JP6661348B2

JP6661348B2 - ひずみゲージ

Info

Publication number: JP6661348B2
Application number: JP2015232541A
Authority: JP
Inventors: 武士杉本; 和貴清水; 一直掛場; 施村　偉; 偉施村
Original assignee: Kyowa Electronic Instruments Co Ltd
Current assignee: Kyowa Electronic Instruments Co Ltd
Priority date: 2015-11-28
Filing date: 2015-11-28
Publication date: 2020-03-11
Anticipated expiration: 2035-11-28
Also published as: JP2017096900A

Description

本発明は、ひずみゲージに関し、より詳細には、抵抗材料からなりひずみを感知してそのひずみに対応した抵抗変化を示す幅狭のグリッドパターン部と、ゲージリードが接続される幅広の少なくとも１対のゲージタブパターン部と、このゲージタブパターン部と上記グリッドパターン部の端部とを電気的に連接する接続パターン部とが、絶縁材料からなるゲージベース上に添着されたひずみゲージに関するものである。

ひずみゲージは、機械や構造物（以下、「被測定対象物」という）の表面の機械的なひずみ量を、抵抗値、電圧などの電気量に変換して検出するもので、被測定対象物の各部の変形（ひずみ）を精度よく計測し、被測定対象物を破損することなく実動状態でひずみ分布を定量的に求めるとき等に用いられる。
近年、航空機の翼部や風力発電のブレードのモニタリング計測などにおいて、長期に亘る繰り返し測定が可能なひずみゲージが求められている。
このような長期に亘るモニタリング計測などに対応するためには、疲労寿命特性（繰り返し回数）を増加させた信頼性の高いひずみゲージが求められる。
ところで、一般的なひずみゲージは、ゲージタブパターン部に対して半田付けにより一対のリード線を接合するため、長期使用した際には、ひずみゲージ全体が引張、圧縮、曲げ等のひずみを繰り返し受けることにより、半田付けしたゲージリードの端部に位置するゲージタブパターン部にクラックや断線が発生し易いという問題がある。
このような問題に対処すべくなされた先行技術として、特開２００９−３０２１１７号公報（以下、「特許文献１」という）が知られている。

上記特許文献１のひずみゲージは、ベースシート上に形成した少なくともタブ本体部およびこのタブ本体部の一端辺から連続形成した接続部を有するタブパターンにおける当該タブ本体部に対して半田付けによりリードを接合するタブパターンとリードの接合方法において、前記接続部の延長線に対して所定幅以上オフセットさせる第一位置条件および前記一端辺から所定幅以内となる第二位置条件の双方を満たす前記タブ本体部上の位置に前記リードを半田付けすることを特徴としている。
これによって、タブパターン部の小型化、電気的性能の低下を来す不具合の回避、コスト低減を図るほか、クラックや断線の発生を回避できる、としている。

特開２００９−３０２１１７号公報

しかしながら、特許文献１の方法によって作成されたひずみゲージは、タブパターンに、第一位置条件および第二位置条件の双方を満たすタブパターン部に限定してゲージリードを半田付けする領域を設ける他に、半田付けに関係しない領域も設ける必要があるから、結果的にタブパターン部を大きくすることが必要な場合がある。
加えて、特許文献１のひずみゲージは、疲労特性から見ると、疲労寿命は、１．０×１０^７回程度にとどまっており、長期モニタリング計測に対応するには不充分である。
このように、ひずみゲージの疲労特性を向上させるために、パターン形状を改良して改善させるひずみゲージは、存在していない状況にある。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、第１の目的とするところは、ゲージタブパターン部の形状を改良して、長期モニタリング計測に対応させるべく、疲労寿命特性（回数）を向上させた信頼性の高いひずみゲージを提供することにある。
本発明の第２の目的とするところは、ゲージタブパターン部を極力小型化し、且つコストの増大をもたらすことなく、ひずみゲージを提供することにある。
本発明の第３の目的とするところは、ゲージリードを半田付けする場合の半田量を制御し、半田フィレット（Ｆｉｌｌｅｔ）形状がゲージリードの線径に対し所定の比率となるよう半田の最適化を図り、疲労寿命特性を向上させた信頼性の高いひずみゲージを提供することにある。

請求項１に記載した本発明に係るひずみゲージは、上述した第１の目的、第２の目的および第３の目的を達成させるために、
抵抗材料からなりひずみを検知してそのひずみに対応した抵抗変化を示す幅狭のグリッドパターン部と、
ゲージリードが接続される幅広の少なくとも１対のゲージタブパターン部と、
このゲージタブパターン部と前記グリッドパターン部の各端部とを電気的に連接する少なくとも一対の接続パターン部が、絶縁材料からなるゲージベース上に添着されたひずみゲージにおいて、
前記ゲージタブパターン部に、
前記グリッドパターン部の受感軸方向と直交する所定幅の第１の穴部を形成すると共に、前記第１の穴部の両端から円弧状に折曲がり、前記グリッドパターン部とは反対側に向かって伸び、その先端が円弧状をなす所定幅の第２の穴部を形成し、
前記第１の穴部と前記第２の穴部の内側に沿うように所定の間隔を隔てて、前記ゲージリードと半田からなる半田付部を形成し、当該半田付部近傍に生ずる応力集中を抑制し、疲労特性の向上を図るように構成したことを特徴としている。

請求項２に記載した本発明に係るひずみゲージは、請求項１のひずみゲージにおいて、
前記第２の穴部の幅は、前記第１の穴部の幅より大きいことを特徴としている。
請求項３に記載した本発明に係るひずみゲージは、請求項１のひずみゲージにおいて、
前記第２の穴部の先端の円弧状をなす円弧部の曲率半径をＲＡとし、
前記第１の穴部と前記第２の穴部とを連接する円弧状をなす外側の円弧部の曲率半径をＲＢとし、内側の円弧部の曲率半径をＲＣとしたとき、
次の条件式（１）、
ＲＡ＜ＲＣ＜ＲＢ（１）
なる関係を満足することを特徴としている。
請求項４に記載した本発明に係るひずみゲージは、請求項１または２のひずみゲージにおいて、
前記第２の穴部の側部と前記ゲージタブパターン部の側端との間には、所定の間隔を設けていることを特徴としている。

請求項５に記載した本発明に係るひずみゲージは、請求項１のひずみゲージにおいて、
前記ゲージリードの線径と半田付部に盛られる半田の横幅との比率が、１：２程度となるように設定してなることを特徴としている。
請求項６に記載した本発明に係るひずみゲージは、請求項１または５のひずみゲージにおいて、
前記半田付部の前記受感軸に沿う方向における一端側は、前記第１の穴部から所定の間隔を隔てた部位に配置され、他端側は、前記ゲージタブパターン部の前記グリッドパターン部とは反対側の端縁近傍まで延びていることを特徴としている。
請求項７に記載した本発明に係るひずみゲージは、請求項１または６のひずみゲージにおいて、
前記第１の穴部と、半田付けされる前記ゲージリードの先端との間は、前記第１の穴部の幅と同程度の間隔を保持するように半田付けされることを特徴としている。

請求項８に記載した本発明に係るひずみゲージは、請求項１のひずみゲージにおいて、
前記第２の穴部の先端の円弧状をなす円弧部の曲率半径をＲＡとし、前記第１の穴部と前記第２の穴部とを連接する外側の円弧部の曲率半径をＲＢとし、内側の円弧部の曲率半径をＲＣとし、前記第１の穴部の幅をＤとし、前記第１の穴部の内端部から前記第２の穴部の先端の円弧状をなす前記円弧部先端までの寸法をＥとし、前記第２の穴部の先端の円弧状をなす前記円弧部先端部から前記ゲージタブパターン部の基端側の端部までの寸法をＦとし、前記ゲージリードの先端から前記第１の穴部の内端部までの寸法をＧとし、前記ゲージタブパターン部の横幅をＨとし、前記第２の穴部の内面側間の寸法をＩとし、前記ゲージリードを半田付けした際に形成される半田部の横方向の寸法をＪとし、前記ゲージリードの線径をφｄとし、
前記ゲージリードの線径φｄを基準として、φｄ＝１としたとき、上記各部の寸法は、
ＲＡ＝０．３、ＲＢ＝０．９、ＲＣ＝０．６、
Ｄ＝０．３、Ｅ＝１．３、Ｆ＝２．２、
Ｇ＝０．３、Ｈ＝５．０、Ｉ＝２．５、
Ｊ＝２．０、
の各比率をもって定めるものとし、
前記ゲージリードの線径φｄは、
φｄ＝０．１〜０．１６（±０．０５［mm］）
の範囲に設定するように構成したことを特徴としている。

請求項１に記載の発明によれば、
抵抗材料からなりひずみを検知してそのひずみに対応した抵抗変化を示す幅狭のグリッドパターン部と、
ゲージリードが接続される幅広の少なくとも１対のゲージタブパターン部と、
このゲージタブパターン部と前記グリッドパターン部の各端部とを電気的に連接する少なくとも一対の接続パターン部が、絶縁材料からなるゲージベース上に添着されたひずみゲージにおいて、
前記ゲージタブパターン部に、
前記グリッドパターン部の受感軸方向と直交する所定幅の第１の穴部を形成すると共に、前記第１の穴部の両端から円弧状に折曲がり、前記グリッドパターン部とは反対側に向かって伸び、その先端が円弧状をなす所定幅の第２の穴部を形成し、
前記第１の穴部と前記第２の穴部の内側に沿うように所定の間隔を隔てて、前記ゲージリードと半田からなる半田付部を形成し、当該半田付部近傍に生ずる応力集中を抑制し、疲労特性の向上を図るように構成したことにより、
ひずみゲージ全体の大型化を招くことなく、且つコストの増大をもたらすことなく、ひずみゲージのゲージタブパターン部におけるクラックの発生を回避でき、疲労寿命特性を向上させた信頼性の高いひずみゲージを提供することができる。

本発明の第１の実施の形態に係るひずみゲージの全体構成を示す平面図である。図１に示すひずみゲージの正面図である。本発明の第１の実施の形態であって且つ実施例１に係るひずみゲージのゲージタブパターン部と半田付部の構成を拡大して示す平面図である。図３のひずみゲージの半田付部のＸ−Ｘ線矢視方向断面の構成を示す拡大断面図である。図３の実施例１に係るひずみゲージの疲労寿命試験結果を示す特性図である。図３の実施例１に係るひずみゲージの疲労寿命試験データ特性であり、図６（ａ）は、最高正ひずみ（ＭＡＸ）の特性グラフ、図６（ｂ）は、零ひずみ（ＺＥＲＯ）の特性グラフ、図６（ｃ）は、最高負ひずみ（ＭＩＮ）の特性グラフである。本発明の開発過程で製作したひずみゲージの各種ゲージタブパターン部の形状に対するゲージリード先端部とパターン穴部における主応力値（ＭＰａ）を示す特性表である。本発明の開発過程で製作したひずみゲージの２種のゲージタブパターン部の形状と半田付部の半田量と合格数との関係を示す比較図である。

以下、本発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施の形態および実施例は、特許請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また、実施の形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが、発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図１は、本発明の第１の実施の形態に係るひずみゲージの全体構成を示す平面図であり、図２は、図１に示すひずみゲージの正面図であり、図３は、本発明の第１の実施の形態であって且つ実施例１に係るひずみゲージのゲージタブパターン部と半田付部の構成を拡大して示す平面図であり、図４は、図３のひずみゲージの半田付部のＸ−Ｘ線矢視方向断面の構成を示す拡大断面図である。
図１〜図４において、１は、ゲージベースであり、絶縁材料で形成されており、通例は、可撓性を有する材料が用いられる。このゲージベース１は、一般的な用途のものは、透明または半透明である。
２は、箔材をフォトエッチング技術により、所定長さ（ゲージ長）に連続的に折り返されて蛇行状にパターンニングされた幅狭のグリッドパターン部であり、上記ゲージベース１を介して伝達される被測定対象物のひずみ量に対応してその抵抗値を変化する。

３、３は、上記グリッドパターン部２と同一材料で且つ同時に形成される一対のゲージタブパターン部で、２本のゲージリード（リード線）４、４を接続するため、グリッドパターン部２のグリッド線幅に比べて、かなり幅広に形成されている。５、５は、上記一対のゲージタブパターン部３、３に一端が連接され、他端がグリッドパターン部の各端部と連接された接続パターン部である。６、６は、２本のゲージリード４、４を一対のゲージタブパターン部３、３にそれぞれ電気的に接続する半田付部である。
７は、グリッドパターン部２、２つのゲージタブパターン部３、３並びに２つの接続パターン部５、５の表面を被膜する透明または半透明のラミネート膜である。
８ａは、ゲージタブパターン部３の特定の部位に貫通された第１の穴部であり、８ｂは、同じくゲージタブパターン部３に、上記第１の穴部８ａの両端から円弧状に折れ曲がり、上記グリッドパターン部２とは反対側に向かって延び、その先端が円弧状をなす所定幅の貫通された第２の穴部である。

以下、ゲージタブパターン部３におけるこれら第１の穴部８ａ、第２の穴部８ｂおよび半田付部６の詳細について、以下、図３および図４を参照して説明する。
ゲージタブパターン部３は、ゲージリード４を接続するために、幅広に形成されている。このゲージタブパターン部３には、グリッドパターン部２の受感軸方向（図１、図３において左右方向）と直交する方向（図１、図３において上下方向）に延びる所定幅Ｄの第１の穴部８ａを形成すると共に、第１の穴部８ａの両端から円弧状に折れ曲がり、グリッドパターン部２とは反対側（図１における右側）に向かって延び、その先端が円弧状をなす所定幅２ＲＡの第２の穴部８ｂを形成してある。
第１の穴部８ａと第２の穴部８ｂの三方に囲まれた内側部分に沿うように所定の間隔Ｇを隔てて、ゲージリード４と半田からなる半田付部６を形成してある。
第２の穴部８ｂの幅２ＲＡは、第１の穴部８ａの幅Ｄよりも大きく形成してある。第１の穴部８ａと第２の穴部８ｂは、円弧状に形成した部分があり、各円弧部は、次のように規定することが望ましい。

即ち、第２の穴部８ｂの先端の円弧状をなす円弧部８Ａの曲率半径をＲＡとし、第１の穴部８ａと第２の穴部８ｂとを連接する円弧状をなす外側の円弧部８Ｂの曲率半径をＲＢとし、内側の円弧部８Ｃの曲率半径をＲＣとしたとき、
次の条件式（１）：
ＲＡ＜ＲＣ＜ＲＢ（１）
なる関係を満足することが、応力の集中を分散させるのに有効である。
また、第２の穴部８ｂの側部８ｆと、ゲージタブパターン部３の側端８ｅとの間には、所定の間隔を設けることが望ましい。
次に、ゲージリード４、半田付部６と第１の穴部８ａおよび第２の穴部８ｂとの関係について説明する。
ゲージリード４の線径φｄと半田付部６に盛られる半田の形状（Ｆｉｌｌｅｔ：フィレットと称されることがある）の横幅（ゲージリード４に直交する方向の寸法）との比率を、所定の比率に設定することが望ましい（実施例１にあっては、１：２の比率に設定したものである）。

また、半田付部６の受感軸に沿う方向（ゲージリード４の心線に沿う方向）における一端側は、第１の穴部８ａから所定の間隔（例えば、第１の穴部８ａの幅Ｄ程度）を隔てた部位に配置させ、他端側は、ゲージタブパターン部３のグリッドパターン部２とは反対側の端縁８ｇ近傍まで延びるように設定する。
このように、半田付けされるゲージリード４の先端と、第１の穴部８ａの内端部８ｃとの間に所定の間隔を設けるようにすることで、剛性の大きい半田付部６の先端部近傍に応力集中が生じるのを、第１の穴部８ａと第２の穴８ｂとで分散させることに寄与させると共に、ゲージリード４の半田付けの際に半田が流れても、第１の穴部８ａおよび第２の穴部８ｂに至らない寸法に設定するものである。
また、半田付部６の他端側を、ゲージタブパターン部３の端縁８ｇ近傍まで延ばしているのは、応力の緩和に寄与させるためである。

次に、本発明の最良の実施例１を、図３および図４を用いて説明する。
第２の穴部８ｂの先端の円弧状をなす円弧部８Ａの曲率半径をＲＡとし、第１の穴部８ａと第２の穴部８ｂとを連接する外側の円弧部８Ｂの曲率半径をＲＢとし、内側の円弧部８Ｃの曲率半径をＲＣとし、第１の穴部８ａの幅をＤとし、第１の穴部８ａの内端部８ｃから第２の穴部８ｂの先端の円弧状をなす円弧部８Ａ先端までの寸法をＥとし、第２の穴部８ｂの先端の円弧状をなす円弧部８Ａ先端部からゲージタブパターン部３の基端側の端縁８ｇまでの寸法をＦとし、ゲージリード４の先端から第１の穴部８ａの内端部８ｃまでの寸法をＧとし、ゲージタブパターン部３の横幅をＨとし、第２の穴部８ｂの内面側間の寸法をＩとし、
ゲージリード４を半田付けした際に形成される半田付部６の横方向（ゲージリード４の方向と直交する方向）の寸法をＪとし、ゲージリード４の線径をφｄとし、ゲージリード４の線径φｄを基準として、φｄ＝１としたとき、上記各部の寸法は、
ＲＡ＝０．３、ＲＢ＝０．９、ＲＣ＝０．６、
Ｄ＝０．３、Ｅ＝１．３、Ｆ＝２．２、Ｇ＝０．３、
Ｈ＝５．０、Ｉ＝２．５、Ｊ＝２．０
の各比率をもって定めるものとし、
ゲージリード４の線径φｄを、
φｄ＝０．１〜０．１６（±０．０５）の範囲のものを設定（使用）するものとする。

上述した実施の形態および実施例１に係るひずみゲージの作用につき、説明すると、
例えば、ゲージベース１の裏面側に接着剤を塗布して試験機に接着し、引っ張りまたは圧縮により変位を与えた場合、従来のひずみゲージにおいては、剛性の大きいゲージリード４を半田付けしてなる半田付部の先端近傍のゲージタブパターン部３に応力が集中し、ゲージタブパターン部３にクラックが生じ、疲労特性が低下していたが、本発明のように、ゲージタブパターン部３に、第１の穴部８ａとこれと直交する方向に向かって延びる第２の穴部８ｂを所定の形態に形成し、ゲージリード４の半田付け（フィレット）を所定の関係となるように設定することにより、応力集中が分散され、繰り返し伸縮が加えられても、クラックが生じにくく、長期モニタリング計測に好適で、疲労寿命特性（回数）を大幅に向上させ得るひずみゲージを提供することができる。
また、第１の穴部８ａと第２の穴部８ｂに対し、半田断面の比率、半田付け位置を適正に管理、制御することにより、応力の集中を緩和させ、ゲージタブパターン部３に生ずる応力を低減させ、延いては、疲労寿命特性（回数）を増加させ、信頼性の高いひずみゲージを提供することができる。

次に、図３、図４に示す実施例１に係るひずみゲージにおいては、図５に示すような好結果が得られた。
即ち、図５は、実施例１に係るひずみゲージの疲労試験特性図であり、横軸にサイクル（回数）、縦軸に零点変化量（×１０^−６ひずみ）を示す。
この疲労試験は、ＮＡＳ９４２規格に準拠し、一定振幅を発生させる荷重装置を用いて、毎秒３０回、±１５００με×１０^−６ひずみを与え、無負荷時あるいは負荷時の指示値が最初の指示値より±１００×１０^−６ひずみ以上移動したとき、ひずみゲージの寿命と規定しているものである。
この規定にならって、実施例１に係るひずみゲージの疲労試験を行った結果を図５に示す。
この試験結果によれば、１．０×１０^８回に至るまで、最初の指示値より±１００×１０^−６ひずみを超えることがないことが分かる。

従って、本発明の実施例１に係るひずみゲージは、特許文献２のひずみゲージの疲労寿命が１．０×１０^７回程度のものに比べて、飛躍的に疲労寿命回数が増加していることが確認でき、長期モニタリング計測に好適で且つ信頼性の高いひずみゲージを提供することができる。
また、図６は、実施例１の疲労試験データであり、このうち、図６（ａ）は、最高正ひずみ（ＭＡＸ）の特性グラフ、図６（ｂ）は、零ひずみ（ＺＥＲＯ）の特性グラフ、図６（ｃ）は、最高負ひずみ（ＭＩＮ）の特性グラフであるが、「１×１０^８」回に至るまで、最初の指示値より、±１００×１０^−６ひずみを超えるひずみは生じておらず、１×１０^８回以上の疲労寿命を達成し、特許文献１のひずみゲージより優れていることが明らかである。
次に、図７を参照して、本発明の開発過程において、実施された改良品の試作、解析結果を改良前のものと比較して説明する。

図７において、「未改良」と記載されているのは、従来のひずみゲージを指す。改良〔１〕と記載されているのは、本発明のような第１の穴部と第２の穴部の形状とは異なり、「一文字状の穴」が形成されているものを指す。改良〔２〕と記載されているのは、「一文字状の穴の両端に丸穴」が付加されたものを指す。改良〔３〕と記載されているのは、「コの字状または鉤状の穴」が形成されているものを指す。本願発明に係るものと穴の形状が似ているが、第２の穴部に相当する部分が細かく、且つ円弧が不足している。
また、改良〔４〕と記載されているのは、本発明に係るもので、「第１の穴と第２の穴とが所定の関係をもって連通されているもの」を指す。
図６によれば、改良〔２〕〜改良〔４〕は、未改良（従来技術）のものに比べれば、ゲージリード先端部の最大値の主応力（ＭＰａ）は減少している。その中でも特に、ゲージリード先端部の最大、パターン穴部の最大の主応力を斟酌し、改良〔４〕についての開発を進めた。

図８は、ゲージタブパターン部と半田との関係について、試作、試験を行った結果を示している。
図８で合格とは、疲労寿命（回数）が、１×１０^８に到達したものを合格とし、到達しないものを不合格とするものである。
図８に示すように、未改良（従来品）のひずみゲージでは、半田量の大小に拘わらず、４つのサンプル共に合格数は０であり、改良〔４〕（本発明）のひずみゲージの場合、半田量が少ない（適正な）場合には、４つのサンプル中、すべてが合格であったが、半田量が多い場合には、４つのサンプル全て合格しない、という試験結果が得られた。
即ち、ゲージリード４の線径φｄに対する半田付部６の横幅Ｊを制御すると共に、フィレットの位置の制御を適正に行うことが肝要となる。
本発明は、上述し且つ図面に示した実施の形態および実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲に変形し得ることは勿論である。
例えば、図示の例においては、単軸型のひずみゲージについて説明したが、２軸、３軸等の多軸型のひずみゲージについても適用可能であり、箔材をもって形成したひずみゲージの他、スパッタリング技術等によってグリッドパターン部やゲージタブパターン部等を成膜する半導体ひずみゲージにも適用可能である。
上述した実施例においては、各寸法を具体的に記載したが、これに限定されるものではなく、適宜変更され得るもので具体的数値を基準として所定範囲における変更を施して初期の目的、効果が達成されるようアレンジし得ることは勿論である。

１ゲージベース
２グリッドパターン部
３ゲージタブパターン部
４ゲージリード
５接続パターン部
６半田付部
７ラミネート膜
８ａ第１の穴部
８ｂ第２の穴部
８ｃ第１の穴部の内端部
８ｄ第１の穴部の外端部
８ｅゲージタブパターン部の側端
８ｆゲージタブパターン部の側部
８ｇゲージタブパターン部の端縁

Claims

抵抗材料からなりひずみを検知してそのひずみに対応した抵抗変化を示す幅狭のグリッドパターン部と、
ゲージリードが接続される幅広の少なくとも１対のゲージタブパターン部と、
このゲージタブパターン部と前記グリッドパターン部の各端部とを電気的に連接する少なくとも一対の接続パターン部が、絶縁材料からなるゲージベース上に添着されたひずみゲージにおいて、
前記ゲージタブパターン部に、
前記グリッドパターン部の受感軸方向と直交する所定幅の第１の穴部を形成すると共に、前記第１の穴部の両端から円弧状に折曲がり、前記グリッドパターン部とは反対側に向かって伸び、その先端が円弧状をなす所定幅の第２の穴部を形成し、
前記第１の穴部と前記第２の穴部の内側に沿うように所定の間隔を隔てて、前記ゲージリードと半田からなる半田付部を形成し、当該半田付部近傍に生ずる応力集中を抑制し、疲労特性の向上を図るように構成したことを特徴とするひずみゲージ。
前記第２の穴部の幅は、前記第１の穴部の幅より大きいことを特徴とする請求項１に記載のひずみゲージ。
前記第２の穴部の先端の円弧状をなす円弧部の曲率半径をＲＡとし、
前記第１の穴部と前記第２の穴部とを連接する円弧状をなす外側の円弧部の曲率半径をＲＢとし、内側の円弧部の曲率半径をＲＣとしたとき、
次の条件式（１）、
ＲＡ＜ＲＣ＜ＲＢ（１）
なる関係を満足することを特徴とする請求項１に記載のひずみゲージ。
前記第２の穴部の側部と前記ゲージタブパターン部の側端との間には、所定の間隔を設けていることを特徴とする請求項１または２に記載のひずみゲージ。
前記ゲージリードの線径と半田付部に盛られる半田の横幅との比率が、１：２程度となるように設定してなることを特徴とする請求項１に記載のひずみゲージ。
前記半田付部の前記受感軸に沿う方向における一端側は、前記第１の穴部から所定の間隔を隔てた部位に配置され、他端側は、前記ゲージタブパターン部の前記グリッドパターン部とは反対側の端縁近傍まで延びていることを特徴とする請求項１または５に記載のひずみゲージ。
前記第１の穴部と、半田付けされる前記ゲージリードの先端との間は、前記第１の穴部の幅と同程度の間隔を保持するように半田付けされることを特徴とする請求項１また６に記載のひずみゲージ。
前記第２の穴部の先端の円弧状をなす円弧部の曲率半径をＲＡとし、前記第１の穴部と前記第２の穴部とを連接する外側の円弧部の曲率半径をＲＢとし、内側の円弧部の曲率半径をＲＣとし、前記第１の穴部の幅をＤとし、前記第１の穴部の内端部から前記第２の穴部の先端の円弧状をなす前記円弧部先端までの寸法をＥとし、前記第２の穴部の先端の円弧状をなす前記円弧部先端部から前記ゲージタブパターン部の基端側の端部までの寸法をＦとし、前記ゲージリードの先端から前記第１の穴部の内端部までの寸法をＧとし、前記ゲージタブパターン部の横幅をＨとし、前記第２の穴部の内面側間の寸法をＩとし、前記ゲージリードを半田付けした際に形成される半田部の横方向の寸法をＪとし、前記ゲージリードの線径をφｄとし、
前記ゲージリードの線径φｄを基準として、φｄ＝１としたとき、上記各部の寸法は、
ＲＡ＝０．３、ＲＢ＝０．９、ＲＣ＝０．６、
Ｄ＝０．３、Ｅ＝１．３、Ｆ＝２．２、
Ｇ＝０．３、Ｈ＝５．０、Ｉ＝２．５、
Ｊ＝２．０、
の各比率をもって定めるものとし、
前記ゲージリードの線径φｄは、
φｄ＝０．１〜０．１６±０．０５［mm］
の範囲に設定するように構成したことを特徴とする請求項１に記載のひずみゲージ。