JP6638180B1 - Flux, solder alloy, joined body, and method for manufacturing joined body - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は、Agを含まないはんだ合金の濡れ性を十分に向上させるフラックス等を提供することを目的とする。【解決手段】0.1〜3.0重量%のCu及び0.0040〜0.0150重量%のGeを含み、残部がSnからなるはんだ合金をはんだ付けするための、クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を含むフラックス。【選択図】なしAn object of the present invention is to provide a flux or the like that sufficiently improves the wettability of a solder alloy containing no Ag. A chlorendic acid and / or anhydride for soldering a solder alloy containing 0.1 to 3.0% by weight of Cu and 0.0040 to 0.0150% by weight of Ge, with the balance being Sn. Flux containing chlorendic acid. [Selection diagram] None

Description

本発明は、フラックス、はんだ合金、接合体、及び接合体の製造方法に関する。   The present invention relates to a flux, a solder alloy, a joined body, and a method for manufacturing a joined body.

プリント基板への電子部品の実装といった、電子機器における電子部品の固定と電気的接続は、一般的に、コスト面及び信頼性の面で最も有利なはんだ付けによって行われている。   Fixing and electrical connection of electronic components in electronic equipment, such as mounting of electronic components on a printed circuit board, are generally performed by soldering, which is the most advantageous in terms of cost and reliability.

はんだ付けに使用されるはんだ合金としては様々な種類のものが報告されており、一例として、Sn−Ag−Cu系はんだ合金が挙げられる。   Various types of solder alloys used for soldering have been reported, and an Sn-Ag-Cu-based solder alloy is mentioned as an example.

はんだ付けを行う場合、基板の表面に形成されている酸化膜を除去すること、はんだ合金の塗れ性を向上させること等を目的として、フラックスが使用されている(例えば、特許文献1及び2)。   When soldering, a flux is used for the purpose of removing an oxide film formed on the surface of a substrate, improving the wettability of a solder alloy, and the like (for example, Patent Documents 1 and 2). .

特開2013−126671号公報JP 2013126667 A 特許第6322881号Patent No.6322281

Sn−Ag−Cu系はんだ合金について、コストの観点から、高価なAgの含有量を低減させることが望まれるが、Agは、はんだ合金の濡れ性を確保する機能を有しているため、これを除くことにより濡れ性が悪化する。一方、フラックスを使用することによって、はんだ合金の濡れ性を向上させることが可能であるが、Agを含まないはんだ合金の濡れ性を十分に改善することは困難である。   Regarding the Sn-Ag-Cu solder alloy, from the viewpoint of cost, it is desired to reduce the content of expensive Ag. However, since Ag has a function of ensuring the wettability of the solder alloy, By removing, the wettability deteriorates. On the other hand, it is possible to improve the wettability of the solder alloy by using the flux, but it is difficult to sufficiently improve the wettability of the solder alloy containing no Ag.

そのため、本発明は、Agを含まないはんだ合金の濡れ性を十分に向上させるフラックス、フラックスによって濡れ性が十分に向上するはんだ合金、前記フラックス及び前記はんだ合金を使用して接合体を製造する方法、並びに前記方法により製造される接合体を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention provides a flux for sufficiently improving the wettability of a solder alloy containing no Ag, a solder alloy for which the wettability is sufficiently improved by the flux, and a method for producing a joined body using the flux and the solder alloy. And a joined body manufactured by the method.

本発明者等が鋭意検討した結果、クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を含むフラックスと、Sn−Cu−Ge系はんだ合金とを組み合わせて使用することにより、前記はんだ合金の濡れ性を十分に向上できることを見出し、本発明を完成するに至った。   As a result of extensive studies by the present inventors, the use of a flux containing chlorendic acid and / or chlorendic anhydride in combination with a Sn-Cu-Ge solder alloy sufficiently improves the wettability of the solder alloy. They have found that they can do this and have completed the present invention.

本発明は以下の実施形態を含む。
[1]
0.1〜3.0重量%のCu及び0.0040〜0.0150重量%のGeを含み、残部がSnからなるはんだ合金をはんだ付けするための、クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を含むフラックス。
[2]
前記はんだ合金が、0.0100〜0.1000重量%のNiを更に含む、[1]に記載のフラックス。
[3]
前記はんだ合金が、0.0020〜0.0150重量%のAsを更に含む、[1]又は[2]に記載のフラックス。
[4]
前記はんだ付けが、フローはんだ付けである、[1]〜[3]のいずれかに記載のフラックス。
[5]
前記はんだ付けが、パレットはんだ付けである、[1]〜[4]のいずれかに記載のフラックス。
[6]
クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を含むフラックスで表面が処理された基板の前記表面に、はんだ付けされるための、0.1〜3.0重量%のCu及び0.0040〜0.0150重量%のGeを含み、残部がSnからなるはんだ合金。
[7]
前記はんだ合金が、0.0100〜0.1000重量%のNiを更に含む、[6]に記載のはんだ合金。
[8]
前記はんだ合金が、0.0020〜0.0150重量%のAsを更に含む、[6]又は[7]に記載のはんだ合金。
[9]
前記はんだ付けが、フローはんだ付けである、[6]〜[8]のいずれかに記載のはんだ合金。
[10]
前記はんだ付けが、パレットはんだ付けである、[6]〜[9]のいずれかに記載のはんだ合金。
[11]
クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を含むフラックスで表面が処理された基板の前記表面に、0.1〜3.0重量%のCu及び0.0040〜0.0150重量%のGeを含み、残部がSnからなるはんだ合金をはんだ付けして、接合体を形成する工程を含む、接合体の製造方法。
[12]
前記はんだ合金が、0.0100〜0.1000重量%のNiを更に含む、[11]に記載の製造方法。
[13]
前記はんだ合金が、0.0020〜0.0150重量%のAsを更に含む、[11]又は[12]に記載の製造方法。
[14]
前記はんだ付けが、フローはんだ付けである、[11]〜[13]のいずれかに記載の製造方法。
[15]
前記はんだ付けが、パレットはんだ付けである、[11]〜[14]のいずれかに記載の製造方法。
[16]
[11]〜[15]のいずれかに記載の製造方法で得られる接合体。
The present invention includes the following embodiments.
[1]
Contains chlorendic acid and / or chlorendic anhydride for soldering a solder alloy comprising 0.1-3.0% by weight of Cu and 0.0040-0.0150% by weight of Ge, with the balance being Sn. flux.
[2]
The flux according to [1], wherein the solder alloy further contains 0.0100 to 0.1000% by weight of Ni.
[3]
The flux according to [1] or [2], wherein the solder alloy further contains 0.0020 to 0.0150% by weight of As.
[4]
The flux according to any one of [1] to [3], wherein the soldering is flow soldering.
[5]
The flux according to any one of [1] to [4], wherein the soldering is pallet soldering.
[6]
0.1 to 3.0 wt% Cu and 0.0040 to 0.0150 wt% for soldering to the surface of the substrate whose surface has been treated with a flux comprising chlorendic acid and / or chlorendic anhydride. % Ge, with the balance being Sn.
[7]
The solder alloy according to [6], wherein the solder alloy further contains 0.0100 to 0.1000% by weight of Ni.
[8]
The solder alloy according to [6] or [7], wherein the solder alloy further contains 0.0020 to 0.0150% by weight of As.
[9]
The solder alloy according to any one of [6] to [8], wherein the soldering is flow soldering.
[10]
The solder alloy according to any one of [6] to [9], wherein the soldering is pallet soldering.
[11]
The surface of the substrate whose surface has been treated with a flux containing chlorendic acid and / or chlorendic anhydride contains 0.1 to 3.0% by weight of Cu and 0.0040 to 0.0150% by weight of Ge and the balance A step of soldering a solder alloy composed of Sn to form a joined body.
[12]
The manufacturing method according to [11], wherein the solder alloy further contains 0.0100 to 0.1000% by weight of Ni.
[13]
The manufacturing method according to [11] or [12], wherein the solder alloy further contains 0.0020 to 0.0150% by weight of As.
[14]
The manufacturing method according to any one of [11] to [13], wherein the soldering is flow soldering.
[15]
The manufacturing method according to any one of [11] to [14], wherein the soldering is pallet soldering.
[16]
A joined body obtained by the production method according to any one of [11] to [15].

本発明によれば、Agを含まないはんだ合金の濡れ性を十分に向上させるフラックス、フラックスによって濡れ性が十分に向上するはんだ合金、前記フラックス及び前記はんだ合金を使用して接合体を製造する方法、並びに前記方法により製造される接合体を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the flux which fully improves the wettability of the solder alloy which does not contain Ag, the solder alloy whose wettability is sufficiently improved by flux, the method of manufacturing a joined body using the said flux and the said solder alloy And a joined body manufactured by the method.

<フラックス及びはんだ合金>
本発明の一実施形態は、0.1〜3.0重量%のCu及び0.0040〜0.0150重量%のGeを含み、残部がSnからなるはんだ合金をはんだ付けするための、クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を含むフラックスに関する。
また、本発明の一実施形態は、クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を含むフラックスで表面が処理された基板の前記表面に、はんだ付けされるための、0.1〜3.0重量%のCu及び0.0040〜0.0150重量%のGeを含み、残部がSnからなるはんだ合金に関する。
<Flux and solder alloy>
One embodiment of the present invention is a chlorendic acid for soldering a solder alloy comprising 0.1-3.0 wt% Cu and 0.0040-0.0150 wt% Ge with the balance being Sn. And / or a flux containing chlorendic anhydride.
Also, an embodiment of the present invention provides a method of soldering to a surface of a substrate, which has been treated with a flux containing chlorendic acid and / or chlorendic anhydride, of 0.1 to 3.0% by weight. The present invention relates to a solder alloy containing Cu and 0.0040 to 0.0150% by weight of Ge, with the balance being Sn.

本実施形態に係るフラックス及びはんだ合金を組み合わせて使用することにより、Agを含まないはんだ合金の濡れ性を十分に向上させることができる。はんだ付けは、フローはんだ付けにより行うことが好ましい。はんだ付けは、パレットはんだ付けにより行ってもよい。   By using the flux and the solder alloy according to the present embodiment in combination, it is possible to sufficiently improve the wettability of the solder alloy containing no Ag. The soldering is preferably performed by flow soldering. The soldering may be performed by pallet soldering.

本実施形態に係るフラックスは、クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を含む。クロレンド酸及び無水クロレンド酸の合計含有量は、フラックスに対して、好ましくは0.01〜10.0重量%であり、より好ましくは0.05〜5.0重量%であり、更に好ましくは0.1〜3.0重量%である。クロレンド酸及び無水クロレンド酸の合計含有量を前記の範囲内とすることにより、はんだ合金の濡れ性を更に向上させることができる。   The flux according to the present embodiment contains chlorendic acid and / or chlorendic anhydride. The total content of chlorendic acid and chlorendic anhydride is preferably 0.01 to 10.0% by weight, more preferably 0.05 to 5.0% by weight, and still more preferably 0 to 5.0% by weight, based on the flux. 0.1 to 3.0% by weight. By setting the total content of chlorendic acid and chlorendic anhydride within the above range, the wettability of the solder alloy can be further improved.

フラックスは、クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸に加えて、任意成分を更に含んでいてもよい。任意成分としては、例えば、溶剤、ロジン、活性剤(クロレンド酸及び無水クロレンド酸を除く。以下、同様。)、及びつや消し剤が挙げられる。   The flux may further contain optional components in addition to chlorendic acid and / or chlorendic anhydride. Examples of the optional component include a solvent, rosin, an activator (excluding chlorendic acid and chlorendic anhydride; the same applies hereinafter), and a matting agent.

溶剤としては、例えば、水、アルコール系溶剤、グリコールエーテル系溶剤、及びテルピネオール類が挙げられる。
アルコール系溶剤としては、例えば、2−プロパノール、エタノール、1,2−ブタンジオール、イソボルニルシクロヘキサノール、2,4−ジエチル−1,5−ペンタンジオール、2,2−ジメチル−1,3−プロパンジオール、2,5−ジメチル−2,5−ヘキサンジオール、2,5−ジメチル−3−ヘキシン−2,5−ジオール、2,3−ジメチル−2,3−ブタンジオール、1,1,1−トリス(ヒドロキシメチル)エタン、2−エチル−2−ヒドロキシメチル−1,3−プロパンジオール、2,2’−オキシビス(メチレン)ビス(2−エチル−1,3−プロパンジオール)、2,2−ビス(ヒドロキシメチル)−1,3−プロパンジオール、1,2,6−トリヒドロキシヘキサン、ビス[2,2,2−トリス(ヒドロキシメチル)エチル]エーテル、1−エチニル−1−シクロヘキサノール、1,4−シクロヘキサンジオール、1,4−シクロヘキサンジメタノール、エリトリトール、トレイトール、グアヤコールグリセロールエーテル、3,6−ジメチル−4−オクチン−3,6−ジオール、及び2,4,7,9−テトラメチル−5−デシン−4,7−ジオールが挙げられる。
グリコールエーテル系溶剤としては、例えば、ジエチレングリコールモノ−2−エチルヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、2−メチルペンタン−2,4−ジオール、ジエチレングリコールモノヘキシルエーテル、ジエチレングリコールジブチルエーテル、トリエチレングリコールモノブチルエーテル、ヘキシルジグリコール、及びテトラエチレングリコールジメチルエーテルが挙げられる。
特に限定するものではないが、揮発性の観点から、アルコール系溶剤が好ましい。また、ロジン、活性剤としての有機酸等と溶剤とのエステル化を抑制する観点から、2−プロパノールが好ましい。
溶剤は、1種を単独で使用してもよいし、2種以上を組み合わせて使用してもよい。
Examples of the solvent include water, an alcohol solvent, a glycol ether solvent, and terpineols.
Examples of the alcohol solvent include 2-propanol, ethanol, 1,2-butanediol, isobornylcyclohexanol, 2,4-diethyl-1,5-pentanediol, and 2,2-dimethyl-1,3- Propanediol, 2,5-dimethyl-2,5-hexanediol, 2,5-dimethyl-3-hexyne-2,5-diol, 2,3-dimethyl-2,3-butanediol, 1,1,1 -Tris (hydroxymethyl) ethane, 2-ethyl-2-hydroxymethyl-1,3-propanediol, 2,2′-oxybis (methylene) bis (2-ethyl-1,3-propanediol), 2,2 -Bis (hydroxymethyl) -1,3-propanediol, 1,2,6-trihydroxyhexane, bis [2,2,2-tris (hydroxymethyl) Ethyl] ether, 1-ethynyl-1-cyclohexanol, 1,4-cyclohexanediol, 1,4-cyclohexanedimethanol, erythritol, threitol, guaiacol glycerol ether, 3,6-dimethyl-4-octyne-3,6 -Diol, and 2,4,7,9-tetramethyl-5-decyne-4,7-diol.
Examples of glycol ether solvents include diethylene glycol mono-2-ethylhexyl ether, ethylene glycol monophenyl ether, 2-methylpentane-2,4-diol, diethylene glycol monohexyl ether, diethylene glycol dibutyl ether, triethylene glycol monobutyl ether, and hexyl. Diglycol and tetraethylene glycol dimethyl ether.
Although not particularly limited, alcohol solvents are preferable from the viewpoint of volatility. In addition, 2-propanol is preferred from the viewpoint of suppressing esterification between rosin, an organic acid or the like as an activator, and a solvent.
One kind of the solvent may be used alone, or two or more kinds may be used in combination.

溶剤の含有量は、フラックスに対して、好ましくは75〜94重量%であり、より好ましくは80〜92重量%であり、更に好ましくは85〜90重量%である。   The content of the solvent is preferably 75 to 94% by weight, more preferably 80 to 92% by weight, and still more preferably 85 to 90% by weight based on the flux.

ロジンとしては、例えば、酸変性ロジン、精製ロジン、水添ロジン、不均化ロジン、重合ロジン、及びロジンエステルが挙げられる。ロジンは、マツ科植物の松やに等に含まれる不揮発性成分である。ロジンとしては、例えば、トールロジン、ガムロジン、及びウッドロジンが挙げられる。酸変性ロジンは、ロジンを酸処理したものである。酸変性ロジンは、水素化されていてもよい。酸変性ロジンとしては、例えば、アクリル酸変性ロジン、アクリル酸変性水添ロジン、マレイン酸変性ロジン、及びマレイン酸変性水添ロジンが挙げられる。ロジンは、1種を単独で使用してもよいし、2種以上を組み合わせて使用してもよい。フラックスがロジンを含むことにより、はんだ合金の濡れ性を向上させることができる。   The rosin includes, for example, acid-modified rosin, purified rosin, hydrogenated rosin, disproportionated rosin, polymerized rosin, and rosin ester. Rosin is a non-volatile component contained in pines and the like of Pinaceae plants. Rosins include, for example, tall rosin, gum rosin, and wood rosin. The acid-modified rosin is obtained by treating rosin with an acid. The acid-modified rosin may be hydrogenated. Examples of the acid-modified rosin include acrylic acid-modified rosin, acrylic acid-modified hydrogenated rosin, maleic acid-modified rosin, and maleic acid-modified hydrogenated rosin. Rosin may be used alone or in combination of two or more. When the flux contains rosin, the wettability of the solder alloy can be improved.

ロジンの含有量は、フラックスに対して、好ましくは3〜18重量%であり、より好ましくは6〜15重量%であり、更に好ましくは9〜12重量%である。ロジンの含有量を前記の範囲内とすることにより、はんだ合金の濡れ性を更に向上させることができる。   The content of rosin is preferably 3 to 18% by weight, more preferably 6 to 15% by weight, and still more preferably 9 to 12% by weight based on the flux. By setting the rosin content within the above range, the wettability of the solder alloy can be further improved.

活性剤としては、例えば、有機酸、ハロゲン系活性剤(例えば、有機ハロゲン化合物、及びアミンハロゲン化水素酸塩)、アミン、及び有機リン系化合物(例えば、ホスホン酸エステル、及びフェニル置換ホスフィン酸)が挙げられる。活性剤は、1種を単独で使用してもよいし、2種以上を組み合わせて使用してもよい。フラックスが活性剤を含むことにより、はんだ合金の濡れ性を更に向上させることができる。   Examples of the activator include an organic acid, a halogen-based activator (eg, an organic halogen compound and an amine hydrohalide), an amine, and an organic phosphorus-based compound (eg, a phosphonate and a phenyl-substituted phosphinic acid). Is mentioned. One activator may be used alone, or two or more activators may be used in combination. When the flux contains an activator, the wettability of the solder alloy can be further improved.

有機酸としては、例えば、アジピン酸、アゼライン酸、エイコサン二酸、クエン酸、グリコール酸、コハク酸、サリチル酸、ジグリコール酸、ジピコリン酸、ジブチルアニリンジグリコール酸、スベリン酸、セバシン酸、チオグリコール酸、テレフタル酸、ドデカン二酸、パラヒドロキシフェニル酢酸、ピコリン酸、フェニルコハク酸、フタル酸、フマル酸、マレイン酸、マロン酸、ラウリン酸、安息香酸、酒石酸、イソシアヌル酸トリス(2−カルボキシエチル)、1,3−シクロヘキサンジカルボン酸、2,2−ビス(ヒドロキシメチル)プロピオン酸、2,2−ビス(ヒドロキシメチル)ブタン酸、2,3−ジヒドロキシ安息香酸、2,4−ジエチルグルタル酸、2−キノリンカルボン酸、3−ヒドロキシ安息香酸、リンゴ酸、p−アニス酸、ステアリン酸、12−ヒドロキシステアリン酸、オレイン酸、リノール酸、リノレン酸、ダイマー酸、水添ダイマー酸、トリマー酸、及び水添トリマー酸が挙げられる。   Examples of organic acids include adipic acid, azelaic acid, eicosane diacid, citric acid, glycolic acid, succinic acid, salicylic acid, diglycolic acid, dipicolinic acid, dibutylaniline diglycolic acid, suberic acid, sebacic acid, and thioglycolic acid. , Terephthalic acid, dodecandioic acid, parahydroxyphenylacetic acid, picolinic acid, phenylsuccinic acid, phthalic acid, fumaric acid, maleic acid, malonic acid, lauric acid, benzoic acid, tartaric acid, tris (2-carboxyethyl) isocyanurate, 1,3-cyclohexanedicarboxylic acid, 2,2-bis (hydroxymethyl) propionic acid, 2,2-bis (hydroxymethyl) butanoic acid, 2,3-dihydroxybenzoic acid, 2,4-diethylglutaric acid, 2- Quinoline carboxylic acid, 3-hydroxybenzoic acid, malic acid, p-anisic acid, Stearic acid, 12-hydroxystearic acid, oleic acid, linoleic acid, linolenic acid, dimer acid, hydrogenated dimer acid, trimer acid, and hydrogenated trimer acid.

有機ハロゲン化合物としては、例えば、1,2,4,5−テトラブロモベンゼン、トランス−2,3−ジブロモ−2−ブテン−1,4−ジオール、2,3−ジブロモ−1,4−ブタンジオール、2,3−ジブロモ−1−プロパノール、2,3−ジクロロ−1−プロパノール、1,1,2,2−テトラブロモエタン、2,2,2−トリブロモエタノール、ペンタブロモエタン、四臭化炭素、2,2−ビス(ブロモメチル)−1,3−プロパンジオール、meso−2,3−ジブロモコハク酸、クロロアルカン、塩素化脂肪酸エステル、臭化n−ヘキサデシルトリメチルアンモニウム、トリアリルイソシアヌレート6臭化物、2,2−ビス[3,5−ジブロモ−4−(2,3−ジブロモプロポキシ)フェニル]プロパン、ビス[3,5−ジブロモ−4−(2,3−ジブロモプロポキシ)フェニル]スルホン、エチレンビスペンタブロモベンゼン、2−クロロメチルオキシラン、及び臭化ビスフェノールA型エポキシ樹脂が挙げられる。   Examples of the organic halogen compound include 1,2,4,5-tetrabromobenzene, trans-2,3-dibromo-2-butene-1,4-diol, and 2,3-dibromo-1,4-butanediol. 2,3-dibromo-1-propanol, 2,3-dichloro-1-propanol, 1,1,2,2-tetrabromoethane, 2,2,2-tribromoethanol, pentabromoethane, tetrabromide Carbon, 2,2-bis (bromomethyl) -1,3-propanediol, meso-2,3-dibromosuccinic acid, chloroalkane, chlorinated fatty acid ester, n-hexadecyltrimethylammonium bromide, triallyl isocyanurate 6 Bromide, 2,2-bis [3,5-dibromo-4- (2,3-dibromopropoxy) phenyl] propane, bis [3,5-dibromo-4- (2 3-dibromo-propoxy) phenyl] sulfone, ethylene bis pentabromodiphenyl benzene, 2-chloromethyl-oxirane, and include bromide bisphenol A type epoxy resin.

アミンハロゲン化水素酸塩としては、例えば、三フッ化ホウ素ピぺリジン、ステアリルアミン塩酸塩、ジエチルアニリン塩酸塩、ジエタノールアミン塩酸塩、2−エチルヘキシルアミン臭化水素酸塩、ピリジン臭化水素酸塩、イソプロピルアミン臭化水素酸塩、シクロヘキシルアミン臭化水素酸塩、ジエチルアミン臭化水素酸塩、モノエチルアミン臭化水素酸塩、1,3−ジフェニルグアニジン臭化水素酸塩、ジメチルアミン臭化水素酸塩、ジメチルアミン塩酸塩、ロジンアミン臭化水素酸塩、2−エチルヘキシルアミン塩酸塩、イソプロピルアミン塩酸塩、シクロヘキシルアミン塩酸塩、2−ピペコリン臭化水素酸塩、1,3−ジフェニルグアニジン塩酸塩、ジメチルベンジルアミン塩酸塩、ヒドラジンヒドラート臭化水素酸塩、ジメチルシクロヘキシルアミン塩酸塩、トリノニルアミン臭化水素酸塩、ジエチルアニリン臭化水素酸塩、2−ジエチルアミノエタノール臭化水素酸塩、2−ジエチルアミノエタノール塩酸塩、塩化アンモニウム、ジアリルアミン塩酸塩、ジアリルアミン臭化水素酸塩、モノエチルアミン塩酸塩、モノエチルアミン臭化水素酸塩、ジエチルアミン塩酸塩、トリエチルアミン臭化水素酸塩、トリエチルアミン塩酸塩、ヒドラジン一塩酸塩、ヒドラジン二塩酸塩、ヒドラジン一臭化水素酸塩、ヒドラジン二臭化水素酸塩、ピリジン塩酸塩、アニリン臭化水素酸塩、ブチルアミン塩酸塩、へキシルアミン塩酸塩、n−オクチルアミン塩酸塩、ドデシルアミン塩酸塩、ジメチルシクロヘキシルアミン臭化水素酸塩、エチレンジアミン二臭化水素酸塩、ロジンアミン臭化水素酸塩、2−フェニルイミダゾール臭化水素酸塩、4−ベンジルピリジン臭化水素酸塩、L−グルタミン酸塩酸塩、N−メチルモルホリン塩酸塩、ベタイン塩酸塩、2−ピペコリンヨウ化水素酸塩、シクロヘキシルアミンヨウ化水素酸塩、1,3−ジフェニルグアニジンフッ化水素酸塩、ジエチルアミンフッ化水素酸塩、2−エチルヘキシルアミンフッ化水素酸塩、シクロヘキシルアミンフッ化水素酸塩、エチルアミンフッ化水素酸塩、ロジンアミンフッ化水素酸塩、3フッ化ホウ素ピぺリジン錯塩、シクロヘキシルアミンテトラフルオロホウ酸塩、及びジシクロヘキシルアミンテトラフルオロホウ酸塩が挙げられる。   As the amine hydrohalide, for example, boron trifluoride piperidine, stearylamine hydrochloride, diethylaniline hydrochloride, diethanolamine hydrochloride, 2-ethylhexylamine hydrobromide, pyridine hydrobromide, Isopropylamine hydrobromide, cyclohexylamine hydrobromide, diethylamine hydrobromide, monoethylamine hydrobromide, 1,3-diphenylguanidine hydrobromide, dimethylamine hydrobromide Dimethylamine hydrochloride, rosinamine hydrobromide, 2-ethylhexylamine hydrochloride, isopropylamine hydrochloride, cyclohexylamine hydrochloride, 2-pipecholine hydrobromide, 1,3-diphenylguanidine hydrochloride, dimethylbenzyl Amine hydrochloride, hydrazine hydrate hydrobromide, dimethyl Clohexylamine hydrochloride, trinonylamine hydrobromide, diethylaniline hydrobromide, 2-diethylaminoethanol hydrobromide, 2-diethylaminoethanol hydrochloride, ammonium chloride, diallylamine hydrochloride, diallylamine bromide Hydrochloride, monoethylamine hydrochloride, monoethylamine hydrobromide, diethylamine hydrochloride, triethylamine hydrobromide, triethylamine hydrochloride, hydrazine monohydrochloride, hydrazine dihydrochloride, hydrazine monohydrobromide, Hydrazine dihydrobromide, pyridine hydrochloride, aniline hydrobromide, butylamine hydrochloride, hexylamine hydrochloride, n-octylamine hydrochloride, dodecylamine hydrochloride, dimethylcyclohexylamine hydrobromide, ethylenediamine Dihydrobromide, rosin Hydrobromide, 2-phenylimidazole hydrobromide, 4-benzylpyridine hydrobromide, L-glutamate hydrochloride, N-methylmorpholine hydrochloride, betaine hydrochloride, 2-pipecholine hydroiodic acid Salt, cyclohexylamine hydroiodide, 1,3-diphenylguanidine hydrofluoride, diethylamine hydrofluoride, 2-ethylhexylamine hydrofluoride, cyclohexylamine hydrofluoride, ethylamine fluoride Hydrochloride, rosinamine hydrofluoride, boron trifluoride piperidine complex, cyclohexylamine tetrafluoroborate, and dicyclohexylamine tetrafluoroborate.

アミンとしては、例えば、脂肪族アミン、芳香族アミン、アミノアルコール、アゾール類、アミノ酸、グアニジン、及びヒドラジドが挙げられる。
脂肪族アミンとしては、例えば、ジメチルアミン、エチルアミン、1−アミノプロパン、イソプロピルアミン、トリメチルアミン、アリルアミン、n−ブチルアミン、ジエチルアミン、sec−ブチルアミン、tert−ブチルアミン、N,N−ジメチルエチルアミン、イソブチルアミン、及びシクロヘキシルアミンが挙げられる。
芳香族アミンとしては、例えば、アニリン、N−メチルアニリン、ジフェニルアミン、N−イソプロピルアニリン、及びp−イソプロピルアニリンが挙げられる。
アミノアルコールとしては、例えば、2−アミノエタノール、2−(エチルアミノ)エタノール、ジエタノールアミン、ジイソプロパノールアミン、トリエタノールアミン、N−ブチルジエタノールアミン、トリイソプロパノールアミン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)−N−シクロヘキシルアミン、N,N,N',N'−テトラキス(2−ヒドロキシプロピル)エチレンジアミン、及びN,N,N',N'',N''−ペンタキス(2−ヒドロキシプロピル)ジエチレントリアミンが挙げられる。
アゾール類としては、例えば、イミダゾール、3,5−ジメチルピラゾール、ベンゾトリアゾール、2−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2'−メチルイミダゾリル−(1')]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2'−ウンデシルイミダゾリル−(1')]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2'−エチル−4'−メチルイミダゾリル−(1')]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2'−メチルイミダゾリル−(1')]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3−ジヒドロ−1H−ピロロ[1,2−a]ベンズイミダゾール、1−ドデシル−2−メチル−3−ベンジルイミダゾリウムクロライド、2−メチルイミダゾリン、2−フェニルイミダゾリン、エポキシ−イミダゾールアダクト、2−メチルベンゾイミダゾール、2−オクチルベンゾイミダゾール、2−ペンチルベンゾイミダゾール、2−(1−エチルペンチル)ベンゾイミダゾール、2−ノニルベンゾイミダゾール、2−(4−チアゾリル)ベンゾイミダゾール、及びベンゾイミダゾールが挙げられる。
アミノ酸としては、例えば、アラニン、アルギニン、アスパラギン、アスパラギン酸、システイン塩酸塩、グルタミン、グルタミン酸、グリシン、ヒスチジン、イソロイシン、ロイシン、リジン一塩酸塩、メチオニン、フェニルアラニン、プロリン、セリン、トレオニン、トリプトファン、チロシン、バリン、β-アラニン、γ-アミノ酪酸、δ-アミノ吉草酸、ε-アミノヘキサン酸、ε-カプロラクタム、及び7−アミノヘプタン酸が挙げられる。
Amines include, for example, aliphatic amines, aromatic amines, amino alcohols, azoles, amino acids, guanidines, and hydrazides.
Examples of the aliphatic amine include dimethylamine, ethylamine, 1-aminopropane, isopropylamine, trimethylamine, allylamine, n-butylamine, diethylamine, sec-butylamine, tert-butylamine, N, N-dimethylethylamine, isobutylamine, and Cyclohexylamine.
Examples of the aromatic amine include aniline, N-methylaniline, diphenylamine, N-isopropylaniline, and p-isopropylaniline.
Examples of the amino alcohol include 2-aminoethanol, 2- (ethylamino) ethanol, diethanolamine, diisopropanolamine, triethanolamine, N-butyldiethanolamine, triisopropanolamine, and N, N-bis (2-hydroxyethyl). -N-cyclohexylamine, N, N, N ', N'-tetrakis (2-hydroxypropyl) ethylenediamine, and N, N, N', N ", N" -pentakis (2-hydroxypropyl) diethylenetriamine No.
As the azoles, for example, imidazole, 3,5-dimethylpyrazole, benzotriazole, 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methyl Imidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-un Decyl imidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazo Um trimellitate, 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-undecylimidazolyl- (1 ')]-Ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6 [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4- Methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, -Methylimidazoline, 2-phenylimidazoline, epoxy-imidazole adduct, 2-methylbenzimidazole, 2-octylbenzimidazole, 2-pentylbenzimidazole, 2- (1-ethylpentyl) benzimidazole, 2-nonylbenzimidazole, 2 -(4-thiazolyl) benzimidazole, and benzimidazole.
As amino acids, for example, alanine, arginine, asparagine, aspartic acid, cysteine hydrochloride, glutamine, glutamic acid, glycine, histidine, isoleucine, leucine, lysine monohydrochloride, methionine, phenylalanine, proline, serine, threonine, tryptophan, tyrosine, Valine, β-alanine, γ-aminobutyric acid, δ-aminovaleric acid, ε-aminohexanoic acid, ε-caprolactam, and 7-aminoheptanoic acid.

ホスホン酸エステルとしては、例えば、2−エチルヘキシル(2−エチルヘキシル)ホスホネート、n−オクチル(n−オクチル)ホスホネート、n−デシル(n−デシル)ホスホネート、及びn−ブチル(n−ブチル)ホスホネートが挙げられる。   Examples of the phosphonate include 2-ethylhexyl (2-ethylhexyl) phosphonate, n-octyl (n-octyl) phosphonate, n-decyl (n-decyl) phosphonate, and n-butyl (n-butyl) phosphonate. Can be

フェニル置換ホスフィン酸としては、例えば、フェニルホスフィン酸、及びジフェニルホスフィン酸が挙げられる。   Phenyl-substituted phosphinic acids include, for example, phenylphosphinic acid and diphenylphosphinic acid.

活性剤の含有量は、フラックスに対して、好ましくは0.1〜12.0重量%であり、より好ましくは0.3〜8.0重量%であり、更に好ましくは0.5〜4.0重量%である。活性剤の含有量を前記の範囲内とすることにより、はんだ合金の濡れ性を更に向上させることができる。   The content of the activator is preferably 0.1 to 12.0% by weight, more preferably 0.3 to 8.0% by weight, and still more preferably 0.5 to 4.0% by weight based on the flux. 0% by weight. By setting the content of the activator within the above range, the wettability of the solder alloy can be further improved.

つや消し剤としては、例えば、パルミチン酸が挙げられる。つや消し剤は、1種を単独で使用してもよいし、2種以上を組み合わせて使用してもよい。フラックスがつや消し剤を含むことにより、接合体の継手部分のつやを消し、当該部分の外観検査を容易にすることができる。   Matting agents include, for example, palmitic acid. One type of matting agent may be used alone, or two or more types may be used in combination. When the flux contains a matting agent, the mat of the joint portion of the joined body can be matted, and the appearance inspection of the portion can be facilitated.

つやけし剤は、フラックスに対して、好ましくは0.01〜4.0重量%であり、より好ましくは0.05〜3.0重量%であり、更に好ましくは0.1〜2.0重量%である。つやけし剤の含有量を前記の範囲内とすることにより、接合体の継手部分の外観検査を更に容易にすることができる。   The polishing agent is preferably 0.01 to 4.0% by weight, more preferably 0.05 to 3.0% by weight, and still more preferably 0.1 to 2.0% by weight based on the flux. % By weight. By setting the content of the polishing agent within the above range, the appearance inspection of the joint portion of the joined body can be further facilitated.

本実施形態に係るはんだ合金は、0.1〜3.0重量%のCu及び0.0040〜0.0150重量%のGeを含み、残部がSnからなる。はんだ合金がGeを含むことにより、濡れ性を確保することができる。はんだ合金は不可避不純物を含んでいてもよい。   The solder alloy according to this embodiment contains 0.1 to 3.0% by weight of Cu and 0.0040 to 0.0150% by weight of Ge, with the balance being Sn. When the solder alloy contains Ge, wettability can be ensured. The solder alloy may contain unavoidable impurities.

はんだ合金に含まれる各成分の含有量は、JIS Z 3910:2017に記載のICP発光分光分析法に従って測定することができる。   The content of each component contained in the solder alloy can be measured according to the ICP emission spectroscopy described in JIS Z 3910: 2017.

Cuの含有量は、はんだ合金に対して、0.1〜3.0重量%であり、好ましくは0.1〜1.0重量%であり、より好ましくは0.1〜0.75重量%である。Cuの含有量を前記の下限以上とすることにより、Cu母材の拡散(はんだ溶食)を抑制することができる。Cuの含有量を前記の上限以下とすることにより、液相線温度の過度な上昇を抑制して、フローはんだ付けを適度な温度で実施することができる。   The content of Cu is 0.1 to 3.0% by weight, preferably 0.1 to 1.0% by weight, and more preferably 0.1 to 0.75% by weight, based on the solder alloy. It is. By making the Cu content equal to or more than the above lower limit, diffusion (solder corrosion) of the Cu base material can be suppressed. When the content of Cu is equal to or less than the above upper limit, an excessive rise in liquidus temperature can be suppressed, and flow soldering can be performed at an appropriate temperature.

Geの含有量は、はんだ合金に対して、0.0040〜0.0150重量%であり、好ましくは0.0040〜0.0120重量%であり、より好ましくは0.0050〜0.0100重量%である。Geの含有量を前記の範囲内とすることにより、はんだ合金の濡れ性を更に向上させることができる。   The content of Ge is 0.0040 to 0.0150% by weight, preferably 0.0040 to 0.0120% by weight, and more preferably 0.0050 to 0.0100% by weight based on the solder alloy. It is. By setting the Ge content within the above range, the wettability of the solder alloy can be further improved.

Snの含有量は、はんだ合金に対して、好ましくは97.0〜99.9重量%であり、より好ましくは98.0〜99.9重量%であり、更に好ましくは99.0〜99.9重量%である。   The Sn content is preferably 97.0 to 99.9% by weight, more preferably 98.0 to 99.9% by weight, and still more preferably 99.0 to 99.9% by weight with respect to the solder alloy. 9% by weight.

不可避不純物としては、例えば、Pb、Sb、Bi、Zn、Fe、Al、Cd、Au、及びInが挙げられる。Pb、Sb、Bi及びInの含有量は、はんだ合金に対して、好ましくは0.10重量%以下である。Zn及びAlの含有量は、はんだ合金に対して、好ましくは0.001重量%以下である。Feの含有量は、はんだ合金に対して、好ましくは0.02重量%以下である。Cdの含有量は、はんだ合金に対して、好ましくは0.002重量%以下である。Auの含有量は、はんだ合金に対して、好ましくは0.05重量%以下である。不可避不純物の含有量を前記の範囲内とすることにより、はんだ合金の濡れ性に対する悪影響を避けることができる。   Examples of the inevitable impurities include Pb, Sb, Bi, Zn, Fe, Al, Cd, Au, and In. The contents of Pb, Sb, Bi and In are preferably 0.10% by weight or less based on the solder alloy. The content of Zn and Al is preferably 0.001% by weight or less based on the solder alloy. The content of Fe is preferably 0.02% by weight or less based on the solder alloy. The content of Cd is preferably 0.002% by weight or less based on the solder alloy. The content of Au is preferably 0.05% by weight or less based on the solder alloy. By setting the content of the inevitable impurities within the above range, it is possible to avoid an adverse effect on the wettability of the solder alloy.

はんだ合金は、Niを更に含んでいてもよい。はんだ合金がNiを含むことにより、はんだ合金と基板の表面との接合強度を向上させることができる。   The solder alloy may further include Ni. When the solder alloy contains Ni, the bonding strength between the solder alloy and the surface of the substrate can be improved.

Niの含有量は、はんだ合金に対して、好ましくは0.0100〜0.1000重量%であり、より好ましくは0.0200〜0.0900重量%であり、更に好ましくは0.0350〜0.0750重量%である。Niの含有量を前記の範囲内とすることにより、接合強度を更に向上させることができる。   The content of Ni is preferably 0.0100 to 0.1000% by weight, more preferably 0.0200 to 0.0900% by weight, and still more preferably 0.0350 to 0. 0750% by weight. By setting the content of Ni within the above range, the bonding strength can be further improved.

はんだ合金は、Asを更に含んでいてもよい。はんだ合金がAsを含むことにより、はんだ合金の酸化及びこれに伴う黄色変色を防止することができる。   The solder alloy may further include As. When the solder alloy contains As, the oxidation of the solder alloy and the accompanying yellow discoloration can be prevented.

Asの含有量は、はんだ合金に対して、好ましくは0.0020〜0.0150重量%であり、より好ましくは0.0040〜0.0120重量%であり、更に好ましくは0.0080〜0.0100重量%である。Asの含有量が前記の範囲内であることにより、はんだ合金の酸化及びこれに伴う変色(黄色)を更に防止することができる。   The content of As is preferably 0.0020 to 0.0150% by weight, more preferably 0.0040 to 0.0120% by weight, and still more preferably 0.0080 to 0. 0100% by weight. When the content of As is within the above range, oxidation of the solder alloy and discoloration (yellow) accompanying the oxidation can be further prevented.

<接合体及びその製造方法>
本発明の一実施形態は、クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を含むフラックスで表面が処理された基板の前記表面に、0.1〜3.0重量%のCu及び0.0040〜0.0150重量%のGeを含み、残部がSnからなるはんだ合金をはんだ付けして、接合体を形成する工程(以下、「接合工程」という。)を含む、接合体の製造方法に関する。
また、本発明の一実施形態は、前記の製造方法で得られる接合体に関する。
<Joint body and its manufacturing method>
In one embodiment of the present invention, the surface of the substrate that has been treated with a flux containing chlorendic acid and / or chlorendic anhydride has 0.1 to 3.0% by weight of Cu and 0.0040 to 0.0150. The present invention relates to a method for manufacturing a joined body, which includes a step of forming a joined body by soldering a solder alloy containing Ge by weight and the remainder of which is made of Sn (hereinafter, referred to as a “joining step”).
Further, one embodiment of the present invention relates to a joined body obtained by the above-described manufacturing method.

本実施形態に係る製造方法で使用されるフラックス及びはんだ合金の詳細は、前記の<フラックス及びはんだ合金>の項目において記載したとおりである。   The details of the flux and the solder alloy used in the manufacturing method according to the present embodiment are as described in the above item of <Flux and solder alloy>.

本実施形態に係る製造方法は、接合工程に先立ち、クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を含むフラックスで、基板の表面を処理する工程(以下、「前処理工程」という。)を更に含んでいてもよい。   Prior to the bonding step, the manufacturing method according to the present embodiment further includes a step of treating the surface of the substrate with a flux containing chlorendic acid and / or chlorendic anhydride (hereinafter, referred to as a “pretreatment step”). Is also good.

前処理工程における処理方法、及び接合工程における接合方法は、特に限定されず、本技術分野において一般的に実施されている方法を採用することができる。はんだ付けは、フローはんだ付けにより行うことが好ましい。はんだ付けは、パレットはんだ付けにより行ってもよい。   The treatment method in the pretreatment step and the joining method in the joining step are not particularly limited, and a method generally practiced in the present technical field can be adopted. The soldering is preferably performed by flow soldering. The soldering may be performed by pallet soldering.

接合体は、基板と、前記基板の表面にはんだ付けされたはんだ合金と、フラックスの残渣とを含む。基板としては、例えば、プリント配線板が挙げられる。接合体としては、例えば、プリント配線板に電子部品が取り付けられたプリント回路板が挙げられる。   The joined body includes a substrate, a solder alloy soldered to the surface of the substrate, and flux residues. Examples of the substrate include a printed wiring board. Examples of the joined body include a printed circuit board in which electronic components are attached to a printed wiring board.

以下、実施例及び比較例を用いて本発明をより詳細に説明するが、本発明の技術的範囲はこれに限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples and Comparative Examples, but the technical scope of the present invention is not limited thereto.

以下の表に記載する組成を有するフラックス及びはんだ合金を調製し、メニスコ測定でのゼロクロスタイムに基づいて濡れ性速度を評価した。結果を表1A〜6Eに示す。濡れ性速度の評価基準は以下のとおりである。
〇:ゼロクロスタイム5秒以下
×:ゼロクロスタイム5秒超
Fluxes and solder alloys having the compositions shown in the following table were prepared, and the wettability rate was evaluated based on the zero cross time in Menisco measurement. The results are shown in Tables 1A to 6E. The evaluation criteria for the wettability rate are as follows.
〇: Zero cross time 5 seconds or less ×: Zero cross time 5 seconds or more

メニスコ条件は以下のとおりである。
・固体試料:銅板(幅5mm×長さ25mm×厚み0.5mm;酸化処理等無し)
・はんだ槽温度:280℃
・浸漬速度:20mm/sec
・浸漬深さ:5mm
・測定時間:10sec
・フラックス処理:銅板をフラックス中に浸漬(浸漬深さ約10mm)
Menisco conditions are as follows.
・ Solid sample: copper plate (width 5 mm x length 25 mm x thickness 0.5 mm; no oxidation treatment, etc.)
・ Solder bath temperature: 280 ℃
・ Immersion speed: 20 mm / sec
・ Immersion depth: 5mm
・ Measurement time: 10 sec
・ Flux treatment: Immerse copper plate in flux (immersion depth about 10mm)

表1Aは、Sn−Cu−Ge系はんだ合金に対して、クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を使用した場合及び使用しない場合の結果を示す。
表2Aは、Sn−Cu−Ni−Ge系はんだ合金に対して、クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を使用した場合及び使用しない場合の結果を示す。
表3Aは、Sn−Cu系はんだ合金に対して、クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を使用した場合及び使用しない場合の結果を示す。
表4Aは、はんだ合金の組成を変化させた場合の結果を示す。
表5A及び6Aは、フラックスの組成を変化させた場合の結果を示す。
Table 1A shows the results for the case of using and not using chlorendic acid and / or chlorendic anhydride for the Sn-Cu-Ge solder alloy.
Table 2A shows the results with and without using chlorendic acid and / or chlorendic anhydride with respect to the Sn-Cu-Ni-Ge solder alloy.
Table 3A shows the results obtained with and without using chlorendic acid and / or chlorendic anhydride with respect to the Sn-Cu-based solder alloy.
Table 4A shows the results when the composition of the solder alloy was changed.
Tables 5A and 6A show the results when the flux composition was changed.

表1B〜表6Bはそれぞれ、はんだ合金が0.0020重量%のAsを更に含むことを除いて、表1A〜表6Aに対応する。   Tables 1B to 6B correspond to Tables 1A to 6A, respectively, except that the solder alloy further includes 0.0020 wt% As.

表1C〜表6Cはそれぞれ、はんだ合金が0.0050重量%のAsを更に含むことを除いて、表1A〜表6Aに対応する。   Tables 1C to 6C correspond to Tables 1A to 6A, respectively, except that the solder alloy further includes 0.0050 wt% As.

表1D〜表6Dはそれぞれ、はんだ合金が0.0100重量%のAsを更に含むことを除いて、表1A〜表6Aに対応する。   Tables 1D to 6D correspond to Tables 1A to 6A, respectively, except that the solder alloy further includes 0.0100 wt% As.

表1E〜表6Eはそれぞれ、はんだ合金が0.0150重量%のAsを更に含むことを除いて、表1A〜表6Aに対応する。   Tables 1E to 6E correspond to Tables 1A to 6A, respectively, except that the solder alloy further includes 0.0150 wt% As.

<パレットはんだ付け性>
評価基板(千住金属工業株式会社評価基板H12−06、大きさ:100mm×120mm、厚み:1.6mm、はんだ付けポイント数:272箇所)を、はんだ付けを行う箇所に開口部が設けられたパレットマスクに取り付けた。その後、パレットマスクに取り付けられた評価基板に、下記のはんだ付け条件で、はんだ付けを行ったところ、パレットはんだ付けすることができた。
<Pallet solderability>
A pallet having an opening at a place where the evaluation board (Senju Metal Industry Co., Ltd. evaluation board H12-06, size: 100 mm × 120 mm, thickness: 1.6 mm, number of soldering points: 272) is to be soldered. Attached to the mask. After that, when soldering was performed on the evaluation substrate attached to the pallet mask under the following soldering conditions, pallet soldering could be performed.

(はんだ付け条件)
はんだ付け装置:千住金属工業株式会社製の「SPF−300」
フラックス塗布装置:スプレーフラクサー(千住金属工業株式会社製の「SSF−300」)
フラックス塗布量:70mL/m2
コンベア速度:1m/min
プリヒート温度:100℃
はんだ槽の温度:260℃
(Soldering conditions)
Soldering equipment: "SPF-300" manufactured by Senju Metal Industry Co., Ltd.
Flux coating device: Spray fluxer (“SSF-300” manufactured by Senju Metal Industry Co., Ltd.)
Flux application amount: 70 mL / m 2
Conveyor speed: 1m / min
Preheat temperature: 100 ° C
Solder bath temperature: 260 ° C

Claims (6)

クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を含むフラックスで表面が処理された基板の前記表面に、はんだ付けされるための、0.1〜1.0重量%のCu及び0.0040〜0.0150重量%のGeを含み、残部がSnからなるはんだ合金であって、
前記はんだ合金が、0.0020〜0.0150重量%のAsを更に含み、
前記はんだ合金が、0.0100〜0.1000重量%のNiを更に含む、前記はんだ合金。
0.1 to 1.0 wt% Cu and 0.0040 to 0.0150 wt% for soldering to the surface of a substrate whose surface has been treated with a flux comprising chlorendic acid and / or chlorendic anhydride. % Ge, the balance being Sn,
The solder alloy further comprises 0.0020 to 0.0150% by weight of As;
The solder alloy, wherein the solder alloy further comprises 0.0100 to 0.1000% by weight of Ni.
前記はんだ付けが、フローはんだ付けである、請求項1に記載のはんだ合金。   The solder alloy according to claim 1, wherein the soldering is a flow soldering. 前記はんだ付けが、パレットはんだ付けである、請求項1又は2に記載のはんだ合金。   The solder alloy according to claim 1, wherein the soldering is pallet soldering. クロレンド酸及び/又は無水クロレンド酸を含むフラックスで表面が処理された基板の前記表面に、0.1〜1.0重量%のCu及び0.0040〜0.0150重量%のGeを含み、残部がSnからなるはんだ合金をはんだ付けして、接合体を形成する工程を含む、接合体の製造方法であって、
前記はんだ合金が、0.0020〜0.0150重量%のAsを更に含み、
前記はんだ合金が、0.0100〜0.1000重量%のNiを更に含む、前記製造方法。
The surface of the substrate whose surface has been treated with a flux containing chlorendic acid and / or chlorendic anhydride contains 0.1 to 1.0% by weight of Cu and 0.0040 to 0.0150% by weight of Ge, and the balance Is a method of manufacturing a joined body, comprising a step of soldering a solder alloy made of Sn to form a joined body,
The solder alloy further comprises 0.0020 to 0.0150% by weight of As;
The above method, wherein the solder alloy further contains 0.0100 to 0.1000% by weight of Ni.
前記はんだ付けが、フローはんだ付けである、請求項4に記載の製造方法。   The manufacturing method according to claim 4, wherein the soldering is a flow soldering. 前記はんだ付けが、パレットはんだ付けである、請求項4又は5に記載の製造方法。
The method according to claim 4, wherein the soldering is pallet soldering.
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