JP6659886B1 - ランダムに積み重ねた複数の対象物の干渉を排除するシステム - Google Patents
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Abstract
Description
100 3D検出モジュール
200 材料取り装置
210 本体
220 挟持部
300 制御モジュール
400 対象物
500 箱
610、620、630、640、641、642、643、650、710、720、730、741、742、751、752、761、762、771、772、781、782、783、784、795、710’、720’、730’、741’、742’、751’、752’、761’、762’、771’、772’、781’、782’、783’、784’、791’、792’、795’ ステップ
810、820、830、840、850、860、870、880、890 対象物
811、812、813、831、832、833、851、852、853、854、855、856、871、872、873、874、875、876 領域
Claims (4)
- ランダムに積み重ねた複数の対象物の干渉を排除するシステムであって、
3次元検出モジュールと、
材料取り装置と、
前記3次元検出モジュールおよび前記材料取り装置に接続される制御モジュールとを含み、
前記制御モジュールが、
前記3次元検出モジュールを制御し、前記複数の対象物について、前記複数の対象物の中の少なくとも一部が像形成された3次元画像を取得させるステップと、
前記3次元画像を分析し、画像情報を得るステップと、
前記画像情報に基づいて、摘み取り待ち対象物を選択するステップと、
前記摘み取り待ち対象物のために干渉排除経路を計画するステップと、
前記材料取り装置を制御して、前記干渉排除経路に従って前記摘み取り待ち対象物の干渉を排除するステップとを行うように構成され、
前記干渉排除経路を計画するステップは、
前記制御モジュールが前記摘み取り待ち対象物を複数の領域に区分するステップと、
前記制御モジュールが各前記領域の干渉パラメータを算出するステップと、
前記制御モジュールが前記干渉パラメータに基づいて各前記領域に順番を付けることで、前記干渉排除経路を得るステップとを含む、システム。 - 前記制御モジュールが前記干渉パラメータに基づいて各前記領域に順番を付けるステップは、
前記制御モジュールが一つの前記領域を摘み取り領域に指定するステップと、
前記制御モジュールが前記摘み取り領域の前記干渉パラメータが閾値より小さいか否かを判断するステップとを含み、
前記摘み取り領域の前記干渉パラメータが前記閾値より小さい場合、前記制御モジュールが前記摘み取り領域を前記干渉排除経路の第一経路点に設定し、および、
前記制御モジュールが各前記領域の前記干渉パラメータに基づいて、前記干渉パラメータが最も大きい前記領域を第二経路点に決定し、
前記干渉排除経路が前記第一経路点と前記第二経路点を含む、請求項1に記載のシステム。 - 前記制御モジュールが前記干渉パラメータに基づいて各前記領域に順番を付けるステップは、さらに、
前記制御モジュールが、前記第二経路点との距離が最も近い前記領域を第三経路点に決定するステップを含み、
前記干渉排除経路が前記第一経路点、前記第二経路点および前記第三経路点を含む、請求項2に記載のシステム。 - 前記制御モジュールが前記干渉パラメータに基づいて各前記領域に順番を付けるステップは、さらに、
前記制御モジュールが、前記第一経路点を前記干渉排除経路の最終経路点に設定するステップを含む、請求項2または3に記載のシステム。
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