JP6647700B2 - Interferometer - Google Patents

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Description

本発明は、主に光干渉を用いて被検物を測定する光干渉測定機器に用いられる干渉計に関する。   The present invention relates to an interferometer mainly used for an optical interference measuring device that measures an object using optical interference.

従来より、光干渉を用いて被検物を測定する光干渉測定機器が提供されている。光学部品の配置の自由度が高いことや長い光路長でもコンパクトに構成できることから、光干渉測定機器では特許文献1に開示されているように干渉光を発生させる干渉計の構成に光ファイバを採用する場合が多い。   2. Description of the Related Art Conventionally, there has been provided an optical interference measuring apparatus for measuring a test object using optical interference. The optical interference measuring device employs an optical fiber for the configuration of an interferometer that generates interference light as disclosed in Patent Document 1 because of the high degree of freedom in the arrangement of optical components and the compact configuration even with a long optical path length. Often do.

特許文献1では、波長掃引光源から出力された光を、光ファイバを経由して第1のカプラに導いて測定光と参照光とに分割し、分割した測定光を、光ファイバを経由して被検眼に照射し、被検眼から反射された測定光を第1のカプラを経由して第2のカプラに導き、第1のカプラで分割した参照光を、光ファイバを経由して第2のカプラに導き、第2のカプラに導かれた測定光と参照光とが合波して発生した干渉光を検出器で検出することにより、被検眼の内部の各部位の位置を特定する眼科装置が開示されている。   In Patent Literature 1, light output from a wavelength-swept light source is guided to a first coupler via an optical fiber to be divided into measurement light and reference light, and the divided measurement light is transmitted through an optical fiber. The measurement light reflected from the eye to be inspected is guided to the second coupler via the first coupler, and the reference light split by the first coupler is converted to the second light via the optical fiber. Ophthalmologic apparatus for identifying the position of each part inside the eye to be inspected by detecting with a detector an interference light generated by combining the measurement light and the reference light guided to the second coupler and guided to the second coupler Is disclosed.

特開2015−211732号公報JP-A-2015-21732

光ファイバを用いた干渉計では、光ファイバ内を光が伝播する際に光の一部が散乱して散乱光が発生する。例えば、特許文献1に開示された眼科装置では、参照光が経由する光ファイバ内で生じた散乱光の内、後方へ散乱する後方散乱光が第1のカプラを経由して測定光路に入り込み、その結果、第2のカプラで生成した干渉光に影響し、正確に被検眼の内部の各部位の位置を特定することができなくなる恐れがある。   In an interferometer using an optical fiber, when the light propagates in the optical fiber, part of the light is scattered and scattered light is generated. For example, in the ophthalmologic apparatus disclosed in Patent Document 1, of the scattered light generated in the optical fiber through which the reference light passes, backscattered light scattered backward enters the measurement optical path via the first coupler, As a result, the interference light generated by the second coupler is affected, and it may not be possible to accurately specify the position of each part inside the eye to be inspected.

特に、第1のカプラから第2のカプラまでの参照光路において、第1のカプラから、参照光路における第1のカプラから第2のカプラまでの光路長から測定光路における第1のカプラから第2のカプラまでの光路長を差し引いた光路長の1/2の位置で生じる参照光の後方散乱光と参照光とが強く干渉するため、該位置からの後方散乱光を抑止する必要がある。   In particular, in the reference optical path from the first coupler to the second coupler, from the first coupler to the optical path length from the first coupler to the second coupler in the reference optical path to the second coupler from the first coupler in the measurement optical path. Since the backscattered light of the reference light and the reference light generated at a position 1 / of the optical path length obtained by subtracting the optical path length to the coupler strongly interfere with the reference light, it is necessary to suppress the backscattered light from the position.

以上説明した事情を背景とし、本発明は、参照光路と測定光路とを有する干渉計であって、参照光路の光ファイバ内で発生した後方散乱光が測定光路に入り込むことを抑止することができるものを提供することを課題とする。   In view of the circumstances described above, the present invention is an interferometer having a reference optical path and a measurement optical path, and can suppress backscattered light generated in the optical fiber of the reference optical path from entering the measurement optical path. The task is to provide things.

その課題を解決するために、本発明の一側面によれば、光源から出射した光を測定光と参照光とに分割する第1の光分岐部と、
その第1の光分岐部から出射した測定光であって被検物に照射された後にその被検物で反射したものと、前記第1の光分岐部から出射した参照光とを合波して干渉光を生成する第2の光分岐部と、
前記第1の光分岐部から出射した測定光を前記第2の光分岐部に導くためにそれら第1および第2の光分岐部を互いに接続する測定光路であって第1の光ファイバを用いて製作されるとともに測定光路長Xを有するものと、
前記第1の光分岐部から出射した参照光を前記第2の光分岐部に導くためにそれら第1および第2の光分岐部を互いに接続する参照光路であって第2の光ファイバを用いて製作されるとともに参照光路長Yを有するものと、
前記生成された干渉光を受光して差動増幅するバランス検出器と
を含む干渉計であって、
前記参照光が前記参照光路内を前記第1の光分岐部から前記第2の光分岐部に向かって伝播中にそれとは逆向きに後方散乱光が発生し、
前記測定光路および前記参照光路は、前記測定光路長Xと前記参照光路長Yとの間に予め定められた関係を利用することにより、前記参照光路内において発生した後方散乱光が前記第1の光分岐部を経て前記測定光路内に進入することを抑制するように構成され
さらに、前記被検物のうち、選択される測定対象部位が前記被検物の深さ方向に移動するにつれて前記参照光の光路長を変更する光路長変更器を含む干渉計が提供される。
この干渉計の一例は、さらに、前記バランス検出器から入力された干渉信号に基づき、前記被検物の各部位の深さ方向位置を特定する演算装置を含んでもよい。
また、本発明の別の側面によれば、光源から出射した光を測定光と参照光とに分割する第1の光分岐部であって、当該第1の光分岐部から出射した測定光は被検物に照射された後に前記被検物で反射して当該第1の光分岐部に戻ってその第1の光分岐部から出射するものと、
前記被検物で反射した後に前記第1の光分岐部から出射した測定光と前記第1の光分岐部から出射した参照光とを合波して干渉光を生成する第2の光分岐部と、
前記第1の光分岐部から出射した参照光を前記第2の光分岐部に導くためにそれら第1および第2の光分岐部を互いに接続する光ファイバと、
その光ファイバに接続された光学素子と
を含む干渉計であって、
前記光学素子は、前記光ファイバに、前記測定光が前記光ファイバとは別の経路を経由して前記第1の光分岐部から前記第2の光分岐部に至る測定光路の長さをX、前記参照光が前記光ファイバを経由して前記第1の光分岐部から前記第2の光分岐部に至る参照光路の長さをYとした場合に(Y−X)/2で表される値を超えない距離だけ前記第1の光分岐部から前記第2の光分岐部に向かって離れた位置に接続された干渉計が提供される。
また、本発明のさらに別の側面によれば、干渉計であって、光源から出力された光を、第1の光分岐部に導いて測定光と参照光とに分割し、分割した測定光を被検物に照射し、被検物から反射した測定光を第1の光分岐部を経由して第2の光分岐部に導き、第1の光分岐部で分割した参照光を、光ファイバを経由して第2の光分岐部に導き、第2の光分岐部に導かれた測定光と参照光とが合波して干渉光を生成する干渉計において、参照光が、第1の光分岐部から光ファイバを経由して第2の光分岐部に至る経路に後方散乱光除去部を有するものが提供される。

In order to solve the problem, according to one aspect of the present invention, a first light splitting unit that splits light emitted from a light source into measurement light and reference light,
The measurement light emitted from the first light branching portion, which is irradiated on the test object and then reflected by the test object, and the reference light emitted from the first light branching portion are multiplexed. A second optical branching unit for generating interference light,
A first optical fiber that connects the first and second optical splitters to each other in order to guide the measurement light emitted from the first optical splitter to the second optical splitter; And having a measurement optical path length X;
A reference optical path connecting the first and second optical splitters to each other to guide the reference light emitted from the first optical splitter to the second optical splitter, and using a second optical fiber; And having a reference optical path length Y;
A balance detector that receives the generated interference light and differentially amplifies the interference light.
While the reference light propagates in the reference light path from the first light branching portion toward the second light branching portion, backscattered light is generated in a direction opposite to the propagation direction,
The measurement light path and the reference light path use a predetermined relationship between the measurement light path length X and the reference light path length Y, so that the backscattered light generated in the reference light path is the first light path. It is configured to suppress entering into the measurement optical path via an optical branching unit ,
Further, there is provided an interferometer including an optical path length changer that changes an optical path length of the reference light as a selected measurement target portion of the test object moves in a depth direction of the test object .
An example of the interferometer may further include a calculation device that specifies a position in a depth direction of each part of the test object based on the interference signal input from the balance detector .
According to another aspect of the present invention, the first light splitting unit splits light emitted from the light source into measurement light and reference light, and the measurement light emitted from the first light splitting unit is After being irradiated on the test object, reflected by the test object, returned to the first optical branching section, and emitted from the first optical branching section;
A second light branching unit that combines the measurement light emitted from the first light branching unit after being reflected by the test object and the reference light emitted from the first light branching unit to generate interference light When,
An optical fiber connecting the first and second optical splitters to each other to guide the reference light emitted from the first optical splitter to the second optical splitter;
And an optical element connected to the optical fiber.
The optical element is configured such that a length of a measurement optical path from the first optical branching section to the second optical branching section through which the measuring light passes through a path different from the optical fiber is X. When the length of the reference light path from the first optical branching section to the second optical branching section via the optical fiber is Y, the reference light is represented by (YX) / 2. An interferometer connected at a distance from the first optical branch to the second optical branch by a distance not exceeding a predetermined value.
According to still another aspect of the present invention, there is provided an interferometer, wherein light output from a light source is guided to a first optical branching unit to be divided into measurement light and reference light. Is irradiated on the test object, the measurement light reflected from the test object is guided to the second light splitting unit via the first light splitting unit, and the reference light split by the first light splitting unit is converted into light. In the interferometer, which is guided to the second optical branching unit via the fiber, and the measurement light and the reference light guided to the second optical branching unit are combined to generate interference light, the reference light is converted to the first light. Provided with a backscattered light removing unit on the path from the optical branching unit to the second optical branching unit via the optical fiber.

本発明によれば、少なくとも一部を光ファイバで構成する参照光路において、光ファイバ内で生じた散乱光の内、後方へ散乱する後方散乱光が測定光路に入り込むことを抑止することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, in the reference optical path which comprises at least one part with an optical fiber, it can suppress that the backscattered light scattered backward among the scattered lights produced in the optical fiber enters into the measurement optical path.

本発明に係る第1実施形態の干渉計を用いた眼科装置の光学系の概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram of an optical system of an ophthalmologic apparatus using an interferometer according to a first embodiment of the present invention. 本発明に係る第1実施形態の干渉計を採用した眼科装置の制御系のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of a control system of the ophthalmologic apparatus employing the interferometer according to the first embodiment of the present invention. 第1実施形態に係る眼科装置の処理手順の一例を示すフローチャートである。5 is a flowchart illustrating an example of a processing procedure of the ophthalmologic apparatus according to the first embodiment. 干渉光学系で検出した干渉信号をフーリエ変換して被検眼の対象部位を特定する手順を示した図である。FIG. 4 is a diagram illustrating a procedure for performing Fourier transform on an interference signal detected by an interference optical system to specify a target portion of an eye to be inspected. 0点調整機構の機能を説明するための図である。It is a figure for explaining the function of a zero point adjustment mechanism. 本発明に係る第2実施形態の干渉計を採用した眼科装置の光学系の概略構成図である。It is a schematic structure figure of an optical system of an ophthalmologic apparatus which adopted an interferometer of a 2nd embodiment concerning the present invention. 本発明に係る第3実施形態の干渉計を採用した眼科装置の光学系の概略構成図である。It is a schematic structure figure of an optical system of an ophthalmologic apparatus which adopted an interferometer of a 3rd embodiment concerning the present invention.

[第1の実施形態]
以下、本発明の第1の実施形態に係る干渉計100を用いた眼科装置1について図面を参照しながら説明する。尚、本実施形態では、光干渉を用いて被検眼内部の測定対象部位(例えば、水晶体、網膜など)の位置を特定する眼科装置について詳述するが、本発明にかかる干渉計は、眼科装置1のような眼科装置に限定するものではなく、光干渉を用いて被検物を測定する光干渉測定機器であれば、採用することが可能である。
[First Embodiment]
Hereinafter, an ophthalmologic apparatus 1 using an interferometer 100 according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In the present embodiment, an ophthalmologic apparatus that specifies the position of a measurement target portion (for example, a crystalline lens, a retina, or the like) inside an eye to be inspected by using optical interference will be described in detail. However, the present invention is not limited to the ophthalmologic apparatus as described above, and any optical interference measuring apparatus that measures an object using optical interference can be employed.

図1は眼科装置1の光学系の概略構成を説明する図である。図1に示すように、眼科装置1の光学系10は、被検眼Eから反射される測定光と参照光とを干渉させる光干渉光学系20と、被検眼Eの前眼部を観察する観察光学系50(図2に図示)と、被検眼Eに対して光学系10を所定の位置関係にアライメントするためのXYZアライメント光学系60(図2に図示)と、被検眼Eを固視させる固視光学系(図示しない)などとから構成される。観察光学系50、XYZアライメント光学系60および固視光学系は、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な説明は省略する。ここで、図1に示すように、本発明の第1の実施形態に係る干渉計100にバランス検出器120を含めたものを光干渉光学系20と記述する。   FIG. 1 is a diagram illustrating a schematic configuration of an optical system of the ophthalmologic apparatus 1. As shown in FIG. 1, an optical system 10 of the ophthalmologic apparatus 1 includes an optical interference optical system 20 that causes measurement light reflected from the eye E to interfere with reference light, and observation for observing an anterior eye of the eye E. The optical system 50 (shown in FIG. 2), the XYZ alignment optical system 60 (shown in FIG. 2) for aligning the optical system 10 with the eye E in a predetermined positional relationship, and the eye E are fixed. It comprises a fixation optical system (not shown) and the like. As the observation optical system 50, the XYZ alignment optical system 60, and the fixation optical system, those used in a known ophthalmic apparatus can be used, and thus detailed description thereof will be omitted. Here, as shown in FIG. 1, an interferometer 100 according to the first embodiment of the present invention including a balance detector 120 is referred to as an optical interference optical system 20.

光干渉光学系20は、光源101と、光源101からの光をビームスプリッタ102により分岐した一方の光を測定光として被検眼Eの内部に照射すると共にその反射光(測定光)をビームスプリッタ102を経由してビームスプリッタ103に導く測定光学系と、光源101からの光をビームスプリッタ102により分岐した他方の光を参照光としてビームスプリッタ103に導く参照光学系と、ビームスプリッタ103に導かれた測定光と参照光とをビームスプリッタ103により合波して発生した干渉光を受光するバランス検出器120とによって構成されている。   The light interference optical system 20 irradiates the inside of the eye E with the light source 101 and one of the lights split from the light source 101 by the beam splitter 102 as measurement light, and reflects the reflected light (measurement light) into the beam splitter 102. And a reference optical system that guides the light from the light source 101 to the beam splitter 103 as reference light, and a reference optical system that guides the other light branched by the beam splitter 102 to the beam splitter 103 via the beam splitter 103. It comprises a balance detector 120 for receiving interference light generated by multiplexing the measurement light and the reference light by the beam splitter 103.

光源101は、波長掃引型の光源であり、出射される光の波長が所定の周期で変化するようになっている。光源101から出射される光の波長が変化すると、出射される光の波長に対応して、被験眼Eの各部位から反射される光と参照光との干渉光の強弱が変化する。強弱の変化の周波数は、反射光の反射位置の深さの方向の位置に依存している。このため、出射される光の波長を変化させながら干渉光を測定することで、被検眼Eの内部の各部位(すなわち、角膜E0、水晶体E1や網膜E2)の位置を特定することが可能となる。   The light source 101 is a wavelength-swept light source, and the wavelength of emitted light changes at a predetermined cycle. When the wavelength of the light emitted from the light source 101 changes, the intensity of the interference light between the light reflected from each part of the eye E and the reference light changes in accordance with the wavelength of the emitted light. The frequency of the intensity change depends on the position in the depth direction of the reflection position of the reflected light. Therefore, by measuring the interference light while changing the wavelength of the emitted light, it is possible to specify the position of each part (that is, the cornea E0, the lens E1, and the retina E2) inside the eye E to be examined. Become.

測定光学系は、ビームスプリッタ102と、対物レンズ108と、コリメータレンズ109 と、光ファイバ105と、コリメータレンズ113と、ビームスプリッタ103とによって構成されている。光源101から出射された光は、ビームスプリッタ102で分岐した反射光を測定光として、対物レンズ108を介して被検眼Eに照射される。被検眼Eから反射された測定光 は、再度ビームスプリッタ102に入射し、透過した測定光はコリメータレンズ109、光ファイバ105およびコリメータレンズ113を介してビームスプリッタ103に導かれる。   The measurement optical system includes a beam splitter 102, an objective lens 108, a collimator lens 109, an optical fiber 105, a collimator lens 113, and a beam splitter 103. The light emitted from the light source 101 is applied to the eye E via the objective lens 108 with the reflected light branched by the beam splitter 102 as measurement light. The measurement light reflected from the subject's eye E enters the beam splitter 102 again, and the transmitted measurement light is guided to the beam splitter 103 via the collimator lens 109, the optical fiber 105, and the collimator lens 113.

参照光学系は、ビームスプリッタ102と、コリメータレンズ110と、光ファイバ106と、コリメータレンズ111と、0点調整機構30と、コリメータレンズ112と、光ファイバ107と、コリメータレンズ114と、ビームスプリッタ103とによって構成されている。光源101から出射された光は、ビームスプリッタ102で分岐した透過光を参照光として、コリメータレンズ110、光ファイバ106、コリメータレンズ111、0点調整機構30、コリメータレンズ112、光ファイバ107およびコリメータレンズ114を介してビームスプリッタ103に導かれる。   The reference optical system includes a beam splitter 102, a collimator lens 110, an optical fiber 106, a collimator lens 111, a zero-point adjustment mechanism 30, a collimator lens 112, an optical fiber 107, a collimator lens 114, and a beam splitter 103. And is constituted by. The light emitted from the light source 101 is a collimator lens 110, an optical fiber 106, a collimator lens 111, a zero-point adjustment mechanism 30, a collimator lens 112, an optical fiber 107, and a collimator lens, using the transmitted light branched by the beam splitter 102 as reference light. The light is guided to the beam splitter 103 via 114.

ビームスプリッタ103に導かれた測定光と参照光とがビームスプリッタ103において合波し、発生した干渉光は、コリメータレンズ115と光ファイバ117、および、コリメータレンズ116と光ファイバ118を介してバランス検出器120に導かれる。バランス検出器120に導かれた干渉光は、バランス検出器120内で差動増幅されて演算装置80に入力される。本実施形態では、干渉光の検出にバランス検出器120を用いているが、干渉光の検出はこれに限定するものではなく、例えば、フォトダイオードを用いることができる。   The measurement light and the reference light guided to the beam splitter 103 are combined in the beam splitter 103, and the generated interference light is detected for balance through the collimator lens 115 and the optical fiber 117 and the collimator lens 116 and the optical fiber 118. It is led to the vessel 120. The interference light guided to the balance detector 120 is differentially amplified in the balance detector 120 and input to the arithmetic unit 80. In the present embodiment, the balance detector 120 is used for detecting the interference light, but the detection of the interference light is not limited to this. For example, a photodiode can be used.

次に、参照光学系に設けられる0点調整機構30について説明する。0点調整機構30は、コーナキューブ104と、コーナキューブ104をコリメータレンズ111、112に対して進退動させる第1駆動装置81(図2に図示)を備えている。第1駆動装置81がコーナキューブ104を図1の矢印Aの方向に駆動することで、ビームスプリッタ102からビームスプリッタ103に至る光路長(すなわち、参照光学系の参照光路長)が変化する。ここで説明する0点とは図5に示すように、参照光路長(詳細には、ビームスプリッタ102〜0点調整機構30〜ビームスプリッタ103)と測定光路長(詳細には、ビームスプリッタ102〜0点〜ビームスプリッタ102〜ビームスプリッタ103)が一致する位置であり、干渉光を用いた測定装置ではこの0点を基準に深さ方向(本実施例では被検眼Eの網膜E2方向)の干渉信号を取得する。すなわち、図5に示すように、測定光路におけるビームスプリッタ102からビームスプリッタ103に至る光路長をX、ビームスプリッタ102から0点までの光路長をdとすると、測定光路長は2d+Xとなる。参照光路長はYであるため、図5においては、Y=2d+Xとなる。   Next, the zero-point adjusting mechanism 30 provided in the reference optical system will be described. The zero-point adjusting mechanism 30 includes a corner cube 104 and a first driving device 81 (shown in FIG. 2) that moves the corner cube 104 forward and backward with respect to the collimator lenses 111 and 112. The first drive device 81 drives the corner cube 104 in the direction of arrow A in FIG. 1 to change the optical path length from the beam splitter 102 to the beam splitter 103 (that is, the reference optical path length of the reference optical system). The zero point described here is, as shown in FIG. 5, the reference optical path length (specifically, the beam splitter 102 to the zero point adjustment mechanism 30 to the beam splitter 103) and the measurement optical path length (specifically, the beam splitter 102 to This is a position where point 0 to the beam splitter 102 to beam splitter 103) coincide with each other. In a measuring apparatus using interference light, the interference in the depth direction (in this embodiment, the direction of the retina E2 of the eye E to be examined) is based on the point 0. Get the signal. That is, as shown in FIG. 5, when the optical path length from the beam splitter 102 to the beam splitter 103 in the measurement optical path is X, and the optical path length from the beam splitter 102 to the zero point is d, the measurement optical path length is 2d + X. Since the reference optical path length is Y, in FIG. 5, Y = 2d + X.

本実施形態のように被検眼Eの角膜E0から網膜E2までの測定を行う場合は、通常、図5に示すように、被検眼Eの角膜E0の少し手前の位置(図5に示す被検眼EからΔZ前方の位置) に0点が来るように0点調整機構30により調整される。尚、本実施例における0点調整機構30は、0点の位置を角膜E0表面から網膜E2表面までの距離で移動できるように構成されている。   When the measurement from the cornea E0 to the retina E2 of the eye E is performed as in the present embodiment, usually, as shown in FIG. 5, a position slightly before the cornea E0 of the eye E (the eye to be inspected shown in FIG. 5). The position is adjusted by the zero point adjusting mechanism 30 so that the zero point comes to the position (ΔZ forward from E). Note that the zero point adjustment mechanism 30 in the present embodiment is configured so that the position of the zero point can be moved by the distance from the surface of the cornea E0 to the surface of the retina E2.

次に、本実施形態の眼科装置1の制御系の構成を説明する。図2に示すように、眼科装置1は演算装置80によって制御される。演算装置80は、(図示しない)CPU、ROM、RAM等からなるマイクロコンピュータ(マイクロプロセッサ)によって構成されている。演算装置80には、光干渉光学系20と、観察光学系50と、XYZアライメント光学系60と、固視光学系(図示しない)と、第1駆動装置81と、モニタ5と、メモリ6と、ジョイスティック7とが接続されている。演算装置80は、光干渉光学系20、観察光学系50、XYZアライメント光学系60や固視光学系(図示しない)の各光学系の光源(光源101など)のオン/オフの制御や、0点調整機構30を駆動する、第1駆動装置81の制御を行う。また、観察光学系50を制御して観察光学系50で撮像される被検眼Eの前眼部の画像をモニタ5に表示する。さらに、演算装置80は、光干渉光学系20のバランス検出器120が接続され、バランス検出器120で検出される干渉光の強度に応じた干渉信号が入力される。演算装置80は、バランス検出器120から入力される干渉信号をフーリエ変換することによって、被検眼Eの各部位(角膜E0の前後面、水晶体E1の前後面、網膜E2の表面)の位置を特定し、被検眼Eの眼軸長を算出する。   Next, the configuration of the control system of the ophthalmologic apparatus 1 of the present embodiment will be described. As shown in FIG. 2, the ophthalmologic apparatus 1 is controlled by the arithmetic unit 80. The arithmetic unit 80 is configured by a microcomputer (microprocessor) including a CPU (not shown), a ROM, a RAM, and the like. The arithmetic unit 80 includes an optical interference optical system 20, an observation optical system 50, an XYZ alignment optical system 60, a fixation optical system (not shown), a first driving device 81, a monitor 5, a memory 6, , And the joystick 7 are connected. The arithmetic unit 80 controls ON / OFF of the light source (light source 101 and the like) of each optical system of the optical interference optical system 20, the observation optical system 50, the XYZ alignment optical system 60, and the fixation optical system (not shown). The first driving device 81 that drives the point adjustment mechanism 30 is controlled. Further, the observation optical system 50 is controlled to display an image of the anterior segment of the eye E to be inspected, which is captured by the observation optical system 50, on the monitor 5. Further, the arithmetic unit 80 is connected to the balance detector 120 of the optical interference optical system 20, and receives an interference signal corresponding to the intensity of the interference light detected by the balance detector 120. The arithmetic unit 80 specifies the position of each part of the eye E (the front and back surfaces of the cornea E0, the front and back surfaces of the crystalline lens E1, and the surface of the retina E2) by Fourier transforming the interference signal input from the balance detector 120. Then, the axial length of the eye E is calculated.

次に、本実施形態の眼科装置1を用いて、被検眼Eの各部位の位置を特定して眼寸法を測定する手順を、図3を参照して説明する。図3は、本実施形態の眼科装置1の処理手順の一例を示すフローチャートである。   Next, a procedure for specifying the position of each part of the eye E and measuring the eye size using the ophthalmologic apparatus 1 of the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a flowchart illustrating an example of a processing procedure of the ophthalmologic apparatus 1 of the present embodiment.

まず、ステップS10で、被検眼Eに対して光学系10を所定の位置関係にアライメントするXYZアライメントを実施する。XYZアライメントは、XYZアライメント光学系60を用いて実施する。まず、ジョイスティック7を操作して被検眼Eに対して光学系10を粗アライメントし、その後、XYZアライメント光学系60から出力される検出信号に基づいて、図示しないX軸駆動装置、Y軸駆動装置、Z軸駆動装置により、被検眼Eに対して光学系10をXYZ方向にオートアライメントする。   First, in step S10, XYZ alignment for aligning the optical system 10 with the eye E to be inspected in a predetermined positional relationship is performed. The XYZ alignment is performed using the XYZ alignment optical system 60. First, the joystick 7 is operated to roughly align the optical system 10 with the eye E to be inspected. Thereafter, based on a detection signal output from the XYZ alignment optical system 60, an X-axis driving device and a Y-axis driving device (not shown) The optical system 10 is automatically aligned in the XYZ directions with respect to the eye E by the Z-axis driving device.

次に、ステップS11で、0点位置を調整する。0点位置の調整は、上述のように、0点位置が被検眼EからΔZの前方位置に来るように0点調整機構30を制御する。その後、被検眼Eの測定を開始する。   Next, in step S11, the zero point position is adjusted. As described above, the zero-point position is adjusted by controlling the zero-point adjustment mechanism 30 so that the zero-point position is located at a position in front of the subject's eye E by ΔZ. After that, the measurement of the eye E is started.

ステップS12で、被検眼Eの干渉信号を取得する。被検眼Eの干渉信号は、上述にように、光干渉光学系20のバランス検出器120で検出し、演算装置80に入力される。   In step S12, an interference signal of the eye E is acquired. As described above, the interference signal of the eye E is detected by the balance detector 120 of the light interference optical system 20, and is input to the arithmetic unit 80.

ステップS13で、演算装置80に入力された干渉信号をフーリエ変換する。そして、ステップS14で、フーリエ変換されたデータ(「Aスキャン像」と呼ぶ)から、被検眼Eの対象部位(例えば、角膜E0、水晶体E1、網膜E2など)を特定し、各眼寸法値を算出し、ステップS15で、ステップS14で算出した各眼寸法値をモニタ5の表示画面に表示する。尚、図4は、バランス検出器120で検出した干渉信号をフーリエ変換して被検眼Eの対象部位(例えば、角膜E0、水晶体E1、網膜E2など)を特定する手順を示した図である。   In step S13, the interference signal input to the arithmetic unit 80 is Fourier-transformed. Then, in step S14, the target site (for example, cornea E0, crystalline lens E1, retina E2, etc.) of the eye E to be examined is specified from the Fourier-transformed data (referred to as “A-scan image”), Then, in step S15, each eye dimension value calculated in step S14 is displayed on the display screen of the monitor 5. FIG. 4 is a diagram showing a procedure for specifying a target site (for example, cornea E0, crystalline lens E1, retina E2, etc.) of eye E by subjecting the interference signal detected by balance detector 120 to Fourier transform.

ここで、本実施形態に係る光干渉光学系20では、上述のように、参照光路には、光ファイバ106および光ファイバ107が用いられているため、光ファイバ内を参照光が伝播する際に光ファイバ内で伝播する参照光の一部が散乱して散乱光を発生させる。参照光が経由する光ファイバ内で生じた散乱光の内、後方へ散乱する後方散乱光がビームスプリッタ102を経由して測定光路に入り込み、その結果、ビームスプリッタ103で生成した干渉光に影響し、被検眼Eの内部の各部位の位置を正確に特定することができなくなる恐れがある。   Here, in the optical interference optical system 20 according to the present embodiment, as described above, since the optical fiber 106 and the optical fiber 107 are used in the reference optical path, when the reference light propagates in the optical fiber, Part of the reference light propagating in the optical fiber is scattered to generate scattered light. Of the scattered light generated in the optical fiber through which the reference light passes, the backscattered light scattered backward enters the measurement optical path via the beam splitter 102, and as a result, affects the interference light generated by the beam splitter 103. However, there is a possibility that the position of each part inside the eye E cannot be specified accurately.

図1に示すように、測定光学系において、ビームスプリッタ102からビームスプリッタ103へ至る光路長をX、参照光学系において、ビームスプリッタ102から0点調整機構30を介してビームスプリッタ103へ至る光路長をYとした場合、参照光路においてビームスプリッタ102からビームスプリッタ103に向けて(Y−X)/2の位置(P1)は、測定光学系において0点の位置と同一となることから、この位置において光ファイバ内で生じる参照光の後方散乱光がビームスプリッタ102を経由して測定光路に入り込むとビームスプリッタ103で生成した干渉光に大きく影響する。すなわち、参照光路において、P1の位置で発生する後方散乱光を抑止することが重要となる。本実施形態では、図1に示すように、P1の位置に(光ファイバを用いない)フリースペースで構成された0点調整機構30を配置することにより、P1の位置において後方散乱光が発生することを抑止することができる。これにより、ビームスプリッタ103で生成した干渉光において後方散乱光の影響を抑止することができるため、被検眼Eの内部の各部位の位置を正確に特定することができるようになる。   As shown in FIG. 1, the optical path length from the beam splitter 102 to the beam splitter 103 in the measurement optical system is X, and the optical path length from the beam splitter 102 to the beam splitter 103 via the zero point adjustment mechanism 30 in the reference optical system. Is Y, the position (P1) of (Y−X) / 2 from the beam splitter 102 to the beam splitter 103 in the reference optical path is the same as the position of the zero point in the measurement optical system. When the backscattered light of the reference light generated in the optical fiber enters the measurement optical path via the beam splitter 102, it greatly affects the interference light generated by the beam splitter 103. That is, it is important to suppress backscattered light generated at the position P1 in the reference light path. In the present embodiment, as shown in FIG. 1, the backscattered light is generated at the position of P1 by arranging the zero-point adjusting mechanism 30 composed of a free space (not using an optical fiber) at the position of P1. Can be suppressed. Accordingly, the influence of the backscattered light in the interference light generated by the beam splitter 103 can be suppressed, so that the position of each part inside the eye E can be accurately specified.

[第2の実施形態]
次に、本発明の第2の実施形態に係る干渉計200を用いた眼科装置2について図面を参照しながら説明する。
[Second embodiment]
Next, an ophthalmologic apparatus 2 using an interferometer 200 according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図6は、本発明に係る第2実施形態の干渉計200を採用した眼科装置2の光学系11の概略構成図である。干渉計200では、ビームスプリッタ102からビームスプリッタ103へ至る参照光路には、光ファイバ131と光ファイバ132との間に光アイソレータ130が配置されている。光アイソレータ130は、一方の方向に進む光は透過し、逆方向に進む光を遮断する特性を持つ光学素子である。本実施形態では、ビームスプリッタ102からビームスプリッタ103へ進む参照光は透過し、逆にビームスプリッタ103からビームスプリッタ102へ進む参照光は遮断するように光アイソレータ130が配置されている。図6に示すように、測定光学系において、ビームスプリッタ102からビームスプリッタ103へ至る光路長をX、参照光学系において、ビームスプリッタ102からビームスプリッタ103へ至る光路長をYとした場合、参照光路においてビームスプリッタ102からビームスプリッタ103に向けて(Y−X)/2の位置(P2)を超えない位置に光アイソレータ130が配置されている。これにより、測定光学系において0点の位置と同一となるP2の位置を含む光ファイバ132内で発生する後方散乱光を光アイソレータ130で遮断することから、ビームスプリッタ102を経由して測定光路に入り込むことを抑止することができる。すなわち、ビームスプリッタ103で生成した干渉光において特に影響が大きいP2の位置で発生する後方散乱光の影響を抑止することができるため、被検眼Eの内部の各部位の位置を正確に特定することができるようになる。   FIG. 6 is a schematic configuration diagram of the optical system 11 of the ophthalmologic apparatus 2 employing the interferometer 200 according to the second embodiment of the present invention. In the interferometer 200, an optical isolator 130 is disposed between an optical fiber 131 and an optical fiber 132 on a reference optical path from the beam splitter 102 to the beam splitter 103. The optical isolator 130 is an optical element having a characteristic of transmitting light traveling in one direction and blocking light traveling in the opposite direction. In the present embodiment, the optical isolator 130 is arranged so that reference light traveling from the beam splitter 102 to the beam splitter 103 is transmitted, and conversely, reference light traveling from the beam splitter 103 to the beam splitter 102 is blocked. As shown in FIG. 6, when the optical path length from the beam splitter 102 to the beam splitter 103 in the measurement optical system is X, and the optical path length from the beam splitter 102 to the beam splitter 103 in the reference optical system is Y, the reference optical path The optical isolator 130 is disposed at a position not exceeding the position (P2) of (YX) / 2 from the beam splitter 102 to the beam splitter 103 in FIG. As a result, the backscattered light generated in the optical fiber 132 including the position of P2 which is the same as the position of the zero point in the measurement optical system is blocked by the optical isolator 130, so that the light is transmitted to the measurement optical path via the beam splitter 102. Intrusion can be suppressed. That is, it is possible to suppress the influence of the backscattered light generated at the position P2 where the influence is particularly large in the interference light generated by the beam splitter 103. Therefore, the position of each part inside the eye E can be accurately specified. Will be able to

[第3の実施形態]
次に、本発明の第3の実施形態に係る干渉計300を用いた眼科装置3について図面を参照しながら説明する。
[Third Embodiment]
Next, an ophthalmologic apparatus 3 using an interferometer 300 according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図7は、本発明に係る第3実施形態の干渉計300を採用した眼科装置3の光学系12の概略構成図である。上記第1の実施形態や第2の実施形態では、光を分岐する分岐部材にビームスプリッタ102および103を採用したが、図7に示すように、干渉計300では、ビームスプリッタ102および103の代わりにファイバカプラ201および202を採用する。本発明に係る眼科装置のように光ファイバを用いて干渉計を構成する場合、干渉計300のように、光分岐部にファイバカプラを用いることにより、干渉計を簡易に組み付けることができる。   FIG. 7 is a schematic configuration diagram of the optical system 12 of the ophthalmologic apparatus 3 employing the interferometer 300 according to the third embodiment of the present invention. In the above-described first and second embodiments, the beam splitters 102 and 103 are employed as branch members for splitting light. However, as shown in FIG. 7, in the interferometer 300, instead of the beam splitters 102 and 103, The fiber couplers 201 and 202 are adopted. When an interferometer is configured using an optical fiber as in the ophthalmologic apparatus according to the present invention, the interferometer can be easily assembled by using a fiber coupler in the optical branching unit as in the interferometer 300.

ここで、干渉計100、200および300は干渉計の一例であり、光源101は光源の一例であり、ビームスプリッタ102およびファイバカプラ201は第1の光分岐部の一例であり、ビームスプリッタ103およびファイバカプラ202は第2の光分岐部の一例であり、0点調整機構30はフリースペースの一例であり、光アイソレータ130は光学素子の一例である。   Here, the interferometers 100, 200, and 300 are examples of an interferometer, the light source 101 is an example of a light source, the beam splitter 102 and the fiber coupler 201 are examples of a first optical splitter, and the beam splitter 103 The fiber coupler 202 is an example of a second optical branching unit, the zero point adjustment mechanism 30 is an example of a free space, and the optical isolator 130 is an example of an optical element.

以上、本発明の実施形態について詳述してきたが、これらはあくまでも例示であって、本発明はかかる実施形態における具体的な記載によって、何等、限定的に解釈されるものでなく、当業者の知識に基づいて種々なる変更、修正、改良等を加えた態様において実施され得るものであり、また、そのような実施態様が、本発明の趣旨を逸脱しない限り、何れも、本発明の範囲内に含まれるものであることが、理解されるべきである。   As described above, the embodiments of the present invention have been described in detail. However, these are merely examples, and the present invention is not to be construed as being limited in any way by the specific description in the embodiments, and is not limited to those skilled in the art. Various changes, modifications, improvements, and the like can be performed based on knowledge, and any such embodiments are within the scope of the present invention unless departing from the spirit of the present invention. Should be understood to be included in

例えば、上記実施形態の干渉計100、200および300では、フーリエドメイン型の光干渉断層計(Optical Coherence Tomography、以下「OCT」と表記する。)の1つである、光源101に波長掃引型光源を用いたSS−OCTを採用したものである。しかしながら、本発明に係る干渉計はSS−OCTに限定するものではなく、他のフーリエドメイン型のOCTであるスペクトルドメインOCT(SD−OCT)であってもよいし、タイムドメイン型のOCTであってもよい。   For example, in the interferometers 100, 200, and 300 of the above embodiment, the light source 101, which is one of Fourier-domain optical coherence tomography (hereinafter referred to as “OCT”), has a wavelength-swept light source. In this case, SS-OCT using the above is adopted. However, the interferometer according to the present invention is not limited to the SS-OCT, but may be a spectrum domain OCT (SD-OCT), which is another Fourier domain type OCT, or a time domain type OCT. You may.

また、上記第2の実施形態に係る干渉計200において、光アイソレータ130を採用したが、参照光路に配置して光ファイバ内で発生する後方散乱光を遮断する光学素子は光アイソレータに限定するものではなく、光減衰器や光サーキュレータなどを採用してもよい。   In the interferometer 200 according to the second embodiment, the optical isolator 130 is employed, but the optical element that is disposed in the reference optical path and blocks backscattered light generated in the optical fiber is limited to the optical isolator. Instead, an optical attenuator or an optical circulator may be employed.

また、2つの光分岐部のうち少なくとも一方を光ファイバ以外で構成してもよい。上記第1の実施形態のように、干渉計の光学系の一部がフリースペースで構成されている場合は光分岐部においても光ファイバで構成しない方が簡易に構成することができるため、コストを安価にすることができる。   In addition, at least one of the two optical branching units may be configured with an optical fiber. As in the first embodiment, when a part of the optical system of the interferometer is configured with free space, the optical branching section can be simply configured without using an optical fiber. Can be inexpensive.

また、上記第1の実施形態に係る干渉計100において、P1の位置に0点調整機構30を配置したが、本発明の権利範囲は0点調整機構を配置した構成に限定されるものではなく、P1の位置を中心とする所定の範囲がフリースペースとなる別の機構を配置してもよい。   In the interferometer 100 according to the first embodiment, the zero-point adjusting mechanism 30 is arranged at the position P1, but the scope of the present invention is not limited to the configuration in which the zero-point adjusting mechanism is arranged. , P1 may be provided with another mechanism in which a predetermined range around the position becomes a free space.

また、ビームスプリッタ103で発生する光干渉は0点からコヒーレント長(光源の波長の二乗÷光源の線幅)の距離の範囲で発生することから、所定の範囲を光源101のコヒーレント長とすることにより、適切な位置にフリースペースを設けることができる。これにより、参照光の後方散乱光の影響をより効果的に抑止することができる。尚、所定の範囲は、光源101のコヒーレント長に限定するものではなく、抑止したい後方散乱光に応じて適宜、位置や範囲を設定すればよい。   In addition, since the light interference generated by the beam splitter 103 occurs in a range of a coherent length (square of the wavelength of the light source ÷ the line width of the light source) from the point 0, a predetermined range is set as the coherent length of the light source 101. Thereby, a free space can be provided at an appropriate position. This makes it possible to more effectively suppress the influence of the backscattered light of the reference light. Note that the predetermined range is not limited to the coherent length of the light source 101, and the position and the range may be appropriately set according to the backscattered light to be suppressed.

また、上記実施形態の干渉計100、200および300では、測定光路において、ビームスプリッタ102からビームスプリッタ103へ至る光路に光ファイバを用いたが、測定光路の構成によっては、特に、光ファイバを用いる必要がない場合は、フリースペースでビームスプリッタ102からビームスプリッタ103へ至る光路を構成してもよい。   In the interferometers 100, 200, and 300 of the above-described embodiments, an optical fiber is used for the optical path from the beam splitter 102 to the beam splitter 103 in the measurement optical path. However, depending on the configuration of the measurement optical path, an optical fiber is particularly used. If unnecessary, an optical path from the beam splitter 102 to the beam splitter 103 may be configured in free space.

1、2、3・・眼科装置
5・・モニタ
10、11、12・・光学系
20・・光干渉光学系
30・・0点調整機構
50・・観察光学系
60・・XYZアライメント光学系
100、200、300・・干渉計
101・・光源
102、103・・ビームスプリッタ
120・・バランス検出器
201、202・・ファイバカプラ
1, 2, 3, ophthalmic apparatus 5, monitor 10, 11, 12, optical system 20, optical interference optical system 30, zero-point adjustment mechanism 50, observation optical system 60, XYZ alignment optical system 100 , 200, 300, interferometer 101, light sources 102, 103, beam splitter 120, balance detectors 201, 202, fiber coupler

Claims (2)

光源から出射した光を測定光と参照光とに分割する第1の光分岐部と、
その第1の光分岐部から出射した測定光であって被検物に照射された後にその被検物で反射したものと、前記第1の光分岐部から出射した参照光とを合波して干渉光を生成する第2の光分岐部と、
前記第1の光分岐部から出射した測定光を前記第2の光分岐部に導くためにそれら第1および第2の光分岐部を互いに接続する測定光路であって第1の光ファイバを用いて製作されるとともに測定光路長Xを有するものと、
前記第1の光分岐部から出射した参照光を前記第2の光分岐部に導くためにそれら第1および第2の光分岐部を互いに接続する参照光路であって第2の光ファイバを用いて製作されるとともに参照光路長Yを有するものと、
前記生成された干渉光を受光して差動増幅するバランス検出器と
を含む干渉計であって、
前記参照光が前記参照光路内を前記第1の光分岐部から前記第2の光分岐部に向かって伝播中にそれとは逆向きに後方散乱光が発生し、
前記測定光路および前記参照光路は、前記測定光路長Xと前記参照光路長Yとの間に予め定められた関係を利用することにより、前記参照光路内において発生した後方散乱光が前記第1の光分岐部を経て前記測定光路内に進入することを抑制するように構成され
さらに、前記被検物のうち、選択される測定対象部位が前記被検物の深さ方向に移動するにつれて前記参照光の光路長を変更する光路長変更器を含む干渉計。
A first light splitting unit that splits light emitted from the light source into measurement light and reference light,
The measurement light emitted from the first light branching portion, which is irradiated on the test object and then reflected by the test object, and the reference light emitted from the first light branching portion are multiplexed. A second optical branching unit for generating interference light,
A first optical fiber that connects the first and second optical splitters to each other in order to guide the measurement light emitted from the first optical splitter to the second optical splitter; And having a measurement optical path length X;
A reference optical path connecting the first and second optical splitters to each other to guide the reference light emitted from the first optical splitter to the second optical splitter, and using a second optical fiber; And having a reference optical path length Y;
A balance detector that receives the generated interference light and differentially amplifies the interference light.
While the reference light propagates in the reference light path from the first light branching portion toward the second light branching portion, backscattered light is generated in a direction opposite to the direction,
The measurement light path and the reference light path use a predetermined relationship between the measurement light path length X and the reference light path length Y, so that the backscattered light generated in the reference light path is the first light path. It is configured to suppress entering into the measurement optical path via an optical branching unit ,
Furthermore, an interferometer including an optical path length changer that changes an optical path length of the reference light as a selected measurement target portion of the test object moves in a depth direction of the test object .
さらに、前記バランス検出器から入力された干渉信号に基づき、前記被検物の各部位の深さ方向位置を特定する演算装置を含む請求項1に記載の干渉計。 The interferometer according to claim 1, further comprising a calculation device that specifies a position in a depth direction of each part of the test object based on an interference signal input from the balance detector .
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