20を測定させながら第2測定器12が出力する測定結果データを取得する第2測定制御とを実行する。第1測定制御を実行するとき、制御装置10は、切替装置制御ユニット15を制御して、切替装置13が第1測定器11の第1端子群T1を測定治具14に接続する状態とする。第2測定制御を実行するとき、制御装置10は、切替装置制御ユニット15を制御して、切替装置13が第2測定器12の第2端子群T2を測定治具14に接続する状態とする。   Control device 10 is, for example, a personal computer. A first measuring device 11, a second measuring device 12, a switching device control unit 15, and a temperature controller 16 are connected to the control device 10. By controlling these, the control device 10 controls the first measurement device 11 to measure the measurement target 20 and obtains measurement result data output from the first measurement device 11, and the second measurement device 12 And the second measurement control for acquiring the measurement result data output from the second measuring device 12 while measuring the measurement target 20. When performing the first measurement control, the control device 10 controls the switching device control unit 15 so that the switching device 13 connects the first terminal group T1 of the first measuring device 11 to the measurement jig 14. . When executing the second measurement control, the control device 10 controls the switching device control unit 15 so that the switching device 13 connects the second terminal group T2 of the second measuring device 12 to the measurement jig 14. .

測定治具14の保持容器21内の雰囲気を制御するために、蓋22には、ガス導入管26および排気管27が取り付けられている。たとえば、排気管27を真空ポンプなどの排気設備28に接続し、ガス導入管26を不活性ガスタンク等のガス供給源29に接続することにより、保持容器21内の雰囲気を制御できる。ガス導入管26および排気管27には、この実施形態では、それぞれガスバルブ30,31が介装されている。   In order to control the atmosphere in the holding container 21 of the measurement jig 14, a gas introduction pipe 26 and an exhaust pipe 27 are attached to the lid 22. For example, the atmosphere in the holding container 21 can be controlled by connecting the exhaust pipe 27 to exhaust equipment 28 such as a vacuum pump and connecting the gas introduction pipe 26 to a gas supply source 29 such as an inert gas tank. In this embodiment, gas valves 30 and 31 are interposed in the gas introduction pipe 26 and the exhaust pipe 27, respectively.

制御装置10、第1および第2測定器11,12、切替装置13、切替装置制御ユニット15および温度調節器16は、架台6上に支持されている。架台6の天板6aの上面に複数の支柱7が立てられており、その支柱7よって2段の水平な棚板8,9が支持されている。天板6a上に温度調節器16が置かれており、下段の棚板8上に第2測定器12が置かれており、上段の棚板9上に第1測定器11および切替装置制御ユニット15が置かれている。そして、第1測定器11の上に制御装置10が置かれている。測定治具14は、テーブル17上に置かれている。   The control device 10, the first and second measuring devices 11 and 12, the switching device 13, the switching device control unit 15 and the temperature controller 16 are supported on the gantry 6. A plurality of columns 7 are erected on the top surface of the top plate 6a of the gantry 6, and the columns 7 support two levels of horizontal shelf plates 8,9. The temperature controller 16 is placed on the top plate 6a, the second measuring device 12 is placed on the lower shelf plate 8, and the first measuring device 11 and the switching device control unit are placed on the upper shelf plate 9. 15 are placed. The control device 10 is placed on the first measuring device 11. The measuring jig 14 is placed on a table 17.

図4Aは、切替装置13の原理的な構成を説明するための平面図であり、一部の構成については水平面で切断した断面を示してある。また、図4Bは、図4Aの構成の左側面図である。切替装置13は、測定器側端子支持板71と、測定対象側端子支持板72と、相対移動ユニット73とを含む。
測定器側端子支持板71は、鉛直方向に沿う主面を有する絶縁板71aを含む。測定器側端子支持板71は、図4Cに正面図(図4Aの矢印18の方向に見た正面図)を示すように、第1測定器11の複数(この実施形態では4個)の第1端子T11〜T14にそれぞれ接続される複数(この実施形態では4個)の第1測定器側端子T31〜T34と、第2測定器12の複数(この実施形態では4個)の第2端子T21〜T24にそれぞれ接続される複数(この実施形態では4個)の第2測定器側端子T41〜T44とを所定の配列で分離した状態で保持している。第1測定器側端子T31〜T34および第2測定器側端子T41〜T44は、それぞれ、絶縁板71aを貫通する同軸コネクタで構成されている。複数の第1測定器側端子T31〜T34は、所定の配列で絶縁板71a上に配列されており、同じ配列で複数の第2測定器側端子T41〜T44が絶縁板71a上に配列されている。ただし、複数の第1測定器側端子T31〜T34の配列および複数の第2測定器側端子T41〜T44の配列は、絶縁板71aの主面に沿う水平方向であるY方向に沿って、互いに所定距離だけずれている。この実施形態では、Y方向に沿って、第1測定器側端子T31〜T34および第2測定器側端子T41〜T44が交互に配置されている。絶縁板71aの主面の法線方向であるX方向に関しては、第1測定器側端子T31〜T34および第2測定器側端子T41〜T44は、同じ位置にある。絶縁板71aの主面に沿う鉛直方向であるZ方向に関しては、配列内の位置が対応する第1測定器側端子T31〜T34および第2測定器側端子T41〜T44は、互いに同じ位置(高さ)にある。第1測定器側端子T31〜T34および第2測定器側端子T41〜T44は、共通の絶縁板71aに支持されているので、これらの相対的な配置は不変である。絶縁板71aは、ガラスエポキシ板であってもよい。
FIG. 4A is a plan view for explaining the principle configuration of the switching device 13, and a part of the configuration is a cross section cut along a horizontal plane. FIG. 4B is a left side view of the configuration of FIG. 4A. The switching device 13 includes a measuring device side terminal support plate 71, a measurement target side terminal support plate 72, and a relative movement unit 73.
The measuring-device-side terminal support plate 71 includes an insulating plate 71a having a main surface extending in the vertical direction. As shown in a front view in FIG. 4C (a front view as viewed in the direction of arrow 18 in FIG. 4A), a plurality of (four in this embodiment) first measuring instruments 11 A plurality of (four in this embodiment) first measuring device side terminals T31 to T34 respectively connected to the one terminals T11 to T14, and a plurality of (four in this embodiment) second terminals of the second measuring device 12. A plurality of (four in this embodiment) second measuring device side terminals T41 to T44 respectively connected to T21 to T24 are held in a state of being separated in a predetermined arrangement. The first measuring device side terminals T31 to T34 and the second measuring device side terminals T41 to T44 are each formed of a coaxial connector penetrating the insulating plate 71a. The plurality of first measuring device side terminals T31 to T34 are arranged on the insulating plate 71a in a predetermined arrangement, and the plurality of second measuring device side terminals T41 to T44 are arranged on the insulating plate 71a in the same arrangement. I have. However, the arrangement of the plurality of first measuring instrument side terminals T31 to T34 and the arrangement of the plurality of second measuring instrument side terminals T41 to T44 are different from each other along the Y direction which is the horizontal direction along the main surface of the insulating plate 71a. It is shifted by a predetermined distance. In this embodiment, the first measuring device side terminals T31 to T34 and the second measuring device side terminals T41 to T44 are alternately arranged along the Y direction. In the X direction which is the normal direction of the main surface of the insulating plate 71a, the first measuring device side terminals T31 to T34 and the second measuring device side terminals T41 to T44 are at the same position. In the Z direction, which is a vertical direction along the main surface of the insulating plate 71a, the first measuring device side terminals T31 to T34 and the second measuring device side terminals T41 to T44 corresponding to positions in the arrangement are at the same position (high). In). Since the first measuring device side terminals T31 to T34 and the second measuring device side terminals T41 to T44 are supported by the common insulating plate 71a, their relative arrangement is unchanged. The insulating plate 71a may be a glass epoxy plate.

複数の第1測定器側端子T31〜T34および複数の第2測定器側端子T41〜T44は、絶縁板71a上に離隔した状態で支持されているので、それらを構成する同軸コネクタは、信号伝送部(芯線)だけでなく、それを取り囲むシールド部も互いから絶縁されている。すなわち、測定器側端子支持板71上には、複数の第1測定器側端子T31〜T34および複数の第2測定器側端子T41〜T44うちのいずれの一対の間をも電気的に接続する導電路は存在しない。   The plurality of first measuring instrument side terminals T31 to T34 and the plurality of second measuring instrument side terminals T41 to T44 are supported on the insulating plate 71a in a state of being separated from each other. Not only the part (core wire) but also the shield part surrounding it is insulated from each other. That is, on the measuring device side terminal support plate 71, any one pair of the plurality of first measuring device side terminals T31 to T34 and the plurality of second measuring device side terminals T41 to T44 is electrically connected. There are no conductive paths.

測定対象側端子支持板72は、測定器側端子支持板71と対向するように、この測定器側端子支持板71と平行に配置されている。すなわち、測定対象側端子支持板72は、測定器側端子支持板71の主面と平行になるように鉛直方向に沿って配置した主面を有する絶縁板72aを含む。測定対象側端子支持板72は、図4Dに正面図(図4Aの矢印18の方向に見た正面図)を示すように、複数(この実施形態では4個)の測定対象側端子T51〜T54を、所定の配列で分離した状態で保持している。複数の測定対象側端子T51〜T54の配列は、複数の第1測定器側端子T31〜T34と同じ配列(すなわち、複数の第2測定器側端子T41〜T44とも同じ配列)である。複数の測定対象側端子T51〜T54は、複数の第1測定器側端子T31〜T34にそれぞれ対応しており、かつ複数の第2測定器側端子T41〜T44にそれぞれ対応している。複数の測定対象側端子T51〜T54は、それぞれ、絶縁板72aを貫通する同軸コネクタで構成されている。複数の測定対象側端子T51〜T54は、絶縁板72aに上に離隔した状態で支持されているので、それらを構成する同軸コネクタは、信号伝送部(芯線)だけでなく、それを取り囲むシールド部も互いから絶縁されている。すなわち、測定対象側端子支持板72上には、複数の測定対象側端子T51〜T54のうちのいずれの一対の間をも電気的に接続する導電路は存在しない。絶縁板72aは、たとえばガラスエポキシ板であってもよい。   The measurement-side terminal support plate 72 is arranged in parallel with the measurement-device-side terminal support plate 71 so as to face the measurement-device-side terminal support plate 71. That is, the measurement-target-side terminal support plate 72 includes an insulating plate 72a having a main surface arranged along the vertical direction so as to be parallel to the main surface of the measurement-device-side terminal support plate 71. As shown in FIG. 4D, a front view (a front view in the direction of arrow 18 in FIG. 4A) includes a plurality of (four in this embodiment) measurement target side terminals T51 to T54. Are held in a state of being separated by a predetermined arrangement. The arrangement of the plurality of measurement target terminals T51 to T54 is the same arrangement as the plurality of first measurement device terminals T31 to T34 (ie, the same arrangement as the plurality of second measurement device terminals T41 to T44). The plurality of measurement target terminals T51 to T54 correspond to the plurality of first measurement device terminals T31 to T34, respectively, and correspond to the plurality of second measurement device terminals T41 to T44, respectively. Each of the plurality of measurement target side terminals T51 to T54 is configured by a coaxial connector penetrating the insulating plate 72a. Since the plurality of measurement target terminals T51 to T54 are supported on the insulating plate 72a in a state of being separated upward, the coaxial connectors constituting them are not only a signal transmission unit (core wire) but also a shield unit surrounding the signal transmission unit (core wire). Are also insulated from each other. That is, there is no conductive path on the measurement target terminal support plate 72 that electrically connects any pair of the plurality of measurement target terminals T51 to T54. The insulating plate 72a may be, for example, a glass epoxy plate.

相対移動ユニット73は、測定器側端子支持板71と測定対象側端子支持板72とを相対移動させる。それによって、相対移動ユニット73は、複数の測定対象側端子T51〜T54を複数の第1測定器側端子T31〜T34にそれぞれ接続する第1状態と、複数の測定対象側端子T51〜T54を複数の第2測定器側端子T41〜T44にそれぞれ接続する第2状態とを選択的に達成する選択接続ユニットを構成している。   The relative movement unit 73 relatively moves the measuring device side terminal support plate 71 and the measurement object side terminal support plate 72. Accordingly, the relative movement unit 73 includes a first state in which the plurality of measurement target terminals T51 to T54 are connected to the plurality of first measurement device terminals T31 to T34, and a plurality of measurement target terminals T51 to T54. And the second state respectively connected to the second measuring device side terminals T41 to T44.

より具体的には、この実施形態では、測定器側端子支持板71は、架台6の天板6aに支柱66を介して固定された板状の固定フレーム67に取り付けられて固定されている。測定器側端子支持板71は、固定フレーム67に対して、第2測定器12とは反対側の表面に取り付けられている。固定フレーム67は、測定器側端子支持板71に支持された第1測定器側端子T31〜T34および第2測定器側端子T41〜T44を第2測定器12側に露出させるための開口68を有している。この開口68を介して、第2測定器側端子T41〜T44が第2測定器12の第2端子群T2に対向している。   More specifically, in this embodiment, the measuring-apparatus-side terminal support plate 71 is attached and fixed to a plate-shaped fixing frame 67 fixed to the top plate 6a of the gantry 6 via the support posts 66. The measuring device side terminal support plate 71 is attached to the surface of the fixed frame 67 on the side opposite to the second measuring device 12. The fixed frame 67 has an opening 68 for exposing the first measuring device side terminals T31 to T34 and the second measuring device side terminals T41 to T44 supported by the measuring device side terminal support plate 71 to the second measuring device 12 side. Have. The second measuring device side terminals T41 to T44 face the second terminal group T2 of the second measuring device 12 via the opening 68.

一方、測定対象側端子支持板72は、相対移動ユニット73によってX方向およびY方向に移動される板状の移動フレーム69に取り付けられている。さらに具体的には、相対移動ユニット73は、この実施形態では、XYステージユニット74を含む。XYステージユニット74は、X方向アクチュエータ75およびY方向アクチュエータ76を含み、これらを駆動することによって、ステージ77をX方向およびY方向に移動させる。ステージ77に移動フレーム69が固定され、この移動フレーム69に測定対象側端子支持板72が支持されている。したがって、XYステージユニット74を駆動することによって、測定対象側端子支持板72をX方向およびY方向に移動できる。移動フレーム69の測定治具14側の表面に測定対象側端子支持板72が取り付けられている。移動フレーム69には、測定対象側端子T51〜T54を測定器側端子支持板71に向けて露出させるための開口70が形成されている。   On the other hand, the measurement target side terminal support plate 72 is attached to a plate-shaped moving frame 69 which is moved in the X direction and the Y direction by the relative moving unit 73. More specifically, the relative movement unit 73 includes an XY stage unit 74 in this embodiment. The XY stage unit 74 includes an X-direction actuator 75 and a Y-direction actuator 76, and drives these to move the stage 77 in the X-direction and the Y-direction. A moving frame 69 is fixed to the stage 77, and the measuring object side terminal support plate 72 is supported by the moving frame 69. Therefore, by driving the XY stage unit 74, the measurement target side terminal support plate 72 can be moved in the X direction and the Y direction. A measurement target side terminal support plate 72 is attached to the surface of the movable frame 69 on the measurement jig 14 side. The moving frame 69 has an opening 70 for exposing the measurement target side terminals T51 to T54 toward the measuring instrument side terminal support plate 71.

複数の測定対象側端子T51〜T54と、複数の第1測定器側端子T31〜T34とは、対応するもの同士のZ方向位置(すなわち高さ位置)が揃えられている。同様に、複数の測定対象側端子T51〜T54と、複数の第2測定器側端子T41〜T44とは、対応するもの同士のZ方向位置(すなわち高さ位置)が揃えられている。
そこで、XYステージユニット74によって測定対象側端子支持板72をY方向に移動させることにより、複数の測定対象側端子T51〜T54を複数の第1測定器側端子T31〜T34にそれぞれ対向させたり、複数の測定対象側端子T51〜T54を複数の第2測定器側端子T41〜T44にそれぞれ対向させたりすることができる。複数の測定対象側端子T51〜T54が複数の第1測定器側端子T31〜T34にそれぞれ対向している状態で、XYステージユニット74によって測定対象側端子支持板72をX方向に移動させて測定器側端子支持板71に接近させることにより、複数の測定対象側端子T51〜T54を複数の第1測定器側端子T31〜T34にそれぞれ同時に嵌合させ、それらの信号伝送部同士およびシールド部同士の間をそれぞれ電気的に接続させることができる。その状態から、XYステージユニット74によって測定対象側端子支持板72をX方向に移動させて測定器側端子支持板71から離間させることによって、複数の測定対象側端子T51〜T54と複数の第1測定器側端子T31〜T34との接続を一気に解除できる。同様に、複数の測定対象側端子T51〜T54が複数の第2測定器側端子T41〜T44にそれぞれ対向している状態で、XYステージユニット74によって測定対象側端子支持板72をX方向に移動させて測定器側端子支持板71に接近させることにより、複数の測定対象側端子T51〜T54を複数の第2測定器側端子T41〜T44にそれぞれ同時に嵌合させ、それらの信号伝送部同士およびシールド部同士の間をそれぞれ電気的に接続させることができる。その状態から、XYステージユニット74によって測定対象側端子支持板72をX方向に移動させて測定器側端子支持板71から離間させることによって、複数の測定対象側端子T51〜T54と複数の第2測定器側端子T41〜T44との接続を一気に解除できる。
The plurality of measurement target side terminals T51 to T54 and the plurality of first measurement device side terminals T31 to T34 are aligned at corresponding Z-direction positions (that is, height positions). Similarly, the plurality of measurement target side terminals T51 to T54 and the plurality of second measuring instrument side terminals T41 to T44 have corresponding Z-direction positions (that is, height positions) aligned with each other.
Therefore, by moving the measurement target side terminal support plate 72 in the Y direction by the XY stage unit 74, the plurality of measurement target side terminals T51 to T54 can be respectively opposed to the plurality of first measurement device side terminals T31 to T34, The plurality of measurement target terminals T51 to T54 can be opposed to the plurality of second measurement device terminals T41 to T44, respectively. In a state where the plurality of measurement target terminals T51 to T54 face the plurality of first measurement device terminals T31 to T34, the XY stage unit 74 moves the measurement target terminal support plate 72 in the X direction to perform measurement. The plurality of measurement target terminals T51 to T54 are simultaneously fitted to the plurality of first measurement device terminals T31 to T34, respectively, by approaching the device side terminal support plate 71, and the signal transmission portions and the shield portions thereof are connected to each other. Can be electrically connected to each other. From this state, the XY stage unit 74 moves the measurement target side terminal support plate 72 in the X direction and separates the measurement target side terminal support plate 71 from the measurement device side terminal support plate 71, so that the plurality of measurement target side terminals T51 to T54 and the first The connection with the measuring device side terminals T31 to T34 can be released at a stretch. Similarly, the XY stage unit 74 moves the measurement-target-side terminal support plate 72 in the X direction while the plurality of measurement-target-side terminals T51 to T54 face the plurality of second measurement-device-side terminals T41 to T44, respectively. Then, the plurality of measurement target terminals T51 to T54 are simultaneously fitted to the plurality of second measurement device terminals T41 to T44, respectively, by approaching the measuring device side terminal support plate 71, and the signal transmission portions thereof are connected to each other. The shield portions can be electrically connected to each other. From this state, the XY stage unit 74 moves the measurement-side terminal support plate 72 in the X direction and separates the measurement-side terminal support plate 71 from the measurement-device-side terminal support plate 71, so that the plurality of measurement target-side terminals T51 to T54 and the plurality of second The connection with the measuring device side terminals T41 to T44 can be released at a stretch.

このようなX方向移動による接続/解除を達成するために、測定対象側端子T51〜T54、第1測定器側端子T31〜T34および第2測定器側端子T41〜T44は、それぞれ、プッシュオン型の同軸コネクタで構成されていることが好ましい。より具体的には、第1測定器側端子T31〜T34および第2測定器側端子T41〜T44が、プッシュオン型の第1の同軸コネクタであり、測定対象側端子T51〜T54が、当該第1の同軸コネクタに嵌合可能なプッシュオン型の第2の同軸コネクタであることが好ましい。また、多少の位置ずれがあっても確実な嵌合を達成するためには、測定対象側端子T51〜T54と、第1および第2測定器側端子T41〜T44とのうちの少なくとも一方が、位置ずれ吸収用のフローティング構造を有していることが好ましい。   In order to achieve the connection / disconnection by such X-direction movement, the measurement target side terminals T51 to T54, the first measurement device side terminals T31 to T34, and the second measurement device side terminals T41 to T44 are each a push-on type. It is preferable to be constituted by the coaxial connector of the above. More specifically, the first measuring device side terminals T31 to T34 and the second measuring device side terminals T41 to T44 are push-on type first coaxial connectors, and the measurement target side terminals T51 to T54 are It is preferably a push-on type second coaxial connector that can be fitted to one coaxial connector. Also, in order to achieve a secure fitting even if there is some displacement, at least one of the measurement target terminals T51 to T54 and the first and second measuring device terminals T41 to T44 is It is preferable to have a floating structure for absorbing displacement.

図5A〜図5Eは、切替装置13の動作を説明するための図である。
図5Aは、初期状態を示す。測定対象側端子支持板72は、原点位置にある。原点位置は任意に定めることができる。図5Aの例では、測定対象側端子支持板72が原点位置にあるとき、各測定対象側端子T51〜T54が、対応する第1測定器側端子T31〜T34と第2測定器側端子T41〜T44との間に位置している。
5A to 5E are diagrams for explaining the operation of the switching device 13.
FIG. 5A shows the initial state. The measurement target side terminal support plate 72 is at the origin position. The origin position can be arbitrarily determined. In the example of FIG. 5A, when the measurement target side terminal support plate 72 is at the origin position, the respective measurement target side terminals T51 to T54 correspond to the first measurement device side terminals T31 to T34 and the second measurement device side terminals T41 to T41. It is located between T44.

図5Bは、測定対象側端子支持板72をY方向に移動させて、複数の測定対象側端子T51〜T54を複数の第1測定器側端子T31〜T34にそれぞれ対向させた状態を示す。この状態から、測定対象側端子支持板72をX方向に沿って測定器側端子支持板71に接近させることにより、図5Cに示すように、複数の測定対象側端子T51〜T54が複数の第1測定器側端子T31〜T34にそれぞれ嵌合して、それらが互いに電気的に接続された第1状態となる。   FIG. 5B shows a state in which the measurement target terminal support plate 72 is moved in the Y direction so that the plurality of measurement target terminals T51 to T54 face the plurality of first measurement device terminals T31 to T34, respectively. In this state, by bringing the measurement target side terminal support plate 72 closer to the measurement device side terminal support plate 71 along the X direction, as shown in FIG. The first measuring instrument side terminals T31 to T34 are fitted to each other, and the first state is established in which they are electrically connected to each other.

図5Cに示す状態から、測定対象側端子支持板72をX方向に沿って測定器側端子支持板71から離反させることにより、測定対象側端子T51〜T54と第1測定器側端子T31〜T34との嵌合が解除され、図5Bに示す状態に戻る。
その状態から、測定対象側端子支持板72をY方向に移動させることにより、図5Dに示すように、複数の測定対象側端子T51〜T54を複数の第2測定器側端子T41〜T44にそれぞれ対向させることができる。この状態から、測定対象側端子支持板72をX方向に沿って測定の側端子支持板に接近させることにより、図5Eに示すように、複数の測定対象側端子T51〜T54が複数の第2測定器側端子T41〜T44にそれぞれ嵌合して、それらが互いに電気的に接続された第2状態となる。
From the state shown in FIG. 5C, the measurement target side terminal support plate 72 is separated from the measurement device side terminal support plate 71 along the X direction, so that the measurement target side terminals T51 to T54 and the first measurement device side terminals T31 to T34. Is released, and the state returns to the state shown in FIG. 5B.
From this state, by moving the measurement target side terminal support plate 72 in the Y direction, as shown in FIG. 5D, the plurality of measurement target side terminals T51 to T54 are respectively connected to the plurality of second measurement device side terminals T41 to T44. Can be opposed. From this state, by bringing the measurement target side terminal support plate 72 closer to the measurement side terminal support plate along the X direction, as shown in FIG. 5E, the plurality of measurement target side terminals T51 to T54 are connected to the plurality of second The second terminals are fitted to the measuring device side terminals T41 to T44, respectively, so that they are electrically connected to each other.

図5Eに示す状態から、測定対象側端子支持板72をX方向に沿って測定器側端子支持板71から離反させることにより、測定対象側端子T51〜T54と第2測定器側端子T41〜T44との嵌合が解除され、図5Dに示す状態となる。その後は、測定対象側端子支持板72をX方向に移動させて原点位置に復帰させてもよい。
このようにして、相対移動ユニット73によって、測定対象側端子支持板72をX方向およびY方向に移動させることによって、測定対象側端子T51〜T54を第1測定器側端子T31〜T34または第2測定器側端子T41〜T44に選択的に嵌合させて、それらの間を電気的に接続することができる。こうして、測定治具14が切替装置13を介して第1測定器11に接続された第1状態と、測定治具14が切替装置13を介して第2測定器12に接続された第2状態とを選択できる。
From the state shown in FIG. 5E, the measurement target side terminal support plate 72 is separated from the measurement device side terminal support plate 71 along the X direction, so that the measurement target side terminals T51 to T54 and the second measurement device side terminals T41 to T44. Is released, and the state shown in FIG. 5D is obtained. After that, the measurement target side terminal support plate 72 may be moved in the X direction to return to the origin position.
In this way, by moving the measurement target side terminal support plate 72 in the X direction and the Y direction by the relative movement unit 73, the measurement target side terminals T51 to T54 are changed to the first measuring device side terminals T31 to T34 or the second. By selectively fitting to the measuring device side terminals T41 to T44, it is possible to electrically connect them. Thus, the first state in which the measuring jig 14 is connected to the first measuring device 11 via the switching device 13 and the second state in which the measuring jig 14 is connected to the second measuring device 12 via the switching device 13 And can be selected.

図6Aは、測定治具14の構成を説明するための平面図である。図6Bは、その図解的な縦断面図である。また、図6Cは、測定対象の近傍の具体的な構成例を拡大して示す斜視図である。図6Bは、可能な限り多くの構成要素を表すために、一部の構成要素の配置を変更して表してあり、したがって、必ずしも厳密な構造を表すものではない。
測定治具14は、測定対象20を収容する保持容器21と、この保持容器21の開口21aを閉じる蓋22と、測定対象20を支持する支持アセンブリ32と、測定対象20に異なる位置で接触する第1電極リードE1および第2電極リードE2とを含む。
FIG. 6A is a plan view for explaining the configuration of the measurement jig 14. FIG. 6B is a schematic longitudinal sectional view thereof. FIG. 6C is an enlarged perspective view showing a specific configuration example near the measurement target. FIG. 6B shows a modified arrangement of some components in order to represent as many components as possible, and thus does not necessarily represent a strict structure.
The measurement jig 14 contacts the measurement target 20 at different positions with the holding container 21 that stores the measurement target 20, the lid 22 that closes the opening 21a of the holding container 21, the support assembly 32 that supports the measurement target 20, and the like. It includes a first electrode lead E1 and a second electrode lead E2.

保持容器21は、この実施形態では、有底円筒状であり、上部に開口21aを有し、開口21aの周囲に外向きのフランジ21bが形成されている。蓋22は、その周縁部の下面をフランジに合わせて保持容器21に取り付けられる。蓋22とフランジの間には、シール部材としてのOリング33が挟み込まれる。蓋22とフランジ21bとがクランプ34によって固定され、それによって、保持容器21に蓋22が固定される。保持容器21、蓋22およびクランプ34は、たとえば、ステンレスからなる。Oリング33は、フッ素樹脂またはフッ素ゴムからなる。   In this embodiment, the holding container 21 has a bottomed cylindrical shape, has an opening 21a at an upper portion, and an outward flange 21b is formed around the opening 21a. The lid 22 is attached to the holding container 21 such that the lower surface of the peripheral portion is aligned with the flange. An O-ring 33 as a sealing member is sandwiched between the lid 22 and the flange. The lid 22 and the flange 21 b are fixed by the clamp 34, whereby the lid 22 is fixed to the holding container 21. The holding container 21, the lid 22, and the clamp 34 are made of, for example, stainless steel. The O-ring 33 is made of fluororesin or fluororubber.

支持アセンブリ32は、蓋22の下面に固定されており、蓋22を保持容器21に装着することによって、保持容器21内に収容されるように構成されている。支持アセンブリ32は、蓋22に固定され、保持容器21の軸線方向に沿って蓋22の下面側に直線状に延びた複数本(たとえば4本)の支柱35と、支柱35の途中部に固定された下支持プレート37と、下支持プレート37の上方で支柱35に沿って上下動可能に配置された上支持プレート36と、上支持プレート36と蓋22の下面との間において各支柱35に巻装されたコイルばね38と、下支持プレート37と上支持プレート36との間において各支柱35に螺合した丸ナット39とを含む。4本の支柱35は、容器の中心軸線まわりに等角度間隔をなすように配置されている。支柱35の外周に螺子35aが螺刻してあり、その螺子35aに丸ナット39が螺合している。コイルばね38は、上支持プレート36を丸ナット39に向かって、すなわち、下方に向けて付勢する。支柱35、コイルばね38および丸ナットは、たとえばステンレスからなる。また、上支持プレート36および下支持プレート37は、たとえば、PTFE(ポリテトラフルオロエチレン)またはセラミックスからなる。   The support assembly 32 is fixed to the lower surface of the lid 22, and is configured to be accommodated in the holding container 21 by attaching the lid 22 to the holding container 21. The support assembly 32 is fixed to the lid 22, and is fixed to a plurality of (for example, four) columns 35 extending linearly to the lower surface side of the lid 22 along the axial direction of the holding container 21, and fixed to an intermediate portion of the column 35. The lower support plate 37, the upper support plate 36 disposed vertically above the lower support plate 37 along the support 35, and each support 35 between the upper support plate 36 and the lower surface of the lid 22. It includes a wound coil spring 38 and a round nut 39 screwed to each column 35 between the lower support plate 37 and the upper support plate 36. The four columns 35 are arranged at equal angular intervals around the central axis of the container. A screw 35a is threaded on the outer periphery of the column 35, and a round nut 39 is screwed onto the screw 35a. The coil spring 38 urges the upper support plate 36 toward the round nut 39, that is, downward. The support 35, the coil spring 38, and the round nut are made of, for example, stainless steel. The upper support plate 36 and the lower support plate 37 are made of, for example, PTFE (polytetrafluoroethylene) or ceramics.

上支持プレート36の下面には、保持容器21の中心軸線上に第1電極リードE1が固定されている。第1電極リードE1は、測定対象20に上方から接触する接点E1aを下端に有している。
下支持プレート37の下面には、保持容器21の中心軸線上に第2電極リードE2が固定されている。第2電極リードE2は、測定対象20に下方から接触する接点E2aを上端に有している。下支持プレート37の上面中央部には、凹所37a(この実施形態では平面視円形の凹所)が形成されている。この凹所37a内に板状のヒータ23が配置されている。第2電極リードE2の接点E2aは、凹所37aの中央位置で下支持プレート37を貫通し、さらに、ヒータ23の中央位置を貫通してその上面から上方に突出している。この接点E2a上に測定対象20が配置される。ヒータ23は、たとえば、シリコンラバーヒータまたはセラミックヒータからなる。下支持プレート37は、測定対象20を支持する測定対象支持部材の一例である。そして、凹所37a内に測定対象20を配置する測定対象配置位置が設定されている。凹所37aは、測定対象20を支持する対象支持部であり、その底面(より正確にはヒータ23の表面)は、測定対象20を支持する支持面である。
On the lower surface of the upper support plate 36, a first electrode lead E1 is fixed on the central axis of the holding container 21. The lower end of the first electrode lead E1 has a contact point E1a that contacts the measurement target 20 from above.
On the lower surface of the lower support plate 37, a second electrode lead E2 is fixed on the central axis of the holding container 21. The second electrode lead E2 has a contact E2a at the upper end, which contacts the measurement target 20 from below. At the center of the upper surface of the lower support plate 37, a recess 37a (a recess having a circular shape in plan view in this embodiment) is formed. The plate-like heater 23 is arranged in the recess 37a. The contact point E2a of the second electrode lead E2 penetrates through the lower support plate 37 at the center position of the recess 37a, and further projects through the center position of the heater 23 upward from the upper surface thereof. The measurement target 20 is arranged on the contact point E2a. The heater 23 is, for example, a silicon rubber heater or a ceramic heater. The lower support plate 37 is an example of a measurement target support member that supports the measurement target 20. Then, a measurement target arrangement position at which the measurement target 20 is arranged in the recess 37a is set. The recess 37 a is a target support portion that supports the measurement target 20, and the bottom surface (more precisely, the surface of the heater 23) is a support surface that supports the measurement target 20.

測定対象20の下面を第2電極リードE2の接点E2aに接触させて配置した状態で、上支持プレート36を下降させることにより、第1電極リードE1の接点E1aを測定対象20の上面に接触させることができる。具体的には、丸ナット39をまわして下方に移動させることにより、コイルばね38のばね力によって上支持プレート36が押し下げられ、第1電極リードE1の接点E1aが測定対象20の上面に達する。さらに、丸ナット39をまわして下方に移動させることにより、コイルばね38のばね力によって、第1電極リードE1の接点E1aが測定対象20の上面に押し付けられ、それによって、測定対象20の下面が第2電極リードE2の接点E2aに押し付けられる。   With the lower surface of the measurement target 20 placed in contact with the contact E2a of the second electrode lead E2, the upper support plate 36 is lowered to bring the contact E1a of the first electrode lead E1 into contact with the upper surface of the measurement target 20. be able to. Specifically, when the round nut 39 is rotated and moved downward, the upper support plate 36 is pushed down by the spring force of the coil spring 38, and the contact point E1a of the first electrode lead E1 reaches the upper surface of the measurement target 20. Further, by rotating the round nut 39 and moving it downward, the contact force E1a of the first electrode lead E1 is pressed against the upper surface of the measurement target 20 by the spring force of the coil spring 38. It is pressed against the contact point E2a of the second electrode lead E2.

測定対象20は、たとえば、板状に形成されており、その上面および下面には電極20a,20bが予め形成されている。これらの電極20a,20bが、第1電極リードE1および第2電極リードE2の接点E2aに接触する。
測定治具14は、さらに、第1同軸ケーブル41、第2同軸ケーブル42、第3同軸ケーブル43および第4同軸ケーブル44を含む。これらの同軸ケーブル41〜44は、芯線41a〜44aと、この芯線41a〜44aを取り囲むシールド線41b〜44bと、芯線41a〜44aおよびシールド線41b〜44bの間を絶縁する絶縁体41c〜44cとを含む。芯線41a〜44aは、たとえば、銅撚線またはステンレス線からなる。シールド線41b〜44bは、たとえば、銅撚線またはステンレス線からなる。絶縁体41c〜44cは、たとえば、PTFE、ポリイミドまたはセラミックスからなる。たとえば、測定治具14を250℃以上の耐熱仕様とする場合には、芯線およびシールド線をステンレスとし、それらの間の絶縁体をポリイミドとしてもよい。
The measurement target 20 is, for example, formed in a plate shape, and electrodes 20a and 20b are formed on the upper and lower surfaces thereof in advance. These electrodes 20a and 20b contact the contact point E2a of the first electrode lead E1 and the second electrode lead E2.
The measurement jig 14 further includes a first coaxial cable 41, a second coaxial cable 42, a third coaxial cable 43, and a fourth coaxial cable 44. These coaxial cables 41 to 44 include core wires 41a to 44a, shield wires 41b to 44b surrounding the core wires 41a to 44a, and insulators 41c to 44c for insulating between the core wires 41a to 44a and the shield wires 41b to 44b. including. The core wires 41a to 44a are made of, for example, a copper stranded wire or a stainless steel wire. The shield wires 41b to 44b are made of, for example, copper stranded wires or stainless steel wires. The insulators 41c to 44c are made of, for example, PTFE, polyimide, or ceramic. For example, when the measurement jig 14 has a heat resistance of 250 ° C. or higher, the core wire and the shield wire may be made of stainless steel, and the insulator between them may be made of polyimide.

第1同軸ケーブル41の芯線41aの一端は、第1接続位置P1において第1電極リードE1に接続されている。第2同軸ケーブル42の芯線42aの一端は、第1接続位置P1よりも接点E1aに近い(すなわち測定対象20に近い)第2接続位置P2において第1電極リードE1に接続されている。第3同軸ケーブル43の芯線43aの一端は、第3接続位置P3において第2電極リードE2に接続されている。第4同軸ケーブル44の芯線44aの一端は、第3接続位置P3よりも接点E2aから遠い(すなわち測定対象20から遠い)第4接続位置P4において第2電極リードE2に接続されている。   One end of the core wire 41a of the first coaxial cable 41 is connected to the first electrode lead E1 at the first connection position P1. One end of the core wire 42a of the second coaxial cable 42 is connected to the first electrode lead E1 at a second connection position P2 closer to the contact point E1a (that is, closer to the measurement target 20) than the first connection position P1. One end of the core wire 43a of the third coaxial cable 43 is connected to the second electrode lead E2 at the third connection position P3. One end of the core wire 44a of the fourth coaxial cable 44 is connected to the second electrode lead E2 at a fourth connection position P4 farther from the contact point E2a than the third connection position P3 (that is, farther from the measurement target 20).

第1同軸ケーブル41および第2同軸ケーブル42は、上支持プレート36に形成された貫通孔(図示省略)を貫通しており、それらの上端は、蓋22を貫通するフィードスルー同軸ケーブルコネクタ46,47にそれぞれ結合され、かつ支持されている。第3同軸ケーブル43および第4同軸ケーブル44は、下支持プレート37に形成された貫通孔371,372(図6C参照)を貫通し、さらに上支持プレート36に形成された貫通孔(図示省略)を貫通しており、それらの上端は、蓋22を貫通するフィードスルー同軸ケーブルコネクタ48,49にそれぞれ結合され、かつ支持されている。フィードスルー同軸ケーブルコネクタ46〜49は、絶縁型であり、芯線部のみならずシールド部も蓋22から絶縁された状態で、蓋22を貫通して当該蓋22に固定されている。   The first coaxial cable 41 and the second coaxial cable 42 penetrate through through holes (not shown) formed in the upper support plate 36, and their upper ends have feedthrough coaxial cable connectors 46, which penetrate the lid 22, respectively. 47 are respectively connected and supported. The third coaxial cable 43 and the fourth coaxial cable 44 pass through through holes 371 and 372 (see FIG. 6C) formed in the lower support plate 37, and furthermore, a through hole (not shown) formed in the upper support plate 36. , And their upper ends are connected and supported by feedthrough coaxial cable connectors 48 and 49, respectively, which penetrate the lid 22. The feed-through coaxial cable connectors 46 to 49 are insulated, and are fixed to the lid 22 through the lid 22 in a state where not only the core part but also the shield part are insulated from the lid 22.

図6Cに示すように、第1同軸ケーブル41および第2同軸ケーブル42のシールド線41b,42bには、第1電極リードE1側の端部に、第1および第2シールド接続部品51,52がそれぞれ結合されている。同様に、第3同軸ケーブル43および第4同軸ケーブル44のシールド線43b,44bには、第2電極リードE2側の端部に、第3および第4シールド接続部品53,54がそれぞれ結合されている。これらのシールド接続部品51〜54の間が配線61〜64(この実施形態ではポリイミド被覆ステンレス線)で互いに接続されている。   As shown in FIG. 6C, first and second shield connection parts 51 and 52 are provided at the ends of the first coaxial cable 41 and the second coaxial cable 42 on the side of the first electrode lead E1 on the shield wires 41b and 42b, respectively. Each is joined. Similarly, third and fourth shield connecting parts 53 and 54 are respectively connected to the shield wires 43b and 44b of the third coaxial cable 43 and the fourth coaxial cable 44 at the end on the second electrode lead E2 side. I have. These shield connection parts 51 to 54 are connected to each other by wires 61 to 64 (in this embodiment, polyimide-coated stainless steel wires).

より具体的には、第1シールド接続部品51と第2シールド接続部品52とが、複数の第1線61で接続されており、それにより、第1同軸ケーブル41のシールド線41bと第2同軸ケーブル42のシールド線42bとが直接接続されている。また、第1シールド接続部品51と第3シールド接続部品53とが、複数の第2線62で接続されており、それにより、第1同軸ケーブル41のシールド線41bと第3同軸ケーブル43のシールド線43bとが直接接続されている。また、第2シールド接続部品52と第4シールド接続部品54とが、複数の第3線63で接続されており、それにより、第2同軸ケーブル42のシールド線42bと第4同軸ケーブル44のシールド線44bとが直接接続されている。さらに、第3シールド接続部品53と第4シールド接続部品54とが、複数の第4線64で接続されており、それにより、第3同軸ケーブル43のシールド線43bと第4同軸ケーブル44のシールド線44bとが直接接続されている。第2シールド接続部品52と第3シールド接続部品53とを接続する配線は設けられておらず、したがって、測定治具14は、第2同軸ケーブル42のシールド線42bと第3同軸ケーブル43のシールド線43bとを直接接続する配線を含まない。   More specifically, the first shield connection component 51 and the second shield connection component 52 are connected by a plurality of first wires 61, whereby the shield wire 41 b of the first coaxial cable 41 is connected to the second coaxial cable 41. The shield wire 42b of the cable 42 is directly connected. Further, the first shield connection component 51 and the third shield connection component 53 are connected by a plurality of second wires 62, whereby the shield wire 41 b of the first coaxial cable 41 and the shield wire of the third coaxial cable 43 are connected. The line 43b is directly connected. Further, the second shield connection component 52 and the fourth shield connection component 54 are connected by a plurality of third wires 63, whereby the shield wire 42 b of the second coaxial cable 42 and the shield wire of the fourth coaxial cable 44 are connected. The line 44b is directly connected. Further, the third shield connection component 53 and the fourth shield connection component 54 are connected by a plurality of fourth wires 64, whereby the shield wire 43 b of the third coaxial cable 43 and the shield wire of the fourth coaxial cable 44 are connected. The line 44b is directly connected. No wiring is provided to connect the second shield connection component 52 and the third shield connection component 53, and therefore, the measuring jig 14 is provided with a shield wire 42 b of the second coaxial cable 42 and a shield wire of the third coaxial cable 43. It does not include wiring for directly connecting to the line 43b.

第2線62および第3線63は、下支持プレート37を跨いで配置される。これらの第2線62および第3線63を所定位置に配索するために、下支持プレート37には、保持容器21の中心軸線まわりに等角度間隔で複数個(たとえば12個)の貫通孔375が形成されている。これらの貫通孔375の一部または全部を通して各複数の第2線62および第3線63が配置されている。それにより、各複数の第2線62および第3線63は、測定対象20を取り囲む篭形状を形成するように配置されている。この実施形態では、第2線62は、12個の貫通孔375のうちの11個をそれぞれ通って配索された11本の配線を含む。第3線も同様に、12個の貫通孔375のうちの11個をそれぞれ通って配索された11本の配線を含む。また、この実施形態では、第3および第4同軸ケーブル43,44が通る貫通孔371,372は、第2線62および第3線63を配索するための貫通孔375と共通である。さらに、この実施形態では、一つの貫通孔375には、第2線62、第3線63、第3および第4同軸ケーブル43,44のいずれも通されていない。この貫通孔375は、測定対象20の出し入れのために利用されてもよい。   The second line 62 and the third line 63 are arranged across the lower support plate 37. In order to arrange the second line 62 and the third line 63 at predetermined positions, a plurality of (for example, 12) through holes are formed in the lower support plate 37 at equal angular intervals around the central axis of the holding container 21. 375 are formed. Each of the plurality of second lines 62 and third lines 63 is arranged through part or all of these through holes 375. Thereby, each of the plurality of second lines 62 and third lines 63 is arranged so as to form a basket shape surrounding the measurement target 20. In this embodiment, the second line 62 includes eleven wires routed through eleven of the twelve through holes 375, respectively. Similarly, the third line includes 11 wirings routed through 11 of the 12 through holes 375, respectively. In this embodiment, the through holes 371 and 372 through which the third and fourth coaxial cables 43 and 44 pass are common to the through hole 375 for arranging the second wire 62 and the third wire 63. Further, in this embodiment, none of the second wire 62, the third wire 63, and the third and fourth coaxial cables 43, 44 pass through one through hole 375. This through hole 375 may be used for taking in and out of the measurement target 20.

蓋22にはガス導入管26および排気管27が結合されている。ガス導入管26には、その流路を開閉するガスバルブ30が介装されている。排気管27には、その流路を開閉するガスバルブ31が介装されている。
フィードスルー同軸ケーブルコネクタ46〜49には、蓋22の外方において、同軸ケーブル5の各一端が接続される。これらの同軸ケーブル5の各他端は切替装置13の測定対象側端子T51〜T54にそれぞれ接続される。それにより、第1〜第4同軸ケーブル41〜44が切替装置13の測定対象側端子T51〜T54にそれぞれ接続されることになる。
A gas introduction pipe 26 and an exhaust pipe 27 are connected to the lid 22. The gas introduction pipe 26 is provided with a gas valve 30 for opening and closing the flow path. The exhaust pipe 27 is provided with a gas valve 31 for opening and closing the flow path.
One end of the coaxial cable 5 is connected to the feedthrough coaxial cable connectors 46 to 49 outside the lid 22. The other ends of the coaxial cables 5 are connected to the measurement target terminals T51 to T54 of the switching device 13, respectively. Thereby, the first to fourth coaxial cables 41 to 44 are connected to the measurement target terminals T51 to T54 of the switching device 13, respectively.

蓋22の中央には、ヒータ23への給電のためのコネクタ56が貫通している。ヒータ23のリード線24は、コネクタ56に接続されている。コネクタ56は、リード線57を介して温度調節器16に接続されている。
熱電対25は、上支持プレート36に固定され、上支持プレート36とともに上下動する。熱電対25は、この実施形態では、ヒータ23の上面に接触しており、それによって、ヒータ23の温度と等しいとみなせる測定対象20の温度を測定する。熱電対25は、配線58によって、蓋22を貫通するフェルール59に接続され、さらに、このフェルール59に接続された配線60を介して温度調節器16に接続されている。
A connector 56 for supplying power to the heater 23 penetrates the center of the lid 22. The lead wire 24 of the heater 23 is connected to a connector 56. The connector 56 is connected to the temperature controller 16 via a lead wire 57.
The thermocouple 25 is fixed to the upper support plate 36 and moves up and down together with the upper support plate 36. In this embodiment, the thermocouple 25 is in contact with the upper surface of the heater 23, and thereby measures the temperature of the measurement target 20 that can be regarded as being equal to the temperature of the heater 23. The thermocouple 25 is connected to a ferrule 59 penetrating the lid 22 by a wire 58, and further connected to the temperature controller 16 via a wire 60 connected to the ferrule 59.

図7Aおよび図7Bは、測定対象20の近傍における配線の構成を説明するための図であり、図7Aは切替装置13を第1測定器11に接続したときの電気的構成を示し、図7Bは切替装置13を第2測定器12に接続したときの電気的構成を示す。
第1電極リードE1において測定対象20から比較的遠い位置に接続される第1同軸ケーブル41の芯線41aは、電流端子である。第1電極リードE1において測定対象20の比較的近い位置に接続される第2同軸ケーブル42の芯線42aは、電圧端子である。第2電極リードE2において測定対象20の比較的近い位置に接続される第3同軸ケーブル43の芯線43aは、電圧端子である。第2電極リードE2において測定対象20から比較的遠い位置に接続される第4同軸ケーブル44の芯線44aは、電流端子である。
7A and 7B are diagrams for explaining the configuration of the wiring in the vicinity of the measurement target 20. FIG. 7A shows the electrical configuration when the switching device 13 is connected to the first measuring device 11, and FIG. Shows an electrical configuration when the switching device 13 is connected to the second measuring device 12.
The core 41a of the first coaxial cable 41 connected to the first electrode lead E1 at a position relatively far from the measurement target 20 is a current terminal. The core wire 42a of the second coaxial cable 42 connected to a position relatively close to the measurement target 20 in the first electrode lead E1 is a voltage terminal. The core wire 43a of the third coaxial cable 43 connected to a position relatively close to the measurement target 20 in the second electrode lead E2 is a voltage terminal. The core wire 44a of the fourth coaxial cable 44 connected to a position relatively far from the measurement target 20 in the second electrode lead E2 is a current terminal.

第1同軸ケーブル41のシールド線41bの第1電極リードE1側端部は、第1線61によって第2同軸ケーブル42のシールド線42bの第1電極リードE1側端部に直接接続され、第2線62によって第3同軸ケーブル43のシールド線43bの第2電極リードE2側端部に直接接続されている。第2同軸ケーブル42のシールド線42bの第1電極リードE1側端部は、第3線63によって第4同軸ケーブル44のシールド線44bの第2電極リードE2側端部に直接接続されている。第3同軸ケーブル43のシールド線43bの第2電極リードE2側端部は、第4線64によって第4同軸ケーブル44のシールド線44bの第2電極リードE2側端部に直接接続されている。「直接接続」とは、他の同軸ケーブルのシールド線を介することなく接続されていることを意味しており、前述のようなシールド接続部品51〜54などの接続部材を用いる接続を排除しない。   The end of the shielded wire 41b of the first coaxial cable 41 on the first electrode lead E1 side is directly connected to the end of the shielded wire 42b of the second coaxial cable 42 on the first electrode lead E1 side by a first wire 61. The third coaxial cable 43 is directly connected to the end of the shielded wire 43b of the third coaxial cable 43 on the second electrode lead E2 side by a wire 62. The end of the shield wire 42b of the second coaxial cable 42 on the first electrode lead E1 side is directly connected to the end of the shield wire 44b of the fourth coaxial cable 44 on the second electrode lead E2 side by a third wire 63. The end of the shield wire 43b of the third coaxial cable 43 on the second electrode lead E2 side is directly connected to the end of the shield wire 44b of the fourth coaxial cable 44 on the second electrode lead E2 side by a fourth wire 64. "Direct connection" means that the connection is performed without passing through the shield wire of another coaxial cable, and the connection using the connection member such as the shield connection components 51 to 54 as described above is not excluded.

第1同軸ケーブル41(電流端子)および第4同軸ケーブル44(電流端子)のシールド線41b,44bの第1電極リードE1側端部および第2電極リードE2側端部の間を直接接続する線はない。また、第2同軸ケーブル42(電圧端子)および第3同軸ケーブル43(電圧端子)のシールド線42b,44bの第1電極リードE1側端部および第2電極リードE2側端部の間を直接接続する線もない。   A line directly connecting between the first electrode lead E1 side end and the second electrode lead E2 side end of the shielded wires 41b, 44b of the first coaxial cable 41 (current terminal) and the fourth coaxial cable 44 (current terminal). There is no. In addition, a direct connection is made between the first electrode lead E1 side end and the second electrode lead E2 side end of the shielded wires 42b and 44b of the second coaxial cable 42 (voltage terminal) and the third coaxial cable 43 (voltage terminal). There is no line to do.

切替装置13が第1測定器11に測定治具14を接続しているときには、図7Aに示すように、第1同軸ケーブル41は、切替装置13を介して、第1測定器11の信号出力端子T11に接続される。これにより、四端子対法による測定が行われる。第2同軸ケーブル42は、切替装置13を介して、第1測定器11の電圧計測端子T12に接続される。第3同軸ケーブル43は、切替装置13を介して、第1測定器11の制御端子T13に接続される。第4同軸ケーブル44は、切替装置13を介して、第1測定器11の電流計測端子T14に接続される。   When the switching device 13 connects the measuring jig 14 to the first measuring device 11, the first coaxial cable 41 connects the signal output of the first measuring device 11 via the switching device 13 as shown in FIG. Connected to terminal T11. Thereby, the measurement by the four-terminal pair method is performed. The second coaxial cable 42 is connected to the voltage measuring terminal T12 of the first measuring device 11 via the switching device 13. The third coaxial cable 43 is connected to the control terminal T13 of the first measuring device 11 via the switching device 13. The fourth coaxial cable 44 is connected to the current measuring terminal T14 of the first measuring device 11 via the switching device 13.

第1測定器11は、交流信号源81を内部に有しており、この交流信号源81は、信号出力端子T11に交流信号を出力する。それによって、第1同軸ケーブル41の芯線41a(電流端子)から電流が供給される。この電流は、第1電極リードE1、測定対象20、第2電極リードE2を通って、第4同軸ケーブル44の芯線44a(電流計測端子)に流れ込み、第1測定器11内の電流計84へと供給される。この電流計84を通った電流は、第4同軸ケーブル44のシールド線44bを通り、さらに、第1線61〜第4線64を通って、第1同軸ケーブル41のシールド線41bへと導かれ、このシールド線41bを通って、交流信号源81へと帰る。こうして、交流信号源81から測定対象20を通り、さらに電流計84を通って交流信号源81へと戻る電流経路が形成されている。   The first measuring instrument 11 has an AC signal source 81 therein, and the AC signal source 81 outputs an AC signal to a signal output terminal T11. Thus, current is supplied from the core wire 41a (current terminal) of the first coaxial cable 41. This current passes through the first electrode lead E1, the measurement target 20, and the second electrode lead E2, flows into the core wire 44a (current measuring terminal) of the fourth coaxial cable 44, and flows to the ammeter 84 in the first measuring instrument 11. Is supplied. The current passing through the ammeter 84 passes through the shielded wire 44b of the fourth coaxial cable 44, further passes through the first wire 61 to the fourth wire 64, and is guided to the shielded wire 41b of the first coaxial cable 41. , And returns to the AC signal source 81 through the shield wire 41b. In this way, a current path is formed from the AC signal source 81, passing through the measurement target 20, and further returning to the AC signal source 81 through the ammeter 84.

第3同軸ケーブル43の芯線43a(制御端子)は、第1測定器11の内部の演算増幅器83に接続されている。演算増幅器83は、第3同軸ケーブル43の芯線43aおよびシールド線43bの間の電位差に対応する制御信号を出力する。この制御信号によって、前述の電流経路を流れる電流が制御される。
第2同軸ケーブル42の芯線42a(電圧計測端子)は、第1測定器11の内部の電圧計82に接続されている。電圧計82は、第2同軸ケーブル42の芯線42aとシールド線42bとの間の電圧を測定し、それによって、測定対象20の両端にかかる電圧を測定する。
The core wire 43 a (control terminal) of the third coaxial cable 43 is connected to the operational amplifier 83 inside the first measuring device 11. The operational amplifier 83 outputs a control signal corresponding to a potential difference between the core wire 43a and the shield wire 43b of the third coaxial cable 43. The current flowing through the above-described current path is controlled by this control signal.
A core wire 42 a (voltage measurement terminal) of the second coaxial cable 42 is connected to a voltmeter 82 inside the first measuring device 11. The voltmeter 82 measures a voltage between the core wire 42a and the shield wire 42b of the second coaxial cable 42, and thereby measures a voltage applied to both ends of the measurement target 20.

第1測定器11は、電流計84によって計測される電流と、電圧計82によって計測される電圧とに基づいて、測定対象20のインピーダンスを演算する。
切替装置13が第2測定器12に測定対象20を接続しているときには、図7Bに示すように、第1同軸ケーブル41は、切替装置13を介して、第2測定器12の信号出力端子T21に接続される。これにより、四端子対法による測定が行われる。第2同軸ケーブル42は、切替装置13を介して、第2測定器12の高側電圧計測端子T22に接続される。第3同軸ケーブル43は、切替装置13を介して、第2測定器12の低側電圧計測端子T23に接続される。第4同軸ケーブル44は、切替装置13を介して、第2測定器12の電流計測端子T24に接続される。
The first measuring device 11 calculates the impedance of the measurement target 20 based on the current measured by the ammeter 84 and the voltage measured by the voltmeter 82.
When the switching device 13 connects the measurement target 20 to the second measuring device 12, as shown in FIG. Connected to T21. Thereby, the measurement by the four-terminal pair method is performed. The second coaxial cable 42 is connected to the high-side voltage measurement terminal T22 of the second measuring device 12 via the switching device 13. The third coaxial cable 43 is connected to the low-side voltage measurement terminal T23 of the second measuring device 12 via the switching device 13. The fourth coaxial cable 44 is connected to the current measuring terminal T24 of the second measuring device 12 via the switching device 13.

第2測定器12は、交流信号源90を内部に有しており、この交流信号源90は、信号出力端子T21に交流信号を出力する。それによって、第1同軸ケーブル41の芯線41a(電流端子)から電流が供給される。この電流は、第1電極リードE1、測定対象20、第2電極リードE2を通って、第4同軸ケーブル44の芯線44a(電流計測端子)に流れ込み、第2測定器12内の電流計93へと供給される。この電流計93を通った電流は、第4同軸ケーブル44のシールド線44bを通り、さらに、第1線61〜第4線64を通って、第1同軸ケーブル41のシールド線41bへと導かれ、このシールド線41bを通って、交流信号源91へと帰る。   The second measuring device 12 has an AC signal source 90 therein, and the AC signal source 90 outputs an AC signal to a signal output terminal T21. Thus, current is supplied from the core wire 41a (current terminal) of the first coaxial cable 41. This current passes through the first electrode lead E1, the measurement target 20, and the second electrode lead E2, flows into the core wire 44a (current measuring terminal) of the fourth coaxial cable 44, and flows to the ammeter 93 in the second measuring device 12. Is supplied. The current passing through the ammeter 93 passes through the shielded wire 44b of the fourth coaxial cable 44, further passes through the first wire 61 to the fourth wire 64, and is guided to the shielded wire 41b of the first coaxial cable 41. , And returns to the AC signal source 91 through the shield wire 41b.

第2同軸ケーブル42の芯線42a(高側電圧計測端子)および第3同軸ケーブル43の芯線43a(低側電圧計測端子)は、第2測定器12の内部の電圧計92の両端にそれぞれ接続されている。電圧計92は、第2同軸ケーブル42の芯線42aと第3同軸ケーブル43の芯線43aとの間の電圧を測定し、それによって、測定対象20の両端にかかる電圧を測定する。   A core wire 42a (high-side voltage measurement terminal) of the second coaxial cable 42 and a core wire 43a (low-side voltage measurement terminal) of the third coaxial cable 43 are connected to both ends of a voltmeter 92 inside the second measuring device 12, respectively. ing. The voltmeter 92 measures the voltage between the core wire 42a of the second coaxial cable 42 and the core wire 43a of the third coaxial cable 43, and thereby measures the voltage applied to both ends of the measurement target 20.

第2測定器12は、電流計93によって計測される電流と、電圧計92によって計測される電圧とに基づいて、測定対象20のインピーダンスを演算する。
このように、第1同軸ケーブル41のシールド線41bの第1電極リードE1側端部と第3同軸ケーブル43のシールド線43bの第2電極リードE2側端部との間が第2線62によって直接接続されており、第2同軸ケーブル42のシールド線42bの第1電極リードE1側端部と第4同軸ケーブル44のシールド線44bの第2電極リードE2側端部との間が第3線63によって直接接続されている。この構成は、本件発明者の実験によれば、周波数応答解析によってインピーダンスを計測する第2測定器12の測定精度を著しく高め、とりわけ、高精度でのインピーダンス計測が可能な周波数範囲を高周波側に広げることができる。
The second measuring device 12 calculates the impedance of the measurement target 20 based on the current measured by the ammeter 93 and the voltage measured by the voltmeter 92.
As described above, the second wire 62 connects between the end of the shield wire 41b of the first coaxial cable 41 on the first electrode lead E1 side and the end of the shield wire 43b of the third coaxial cable 43 on the second electrode lead E2 side. The third wire is connected directly between the end of the shield wire 42b of the second coaxial cable 42 on the first electrode lead E1 side and the end of the shield wire 44b of the fourth coaxial cable 44 on the second electrode lead E2 side. 63 are directly connected. According to the experiment performed by the present inventor, this configuration significantly increases the measurement accuracy of the second measuring device 12 that measures impedance by frequency response analysis, and in particular, shifts the frequency range in which high-precision impedance measurement is possible to the high-frequency side. Can be spread.

さらに、この実施形態では、第2同軸ケーブル42のシールド線42bの第1電極リードE1側端部と第3同軸ケーブル43のシールド線43bの第2電極リードE2側端部との間が直接接続されていない。この構成は、本件発明者の実験によれば、周波数応答解析によってインピーダンスを計測する第2測定器12の測定精度を一層高め、とりわけ、高精度でのインピーダンス計測が可能な周波数範囲を高周波側に一層広げることができる。   Further, in this embodiment, a direct connection is made between the end of the shield wire 42b of the second coaxial cable 42 on the first electrode lead E1 side and the end of the shield wire 43b of the third coaxial cable 43 on the second electrode lead E2 side. It has not been. According to the experiment of the present inventor, this configuration further increases the measurement accuracy of the second measuring device 12 that measures impedance by frequency response analysis, and in particular, shifts the frequency range in which high-precision impedance measurement is possible to the high-frequency side. Can be further expanded.

図8は、第1および第2測定器11,12および切替装置13を制御するために制御装置10が実行する制御プログラム95(ソフトウェア)の機能を説明するための図である。制御装置10は、制御プログラム95を実行することによって、第1測定器制御機能、第2測定器制御機能、切替装置制御機能、測定周波数帯域設定受付機能、測定点設定受付機能、測定点演算機能、測定データ取得機能、測定データ出力機能等を実現する。   FIG. 8 is a diagram for explaining functions of a control program 95 (software) executed by the control device 10 to control the first and second measuring devices 11 and 12 and the switching device 13. The control device 10 executes the control program 95 to execute a first measuring device control function, a second measuring device control function, a switching device control function, a measurement frequency band setting reception function, a measurement point setting reception function, a measurement point calculation function. , A measurement data acquisition function, a measurement data output function, and the like.

制御装置10は、中央処理装置96(CPU)、メモリ97および外部記憶装置94を含む。制御プログラム95は、たとえば外部記憶装置94に保存され、メモリ97にロードされて実行される。制御装置10は、さらに、マンマシンインタフェースを提供する表示ユニット98および入力ユニット99を含む。入力ユニット99は、キーボード、ポインティングデバイスなどを含む。ポインティングデバイスは、マウス、タッチパッド、タッチパネル等であり得る。使用者は、表示ユニット98を視認しながら入力ユニット99を操作することによって、制御装置10に対する必要な入力操作を実行できる。   The control device 10 includes a central processing unit 96 (CPU), a memory 97, and an external storage device 94. The control program 95 is stored in, for example, the external storage device 94, loaded into the memory 97, and executed. The control device 10 further includes a display unit 98 and an input unit 99 that provide a man-machine interface. The input unit 99 includes a keyboard, a pointing device, and the like. The pointing device may be a mouse, a touch pad, a touch panel, or the like. By operating the input unit 99 while viewing the display unit 98, the user can execute a necessary input operation on the control device 10.

第1測定器制御機能は、第1測定器11を制御する機能である。より具体的には、第1測定器11に対して、測定周波数帯域、すなわち、上限測定周波数および下限測定周波数を設定し、かつ、その測定周波数帯域内での複数の測定点(測定周波数)を設定して、それらの測定点でのインピーダンス測定を実行させるための指令を与える機能である。制御装置10は、たとえば、GPIB(General Purpose Interface Bus)によって第1測定器11に接続され、IEEE488.2に準拠した通信方式で第1測定器11を制御する。   The first measuring device control function is a function for controlling the first measuring device 11. More specifically, a measurement frequency band, that is, an upper limit measurement frequency and a lower limit measurement frequency are set for the first measuring device 11 and a plurality of measurement points (measurement frequencies) within the measurement frequency band are set. This is a function of setting and giving a command to execute impedance measurement at those measurement points. The control device 10 is connected to the first measuring device 11 by, for example, a GPIB (General Purpose Interface Bus), and controls the first measuring device 11 by a communication method conforming to IEEE488.2.

第2測定器制御機能は、第2測定器12を制御する機能である。より具体的には、第2測定器12に対して、測定周波数帯域、すなわち、上限測定周波数および下限測定周波数を設定し、かつ、その測定周波数帯域内での複数の測定点(測定周波数)を設定して、それらの測定点でのインピーダンス測定を実行させるための指令を与える機能である。制御装置10は、たとえば、GPIBによって第2測定器12に接続され、IEEE488.2に準拠した通信方式で第2測定器12を制御する。   The second measuring device control function is a function for controlling the second measuring device 12. More specifically, a measurement frequency band, that is, an upper limit measurement frequency and a lower limit measurement frequency are set for the second measuring device 12, and a plurality of measurement points (measurement frequencies) within the measurement frequency band are set. This is a function of setting and giving a command to execute impedance measurement at those measurement points. The control device 10 is connected to the second measuring device 12 by, for example, GPIB, and controls the second measuring device 12 by a communication method conforming to IEEE488.2.

切替装置制御機能は、切替装置13の動作を制御するための機能である。制御装置10は、たとえば、GPIBによって切替装置制御ユニット15に接続され、IEEE488.2に準拠した通信方式で切替装置制御ユニット15に制御指令を与える。その制御指令に基づいて、切替装置制御ユニット15が相対移動ユニット73を制御する。切替装置制御機能は、第1測定器11によるインピーダンス測定に際しては、測定治具14が第1測定器11に接続される第1状態に切替装置13を制御する。また、切替装置制御機能は、第2測定器12によるインピーダンス測定に際しては、測定治具14が第2測定器12に接続される第2状態に切替装置13を制御する。   The switching device control function is a function for controlling the operation of the switching device 13. The control device 10 is connected to the switching device control unit 15 by, for example, GPIB, and gives a control command to the switching device control unit 15 by a communication method conforming to IEEE488.2. The switching device control unit 15 controls the relative movement unit 73 based on the control command. The switching device control function controls the switching device 13 to the first state in which the measuring jig 14 is connected to the first measuring device 11 when the first measuring device 11 measures the impedance. The switching device control function controls the switching device 13 to the second state in which the measuring jig 14 is connected to the second measuring device 12 when the second measuring device 12 measures the impedance.

測定周波数帯域設定受付機能は、入力ユニット99の操作によって使用者が入力する測定周波数帯域を受け付ける機能であり、測定領域入力手段を構成している。たとえば、測定周波数帯域設定受付機能は、使用者が第1測定器11における上限測定周波数および下限測定周波数を入力するためのインタフェースを表示ユニット98に表示させる。この表示を視認しながら、使用者が入力ユニット99を操作することによって、第1測定器11の上限測定周波数および下限測定周波数が入力され、その入力結果が、制御装置10に受け付けられる。同様に、測定周波数帯域設定受付機能は、使用者が第2測定器12における上限測定周波数および下限測定周波数を入力するためのインタフェースを表示ユニット98に表示させる。この表示を視認しながら、使用者が入力ユニット99を操作することによって、第2測定器12の上限測定周波数および下限測定周波数が入力され、その入力結果が、制御装置10に受け付けられる。   The measurement frequency band setting accepting function is a function of accepting a measurement frequency band input by the user by operating the input unit 99, and constitutes a measurement area input unit. For example, the measurement frequency band setting reception function causes the display unit 98 to display an interface for the user to input an upper limit measurement frequency and a lower limit measurement frequency in the first measuring device 11. The user operates the input unit 99 while visually confirming this display, whereby the upper limit measurement frequency and the lower limit measurement frequency of the first measuring device 11 are input, and the input results are received by the control device 10. Similarly, the measurement frequency band setting reception function causes the display unit 98 to display an interface for the user to input the upper limit measurement frequency and the lower limit measurement frequency in the second measuring device 12. The user operates the input unit 99 while visually confirming this display, whereby the upper limit measurement frequency and the lower limit measurement frequency of the second measuring device 12 are input, and the input results are received by the control device 10.

測定点設定受付機能は、入力ユニット99の操作によって使用者が入力する測定点(測定周波数)を受け付ける機能であり、測定点の間隔を設定するための測定点間隔設定手段を構成している。たとえば、測定点設定受付機能は、一桁(decade)当たりの測定点数(steps)を入力するためのインタフェースを表示ユニット98に表示させる。この表示を視認しながら、使用者が入力ユニット99を操作することによって、一桁当たりの測定点数が入力されて制御装置10に受け付けられる。   The measurement point setting reception function is a function of receiving a measurement point (measurement frequency) input by the user by operating the input unit 99, and constitutes a measurement point interval setting unit for setting an interval between measurement points. For example, the measurement point setting reception function causes the display unit 98 to display an interface for inputting the number of measurement points per decade (steps). The user operates the input unit 99 while visually confirming this display, whereby the number of measurement points per digit is input and received by the control device 10.

測定点演算機能は、第1測定器11により測定動作を実行させるための複数の測定点(測定周波数)を演算し、かつ第2測定器12により測定動作を実行させるための複数の測定点(測定周波数)を演算する機能である。演算された複数の測定点は、第1測定器制御機能および第2測定器制御機能によって、第1測定器11および第2測定器12にそれぞれ送信される。より具体的には、それらの複数の測定点において測定動作を実行させるための指令信号が、第1および第2測定器11,12に与えられる。第1測定器11の複数の測定点は、第1測定器11について設定された上限測定周波数および下限測定周波数の間で設定され、周波数の一桁あたりの測定間隔(周波数の間隔)は、測定点設定受付機能によって受け付けられた測定点数に当該一桁の周波数領域を等分するように定められる。第2測定器12の複数の測定点も同様に、第2測定器12について設定された上限測定周波数および下限測定周波数の間で設定され、周波数一桁あたりの測定間隔(周波数の間隔)は、測定点設定受付機能によって受け付けられた測定点数に当該一桁の周波数領域を等分するように定められる。その結果、第1測定器11および第2測定器12についてそれぞれ設定される測定周波数領域が重複する周波数領域を有する場合には、その重複周波数領域内では、第1測定器11および第2測定器12において同じ測定点(周波数)でのインピーダンス測定が行われることになる。   The measurement point calculation function calculates a plurality of measurement points (measurement frequencies) for causing the first measurement device 11 to execute a measurement operation, and a plurality of measurement points (measurement frequencies) for causing the second measurement device 12 to execute a measurement operation. This is a function to calculate the measurement frequency. The calculated plurality of measurement points are transmitted to the first measurement device 11 and the second measurement device 12, respectively, by the first measurement device control function and the second measurement device control function. More specifically, a command signal for executing a measurement operation at the plurality of measurement points is provided to first and second measuring devices 11 and 12. The plurality of measurement points of the first measurement device 11 are set between the upper limit measurement frequency and the lower limit measurement frequency set for the first measurement device 11, and the measurement interval (frequency interval) per digit of the frequency is measured. The single-digit frequency region is determined to be equally divided into the number of measurement points received by the point setting reception function. Similarly, a plurality of measurement points of the second measurement device 12 are set between the upper limit measurement frequency and the lower limit measurement frequency set for the second measurement device 12, and the measurement interval (frequency interval) per digit of frequency is The single-digit frequency region is determined to be equally divided into the number of measurement points received by the measurement point setting reception function. As a result, when the measurement frequency regions set for the first measurement device 11 and the second measurement device 12 respectively have overlapping frequency regions, the first measurement device 11 and the second measurement device At 12, the impedance measurement is performed at the same measurement point (frequency).

測定データ取得機能は、第1測定器11からの測定結果データを取得し、第2測定器12からの測定結果データを取得する機能である。取得された測定結果データは、外部記憶装置94に格納される。
測定データ出力機能は、第1測定器11の測定結果データおよび第2測定器12の測定データ結果を共通形式で出力する機能である。具体的には、第1測定器11の測定結果データをそのままの形式で出力し、第2測定器12の測定結果データを第1測定器11のデータの形式に変換して出力してもよい。逆に、第1測定器11の測定結果データを第2測定器12のデータの形式に変換して出力し、第2測定器12の測定結果データをそのままの形式で出力してもよい。さらに、第1測定器11および第2測定器12の測定結果データを、それらの形式とは異なる形式の測定結果データに変換して出力してもよい。出力された共通形式の測定結果データは、測定結果データファイルとして、外部記憶装置94に格納される。測定データ出力機能は、第1および第2測定器11,12の測定結果データをそれぞれに対応する2つの測定結果データファイルとして外部記憶装置94に格納してもよい。また、測定データ出力機能は、第1および第2測定器11,12の測定結果データを一つの測定結果データファイルに統合して外部記憶装置94に格納してもよい。
The measurement data acquisition function is a function of acquiring measurement result data from the first measurement device 11 and acquiring measurement result data from the second measurement device 12. The acquired measurement result data is stored in the external storage device 94.
The measurement data output function is a function of outputting the measurement result data of the first measurement device 11 and the measurement data result of the second measurement device 12 in a common format. Specifically, the measurement result data of the first measurement device 11 may be output as it is, and the measurement result data of the second measurement device 12 may be converted into the data format of the first measurement device 11 and output. . Conversely, the measurement result data of the first measurement device 11 may be converted into the data format of the second measurement device 12 and output, and the measurement result data of the second measurement device 12 may be output in the same format. Further, the measurement result data of the first measurement device 11 and the second measurement device 12 may be converted into measurement result data of a format different from those formats and output. The output measurement result data in the common format is stored in the external storage device 94 as a measurement result data file. The measurement data output function may store the measurement result data of the first and second measuring devices 11 and 12 in the external storage device 94 as two corresponding measurement result data files. Further, the measurement data output function may integrate the measurement result data of the first and second measuring devices 11 and 12 into one measurement result data file and store it in the external storage device 94.

図9は、制御装置10の表示ユニット98における表示例を示す。制御装置10は、たとえば、設定ウィンドウ100および出力ウィンドウ120を表示ユニット98に表示させることができる。
設定ウィンドウ100は、第1測定器11の測定周波数領域を設定入力するための第1測定周波数入力部101、第2測定器12の測定周波数領域を設定入力するための第2測定周波数入力部102、一桁(decade)当たりの測定点数(steps)を入力するための測定間隔入力部103を含む。
FIG. 9 shows a display example on the display unit 98 of the control device 10. Control device 10 can cause display unit 98 to display setting window 100 and output window 120, for example.
The setting window 100 includes a first measurement frequency input unit 101 for setting and inputting a measurement frequency region of the first measurement device 11, and a second measurement frequency input unit 102 for setting and inputting a measurement frequency region of the second measurement device 12. , A measurement interval input unit 103 for inputting the number of measurement points (steps) per one digit (decade).

第1測定周波数入力部101は、測定周波数帯域設定受付機能によって提供されるインタフェースであり、第1測定器11における上限測定周波数を設定するための上限周波数設定部105と、第1測定器11における下限測定周波数を設定するための下限周波数設定部106とを含む。上限周波数設定部105および下限周波数設定部106は、それぞれ、周波数の数値を入力するための数値入力部105a,106aと、周波数の単位を入力するための単位入力部105b,106bとを含む。使用者は、数値入力部105a,106aおよび単位入力部105b,106bに対して適切な数値および単位をそれぞれ設定することによって、上限測定周波数および下限測定周波数を設定できる。   The first measurement frequency input unit 101 is an interface provided by a measurement frequency band setting reception function, and includes an upper limit frequency setting unit 105 for setting an upper limit measurement frequency in the first measurement device 11, and an upper limit frequency setting unit 105 in the first measurement device 11. A lower limit frequency setting unit 106 for setting a lower limit measurement frequency. Upper limit frequency setting section 105 and lower limit frequency setting section 106 include numerical value input sections 105a and 106a for inputting numerical values of frequency, and unit input sections 105b and 106b for inputting frequency units. The user can set the upper limit measurement frequency and the lower limit measurement frequency by setting appropriate numerical values and units for the numerical value input units 105a and 106a and the unit input units 105b and 106b, respectively.

第2測定周波数入力部102は、測定周波数帯域設定受付機能によって提供されるインタフェースであり、第2測定器12における上限測定周波数を設定するための上限周波数設定部107と、第2測定器12における下限測定周波数を設定するための下限周波数設定部108とを含む。上限周波数設定部107および下限周波数設定部108は、それぞれ、周波数の数値を入力するための数値入力部107a,108aと、周波数の単位を入力するための単位入力部107b,108bとを含む。使用者は、数値入力部107a,108aおよび単位入力部107b,108bに対して適切な数値および単位をそれぞれ設定することによって、上限測定周波数および下限測定周波数を設定できる。   The second measurement frequency input unit 102 is an interface provided by the measurement frequency band setting reception function, and includes an upper limit frequency setting unit 107 for setting an upper limit measurement frequency in the second measurement device 12 and an upper limit frequency setting unit 107 in the second measurement device 12. A lower limit frequency setting unit 108 for setting a lower limit measurement frequency. Upper limit frequency setting section 107 and lower limit frequency setting section 108 each include numerical value input sections 107a and 108a for inputting numerical values of frequency, and unit input sections 107b and 108b for inputting frequency units. The user can set the upper limit measurement frequency and the lower limit measurement frequency by setting appropriate numerical values and units for the numerical value input units 107a and 108a and the unit input units 107b and 108b, respectively.

また、使用者は、測定間隔入力部103に対して適切な数値を設定することにより、一桁あたりの測定点数(Steps)を入力でき、それによって、一桁(decade)あたりの測定間隔を設定できる。
設定ウィンドウ100は、さらに、測定の開始を指示するためのスタートボタン109、測定を中断して切替装置13を原点に復帰させることを指示するための中断ボタン110、測定データの保存を指示するための保存ボタン111、測定を強制終了させるための強制終了ボタン112などを含み、これらは、入力ユニット99によって操作することができる。また、設定ウィンドウ100は、切替装置13の状態を表示するための切替装置状態表示部113と、第1および第2測定器11,12の状態(測定スタンバイ、第1測定器測定中、第2測定器測定中など)を表示するための測定器状態表示部114とを含む。
Also, the user can input the number of measurement points per digit (Steps) by setting an appropriate numerical value in the measurement interval input section 103, thereby setting the measurement interval per digit (decade). it can.
The setting window 100 further includes a start button 109 for instructing the start of the measurement, an interrupt button 110 for instructing to interrupt the measurement and return the switching device 13 to the origin, and an instruction for saving the measurement data. , A forced termination button 112 for forcibly terminating the measurement, and the like, which can be operated by the input unit 99. The setting window 100 includes a switching device status display unit 113 for displaying the status of the switching device 13, and the status of the first and second measuring devices 11 and 12 (measurement standby, first measuring device measurement, second measurement And a measuring device status display section 114 for displaying the status of the measuring device.

出力ウィンドウ120は、第1および第2測定器11,12から送られてくる測定結果データをグラフ表示するように構成されている。出力ウィンドウ120は、たとえば、Bode線図表示部121と、Nyquist線図表示部122とを含む。Bode線図表示部121は、ゲイン線図表示部121aと位相線図表示部121bとを含む。
たとえば、第1および第2測定器11,12から測定結果データが送られてくると、測定結果データに対応するプロットが、ゲイン線図表示部121a、位相線図表示部121bおよびNyquist線図表示部122にそれぞれリアルタイムで描画されてもよい。また、描画に際して、第1測定器11の測定結果データと第2測定器12の測定結果データとは、互いに区別可能な態様で表示されてもよい。区別可能な態様での表示の例は、異なる色の着色表示、異なるパターン(線種)の線による表示、異なる形状のドットによる表示などである。
The output window 120 is configured to graphically display the measurement result data sent from the first and second measuring devices 11 and 12. Output window 120 includes, for example, a Bode diagram display unit 121 and a Nyquist diagram display unit 122. The Bode diagram display unit 121 includes a gain diagram display unit 121a and a phase diagram display unit 121b.
For example, when measurement result data is sent from the first and second measuring devices 11 and 12, a plot corresponding to the measurement result data is displayed in a gain diagram display section 121a, a phase diagram display section 121b, and a Nyquist diagram display. The images may be drawn in the units 122 in real time. Further, at the time of drawing, the measurement result data of the first measurement device 11 and the measurement result data of the second measurement device 12 may be displayed in a distinguishable manner. Examples of the display in a distinguishable mode include color display of different colors, display by lines of different patterns (line types), display by dots of different shapes, and the like.

図10は、制御装置10の動作の概要を説明するためのフローチャートである。スタートボタンが操作されると(ステップS1)、制御装置10は、切替装置制御ユニット15に対して、原点復帰指令を出す(ステップS2)。これに応答して、切替装置制御ユニット15は、相対移動ユニット73(XYステージユニット74)を制御して、測定対象側端子支持板72をX方向およびY方向に移動させて原点に移動させる。切替装置13が原点に復帰すると、そのことを表す信号が切替装置制御ユニット15から制御装置10に送られる。これに応答して、制御装置10は、切替装置制御ユニット15に対して、第1測定器接続指令を送信する(ステップS3)。これに応答して、切替装置制御ユニット15は、相対移動ユニット73を制御して、測定対象側端子支持板72をY方向に移動させ、測定対象側端子T51〜T54を第1測定器側端子T31〜T34に対向させる。その後、切替装置制御ユニット15は、測定対象側端子支持板72をX方向に移動させて測定器側端子支持板71に接近させ、測定対象側端子T51〜T54を第1測定器側端子T31〜T34に接続させる。これにより、測定治具14が第1測定器11に接続された第1状態となる。この第1状態が確立されたことは、切替装置制御ユニット15から制御装置10へと通知される。   FIG. 10 is a flowchart for explaining an outline of the operation of the control device 10. When the start button is operated (Step S1), the control device 10 issues an origin return command to the switching device control unit 15 (Step S2). In response to this, the switching device control unit 15 controls the relative movement unit 73 (XY stage unit 74) to move the measurement target side terminal support plate 72 in the X direction and the Y direction and to the origin. When the switching device 13 returns to the origin, a signal indicating this is sent from the switching device control unit 15 to the control device 10. In response to this, the control device 10 transmits a first measuring device connection command to the switching device control unit 15 (step S3). In response to this, the switching device control unit 15 controls the relative movement unit 73 to move the measurement target side terminal support plate 72 in the Y direction, and to change the measurement target side terminals T51 to T54 to the first measuring device side terminals. It faces T31-T34. After that, the switching device control unit 15 moves the measurement target side terminal support plate 72 in the X direction to approach the measurement device side terminal support plate 71, and connects the measurement target side terminals T51 to T54 to the first measurement device side terminals T31 to T31. Connect to T34. Thereby, the measurement jig 14 is in the first state in which the measurement jig 14 is connected to the first measurement device 11. The establishment of the first state is notified from the switching device control unit 15 to the control device 10.

この通知に応答して(ステップS4:YES)、制御装置10は、第1測定器11に対して、測定点を指令して測定動作を行わせる(ステップS5:測定点指示手段)。そして、制御装置10は、第1測定器11から送られてくる測定結果データを外部記憶装置94に格納する(ステップS6)。
こうして、第1測定器11での測定が終了すると、制御装置10は、切替装置制御ユニット15に対して、第2測定器接続指令を送信する(ステップS7)。これに応答して、切替装置制御ユニット15は、相対移動ユニット73を制御して、測定対象側端子支持板72をX方向に移動させて測定器側端子支持板71から離反させる。それにより、測定対象側端子T51〜T54が第1測定器側端子T31〜T34から引き抜かれる。次いで、切替装置制御ユニット15は、相対移動ユニット73を制御して、測定対象側端子支持板72をY方向に移動させ、測定対象側端子T51〜T54を第2測定器側端子T41〜T44に対向させる。その後、切替装置制御ユニット15は、測定対象側端子支持板72をX方向に移動させて測定器側端子支持板71に接近させ、測定対象側端子T51〜T54を第2測定器側端子T41〜T44に接続させる。これにより、測定治具14が第2測定器12に接続された第2状態となる。この第2状態が確立されたことは、切替装置制御ユニット15から制御装置10へと通知される。
In response to this notification (step S4: YES), the control device 10 instructs the first measuring device 11 to perform a measuring operation by instructing a measuring point (step S5: measuring point indicating means). Then, the control device 10 stores the measurement result data sent from the first measuring device 11 in the external storage device 94 (Step S6).
When the measurement by the first measuring device 11 is completed, the control device 10 transmits a second measuring device connection command to the switching device control unit 15 (step S7). In response to this, the switching device control unit 15 controls the relative movement unit 73 to move the measurement target side terminal support plate 72 in the X direction and separate it from the measurement device side terminal support plate 71. Thereby, the measuring object side terminals T51 to T54 are pulled out from the first measuring instrument side terminals T31 to T34. Next, the switching device control unit 15 controls the relative movement unit 73 to move the measurement target side terminal support plate 72 in the Y direction, and to change the measurement target side terminals T51 to T54 to the second measurement device side terminals T41 to T44. Make them face each other. Thereafter, the switching device control unit 15 moves the measurement target side terminal support plate 72 in the X direction to approach the measurement device side terminal support plate 71, and connects the measurement target side terminals T51 to T54 to the second measurement device side terminals T41 to T41. Connect to T44. Thereby, the measuring jig 14 is in the second state in which the measuring jig 14 is connected to the second measuring device 12. The establishment of the second state is notified from the switching device control unit 15 to the control device 10.

この通知に応答して(ステップS8:YES)、制御装置10は、第2測定器12に対して、測定点を指令して測定動作を行わせる(ステップS9。測定点指示手段)。そして、制御装置10は、第2測定器12から送られてくる測定結果データを外部記憶装置94に格納する(ステップS10)。
こうして、第2測定器12での測定が終了すると、制御装置10は、切替装置制御ユニット15に対して、原点復帰指令を送信する(ステップS11)。これに応答して、切替装置制御ユニット15は、相対移動ユニット73を制御して、測定対象側端子支持板72をX方向に移動させて測定器側端子支持板71から離反させる。それにより、測定対象側端子T51〜T54が第2測定器側端子T41〜T44から引き抜かれる。次いで、切替装置制御ユニット15は、相対移動ユニット73を制御して、測定対象側端子支持板72をX方向およびY方向に移動させ、原点へと復帰させる。
In response to this notification (step S8: YES), the control device 10 instructs the second measuring device 12 to perform a measuring operation by instructing a measuring point (step S9: measuring point indicating means). Then, the control device 10 stores the measurement result data sent from the second measuring device 12 in the external storage device 94 (Step S10).
When the measurement by the second measuring device 12 is completed in this way, the control device 10 transmits an origin return command to the switching device control unit 15 (step S11). In response to this, the switching device control unit 15 controls the relative movement unit 73 to move the measurement target side terminal support plate 72 in the X direction and separate it from the measurement device side terminal support plate 71. Thereby, the measuring object side terminals T51 to T54 are pulled out from the second measuring instrument side terminals T41 to T44. Next, the switching device control unit 15 controls the relative movement unit 73 to move the measurement-side terminal support plate 72 in the X direction and the Y direction, and to return to the origin.

使用者が保存ボタンを操作すると(ステップS12)、制御装置10は、第1測定器11の測定結果データと第2測定器12の測定結果データとを外部記憶装置94に格納する(ステップS13)。このとき、第1および第2測定器11,12の測定結果データは別のファイルで保存してもよいし、一つのファイルで保存してもよい。制御装置10は、第1測定器11の測定結果データおよび第2測定器12の測定結果データを共通形式データのファイルとして保存する。使用者が保存ボタンを操作せず(ステップS12:NO)、たとえば強制終了ボタン112を操作した場合には、測定結果データを保存せずに処理を終える。   When the user operates the save button (step S12), the control device 10 stores the measurement result data of the first measurement device 11 and the measurement result data of the second measurement device 12 in the external storage device 94 (step S13). . At this time, the measurement result data of the first and second measuring devices 11 and 12 may be stored in different files, or may be stored in one file. The control device 10 stores the measurement result data of the first measurement device 11 and the measurement result data of the second measurement device 12 as a file of the common format data. If the user does not operate the save button (step S12: NO), for example, operates the forced end button 112, the process ends without saving the measurement result data.

制御装置10は、保存された第1および第2測定器11,12の測定結果データをさらに統合した一つの統合ファイルを作成して保存する機能を有していてもよい(ステップS14)。より具体的には、重複する測定周波数領域内の共通測定点のデータをそれぞれ一つのデータに統合する機能を有していてもよい。この統合は、第1測定器11または第2測定器12のいずれかのデータを代表データとして選択する処理であってもよいし、第1測定器11および第2測定器12のデータの平均値を求める処理であってもよいし、第1測定器11および第2測定器12のデータに重み付けを付して平均値を求める処理であってもよい。制御装置10は、その統合されたデータを含む統合ファイルを外部記憶装置94に格納する。   The control device 10 may have a function of creating and storing one integrated file in which the stored measurement result data of the first and second measuring devices 11 and 12 is further integrated (step S14). More specifically, it may have a function of integrating data of common measurement points in overlapping measurement frequency regions into one piece of data. This integration may be a process of selecting any data of the first measuring device 11 or the second measuring device 12 as representative data, or an average value of the data of the first measuring device 11 and the second measuring device 12 May be obtained, or a process of obtaining an average value by weighting the data of the first measuring device 11 and the second measuring device 12 may be performed. The control device 10 stores the integrated file including the integrated data in the external storage device 94.

図11Aおよび図11Bは、1608サイズの様々な抵抗値のチップ抵抗を試料(測定対象20)としてインピーダンスを測定した結果(実施例)を表したBode線図であり、図11Aはゲイン線図、図11Bは位相線図である。
第1測定器11としてキーサイト社4294A型を用い、第2測定器12としてソーラトロン社1260型を用いた。第1測定器11の下限測定周波数は100kHz、第1測定器11の上限測定周波数は100MHz、第2測定器12の下限測定周波数は1Hz、第2測定器12の上限測定周波数は10MHzにそれぞれ設定した。交流電圧は10mV、一桁あたりの測定点数は50steps/decadeに設定した。試料の温度は室温である。第1および第2測定器11,12の測定周波数域は、100kHz〜10MHz(重複測定周波数域)で重複している。2つの測定器11,12の測定結果データは、100kHz〜10MHzで接続した。すなわち、1Hz〜100kHzの周波数域については第2測定器12の測結果データを用い、10MHz〜100MHzの周波数域については第1測定器11の測定結果データを用い、100kHz〜10MHz(重複測定周波数域)については、第1および第2測定器11,12の測定結果データを統合して用いた。
11A and 11B are Bode diagrams showing the results (examples) of measuring impedance using chip resistors having various resistance values of 1608 size as a sample (measurement target 20), FIG. 11A is a gain diagram, FIG. 11B is a phase diagram.
The first measuring instrument 11 used was Keysight 4294A, and the second measuring instrument 12 was Solartron 1260. The lower limit measuring frequency of the first measuring device 11 is set to 100 kHz, the upper limit measuring frequency of the first measuring device 11 is set to 100 MHz, the lower measuring frequency of the second measuring device 12 is set to 1 Hz, and the upper measuring frequency of the second measuring device 12 is set to 10 MHz. did. The AC voltage was set to 10 mV, and the number of measurement points per digit was set to 50 steps / decade. The temperature of the sample is room temperature. The measurement frequency ranges of the first and second measuring devices 11 and 12 overlap at 100 kHz to 10 MHz (overlap measurement frequency range). The measurement result data of the two measuring devices 11 and 12 were connected at 100 kHz to 10 MHz. That is, the measurement result data of the second measuring device 12 is used for the frequency range of 1 Hz to 100 kHz, and the measurement result data of the first measuring device 11 is used for the frequency range of 10 MHz to 100 MHz. For ()), the measurement result data of the first and second measuring devices 11 and 12 were integrated and used.

図11Aおよび図11Bの測定結果から、確度±5%での測定が可能なインピーダンス範囲は次のとおりであることが確認できた。
100MHzにおいては10Ω〜1kΩ
10MHzにおいては2Ω〜5.1kΩ
1MHzにおいては2Ω〜20kΩ
第2測定器12(ソーラトロン社1260型)を単独で用いた場合に確度±5%で測定可能なインピーダンスの範囲は次のとおりであった。
From the measurement results of FIG. 11A and FIG. 11B, it was confirmed that the impedance range in which measurement with accuracy of ± 5% is possible is as follows.
10Ω to 1kΩ at 100MHz
2Ω to 5.1kΩ at 10MHz
2Ω to 20kΩ at 1MHz
The range of impedance that can be measured with an accuracy of ± 5% when the second measuring device 12 (Model Solartron 1260) is used alone is as follows.

10MHzにおいては20Ω〜1kΩ
1MHzにおいては1Ω〜10kΩ
このように、第1および第2測定器11,12を切り替えて用いることによって、精度の高いインピーダンス測定が可能な範囲が広がる。
図12は、標準試料を測定対象20として用いた測定結果(実施例)を表すNyquist線図である。標準試料としては、図12中に示すRC回路を用いた。具体的には、1608サイズの第1のチップ抵抗(100Ω)と、1608サイズの第2のチップ抵抗(6.8kΩ)と、1608サイズのチップコンデンサ(68pF)とを直並列に接続したRC回路からなる標準試料を作製した。このRC回路は、実際の固体電解質を模擬した等価回路を構成している。
20Ω to 1kΩ at 10MHz
1Ω to 10kΩ at 1MHz
As described above, by switching between the first and second measuring devices 11 and 12, the range in which highly accurate impedance measurement can be performed is widened.
FIG. 12 is a Nyquist diagram showing a measurement result (example) using a standard sample as the measurement target 20. The RC circuit shown in FIG. 12 was used as a standard sample. Specifically, an RC circuit in which a 1608 size first chip resistor (100Ω), a 1608 size second chip resistor (6.8 kΩ), and a 1608 size chip capacitor (68 pF) are connected in series and parallel Was prepared. This RC circuit constitutes an equivalent circuit simulating an actual solid electrolyte.

第1測定器11としてキーサイト社4294A型を用い、第2測定器12としてソーラトロン社1260型を用いた。第1測定器11の下限測定周波数は100kHz、第1測定器11の上限測定周波数は100MHz、第2測定器12の下限測定周波数は10Hz、第2測定器12の上限測定周波数は10MHzにそれぞれ設定した。したがって、第1および第2測定器11,12の測定周波数域は、100kHz〜10MHz(重複測定周波数域)で重複している。交流電圧は10mV、一桁あたりの測定点数は50steps/decadeに設定した。試料の温度は室温である。   The first measuring instrument 11 used was Keysight 4294A, and the second measuring instrument 12 was Solartron 1260. The lower limit measuring frequency of the first measuring instrument 11 is set to 100 kHz, the upper measuring frequency of the first measuring instrument 11 is set to 100 MHz, the lower measuring frequency of the second measuring instrument 12 is set to 10 Hz, and the upper measuring frequency of the second measuring instrument 12 is set to 10 MHz. did. Therefore, the measurement frequency ranges of the first and second measuring devices 11 and 12 overlap at 100 kHz to 10 MHz (overlap measurement frequency range). The AC voltage was set to 10 mV, and the number of measurement points per digit was set to 50 steps / decade. The temperature of the sample is room temperature.

図12において、第1測定器11による測定結果はシンボル「□」で表し、第2測定器12による測定結果は実線で表してある。2つの測定器11,12の測定結果は、重複測定周波数域においてほぼ一致しており、信頼性の高い測定を実現できていることがわかる。第1測定器11の測定結果(シンボル「□」)が描く円弧の低値側端(左端)が横軸(実軸)にほぼ接しており、かつ第2測定器12の測定結果(実線)が描く円弧の高値側端(右端)が横軸(実軸)にほぼ接していて、2つの測定器11,12の測定結果はほぼ完全な半円弧を形成している。これにより、インピーダンスの正確な測定が可能である。   In FIG. 12, the measurement result by the first measuring device 11 is represented by a symbol “□”, and the measurement result by the second measuring device 12 is represented by a solid line. The measurement results of the two measuring devices 11 and 12 are almost the same in the overlapping measurement frequency range, and it can be seen that highly reliable measurement can be realized. The lower value end (left end) of the arc drawn by the measurement result (symbol “□”) of the first measuring device 11 is almost in contact with the horizontal axis (real axis), and the measurement result of the second measuring device 12 (solid line) The high-side end (right end) of the arc drawn by is almost in contact with the horizontal axis (real axis), and the measurement results of the two measuring devices 11 and 12 form a substantially complete semi-arc. Thereby, accurate measurement of impedance is possible.

図13A、図13Bおよび図13Cは、測定対象20の試料として固体電解質を用いた測定結果(実施例)を示す。試料は直径19mm、厚さ0.26mmの板状に加工された固体電解質の両面にそれぞれ金電極20a,20b(直径6mm)を形成したものである。室温(25℃)のほか、−50℃〜300℃の間で50℃間隔で設定した複数の温度に試料温度を制御してインピーダンスの測定を行った。その他の条件は、図12の標準試料の測定の場合と同じである。図13Aに試料温度を25℃とした場合の測定結果を示し、図13Bおよび図13Cに様々な試料温度での測定結果を一括して示す。図13Cは、低インピーダンス領域を拡大して、試料温度を高温に設定した場合の測定結果を明瞭に示す。   13A, 13B, and 13C show measurement results (examples) using a solid electrolyte as a sample of the measurement target 20. The sample was formed by forming gold electrodes 20a and 20b (diameter 6 mm) on both surfaces of a solid electrolyte processed into a plate shape having a diameter of 19 mm and a thickness of 0.26 mm. In addition to room temperature (25 ° C.), the impedance was measured by controlling the sample temperature to a plurality of temperatures set at −50 ° C. to 300 ° C. at 50 ° C. intervals. Other conditions are the same as those of the measurement of the standard sample in FIG. FIG. 13A shows the measurement results when the sample temperature is 25 ° C., and FIGS. 13B and 13C collectively show the measurement results at various sample temperatures. FIG. 13C clearly shows the measurement results when the low impedance region is enlarged and the sample temperature is set to a high temperature.

この測定結果から、固体電解質においても、Nyquist線図に明瞭な円弧形状が表れ、したがって、インピーダンスの正確な測定が可能であることが分かる。
図13A〜図13Cの測定結果からは、200℃以上の試料温度ではインピーダンス値が小さく、測定が困難であることが分かる。しかし、厚みを大きくしてインピーダンス値を大きくした試料については測定が可能であるので、試料の厚みを適切に設定すれば、固体電解質の特性を調べることができる。
From this measurement result, it can be seen that a clear arc shape appears in the Nyquist diagram even in the solid electrolyte, and thus accurate measurement of impedance is possible.
From the measurement results of FIGS. 13A to 13C, it can be seen that the impedance value is small at a sample temperature of 200 ° C. or higher, and measurement is difficult. However, measurement can be performed on a sample whose impedance value is increased by increasing the thickness, so that the characteristics of the solid electrolyte can be examined by appropriately setting the thickness of the sample.

図14は、この発明の第2の実施形態に係る測定システムの構成を説明するための図である。この図14において、前述の図2に示された各部の対応部分に同一の参照符号を付して示す。
この測定システム2は、一つの測定器12に、同軸ケーブルを介して測定治具14を接続して構成されている。測定器12は、たとえば、FRA方式の測定器であって、第1の実施形態における第2の測定器に対応している。切替装置13および切替装置制御ユニット15は備えられておらず、測定器12と測定治具14とを接続する同軸ケーブル4のケーブル長を可能な限り短くするように、測定器12および測定治具14が配置されている。
FIG. 14 is a diagram for explaining the configuration of the measurement system according to the second embodiment of the present invention. In FIG. 14, the same reference numerals are given to the corresponding portions of the respective portions shown in FIG.
The measuring system 2 is configured by connecting a measuring jig 14 to one measuring instrument 12 via a coaxial cable. The measuring device 12 is, for example, a measuring device of the FRA system, and corresponds to the second measuring device in the first embodiment. The switching device 13 and the switching device control unit 15 are not provided. 14 are arranged.

測定器12が出力するデータは、制御装置10に入力されている。制御装置10は、測定器12を制御する機能を有していてもよいが、単に、測定器12が出力するデータを取り込んで処理する機能だけを有していてもよい。むろん、制御装置10は、切替装置13を制御する機能や複数の測定器を制御する機能を有している必要はない。
図15Aおよび図15Bは、1608サイズの様々な抵抗値のチップ抵抗を試料(測定対象20)としてインピーダンスを測定した結果(実施例)を表したBode線図であり、図15Aはゲイン線図、図15Bは位相線図である。
Data output from the measuring device 12 is input to the control device 10. The control device 10 may have a function of controlling the measuring device 12, but may have only a function of taking in and outputting data output from the measuring device 12. Of course, the control device 10 does not need to have a function of controlling the switching device 13 and a function of controlling a plurality of measuring devices.
FIGS. 15A and 15B are Bode diagrams showing the results (examples) of measuring impedance using chip resistors having various resistance values of 1608 size as a sample (measurement target 20), FIG. 15A is a gain diagram, FIG. 15B is a phase diagram.

測定器12としてソーラトロン社1260型を用いた。測定周波数範囲は100Hz〜10MHzに設定し、交流電圧は10mVに設定し、一桁あたりの測定点数は40steps/decadeに設定した。試料の温度は室温である。
図15Aおよび図15Bの測定結果から、確度±5%での測定が可能なインピーダンス範囲は次のとおりであることが確認できた。
Solartron Model 1260 was used as the measuring instrument 12. The measurement frequency range was set to 100 Hz to 10 MHz, the AC voltage was set to 10 mV, and the number of measurement points per digit was set to 40 steps / decade. The temperature of the sample is room temperature.
From the measurement results of FIGS. 15A and 15B, it was confirmed that the impedance range in which measurement with accuracy of ± 5% is possible is as follows.

10MHzにおいては20Ω〜1kΩ
1MHzにおいては1Ω〜10kΩ
図16Aおよび図16Bは、別の測定治具(比較例)を用いて、1608サイズの様々な抵抗値のチップ抵抗を試料(測定対象20)としてインピーダンスを測定した結果を表したBode線図であり、図16Aはゲイン線図、図16Bは位相線図である。
20Ω to 1kΩ at 10MHz
1Ω to 10kΩ at 1MHz
FIG. 16A and FIG. 16B are Bode diagrams showing the results of measuring the impedance using different measurement jigs (comparative examples) and chip resistors having various resistance values of 1608 size as a sample (measurement target 20). FIG. 16A is a gain diagram, and FIG. 16B is a phase diagram.

比較例の測定治具141は、図17に構成を図解的に示すように、第1同軸ケーブル41のシールド線41bと第2同軸ケーブル42のシールド線42bとを第1電極リードE1側端部で直接接続する第1線161と、第2同軸ケーブル42のシールド線42bの第1電極リードE1側端部と第3同軸ケーブル43のシールド線43bの第2電極リードE2側端部とを直接接続する第2線162と、第3同軸ケーブル43のシールド線32bと第4同軸ケーブル44のシールド線43bとを第2電極リードE2側端部で直接接続する第3線163とを含む。したがって、第2同軸ケーブル42および第3同軸ケーブル43のシールド線42b,43b同士が測定対象20側の端部で直接接続されており、第1同軸ケーブル41および第3同軸ケーブル43のシールド線41b,43b同士が測定対象20側の端部で直接接続されておらず、第2同軸ケーブル42および第4同軸ケーブル44のシールド線42b,44b同士が測定対象20側の端部で直接接続されていない点で、前述の測定治具14(実施形態)とは異なる。また、第2同軸ケーブル42および第3同軸ケーブル43のシールド線42b,43bを測定対象20側の端部で直接接続する第2線162は、測定対象20を取り囲むような配置にはなっていない。   As shown schematically in FIG. 17, the measuring jig 141 of the comparative example is configured such that the shielded wire 41b of the first coaxial cable 41 and the shielded wire 42b of the second coaxial cable 42 are connected to the first electrode lead E1 side end. The first wire 161 directly connected to the first coaxial cable 42, the end of the shield wire 42b of the second coaxial cable 42 on the first electrode lead E1 side, and the end of the shield wire 43b of the third coaxial cable 43 on the second electrode lead E2 side are directly connected. A second wire 162 to be connected and a third wire 163 that directly connects the shielded wire 32b of the third coaxial cable 43 and the shielded wire 43b of the fourth coaxial cable 44 at the end on the second electrode lead E2 side are included. Therefore, the shielded wires 42b and 43b of the second coaxial cable 42 and the third coaxial cable 43 are directly connected to each other at the end on the measurement target 20 side, and the shielded wires 41b of the first coaxial cable 41 and the third coaxial cable 43 are connected. , 43b are not directly connected at the end on the measurement target 20 side, and the shield wires 42b, 44b of the second coaxial cable 42 and the fourth coaxial cable 44 are directly connected at the end on the measurement target 20 side. This is different from the above-described measuring jig 14 (embodiment) in that the measuring jig 14 is not provided. Further, the second wire 162 that directly connects the shielded wires 42b and 43b of the second coaxial cable 42 and the third coaxial cable 43 at the end on the measurement target 20 side is not arranged to surround the measurement target 20. .

図16Aおよび図16Bには、測定器12から測定治具14までの同軸ケーブル長を10cmにまで短縮して得られた最高性能が示されている。ただし、ケーブル長が10cmでは、測定治具14を冷却装置19に入れることができないので、室温未満の試料温度での測定ができず、実用上の支障がある。図16Aおよび図16Bから分かるとおり、確度±5%が得られるのは、10MHzにおいて200Ω〜2kΩである。測定器12の仕様上の最高周波数である32MHzにおいては、確度±5%を満たす精度で測定可能な抵抗値範囲はなかった。図16A(ゲイン線図)には、第1および第2電極リードE1,E2間を短絡(short)したときの測定結果データが表してあり、測定治具14のインダクタンスに起因する傾斜直線が表れている。   FIGS. 16A and 16B show the maximum performance obtained by reducing the length of the coaxial cable from the measuring instrument 12 to the measuring jig 14 to 10 cm. However, when the cable length is 10 cm, the measurement jig 14 cannot be put into the cooling device 19, so that measurement cannot be performed at a sample temperature lower than room temperature, which poses a practical problem. As can be seen from FIGS. 16A and 16B, the accuracy of ± 5% is obtained at 200 MHz to 2 kΩ at 10 MHz. At 32 MHz, which is the highest frequency in the specification of the measuring instrument 12, there was no measurable resistance value range with an accuracy satisfying the accuracy of ± 5%. FIG. 16A (gain diagram) shows measurement result data when the first and second electrode leads E1 and E2 are short-circuited, and an inclined straight line due to the inductance of the measurement jig 14 appears. ing.

図15Aおよび図15B(実施例)と、図16Aおよび図16B(比較例)との比較により、測定治具14の同軸ケーブルのシールド線を相互接続する配線を工夫することによって、精度良く測定できるインピーダンス範囲が広がることが分かる。
図18は、標準試料を測定対象20として用いた測定結果(実施例)を表すNyquist線図である。標準試料としては、図18中に示すRC回路を用いた。具体的には、1608サイズの第1のチップ抵抗(100Ω)と、1608サイズの第2のチップ抵抗(6.8kΩ)と、1608サイズのチップコンデンサ(68pF)とを直並列に接続してRC回路を構成した標準試料を作製した。このRC回路は、実際の固体電解質を模擬した等価回路を構成している。
By comparing FIGS. 15A and 15B (Example) with FIGS. 16A and 16B (Comparative Example), accurate measurement can be performed by devising a wiring for interconnecting the shielded wires of the coaxial cable of the measuring jig 14. It can be seen that the impedance range is widened.
FIG. 18 is a Nyquist diagram showing a measurement result (example) using a standard sample as the measurement target 20. The RC circuit shown in FIG. 18 was used as a standard sample. Specifically, a 1608 size first chip resistor (100Ω), a 1608 size second chip resistor (6.8 kΩ), and a 1608 size chip capacitor (68 pF) are connected in series and RC A standard sample constituting a circuit was prepared. This RC circuit constitutes an equivalent circuit simulating an actual solid electrolyte.

測定器12としてソーラトロン社1260型を用い、測定治具14を接続して、100Hz〜10MHzの測定周波数範囲で測定した。交流電圧は10mV、一桁あたりの測定点数は40steps/decadeに設定した。試料の温度は室温である。
測定結果を表す実線が描く円弧の高値側端(右端)が横軸(実軸)にほぼ接しており、当該円弧の低値側端(左端)も横軸に近い位置まで達しており、ほぼ半円弧形状を成している。これにより、インピーダンスの正確な測定が可能であることが分かる。
The measurement was carried out in a measurement frequency range of 100 Hz to 10 MHz using a Solartron 1260 model as the measuring device 12 and connecting the measuring jig 14. The AC voltage was set to 10 mV, and the number of measurement points per digit was set to 40 steps / decade. The temperature of the sample is room temperature.
The high value side end (right end) of the arc drawn by the solid line representing the measurement result almost touches the horizontal axis (real axis), and the low value side end (left end) of the arc also reaches a position close to the horizontal axis. It has a semicircular shape. This indicates that accurate measurement of the impedance is possible.

図19A、図19Bおよび図19Cは、測定対象20の試料として固体電解質を用いた測定結果(実施例)を示す。試料は直径5.5mm、厚さ0.26mmの板状に加工された固体電解質の両面にそれぞれ金電極20a,20b(直径4mm)を形成したものである。測定器12としてソーラトロン社1260型を用い、測定治具14を接続して、1Hz〜10MHzの測定周波数範囲で測定した。交流電圧は10mV、一桁あたりの測定点数は40steps/decadeに設定した。室温(25℃)のほか、0℃〜120℃の間で10℃間隔で設定した複数の温度に試料温度を制御してインピーダンスの測定を行った。図19Aおよび図19Bに様々な試料温度での測定結果を一括して示す。図19Bは、低インピーダンス領域を拡大して、試料温度を高温に設定した場合の測定結果を明瞭に示す。   19A, 19B, and 19C show measurement results (examples) using a solid electrolyte as a sample of the measurement target 20. The sample is formed by forming gold electrodes 20a and 20b (4 mm in diameter) on both sides of a solid electrolyte processed into a plate having a diameter of 5.5 mm and a thickness of 0.26 mm. The measurement was carried out in a measurement frequency range of 1 Hz to 10 MHz with a measuring jig 14 connected using a Solartron Model 1260 as the measuring device 12. The AC voltage was set to 10 mV, and the number of measurement points per digit was set to 40 steps / decade. In addition to room temperature (25 ° C.), the impedance was measured by controlling the sample temperature to a plurality of temperatures set at 0 ° C. to 120 ° C. at 10 ° C. intervals. 19A and 19B collectively show measurement results at various sample temperatures. FIG. 19B clearly shows the measurement results when the low impedance region is enlarged and the sample temperature is set to a high temperature.

この測定結果から、固体電解質においても、Nyquist線図に明瞭な円弧形状が表れ、したがって、インピーダンスの測定が可能であることが分かる。
図19Cには、120℃のときの測定結果の低値側の曲線を拡大して示す。半楕円弧の左半分が出現しておらず、インピーダンスの正確な測定には至っていない。これを補うには、第1の実施形態のように、測定周波数範囲の異なる別の測定器を併せて用いることが好ましい。また、より高温の条件でのインピーダンス測定のためにも、第1の実施形態のように、測定周波数範囲の異なる別の測定器を併せて用いることが好ましい。
From this measurement result, it can be seen that a clear arc shape appears in the Nyquist diagram even in the solid electrolyte, and therefore, the impedance can be measured.
FIG. 19C shows an enlarged curve on the low value side of the measurement result at 120 ° C. The left half of the semi-elliptical arc has not appeared, and the impedance has not been accurately measured. To compensate for this, it is preferable to use another measuring device having a different measurement frequency range as in the first embodiment. Also, for the impedance measurement under higher temperature conditions, it is preferable to use another measuring device having a different measurement frequency range as in the first embodiment.

以上、この発明の実施形態について具体的に説明してきたが、この発明は、以下に例示的に列記するとおり、さらに他の形態で実施することが可能である。
(1)第1の実施形態では、2つの測定器11,12を切り替えて用いているが、3つ以上の測定器を切り替えて用いてもよい。
(2)第1の実施形態では、第1測定器11による測定を先に行い、第2測定器12による測定器を次に行う例を示したが、むろん、第2測定器12による測定を先に行い、第1測定器11による測定を後に行ってもよい。ただし、高周波数側の測定の方が所要時間が短いので、高周波数領域の測定を行う第1測定器11による測定を先に行う方が合理的である。
Although the embodiments of the present invention have been specifically described above, the present invention can be embodied in other forms as exemplified below.
(1) In the first embodiment, the two measuring devices 11 and 12 are switched and used, but three or more measuring devices may be switched and used.
(2) In the first embodiment, an example in which the measurement by the first measuring device 11 is performed first and the measuring device by the second measuring device 12 is performed next is described. The measurement may be performed first, and the measurement by the first measuring device 11 may be performed later. However, since the measurement on the high frequency side requires less time, it is more reasonable to perform the measurement by the first measuring device 11 for measuring in the high frequency region first.

(3)第1の実施形態において、切替装置13の測定器側端子支持板71は、第1測定器側端子T31〜T34および第2測定器側端子T41〜T44の両方を支持しているが、第1測定器側端子T31〜T34および第2測定器側端子T41〜T44を個別に設けた2つの支持板でそれぞれ支持してもよい。
(4)第1の実施形態において、切替装置13は、測定器側端子支持板71を固定しておく一方で、測定対象側端子支持板72をX方向およびY方向に移動させるように構成されている。しかし、測定対象側端子支持板72を固定しておき、測定器側端子支持板71を移動させる構成としてもよいし、測定器側端子支持板71および測定対象側端子支持板72の両方を移動させて、それらの相対移動を達成してもよい。たとえば、Y方向の相対移動は端子支持板71,72の一方のみの移動によって行い、X方向の相対移動はそれらのうちの他方のみの移動によって行う構成としてもよい。さらにまた、測定器側端子支持板71と測定対象側端子支持板72との相対移動には、X方向およびY方向の相対移動の組合せに限らず、X方向およびZ方向の相対移動の組合せ、Y方向およびZ方向の相対移動の組合せ、X方向、Y方向およびZ方向の相対移動の組合せなどが適用されてもよい。さらに、測定器側端子支持板71と測定対象側端子支持板72との相対移動は、回転移動含んでいてもよいし、X方向、Y方向およびZ方向のうちの少なくとも一つの方向成分を含む並進移動と回転移動とを含んでいてもよい。
(3) In the first embodiment, the measuring device side terminal support plate 71 of the switching device 13 supports both the first measuring device side terminals T31 to T34 and the second measuring device side terminals T41 to T44. The first measuring device side terminals T31 to T34 and the second measuring device side terminals T41 to T44 may be supported by two individually provided support plates.
(4) In the first embodiment, the switching device 13 is configured to move the measurement target side terminal support plate 72 in the X direction and the Y direction while fixing the measurement device side terminal support plate 71. ing. However, the measurement target side terminal support plate 72 may be fixed and the measurement device side terminal support plate 71 may be moved, or both the measurement target side terminal support plate 71 and the measurement target side terminal support plate 72 may be moved. Thus, their relative movement may be achieved. For example, the relative movement in the Y direction may be performed by moving only one of the terminal support plates 71 and 72, and the relative movement in the X direction may be performed by moving only the other of them. Furthermore, the relative movement between the measuring device side terminal support plate 71 and the measurement target side terminal support plate 72 is not limited to the combination of the relative movement in the X direction and the Y direction, but the combination of the relative movement in the X direction and the Z direction. A combination of relative movement in the Y direction and the Z direction, a combination of relative movement in the X direction, the Y direction, and the Z direction may be applied. Further, the relative movement between the measuring-device-side terminal support plate 71 and the measurement-target-side terminal support plate 72 may include rotational movement, and may include at least one directional component among the X, Y, and Z directions. Translation and rotation may be included.

(5)第1の実施形態において、切替装置13の相対移動ユニット73は、測定器11,12の前方にX方向アクチュエータ75およびY方向アクチュエータ76を有している。しかし、このような配置は一例であり、たとえば、測定器12の下方にX方向アクチュエータ75およびY方向アクチュエータ76を収容する空間を確保してもよい。これにより、測定対象側端子支持板72に対して測定治具14を近づけることができるので、それらの間を接続する同軸ケーブル5のケーブル長を短くすることができる。それにより、測定精度を一層向上できる。   (5) In the first embodiment, the relative movement unit 73 of the switching device 13 has an X-direction actuator 75 and a Y-direction actuator 76 in front of the measuring devices 11 and 12. However, such an arrangement is an example, and a space for accommodating the X-direction actuator 75 and the Y-direction actuator 76 may be secured below the measuring device 12, for example. Thus, the measurement jig 14 can be brought closer to the measurement target side terminal support plate 72, so that the cable length of the coaxial cable 5 connecting them can be shortened. Thereby, the measurement accuracy can be further improved.

(6)第1の実施形態において、切替装置13は、プッシュオン型の同軸コネクタで構成した第1測定器側端子T31〜T34、第2測定器側端子T41〜T44および測定対象側端子T51〜T54を備え、それらを挿抜することで切替えを達成するように構成されている。しかし、この構成は一例であり、たとえば、絶縁板上に形成された同軸状の金属パターンと、この同軸状金属パターンに対して圧接する複数のスプリングプローブ(コンタクトプローブ)との組み合わせによって、切替装置を構成することもできる。より具体的には、測定器側端子支持板71において測定対象側端子支持板72に対向する表面に、測定器側端子T31〜T34,T41〜T44のそれぞれに対応するように複数の同軸状金属パターンを形成しておく。各同軸状金属パターンは、信号伝達部と、それを取り囲むシールド部とを含む。シールド部は、信号伝達部を中心とする円周上で連続する金属パターンであってもよいし、当該円周上で離散配置された複数の金属パターンであってもよい。一方、測定対象側端子支持板72には、測定対象側端子T51〜T54のそれぞれに対応するように複数の同軸状スプリングプローブアセンブリを設けておく。各同軸状スプリングプローブアセンブリは、信号伝達用の一つのスプリングプローブと、それを取り囲むように配置された複数のシールド用のスプリングプローブとを含む。各スプリングプローブは、測定対象側端子支持板72に植設される胴部と、その胴部に対して出没するコンタクトロッドと、コンタクトロッドを測定器側端子支持板71に向けて付勢するばねとを含む。この構成により、測定器側端子支持板71と測定対象側端子支持板72とを相対移動させることで、同軸状スプリングプローブアセンブリを、第1測定器側端子を構成する同軸状金属パターンまたは第2測定器側端子を構成する同軸状金属パターンに選択的に接続させることができる。この場合、スプリングプローブが測定器側端子支持板71の表面を摺動しても差し支えなければ、X方向の相対移動は省くことができる。むろん、測定対象側端子T51〜T54を同軸状金属パターンで構成し、測定器側端子T31〜T34,T41〜T44を同軸状スプリングプローブアセンブリで構成することもできる。   (6) In the first embodiment, the switching device 13 includes the first measuring device side terminals T31 to T34, the second measuring device side terminals T41 to T44, and the measurement target side terminals T51 to T34 each configured by a push-on type coaxial connector. T54 is provided, and switching is achieved by inserting and removing them. However, this configuration is an example. For example, the switching device is formed by a combination of a coaxial metal pattern formed on an insulating plate and a plurality of spring probes (contact probes) pressed against the coaxial metal pattern. Can also be configured. More specifically, a plurality of coaxial metals are provided on the surface of the measuring device side terminal support plate 71 facing the measurement target side terminal support plate 72 so as to correspond to the measuring device side terminals T31 to T34 and T41 to T44, respectively. A pattern is formed in advance. Each coaxial metal pattern includes a signal transmission section and a shield section surrounding the signal transmission section. The shield part may be a metal pattern that is continuous on a circumference centered on the signal transmission part, or may be a plurality of metal patterns that are discretely arranged on the circumference. On the other hand, a plurality of coaxial spring probe assemblies are provided on the measurement target terminal support plate 72 so as to correspond to each of the measurement target terminals T51 to T54. Each coaxial spring probe assembly includes one spring probe for signal transmission and a plurality of shield spring probes surrounding the probe. Each spring probe includes a body implanted in the measurement-target-side terminal support plate 72, a contact rod that protrudes and retracts from the body, and a spring that biases the contact rod toward the measurement-device-side terminal support plate 71. And With this configuration, the coaxial spring probe assembly is moved relative to the measuring-device-side terminal support plate 71 and the measurement-target-side terminal support plate 72, thereby connecting the coaxial metal pattern or the second It can be selectively connected to the coaxial metal pattern constituting the measuring device side terminal. In this case, the relative movement in the X direction can be omitted if the spring probe slides on the surface of the measuring-device-side terminal support plate 71 without any problem. Needless to say, the measurement target side terminals T51 to T54 may be formed of a coaxial metal pattern, and the measurement device side terminals T31 to T34 and T41 to T44 may be formed of a coaxial spring probe assembly.

(7)測定治具4は、前述の第1〜第4線61〜64に加えて、第2同軸ケーブル42のシールド線42bの第1電極リードE1側端部と第3同軸ケーブル43のシールド線43bの第2電極リードE2側端部とを直接接続する第5線を有していてもよい。このような第5線は複数本設けることが好ましい。ただし、あまり多数本の第5線を設けると、そのインダクタンス成分の影響により測定精度が悪化するおそれがある。   (7) In addition to the above-described first to fourth wires 61 to 64, the measuring jig 4 further includes an end of the shield wire 42b of the second coaxial cable 42 on the first electrode lead E1 side and a shield of the third coaxial cable 43. A fifth line that directly connects the line 43b to the end on the second electrode lead E2 side may be provided. It is preferable to provide a plurality of such fifth lines. However, if too many fifth wires are provided, the measurement accuracy may be deteriorated due to the influence of the inductance component.

(8)前述の実施形態では、インピーダンスの測定について主として説明したが、この発明は、インピーダンス以外の物理量の測定にも適用することができ、測定範囲の拡大に寄与できる。
その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。
(8) In the above embodiment, measurement of impedance was mainly described, but the present invention can also be applied to measurement of physical quantities other than impedance, and can contribute to expansion of the measurement range.
In addition, various design changes can be made within the scope of the matters described in the claims.

1 測定システム(第1の実施形態)
2 測定システム(第2の実施形態)
3,4,5 同軸ケーブル
10 制御装置
11 第1測定器
12 第2測定器
13 切替装置
14 測定治具
15 切替装置制御ユニット
16 温度調節器
19 冷却装置
20 測定対象
21 保持容器
22 蓋
23 ヒータ
25 熱電対
T1 第1端子群
T11 信号出力端子(第1端子)
T12 電圧計測端子(第1端子)
T13 制御端子(第1端子)
T14 電流計測端子(第1端子)
T2 第2端子群
T21 信号出力端子(第2端子)
T22 高側電圧計測端子(第2端子)
T23 低側電圧計測端子(第2端子)
T24 電流計測端子(第2端子)
T31〜T34 第1測定器側端子
T41〜T44 第2測定器側端子
T51〜T54 測定対象側端子
26 ガス導入管
27 排気管
32 支持アセンブリ
E1 第1電極リード
E2 第2電極リード
P1 第1接続位置
P2 第2接続位置
P3 第3接続位置
P4 第4接続位置
37 下支持プレート
37a 凹所
375 貫通孔
41 第1同軸ケーブル
41a 芯線
41b シールド線
41c 絶縁体
42 第2同軸ケーブル
42a 芯線
42b シールド線
42c 絶縁体
43 第3同軸ケーブル
43a 芯線
43b シールド線
43c 絶縁体
44 第4同軸ケーブル
44a 芯線
44b シールド線
44c 絶縁体
46〜49 フィードスルー同軸ケーブルコネクタ
51〜55 シールド接続部品
61 第1線
62 第2線
63 第3線
64 第4線
67 固定フレーム
69 移動フレーム
71 測定器側端子支持板
71a 絶縁板
72 測定対象側端子支持板
72a 絶縁板
73 相対移動ユニット
74 XYステージユニット
75 X方向アクチュエータ
76 Y方向アクチュエータ
77 ステージ
94 外部記憶装置
95 制御プログラム
96 中央処理装置
97 メモリ
98 表示ユニット
99 入力ユニット
100 設定ウィンドウ
101 第1測定周波数入力部
102 第2測定周波数入力部
103 測定間隔入力部
105 上限周波数設定部
106 下限周波数設定部
107 上限周波数設定部
108 下限周波数設定部
109 スタートボタン
110 中断ボタン
111 保存ボタン
112 強制終了ボタン
113 切替装置状態表示部
114 測定器状態表示部
120 出力ウィンドウ
121 Bode線図表示部
121a ゲイン線図表示部
121b 位相線図表示部
122 Nyqusit線図表示部
141 測定治具(比較例)
1 Measurement system (first embodiment)
2 Measurement system (second embodiment)
3, 4, 5 Coaxial cable 10 Control device 11 First measuring device 12 Second measuring device 13 Switching device 14 Measurement jig 15 Switching device control unit 16 Temperature controller 19 Cooling device 20 Measurement target 21 Holding container 22 Lid 23 Heater 25 Thermocouple T1 First terminal group T11 Signal output terminal (first terminal)
T12 Voltage measurement terminal (first terminal)
T13 control terminal (first terminal)
T14 Current measurement terminal (first terminal)
T2 second terminal group T21 signal output terminal (second terminal)
T22 High side voltage measurement terminal (second terminal)
T23 Low side voltage measurement terminal (second terminal)
T24 Current measurement terminal (second terminal)
T31 to T34 First measuring instrument side terminal T41 to T44 Second measuring instrument side terminal T51 to T54 Measurement target terminal 26 Gas introduction pipe 27 Exhaust pipe 32 Support assembly E1 First electrode lead E2 Second electrode lead P1 First connection position P2 Second connection position P3 Third connection position P4 Fourth connection position 37 Lower support plate 37a Recess 375 Through hole 41 First coaxial cable 41a Core wire 41b Shield wire 41c Insulator 42 Second coaxial cable 42a Core wire 42b Shield wire 42c Insulation Body 43 Third coaxial cable 43a Core wire 43b Shield wire 43c Insulator 44 Fourth coaxial cable 44a Core wire 44b Shield wire 44c Insulator 46-49 Feed-through coaxial cable connector 51-55 Shield connection part 61 First wire 62 Second wire 63 3rd line 64 4th line 67 Constant frame 69 Moving frame 71 Measuring device side terminal support plate 71a Insulating plate 72 Measurement target side terminal supporting plate 72a Insulating plate 73 Relative moving unit 74 XY stage unit 75 X direction actuator 76 Y direction actuator 77 Stage 94 External storage device 95 Control program Reference numeral 96 Central processing unit 97 Memory 98 Display unit 99 Input unit 100 Setting window 101 First measurement frequency input unit 102 Second measurement frequency input unit 103 Measurement interval input unit 105 Upper limit frequency setting unit 106 Lower limit frequency setting unit 107 Upper limit frequency setting unit 108 Lower limit frequency setting unit 109 Start button 110 Suspend button 111 Save button 112 Forced end button 113 Switching device status display unit 114 Measuring device status display unit 120 Output window 121 Bode diagram display 121a gain diagram display unit 121b phase diagram display unit 122 Nyqusit diagram display unit 141 measurement jig (Comparative Example)

Claims (48)

測定対象に接続すべき第1端子群を有し、第1測定方式に従って前記測定対象のインピーダンスを測定する第1測定器と、
測定対象に接続すべき第2端子群を有し、前記第1測定方式とは異なる第2測定方式に従って前記測定対象のインピーダンスを測定する第2測定器と、
前記第1端子群に接続される第1測定器側端子群と、前記第2端子群に接続される第2測定器側端子群と、測定対象側端子群と、前記第1測定器側端子群または前記第2測定器側端子群を前記測定対象側端子群に選択的に接続する選択接続ユニットとを含む切替装置と、
前記測定対象側端子群に接続され、かつ測定対象に接続される測定ヘッドを有する測定治具と、
前記切替装置を制御して前記第1測定器側端子群を前記測定対象側端子群に接続し、前記第1測定器を制御して前記第1測定方式による測定を実行させ、かつ前記第1測定器による測定結果を取得する第1測定制御と、前記切替装置を制御して前記第2測定器側端子群を前記測定対象側端子群に接続し、前記第2測定器を制御して前記第2測定方式による測定を実行させ、かつ前記第2測定器による測定結果を取得する第2測定制御とを実行する制御装置と
を含み、
前記第1測定器が、複数の異なる周波数を複数の測定点として設定し、当該複数の測定点における前記測定対象からの応答を計測し、
前記第2測定器が、複数の異なる周波数を複数の測定点として設定し、当該複数の測定点における前記測定対象からの応答を計測する、測定システム。
A first measuring device having a first terminal group to be connected to the measurement target, and measuring the impedance of the measurement target according to a first measurement method;
A second measuring device having a second terminal group to be connected to the measurement target, and measuring the impedance of the measurement target according to a second measurement method different from the first measurement method;
A first measuring device side terminal group connected to the first terminal group, a second measuring device side terminal group connected to the second terminal group, a measuring object side terminal group, and the first measuring device side terminal A switching device including a group or a selective connection unit that selectively connects the second measuring device side terminal group to the measurement target side terminal group,
A measuring jig having a measuring head connected to the measuring object side terminal group and connected to the measuring object,
Controlling the switching device to connect the first measuring device side terminal group to the measurement target side terminal group, control the first measuring device to execute the measurement by the first measurement method, and A first measurement control for acquiring a measurement result by a measurement device, and controlling the switching device to connect the second measurement device side terminal group to the measurement target side terminal group, controlling the second measurement device, to execute the measurement by the second measurement method, and saw including a controller for executing a second measurement control to acquire the measurement result of the second measuring device,
The first measuring device sets a plurality of different frequencies as a plurality of measurement points, measures a response from the measurement target at the plurality of measurement points,
A measurement system, wherein the second measuring device sets a plurality of different frequencies as a plurality of measurement points and measures responses from the measurement target at the plurality of measurement points .
前記第1測定器は第1形式の測定結果データを出力し、前記第2測定器は前記第1形式とは異なる第2形式の測定結果データを出力し、
前記制御装置は、前記第1形式の測定結果データおよび前記第2形式の測定結果データの両方を第3形式で出力する手段を含む、請求項1に記載の測定システム。
The first measuring device outputs measurement result data of a first format, the second measuring device outputs measurement result data of a second format different from the first format,
The measurement system according to claim 1, wherein the control device includes a unit that outputs both the first format measurement result data and the second format measurement result data in a third format.
前記制御装置は、前記第1測定器の測定結果データおよび前記第2測定器の測定結果データを統合した単一の出力ファイルを生成する手段を有する、請求項1または2に記載の測定システム。   The measurement system according to claim 1, wherein the control device includes a unit configured to generate a single output file in which measurement result data of the first measurement device and measurement result data of the second measurement device are integrated. 前記制御装置は、第1測定周波数領域において前記第1測定制御を実行し、前記第1測定周波数領域とは異なる第2測定周波数領域において前記第2測定制御を実行する、請求項1〜3のいずれか一項に記載の測定システム。   4. The control device according to claim 1, wherein the control device performs the first measurement control in a first measurement frequency region, and performs the second measurement control in a second measurement frequency region different from the first measurement frequency region. 5. The measurement system according to claim 1. 前記第1測定周波数領域および前記第2測定周波数領域を使用者が設定するための測定周波数領域入力手段をさらに含み、
前記制御装置は、前記測定周波数領域入力手段による設定に従って前記第1測定周波数領域および前記第2測定周波数領域を定める、請求項4に記載の測定システム。
The apparatus further includes a measurement frequency domain input unit for a user to set the first measurement frequency domain and the second measurement frequency domain,
The measurement system according to claim 4, wherein the control device determines the first measurement frequency region and the second measurement frequency region according to a setting by the measurement frequency region input unit.
前記第1測定器および前記第2測定器における測定周波数である前記測定点の間隔を共通に設定する測定点間隔設定手段をさらに含み、
前記制御装置は、前記測定点間隔設定手段によって設定された間隔の複数の前記測定点を前記第1測定器および前記第2測定器に指示する測定点指示手段を含む、請求項1〜5のいずれか一項に記載の測定システム。
Further comprising a measurement point interval setting means for setting an interval between the measuring points is measured frequency in the first instrument and the second measuring device in common,
Wherein the control device comprises a measurement point instruction means for instructing a plurality of said measurement points set interval by the measuring point interval setting unit to the first instrument and the second measuring device, of claims 1 to 5 The measurement system according to claim 1.
前記測定対象が固体電解質である、請求項1〜のいずれか一項に記載の測定システム。 The measurement object is a solid electrolyte, the measurement system according to any one of claims 1-6. 前記第1測定器側端子群を構成する複数の第1測定器側端子、前記第2測定器側端子群を構成する複数の第2測定器側端子、および前記測定対象側端子群を構成する複数の測定対象側端子が、共通の配列に従って配列されている、請求項1〜のいずれか一項に記載の測定システム。 A plurality of first measuring device side terminals forming the first measuring device side terminal group, a plurality of second measuring device side terminals forming the second measuring device side terminal group, and the measurement object side terminal group are formed. measurement system in which a plurality of measurement object-side terminals are arranged according to a common arrangement, according to any one of claims 1-7. 前記切替装置が、前記複数の第1測定器側端子をその配列を保って支持する第1測定器側端子支持部材と、前記複数の第2測定器側端子をその配列を保って支持する第2測定器側端子支持部材と、前記複数の測定対象側端子をその配列を保って支持する測定対象側端子支持部材とをさらに含み、
前記選択接続ユニットが、前記第1測定器側端子支持部材、前記第2測定器側端子支持部材および前記測定対象側端子支持部材を相対的に移動させ、前記測定対象側端子を前記第1測定器側端子または前記第2測定器側端子に選択的に接触させる相対移動ユニットを含む、請求項に記載の測定システム。
A switching device configured to support the plurality of first measuring device-side terminals while maintaining the arrangement of the first measuring device-side terminals, and to support the plurality of second measuring device-side terminals while maintaining the arrangement thereof; 2 further includes a measuring device side terminal support member, and a measurement object side terminal support member that supports the plurality of measurement object side terminals while maintaining their arrangement,
The selective connection unit relatively moves the first measuring device side terminal supporting member, the second measuring device side terminal supporting member, and the measurement object side terminal supporting member, and moves the measurement object side terminal to the first measurement. The measurement system according to claim 8 , further comprising a relative movement unit configured to selectively contact the device side terminal or the second measuring device side terminal.
前記第1測定器側端子支持部材および前記第2測定器側端子支持部材が、共通の支持部材である、請求項に記載の測定システム。 The measurement system according to claim 9 , wherein the first measuring device side terminal supporting member and the second measuring device side terminal supporting member are a common supporting member. 前記第1測定器側端子、前記第2測定器側端子および前記測定対象側端子の各々が、信号伝達部と、当該信号伝達部を取り囲むシールド部とを含む同軸型端子であり、
前記第1測定器側端子支持部材が、前記複数の第1測定器側端子のシールド部を互いに電気的に絶縁した状態で支持する絶縁板を含み、
前記第2測定器側端子支持部材が、前記複数の第2測定器側端子のシールド部を互いに電気的に絶縁した状態で支持する絶縁板を含み、
前記測定対象側端子支持部材が、前記複数の測定対象側端子のシールド部を互いに電気的に絶縁した状態で支持する絶縁板を含む、
請求項または10に記載の測定システム。
Each of the first measuring device side terminal, the second measuring device side terminal, and the measurement target side terminal is a coaxial terminal including a signal transmission unit and a shield unit surrounding the signal transmission unit,
The first measuring device side terminal support member includes an insulating plate that supports the shield portions of the plurality of first measuring device side terminals in a state where they are electrically insulated from each other,
The second measuring device side terminal support member includes an insulating plate that supports the shield portions of the plurality of second measuring device side terminals in a state where they are electrically insulated from each other,
The measurement target side terminal support member includes an insulating plate that supports the shield portions of the plurality of measurement target side terminals in a state where they are electrically insulated from each other.
Measurement system according to claim 9 or 10.
前記第1測定器側端子および前記第2測定器側端子がプッシュオン型の第1の同軸コネクタであり、前記測定対象側端子が、前記第1の同軸コネクタに嵌合可能なプッシュオン型の第2の同軸コネクタであり、
前記相対移動ユニットが、前記第1測定器側端子支持部材および前記第2測定器側端子支持部材と前記測定対象側端子支持部材とを前記第1および第2の同軸コネクタの嵌合方向に沿って相対移動させる、請求項11のいずれか一項に記載の測定システム。
The first measuring instrument side terminal and the second measuring instrument side terminal are push-on type first coaxial connectors, and the measurement target side terminal is a push-on type coaxial connector that can be fitted to the first coaxial connector. A second coaxial connector,
The relative movement unit moves the first measuring device side terminal supporting member, the second measuring device side terminal supporting member, and the measurement target side terminal supporting member along a fitting direction of the first and second coaxial connectors. The measurement system according to any one of claims 9 to 11 , wherein the measurement system relatively moves the measurement system.
前記第1の同軸コネクタおよび前記第2の同軸コネクタの少なくとも一方が、位置ずれ吸収用のフローティング構造を有している、請求項12に記載の測定システム。 13. The measurement system according to claim 12 , wherein at least one of the first coaxial connector and the second coaxial connector has a floating structure for absorbing a displacement. 前記測定ヘッドが、測定対象に異なる位置で接触する第1電極リードおよび第2電極リードを含み、
前記測定治具が、
前記第1電極リードの第1接続位置に芯線が接続される第1同軸ケーブルと、
前記第1電極リードの前記第1接続位置よりも測定対象に近い第2接続位置に芯線が接続される第2同軸ケーブルと、
前記第2電極リードの第3接続位置に芯線が接続される第3同軸ケーブルと、
前記第2電極リードの前記第3接続位置よりも測定対象から遠い第4接続位置に芯線が接続される第4同軸ケーブルと、
前記第1同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第2同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部とを直接接続する第1線と、
前記第1同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第3同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部とを直接接続する第2線と、
前記第2同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第4同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部とを直接接続する第3線と、
前記第3同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部と、前記第4同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部とを直接接続する第4線と
を含む、請求項1〜13のいずれか一項に記載の測定システム。
The measurement head includes a first electrode lead and a second electrode lead that come into contact with a measurement target at different positions,
The measuring jig is
A first coaxial cable having a core wire connected to a first connection position of the first electrode lead;
A second coaxial cable having a core wire connected to a second connection position of the first electrode lead closer to the measurement target than the first connection position;
A third coaxial cable having a core wire connected to a third connection position of the second electrode lead;
A fourth coaxial cable having a core wire connected to a fourth connection position of the second electrode lead farther from the measurement target than the third connection position;
A first wire that directly connects the first electrode lead-side end of the shielded wire of the first coaxial cable to the first electrode lead-side end of the shielded wire of the second coaxial cable;
A second wire that directly connects the first electrode lead-side end of the shielded wire of the first coaxial cable to the second electrode lead-side end of the shielded wire of the third coaxial cable;
A third wire that directly connects an end of the shielded wire of the second coaxial cable on the first electrode lead side and an end of the shielded wire of the fourth coaxial cable on the second electrode lead side;
The fourth coaxial cable includes a fourth wire that directly connects an end of the shield wire of the third coaxial cable on the second electrode lead side and an end of the shield wire of the fourth coaxial cable on the second electrode lead side. The measurement system according to any one of claims 1 to 13 .
前記第2線および前記第3線がそれぞれ複数本備えられており、前記複数本の第2線および前記複数本の第3線が、測定対象配置位置を取り囲むように配置されている、請求項14に記載の測定システム。 The said 2nd line and the said 3rd line are provided with two or more, respectively, and the several 2nd line and the several 3rd line are arrange | positioned so that the measurement object arrangement | positioning position may be surrounded. 15. The measurement system according to 14 . 前記測定治具が、測定対象を支持する支持面を有する対象支持部と、対象支持部を取り囲むように配置され、前記支持面に交差する方向に延びた複数の貫通孔とを有する測定対象支持部材をさらに含み、
前記複数本の第2線および前記複数本の第3線が、前記複数の貫通孔を通って配索されている、請求項15に記載の測定システム。
The measurement jig has an object support portion having a support surface for supporting the object to be measured, and a measurement object support having a plurality of through holes arranged to surround the object support portion and extending in a direction intersecting the support surface. Further comprising a member,
The measurement system according to claim 15 , wherein the plurality of second lines and the plurality of third lines are routed through the plurality of through holes.
前記測定対象支持部材に取り付けられ、測定対象を加熱するためのヒータをさらに含む、請求項16に記載の測定システム。 17. The measurement system according to claim 16 , further comprising a heater attached to the measurement target support member and configured to heat the measurement target. 前記測定治具が、
開口を有し、前記測定対象を収容する保持容器と、
前記保持容器の開口を閉じる蓋と、
前記蓋に固定され、前記第1同軸ケーブル、前記第2同軸ケーブル、前記第3同軸ケーブルおよび前記第4同軸ケーブルをそれぞれ支持する第1フィードスルー、第2フィードスルー、第3フィードスルーおよび第4フィードスルーと
をさらに含む請求項1417のいずれか一項に記載の測定システム。
The measuring jig is
A holding container having an opening and containing the measurement target,
A lid for closing an opening of the holding container,
A first feedthrough, a second feedthrough, a third feedthrough, and a fourth feedthrough fixed to the lid and supporting the first coaxial cable, the second coaxial cable, the third coaxial cable, and the fourth coaxial cable, respectively. The measurement system according to any one of claims 14 to 17 , further comprising a feedthrough.
前記第1〜第4フィードスルーが、前記第1〜第4同軸ケーブルのシールド線と前記蓋とを電気的に絶縁した状態で前記第1〜第4同軸ケーブルをそれぞれ支持する絶縁型フィードスルーである、請求項18に記載の測定システム。 The first to fourth feedthroughs are insulated feedthroughs that respectively support the first to fourth coaxial cables in a state where the shield wires of the first to fourth coaxial cables and the lid are electrically insulated. 19. The measurement system according to claim 18 , wherein: 前記測定治具が、
前記蓋に結合され、前記保持容器内にガスを導入するガス導入管と、
前記蓋に結合され、前記保持容器内のガスを排気する排気管と
をさらに含む、請求項18または19に記載の測定システム。
The measuring jig is
A gas introduction pipe coupled to the lid and introducing gas into the holding container;
Coupled to said lid further comprises, measuring system according to claim 18 or 19 and an exhaust pipe for exhausting the gas in the holding container.
第1測定器および第2測定器を選択的に測定対象に接続するための切替装置であって、
前記第1測定器に接続される第1測定器側端子群と、
前記第2測定器に接続される第2測定器側端子群と、
前記測定対象に接続される測定対象側端子群と、
前記測定対象側端子群を前記第1測定器側端子群または前記第2測定器側端子群に選択的に接続する選択接続ユニットと、
前記第1測定器側端子群を構成する複数の第1測定器側端子をその配列を保って支持する第1測定器側端子支持部材と、
前記第2測定器側端子群を構成する複数の第2測定器側端子をその配列を保って支持する第2測定器側端子支持部材と、
前記測定対象側端子群を構成する複数の測定対象側端子をその配列を保って支持する測定対象側端子支持部材と
を含み、
前記複数の第1測定器側端子、前記複数の第2測定器側端子、および前記複数の測定対象側端子が、共通の配列に従って配列されており、
前記選択接続ユニットが、前記第1測定器側端子支持部材、前記第2測定器側端子支持部材および前記測定対象側端子支持部材を相対的に移動させ、前記測定対象側端子を前記第1測定器側端子または前記第2測定器側端子に選択的に接触させる相対移動ユニットを含む、切替装置。
A switching device for selectively connecting a first measuring device and a second measuring device to a measurement target,
A first measuring device side terminal group connected to the first measuring device;
A second measuring device side terminal group connected to the second measuring device;
A measurement-side terminal group connected to the measurement target,
A selective connection unit that selectively connects the measurement target side terminal group to the first measurement device side terminal group or the second measurement device side terminal group,
A first measuring device side terminal support member that supports the plurality of first measuring device side terminals constituting the first measuring device side terminal group while maintaining their arrangement;
A second measuring device side terminal support member for supporting the plurality of second measuring device side terminals constituting the second measuring device side terminal group while maintaining their arrangement,
A measurement target terminal supporting member that supports the plurality of measurement target terminals constituting the measurement target terminal group while maintaining their arrangement,
The plurality of first measuring instrument side terminals, the plurality of second measuring instrument side terminals, and the plurality of measurement target side terminals are arranged according to a common arrangement,
The selective connection unit relatively moves the first measuring device side terminal supporting member, the second measuring device side terminal supporting member, and the measurement object side terminal supporting member, and moves the measurement object side terminal to the first measurement. A switching device including a relative movement unit for selectively making contact with a device side terminal or the second measuring device side terminal.
前記第1測定器側端子支持部材および前記第2測定器側端子支持部材が、共通の支持部材である、請求項21に記載の切替装置。 22. The switching device according to claim 21 , wherein the first measuring device side terminal supporting member and the second measuring device side terminal supporting member are a common supporting member. 前記第1測定器側端子、前記第2測定器側端子および前記測定対象側端子の各々が、信号伝達部と、当該信号伝達部を取り囲むシールド部とを含む同軸型端子であり、
前記第1測定器側端子支持部材が、前記複数の第1測定器側端子のシールド部を互いに電気的に絶縁した状態で支持する絶縁板を含み、
前記第2測定器側端子支持部材が、前記複数の第2測定器側端子のシールド部を互いに電気的に絶縁した状態で支持する絶縁板を含み、
前記測定対象側端子支持部材が、前記複数の測定対象側端子のシールド部を互いに電気的に絶縁した状態で支持する絶縁板を含む、
請求項21または22に記載の切替装置。
Each of the first measuring device side terminal, the second measuring device side terminal, and the measurement target side terminal is a coaxial terminal including a signal transmission unit and a shield unit surrounding the signal transmission unit,
The first measuring device side terminal support member includes an insulating plate that supports the shield portions of the plurality of first measuring device side terminals in a state where they are electrically insulated from each other,
The second measuring device side terminal support member includes an insulating plate that supports the shield portions of the plurality of second measuring device side terminals in a state where they are electrically insulated from each other,
The measurement target side terminal support member includes an insulating plate that supports the shield portions of the plurality of measurement target side terminals in a state where they are electrically insulated from each other.
Switching device according to claim 21 or 22.
前記第1測定器側端子および前記第2測定器側端子がプッシュオン型の第1の同軸コネクタであり、前記測定対象側端子が、前記第1の同軸コネクタに嵌合可能なプッシュオン型の第2の同軸コネクタであり、
前記相対移動ユニットが、前記第1測定器側端子支持部材および前記第2測定器側端子支持部材と前記測定対象側端子支持部材とを前記第1および第2の同軸コネクタの嵌合方向に沿って相対移動させる、請求項2123のいずれか一項に記載の切替装置。
The first measuring instrument side terminal and the second measuring instrument side terminal are push-on type first coaxial connectors, and the measurement target side terminal is a push-on type coaxial connector that can be fitted to the first coaxial connector. A second coaxial connector,
The relative movement unit moves the first measuring device side terminal supporting member, the second measuring device side terminal supporting member, and the measurement target side terminal supporting member along a fitting direction of the first and second coaxial connectors. The switching device according to any one of claims 21 to 23 , wherein the switching device relatively moves the switching device.
前記第1の同軸コネクタおよび前記第2の同軸コネクタの少なくとも一方が、位置ずれ吸収用のフローティング構造を有している、請求項24に記載の切替装置。 25. The switching device according to claim 24 , wherein at least one of the first coaxial connector and the second coaxial connector has a floating structure for absorbing a displacement. 測定対象に異なる位置で接触する第1電極リードおよび第2電極リードと、
前記第1電極リードの第1接続位置に芯線が接続される第1同軸ケーブルと、
前記第1電極リードの前記第1接続位置よりも測定対象に近い第2接続位置に芯線が接続される第2同軸ケーブルと、
前記第2電極リードの第3接続位置に芯線が接続される第3同軸ケーブルと、
前記第2電極リードの前記第3接続位置よりも測定対象から遠い第4接続位置に芯線が接続される第4同軸ケーブルと、
前記第1同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第2同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部とを直接接続する第1線と、
前記第1同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第3同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部とを直接接続する第2線と、
前記第2同軸ケーブルのシールド線の前記第1電極リード側端部と、前記第4同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部とを直接接続する第3線と、
前記第3同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部と、前記第4同軸ケーブルのシールド線の前記第2電極リード側端部とを直接接続する第4線とを含む、測定治具。
A first electrode lead and a second electrode lead that contact the measurement target at different positions,
A first coaxial cable having a core wire connected to a first connection position of the first electrode lead;
A second coaxial cable having a core wire connected to a second connection position of the first electrode lead closer to the measurement target than the first connection position;
A third coaxial cable having a core wire connected to a third connection position of the second electrode lead;
A fourth coaxial cable having a core wire connected to a fourth connection position of the second electrode lead farther from the measurement target than the third connection position;
A first wire that directly connects the first electrode lead-side end of the shielded wire of the first coaxial cable to the first electrode lead-side end of the shielded wire of the second coaxial cable;
A second wire that directly connects the first electrode lead-side end of the shielded wire of the first coaxial cable to the second electrode lead-side end of the shielded wire of the third coaxial cable;
A third wire that directly connects an end of the shielded wire of the second coaxial cable on the first electrode lead side and an end of the shielded wire of the fourth coaxial cable on the second electrode lead side;
A measurement jig including a fourth wire that directly connects an end of the shielded wire of the third coaxial cable on the second electrode lead side and an end of the shielded wire of the fourth coaxial cable on the second electrode lead side; Utensils.
前記第2線および前記第3線がそれぞれ複数本備えられており、前記複数本の第2線および前記複数本の第3線が、測定対象配置位置を取り囲むように配置されている、請求項26に記載の測定治具。 The said 2nd line and the said 3rd line are provided with two or more, respectively, and the several 2nd line and the several 3rd line are arrange | positioned so that the measurement object arrangement | positioning position may be surrounded. 28. The measuring jig according to 26 . 測定対象を支持する支持面を有する対象支持部と、対象支持部を取り囲むように配置され、前記支持面に交差する方向に延びた複数の貫通孔とを有する測定対象支持部材をさらに含み、
前記複数本の第2線および前記複数本の第3線が、前記複数の貫通孔を通って配索されている、請求項27に記載の測定治具。
A target support portion having a support surface that supports the measurement target, and a measurement target support member having a plurality of through holes that are arranged to surround the target support portion and extend in a direction intersecting the support surface,
The measuring jig according to claim 27 , wherein the plurality of second lines and the plurality of third lines are routed through the plurality of through holes.
前記測定対象支持部材に取り付けられ、測定対象を加熱するためのヒータをさらに含む、請求項28に記載の測定治具。 29. The measurement jig according to claim 28 , further comprising a heater attached to the measurement target support member and configured to heat the measurement target. 開口を有し、前記測定対象を収容する保持容器と、
前記保持容器の開口を閉じる蓋と、
前記蓋に固定され、前記第1同軸ケーブル、前記第2同軸ケーブル、前記第3同軸ケーブルおよび前記第4同軸ケーブルをそれぞれ支持する第1フィードスルー、第2フィードスルー、第3フィードスルーおよび第4フィードスルーと
をさらに含む請求項2629のいずれか一項に記載の測定治具。
A holding container having an opening and containing the measurement target,
A lid for closing an opening of the holding container,
A first feedthrough, a second feedthrough, a third feedthrough, and a fourth feedthrough fixed to the lid and supporting the first coaxial cable, the second coaxial cable, the third coaxial cable, and the fourth coaxial cable, respectively. The measuring jig according to any one of claims 26 to 29 , further comprising a feedthrough.
前記第1〜第4フィードスルーが、前記第1〜第4同軸ケーブルのシールドと前記蓋とを電気的に絶縁した状態で前記第1〜第4同軸ケーブルをそれぞれ支持する絶縁型フィードスルーである、請求項30に記載の測定治具。 The first to fourth feedthroughs are insulating feedthroughs that respectively support the first to fourth coaxial cables in a state where the shields of the first to fourth coaxial cables and the lid are electrically insulated. The measuring jig according to claim 30 . 前記蓋に結合され、前記保持容器内にガスを導入するガス導入管と、
前記蓋に結合され、前記保持容器内のガスを排気する排気管と
をさらに含む、請求項30または31に記載の測定治具。
A gas introduction pipe coupled to the lid and introducing gas into the holding container;
Coupled to said lid, further comprising an exhaust pipe for exhausting the gas in the holding container, measuring jig according to claim 30 or 31.
請求項2632のいずれか一項に記載の測定治具と、
前記第1〜第4同軸ケーブルにそれぞれ接続される複数の端子を有し、前記測定対象のインピーダンスを測定する測定器とを含む、測定システム。
A measurement jig according to any one of claims 26 to 32 ,
A measuring device having a plurality of terminals respectively connected to the first to fourth coaxial cables, and a measuring device for measuring the impedance of the measurement object.
前記測定器が、複数の異なる周波数に対する前記測定対象からの応答を計測する、請求項33に記載の測定システム。 The measurement system according to claim 33 , wherein the measurement device measures responses from the measurement target to a plurality of different frequencies. 前記測定対象が固体電解質である、請求項33または34に記載の測定システム。 The measurement object is a solid electrolyte, the measurement system according to claim 33 or 34. 測定対象のインピーダンスを測定するための測定システムを制御するためのコンピュータに実行させるための制御プログラムであって、
前記測定システムが、
測定対象に接続すべき第1端子群を有し、第1測定方式に従って前記測定対象のインピーダンスを測定する第1測定器と、
測定対象に接続すべき第2端子群を有し、前記第1測定方式とは異なる第2測定方式に従って前記測定対象のインピーダンスを測定する第2測定器と、
前記第1端子群に接続される第1測定器側端子群と、前記第2端子群に接続される第2測定器側端子群と、測定対象側端子群と、前記第1測定器側端子群または前記第2測定器側端子群を前記測定対象側端子群に選択的に接続する選択接続ユニットとを含む切替装置と
を含み、
前記切替装置を制御して前記第1測定器側端子群を前記測定対象側端子群に接続し、前記第1測定器を制御して複数の異なる周波数である複数の測定点における前記測定対象からの応答を前記第1測定方式によって定させ、かつ前記第1測定器による測定結果を取得する第1測定制御ステップと、前記切替装置を制御して前記第2測定器側端子群を前記測定対象側端子群に接続し、前記第2測定器を制御して複数の異なる周波数である複数の測定点における前記測定対象からの応答を前記第2測定方式によって定させ、かつ前記第2測定器による測定結果を取得する第2測定制御ステップとを前記コンピュータに実行させる、測定システムのための制御プログラム。
A control program to be executed by a computer for controlling a measurement system for measuring the impedance of a measurement target,
The measurement system comprises:
A first measuring device having a first terminal group to be connected to the measurement target, and measuring the impedance of the measurement target according to a first measurement method;
A second measuring device having a second terminal group to be connected to the measurement target, and measuring the impedance of the measurement target according to a second measurement method different from the first measurement method;
A first measuring device side terminal group connected to the first terminal group, a second measuring device side terminal group connected to the second terminal group, a measuring object side terminal group, and the first measuring device side terminal A switching unit that selectively connects a group or the second measuring device side terminal group to the measurement target side terminal group
The switching device is controlled to connect the first measuring device side terminal group to the measurement target side terminal group, and the first measuring device is controlled to control the first measuring device from the measurement target at a plurality of measurement points at a plurality of different frequencies. the response was measure I by the first measurement method, and the a first measurement control step of acquiring a measurement result by the first measuring device, the controlling of the switching device second meter terminal connect the group to the measurement object-side terminal group, measuring I'm a response from the measurement object at a plurality of measuring points are a plurality of different frequencies by controlling the second measuring device to the second measurement method constant And a second measurement control step of causing the computer to execute a second measurement control step of acquiring a measurement result by the second measurement device.
前記第1測定器は第1形式の測定結果データを出力し、前記第2測定器は前記第1形式とは異なる第2形式の測定結果データを出力し、
前記制御プログラムは、前記第1形式の測定結果データおよび前記第2形式の測定結果データの両方を第3形式で出力するステップを前記コンピュータに実行させる、請求項36に記載の制御プログラム。
The first measuring device outputs measurement result data of a first format, the second measuring device outputs measurement result data of a second format different from the first format,
The control program according to claim 36 , wherein the control program causes the computer to execute a step of outputting both the first format measurement result data and the second format measurement result data in a third format.
前記第1測定器の測定結果データおよび前記第2測定器の測定結果データを統合した単一の出力ファイルを生成するステップを前記コンピュータに実行させる、請求項36または37に記載の制御プログラム。 To execute the steps of generating a single output file with integrated measurement data of the measurement result data and the second measuring device of the first measuring device to the computer, the control program according to claim 36 or 37. 第1測定周波数領域において前記第1測定制御ステップを前記コンピュータに実行させ、前記第1測定周波数領域とは異なる第2測定周波数領域において前記第2測定制御ステップを前記コンピュータに実行させる、請求項3638のいずれか一項に記載の制御プログラム。 The first measurement control step causes the computer to perform the first measurement frequency range, to execute the second measurement control step at a different second measurement frequency range from said first measurement frequency range in said computer, according to claim 36 control program according to any one of to 38. 前記第1測定周波数領域および前記第2測定周波数領域を使用者が設定するための測定周波数領域入力手段を提供し、かつ前記測定周波数領域入力手段からの入力を受け付けるステップと、
前記測定周波数領域入力手段による設定に従って前記第1測定周波数領域および前記第2測定周波数領域を定めるステップと
を前記コンピュータにさらに実行させる、請求項39に記載の制御プログラム。
Providing measurement frequency domain input means for a user to set the first measurement frequency domain and the second measurement frequency domain, and receiving input from the measurement frequency domain input means,
The computer-readable storage medium according to claim 39 , further comprising the step of: causing the computer to further execute the step of determining the first measurement frequency domain and the second measurement frequency domain in accordance with settings made by the measurement frequency domain input means.
前記第1測定器および前記第2測定器における測定周波数である前記測定点の間隔を共通に設定する測定点間隔設定手段を提供し、かつ前記測定点間隔設定手段からの入力を受け付けるステップと、
前記測定点間隔設定手段によって設定された間隔の複数の前記測定点を前記第1測定器および前記第2測定器に指示するステップと
を前記コンピュータにさらに実行させる、請求項3640のいずれか一項に記載の制御プログラム。
A step of accepting an input from the first instrument and the spacing of the measuring points is measured frequency of the second measuring device provides a measuring point interval setting means for setting a common, and the measurement point interval setting means,
Wherein the step of the plurality of the measurement point of the measurement point interval set interval by setting means for instructing the first instrument and the second measuring device is further executed by the computer, one of the claims 36-40 The control program according to claim 1.
測定対象に接続すべき第1端子群を有し、第1測定方式に従って前記測定対象のインピーダンスを測定する第1測定器と、測定対象に接続すべき第2端子群を有し、前記第1測定方式とは異なる第2測定方式に従って前記測定対象のインピーダンスを測定する第2測定器と、測定対象に接続される測定ヘッドを有する測定治具とを含む測定システムにおける測定方法であって、
前記測定治具を前記第1端子群に接続し、前記第1測定器によって前記第1測定方式による測定を実行する第1測定ステップと、
前記測定治具を前記第2端子群に接続し、前記第2測定器によって前記第2測定方式による測定を実行する第2測定ステップとを含み、
前記第1測定器が、複数の異なる周波数を複数の測定点として設定し、当該複数の測定点における前記測定対象からの応答を計測し、
前記第2測定器が、複数の異なる周波数を複数の測定点として設定し、当該複数の測定点における前記測定対象からの応答を計測する、測定方法。
A first terminal that has a first terminal group to be connected to a measurement target, and a first measuring device that measures the impedance of the measurement target according to a first measurement method; and a second terminal group that is to be connected to the measurement target. A measurement method in a measurement system including a second measurement device that measures the impedance of the measurement target according to a second measurement method different from the measurement method, and a measurement jig having a measurement head connected to the measurement target,
A first measurement step of connecting the measurement jig to the first terminal group, and performing measurement by the first measurement device using the first measurement method;
The measurement jig connected to the second terminal group, saw including a second measurement step of performing a measurement by the second measurement method by the second measuring device,
The first measuring device sets a plurality of different frequencies as a plurality of measurement points, measures a response from the measurement target at the plurality of measurement points,
A measurement method, wherein the second measurement device sets a plurality of different frequencies as a plurality of measurement points and measures responses from the measurement target at the plurality of measurement points .
前記第1測定ステップが、切替装置によって前記測定治具を前記第1端子群に接続するステップを含み、
前記第2測定ステップが、前記切替装置によって前記測定治具を前記第2端子群に接続するステップを含む、請求項42に記載の測定方法。
The first measuring step includes a step of connecting the measuring jig to the first terminal group by a switching device,
43. The measuring method according to claim 42 , wherein the second measuring step includes a step of connecting the measuring jig to the second terminal group by the switching device.
前記第1測定器は第1形式の測定結果データを出力し、前記第2測定器は前記第1形式とは異なる第2形式の測定結果データを出力し、
前記測定方法は、前記第1形式の測定結果データおよび前記第2形式の測定結果データの両方を第3形式で出力するステップをさらに含む、請求項42または43に記載の測定方法。
The first measuring device outputs measurement result data of a first format, the second measuring device outputs measurement result data of a second format different from the first format,
The measurement method according to claim 42 or 43 , wherein the measurement method further includes a step of outputting both the first format measurement result data and the second format measurement result data in a third format.
前記第1測定器の測定結果データおよび前記第2測定器の測定結果データを統合した単一の出力ファイルを生成するステップをさらに含む、請求項4244のいずれか一項に記載の測定方法。 The measurement method according to any one of claims 42 to 44 , further comprising: generating a single output file in which measurement result data of the first measurement device and measurement result data of the second measurement device are integrated. . 前記第1測定ステップは、第1測定周波数領域において実行し、前記第2測定ステップは、前記第1測定周波数領域とは異なる第2測定周波数領域において実行する、請求項4245のいずれか一項に記載の測定方法。 Wherein the first measuring step, executed at the first measurement frequency range, said second measuring step is performed in a different second measurement frequency range from said first measurement frequency range, one of the claims 42-45 one The measurement method described in the section. 前記第1測定ステップおよび前記第2測定ステップが、共通の間隔で設定された複数の測定周波数である複数の前記測定点に関してそれぞれ実行される、請求項4246のいずれか一項に記載の測定方法。 Wherein the first measuring step and said second measuring step is performed respectively for a plurality of the measuring points are a plurality of measurement frequencies which are set at a common spacing, according to any one of claims 42-46 Measuring method. 前記測定対象が固体電解質である、請求項4247のいずれか一項に記載の測定方法。 The measurement method according to any one of claims 42 to 47 , wherein the measurement target is a solid electrolyte.
JP2015173223A 2015-09-02 2015-09-02 Measuring system and measuring method Active JP6675679B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015173223A JP6675679B2 (en) 2015-09-02 2015-09-02 Measuring system and measuring method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015173223A JP6675679B2 (en) 2015-09-02 2015-09-02 Measuring system and measuring method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017049148A JP2017049148A (en) 2017-03-09
JP6675679B2 true JP6675679B2 (en) 2020-04-01

Family

ID=58280136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015173223A Active JP6675679B2 (en) 2015-09-02 2015-09-02 Measuring system and measuring method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6675679B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI799025B (en) * 2021-12-22 2023-04-11 技嘉科技股份有限公司 Processing system, device and method for automatic testing interface card

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107219558B (en) * 2017-08-08 2023-07-14 山东省煤田地质规划勘察研究院 Rapid electrode layout device and method for geophysical prospecting measurement
JP6887407B2 (en) * 2018-08-28 2021-06-16 横河電機株式会社 Equipment, programs, program recording media, and methods
JP7240669B2 (en) * 2019-06-21 2023-03-16 株式会社クオルテック Standard sample for impedance measurement
US20230123736A1 (en) * 2021-10-14 2023-04-20 Redzone Robotics, Inc. Data translation and interoperability

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3329279B2 (en) * 1998-09-10 2002-09-30 株式会社村田製作所 Inspection equipment for electronic components
JP2005321379A (en) * 2004-04-07 2005-11-17 Agilent Technol Inc Integrated connecting means and cable assembly of measuring system for semiconductor characteristics
JP2005300495A (en) * 2004-04-16 2005-10-27 Agilent Technol Inc Semiconductor characteristic measuring apparatus and connecting device
JP2006292601A (en) * 2005-04-13 2006-10-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for evaluating electronic component
JP2008107216A (en) * 2006-10-26 2008-05-08 Agilent Technol Inc Measuring method, switching device and measuring system equipped with the switching device
JP5413793B2 (en) * 2008-07-25 2014-02-12 横河電機株式会社 Measuring system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI799025B (en) * 2021-12-22 2023-04-11 技嘉科技股份有限公司 Processing system, device and method for automatic testing interface card

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017049148A (en) 2017-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6675679B2 (en) Measuring system and measuring method
US20080030206A1 (en) Surgical testing instrument and system
US10495678B2 (en) Testing method for sheet resistance and contact resistance of connecting point of sheet material
CN102967624B (en) Device for testing Seebeck coefficient
US20090315581A1 (en) Chuck for supporting and retaining a test substrate and a calibration substrate
JP2011138865A (en) Inspection apparatus of semiconductor device
US9275825B2 (en) Sample holder for electron microscopy for low-current, low-noise analysis
JP2008082734A (en) Electric contact device, high frequency measuring system, and high frequency measuring method
JP2014219406A (en) Test socket providing mechanical stabilization for pogo pin connections
JP4989276B2 (en) Measuring system
JP4574222B2 (en) Substrate inspection contact, substrate inspection jig and substrate inspection apparatus using the same
KR101853192B1 (en) Testing device for cable
von Kleist-Retzow et al. Automated calibration of RF on-wafer probing and evaluation of probe misalignment effects using a desktop micro-factory
US20210156901A1 (en) Prober
CN101173970A (en) Chip-based prober for high frequency measurements and methods of measuring
CN206618831U (en) A kind of new alternating temperature Hall effect tester
JP5627442B2 (en) Circuit board inspection equipment
US20220163400A1 (en) Probe system for low-temperature high-precision heat transport measurement and measurement device including same
CN113614555A (en) Impedance standard
CN104820116A (en) Connecting device suitable for low-temperature electrical test and using method thereof
CN114966368A (en) Static automatic test system based on vision hybrid positioning
JP6115499B2 (en) Strain measuring device
JP5925824B2 (en) Correction device
JP5389706B2 (en) Impedance measurement system and impedance measurement method
JP5480740B2 (en) Circuit board inspection equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180110

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20180110

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20181018

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181206

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190129

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190704

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190822

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200130

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200228

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6675679

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250