JP6649802B2 - 三次元画像検査装置、三次元画像検査方法、三次元画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - Google Patents
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Description
(実施形態1)
(操作部7)
(表示部6)
(コントローラ部3)
(第一ヘッド部2A)
(第二ヘッド部2B)
(実施形態2)
(固定位置の調整)
(位置調整パラメータ)
(三次元キャリブレーション)
(簡略化した高さ画像合成手順)
(死角)
(画像合成機能)
(高さ合成画像条件設定)
(高さ画像合成アルゴリズム)
(合成モード選択部75)
(計測優先モード)
(信頼度優先モード)
(高さ情報の高低差)
(輝度画像の取得)
(輝度情報を利用した死角判定)
1…ワーク搬送機構;1b…エンコーダ信号生成部;1B…ヘッド搬送機構
2…ヘッド部;2A…第一ヘッド部;2B…第二ヘッド部
3…コントローラ部
4…制御装置
5…画像入力部
6…表示部;6a…第一の三次元合成画像表示領域;6b…第二の三次元合成画像表示領域;6c…第一の三次元データ表示領域;6d…第二の三次元データ表示領域
7…操作部
8…トリガ入力部
21A…第一投光部;21B…第二投光部
22A…第一受光部;22B…第二受光部
23A…第一の二次元プロファイル生成部;23B…第二の二次元プロファイル生成部
31…記憶部;31a…補正前の三次元データ記憶領域;31b…補正後の三次元データ記憶領域;31c…ワークメモリ記憶領域;31d…入力プロファイルメモリ記憶領域;31e…設定データメモリ記憶領域;31f…位置調整パラメータ記憶領域
32…演算部;32d…三次元データ生成部;32e…検査部;32f…合成画像生成部;32g…輝度画像生成部
33…媒体読取部
34…設定部
74…補正モード選択部
75…合成モード選択部
80…高さ合成画像条件設定画面
82…重ね合わせ条件設定欄
83…「検出領域設定」ボタン
84…「重ね合わせ実行」ボタン
85…「補正値確認」ボタン
86…高さ画像合成条件設定欄
87…「合成タイプ」選択欄
88…「許容高さ誤差」設定欄
89…「輝度値での死角判定」設定欄
WK、WK1、WKP、WKS…ワーク
LB…レーザ光
ST…置き台
CV…コンベア
HEI1、HEI1’、HEI1”…第一高さ画像
HEI2、HEI2’、HEI2”…第二高さ画像
HFI1、HFI1’、HFI2、HFI2’…高さ合成画像
HFI1”…第一高さ合成画像;HFI2”…第二高さ合成画像
BRI、BRI’…輝度画像
SCN…走査位置
DEI…受光画像
2DP…二次元プロファイル
HEI’…高さ画像
BRP…輝度プロファイル
A1…第一領域;A2…第二領域
Claims (18)
- 検査対象物の高さ情報に基づいて外観検査を行うための三次元画像検査装置であって、
検査対象物に測定光を第一入射角度で照射し、第一反射角度で検査対象物から反射される反射光を受光するための第一投受光部と、
検査対象物に、第二入射角度で測定光を照射し、第二反射角度で検査対象物から反射される反射光を受光するための第二投受光部と、
三角測量の原理により、前記第一投受光部から得られた第一受光量データに基づいて第一の三次元データを生成し、前記第二投受光部から得られた第二受光量データに基づいて第二の三次元データを生成するための三次元データ生成部と、
前記第一の三次元データ及び第二の三次元データを合成し、高さ方向の情報を有する三次元合成画像を生成するための合成画像生成部と、
前記合成画像生成部で合成された三次元合成画像を表示させるための表示部と、
前記合成画像生成部が三次元合成画像を生成する際に、該三次元合成画像を構成する各画素について、前記第一の三次元データ及び前記第二の三次元データ内で対応する画素の画素値が両方とも得られている画素は前記両方の画素値に基づいて当該画素の計測値を得ると共に、前記対応する画素の内、少なくとも一方の画素値が得られていない画素は計測値が存在しない無効画素とすることにより三次元合成画像を生成する信頼度優先モードである第一合成モードと、前記対応する画素の少なくとも一方の画素値が得られている画素は、該少なくとも一方の画素値に基づいて当該画素の計測値を得ると共に、前記対応する画素の両方の画素値が得られていない画素は計測値が存在しない無効画素とする三次元合成画像を生成する計測優先モードである第二合成モード
を選択可能な合成モード選択部と、
前記合成画像生成部で合成された三次元合成画像に基づいて検査対象物の外観検査を行うための検査部と、
を備える三次元画像検査装置。 - 請求項1に記載の三次元画像検査装置であって、
前記合成画像生成部は、
前記第一合成モードにおいて、三次元合成画像のノイズ除去処理を行い、
前記第二合成モードにおいて、三次元合成画像の死角除去処理を行う三次元画像検査装置。 - 請求項1又は2に記載の三次元画像検査装置であって、
前記第一入射角度と第二入射角度が、又は前記第一反射角度と第二反射角度が、異なる角度である三次元画像検査装置。 - 請求項1〜3のいずれか一項に記載の三次元画像検査装置であって、
前記合成画像生成部は、
前記第一合成モードでは、前記第一の三次元データ及び第二の三次元データの内、両方が有効データである画素の値を有効画素とし、
前記第二合成モードでは、前記第一の三次元データ及び第二の三次元データの内、いずれか一方でも有効データである画素の値を有効画素とする三次元画像検査装置。 - 請求項1〜4のいずれか一項に記載の三次元画像検査装置であって、
前記第一投受光部及び第二投受光部は、それぞれ三次元データと共に、検査対象物の輝度情報を出力するよう構成してなる三次元画像検査装置。 - 請求項5に記載の三次元画像検査装置であって、
前記輝度情報が輝度プロファイルであり、該輝度プロファイルを連結して輝度画像を生成可能に構成してなる三次元画像検査装置。 - 請求項5又は6に記載の三次元画像検査装置であって、
前記合成画像生成部は、前記第一合成モードにおいて、輝度情報に基づいて、前記第一の三次元データと第二の三次元データの信頼度を決定してなる三次元画像検査装置。 - 請求項5〜7のいずれか一項に記載の三次元画像検査装置であって、
前記合成画像生成部は、第一の三次元データ及び第二の三次元データの対応する画素で共に高さ情報が得られている場合は、輝度情報に基づいて信頼度の高いデータを当該画素の高さ情報とするよう構成してなる三次元画像検査装置。 - 請求項5〜8のいずれか一項に記載の三次元画像検査装置であって、
対応する画素の輝度値の差が所定の閾値よりも大きい場合に、該輝度値の小さい画素の三次元データの信頼度が低いと判定するよう構成してなる三次元画像検査装置。 - 請求項5〜9のいずれか一項に記載の三次元画像検査装置であって、さらに、
前記第一投受光部で得られた第一輝度データと、前記第二投受光部で得られた第二輝度データを合成して、輝度合成画像を生成する輝度画像生成部を備える三次元画像検査装置。 - 請求項1〜10のいずれか一項に記載の三次元画像検査装置であって、
前記第一合成モードにおいて、2つの三次元データの対応する画素で共に高さ情報が得られている場合、信頼度の高いデータを優先的に採用するよう構成してなる三次元画像検査装置。 - 請求項1〜11のいずれか一項に記載の三次元画像検査装置であって、
前記合成画像生成部は、前記第一の三次元データ及び第二の三次元データの対応する画素で共に高さ情報が得られている場合は、2つの高さ情報を平均化するよう構成してなる三次元画像検査装置。 - 請求項1〜12のいずれか一項に記載の三次元画像検査装置であって、
前記合成画像生成部は、第一の三次元データ及び第二の三次元データの対応する画素の高さ情報の差が所定値の場合に、該画素の信頼度が低いと判定するよう構成してなる三次元画像検査装置。 - 請求項1〜13のいずれか一項に記載の三次元画像検査装置であって、さらに、
前記三次元データ生成部で生成された第一の三次元データ、第二の三次元データの座標空間における対応関係を規定した位置調整パラメータを記憶するための記憶部を備え、
前記合成画像生成部は、前記記憶部で記憶された位置調整パラメータに基づいて、第一の三次元データ及び第二の三次元データを合成し、高さ方向の情報を有する三次元合成画像を生成するよう構成されてなる三次元画像検査装置。 - 請求項1〜14のいずれか一項に記載の三次元画像検査装置であって、
前記表示部は、前記合成画像生成部により、
前記第一合成モードで合成された第一の三次元合成画像と、
前記第二合成モードで合成された第二の三次元合成画像を、並べて表示可能としてなる三次元画像検査装置。 - 請求項1〜14のいずれか一項に記載の三次元画像検査装置であって、
前記表示部は、前記第一の三次元データ、前記第二の三次元データを並べて表示可能としてなる三次元画像検査装置。 - 請求項1〜16のいずれか一項に記載の三次元画像検査装置であって、
前記合成画像生成部で合成される三次元合成画像が、高さ方向の情報を各画素の画素値とする高さ画像である三次元画像検査装置。 - 検査対象物の高さ情報を有する三次元合成画像に基づいて外観検査を行う三次元画像検査方法であって、
三次元合成画像を生成する際に、該三次元合成画像を構成する各画素について、前記第一の三次元データ及び前記第二の三次元データ内で対応する画素の画素値が両方とも得られている画素は前記両方の画素値に基づいて当該画素の計測値を得ると共に、前記対応する画素の内、少なくとも一方の画素値が得られていない画素は計測値が存在しない無効画素とすることにより三次元合成画像を生成する信頼度優先モードである第一合成モードと、前記対応する画素の少なくとも一方の画素値が得られている画素は、該少なくとも一方の画素値に基づいて当該画素の計測値を得ると共に、前記対応する画素の両方の画素値が得られていない画素は計測値が存在しない無効画素とする三次元合成画像を生成する計測優先モードである第二合成モードのいずれかの選択を、ユーザに促す工程と、
検査対象物に第一投受光部で測定光を第一入射角度で照射し、第一反射角度で検査対象物から反射される反射光を受光する一方、同じ検査対象物に、第二投受光部で第二入射角度で測定光を照射し、第二反射角度で検査対象物から反射される反射光を受光して、三角測量の原理により、前記第一投受光部から得られた第一受光量データに基づいて第一の三次元データを生成する一方、前記第二投受光部から得られた第二受光量データに基づいて第二の三次元データを生成する工程と、
前記第一の三次元データ及び第二の三次元データを合成し、高さ方向の情報を有する三次元合成画像を生成するに際して、前記第一合成モードと第二合成モードのいずれかの選択に従い、
前記第一合成モードが選択されている場合は、三次元合成画像を構成する各画素について、前記第一投受光部及び第二投受光部の両方で計測がなされた三次元データに基づいて三次元合成画像を生成し、
前記第二合成モードが選択されている場合は、第一投受光部及び第二投受光部のいずれか一方又は両方で計測がなされた三次元データに基づいて三次元合成画像を生成する工程と、
前記合成画像生成部で合成された三次元合成画像を表示部に表示させる工程と、
前記合成された三次元合成画像に基づいて検査対象物の外観検査を行う工程と、
を含む三次元画像検査方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016036443A JP6649802B2 (ja) | 2016-02-26 | 2016-02-26 | 三次元画像検査装置、三次元画像検査方法、三次元画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
US15/418,790 US10508995B2 (en) | 2016-02-26 | 2017-01-30 | Three-dimensional image inspection device, three-dimensional image inspection method, three-dimensional image inspection program, and computer-readable recording medium and recording equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016036443A JP6649802B2 (ja) | 2016-02-26 | 2016-02-26 | 三次元画像検査装置、三次元画像検査方法、三次元画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017151067A JP2017151067A (ja) | 2017-08-31 |
JP6649802B2 true JP6649802B2 (ja) | 2020-02-19 |
Family
ID=59679974
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016036443A Active JP6649802B2 (ja) | 2016-02-26 | 2016-02-26 | 三次元画像検査装置、三次元画像検査方法、三次元画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10508995B2 (ja) |
JP (1) | JP6649802B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6681743B2 (ja) | 2016-02-26 | 2020-04-15 | 株式会社キーエンス | 画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
WO2017162777A1 (de) | 2016-03-22 | 2017-09-28 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung zur 3-dimensionalen vermessung eines objekts, verfahren und computerprogramm |
US20190096057A1 (en) | 2017-05-11 | 2019-03-28 | Jacob Nathaniel Allen | Object inspection system and method for inspecting an object |
US10529082B2 (en) * | 2017-06-20 | 2020-01-07 | Mitutoyo Corporation | Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method |
EP3649460A4 (en) * | 2017-07-07 | 2021-03-24 | Koh Young Technology Inc | DEVICE FOR OPTIMIZING THE EXTERIOR INSPECTION OF A TARGET OBJECT AND METHOD FOR DOING IT |
JP7255323B2 (ja) * | 2018-06-29 | 2023-04-11 | 住友ゴム工業株式会社 | ゴム成形体の検査装置 |
IT201800010374A1 (it) * | 2018-11-15 | 2020-05-15 | Xepics Sa | Metodo e sistema automatico di misura per la misurazione di parametri fisici e dimensionali di articoli combinati. |
JP7246992B2 (ja) * | 2019-03-27 | 2023-03-28 | 株式会社キーエンス | 画像処理装置 |
JP7306867B2 (ja) * | 2019-04-26 | 2023-07-11 | 株式会社キーエンス | 光学式変位計 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5812269A (en) * | 1996-07-29 | 1998-09-22 | General Scanning, Inc. | Triangulation-based 3-D imaging and processing method and system |
EP0916071B1 (en) * | 1996-08-05 | 2003-02-26 | General Scanning, Inc. | Triangulation-based 3d imaging and processing method and system |
US20050243330A1 (en) * | 2004-04-28 | 2005-11-03 | Simon Magarill | Methods and apparatus for determining three dimensional configurations |
US9984474B2 (en) * | 2011-03-04 | 2018-05-29 | General Electric Company | Method and device for measuring features on or near an object |
JP6029394B2 (ja) * | 2012-09-11 | 2016-11-24 | 株式会社キーエンス | 形状測定装置 |
JP6270361B2 (ja) * | 2013-07-16 | 2018-01-31 | 株式会社キーエンス | 三次元画像処理装置、三次元画像処理方法及び三次元画像処理プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体及び記録した機器 |
JP6207283B2 (ja) | 2013-07-31 | 2017-10-04 | 株式会社キーエンス | 画像処理装置、画像処理システム、検査方法およびプログラム |
JP6207282B2 (ja) | 2013-07-31 | 2017-10-04 | 株式会社キーエンス | 画像処理装置、画像処理システム、検査方法およびプログラム |
JP6681743B2 (ja) | 2016-02-26 | 2020-04-15 | 株式会社キーエンス | 画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
-
2016
- 2016-02-26 JP JP2016036443A patent/JP6649802B2/ja active Active
-
2017
- 2017-01-30 US US15/418,790 patent/US10508995B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20170248525A1 (en) | 2017-08-31 |
JP2017151067A (ja) | 2017-08-31 |
US10508995B2 (en) | 2019-12-17 |
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